[go: up one dir, main page]

JP5522561B2 - マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法 - Google Patents

マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5522561B2
JP5522561B2 JP2008528182A JP2008528182A JP5522561B2 JP 5522561 B2 JP5522561 B2 JP 5522561B2 JP 2008528182 A JP2008528182 A JP 2008528182A JP 2008528182 A JP2008528182 A JP 2008528182A JP 5522561 B2 JP5522561 B2 JP 5522561B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
microelectronic
die
package
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008528182A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009506553A (ja
Inventor
キム ダルソン イエ,セン
ホイ チョン,チン
Original Assignee
マイクロン テクノロジー, インク.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US11/218,028 external-priority patent/US7504284B2/en
Application filed by マイクロン テクノロジー, インク. filed Critical マイクロン テクノロジー, インク.
Publication of JP2009506553A publication Critical patent/JP2009506553A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5522561B2 publication Critical patent/JP5522561B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H10W74/129
    • H10W70/68
    • H10W90/00
    • H10W70/60
    • H10W72/07551
    • H10W72/50
    • H10W72/865
    • H10W72/884
    • H10W72/9445
    • H10W74/10
    • H10W90/291
    • H10W90/722
    • H10W90/732
    • H10W90/734
    • H10W90/754

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

本発明は、マイクロ電子デバイスパッケージ(microelectronic device package)、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ(stacked microelectronic device package)、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法に関する。
マイクロ電子デバイスは一般に、高密度の微小構成要素を有する集積回路を含むダイ(すなわちチップ)を有する。典型的なプロセスでは、多数のダイが、様々な段階(例えば、注入、ドーピング、フォトリソグラフィ、化学気相成長、プラズマ気相成長、めっき、平坦化、エッチングなど)で繰り返すことができる様々なプロセスを用いて、単一ウェハ上に製造される。ダイは一般に、集積回路に電気的に結合される微小ボンドパッドの配列を含む。ボンドパッドは、供給電圧、信号などが、それを通って集積回路に往復伝送される、ダイ上の外部電気コンタクトである。次に、ダイは、ウェハをダイシングし個々のダイを裏面研削することによって、互いに分離される(すなわち個片化される)。ダイは一般に、個片化された後、ボンドパッドを、様々な電源線、信号線、および接地線により容易に結合されうるより大きな配列の電気端子に結合させるために、「パッケージ化」される。
個々のダイは、ダイ上のボンドパッドをピン、ボールパッドまたは他のタイプの電気端子の配列に電気的に結合し、次いでダイをモールドコンパウンド内に封止して、ダイを環境因子(例えば、湿気、粒子、静電気、および物理的衝撃)から保護し、ならびにマイクロ電子デバイスパッケージを形成することによって、パッケージ化されうる。1つの応用例では、ボンドパッドは、ボールパッド配列を有するインタポーザ基板上のコンタクトに電気的に接続される。
電子製品は、非常に限られた空間に極めて高密度の構成要素を有するために、パッケージ化したマイクロ電子デバイスを必要とする。例えば、記憶装置、プロセッサ、表示装置、および他のマイクロ電子構成要素のために使用可能な空間は、携帯電話、PDA、携帯用コンピュータ、および他の多くの製品内で極めて限定される。したがって、プリント回路板上のマイクロ電子デバイスの表面積すなわち「フットプリント」を縮小するために、強力な動因がある。マイクロ電子デバイスのサイズを縮小するのは、困難となりうる。というのは、高性能のマイクロ電子デバイスは一般に、より多くのボンドパッドを有し、それによってボールグリッドアレイが大きくなり、したがってフットプリントが大きくなるからである。所与のフットプリント内のマイクロ電子デバイスの密度を増大させるために用いられる1つの技法は、1つのマイクロ電子デバイスパッケージを他のパッケージの上に積み重ねることである。しかし、こうした既存の積重ね設計にはいくつかの欠点がありうる。例えば、それらは、相互接続のために基板上に余分な空間を必要としたり、デバイスの個別の品質管理試験を妨げたり、あるいは他の欠点を有する可能性がある。
マイクロ電子パッケージは、単一パッケージ内に2つのチップまたはダイを有利に含む。これは、場所を取らない設計を可能にする。ある設計では、より薄いパッケージを実現することもできる。パッケージは、ダイが積重ねアセンブリに配置される前に個別に試験
されうるように、設計することができる。ダイは、共平面性の欠点をよりうまく回避するために、任意で背中合わせに配置することもできる。一実施形態では、マイクロ電子パッケージは、第1の基板と電気的に接続する第1のマイクロ電子ダイと、第1の基板と電気的に接続する第2の基板と、第2の基板と電気的に接続する第2のマイクロ電子ダイとを有する。電気的接続がワイヤボンディングによって行われる設計では、一方の基板が他方の基板よりも大きいことが有利である。
マイクロ電子パッケージは、積重ねアセンブリを形成するために、他のすなわち第2のマイクロ電子パッケージに積み重ねる、または取り付けることができる。一方のマイクロ電子パッケージの第1の基板上のコンタクトを、他方のマイクロ電子パッケージの第2の基板上のコンタクトに電気的に接続または連接することにより、2つのマイクロ電子パッケージアセンブリを電気的に接続することができる。積み重ねられるパッケージは、回路板に取り付けられ、どちらか一方のパッケージの別の基板上のコンタクトを介して回路板に電気的に接続されうる。
本発明のいくつかの実施形態の多くの具体的な詳細について、複数のマイクロ電子デバイスを単一アセンブリに一体に形成することに関して以下に説明するが、他の実施形態では、各デバイスを別々に形成することができる。本発明によるいくつかの実施形態は、図面に記載されている。しかし、図面は、説明だけのために提供される。それらは、本発明の範囲を限定して示すものではない。以下の文章は、本発明の特定の実施形態を十分理解できるように提供される。しかし、当業者なら、本発明が追加の実施形態を有しうること、あるいは、本発明が、図面に記載されている、または示される詳細のうちのいくつかがなくても実施されうることを理解する。
ここで図1を参照すると、積み重ね可能なマイクロ電子パッケージ(stackable microelectronic package)10が、開口または溝14を有する第1の基板12を有する。開口14は、基板12のほぼ中心に有利に位置することができる。第1のマイクロ電子ダイまたはチップ18は、活性面40および裏面42を有する。活性面40は、第1の基板12に取り付けられるか、または隣接している。ダイ18の活性面40は、基板12の第2の面(ここでは上面として示される)上のコンタクトと電気的に接続する端子(例えばボンドパッド)を有する。端子およびコンタクトは、典型的にはアレイ状に配置される。基板12上のコンタクトは一般に、基板12の第1の面(ここでは底面として示される)上の他のコンタクトに電気的に接続されて、アセンブリ10を回路板または他の上位アセンブリと電気的に接続できるようにする。
第2のマイクロ電子ダイまたはチップ22は、第1のダイ18の裏面に、好ましくは接着剤20で取り付けられる裏面42を有する。この取付け(ならびに本明細書で記載される他の取付け)は、直接でも間接でもよく、すなわち、それらの間に1つ以上の中間要素があってもなくてもよい。各ダイ18および22は一般に、25に破線で概略的に示される1つ以上の集積回路を有する。第2の基板24は、第2のダイ22の活性面40に取り付けられる。
第1の基板12は、第2の基板24よりも大きく(すなわち、幅が広くおよび/または長さが長い)、これは、図1に示されるように、第1の基板12が第2の基板24から外に広がることを意味する。第1の基板12の上面すなわち第2の面上のパッドまたはコンタクト34を、第2の基板24の上面すなわち第2の面上のパッドまたはコンタクト34に接続することによって、第1の基板と第2の基板との間で電気的接続が行われる。これらの接続は、ワイヤボンド26によって行うことができる。第1の基板上のコンタクト34は、第2の基板24から外に広がる第1の基板12の領域上に位置するので、それらの
間のボンド接続は、既存の技法を用いて行うことができる。パッドまたはコンタクト34および38は、説明のために、図1に破線で拡大して不釣り合いに示される。
第2の基板24の上のコンタクトと第2のダイ22の活性面上の端子との間で、電気的接続が行われる。図1に示されるように、第2の基板24は、貫通する開口または溝14を有する。したがって、ワイヤボンド26または他の接続要素が開口14を通って延びて、第2の基板24と第2のダイ22の間の接続を行うことができる。第2のダイ22に対するワイヤボンド手順は、第1のダイ18に対するワイヤボンド手順と比べると逆であり、したがって、ピンアサインは、ボールピン配列に相当する。
第1の基板12と第1のダイ18上の端子との間の電気的接続も、同じ方法で行うことができる。図1に示されるパッケージ10は、左右対称とすることができる。ダイ18および22は、同じ幅または長さを有するものとして示されるが、ダイは、同じでもよく、あるいは電気的および/または機械的に互いに異なってもよい。基板12および24は、ダイを保持し、かつ電気的相互接続を可能にするために、プリント回路板または他のタイプの基板とすることができる。基板上のパッド134は一般に、同等のまたは対応する配列の電気的結合部(例えば、はんだボールまたは他のはんだ要素)を受けるように、アレイ状に配置される。第1のダイ18および第1の基板12は、ボードオンチップ構造を形成する。同様に、第2のダイ22および第2の基板22もまた、ボードオンチップ構造を形成する。
ワイヤボンド接続26が行われた後、モールドコンパウンド28が、図1に示される各領域内のワイヤボンド26を覆うように塗布される。ワイヤボンド26と、基板の内端または外端に隣接するコンタクト34と、それらが接続する対象であるダイ上の端子とが、モールドコンパウンド28で覆われる。ダイ18および22のすべての面を、基板およびモールドコンパウンドで完全に密封する、または覆うことができる。第1の基板12の下側は、開口14でのワイヤボンドを除いて、モールドコンパウンド28で覆われていないことが有利である。第2の基板24上のワイヤボンドコンタクト34間に位置する露出コンタクト38は、モールドコンパウンドで覆われない。これにより、パッケージ10上に積み重ねられる他のパッケージとの電気的接続を行う際に使用するために、第1の基板の下面上の露出コンタクト38を覆われないままにしておく。
次いで、すべてのコンタクトおよび端子は、依然として試験装置によってアクセス可能であるので、パッケージ10を試験することができる。これにより、パッケージの積重ねアセンブリへの最終組立ての前に、欠陥パッケージを検出し除去することが可能になる。したがって、積重ねアセンブリは、既知の良好なアセンブリパッケージで製作することができる。これは、製造時の歩留りを改善する。
パッケージ10が回路板または他の上位アセンブリに取り付けられる用途では、パッケージ10は、図1の向きに、すなわち第1の基板12が回路板上にある状態で、取り付けることができる。次いで、露出コンタクト38が回路板上のコンタクト、パッドまたは端子に連接することにより、パッケージ10と回路板との間で電気的接続を行うことができる。これらの接続を行うために、リフローはんだボール16を使用することができる。パッケージ上10に追加のパッケージが積み重ねられない場合、回路板への接続は、代替的または付加的に、第2の基板24上の露出コンタクト38を介して行うことができる。図2に示されるように、1つ以上の追加のパッケージがパッケージ10上に積み重ねられる場合、回路板への接続は、代替的または付加的に、スタックの最上部のパッケージ上の露出コンタクトがあればそれを介して行うことができる。
図2は、第1のパッケージ10の上に積み重ねられる第2のパッケージ10を示す。2
つの積み重ねられるパッケージの間の電気的接続を行うために、はんだボールまたは要素16をランドグリッドアレイ上で使用することができる。さらに、上部パッケージの第1の基板12と下部パッケージ上のモールドコンパウンド28との間、および/または積重ねアセンブリ36の中心に示される隣接するモールドコンパウンド突出部44相互間で、パッケージ10の機械的取付けを接着剤で行うことができる。第2のパッケージは、相互間で必要な電気的接続を行うことができるのであれば、第1のパッケージと電気的かつ機械的に同じでも異なっていてもよい。図2は、2つのパッケージ10を有する積重ねアセンブリ36を示すが、もちろん、積重ねアセンブリ36は、例えば3つ、4つ、5つまたはそれ以上のパッケージを有することもできる。
図3は、他の実施形態48を示し、第1の基板52上の第1のダイ18が、チップオンボード構造を形成する。図1に示される第1の基板12とは異なり、図3内の第1の基板52は、開口または溝を有さない。スペーサまたはエポキシパッド50が、第1のダイ18上に設けられる。第2のダイ22が、スペーサ50上に設けられる。これらのダイは、接着剤20によってスペーサに取り付けることができる。第2のダイ22に第2の基板24が取り付けられて、図1内の第2のダイおよび第2の基板に類似のボードオンチップ構造を形成する。スペーサ50は、第1のダイ18の活性面の上に空間をもたらして、第1のダイ18と第1の基板52との間でワイヤボンディングまたは同様の接続を行うことが可能になる。
第2のダイ22が第1のダイ18よりも小さい場合、スペーサ50は、ワイヤボンディングのために必要ないので、省略することができる。この場合、第2のダイ22は、図1と同様に、第1のダイ18に直接取り付けることができる。第1および第2のダイの間の接続は、第2の基板のボンドフィンガから第1の基板のボンドフィンガまでの周辺ワイヤボンディングによって行うことができる。第2の基板24と第2のダイ22との間、および第2の基板24と第1の基板との間のワイヤボンディングまたは他の電気的接続、ならびにモールドコンパウンド28は、上述したように、図1と同じように行う、または使用することができる。図3に示されるパッケージ48は、追加の他のマイクロ電子パッケージ(パッケージ48と同じでも異なっていてもよい)の上に積み重ねられて、図2に示される概念と同様の積重ねアセンブリ36を形成することができる。
図4は、図3に示す設計とほぼ同様であるが、第1のダイ60がフリップチップパッケージ構造である、他の実施形態58を示す。第1のダイ60は、活性面を下にして第1の基板52に取り付けられる。第1のダイ60と第1の基板52との間の電気的接続は、下向きの活性面上の導電性バンプまたは電気的結合部を介して行われる。バンプは、第1の基板52上の目標パッドまたはコンタクトと一致しかつ接触する。第2のダイ22の裏面は、第1のダイ60の裏面に取り付けられる。第2の基板24は、第2のダイ22の活性面の上に取り付けられて、ボードオンチップ構造を形成する。第2のダイ22と第2の基板24との間、および第1の基板52と第2の基板24との間の電気的接続、ならびにモールドコンパウンド28は、図1または3を参照して上述したのと同じように行うことができる。パッケージ58は、図1〜3に関連して上述したように、積み重ねられて、複数パッケージの積重ねアセンブリ36を形成することができる。
図5は、図4に示す設計とほぼ同様であるが、フリップチップを小さい方の基板74に取り付けられる第2のダイ60として用いた、他の実施形態68を示す。第1のダイ72が、ボードオンチップ構造の形で第1の基板70に取り付けられる。第2のダイ60は、接着剤20を用いて、第1のダイ72の上に背中合わせに取り付けることができる。第2の基板74は、第2のダイ60に取り付けられる。第2のダイ60はフリップチップであるので、図4内の第1のダイ60を参照して上述したように、電気的接続が、第2のダイと第2の基板との間で第2のダイ上のバンプを介して行われる。第2のダイ60に取り付
けられる第2の基板74は、第1の基板70よりも小さい。第1および第2の基板の間、および第1のダイ72と第1の基板70との間の電気的接続は、ワイヤボンド26を介して行うことができる。
上述の設計は、同一平面性の問題を(ダイが背中合わせになっているため)回避すること、既存の設備を用いてアセンブリが可能であること、第1および第2の基板が、業界標準(JEDEC)に適合するボールピン配列のアサインを有することができること、構成要素を、最終アセンブリの前に個別に試験することができること、より薄いパッケージ高さを達成できること、などの利点を提供することができる。もちろん、様々な実施形態を用いて様々な方法で本発明を実施して、これらの利点それぞれを実現する場合もあり、そうでない場合もある。本発明は、それぞれの利点をかならずしも達成することなく使用することもできる。
パッド、コンタクト、端子、バンプ、電気的結合部などの用語は、電気的な接続を行うために用いられる特徴を制限なしに表現するためのものであり、特定の排他的な意味を有するものではない。本明細書で用いられているような、取り付けられる(attached)という用語は、直接間接を問わず、接合される、接着される、連接される、ボンディングされる、あるいはその他の方法で支持されることを意味する。基板という用語は、ここではダイが取り付けられる要素または基部を意味し、基板は、典型的には回路板を含むが、それに限らない。間(between)という用語は、周辺ワイヤボンディングと同様に、第1の要素と第2の要素との間の直接接続を意味するが、他のタイプの直接的または間接的電気的接続も含む。
したがって、いくつかの実施形態、およびそれらを製作する方法について示し、説明してきた。本発明の精神および範囲から逸脱することなく、様々な変更および置換を行うことができる。したがって、本発明は、特許請求の範囲とその同等物による以外は限定されるべきでない。
積み重ね可能なマイクロ電子マルチダイパッケージの概略断面図である。 図1に示される2つのパッケージが、積重ねアセンブリを形成するように互いに取り付けられるものの概略断面図である。 他の積み重ね可能なマルチダイパッケージの概略断面図である。 他の積み重ね可能なマルチダイパッケージの概略断面図である。 さらに他の積み重ね可能なマルチダイパッケージの概略断面図である。

Claims (37)

  1. 第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトと、を有する第1の基板と、
    前記第1の基板と近接する第1のマイクロ電子ダイと、
    前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクト、を有する第2の基板と、
    前記第2の基板と近接する第2のマイクロ電子ダイであって、前記第1および第2のマイクロ電子ダイが、個々に、裏面と、該裏面とは反対側の活性面に設けられた複数の活性端子とを含み、前記第1のマイクロ電子ダイの前記裏面が前記第2のマイクロ電子ダイの前記裏面に取り付けられている、第2のマイクロ電子ダイと、
    前記第1のワイヤボンドコンタクトと前記第2のワイヤボンドコンタクトとを接続するワイヤと、
    モールドコンパウンドであって、前記モールドコンパウンドは、前記ワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触し、前記ワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止し、かつ、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するモールドコンパウンドと、
    を含むマイクロ電子パッケージ。
  2. 前記第1の基板が、前記第2の基板よりも大きい、請求項1に記載のマイクロ電子パッケージ。
  3. 前記第1の基板が、前記第2の基板にワイヤボンディングによって電気的に接続されている、請求項2に記載のマイクロ電子パッケージ。
  4. 前記第1のマイクロ電子ダイが、ボードオンチップパッケージ構造を含む、請求項1に記載のマイクロ電子パッケージ。
  5. 前記第2のマイクロ電子ダイが、ボードオンチップパッケージ構造を含む、請求項1に記載のマイクロ電子パッケージ。
  6. 2つ以上のマイクロ電子パッケージからなる積重ねアセンブリを可能にするために、前記第2の基板が、露出した電気コンタクトのグリッドアレイを有する、請求項1に記載のマイクロ電子パッケージ。
  7. 前記第1のマイクロ電子ダイが前記第1の基板に隣接し、前記第2のマイクロ電子ダイが前記第2の基板に隣接し、前記第1のマイクロ電子ダイが前記第2のマイクロ電子ダイに隣接する、請求項1に記載のマイクロ電子パッケージ。
  8. 第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトと、を有する第1の基板と、
    前記第1の基板と近接する第1のマイクロ電子ダイと、
    前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクト、を有する第2の基板と、
    前記第2の基板と近接する第2のマイクロ電子ダイと、
    前記第1のワイヤボンドコンタクトと前記第2のワイヤボンドコンタクトとを接続するワイヤと、
    モールドコンパウンドであって、前記モールドコンパウンドは、前記ワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触し、前記ワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止し、かつ、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するモールドコンパウンドと、
    を含む第1のマイクロ電子パッケージ、ならびに、
    第3の基板と、
    前記第3の基板と電気的に接続する第3のマイクロ電子ダイと、
    前記第2および第3の基板の間の複数の電気接続部と、
    を含む第2のマイクロ電子パッケージ、
    を含む積重ね型マイクロ電子パッケージアセンブリ。
  9. 前記第1および第2のマイクロ電子パッケージの間の前記複数の電気接続部が、前記第2および第3の基板の間のはんだボールを含む、請求項8に記載の積重ね型マイクロ電子パッケージアセンブリ。
  10. 前記第1の基板が、前記第2の基板よりも大きい、請求項8に記載の積重ね型マイクロ電子パッケージアセンブリ。
  11. 第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトと、を有する第1の基板と、
    前記第1の基板の前記第2の面に取り付けられた第1のマイクロ電子ダイと、
    前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクト、を有する第2の基板と、
    前記第2の基板に取り付けられた第2のマイクロ電子ダイと、
    前記第1および第2のマイクロ電子ダイの間のスペーサと、
    前記第1のマイクロ電子ダイを前記第1の基板の前記第1のワイヤボンドコンタクトに接続する第1の組のワイヤと、
    前記第2の基板の前記第2のワイヤボンドコンタクトを前記第1の基板の前記第1のワイヤボンドコンタクトに接続する第2の組のワイヤと、
    モールドコンパウンドであって、前記モールドコンパウンドは、前記第2の組のワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触し、前記第2の組のワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止し、かつ、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するモールドコンパウンドと、
    を含む積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  12. 前記第2のマイクロ電子ダイを、前記第2の基板内の開口を通って前記第2の基板に接続する第3の組のワイヤをさらに備える、請求項11に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  13. 前記第1のマイクロ電子ダイおよび前記第1の基板が、チップオンボードパッケージ構造を含み、前記第2のマイクロ電子ダイおよび前記第2の基板が、ボードオンチップパッケージ構造を含む、請求項11に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  14. 前記第1の基板が、前記第2の基板よりも大きい、請求項11に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  15. 第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトと、を有する第1の基板と、
    前記第1の基板と電気的に接続する、前記第1の基板上の第1のマイクロ電子ダイと、
    前記第1のマイクロ電子ダイの上に取り付けられた第2のマイクロ電子ダイと、
    前記第2のマイクロ電子ダイ上の第2の基板であって、該第2の基板は、前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクトを有する、第2の基板と、
    前記第1の基板に設けられた前記第1のワイヤボンドコンタクトを、前記第2の基板に設けられた前記第2のワイヤボンドコンタクトに接続する第1の組のワイヤと、
    モールドコンパウンドであって、前記モールドコンパウンドは、前記第1の組のワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触し、前記第1の組のワイヤと前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止し、かつ、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するモールドコンパウンドと、
    前記第2の基板を前記第2のマイクロ電子ダイに接続する第2の組のワイヤと、
    を含む積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  16. 前記第1の基板の上に積み重ねられるダイパッケージの基板と電気的に接続するように構成された、前記第1の基板の第1の面上の第1のコンタクト配列をさらに含む、請求項15に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  17. 前記第1の基板が、前記第2の基板よりも大きい、請求項15に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  18. 前記第1および第2の基板の少なくとも一部を覆うケーシングをさらに含む、請求項15に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  19. 前記ケーシングが、他のパッケージの基板と接続するように構成された電気コンタクトを有する前記第2の基板の領域を露出させる開口を有する、請求項18に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  20. 前記第1および第2の組のワイヤが、ワイヤボンドを含む、請求項15に記載の積み重ね可能なマルチ電子ダイパッケージ。
  21. マイクロ電子パッケージを製造する方法であって、
    第1のマイクロ電子ダイを第1の基板に取り付けるステップであって、該第1の基板は、第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトとを有する、ステップと、
    第2のマイクロ電子ダイを前記第1のマイクロ電子ダイに取り付けるステップであって、前記第1のマイクロ電子ダイの裏面が前記第2のマイクロ電子ダイの裏面と対向している、ステップと、
    第2の基板を前記第2のマイクロ電子ダイに取り付けるステップであって、前記第2の基板が、前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクトを有する、ステップと、
    前記第1の基板に設けられた前記第1のワイヤボンドコンタクトと、前記第2の基板に設けられた前記第2のワイヤボンドコンタクトとの間の第1の組の電気的接続を作成するステップと、
    前記第1のマイクロ電子ダイと前記第1の基板との間の第2の組の電気的接続を作成するステップと、
    前記第2のマイクロ電子ダイと前記第2の基板との間の第3の組の電気的接続を作成するステップと、
    モールドコンパウンドで、前記第1の組の電気的接続と前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止するステップであって、前記モールドコンパウンドは前記第1の組の電気的接続と前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触する、ステップと、
    前記モールドコンパウンドで、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく、前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するステップと、
    を含む方法。
  22. 前記第2の組の電気的接続が、前記第1の基板内の開口を通って延びるワイヤによって作成される、請求項21に記載の方法。
  23. 前記第3の組の電気的接続が、前記第2の基板内の開口を通って延びるワイヤによって作成される、請求項22に記載の方法。
  24. 前記第1、第2および第3の組の電気的接続をモールドコンパウンド内に封入するステップをさらに含む、請求項21に記載の方法。
  25. 前記第1の基板が、前記第2の基板よりも大きい、請求項21に記載の方法。
  26. 前記第1のマイクロ電子ダイが、ボードオンチップパッケージ構造を含む、請求項21に記載の方法。
  27. 前記第2のマイクロ電子ダイが、ボードオンチップパッケージ構造を含む、請求項21に記載の方法。
  28. 前記第1のマイクロ電子ダイの裏面を接着剤によって前記第2のダイの裏面に取り付けるステップをさらに含む、請求項21に記載の方法。
  29. 積重ね型マイクロ電子パッケージアセンブリを製造する方法であって、
    第1の面に設けられた第1の外部コンタクトと、前記第1の面とは反対側の第2の面に設けられた第1のワイヤボンドコンタクトと、を有する第1の基板に、第1のマイクロ電子ダイを取り付けるステップと、
    第2のマイクロ電子ダイを前記第1のマイクロ電子ダイに取り付けるステップであって、前記第1のマイクロ電子ダイの裏面が前記第2のマイクロ電子ダイの裏面と対向している、ステップと、
    第2の基板を前記第2のマイクロ電子ダイに取り付けるステップであって、前記第2の基板が、前記第1の基板を背にする方に向いた第3の面に設けられた第2の外部コンタクトおよび第2のワイヤボンドコンタクトを有する、ステップと、
    前記第1の基板に設けられた前記第1のワイヤボンドコンタクトと、前記第2の基板に設けられた前記第2のワイヤボンドコンタクトとの間の第1の組の電気的接続を作成するステップと、
    前記第1のマイクロ電子ダイと前記第1の基板との間の第2の組の電気的接続を作成するステップと、
    前記第2のマイクロ電子ダイと前記第2の基板との間の第3の組の電気的接続を作成するステップと、
    によって第1のマイクロ電子パッケージを製作するステップ、
    モールドコンパウンドで、前記第1の組の電気的接続と前記第1および第2のマイクロ電子ダイとを完全に封止するステップであって、前記モールドコンパウンドは前記第1の組の電気的接続と前記第1および第2のマイクロ電子ダイとに接触する、ステップ、
    前記モールドコンパウンドで、前記第1の外部コンタクトも前記第2の外部コンタクトも覆うことなく、前記第1および第2の基板を少なくとも部分的に封止するステップ、ならびに、
    第2のマイクロ電子パッケージを前記第1のマイクロ電子パッケージに取り付けるステップ
    を含む方法。
  30. 前記第2のマイクロ電子パッケージのコンタクトを前記第1の基板上のコンタクトに接続することによって、前記第1および第2のマイクロ電子パッケージの間の電気的接続を作成するステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
  31. 前記第1および第2のマイクロ電子パッケージの間の電気的接続をはんだ要素によって作成するステップをさらに含む、請求項30に記載の方法。
  32. 前記第2の組の電気的接続が、前記第1の基板内の開口を通って延びるワイヤボンドによって作成される、請求項29に記載の方法。
  33. 前記第3の組の電気的接続が、前記第2の基板内の開口を通って延びるワイヤボンドによって作成される、請求項29に記載の方法。
  34. 前記第1の基板が前記第2の基板よりも大きく、前記第1の組の電気的接続を、前記第1の基板の第2の面のコンタクトを前記第2の基板の第2の面上のコンタクトにワイヤボンディングすることによって作成するステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
  35. 第3のマイクロ電子パッケージを前記第1のマイクロ電子パッケージに取り付けるステップと、前記第3のマイクロ電子パッケージのコンタクトを前記第2の基板上のコンタクトに接続することによって、前記第1および第3のマイクロ電子パッケージの間の電気的接続を作成するステップとをさらに含む、請求項30に記載の方法。
  36. 前記第1の基板上の前記コンタクトが、前記第1の基板の縁部から離れて配置される、請求項30に記載の方法。
  37. 前記第2のマイクロ電子パッケージが、前記第1のマイクロ電子パッケージと同じである、請求項29に記載の方法。
JP2008528182A 2005-08-31 2006-08-25 マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法 Active JP5522561B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/218,028 2005-08-31
US11/218,028 US7504284B2 (en) 2005-08-26 2005-08-31 Microelectronic device packages, stacked microelectronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices
PCT/US2006/033219 WO2007025127A2 (en) 2005-08-26 2006-08-25 Microelectronic device packages, stacked microlecetronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009506553A JP2009506553A (ja) 2009-02-12
JP5522561B2 true JP5522561B2 (ja) 2014-06-18

