JP5657125B2 - 電磁波放射装置 - Google Patents
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Description
本発明は、電磁波(周波数が0.01[THz]以上100[THz]以下)(例えば、テラヘルツ波(例えば、周波数が0.03[THz]以上10[THz]以下))の放射に関する。
従来より、チェレンコフ放射を用いた差周波テラヘルツ波発生による広帯域テラヘルツ発生方法が提案されている(非特許文献1のFig.2または特許文献1の図1を参照)。非特許文献1のFig.2によれば、2波長を出力する光源(例えば、Nd−YAGレーザにより励起されるKTP−OPO)からの励起光を非線形結晶(例えば、MgOドープLN結晶)内に入射している。入射した2波長の励起光によりMgOドープLN結晶内に非線形分極が誘起される。MgOドープLN結晶が、チェレンコフ放射の条件(nTHz>nopt)を満足する場合、コヒーレンス長の2倍毎に極大となる球面波が発生する。この球面波は下記の関係を満たす放射角θ方向に波面が揃っており、この方向にテラヘルツ波が放射される。ただし、noptはMgOドープLN結晶の励起光波帯の屈折率であり、nTHzはMgOドープLN結晶のテラヘルツ波帯の屈折率である。
cosθ=nopt/nTHz
K.Suizu,K.Koketsu,T.Shibuya,T.Tsutsui,T.Akiba,and K.Kawase,"Extremely frequency−widened terahertzwave generation using Cherenkov−type radiation,"Opt.Express17(8),6676−6681ページ 2009年 特開2010−204488号公報
cosθ=nopt/nTHz
K.Suizu,K.Koketsu,T.Shibuya,T.Tsutsui,T.Akiba,and K.Kawase,"Extremely frequency−widened terahertzwave generation using Cherenkov−type radiation,"Opt.Express17(8),6676−6681ページ 2009年
本発明は、テラヘルツ波の出力パワーを大きくすることを課題とする。
本発明にかかる電磁波放射装置は、二つ以上の波長成分を有する励起光を受け、チェレンコフ位相整合により0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を出力し、光導波路を有する非線形結晶と、前記光導波路から前記電磁波を受ける電磁波入力面と、該電磁波入力面から入った前記電磁波が透過する電磁波透過面とを有するプリズムと、対向する二つの底面と、前記二つの底面と交差する平面と、前記二つの底面および前記平面と交差する曲面とを有し、前記平面が前記電磁波透過面に接しているシリンドリカルレンズと、を備えるように構成される。
上記のように構成された電磁波放射装置によれば、非線形結晶が光導波路を有し、二つ以上の波長成分を有する励起光を受け、チェレンコフ位相整合により0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を出力する。プリズムが、前記光導波路から前記電磁波を受ける電磁波入力面と、該電磁波入力面から入った前記電磁波が透過する電磁波透過面とを有する。シリンドリカルレンズが、対向する二つの底面と、前記二つの底面と交差する平面と、前記二つの底面および前記平面と交差する曲面とを有し、前記平面が前記電磁波透過面に接している。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面に対して、傾いているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と交差しているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tがr/(nclad−1)以下であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と離れているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tの平均値がr/ncladであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが同一の材料により形成されているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが一体に形成されているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとを一個ずつ備えるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記光導波路が、前記非線形結晶から突出している部分であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記光導波路が、前記非線形結晶の内部に所定の材料が拡散する部分であり、前記所定の材料の前記励起光の波長における屈折率が、前記非線形結晶の前記光導波路以外の部分の前記励起光の波長における屈折率よりも大きいようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記非線形結晶との間に配置された緩衝層を備え、前記緩衝層の厚さは、前記励起光の浸み出し長よりも厚く、かつ前記電磁波の波長よりも薄いようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影の対称軸と一致するようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影内に入るようにしてもよい。
本発明にかかる電磁波放射装置は、二つ以上の波長成分を有する励起光を受け、チェレンコフ位相整合により0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を出力し、光導波路を有する非線形結晶と、前記光導波路から前記電磁波を受ける電磁波入力面と、該電磁波入力面から入った前記電磁波が透過する電磁波透過面とを有するプリズムと、対向する二つの底面と、前記二つの底面と交差する平面と、前記二つの底面および前記平面と交差する曲面とを有し、前記平面が前記電磁波透過面に接しているシリンドリカルレンズと、を備えるように構成される。
上記のように構成された電磁波放射装置によれば、非線形結晶が光導波路を有し、二つ以上の波長成分を有する励起光を受け、チェレンコフ位相整合により0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を出力する。プリズムが、前記光導波路から前記電磁波を受ける電磁波入力面と、該電磁波入力面から入った前記電磁波が透過する電磁波透過面とを有する。シリンドリカルレンズが、対向する二つの底面と、前記二つの底面と交差する平面と、前記二つの底面および前記平面と交差する曲面とを有し、前記平面が前記電磁波透過面に接している。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面に対して、傾いているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と交差しているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tがr/(nclad−1)以下であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と離れているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tの平均値がr/ncladであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが同一の材料により形成されているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが一体に形成されているようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとを一個ずつ備えるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記光導波路が、前記非線形結晶から突出している部分であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記光導波路が、前記非線形結晶の内部に所定の材料が拡散する部分であり、前記所定の材料の前記励起光の波長における屈折率が、前記非線形結晶の前記光導波路以外の部分の前記励起光の波長における屈折率よりも大きいようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記プリズムと前記非線形結晶との間に配置された緩衝層を備え、前記緩衝層の厚さは、前記励起光の浸み出し長よりも厚く、かつ前記電磁波の波長よりも薄いようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影の対称軸と一致するようにしてもよい。
なお、本発明にかかる電磁波放射装置は、前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影内に入るようにしてもよい。
第1図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の斜視図である。
第2図は、電磁波放射装置1の正面図である。
第3図は、シリンドリカルレンズ18の斜視図(第3図(a))、プリズム16の斜視図(第3図(b))である。
第4図は、電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第5図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第6図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18bでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第7図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18aでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第8図は、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れている変形例にかかる電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第9図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1においてシリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合の比較例を示す図である。
第10図は、凸部10aの配置を変更した変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第11図は、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けた変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第12図は、電磁波放射装置1の平面図である。
第13図は、変形例にかかる電磁波放射装置1の平面図である。
第2図は、電磁波放射装置1の正面図である。
第3図は、シリンドリカルレンズ18の斜視図(第3図(a))、プリズム16の斜視図(第3図(b))である。
第4図は、電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第5図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第6図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18bでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第7図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18aでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
第8図は、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れている変形例にかかる電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第9図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1においてシリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合の比較例を示す図である。
第10図は、凸部10aの配置を変更した変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第11図は、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けた変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第12図は、電磁波放射装置1の平面図である。
第13図は、変形例にかかる電磁波放射装置1の平面図である。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の斜視図である。第2図は、電磁波放射装置1の正面図である。第3図は、シリンドリカルレンズ18の斜視図(第3図(a))、プリズム16の斜視図(第3図(b))である。第4図は、電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
電磁波放射装置1は、0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を放射する。電磁波放射装置1から放射される電磁波は、例えば、テラヘルツ波帯(例えば、0.03[THz]以上10[THz]以下)の電磁波(テラヘルツ波)である。以下、本発明の実施形態においては、電磁波放射装置1から放射される電磁波を、テラヘルツ波とする。
電磁波放射装置1は、励起光源2、非線形結晶10、緩衝層12、基板14、プリズム16、シリンドリカルレンズ18を備える。
第4図を参照して、励起光源2は、二つの波長成分(波長λ1、λ2)を有する励起光Lpを出力する。波長λ1、λ2は、例えば、1250nm以上1700nm以下の範囲内の値をとる。励起光Lpは、例えば、フェムト秒光パルスである。なお、フェムト秒光パルスは、二つの波長成分(波長λ1、λ2)以外の波長成分も有するので、二つ以上の波長成分を有することとなる。
非線形結晶10は、例えば、MgOドープLN結晶である。非線形結晶10は、その表面上に凸部10aを有する。凸部10aは、第1図に図示するように、リッジ状の光導波路である。非線形結晶10の側面(すなわち、YZ面)に垂直に、励起光Lpを入射する。すなわち、非線形結晶10の側面が励起光Lpを受ける。電磁波放射装置1の放射するテラヘルツ波の高出力化のためには、励起光Lpのパワー密度を向上させることが必要である。そこで、凸部10aにより、励起光Lpの伝搬する部分が非線形結晶10の幅方向(第2図を参照して、凸部10aの幅Wの方向と同じ)に広がらないようにすることにより、励起光Lpを受ける面の面積を小さくして(非線形結晶10の側面全体で励起光Lpを受けるよりも励起光Lpを受ける面の面積が小さい)、励起光Lpのパワー密度を向上させている。なお、凸部10aの幅W(第2図参照)は、テラヘルツ波の波長に比べて非常に小さく、例えば、数μm〜数十μmである。
ただし、励起光Lpの偏光面はZ軸(第4図の紙面に垂直な軸)に平行である。励起光Lpの二つの波長成分により、非線形結晶10の凸部10aの近傍に非線形分極が形成され、その分極に対応した周波数の電磁波(テラヘルツ波)が放射される。なお、励起光Lpの波長における非線形結晶10の実効屈折率をnopt_effとし、テラヘルツ波の波長における非線形結晶10の屈折率をnTHzとすると、nTHz>nopt_effである。非線形結晶10の屈折率分散により、励起光Lpに含まれる2つの波長(λ1,λ2)の屈折率は異なる。しかし、λ1とλ2の波長の差は、テラヘルツ波の波長に対して非常に小さく、λ1とλ2との間の屈折率分散の影響をほとんど無視できる。従って、励起光Lp(波長λ1、λ2)の非線形結晶10内における屈折率(n1,n2)(それぞれ、λ1、λ2に対応)はほぼ等しく、nopt_effとすることが出来る。
なお、チェレンコフ位相整合を満足する角度をθとすると、cosθ=(λTHz/nTHz)/(λ1λ2/(n1λ2−n2λ1))である。ただし、テラヘルツ波の波長をλTHzとする。
下記の式で記述されるチェレンコフ位相整合を満足する角度θ(第4図参照)方向に球面波のテラヘルツ波が、非線形結晶10の凸部10aの近傍から、チェレンコフ位相整合して放射される。なお、角度θは、第4図を参照して、励起光Lpの進行方向と、テラヘルツ波の進行方向とのなす角度である。なお、下記の式は、cosθ=(λTHz/nTHz)/(λ1λ2/(n1λ2−n2λ1))において、n1=n2=nopt_effとみなした場合の式である。
基板14には、非線形結晶10が載せられている。ただし、基板14は、凸部10aが配置されている非線形結晶10の面とは反対側の面に接着剤を介して接している。基板14は、例えば、ドープされていないLN基板である。
なお、第10図に示すように、凸部10aを非線形結晶10の下部に配置し、非線形結晶10から見て、基板14と凸部10aとが同じ側に配置されているようにしてもよい。第10図は、凸部10aの配置を変更した変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
また、第11図に示すように、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けても良い。第11図は、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けた変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第11図を参照して、拡散領域10bは、光導波路であり、非線形結晶10の内部に所定の材料(例えば、Ti)が拡散する部分である。なお、拡散領域10bの所定の材料(例えば、Ti)の励起光Lpの波長における屈折率が、非線形結晶10の拡散領域(光導波路)10b以外の部分の励起光Lpの波長における屈折率よりも大きい。これにより、励起光Lpが、拡散領域10bの内部に閉じ込められることになり、パワー密度を向上させることができる。なお、拡散領域10bは、第11図においては、非線形結晶10の上部に設けられたが、下部に設けてもよい。
緩衝層12は、凸部10aが配置されている非線形結晶10の面および凸部10aを覆う。励起光Lp(波長λ1、λ2)の緩衝層12内における屈折率は、励起光Lp(波長λ1、λ2)の非線形結晶10の凸部10a内における実効屈折率よりも小さい。しかも、緩衝層12の厚さは、励起光Lpの浸み出し長ξよりも厚く、かつ電磁波放射装置1の外部に取出すテラヘルツ波の波長λTHzよりも薄く設定する。これにより、励起光Lpのプリズム16内における屈折率が、励起光Lpの非線形結晶10内における実効屈折率よりも大きかったとしても、励起光Lpを凸部10aの近傍に閉じ込めつつ、テラヘルツ波が緩衝層12を透過することを可能にする。
プリズム16は、電磁波入力面16a、電磁波透過面16bを有する(第3図(b)および第4図参照)。電磁波入力面16aは、緩衝層12に接しており、凸部10aの近傍からテラヘルツ波を受ける。電磁波透過面16bは、電磁波入力面16aから入ったテラヘルツ波が透過する面である。
電磁波入力面16aは、電磁波透過面16bに対して、傾いている。電磁波透過面16bが、電磁波入力面16aと交差している。
プリズム16内でのテラヘルツ波の伝搬損失を低減するため、テラヘルツ波の吸収が小さいことが望ましい。そこで、プリズム16の材料は、例えば、高抵抗シリコン、ゲルマニウムなどである。
シリンドリカルレンズ18は、底面18a、18b、平面18d、曲面18cを有する。底面18aと底面18b(第3図(a)および第4図参照)とは互いに対向する平行な二つの底面である。なお、底面18aおよび底面18bの形状は、双方とも同じ形状の半円形(ただし、半径をrとする)である。平面18d(第3図(a)および第4図参照)は、底面18aおよび底面18bと直交する平面であり、電磁波透過面16bに接している。曲面18cは、底面18a、底面18bおよび平面18dと交差する。
なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸A(第1図および第3図(a)参照)は、半円形の底面18aの中心Oと、半円形の底面18bの中心Pとを結ぶ直線である。中心軸Aは、平面18d上の直線でもある。
シリンドリカルレンズ18内でのテラヘルツ波の伝搬損失を低減するため、テラヘルツ波の吸収が小さいことが望ましい。そこで、シリンドリカルレンズ18の材料は、例えば、高抵抗シリコン、ゲルマニウムなどである。
なお、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料により形成されていてもよく、以後、両者が同一材料(屈折率も等しい)であるものとして説明を行う。また、上記の説明では、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが別々である。しかし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが一体に形成されていてもよい。プリズム16とシリンドリカルレンズ18との界面におけるテラヘルツ波のエネルギ損失を抑制できるからである。
また、第2図を参照して、凸部10aの側面は長方形であり、c−c軸を対称軸として線対称である。また、シリンドリカルレンズ18の底面18aも、c−c軸を対称軸として線対称である。すなわち、凸部10aのほぼ真上にシリンドリカルレンズ18が配置されている。
第12図は、電磁波放射装置1の平面図である。ただし、シリンドリカルレンズ18を図示省略し、プリズム16を透視している。第12図には、中心軸Aおよび光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の、電磁波入力面16a内への射影が図示されている。
シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影の対称軸と一致していることが好ましい。なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影内に入っていればよい。
次に、本発明の実施形態の動作を説明する。
励起光源2から、励起光Lpが、非線形結晶10に与えられる。励起光Lpは、凸部10aの近傍をほぼ直進する。励起光Lpの二つの波長成分(波長λ1、λ2)により、非線形結晶10の凸部10aの近傍に非線形分極が形成され、その分極に対応した周波数のテラヘルツ波が放射される。しかも、nTHz>nopt_effの条件を満足する非線形結晶10の凸部10aの近傍より放射されるテラヘルツ波の進行方向は、励起光Lpの進行方向と、チェレンコフ位相整合を満足する角度θをなす(第4図参照)。
テラヘルツ波は、凸部10aの近傍から放射され、緩衝層12を透過する。このときのテラヘルツ波の進行方向と、励起光Lpの進行方向とがなす角度がθである。テラヘルツ波が緩衝層12を透過すると、プリズム16の電磁波入力面16aを透過する際に屈折し、その後、テラヘルツ波の進行方向と、励起光Lpの進行方向とがなす角度がθcladとなる。なお、θcladは以下の式で表される。ただし、ncladは、テラヘルツ波の波長におけるプリズム16の屈折率である。また、nclad>nopt_effである。
例えば、nopt_eff=2.2、nclad=3.4の場合、θclad=50°である。
電磁波透過面16bは、c−c断面(第4図参照)におけるプリズム16内のテラヘルツ波の進行方向と垂直である。テラヘルツ波は、電磁波透過面16bを屈折せずに直進しながら透過する。c−c断面(第4図参照)において、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18内を直進し、そのまま屈折せずに透過する。
c−c断面(第4図参照)以外における、テラヘルツ波の進行方向について、説明する。
第5図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
ただし、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16の断面をとったものにおける、電磁波入力面16aと電磁波透過面16bとの距離をtとする。すると、第4図を参照して、tは、0以上r/(nclad−1)以下である。第5図においては、t<r/(nclad−1)である。なお、第5図(第6図および第7図も同様)において、テラヘルツ波が電磁波入力面16aを透過する際の屈折は、図示の便宜上、省略している。
電磁波入力面16aを透過してテラヘルツ波は、プリズム16内を直進する。ここで、シリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合を、本実施形態と比較する。
第9図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1においてシリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合の比較例を示す図である。ただし、断面をとる位置は、第5図と同じである。
かかる比較例においては、テラヘルツ波が凸部10aの幅Wの方向に回折する。よって、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からわずかな角度以上ずれてしまうと、テラヘルツ波が電磁波透過面16bにより全反射されてしまう。よって、電磁波放射装置1の放射するテラヘルツ波の出力が低下してしまう。なお、わずかな角度は、例えば17.1°である。ただし、テラヘルツ波のプリズム16における屈折率を3.4、テラヘルツ波の空気における屈折率を1とする。
ここで、第5図に戻り、本発明の実施形態の説明を続ける。プリズム16内を直進したテラヘルツ波は電磁波透過面16bを透過し、屈折せずに、そのままシリンドリカルレンズ18内を直進する。ただし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料であるものとする。そして、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18を透過する際に屈折するが、シリンドリカルレンズ18の断面の輪郭が半円状の弧を描いているため、ややc−c軸に近づくようにして屈折する。この場合、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からある程度離れても、曲面18cでテラヘルツ波が全反射されなくてすむ。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
第6図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18bでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。第6図においては、t=0である。
凸部10aの近傍から放射されたテラヘルツ波は、緩衝層12を透過し、シリンドリカルレンズ18内を直進する。凸部10aが、シリンドリカルレンズ18の断面の半円のほぼ中心に位置しているため、テラヘルツ波がシリンドリカルレンズ18を透過する際に、ほぼ屈折することなく直進する。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
第7図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18aでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。第7図においては、t=r/(nclad−1)である。
凸部10aの近傍から放射されたテラヘルツ波は、緩衝層12を透過し、プリズム16内を直進し、電磁波透過面16bを透過し、屈折せずに、さらにシリンドリカルレンズ18内を直進する。ただし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料であるものとする。そして、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18を透過する際に屈折するが、t=r/(nclad−1)であるため、c−c軸に平行な方向に進行する。すなわち、コリメートする。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
例えば、r=5mm、t=2.08mmの場合、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸から67.4°離れてものテラヘルツ波を電磁波放射装置1の外部(空気層)に取出すことが可能となり、大幅な出力改善が可能となる。
なお、電磁波透過面16bは、テラヘルツ波の波面がそろった等位相面になっている。テラヘルツ波はシリンドリカルレンズ18に等位相で入射することとなる、ここで、プリズム16およびシリンドリカルレンズ18が複数個ずつあると、各々のシリンドリカルレンズ18から出力されたテラヘルツ波の位相が異なってしまう。そこで、電磁波放射装置1は、プリズム16およびシリンドリカルレンズ18を一個ずつ備えることが好ましい。
本発明の実施形態によれば、以下のような効果を奏する。
もし、凸部10aの上に何も配置しなければ、凸部10aの近傍において発生したテラヘルツ波は、凸部10aと空気との境界面において全反射してしまい、凸部10aの外部に取り出すことができない。そこで、本発明の実施形態においては、プリズム16を凸部10aの上に配置し、テラヘルツ波を凸部10aの外部に取り出すことができるようにしている。
ただし、プリズム16の上に何も配置しなければ、第9図に示す比較例のように、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からわずかな角度以上ずれてしまうと、テラヘルツ波が電磁波透過面16bにより全反射されてしまう。そこで、本発明の実施形態においては、プリズム16の上にシリンドリカルレンズ18を配置して、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からかなり離れても(上記の実施形態では、たとえ67.4°離れても)、テラヘルツ波を電磁波放射装置1の外部に取り出すことができる。これにより、電磁波放射装置1のテラヘルツ波の出力パワーを大きくすることができる。
なお、tは、0以上r/(nclad−1)以下であるとして説明したが、テラヘルツ波がシリンドリカルレンズ18により収束してもよいのであれば、tがr/(nclad−1)を超えてもかまわない。
なお、上記の実施形態においては、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと交差している。しかし、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れていてもよい。
