JP4316341B2 - 気化器及び成膜装置 - Google Patents
気化器及び成膜装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4316341B2 JP4316341B2 JP2003343547A JP2003343547A JP4316341B2 JP 4316341 B2 JP4316341 B2 JP 4316341B2 JP 2003343547 A JP2003343547 A JP 2003343547A JP 2003343547 A JP2003343547 A JP 2003343547A JP 4316341 B2 JP4316341 B2 JP 4316341B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vaporization
- spray
- vaporization surface
- raw material
- vaporizer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 title claims description 63
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 claims description 288
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 claims description 270
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims description 151
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 80
- 239000003595 mist Substances 0.000 claims description 70
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 19
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 16
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 102
- 239000010408 film Substances 0.000 description 35
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 35
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 229910004356 Ti Raw Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 238000005092 sublimation method Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
まず、図1を参照して本発明に係る第1構成例の気化器210の構成について説明する。この構成例の気化器210は、噴霧手段を構成する噴霧ノズル211と、噴霧ノズル211の噴霧口211aが臨む気化空間212Sを画成する気化室212を有する。気化室212の内部には、噴霧口211aに対向するように配置された第1気化面212aと、この第1気化面212aに対向するように噴霧口211a側に形成された第2気化面212bとを有する。これらの第1気化面212a及び第2気化面212bは気化室212の壁面に内蔵されたヒータなどの加熱手段212cによって加熱されている。これらの気化面の加熱温度としては、特にPZT薄膜を成膜する場合においては、180〜250℃、特に、200〜220℃の範囲内であることが好ましい。気化空間212Sは、第1気化面212a(すなわち底面)と第2気化面212b(すなわち天井面)との間に画成された平板状(図示例では円盤状)の空間形状を有する。
次に、図3を参照して本発明に係る第2構成例の構成について説明する。この気化器220は、基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図4を参照して本発明に係る第3構成例の構成について説明する。ここで、この気化器230は、基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図5を参照して本発明に係る第4構成例の構成について説明する。ここで、この気化器240は、基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図6を参照して本発明に係る第5構成例の構成について説明する。ここで、この気化器250は、基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図7を参照して本発明に係る第6構成例の構成について説明する。ここで、この気化器260は、基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図8を参照して本発明に係る第7構成例について説明する。ここで、この気化器270は、基本的に図7に示す気化器260とほぼ同様の概略構成を有するので、同様の部分の説明は省略する。
次に、図9を参照して本発明に係る第1実施形態について説明する。この気化器280は、噴霧口281aを備えた噴霧ノズル281と、気化室282とを有する。噴霧ノズル281は基本的に図1に示す気化器210とほぼ同様の概略構成を有するので、その説明は省略する。気化室282は、第1気化面282aを備えた第1部材282Aと、第2気化面282bを備えた第2部材282Bとを有し、第1部材282Aと第2部材282Bとによって気化空間282Sが画成される。ここで、第1部材282A及び第2部材282Bには共にヒータなどの加熱手段282cが内蔵され、これによって上記の第1気化面282a及び第2気化面282bが所定温度に加熱されている。また、第2部材282Bには、上記噴霧ノズル281と、ガス導出口283とが設けられている。
次に、図10を参照して、本発明に係る第8構成例について説明する。本構成例は、上記の各構成例及び第1実施形態に対して用いることのできる噴霧位置近傍の構成例を示すものである。この構成例では、第2気化面312bの一部に凹部312dが形成され、この凹部312dの底部に噴霧ノズル311の噴霧口311aが開口している。これによって、第1気化面312aと第2気化面312bの間隔hよりも噴霧口311aと第1気化面312aの間隔Hが凹部312dの深さD分だけ大きくなっている。
次に、図11を参照して、本発明に係る第9構成例について説明する。この構成例も、上記の各構成例及び第1実施形態に対して用いることのできる噴霧位置近傍の構成例を示すものである。この構成例では、噴霧ノズル321の噴霧口321aの周りにN2、Ar、Heなどの不活性ガスなどのパージガスを噴出するパージガス噴出口322xを設けている。このパージガス噴出口322xは、噴霧口321aの周囲に複数設けられることが好ましい。このパージガス噴出口322xは、気化室322に設けられたパージガス供給路322yによって供給されるパージガスを噴出し、このパージガスによって第1気化面322aから跳ね返り噴霧口321aへむかうミストの進路を妨げることによって、噴霧口321a及びその周辺に堆積物が付着することを防止することができる。したがって、第1気化面322aと第2気化面322bの間隔hを小さく形成しても、噴霧口321aの詰まりなどの不具合を低減することができる。
次に、図12を参照して、本発明に係る第10構成例について説明する。この構成例も、上記の各構成例及び第1実施形態に対して用いることのできる噴霧位置近傍の構成例を示すものである。この構成例では、噴霧ノズル331の噴霧口331aに対向する第1気化面332a上に突起332pを形成し、この突起332pの表面が噴霧口331aに向かう方向と直交する平面に対して傾斜した傾斜面332paとなっている。より具体的には、突起332pは略円錐状に構成され、傾斜面332paは円錐面となっている。
Claims (10)
- 原料を溶媒に溶解してなる溶液原料をミスト状に噴霧する噴霧手段と、噴霧された前記溶液原料を気化するための加熱された気化面を備えた気化室と、該気化室にて生成された原料ガスを導出するガス導出口とを有する気化器において、
前記気化面は、前記噴霧手段による噴霧方向に対向するように配置された第1気化面と、該第1気化面に沿って対向配置された第2気化面とを有し、
前記第1気化面と前記第2気化面の間隔を変更する手段を有することを特徴とする気化器。 - 前記第1気化面と前記第2気化面との間隔が前記噴霧位置から前記ガス導出口へ向けて漸減することを特徴とする請求項1に記載の気化器。
- 前記第1気化面と前記第2気化面の少なくとも一方が前記噴霧位置から前記ガス導出口へ向けて凹凸状に構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の気化器。
- 前記第1気化面と前記第2気化面とが共に前記噴霧位置から前記ガス導出口へ向けて相互に対応する凹凸状に構成されていることを特徴とする請求項3に記載の気化器。
- 前記気化室の内圧を検出する手段と、前記内圧を制御条件の少なくとも一つとして前記間隔を制御する制御手段とを有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の気化器。
- 前記第2気化面に凹部が設けられ、該凹部の底部に前記噴霧手段の噴霧口が配置されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の気化器。
- 前記噴霧手段の噴霧口の周囲にパージガスを噴出するパージガス噴出口を設けたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の気化器。
- 前記第1気化面には前記噴霧手段の噴霧口の対向位置に傾斜面を設けたことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の気化器。
- 前記ガス導出口にフィルタを設置したことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の気化器。
- 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の気化器と、前記溶液原料を前記気化器に供給する原料供給系と、前記気化器から導出される前記原料ガスを用いて成膜するための成膜室とを有することを特徴とする成膜装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003343547A JP4316341B2 (ja) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | 気化器及び成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003343547A JP4316341B2 (ja) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | 気化器及び成膜装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009021884A Division JP4972657B2 (ja) | 2009-02-02 | 2009-02-02 | 気化器及び成膜装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005109349A JP2005109349A (ja) | 2005-04-21 |
| JP4316341B2 true JP4316341B2 (ja) | 2009-08-19 |
Family
ID=34537480
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003343547A Expired - Fee Related JP4316341B2 (ja) | 2003-10-01 | 2003-10-01 | 気化器及び成膜装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4316341B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4828918B2 (ja) | 2005-11-07 | 2011-11-30 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 気化器及び気相成長装置 |
| US8268078B2 (en) * | 2006-03-16 | 2012-09-18 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for reducing particle contamination in a deposition system |
| JP5213341B2 (ja) | 2007-03-20 | 2013-06-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 気化器,気化モジュール,成膜装置 |
| JP2009188266A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-20 | Tokyo Electron Ltd | 液体原料気化器及びそれを用いた成膜装置 |
| JP5641182B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2014-12-17 | 株式会社ノーリツ | 蒸発装置及びこれを用いた燃料電池システム |
| JP2012167317A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-06 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 原子層堆積装置 |
| KR101615585B1 (ko) * | 2011-12-20 | 2016-04-26 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기화 장치 |
| JP5845325B2 (ja) * | 2014-09-09 | 2016-01-20 | 株式会社渡辺商行 | 気化装置、及び、気化装置を備えた成膜装置 |
| WO2017009997A1 (ja) | 2015-07-16 | 2017-01-19 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び気化システム |
| JP7716740B2 (ja) * | 2021-07-14 | 2025-08-01 | 株式会社リンテック | 気化器 |
| JP7045743B1 (ja) | 2021-10-11 | 2022-04-01 | 株式会社リンテック | 気化器 |
-
2003
- 2003-10-01 JP JP2003343547A patent/JP4316341B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2005109349A (ja) | 2005-04-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4316341B2 (ja) | 気化器及び成膜装置 | |
| JP4352783B2 (ja) | ガス供給系及び処理システム | |
| KR101240031B1 (ko) | 기화기 및 이를 이용한 성막 장치 | |
| JP4972657B2 (ja) | 気化器及び成膜装置 | |
| JPH0828332B2 (ja) | 液体蒸発装置 | |
| JP6412186B2 (ja) | 直接液体堆積 | |
| WO2006075709A1 (ja) | 気化装置及び処理装置 | |
| KR20180016563A (ko) | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기화 시스템 | |
| JP3893177B2 (ja) | 気化装置、cvd装置及び薄膜製造方法 | |
| KR101177216B1 (ko) | 액체 원료 기화기 및 그것을 이용한 성막 장치 | |
| JP2007165847A (ja) | 熱処理方法、熱処理装置及び気化装置 | |
| JPH10140356A5 (ja) | ||
| JP4593947B2 (ja) | 成膜装置および成膜方法 | |
| JP2004211183A (ja) | 気化器 | |
| JP4309630B2 (ja) | 原料気化器及び成膜処理装置 | |
| JP3720083B2 (ja) | 半導体素子用薄膜の製造方法および装置、並びに半導体ウェハ | |
| JP3567831B2 (ja) | 気化装置 | |
| JP2005113221A (ja) | 気化器並びにこれを用いた液体気化供給装置 | |
| US7672575B2 (en) | Evaporator featuring annular ridge member provided on side wall surface of evaporating chamber | |
| JP4218942B2 (ja) | 薄膜製造装置及び薄膜製造方法 | |
| JP4334968B2 (ja) | 成膜装置 | |
| KR101949030B1 (ko) | 투룸형 기화기 | |
| JP2018170468A (ja) | 縦型熱処理装置 | |
| JP2010067906A (ja) | 気化器及びそれを用いた成膜装置 | |
| JPH04276006A (ja) | 金属粉末の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060808 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081125 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081202 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090202 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090519 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090520 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120529 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150529 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |