JP5250048B2 - イオン移動度分光計 - Google Patents
イオン移動度分光計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5250048B2 JP5250048B2 JP2010543572A JP2010543572A JP5250048B2 JP 5250048 B2 JP5250048 B2 JP 5250048B2 JP 2010543572 A JP2010543572 A JP 2010543572A JP 2010543572 A JP2010543572 A JP 2010543572A JP 5250048 B2 JP5250048 B2 JP 5250048B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- mobility spectrometer
- separator
- ions
- ion mobility
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 416
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 144
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 claims description 32
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 claims description 32
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 17
- 230000004323 axial length Effects 0.000 claims description 12
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 11
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 4
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 claims description 2
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 claims description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 21
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 21
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 17
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 7
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001077 electron transfer detection Methods 0.000 description 3
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 description 3
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 2
- 238000000688 desorption electrospray ionisation Methods 0.000 description 2
- 238000001211 electron capture detection Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000010265 fast atom bombardment Methods 0.000 description 2
- 238000004992 fast atom bombardment mass spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001141 propulsive effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 102100022704 Amyloid-beta precursor protein Human genes 0.000 description 1
- 208000035699 Distal ileal obstruction syndrome Diseases 0.000 description 1
- 101000823051 Homo sapiens Amyloid-beta precursor protein Proteins 0.000 description 1
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 1
- DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N amyloid-beta polypeptide 42 Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC(O)=O)C(=O)N[C@H](C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CO)C(=O)N[C@@H](CC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@H](C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCSC)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)NCC(=O)NCC(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](C)C(O)=O)[C@@H](C)CC)C(C)C)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CC(C)C)NC(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC(O)=CC=1)NC(=O)CNC(=O)[C@H](CO)NC(=O)[C@H](CC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CCCNC(N)=N)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](C)NC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O)C(C)C)C(C)C)C1=CC=CC=C1 DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N 0.000 description 1
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000766 differential mobility spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 description 1
- 230000007515 enzymatic degradation Effects 0.000 description 1
- 230000006862 enzymatic digestion Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000000165 glow discharge ionisation Methods 0.000 description 1
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 1
- 238000001871 ion mobility spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N nickel-63 Chemical compound [63Ni] PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N 0.000 description 1
- 238000004150 penning trap Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000006276 transfer reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/622—Ion mobility spectrometry
- G01N27/623—Ion mobility spectrometry combined with mass spectrometry
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
イオントラップと、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータと、
イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるよう構成および適合されたデバイスと
を備える質量分析計が提供される。
(i)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段、ならびに/あるいは
(ii)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100% に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位または1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を印加するよう構成および適合された過渡DC電圧手段、ならびに/あるいは
(iii)イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備え得る。
一実施形態によると、質量分析計は、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上のイオンガイドを備え得る。
質量分析計は、イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの上流および/または下流に構成された1つ以上の質量フィルタを備え得、1つ以上の質量フィルタは、(i)四重極質量フィルタ、(ii)二次元または線形四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは三次元四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁場型質量フィルタ、(vii)飛行時間質量フィルタ、および(viii)ウィーンフィルタからなる群から選ばれてもよい。
(i)イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている。
(i)イオントラップの出口領域と、イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させるように構成されている。
イオントラップを準備する工程と、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータを準備する工程と、
イオントラップの出口領域とイオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位または電圧差を時間的に増加、減少または変化させる工程と
を含む質量分析の方法が提供される。
図1は、公知の構成によるイオントラップおよびイオン移動度分光計を、イオントラップの電位、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートの電位、およびイオン移動度分光計の長さに沿って維持される電位差を示す電位図と共に示し、
図2は、本発明の好ましい実施形態によるイオントラップおよびイオン移動度分光計を、イオントラップの電位、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートの電位、およびイオントラップの出口とイオン移動度分光計の入口との間の電位差を時間の関数として示す電位図と共に示し、
図3は、イオントラップの出口とイオン移動度分光計の入口との間に維持される注入電圧または電位差ΔVが、本発明の好ましい実施形態に従って時間の関数として増加するようにどのように構成されるかを示すとともに、注入電圧のタイミングが、イオントラップの出口に構成されたイオンゲートに印加される抽出パルスにどのように関係しているかを示す。
本発明を好ましい実施形態を参照して説明したが、添付の特許請求の範囲に記載の本発明の範囲から逸脱することなく、形態および詳細において種々の変更が可能であることが当業者には明らかである。
Claims (15)
- イオントラップと、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、前記イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータと、
前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位差または電圧差を増加させるよう構成および適合されたデバイスとを備え、
使用時に、イオンは、前記イオントラップを出射すると、その質量電荷比に応じて時間的に分離される質量分析計。 - 前記イオントラップが、
(i)多重極ロッドセットまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイドであって、前記ロッドセットイオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた多重極ロッドセットまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイド、
(ii)イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドであって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせたイオントンネルまたはイオンファネルイオンガイド、
(iii)イオンガイドを形成する積層または配列された平面状、板状、または網状の電極であって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた積層または配列された平面状、板状、または網状の電極、および
(iv)螺旋状イオンガイドであって、前記イオンガイド内にイオンを軸方向に閉じ込めるための1つ以上の電極またはイオンゲートと組み合わせた螺旋状イオンガイドからなる群から選ばれる、請求項1に記載の質量分析計。 - 使用時に、前記電位差または電圧差により、イオンが前記イオントラップから前記イオン移動度分光計またはセパレータ中へと加速される、請求項1または2に記載の質量分析計。
- 前記デバイスが、前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の前記電位差または電圧差を、線形的に、非線形的に、二次式的に、指数関数的に、階段状に、曲線状にまたは漸進的に、増加させるよう構成および適合されている、請求項1〜3のいずれか一項に記載の質量分析計。
- 前記イオン移動度分光計またはセパレータが、
(i)ドリフト管、
(ii)多重極ロッドセットイオンガイドまたはセグメント化多重極ロッドセットイオンガイド、
(iii)イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイド、
(iv)イオンガイドを形成する積層もしくは配列された平面状、板状、もしくは網状の電極、
(v)螺旋状イオンガイド、および
(vi)気相電気泳動デバイス
からなる群から選ばれる、請求項1〜4のいずれか一項に記載の質量分析計。 - 前記ドリフト管が、1つ以上の電極と、前記ドリフト管の軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って軸方向DC電圧勾配または実質的に一定もしくは線形の軸方向DC電圧勾配を維持するためのデバイスとを含む、請求項5に記載の質量分析計。
- 前記多重極ロッドセットイオンガイドが、四重極ロッドセットイオンガイド、六重極ロッドセットイオンガイド、八重極ロッドセットイオンガイドまたは8個を超えるロッドを含むロッドセットイオンガイドを含む、請求項2または5に記載の質量分析計。
- (i)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って実質的に一定のDC電圧勾配を維持するためのDC電圧手段、ならびに/あるいは
(ii)前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100% に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位または1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を印加するよう構成および適合された過渡DC電圧手段、ならびに/あるいは
(iii)前記イオントラップおよび/またはイオン移動度分光計もしくはセパレータの軸方向長さの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%もしくは100%に沿って少なくともいくつかのイオンを前進させるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極に2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備える、請求項1〜7のいずれか一項に記載の質量分析計。 - 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータが、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、(xi)200〜220mm、(xii)220〜240mm、(xiii)240〜260mm、(xiv)260〜280mm、(xv)280〜300mm、および(xvi)>300mmからなる群から選ばれる軸方向長さを有する、請求項1〜8のいずれか一項に記載の質量分析計。
- 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータが、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータ内にイオンを半径方向に閉じ込めるために、前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータを形成する電極の少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%、または100%にACまたはRF電圧を印加するよう構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに備える、請求項1〜9のいずれか一項に記載の質量分析計。
- 1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900、900〜1000、または>1000の範囲の質量電荷比を有する一価イオンが、(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜35ms、(xxxii)35〜40ms、(xxxiii)40〜45ms、(xxxiv)45〜50ms、(xxxv)50〜55ms、(xxxvi)55〜60ms、(xxxvii)60〜65ms、(xxxviii)65〜70ms、(xxxix)70〜75ms、(xl)75〜80ms、(xli)80〜85ms、(xlii)85〜90ms、(xliii)90〜95ms、(xliv)95〜100ms、および(xlv)>100msの範囲の前記イオン移動度分光計またはセパレータを通るドリフトまたは通過時間を有する、請求項1〜10のいずれか一項に記載の質量分析計。
- 前記イオントラップおよび/または前記イオン移動度分光計もしくはセパレータの少なくとも一部を(i)>0.001mbar、(ii)>0.01mbar、(iii)>0.1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)<0.001mbar、(viii)<0.01mbar、(ix)<0.1mbar、(x)<1mbar、(xi)<10mbar、(xii)<100mbar、(xiii)0.001〜0.01mbar、(xiv)0.01〜0.1mbar、(xiv)0.1〜1mbar、(xv)1〜10mbar、および(xvi)10〜100mbarからなる群から選ばれる圧力に維持するよう構成および適合されたデバイスをさらに備える、請求項1〜11のいずれか一項に記載の質量分析計。
- (a)前記イオン移動度分光計が、イオンをそのイオン移動度に応じて時間的に分離させるよう構成され、かつ/あるいは
(b)前記イオン移動度分光計が、イオンを電場強度に伴うそのイオン移動度の変化率に応じて時間的に分離させるよう構成および適合されたフィールド非対称イオン移動度分光計を含み、かつ/あるいは
(c)使用時に、緩衝、反応またはフラグメンテーションガスが前記イオン移動度分光計内に備えられる、請求項1〜12のいずれか一項に記載の質量分析計。 - (a)前記イオン移動度分光計を通過するイオンの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%、または100%の滞在、通過または反応時間が、(i)<1ms、(ii)1〜5ms、(iii)5〜10ms、(iv)10〜15ms、(v)15〜20ms、(vi)20〜25ms、(vii)25〜30ms、(viii)30〜35ms、(ix)35〜40ms、(x)40〜45ms、(xi)45〜50ms、(xii)50〜55ms、(xiii)55〜60ms、(xiv)60〜65ms、(xv)65〜70ms、(xvi)70〜75ms、(xvii)75〜80ms、(xviii)80〜85ms、(xix)85〜90ms、(xx)90〜95ms、(xxi)95〜100ms、(xxii)100〜105ms、(xxiii)105〜110ms、(xxiv)110〜115ms、(xxv)115〜120ms、(xxvi)120〜125ms、(xxvii)125〜130ms、(xxviii)130〜135ms、(xxix)135〜140ms、(xxx)140〜145ms、(xxxi)145〜150ms、(xxxii)150〜155ms、(xxxiii)155〜160ms、(xxxiv)160〜165ms、(xxxv)165〜170ms、(xxxvi)170〜175ms、(xxxvii)175〜180ms、(xxxviii)180〜185ms、(xxxix)185〜190ms、(xl)190〜195ms、(xli)195〜200ms、および(xlii)>200msからなる群から選ばれ、かつ/あるいは
(b)前記イオン移動度分光計が、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選ばれるサイクル時間を有する、請求項1〜13のいずれか一項に記載の質量分析計。 - イオントラップを準備する工程と、
複数の電極を含むイオン移動度分光計またはセパレータであって、前記イオントラップの下流に構成されたイオン移動度分光計またはセパレータを準備する工程と、
イオンを前記イオントラップから放出し、前記イオンが、前記イオントラップを出射すると、その質量電荷比に応じて時間的に分離される工程と、
前記イオントラップの出口領域と前記イオン移動度分光計またはセパレータの入口領域との間の電位差または電圧差を増加させる工程と
を含む質量分析の方法。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB0801309.6 | 2008-01-24 | ||
| GBGB0801309.6A GB0801309D0 (en) | 2008-01-24 | 2008-01-24 | Mass spectrometer |
| US3345808P | 2008-03-04 | 2008-03-04 | |
| US61/033,458 | 2008-03-04 | ||
| PCT/GB2009/000202 WO2009093045A2 (en) | 2008-01-24 | 2009-01-26 | Ion mobility spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011510463A JP2011510463A (ja) | 2011-03-31 |
| JP5250048B2 true JP5250048B2 (ja) | 2013-07-31 |
Family
ID=39186265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010543572A Active JP5250048B2 (ja) | 2008-01-24 | 2009-01-26 | イオン移動度分光計 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8415618B2 (ja) |
| EP (1) | EP2240952B1 (ja) |
| JP (1) | JP5250048B2 (ja) |
| CA (1) | CA2712459C (ja) |
| GB (2) | GB0801309D0 (ja) |
| WO (1) | WO2009093045A2 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0424426D0 (en) | 2004-11-04 | 2004-12-08 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| US9859105B2 (en) * | 2006-02-14 | 2018-01-02 | Excellims Corporation | Multiple ion gate method and apparatus |
| GB201122267D0 (en) * | 2011-12-23 | 2012-02-01 | Micromass Ltd | Multi-pass ion mobility separation device with moving exit aperture |
| GB201122251D0 (en) * | 2011-12-23 | 2012-02-01 | Micromass Ltd | Multi-pass ion mobility separation device |
| US9147565B1 (en) * | 2014-12-30 | 2015-09-29 | Morpho Detection, Llc | Ion mobility spectrometer and method of using the same |
| US9683964B2 (en) * | 2015-02-05 | 2017-06-20 | Bruker Daltonik Gmbh | Trapping ion mobility spectrometer with parallel accumulation |
