JP6229661B2 - ガラスセラミックス基板およびこの基板を用いた携帯型電子機器用筐体 - Google Patents
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Description
本発明のガラスセラミックス基板は、第1の熱膨張係数を持つ内層部と、前記第1の熱膨張係数より小さな熱膨張係数を持つ表層部とで構成され、この表層部で前記内層部の挟持するように形成されている。
X=I(glass)/{I(Al2O3)+I(glass)}・100 …(1)
式(1)中、I(glass)とは、結晶化ガラスのX線回析のピークの最高強度を示し、I(Al2O3)とは、アルミナのX線回析のピークの最高強度を示す。なお、測定において、特性X線としてCuKα線を用いることができる。
第1のガラスセラミックス組成物に使用される扁平状アルミナ粒子は、平均アスペクト比が3〜18、平均厚さが0.4μm以上、平均長径が10μm以下の粒子である。
本発明に用いる扁平状アルミナ粒子におけるα化度Yは、80%以上が好ましく、より好ましくは90%以上、さらに好ましくは95%以上、特に好ましくは100%である。80%未満では、扁平状アルミナ粒子の強度が弱く、ガラスセラミックス基板としての強度も低下するおそれがある。
第1のガラス粉末は、焼成時に溶融して扁平状アルミナ粒子を取り囲む第1のガラスマトリックスを形成し、結晶化度が25%以下となるものであれば特に制限されない。なお、結晶化度は20%以下が好ましく、15%以下がより好ましい。特に、第1のガラスマトリックスは結晶相を有しない、非晶質であることが特に好ましい。
第1のガラスセラミックス組成物は、上記したとおり扁平状アルミナ粒子と第1のガラス粉末とを必須成分として含有する。第1のガラスセラミックス組成物全量に対する扁平状アルミナ粒子の割合は25体積%以上であり、28体積%以上が好ましく、30体積%以上がより好ましい。一方、扁平状アルミナ粒子の割合は、焼成後のガラスセラミックス基板の開気孔率が5%以下となる範囲で含有させることができるが、上限を設定する場合には53体積%以下が好ましく、50体積%以下がより好ましい。また、第1のガラスセラミックス組成物から得られる内層部の熱膨張係数は、例えば、40〜100×10−7/Kのものが好ましく使用できる。なお、本明細書中で示される熱膨張係数は、JIS R−3102に準拠した方法で得られる熱膨張係数をいう。
第2のガラス粉末は、焼成時に軟化して、第2のガラスマトリックスを形成する。第2のガラスマトリックス中の結晶相の有無は、表層部が内層部と剥離が生じなければ、特に限定されない。しかし、第2のガラスマトリックス中のガラスとしては結晶化したガラスではなく、非晶質であることが好ましい。
第2のガラスセラミックス組成物は、上記した第2のガラス粉末のみで構成してもよいが、第1のガラスセラミックス組成物で使用できる扁平状アルミナ粒子を含有させることもできるし、これ以外のセラミックス粉末や着色無機顔料を含有させることもできる。また、第2のガラスセラミックス組成物から得られる表層部の熱膨張係数は、例えば、10〜65×10−7/Kのもので、かつ内層部の熱膨張係数よりも小さくなるものが好ましく使用できる。
内層部用の第1のグリーンシートと表層部用の第2のグリーンシートの製造方法の相違点は実質的にない。そのため、以下では第1のグリーンシートと第2のグリーンシートとを区別せずに説明する。
まず、第2のガラスセラミックス組成物と樹脂成分とを60:40の質量比で配合し、磁器乳鉢中で1時間混練を行い、さらに三本ロールにて3回分散を行って、表層部用のペーストを作製する。なお、樹脂成分は、例えば、エチルセルロースとαテレピネオールとを質量比85:15で調合し分散したものを使用してもよい。
第1のグリーンシートは1枚を単層で用いても、複数枚を用いてもよい。第1グリーンシートの複数枚を積層する場合、得られるガラスセラミックス基板により高い強度を付与するために、ドクターブレード法やロール成形法等による成形方向が一致するように各グリーンシートを積層することが好ましい。ただし、得られるガラスセラミックス基板において一定以上の強度が得られるのであれば、必要に応じて、交互に成形方向が直交するように第1のグリーンシートを積層してもよい。第1のグリーンシートの複数枚を積層する場合は、熱圧着によりこれらを一体化する。
その後、基板用グリーンシート中のバインダー等のガラスセラミックス組成物以外の成分を分解、除去するための脱脂した後、焼成してガラスセラミックス組成物を焼結させ、ガラスセラミックス基板を得る。
ガラスセラミックス基板を扁平状アルミナ粒子の厚さ方向に沿ったいずれかの面で切断したとき、内層部の全断面積に対して、扁平状アルミナ粒子の断面が占める割合は20%以上であることが好ましい。なお、本明細書においては、内層部の断面に現れる扁平状アルミナ粒子の断面形状における「厚さ」は、内層部の断面が扁平状アルミナ粒子の厚さ方向に沿った断面であるため、扁平状アルミナ粒子の厚さに相当する。一方、内層部の断面に現れる扁平状アルミナ粒子の断面形状における「最大径」は、該断面における扁平状アルミナ粒子断面の最大径を示し、必ずしも扁平状アルミナ粒子自体の長径と一致するものではない。以下、必要に応じて、内層部の断面に現れる扁平状アルミナ粒子の断面形状における「最大径」を「断面最大径」ともいう。さらに、「アスペクト比」は、この断面最大径を厚さで除した値をいい、以下、必要に応じて「断面アスペクト比」ともいう。
[実施例;例1〜9、13、比較例;例10、11および12]
(ガラス粉末の製造)
表2に示す割合(酸化物換算のモル百分率)のガラスとなるように各ガラス原料を配合、混合して原料混合物とし、この原料混合物を白金ルツボに入れて1200〜1500℃で60分間溶融後、溶融物を流し出し冷却した。そして、冷却物をアルミナ製ボールミルにより水を溶媒として10〜60時間粉砕し、分級して各組成のガラス粉末G1〜G4を得た。
水酸化アルミニウムから水熱合成により扁平状のベーマイト粒子を製造し、この扁平状ベーマイト粒子を焼成して扁平状アルミナ粒子を得た。同様にして不定形のベーマイト粒子を焼成して不定形アルミナ粒子を得た。
次いで、表3に示すように、ガラス粉末と、セラミック粉末としての、扁平状アルミナ粒子、ジルコニア粉末、シリカ粉末、アルミナ粉末とを所定の割合(体積%)で配合し混合して、ガラスセラミックス組成物A〜Gを得た。なお、ジルコニア粉末は、D50が0.5μm、比表面積が8.0m2/gである。シリカ粉末は、D50が3.4μm、比表面積が3.4m2/gである。アルミナ粉末は、D50が0.8μm、比表面積が6.5m2/gであるαアルミナ粉末を用いた。
なお、上記ではグリーンシートの成形方向と同一方向となるように、グリーンシートを積層したが、積層方向はこれに限らず、積層ごとに成形方向が直交するようにグリーンシートを積層してもよい。この直交するように積層することにより、焼結時の収縮のばらつきを抑えられる。
上記例1〜13で得られた各ガラスセラミックス基板について、以下に示す評価を行った。結果を表4の下欄に示す。
各ガラスセラミックス基板について、特性X線としてCuKα線を使用したX線回折によりガラスマトリックスの結晶化度を調べた。内層部の測定は、ガラスセラミックス基板の表層部を研磨することで、表層部を除去した後、粉末にしたサンプルを測定した。その結果、例8〜10に結晶が析出していた。以下に、X線回折からの結晶化度の算出方法を示す。
例1〜13で得られた各ガラスセラミックス基板について、厚さ方向、かつドクターブレードの成形方向と略平行な方向に切断し、その断面を鏡面研磨した。走査型顕微鏡(SEM)を用いて、内層部の断面における異なる10箇所を観察し、得られた画像を、画像解析ソフト(Winroof、三谷商事株式会社製)を用いて、断面100μm2における全アルミナ粒子について個々に断面最大径および厚さを測定し、断面アスペクト比を求めた。その中で、断面アスペクト比が3以上の範囲の規定断面の扁平状アルミナ粒子を選択し、それらの平均値を求めた。この規定断面を有する扁平状アルミナ粒子の平均アスペクト比を表4に示す。また、同断面における規定断面を有する扁平状アルミナ粒子の面積を個々に測定してその合計面積(μm2)を求めた。これを全断面積100μm2で除して、さらに100を乗じて、該断面の全面積における規定断面を有する扁平状アルミナ粒子の占める面積割合を百分率で求めた。この規定断面を有する扁平状アルミナ粒子の占める面積割合の結果を表3に示す。なお、例1〜13のうち扁平状アルミナ粒子を有するものについては、規定断面を有する扁平状アルミナ粒子を選択するか否かにかかわらず、上記した内層部の断面について扁平状アルミナ粒子の平均アスペクト比が少なくとも3以上となっている。
例1〜13で得られた各ガラスセラミックス基板について、JIS C2141に準拠する3点曲げ強さ試験を行った。すなわち、ガラスセラミックス基板の一辺を2点で支持し、これと対向する辺における上記2点の中間位置に徐々に加重を加えて、ガラスセラミックス基板が破壊されたときの荷重を測定し、これに基づいて3点曲げ強度(MPa)を算出した。当該曲げ強度を30点測定して平均値(平均曲げ強度)を求めた。結果を表4に示す。
G1〜4の各ガラス、A〜Gで示されるガラスセラミックス組成物の焼成体について、JIS R−3102に準拠する熱膨張係数を測定した。すなわち、焼成体を熱機器分析(TMA)にセットし、10℃/分にて昇温させ、長さを記録する。50℃〜400℃の温度範囲で、初期長さおよび伸び長さから平均熱膨張係数を算出した。平均熱膨張係数の結果を表2〜表3に示す。また、この平均熱膨張係数の結果から、内層部と表層部の熱膨張率差を計算により求めた。この内層部と表層部の熱膨張率差の結果を表4に示す。
Claims (9)
- 第1の熱膨張係数を持つ内層部と、
前記第1の熱膨張係数より小さな第2の熱膨張係数を持つ表層部と
を有し、
前記内層部は第1のガラスマトリックスと扁平状アルミナ粒子とを含有しており、
前記第1のガラスマトリックスは、Al 2 O 3 成分を含み、酸化物換算のモル百分率でAl 2 O 3 を除く組成を100%としたときに、CaOを10%以上含むSiO 2 −B 2 O 3 −CaO系ガラスであり、酸化物換算のモル百分率でアルカリ金属酸化物の合計含有量が1〜8%であり、結晶化度が25%以下であり、
前記扁平状アルミナ粒子は、前記内層部のいずれかの主面の面方向に対して個々の厚さ方向が略垂直となる方向に前記ガラスマトリックス中に分散されており、
前記扁平状アルミナ粒子の厚さが0.2μm以上、最大径が8μm以下であり、
前記内層部の断面のうち前記扁平状アルミナ粒子の厚さ方向に沿ったいずれかの断面において、アスペクト比が3以上18以下の断面を有する前記扁平状アルミナ粒子の合計断面積が前記内層部の断面の全面積に対して20%以上であるガラスセラミックス基板。 - 前記第1のガラスマトリックスは、酸化物換算のモル百分率で、アルカリ金属酸化物の合計含有量が1〜6%である請求項1に記載のガラスセラミックス基板。
- 前記表層部は第2のガラスマトリックスを含有している請求項1又は2に記載のガラスセラミックス基板。
- 前記表層部は、さらに不定形セラミックス粉末を含有している請求項3に記載のガラスセラミックス基板。
- 前記表層部の厚みが100μm以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載のガラスセラミックス基板。
- 前記表層部の厚みが20μm以下である請求項1〜5のいずれか1項に記載のガラスセラミックス基板。
- 前記第1のガラスマトリックスを構成するガラスは、酸化物換算のモル百分率でAl2O3を除く組成を100%としたときの、SiO2、B2O3およびCaOの合計含有量が75%以上である請求項1〜6のいずれか1項に記載のガラスセラミックス基板。
- 3点曲げ強度が500MPa以上である請求項1〜7のいずれか1項に記載のガラスセラミックス基板。
- 請求項1〜8のいずれか1項に記載のガラスセラミックス基板を用いた携帯型電子機器用筐体。
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