JP4083371B2 - Substrate processing equipment - Google Patents
Substrate processing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- JP4083371B2 JP4083371B2 JP2000168730A JP2000168730A JP4083371B2 JP 4083371 B2 JP4083371 B2 JP 4083371B2 JP 2000168730 A JP2000168730 A JP 2000168730A JP 2000168730 A JP2000168730 A JP 2000168730A JP 4083371 B2 JP4083371 B2 JP 4083371B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- cooling
- processing
- processing apparatus
- transport
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば半導体デバイスの製造におけるリソグラフィ技術では、半導体ウエハ(以下、「ウエハ」という。)等の基板の表面にレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、パターンを露光した後に、この基板に対して現像液を供給して現像処理している。そして、このような一連の処理工程を行うにあたり、従来から基板処理装置が使用されている。
【0003】
基板処理装置には、ウエハにレジスト液を塗布して処理するレジスト塗布処理装置、レジスト塗布処理終了後のウエハや露光処理後のウエハを加熱処理する加熱処理装置、加熱処理後のウエハを所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置、ウエハに現像液を供給して現像処理する現像処理装置等が個別に備えられており、これらの各処理装置間におけるウエハの搬送、並びにウエハの搬入出は、搬送装置によって行われている。
【0004】
ところで、加熱処理終了後のウエハは直ちに冷まさないと、ウエハが過剰に加熱処理されてしまう、いわゆるオーバーベークによる処理不良が起こるおそれがある。そこで従来は、加熱処理終了後のウエハに蓄えられた熱を迅速に除去するために、例えば加熱処理装置と搬送装置との各タクトを調整して、ウエハの加熱処理が終了する前に搬送装置が加熱処理装置にて待機するようにし、搬送装置が加熱処理終了後のウエハを直ちに冷却処理ユニットまで搬送できるようにしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、例えば先に冷却処理に付されているウエハの冷却処理装置からの搬出が何らかの事情で遅れた場合には、この冷却処理装置に対して加熱処理終了後のウエハを直ちに搬入することができなくなる。その結果、加熱処理後のウエハは冷却処理装置に搬入されずそのままの状態で待機するしかなく、オーバーベークによる処理不良が発生するおそれが生じる。
【0006】
そこで本発明は、加熱処理後の基板のオーバーベークによる処理不良を防止することのできる基板処理装置を提供して、上記課題を解決することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために,請求項1によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置が提供される。
【0010】
請求項1に記載の基板処理装置によれば,加熱処理終了直後の温度の高い基板を搬送する第1搬送装置と,冷却処理装置にて所定温度まで冷却された基板を搬送する第2搬送装置とに分けているので,第2搬送装置に熱が蓄積せず,以後の所定の液処理を好適に実施することができる。とりわけ,温度に敏感なレジスト塗布処理装置に基板を搬送する場合には,有効である。しかも,プレ冷却装置と冷却処理装置との間における基板の搬送に専用の第3搬送装置を使用して,基板の温度状況によってこれらの搬送装置を使い分けているので,さらに基板に対する熱的影響を防止することができる。そして,第1〜第3搬送装置によって基板の搬送を分担して行うようにしているので,第1搬送装置が基板を搬送する際の負担を軽くすることができる。
【0013】
請求項2によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,さらに,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置が提供される。
【0014】
請求項2に記載の基板処理装置によれば,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置,冷却処理装置および第1,第2搬送装置がそれぞれ配置されているので,まず熱処理装置から発せられる熱が液処理装置に伝わることを防止することができる。また,第2搬送装置は冷却処理装置にて冷却処理された後の基板を搬送し,加熱直後の高温の基板を搬送しない。従って,例えば液処理装置での処理がレジスト塗布処理等のように温度変化に敏感な場合には,熱による悪影響を抑えて好適な処理が実施可能である。さらに,加熱処理直後の基板を搬送する第1搬送装置と,冷却処理終了後の基板を搬送する第2搬送装置と,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送する第3搬送装置とで基板の搬送を分担しているので,第1搬送装置の負担を減らすことができる。
【0017】
請求項3に記載の発明は,請求項1または2に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,冷却処理装置の上部に積み重ねられたことを特徴としている。
【0018】
請求項3に記載の基板処理装置によれば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に積み重ねられているので,装置の床専有面積をより減少させることができる。従って,装置内の配置スペースをより有効に利用することができる。
【0019】
請求項4に記載の発明は,請求項1,2または3に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,基板を支持可能な支持部材を有する平面板であることを特徴としている。
【0020】
請求項4に記載の基板処理装置によれば,基板を支持部材に支持させた状態でプレ冷却することができる。このように,プレ冷却装置の構造を簡素化することにより,例えば所定の大きさの基板処理装置内に組み込むことのできるプレ冷却装置の数を増やすことができ,また基板処理装置全体の大きさを抑えることもできる。
【0021】
かかる請求項4の発明において,請求項5のように前記支持部材が,複数の支持ピンを有するようにしてもよい。このように,前記支持部材が複数の支持ピンを有することにより,基板をプレ冷却処理する際に,基板を接触面積の小さい支持ピンで支持することができるので,基板の放熱効果が向上する。
【0022】
また,かかる請求項4の発明において,請求項6のように前記支持部材が,基板の中央部及びその近傍を支持する支持面を有する支持体を有するようにしてもよい。このように,前記支持部材が基板の中心部とその近傍を支持する支持面を有する支持体を有することにより,基板をプレ冷却処理する際に,基板を接触面積の小さい支持体で支持することができるので,基板の放熱効果が向上する。
【0023】
請求項7に記載の発明は,請求項1,2,3,4,5または6に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,基板の熱を放熱するための放熱機構を有することを特徴としている。
【0024】
請求項7に記載の基板処理装置によれば,プレ冷却装置に搬入した基板を,に放熱機構によって冷却することができるので,格別他の専用の冷却機構等は不要である。ここで,放熱機構の具体的な例としては,例えば放熱フィンや放熱ファン,温度調整水等の温度調整流体が流通する循環路等が挙げられる。
【0025】
以上の各基板処理装置において,請求項8のように前記プレ冷却装置が,基板に向けて送風するファンを有するようにしてもよいし,請求項9のように基板に向けて冷却用気体を噴出する気体噴出部を有するようにしてもよい。このように,プレ冷却装置にファン又は気体噴出部を有することにより,プレ冷却装置内の基板を積極的に冷却することができるため,より短時間で基板を所定温度まで冷却し,オーバーベークによる処理不良の発生を防止することができる。
【0026】
特に,請求項10のように前記冷却用気体は不活性ガスを含むようにしてもよい。このように,前記冷却用気体に不活性気体を含ませることにより,基板に冷却用気体を噴出することによって基板に悪影響を与えることなく,基板を好適に冷却することができる。
【0027】
上述した請求項1〜10の基板処理装置において,請求項11のように前記プレ冷却装置は,このプレ冷却装置内を強制的に排気する排気機構を有するようにしてもよい。このように,プレ冷却装置内の雰囲気を排気する排気機構を有することにより,その雰囲気と共にプレ冷却装置内の熱を外部に逃がすことができるので,より効率的に基板を冷却することができる。
【0028】
さらに,上述した請求項1〜11の基板処理装置は,請求項12のように前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられるようにしてもよい。このように,プレ冷却装置が複数段に積み重ねられていることにより,一時に多数の基板をプレ冷却処理することができ,短時間で多数の基板を処理する基板処理装置においても,オーバーベークによる処理不良の発生を防止することができる。
【0029】
かかる請求項12の発明において,請求項13のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このような制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板を上段のプレ冷却装置から搬入することにより,例えば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に位置しているときには,基板の熱が下部の冷却処理装置に悪影響を与えることを抑制することができる。
【0030】
また,かかる請求項12の発明において,請求項14のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このように制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板を下段のプレ冷却装置から搬入することにより,例えば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に位置しているときには,プレ冷却装置から冷却処理装置に基板を搬送する距離を短縮することができる。
【0031】
さらに,かかる請求項12の発明において,請求項15のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このような制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板が既に搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入することにより,各プレ冷却装置に搬入された基板が互いに熱的に干渉し合い,互いに熱的な悪影響を及ぼし合うことを防止することができる。
また本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,を有する基板の処理装置において,基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
そしてまた本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
さらにまた本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合も,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段 に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
【0038】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態にかかる基板処理装置について説明する。
【0039】
基板処理装置1は図1に示すように、例えば25枚のウエハWをカセット単位で外部から基板処理装置1に搬入出したり、カセットCにウエハWを搬入出したりするためのカセットステーション2と、枚葉式に所定の処理を施す各種処理ユニットが配置されている処理ステーション3と、ウエハWを露光する露光装置EにウエハWを受け渡しするインターフェイス部4とを一体に接続した構成を有している。
【0040】
カセットステーション2では、カセット載置台5上の所定の位置にカセットCがウエハWの出入口を処理ステーション3側に向けてX方向(図1中の上下方向)一列に載置自在である。そして、このカセット配列方向(X方向)及びカセットCに収容されたウエハWのウエハ配列方向(Z方向;垂直方向)に移動可能なウエハ搬送体6が搬送路7に沿って移動自在である。ウエハ搬送体6はθ方向(Z軸を中心とする回転方向)にも回転自在であり、カセットCに対して選択的にアクセスできるようになっている。
【0041】
処理ステーション3には図1、2に示すように、ウエハWに所定の処理を施す各種の処理装置が配置されている。即ち、処理ステーション3の正面側には回転するウエハWにレジスト液を塗布して処理するレジスト塗布処理装置8と、回転するウエハWに現像液を供給して処理する現像処理装置9とが下から順に2段に積み重なった状態で3列に配置されている。なお、カセットステーション2側には、レジスト液供給タンクやその他の機器を収納可能なケミカルボックス10が設けられている。
【0042】
処理ステーション3の背面側には、ウエハWとレジスト膜との密着性を向上させるアドヒージョン装置や、レジスト塗布処理後のウエハWを加熱処理するプリベーキング装置、露光処理後のウエハWを加熱処理するポストエクスポージャベーキング装置、現像処理後のウエハWを加熱処理するポストベーキング装置等のウエハWを加熱処理する各種の加熱処理装置11が8段に積み重なった状態で4列に配置されている。
【0043】
そして、レジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と加熱処理装置11との間には、ウエハWを搬送する第1搬送装置12及び第2搬送装置13と、ウエハWを所定温度に冷却処理する冷却処理装置14と、この冷却処理装置14における冷却処理前にウエハWを冷却するプレ冷却装置15と、冷却処理装置14とプレ冷却装置15との間でウエハWを搬送する第3搬送装置17と、ウエハWを載置自在な載置台33、34、35、36とが備えられている。
【0044】
第1搬送装置12および第2搬送装置13は基本的に同様の構成を有しており、第1搬送装置12の構成について説明すると、第1搬送装置12は図3に示すように、搬送基台18上にウエハWを保持可能なピンセット19、20を上下に備えており、ピンセット19、20は搬送基台18に内蔵された適宜のモータ(図示せず)によってそれぞれ前後に独立して移動自在となっている。搬送基台18は昇降自在でかつ回転自在な昇降軸21上に設けられており、さらに昇降軸21自体は搬送レール22に沿って移動自在な移動基台23上に設けられている。第2搬送装置13も、搬送基台28上にピンセット29、30を上下に備えており、上記搬送レール22と平行に配置された搬送レール32に沿って移動自在となっている。
【0045】
そして、搬送レール22、32におけるカセットステーション2側の端部にはウエハWを載置自在な載置台33、34が各々設けられており、第1搬送装置12は載置台33を介してウエハ搬送体6とウエハWの授受ができるようになっており、第2搬送装置13は載置台34を介してウエハ搬送体6とウエハWの授受ができるようになっている。
【0046】
冷却処理装置14は4段に積み重ねられている。この冷却処理装置14は、ケーシング14a内に搬入されたウエハWを所定温度まで冷却する処理を行うように構成されている。そのため,冷却処理装置14は,ケーシング14a内にペルチェ素子や冷却水が供給される冷却管等が埋設され,ウェハWが載置された冷却板を有する。このような部材を有するという点で,プレ冷却装置15と区別することも可能である。プレ冷却装置15は最上部の冷却処理装置14の上に8段に積み重ねられている。プレ冷却装置15は図2に示したように、熱伝導性の良好な材質、例えばアルミニウムからなる平面板15aと、この平面板15aの上に設けられたウエハWを指示する支持部材としての3本の支持ピン15bと、平面板15aの下面に設けられている放熱機構としての放熱フィン15cとによって構成されている。そして、これら多段に積み重ねられた冷却処理装置14とプレ冷却装置15とで冷却処理装置群16が構成されており、合計3基の冷却処理装置群16が搬送レール22、32の長さ方向に沿って配置されている。そして、第1搬送装置12を挟んで加熱処理装置11と冷却処理装置群16とが対向して配置されており、第2搬送装置13を挟んでレジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と冷却処理装置群16とが対向して配置されている。
【0047】
前記隣合う冷却処理装置群16と冷却処理装置群16との間には第3搬送装置17が配置されている。この第3搬送装置17は、ピンセット17aにウエハWを保持させた状態で昇降移動と伸縮移動とができるように形成されており、冷却処理装置14とプレ冷却装置15との間でウエハWを搬送することができるようになっている。
【0048】
また、最もインターフェイス部4側に位置する冷却処理装置群16とインターフェイス部4の近傍には、載置台33、34と基本的に同様な構成を有する載置台35、36が搬送レール22、32の長さ方向に沿って並んで配置されている。またこれら載置台35、36は、上下多段の積層構造としてもよい。そして前記第1搬送装置12は加熱処理装置11、プレ冷却装置15及び載置台35、36に対してウエハWを搬送することができるようになっており、第2搬送装置13はレジスト塗布処理装置8、現像処理装置9、冷却処理装置14及び載置台35、36に対してウエハWを搬送することができるようになっている。
【0049】
インターフェイス部4には、搬送レール40に沿ったX方向の移動、Z方向の移動及びθ方向の回転の自在なウエハ搬送体41が設けられており、ウエハ搬送体41は、露光装置Eと、載置台36と、周辺露光装置42とに対してウエハWを搬送することができるようになっている。
【0050】
本発明の実施の形態にかかる基板処理装置1は以上のように構成されており、次にその作用効果等について説明する。
【0051】
カセット載置台5上に未処理のウエハWを収納したカセットCが載置されると、ウエハ搬送体6はこのカセットCからウエハWを1枚抜き出し、抜き出されたウエハWは先ず載置台33に載置される。次いで、当該ウエハWは第1搬送装置12によって、アライメント装置、アドヒージョン装置に順次搬送され、所定の処理が施される。この場合、アライメント装置は、載置台33と兼用としてもよい。またアドヒージョン装置については、通常熱処理を伴うことから、多数ある加熱処理装置11の一部にアドヒージョン処理機能を持たせてもよい。
【0052】
次いで、ウエハWは第1搬送装置12のピンセット19に保持された状態でプレ冷却装置15に搬送される。その後ウエハWはプレ冷却装置15に搬入されて、図4の実線で示すように、支持ピン15aに支持された状態で自然冷却される。かかるプレ冷却によって、ウエハWはオーバーベークの生じない温度まで冷却される。その後このプレ冷却されたウエハWは、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて、所定温度に達するまで冷却処理される。
【0053】
所定温度に冷却処理されたウエハWは、第2搬送装置13によってレジスト塗布処理装置8に搬送され、所定のレジスト塗布処理が実施される。その後このレジストが塗布されたウエハWは、第2搬送装置13によって、載置台35に搬送される。そして、第1搬送装置12によって載置台35から加熱処理装置11に搬送されてプリベーキング処理される。そしてその後このウエハWは、再びプレ冷却装置15、冷却処理装置14で所定の冷却処理がなされた後、載置台36へと搬送され、次にこのウエハWはウエハ搬送体41に受け渡され、周辺露光装置42を経て、露光装置Eに搬送されて、パターンの露光処理が施される。
【0054】
前記露光装置Eにおいて露光処理されたウエハWは、載置台36に搬送された後、第1搬送装置12によって加熱処理装置11へと搬送され、ポストエクスポージャベーキング処理される。次いで、このウエハWは第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送されてプレ冷却された後に、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送される。冷却処理装置14にて所定温度に冷却処理されたウエハWは第2搬送装置13によって現像処理装置9に搬送されて現像処理された後に載置台35に搬送される。そして、再び第1搬送装置12によって、加熱処理装置11へと搬送されて、ポストベーキング処理に付される。
【0055】
ポストベーキング処理された後のウエハWは、第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送され、その後第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて所定温度にまで冷却される。所定温度にまで冷却された後のウエハWは、第2搬送装置13によって載置台34に搬送される。そして、ウエハ搬送体6によって載置台34からカセットCに搬送された後、このカセットCに収納される。こうして、ウエハWの一連の処理が終了する。
【0056】
以上のように、本発明の実施の形態にかかる基板処理装置1では、アドヒージョン処理、ポストエクスポージャベーキング処理、ポストベーキング処理等の加熱を伴う処理、及び加熱処理が加熱処理装置11で行われた直後のウエハWが、まず第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送されて、プレ冷却される。そしてその後に、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて所定温度にまで冷却処理されるようになっている。そのため加熱処理終了直後のウエハWを少なくともオーバーベークの起こらない程度の温度まで速やかに冷却することができるようになり、オーバーベークによる処理不良を防止することが可能である。また、プレ冷却装置15には、放熱フィン15cが設けられているので、ウエハWの冷却効率は向上しており、構造的にも簡素なものとなっている。
【0057】
そしてたそのようにして所定温度にまで冷却された後のウエハWは第2搬送装置13によってレジスト塗布処理装置8や現像処理装置9などの液処理装置に搬送されるようになっている。したがって、第2搬送装置13は所定温度にまで冷却された後のウエハWのみを搬送し、加熱直後の高温のウエハWを搬送することはない。したがって、温度に敏感なレジスト塗布処理を好適に実施することができる。
【0058】
また第1搬送装置12、第2搬送装置13、第3搬送装置17によって、各々ウエハWの搬送を分担しているので、第1搬送装置12のウエハ搬送の負担は軽減化されている。その結果、第1搬送装置12による加熱処理終了直後のウエハWの搬送の遅れを防止することができるようになるので、オーバーベークによるウエハWの処理不良の発生をより確実に防止することができる。
【0059】
しかもレジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と、加熱処理装置11との間に冷却処理装置14及びプレ冷却装置15が配置されているので、加熱処理装置11からの熱がレジスト塗布処理装置8や現像処理装置9に伝わることを防止することができる。その結果、温度に敏感なレジスト塗布処理等の所定の液処理を好適に実施することができる。
【0060】
その他4段に積み重ねられた冷却処理装置14の上部に、プレ冷却装置15が8段に積み重ねられているので、占有床面積の減少が図られている。またプレ冷却装置15自体は、基本的に平面板15aで構成されているから、基板処理装置1に組み込む台数を多くすることができる。
【0061】
また、前記実施の形態ではプレ冷却装置15と冷却処理装置14との間のウエハWの搬送は、専用の第3搬送装置17が担っていたが、この第3搬送装置17を付加せずに、第1搬送装置12自体が、プレ冷却装置15と冷却処理装置14との間の搬送を行うように構成してもよい。こうすれば、基板処理装置1全体の構造の簡素化を図れる。また、配置スペースの有効利用も可能となる。
【0062】
なお、前記実施の形態ではプレ冷却装置15を冷却処理装置14の上部に積み上げた例を挙げて説明したが、本発明では冷却処理装置14とプレ冷却装置15とを並べて配置することももちろん可能である。
【0063】
さらに、プレ冷却装置15に設けられる放熱機構は放熱フィン15bに限定されず、図5に示すような冷却ファン45であってもよい。こうすれば、冷却ファン45からの送風でウエハWを冷却することができるようになり、オーバーベークによる処理不良の発生を同様に防止できる。また、放熱フィン15bと冷却ファン45とを組み合わせて、冷却効果をさらに向上させることも可能である。
【0064】
また,冷却ファン45に代えて,図6に示すように,ウェハWに向けて不活性ガス,例えば窒素ガスを噴出するガス噴出部61をプレ冷却装置15に設けてもよい。これにより同様にウェハWを効率よく冷却することができる。
【0065】
上述した実施の形態では,プレ冷却装置15が,ウェハWを支持する支持部材としての3本の支持ピンが設けられた平面板を有するものであったが,図7に示すように,プレ冷却装置71が,ウェハWの中央部及びその近傍を支持する支持面72を有する支持体73を平面板74上に有するものであってもよい。これにより,支持体73を使った放熱効果が期待できる。
【0066】
図4に示したようにプレ冷却装置15は多段に積層配置されていたが,図8に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち上段のプレ冷却装置15から順番にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,冷却処理装置14に対する熱的悪影響を小さくすることができる。
【0067】
また,図9に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち下段のプレ冷却装置15から順番にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,プレ冷却装置15から冷却処理装置14にウェハWを搬送する距離をより小さくすることができる。
【0068】
さらに,図10に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち既にウェハWが搬入されているプレ冷却装置15から離れた位置のプレ冷却装置15にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,プレ冷却装置15相互間の熱的悪影響を小さくすることができる。
【0069】
図11に示すように,プレ冷却装置15及び冷却処理装置14が配置された領域111上にダウンフローの清浄エアーを供給するエアー供給部112が設けられている場合,各プレ冷却装置15の外周部に各プレ冷却装置15内に清浄エアーを導入するための導入部材113を設けてもよい。その場合,図11に示したように,平面から観てすなわち上方から観て下段のプレ冷却装置15の導入部材113が,上段のプレ冷却装置15の導入部材113より突出している方がより好ましい。これにより,各プレ冷却装置15において,ウェハWをより効率よく冷却することが可能となる。また,この領域111にこの領域111内の温度を検出するための温度センサ114を設け,制御部115がこの温度センサ114の検出結果に基づきエアー供給部112から供給される清浄エアーの供給量を制御するように構成してもよい。例えば,領域111内の温度が上昇したらエアー供給量を多くなるように制御することで,効率のよい温度制御が可能となる。
【0070】
図12に示すように,各プレ冷却装置15の背後に各プレ冷却装置15内の気体を排気するための排気口121を設け,排気通路123を介して排気装置124により各プレ冷却装置15内を排気するように構成すれば,各プレ冷却装置15においてより効率のよい冷却を行うことが可能となる。
【0071】
図1に示した実施の形態では,第1搬送装置12及び第2搬送装置13はY方向に移動可能であったが,図13に示すように,XY方向には移動しない垂直搬送型の搬送装置131,132を第1搬送装置12の代わりに,同様の垂直搬送型の搬送装置133,134を第2搬送装置13の代わりに用いるようにしてもよい。すなわち,これら垂直搬送型の搬送装置131,132,133,134は上下方向に昇降可能で,かつθ方向に回転自在で,さらにアームが各装置に対して進退自在な搬送装置として構成されており,このような搬送装置131〜134を使用してもよい。
【0072】
前記実施の形態では、基板にウエハWを使用した例を挙げて説明したが、本発明はLCD基板やCD基板等の他の基板を対象とする場合についても適用が可能である。
【0073】
【発明の効果】
請求項1〜24によれば,加熱処理直後の基板を冷却処理装置にて所定温度まで冷却する前に,当該基板をプレ冷却装置にてプレ冷却するので,オーバーベークによる基板の処理不良を防止することができる。
【0074】
請求項1〜24によれば,第1搬送装置の負担を軽減化することができるので,加熱処理直後の基板の搬送の遅れを防止することができる。その結果,オーバーベークによる基板の処理不良をより確実に防止することが可能となる。また,第2搬送装置は所定温度以下の基板を搬送するので,液処理を好適に実施することができる。
【0076】
請求項2によれば,近接配置されたプレ冷却装置及び冷却処理装置を挟んで,加熱処理装置と液処理装置とが配置されているので,加熱処理装置からの熱が液処理装置に伝わらず,液処理をさらに好適に実施することができる。
【0077】
請求項3によれば,装置の床専有面積の縮小化を図ることができ,基板処理装置内の限られた配置スペースを有効に利用することができる。
【0078】
請求項4によれば,プレ冷却装置の構造を簡素化して,基板処理装置全体の縮小化を図ることが可能である。
【0079】
請求項7によれば,基板をプレ冷却する際の冷却効率がさらに向上し,オーバーベークによる処理不良をより確実に防止できる。
【0080】
請求項12によれば,一時に多数の基板をプレ冷却することができるので,その分スループットの向上が図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる基板処理装置の概略的な平面図である。
【図2】図1の基板処理装置の処理ステーションを示す斜視図である。
【図3】図2の処理ステーションに具備された第1搬送装置の斜視図である。
【図4】第1冷却処理装置群の上に積み重ねられたプレ冷却装置を示す説明図である。
【図5】冷却ファンを装備したプレ冷却装置を示す斜視図である。
【図6】窒素ガスブローを装備したプレ冷却装置を示す斜視図である。
【図7】プレ冷却装置の他の構成例を示す図である。
【図8】プレ冷却装置への搬入制御を説明するための図である。
【図9】プレ冷却装置への他の搬入制御を説明するための図である。
【図10】プレ冷却装置への更に別の搬入制御を説明するための図である。
【図11】プレ冷却装置のさらに別の構成例を示す図である。
【図12】プレ冷却装置のまた別の構成例を示す図である。
【図13】本発明にかかる基板処理装置の他の構成例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 基板処理装置
12 第1搬送装置
13 第2搬送装置
14 冷却処理装置
15 プレ冷却装置
15b 放熱フィン
16 冷却処理装置群
17 第3搬送装置
45 冷却ファン
C カセット
W ウエハ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing apparatus.
[0002]
[Prior art]
For example, in lithography technology in the manufacture of semiconductor devices, a resist solution is applied to the surface of a substrate such as a semiconductor wafer (hereinafter referred to as “wafer”) to form a resist film, and the pattern is exposed. A developing solution is supplied for development processing. In performing such a series of processing steps, a substrate processing apparatus has been conventionally used.
[0003]
The substrate processing apparatus includes a resist coating processing apparatus that applies a resist solution to a wafer and processes the wafer, a heat processing apparatus that heats the wafer after completion of the resist coating process and a wafer after exposure processing, Are individually provided with a cooling processing apparatus for performing cooling processing, a developing processing apparatus for supplying a developing solution to the wafer and developing the wafer, and transporting wafers between these processing apparatuses, and loading / unloading of wafers, This is done by the transport device.
[0004]
By the way, if the wafer after the heat treatment is not immediately cooled, the wafer may be excessively heat-treated, which may cause a processing failure due to so-called overbaking. Therefore, conventionally, in order to quickly remove the heat stored in the wafer after completion of the heat treatment, for example, by adjusting each tact between the heat treatment device and the transfer device, the transfer device before the heat treatment of the wafer is finished. However, the transfer device can immediately transfer the wafer after the heat processing to the cooling processing unit.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, for example, when unloading of the wafer that has been subjected to the cooling process from the cooling processing apparatus is delayed for some reason, the wafer after the heating process can be immediately loaded into the cooling processing apparatus. Disappear. As a result, the wafer after the heat treatment cannot be carried into the cooling processing apparatus but waits in the state as it is, and there is a possibility that a processing failure due to overbaking may occur.
[0006]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of preventing a processing failure due to overbaking of a substrate after heat treatment, and to solve the above problems.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
To achieve the above objective,Claim1According to the above, a liquid processing apparatus for supplying a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus for cooling the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus for heating the substrate, and a substrate after the heating processing A pre-cooling device that cools the substrate before performing the cooling process in the cooling processing device, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate. The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device, and the third transport device is configured to transport the substrate between the apparatus and the pre-cooling device. There is provided a substrate processing apparatus configured to transfer a substrate between a pre-cooling apparatus and a cooling processing apparatus.
[0010]
Claim1According to the substrate processing apparatus described in 1), the substrate processing apparatus is divided into a first transport apparatus that transports a substrate having a high temperature immediately after the end of the heat treatment and a second transport apparatus that transports the substrate cooled to a predetermined temperature by the cooling processing apparatus. Therefore, heat does not accumulate in the second transport device, and the subsequent predetermined liquid treatment can be suitably performed. This is particularly effective when the substrate is transferred to a temperature-sensitive resist coating apparatus. In addition, since a third transport device dedicated to transporting the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device is used, and these transport devices are properly used depending on the temperature condition of the substrate, the thermal effect on the substrate is further reduced. Can be prevented. And since the board | substrate conveyance is shared and performed by the 1st-3rd conveying apparatus, the burden at the time of a 1st conveying apparatus conveying a board | substrate can be eased.
[0013]
Claim2According to the present invention, a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a substrate after the heating processing are added to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate, and sandwiching the first transport device, A pre-cooling device, a liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transport device, and a pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device. In addition, the first transfer device is configured to transfer the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device, and the second transfer device transfers the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. The third transport device is configured as a pre-cooling device and Characterized in that it is configured to transfer substrates between the retirement processing apparatus, a substrate processing apparatus is provided.
[0014]
Claim2Since the pre-cooling device, the cooling processing device, and the first and second transfer devices are respectively arranged between the heat processing device and the liquid processing device, first, the substrate processing device described above is emitted from the heat processing device. It is possible to prevent heat from being transmitted to the liquid processing apparatus. The second transport device transports the substrate after being cooled by the cooling processing device, and does not transport the high-temperature substrate immediately after heating. Therefore, for example, when the processing in the liquid processing apparatus is sensitive to a temperature change such as a resist coating processing, it is possible to perform a suitable processing while suppressing the adverse effect of heat. Furthermore, a first transport device for transporting the substrate immediately after the heat treatment, a second transport device for transporting the substrate after completion of the cooling processing, and a third transport device for transporting the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device. Therefore, the burden on the first transfer device can be reduced.
[0017]
Claim3The invention described in
[0018]
Claim3Since the pre-cooling device is stacked on top of the cooling processing device, the floor-occupying area of the device can be further reduced. Therefore, the arrangement space in the apparatus can be used more effectively.
[0019]
Claim4The invention described in
[0020]
Claim4According to the substrate processing apparatus described in (1), the substrate can be pre-cooled while being supported by the support member. Thus, by simplifying the structure of the pre-cooling device, for example, the number of pre-cooling devices that can be incorporated in a substrate processing device of a predetermined size can be increased, and the size of the entire substrate processing device can be increased. Can also be suppressed.
[0021]
Such claims4In the invention of claim5As described above, the support member may have a plurality of support pins. As described above, since the support member has a plurality of support pins, the substrate can be supported by the support pins having a small contact area when the substrate is pre-cooled, so that the heat dissipation effect of the substrate is improved.
[0022]
Such claims.4In the invention of claim6As described above, the support member may include a support having a support surface that supports the central portion of the substrate and the vicinity thereof. As described above, when the support member has a support body having a support surface that supports the central portion of the substrate and the vicinity thereof, the substrate is supported by a support body having a small contact area when the substrate is precooled. Can improve the heat dissipation effect of the board.
[0023]
Claim7The invention described in
[0024]
Claim7According to the substrate processing apparatus described in (1), since the substrate carried into the pre-cooling apparatus can be cooled by the heat dissipation mechanism, no other special cooling mechanism or the like is required. Here, specific examples of the heat dissipation mechanism include, for example, a circulation path through which a temperature adjustment fluid such as a heat dissipation fin, a heat dissipation fan, and temperature adjustment water flows.
[0025]
In each of the above substrate processing apparatuses, the claim8As described above, the pre-cooling device may have a fan for blowing air toward the substrate.9As described above, a gas ejection portion that ejects a cooling gas toward the substrate may be provided. As described above, since the pre-cooling device has the fan or the gas jetting part, the substrate in the pre-cooling device can be actively cooled. Occurrence of processing defects can be prevented.
[0026]
In particular, the claims10As described above, the cooling gas may contain an inert gas. Thus, by including an inert gas in the cooling gas, the substrate can be suitably cooled without adversely affecting the substrate by ejecting the cooling gas onto the substrate.
[0027]
[0028]
Furthermore, the above-mentioned
[0029]
Such claims12In the invention of claim13As described above, a means for controlling the substrate to be carried in from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages may be provided. By providing such a control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device and carrying the substrate from the upper pre-cooling device, for example, the pre-cooling device is positioned above the cooling processing device. In this case, the substrate heat can be prevented from adversely affecting the cooling processing apparatus below.
[0030]
Such claims.12In the invention of claim14As described above, it may have a means for controlling the substrate to be carried in from the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. Thus, by providing the control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device and carrying the substrate from the lower pre-cooling device, for example, the pre-cooling device is positioned above the cooling processing device. In this case, the distance for transporting the substrate from the pre-cooling device to the cooling processing device can be shortened.
[0031]
In addition, such claims12In the invention of claim15As described above, the pre-cooling device stacked in the plurality of stages may be provided with a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate has already been loaded. . By providing such a control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device, the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device where the substrate has already been loaded. It is possible to prevent the substrates carried into the pre-cooling apparatus from interfering with each other thermally and causing adverse thermal effects.
Further, according to the present invention, there is provided a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, and a heating processing apparatus that heats the substrate. And a pre-cooling device that cools the substrate before the substrate is cooled to a predetermined temperature. The pre-cooling device is stacked in a plurality of stages, and the upper stage of the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. There is provided a substrate processing apparatus having means for controlling the substrate to be carried in from the pre-cooling apparatus.
In this case, instead of means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. A means for controlling the substrate to be loaded from the apparatus, or the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrates are already loaded among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. You may make it comprise the means to control.
Further, according to the present invention, a liquid processing apparatus for supplying a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus for cooling the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus for heating the substrate, and a post-heating process A pre-cooling device for cooling the substrate before the substrate is cooled by the cooling processing device, and a first transport device and a second transport device for transporting the substrate. And the pre-cooling device are configured to transport the substrate, and the second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. At least one of the second transfer devices is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device, and the pre-cooling devices are stacked in a plurality of stages, and the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages are stacked. Upper part of the cooling device It is characterized in that it comprises means for controlling so as to carry the substrate from the pre-cooling deviceA substrate processing apparatus is provided.
In this case, instead of means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. A means for controlling the substrate to be loaded from the apparatus, or the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrates are already loaded among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. You may make it comprise the means to control.
Furthermore, according to the present invention, a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a post-heating process A pre-cooling device that cools the substrate before the substrate is cooled by the cooling processing device, a first transport device that transports the substrate, and a second transport device, and is heated with the first transport device sandwiched between them. A processing device and a pre-cooling device are arranged, a liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transport device, and the pre-cooling device, the cooling processing device, and the like are disposed between the heat processing device and the liquid processing device. The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device, and the second transport device transports the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. In addition, the first transfer device or At least one of the second transfer devices is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device, and the pre-cooling devices are stacked in a plurality of stages, and the pre-cooled devices stacked in the plurality of stages are stacked. It has a means to control so that a board | substrate may be carried in from the pre-cooling device of the upper stage among cooling devices, It is characterized by the above-mentioned., A substrate processing apparatus is provided.
Also in this case, instead of the means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling apparatus among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. Means for controlling the substrate to be carried in from the cooling device, or the plurality of stages It is also possible to provide means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position distant from the pre-cooling device in which the substrate has already been loaded among the pre-cooling devices stacked on the substrate.
[0038]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a substrate processing apparatus according to a preferred embodiment of the present invention will be described.
[0039]
As shown in FIG. 1, the
[0040]
In the
[0041]
As shown in FIGS. 1 and 2, various processing apparatuses that perform predetermined processing on the wafer W are arranged in the
[0042]
On the back side of the
[0043]
Then, between the resist
[0044]
The
[0045]
In addition, on the end of the transfer rails 22 and 32 on the
[0046]
The cooling
[0047]
A
[0048]
Further, in the vicinity of the cooling
[0049]
The interface unit 4 is provided with a
[0050]
The
[0051]
When a cassette C storing unprocessed wafers W is placed on the cassette mounting table 5, the
[0052]
Next, the wafer W is transferred to the
[0053]
The wafer W cooled to a predetermined temperature is transferred to the resist
[0054]
The wafer W subjected to the exposure process in the exposure apparatus E is transferred to the mounting table 36, and then transferred to the
[0055]
The wafer W after the post-baking process is transferred to the
[0056]
As described above, in the
[0057]
Then, the wafer W after being cooled to a predetermined temperature as described above is transferred to a liquid processing apparatus such as the resist
[0058]
In addition, since the
[0059]
In addition, since the
[0060]
In addition, since the
[0061]
Further, in the above embodiment, the transfer of the wafer W between the
[0062]
In the above-described embodiment, an example in which the
[0063]
Further, the heat dissipating mechanism provided in the
[0064]
Further, instead of the cooling
[0065]
In the above-described embodiment, the
[0066]
As shown in FIG. 4, the
[0067]
Further, as shown in FIG. 9, under the control of the control unit 81, the first transfer is performed so that the wafers W are sequentially loaded from the lower
[0068]
Further, as shown in FIG. 10, under the control of the control unit 81, the pre-cooling at a position away from the
[0069]
As shown in FIG. 11, when the
[0070]
As shown in FIG. 12, an
[0071]
In the embodiment shown in FIG. 1, the
[0072]
In the above-described embodiment, the example in which the wafer W is used as the substrate has been described. However, the present invention can also be applied to a case where another substrate such as an LCD substrate or a CD substrate is used.
[0073]
【The invention's effect】
[0074]
Claim1-24Since the burden on the first transfer device can be reduced, it is possible to prevent a delay in the transfer of the substrate immediately after the heat treatment. As a result, it is possible to more reliably prevent substrate processing defects due to overbaking. Further, since the second transport device transports the substrate having a predetermined temperature or lower, the liquid processing can be suitably performed.
[0076]
Claim2Since the heat treatment device and the liquid treatment device are arranged with the pre-cooling device and the cooling treatment device arranged close to each other, the heat from the heat treatment device is not transmitted to the liquid treatment device, and the liquid treatment Can be more suitably implemented.
[0077]
Claim3According to this, the floor area occupied by the apparatus can be reduced, and the limited arrangement space in the substrate processing apparatus can be used effectively.
[0078]
Claim4Therefore, it is possible to simplify the structure of the pre-cooling device and reduce the size of the entire substrate processing apparatus.
[0079]
Claim7According to this, the cooling efficiency when pre-cooling the substrate is further improved, and processing defects due to overbaking can be prevented more reliably.
[0080]
Claim12Since a large number of substrates can be pre-cooled at a time, the throughput can be improved accordingly.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic plan view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view showing a processing station of the substrate processing apparatus of FIG. 1. FIG.
FIG. 3 is a perspective view of a first transfer device provided in the processing station of FIG. 2;
FIG. 4 is an explanatory diagram showing pre-cooling devices stacked on the first cooling processing device group.
FIG. 5 is a perspective view showing a pre-cooling device equipped with a cooling fan.
FIG. 6 is a perspective view showing a pre-cooling device equipped with a nitrogen gas blow.
FIG. 7 is a diagram showing another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 8 is a diagram for explaining carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 9 is a view for explaining another carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 10 is a view for explaining still another carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 12 is a diagram showing another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 13 is a plan view showing another configuration example of the substrate processing apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Substrate processing equipment
12 First transfer device
13 Second transport device
14 Cooling processing equipment
15 Pre-cooling device
15b Heat radiation fin
16 Cooling treatment device group
17 Third transfer device
45 Cooling fan
C cassette
W wafer
Claims (24)
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置。A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
3. The substrate processing apparatus, wherein the third transfer device is configured to transfer a substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device.
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
さらに,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置。A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a cooling processing apparatus that cools the substrate after the heat processing. A pre-cooling device that cools the substrate before, a first transport device that transports the substrate, a second transport device, and a third transport device;
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
further,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
3. The substrate processing apparatus, wherein the third transfer device is configured to transfer a substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device.
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
The substrate processing comprising: a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate is already loaded among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. apparatus.
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
The substrate processing comprising: a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate is already loaded among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. apparatus.
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。 A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
The substrate processing comprising: a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate is already loaded among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000168730A JP4083371B2 (en) | 1999-06-11 | 2000-06-06 | Substrate processing equipment |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11-165099 | 1999-06-11 | ||
| JP16509999 | 1999-06-11 | ||
| JP2000168730A JP4083371B2 (en) | 1999-06-11 | 2000-06-06 | Substrate processing equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001057336A JP2001057336A (en) | 2001-02-27 |
| JP4083371B2 true JP4083371B2 (en) | 2008-04-30 |
Family
ID=26489959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000168730A Expired - Fee Related JP4083371B2 (en) | 1999-06-11 | 2000-06-06 | Substrate processing equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4083371B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8796862B2 (en) | 1997-04-04 | 2014-08-05 | Glenn J Leedy | Three dimensional memory structure |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4614455B2 (en) | 2006-04-19 | 2011-01-19 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate transfer processing equipment |
| JP4785905B2 (en) * | 2008-11-12 | 2011-10-05 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate transfer processing equipment |
| JP2010182906A (en) | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Tokyo Electron Ltd | Substrate treatment apparatus |
| JP2010192559A (en) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Tokyo Electron Ltd | Substrate processing system |
| JP5611152B2 (en) * | 2011-08-29 | 2014-10-22 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate heat treatment equipment |
| JP2013247197A (en) * | 2012-05-24 | 2013-12-09 | Sokudo Co Ltd | Substrate processing device |
| JP6001941B2 (en) * | 2012-07-11 | 2016-10-05 | 東京応化工業株式会社 | Laminate forming method and laminate forming system |
| JP7133451B2 (en) * | 2018-11-30 | 2022-09-08 | 株式会社Screenホールディングス | Substrate processing equipment |
| JP7536582B2 (en) * | 2020-10-01 | 2024-08-20 | ニデックインスツルメンツ株式会社 | Transport System |
-
2000
- 2000-06-06 JP JP2000168730A patent/JP4083371B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8796862B2 (en) | 1997-04-04 | 2014-08-05 | Glenn J Leedy | Three dimensional memory structure |
| US8841778B2 (en) | 1997-04-04 | 2014-09-23 | Glenn J Leedy | Three dimensional memory structure |
| US8907499B2 (en) | 1997-04-04 | 2014-12-09 | Glenn J Leedy | Three dimensional structure memory |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001057336A (en) | 2001-02-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100618108B1 (en) | Substrate processing apparatus | |
| JP3779393B2 (en) | Processing system | |
| US8375884B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
| JP3445757B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
| JP4083371B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP3774283B2 (en) | Processing system | |
| JP3914690B2 (en) | Substrate delivery device and coating / developing system | |
| JP3911624B2 (en) | Processing system | |
| JP2013069874A (en) | Substrate processing system, substrate transfer method, program and computer storage medium | |
| JP3517121B2 (en) | Processing equipment | |
| JP2003168713A5 (en) | ||
| JP3624127B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP3441681B2 (en) | Processing equipment | |
| JP4053728B2 (en) | Heating / cooling processing apparatus and substrate processing apparatus | |
| JP4073251B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP4148388B2 (en) | Heat treatment equipment | |
| JP5661584B2 (en) | Substrate processing system, substrate transfer method, program, and computer storage medium | |
| JP3340956B2 (en) | Coating and development processing equipment | |
| JP3246890B2 (en) | Heat treatment equipment | |
| JP2001077020A (en) | Heat treatment equipment | |
| KR20200026563A (en) | Transfer robot and Apparatus for treating substrate with the robot | |
| JP3962490B2 (en) | Development processing apparatus and development processing method | |
| JP3538330B2 (en) | Processing equipment | |
| JP3543887B2 (en) | Substrate processing equipment | |
| JP4849004B2 (en) | Heating device, heating method and coating, developing device and storage medium |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041110 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060626 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070911 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071107 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080212 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080213 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110222 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110222 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110222 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140222 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |