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JP4797075B2 - 静電容量式センサ装置 - Google Patents

静電容量式センサ装置 Download PDF

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Description

本発明は、静電容量式センサ装置に関する。
圧力、加速度、振動、音圧等の各種の物理量を検知する静電容量式センサ装置が知られている。この静電容量式センサ装置は、一対のセンサキャパシタを備えている。これらのセンサキャパシタの静電容量は、物理量が作用しない状態では互いに等しく、物理量の作用に伴って互いに相反する増減関係で変化するように構成されている。従って、これらのセンサキャパシタの静電容量の差を電圧に変換することで、静電容量式センサ装置に作用している物理量を精度よく検出することができる。
静電容量式センサ装置は、理想的には、物理量が作用しない状態での一対のセンサキャパシタの静電容量は等しくなるように製造される。しかしながら、これらのセンサキャパシタには製造公差が存在するため、静電容量式センサ装置に物理量が作用していない状況でも、これらのセンサキャパシタの静電容量にオフセット(ミスマッチング)が存在する場合がある。このような物理量の作用とは無関係に存在する静電容量のオフセットと、物理量の作用に伴って生じる静電容量の差は、静電容量式センサ装置の出力電圧において区別することは困難であり、物理量の検出誤差を生じる原因となってしまう。そこで、一対のセンサキャパシタの静電容量のオフセットを補償する技術が開発されている。
特許文献1に、一対のセンサキャパシタの静電容量のオフセットを補償する技術が開示されている。この技術では、一対のセンサキャパシタと同じ素子上に補償用のキャパシタを予め複数作り込んでおく。そして、実際のセンサキャパシタの静電容量のオフセットに応じて、補償用キャパシタの配線をレーザートリミングで切断したり、ボンディングパッドによって配線を追加し、一対のセンサキャパシタの静電容量が互いに等しくなるように調整する。
特開2008−64742号公報
静電容量式センサ装置を長期間に亘って運用すると、経年変化によってセンサキャパシタの静電容量が変化する場合がある。一対のセンサキャパシタそれぞれの静電容量が経年変化すると、静電容量のオフセットも変化してしまう。特許文献1の技術では、配線の切断や追加によって不可逆的に静電容量の調整を行っており、静電容量式センサ装置の製造工程における調整段階の静電容量のオフセットについては補償することができるが、その後の経年変化によって静電容量のオフセットが変化した場合に、そのオフセットを補償することができない。
本発明は上記の課題を解決する。すなわち本発明は、静電容量式センサ装置において、一対のセンサキャパシタが経年変化して静電容量のオフセットが変化した場合であっても、そのオフセットを適切に補償することが可能な技術を提供することを目的とする。
本発明で具現化される静電容量式センサ装置は、直列に接続された第1センサキャパシタおよび第2センサキャパシタと、第1センサキャパシタの開放端に印加される第1クロック信号と、第2センサキャパシタの開放端に印加される第2クロック信号を生成するクロック信号生成手段と、反転入力端子が第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続され、非反転入力端子に基準電圧が印加されるオペアンプと、オペアンプの出力端子と反転入力端子を接続する帰還キャパシタと、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続された補償キャパシタと、補償キャパシタの開放端に印加される補償信号を生成する補償信号生成手段を備えている。第1センサキャパシタと第2センサキャパシタは、作用する物理量に応じてその静電容量が変化する。第1クロック信号と第2クロック信号は、周期と振幅が等しく、互いに位相が反転している。補償信号は、第1クロック信号および第2クロック信号と周期が等しく、第1クロック信号または第2クロック信号と同じ位相であり、振幅が調整可能である。
この静電容量式センサ装置では、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットを、補償キャパシタによって補償する。第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量よりも小さい場合には、補償信号を第1クロック信号と同じ位相とすることによって、見かけ上第1センサキャパシタの静電容量が増加して、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットが補償される。この際の第1センサキャパシタの静電容量の増加量は、補償キャパシタの静電容量と補償信号の振幅に応じて変化する。補償信号の振幅は調整可能であるから、補償信号の振幅を適切に調整することによって、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットを補償することができる。上記とは異なり、第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量よりも大きい場合には、補償信号を第2クロック信号と同じ位相とすることによって、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットを補償することができる。
この静電容量式センサ装置では、補償信号の振幅は事後的に再調整することができる。従って、静電容量式センサ装置を長期間運用して、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットが経年変化した場合であっても、補償信号の振幅を改めて調整することにより、そのオフセットの影響を打ち消すことができる。
上記の静電容量式センサ装置は、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続された第2補償キャパシタをさらに備えており、第2補償キャパシタの静電容量は、補償キャパシタの静電容量よりも小さく設定されており、第2補償キャパシタの開放端に、第1クロック信号および第2クロック信号のうち補償信号と逆位相のものが印加されることが好ましい。
この静電容量式センサ装置では、補償信号の位相を変更することなく、第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量より小さい場合についても、第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量より大きい場合についても、静電容量のオフセットを補償することができる。例えば補償信号が第1クロック信号と同じ位相である場合には、補償キャパシタによって第1センサキャパシタの静電容量が見かけ上増加する。この場合、第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量よりも小さい場合には、補償キャパシタのみでも静電容量のオフセットを補償することができるが、第1センサキャパシタの静電容量が第2センサキャパシタの静電容量よりも大きい場合には、補償キャパシタのみでは静電容量のオフセットを補償することができない。しかしながら、上記の静電容量式センサ装置では、第2クロック信号が印加される第2補償キャパシタによって、第2センサキャパシタの静電容量が見かけ上増加し、第1補償キャパシタと第2補償キャパシタの双方の寄与によって静電容量のオフセットを補償することができる。補償信号の位相を変更することなく、補償信号の振幅を適切に調整することで、静電容量のオフセットを補償することができる。
本発明の静電容量式センサ装置によれば、一対のセンサキャパシタが経年変化して静電容量のオフセットが変化した場合であっても、そのオフセットを適切に補償することができる。
実施例1の静電容量式センサ装置100の構成を示す。 実施例1の静電容量式センサ装置100における各信号の関係の例を示す。 実施例1の補償信号生成回路108の構成を示す。 実施例1のバッファ回路306の構成を示す。 実施例1の静電容量式センサ装置100による自動オフセット補正処理のフローチャートを示す。 実施例2の静電容量式センサ装置600の構成を示す。 実施例2の静電容量式センサ装置600における各信号の関係の例を示す。 実施例2の静電容量式センサ装置600における各信号の関係の他の例を示す。
以下に説明する実施例の主要な特徴を最初に整理する。
(特徴1)第1センサキャパシタと第2センサキャパシタは、共通する可動電極と、それぞれ個別に設けられた固定電極を有する。物理量の作用によって可動電極が変位し、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量が変化する。
図1に実施例1の静電容量式センサ装置100の構成を示す。静電容量式センサ装置100は、センサ素子102と、CV変換回路104と、クロック信号生成回路106と、補償信号生成回路108と、オフセット補償回路110を備えている。静電容量式センサ装置100は、センサ素子102に作用する物理量(例えば圧力、加速度、振動、音圧等)の変化を静電容量の変化として検出し、センサ素子102における静電容量の変化をCV変換回路104が電圧の変化として出力する。静電容量式センサ装置100の動作は、制御装置144によって制御される。
センサ素子102は、第1センサキャパシタ112と、第2センサキャパシタ114を備えている。第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114は、共通する可動電極と、それぞれ個別に設けられた固定電極を有する。可動電極と固定電極は対向する位置に配置されている。センサ素子102に物理量が作用すると、可動電極が変位し、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量がそれぞれ変化する。
本実施例では、第1センサキャパシタ112の静電容量Cを、物理量が作用してない場合における静電容量C01と、物理量の作用に伴う静電容量の変化量ΔCの和で表現する。また、第2センサキャパシタ114の静電容量Cを、物理量が作用していない場合における静電容量C02と、物理量の作用に伴う静電容量の変化量ΔCの和で表現する。すなわち、C=C01+ΔCであり、C=C02+ΔCである。
第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114は、理想的には、物理量が作用していない場合における静電容量が等しくなるように、すなわちC01=C02となるように製造されている。また、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114は、理想的には、物理量が作用したときの静電容量の変化が互いに相反する増減関係となるように、すなわちΔC=−ΔCとなるように製造されている。
第1センサキャパシタ112の固定電極は、第1入力端子116に接続されている。第2センサキャパシタ114の固定電極は、第2入力端子118に接続されている。第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の共通する可動電極は、出力端子120に接続されている。
クロック信号生成回路106は、センサ素子102の第1入力端子116にクロック信号S1を供給し、センサ素子102の第2入力端子118にクロック信号S2を供給する。図2に示すように、信号S1は電源電圧(VDD)と接地電圧(VGND)を交互に繰り返す。信号S2もVDDとVGNDを交互に繰り返す。信号S1と信号S2は逆位相となっており、一方がVDDの場合には他方はVGNDとなっている。またクロック信号生成回路106は、CV変換回路104のリセット端子128にリセット信号S0を供給する。本実施例では、クロック信号S1がVDDからVGNDに切替わった直後に、リセット信号S0は短時間だけVDDとなり、それ以降はVGNDである。クロック信号生成回路106の動作の開始および終了は、制御装置144によって制御される。
CV変換回路104は、オペアンプ122と、帰還キャパシタ124と、スイッチ回路126を有する。オペアンプ122の非反転入力端子には、基準電圧(Vbb)が印加されている。Vbbは、VDDとVGNDの中間の電位である。すなわち、Vbb=(VDD+VGND)/2である。帰還キャパシタ124とスイッチ回路126は、オペアンプ122の反転入力端子と出力端子の間に並列に接続されている。スイッチ回路126は、n型のMOSFETにより構成されるスイッチ回路である。スイッチ回路126は、リセット端子128に入力されるリセット信号S0に応じて、導通と非導通が切替わる。リセット信号S0がVDDの場合には、スイッチ回路126は導通する。リセット信号S0がVGNDの場合には、スイッチ回路126は非導通となる。スイッチ回路126が導通すると、帰還キャパシタ124の両端が短絡して、帰還キャパシタ124に蓄積されていた電荷が放電される。CV変換回路104の入力端子130はセンサ素子102の出力端子120に接続されている。CV変換回路104の出力端子132は静電容量式センサ装置100の出力端子に接続されており、CV変換回路104の出力電圧Voutが静電容量式センサ装置100の出力電圧となる。
信号S1がVGND、信号S2がVDDとなると、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114にそれぞれ電圧が印加される。第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の共通する可動電極の電位は、オペアンプ122の反転入力端子の電位に等しい。オペアンプ122の反転入力端子の電位は、オペアンプの非反転入力端子に印加されるVbbに等しい。従って、第1センサキャパシタ112には電圧V=VGND−Vbb=−Vbbが印加され、第2センサキャパシタ114には電圧V=VDD−Vbb=Vbbが印加される。第1センサキャパシタ112には、電荷Q=C=−Cbbが蓄積し、第2センサキャパシタ114には、電荷Q=C=Cbbが蓄積する。なお信号S1がVGNDに切替わった直後は、リセット信号S0がVDDとなり、スイッチ回路126が導通する。スイッチ回路126の導通によって、帰還キャパシタ124の両端が短絡して、出力電圧VoutはVout=Vbbとなる。その後、リセット信号S0がVGNDとなり、スイッチ回路126が非導通となっても、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の電荷が変動しないため、帰還キャパシタ124には電荷が蓄積せず、出力電圧VoutはVbbのまま維持される。
信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わると、第1センサキャパシタ112には電圧V=VDD−Vbb=Vbbが印加され、第2センサキャパシタ114には電圧V=VGND−Vbb=−Vbbが印加される。第1センサキャパシタ112には、電荷Q=C=Cbbが蓄積し、第2センサキャパシタ114には、電荷Q=C=−Cbbが蓄積する。従って、信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わる際の第1センサキャパシタ112の電荷の変化量は、ΔQ=Cbb+Cbb=2Cbbであり、第2センサキャパシタ114の電荷の変化量は、ΔQ=−Cbb−Cbb=−2Cbbである。これらの電荷は帰還キャパシタ124から供給されるから、帰還キャパシタ124には電荷Q=ΔQ+ΔQ=2(C−C)Vbbが蓄積される。オペアンプ122の反転入力端子の電位はVbbであるから、補償信号生成回路108およびオフセット補償回路110が存在しない場合には、出力電圧Voutは、Vout=Vbb−Q/C=Vbb−2Vbb(C−C)/C=Vbb−2Vbb(C01−C02+ΔC−ΔC)/Cで与えられる。ここでCは帰還キャパシタ124の静電容量である。出力電圧Voutの基準電圧Vbbからの変動分2Vbb(C01−C02+ΔC−ΔC)/Cは、静電容量の変化に応じてその大きさが変化する。
センサ素子102に物理量が作用していないときの第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量が一致していれば、すなわちC01=C02であれば、静電容量式センサ装置100の出力電圧Voutは、信号S1がVDDとVGNDの間で切替わるのに同期して、Vbbを基準として2Vbb(ΔC−ΔC)/Cだけ変動する。この出力電圧Voutの変動を測定することによって、センサ素子102に作用している物理量を検出することができる。しかしながら、第1センサキャパシタ112や第2センサキャパシタ114には製造公差があるので、実際にはC01とC02は一致していない。そこで本実施例の静電容量式センサ装置100では、補償信号生成回路108とオフセット補償回路110を用いて、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量のオフセットの影響を排除する。
オフセット補償回路110は、第1補償キャパシタ134と、第2補償キャパシタ136を備えている。第1補償キャパシタ134の静電容量Cc1は、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114に関して想定される静電容量のオフセットの絶対値|C01−C02|よりも大きな値となるように設定されている。また、第2補償キャパシタ136の静電容量Cc2は、第1補償キャパシタ134の静電容量Cc1の2倍となるように設定されている。すなわち、Cc2=2Cc1である。
第1補償キャパシタ134の一端は、オフセット補償回路110の第1入力端子138に接続されている。オフセット補償回路110の第1入力端子138には、クロック信号生成回路106からクロック信号S1が入力される。第2補償キャパシタ136の一端は、オフセット補償回路110の第2入力端子140に接続されている。オフセット補償回路110の第2入力端子140には、補償信号生成回路108から補償信号S3が入力される。第1補償キャパシタ134の他端と、第2補償キャパシタ136の他端は、それぞれオフセット補償回路110の出力端子142に接続されている。オフセット補償回路110の出力端子142は、CV変換回路104の入力端子130に接続されている。
補償信号生成回路108は、クロック信号生成回路106からクロック信号S2を入力して、オフセット補償回路110に補償信号S3を出力する。図2に示すように、補償信号S3はクロック信号S2と同じ位相で変動する。補償信号S3は、信号S2がVGNDの場合にはVGNDであり、信号S2がVDDの場合にはVcpである。補償電圧Vcpは、VDDよりも小さくVGNDよりも大きな電圧であり、その大きさが調整可能である。補償電圧Vcpの大きさは、制御装置144によって調整される。
信号S1がVGND、信号S2がVDDの場合、補償信号S3はVcpである。第1補償キャパシタ134と第2補償キャパシタ136がそれぞれ接続している出力端子142の電位は、オペアンプ122の反転入力端子の電位に等しく、オペアンプ122の非反転入力端子に印加されるVbbに等しい。従って、第1補償キャパシタ134には電圧Vc1=VGND−Vbb=−Vbbが印加され、第2補償キャパシタ136には電圧Vc2=Vcp−Vbbが印加される。第1補償キャパシタ134には、電荷Qc1=Cc1c1=−Cc1bbが蓄積し、第2補償キャパシタ136には、電荷Qc2=Cc2c2=2Cc1(Vcp−Vbb)が蓄積する。これらの電荷の蓄積とほぼ同時にリセット信号S0がVDDとなってスイッチ回路126が導通する。その後、リセット信号S0がVGNDとなり、スイッチ回路126が非導通となっても、第1補償キャパシタ134、第2補償キャパシタ136の電荷は変動しないため、帰還キャパシタ124には電荷が蓄積せず、出力電圧VoutはVbbのまま維持される。
信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わると、補償信号S3はVGNDに切替わる。この場合、第1補償キャパシタ134には電圧Vc1=VDD−Vbb=Vbbが印加され、第2補償キャパシタ136には電圧Vc2=VGND−Vbb=−Vbbが印加される。第1補償キャパシタ134には、電荷Qc1=Cc1c1=Cc1bbが蓄積し、第2補償キャパシタ136には、電荷Qc2=Cc2c2=−2Cc1bbが蓄積する。従って、信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わる際の第1補償キャパシタ112の電荷の変化量は、ΔQc1=Cc1bb+Cc1bb=2Cc1bbであり、第2補償キャパシタ114の電荷の変化量は、ΔQc2=−2Cc1bb−2Cc1(Vcp−Vbb)=−2Cc1cpである。これらの電荷も帰還キャパシタ124から供給されるから、センサ素子102からの電荷と合わせて、帰還キャパシタ124には電荷Q=ΔQ+ΔQ+ΔQc1+ΔQc2=2(C−C)Vbb−2Cc1(Vcp−Vbb)が蓄積する。オペアンプ122の反転入力端子の電位はVbbであるから、出力電圧Voutは、Vout=Vbb−Q/C=Vbb−2Vbb(C−C)/C+2(Vcp−Vbb)Cc1/C=Vbb−2Vbb(ΔC−ΔC)/C+Vosで与えられる。ここで、Vos=−2Vbb(C01−C02)/C+2(Vcp−Vbb)Cc1/Cである。
補償電圧Vcpの大きさを調整して、Vos=0とすることができれば、出力電圧VoutはVbbを基準として−2Vbb(ΔC−ΔC)/Cだけ変動することになり、この出力電圧Voutの変動からセンサ素子102に作用している物理量を検出することができる。このような補償電圧Vcpの大きさは、Vcp=Vbb(1+(C01−C02)/Cc1)で与えられる。このように調整された補償電圧Vcpを有する補償信号S3を用いることで、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量のオフセット(C01−C02)の影響を出力電圧Voutの変動から排除し、センサ素子102に作用する物理量を正確に検出することができる。
なお補償電圧Vcpの大きさは、C01、C02の測定が可能であれば、その測定値とVbb、Cc1を用いて計算によって求めてもよい。あるいは、C01、C02を測定しなくとも、Vcpの大きさを徐々に変化させていき、Vos=0となるVcpを探索的に求めてもよい。
図3は補償信号生成回路108の詳細を示している。補償信号生成回路108は、メモリ302と、D/Aコンバータ304と、バッファ回路306を備えている。メモリ302には、制御装置144から補償電圧Vcpの数値がデジタルデータとして記憶される。D/Aコンバータ304は、メモリ302から補償電圧Vcpの値を読み出してアナログ電圧に変換し、バッファ回路306に印加する。
図4はバッファ回路306の詳細を示している。バッファ回路306は、p型MOSFET402と、n型MOSFET404、406と、抵抗408によって構成される2段インバータ回路である。バッファ回路306は、信号S2がVGNDの場合には、補償信号S3としてVGNDを出力する。信号S2がVDDの場合には、補償信号S3としてVcpを出力する。
制御装置144は、内部に図示されないA/D変換器、論理演算回路等を備えている。制御装置144は、静電容量式センサ装置100の出力電圧Voutをデジタルデータに変換して、出力電圧Voutの測定値に応じて、後述する自動オフセット補正処理を行う。
以下では図5を参照しながら、本実施例の静電容量式センサ装置100における自動オフセット補正処理について説明する。自動オフセット補正処理は、センサ素子102に作用する物理量がゼロの状況において行われる。
ステップS502では、制御装置144が、Vcpの初期値としてゼロ(すなわちVGND)をメモリ302に入力する。
ステップS504では、制御装置144が、静電容量のオフセットに起因する出力電圧の変動分Vosを算出する。出力電圧の変動分Vosは、信号S1がVDDの期間におけるVoutと、信号S1がVGNDの期間におけるVoutをそれぞれ測定して、両者の差を算出することで取得される。
ステップS506では、制御装置144が、Vosの大きさが所定値δに満たないか否かを判断する。Vosの大きさが所定値δ以上の場合(NOの場合)には、制御装置144はVcpのさらなる更新が必要と判断して、ステップS508へ進む。
ステップS508では、制御装置144が、メモリ302に記憶されているVcpを読み出し、所定の電圧増加幅ΔVcpだけ増加させた数値を、新たなVcpとしてメモリ302に書き込む。ステップS508の後、処理はステップS504へ戻る。
ステップS506でVosの大きさが所定値δに満たない場合(YESの場合)には、制御装置144は、Vcpが適切に設定されたと判断して、自動オフセット補正処理を終了する。
以上のように、本実施例の静電容量式センサ装置100によれば、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量のオフセットを補償して、センサ素子102に作用する物理量を正確に検出することができる。
本実施例の静電容量式センサ装置100では、補償信号生成回路108において補償電圧Vcpの大きさを事後的に再調整可能である。従って、センサ素子102を長期間運用して、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量のオフセットが経年変化した場合であっても、補償電圧Vcpの大きさを再調整することによってそのオフセットの影響を打ち消すことができる。
図6は本実施例の静電容量式センサ装置600の構成を示している。実施例1の静電容量式センサ装置100と同様な構成については、同一の参照符号を付して詳細な説明を省略する。本実施例の静電容量式センサ装置600は、実施例1における補償信号生成回路108とオフセット補償回路110の代わりに、補償信号生成回路608と補償キャパシタ610を備えている。
補償キャパシタ610の静電容量Cは、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114に関して想定される静電容量のオフセットの絶対値|C01−C02|よりも大きな値となるように設定されている。補償キャパシタ610の一端には、補償信号生成回路108から補償信号S3が入力される。補償キャパシタ610の他端は、CV変換回路104の入力端子130に接続されている。
補償信号生成回路608は、クロック信号生成回路106からクロック信号S1、S2を入力して、補償キャパシタ610に補償信号S3を出力する。本実施例では、補償信号S3は、クロック信号S1と同じ位相で変動することもあるし、クロック信号S2と同じ位相で変動することもある。C01がC02より小さい場合には、図7に示すように、補償信号S3はクロック信号S1と同じ位相で変動する。この場合、信号S1がVGNDの場合に補償信号S3はVGNDであり、信号S1がVDDの場合に補償信号S3はVcpである。C01がC02より大きい場合には、図8に示すように、補償信号S3はクロック信号S2と同じ位相で変動する。この場合、信号S2がVGNDの場合に補償信号S3はVGNDであり、信号S2がVDDの場合に補償信号S3はVcpである。
01がC02より小さい場合について以下説明する。この場合、補償信号S3は信号S1と同じ位相で変動する。信号S1がVGND、信号S2がVDDの場合には、補償キャパシタ610には電圧Vc=VGND−Vbb=−Vbbが印加され、電荷Q=C=−Cbbが蓄積する。その後、信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わると、補償キャパシタ610には電圧V=Vcp−Vbbが印加され、電荷Q=C=C(Vcp−Vbb)が蓄積する。このときの補償キャパシタ610の電荷の変化量は、ΔQ=C(Vcp−Vbb)+Cbb=Ccpである。帰還キャパシタ124には電荷Q=ΔQ+ΔQ+ΔQ=2(C−C)Vbb+Ccpが蓄積する。このときの出力電圧Voutは、Vout=Vbb−Q/C=Vbb−2Vbb(C−C)/C−Vcp/C=Vbb−2Vbb(ΔC−ΔC)/C+Vosで与えられる。ここで、Vos=2Vbb(C02−C01)/C−Vcp/Cである。従って、Vcp=2Vbb(C02−C01)/Cに調整することで、Vos=0となり、出力電圧VoutがΔC−ΔCに応じた変動をすることになる。
01がC02より大きい場合について以下説明する。この場合、補償信号S3は信号S2と同じ位相で変動する。信号S1がVGND、信号S2がVDDの場合には、補償キャパシタ610には電圧V=Vcp−Vbbが印加され、電荷Q=C=C(Vcp−Vbb)が蓄積する。その後、信号S1がVDD、信号S2がVGNDに切替わると、補償キャパシタ610には電圧V=VGND−Vbb=−Vbbが印加され、電荷Q=C=−Cbbが蓄積する。このときの補償キャパシタ610の電荷の変化量は、ΔQ=−Cbb−C(Vcp−Vbb)=−Ccpである。帰還キャパシタ124には電荷Q=ΔQ+ΔQ+ΔQ=2(C−C)Vbb−Cbbが蓄積する。このときの出力電圧Voutは、Vout=Vbb−Q/C=Vbb−2Vbb(C−C)/C+Vcp/C=Vbb−2Vbb(ΔC−ΔC)/C+Vosで与えられる。ここで、Vos=−2Vbb(C01−C02)/C+Vcp/Cである。従って、Vcp=2Vbb(C01−C02)/Cに調整することで、Vos=0となり、出力電圧VoutがΔC−ΔCに応じた変動をすることになる。
補償信号S3の位相と補償電圧Vcpの大きさは、C01、C02の測定が可能であれば、その測定値に基づいて決定してもよい。あるいは、C01、C02を測定しなくとも、補償信号S3の位相を信号S1に合わせる場合と信号S2に合わせる場合のそれぞれについて、Vcpの大きさを徐々に変化させていき、Vos=0となる補償信号S3の位相と補償電圧Vcpの大きさを探索的に求めてもよい。
以上のように、本実施例の静電容量式センサ装置600によっても、第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの静電容量のオフセットを補償して、センサ素子102に作用する物理量を正確に検出することができる。
本実施例の静電容量式センサ装置600では、補償信号生成回路608における補償信号S3の位相と補償電圧Vcpの大きさは再調整可能である。従って、センサ素子102を長期間運用して、第1センサキャパシタ112と第2センサキャパシタ114の静電容量のオフセットが経年変化した場合であっても、そのオフセットの影響を打ち消すことができる。
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
100 静電容量式センサ装置
102 センサ素子
104 CV変換回路
106 クロック信号生成回路
108 補償信号生成回路
110 オフセット補償回路
112 第1センサキャパシタ
114 第2センサキャパシタ
116 第1入力端子
118 第2入力端子
120 出力端子
122 オペアンプ
124 帰還キャパシタ
126 スイッチ回路
128 リセット端子
130 入力端子
132 出力端子
134 第1補償キャパシタ
136 第2補償キャパシタ
138 第1入力端子
140 第2入力端子
142 出力端子
144 制御装置
302 メモリ
304 D/Aコンバータ
306 バッファ回路
402 p型MOSFET
404 n型MOSFET
406 n型MOSFET
408 抵抗
600 静電容量式センサ装置
608 補償信号生成回路
610 補償キャパシタ

Claims (2)

  1. 直列に接続された第1センサキャパシタおよび第2センサキャパシタと、
    第1センサキャパシタの開放端に印加される第1クロック信号と、第2センサキャパシタの開放端に印加される第2クロック信号を生成するクロック信号生成手段と、
    反転入力端子が第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続され、非反転入力端子に基準電圧が印加されるオペアンプと、
    オペアンプの出力端子と反転入力端子を接続する帰還キャパシタと、
    第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続された補償キャパシタと、
    補償キャパシタの開放端に印加される補償信号を生成する補償信号生成手段を備える静電容量式センサ装置であって、
    第1センサキャパシタと第2センサキャパシタは、作用する物理量に応じてその静電容量が変化し、
    第1クロック信号と第2クロック信号は、周期と振幅が等しく、互いに位相が反転しており、
    補償信号は、第1クロック信号および第2クロック信号と周期が等しく、第1クロック信号または第2クロック信号と同じ位相であり、振幅が調整可能である静電容量式センサ装置。
  2. 第1センサキャパシタと第2センサキャパシタの接続部に接続された第2補償キャパシタをさらに備えており、
    第2補償キャパシタの静電容量は、補償キャパシタの静電容量よりも小さく設定されており、
    第2補償キャパシタの開放端に、第1クロック信号および第2クロック信号のうち補償信号と逆位相のものが印加される請求項1の静電容量式センサ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2013073161A1 (ja) * 2011-11-15 2015-04-02 富士電機株式会社 静電容量検出回路
JP2015135245A (ja) * 2014-01-16 2015-07-27 セイコーエプソン株式会社 物理量検出回路、物理量検出装置、電子機器および移動体

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5067442B2 (ja) * 2010-05-14 2012-11-07 株式会社デンソー 素子インピーダンス検出装置及びセンサユニット
KR101262275B1 (ko) 2011-11-17 2013-05-08 현대자동차주식회사 차량 연료탱크의 유동감지센서
JP5974851B2 (ja) * 2012-11-21 2016-08-23 株式会社村田製作所 センサーデバイス
ITTO20121116A1 (it) 2012-12-20 2014-06-21 St Microelectronics Srl Circuito e metodo di compensazione dinamica dell'offset per un dispositivo sensore mems
JP2016095268A (ja) * 2014-11-17 2016-05-26 株式会社デンソー 信号処理装置
US10634697B2 (en) * 2015-04-08 2020-04-28 Hitachi, Ltd. High-sensitivity sensor system, detection circuit, and detection method
JP2017072468A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 アルプス電気株式会社 入力装置
US10274510B2 (en) * 2016-02-09 2019-04-30 Stmicroelectronics, Inc. Cancellation of noise due to capacitance mismatch in MEMS sensors
EP3327446B1 (en) * 2016-11-24 2019-06-05 EM Microelectronic-Marin SA Capacitive accelerometer
JP6823483B2 (ja) * 2017-02-02 2021-02-03 株式会社ミツトヨ 変位検出器
EP3415925A1 (en) * 2017-06-15 2018-12-19 EM Microelectronic-Marin SA An interface circuit for a capacitive accelerometer sensor
EP3495826B1 (fr) * 2017-12-07 2020-11-25 EM Microelectronic-Marin SA Dispositif électronique de mesure d'un paramètre physique
CN110275047B (zh) * 2018-03-14 2021-01-22 京东方科技集团股份有限公司 加速度传感器、电容检测电路、加速度处理电路及方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3216455B2 (ja) * 1994-12-22 2001-10-09 株式会社村田製作所 容量型静電サーボ加速度センサ
JP3265942B2 (ja) * 1995-09-01 2002-03-18 株式会社村田製作所 微少容量検出回路
US5661240A (en) * 1995-09-25 1997-08-26 Ford Motor Company Sampled-data interface circuit for capacitive sensors
JP3125675B2 (ja) * 1996-03-29 2001-01-22 三菱電機株式会社 容量型センサインターフェース回路
JP4272267B2 (ja) 1997-07-04 2009-06-03 東京エレクトロン株式会社 静電容量型センサ回路
JP4178658B2 (ja) * 1998-06-30 2008-11-12 株式会社デンソー 容量式物理量検出装置
JP2000234939A (ja) * 1998-12-18 2000-08-29 Yazaki Corp 静電容量−電圧変換装置
US6888358B2 (en) * 2000-02-25 2005-05-03 Sensirion Ag Sensor and sigma-delta converter
JP4352562B2 (ja) * 2000-03-02 2009-10-28 株式会社デンソー 信号処理装置
JP2002040047A (ja) * 2000-07-25 2002-02-06 Denso Corp 容量型物理量検出センサ
JP4336066B2 (ja) * 2001-07-11 2009-09-30 株式会社豊田中央研究所 静電容量型センサ装置
JP4508480B2 (ja) * 2001-07-11 2010-07-21 株式会社豊田中央研究所 静電容量型センサのセンサ特性測定装置
JP3861652B2 (ja) * 2001-10-16 2006-12-20 株式会社デンソー 容量式物理量センサ
US20030155966A1 (en) * 2002-02-20 2003-08-21 Harrison Reid R. Low-power, low-noise CMOS amplifier
JP2004279261A (ja) * 2003-03-17 2004-10-07 Denso Corp 物理量検出装置
JP2004340673A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Denso Corp 信号処理回路及び力学量センサ
US7078916B2 (en) * 2004-04-06 2006-07-18 Analog Devices, Inc. Linearity enhancement for capacitive sensors
JP2006313084A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Denso Corp 容量式物理量センサ
WO2006130828A2 (en) * 2005-06-02 2006-12-07 Georgia Tech Research Corporation System and method for sensing capacitance change of a capacitive sensor
JP4796927B2 (ja) * 2005-11-28 2011-10-19 株式会社豊田中央研究所 クロック信号出力回路
US8008948B2 (en) * 2006-07-06 2011-08-30 Denso Corporation Peak voltage detector circuit and binarizing circuit including the same circuit
JP4931713B2 (ja) 2006-08-08 2012-05-16 セイコーインスツル株式会社 力学量センサ
JP4375579B2 (ja) * 2007-02-08 2009-12-02 株式会社デンソー 容量式物理量検出装置
JP4585545B2 (ja) * 2007-06-29 2010-11-24 株式会社豊田中央研究所 ノイズ除去回路及びそれを備えたコンパレータ回路
US7652486B2 (en) * 2008-01-17 2010-01-26 Freescale Semiconductor, Inc. Capacitance detection circuit including voltage compensation function
JP4868027B2 (ja) * 2009-05-26 2012-02-01 株式会社デンソー 加速度角速度センサ
JP2011099833A (ja) * 2009-11-09 2011-05-19 Denso Corp 力学量検出装置
TWI420826B (zh) * 2010-04-09 2013-12-21 Memsor Corp 具有校正機制之電容式感測器及電容偵測方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2013073161A1 (ja) * 2011-11-15 2015-04-02 富士電機株式会社 静電容量検出回路
JP2015135245A (ja) * 2014-01-16 2015-07-27 セイコーエプソン株式会社 物理量検出回路、物理量検出装置、電子機器および移動体

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