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JP5656561B2 - 画像処理装置、その制御方法、および制御プログラム - Google Patents

画像処理装置、その制御方法、および制御プログラム Download PDF

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Description

本発明は、静止画像を再生するための画像処理装置、その制御方法、および制御プログラムに関し、特に、複数の静止画像を合成処理する際に、欠陥画素の補正を行う画像処理装置、その制御方法、および制御プログラムに関する。
一般に、静止画像を撮影、記録、および再生するための撮像装置には画像処理装置が備えられており、この画像処理装置によって複数の静止画像を合成処理することがある。そして、複数の静止画像を合成処理する際、欠陥画素について所謂欠陥画素補正を行う必要がある。
例えば、1回の露光動作において、撮像素子に対して複数回の読み出し動作を行って、当該読み出し動作によって得られた複数の映像信号(画像信号)を記録することが行われている。そして、複数の映像信号を合成処理(例えば、加算処理)して1つの映像信号を生成する際、複数の映像信号の各々に対して欠陥画素補正を行うようにしている(例えば、特許文献1参照)。
特開2001−326850号公報
ところが、特許文献1に記載の手法おいては、個々の映像信号については欠陥画素補正を行っているものの、映像信号を構成する各画像データにおける欠陥画素の判定レベルについては示されていない。このため、例えば、各画像データにおいて判定レベル以下の微小な欠陥画素が存在した場合に、複数の画像データを加算処理して積算すると、欠陥画素データが積算されてしまうことになる。この結果、個々の映像信号において欠陥画素補正を行っても画像品質が低下してしまうという課題がある。
さらに、デジタルカメラなどの撮像装置の高画素化および高感度化に伴って、撮像素子、特に、CMOSイメージセンサにおいて画素の読み出しトランジスタからRTS(ランダム・テレグラフ・シグナル)ノイズが発生し、このRTSノイズの影響によって、画像に白点状のノイズが生じることが知られている。
このようなRSTノイズが発生する画像領域において、複数の静止画像を合成処理すると、白点状のノイズが画面内に大量に発生してしまい、画質が低下してしまうという課題がある。
従って、本発明の目的は、複数の静止画像を合成処理する際、画質を低下させることなく、欠陥画素の補正を行うことのできる画像処理装置、その制御方法、および制御プログラムを提供することにある。
さらに、本発明の他の目的は、RTSノイズ等のショット毎に発生する箇所が異なるノイズを生じる撮像素子による撮影の結果得られた静止画像の合成処理を行う際においても、画質を低下させることなく、欠陥画素の補正を行うことのできる画像処理装置、その制御方法、および制御プログラムを提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明による画像処理装置は、撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置において、複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成手段と、前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する第1の比較手段と、前記第1の比較手段による比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする第1の補正処理を行う第1の補正手段とを有することを特徴とする。
本発明による制御方法は、撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置を制御するための制御方法において、複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成ステップと、前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する比較ステップと、前記比較ステップによる比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする補正ステップとを有することを特徴とする。
本発明による制御プログラムは、撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置を制御するための制御プログラムにおいて、前記画像処理装置が備えるコンピュータに、複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成ステップと、前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する比較ステップと、前記比較ステップによる比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする補正ステップとを実行させることを特徴とする。
本発明によれば、複数の静止画像を合成処理する際、画質を低下させることなく、欠陥画素の補正を行うことができる。さらに、RTSノイズ等のショット毎に発生する箇所が異なるノイズを生じる撮像素子による撮影の結果得られた静止画像の合成処理を行う際においても、画像品質を低下させることなく、欠陥画素の補正を行うことができる。
本発明の第1の実施形態による画像処理装置が用いられた撮像装置の一例を示すブロック図である。 図1に示す撮像装置の撮影動作を説明するためのフローチャートである。 図2に示す静止画撮影モードについて説明するためのフローチャートである。 図3に示す撮影処理を説明するためのフローチャートである。 図1に示すDSPの一例を示すブロック図である。 図1に示す多重露光撮影モードについて説明するためフローチャートである。 図6に示すキズ補正用データ再選択・展開を説明するための図であり、(a)は静止画撮影の際の判定値を示す図、(b)は静止画撮影の際のキズ補正を示す図、(c)は多重露光撮影の際の判定値を示す図、(d)は多重露光撮影の際のキズ補正を示す図である。 図1に示すDSPの他の例を示すブロック図である。 図8に示すラインメモリにおける画素データの読出しの一例を説明するための図である。 第3の実施形態における撮像装置の撮影処理を説明するためのフローチャートである。 第3の実施形態における撮像装置の多重露光撮影を説明するためのフローチャートである。 図8に示すラインメモリにおける画素データの読出しの他の例を説明するための図である。 第5の実施形態における撮像装置の動作を説明するためのフローチャートである。 図13に示す合成モードを説明するためのフローチャートである。
以下、本発明の実施の形態による画像処理装置について図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)
図1は本発明の第1の実施形態による画像処理装置が用いられた撮像装置の一例を示すブロック図である。
図1を参照して、図示の撮像装置は、撮像素子101、AFE(アナログフロントエンド)102、DSP(デジタルシグナルプロセッサ)103、タイミング発生回路104、およびCPU105を備えている。図示の例では、撮像素子101として、CMOSセンサ(固体撮像素子)が用いられる。そして、このCMOSセンサには、ISO感度に応じてゲインを切り替えるアンプ回路(図示せず)が内蔵されている。
AFE102は、撮像素子101から出力されるアナログ画像信号(映像信号ともいう)をデジタル画像信号に変換するA/D変換器(図示せず)を有している。さらに、図示の例では、AFE102はダークオフセットレベルをクランプする機能を備えている。
DSP103は、AFE102から出力されたデジタル画像信号(画像データともいう)に対して各種の補正処理、現像処理、および圧縮処理を行う。また、DSP103は、ROM(記憶手段)106およびRAM107等の各種メモリに対するアクセス処理を行う。さらに、DSP103は記録媒体108に対する画像データ(処理済画像データ)の書き込み処理を行うとともに、LCD(液晶ディスプレイ)114に対して各種データの表示処理等を行う。
なお、DSP103はRAM107に記録された画像データに対して各種の補正処理を行うこともできる。
DSP103は、後述するキズ補正回路を備えており、このキズ補正回路はキズ画素(欠陥画素)からの出力データ(つまり、欠陥画素データ)をキズ画素の周辺画素からの出力データ(つまり、画素データ)を用いて補正する。つまり、キズ画素データは周辺画素データで補正される。
なお、ROM106には、当該撮像装置又は撮像素子101の製造時に生成された静止画撮影モード用のキズ補正用データが予め格納されている。
タイミング発生回路104は、CPU105の制御下において、撮像素子101、AFE102、およびDSP103にクロック信号および制御信号を供給する。そして、タイミング発生回路104は、DSP103と協働して、撮像素子(CMOSセンサ)101の各種読出しモードに対応してタイミング信号を生成する。
CPU105は、DSP103およびタイミング発生回路104の制御、そして、測光・測距等のカメラ機能の制御を行う。図示の例では、CPU105には、電源スイッチ109、第1段目のシャッタスイッチ(SW1)110、第2段目のシャッタスイッチ(SW2)111、モードダイアル112、およびISO感度設定スイッチ113が接続されている。CPU105は、これらのスイッチおよびダイアルの設定状態に応じた処理を実行する。
ROM106には、撮像装置の制御プログラム、つまり、CPU105が実行するプログラムおよび各種の補正用データ(前述のキズ補正用データを含む)などが記憶されている。このROM106として、例えば、フラッシュメモリが用いられる。
また、RAM107は、ワークエリアとして用いられ、RAM107にはDSP103によって処理される画像データ等が一時的に記憶される。なお、ROM106に記憶されたキズ補正用データは、撮影の際にはRAM107に展開される。
また、記録媒体108として、例えば、メモリカードが用いられ、記録媒体108には撮影された画像データが保存される。この記録媒体108は、例えば、コネクタ(図示せず)を介してDSP103に接続される。
電源スイッチ109は、撮像装置を起動させる際にユーザによって操作される。シャッタスイッチ110がオンされると、CPU105は測光処理および測距処理等の撮影前処理を実行する。そして、シャッタスイッチ111がオンされると、CPU105の制御下において、ミラーおよびシャッタ(ともに図示せず)が駆動されて、撮像素子101から出力された画像信号がAFE102およびDSP103を介して記録媒体108に画像データとして書き込まれる一連の撮像動作が開始される。
なお、モードダイアル112は、撮像装置の各種の動作モードを設定するために用いられる。また、ISO感度設定スイッチ113は、撮像装置の撮影ISO感度を設定するために用いられる。LCD114には、撮像装置に関する各種情報が表示される。さらに、LCD114には撮影の結果得られた画像が再生表示される(LCD114には動画像も表示される)。
図2は、図1に示す撮像装置の撮影動作を説明するためのフローチャートである。
図1および図2を参照して、CPU105は、電源スイッチ109がオンされたか否かを監視している(ステップS201)。電源スイッチ109がオンされないと(ステップS201において、電源OFF)、CPU105は待機する。電源スイッチ109がオンされると(ステップS201において、電源ON)、CPU105は、撮影に必要な電気エネルギーがバッテリ(図示せず)に残存しているか否かを判別する(ステップS202)。
撮影に必要な電気エネルギーがバッテリに残存していないと(ステップS202において、NO)、CPU105はその旨の警告メッセージをLCD114に表示して(ステップS211)、ステップS201に戻る。
一方、撮影に必要な電気エネルギーがバッテリに残存していると(ステップS202において、YES)、CPU105は、記録媒体108のチェックを行う(ステップS203)。当該チェックでは、CPU105は所定の容量以上の画像データを記録可能な記録媒体108が撮像装置に装着されているか否かを判定する。
所定の容量以上の画像データを記録可能な記録媒体108が撮像装置に装着されていないと(ステップS203において、NO)、CPU105は、ステップS211においてその旨の警告メッセージをLCD114に表示して、ステップS201に戻る。
所定の容量以上の画像データを記録可能な記録媒体108が撮像装置に装着されていると(ステップS203において、YES)、CPU105は、モードダイアル112によって設定された撮影モードが静止画撮影モードおよび多重露光撮影モードのいずれのモードであるかについて判別する(ステップS204)。
静止画撮影モードが設定されていると(ステップS204において、静止)、CPU105は静止画撮影モードに移行する。多重露光撮影モードが設定されていると(ステップS204において、多重)、CPU105は多重露光撮影モードに移行する。
図3は、図2に示す静止画撮影モードについて説明するためのフローチャートである。
図1および図3を参照して、静止画撮影モードに移行すると、CPU105は、まず、シャッタスイッチ110がオンしたか否かを監視する(ステップS301)。シャッタスイッチ110がオンされないと(ステップS301において、OFF)、CPU105は待機する。
一方、シャッタスイッチ110がオンされると(ステップS301において、ON)、CPU105は、測光制御部および測距制御部(ともに図示せず)によって、絞り値およびシャッタ速度を決定する測光処理と撮影レンズの焦点を被写体に合わせる測距処理とを行う(ステップS302)。
続いて、CPU105は、シャッタスイッチ111がオンされたか否かを判別する(ステップS303)。シャッタスイッチ111がオンされていなければ(ステップS303において、OFF)、CPU105は、シャッタスイッチ110がオン状態であるか否かについて判別する(ステップS304)。
シャッタスイッチ110のオン状態が継続していれば(ステップS304において、ON)、CPU105はステップS303に戻って、シャッタスイッチ111がオンされたか否かを判別する。