第8図は、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れている変形例にかかる電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第8図を参照して、凸部10aの長さは、L/2+L/2=Lである。電磁波入力面16aにおける、凸部10aの長さ方向の中点の直上の点を点Oという。点Oを通るような二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16の断面をとったものにおける、電磁波入力面16aと電磁波透過面16bとの距離t0は、r/ncladである。距離tの最小値がr/nclad−(L/2)cosθcladであり、距離tの最大値がr/nclad+(L/2)cosθcladである。距離tの平均が、r/ncladである。
距離tの平均がr/ncladとすることにより、凸部10aの長さ方向の中点で発生したテラヘルツ波の凸部10aの幅W方向に広がる成分に対してシリンドリカルレンズ18の球面収差を最も小さくすることができる。
第13図は、変形例にかかる電磁波放射装置1の平面図である。変形例については、第8図を参照されたい。ただし、シリンドリカルレンズ18を図示省略し、プリズム16を透視している。第13図には、中心軸Aおよび光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の、電磁波入力面16a内への射影が図示されている。ただし、電磁波入力面16aを含む平面への中心軸Aの射影の内、電磁波入力面16aの外にあるものは点線で図示している。
シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影の対称軸と一致していることが好ましい。なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影内に入っていればよい。
第1図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の斜視図である。第2図は、電磁波放射装置1の正面図である。第3図は、シリンドリカルレンズ18の斜視図(第3図(a))、プリズム16の斜視図(第3図(b))である。第4図は、電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
電磁波放射装置1は、0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を放射する。電磁波放射装置1から放射される電磁波は、例えば、テラヘルツ波帯(例えば、0.03[THz]以上10[THz]以下)の電磁波(テラヘルツ波)である。以下、本発明の実施形態においては、電磁波放射装置1から放射される電磁波を、テラヘルツ波とする。
電磁波放射装置1は、励起光源2、非線形結晶10、緩衝層12、基板14、プリズム16、シリンドリカルレンズ18を備える。
第4図を参照して、励起光源2は、二つの波長成分(波長λ1、λ2)を有する励起光Lpを出力する。波長λ1、λ2は、例えば、1250nm以上1700nm以下の範囲内の値をとる。励起光Lpは、例えば、フェムト秒光パルスである。なお、フェムト秒光パルスは、二つの波長成分(波長λ1、λ2)以外の波長成分も有するので、二つ以上の波長成分を有することとなる。
非線形結晶10は、例えば、MgOドープLN結晶である。非線形結晶10は、その表面上に凸部10aを有する。凸部10aは、第1図に図示するように、リッジ状の光導波路である。非線形結晶10の側面(すなわち、YZ面)に垂直に、励起光Lpを入射する。すなわち、非線形結晶10の側面が励起光Lpを受ける。電磁波放射装置1の放射するテラヘルツ波の高出力化のためには、励起光Lpのパワー密度を向上させることが必要である。そこで、凸部10aにより、励起光Lpの伝搬する部分が非線形結晶10の幅方向(第2図を参照して、凸部10aの幅Wの方向と同じ)に広がらないようにすることにより、励起光Lpを受ける面の面積を小さくして(非線形結晶10の側面全体で励起光Lpを受けるよりも励起光Lpを受ける面の面積が小さい)、励起光Lpのパワー密度を向上させている。なお、凸部10aの幅W(第2図参照)は、テラヘルツ波の波長に比べて非常に小さく、例えば、数μm〜数十μmである。
ただし、励起光Lpの偏光面はZ軸(第4図の紙面に垂直な軸)に平行である。励起光Lpの二つの波長成分により、非線形結晶10の凸部10aの近傍に非線形分極が形成され、その分極に対応した周波数の電磁波(テラヘルツ波)が放射される。なお、励起光Lpの波長における非線形結晶10の実効屈折率をnopt_effとし、テラヘルツ波の波長における非線形結晶10の屈折率をnTHzとすると、nTHz>nopt_effである。非線形結晶10の屈折率分散により、励起光Lpに含まれる2つの波長(λ1,λ2)の屈折率は異なる。しかし、λ1とλ2の波長の差は、テラヘルツ波の波長に対して非常に小さく、λ1とλ2との間の屈折率分散の影響をほとんど無視できる。従って、励起光Lp(波長λ1、λ2)の非線形結晶10内における屈折率(n1,n2)(それぞれ、λ1、λ2に対応)はほぼ等しく、nopt_effとすることが出来る。
なお、チェレンコフ位相整合を満足する角度をθとすると、cosθ=(λTHz/nTHz)/(λ1λ2/(n1λ2−n2λ1))である。ただし、テラヘルツ波の波長をλTHzとする。
下記の式で記述されるチェレンコフ位相整合を満足する角度θ(第4図参照)方向に球面波のテラヘルツ波が、非線形結晶10の凸部10aの近傍から、チェレンコフ位相整合して放射される。なお、角度θは、第4図を参照して、励起光Lpの進行方向と、テラヘルツ波の進行方向とのなす角度である。なお、下記の式は、cosθ=(λTHz/nTHz)/(λ1λ2/(n1λ2−n2λ1))において、n1=n2=nopt_effとみなした場合の式である。
基板14には、非線形結晶10が載せられている。ただし、基板14は、凸部10aが配置されている非線形結晶10の面とは反対側の面に接着剤を介して接している。基板14は、例えば、ドープされていないLN基板である。
なお、第10図に示すように、凸部10aを非線形結晶10の下部に配置し、非線形結晶10から見て、基板14と凸部10aとが同じ側に配置されているようにしてもよい。第10図は、凸部10aの配置を変更した変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
また、第11図に示すように、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けても良い。第11図は、凸部10aに換えて、拡散領域10bを設けた変形例における電磁波放射装置1の正面図である。
第11図を参照して、拡散領域10bは、光導波路であり、非線形結晶10の内部に所定の材料(例えば、Ti)が拡散する部分である。なお、拡散領域10bの所定の材料(例えば、Ti)の励起光Lpの波長における屈折率が、非線形結晶10の拡散領域(光導波路)10b以外の部分の励起光Lpの波長における屈折率よりも大きい。これにより、励起光Lpが、拡散領域10bの内部に閉じ込められることになり、パワー密度を向上させることができる。なお、拡散領域10bは、第11図においては、非線形結晶10の上部に設けられたが、下部に設けてもよい。
緩衝層12は、凸部10aが配置されている非線形結晶10の面および凸部10aを覆う。励起光Lp(波長λ1、λ2)の緩衝層12内における屈折率は、励起光Lp(波長λ1、λ2)の非線形結晶10の凸部10a内における実効屈折率よりも小さい。しかも、緩衝層12の厚さは、励起光Lpの浸み出し長ξよりも厚く、かつ電磁波放射装置1の外部に取出すテラヘルツ波の波長λTHzよりも薄く設定する。これにより、励起光Lpのプリズム16内における屈折率が、励起光Lpの非線形結晶10内における実効屈折率よりも大きかったとしても、励起光Lpを凸部10aの近傍に閉じ込めつつ、テラヘルツ波が緩衝層12を透過することを可能にする。
プリズム16は、電磁波入力面16a、電磁波透過面16bを有する(第3図(b)および第4図参照)。電磁波入力面16aは、緩衝層12に接しており、凸部10aの近傍からテラヘルツ波を受ける。電磁波透過面16bは、電磁波入力面16aから入ったテラヘルツ波が透過する面である。
電磁波入力面16aは、電磁波透過面16bに対して、傾いている。電磁波透過面16bが、電磁波入力面16aと交差している。
プリズム16内でのテラヘルツ波の伝搬損失を低減するため、テラヘルツ波の吸収が小さいことが望ましい。そこで、プリズム16の材料は、例えば、高抵抗シリコン、ゲルマニウムなどである。
シリンドリカルレンズ18は、底面18a、18b、平面18d、曲面18cを有する。底面18aと底面18b(第3図(a)および第4図参照)とは互いに対向する平行な二つの底面である。なお、底面18aおよび底面18bの形状は、双方とも同じ形状の半円形(ただし、半径をrとする)である。平面18d(第3図(a)および第4図参照)は、底面18aおよび底面18bと直交する平面であり、電磁波透過面16bに接している。曲面18cは、底面18a、底面18bおよび平面18dと交差する。
なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸A(第1図および第3図(a)参照)は、半円形の底面18aの中心Oと、半円形の底面18bの中心Pとを結ぶ直線である。中心軸Aは、平面18d上の直線でもある。
シリンドリカルレンズ18内でのテラヘルツ波の伝搬損失を低減するため、テラヘルツ波の吸収が小さいことが望ましい。そこで、シリンドリカルレンズ18の材料は、例えば、高抵抗シリコン、ゲルマニウムなどである。
なお、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料により形成されていてもよく、以後、両者が同一材料(屈折率も等しい)であるものとして説明を行う。また、上記の説明では、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが別々である。しかし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが一体に形成されていてもよい。プリズム16とシリンドリカルレンズ18との界面におけるテラヘルツ波のエネルギ損失を抑制できるからである。
また、第2図を参照して、凸部10aの側面は長方形であり、c−c軸を対称軸として線対称である。また、シリンドリカルレンズ18の底面18aも、c−c軸を対称軸として線対称である。すなわち、凸部10aのほぼ真上にシリンドリカルレンズ18が配置されている。
第12図は、電磁波放射装置1の平面図である。ただし、シリンドリカルレンズ18を図示省略し、プリズム16を透視している。第12図には、中心軸Aおよび光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の、電磁波入力面16a内への射影が図示されている。
シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影の対称軸と一致していることが好ましい。なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影内に入っていればよい。
次に、本発明の実施形態の動作を説明する。
励起光源2から、励起光Lpが、非線形結晶10に与えられる。励起光Lpは、凸部10aの近傍をほぼ直進する。励起光Lpの二つの波長成分(波長λ1、λ2)により、非線形結晶10の凸部10aの近傍に非線形分極が形成され、その分極に対応した周波数のテラヘルツ波が放射される。しかも、nTHz>nopt_effの条件を満足する非線形結晶10の凸部10aの近傍より放射されるテラヘルツ波の進行方向は、励起光Lpの進行方向と、チェレンコフ位相整合を満足する角度θをなす(第4図参照)。
テラヘルツ波は、凸部10aの近傍から放射され、緩衝層12を透過する。このときのテラヘルツ波の進行方向と、励起光Lpの進行方向とがなす角度がθである。テラヘルツ波が緩衝層12を透過すると、プリズム16の電磁波入力面16aを透過する際に屈折し、その後、テラヘルツ波の進行方向と、励起光Lpの進行方向とがなす角度がθcladとなる。なお、θcladは以下の式で表される。ただし、ncladは、テラヘルツ波の波長におけるプリズム16の屈折率である。また、nclad>nopt_effである。
例えば、nopt_eff=2.2、nclad=3.4の場合、θclad=50°である。
電磁波透過面16bは、c−c断面(第4図参照)におけるプリズム16内のテラヘルツ波の進行方向と垂直である。テラヘルツ波は、電磁波透過面16bを屈折せずに直進しながら透過する。c−c断面(第4図参照)において、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18内を直進し、そのまま屈折せずに透過する。
c−c断面(第4図参照)以外における、テラヘルツ波の進行方向について、説明する。
第5図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。
ただし、二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16の断面をとったものにおける、電磁波入力面16aと電磁波透過面16bとの距離をtとする。すると、第4図を参照して、tは、0以上r/(nclad−1)以下である。第5図においては、t<r/(nclad−1)である。なお、第5図(第6図および第7図も同様)において、テラヘルツ波が電磁波入力面16aを透過する際の屈折は、図示の便宜上、省略している。
電磁波入力面16aを透過してテラヘルツ波は、プリズム16内を直進する。ここで、シリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合を、本実施形態と比較する。
第9図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1においてシリンドリカルレンズ18が無いと仮想した場合の比較例を示す図である。ただし、断面をとる位置は、第5図と同じである。
かかる比較例においては、テラヘルツ波が凸部10aの幅Wの方向に回折する。よって、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からわずかな角度以上ずれてしまうと、テラヘルツ波が電磁波透過面16bにより全反射されてしまう。よって、電磁波放射装置1の放射するテラヘルツ波の出力が低下してしまう。なお、わずかな角度は、例えば17.1°である。ただし、テラヘルツ波のプリズム16における屈折率を3.4、テラヘルツ波の空気における屈折率を1とする。
ここで、第5図に戻り、本発明の実施形態の説明を続ける。プリズム16内を直進したテラヘルツ波は電磁波透過面16bを透過し、屈折せずに、そのままシリンドリカルレンズ18内を直進する。ただし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料であるものとする。そして、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18を透過する際に屈折するが、シリンドリカルレンズ18の断面の輪郭が半円状の弧を描いているため、ややc−c軸に近づくようにして屈折する。この場合、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からある程度離れても、曲面18cでテラヘルツ波が全反射されなくてすむ。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
第6図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18bでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。第6図においては、t=0である。
凸部10aの近傍から放射されたテラヘルツ波は、緩衝層12を透過し、シリンドリカルレンズ18内を直進する。凸部10aが、シリンドリカルレンズ18の断面の半円のほぼ中心に位置しているため、テラヘルツ波がシリンドリカルレンズ18を透過する際に、ほぼ屈折することなく直進する。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
第7図は、本発明の実施形態にかかる電磁波放射装置1の断面図であり、底面18aでプリズム16およびシリンドリカルレンズ18の断面をとり、しかも励起光Lpと垂直な面で非線形結晶10、緩衝層12および基板14の断面をとった断面図である。第7図においては、t=r/(nclad−1)である。
凸部10aの近傍から放射されたテラヘルツ波は、緩衝層12を透過し、プリズム16内を直進し、電磁波透過面16bを透過し、屈折せずに、さらにシリンドリカルレンズ18内を直進する。ただし、プリズム16とシリンドリカルレンズ18とが同一の材料であるものとする。そして、テラヘルツ波は、シリンドリカルレンズ18を透過する際に屈折するが、t=r/(nclad−1)であるため、c−c軸に平行な方向に進行する。すなわち、コリメートする。よって、第9図の比較例(シリンドリカルレンズ18が無い)と比べて、テラヘルツ波をよりよく、電磁波放射装置1から取り出すことができる。
例えば、r=5mm、t=2.08mmの場合、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸から67.4°離れてものテラヘルツ波を電磁波放射装置1の外部(空気層)に取出すことが可能となり、大幅な出力改善が可能となる。
なお、電磁波透過面16bは、テラヘルツ波の波面がそろった等位相面になっている。テラヘルツ波はシリンドリカルレンズ18に等位相で入射することとなる、ここで、プリズム16およびシリンドリカルレンズ18が複数個ずつあると、各々のシリンドリカルレンズ18から出力されたテラヘルツ波の位相が異なってしまう。そこで、電磁波放射装置1は、プリズム16およびシリンドリカルレンズ18を一個ずつ備えることが好ましい。
本発明の実施形態によれば、以下のような効果を奏する。
もし、凸部10aの上に何も配置しなければ、凸部10aの近傍において発生したテラヘルツ波は、凸部10aと空気との境界面において全反射してしまい、凸部10aの外部に取り出すことができない。そこで、本発明の実施形態においては、プリズム16を凸部10aの上に配置し、テラヘルツ波を凸部10aの外部に取り出すことができるようにしている。
ただし、プリズム16の上に何も配置しなければ、第9図に示す比較例のように、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からわずかな角度以上ずれてしまうと、テラヘルツ波が電磁波透過面16bにより全反射されてしまう。そこで、本発明の実施形態においては、プリズム16の上にシリンドリカルレンズ18を配置して、テラヘルツ波の進行方向がc−c軸からかなり離れても(上記の実施形態では、たとえ67.4°離れても)、テラヘルツ波を電磁波放射装置1の外部に取り出すことができる。これにより、電磁波放射装置1のテラヘルツ波の出力パワーを大きくすることができる。
なお、tは、0以上r/(nclad−1)以下であるとして説明したが、テラヘルツ波がシリンドリカルレンズ18により収束してもよいのであれば、tがr/(nclad−1)を超えてもかまわない。
なお、上記の実施形態においては、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと交差している。しかし、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れていてもよい。
第8図は、電磁波透過面16bが電磁波入力面16aと離れている変形例にかかる電磁波放射装置1のc−c断面図(c−c軸については、第1図および第2図参照)である。
第8図を参照して、凸部10aの長さは、L/2+L/2=Lである。電磁波入力面16aにおける、凸部10aの長さ方向の中点の直上の点を点Oという。点Oを通るような二つの底面18a、18bに平行な平面でプリズム16の断面をとったものにおける、電磁波入力面16aと電磁波透過面16bとの距離t0は、r/ncladである。距離tの最小値がr/nclad−(L/2)cosθcladであり、距離tの最大値がr/nclad+(L/2)cosθcladである。距離tの平均が、r/ncladである。
距離tの平均がr/ncladとすることにより、凸部10aの長さ方向の中点で発生したテラヘルツ波の凸部10aの幅W方向に広がる成分に対してシリンドリカルレンズ18の球面収差を最も小さくすることができる。
第13図は、変形例にかかる電磁波放射装置1の平面図である。変形例については、第8図を参照されたい。ただし、シリンドリカルレンズ18を図示省略し、プリズム16を透視している。第13図には、中心軸Aおよび光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の、電磁波入力面16a内への射影が図示されている。ただし、電磁波入力面16aを含む平面への中心軸Aの射影の内、電磁波入力面16aの外にあるものは点線で図示している。
シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影の対称軸と一致していることが好ましい。なお、シリンドリカルレンズ18の中心軸Aの電磁波入力面16a内への射影が、光導波路(凸部10aまたは拡散領域10b)の電磁波入力面16a内への射影内に入っていればよい。
Claims (14)
- 二つ以上の波長成分を有する励起光を受け、チェレンコフ位相整合により0.01[THz]以上100[THz]以下の周波数の電磁波を出力し、光導波路を有する非線形結晶と、
前記光導波路から前記電磁波を受ける電磁波入力面と、該電磁波入力面から入った前記電磁波が透過する電磁波透過面とを有するプリズムと、
対向する二つの底面と、前記二つの底面と交差する平面と、前記二つの底面および前記平面と交差する曲面とを有し、前記平面が前記電磁波透過面に接しているシリンドリカルレンズと、
を備えた電磁波放射装置。 - 請求項1に記載の電磁波放射装置であって、
前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面に対して、傾いている、
電磁波放射装置。 - 請求項2に記載の電磁波放射装置であって、
前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と交差している、
電磁波放射装置。 - 請求項3に記載の電磁波放射装置であって、
rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、
前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tがr/(nclad−1)以下である、
電磁波放射装置。 - 請求項2に記載の電磁波放射装置であって、
前記電磁波透過面が、前記電磁波入力面と離れている、
電磁波放射装置。 - 請求項5に記載の電磁波放射装置であって、
rを前記二つの底面の半径、ncladを前記プリズムの前記電磁波の波長における屈折率とした場合、
前記二つの底面に平行な平面で前記プリズムの断面をとったものにおける、前記電磁波入力面と前記電磁波透過面との距離tの平均値がr/ncladである、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが同一の材料により形成されている、
電磁波放射装置。 - 請求項7に記載の電磁波放射装置であって、
前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとが一体に形成されている、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記プリズムと前記シリンドリカルレンズとを一個ずつ備えた電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記光導波路が、前記非線形結晶から突出している部分である、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記光導波路が、前記非線形結晶の内部に所定の材料が拡散する部分であり、
前記所定の材料の前記励起光の波長における屈折率が、前記非線形結晶の前記光導波路以外の部分の前記励起光の波長における屈折率よりも大きい、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記プリズムと前記非線形結晶との間に配置された緩衝層を備え、
前記緩衝層の厚さは、前記励起光の浸み出し長よりも厚く、かつ前記電磁波の波長よりも薄い、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影の対称軸と一致する、
電磁波放射装置。 - 請求項1ないし6のいずれか一項に記載の電磁波放射装置であって、
前記シリンドリカルレンズの中心軸の前記電磁波入力面内への射影が、前記光導波路の前記電磁波入力面内への射影内に入る、
電磁波放射装置。
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0235424A (ja) * | 1988-07-26 | 1990-02-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光波長変換素子 |
| JPH02262132A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-24 | Toshiba Corp | 波長変換光学素子及びその端面加工方法 |
| JP2010079292A (ja) * | 2008-08-27 | 2010-04-08 | Toppan Printing Co Ltd | 光学部品の製造用金型、光学部品の製造方法、光学部品、および液晶表示ディスプレイユニット |
| JP2010204488A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-09-16 | Nagoya Univ | テラヘルツ波発生装置 |
| JP2012053452A (ja) * | 2010-08-05 | 2012-03-15 | Canon Inc | 光周波数変換素子 |
Family Cites Families (16)
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|---|---|---|---|---|
| JP2008185552A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Tohoku Univ | 測定装置および測定方法 |
| US8416408B1 (en) * | 2009-02-27 | 2013-04-09 | J.A. Woollam Co., Inc. | Terahertz-infrared ellipsometer system, and method of use |
| US8736838B2 (en) * | 2009-02-27 | 2014-05-27 | J.A. Woollam Co., Inc. | Terahertz ellipsometer system, and method of use |
| US8378703B2 (en) * | 2009-04-23 | 2013-02-19 | Advantest Corporation | Container, a method for disposing the same, and a measurement method |
| US8493057B2 (en) * | 2009-05-15 | 2013-07-23 | Advantest Corporation | Electromagnetic wave measuring apparatus, measuring method, program, and recording medium |
| JP5072045B2 (ja) * | 2009-08-10 | 2012-11-14 | 日本碍子株式会社 | 電磁波発振素子 |
| JP5721252B2 (ja) * | 2009-08-10 | 2015-05-20 | 日本碍子株式会社 | 電磁波発振素子 |
| US8330110B2 (en) * | 2009-09-10 | 2012-12-11 | Advantest Corporation | Container, container positioning method, and measuring method |
| JP2011094512A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-05-12 | Advantest Corp | 捕集体および捕集量測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 |
| US8294121B2 (en) * | 2009-11-10 | 2012-10-23 | Advantest Corporation | Fixing instrument |
| JP2012068621A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-04-05 | Canon Inc | テラヘルツ波発生素子、テラヘルツ波検出素子、及びテラヘルツ時間領域分光装置 |
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0235424A (ja) * | 1988-07-26 | 1990-02-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光波長変換素子 |
| JPH02262132A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-24 | Toshiba Corp | 波長変換光学素子及びその端面加工方法 |
| JP2010079292A (ja) * | 2008-08-27 | 2010-04-08 | Toppan Printing Co Ltd | 光学部品の製造用金型、光学部品の製造方法、光学部品、および液晶表示ディスプレイユニット |
| JP2010204488A (ja) * | 2009-03-04 | 2010-09-16 | Nagoya Univ | テラヘルツ波発生装置 |
| JP2012053452A (ja) * | 2010-08-05 | 2012-03-15 | Canon Inc | 光周波数変換素子 |
Non-Patent Citations (1)
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| JPN6012039824; Koji Suizu and Kodo Kawase: ''Monochromatic-Tunable Terahertz-Wave Sources Based on Nonlinear Frequency Conversion Using Lithium' IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS VOL. 14, NO. 2, 2008, P. 295-306 * |
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