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JP4937014B2 - Blanking apparatus and electron beam drawing apparatus - Google Patents

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JP4937014B2
JP4937014B2 JP2007175029A JP2007175029A JP4937014B2 JP 4937014 B2 JP4937014 B2 JP 4937014B2 JP 2007175029 A JP2007175029 A JP 2007175029A JP 2007175029 A JP2007175029 A JP 2007175029A JP 4937014 B2 JP4937014 B2 JP 4937014B2
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Description

本発明は、ブランキング装置及び電子線描画装置に係り、更に詳しくは、基板に照射される電子線をブランキングするブランキング装置、及び電子線を用いて基板にパターンを描画する電子線描画装置に関する。   The present invention relates to a blanking apparatus and an electron beam drawing apparatus. More specifically, the present invention relates to a blanking apparatus that blanks an electron beam applied to a substrate, and an electron beam drawing apparatus that draws a pattern on a substrate using the electron beam. About.

近年、情報のデジタル化に伴い、光ディスクやハードディスクの大容量化に対する要求が高まっており、CD(Compact Disk)や、DVD(Digital Versatile Disk)などの従来型光ディスクに代わり、例えば波長が400nm程度の紫外光により情報の記録及び再生が行なわれる次世代型の光ディスクや、高密度記録が可能なパターンドメディアの研究開発が盛んに行なわれている。   In recent years, with the digitization of information, there has been an increasing demand for large capacity optical disks and hard disks. Instead of conventional optical disks such as CD (Compact Disk) and DVD (Digital Versatile Disk), for example, the wavelength is about 400 nm. Research and development of next-generation optical discs that record and reproduce information by ultraviolet light and patterned media capable of high-density recording are being actively conducted.

次世代型光ディスクの原盤(スタンパ)やパターンドメディアの記録媒体等の製造工程では、記録層に形成されるパターンが従来型の光ディスクに比べて微細であることから、例えば、極細線描画が可能な電子線描画装置がよく用いられている。この電子線描画装置は、回転する基板に電子線を照射して基板の表面にスパイラル状又は同心円状の微細パターンを描画するもの、或いは、XYステージによって水平面内を移動する基板に直線上の微細パターンを描画するものである。   In the manufacturing process of next-generation optical disc masters (stampers) and patterned media recording media, the pattern formed on the recording layer is finer than that of conventional optical discs. Such an electron beam drawing apparatus is often used. This electron beam drawing apparatus irradiates a rotating substrate with an electron beam and draws a spiral or concentric fine pattern on the surface of the substrate, or a fine line on a substrate moving in a horizontal plane by an XY stage. A pattern is drawn.

この種の電子線描画装置は、基板に描画するパターンに応じて、電子線を間欠的にブランキングさせることにより、電子線のオン・オフ制御を行うため、電子線をブランキングさせる精度及び応答性が、装置の描画性能やスループット性能に影響を与える。そこで、最近では、電子線のブランキング精度及び応答性を向上させる発明が種々提案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。   This type of electron beam drawing apparatus performs on / off control of the electron beam by intermittently blanking the electron beam according to the pattern to be drawn on the substrate. Affects the drawing performance and throughput performance of the apparatus. Therefore, recently, various inventions for improving the blanking accuracy and responsiveness of electron beams have been proposed (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).

特許文献1に記載の発明は、制御回路に、同軸伝送路を介して接続されたブランキング電極と、この電極に同軸伝送路を介して接続された終端抵抗を有する装置である。この装置では、制御回路の出力インピーダンスと電極に接続された2つの同軸伝送路双方の特性インピーダンスがほぼ一致しているため、電極に駆動信号を供給したとしても同軸伝送路までの伝送には問題が生じることはない。しかしながら、電極にて2つの同軸伝送路に分岐させているため、電極における特性インピーダンスと同軸伝送路の特性インピーダンスの整合がとれなくなり、制御回路と電極間で反射波が生じ、この反射波は制御回路側に伝搬されてしまう。この結果、電極に印加される電圧にオーバーシュートやリンキングが発生して電子線の照射位置に変動が生じ、結果的にパターン形状が鉤状になったり、涙形状になるといった不都合が生じる場合がある。   The invention described in Patent Document 1 is a device having a blanking electrode connected to a control circuit via a coaxial transmission line, and a termination resistor connected to the electrode via a coaxial transmission line. In this device, the output impedance of the control circuit and the characteristic impedance of both of the two coaxial transmission lines connected to the electrodes are almost the same, so even if a drive signal is supplied to the electrodes, there is a problem in transmission to the coaxial transmission line. Will not occur. However, since the electrode is branched into two coaxial transmission lines, the characteristic impedance of the electrode and the characteristic impedance of the coaxial transmission line cannot be matched, and a reflected wave is generated between the control circuit and the electrode. Propagated to the circuit side. As a result, overshoot and linking may occur in the voltage applied to the electrode, resulting in fluctuations in the electron beam irradiation position, resulting in inconveniences such as a pattern shape becoming a saddle shape or a tear shape. is there.

特許文献2に記載の発明は、内部導体、及びこの内部導体を覆うように設けられた外部導体を電極として備える装置である。この装置では、電子線のブランキング精度及び応答性の向上を図ることが可能であるが、終端器が電極としての内部導体と外部導体とに接続されている。このため、終端器での発熱による電極の伸長を回避するために、冷媒等によって電極を冷却する必要があり、装置の複雑化、ひいては装置の高コスト化を招来するという不都合がある。   The invention described in Patent Document 2 is an apparatus provided with an inner conductor and an outer conductor provided so as to cover the inner conductor as electrodes. In this apparatus, it is possible to improve the blanking accuracy and responsiveness of the electron beam, but the terminator is connected to an inner conductor and an outer conductor as electrodes. For this reason, in order to avoid the extension of the electrode due to heat generation in the terminator, it is necessary to cool the electrode with a refrigerant or the like, and there is an inconvenience that the device becomes complicated and consequently the cost of the device increases.

特許第3801333号公報Japanese Patent No. 3801333 特許第3057042号公報Japanese Patent No. 3057042

本発明は上述の事情の下になされたもので、その第1の目的は、装置の高コスト化を招くことなく、精度よく電子線のブランキングを行うことが可能なブランキング装置を提供することにある。   The present invention has been made under the above circumstances, and a first object thereof is to provide a blanking device capable of accurately performing electron beam blanking without increasing the cost of the device. There is.

また、本発明の第2の目的は、物体の表面に精度よくパターンを描画することが可能な電子線描画装置を提供することにある。   A second object of the present invention is to provide an electron beam drawing apparatus capable of drawing a pattern with high accuracy on the surface of an object.

本発明は、第1の観点からすると、基板に照射される電子線をブランキングするブランキング装置であって、前記電子線を介して相互に対向して配置される第1電極及び第2電極とを有するブランキング電極と;前記第1電極と前記第2電極の間に電位差を生じさせる駆動信号を生成する駆動回路と;前記駆動信号を熱エネルギーに変換する終端器と;前記駆動回路と、前記ブランキング電極とを電気的に接続する第1伝送路と;前記ブランキング電極と、前記終端器とを電気的に接続する第2伝送路と;前記ブランキング電極が収容される鏡筒と;を備え、前記駆動回路、前記第1伝送路、前記第2伝送路、前記ブランキング電極、及び終端器それぞれの特性インピーダンスは同等であり、前記駆動回路及び前記終端器は前記鏡筒の外部に配置され、前記第1伝送路、及び前記第2伝送路は、前記駆動信号の伝送路と、前記ブランキング電極を前記鏡筒の内部で支持する支持体とを兼ねるブランキング装置である。 In a first aspect, the present invention is a blanking device that blanks an electron beam applied to a substrate, and includes a first electrode and a second electrode that are arranged to face each other via the electron beam. A drive circuit that generates a drive signal that generates a potential difference between the first electrode and the second electrode; a terminator that converts the drive signal into thermal energy; and the drive circuit; A first transmission path that electrically connects the blanking electrode ; a second transmission path that electrically connects the blanking electrode and the terminator; and a lens barrel that houses the blanking electrode When; wherein the driving circuit, the first transmission channel, the second channel, the blanking electrode, and terminator respective characteristic impedance Ri equivalent der, said driving circuit and said terminator is the barrel Outside Is location, the first transmission path, and said second transmission line, the transmission path of the driving signal, a blanking device which also serves as a support for supporting the blanking electrode within said barrel.

これによれば、精度よく電子線のブランキングを行うことが可能となる。また、装置の小型化及び低コスト化を図ることが可能となる。 According to this, it becomes possible to perform the blanking accuracy better electron beam. Also, it is possible to reduce the size and cost of the equipment.

また、本発明は第2の観点からすると、電子線を用いて基板にパターンを描画する電子線描画装置であって、前記電子ビームを射出する電子源と;前記電子源から射出された電子線をブランキングする本発明のブランキング装置と;を備える電子線描画装置である。   According to a second aspect of the present invention, there is provided an electron beam drawing apparatus for drawing a pattern on a substrate using an electron beam, the electron source emitting the electron beam; and the electron beam emitted from the electron source An electron beam drawing apparatus comprising:

これによれば、電子源から射出された電子線を、本発明のブランキング装置によって精度よくブランキングすることができるため、結果的に基板に精度よくパターンを描画することが可能となる。   According to this, since the electron beam emitted from the electron source can be blanked with high accuracy by the blanking device of the present invention, it is possible to draw a pattern on the substrate with high accuracy.

以下、本発明の一実施形態を図1〜図4に基づいて説明する。図1には本実施形態に係る電子線描画装置100の概略構成が示されている。この電子線描画装置100は、例えば真空度が10-6Pa〜10-7Pa程度の環境下において、レジスト材がコーティングされた基板Wに電子ビームを照射して、基板Wの描画面に微細パターンを描画する電子線描画装置である。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a schematic configuration of an electron beam drawing apparatus 100 according to the present embodiment. The electron beam lithography apparatus 100 irradiates a substrate W coated with a resist material with an electron beam in an environment having a degree of vacuum of about 10 −6 Pa to 10 −7 Pa, for example. An electron beam drawing apparatus for drawing a pattern.

図1に示されるように、この電子線描画装置100は、電子ビームを基板に照射する照射装置10、基板が載置される回転テーブル31を備える回転テーブルユニット30、回転テーブルユニット30を収容する真空チャンバ40、及び上記各部を統括的に制御する制御装置50などを備えている。   As shown in FIG. 1, the electron beam drawing apparatus 100 accommodates an irradiation apparatus 10 that irradiates a substrate with an electron beam, a rotary table unit 30 that includes a rotary table 31 on which the substrate is placed, and a rotary table unit 30. A vacuum chamber 40 and a control device 50 for comprehensively controlling each of the above parts are provided.

前記真空チャンバ40は、直方体状の中空部材であり上面には円形の開口が形成されている。   The vacuum chamber 40 is a rectangular parallelepiped hollow member, and a circular opening is formed on the upper surface.

前記回転テーブルユニット30は、真空チャンバ40内部の底壁面上に配置されている。この回転テーブルユニット30は、基板Wが載置される回転テーブル31、回転テーブル31を、水平に支持するとともに所定の回転数で軸32aを介して回転するスピンドルモータ32、及びスピンドルモータ32を支持するとともにX軸方向に所定のストロークで駆動するスライドユニット33を備えている。   The rotary table unit 30 is disposed on the bottom wall surface inside the vacuum chamber 40. The turntable unit 30 supports the turntable 31 on which the substrate W is placed, the turntable 31 horizontally, a spindle motor 32 that rotates through a shaft 32a at a predetermined rotation number, and the spindle motor 32. In addition, a slide unit 33 that is driven with a predetermined stroke in the X-axis direction is provided.

前記照射装置10は、長手方向をZ軸方向とするケーシング11と、該ケーシング11の内部上方から下方に向かって順次配置された、電子銃12、磁界レンズ13、ブランキング装置20、走査電極16、及び対物レンズ17を備えている。   The irradiation device 10 includes a casing 11 whose longitudinal direction is the Z-axis direction, and an electron gun 12, a magnetic lens 13, a blanking device 20, and a scanning electrode 16, which are sequentially arranged from the upper side to the lower side of the casing 11. , And an objective lens 17.

前記ケーシング11は、下方が開放された円筒状のケーシングであり、真空チャンバ40上面に形成された開口に、上方から隙間なく嵌合されている。そして、真空チャンバ40内部に位置する部分は、その直径が−Z方向に向かって小さくなるテーパー形状となっている。また、ケーシング11は、照射装置10のXY断面図である図2を参照するとわかるように、長手方向をZ軸方向とする円筒状の鏡筒11bと、該鏡筒11bを包囲するように設けられた電磁シールド11aとを有している。   The casing 11 is a cylindrical casing that is open at the bottom, and is fitted into an opening formed on the upper surface of the vacuum chamber 40 from above without any gap. And the part located in the inside of the vacuum chamber 40 is a taper shape in which the diameter becomes small toward -Z direction. The casing 11 is provided so as to surround the lens barrel 11b and a cylindrical lens barrel 11b whose longitudinal direction is the Z-axis direction, as can be seen with reference to FIG. 2 which is an XY sectional view of the irradiation device 10. The electromagnetic shield 11a is provided.

鏡筒11bは、その内部空間が所定の真空度(例えば、10-6Pa〜10-7Pa程度)に維持された真空空間となっており、この真空空間には、電子銃12、磁界レンズ13、ブランキング装置20に含まれるブランキング電極14a,14bとアパーチャ部材15、走査電極16、及び対物レンズ17などが収容されている。また、電磁シールド11aは、電磁波等を遮蔽するシールドであり、鏡筒11bに収容される機器が、外部機器からの電磁波や地磁気などによって受ける影響を遮断する。 The lens barrel 11b is a vacuum space whose internal space is maintained at a predetermined degree of vacuum (for example, about 10 −6 Pa to 10 −7 Pa). The vacuum space includes an electron gun 12, a magnetic lens, and the like. 13, the blanking electrodes 14a and 14b included in the blanking device 20, the aperture member 15, the scanning electrode 16, the objective lens 17, and the like are accommodated. The electromagnetic shield 11a is a shield that shields electromagnetic waves and the like, and blocks the influence of the equipment accommodated in the lens barrel 11b from electromagnetic waves and geomagnetism from external equipment.

図1に戻り、前記電子銃12は、前記ケーシング11の内部上方に配置されている。この電子銃12は、陰極から熱と電界により取り出した電子を射出する熱電界放射型の電子銃であり、例えば、直径20〜50nm程度の電子ビームを下方(−Z方向)へ射出する。   Returning to FIG. 1, the electron gun 12 is disposed inside the casing 11. The electron gun 12 is a thermal field emission type electron gun that emits electrons extracted from the cathode by heat and an electric field, and emits, for example, an electron beam having a diameter of about 20 to 50 nm downward (−Z direction).

前記磁界レンズ13は、電子銃12の下方に配置された環状のレンズであり、電子銃12から下方に射出された電子ビームに対して集束する方向のパワーを作用させる。   The magnetic field lens 13 is an annular lens disposed below the electron gun 12, and acts on the electron beam emitted downward from the electron gun 12 in a focusing direction.

前記ブランキング装置20は静電偏向型のブランキング装置であり、制御装置50の指示に基づいて、下方に進行する電子ビームを+X方向又は−X方向へ偏向することによって、電子ビームのブランキングを行う。このブランキング装置20の構成及び動作は後述する。   The blanking device 20 is an electrostatic deflection blanking device, and deflects an electron beam traveling downward in the + X direction or the −X direction based on an instruction from the control device 50, thereby blanking the electron beam. I do. The configuration and operation of the blanking device 20 will be described later.

前記走査電極16は、ブランキング装置20の下方に配置されている。この走査電極16は、X軸方向に相互に対向するように配置された1対の電極と、Y軸方向に相互に対向するように配置された1対の電極とを有し、制御装置50によって印加される電圧に応じて、アパーチャ部材15を通過した電子ビームをX軸方向又Y軸方向へ偏向する。   The scanning electrode 16 is disposed below the blanking device 20. The scanning electrode 16 has a pair of electrodes arranged so as to face each other in the X-axis direction and a pair of electrodes arranged so as to face each other in the Y-axis direction. The electron beam that has passed through the aperture member 15 is deflected in the X-axis direction or the Y-axis direction according to the voltage applied by.

前記対物レンズ17は、走査電極16の下方に配置され、走査電極16を通過した電子ビームを、回転テーブル31に載置された基板の表面に収束する。   The objective lens 17 is disposed below the scanning electrode 16 and converges the electron beam that has passed through the scanning electrode 16 on the surface of the substrate placed on the rotary table 31.

次に上述したブランキング装置20について説明する。前記ブランキング装置20は静電偏向型のブランキング装置であり、図1及び図2を参照するとわかるように、1組のブランキング電極14a,14bと、ブランキング電極14a,14bに電気的に接続された駆動回路21及び終端器25と、前記ブランキング電極14a,14bと駆動回路21及び終端器25とを電気的に接続する第1同軸伝送路24A及び第2同軸伝送路24Bと、ブランキング電極14a,14bの下方に配置されたアパーチャ部材15などを含んで構成されている。   Next, the above-described blanking device 20 will be described. The blanking device 20 is an electrostatic deflection blanking device. As can be seen from FIGS. 1 and 2, the blanking device 20 is electrically connected to a set of blanking electrodes 14a and 14b and blanking electrodes 14a and 14b. A drive circuit 21 and a terminator 25 connected to each other; a first coaxial transmission line 24A and a second coaxial transmission line 24B that electrically connect the blanking electrodes 14a and 14b to the drive circuit 21 and the terminator 25; The aperture member 15 is arranged below the ranking electrodes 14a and 14b.

図3は、前記第1同軸伝送路24Aと、前記第2同軸伝送路24Bとを断面して示す図である。この図3及び図2を総合して見るとわかるように、第1同軸伝送路24Aは、長手方向をY軸方向とする円柱状の内部導体24aと、この内部導体24aを包囲する、+Y側端部に段つきのフランジ部24cが形成された外部導体24bとを有している。内部導体24aの外径は、外部導体24bの内径よりも十分に小さくなっており、例えば、図4に示されるように、外部導体24bの+Y側端部に設けられたセラミック製の碍子23cによって、内部導体24aが外部導体24bに対して非接触で支持されることにより、内部導体24aと外部導体24bとは電気的に絶縁されている。   FIG. 3 is a cross-sectional view of the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B. 3 and 2, the first coaxial transmission line 24A includes a cylindrical inner conductor 24a whose longitudinal direction is the Y-axis direction, and the + Y side surrounding the inner conductor 24a. And an outer conductor 24b having a stepped flange 24c formed at the end. The outer diameter of the inner conductor 24a is sufficiently smaller than the inner diameter of the outer conductor 24b. For example, as shown in FIG. 4, a ceramic insulator 23c provided at the + Y side end of the outer conductor 24b. The inner conductor 24a is supported in a non-contact manner with respect to the outer conductor 24b, whereby the inner conductor 24a and the outer conductor 24b are electrically insulated.

上述のように構成された第1同軸伝送路24Aは、鏡筒11bの+Y側に形成された開口部11cに、+Y側から内部導体24a及び外部導体24bが挿入された状態で、フランジ部24cが開口部11cに隙間なく嵌合することで、鏡筒11bに取り付けられている。なお、この状態のときにも、第1同軸伝送路24Aに設けられたフランジ部24cと鏡筒11bの外壁面との間に配置されたOリング、及び内部導体24aと外部導体24bとの間に配置された碍子23cによって、鏡筒11bの内部空間の気密性は維持されている。   The first coaxial transmission line 24A configured as described above has the flange portion 24c in a state where the inner conductor 24a and the outer conductor 24b are inserted from the + Y side into the opening portion 11c formed on the + Y side of the lens barrel 11b. Is attached to the lens barrel 11b by being fitted into the opening 11c without a gap. Even in this state, the O-ring disposed between the flange portion 24c provided on the first coaxial transmission line 24A and the outer wall surface of the lens barrel 11b, and between the inner conductor 24a and the outer conductor 24b. The airtightness of the internal space of the lens barrel 11b is maintained by the lever 23c arranged in the frame.

前記第2同軸伝送路24Bは、上述した第1同軸伝送路24Aと同等の構成を有し、鏡筒11bの−Y側に形成された開口部11cに、+Y側から内部導体24a及び外部導体24bが挿入された状態で、フランジ部24cが開口部11cに隙間なく嵌合することで、鏡筒11bに取り付けられている。   The second coaxial transmission line 24B has the same configuration as the first coaxial transmission line 24A described above, and the inner conductor 24a and the outer conductor are formed from the + Y side into the opening 11c formed on the -Y side of the lens barrel 11b. In the state where 24b is inserted, the flange portion 24c is fitted to the opening portion 11c without a gap, thereby being attached to the lens barrel 11b.

前記1組のブランキング電極14a,14bそれぞれは、X軸方向に所定間隔隔てて相互に対向するように配置された長方形板状の電極である。図2に示されるように、ブランキング電極14aは、+Y側端が第1同軸伝送路24Aの内部導体24aに接続され、−Y側端が、第2同軸伝送路24Bの内部導体24aに接続されることで、Z軸方向を長手方向として支持されている。また、ブランキング電極14bは、+Y側端が第1同軸伝送路24Aの外部導体24bに接続され、−Y側端が、第2同軸伝送路24Bの外部導体24bに接続されることで、ブランキング電極14aの+X側にZ軸方向を長手方向として支持されている。   Each of the pair of blanking electrodes 14a and 14b is a rectangular plate electrode disposed so as to be opposed to each other at a predetermined interval in the X-axis direction. As shown in FIG. 2, the blanking electrode 14a has a + Y side end connected to the inner conductor 24a of the first coaxial transmission line 24A and a -Y side end connected to the inner conductor 24a of the second coaxial transmission line 24B. As a result, the Z-axis direction is supported as the longitudinal direction. Further, the blanking electrode 14b has a + Y side end connected to the outer conductor 24b of the first coaxial transmission line 24A and a −Y side end connected to the outer conductor 24b of the second coaxial transmission line 24B. A Z-axis direction is supported as a longitudinal direction on the + X side of the ranking electrode 14a.

前記駆動回路21は、一例として電磁シールド11aの+Y側の外壁面に配置された電子基板などに形成され、制御装置50の指示に基づいて、1組のブランキング電極14a、14b間に電位差を与えるための矩形波状の駆動信号を出力する。この駆動回路21は、一例として図4に示されるように、第1同軸伝送路24Aの+Y側端部に設けられた、ピン23a及び外部コネクタ23bからなるBNCコネクタ23Aに接続された同軸ケーブル22(図2参照)を介して第1同軸伝送路24Aに電気的に接続されている。   The drive circuit 21 is formed on an electronic board or the like disposed on the outer wall surface on the + Y side of the electromagnetic shield 11a as an example, and generates a potential difference between the pair of blanking electrodes 14a and 14b based on instructions from the control device 50. A rectangular wave drive signal for giving is output. As shown in FIG. 4 as an example, the drive circuit 21 includes a coaxial cable 22 connected to a BNC connector 23A including a pin 23a and an external connector 23b provided at the + Y side end of the first coaxial transmission line 24A. It is electrically connected to the first coaxial transmission line 24A via (see FIG. 2).

前記終端器25は、1組のブランキング電極14a、14bに対して両端が電気的に接続される終端抵抗を含んで構成されている。この終端器25は、例えば図2に示されるように、第2同軸伝送路24Bの−Y側端部に、BNCコネクタ23Bを介して電気的に接続されている。   The terminator 25 includes a terminating resistor whose both ends are electrically connected to a set of blanking electrodes 14a and 14b. For example, as shown in FIG. 2, the terminator 25 is electrically connected to the -Y side end of the second coaxial transmission line 24B via a BNC connector 23B.

本実施形態では、同軸ケーブル22として特性インピーダンスが50Ωのものを使用し、第1同軸伝送路24A、第2同軸伝送路24B、及びブランキング電極14a,14bの特性インピーダンスはそれぞれ50Ωとされ、更に、駆動回路21の出力インピーダンス及び終端器25のインピーダンス(抵抗値)は50Ωに調整されている。   In this embodiment, the coaxial cable 22 having a characteristic impedance of 50Ω is used, and the characteristic impedances of the first coaxial transmission line 24A, the second coaxial transmission line 24B, and the blanking electrodes 14a and 14b are 50Ω, respectively. The output impedance of the drive circuit 21 and the impedance (resistance value) of the terminator 25 are adjusted to 50Ω.

例えば、第1同軸伝送路24A,及び第2同軸伝送路24Bに関しては、内部導体24aの外径を2a(m)、外部導体24bの内径を2b(m)、鏡筒11bの内部空間の透磁率及び誘電率をそれぞれμ、εとすると、第1同軸伝送路24A、及び第2同軸伝送路24Bの特性インピーダンスZ(Ω)は次式(1)で示される。したがって、本実施形態では、内部導体24aの外径を2.0×10-3(m)、外部導体24bの内径を4.6×10-3(m)として設計し、第1同軸伝送路24A,及び第2同軸伝送路24Bの特性インピーダンスを50Ωとする。 For example, regarding the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B, the outer diameter of the inner conductor 24a is 2a (m), the inner diameter of the outer conductor 24b is 2b (m), and the inner space of the lens barrel 11b is transparent. When the magnetic susceptibility and the dielectric constant are μ 0 and ε 0 , the characteristic impedance Z 0 (Ω) of the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B is expressed by the following equation (1). Therefore, in the present embodiment, the inner conductor 24a is designed to have an outer diameter of 2.0 × 10 −3 (m) and the outer conductor 24b has an inner diameter of 4.6 × 10 −3 (m). The characteristic impedance of 24A and the second coaxial transmission line 24B is 50Ω.

Figure 0004937014
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また、ブランキング電極14a,14bに関しては、対向するブランキング電極14a,14bのギャップ長(距離)をd(m)、ブランキング電極14a,14bのY軸方向の寸法をw(m)、ブランキング電極14a,14b間の比透磁率をμ、ブランキング電極14a,14b間の比誘電率をεとすると、ブランキング電極14a,14bの特性インピーダンスZは次式(2)で示される。したがって、本実施形態では、ブランキング電極14a,14bのギャップ長(距離)を2.0×10-3(m)、ブランキング電極14a,14bのY軸方向の寸法を15.0×10-3(m)として設計し、ブランキング電極14a,14bでの特性インピーダンスを50Ωとする。 For the blanking electrodes 14a and 14b, the gap length (distance) of the opposing blanking electrodes 14a and 14b is d (m), the dimension of the blanking electrodes 14a and 14b in the Y-axis direction is w (m), Ranking electrodes 14a, the relative permeability mu r between 14b, blanking electrodes 14a, when the relative dielectric constant of between 14b and epsilon r, the blanking electrodes 14a, the characteristic impedance Z 0 of 14b is represented by the following formula (2) It is. Therefore, in this embodiment, the gap length (distance) of the blanking electrodes 14a and 14b is 2.0 × 10 −3 (m), and the dimension of the blanking electrodes 14a and 14b in the Y-axis direction is 15.0 × 10 −. 3 Designed as (m), and the characteristic impedance at the blanking electrodes 14a and 14b is 50Ω.

Figure 0004937014
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図1に戻り、アパーチャ部材15は、中央に電子ビームが通過する開口が設けられた板状の部材である。このアパーチャ部材15は、ブランキング電極14a,14bを通過した電子ビームが収束する点近傍に開口が位置するように配置されている。   Returning to FIG. 1, the aperture member 15 is a plate-like member having an opening through which an electron beam passes in the center. The aperture member 15 is arranged so that the opening is located in the vicinity of the point where the electron beam that has passed through the blanking electrodes 14a and 14b converges.

図1に示されるように、上述のように構成された照射装置10では、電子銃12から射出された電子ビームは、磁界レンズ13を通過することにより集束され、ブランキング装置20のアパーチャ部材15に設けられた開口近傍(以下、クロスオーバポイントという)で一旦交差される。次に、クロスオーバポイントを通過した電子ビームは、発散しつつアパーチャ16を通過することによりそのビーム径が整形される。そして、対物レンズ17によって、回転テーブル31に載置された基板Wの表面に収束される。   As shown in FIG. 1, in the irradiation device 10 configured as described above, the electron beam emitted from the electron gun 12 is focused by passing through the magnetic lens 13, and the aperture member 15 of the blanking device 20. Is once crossed in the vicinity of the opening (hereinafter referred to as a crossover point). Next, the beam diameter of the electron beam that has passed the crossover point is shaped by passing through the aperture 16 while diverging. Then, the light is converged on the surface of the substrate W placed on the rotary table 31 by the objective lens 17.

また、上記動作と並行して、ブランキング装置20の駆動回路21を駆動して、ブランキング電極14a,14b間に電位差を生じさせ、電子ビームをX軸方向に偏向させることで、アパーチャ部材15で電子ビームを遮蔽し、基板Wに対する電子ビームのブランキングをすることができるようになっている。また、走査電極16に印加する電圧を制御して、電子ビームをX軸方向又はY軸方向に偏向させることにより、基板W上の電子ビーム照射位置の調整を行うことができるようになっている。   In parallel with the above operation, the drive circuit 21 of the blanking device 20 is driven to generate a potential difference between the blanking electrodes 14a and 14b, thereby deflecting the electron beam in the X-axis direction. Thus, the electron beam can be shielded and blanking of the electron beam with respect to the substrate W can be performed. Further, the electron beam irradiation position on the substrate W can be adjusted by controlling the voltage applied to the scanning electrode 16 to deflect the electron beam in the X-axis direction or the Y-axis direction. .

制御装置50は、一例としてCPU、及び上記各部を制御するプログラムやパラメータが格納されたメモリなどを含んで構成された制御用コンピュータである。この制御装置50は、例えばユーザから指令に基づいて、照射装置10及び回転テーブルユニット30を統括的に制御する。   The control device 50 is, for example, a control computer that includes a CPU and a memory that stores programs and parameters for controlling the above-described units. The control device 50 comprehensively controls the irradiation device 10 and the rotary table unit 30 based on, for example, a command from the user.

上述した電子線描画装置100では、描画開始指令が入力または通知されると、制御装置50は、まず回転テーブルユニット30を駆動することにより、基板Wを+X方向へ微小移動させながら所定の回転数で回転させる。次に、照射装置10を駆動して、描画パターンに基づいて電子ビームをブランキングさせることにより変調された電子ビームを、基板Wの表面に照射して、基板Wの表面に同心円状又はスパイラル状のパターンを形成する。   In the electron beam drawing apparatus 100 described above, when a drawing start command is input or notified, the control device 50 first drives the rotary table unit 30 to thereby move the substrate W in the + X direction with a predetermined rotational speed. Rotate with Next, the irradiation apparatus 10 is driven to irradiate the surface of the substrate W with the electron beam modulated by blanking the electron beam based on the drawing pattern, and the surface of the substrate W is concentrically or spirally formed. The pattern is formed.

以上説明したように、本実施形態にかかるブランキング装置20では、第1同軸伝送路24Aと第2同軸伝送路24Bとによって、ブランキング電極14a,14bに対して、駆動回路21、及び終端器25が電気的に接続されている。そして、本実施形態では、駆動回路21の出力インピーダンス、同軸ケーブル22、第1同軸伝送路24A、第2同軸伝送路24B、ブランキング電極14a,14b、及び終端器25の特性インピーダンスが50Ωとなっている。   As described above, in the blanking device 20 according to the present embodiment, the drive circuit 21 and the terminator are connected to the blanking electrodes 14a and 14b by the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B. 25 is electrically connected. In this embodiment, the output impedance of the drive circuit 21, the characteristic impedance of the coaxial cable 22, the first coaxial transmission line 24A, the second coaxial transmission line 24B, the blanking electrodes 14a and 14b, and the terminator 25 are 50Ω. ing.

したがって、駆動回路21から出力される駆動信号は、第1同軸伝送路24A、第2同軸伝送路24B、及びブランキング電極14a,14bで反射されることなく、終端器25に到達し、終端器25において熱に変換されることにより吸収される。これによって、駆動信号にオーバーシュートやリンキングが発生することがなくなり、精度よく電子線のブランキングを行うことが可能となる。   Therefore, the drive signal output from the drive circuit 21 reaches the terminator 25 without being reflected by the first coaxial transmission line 24A, the second coaxial transmission line 24B, and the blanking electrodes 14a and 14b. 25 is absorbed by being converted to heat. As a result, overshoot and linking do not occur in the drive signal, and electron beam blanking can be performed with high accuracy.

図5(A)は、ブランキング電極14a,14b間に矩形波状の電圧が印加されたときに、基板W上に形成されるマークMを示す図である。本実施形態では、上述したように、駆動回路21の出力インピーダンス、同軸ケーブル22、第1同軸伝送路24A、第2同軸伝送路24B、ブランキング電極14a,14b、及び終端器25の特性インピーダンスが50Ωに揃えられている。このため、駆動回路21から終端器25までの間で駆動信号が反射されることがなく、ブランキング電極14a,14b間の電圧は、駆動回路21から出力されたオフ時間T1でオン時間がT2となる矩形波状の駆動信号と同等となる。このため、駆動信号の値がローレベルL(0V)のときに、図5(A)に示されるようにマークMが基板上に形成される。   FIG. 5A shows a mark M formed on the substrate W when a rectangular wave voltage is applied between the blanking electrodes 14a and 14b. In the present embodiment, as described above, the output impedance of the drive circuit 21, the characteristic impedance of the coaxial cable 22, the first coaxial transmission line 24A, the second coaxial transmission line 24B, the blanking electrodes 14a and 14b, and the terminator 25 are as follows. 50Ω is available. Therefore, the drive signal is not reflected between the drive circuit 21 and the terminator 25, and the voltage between the blanking electrodes 14a and 14b is the off time T1 output from the drive circuit 21 and the on time T2. It becomes equivalent to the rectangular-wave drive signal. Therefore, when the value of the drive signal is low level L (0 V), the mark M is formed on the substrate as shown in FIG.

一方、図5(B)は、ブランキング電極14a,14b間に、オーバーシュートやリンキング成分を含む整定性の悪い電圧が印加されたときに、基板W上に形成されるマークMを示す図である。ブランキング電極14aに印加される電圧に、駆動信号の反射波成分が含まれる場合には、図5(B)に示される例のように、涙形状となってしまう。本実施形態にかかる電子線描画装置100では、ブランキング装置20によって、一例として図5(A)に示されるように、ブランキング電極14a,14bに整定性の良い矩形波状の電圧が印加されるため、基板WにマークMからなるパターンを精度よく描画することが可能となる。   On the other hand, FIG. 5B shows a mark M formed on the substrate W when a voltage having poor settling including overshoot and linking components is applied between the blanking electrodes 14a and 14b. is there. When the reflected wave component of the drive signal is included in the voltage applied to the blanking electrode 14a, a tear shape is formed as in the example shown in FIG. In the electron beam drawing apparatus 100 according to the present embodiment, a rectangular wave voltage with good settling is applied to the blanking electrodes 14a and 14b by the blanking apparatus 20 as shown in FIG. 5A as an example. Therefore, it is possible to accurately draw a pattern made of the mark M on the substrate W.

また、本実施形態では、ブランキング電極14a,14bは、第1同軸伝送路24A、及び第2同軸伝送路24Bを介して、発熱源となる駆動回路21及び終端器25に接続されている。したがって、ブランキング電極14a,14bが、駆動回路21及び終端器25で発生する熱による影響を受けることがない。さらに駆動回路21及び終端器25は、ケーシング11の外部に配置されている。これにより、大気中への放熱効果を向上することができ、結果的に冷却機構等を装置に付属させる必要がなくなり、装置の小型化及び低コスト化を図ることが可能となる。   In the present embodiment, the blanking electrodes 14a and 14b are connected to the drive circuit 21 and the terminator 25 that serve as heat sources via the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B. Therefore, the blanking electrodes 14 a and 14 b are not affected by the heat generated in the drive circuit 21 and the terminator 25. Furthermore, the drive circuit 21 and the terminator 25 are disposed outside the casing 11. As a result, the effect of heat radiation to the atmosphere can be improved, and as a result, there is no need to attach a cooling mechanism or the like to the apparatus, and the apparatus can be reduced in size and cost.

また、本実施形態では、ブランキング電極14a,14bそれぞれは、第1同軸伝送路24A及び第2同軸伝送路24Bによって、駆動回路21及び終端器25と電気的に接続されるとともに、鏡筒11b内のほぼ中央で支持されている。このため、電極を他の支持部材等で支持する必要がなく、装置の構造を簡略化することが可能となる。   In the present embodiment, each of the blanking electrodes 14a and 14b is electrically connected to the drive circuit 21 and the terminator 25 by the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B, and the lens barrel 11b. It is supported at the center of the inside. For this reason, it is not necessary to support an electrode with another support member etc., and it becomes possible to simplify the structure of an apparatus.

また、第1同軸伝送路24A及び第2同軸伝送路24Bは相互に同等の構成を有している。このため、ブランキング電極14a,14bを中心に機械的特性が対称となり、ブランキング電極14a,14bの自重にともなう姿勢の変動を極力小さく抑えることができる。したがって、電子線に対して再現性のある安定したブランキング制御を行なうことができ、結果的に基板Wに対して精度よくパターンを描画することが可能となる。   Further, the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B have the same configuration. Therefore, the mechanical characteristics are symmetric with respect to the blanking electrodes 14a and 14b, and the change in posture due to the weight of the blanking electrodes 14a and 14b can be minimized. Therefore, stable blanking control with reproducibility can be performed on the electron beam, and as a result, a pattern can be drawn on the substrate W with high accuracy.

更に、第1同軸伝送路24A及び第2同軸伝送路24Bは相互に同等の構成を有していることから、駆動回路21及び終端器25からの発熱によって、第1同軸伝送路24A及び第2同軸伝送路24Bが熱膨張する場合にも、双方が同等に熱膨張するため、電極位置のズレを回避することができる。したがって、電子線に対して再現性のある安定したブランキング制御を行なうことができ、結果的に基板Wに対して精度よくパターンを描画することが可能となる。   Further, since the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B have the same configuration, the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24A are generated by heat generated from the drive circuit 21 and the terminator 25. Even when the coaxial transmission line 24B is thermally expanded, both of them are thermally expanded equally, so that the displacement of the electrode position can be avoided. Therefore, stable blanking control with reproducibility can be performed on the electron beam, and as a result, a pattern can be drawn on the substrate W with high accuracy.

以上説明したように、本発明のブランキング装置は、基板に照射される電子ビームをブランキングするのに適している。また、本発明の電子線描画装置は、基板にパターンを描画するのに適している。   As described above, the blanking device of the present invention is suitable for blanking the electron beam irradiated on the substrate. The electron beam drawing apparatus of the present invention is suitable for drawing a pattern on a substrate.

本発明の一実施形態に係る電子線描画装置100の概略的な構成を示す図である。1 is a diagram illustrating a schematic configuration of an electron beam lithography apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. 照射装置10のXY断面図である。It is XY sectional drawing of the irradiation apparatus 10. FIG. 第1同軸伝送路24Aと、第2同軸伝送路24Bとを断面して示す図である。It is a figure showing a section of the first coaxial transmission line 24A and the second coaxial transmission line 24B. 第1同軸伝送路24Aに設けられたBNCコネクタ23Aの断面図である。It is sectional drawing of BNC connector 23A provided in the 1st coaxial transmission line 24A. 図5(A)及び図5(B)は、ブランキング電極14a,14b間に印加される電圧と基板に形成されるマーク形状との関係を説明するための図である。5A and 5B are diagrams for explaining the relationship between the voltage applied between the blanking electrodes 14a and 14b and the shape of the mark formed on the substrate.

符号の説明Explanation of symbols

10…照射装置、11…ケーシング、11a…電磁シールド、11b…鏡筒、12…電子銃、13…磁界レンズ、14a,14b…ブランキング電極、15…アパーチャ部材、16…走査電極、17…対物レンズ、20…ブランキング装置、21…駆動回路、22…同軸ケーブル、23A,23B…BNCコネクタ、23a…ピン、23b…外部コネクタ、23c…碍子、24A…第1同軸伝送路、24B…第2同軸伝送路、24a…内部導体、24b…外部導体、24c…フランジ部、25…終端器、30…回転テーブルユニット、31…回転テーブル、32…スピンドルモータ、32a…軸、33…スライドユニット、40…真空チャンバ、50…制御装置、100…電子線描画装置、W…基板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Irradiation device, 11 ... Casing, 11a ... Electromagnetic shield, 11b ... Lens barrel, 12 ... Electron gun, 13 ... Magnetic lens, 14a, 14b ... Blanking electrode, 15 ... Aperture member, 16 ... Scanning electrode, 17 ... Objective Lens, 20 ... Blanking device, 21 ... Drive circuit, 22 ... Coaxial cable, 23A, 23B ... BNC connector, 23a ... Pin, 23b ... External connector, 23c ... Insulator, 24A ... First coaxial transmission line, 24B ... Second Coaxial transmission path, 24a ... inner conductor, 24b ... outer conductor, 24c ... flange, 25 ... terminator, 30 ... rotary table unit, 31 ... rotary table, 32 ... spindle motor, 32a ... shaft, 33 ... slide unit, 40 ... Vacuum chamber, 50 ... Control device, 100 ... Electron beam drawing apparatus, W ... Substrate.

Claims (6)

基板に照射される電子線をブランキングするブランキング装置であって、
前記電子線を介して相互に対向して配置される第1電極及び第2電極とを有するブランキング電極と;
前記第1電極と前記第2電極の間に電位差を生じさせる駆動信号を生成する駆動回路と;
前記駆動信号を熱エネルギーに変換する終端器と;
前記駆動回路と、前記ブランキング電極とを電気的に接続する第1伝送路と;
前記ブランキング電極と、前記終端器とを電気的に接続する第2伝送路と;
前記ブランキング電極が収容される鏡筒と;を備え、
前記駆動回路、前記第1伝送路、前記第2伝送路、前記ブランキング電極、及び終端器それぞれの特性インピーダンスは同等であり、
前記駆動回路及び前記終端器は前記鏡筒の外部に配置され、
前記第1伝送路、及び前記第2伝送路は、前記駆動信号の伝送路と、前記ブランキング電極を前記鏡筒の内部で支持する支持体とを兼ねるブランキング装置。
A blanking device for blanking an electron beam irradiated on a substrate,
A blanking electrode having a first electrode and a second electrode arranged to face each other via the electron beam;
A drive circuit for generating a drive signal for generating a potential difference between the first electrode and the second electrode;
A terminator for converting the drive signal into thermal energy;
A first transmission line that electrically connects the drive circuit and the blanking electrode;
A second transmission line that electrically connects the blanking electrode and the terminator;
A lens barrel in which the blanking electrode is accommodated;
It said drive circuit, said first transmission line, the second transmission path, the blanking electrode, and terminator respective characteristic impedance Ri equivalent der,
The drive circuit and the terminator are arranged outside the lens barrel,
The first transmission path and the second transmission path are blanking devices that serve as a transmission path for the drive signal and a support that supports the blanking electrode inside the lens barrel .
前記第1伝送路は、内部導体と外部導体からなる同軸伝送路であって、前記内部導体及び外部導体のうちの一方は、前記第1電極に接続され、他方は、前記第2電極に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のブランキング装置。   The first transmission path is a coaxial transmission path composed of an inner conductor and an outer conductor, and one of the inner conductor and the outer conductor is connected to the first electrode, and the other is connected to the second electrode. The blanking apparatus according to claim 1, wherein the blanking apparatus is provided. 前記第2伝送路は、内部導体と外部導体からなる同軸伝送路であって、前記内部導体及び外部導体のうちの一方は、前記第1電極に接続され、他方は、前記第2電極に接続されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のブランキング装置。   The second transmission path is a coaxial transmission path composed of an inner conductor and an outer conductor, and one of the inner conductor and the outer conductor is connected to the first electrode, and the other is connected to the second electrode. The blanking device according to claim 1, wherein the blanking device is provided. 前記第1伝送路と前記第2伝送路とは、前記ブランキング電極に対して、機械的特性が対称であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のブランキング装置。 The blanking device according to any one of claims 1 to 3, wherein the first transmission path and the second transmission path are symmetrical in mechanical characteristics with respect to the blanking electrode. . 前記第1伝送路と前記第2伝送路とは、前記ブランキング電極に対して、熱的特性が対称であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載のブランキング装置。 The blanking device according to any one of claims 1 to 4 , wherein the first transmission path and the second transmission path are symmetrical in thermal characteristics with respect to the blanking electrode. . 電子線を用いて基板にパターンを描画する電子線描画装置であって、
前記電子ビームを射出する電子源と;
前記電子源から射出された電子線をブランキングする請求項1〜のいずれか一項に記載のブランキング装置と;を備える電子線描画装置。
An electron beam drawing apparatus for drawing a pattern on a substrate using an electron beam,
An electron source for emitting the electron beam;
An electron beam drawing apparatus comprising: a blanking device according to any one of claims 1 to 5 for blanking an electron beam emitted from the electron source.
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