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JP5619425B2 - 差分センサmemsデバイスおよび穿孔した基板を有する電子機器 - Google Patents

差分センサmemsデバイスおよび穿孔した基板を有する電子機器 Download PDF

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Description

本発明は、MEMSデバイスおよび穿孔した基板を有する電子機器に関し、とくにLGAまたはBGAタイプのものに関する。
本発明は、とくに、その他を除外するものではないが、LGA基板上に実装したMEMS差分センサを備える電子機器に関連し、MEMS差分センサは電子機器の外部環境と通信するための2重物理インタフェースを必要とするものであり、この応用分野につき単に例示としてのみ、以下に詳細に説明する。
よく知られるように、MEMSデバイス(micro-electro-mechanical system)は、マイクロ・マニファクチャリングのリソグラフ技術を用いて、シリコンチップまたはダイに機械的および電気的機能を組み込む微小(マイクロ)デバイスである。
とくに、図1につき、MEMS差圧センサ100は、環状部分102およびこの環状部分102の上端縁に接続する円形状または方形状の薄膜103とにより形成されるシリコンダイ101を説明する(非特許文献1参照)
環状部分102の下端縁は、接着層105により、プラスチック、金属またはセラミック材料である保護パッケージ104に接合する。
保護パッケージ104は、ハウジングはほぼカップ状のハウジングとして形成し、内部空洞106を有し、ダイ101を空洞内に実装する。保護パッケージ104には、さらに、通口107を設ける。ダイ101を空洞106内に実装するとき、環状部分102は通口107を包囲し、したがって通口107は薄膜103の下面にかかる第1圧力P1の第1アクセスゲートをなす。
従来法では、保護パッケージ104を、ダイ101を空洞106内に接着する前に成形することにより構成する。
つぎに、空洞106を、金属またはプラスチック製のカバー108により頂部を閉鎖して、このカバー108には開口109を設け、空洞106を保護パッケージ104の外部に連通させる。
とくに、この開口109は、薄膜103の上面にかかる第2圧力P2の第2アクセスゲートをなす。このようにして、MEMS差分センサ100は、第1圧力P1および第2圧力P2間の差圧を測定することができる。
さらにまた、金属ピン110を保護パッケージ104から突出させ、MEMS差圧センサ100を保護パッケージ104の外部と電気的に接続できるようにする。
ダイ101を空洞106の金属ピン110に電気的に接続する接続部111をワイヤボンディングにより設け、このワイヤボンディングはダイ101を空洞106に固定した後に行う。
一般的にはシリコンゲルである保護コーティング層112は、空洞106をほぼ完全に満たす。
他の従来実施形態では、MEMS差圧センサ100を空洞106内に固定し、そしてピン111に対して電気的に接続した後に、カバー108を成形により形成し、また保護パッケージ104に連結する。
いくつかの態様において利点はあるけれども、MEMS差圧センサ有する電子機器を組み合わせたこれら従来実施形態は、ダイ101を収容し、またワイヤボンディングによる代替接着作業を可能にするために空洞106を十分広くしなければならないので、面倒であるという欠点を示す。
したがって、これらデバイスの製造法は以下のステップ、すなわち
・保護パッケージ104およびカバー108を製造するステップと、
・ダイ101を保護パッケージ104内に実装しまた電気的に接続するステップと、
・カバー108を保護パッケージ104上に取り付けるステップと、
を有する。
集積回路を実現するための従来のプロセスフローではこれら加工ステップを設けないので、最終的なデバイスの大幅なコスト増を引き起こす。
「100kPa On-Chip Temperature Compensated and Calibrated Silicon Pressure Sensors」, Motorola / Freescale Semiconductor Inc. SEMICONDUCTOR TECHNICAL DATE, MPX2001 SERIES, p.1-7
