[go: up one dir, main page]

JP6116301B2 - 撮像装置及びその制御方法 - Google Patents

撮像装置及びその制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6116301B2
JP6116301B2 JP2013058767A JP2013058767A JP6116301B2 JP 6116301 B2 JP6116301 B2 JP 6116301B2 JP 2013058767 A JP2013058767 A JP 2013058767A JP 2013058767 A JP2013058767 A JP 2013058767A JP 6116301 B2 JP6116301 B2 JP 6116301B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
image
imaging
image signal
pair
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013058767A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014182360A5 (ja
JP2014182360A (ja
Inventor
武志 小川
武志 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2013058767A priority Critical patent/JP6116301B2/ja
Priority to KR1020140030786A priority patent/KR101628680B1/ko
Priority to US14/217,795 priority patent/US9602713B2/en
Priority to CN201410105635.8A priority patent/CN104065871B/zh
Publication of JP2014182360A publication Critical patent/JP2014182360A/ja
Publication of JP2014182360A5 publication Critical patent/JP2014182360A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6116301B2 publication Critical patent/JP6116301B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/60Control of cameras or camera modules
    • H04N23/67Focus control based on electronic image sensor signals
    • H04N23/673Focus control based on electronic image sensor signals based on contrast or high frequency components of image signals, e.g. hill climbing method
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • H04N25/134Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements based on three different wavelength filter elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/61Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise the noise originating only from the lens unit, e.g. flare, shading, vignetting or "cos4"
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/703SSIS architectures incorporating pixels for producing signals other than image signals
    • H04N25/704Pixels specially adapted for focusing, e.g. phase difference pixel sets
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/805Coatings
    • H10F39/8057Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/80Constructional details of image sensors
    • H10F39/806Optical elements or arrangements associated with the image sensors
    • H10F39/8063Microlenses

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Description

本発明の撮像装置及びその制御方法は、1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部を持った撮像素子を利用して瞳分割像を取得する技術に関し、特に、画素の各光電変換部の飽和による像崩れを良好に補正する技術に関するものである。
従来、1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部を持った撮像素子により、瞳分離像を取得し、得られた2つの瞳分割像の位相差を求めて焦点検出を行う技術が知られている。
例えば、特許文献1では瞳分離した像により位相差を求めて焦点検出を行うと同時に同一マイクロレンズに対応した光電変換部を全て加算して1つの画素として取り扱うことで従来の撮像画素の配列と同じになるようにし、従来の信号処理技術により観賞用の画像を作成する技術が開示されている。
特許文献2では、非飽和読み出しによって同一マイクロレンズ内の一部の光電変換部の電荷読み出しを行った後、同一マイクロレンズ内のすべての光電変換部の電荷の加算値を読み出し、各々の値の差分から他方の光電変換部の値を推定することで、撮像用画像信号の高感度特性を保ちつつも位相差像信号の取得を可能としている。
特開2001−83407号公報 特許第4691930号公報
しかしながら、上述の特許文献2に開示された従来技術では、高ISO設定のためのゲインアップ時に飽和が発生すると著しく信号波形が崩れるという問題が発生する。
例えば、ISO100に設計された撮像素子をISO200で使用する場合、ゲインアップにより信号振幅を倍にして使用する。
ISO200においてセンサーの画素に蓄積可能な電荷飽和レベルの半分でAD変換器のレンジを超えて見掛け上の飽和レベルとなる。分割画素の加算値としてAD変換レンジの倍まで電荷の蓄積が可能であり、そのような状態において分割画素の加算値から一方の分割画素値を減算しても、もう一方の分割画素値を復元できない。
極端な場合ではすべての光電変換部の電荷の加算値と一方の光電変換部の電荷の値が共に飽和レベルになると、加算値から一方の値を減算するともう一方の値がゼロになるという現象が発生する。そのような状態で得られた2つの瞳分割像の位相差を求めて焦点検出をしても正しい焦点検出をする事ができない。
そこで、本発明の目的は、分割画素の加算信号から分割画素の非飽和読み出し値を減算する構成において、飽和を起こした信号に対して焦点検出することを可能にした撮像装置を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明は、複数の光電変換部を有する撮像用画素を有する撮像素子と、前記複数の光電変換部で検出される一対の像信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行う焦点調節手段と、を有する撮像装置であって、
前記一対の像信号の一方の信号を第1の像信号とし、前記一対の像信号の他方の信号を第2の像信号とした場合、前記撮像素子から出力される前記第1の像信号と前記第2の像信号を加算した加算信号から前記撮像素子から出力される前記第1の像信号を減算して前記第2の像信号を生成する減算手段と、前記第1の像信号を所定値以下に抑制する抑制手段を有することを特徴とする。
本発明によれば、加算信号から一方の信号を減算するシステムにおいて飽和信号を適切に処理する事ができる。
本発明の実施形態にかかわる焦点検出画素分離部のブロック図である 本発明の実施形態にかかわる撮像素子の断面図である 本発明の実施形態にかかわる入射光出力特性グラフである 本発明の実施形態にかかわる各部のタイミングチャートである 本発明の実施形態にかかわる撮像素子のエリア分割図である 本発明の実施例1にかかわる撮像装置のブロック図である 本発明の実施形態にかかわる各部の信号波形である 本発明の実施例2にかかわる焦点検出画素分離プログラムのフローチャートである 本発明の実施例3、4にかかわるA像、A+B像、B像信号波形である 本発明の実施例3にかかわる入射光出力特性グラフである 本発明の実施例3にかかわる回路ブロック図である 本発明の実施例5にかかわるリフォーカスを説明する結像面の模式図である 本発明の実施例6にかかわるシェーディング特性を説明する図である 本発明の実施例6にかかわる撮像素子の撮像面の正面図である 本発明の実施形態にかかわる撮像面位相差AFの原理図である。
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
図2は、本発明の実施形態にかかわる撮像素子の画素断面図である。204がマイクロレンズ、203はカラーフィルタ、201と202は光電変換部、205は配線層である。このように1つのマイクロレンズに2つの光電変換部を設ける事により、瞳分割を行い、それぞれの光電変換部から得られる画像の位相差を用いて焦点検出を行う。
また、光電変換部201と202の値を加算する事で、瞳分離されていない画像が得られる。203のカラーフィルタはreD、green、Blueのフィルターでありベイヤー配列となっているため201と202の加算画像を用いてカラー画像を得る事ができる。
光電変換部201から得られる像をA像、光電変換部202から得られる像をB像、光電変換部201と202を加算して得られる像をA+B像と呼ぶ。
本発明の実施形態にかかわる撮像素子ではA像のみを非飽和で読み出す機能と光電変換部201と202の電荷を加算してA+B像として読みだす機能がある。
図5は、本発明の実施形態にかかわる撮像素子の受光面を示した図である。501で示す幅は撮像素子全体の有効画素を示しておりA+B像の読み出しエリアである。
502で示した幅はA像の読み出しが可能なエリアである。
センサーからの読み出し時間短縮のためにA像を読み出すのは焦点検出に使うエリアだけに設計されている。
図4のタイミングチャートを用いて本発明の実施形態にかかわる撮像素子の読み出しタイミングを説明する。
図4の405はセンサーからの読み出し信号の1水平期間の信号である。401の期間は水平ブランキング期間402の期間はA像の読み出し期間、403の期間はA+B像の読み出し期間である。このようにA像のみ、B像のみを個別の読みだすよりも短い水平期間で必要な情報を読み出す事ができる。
本発明の実施形態にかかわる撮像装置では、読みだされたA+B像からA像を減算する事によりB像を得る。
図3の特性グラフを用いて先行技術の課題について説明する。
図3(A)はISO100の時の特性を示している。撮像素子の感度をISO100で設計する事が多いため便宜上ISO100と表記したので、撮像素子の最低感度と同義の意味としてISO100と表記している。
図3(A)の横軸は入射光量、縦軸は出力レベルである。A像、B像共に入射光に応じて出力が増加するが、飽和レベルに達してからは入射光量を増加させても出力レベルが上昇する事はない。
入射光量に比例して光電変換された電荷が画素内に蓄積できる容量を超えてしまうからである。
A+B像はA像とB像の信号レベルの加算値なので、A像B像が共に飽和すると入射光量を増加させても出力レベルは上昇しなくなる。
それに対して図3(B)は、ISO100に対して信号を2倍に増幅させるISO200の時の特性である。
撮像素子の光電変換特性の感度を変化させる事はできないため、高感度で使用する場合、AD変換器前のアナログアンプのゲインを上げる事によって実現している。
そのため、ISO200における飽和レベルはAD変換のレンジによって決まる事になる。
したがって信号レベルが飽和しても光電変換素子で変換された電荷は画素内に蓄積されつづける。図3(B)のA像信号はA+B像がADのレンジの飽和レベルに達しても出力レベルが上昇しつづけ、A+Bの飽和レベルと同じ値にまで達する。
B像もA像と同じ特性である。しかし、A+B像から減算して作成するB像はA+B像の飽和レベルの半分をA像出力が超えたあたりから減少しはじめ、A像信号レベルがA+B像のレベルと一致するとゼロになってしまう。
図7の信号波形図を使って飽和が発生した場合のB像信号について説明する。図7(A)の701はA+B像、702はA像である。波形中央部分で飽和が起きている。図7(B)は図3(B)の特性でB像を作成した場合の波形をしめしている。702がA像、703がB像波形である。A像が飽和した部分でB像信号レベルがゼロになってしまっている。焦点検出ではA像とB像の位相差を検出する必要があるが、飽和部分で大きく像が崩れてしまい、焦点検出結果が狂ってしまう。
本発明は、このような課題に対処するものである。
その課題を解決するために、複数の光電変換部を有する撮像用画素を有する撮像素子と、複数の光電変換部で検出される一対の像信号を用いて撮像面位相差検出方式の焦点調節を行う焦点調節手段と、を有する撮像装置であって、
一対の像信号の一方の信号を第1の像信号とし、一対の像信号の他方の信号を第2の像信号とした場合、撮像素子から出力される第1の像信号と第2の像信号を加算した加算信号から撮像素子から出力される第1の像信号を減算して第2の像信号を生成する減算手段と、第1の像信号を所定値以下に抑制する抑制手段を有する構成とした。
加算信号は、A+B像の像信号であり、第2の像信号は、A像の像信号又はB像の像信号である。
図15で、本発明の実施例1〜4の撮像面位相差AFの光学原理を説明する。
ここで、図15を使用してAおよびB像を使用する撮像装置の測距情報取得動作について説明する。
図15に示す撮像素子、ひとつのMLの下に分離配置した画素aおよびbを備えた単位画素セルPを複数配置している。このML下に配置された画素aおよびbはMLを射出瞳として瞳分割された画素であることは周知である。
測距時には、画素aおよびbによって構成されるAおよびB像用画素出力を、各々列方向(もしくは行方向)に組み合わせ、同色単位画素セル群の出力として、A像及びB像を生成・データ化し、各々の対応点のずれを相関演算によって求める。相関演算の結果は下記式によって求められる。
[式1]
C = Σ|YAn − YBn|
ここで、nは水平のマイクロレンズの数である。また、YBnに対して対応画素をずらした際の値をプロットし、最も値の小さいずれ量が合焦位置である。ずれ量(視差量)と合焦状態との関係は図15の下段に示されている。
(a)合焦のときには、撮影光学系が結像する位置がP7のML下のPDになるため、A像用画素群とB像用画素群はほぼ一致する。この時、相関演算で求められるA像用画素群とB像用画素群の像ずれ量D(a)は0に近似することを表している。
(b)後ピンのときには、撮影光学系が結像する位置として、A像用画素がP5、B像用画素がP9のML下の画素になる。この時、相関演算で求められるA像用画素群とB像用画素群の像ずれ量D(b)が発生する。
(c)前ピンのときには、撮影光学系と結像する位置として、A像用画素がP9、B像用画素がP5のML下の画素になる。この時、相関演算で求められるA像用画素群とB像用画素群の像ずれ量は(b)後ピンとは逆方向の像ずれ量D(c)が発生する。これは、合焦時にはAおよびB像用画素群は同一の被写体を見ているが、後ピンおよび前ピン時にはAおよびB像用画素群は像ずれ量Dだけずれた被写体を見ているということである。
実際の合焦動作時には、像ずれ量Dと基線長から周知の技術によって求められるデフォーカス量が駆動部に出力され、撮影光学系を移動させることで被写体への合焦動作を行う。
以下、図6のブロック図を参照して、本発明の実施例1による、撮像装置について説明する。601はフォーカシングレンズ、602は図2の画素構成をもった撮像素子、604は焦点検出画素分離部である。
602の撮像素子からの出力603を元に604の焦点検出画素分離部によってA像、B像、A+B像に分離される。A+B像は信号処理回路607に入力されカラー映像信号に変換される。A像B像は608の焦点検出回路に入力され、焦点検出に利用される。608の焦点検出結果を609の制御マイコンが読み取り、601のフォーカシングレンズを制御する。609の制御マイコンは撮像装置全体の制御をおこなっている。制御マイコンは減算手段としての機能を有する。
図1は図6の604の焦点検出画素分離部の内部回路のブロック図である。101は602の撮像素子からの出力、103はA像信号を蓄積するラインメモリー。104は焦点検出画素分離部のタイミングを制御するタイミング発生部である。104のタイミング発生部は入力信号に対して所定のタイミングで105、107、106、108のスイッチを制御する事でA+B像とA像の同期を行っている。
図4のタイミングチャートでタイミングを説明する。405は101の信号を示している。ブランキング期間、A像期間、A+B像期間の順に信号が入力されてくる。402の期間に入力されたA像信号は105のスイッチにより103のA像ラインメモリーに入力される。
そして、404の期間に107と106のスイッチが疎通してA像信号とA+B像信号が同期される。408がA像ラインメモリーからの出力波形である。109は本発明の抑制手段としてのA像リミッター部である。102から入力されるリミット値とスイッチ107の出力を比較し、リミット値を超えていれば内部のスイッチが切り替わり、出力がリミット値に置き換わる。
このようにして作成されたA像信号でスイッチ106の出力であるA+B像を減算する事でB像が作成され端子110に出力される。なお102のリミット値は609の制御マイコンから適切な値が設定される。
実施例1では102のリミット値としてA+Bの飽和レベルの約半分としている。図4タイミングチャートの408と407が同期されたA像とB像を示している。406はスイッチ108によって出力されるA+B像である。109のA像リミッター部がある事によりISO200などのゲインアップ時においても図3(A)の特性が得られる。図7(c)は109のA像リミッター部を用いてA像が所定の値以上にならないようにした場合のA像とB像の波形を示している。702がA像、703がB像である。このようにA像とB像の一致度が高くなるため、相関演算の結果が良好になり焦点検出精度が向上する。
図6の608の焦点検出回路ではA像とB像のずれ量を求め、デフォーカス量を計算するが、本発明の本質でないため詳細説明を省略する。
以下、図8のフローチャートを参照して、本発明の実施例2による、撮像装置について説明する。実施例1のA像リミッタ部及び焦点検出画素分離部を回路で構成していたが、実施例2では、抑制手段としての機能をマイクロコンピュータによって実施している。
図8はマイクロコンピュータのメモリーに格納されたA像とA+B像をもとにA像リミッターとB像分離を行うプログラムのフローチャートである。
S801でプログラムがスタートし、S802で入力のA像、A+B像及び出力のB像を格納するメモリーの番地を初期化する。803でA像画素を読み込む。S804でリミット値との比較を行い、A像画素の値がリミットを越えるとS805に分岐し、リミット値で置き換える。S804でS805に分岐しなかった場合もS805を実行した場合も次にS806でA+B像画素を読み込む。A像画素の値がリミットを越えない場合、A+B像画素を読みこむ(S806)に移行する。
S807でA+B像画素からA像画素を減算してB像画素を作成し、B像画素のメモリーエリアに書き込む。S808ですべての画素を処理していない場合、S809に分岐し、入出力のポインタを進めS803に進む。
S803からS808を全画素分反復実行して、すべて終えるとS810で処理を終了する。
図9(A)はA像、A+B像、B像の信号波形図である。901はA+B像902はB像、903はA像である。図9(B)は実施例1の回路を用いて得られたA像とB像である。
905のラインはA像およびB像に対するリミット値である。この時A+B像901はまだ飽和レベルに達していないため、リミット値で制限しなくても正しいB像が得られるはずである。しかし、A像をリミットした事により、本来A像に存在していた振幅が減算後にB像に移動してしまっている。
図9(B)の906で示す部分がA像の振幅がB像に移動してしまった部分である。A+B像が飽和していない場合は、所定値(閾値)を超えたA像であっても、減算により正しいB像が得られる。すなわち、この現象をさけるためにはA+B像が飽和しているかどうかを判断して切り替える事が考えられる。
飽和しているかどうかで、リミット値でリミットするかどうかを切り替えると、切り替わり部分で急激なレベル変化が発生する危険がある。急激な変化は不自然なノイズとなるので、リミッター値と非リミッター値をなだらかに切り替える必要がある。
図10(c)はなだらかな切り替え処理を行った場合の入射光量と出力の関係を示している。A+B像の値が飽和するよりも少し低い値からリミッター値と非リミッター値との混合比率を徐々に変化させ、A+B像が飽和レベルに達した場所で100%リミッター値に変化する。このようにA+B像が飽和近傍でない場合はリミッターが効かない構成とする事で、多くの場合において図9(A)のようなA像、B像を得る事ができる。
図11の回路図を用いて実施例3の構成を説明する事とする。図11は図1の109A像リミッターに相当する部分の実施例3の回路図である。1105は実施例1と同様のA像リミット値であえる。1110のスイッチの直後の信号は実施例1と同様である。実施例3ではこれにA+B像も用いる。1107の演算器でA+B像とリミット効き始めの所定値(閾値)との差を求め、1108のリミッターに入力していしている。1108のリミッターはマイナス値を0に置き換えるリミッターである。したがって、A+B像が1101のリミッター効き始め所定値(閾値)よりも小さい値の時に1108の値はゼロとなる。
1102に入力するのは完全にリミッター値に切り替わる所定値(閾値)であり、通常A+Bの飽和レベルと同じ値を設定する。減算器1106の出力はリミッター効き始めの所定値(閾値)から飽和レベルまでの差の値であり、リミット値と非リミット値の混合比変化の分解能となる。リミッター1108の出力をRAtio、減算器1106の出力をResolutionとするとRAtioのとりうる値は0からResolutionである。
また、減算器1113ではResolutionからRAtioを減算しているので、RAtioが0の時にはResolutionと同じ値、RAtioがResolutionの時に0になる。A像1104とリミット値1110はそれぞれRAtioとResolution−RAtioだけ乗算され加算器1114で加算され割り算器1115でResolutionで割られる。これらの構成によりA像とA像リミット値がRAtio/Resolutionで決まる比率で混合される。
本実施例3では、加算信号に基づいてリミットがかけられた後のA像信号とリミットがかけられる前のA像信号の混合比率を決定し、記混合比率にて混合された混合信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行っている。
このような構成とする事で、A+B像が飽和していない時にはA像、B像のバランスにかかわらずに正しい値となり、A+B像が飽和している時にはA像にリミットがかかるようになる。また、A+B像が飽和になるタイミングで急にリミットがかかり波形が歪む事もない。実施例3は、なだらかにリミット処理に切り替わる回路である。
実施例4ではA像にリミッターをかける事のない図9(A)のA像とB像を用いて相関演算を行う第一の相関演算部と、実施例1で用いたA像リミッターを用いた図9(B)のA像とB像を用いた第二の相関演算部を持つ。実施例4では第一の相関演算部から得られた相関演算結果と第二の相関演算部から得られた相関演算結果から信頼性の高い物を選択的に用いる。実施例4の相関演算の信頼性として、SAD(差の絶対値の総和)の極小値の小ささを用いる。
最も相関が高い像ずれ量における像の一致度の高さを示す指標である。このように構成する事で、図9(B)の906で示すエリアのようにA像にリミッターをかける事でが崩れる影響が、リミッターによる改善の寄与率よりも大きくなってしまった場合には図9(A)の波形を使った相関演算結果に切り替わるため、良好な結果を得られる。
つまり、本実施例4では、抑制手段にて抑制される前の第1の像信号(A像信号)及び抑制手段にて抑制される前の第1の像信号を用いて算出された第2の像信号(B像信号)を用いた第1の位相差信号と抑制手段にて抑制された後の第1の像信号及び前記抑制手段にて抑制された後の第1の像信号を用いて算出された第2の像信号を用いた第2の位相差信号の信頼性判定を行う信頼性判定手段を備え、
焦点調節手段は、第1の位相差信号及び第2の位相差信号のうち信頼性の高い位相差信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行っている。
実施例1から実施例4ではA像とB像を相関演算する事により、焦点検出を行う構成であるが、実施例5ではリフォーカスを行う。図12はリフォーカスを説明する結像面の模式図である。204はマイクロレンズ1201〜1204は光電変換素子である。1201、1204の光電変換素子のある面は撮像素子の表面であり、1201は左から2つ目のB像B2である。
撮像面で得られるA+B像は図中A1とB1、A2とB2という同一マイクロレンズに対応したAとBを加算して得られるものである。撮像面よりも少し後ろ側の面をリフォーカス位置と考えると1202に入射している光線は1202のセンサーに入射する事となる。同様に1204に入射する光線は1203に入射する事となる。
本実施例5では、一対の信号の一方の信号を第1の信号とし、一対の信号の他方の信号を第2の信号とした場合、撮像素子から出力される第1の信号と第2の信号を加算した加算信号から撮像素子から出力される前記第1の信号を減算して第2の信号を生成する減算手段と、第1の信号を所定値以下に抑制する抑制手段を有する。
この原理を利用して1202と1203の組み合わせでA+Bの加算を行う事により、撮像面の前後の位置で得られる像を疑似的に得る事ができる。本発明は焦点検出を行う以外に上記のリフォーカス像を得る場合にも応用できる技術である。
実施例6では所定値をシェーディング特性に合わせるために撮像面内の位置及びレンズの光学特性により変化させる。
図13(A)のレンズ断面図を用いてシェーディングがなぜ起こるのかを説明する。1301は前レンズ1302は絞り、1303は後レンズである。1301の前レンズの枠を前枠、1303の後レンズによってできる枠を後枠と呼ぶ。1304は撮像面である。
1304の撮像面のxの位置から見た1301、1302、1303の枠の重なりと撮像面yの位置から見た1301、1302、1303の枠の重なり方を図13(B)に示している。xの位置からみると光量を制限しているものは絞りだけであるが、yの位置から見ると前枠1301と後枠1303によっても光量が制限されている。
図14は図13のyの位置における光が届く範囲と撮像素子の光電変換部を重ねたものである。光電変換部201と202では光が届く範囲が大きく異なる事がわかる。このようにシェーディングとは光軸中心から離れて像高が高くなるにつれ光量が落ちてくる現象であり、瞳分離された像においては像高が高くなるとバランスがよりくずれるという性質がある。
実施例1では102のリミット値としてA+Bの飽和レベルの約半分としているが、ピントが合った面の画素、あるいは平均的に見るとAとBの信号レベル比率はシェーディングのばらつきに近似した値となる。したがって、リミット値としてもシェーディングのバランス比率に合わせる事が望ましい。
図13を用いてシェーディングを説明したように、シェーディングの状態はレンズの枠の大きさ、枠までの距離が影響する。
実施例6では、リミット値を画面上の位置によって変化させる。またレンズの状態が変わる事によっても変化させる。
実施例1から実施例6では1つのマイクロレンズ内に2つの光電変換部がある構成だが、2つ以上の光電変換部があっても同様の効果が得られる。また、実施例1及び実施例2ではRGBのベイヤー配列としたが、補色フィルターを用いた配列においても同様の効果がある。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
602 撮像素子
604 焦点検出画素分離部
109 A像リミッター
201、202 光電変換素子
204 マイクロレンズ

Claims (14)

  1. 複数の光電変換部を有する撮像用画素を有する撮像素子と、前記複数の光電変換部で検出される一対の像信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行う焦点調節手段と、を有する撮像装置であって、
    前記一対の像信号の一方の信号を第1の像信号とし、前記一対の像信号の他方の信号を第2の像信号とした場合、前記撮像素子から出力される前記第1の像信号と前記第2の像信号を加算した加算信号から前記撮像素子から出力される前記第1の像信号を減算して前記第2の像信号を生成する減算手段と、前記第1の像信号を所定値以下に抑制する抑制手段を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記所定値は、前記撮像用画素の撮像面内の位置又は/および撮影光学系の光学特性により変化している請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記撮像素子は、前記第1の像信号と前記第2の像信号を増幅して前記撮像素子から出力している請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 前記加算信号に基づいて前記抑制手段にて抑制された後の第1の像信号と前記抑制手段にて抑制される前の第1の像信号の混合比率を決定し、前記焦点調節手段は、前記混合比率にて混合された混合信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行う請求項1乃至3の何れか一項に記載の撮像装置。
  5. 前記抑制手段にて抑制される前の第1の像信号及び前記抑制手段にて抑制される前の第1の像信号を用いて算出された第2の像信号を用いた第1の位相差信号と前記抑制手段にて抑制された後の第1の像信号及び前記抑制手段にて抑制された後の第1の像信号を用いて算出された第2の像信号を用いた第2の位相差信号の信頼性判定を行う信頼性判定手段を備え、
    前記焦点調節手段は、前記第1の位相差信号及び前記第2の位相差信号のうち信頼性の高い位相差信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行う請求項4に記載の撮像装置。
  6. 複数の光電変換部を有する撮像用画素を有し、且つ前記複数の光電変換部で検出される一対の信号を出力する撮像素子と、を有する撮像装置であって、
    前記一対の信号の一方の信号を第1の信号とし、前記一対の信号の他方の信号を第2の信号とした場合、前記撮像素子から出力される前記第1の信号と前記第2の信号を加算した加算信号から前記撮像素子から出力される前記第1の信号を減算して前記第2の信号を生成する減算手段と、前記第1の信号を所定値以下に抑制する抑制手段を有することを特徴とする撮像装置。
  7. 撮像素子の撮像用画素を構成する複数の光電変換部で検出される一対の像信号を用いて位相差検出方式の焦点調節を行う焦点調節工程を有する撮像装置の制御方法であって、
    前記一対の像信号の一方の信号を第1の像信号とし、前記一対の像信号の他方の信号を第2の像信号とした場合、前記撮像素子から出力される前記第1の像信号と前記第2の像信号を加算した加算信号から前記撮像素子から出力される前記第1の像信号を減算して前記第2の像信号を生成する減算工程と、前記第1の像信号を所定値以下に抑制する抑制工程と、を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  8. 撮像素子の撮像用画素を構成する複数の光電変換部で検出される一対の信号を出力する撮像工程を有する撮像装置の制御方法であって、
    前記一対の信号の一方の信号を第1の信号とし、前記一対の信号の他方の信号を第2の信号とした場合、前記撮像素子から出力される前記第1の信号と前記第2の信号を加算した加算信号から前記撮像素子から出力される前記第1の信号を減算して前記第2の信号を生成する減算工程と、前記第1の信号を所定値以下に抑制する抑制工程と、を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  9. 前記撮像素子は複数のマイクロレンズと前記マイクロレンズ毎に前記複数の光電変換部を有し、
    前記一対の像信号は前記マイクロレンズ毎の前記複数の光電変換部より検出されることを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の撮像装置。
  10. 前記複数のマイクロレンズのうち異なるマイクロレンズに対応する光電変換部で検出される像信号を加算することでリフォーカス像を取得するリフォーカス手段を更に備えることを特緒とする請求項9に記載の撮像装置。
  11. 前記混合比は前記加算信号に基づいて決定されることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  12. 前記位相差信号の信頼性判定は差の絶対値の総和に基づいて判定されることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
  13. 前記抑制手段は前記第1の像信号がリミット値を超えた場合に、前記第1の像信号を所定値以下に抑制することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の撮像装置。
  14. 前記減算手段で生成された前記第2の信号及び前記抑制手段で抑制された前記第1の信号を前記焦点調節手段に出力する出力手段を更に備える請求項1に記載の撮像装置。
JP2013058767A 2013-03-21 2013-03-21 撮像装置及びその制御方法 Active JP6116301B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013058767A JP6116301B2 (ja) 2013-03-21 2013-03-21 撮像装置及びその制御方法
KR1020140030786A KR101628680B1 (ko) 2013-03-21 2014-03-17 촬상장치 및 그 제어방법
US14/217,795 US9602713B2 (en) 2013-03-21 2014-03-18 Imaging apparatus and method for controlling the same
CN201410105635.8A CN104065871B (zh) 2013-03-21 2014-03-20 摄像装置及其控制方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013058767A JP6116301B2 (ja) 2013-03-21 2013-03-21 撮像装置及びその制御方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014182360A JP2014182360A (ja) 2014-09-29
JP2014182360A5 JP2014182360A5 (ja) 2016-05-19
JP6116301B2 true JP6116301B2 (ja) 2017-04-19

Family

ID=51553384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013058767A Active JP6116301B2 (ja) 2013-03-21 2013-03-21 撮像装置及びその制御方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9602713B2 (ja)
JP (1) JP6116301B2 (ja)
KR (1) KR101628680B1 (ja)
CN (1) CN104065871B (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6234054B2 (ja) * 2013-04-25 2017-11-22 キヤノン株式会社 撮像装置および撮像装置の制御方法
JP5865299B2 (ja) * 2013-06-27 2016-02-17 オリンパス株式会社 焦点調節装置、カメラシステム、及び焦点調節方法
JP6600170B2 (ja) * 2014-07-07 2019-10-30 キヤノン株式会社 撮像素子及びその制御方法並びに撮像装置
JP6486051B2 (ja) * 2014-09-29 2019-03-20 キヤノン株式会社 発光制御装置、その制御方法、および制御プログラム、並びに撮像装置
JP6426992B2 (ja) * 2014-12-08 2018-11-21 キヤノン株式会社 撮像装置、焦点検出方法、プログラム、及び記憶媒体
JP6218799B2 (ja) 2015-01-05 2017-10-25 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置
US10070088B2 (en) * 2015-01-05 2018-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Image sensor and image capturing apparatus for simultaneously performing focus detection and image generation
JP6465704B2 (ja) * 2015-03-11 2019-02-06 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP6491539B2 (ja) * 2015-05-22 2019-03-27 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、システムならびにプログラム
JP6541477B2 (ja) * 2015-07-02 2019-07-10 キヤノン株式会社 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、およびプログラム
JP2017022528A (ja) * 2015-07-09 2017-01-26 キヤノン株式会社 画像処理装置及びその制御方法、プログラムならびに撮像装置
JP6602109B2 (ja) * 2015-08-28 2019-11-06 キヤノン株式会社 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体
US9961255B2 (en) 2016-02-09 2018-05-01 Canon Kabushiki Kaisha Image capturing apparatus, control method thereof, and storage medium
EP3208850B1 (de) * 2016-02-16 2021-08-04 Espros Photonics AG Hdr pixel
US10523860B2 (en) * 2016-05-12 2019-12-31 Canon Kabushiki Kaisha Focus detection device, control method thereof, and image capture apparatus
JP2018072390A (ja) * 2016-10-24 2018-05-10 オリンパス株式会社 撮像装置
JP6941011B2 (ja) 2017-09-04 2021-09-29 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体
JP7051613B2 (ja) * 2017-11-06 2022-04-11 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法
US10924655B2 (en) 2017-11-06 2021-02-16 Canon Kabushiki Kaisha Image-capturing apparatus and control method thereof
JP7425562B2 (ja) 2019-08-14 2024-01-31 キヤノン株式会社 撮像装置およびその制御方法
JP2023116360A (ja) * 2022-02-09 2023-08-22 キヤノン株式会社 制御装置、電子機器、制御方法、及びプログラム
JP2024008154A (ja) 2022-07-07 2024-01-19 キヤノン株式会社 画像処理装置、表示装置および画像処理方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3486316B2 (ja) * 1996-03-15 2004-01-13 ペンタックス株式会社 測量機の自動焦点装置
JP2000266991A (ja) 1999-03-18 2000-09-29 Canon Inc 焦点検出装置及びオートフォーカスカメラ
JP3491085B2 (ja) 1999-06-21 2004-01-26 好高 青山 蛇口ユニット
JP3774597B2 (ja) * 1999-09-13 2006-05-17 キヤノン株式会社 撮像装置
JP4691930B2 (ja) 2004-09-10 2011-06-01 ソニー株式会社 物理情報取得方法および物理情報取得装置、並びに物理量分布検知の半導体装置、プログラム、および撮像モジュール
JP5028154B2 (ja) * 2007-06-20 2012-09-19 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP4914303B2 (ja) * 2007-07-13 2012-04-11 シリコン ヒフェ ベー.フェー. 画像処理装置及び撮像装置、画像処理方法及び撮像方法、画像処理プログラム
JP5489641B2 (ja) 2008-11-11 2014-05-14 キヤノン株式会社 焦点検出装置及びその制御方法
JP5543098B2 (ja) * 2008-11-14 2014-07-09 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2012027390A (ja) * 2010-07-27 2012-02-09 Olympus Corp 撮像装置
