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JP4083371B2 - Substrate processing equipment - Google Patents

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JP4083371B2
JP4083371B2 JP2000168730A JP2000168730A JP4083371B2 JP 4083371 B2 JP4083371 B2 JP 4083371B2 JP 2000168730 A JP2000168730 A JP 2000168730A JP 2000168730 A JP2000168730 A JP 2000168730A JP 4083371 B2 JP4083371 B2 JP 4083371B2
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば半導体デバイスの製造におけるリソグラフィ技術では、半導体ウエハ(以下、「ウエハ」という。)等の基板の表面にレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、パターンを露光した後に、この基板に対して現像液を供給して現像処理している。そして、このような一連の処理工程を行うにあたり、従来から基板処理装置が使用されている。
【0003】
基板処理装置には、ウエハにレジスト液を塗布して処理するレジスト塗布処理装置、レジスト塗布処理終了後のウエハや露光処理後のウエハを加熱処理する加熱処理装置、加熱処理後のウエハを所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置、ウエハに現像液を供給して現像処理する現像処理装置等が個別に備えられており、これらの各処理装置間におけるウエハの搬送、並びにウエハの搬入出は、搬送装置によって行われている。
【0004】
ところで、加熱処理終了後のウエハは直ちに冷まさないと、ウエハが過剰に加熱処理されてしまう、いわゆるオーバーベークによる処理不良が起こるおそれがある。そこで従来は、加熱処理終了後のウエハに蓄えられた熱を迅速に除去するために、例えば加熱処理装置と搬送装置との各タクトを調整して、ウエハの加熱処理が終了する前に搬送装置が加熱処理装置にて待機するようにし、搬送装置が加熱処理終了後のウエハを直ちに冷却処理ユニットまで搬送できるようにしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、例えば先に冷却処理に付されているウエハの冷却処理装置からの搬出が何らかの事情で遅れた場合には、この冷却処理装置に対して加熱処理終了後のウエハを直ちに搬入することができなくなる。その結果、加熱処理後のウエハは冷却処理装置に搬入されずそのままの状態で待機するしかなく、オーバーベークによる処理不良が発生するおそれが生じる。
【0006】
そこで本発明は、加熱処理後の基板のオーバーベークによる処理不良を防止することのできる基板処理装置を提供して、上記課題を解決することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために,請求項によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置が提供される。
【0010】
請求項に記載の基板処理装置によれば,加熱処理終了直後の温度の高い基板を搬送する第1搬送装置と,冷却処理装置にて所定温度まで冷却された基板を搬送する第2搬送装置とに分けているので,第2搬送装置に熱が蓄積せず,以後の所定の液処理を好適に実施することができる。とりわけ,温度に敏感なレジスト塗布処理装置に基板を搬送する場合には,有効である。しかも,プレ冷却装置と冷却処理装置との間における基板の搬送に専用の第3搬送装置を使用して,基板の温度状況によってこれらの搬送装置を使い分けているので,さらに基板に対する熱的影響を防止することができる。そして,第1〜第3搬送装置によって基板の搬送を分担して行うようにしているので,第1搬送装置が基板を搬送する際の負担を軽くすることができる。
【0013】
請求項によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,さらに,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置が提供される。
【0014】
請求項に記載の基板処理装置によれば,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置,冷却処理装置および第1,第2搬送装置がそれぞれ配置されているので,まず熱処理装置から発せられる熱が液処理装置に伝わることを防止することができる。また,第2搬送装置は冷却処理装置にて冷却処理された後の基板を搬送し,加熱直後の高温の基板を搬送しない。従って,例えば液処理装置での処理がレジスト塗布処理等のように温度変化に敏感な場合には,熱による悪影響を抑えて好適な処理が実施可能である。さらに,加熱処理直後の基板を搬送する第1搬送装置と,冷却処理終了後の基板を搬送する第2搬送装置と,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送する第3搬送装置とで基板の搬送を分担しているので,第1搬送装置の負担を減らすことができる。
【0017】
請求項に記載の発明は,請求項1または2に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,冷却処理装置の上部に積み重ねられたことを特徴としている。
【0018】
請求項に記載の基板処理装置によれば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に積み重ねられているので,装置の床専有面積をより減少させることができる。従って,装置内の配置スペースをより有効に利用することができる。
【0019】
請求項に記載の発明は,請求項1,2または3に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,基板を支持可能な支持部材を有する平面板であることを特徴としている。
【0020】
請求項に記載の基板処理装置によれば,基板を支持部材に支持させた状態でプレ冷却することができる。このように,プレ冷却装置の構造を簡素化することにより,例えば所定の大きさの基板処理装置内に組み込むことのできるプレ冷却装置の数を増やすことができ,また基板処理装置全体の大きさを抑えることもできる。
【0021】
かかる請求項の発明において,請求項のように前記支持部材が,複数の支持ピンを有するようにしてもよい。このように,前記支持部材が複数の支持ピンを有することにより,基板をプレ冷却処理する際に,基板を接触面積の小さい支持ピンで支持することができるので,基板の放熱効果が向上する。
【0022】
また,かかる請求項の発明において,請求項のように前記支持部材が,基板の中央部及びその近傍を支持する支持面を有する支持体を有するようにしてもよい。このように,前記支持部材が基板の中心部とその近傍を支持する支持面を有する支持体を有することにより,基板をプレ冷却処理する際に,基板を接触面積の小さい支持体で支持することができるので,基板の放熱効果が向上する。
【0023】
請求項に記載の発明は,請求項1,2,3,4,5または6に記載の基板処理装置において,前記プレ冷却装置は,基板の熱を放熱するための放熱機構を有することを特徴としている。
【0024】
請求項に記載の基板処理装置によれば,プレ冷却装置に搬入した基板を,に放熱機構によって冷却することができるので,格別他の専用の冷却機構等は不要である。ここで,放熱機構の具体的な例としては,例えば放熱フィンや放熱ファン,温度調整水等の温度調整流体が流通する循環路等が挙げられる。
【0025】
以上の各基板処理装置において,請求項のように前記プレ冷却装置が,基板に向けて送風するファンを有するようにしてもよいし,請求項のように基板に向けて冷却用気体を噴出する気体噴出部を有するようにしてもよい。このように,プレ冷却装置にファン又は気体噴出部を有することにより,プレ冷却装置内の基板を積極的に冷却することができるため,より短時間で基板を所定温度まで冷却し,オーバーベークによる処理不良の発生を防止することができる。
【0026】
特に,請求項10のように前記冷却用気体は不活性ガスを含むようにしてもよい。このように,前記冷却用気体に不活性気体を含ませることにより,基板に冷却用気体を噴出することによって基板に悪影響を与えることなく,基板を好適に冷却することができる。
【0027】
上述した請求項1〜10の基板処理装置において,請求項11のように前記プレ冷却装置は,このプレ冷却装置内を強制的に排気する排気機構を有するようにしてもよい。このように,プレ冷却装置内の雰囲気を排気する排気機構を有することにより,その雰囲気と共にプレ冷却装置内の熱を外部に逃がすことができるので,より効率的に基板を冷却することができる。
【0028】
さらに,上述した請求項1〜11の基板処理装置は,請求項12のように前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられるようにしてもい。このように,プレ冷却装置が複数段に積み重ねられていることにより,一時に多数の基板をプレ冷却処理することができ,短時間で多数の基板を処理する基板処理装置においても,オーバーベークによる処理不良の発生を防止することができる。
【0029】
かかる請求項12の発明において,請求項13のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このような制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板を上段のプレ冷却装置から搬入することにより,例えば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に位置しているときには,基板の熱が下部の冷却処理装置に悪影響を与えることを抑制することができる。
【0030】
また,かかる請求項12の発明において,請求項14のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このように制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板を下段のプレ冷却装置から搬入することにより,例えば,プレ冷却装置が冷却処理装置の上部に位置しているときには,プレ冷却装置から冷却処理装置に基板を搬送する距離を短縮することができる。
【0031】
さらに,かかる請求項12の発明において,請求項15のように前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有するようにしてもよい。このような制御手段を設け,例えば第1搬送装置と第2搬送装置を制御して,基板が既に搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入することにより,各プレ冷却装置に搬入された基板が互いに熱的に干渉し合い,互いに熱的な悪影響を及ぼし合うことを防止することができる。
また本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,を有する基板の処理装置において,基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
そしてまた本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
さらにまた本発明によれば,基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置が提供される。
この場合も,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段に代えて,前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段,あるいは前記複数段 に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を具備するようにしてもよい。
【0038】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施の形態にかかる基板処理装置について説明する。
【0039】
基板処理装置1は図1に示すように、例えば25枚のウエハWをカセット単位で外部から基板処理装置1に搬入出したり、カセットCにウエハWを搬入出したりするためのカセットステーション2と、枚葉式に所定の処理を施す各種処理ユニットが配置されている処理ステーション3と、ウエハWを露光する露光装置EにウエハWを受け渡しするインターフェイス部4とを一体に接続した構成を有している。
【0040】
カセットステーション2では、カセット載置台5上の所定の位置にカセットCがウエハWの出入口を処理ステーション3側に向けてX方向(図1中の上下方向)一列に載置自在である。そして、このカセット配列方向(X方向)及びカセットCに収容されたウエハWのウエハ配列方向(Z方向;垂直方向)に移動可能なウエハ搬送体6が搬送路7に沿って移動自在である。ウエハ搬送体6はθ方向(Z軸を中心とする回転方向)にも回転自在であり、カセットCに対して選択的にアクセスできるようになっている。
【0041】
処理ステーション3には図1、2に示すように、ウエハWに所定の処理を施す各種の処理装置が配置されている。即ち、処理ステーション3の正面側には回転するウエハWにレジスト液を塗布して処理するレジスト塗布処理装置8と、回転するウエハWに現像液を供給して処理する現像処理装置9とが下から順に2段に積み重なった状態で3列に配置されている。なお、カセットステーション2側には、レジスト液供給タンクやその他の機器を収納可能なケミカルボックス10が設けられている。
【0042】
処理ステーション3の背面側には、ウエハWとレジスト膜との密着性を向上させるアドヒージョン装置や、レジスト塗布処理後のウエハWを加熱処理するプリベーキング装置、露光処理後のウエハWを加熱処理するポストエクスポージャベーキング装置、現像処理後のウエハWを加熱処理するポストベーキング装置等のウエハWを加熱処理する各種の加熱処理装置11が8段に積み重なった状態で4列に配置されている。
【0043】
そして、レジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と加熱処理装置11との間には、ウエハWを搬送する第1搬送装置12及び第2搬送装置13と、ウエハWを所定温度に冷却処理する冷却処理装置14と、この冷却処理装置14における冷却処理前にウエハWを冷却するプレ冷却装置15と、冷却処理装置14とプレ冷却装置15との間でウエハWを搬送する第3搬送装置17と、ウエハWを載置自在な載置台33、34、35、36とが備えられている。
【0044】
第1搬送装置12および第2搬送装置13は基本的に同様の構成を有しており、第1搬送装置12の構成について説明すると、第1搬送装置12は図3に示すように、搬送基台18上にウエハWを保持可能なピンセット19、20を上下に備えており、ピンセット19、20は搬送基台18に内蔵された適宜のモータ(図示せず)によってそれぞれ前後に独立して移動自在となっている。搬送基台18は昇降自在でかつ回転自在な昇降軸21上に設けられており、さらに昇降軸21自体は搬送レール22に沿って移動自在な移動基台23上に設けられている。第2搬送装置13も、搬送基台28上にピンセット29、30を上下に備えており、上記搬送レール22と平行に配置された搬送レール32に沿って移動自在となっている。
【0045】
そして、搬送レール22、32におけるカセットステーション2側の端部にはウエハWを載置自在な載置台33、34が各々設けられており、第1搬送装置12は載置台33を介してウエハ搬送体6とウエハWの授受ができるようになっており、第2搬送装置13は載置台34を介してウエハ搬送体6とウエハWの授受ができるようになっている。
【0046】