本発明の背景にある技術的問題は、このような構造をしたMEMS差分センサデバイスを有する電子機器であって、従来技術により実現される電子機器を依然として制限し続ける限界および/または欠点を克服して、従来の集積回路の製造プロセスでこの電子機器を実現可能にするような構造的特徴を有する電子機器を創出することにある。
本発明の第1実施形態は、電子機器に関するものであり、この電子機器においては、
・少なくとも1個の通口を設けた基板と、
・第1および第2の表面を有する差分センサの機能を持つMEMSデバイスであって、互いに背反する第1および第2の反応面に対応する位置に存在する流体の化学的および/または物理な変動を感知する少なくとも1個の感知部分を備えるタイプのMEMSデバイスとし、前記第1表面は前記第1反応面を露出した状態のままにし、前記第2表面には第2反応面を露出させる他の開口を設け、前記電子機器は、前記MEMSデバイスの前記第1表面が前記基板に対して所定距離だけ離れて対面し、前記感知部分が、前記基板の前記通口に整列する特徴を有するものとした、該MEMSデバイスと、
・前記MEMSデバイスおよび前記基板を少なくとも部分的に合体させる保護パッケージであって、この場合、互いに背反する前記第1および第2の反応表面を、前記基板の前記通口を通して、また前記第2表面の他の開口を通してそれぞれ露出させるように合体させる、該保護パッケージと、及び
・前記MEMS差分センサデバイスのための樹脂による損傷から保護する保護構造を実現するために前記感知部分を包囲するバリヤ素子であって、これにより前記感知部分の前記第1反応面をフリーにしたバリヤ素子と、を備え、
前記バリヤ素子は非湿潤性材料で形成した不規則区域である。
本発明による電子機器の特徴および利点を、非限定的な、例示として添付図面について、以下に説明する実施形態から明らかとなるであろう。
従来技術により実現されるMEMS差圧センサデバイスを備える電子機器の実施形態の断面図である。 本発明によるMEMSデバイスを備える電子機器の第1実施形態の断面図である。 図2に示す電子機器の実施形態における第1実施例の断面図である。 図2に示す電子機器の実施形態における第2実施例の断面図である。 図2に示す電子機器の実施形態における第3実施例の断面図である。 本発明によるMEMSデバイスを備える電子機器の第2実施形態の断面図である。 本発明によるMEMSデバイスを備える電子機器の第3実施形態の断面図である。 本発明により実現したMEMSデバイスを備える電子機器の応用例の断面図である。 本発明により実現したMEMSデバイスを備える電子機器の応用例の断面図である。 既知のMEMS差圧センサの断面図である。 既知のMEMS差圧センサの断面図である。
図2につき説明すると、第1実施形態として本発明によるMEMS差圧センサデバイスのための電子機器1を図示しており、この電子機器1は、例えばLGA/BGAタイプでの基板2を備え、この基板2は、上面3およびこの上面3とは反対側の下面4を有し、これら2つの表面3,4間に通口5を設ける。
既知の手法では、LGA/BGAタイプの基板は、絶縁または誘電材料の層で互いに絶縁した導電層によって形成する。導電層は、絶縁または誘電材料の層を用いて、互いに絶縁した導電トラックに一致する。 導電性の孔は、「ビア」と称され、一般的には絶縁層に対して垂直する向きにして絶縁層に形成し、異なる導電層に属する導電トラック間に導電性パスを形成する。
さらに、下面4に存在する導電トラックに接続するランド6は、基板2の下面4上に存在する。
電子機器1は、さらに、例えばシリコン製であるダイ8を有するMEMS差分センサデバイス7を備え、ダイ8は第1表面9およびこの第1表面とは反対側の第2表面10を有する。第1表面9上に、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11は一体化し、感知部分11の第1反応面11aを露出しした状態のままにするとともに、第2表面10には開口12を設け、この開口12によって、感知部分11における第1反応面11aとは反対側の第2反応面11bを露出させる。
本発明によれば、MEMS差分センサデバイス7の第1表面9は基板2の上面3に対面し、また上面3から所定距離を離れており、感知部分11は通口5に整列する。
さらに、MEMS差分センサデバイス7の上面9の周辺部分に、基板2の上面3上に存在する導電トラックに対して、例えばバンプなどの電気的接続部13によって電気接続するためのランドを設ける。
有利には、MEMS差分センサデバイス7は、既知の「フリップチップ」組み立て方法により、基板上に電気的に取り付ける。