JP5676962B2 (ja) * 2010-08-03 2015-02-25 キヤノン株式会社 焦点検出装置および撮像装置
JP4821921B2 (ja) * 2010-09-03 2011-11-24 ソニー株式会社 固体撮像装置および電子機器
JP5293716B2 (ja) * 2010-09-30 2013-09-18 株式会社ニコン 交換レンズ、カメラボディおよびカメラシステム
JP5742313B2 (ja) * 2011-03-10 2015-07-01 株式会社ニコン 撮像装置
US20130002936A1 (en) * 2011-06-30 2013-01-03 Nikon Corporation Image pickup apparatus, image processing apparatus, and storage medium storing image processing program
JP5618943B2 (ja) * 2011-08-19 2014-11-05 キヤノン株式会社 画像処理方法、撮像装置、画像処理装置、および、画像処理プログラム
US8749640B2 (en) * 2011-10-11 2014-06-10 Raytheon Company Blur-calibration system for electro-optical sensors and method using a moving multi-focal multi-target constellation
JP2014183206A (ja) * 2013-03-19 2014-09-29 Sony Corp 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法ならびに電子機器
JP6317548B2 (ja) * 2013-04-10 2018-04-25 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014182360A (ja) 2014-09-29
KR101628680B1 (ko) 2016-06-09
US20140285707A1 (en) 2014-09-25
KR20140115989A (ko) 2014-10-01
US9602713B2 (en) 2017-03-21
CN104065871B (zh) 2017-10-24
CN104065871A (zh) 2014-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6116301B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
CN104285436B (zh) 摄像装置和摄像装置的控制方法
US9544512B2 (en) Image capturing apparatus and method of reading out pixel signals from an image sensor
JP5946421B2 (ja) 撮像装置及びその制御方法
JP6124720B2 (ja) 撮像装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
US10362214B2 (en) Control apparatus, image capturing apparatus, control method, and non-transitory computer-readable storage medium
US10033951B2 (en) Image sensor that performs different readout operations and image capturing apparatus including image sensor
JP6021622B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
CN104919352B (zh) 摄像装置和图像校正方法以及图像处理装置和图像处理方法
JP5701942B2 (ja) 撮像装置、カメラシステム及び画像処理方法
CN105580354B (zh) 摄像装置和图像处理方法
US10009559B2 (en) Imaging apparatus, method for controlling the same, and program
JP6270400B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム
US9736354B2 (en) Control apparatus, image pickup apparatus, control method, and storage medium
JP2018132613A (ja) 焦点検出装置、および撮像装置
JP6426992B2 (ja) 撮像装置、焦点検出方法、プログラム、及び記憶媒体
US10341556B2 (en) Image capturing apparatus and control method therefor
JP6704611B2 (ja) 撮影装置及び撮影方法
JP2014180000A (ja) 撮像装置及び撮像装置の制御方法
JP2018151422A (ja) 焦点検出装置
JP2018191184A (ja) 撮像装置、制御方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160318

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160318

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20161130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170126

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170321

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6116301

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151