一方、シャッタスイッチ110のオン状態が継続していなければ(ステップS304において、OFF)、CPU105は、ステップS301に戻って、シャッタスイッチ110が再度オンされるのを待つ。
ステップS303において、シャッタスイッチ111がオンされたと判別すると(ステップS303において、ON)、CPU105は撮影処理を実行する(ステップS305)。なお、この撮影処理については後述する。
次に、CPU105は、DSP103を制御して撮影の結果得られた画像データの現像処理を実行させる(ステップS306)。そして、CPU105は、DSP103を制御して、現像処理が施された画像データに対して圧縮処理を実行し、当該圧縮処理が施された画像データをRAM107の空き領域に格納する(ステップS307)。
続いて、CPU105は、DSP103を制御してRAM107に格納された画像データを読出して、記録媒体108に記録する(ステップS308)。そして、CPU105は、電源スイッチ109のオン/オフ状態をチェックする(ステップS309)。
電源スイッチ109がオンの状態であれば(ステップS309において、ON)、CPU105は、ステップS301へ戻り、次の撮影に備える。一方、電源スイッチ109がオフされると(ステップS309において、OFF)、図2に示すステップS201に戻り、電源スイッチが再度オンされるのを待つ。
図4は図3に示す撮影処理を説明するためのフローチャートである。
図1および図4を参照して、撮影処理が開始されると、CPU105は、撮像装置の撮影ISO感度がISO感度設定スイッチ113において設定されたISO感度となるように、撮像素子101のアンプゲインおよびAFE102のゲイン等を設定する(ステップS400)。
次に、CPU105は、キズ補正用データを選択する(ステップS401)。画素に関するキズデータは、例えば、撮像素子101を製造工場から出荷する際に、所定の条件下におけるダーク出力および露光出力を評価して得られる。そして、このキズデータにおいては、所定の出力範囲を超える出力値となる画素をキズ画素(欠陥画素)とする。
また、キズ画素の種類(白キズおよび黒キズ等)およびアドレス情報(画像上の水平方向座標xおよび垂直方向座標y)と当該キズによる出力レベルを示すデータとが補正用データとして、ROM107記憶される。以下の説明では、補正対象であるキズ画素の種類が白キズである場合について説明する。
白キズは、露光時間(電荷蓄積時間)に応じて、そのレベル(データレベル)が大きくなる特性を有している。そして、同一レベルの白キズであっても、設定されたISO感度が大きければ、画像上では大きなキズとして見えてしまう。
そこで、図示の例では、撮像素子101の画素を補正対象のキズ画素として判定する際の判定値(第2の判定値)として、ISO感度が高ければ高いほど、そして、シャッタ秒時が長ければ長いほど、キズ補正用データ中の小さなレベルのキズ画素まで補正(多くのキズ画素を補正)することができる判定値が選択される。
つまり、ステップS401においては、CPU105は、ISO感度設定スイッチ113において設定されたISO感度および図3に示すステップS302において決定されたシャッタ速度に基づいてキズ画素に係る判定値(第2の判定値を決定する。そして、CPU105は、この判定値とROM106に格納されたキズ補正用データのレベル値(画素値)とを比較して比較結果を得る。
続いて、CPU105は、比較結果に応じてキズ補正用データで示されるキズ画素のうち、そのレベル値が判定値を超えた画素のみを補正対象のキズ画素として選択する。そして、CPU105は、補正対象のキズ画素に係るキズ補正用データをRAM107に展開する。
この際、RAM107に展開されたキズ補正用データは、当該補正対象のキズ画素(以下、単に補正対象画素とも呼ぶ)のアドレス情報のみを有している。つまり、RAM107にアドレス情報が存在する画素が補正対象画素となる。
次に、CPU105は、ミラーをミラーアップ位置に移動させる(ステップS402)。そして、CPU105は、図3に示すステップS302の測光処理で取得した測光データに基づいた所定の絞り値まで絞りを駆動する(ステップS403)。
CPU105は、撮像素子101の電荷を消去(クリア)する(ステップS404)。その後、CPU105は、撮像素子101に対する電荷蓄積を開始する(ステップS405)。続いて、CPU105は、シャッタを開き(ステップS406)、撮像素子101の露光を開始する(ステップS407)。
CPU105は、測光データに応じて規定される露光終了時間が経過したか否かを判定する(ステップS408)。露光終了時間が経過しないと(ステップS408において、NO)、CPU105は待機する。一方、露光終了時間が経過すると(ステップS408において、YES)、CPU105はシャッタを閉じる(ステップS409)。
続いて、CPU105は、絞りを開放の絞り値まで駆動する(ステップS410)。そして、CPU105は、ミラーをミラーダウン位置まで移動するように駆動を開始する(ステップS411)。その後、CPU105は、予め設定した電荷蓄積時間(設定時間)が経過したか否かについて判定する(ステップS412)。電荷蓄積時間が経過しないと(ステップS412において、NO)、CPU105は待機する。
一方、電荷蓄積時間が経過すると(ステップS412において、YES)、CPU105は撮像素子101に対する電荷蓄積を終了する(ステップS413)。続いて、CPU105は、撮像素子101から画像信号を読出す(ステップS414)。この場合、ダークオフセットレベルをクランプする機能を有するAFE102は、撮像素子101のオプティカルブラック部(図示せず)からの出力を用いてクランプ動作を行う。
続いて、CPU105の制御下でDSP103は、キズ補正処理(第2の補正処理)を行う(ステップS415)。このキズ補正処理は、後述するキズ補正回路によって行われる。なお、キズ補正回路は図1に示すDSP103に備えられている。
キズ補正回路は、AFE102から入力される各画素に係るデータ(画素データともいう)の中のキズ画素に係るデータ(キズ画素データともいう)を、当該キズ画素データの直前の同色の画素データに置き換えて出力する。
図5は図1に示すDSP103の一例を示すブロック図である。
図1および図5を参照して、DSP103は、メモリ制御回路1031、アドレス比較回路1032、キズ補正回路1033、および各種処理回路1034を有している。前述したように、CPU105は補正対象となるキズ画素(補正対象画素)のアドレス情報をRAM107に展開している。
キズ補正回路1033は、RAM107に展開された補正対象画素のアドレス情報に基づいて補正処理を行う。なお、補正対象画素に係るアドレス情報は、同期信号を基準とした際の各キズ画素が現れるタイミングデータに換算して展開されている。
メモリ制御回路1031は、補正対象画素(例えば、欠陥画素”1”〜”4”)のアドレス情報であるタイミングデータを、RAM107からアドレス比較回路1032に転送する。アドレス比較回路1032は、同期信号を基準とした際の撮像素子101の読出しタイミングとタイミングデータとを比較する。そして、両者が一致すると、キズ補正回路1033は、当該画素データを直前の同色の画素データと置換して出力する。
その後、次のキズ画素(補正対象画素)の補正処理に備えるため、アドレス比較回路1032には、メモリ制御回路1031から直ちに次のキズ画素のアドレス情報であるタイミングデータが転送される。そして、同様にして、キズ補正回路1033によってキズ画素に係る画素データの補正処理が行われる。
上述のキズ補正処理が施された画像データに対して、各種処理回路1034は、図3で説明したステップS306〜S308の現像、圧縮、および記録等の各種処理を行う。
図6は図1に示す多重露光撮影モードについて説明するためフローチャートである。なお、図6において、図3に示すステップと同一の処理を行うステップについては、同一の参照符号を付し説明を省略する。
多重露光撮影モードに移行すると、CPU105は、何コマの画像を重ねるかについて設定を行う。つまり、CPU105は露光回数を設定する(ステップS600)。この露光回数の設定については、操作スイッチ(図示せず)を用いて、ユーザがLCD14に表示された画面に基づいて行う。
続いて、CPU105は、図3で説明したステップS301〜S305の処理を実行する。なお、ステップS305で行われる撮影処理について、図4を参照して説明したが、多重露光撮影モードにおいては、補正後の画像データについて現像処理は行われず、RAM107に保存された状態とされる。
続いて、CPU105は露光回数分の撮影処理が完了したか否かについて判定する(ステップS601)。撮影処理が露光回数に達していない場合には(ステップS601において、NO)、CPU105はステップS301に戻り、再度シャッタスイッチ110が操作されるのを待つ。
一方、撮影処理が露光回数に達した場合には(ステップS601において、YES)、CPU105は露光回数分の画像データについて加算処理(合成処理)を行う(ステップS602)。図示の例では、単純に同一ゲインにおいて加算処理が行われる。
画像データのダークオフセットレベルが0LSB以外であれば、加算処理する毎にダークオフセットレベル分がずれるため、ダークレベルオフセットレベルの補正のみ行う。例えば、RAM107に保存された2つの画像データについて加算処理を行う場合には、2つの画像データについてその対応する画素毎に、(加算画像データ)=(1枚目画像データ)+(2枚目画像データ)−(ダークオフセットレベル)を算出する。そして、当該処理が露光回数分繰り返される。なお、加算処理後の各コマの画像データは不要であるため上書き可能である。
上記の処理によって、多重露光撮影を行っても、ダークオフセットレベルが変化することなく正しく加算することが可能となる。このようにして、露光回数分の加算処理が行われた画像データ(合成画像データと呼ぶ)が、RAM107に記録される。
続いて、CPU105は合成画像データに対してキズ補正用データの再選択・展開を行う(ステップS603)。多重露光撮影の場合には、各コマの撮影の際には微小なレベルで、視認されないほどの白キズであっても、この白キズが複数枚加算されると、明らかな白キズとして視認される場合がある。
このため、ここでは、各コマの撮影時におけるISO感度およびシャッタ秒時に合わせて選択した判定値の代わりに、微小なレベルのキズ画素まで補正する可能な判定値(第1の判定値)が用いられる。そして、図4に示すステップS401で説明したようにして、キズ補正用データがRAM107に展開される。
図7は、図6に示すキズ補正用データ再選択・展開(ステップS603)を説明するための図である。そして、図7(a)は静止画撮影の際の判定値を示す図であり、図7(b)は静止画撮影の際のキズ補正を示す図である。また、図7(c)は多重露光撮影の際の判定値を示す図であり、図7(d)は多重露光撮影の際のキズ補正を示す図である。
図7を参照すると、ここでは、説明の簡単化のためダーク画像を撮影した場合について説明する。なお、図示の例では多重露光撮影は3枚露光撮影である。
図7(a)において、いま、座標(x1、y1)にはキズ補正用データにおいて”5mV”で示されるキズ画素があり、同様に、座標(x2、y2)にはキズ補正用データにおいて”10mV”で示されるキズ画素あるものとする。この場合に、静止画撮影の際に、あるISO感度および露光時間で撮影された場合の判定値として、”7mV”で示す判定値(第2の判定値)が選択されたとする。
上記の判定値に応じてキズ補正処理が行われると、図7(b)に示すように、判定値”7mV”以下である座標(x1、y1)のキズ画素は補正されないことになる。一方、判定値”7mV”を超える座標(x2、y2)のキズ画素については補正処理が行われて、他のダークレベルと差がないように補正された後、現像処理が行われる。
この場合、座標(x1、y1)の画素はキズ画素ではあるものの、画像として目立たないと判断されることになる。
図7(c)に示すように、露光回数3枚の多重露光撮影を行うと、座標(x2、y2)のキズ画素は各コマの撮影おいてキズ補正処理されるので、加算処理(合成)を行う際には、当該キズ画素につては補正済みとなる。そして、他のダークレベル付近の出力と差がないため、加算処理を行っても他のダークレベル付近の出力の画素とは差がない。
一方、1枚の撮影画像では目立たないキズ画素であった座標(x1、y1)のキズ画素(つまり、合成画素データ)は、加算処理されるとその画素値が3倍の値となってしまい、加算処理の後においては、図7(d)に示すように、キズ画素として目立つようになってしまう。
このため、加算処理の後にキズ画素に係る判定値(第1の判定値)を、例えば、”4mV”までそのレベルを下げれば、座標(x1、y1)のキズ画素も補正対象画素となるので、加算処理後の画像においてキズ画素の補正が行われることになる。
再び図1および図6を参照して、DSP103はRAM107に保存された多重露光撮影後の画像データ(合成画像データ)に対して、RAM107に展開されたキズ補正用データに応じてキズ補正処理(第1の補正処理)を行って、その補正後の画像データを再度RAM107に出力する(ステップS604)。なお、ステップS604における処理は、図4で説明したステップS415の処理と同様である。
その後、CPU105は、図3で説明したステップS306〜S309の処理を行う。そして、ステップS309において、電源スイッチ109がオンであれば、CPU105は、図2に示すステップS204に戻って、モードダイアルの設定を確認する。一方、電源スイッチ109がオフされていれば、CPU105は、図2に示すステップS201に戻り、電源スイッチ109がオンされるのを待つ。
ところで、キズレベルの設定には種々の手法が考えられるが、一般的には、n(nは2以上の整数)枚の画像データを加算処理する場合には、同一の条件における静止画撮影時の1/n倍の判定値にそのレベルを下げれば、静止画撮影時と同様のキズ補正処理を行うことができる。
但し、判定値のレベルを1/nに下げると、補正すべき画素数が非常に多くなる場合がある。このため、判定値のレベルの設定について、CPU105等の処理能力も考慮して決定する必要がある。
また、多重露光撮影の際には、加算処理した後にキズ補正処理を行うので、多重露光撮影中の1コマ毎のキズ補正処理は必ずしも行う必要はない。例えば、多重露光撮影中の1コマ毎の補正は一切省略して、加算処理した後に、1/nレベル以上の全てのキズ画素について補正処理を行うようにしてもよい。
さらに、1コマ毎の補正の際に加算処理後に用いる判定値である1/nレベル以上のキズについて全て補正処理を行って、加算処理後にはキズ補正を行わないようにしてもよい。
1コマ毎の補正処理の際には、静止画撮影の場合と同一のレベルを有する判定値を用いてキズ画素の補正処理を行う。そして、加算処理後においては、キズ補正用データから、例えば、1/nレベルから静止画判定レベルの判定値までのキズ画素を選択して再補正を行って補正処理の分散を図るようにしてもよい。
なお、上述の例では、キズ画素の補正処理を行う際、その直前の同色の画素データを用いて置き換えを行うようにしたが、他の補正手法を用いるようにしてもよい。さらに、図示の例では、モードダイアルを用いて多重露光撮影モードを選択するようにしたが、他の手法を用いて切り替えを行うようにしてもよい。
このように、第1の実施形態によれば、多重露光撮影を行って、画像データを合成処理した合成画像データにおいて、適切に欠陥画素データの補正処理を行うことができる結果、合成画像データの画質が低下することがない。
(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態による画像処理装置が用いられた撮像装置の一例について説明する。
第1の実施形態における撮像装置では、加算処理後に補正するキズ画素が静止画撮影の際と同様の白キズである場合について説明したが、静止画撮影の場合と多重露光撮影の場合とではその特性上、最終画像に与える影響が異なるキズとして、RTSノイズの影響がある。
このRTSノイズは、近年における画素の微細化に伴って、特に、CMOSイメージセンサにおいて特定の画素の読み出しトランジスタが発生するノイズである。このRTSノイズに起因して、画像データの特定の画素に白点状のキズが発生することがある。
このRTSノイズは明確な温度依存性および蓄積時間依存性を有しておらず、静止画撮影の際に補正することは困難である。一方、多重露光撮影の際には、同一画素において複数ショットで発生すると、通常の白キズが加算された場合と同様の結果となる。
また、RTSノイズについては1回の発生による出力は微小であるが、高ISO感度撮影の際には、複数の画素において1回ずつRTSノイズ発生したとしても、露光回数が多いと、微小なキズがいたるところに発生することになる。その結果、個々の輝点(キズ)は気にならなくても、全体としてみた場合に画質の低下が避けられない。
このRTSノイズは特定の画素に撮影毎にランダムに発生するノイズであるが、出荷テスト際に複数の画像データを取得するようにすれば、RTSノイズが発生する画素をある程度特定することが可能である。
ここでは、RTSノイズは画素依存性があるため、キズ画素の一つとして補正し、第1の実施形態において用いた白キズデータに加えて、RTSノイズの種別、レベル、およびアドレス等の情報を含むキズ補正用データを多重露光撮影の際にも用いることにする。
第2の実施形態における撮像装置は、図1に示す撮像装置と同様の構成であり、第1の実施形態で説明した動作と同様の動作については説明を省略することにする。
静止画撮影の際には、図4に示すステップS401において、キズ補正用データの選択を行う際には、CPU105は、第1の実施形態と同様に、白キズのみを対象として、RTSノイズは対象としない。
一方、多重露光撮影の際には、図6に示すステップS603において、キズ補正用データを再選択する際、CPU105は白キズに関しては低レベルの判定値(第1の判定値)を設定し、RTSノイズをその補正対象に追加する。
つまり、CPU105はキズ補正用データ中のキズデータのうち判定値(第1の判定値)を超えるレベルを有するキズ画素および分類がRTSノイズとしてリストアップされたキズ画素に係るアドレス情報を、補正対象のキズ画素に関するアドレス情報として選択する。そして、CPU105は当該補正対象のキズ画素のアドレス情報をRAM107に展開する。
続いて、CPU105は、DSP103を制御して、図6に示すステップS604において補正処理を行う。このようにして、多重露光撮影の際には、RTSノイズとしてリストアップされたキズ画像についても補正処理を行うようにしたので、RTSノイズの影響を除去して、高品質な画像を得ることができる。
なお、RTSノイズに関する補正処理については、第1の実施形態で説明したように、多重露光撮影における1コマ毎に補正処理を行うようにしてもよい。
このように、第2の実施形態では、合成画像データにおいてRTSノイズの影響を除去して、つまり、RTSノイズによる欠陥画素データを確実に補正して、合成画像データにおける画質の低下を防止することができる。
(第3の実施形態)
続いて、本発明の第3の実施形態による画像処理装置が用いられた撮像装置について説明する。
前述の第1および第2の実施形態においては、補正すべきキズ画素に係る情報(つまり、キズ補正用データ)は撮像素子の出荷に当たって予め測定して得ている。ところが、キズ補正用データの取得には時間を要する結果、撮像素子のテストにかかるコストは高くなる。このため、ここでは、撮影の結果得られた画像データから補正すべき特異な画素データを抽出して補正する。
ここでは、撮影の結果得られた画像データに応じて補正すべきキズ画素を抽出して補正する撮像装置について説明する。なお、第3の実施の形態における撮像装置は図1に示す撮像装置とほぼ同様の構成であるが、第3の実施形態における撮像装置では、DSP103が撮像素子101から得られた画像データにおけるキズ画素を検出する検出回路を備えている点で異なっている。
図8は、図1に示すDSP103の他の例を示すブロック図である。
図1および図8を参照して、DSP103は、キズ補正回路1033および各種処理回路1034の他に、ラインメモリ1035およびキズ検出回路1036を有している。ラインメモリ1035には、AFE102から出力される画像データが一時的に蓄えられる。AFE102の動作クロック毎に、ラインメモリ1035から複数の特定アドレスに対応する画素データを読み出す。これによって、注目画素と当該注目画素の周辺の同色の複数の画素とを同時に読み出すことができる。
図9は図8に示すラインメモリ1035における画素データの読出しを説明するための図である。
図9において、いま、中央の対象画素(注目画素)データ901に対して、その周辺にある同色の8つの画素データ(単に画素ともいう)902を同時に読み出しするものとする。簡単な例として、8つの画素データ902の平均値に対して、注目画素データ901の値がDSP103に備えられた判定レベル設定レジスタ(図示せず)に設定された設定値(欠陥判定レベル)以上の差(欠陥判定レベル以上の差)がある場合、注目画素データ901は特異な画素データであって、当該注目画素はキズ画素であると判断される。
なお、キズ画素の検出アルゴリズムには種々のアルゴリズムがあるが、ここでは、注目画素901とラインメモリ1035の出力との差が、判定レベル設定レジスタの設定値を超えた場合に、キズ検出回路1036は当該注目画素901がキズ画素と判定するものとする。そして、キズ検出回路1036は注目画素901がキズ画素と判定すると、キズ検出回路1036は注目画素901のアドレス情報をキズ補正回路1033に送る。
キズ補正回路1033はアドレス情報と、ラインメモリ1035から出力される画素データのタイミングとを比較して、ラインメモリ1035から注目画素901が出力されると、当該注目画素901に対して補正処理を行う。
よって、第3の実施形態では、RAM107にキズ補正用データを保存する必要はない。
第3の実施形態における撮像装置は、図2および図3で説明した動作と同様の動作を行うが、図4で説明した撮影処理および図6で説明した多重露光撮影において異なる処理がある。
図10は、第3の実施形態における撮像装置の撮影処理を説明するためのフローチャートである。図10において、図4で説明した撮影処理における処理と同一の処理については同一の参照符号を付し説明を省略する。
図1および図10を参照して、図4で説明したゲイン設定を行った後(ステップS400)、CPU105はキズ補正用データの選択に代えて、検出すべきキズ画素の判定レベルをDSP103に備えられた判定レベルレジスタに設定する(ステップS801)。
その後、図4で説明したステップS402〜S414の処理が行われる。そして、撮像素子101から得られた画像データに対して、前述したようにして、DSP103はキズ画素の検出とその補正処理を行う(ステップS802)。
ここでは、キズ検出回路1036によって対象画素が補正すべき画素(つまり、キズ画素)である判定すると、キズ補正回路1033はラインメモリ1035から出力される対象画素の出力タイミングに応じて当該キズ画素を、直前の同色画素と置換して出力する。これによって、撮影の結果得られた画像データから特異画素データ(つまり、キズ画素データ)を抽出して、その補正処理を行うことができる。
図11は、第3の実施形態における撮像装置の多重露光撮影を説明するためのフローチャートである。図11において、図6で説明した多重露光撮影における処理と同一の処理については同一の参照符号を付し説明を省略する。
図1および図11を参照して、多重露光撮影モードに移行すると、図6で説明したステップS600、ステップS301〜S305、およびステップS601およびS602の処理が行われる。ステップS602において加算処理が行われた後、CPU105は、検出すべきキズ画素の判定レベルを判定レベルレジスタに設定する(ステップS901)。
続いて、DSP103において、前述したようにして、キズ画素の検出とその補正処理が行われる(ステップS902)。その後、図6で説明したステップS306〜S309の処理が行われることになる。
ところで、キズ判定レベルの設定について、例えば、複数の画像データを加算処理しても、加算処理後のゲイン処理および現像時のガンマ処理に変更がなければ、視認されるキズ画素のレベルは変わらないと考えられる。
つまり、加算処理の後に、静止画撮影の際と同一のキズ判定レベルで、キズ画素の検出と補正処理を行うようにすれば、加算処理の際にキズ画素が視認され難くなる。例えば、多重露光撮影の際の各コマの画像データにキズ判定レベル以下の白キズが存在する場合について考えると、各画像データを単独で現像処理した場合、その白キズが視認され問題となることはない(つまり、白キズが視認されることがないようにキズ判定レベルが設定される)。
一方、複数の画像データを加算処理すると、各コマの微小な白キズが積算されて、多重露光画像においてキズ判定レベルを超えることがある。この場合には、キズ判定レベルを超えた画素を検出、補正すれば、加算処理によって視認される白キズを補正することができる。
また、多重露光撮影の際のコマ毎のキズ画素の検出および補正処理は一切省略して、加算処理後に同一のキズ判定レベルを用いてキズ画素の検出および補正処理を行うようにしてもよい。但し、補正すべき画素数が非常に大きくなることがあるため、DSP103の処理能力を考慮して、キズ画素の検出および補正処理を行う必要がある。
加えて、図示の例では、キズ画素の補正を行う場合、直前の同色画素で置き換えを行っているが、別の手法を用いて補正処理を行うようにしてもよい。そして、多重露光撮影モードの選択をモードダイアルで行うようにしたが、他の手法によって多重露光撮影モードの選択を行うようにしてもよい。
このように、第3の実施形態では、キズ補正用データを用いることなく、撮影の結果得られた画像データから直接欠陥画素データを抽出して、合成画像データにおいて適切に欠陥画素データの補正処理を行うことができる結果、合成画像データの画質が低下することがない。
(第4の実施形態)
続いて、本発明の第4の実施形態による画像処理装置が用いられた撮像装置の一例について説明する。なお、第4の実施の形態における撮像装置は第3の実施形態で説明した撮像装置と同様の構成を有している。
撮影の結果得られた画像データからキズ検出を行う際においても、RTSノイズによる画質の劣化がある。多重露光撮影において、特定の画素に複数回のRTSノイズが発生した場合には、前述の第3の実施形態で説明した手法を用いてキズ画素の検出および補正処理を行うことができる。
一方、RTSノイズが1回発生した場合には第3の実施形態で説明した手法では、それを検出することが難しい。RTSノイズが一回発生した場合には、その出力値は微小ではあるが、高ISO感度撮影の際に多重露光撮影の露光回数が多いと、多重露光結果において微小なキズがいたるところに発生する。個々の輝点(キズ)は気にならなくても、全体としてみた際には画質の低下は避けられない。
第4の実施形態における撮像装置は、第3の実施形態で説明した撮像装置とほぼ同様の処理を行うので、ここでは、第3の実施形態における撮像装置の処理と異なる処理について説明する。
第4の実施形態における撮像装置では、図11で説明したステップS901で説明したキズ判定レベルの設定で設定される設定値が変更される。さらに、図11で説明したステップS902におけるキズ画素の検出が変更される。
第4の実施形態における撮像装置では、ステップS901において単発のRTSノイズを検出するため、視認可能な白キズを判別するためのキズ判定レベルよりも低いレベルに設定値が設定される。そして、ステップS902においては、周辺画素の評価領域および評価手法が変更される。RTSノイズを考慮すると、判断基準となる周辺の同色画素領域においてもRTSノイズの影響を考慮する必要がある。
図12は、図8に示すラインメモリ1035における画素データの読出しの他の例を説明するための図である。
図12において、いま、中央の対象画素(注目画素)データ1201に対して、その周辺にある同色の4つの画素データ(単に画素ともいう)1202を同時に読み出しするものとする。
図9と比べると、対象画素1201と同時に読み出す周辺同色画素は4つに半減している。これによって、加算処理後において、周辺同色画素に発生するRTSノイズの影響を低減させるようにしている。
但し、読み出す周辺同色画素を単純に減らして、これら画素の値の平均値等を算出すると、その精度が低減してしまう。このため、簡単な例として、周辺同色画素におけるメディアン値を算出して、ランダムノイズの変動の影響を受けにくくして、精度を維持するようにする。
このようにすれば、加算処理の後に、小さなキズまで検出する低い判定レベルを用いてキズ画素の再検出を行って補正処理を行えば、RTSノイズの影響によって微小なキズが多数発生することに起因する画質の低下を防止することができる。
また、上述のように、周辺同色画素の数の変更およびメディアン値等を用いるようにすれば、RTSノイズの影響によって微小なキズを適切に判定することができる結果、画質の低下を防止することができる。
なお、第4の実施形態では、周辺同色画素の数の変更、そして、メディアン値を用いるようにしたが、RTSノイズによる影響を検出することができれば、他の手法を用いるようにしてもよい。
このように、第4の実施形態では、キズ補正用データを用いることなく、撮影の結果得られた画像データからTRSノイズの影響を受ける欠陥画素データを抽出して、合成画像データにおいてRTSノイズによる欠陥画素データを確実に補正して、合成画像データにおける画質の低下を防止することができる。
(第5の実施形態)
続いて、本発明の第5の実施形態による画像処理装置を用いた撮像装置の一例について説明する。なお、第5の実施形態における撮像装置は図1に示す構成と同様の構成を有している。
前述した第1〜第4の実施形態においては、多重露光撮影の際に、撮像装置が複数枚の撮影を行って、これら画像データを加算処理する場合について説明した。ここでは、例えば、ユーザが再生画面において撮影後の画像データから所望の画像データを選択して、当該選択した画像データを加算処理する場合について説明する。なお、ここでは、画像データとして現像処理前の所謂RAWデータを加算処理する場合について説明する。
図13は、第5の実施形態における撮像装置の動作を説明するためのフローチャートである。なお、図13において、図2に示すステップと同一のステップについては同一の参照符号を付し説明を省略する。
図1および図13を参照して、CPU105は、ステップS201に電源スイッチ109がオンされたか否かを監視して、その後、前述したようにして、ステップS202〜S204とステップS211の処理を行う。
図示の例では、モードダイアル112によって撮影モードと合成モードが選択できるものとする。そして、モードダイアル112によって撮影モードが選択されると、CPU05は撮影モードに移行する。この場合、CPU105は、図2で説明した静止画撮影モードおよび多重露光撮影モードのいずれか一方を選択するように、DSP103を制御してLCD108に表示する。そして、ユーザは再びモードダイアル112を操作して、静止画撮影モード又は多重露光撮影モードを選択する。
一方、モードダイアル112によって合成モードが選択されると、CPU05は合成モードに移行する。そして、後述するようにして、合成処理が終了すると、CPU105はステップS201に戻る。
図14は、図13に示す合成モードを説明するためのフローチャートである。
図1および図14を参照して、ユーザはLCD114に表示された再生画像を参照して、所望の再生画像を操作部(図示せず)の操作によって選択する。CPU105は1枚目の画像が選択されたか否かを監視し(ステップS1301)、1枚目の画像が選択されないと(ステップS1301において、NO)、CPU105は待機する。
一方、1枚目の画像が選択されると(ステップS1301)、CPU105は2枚目の画像が選択されたか否かを監視する(ステップS1302)。そして、2枚目の画像が選択されないと(ステップS1302において、NO)、CPU105は待機する。
ここでは、2枚単位において合成処理を行うことを基本とし、それ以上の枚数の画像を合成処理する場合には、図13に示す処理が繰り返し行われることになる。
続いて、CPU105は、ユーザによって選択された2枚の画像に応じて合成後のキズ判定レベルを設定する(ステップS1303)。ここでは、第1および第2の実施形態において説明したようにキズ補正用データが予め記録されているものとする。
例えば、CPU105は各画像(以下画像データともいう)に付随(付加)するカメラID情報(識別情報)を確認して判別結果を得る。このカメラID情報は、撮像装置の撮像素子101を識別するための情報である。そして、判別結果によって現在処理を行っている撮像装置において撮影した画像データであれば、CPU105は予め記憶されたキズ補正用データを用いる。一方、他の撮像装置で撮影された画像データにおいてキズ画素の座標等の特性が一致しないため、予め記憶されたキズ補正用データを用いることができないと判定する。
つまり、カメラID情報が一致すれば、CPU105は、予め記憶されたキズ補正用データを用いて合成後の画像データについて補正を行う。一方、カメラID情報が一致しないと、CPU105は補正処理を行わないようにするため、キズ判定レベルを極めて大きな数値に設定する。
さらに、カメラID情報が一致すると、CPU105は選択された画像が互いに異なる撮影条件で撮影されているか否かについて判定する。そして、CPU105は撮影条件に応じて、選択された画像において設定されたキズ判定レベルを得る。CPU105は、このようにして得られたキズ判定レベルのうち、最も低いレベルのキズ判定レベル(画素判定レベル)を合成画像のキズを判定する判定値とする。
続いて、CPU105はDSP103を制御して、2枚の画像データの加算処理を行い(ステップS1304)、ステップS1303で設定した判定レベル(判定値)を用いてキズ画素の検出を行って、前述したようにして、合成画像(加算処理後の画像)について補正処理を行う(ステップS1305)。
その後、CPU105はDSP103を制御しつつ、図3で説明したステップS306〜S308の処理を行って、合成モードを終了する。
このように、既に記録済みの画像データを合成する際には、当該画像データが撮影された撮像装置のカメラID情報を確認して、処理を行う撮像装置と異なる撮像装置によって撮影された画像データである場合には、合成後のキズ処理を行わないようにする。これによって、カメラID情報が不一致の場合における誤補正とそれに起因する画質低下を防止することができる。
上述の説明から明らかなように、図1、図5、および図8において、CPU105およびDSP103が合成手段として機能し、アドレス比較回路1032、メモリ制御回路1031、およびRAM107が第1の比較手段および第2の比較手段として機能する。また、キズ補正回路1033が第1の補正手段および第2の補正手段として機能する。
さらに、CPU105は設定手段として機能し、ラインメモリ1035およびキズ検出回路1036は欠陥判別手段として機能する。そして、CPU105は素子判別手段および条件判定手段として機能する。
以上、本発明について実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。
例えば、上記の実施の形態の機能を制御方法として、この制御方法を、画像処理装置に実行させるようにすればよい。また、上述の実施の形態の機能を有する制御プログラムを、画像処理装置が備えるコンピュータに実行させるようにしてもよい。この際、制御方法および制御プログラムは、少なくとも合成ステップ、比較ステップ、および補正ステップを有することになる。なお、制御プログラムは、例えば、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録される。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記録媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
101 撮像素子
102 AFE(アナログフロントエンド)
103 DSP(デジタルシグナルプロセッサ)
105 CPU
106 ROM
107 RAM
112 モードダイアル
1031 メモリ制御回路
1032 アドレス比較回路
1033 キズ補正回路
1036 キズ検出回路

Claims (15)

  1. 撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置において、
    複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成手段と、
    前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する第1の比較手段と、
    前記第1の比較手段による比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする第1の補正処理を行う第1の補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
  2. 前記第1の補正手段は、前記第1の比較手段による比較結果によって欠陥画素データであると判定すると、当該欠陥画素データを前記欠陥画素データの直前に位置する同色の画素データで置換することを特徴する請求項1記載の画像処理装置。
  3. 前記画像データの各々についてその画素データが示す画素値と前記第2の判定値とを比較する第2の比較手段と、
    該第2の比較手段による比較結果に応じて前記画像データの画素データを補正して補正済み画像データとする第2の補正処理を行う第2の補正手段を有し、
    前記合成手段は複数枚の前記補正済み画像データを合成して前記合成画像データとすることを特徴とする請求項1又は2記載の画像処理装置。
  4. 前記第の判定値はISO感度およびシャッタ秒時に応じて決定されることを特徴とする請求項1〜3いずれか1項記載の画像処理装置。
  5. n(nは2以上の整数)枚の画像データを合成して前記合成画像データとする際、前記第1の判定値は前記第2の判定値の1/n倍とされることを特徴とする請求項1〜4いずれか1項記載の画像処理装置。
  6. 前記撮像素子における画素のうち欠陥である画素を示す欠陥画素に関するデータを補正用データとして記憶する記憶手段を有し、
    前記第1および前記第2の補正手段は、前記補正用データが示す欠陥画素から出力された画素データについて前記第1および前記第2の補正処理を行うことを特徴とする請求項記載の画像処理装置。
  7. 前記画素データの欠陥を判定する欠陥判定レベルを設定する設定手段と、
    前記画像データを構成する画素データについて前記欠陥判定レベルに応じて当該画素データが欠陥画素データであるか否かについて判別する欠陥判別手段とを有し、
    前記第1および前記第2の補正手段は、前記欠陥画素データについて前記第1および前記第2の補正処理を行うことを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。
  8. 前記欠陥判別手段は、前記画像データにおいて1つの画素データの周辺に位置する周辺画素データの画素値の平均値と前記1つの画素データの画素値との差が前記欠陥判定レベル以上であると、前記1つの画素データを前記欠陥画素データであると判別することを特徴とする請求項7記載の画像処理装置。
  9. 前記欠陥判別手段は、前記画像データにおいて1つの画素データの周辺に位置する周辺画素データの画素値のメディアン値と前記1つの画素データの画素値との差が前記欠陥判定レベル以上であると、前記1つの画素データを前記欠陥画素データであると判別することを特徴とする請求項7記載の画像処理装置。
  10. 前記撮像素子を識別する識別情報が前記画像データに付加されており、
    前記合成手段によって前記画像データを合成して前記合成画像データとする際、前記識別情報に応じて前記画像データが互いに異なる撮像素子で得られたか否かを判別する素子判別手段を有し、
    前記第1の補正手段は、前記素子判別手段による判別結果に応じて前記第1の補正処理を実行するか否かを決定することを特徴とする請求項1〜9いずれか1項記載の画像処理装置。
  11. 前記素子判別手段による判別結果が、前記画像データの互いに異なる撮像素子で得られたことを示していると、前記第1の補正手段は前記第1の補正処理を実行しないことを特徴とする請求項10記載の画像処理装置。
  12. 前記素子判別手段による判別結果が、前記画像データの全てが同一の撮像素子で得られたことを示していると、前記第1の補正手段は前記第1の補正処理を実行することを特徴とする請求項10記載の画像処理装置。
  13. 前記判別結果が、前記画像データの全てが同一の撮像素子で得られたことを示している際、前記画像データが互いに異なる撮影条件で撮影されているか否かについて判定する条件判定手段を有し、
    前記第1の補正手段は、前記画像データにおいて画素データの欠陥を判別する画素判定レベルのうち最も低い画素判定レベルを前記第1の判定値とすることを特徴とする請求項12記載の画像処理装置。
  14. 撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置を制御するための制御方法において、
    複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成ステップと、
    前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する比較ステップと、
    前記比較ステップによる比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする補正ステップとを有することを特徴とする制御方法。
  15. 撮像素子による撮像の結果得られた画像データを処理して処理済み画像データとする画像処理装置を制御するための制御プログラムにおいて、
    前記画像処理装置が備えるコンピュータに、
    複数枚の前記画像データを合成して合成画像データとする合成ステップと、
    前記画像データを構成する画素データについて当該画素データを補正するか否かを決定するための第2の判定値よりも小さい第1の判定値と、前記合成画像データを構成する合成画素データについて当該合成画素データが示す画素値とを比較する比較ステップと、
    前記比較ステップによる比較結果に応じて前記合成画像データの合成画素データを補正して前記処理済み画像データとする補正ステップとを実行させることを特徴とする制御プログラム。
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