さらに、本発明によれば、電子機器1は成形により実現した保護パッケージ14を備え、この保護パッケージ14はMEMS差分センサデバイス7、電気的接続部13および基板2を合体させ、ただしMEMS差分センサデバイス7の感知部分11の第1反応面11aを、通口5を通して露出させたままにし、また感知部分11の第2反応面11bを、第2表面10の開口12を通して露出させたままにする。
有利には、保護パッケージ14は、さらに、基板2の下面4を露出したままにする。
有利には、MEMS差分センサデバイス7の第2表面10を保護パッケージ14の上面に対して同一平面となるようにする。
本発明によれば、感知部分11は、感知部分11の2個の反応面11a,11b上に存在する、または接触する流体の化学的および/または物理的な変動を感知する。流体は、少なくとも2種類とし、例えば第1流体が通口5を経てMEMS差分センサデバイスの感知部分11の第1反応面11aに接触し、第2流体が第2表面10に設けた開口12を経て、MEMS差分センサデバイスの感知部分11の第2反応面11bに接触する。
有利には、バリヤ素子15をMEMS差分センサデバイス7の第1表面面9と基板2の上面3との間に位置決めし、これにより感知部分11を包囲する。
有利には、本発明によれば、このバリヤ素子15を設けることにより、成形による保護パッケージ14の製造プロセス中に感知部分11を保護し、したがってこの感知部分11をフリーな状態にしておく。
実際、既知の手法では、保護パッケージ14の形成には、成形型キャビティ内に、MEMS差分センサデバイス7を取り付けた基板2を導入する。
次に成形型キャビティ内へ加圧高温下で、保護パッケージ14のプラスチック本体を構成する電気絶縁材料を溶融状態で注入する。この材料は、一般的に、合成樹脂、例えばエポキシ樹脂とする。
適切な成形ステップは、成形型キャビティ内への樹脂注入するステップを含む。このステップに続いて、保護パッケージ14を完成させるために冷却ステップを行う。
樹脂注入ステップ中に樹脂がMEMS差分センサデバイス7の感知部分11が損傷することを回避するために、本発明によれば、基板2の上面3と第1表面9との間にバリヤ素子15を設け、バリヤ15はMEMS差分センサデバイス7の少なくとも感知部分11を完全に包囲する。
有利には、バリヤ素子15はリングとし、MEMS差分センサデバイス7を基板2に取り付けるときMEMS差分センサデバイス7の感知部分11を完全に包囲し、また基板2の上面3およびMEM差分センサデバイス7の第1表面9に接触する。
有利には、バリヤ素子15を溶接ペーストにより形成して、それにより、上記の実施形態では、電気的接続ステップ、およびMEMS差分センサデバイス7を基板2に接着するステップを同時に行うことができ、これにより、特別に小型の構体を簡単に実現でき、異なる構体間の難しい厳密な整列を必要としない。
さらに、バリヤ素子15の外側端縁を、例えば、完全に保護パッケージ14内に組み込む。
図3につき説明すると、本発明による第1実施形態の第1実施例である電子機器1aを示す。
図2につき説明した電子機器に対して構造的および機能的に同等な要素は同一参照符号
を付して示す。
有利には、バリヤ素子15aを、少なくとも感知部分11を包囲する領域に位置決めする。
第1実施例において、バリヤ素子15aは、基板2の上面3に形成した不規則区域15aとする。
有利には、この不規則区域15aは波形面とする。
有利には、この不規則区域15aは基板2の上面3における、中央の自由部分3c全体と一致するよう延在させる。
有利には、本発明によれば、この不規則区域15aを、図3に示すように基板2の上面3の化学的特性を変更することで得る。
有利には、不規則区域15aを非湿潤性材料により形成する。
この非湿潤性材料による層15aを基板2の上面3に形成することを禁止するものではない。
図4につき説明すると、本発明による実施形態における第2の実施例である電子機器1bを示す。
図2につき説明した電子機器1に対して構造的および機能的に同等な要素は同一参照符号を付して示す。
有利には、バリヤ素子15bを、少なくとも感知部分11を包囲する区域に配置する。
第2実施例において、バリヤ素子15bはMEMS差分センサデバイス7の第1表面9に形成した不規則区域15bとし、MEMS差分センサデバイス7の第1表面9の化学的特性を変更することで得る。
有利には、この不規則区域15bをMEMS差分センサデバイス7の第1表面9で、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11全体に対応する範囲にわたり延在させる。
実際、MEMS差分センサデバイス7の第1表面9と少なくとも一致するよう、シリコン製のダイ8を、非湿潤性タイプの絶縁層9bにより被覆し、この絶縁層9bは、例えばポリイミドなどの有機物質を備える例えばプラスチック層などの湿潤(濡れ)性材料により構成した保護層9aにより被覆する。
有利には、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11と少なくとも一致する部分で湿潤性材料層9aを除去し、例えば酸化ケイ素で形成される絶縁層9bが露出した状態にする。
有利には、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11から湿潤性材料層9aを除去するステップの後に、MEMS差分センサデバイスを基板2に溶接し、洗浄作業を例えばプラズマ内でアルゴンおよび酸素を含む混合ガスにより行う。
有利には、洗浄用混合物における酸素は湿潤性材料層9aと化学的に反応して湿潤性を増大させるが、感知部分11を被覆する誘電層9bはこの処理に対して不活性である。
したがって、処理後の結果として湿潤性材料層9aは、基板2の上面3の湿潤性および感知部分11を被覆する誘電層9bの減少した湿潤性と比較して増加した湿潤性を得る。
この湿潤性の差は、保護パッケージ14を成形する成形ステップ中に樹脂流れが急激に減速することを意味し、これにより、樹脂の見かけの電圧は、感知部分11をカバーする誘電層9bの周辺表面あたりにメニスカスを形成する。
非湿潤性材料であるバリヤ層9bを、MEMSデバイスの第1表面9上だけでなく、感知部分11に整列する基板2の上面3に形成することを禁止するものではない。
本発明の上述した2つの実施例における他の実施例において、不規則区域15a,15bはしわを有するものとする。
有利には、不規則区域15a,15bにトレンチを形成して、基板内またはMEMS差分センサデバイス7内に設けて、それにより、成形ステップ中に樹脂の導入に好適な通路を基板2内またはMEMS差分センサデバイス7内に実現する。
有利には、これらトレンチは、例えば図5の機器1cに示すように、完全にMEMSデバイス7の感知部分11を包囲する。図5において、図2につき説明した電子機器1と構造的および機能的に同一要素は同一参照符号を付して示す。
有利には、この後者の実施例において、非湿潤性材料の層は、MEMS差分センサデバイス7の感知部分に対応して存在し、基板2上およびMEMS差分センサデバイス7の双方でトレンチにより包囲される区域に対応する。
本発明によれば、この不規則区域15a,15bの存在によれば、成形による保護パッケージ14の製造ステップ中、感知部分11を保護し、したがって液体樹脂は感知部分11に達することなく、電気的接続部の周りに均一に分布する。
図6につき説明すると、本発明による第2実施形態としての電子機器1dを示す。
図2につき説明した電子機器1に対して構造的および機能的に同等な要素は同一参照符号を付して示す。
特にこの実施形態において、下側充填物16を電気的接続部3に組み込み、MEMS差分センサデバイス7と基板2との間の接続部において電子機器1を機械的に強化する。
有利には、下側充填物16を、エポキシ合成物、例えばエポキシ樹脂により形成する。
有利には、バリヤ素子15を、MEMS差分センサデバイス7と基板2との間に設ける
ことができる。
有利には、下側充填物16は、MEMS差分センサデバイス7の外方に向かってテーパを付けた輪郭とするとともに、図示のように、バリヤ素子15に対応するほぼ垂直方向の
輪郭を有する。
言い換えれば、下側充填物16の断面は、基板2の上面3に近づくにつれて増大する。
電子機器1dは、さらに成形により実現する保護パッケージ14dを備え、この保護パッケージ14dにより、MEMS差分センサデバイス7、下側充填物16、および基板2を合体させ、ただし、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11の第1反応面11aは、通口5を通して露出し、また感知部11の第2反応面11bは、第2表面10の開口12を通して露出する状態にして合体させる。
有利には、保護パッケージ14dは、さらに基板2の下面4を露出した状態にする。
有利には、第2表面10を保護パッケージ14dの上面に対して、同一平面となるようにする。
バリヤ素子15の存在により、MEMS差分センサデバイス7を下側充填物16から自由な状態に維持することができる。
さらに、下側充填物16は、プラスチック製の保護パッケージ14dの製造ステップ中、MEMS差分センサデバイス7の第1表面9を保護する。
有利には、下側充填物16は、図3,4,5につき説明した実施例のバリヤ素子15a,15bの外側で、基板2の上面3とMEMS差分センサデバイス7の第1表面9の間にある区域の少なくとも一部に存在し、それにより、電気的接続部3を組み込み、MEMS差分センサデバイス7と基板2との間の接続部において電子機器1を機械的に強化する。
図7につき説明すると、本発明による第3実施形態としての電子機器1eを示す。
図2につき説明した電子機器1に対して構造的および機能的に同一な要素は同一参照符号を付して示す。
電子機器1eは、さらに、成形により実現する保護パッケージ14eを備え、この保護パッケージ14eによれば、MEMS差分センサデバイス7、および基板2を合体させ、ただし、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11の第1反応面11aは、通口5を通して露出し、そして有利には、基板2の下面も露出するように合体する。保護パッケージ14eは、MEMS差分センサデバイス7の第2表面10を被覆し、またMEMS差分センサデバイス7の第2表面10上に存在する開口12に整列する他の通口17を設ける。
有利には、円筒形の突起18を保護パッケージ14eの通口17上に形成することで、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11に接近することを容易にする。
有利には、円筒形の突起18を保護パッケージ14eと同時に、この保護パッケージを形成するのと同一ステップ中に実現する。
有利には、バリヤ素子15を、MEMS差分センサデバイス7と基板2との間に設けることができる。
有利には、本発明のこの実施形態においても、図3〜5につき説明したバリヤ素子15a,15bまたは図6につき説明した下側充填物16を設けることができる。
図8につき説明すると、図2に示した機器1であって、集積回路19を基板2上にMEMS差分センサデバイス7と同一平面になるように実装し、例えば溶接層20により基板2上に固定する。
集積回路19を、他の電気的接続部21により、基板2と電気的に接続する。
成形により実現する保護パッケージ14は、電気的接続部13を有するMEMS差分センサデバイス7、他の電気的接続部21を有する集積回路12、および基板2を合体させ、ただしMEMS差分センサデバイス7の感知部分11の第1反応面11aは、通口5を通して露出し、感知部分11の第2反応面11bは、第2表面10の開口12を通して露出しるよう合体させる。
有利には、保護パッケージ14は、さらに、基板2の下面4を露出させるよう設ける。
有利には、MEMS差分センサデバイス7の第2表面10は、保護パッケージ14の上面と同一平面になるようにする。
図9につき説明すると、図6に示した機器1dであって、集積回路19を基板2上にMEMS差分センサデバイス7と同一平面となるよう実装して、例えば溶接層20により基板2上に固定する。
集積回路19を、他の電気的接続部21により、基板2に対して電気的に接続する。
成形により実現する保護パッケージ14dにより、電気的接続部13を有するMEMS差分センサ機器7、下側充填物16、他の電気的接続部21を有する集積回路12、および基板2を合体させ、ただし、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11の第1反応面11aは、通口5を通して露出し、感知部分11の第2反応面11bは、第2表面10の開口12を通して露出するよう合体させる。
有利には、保護パッケージ14dは、さらに、基板2の下面4を露出させるよう設ける。
有利には、MEMS差分センサデバイス7の第2表面10を、保護パッケージ14に対して同一平面となるようにする。
有利には、本発明による機器内で使用するMEMS差分センサデバイス7は、図10および11に示す差圧センサデバイスとる。
特にこれら図面につき説明すると、差圧センサ7aは、図示のように、例えばシリコンなどの半導体ダイ8aに形成する。
半導体ダイ8aにおいて、半導体ダイ8aの第1表面9cに隣接してキャビティ3aを設ける。
キャビティ3aと第1表面9cの間にある半導体ダイ8aの一部は薄膜11c、すなわち差圧センサ7aの感知素子を形成する。
抵抗素子6aを第1表面9cに隣接して薄膜の周辺に形成する。
例えば酸化物などの絶縁層4aは、ダイ2aの第1反応面9cを被覆するが、抵抗素子6aの間にある薄膜11cの第1反応面11dは露出するように設ける。さらに、これら抵抗素子6aに対応する絶縁層4aに開口を設け、絶縁層4a上に形成した導電層2aに対して電気的に接続できるようにする。
絶縁層によりダイ2aの反応面9c全体を被覆することを禁止するものではない。
有利には、不動態化層によりダイ2aの第1反応面9cを被覆する。
とくに、導電層2aは、互いに離れており抵抗素子6aにより電気的に接続する2個の部分2bおよび2cを備える。
開口12a,12bを、第1表面9cとは反対側におけるセンサ7aの第2表面10aに設け、キャビティ3aをセンサ7aの外部に連通させる。このようにして、開口12a,12bは第2圧力のためのアクセスゲートを形成し、アクセスゲートはキャビティ3aに対面する薄膜11cの第2反応面11eに作用する。
図10に示すように、もし開口12aをドライエッチングにより実現する場合、開口12aの壁面は第2表面10aに対してほぼ直交し、すなわち開口12aの断面はほぼ一定である。
その代わり図11に示すように、開口12bをウェットタイプのエッチングにより実現する場合、開口12bの壁面はテーパが付きり、すなわち開口12bの断面は第2表面10aから離れるにつれて減少する。
結論として、本発明による機器では、マイクロフォン、圧力、ガス、化学物質に関する差分センサを実現することが可能であり。成形により実現する保護パッケージ内に封入する。
本発明によれば、より多くのセンサ(加速度および圧力センサ)を保護パッケージ14内に統合することもまた可能である。
有利には、望ましい実施形態において、全電子機器1,1a,1b,1c,1d,1e,1eは、図示するように、3×3×1mmの範囲内の空間で構成し、MEMS差分センサデバイス7は幅1500μm、長さ1500μm、厚さ700μmとし、第2表面10上の開口12は図示するように100〜500μmの間の値とする。
MEMS差分センサデバイス7の感知部分11は、円形または四角形とし、直径/側辺が100μm〜1000μmの寸法とする。
MEMS差分センサデバイスの第1表面9と基板の上面3との間は、50〜500μmの間の距離とし、同時に基板2の厚さは150〜300μmの間の値とし、開口5の幅は100〜700μmの間の値とする。
バリヤ素子15を溶接ペーストのリングにより実現する場合、60〜300μmの間の断面厚さとする。
バリヤ素子15a,15bを不規則区域により実現する場合、10〜60μmの間の断面幅を有し、例えば20〜80μmの間の深さとする。
結論として、本発明による電子機器は特別に小型であり、厳密に整列させる必要がない技法を用いることができる。
有利には、バリヤ素子15,15a,15bを設けることにより、保護パッケージ14の製造ステップ中、または本発明による電子機器1に下側充填物16を注入するステップ中に、MEMS差分センサデバイス7の感知部分11を保護する。
有利には、バリヤ素子15,15a,15bは、物理的特性または化学的特性またはその双方を組み合わせた性質を有するものとし、基板2およびMEMS差分センサデバイス7の双方上に実現することができる。

Claims (30)

  1. 電子機器(1,1a,1b,1c,1d,1e)において、
    ・少なくとも1個の通口(5)を設けた基板(2)と、
    ・第1および第2の表面(9,10)を有する差分センサの機能を持つMEMSデバイス(7)であって、互いに背反する第1および第2の反応面(11a,11b)に対応する位置に存在する流体の化学的および/または物理的な変動を感知する少なくとも1個の感知部分(11)を備えるタイプのMEMSデバイス(7)とし、前記第1表面(9)は前記第1反応面(11a)を露出した状態のままにし、前記第2表面(10)には第2反応面を露出させる他の開口(12)を設け、前記電子機器(1,1d,1e)は、前記MEMSデバイス(7)の前記第1表面(9)が前記基板(2)に対して所定距離だけ離れて対面し、前記感知部分(11)が、前記基板(2)の前記通口(5)に整列する特徴を有するものとした、該MEMSデバイスと、
    ・前記MEMSデバイス(7)および前記基板(2)を少なくとも部分的に合体させる保護パッケージ(14,14a,14e)であって、この場合、互いに背反する前記第1および第2の反応表面(11a,11b)を、前記基板(2)の前記通口(5)を通して、また前記第2表面(10)の他の開口(12)を通してそれぞれ露出させるように合体させる、該保護パッケージ(14,14a,14e)と、及び
    ・前記MEMS差分センサデバイス(7)のための樹脂による損傷から保護する保護構造を実現するために前記感知部分を包囲するバリヤ素子(15)であって、これにより前記感知部分(11)の前記第1反応面(11a)をフリーにしたバリヤ素子(15)と、
    を備え、
    前記バリヤ素子(15)は非湿潤性材料で形成した不規則区域(15a,15b)であることを特徴とする電子機器。
  2. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15a)が、前記基板(2)の上面(3)に形成されていることを特徴とする、電子機器。
  3. 請求項に記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15a)は前記感知部分(11)に対応する範囲にわたり前記基板(2)の上面(3)に延在させたことを特徴とする、電子機器。
  4. 請求項またはに記載の電子機器(1)において、前記不規則区域を、前記基板(2)の上面(3)の化学的特性を変更することで得ることを特徴とする、電子機器。
  5. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15b)は、MEMS差分センサデバイス(7)の前記第1表面(9)上に形成されていることを特徴とする、電子機器。
  6. 請求項に記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15b)を、前記MEMS差分センサデバイス(7)の前記感知部分(11)上に延在させたことを特徴とする、電子機器。
  7. 請求項またはに記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15b)を、MEMS差分センサデバイス(7)の前記第1表面(9)周辺の化学的特性を変更することで得ることを特徴とする、電子機器。
  8. 請求項5または6に記載の電子機器(1)において、前記感知部分(11)の前記第1反応面(11a)を非湿潤性材料層(9b)と保護層(9a)により被覆し、前記不規則区域(15b)、MEMS差分センサデバイス(7)の前記第1表面(9)から前記保護層(9a)を除去することにより前記非湿潤性材料層(9b)を露出させて形成するものとしたことを特徴とする、電子機器。
  9. 請求項に記載の電子機器(1)において、前記保護層(9a)はポリイミドとし、前記非湿潤性材料層(9b)を酸化物としたことを特徴とする、電子機器。
  10. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記不規則区域(15a,15b)は、前記保護パッケージの形成ステップ中に望ましい通路を形成するトレンチを備えることを特徴とする、電子機器。
  11. 請求項10に記載の電子機器(1)において、非湿潤性材料層(9b)を、前記MEMS差分センサデバイス(7)の前記感知部分と対応する範囲に形成したことを特徴とする、電子機器。
  12. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記第2表面(10)を前記保護パッケージ(14)の上面に対して同一平面となるようにしたことを特徴とする、電子機器。
  13. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記保護パッケージ(14e)は前記第2表面(10)を被覆し、また前記MEMS差分センサ デバイス(7)の前記第2表面(10)上に存在する開口(12)に整列する通口(17)を設けたことを特徴とする、電子機器。
  14. 請求項13に記載の電子機器(1)において、円筒形の突起(18)を前記保護パッケージ(14e)の前記通口(17)上に形成し、前記MEMS差分センサデバイス(7)の前記感知部分(11)へのアクセスを容易にすることを特徴とする、電子機器。
  15. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記MEMS差分センサデバイス(7)を前記基板(2)に電気的に接続する電気接続部(13)を、前記感知部分(11)に対して前記バリヤ素子(15)の外側に存在するよう構成した、電子機器。
  16. 請求項15に記載の電子機器(1)において、下側充填物(16)は前記電気的接続部(13)に合体することを特徴とする、電子機器。
  17. 請求項16に記載の電子機器(1)において、前記バリヤ素子(15)は、前記下側充填物(16)の形成中、前記感知部分(11)を保護することを特徴とする、電子機器。
  18. 請求項16に記載の電子機器(1)において、前記下側充填物(16)は前記周辺区域外方に向かってテーパが付いた輪郭を有するとともに、前記感知部分(11)を包囲する前記区域に対応するほぼ垂直方向の輪郭を有することを特徴とする、電子機器。
  19. 請求項に記載の電子機器(1)において電気的接続部(13)はバンプにより構成したことを特徴とする、電子機器。
  20. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記MEMS差分センサデバイス(7)を、既知の「フリップチップ」組み立て方法により前記基板(2)上に実装したことを特徴とする、電子機器。
  21. 請求項1に記載する電子機器(1)において、前記MEMS差分センサデバイス(7)に対して同一平面となるよう実装した集積回路(19)を備えたことを特徴とする、電子機器。
  22. 請求項1に記載の電子機器(1)において集積回路(19)を前記基板(2)上に存在する導電トラックに対して、他の電気接続部(21)により電気的に接続したことを特徴とする、電子機器。
  23. 請求項22に記載の電子機器(1)において、前記保護パッケージ(14)は前記集積回路(19)および前記他の電気的接続部(21)に合体することを特徴とする、電子機器。
  24. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記基板はLGAタイプとしたことを特徴とする、電子機器。
  25. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記基板はBGAタイプとしたことを特徴とする、電子機器。
  26. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記MEMS差分センサデバイス(7)を圧力センサとしたことを特徴とする、電子機器。
  27. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記MEMSデバイスをガスセンサとしたことを特徴とする、電子機器。
  28. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記MEMSデバイスを化学センサとしたことを特徴とする、電子機器。
  29. 請求項1に記載の電子機器(1)において、前記保護パッケージ(14)を成形により実現したことを特徴とする、電子機器。
  30. 電子機器(1)において、
    ・少なくとも1個の通口(5)を有する基板(2)と、
    ・第1および第2の反応面(11a,11b)をそれぞれ露出させた状態にする、少なくとも第1表面(9)および第2表面(10)を有する差分センサMEMSデバイス(7)と、
    ・前記第1および第2の反応面(11a,11b)を露出させるよう前記MEMSデバイス(7)および前記基板(2)を少なくとも部分的に合体させる保護パッケージと、
    を有し、
    ・前記差分センサ(7)は、前記第1および/または第2の反応面(11a,11b)と接触する流体の化学的および/または物理的変動を感知する感知部分(11)を有するものとし、
    ・前記MEMS差分センサデバイス(7)のための樹脂による損傷から保護する保護構造を実現するために前記感知部分を包囲するバリヤ素子(15)であって、これにより前記感知部分(11)の前記第1反応面(11a)をフリーにしたバリヤ素子(15)を有し、前記バリヤ素子(15)は非湿潤性材料で形成した不規則区域(15a,15b)であり、
    ・前記MEMSデバイスの第1表面(9)は、前記基板(2)に対面し、かつ前記基板(2)からある距離だけ離れるものとし、
    ・前記第2表面(10)は前記第1表面(9)とは反対側にあり、前記第2反応面(11b)を露出させる開口(12)を有するものとし、
    ・前記感知部分(11)は前記基板(2)の前記通口(5)に整列するものとした、
    ことを特徴とする電子機器。
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