Family

ID=37802914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008528182A Active JP5522561B2 (ja) 2005-08-31 2006-08-25 マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5522561B2 (ja)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006052616A1 (en) 2004-11-03 2006-05-18 Tessera, Inc. Stacked packaging improvements
US8058101B2 (en) 2005-12-23 2011-11-15 Tessera, Inc. Microelectronic packages and methods therefor
US8482111B2 (en) 2010-07-19 2013-07-09 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages
US9159708B2 (en) 2010-07-19 2015-10-13 Tessera, Inc. Stackable molded microelectronic packages with area array unit connectors
US20120146206A1 (en) 2010-12-13 2012-06-14 Tessera Research Llc Pin attachment
KR101128063B1 (ko) 2011-05-03 2012-04-23 테세라, 인코포레이티드 캡슐화 층의 표면에 와이어 본드를 구비하는 패키지 적층형 어셈블리
US8836136B2 (en) 2011-10-17 2014-09-16 Invensas Corporation Package-on-package assembly with wire bond vias
US8946757B2 (en) 2012-02-17 2015-02-03 Invensas Corporation Heat spreading substrate with embedded interconnects
US9349706B2 (en) 2012-02-24 2016-05-24 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US8372741B1 (en) 2012-02-24 2013-02-12 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface
US8835228B2 (en) 2012-05-22 2014-09-16 Invensas Corporation Substrate-less stackable package with wire-bond interconnect
US9391008B2 (en) 2012-07-31 2016-07-12 Invensas Corporation Reconstituted wafer-level package DRAM
US9502390B2 (en) 2012-08-03 2016-11-22 Invensas Corporation BVA interposer
US8878353B2 (en) 2012-12-20 2014-11-04 Invensas Corporation Structure for microelectronic packaging with bond elements to encapsulation surface
US9136254B2 (en) 2013-02-01 2015-09-15 Invensas Corporation Microelectronic package having wire bond vias and stiffening layer
US9167710B2 (en) 2013-08-07 2015-10-20 Invensas Corporation Embedded packaging with preformed vias
US9685365B2 (en) 2013-08-08 2017-06-20 Invensas Corporation Method of forming a wire bond having a free end
US20150076714A1 (en) 2013-09-16 2015-03-19 Invensas Corporation Microelectronic element with bond elements to encapsulation surface
US9379074B2 (en) 2013-11-22 2016-06-28 Invensas Corporation Die stacks with one or more bond via arrays of wire bond wires and with one or more arrays of bump interconnects
US9583456B2 (en) 2013-11-22 2017-02-28 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9263394B2 (en) 2013-11-22 2016-02-16 Invensas Corporation Multiple bond via arrays of different wire heights on a same substrate
US9583411B2 (en) 2014-01-17 2017-02-28 Invensas Corporation Fine pitch BVA using reconstituted wafer with area array accessible for testing
US10381326B2 (en) 2014-05-28 2019-08-13 Invensas Corporation Structure and method for integrated circuits packaging with increased density
US9412714B2 (en) 2014-05-30 2016-08-09 Invensas Corporation Wire bond support structure and microelectronic package including wire bonds therefrom
US9735084B2 (en) 2014-12-11 2017-08-15 Invensas Corporation Bond via array for thermal conductivity
US9888579B2 (en) 2015-03-05 2018-02-06 Invensas Corporation Pressing of wire bond wire tips to provide bent-over tips
US9502372B1 (en) 2015-04-30 2016-11-22 Invensas Corporation Wafer-level packaging using wire bond wires in place of a redistribution layer
US9761554B2 (en) 2015-05-07 2017-09-12 Invensas Corporation Ball bonding metal wire bond wires to metal pads
US10490528B2 (en) 2015-10-12 2019-11-26 Invensas Corporation Embedded wire bond wires
US9490222B1 (en) 2015-10-12 2016-11-08 Invensas Corporation Wire bond wires for interference shielding
US10332854B2 (en) 2015-10-23 2019-06-25 Invensas Corporation Anchoring structure of fine pitch bva
US10181457B2 (en) 2015-10-26 2019-01-15 Invensas Corporation Microelectronic package for wafer-level chip scale packaging with fan-out
US9911718B2 (en) 2015-11-17 2018-03-06 Invensas Corporation ‘RDL-First’ packaged microelectronic device for a package-on-package device
US9659848B1 (en) 2015-11-18 2017-05-23 Invensas Corporation Stiffened wires for offset BVA
US9984992B2 (en) 2015-12-30 2018-05-29 Invensas Corporation Embedded wire bond wires for vertical integration with separate surface mount and wire bond mounting surfaces
US9935075B2 (en) 2016-07-29 2018-04-03 Invensas Corporation Wire bonding method and apparatus for electromagnetic interference shielding
US10299368B2 (en) 2016-12-21 2019-05-21 Invensas Corporation Surface integrated waveguides and circuit structures therefor

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH025553A (ja) * 1988-06-24 1990-01-10 Fujitsu Ltd 半導体装置
JPH0289852U (ja) 1988-12-27 1990-07-17
JPH03159146A (ja) 1989-11-16 1991-07-09 Tokyo Electron Ltd プロービングカード
JP2000228468A (ja) 1999-02-05 2000-08-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体チップ及び半導体装置
US6472736B1 (en) * 2002-03-13 2002-10-29 Kingpak Technology Inc. Stacked structure for memory chips
AU2003272405A1 (en) * 2002-09-17 2004-04-08 Chippac, Inc. Semiconductor multi-package module having wire bond interconnection between stacked packages
DE10259221B4 (de) * 2002-12-17 2007-01-25 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit einem Stapel aus Halbleiterchips und Verfahren zur Herstellung desselben
TWI311353B (en) 2003-04-18 2009-06-21 Advanced Semiconductor Eng Stacked chip package structure
KR100604821B1 (ko) 2003-06-30 2006-07-26 삼성전자주식회사 적층형 볼 그리드 어레이 패키지 및 그 제조방법
KR100546374B1 (ko) 2003-08-28 2006-01-26 삼성전자주식회사 센터 패드를 갖는 적층형 반도체 패키지 및 그 제조방법
KR100564585B1 (ko) * 2003-11-13 2006-03-28 삼성전자주식회사 이중 스택된 bga 패키지 및 다중 스택된 bga 패키지
JP5197961B2 (ja) * 2003-12-17 2013-05-15 スタッツ・チップパック・インコーポレイテッド マルチチップパッケージモジュールおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009506553A (ja) 2009-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5522561B2 (ja) マイクロ電子デバイスパッケージ、積重ね型マイクロ電子デバイスパッケージ、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法
US10861824B2 (en) Microelectronic device packages, stacked microelectronic device packages, and methods for manufacturing microelectronic devices
TWI393228B (zh) 覆晶及焊線封裝半導體
TWI407533B (zh) 在基底封裝件上具有晶粒之積體電路封裝系統
CN101385140B (zh) 具有极细间距堆叠的微电子组件
JP2009508324A (ja) マイクロ電子デバイス、積み重ねられたマイクロ電子デバイス、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法
JP2009508324A6 (ja) マイクロ電子デバイス、積み重ねられたマイクロ電子デバイス、およびマイクロ電子デバイスを製造する方法
US20060073635A1 (en) Three dimensional package type stacking for thinner package application
JP2009528706A (ja) マイクロ電子工学装置、積層式マイクロ電子工学装置、およびそうした装置の製造方法
KR20090065434A (ko) 플립 칩을 갖춘 집적회로 패키지 시스템
JP2001223326A (ja) 半導体装置
US8274144B2 (en) Helical springs electrical connecting a plurality of packages
US9917073B2 (en) Reconstituted wafer-level package dram with conductive interconnects formed in encapsulant at periphery of the package
CN101266966B (zh) 多芯片封装模块及其制造方法
KR101363993B1 (ko) 적층 반도체 패키
US20080012112A1 (en) Semiconductor package having advantage for stacking and stack-type semiconductor package
KR20100078957A (ko) 반도체 모듈
KR20100096911A (ko) 반도체 패키지 및 이를 이용한 임베디드 패키지 및 이를 이용한 스택 패키지
JP2005353687A (ja) 半導体装置用基板および半導体装置の製造方法
KR20100078959A (ko) 인쇄회로기판 및 이를 이용한 반도체 패키지
KR20070088058A (ko) 멀티 칩 패키지
KR20100030505A (ko) 반도체 패키지

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110509

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110509

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120802

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120802

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120813

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20120907

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20121219

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20121219

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20121226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130124

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130124

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130702

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130702

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130711

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131008

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20131008

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140328

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5522561

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250