[go: up one dir, main page]

JP6460111B2 - 圧電共振器の製造方法および圧電共振器 - Google Patents

圧電共振器の製造方法および圧電共振器 Download PDF

Info

Publication number
JP6460111B2
JP6460111B2 JP2016539889A JP2016539889A JP6460111B2 JP 6460111 B2 JP6460111 B2 JP 6460111B2 JP 2016539889 A JP2016539889 A JP 2016539889A JP 2016539889 A JP2016539889 A JP 2016539889A JP 6460111 B2 JP6460111 B2 JP 6460111B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric
layer
support
sacrificial layer
piezoelectric resonator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016539889A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2016021304A1 (ja
Inventor
諭卓 岸本
諭卓 岸本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2016021304A1 publication Critical patent/JPWO2016021304A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6460111B2 publication Critical patent/JP6460111B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/02Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/08Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02228Guided bulk acoustic wave devices or Lamb wave devices having interdigital transducers situated in parallel planes on either side of a piezoelectric layer
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/15Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
    • H03H9/17Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
    • H03H9/171Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
    • H03H9/172Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
    • H03H9/173Air-gaps
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/25Constructional features of resonators using surface acoustic waves
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/02Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
    • H03H2003/021Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks the resonators or networks being of the air-gap type

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Description

この発明は、メンブレン構造を有する圧電共振器の製造方法および圧電共振器に関する。
従来、圧電共振器(圧電デバイス)が各種考案されている。例えば、特許文献1には、メンブレン構造を有する圧電共振器(圧電デバイス)が記載されている。
特許文献1に示すようなメンブレン構造を有する従来の圧電共振器では、圧電薄膜の裏面側に支持基板が配置されている。圧電薄膜は、支持層によって支持基板に固定されている。圧電薄膜の裏面側には、圧電薄膜と支持基板との間に、圧電薄膜の裏面に支持層が当接しない空間が設けられている。
このようなメンブレン構造を有する圧電共振器の空間は、圧電薄膜の裏面と支持基板との間に犠牲層と支持層を形成し、犠牲層を選択的に除去することによって、設けられる。
犠牲層の除去は、犠牲層除去用の孔を圧電薄膜に空け、この孔から除去用の溶剤を浸入させることによって行われている。
国際公開第2011/052551号
しかしながら、従来の圧電共振器の構成および製造方法では、短時間で犠牲層を殆ど全て除去することが容易ではない。犠牲層が除去されずに残ってしまうと、圧電共振器の特性が所望とする特性からずれてしまう。
したがって、本発明の目的は、犠牲層を短時間で殆ど全て除去できる圧電共振器の製造方法および圧電共振器を提供することにある。
この発明の圧電共振器の製造方法は、次の工程を有することを特徴としている。圧電共振器の製造方法は、圧電基板の裏面に犠牲層を形成する工程と、圧電基板の裏面に支持層を形成する工程と、を有する。圧電共振器の製造方法は、支持層および犠牲層を削って、支持層に対して犠牲層が凹む凹部を形成する工程を有する。圧電共振器の製造方法は、凹部が形成される側の支持層の面に支持基板を接着する工程と、犠牲層を除去する工程と、を有する。
この製造方法では、支持層と支持基板の境界にて、段差を有した状態で犠牲層および支持層の犠牲層付近が支持層の他の部分よりも支持基板から距離を置いた状態で接着材料によって接着される。このため、犠牲層と支持基板との間の密着力が低くなる。これにより、犠牲層が除去され易い。
また、この発明の圧電共振器の製造方法では、凹部を形成する工程は、支持層および犠牲層の研磨によって凹部を形成すればよい。
また、この発明の圧電共振器の製造方法では、凹部を形成する工程は、支持層および犠牲層のエッチングによって凹部を形成してもよい。
これらの製造方法では、具体的な凹部の形成方法を示しており、これらの方法を用いることで、凹部を精度良く形成することができる。
また、この発明の圧電共振器は、次の構成を有することを特徴としている。圧電共振器は、圧電薄膜と、この圧電薄膜の裏面側に配置された支持基板と、圧電薄膜と支持基板との間に空間を設けるように圧電薄膜を支持基板に固定する支持層と、を備える。支持層における空間に露出する支持基板側の角部は、この角部を切り取る形状の凹部を備える。
この構成では、圧電共振器の製造過程において犠牲層の除去が容易になり、所望とする特性を有する圧電共振器を、確実に実現できる。
また、この発明の圧電共振器は、次の構成であってもよい。圧電共振器は、圧電薄膜と、圧電薄膜の裏面側に配置された支持基板と、圧電薄膜と支持基板との間に空間を設けるように、圧電薄膜を支持基板に固定する支持層と、を備える。支持基板は、空間に露出する領域に凹部を備える。
この構成でも、所望とする特性を有する圧電共振器を、確実に実現できる。
この発明によれば、犠牲層を短時間で殆ど全て除去できる。これにより、所望とする特性を有する圧電共振器を確実に製造することができる。
本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器の主要構造を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法を示しフローチャートである。 本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器における各製造過程での構成を示す断面図である。 本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器における各製造過程での構成を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器の主要構造を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法を示しフローチャートである。
本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器および圧電共振器の製造方法について、図を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態に係る圧電共振器の主要構造を示す断面図である。
圧電共振器10は、圧電薄膜20、支持層30、および支持基板40を備える。
圧電薄膜20は、LiTaO、または、LiNbO等の圧電体を材料としている。圧電薄膜20の表面には、表面電極21が形成されている。圧電薄膜20の裏面には、裏面電極22が形成されている。表面電極21および裏面電極22は、例えば、Tiを下地金属とするAl電極である。圧電共振器10がSAW共振器もしくは板波共振器である場合には、表面電極21は、櫛歯状電極および反射器電極であり、裏面電極22は存在しない、もしくはグランド電極である。圧電共振器10がBAW共振器である場合には、表面電極21および裏面電極22がともに駆動電極(端子電極)である。
支持層30は、SiO等の絶縁性材料からなる。支持層30は、圧電薄膜20の裏面に部分的に当接している。具体的には、支持層30は、圧電薄膜20の圧電共振を生じる部分が存在する領域を除く部分において、圧電薄膜20に当接している。
支持基板40は、所定の硬度を有する絶縁性材料からなる。支持基板40は、支持層30における圧電薄膜20に当接する端面と反対側の端面に当接している。支持基板40は、接着材料50によって、支持層30に接着されている。
このような構成によって、圧電薄膜20の裏面と支持基板40との間における支持層30が配設されていない領域には、空間60が形成される。このような空間60を設けることで、圧電薄膜20の圧電振動が阻害されない。したがって、弾性波の閉じ込め効率が良好で、優れた伝送特性を有する圧電共振器10を実現することができる。
さらに、本実施形態では、支持層30における支持基板40に接着する側で、空間60に露出する角部に凹部31が備えられている。凹部31における圧電薄膜20の電極形成面に平行な面は、支持層30における凹部31以外の支持基板40に接着する面より、支持基板40の表面から離間している。このような凹部31を備えることで、圧電共振器10の製造時に、空間60を形成するための犠牲層(図3、図4の犠牲層600参照)が支持基板40から剥離しやすくなる。したがって、犠牲層を短時間で除去することができる。また、犠牲層を確実に除去することが可能であるので、所望の特性を有する圧電共振器10を実現し易い。
次に、本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器のより具体的な製造方法について説明する。図2は、本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器の製造方法を示したフローチャートである。図3、図4は、本発明の第1の実施形態に係る圧電共振器における各製造過程での構成を示す断面図である。
まず、圧電基板200を用意する。圧電基板200は、LiTaO、または、LiNbO等の圧電体を材料としている。圧電基板200の裏面に裏面電極22を形成する。裏面電極22の形成は、例えば、蒸着リフトオフ法等によって、圧電基板200の裏面にTi、Alを順に蒸着することによって実現される。裏面電極を必要としない圧電共振器である場合、この構成を省略してもよい。
工程S101として、圧電基板200の裏面に、裏面電極22を覆うようにして、犠牲層600を形成する(図3(A)参照。)。犠牲層600は、例えばZnOからなる。犠牲層600は、スパッタリング法によって圧電基板200の裏面全体にZnO層を形成さした後、このZnO層をウェットエッチング等によってパターニングすることによって形成される。例えば、犠牲層600の膜厚は、1μm〜3μm程度である。
工程S102として、圧電基板200の裏面に、犠牲層600を覆うようにして、支持層300を形成する(図3(B)参照。)。支持層300は、例えばSiOからなる。支持層300は、スパッタリング法によって犠牲層600がパターン形成された圧電基板200の裏面全体に形成される。例えば、支持層300の膜厚は、2μm〜8μm程度である。支持層300の表面を研磨等によって平坦化することで支持層30を形成する。すなわち、支持層300における犠牲層600を覆う領域となる隆起する部分を研磨によって削除することで、圧電共振器10に残る支持層30を形成する。
工程S103として、平坦化された支持層30と犠牲層600に対して、支持層30よりも犠牲層600が凹む凹部31を形成する(図3(C)参照。)。具体的には、支持層30と犠牲層600の表面を研磨する。この際、支持層30と犠牲層600とでは材料が異なることによって研磨レートが異なり、犠牲層600の研磨レートは支持層30の研磨レートよりも高い。したがって、同じ研磨時間であっても、犠牲層600は、支持層30よりも多く削れる。この研磨レートの違いを利用して、犠牲層600の領域が支持層30の領域よりも凹むことで得られる凹部31が形成される。なお、この際、支持層30と犠牲層600との界面付近では、支持層30も、支持層30の他の部分よりも削られ易くなる。したがって、図3(C)に示すように、凹部31は、犠牲層600の領域のみでなく、支持層30における犠牲層600との界面近傍の所定幅の領域まで広がる形状となる。
工程S104として、凹部31が形成された支持層30と犠牲層600の表面に、接着材料50を用いて、支持基板40を接着する(図3(D)参照。)。この際、犠牲層600の表面および凹部31の底面は、凹部31以外の支持層30の表面よりも、支持基板40との間隔が広くなる。したがって、犠牲層600および凹部31と支持基板40との密着性は、凹部31以外の支持層30と支持基板40との密着性よりも低くなる。
工程S105として、圧電基板200を薄膜化して、圧電薄膜20を形成する(図4(A)参照。)。圧電基板200の薄膜化は、既知の方法で行えばよい。例えば、圧電基板200における犠牲層600が形成された面と反対側から研磨によって薄膜化する。また、犠牲層600を形成する前に、圧電基板200の裏面側から水素イオンを注入して、裏面から所定の深さ位置に劈開層を形成しておく。そして、支持基板40を接着した後に加熱することによって、劈開を伸展させる。これにより、圧電基板200の裏面側の所定厚みの部分を、圧電基板200から分離して、圧電薄膜20を形成する。
工程S106として、圧電薄膜20の表面(圧電薄膜20における犠牲層600が形成された面と反対側の面)に、表面電極21を形成する(図4(B)参照。)。表面電極21の形成は、例えば、蒸着リフトオフ法等によって、圧電薄膜20の表面にTi、Alを順に蒸着することによって実現される。表面電極21の膜厚は、例えば10nm〜2000nm程度である。
工程S107として、犠牲層600を除去し、圧電薄膜20と支持基板40との間に空間60を形成する。より具体的には、圧電薄膜20に、犠牲層600の除去用の孔23を設ける(図4(C)参照。)。孔23の開口面積は、犠牲層600の面積と比較して小さい。孔23は、例えば、ドライエッチング法によって形成される。この孔23からエッチング溶液を注入して、犠牲層600を除去する(図4(D)参照。)。エッチング溶液は、例えば、酢リン酸の混合溶液を用いる。酢リン酸の混合溶液は、酢酸、リン酸、水を1:1:10の割合で混合した溶液である。
ここで、上述のように、本実施形態の構成では、犠牲層600と支持基板40との間の密着強度は、支持層30と支持基板40との間の密着強度よりも低い。したがって、従来の構成および従来の製造方法よりも、犠牲層600を短時間で確実に除去することができる。
次に、本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器および圧電共振器の製造方法について、図を参照して説明する。図5は、本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器の主要構造を示す断面図である。
本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器10Aは、第1の実施形態に係る圧電共振器10に対して、凹部の形成箇所が異なるものであり、他の構成は、第1の実施形態に係る圧電共振器10と同じである。
図5に示すように、圧電共振器10Aは、支持基板40に凹部41Aが形成されている。凹部41Aは、少なくとも支持基板40が接着層50を介して、空間60に露出する領域を含むように、形成されている。
このような構成であっても、第1の実施形態に係る圧電共振器10と同様の作用効果を得ることができる。また、この構成では、支持層30Aに凹部が形成されない。したがって、支持層30Aによって決まる空間60の体積を、より高精度に決定することができ、所望の特性を有する圧電共振器10Aを高精度に製造することができる。
本実施形態に係る圧電共振器10Aは、次に示す工程によって製造される。図6は、本発明の第2の実施形態に係る圧電共振器の製造方法を示したフローチャートである。
本実施形態に係る圧電共振器10Aの製造方法は、凹部の形成を除いて、基本的に第1の実施形態に係る圧電共振器10の製造方法と同じである。
工程S201として、圧電基板の裏面に、裏面電極を覆うようにして、犠牲層を形成する。
工程S202として、圧電基板の裏面に、犠牲層を覆うようにして、支持層を形成する。そして、支持層と犠牲層を、圧電基板と反対側の面から、犠牲層が露出するまで研磨して、表面(研磨面)を平坦化する。
工程S203として、支持基板40の表面を部分的に研磨して、凹部41Aを形成する。
工程S204として、凹部41Aが形成された支持基板40と、支持層および犠牲層とを、接着材料50を用いて接着する。
工程S205として、圧電基板を薄膜化して、圧電薄膜を形成する。
工程S206として、圧電薄膜の表面(圧電薄膜における犠牲層が形成された面と反対側の面)に、表面電極を形成する。
工程S207として、犠牲層を除去し、圧電薄膜20と支持基板40との間に空間60を形成する。
なお、上述の構成では、研磨によって凹部31,41Aを形成する態様を示したが、支持層と犠牲層の材料の違いによるエッチングレートの違いを利用して、エッチングによって凹部31を形成する態様を用いてもよい。
10,10A:圧電共振器
20:圧電薄膜
21:表面電極
22:裏面電極
30,30A,300:支持層
31,41A:凹部
40:支持基板
50:接着材料
60:空間
600:犠牲層

Claims (4)

  1. 圧電基板の裏面に犠牲層を形成する工程と、
    前記圧電基板の裏面に支持層を形成する工程と、
    前記支持層および前記犠牲層を削って、前記支持層に対して前記犠牲層が凹む凹部を形成する工程と、
    前記凹部が形成される側の前記支持層の面に、支持基板を接着する工程と、
    前記犠牲層を除去する工程と、
    を有する、圧電共振器の製造方法。
  2. 前記凹部を形成する工程は、
    前記支持層および前記犠牲層の研磨によって前記凹部を形成する、
    請求項1に記載の圧電共振器の製造方法。
  3. 前記凹部を形成する工程は、
    前記支持層および前記犠牲層のエッチングによって前記凹部を形成する、
    請求項1に記載の圧電共振器の製造方法。
  4. 圧電薄膜と、
    該圧電薄膜の裏面側に配置された支持基板と、
    前記圧電薄膜と前記支持基板との間に空間を設けるように、前記圧電薄膜を前記支持基板に固定する支持層と
    前記支持基板における前記圧電薄膜側の面に形成された接着層と、を備え、
    前記接着層における前記支持基板と前記支持層とが接着する部分の一部の厚さは、前記接着層における前記支持基板が前記支持層に接着していない部分の厚さよりも薄い、
    圧電共振器。
JP2016539889A 2014-08-05 2015-06-17 圧電共振器の製造方法および圧電共振器 Active JP6460111B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014159387 2014-08-05
JP2014159387 2014-08-05
PCT/JP2015/067410 WO2016021304A1 (ja) 2014-08-05 2015-06-17 圧電共振器の製造方法および圧電共振器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016021304A1 JPWO2016021304A1 (ja) 2017-04-27
JP6460111B2 true JP6460111B2 (ja) 2019-01-30

Family

ID=55263582

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016539889A Active JP6460111B2 (ja) 2014-08-05 2015-06-17 圧電共振器の製造方法および圧電共振器

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10560065B2 (ja)
JP (1) JP6460111B2 (ja)
CN (1) CN106489238B (ja)
WO (1) WO2016021304A1 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016098526A1 (ja) * 2014-12-18 2016-06-23 株式会社村田製作所 弾性波装置及びその製造方法
US11832521B2 (en) 2017-10-16 2023-11-28 Akoustis, Inc. Methods of forming group III-nitride single crystal piezoelectric thin films using ordered deposition and stress neutral template layers
US11070184B2 (en) * 2016-03-11 2021-07-20 Akoustis, Inc. Piezoelectric acoustic resonator manufactured with piezoelectric thin film transfer process
US11411169B2 (en) 2017-10-16 2022-08-09 Akoustis, Inc. Methods of forming group III piezoelectric thin films via removal of portions of first sputtered material
US11581866B2 (en) 2016-03-11 2023-02-14 Akoustis, Inc. RF acoustic wave resonators integrated with high electron mobility transistors including a shared piezoelectric/buffer layer and methods of forming the same
US10355659B2 (en) * 2016-03-11 2019-07-16 Akoustis, Inc. Piezoelectric acoustic resonator manufactured with piezoelectric thin film transfer process
US11424728B2 (en) * 2016-03-11 2022-08-23 Akoustis, Inc. Piezoelectric acoustic resonator manufactured with piezoelectric thin film transfer process
US11411168B2 (en) 2017-10-16 2022-08-09 Akoustis, Inc. Methods of forming group III piezoelectric thin films via sputtering
US11895920B2 (en) 2016-08-15 2024-02-06 Akoustis, Inc. Methods of forming group III piezoelectric thin films via removal of portions of first sputtered material
US11736088B2 (en) 2016-11-15 2023-08-22 Global Communication Semiconductors, Llc Film bulk acoustic resonator with spurious resonance suppression
US11856858B2 (en) 2017-10-16 2023-12-26 Akoustis, Inc. Methods of forming doped crystalline piezoelectric thin films via MOCVD and related doped crystalline piezoelectric thin films
US11764750B2 (en) 2018-07-20 2023-09-19 Global Communication Semiconductors, Llc Support structure for bulk acoustic wave resonator
US12155368B2 (en) 2018-07-20 2024-11-26 Global Communication Semiconductors, Llc Support structure for bulk acoustic wave resonator
FR3088109A1 (fr) * 2018-11-07 2020-05-08 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procede de fabrication d'un circuit de refroidissement
US11817839B2 (en) * 2019-03-28 2023-11-14 Global Communication Semiconductors, Llc Single-crystal bulk acoustic wave resonator and method of making thereof
WO2021042344A1 (zh) * 2019-09-05 2021-03-11 刘宇浩 一种体声波谐振装置及一种体声波滤波器
WO2021042345A1 (zh) * 2019-09-05 2021-03-11 刘宇浩 一种体声波谐振装置的形成方法
US11909373B2 (en) 2019-10-15 2024-02-20 Global Communication Semiconductors, Llc Bulk acoustic resonator structures with improved edge frames
US11618968B2 (en) 2020-02-07 2023-04-04 Akoustis, Inc. Apparatus including horizontal flow reactor with a central injector column having separate conduits for low-vapor pressure metalorganic precursors and other precursors for formation of piezoelectric layers on wafers
US12102010B2 (en) 2020-03-05 2024-09-24 Akoustis, Inc. Methods of forming films including scandium at low temperatures using chemical vapor deposition to provide piezoelectric resonator devices and/or high electron mobility transistor devices
US12011715B2 (en) * 2020-11-11 2024-06-18 International Business Machines Corporation Tailorable electrode capping for microfluidic devices
US12329035B2 (en) 2021-06-29 2025-06-10 Global Communication Semiconductors, Llc Bulk acoustic wave resonator with improved structures
WO2023058769A1 (ja) * 2021-10-08 2023-04-13 株式会社村田製作所 弾性波装置の製造方法
WO2023058768A1 (ja) * 2021-10-08 2023-04-13 株式会社村田製作所 弾性波装置の製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3298291B2 (ja) * 1994-03-07 2002-07-02 富士電機株式会社 複合素子および貼り合わせ基板の製造方法
US6914367B2 (en) * 2000-07-06 2005-07-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Surface acoustic wave device and method of manufacturing the device
KR100662865B1 (ko) * 2003-10-08 2007-01-02 삼성전자주식회사 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법
JP4534158B2 (ja) * 2003-12-19 2010-09-01 宇部興産株式会社 圧電薄膜デバイスの製造方法
CN100550619C (zh) * 2006-02-16 2009-10-14 精工爱普生株式会社 拉姆波式高频设备、拉姆波式高频设备的制造方法
JP4315174B2 (ja) * 2006-02-16 2009-08-19 セイコーエプソン株式会社 ラム波型高周波デバイスの製造方法
JP2008131356A (ja) * 2006-11-21 2008-06-05 Toshiba Corp 薄膜圧電共振子およびその製造方法
JP5111281B2 (ja) * 2008-07-31 2013-01-09 京セラ株式会社 圧電共振器およびその製造方法
JP5152410B2 (ja) * 2009-06-09 2013-02-27 株式会社村田製作所 圧電デバイスの製造方法
DE112010004178B4 (de) * 2009-10-30 2018-08-23 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines piezoelektrischen Bauelements
JP2013214954A (ja) * 2012-03-07 2013-10-17 Taiyo Yuden Co Ltd 共振子、周波数フィルタ、デュプレクサ、電子機器及び共振子の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20170149405A1 (en) 2017-05-25
US10560065B2 (en) 2020-02-11
JPWO2016021304A1 (ja) 2017-04-27
WO2016021304A1 (ja) 2016-02-11
CN106489238B (zh) 2019-04-12
CN106489238A (zh) 2017-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6460111B2 (ja) 圧電共振器の製造方法および圧電共振器
JP4636292B2 (ja) 電子部品及び電子部品の製造方法
JP7081041B2 (ja) 薄膜バルク音響波共振器とその製造方法、フィルタ、および無線周波数通信システム
JP4071213B2 (ja) カンチレバー状の圧電薄膜素子およびその製造方法
CN107251427B (zh) 弹性波装置及其制造方法
CN110311643B (zh) 一种薄膜体声波谐振器及其制备方法
US10700262B2 (en) Piezoelectric device and production method for piezoelectric device
JP2006295924A (ja) 充填された凹部領域を用いた音響共振器の性能向上
JP2002314368A (ja) 薄膜バルク音響共振器装置、及びこれを製造するための改良された方法
JP6464735B2 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
JP2005045694A (ja) 薄膜バルク音響共振子およびその製造方法
CN113904652B (zh) 兰姆波谐振器及其制备方法
WO2015190429A1 (ja) 圧電デバイスおよび圧電デバイスの製造方法
CN107925396B (zh) 弹性波装置
JP2013143608A (ja) 共振子
WO2019095640A1 (zh) 压电谐振器和压电谐振器的制备方法
WO2013172287A1 (ja) 弾性波装置
JP5862368B2 (ja) 圧電デバイスの製造方法
JP2009089006A (ja) 圧電薄膜振動子の製造方法及び圧電薄膜振動子
CN109889174A (zh) 一种谐振器及其制作方法
CN114786827B (zh) 压电装置
JP2005303573A (ja) 薄膜圧電共振器及びその製造方法
CN111030628A (zh) 一种体声波谐振器的制备方法
JP2009038518A (ja) 薄膜圧電共振器の製造方法及び薄膜圧電共振器
WO2021106266A1 (ja) 圧電デバイス

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161202

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181024

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181217

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6460111

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150