| GB2538075B (en) * | 2015-05-05 | 2019-05-15 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Method and apparatus for injection of ions into an electrostatic ion trap |
| US11443933B1 (en) * | 2020-10-30 | 2022-09-13 | Agilent Technologies, Inc. | Inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) with ion trapping |
| CN119314854B (zh) * | 2023-07-13 | 2025-10-17 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种调控光电离源内离子分子反应进程的方法 |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001069221A2 (en) * | 2000-03-14 | 2001-09-20 | National Research Council Canada | Tandem high field asymmetric waveform ion mobility spectrometry (faims)/ion mobility spectrometry |
| US7586088B2 (en) * | 2001-06-21 | 2009-09-08 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer and method of mass spectrometry |
| US6630662B1 (en) | 2002-04-24 | 2003-10-07 | Mds Inc. | Setup for mobility separation of ions implementing an ion guide with an axial field and counterflow of gas |
| US6906319B2 (en) * | 2002-05-17 | 2005-06-14 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
| GB2390478B (en) | 2002-05-17 | 2004-06-02 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| US6992283B2 (en) * | 2003-06-06 | 2006-01-31 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
| GB0313016D0 (en) | 2003-06-06 | 2003-07-09 | Ms Horizons Ltd | Ion extraction |
| GB0420408D0 (en) | 2004-09-14 | 2004-10-20 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| JP4513488B2 (ja) * | 2004-10-06 | 2010-07-28 | 株式会社日立製作所 | イオンモビリティー分析装置及びイオンモビリティー分析方法 |
| GB0424426D0 (en) * | 2004-11-04 | 2004-12-08 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| GB0522933D0 (en) | 2005-11-10 | 2005-12-21 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| JP5233670B2 (ja) | 2005-11-16 | 2013-07-10 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
| GB0613900D0 (en) | 2006-07-13 | 2006-08-23 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| GB0703682D0 (en) | 2007-02-26 | 2007-04-04 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
| GB2457556B (en) * | 2007-02-26 | 2010-02-17 | Micromass Ltd | Helical ion guide |
-
2008
- 2008-01-24 GB GBGB0801309.6A patent/GB0801309D0/en not_active Ceased
-
2009
- 2009-01-26 WO PCT/GB2009/000202 patent/WO2009093045A2/en not_active Ceased
- 2009-01-26 EP EP09704908.4A patent/EP2240952B1/en active Active
- 2009-01-26 GB GB0901253.5A patent/GB2457783B/en active Active
- 2009-01-26 CA CA2712459A patent/CA2712459C/en active Active
- 2009-01-26 US US12/864,275 patent/US8415618B2/en active Active
- 2009-01-26 JP JP2010543572A patent/JP5250048B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2240952B1 (en) | 2017-05-03 |
| GB2457783A (en) | 2009-09-02 |
| CA2712459C (en) | 2016-10-25 |
| GB0901253D0 (en) | 2009-03-11 |
| CA2712459A1 (en) | 2009-07-30 |
| JP2011510463A (ja) | 2011-03-31 |
| GB2457783B (en) | 2012-08-01 |
| EP2240952A2 (en) | 2010-10-20 |
| GB0801309D0 (en) | 2008-03-05 |
| US8415618B2 (en) | 2013-04-09 |
| WO2009093045A3 (en) | 2009-12-10 |
| WO2009093045A2 (en) | 2009-07-30 |
| US20110284734A1 (en) | 2011-11-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5198467B2 (ja) | 質量分析計 | |
| EP2235739B1 (en) | Linear ion trap | |
| JP5250048B2 (ja) | イオン移動度分光計 | |
| US8426803B2 (en) | Mass spectrometer | |
| US9281171B2 (en) | Mass spectrometer | |
| US8803081B2 (en) | Mass spectrometer arranged to perform MS/MS/MS | |
| US8283628B2 (en) | Ion mobility spectrometer | |
| JP5175859B2 (ja) | 質量分析計 | |
| CA2827851A1 (en) | Ion guide with orthogonal sampling | |
| GB2467466A (en) | An ion trap with radially dependent axial ejection |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110930 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130128 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130131 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130227 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130319 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130412 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5250048 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160419 Year of fee payment: 3 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |