[go: up one dir, main page]

JP6453219B2 - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6453219B2
JP6453219B2 JP2015530823A JP2015530823A JP6453219B2 JP 6453219 B2 JP6453219 B2 JP 6453219B2 JP 2015530823 A JP2015530823 A JP 2015530823A JP 2015530823 A JP2015530823 A JP 2015530823A JP 6453219 B2 JP6453219 B2 JP 6453219B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
analysis
reagent
automatic analyzer
preparation
item
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015530823A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2015019880A1 (ja
Inventor
善寛 山下
善寛 山下
鈴木 寿治
寿治 鈴木
孝明 萩原
孝明 萩原
和方 山澤
和方 山澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of JPWO2015019880A1 publication Critical patent/JPWO2015019880A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6453219B2 publication Critical patent/JP6453219B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/0092Scheduling
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00712Automatic status testing, e.g. at start-up or periodic
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722Communications; Identification
    • G01N35/00871Communications between instruments or with remote terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00623Quality control of instruments
    • G01N2035/00643Quality control of instruments detecting malfunctions in conveying systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00663Quality control of consumables
    • G01N2035/00673Quality control of consumables of reagents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722Communications; Identification
    • G01N2035/00891Displaying information to the operator
    • G01N2035/0091GUI [graphical user interfaces]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/0092Scheduling
    • G01N2035/0094Scheduling optimisation; experiment design

Landscapes

  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明は、血漿や血清、尿などの生体試料の成分分析を行う自動分析装置に関する。
自動分析装置は、血清や血漿、尿などの生体試料(以下、単に試料と称する)に含まれる特定の成分に特異的に反応する試薬を添加・反応させ、透過光や散乱光、および化学発光や電気化学発光を測定することにより、試料の特定成分の定量・定性分析を行うものである。
このような自動分析装置においては、分析動作前に分析装置の状態を分析に適した状態にするために準備動作を行ったり、分析動作後に分析装置を適切な待機状態にするために終了動作をおこなったりするなど、状況に応じて分析装置の状態を適切に管理することにより、分析結果の信頼性向上や分析精度の安定化を図っている。
一方、分析動作の前後に行うこれらの動作はTAT(Turn Around Time)の増減に係わることから、例えば、特許文献1(国際公開第2011/078118号)には、TATの短縮を目的として、自動分析装置の分析を開始する前に必要な複数の分析準備プロセスのうち、指定した準備動作を装置電源立ち上げ時の初期処理中に行うか、分析開始後に行うかを選択する自動分析装置に係る技術が開示されている。
国際公開第2011/078118号
しかしながら、上記従来技術においては、自動分析装置の複数の分析準備プロセスのうち、指定した準備動作を装置電源立ち上げ時の初期処理中に行うことにより、分析依頼が発生してから、実際に分析を開始するまでの時間短縮を図っている。したがって、TATの短縮はあくまで分析スタート直後の検査に限定されており、改善の余地が残されていた。
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、分析処理に係る各種動作の効率化を図ることにより、分析処理に要する時間を短縮することができる自動分析装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、分析装置の起動処理終了から、分析動作の準備を行う為の分析準備動作の開始までの間、および分析終了動作の終了から前記分析動作を行うための準備を行う分析準備動作の開始までの間における自動分析装置の状態を監視する装置状態監視部と、前記装置状態監視部の監視結果に基づいて、前記分析準備動作として設定された複数の準備動作項目のうち、実行する1つ以上の準備動作項目を決定する分析準備動作項目決定部とを備えたものとする。
本発明によれば、分析処理に係る各種動作の合理化を図ることにより、分析処理に要する時間を短縮することができる。
本発明の一実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。 制御部の概要を説明する機能ブロック図である。 出力部に表示される設定画面の一つである分析モード選択画面の一例を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る自動分析装置のシステム試薬に関する流路構成を概略的に示す図である。 本発明の一実施の形態における分析処理の全体の流れを示すフローチャート(例1)である。 本発明の一実施の形態における分析処理の全体の流れを示すフローチャート(例2)である。
本発明の一実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
(1)全体構成
図1は、本実施の形態に係る自動分析装置の全体構成を概略的に示す図である。また、図4はシステム試薬に関する流路構成を概略的に示す図である
図1および図4において、自動分析装置100は、試料を収容する複数のサンプル容器102と、複数のサンプル容器102を保持するラック101と、ラック101を搬送するラック搬送ライン117と、反応容器105を保持するインキュベータディスク104と、サンプル容器102から反応容器105へ試料を分注するサンプル分注ノズル103と、試薬を収容する複数の試薬容器118と、複数の試薬容器118を保持する試薬ディスク111と、試薬容器118から反応容器105に試薬を分注する試薬分注ノズル114と、試薬分注ノズル114を洗浄する試薬分注ノズル洗浄槽121と、試薬ノズル洗浄槽121に洗浄試薬を供給する洗浄試薬供給孔122と、反応容器105に収容された試料と試薬の混合液(以降、反応液と称する)を攪拌する攪拌機構108と、反応液から特定成分の検出を行う検出ユニット116と、反応容器105から反応液を吸引して検出ユニット116に送る反応液吸引ノズル115と、反応液吸引ノズルによって吸引する検出反応補助試薬を保持する検出反応補助試薬リザーバ123と、検出反応補助試薬リザーバ123に検出反応補助試薬を供給する検出反応補助試薬供給ノズル124と、反応液吸引ノズルによって吸引する洗浄試薬を保持する洗浄試薬リザーバ125と、洗浄試薬リザーバ125に洗浄試薬を供給する洗浄試薬供給ノズル126と、分析部を覆うトップカバーの開閉を検知する為のセンサー127、自動分析装置全体の動作を制御する制御部119とから概略構成されている。また、自動分析装置100には、サンプル分注チップ・反応容器搬送機構106、サンプル分注チップ・反応容器保持部107、サンプル分注チップ・反応容器廃棄孔109及び、サンプル分注チップ装着部110が設けられている。
(1−1)ラック搬送ライン117
サンプル容器102は、ラック101に保持されてラック搬送ライン117に沿って搬送される。サンプル容器102には、分析対象の血漿や血清、尿などの生体サンプル(以下、試料と称する)が収容されている。ラック搬送ライン117上には、サンプル分注位置が配置されている。
(1−2)試薬ディスク111
試薬ディスク111には、分析処理に用いる試薬が収容された複数の試薬容器118が周方向に並べて配置されている。試薬ディスク111は、図示しない回転駆動装置によって周方向に回転駆動されることにより、試薬容器118を周方向に搬送する。
試薬容器118が保持される試薬ディスク111の内部空間は、試薬ディスクカバー112によって画定され、所定の温度に維持される。ている。試薬ディスクカバー112には、試薬分注ノズル114が試薬容器118にアクセスするための試薬ディスクカバー開口部113が設けられている。
(1−3)インキュベータディスク104
インキュベータディスク104には、試料と試薬の混合液(反応液)が収容される複数の反応容器105が周方向に並べて配置されている。インキュベータディスク104は、図示しない回転駆動装置によって周方向に回転駆動されることにより、反応容器105を周方向に搬送する。インキュベータディスク104による反応容器105の搬送経路上には、反応容器設置位置、試薬分注位置、サンプル分注位置、検出位置、反応容器廃棄位置などが配置されている。
(1−4)サンプル分注ノズル103、試薬分注ノズル114
サンプル分注ノズル103及び試薬分注ノズル114は、水平方向への回動及び上下移動可能に構成されており、ノズル先端を試薬容器118内の試薬・希釈液、或いはサンプル容器102内の試料に接液させて、所定量の吸引を行い、インキュベータディスク104の反応容器105に吐出する。
サンプル分注ノズル103は、ラック搬送ライン117のサンプル分注位置に搬送されたサンプル容器102から、インキュベータディスク104のサンプル分注位置に搬送された反応容器105に試料の分注を行う。サンプル分注ノズル103は、試料の分注を行う前に、サンプル分注チップ装着位置110の上方に移動して下降し、サンプル分注ノズル103の先端にサンプル分注チップを装着する。また、試料の分注後は、サンプル分注チップ及び反応容器廃棄孔109の上方に移動し、使用済みのサンプル分注チップをサンプル分注チップ及び反応容器廃棄孔109へと廃棄する。
また、試薬分注ノズル114は、試薬分注ノズル114を洗浄する試薬分注ノズル洗浄槽121において、洗浄試薬供給孔122に供給される洗浄試薬を所定量吸引して、吐出することにより、試薬分注ノズルの配管内と先端外表面を洗浄した後、試薬ディスク111の試薬ディスクカバー開口部113に対応する試薬分注位置に搬送された試薬容器118から、インキュベータディスク104の試薬分注位置に搬送された反応容器105に試薬の分注を行う。尚、洗浄試薬は、洗浄試薬ボトル154から、流路および切り替えバルブ161、162、164を介して連結される洗浄試薬供給シリンジ152によって吸引され、洗浄試薬供給孔122へと吐出される。
(1−5)サンプル分注チップ・反応容器保持部107
サンプル分注チップ・反応容器保持部107には、サンプル分注ノズル103の先端に装着するための未使用のサンプル分注チップと、インキュベータディスク104に配置される未使用の反応容器105とが保持されている。
(1−6)サンプル分注チップ・反応容器搬送機構106
サンプル分注チップ・反応容器搬送機構106は、X軸,Y軸,Z軸の3方向に移動可能に構成されており、サンプル分注チップ・反応容器保持部107からサンプル分注チップ装着位置110へのサンプル分注チップの搬送や、インキュベータディスク104への反応容器105の搬送を行う。また、サンプル分注チップ・反応容器搬送機構106は、試料と試薬が分注された反応容器105をインキュベータディスク104から攪拌機構108に搬送し、反応容器105に収容された混合液(反応液)を攪拌する。つまり、サンプル分注チップ及び反応容器搬送機構106は、サンプル分注チップ及び反応容器保持部材107の上方に移動し、下降して未使用の反応容器105を把持して上昇し、インキュベータディスク104の反応容器設置位置の上方に移動し、下降して反応容器を設置する。また、サンプル分注チップ・反応容器搬送機構106は、使用済みの反応容器105をサンプル分注チップ・反応容器廃棄孔109に搬送して廃棄する。
(1−7)反応液吸引ノズル115、検出ユニット116
反応液吸引ノズル115は水平方向への回転移動と上下移動が可能であり、インキュベータディスク104上の反応を終えた反応容器105へと移動して、反応容器105内の反応液を吸引し、流路を介して連結される検出ユニット116へと送液する。また、反応液吸引ノズル115は、検出反応補助試薬リザーバ123へと移動して、検出反応補助試薬を吸引し、検出ユニット116へと送液する。検出反応補助試薬は、検出反応補助試薬ボトル153から、流路および切り替えバルブ156、158、159、160を介して連結される検出反応補助試薬供給シリンジ151によって吸引され、検出反応補助試薬供給ノズル124から吐出され、検出反応補助試薬リザーバへ貯蔵される。さらに同様に、反応液吸引ノズル115は、洗浄試薬リザーバ125へと移動して、洗浄試薬を吸引し、検出ユニット116へと送液する。洗浄試薬は、洗浄試薬ボトル154から、流路および切り替えバルブ157、161、163、164を介して連結される洗浄試薬供給シリンジ152によって吸引され、洗浄試薬供給ノズル126から吐出され、洗浄試薬リザーバ125へ貯蔵される。
(1−8)制御部119
図2は、制御部の概要を説明する機能ブロック図である。
図2において、制御部119は、入力部130と、記憶部131と、演算部132と、出力部133とを備えている。
(1−8.1)演算部132
演算部132は、分析動作を行う前に分析装置の状態を分析に適した状態にするための動作である分析準備動作(後述)や、検出ユニット116による検出結果に基づいて分析対象の試料の分析を行う分析動作(後述)、分析動作を行った後に分析装置を適切な待機状態にするための分析終了動作(後述)などを行い、分析結果等を出力部133に出力するとともに、記憶部131に記憶する。
また、演算部132は、分析装置の起動処理終了から、分析動作の準備を行うための分析準備動作の開始までの間、および分析終了動作の終了から分析準備動作までの間における自動分析装置の状態を監視する装置状態監視部としての機能と、監視結果に基づいて、分析準備動作として設定された複数の準備動作項目のうち、実行する1つ以上の準備動作項目を決定する分析準備動作項目決定部としての機能とを備えている。
ここで、演算部132が装置状態監視部としての機能により監視する自動分析装置の状態としては、装置起動処理時の異常有無、装置起動後のメンテナンスの実行の有無及びメンテナンス項目種類、操作者による分析部へのアクセス有無、システム試薬ボトルの交換の有無、などがある。装置起動処理時の異常有無については起動処理中のアラーム、メンテナンス実行については操作者が操作画面から選択したメンテナンス項目履歴、操作者による分析部へのアクセス有無については分析部を覆うトップカバーの開閉を検知するセンサー状態、システム試薬ボトル交換の有無については操作者によるボトル交換済みボタンの入力信号、に関する情報を監視し、自動分析装置の各部から制御部119に送られ、記憶部131などに記憶される。
(1−8.2)記憶部131
記憶部131には、検出ユニット116による検出結果や、検出結果から演算された分析処理の結果、分析モード(後述)などの設定、オペレータ毎に設定されたパスワードや、画面の表示レベル、試料情報、試薬情報、分析パラメータ、分析依頼項目、キャリブレーション結果など、自動分析装置に係る情報が記憶されている。
(1−8.3)出力部133、入力部130
出力部133は、例えば、モニター等の表示装置やプリンター等により構成されており、試料の分析結果や各種設定内容を表示したり、印刷出力したりする。また、入力部130は、例えば、キーボードやマウス等の操作装置により構成されており、出力部133のモニター等に表示される設定画面などを含むGUI(Graphical User Interface)により、種々の操作を行う。
図3は、出力部133に表示される設定画面の一つである分析モード選択画面の一例を示す図である。
図3において、分析モード選択画面140は、分析モードとして迅速開始モードを選択するためのチェックボックス141と、チェックボックス141での設定内容を決定するOKボタン142と、キャンセルするキャンセルボタン143とを有している。
分析モード選択画面140は、自動分析装置における分析モードを通常モードと迅速開始モードとの何れかに設定するための設定画面である。通常モードでは、分析終了動作及び分析準備動作のそれぞれにおいて用意された複数の動作項目の全てを実行するモードである。また、迅速開始モード(後に詳述)は、状況に応じて分析終了動作及び分析準備動作における複数の動作項目から実行する項目と実行しない項目とを選択して実行することにより、分析終了動作および分析準備動作を最適化して動作に必要な時間を短縮し、分析処理の時間短縮を図るモードである。
(2)分析準備動作、分析動作、分析終了動作
本実施の形態における、分析準備動作、分析動作、分析終了動作の詳細について説明する。
(2−1)分析準備動作
分析準備動作は、分析動作を行う前に分析装置の状態を分析に適した状態にするための動作である。分析準備動作では、予め複数の動作項目(以降、準備動作項目と称する)が用意されており、これら複数の準備動作項目から一部又は全部の動作項目が選択されて実行される。準備動作項目としては、例えば、検出反応補助試薬や洗浄試薬などのシステム試薬置換や反応容器廃棄、流路内気泡除去、検出用センサー機能確認などがある。なお、準備動作項目のうち、システム試薬置換や反応容器廃棄に要する時間が比較的長いため、これらを最適化することにより得られる時間短縮効果は比較的大きい。
(2−1.1)システム試薬置換
システム試薬置換は、検出反応補助試薬リザーバ123と、検出反応補助試薬供給ノズル124と検出反応補助試薬ボトル153を連結する流路、洗浄試薬リザーバ125と、洗浄試薬供給ノズル126と洗浄試薬ボトル154を連結する流路、および試薬分注ノズル洗浄槽121と、洗浄試薬供給孔122と洗浄試薬ボトル154を連結する流路を、各々、検出反応補助試薬または洗浄試薬に置換する動作項目である。
システム試薬置換では、検出反応補助試薬および洗浄試薬について、各システム試薬ボトルから各システム試薬供給ノズル及び各システム試薬リザーバ内にシステム試薬を充填して、検出工程の準備を実施する。また、洗浄試薬ボトルから試薬分注ノズル洗浄槽へと洗浄試薬を供給して試薬分注工程の準備を実施する。
このシステム試薬置換は、検出反応補助試薬及び洗浄試薬の各システム試薬ボトルから各システム試薬供給ノズル及び各システム試薬リザーバ内、および試薬プローブ洗浄槽内に残存する溶液をシステム試薬に置換するため、当該流路及びリザーバの総容量、および試薬プローブ洗浄槽の洗浄試薬供給孔に相当するシステム試薬を複数回供給する必要があるため、分析準備動作の動作項目のなかで最も所要時間が長いという特徴がある。
(2−1.2)反応容器廃棄
反応容器廃棄は、インキュベータディスク104及び攪拌機構108に残存する反応容器105を廃棄する動作項目である。
反応容器廃棄では、インキュベータディスク104及び攪拌機構108に残存する反応容器105の残存有無を確認して、廃棄動作を実施する。
反応容器廃棄は、インキュベータディスク104及び攪拌機構108に反応容器105が残存していた場合は、サンプル分注チップ及び反応容器搬送機構106によって、反応容器105を一つずつ、サンプル分注チップ及び反応容器は行き孔に搬送して廃棄するため、分析準備動作の動作項目のなかでシステム試薬置換に次いで所要時間が長いという特徴がある。
(2−1.3)流路内気泡除去
流路内気泡除去は、試薬分注ノズル114及びサンプル分注ノズル103における流路内の気泡を除去する動作項目である。
流路内気泡除去では、試薬分注ノズル114及びサンプル分注ノズル103のシリンジから流路を経由して各分注ノズルへとシステム水を吐出することで、シリンジ及び流路内の気泡を除去し、分注精度の確保を図る。
(2−1.4)検出用センサー機能確認
検出用センサー機能確認は、検出ユニット116内の検出用センサーの機能を確認する動作項目である。
検出用センサー気泡確認では、システム試薬(検出反応補助試薬)を用いて検出用センサーの状態を確認し、分析の実行に際して事前に検出用センサーの異常の有無を確認する。
(2−2)分析動作
分析動作では、以下の工程により分析対象試料の分析を行う。
(2−2.1)サンプル分注処理・試薬分注処理
試薬や希釈液が収容された複数の試薬容器118は、試薬ディスク111の回転により試薬分注ノズル114による試薬分注位置まで搬送される。インキュベータディスク104上に周方向に並べて配置された複数の反応容器105のうち、分析動作に用いる反応容器105は、インキュベータディスク104の回転により試薬分注位置まで搬送される。試薬分注位置では、試薬分注ノズル114により、試薬容器118の試薬が吸引され、反応容器105に吐出され。
分析対象の試料が収容された複数のサンプル容器102は、ラック101に架設され、ラック搬送ライン117によって、サンプル分注ノズル103によるサンプル分注位置まで搬送される。インキュベータディスク104上に周方向に並べて配置された複数の反応容器105のうち、分析動作に用いる反応容器105は、インキュベータディスク104の回転によりサンプル分注位置まで搬送される。サンプル分注位置では、サンプル分注ノズル103により、サンプル容器102の試料が吸引され、反応容器105に吐出される。
(2−2.2)攪拌処理
試料と試薬とが吐出された反応容器105は、インキュベータディスク104の回転によって、反応容器搬送位置に移動され、サンプル分注チップ及び反応容器搬送機構106によって、攪拌機構108へと搬送される。攪拌機構108では、反応容器102に回転運動を加えて反応容器内のサンプルと試薬を混和(攪拌)する。攪拌の終了した反応容器102は、サンプル分注チップ及び反応容器搬送機構106によって、インキュベータディスク104の反応容器搬送位置に戻される。
(2−2.3)検出処理
試薬と試料とが分注・混和され、インキュベータディスク104上で所定時間が経過した反応容器105は、検出位置に搬送される。検出位置では、反応容器105に収容された反応液が、反応液吸引ノズル115により吸引され、次いで、検出反応補助試薬リザーバ123に収容された検出反応補助試薬が吸引されて、反応液と検出反応補助試薬が検出ユニット116に送液される。検出ユニット116に送られた反応液は、測定対象成分が検出され、検出結果が制御部119に送られる。その後、洗浄試薬リザーバ125に充填された洗浄試薬を吸引して検出ユニット116に送液して検出ユニット116を洗浄する。各システム試薬リザーバのシステム試薬(検出反補助試薬、洗浄試薬)が吸引された後、各システム試薬供給ノズルからシステム試薬が補充される。
(2−3)分析終了動作
分析終了動作は、分析動作を行った後に分析装置を適切な待機状態にするための動作である。分析終了動作では、予め複数の動作項目(以降、終了動作項目と称する)が用意されており、これら複数の終了動作項目から一部又は全部の動作項目が選択されて実行される。終了動作項目としては、例えば、システム試薬の水置換や反応容器廃棄などがある。
(2−3.1)システム試薬の水置換
システム試薬の水置換は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬プローブ洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬の水置換を行う動作項目である。
システム試薬の水置換では、検出反応補助試薬及び洗浄試薬について、各システム試薬供給ノズル内、各システム試薬リザーバ内、および試薬プローブ洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬を水に置換する。これにより、長時間の待機状態において、各システム試薬供給ノズル、システム試薬リザーバ、および試薬プローブ洗浄槽の洗浄試薬供給孔での試薬の蒸発濃縮による結晶の析出、或いは、試薬の劣化を防止する。
(2−3.2)反応容器廃棄
反応容器廃棄は、インキュベータディスク104及び攪拌機構108に残存する反応容器105を廃棄する動作項目である。
反応容器廃棄において、反応液が吸引された反応容器105は、インキュベータディスク104の回転によって反応容器廃棄位置に搬送され、サンプル分注チップ及び反応容器搬送機構106によって、インキュベータディスク105からサンプル分注チップ及び反応容器廃棄孔109の上方に搬送され、サンプル分注チップ及び反応容器廃棄孔109から廃棄される。
(3)分析処理
図5および図6は、本実施の形態における分析処理の全体の流れを示すフローチャートである。
図5において、制御部119は、入力部130等により、分析処理の開始が指示されると、分析モードの設定が迅速開始モードに設定されているかどうかを判定し(ステップS100)、判定結果がNOの場合は、分析準備動作における全項目実施を行う(ステップS151)。
ステップS100での判定結果がYESの場合は、前回の分析処理(又は、自動分析装置の起動処理)が正常に終了したかどうかを判定し(ステップS110)、判定結果がYESの場合は、続いて、前回の分析処理における分析終了動作の終了(又は、自動分析装置の起動処理)から、分析部トップカバーの開閉センサーの状態監視に基づいて、操作者が何らかの操作を実施する為に分析部(インキュベータディスク104、リザーバなど)にアクセスしたかどうかを判定する(ステップS120)。ステップS110での判定結果がNOである場合、又は、ステップS120での判定結果がYESの場合は、分析準備動作における全項目を実施する(ステップS151)。
ステップS120での判定結果がNOの場合は、システム試薬ボトルが交換されたかどうかを判定し(ステップS130)、判定結果がYESの場合は、分析準備動作における反応容器廃棄の項目を実施無しとする、すなわち、反応容器廃棄以外の項目を実施する(ステップS153)。
ステップS130での判定結果がNOの場合は、メンテナンスが実施されたかどうかを判定し(ステップS140)、判定結果がYESの場合には、システム試薬の水置換が実施されたかどうかを判定する(ステップS141)。ステップS140,S141での判定結果の両方がNOの場合は、分析準備動作におけるシステム試薬置換及び反応容器廃棄の項目を実施無しとする、すなわち、システム試薬置換及び反応容器廃棄の項目以外の項目を実施する(ステップS152)。
ステップS141での判定結果がYESの場合は、分析準備動作における反応容器廃棄の項目を実施無しとする、すなわち、反応容器廃棄以外の項目を実施する(ステップS153)。
分析準備動作(ステップS151,S152,S153)が終了すると、続いて分析動作を実施し(ステップS160)、さらに、分析終了動作の動作項目のうち、分析モードの設定に準じた動作項目が分析終了動作として実施される(ステップS170)。
そして、次回の分析処理の指示がなされたかどうかを判定し(ステップS180)、判定結果がNOの場合には、分析終了動作(ステップS170)から所定時間が経過したかどうかを判定し(ステップS181)、判定結果がYESの場合にはシステム試薬の補給を行って(ステップS182)、ステップS180に戻る。また、ステップS181での判定結果がNOの場合には、何もせずにステップS180に戻る。
ステップS180での判定結果がYESの場合には、処理を終了し、次回の分析処理を実施する。
一方、図6のフローチャートでは、ステップS140、またはステップS141の判定の後に、前回の分析終了からの経過時間、またはシステム試薬を置換或いは補給するようなメンテナンス動作を実施してからの経過時間が一定以上であるか否かを判断(ステップS190)する。この判定結果がYESの場合は、分析準備動作における反応容器廃棄の項目を実施無しとする、すなわち、反応容器廃棄以外の項目を実施する(ステップS153)。判定結果がNOの場合は、分析準備動作におけるシステム試薬置換及び反応容器廃棄の項目を実施無しとする、すなわち、システム試薬置換及び反応容器廃棄の項目以外の項目を実施する(ステップS152)。尚、ステップS190は、前回処理から一定時間が経過した場合のシステム試薬の蒸発や劣化への対処であり、図5に示すステップS180、181、182の代替と位置づけられる。
(4)動作
以上のように構成した本実施の形態における動作を説明する。
分析処理の実施時において、装置起動処理中に異常は無く、また、装置起動処理後にメンテナンス実行が無く、操作者による分析部へのアクセスも無く、更にシステム試薬ボトルの交換も無い場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔は既にシステム試薬に置換された状態であり、また、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、分析準備動作として、所要時間の長いステム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬置換動作、とインキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器105の廃棄動作、を省略する。或いは、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬置換動作、をより短時間で実施可能な簡易的なシステム試薬補充動作、としても良い。
一方、装置起動処理中に異常有り、或いは、装置起動処理後に操作者が分析部にアクセスした可能性があることを検知した場合は、各システム試薬分注ノズルや各システム試薬リザーバ内のシステム試薬や、インキュベータディスク104上および攪拌機構108上の反応容器105の状態が不確定であると判断して、分析準備動作としては全項目を実行する。尚、操作者が分析部にアクセスした可能性を検知する手段としては、例えば、分析部のトップカバーに開閉状態を検知するセンサーを備え、センサーの検知状態を監視する。
尚、装置起動処理後に操作者が分析部にアクセスする場合としては、例えば、サンプル分注ノズル103や試薬分注ノズル114等の分析部を清掃する作業や、反応液吸引ノズル115から検出ユニット116を含めた流路を洗浄するメンテナンスを実施する為に洗浄液を分析部へ設置する作業、等がある。
また、装置起動処理中に異常は無かったが、装置起動処理後に、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、または試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬の水置換動作を含むようなメンテンナンス項目が実施された場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ内、または試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔が水に置換された状態であり、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、分析準備動作の項目からは、インキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器廃棄、のみを省略する。
尚、ステム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、または試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬の水置換動作を含むようなメンテンナンス項目としては、例えば、反応液吸引ノズル115から検出ユニット116を含めた流路を洗浄するメンテナンス、検出ユニット116の検出用センサーを交換するメンテナンス、等がある。
また、装置起動処理中に異常は無かったが、装置起動処理後に、システム試薬ボトルの交換が実施された場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ内、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔に新規のシステム試薬を充填する必要があり、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、分析準備動作の項目からは、インキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器廃棄、のみを省略する。
装置起動後の二回目以降の分析においては、前回分析時の異常有無、および前回分析後に実行したメンテナンス項目と、操作者の分析部へのアクセス有無、システム試薬ボトルの交換有無、を監視した結果に基づいて、分析準備動作を選択して、実行する。
前回分析中に異常は無く、また、前回分析後にメンテナンス実行が無く、操作者による分析部へのアクセスも無く、更にシステム試薬ボトルの交換も無い場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔は既にシステム試薬に置換された状態であり、また、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、分析準備動作として、所要時間の長いシステム試薬供給ノズルの流路およびシステム試薬リザーバのシステム試薬置換、とインキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器105の廃棄、を省略する。或いは、ステム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬置換動作、をより短時間で実施可能な簡易的なシステム試薬補充動作、としても良い。
一方、前回分析中に異常有り、或いは、装置起動処理後に操作者が分析部にアクセスした可能性があることを検知した場合は、各システム試薬分注ノズルや各システム試薬リザーバ内のシステム試薬や、インキュベータディスク104上および攪拌機構108上の反応容器105の状態が不確定であると判断して、分析準備動作としては全項目を実行する。
また、前回分析中に異常は無かったが、前回分析後に、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬の水置換動作を含むようなメンテンナンス項目が実施された場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ内、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔が水に置換された状態であり、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、そして、分析準備動作の項目からは、インキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器廃棄、のみを省略する。
また、装置起動処理中に異常は無かったが、装置起動処理後に、システム試薬ボトルの交換が実施された場合は、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ内、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔は新規のシステム試薬を充填する必要があり、インキュベータディスク104上および攪拌機構108には反応容器105が残存していないと判断する。そして、分析準備動作の項目からは、インキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器廃棄、のみを省略する。
分析終了後は、分析終了動作を構成する項目から、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔のシステム試薬の水置換動作、を省略して、主にインキュベータディスク104上および攪拌機構108に残存する反応容器105の廃棄動作、を実施する。これにより、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔はシステム試薬を保持した状態を維持する。
ただし、装置起動処理後或いは前回分析後から、分析再開までの間隔が長時間化する場合は、各システム試薬供給ノズル内、各システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔において試薬が蒸発濃縮することによる結晶析出の可能性がある為、定期的なシステム試薬を自動補給、或いは、分析再開までの時間に応じた分析再開時準備動作におけるシステム試薬置換動作やシステム試薬補給量最適化、を実施することが好ましい。
装置のシャットダウンにおいては、操作者からのシャットダウン要求を受けて、先ず装置終了動作を実施した後、シャットダウン(電源オフ)を実行する。装置終了動作としては、システム試薬供給ノズルの流路、システム試薬リザーバのシステム試薬、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔の水置換動作を行う。これは、装置が稼働していない状態において、各システム試薬供給ノズル、システム試薬リザーバ、および試薬ノズル洗浄槽の洗浄試薬供給孔において試薬が蒸発濃縮することによって結晶が析出することを防止する為のものである。尚、全ての分析終了動作と分析準備動作を実施する通常の分析モードにおいては、シャットダウン要求時に、上記のような装置終了動作は実施しなくても良い。
(5)効果
以上のように構成した本実施の形態における効果を説明する。
自動分析装置においては、分析動作前に分析装置の状態を分析に適した状態にするために準備動作を行ったり、分析動作後に分析装置を適切な待機状態にするために終了動作をおこなったりするなど、状況に応じて分析装置の状態を適切に管理することにより、分析結果の信頼性向上や分析精度の安定化を図っている。
一方、分析動作の前後に行うこれらの動作はTAT(Turn Around Time)の増減に係わることから、TATの短縮を目的として、自動分析装置の分析を開始する前に必要な複数の分析準備プロセスのうち、指定した準備動作を装置電源立ち上げ時の初期処理中に行うか、分析開始後に行うかを選択する従来技術等か開示されている。しかしながら、上記従来技術においては、自動分析装置の複数の分析準備プロセスのうち、指定した準備動作を装置電源立ち上げ時の初期処理中に行うことにより、分析依頼が発生してから、実際に分析を開始するまでの時間を短縮を図っている。したがって、TATの短縮はあくまで分析スタート直後の測定に限定されており、改善の余地が残されていた。
これに対し本実施の形態においては、分析対象の試料を分析する分析動作の終了時に行う分析終了動作として設定された複数の終了動作項目のうち、実行する1つ以上の終了動作項目を決定したり、分析終了動作の終了から分析動作を行うための準備を行う分析準備動作の開始までの間における自動分析装置の状態を監視した監視結果に基づいて、分析準備動作として設定された複数の準備動作項目のうち、実行する1つ以上の準備動作項目を決定するように構成したので、分析処理に係る各種動作の合理化を図ることにより、分析処理に要する時間を短縮することができる。
100 分析装置
101 ラック
102 サンプル容器
103 サンプル分注ノズル
104 インキュベータディスク
105 反応容器
106 サンプル分注チップおよび反応容器搬送機構
107 サンプル分注チップおよび反応容器保持部材
108 攪拌機構
109 サンプル分注チップおよび反応容器廃棄孔
110 サンプル分注チップ装着位置
111 試薬ディスク
112 試薬ディスクカバー
113 試薬ディスクカバー開口部
114 試薬分注ノズル
115 反応液吸引ノズル
116 検出ユニット
117 ラック搬送ライン
118 試薬容器
119 制御部
121 試薬プローブ洗浄槽
122 洗浄試薬供給孔
123 反応補助試薬リザーバ
124 反応補助試薬供給ノズル
125 洗浄試薬リザーバ
126 洗浄試薬供給ノズル
127 トップカバー開閉検知センサー
130 入力部
131 記憶部
132 演算部
133 出力部
140 分析モード選択画面
151 反応補助試薬シリンジ
152 洗浄試薬シリンジ
153 反応補助試薬ボトル
154 洗浄試薬ボトル
155 廃液受け
156 切り替えバルブ(反応補助試薬シリンジ)
157 切り替えバルブ(洗浄試薬供給ノズル)
158 切り替えバルブ(反応補助試薬供給ノズル)
159 切り替えバルブ(反応補助試薬ボトル)
160 切り替えバルブ(反応補助試薬廃液)
161 切り替えバルブ(洗浄試薬ボトル)
162 切り替えバルブ(試薬ノズル洗浄)
163 切り替えバルブ(洗浄試薬廃液)
164 切り替えバルブ(洗浄試薬シリンジ)

Claims (11)

  1. 分析動作の準備を行うための分析準備動作において、予め定められた複数の準備動作項目を実行する通常モード、前記通常モードよりも少ない数の準備動作項目を実行する時間短縮モードとの何れか一方を操作者が動作モードとして選択して設定する動作モード設定部と、
    自動分析装置を起動するための起動処理終了から、前記分析動作の準備を行うための前記分析準備動作の開始までの間、および、前記分析動作を行った後の前記自動分析装置を適切な待機状態にするための分析終了動作の終了から、前記分析動作の準備を行うための前記分析準備動作の開始までの間における前記自動分析装置の状態を監視する装置状態監視部と、
    前記動作モード設定部において設定された動作モードおよび前記装置状態監視部の監視結果に基づいて、前記分析準備動作として実行する1つ以上の準備動作項目を決定する分析準備動作項目決定部と
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  2. サンプルと試薬の混合液の分析を実行する分析動作を行う分析部と、
    前記分析動作の準備を行うための分析準備動作において、予め定められた複数の準備動作項目を実行する通常モードと、前記通常モードよりも少ない数の準備動作項目を実行する時間短縮モードとの何れか一方を操作者が動作モードとして選択して設定する動作モード設定画面を表示する入力部と、
    自動分析装置を起動するための起動処理終了から、前記分析動作の準備を行うための前記分析準備動作の開始までの間、および、前記分析動作を行った後の前記自動分析装置を適切な待機状態にするための分析終了動作の終了から、前記分析動作の準備を行うための前記分析準備動作の開始までの間における前記自動分析装置状態を監視する装置状態監視機能、前記動作モード設定画面によって設定された動作モードおよび前記装置状態監視機能による前記自動分析装置状態の監視結果に基づいて、前記分析準備動作として実行する1つ以上の準備動作項目を決定する決定機能を有するようにプログラムされた制御部と
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  3. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記装置状態監視部は、監視する前記自動分析装置の状態として、少なくとも、前記自動分析装置の起動処理時の異常発生の有無、前記分析動作時の異常の有無、前記分析動作の終了から前記分析準備動作の開始までにおける操作者による分析部へのアクセスの有無、前記分析動作の終了から前記分析準備動作の開始までにおけるメンテナンスの実行の有無、実行された前記メンテナンスの種別、前記分析動作に用いる試薬の交換の有無、前記自動分析装置の起動処理終了時点あるいは前回の分析動作の終了時点からの経過時間、及び、システム試薬のメンテナンスを実行してからの経過時間、の少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする自動分析装置。
  4. 請求項1または2記載の自動分析装置において、
    前記分析準備動作の準備動作項目は、少なくとも、前記分析動作に用いる試薬を供給するための試薬供給流路に試薬を充填する準備動作項目および前記分析動作に用いた反応容器を廃棄する準備動作項目を含むことを特徴とする自動分析装置。
  5. 請求項3記載の自動分析装置において、
    前記装置状態監視部は、監視する前記自動分析装置の状態として、前記実行されたメンテナンス種別に基づいて判断される、前記分析動作に用いる試薬を供給するための試薬供給流路の試薬の水への置換の有無、を含むことを特徴とする自動分析装置。
  6. 請求項1記載の自動分析装置において、
    前記動作モード設定部において設定された動作モードに基づいて、前記分析動作の終了時に行う前記分析終了動作として設定された複数の終了動作項目のうち、実行する1つ以上の終了動作項目を決定する分析終了動作項目決定部を備えたことを特徴とする自動分析装置。
  7. 分析動作の準備を行うための分析準備動作において、予め定められた複数の準備動作項目を実行する通常モード、前記通常モードよりも少ない数の準備動作項目を実行する時間短縮モードとの何れか一方を操作者が動作モードとして選択して設定する動作モード設定ステップと、
    自動分析装置を起動するための起動処理終了から、分析動作の準備を行うための分析準備動作の開始までの間、および、前記分析動作を行った後の前記自動分析装置を適切な待機状態にするための分析終了動作の終了から、前記分析動作の準備を行うための前記分析準備動作の開始までの間における前記自動分析装置状態を監視する監視ステップと、
    前記動作モード設定ステップにおいて設定された動作モードおよび前記監視ステップにおける前記自動分析装置状態の監視結果に基づいて、前記分析準備動作として実行する1つ以上の準備動作項目を決定するステップと
    を有することを特徴とする自動分析装置の制御方法。
  8. 請求項7記載の自動分析装置の制御方法において、
    監視する前記自動分析装置の状態は、前記自動分析装置の起動処理時の異常発生の有無、前記分析動作時の異常の有無、前記分析動作の終了から前記分析準備動作の開始までにおける操作者による分析部へのアクセスの有無、前記分析動作の終了から前記分析準備動作の開始までにおけるメンテナンスの実行の有無、実行された前記メンテナンスの種別、前記分析動作に用いる試薬の交換の有無、前記自動分析装置の起動処理終了時点あるいは前回の分析動作の終了時点からの経過時間、及び、システム試薬のメンテナンスを実行してからの経過時間、の少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする自動分析装置の制御方法。
  9. 請求項7記載の自動分析装置の制御方法において、
    前記分析準備動作の準備動作項目は、少なくとも、前記分析動作に用いる試薬を供給するための試薬供給流路に試薬を充填する準備動作項目および分析動作に用いた反応容器を廃棄する準備動作項目を含むことを特徴とする自動分析装置の制御方法。
  10. 請求項7記載の自動分析装置の制御方法において、
    監視する前記自動分析装置の状態は、実行されたメンテナンス種別に基づいて判断される、前記分析動作に用いる試薬を供給するための試薬供給流路の試薬の水への置換の有無を含むことを特徴とする自動分析装置の制御方法。
  11. 請求項7記載の自動分析装置の制御方法において、
    前記動作モード設定ステップにおいて設定された動作モードに基づいて、前記分析動作の終了時に行う前記分析終了動作として設定された複数の終了動作項目のうち、実行する1つ以上の終了動作項目を決定するステップを備えたことを特徴とする自動分析装置の制御方法。
JP2015530823A 2013-08-09 2014-07-25 自動分析装置 Active JP6453219B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013166844 2013-08-09
JP2013166844 2013-08-09
PCT/JP2014/069762 WO2015019880A1 (ja) 2013-08-09 2014-07-25 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015019880A1 JPWO2015019880A1 (ja) 2017-03-02
JP6453219B2 true JP6453219B2 (ja) 2019-01-16

Family

ID=52461219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015530823A Active JP6453219B2 (ja) 2013-08-09 2014-07-25 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9958468B2 (ja)
EP (1) EP3032264B1 (ja)
JP (1) JP6453219B2 (ja)
CN (1) CN105452870B (ja)
WO (1) WO2015019880A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3098606A1 (en) * 2015-05-29 2016-11-30 Roche Diagniostics GmbH Cartridge for dispensing particles and a reagent fluid
JP6653705B2 (ja) * 2015-08-26 2020-02-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6794118B2 (ja) * 2016-02-19 2020-12-02 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
US11467174B2 (en) * 2016-03-28 2022-10-11 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis apparatus
JP6866249B2 (ja) * 2017-07-14 2021-04-28 株式会社堀場製作所 分析装置
CN110799844B (zh) * 2017-07-21 2023-09-12 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN108037298A (zh) * 2017-11-27 2018-05-15 迈克医疗电子有限公司 自动分析仪及其唤醒控制方法和控制系统
EP3754339B1 (en) 2018-02-13 2022-05-04 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis device
CN111399914A (zh) * 2018-12-27 2020-07-10 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本分析装置及其维护方法
CN112578134B (zh) * 2019-09-30 2025-01-28 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种样本分析系统及其控制方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01284760A (ja) * 1988-05-11 1989-11-16 Toshiba Corp 自動化学分析装置
JPH01288768A (ja) * 1988-05-17 1989-11-21 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2595063B2 (ja) 1988-09-16 1997-03-26 株式会社日立製作所 自動分析装置
JPH06160397A (ja) * 1992-11-24 1994-06-07 Toshiba Corp 自動化学分析装置
JPH07209306A (ja) * 1994-01-11 1995-08-11 Toshiba Corp 自動化学分析装置用試薬分注システム
JP2930019B2 (ja) * 1996-07-18 1999-08-03 株式会社日立製作所 自動分析装置
JPH10232234A (ja) * 1997-02-19 1998-09-02 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP3305226B2 (ja) * 1997-04-03 2002-07-22 株式会社日立製作所 液体試料自動サンプリング装置及び液体クロマトグラフ装置
JP3990944B2 (ja) * 2002-06-28 2007-10-17 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP4851266B2 (ja) * 2006-06-30 2012-01-11 シスメックス株式会社 試料分析装置
EP1892531B1 (en) * 2006-08-22 2017-04-05 Sysmex Corporation Sample analyzer
JP4659707B2 (ja) * 2006-08-31 2011-03-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
EP1986013A3 (en) * 2007-04-27 2013-04-03 Sysmex Corporation Sample analyzing apparatus
JP2009036723A (ja) 2007-08-03 2009-02-19 Olympus Corp 自動分析装置および動作環境設定方法
US8222048B2 (en) * 2007-11-05 2012-07-17 Abbott Laboratories Automated analyzer for clinical laboratory
JP5216408B2 (ja) * 2008-05-08 2013-06-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析システム
JP5203141B2 (ja) * 2008-10-31 2013-06-05 シスメックス株式会社 検体分析装置、検体分析装置における試薬情報の表示方法およびコンピュータプログラム
JP2010286410A (ja) 2009-06-12 2010-12-24 Beckman Coulter Inc 制御装置
US20120251391A1 (en) 2009-12-21 2012-10-04 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2011179825A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP5587802B2 (ja) 2010-03-30 2014-09-10 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP5371905B2 (ja) * 2010-07-30 2013-12-18 シスメックス株式会社 検体処理装置の管理システム、検体処理装置及び管理装置ならびに管理方法
US9341638B2 (en) * 2011-06-03 2016-05-17 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer

Also Published As

Publication number Publication date
US20160154016A1 (en) 2016-06-02
WO2015019880A1 (ja) 2015-02-12
JPWO2015019880A1 (ja) 2017-03-02
EP3032264A1 (en) 2016-06-15
EP3032264A4 (en) 2017-04-12
CN105452870A (zh) 2016-03-30
CN105452870B (zh) 2017-02-08
EP3032264B1 (en) 2021-06-02
US9958468B2 (en) 2018-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6453219B2 (ja) 自動分析装置
JP6289599B2 (ja) 自動分析装置及び試料分注プローブ洗浄方法
JP6385545B2 (ja) 自動分析装置およびメンテナンス方法
JP6437432B2 (ja) 自動分析装置
JP2008058163A (ja) 自動分析装置
CN113811773A (zh) 自动分析装置及其清洗方法
JP6466294B2 (ja) 自動分析装置
EP3779458B1 (en) Automated analysis system
JP6928712B2 (ja) 自動分析装置
EP3974837B1 (en) Automatic analysis device
JP2017015452A (ja) 自動分析装置
JPWO2019078030A1 (ja) 自動分析装置およびプローブの洗浄方法
WO2018173560A1 (ja) 自動分析装置
JP6543532B2 (ja) 自動分析装置
JP2015158426A (ja) 分析装置及びその方法
CN115210576A (zh) 自动分析装置
CN110568209A (zh) 自动分析装置
CN107835942B (zh) 自动分析装置及液体容器
JP6745407B2 (ja) 自動分析装置
US20230194556A1 (en) Automatic analyzer and maintenance method for automatic analyzer
JP5192316B2 (ja) 自動分析装置
JP5996168B2 (ja) 自動分析装置
WO2020066523A1 (ja) 自動分析装置
JP2014174112A (ja) 自動分析システム及び自動分析装置
JP2011085605A (ja) 自動分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170524

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170524

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180529

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181212

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6453219

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350