冷却処理装置14は4段に積み重ねられている。この冷却処理装置14は、ケーシング14a内に搬入されたウエハWを所定温度まで冷却する処理を行うように構成されている。そのため,冷却処理装置14は,ケーシング14a内にペルチェ素子や冷却水が供給される冷却管等が埋設され,ウェハWが載置された冷却板を有する。このような部材を有するという点で,プレ冷却装置15と区別することも可能である。プレ冷却装置15は最上部の冷却処理装置14の上に8段に積み重ねられている。プレ冷却装置15は図2に示したように、熱伝導性の良好な材質、例えばアルミニウムからなる平面板15aと、この平面板15aの上に設けられたウエハWを指示する支持部材としての3本の支持ピン15bと、平面板15aの下面に設けられている放熱機構としての放熱フィン15cとによって構成されている。そして、これら多段に積み重ねられた冷却処理装置14とプレ冷却装置15とで冷却処理装置群16が構成されており、合計3基の冷却処理装置群16が搬送レール22、32の長さ方向に沿って配置されている。そして、第1搬送装置12を挟んで加熱処理装置11と冷却処理装置群16とが対向して配置されており、第2搬送装置13を挟んでレジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と冷却処理装置群16とが対向して配置されている。
【0047】
前記隣合う冷却処理装置群16と冷却処理装置群16との間には第3搬送装置17が配置されている。この第3搬送装置17は、ピンセット17aにウエハWを保持させた状態で昇降移動と伸縮移動とができるように形成されており、冷却処理装置14とプレ冷却装置15との間でウエハWを搬送することができるようになっている。
【0048】
また、最もインターフェイス部4側に位置する冷却処理装置群16とインターフェイス部4の近傍には、載置台33、34と基本的に同様な構成を有する載置台35、36が搬送レール22、32の長さ方向に沿って並んで配置されている。またこれら載置台35、36は、上下多段の積層構造としてもよい。そして前記第1搬送装置12は加熱処理装置11、プレ冷却装置15及び載置台35、36に対してウエハWを搬送することができるようになっており、第2搬送装置13はレジスト塗布処理装置8、現像処理装置9、冷却処理装置14及び載置台35、36に対してウエハWを搬送することができるようになっている。
【0049】
インターフェイス部4には、搬送レール40に沿ったX方向の移動、Z方向の移動及びθ方向の回転の自在なウエハ搬送体41が設けられており、ウエハ搬送体41は、露光装置Eと、載置台36と、周辺露光装置42とに対してウエハWを搬送することができるようになっている。
【0050】
本発明の実施の形態にかかる基板処理装置1は以上のように構成されており、次にその作用効果等について説明する。
【0051】
カセット載置台5上に未処理のウエハWを収納したカセットCが載置されると、ウエハ搬送体6はこのカセットCからウエハWを1枚抜き出し、抜き出されたウエハWは先ず載置台33に載置される。次いで、当該ウエハWは第1搬送装置12によって、アライメント装置、アドヒージョン装置に順次搬送され、所定の処理が施される。この場合、アライメント装置は、載置台33と兼用としてもよい。またアドヒージョン装置については、通常熱処理を伴うことから、多数ある加熱処理装置11の一部にアドヒージョン処理機能を持たせてもよい。
【0052】
次いで、ウエハWは第1搬送装置12のピンセット19に保持された状態でプレ冷却装置15に搬送される。その後ウエハWはプレ冷却装置15に搬入されて、図4の実線で示すように、支持ピン15aに支持された状態で自然冷却される。かかるプレ冷却によって、ウエハWはオーバーベークの生じない温度まで冷却される。その後このプレ冷却されたウエハWは、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて、所定温度に達するまで冷却処理される。
【0053】
所定温度に冷却処理されたウエハWは、第2搬送装置13によってレジスト塗布処理装置8に搬送され、所定のレジスト塗布処理が実施される。その後このレジストが塗布されたウエハWは、第2搬送装置13によって、載置台35に搬送される。そして、第1搬送装置12によって載置台35から加熱処理装置11に搬送されてプリベーキング処理される。そしてその後このウエハWは、再びプレ冷却装置15、冷却処理装置14で所定の冷却処理がなされた後、載置台36へと搬送され、次にこのウエハWはウエハ搬送体41に受け渡され、周辺露光装置42を経て、露光装置Eに搬送されて、パターンの露光処理が施される。
【0054】
前記露光装置Eにおいて露光処理されたウエハWは、載置台36に搬送された後、第1搬送装置12によって加熱処理装置11へと搬送され、ポストエクスポージャベーキング処理される。次いで、このウエハWは第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送されてプレ冷却された後に、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送される。冷却処理装置14にて所定温度に冷却処理されたウエハWは第2搬送装置13によって現像処理装置9に搬送されて現像処理された後に載置台35に搬送される。そして、再び第1搬送装置12によって、加熱処理装置11へと搬送されて、ポストベーキング処理に付される。
【0055】
ポストベーキング処理された後のウエハWは、第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送され、その後第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて所定温度にまで冷却される。所定温度にまで冷却された後のウエハWは、第2搬送装置13によって載置台34に搬送される。そして、ウエハ搬送体6によって載置台34からカセットCに搬送された後、このカセットCに収納される。こうして、ウエハWの一連の処理が終了する。
【0056】
以上のように、本発明の実施の形態にかかる基板処理装置1では、アドヒージョン処理、ポストエクスポージャベーキング処理、ポストベーキング処理等の加熱を伴う処理、及び加熱処理が加熱処理装置11で行われた直後のウエハWが、まず第1搬送装置12によってプレ冷却装置15に搬送されて、プレ冷却される。そしてその後に、第3搬送装置17によって冷却処理装置14に搬送されて所定温度にまで冷却処理されるようになっている。そのため加熱処理終了直後のウエハWを少なくともオーバーベークの起こらない程度の温度まで速やかに冷却することができるようになり、オーバーベークによる処理不良を防止することが可能である。また、プレ冷却装置15には、放熱フィン15cが設けられているので、ウエハWの冷却効率は向上しており、構造的にも簡素なものとなっている。
【0057】
そしてたそのようにして所定温度にまで冷却された後のウエハWは第2搬送装置13によってレジスト塗布処理装置8や現像処理装置9などの液処理装置に搬送されるようになっている。したがって、第2搬送装置13は所定温度にまで冷却された後のウエハWのみを搬送し、加熱直後の高温のウエハWを搬送することはない。したがって、温度に敏感なレジスト塗布処理を好適に実施することができる。
【0058】
また第1搬送装置12、第2搬送装置13、第3搬送装置17によって、各々ウエハWの搬送を分担しているので、第1搬送装置12のウエハ搬送の負担は軽減化されている。その結果、第1搬送装置12による加熱処理終了直後のウエハWの搬送の遅れを防止することができるようになるので、オーバーベークによるウエハWの処理不良の発生をより確実に防止することができる。
【0059】
しかもレジスト塗布処理装置8及び現像処理装置9と、加熱処理装置11との間に冷却処理装置14及びプレ冷却装置15が配置されているので、加熱処理装置11からの熱がレジスト塗布処理装置8や現像処理装置9に伝わることを防止することができる。その結果、温度に敏感なレジスト塗布処理等の所定の液処理を好適に実施することができる。
【0060】
その他4段に積み重ねられた冷却処理装置14の上部に、プレ冷却装置15が8段に積み重ねられているので、占有床面積の減少が図られている。またプレ冷却装置15自体は、基本的に平面板15aで構成されているから、基板処理装置1に組み込む台数を多くすることができる。
【0061】
また、前記実施の形態ではプレ冷却装置15と冷却処理装置14との間のウエハWの搬送は、専用の第3搬送装置17が担っていたが、この第3搬送装置17を付加せずに、第1搬送装置12自体が、プレ冷却装置15と冷却処理装置14との間の搬送を行うように構成してもよい。こうすれば、基板処理装置1全体の構造の簡素化を図れる。また、配置スペースの有効利用も可能となる。
【0062】
なお、前記実施の形態ではプレ冷却装置15を冷却処理装置14の上部に積み上げた例を挙げて説明したが、本発明では冷却処理装置14とプレ冷却装置15とを並べて配置することももちろん可能である。
【0063】
さらに、プレ冷却装置15に設けられる放熱機構は放熱フィン15bに限定されず、図5に示すような冷却ファン45であってもよい。こうすれば、冷却ファン45からの送風でウエハWを冷却することができるようになり、オーバーベークによる処理不良の発生を同様に防止できる。また、放熱フィン15bと冷却ファン45とを組み合わせて、冷却効果をさらに向上させることも可能である。
【0064】
また,冷却ファン45に代えて,図6に示すように,ウェハWに向けて不活性ガス,例えば窒素ガスを噴出するガス噴出部61をプレ冷却装置15に設けてもよい。これにより同様にウェハWを効率よく冷却することができる。
【0065】
上述した実施の形態では,プレ冷却装置15が,ウェハWを支持する支持部材としての3本の支持ピンが設けられた平面板を有するものであったが,図7に示すように,プレ冷却装置71が,ウェハWの中央部及びその近傍を支持する支持面72を有する支持体73を平面板74上に有するものであってもよい。これにより,支持体73を使った放熱効果が期待できる。
【0066】
図4に示したようにプレ冷却装置15は多段に積層配置されていたが,図8に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち上段のプレ冷却装置15から順番にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,冷却処理装置14に対する熱的悪影響を小さくすることができる。
【0067】
また,図9に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち下段のプレ冷却装置15から順番にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,プレ冷却装置15から冷却処理装置14にウェハWを搬送する距離をより小さくすることができる。
【0068】
さらに,図10に示すように,制御部81の制御のもとで,複数段に積み重ねられたプレ冷却装置15のうち既にウェハWが搬入されているプレ冷却装置15から離れた位置のプレ冷却装置15にウェハWを搬入するように第1搬送装置12を制御するようにしてもよい。これにより,プレ冷却装置15相互間の熱的悪影響を小さくすることができる。
【0069】
図11に示すように,プレ冷却装置15及び冷却処理装置14が配置された領域111上にダウンフローの清浄エアーを供給するエアー供給部112が設けられている場合,各プレ冷却装置15の外周部に各プレ冷却装置15内に清浄エアーを導入するための導入部材113を設けてもよい。その場合,図11に示したように,平面から観てすなわち上方から観て下段のプレ冷却装置15の導入部材113が,上段のプレ冷却装置15の導入部材113より突出している方がより好ましい。これにより,各プレ冷却装置15において,ウェハWをより効率よく冷却することが可能となる。また,この領域111にこの領域111内の温度を検出するための温度センサ114を設け,制御部115がこの温度センサ114の検出結果に基づきエアー供給部112から供給される清浄エアーの供給量を制御するように構成してもよい。例えば,領域111内の温度が上昇したらエアー供給量を多くなるように制御することで,効率のよい温度制御が可能となる。
【0070】
図12に示すように,各プレ冷却装置15の背後に各プレ冷却装置15内の気体を排気するための排気口121を設け,排気通路123を介して排気装置124により各プレ冷却装置15内を排気するように構成すれば,各プレ冷却装置15においてより効率のよい冷却を行うことが可能となる。
【0071】
図1に示した実施の形態では,第1搬送装置12及び第2搬送装置13はY方向に移動可能であったが,図13に示すように,XY方向には移動しない垂直搬送型の搬送装置131,132を第1搬送装置12の代わりに,同様の垂直搬送型の搬送装置133,134を第2搬送装置13の代わりに用いるようにしてもよい。すなわち,これら垂直搬送型の搬送装置131,132,133,134は上下方向に昇降可能で,かつθ方向に回転自在で,さらにアームが各装置に対して進退自在な搬送装置として構成されており,このような搬送装置131〜134を使用してもよい。
【0072】
前記実施の形態では、基板にウエハWを使用した例を挙げて説明したが、本発明はLCD基板やCD基板等の他の基板を対象とする場合についても適用が可能である。
【0073】
【発明の効果】
請求項1〜24によれば,加熱処理直後の基板を冷却処理装置にて所定温度まで冷却する前に,当該基板をプレ冷却装置にてプレ冷却するので,オーバーベークによる基板の処理不良を防止することができる。
【0074】
請求項1〜24によれば,第1搬送装置の負担を軽減化することができるので,加熱処理直後の基板の搬送の遅れを防止することができる。その結果,オーバーベークによる基板の処理不良をより確実に防止することが可能となる。また,第2搬送装置は所定温度以下の基板を搬送するので,液処理を好適に実施することができる。
【0076】
請求項によれば,近接配置されたプレ冷却装置及び冷却処理装置を挟んで,加熱処理装置と液処理装置とが配置されているので,加熱処理装置からの熱が液処理装置に伝わらず,液処理をさらに好適に実施することができる。
【0077】
請求項によれば,装置の床専有面積の縮小化を図ることができ,基板処理装置内の限られた配置スペースを有効に利用することができる。
【0078】
請求項によれば,プレ冷却装置の構造を簡素化して,基板処理装置全体の縮小化を図ることが可能である。
【0079】
請求項によれば,基板をプレ冷却する際の冷却効率がさらに向上し,オーバーベークによる処理不良をより確実に防止できる。
【0080】
請求項12によれば,一時に多数の基板をプレ冷却することができるので,その分スループットの向上が図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる基板処理装置の概略的な平面図である。
【図2】図1の基板処理装置の処理ステーションを示す斜視図である。
【図3】図2の処理ステーションに具備された第1搬送装置の斜視図である。
【図4】第1冷却処理装置群の上に積み重ねられたプレ冷却装置を示す説明図である。
【図5】冷却ファンを装備したプレ冷却装置を示す斜視図である。
【図6】窒素ガスブローを装備したプレ冷却装置を示す斜視図である。
【図7】プレ冷却装置の他の構成例を示す図である。
【図8】プレ冷却装置への搬入制御を説明するための図である。
【図9】プレ冷却装置への他の搬入制御を説明するための図である。
【図10】プレ冷却装置への更に別の搬入制御を説明するための図である。
【図11】プレ冷却装置のさらに別の構成例を示す図である。
【図12】プレ冷却装置のまた別の構成例を示す図である。
【図13】本発明にかかる基板処理装置の他の構成例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 基板処理装置
12 第1搬送装置
13 第2搬送装置
14 冷却処理装置
15 プレ冷却装置
15b 放熱フィン
16 冷却処理装置群
17 第3搬送装置
45 冷却ファン
C カセット
W ウエハ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a substrate processing apparatus.
[0002]
[Prior art]
For example, in lithography technology in the manufacture of semiconductor devices, a resist solution is applied to the surface of a substrate such as a semiconductor wafer (hereinafter referred to as “wafer”) to form a resist film, and the pattern is exposed. A developing solution is supplied for development processing. In performing such a series of processing steps, a substrate processing apparatus has been conventionally used.
[0003]
The substrate processing apparatus includes a resist coating processing apparatus that applies a resist solution to a wafer and processes the wafer, a heat processing apparatus that heats the wafer after completion of the resist coating process and a wafer after exposure processing, Are individually provided with a cooling processing apparatus for performing cooling processing, a developing processing apparatus for supplying a developing solution to the wafer and developing the wafer, and transporting wafers between these processing apparatuses, and loading / unloading of wafers, This is done by the transport device.
[0004]
By the way, if the wafer after the heat treatment is not immediately cooled, the wafer may be excessively heat-treated, which may cause a processing failure due to so-called overbaking. Therefore, conventionally, in order to quickly remove the heat stored in the wafer after completion of the heat treatment, for example, by adjusting each tact between the heat treatment device and the transfer device, the transfer device before the heat treatment of the wafer is finished. However, the transfer device can immediately transfer the wafer after the heat processing to the cooling processing unit.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, for example, when unloading of the wafer that has been subjected to the cooling process from the cooling processing apparatus is delayed for some reason, the wafer after the heating process can be immediately loaded into the cooling processing apparatus. Disappear. As a result, the wafer after the heat treatment cannot be carried into the cooling processing apparatus but waits in the state as it is, and there is a possibility that a processing failure due to overbaking may occur.
[0006]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of preventing a processing failure due to overbaking of a substrate after heat treatment, and to solve the above problems.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
  To achieve the above objective,Claim1According to the above, a liquid processing apparatus for supplying a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus for cooling the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus for heating the substrate, and a substrate after the heating processing A pre-cooling device that cools the substrate before performing the cooling process in the cooling processing device, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate. The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device, and the third transport device is configured to transport the substrate between the apparatus and the pre-cooling device. There is provided a substrate processing apparatus configured to transfer a substrate between a pre-cooling apparatus and a cooling processing apparatus.
[0010]
  Claim1According to the substrate processing apparatus described in 1), the substrate processing apparatus is divided into a first transport apparatus that transports a substrate having a high temperature immediately after the end of the heat treatment and a second transport apparatus that transports the substrate cooled to a predetermined temperature by the cooling processing apparatus. Therefore, heat does not accumulate in the second transport device, and the subsequent predetermined liquid treatment can be suitably performed. This is particularly effective when the substrate is transferred to a temperature-sensitive resist coating apparatus. In addition, since a third transport device dedicated to transporting the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device is used, and these transport devices are properly used depending on the temperature condition of the substrate, the thermal effect on the substrate is further reduced. Can be prevented. And since the board | substrate conveyance is shared and performed by the 1st-3rd conveying apparatus, the burden at the time of a 1st conveying apparatus conveying a board | substrate can be eased.
[0013]
  Claim2According to the present invention, a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a substrate after the heating processing are added to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate, and sandwiching the first transport device, A pre-cooling device, a liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transport device, and a pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device. In addition, the first transfer device is configured to transfer the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device, and the second transfer device transfers the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. The third transport device is configured as a pre-cooling device and Characterized in that it is configured to transfer substrates between the retirement processing apparatus, a substrate processing apparatus is provided.
[0014]
  Claim2Since the pre-cooling device, the cooling processing device, and the first and second transfer devices are respectively arranged between the heat processing device and the liquid processing device, first, the substrate processing device described above is emitted from the heat processing device. It is possible to prevent heat from being transmitted to the liquid processing apparatus. The second transport device transports the substrate after being cooled by the cooling processing device, and does not transport the high-temperature substrate immediately after heating. Therefore, for example, when the processing in the liquid processing apparatus is sensitive to a temperature change such as a resist coating processing, it is possible to perform a suitable processing while suppressing the adverse effect of heat. Furthermore, a first transport device for transporting the substrate immediately after the heat treatment, a second transport device for transporting the substrate after completion of the cooling processing, and a third transport device for transporting the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device. Therefore, the burden on the first transfer device can be reduced.
[0017]
  Claim3The invention described in claim 11 or 2In the substrate processing apparatus described in (1), the pre-cooling device is stacked on top of the cooling processing device.
[0018]
  Claim3Since the pre-cooling device is stacked on top of the cooling processing device, the floor-occupying area of the device can be further reduced. Therefore, the arrangement space in the apparatus can be used more effectively.
[0019]
  Claim4The invention described in claim 1, 2 or 2Or 3In the substrate processing apparatus according to the item 1, the pre-cooling device is a flat plate having a support member capable of supporting the substrate.
[0020]
  Claim4According to the substrate processing apparatus described in (1), the substrate can be pre-cooled while being supported by the support member. Thus, by simplifying the structure of the pre-cooling device, for example, the number of pre-cooling devices that can be incorporated in a substrate processing device of a predetermined size can be increased, and the size of the entire substrate processing device can be increased. Can also be suppressed.
[0021]
  Such claims4In the invention of claim5As described above, the support member may have a plurality of support pins. As described above, since the support member has a plurality of support pins, the substrate can be supported by the support pins having a small contact area when the substrate is pre-cooled, so that the heat dissipation effect of the substrate is improved.
[0022]
  Such claims.4In the invention of claim6As described above, the support member may include a support having a support surface that supports the central portion of the substrate and the vicinity thereof. As described above, when the support member has a support body having a support surface that supports the central portion of the substrate and the vicinity thereof, the substrate is supported by a support body having a small contact area when the substrate is precooled. Can improve the heat dissipation effect of the board.
[0023]
  Claim7The invention described in claim 1, 2, 3, 4, 45 or 6In the substrate processing apparatus described in the item 1, the pre-cooling device has a heat dissipation mechanism for radiating heat of the substrate.
[0024]
  Claim7According to the substrate processing apparatus described in (1), since the substrate carried into the pre-cooling apparatus can be cooled by the heat dissipation mechanism, no other special cooling mechanism or the like is required. Here, specific examples of the heat dissipation mechanism include, for example, a circulation path through which a temperature adjustment fluid such as a heat dissipation fin, a heat dissipation fan, and temperature adjustment water flows.
[0025]
  In each of the above substrate processing apparatuses, the claim8As described above, the pre-cooling device may have a fan for blowing air toward the substrate.9As described above, a gas ejection portion that ejects a cooling gas toward the substrate may be provided. As described above, since the pre-cooling device has the fan or the gas jetting part, the substrate in the pre-cooling device can be actively cooled. Occurrence of processing defects can be prevented.
[0026]
  In particular, the claims10As described above, the cooling gas may contain an inert gas. Thus, by including an inert gas in the cooling gas, the substrate can be suitably cooled without adversely affecting the substrate by ejecting the cooling gas onto the substrate.
[0027]
  Claims 1 to 1 described above10In the substrate processing apparatus of claim11As described above, the pre-cooling device may have an exhaust mechanism for forcibly exhausting the inside of the pre-cooling device. Thus, by having an exhaust mechanism that exhausts the atmosphere in the pre-cooling device, the heat in the pre-cooling device can be released to the outside together with the atmosphere, so that the substrate can be cooled more efficiently.
[0028]
  Furthermore, the above-mentioned claims 1 to11The substrate processing apparatus of claim12The pre-cooling device can be stacked in multiple stages as inYoYes. As described above, since the pre-cooling apparatuses are stacked in a plurality of stages, a large number of substrates can be pre-cooled at a time. Even in a substrate processing apparatus that processes a large number of substrates in a short time, over-baking is also possible. Occurrence of processing defects can be prevented.
[0029]
  Such claims12In the invention of claim13As described above, a means for controlling the substrate to be carried in from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages may be provided. By providing such a control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device and carrying the substrate from the upper pre-cooling device, for example, the pre-cooling device is positioned above the cooling processing device. In this case, the substrate heat can be prevented from adversely affecting the cooling processing apparatus below.
[0030]
  Such claims.12In the invention of claim14As described above, it may have a means for controlling the substrate to be carried in from the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. Thus, by providing the control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device and carrying the substrate from the lower pre-cooling device, for example, the pre-cooling device is positioned above the cooling processing device. In this case, the distance for transporting the substrate from the pre-cooling device to the cooling processing device can be shortened.
[0031]
  In addition, such claims12In the invention of claim15As described above, the pre-cooling device stacked in the plurality of stages may be provided with a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate has already been loaded. . By providing such a control means, for example, by controlling the first transport device and the second transport device, the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device where the substrate has already been loaded. It is possible to prevent the substrates carried into the pre-cooling apparatus from interfering with each other thermally and causing adverse thermal effects.
  Further, according to the present invention, there is provided a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, and a heating processing apparatus that heats the substrate. And a pre-cooling device that cools the substrate before the substrate is cooled to a predetermined temperature. The pre-cooling device is stacked in a plurality of stages, and the upper stage of the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. There is provided a substrate processing apparatus having means for controlling the substrate to be carried in from the pre-cooling apparatus.
  In this case, instead of means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. A means for controlling the substrate to be loaded from the apparatus, or the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrates are already loaded among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. You may make it comprise the means to control.
Further, according to the present invention, a liquid processing apparatus for supplying a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus for cooling the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus for heating the substrate, and a post-heating process A pre-cooling device for cooling the substrate before the substrate is cooled by the cooling processing device, and a first transport device and a second transport device for transporting the substrate. And the pre-cooling device are configured to transport the substrate, and the second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. At least one of the second transfer devices is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device, and the pre-cooling devices are stacked in a plurality of stages, and the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages are stacked. Upper part of the cooling device It is characterized in that it comprises means for controlling so as to carry the substrate from the pre-cooling deviceA substrate processing apparatus is provided.
  In this case, instead of means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. A means for controlling the substrate to be loaded from the apparatus, or the substrate is loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrates are already loaded among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages. You may make it comprise the means to control.
  Furthermore, according to the present invention, a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a post-heating process A pre-cooling device that cools the substrate before the substrate is cooled by the cooling processing device, a first transport device that transports the substrate, and a second transport device, and is heated with the first transport device sandwiched between them. A processing device and a pre-cooling device are arranged, a liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transport device, and the pre-cooling device, the cooling processing device, and the like are disposed between the heat processing device and the liquid processing device. The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device, and the second transport device transports the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device. In addition, the first transfer device or At least one of the second transfer devices is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device, and the pre-cooling devices are stacked in a plurality of stages, and the pre-cooled devices stacked in the plurality of stages are stacked. It has a means to control so that a board | substrate may be carried in from the pre-cooling device of the upper stage among cooling devices, It is characterized by the above-mentioned., A substrate processing apparatus is provided.
  Also in this case, instead of the means for controlling the substrate to be loaded from the upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages, the lower pre-cooling apparatus among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages is used. Means for controlling the substrate to be carried in from the cooling device, or the plurality of stages It is also possible to provide means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position distant from the pre-cooling device in which the substrate has already been loaded among the pre-cooling devices stacked on the substrate.
[0038]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a substrate processing apparatus according to a preferred embodiment of the present invention will be described.
[0039]
As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 1 includes, for example, a cassette station 2 for loading / unloading 25 wafers W from / to the substrate processing apparatus 1 in the cassette unit and loading / unloading wafers W into / from the cassette C. It has a configuration in which a processing station 3 in which various processing units that perform predetermined processing in a single wafer type are arranged and an interface unit 4 that delivers the wafer W to the exposure apparatus E that exposes the wafer W are integrally connected. Yes.
[0040]
In the cassette station 2, the cassette C can be placed at a predetermined position on the cassette mounting table 5 in a line in the X direction (vertical direction in FIG. 1) with the entrance / exit of the wafer W facing the processing station 3 side. The wafer transfer body 6 that can move in the cassette arrangement direction (X direction) and the wafer arrangement direction (Z direction; vertical direction) of the wafer W accommodated in the cassette C is movable along the transfer path 7. The wafer carrier 6 is also rotatable in the θ direction (rotating direction around the Z axis), and can selectively access the cassette C.
[0041]
As shown in FIGS. 1 and 2, various processing apparatuses that perform predetermined processing on the wafer W are arranged in the processing station 3. That is, on the front side of the processing station 3, there are a resist coating processing device 8 for applying a resist solution to the rotating wafer W and processing, and a developing processing device 9 for supplying the developer to the rotating wafer W for processing. Are arranged in three rows in a stacked state in two stages. On the cassette station 2 side, a chemical box 10 capable of storing a resist solution supply tank and other devices is provided.
[0042]
On the back side of the processing station 3, an adhesion device that improves the adhesion between the wafer W and the resist film, a pre-baking device that heats the wafer W after the resist coating process, and a heat treatment that is performed on the wafer W after the exposure process. Various heat treatment apparatuses 11 for heat-treating the wafer W, such as a post-exposure baking apparatus and a post-baking apparatus for heat-treating the developed wafer W, are arranged in four rows in a stacked state in eight stages.
[0043]
Then, between the resist coating processing device 8 and the development processing device 9 and the heat processing device 11, the first transfer device 12 and the second transfer device 13 for transferring the wafer W, and the wafer W is cooled to a predetermined temperature. The cooling processing device 14, a pre-cooling device 15 that cools the wafer W before the cooling processing in the cooling processing device 14, and a third transfer device 17 that transfers the wafer W between the cooling processing device 14 and the pre-cooling device 15. And mounting tables 33, 34, 35, and 36 on which the wafer W can be mounted.
[0044]
The first transport device 12 and the second transport device 13 have basically the same configuration, and the configuration of the first transport device 12 will be described. As shown in FIG. Tweezers 19 and 20 capable of holding a wafer W are provided on a table 18 at the top and bottom, and the tweezers 19 and 20 are independently moved back and forth by an appropriate motor (not shown) built in the transfer base 18. It is free. The transport base 18 is provided on a lift shaft 21 that can be raised and lowered, and the lift shaft 21 itself is provided on a movable base 23 that is movable along the transport rail 22. The second transport device 13 also includes tweezers 29 and 30 on the transport base 28 and is movable along a transport rail 32 disposed in parallel with the transport rail 22.
[0045]
In addition, on the end of the transfer rails 22 and 32 on the cassette station 2 side, mounting tables 33 and 34 on which the wafer W can be mounted are respectively provided. The first transfer device 12 transfers the wafers via the mounting table 33. The body 6 can be exchanged with the wafer W, and the second transfer device 13 can exchange the wafer transfer body 6 with the wafer W via the mounting table 34.
[0046]
The cooling processing apparatuses 14 are stacked in four stages. The cooling processing apparatus 14 is configured to perform a process of cooling the wafer W carried into the casing 14a to a predetermined temperature. Therefore, the cooling processing apparatus 14 includes a cooling plate on which a wafer P is placed, in which a Peltier element, a cooling pipe to which cooling water is supplied, and the like are embedded in the casing 14a. It can be distinguished from the pre-cooling device 15 in that it has such a member. The pre-cooling device 15 is stacked on the uppermost cooling processing device 14 in eight stages. As shown in FIG. 2, the pre-cooling device 15 includes a flat plate 15a made of a material having a good thermal conductivity, for example, aluminum, and a support member 3 for indicating a wafer W provided on the flat plate 15a. The support pins 15b of the book and the heat dissipating fins 15c as heat dissipating mechanisms provided on the lower surface of the flat plate 15a. The cooling processing device 14 and the pre-cooling device 15 stacked in a multi-stage form a cooling processing device group 16, and a total of three cooling processing device groups 16 are arranged in the length direction of the transport rails 22 and 32. Are arranged along. The heat treatment device 11 and the cooling processing device group 16 are arranged to face each other with the first transport device 12 interposed therebetween, and the resist coating processing device 8 and the development processing device 9 are cooled with the second transport device 13 in between. The processing device group 16 is disposed to face the processing device group 16.
[0047]
A third transfer device 17 is arranged between the adjacent cooling processing device group 16 and the cooling processing device group 16. The third transfer device 17 is formed so that it can be moved up and down and expanded and contracted while the wafer W is held on the tweezers 17 a, and the wafer W is transferred between the cooling processing device 14 and the pre-cooling device 15. It can be transported.
[0048]
Further, in the vicinity of the cooling processing unit group 16 and the interface unit 4 which are located closest to the interface unit 4, mounting tables 35 and 36 having basically the same configuration as the mounting tables 33 and 34 are provided for the transport rails 22 and 32. They are arranged side by side along the length direction. Further, these mounting tables 35 and 36 may have a stacked structure of upper and lower stages. The first transfer device 12 can transfer the wafer W to the heat treatment device 11, the pre-cooling device 15, and the mounting tables 35 and 36, and the second transfer device 13 is a resist coating apparatus. 8. The wafer W can be transferred to the development processing device 9, the cooling processing device 14, and the mounting tables 35 and 36.
[0049]
The interface unit 4 is provided with a wafer transfer body 41 that can freely move in the X direction, move in the Z direction, and rotate in the θ direction along the transfer rail 40. The wafer transfer body 41 includes an exposure apparatus E, The wafer W can be transferred to the mounting table 36 and the peripheral exposure device 42.
[0050]
The substrate processing apparatus 1 according to the embodiment of the present invention is configured as described above. Next, the function and effect thereof will be described.
[0051]
When a cassette C storing unprocessed wafers W is placed on the cassette mounting table 5, the wafer carrier 6 extracts one wafer W from the cassette C, and the extracted wafer W is first loaded on the mounting table 33. Placed on. Next, the wafer W is sequentially transferred to the alignment device and the adhesion device by the first transfer device 12 and subjected to predetermined processing. In this case, the alignment apparatus may also be used as the mounting table 33. In addition, since the adhesion apparatus usually involves heat treatment, a part of the many heat treatment apparatuses 11 may have an adhesion treatment function.
[0052]
Next, the wafer W is transferred to the pre-cooling device 15 while being held by the tweezers 19 of the first transfer device 12. Thereafter, the wafer W is carried into the pre-cooling device 15 and naturally cooled while being supported by the support pins 15a as shown by the solid line in FIG. By such pre-cooling, the wafer W is cooled to a temperature at which overbaking does not occur. Thereafter, the pre-cooled wafer W is transferred to the cooling processing unit 14 by the third transfer unit 17 and is cooled until reaching a predetermined temperature.
[0053]
The wafer W cooled to a predetermined temperature is transferred to the resist coating processing apparatus 8 by the second transfer device 13, and a predetermined resist coating process is performed. Thereafter, the wafer W coated with the resist is transferred to the mounting table 35 by the second transfer device 13. Then, the first transfer device 12 is transferred from the mounting table 35 to the heat treatment device 11 and prebaked. After that, the wafer W is again subjected to a predetermined cooling process by the pre-cooling device 15 and the cooling processing device 14, and then transferred to the mounting table 36. Next, the wafer W is transferred to the wafer transfer body 41, After passing through the peripheral exposure device 42, it is transported to the exposure device E and subjected to pattern exposure processing.
[0054]
The wafer W subjected to the exposure process in the exposure apparatus E is transferred to the mounting table 36, and then transferred to the heat processing apparatus 11 by the first transfer apparatus 12, and subjected to a post-exposure baking process. Next, the wafer W is transferred to the pre-cooling device 15 by the first transfer device 12 and pre-cooled, and then transferred to the cooling processing device 14 by the third transfer device 17. The wafer W cooled to a predetermined temperature by the cooling processing device 14 is transferred to the development processing device 9 by the second transfer device 13 and developed, and then transferred to the mounting table 35. And it is again conveyed by the 1st conveying apparatus 12 to the heat processing apparatus 11, and is attached | subjected to a post-baking process.
[0055]
The wafer W after the post-baking process is transferred to the pre-cooling device 15 by the first transfer device 12, and then transferred to the cooling processing device 14 by the third transfer device 17 and cooled to a predetermined temperature. The wafer W after being cooled to a predetermined temperature is transferred to the mounting table 34 by the second transfer device 13. Then, after being transferred from the mounting table 34 to the cassette C by the wafer transfer body 6, it is stored in the cassette C. Thus, a series of processing of the wafer W is completed.
[0056]
As described above, in the substrate processing apparatus 1 according to the embodiment of the present invention, processing involving heating, such as adhesion processing, post-exposure baking processing, and post-baking processing, and heat processing are performed in the heat processing apparatus 11. The wafer W just after is first transferred to the pre-cooling device 15 by the first transfer device 12 and pre-cooled. And after that, it is conveyed by the 3rd conveying apparatus 17 to the cooling processing apparatus 14, and is cooled to predetermined temperature. For this reason, the wafer W immediately after the end of the heat treatment can be quickly cooled to at least a temperature at which overbaking does not occur, and processing failure due to overbaking can be prevented. Further, since the pre-cooling device 15 is provided with the radiation fins 15c, the cooling efficiency of the wafer W is improved and the structure is simple.
[0057]
Then, the wafer W after being cooled to a predetermined temperature as described above is transferred to a liquid processing apparatus such as the resist coating processing apparatus 8 and the development processing apparatus 9 by the second transfer apparatus 13. Therefore, the second transfer device 13 transfers only the wafer W after being cooled to a predetermined temperature, and does not transfer the high-temperature wafer W immediately after heating. Therefore, a resist coating process sensitive to temperature can be suitably performed.
[0058]
In addition, since the first transfer device 12, the second transfer device 13, and the third transfer device 17 each share the transfer of the wafer W, the load of the wafer transfer of the first transfer device 12 is reduced. As a result, it becomes possible to prevent a delay in the transfer of the wafer W immediately after the end of the heat treatment by the first transfer device 12, and thus it is possible to more reliably prevent the processing failure of the wafer W due to overbaking. .
[0059]
In addition, since the cooling processing device 14 and the pre-cooling device 15 are arranged between the resist coating processing device 8 and the development processing device 9 and the heat processing device 11, the heat from the heat processing device 11 is applied to the resist coating processing device 8. And transmission to the development processing apparatus 9 can be prevented. As a result, predetermined liquid processing such as resist coating processing sensitive to temperature can be suitably performed.
[0060]
In addition, since the pre-cooling device 15 is stacked in eight stages on the upper part of the cooling processing apparatus 14 stacked in four stages, the occupied floor area is reduced. Further, since the pre-cooling device 15 itself is basically composed of the flat plate 15a, the number of units incorporated in the substrate processing apparatus 1 can be increased.
[0061]
Further, in the above embodiment, the transfer of the wafer W between the pre-cooling device 15 and the cooling processing device 14 is performed by the dedicated third transfer device 17, but this third transfer device 17 is not added. The first transfer device 12 itself may be configured to transfer between the pre-cooling device 15 and the cooling processing device 14. In this way, the overall structure of the substrate processing apparatus 1 can be simplified. In addition, it is possible to effectively use the arrangement space.
[0062]
In the above-described embodiment, an example in which the pre-cooling device 15 is stacked on the upper portion of the cooling processing device 14 has been described. However, in the present invention, the cooling processing device 14 and the pre-cooling device 15 can be arranged side by side. It is.
[0063]
Further, the heat dissipating mechanism provided in the pre-cooling device 15 is not limited to the heat dissipating fins 15b, and may be a cooling fan 45 as shown in FIG. In this way, the wafer W can be cooled by the air blown from the cooling fan 45, and the occurrence of processing defects due to overbaking can be similarly prevented. Further, the cooling effect can be further improved by combining the radiation fins 15b and the cooling fan 45.
[0064]
Further, instead of the cooling fan 45, as shown in FIG. 6, the pre-cooling device 15 may be provided with a gas ejection portion 61 for ejecting an inert gas, for example, nitrogen gas, toward the wafer W. Thereby, similarly, the wafer W can be efficiently cooled.
[0065]
In the above-described embodiment, the pre-cooling device 15 has a flat plate provided with three support pins as support members for supporting the wafer W. However, as shown in FIG. The apparatus 71 may have a support 73 on the flat plate 74 having a support surface 72 that supports the central portion of the wafer W and the vicinity thereof. Thereby, the heat dissipation effect using the support body 73 can be expected.
[0066]
As shown in FIG. 4, the pre-cooling devices 15 are stacked in multiple stages. However, as shown in FIG. 8, the pre-cooling devices 15 are stacked in a plurality of stages under the control of the control unit 81. The first transfer device 12 may be controlled so as to carry in the wafers W in order from the upper pre-cooling device 15. Thereby, the thermal adverse effect with respect to the cooling processing apparatus 14 can be made small.
[0067]
Further, as shown in FIG. 9, under the control of the control unit 81, the first transfer is performed so that the wafers W are sequentially loaded from the lower pre-cooling device 15 among the pre-cooling devices 15 stacked in a plurality of stages. The device 12 may be controlled. Thereby, the distance which conveys the wafer W from the pre-cooling apparatus 15 to the cooling processing apparatus 14 can be made smaller.
[0068]
Further, as shown in FIG. 10, under the control of the control unit 81, the pre-cooling at a position away from the pre-cooling device 15 in which the wafer W has already been carried out among the pre-cooling devices 15 stacked in a plurality of stages. The first transfer device 12 may be controlled so as to carry the wafer W into the device 15. Thereby, the thermal adverse effect between the pre-cooling devices 15 can be reduced.
[0069]
As shown in FIG. 11, when the air supply part 112 which supplies the clean air of a downflow is provided on the area | region 111 where the pre-cooling apparatus 15 and the cooling processing apparatus 14 are arrange | positioned, the outer periphery of each pre-cooling apparatus 15 An introduction member 113 for introducing clean air into each pre-cooling device 15 may be provided in the section. In this case, as shown in FIG. 11, it is more preferable that the introduction member 113 of the lower pre-cooling device 15 protrudes from the introduction member 113 of the upper pre-cooling device 15 as viewed from above, that is, from above. . Thereby, in each pre-cooling device 15, it becomes possible to cool the wafer W more efficiently. Further, a temperature sensor 114 for detecting the temperature in the region 111 is provided in the region 111, and the control unit 115 determines the supply amount of clean air supplied from the air supply unit 112 based on the detection result of the temperature sensor 114. You may comprise so that it may control. For example, efficient temperature control can be achieved by controlling the air supply amount to increase as the temperature in the region 111 rises.
[0070]
As shown in FIG. 12, an exhaust port 121 for exhausting the gas in each pre-cooling device 15 is provided behind each pre-cooling device 15, and the inside of each pre-cooling device 15 is exhausted by an exhaust device 124 through an exhaust passage 123. If the pre-cooling device 15 is configured to exhaust the air, it is possible to perform more efficient cooling.
[0071]
In the embodiment shown in FIG. 1, the first transfer device 12 and the second transfer device 13 can move in the Y direction, but as shown in FIG. 13, the vertical transfer type transfer that does not move in the XY direction. The devices 131 and 132 may be used in place of the first transfer device 12, and similar vertical transfer type transfer devices 133 and 134 may be used in place of the second transfer device 13. That is, these vertical transfer type transfer devices 131, 132, 133, and 134 are configured as transfer devices that can be moved up and down in the vertical direction and can be rotated in the θ direction, and the arm can be moved forward and backward with respect to each device. , Such conveying devices 131 to 134 may be used.
[0072]
In the above-described embodiment, the example in which the wafer W is used as the substrate has been described. However, the present invention can also be applied to a case where another substrate such as an LCD substrate or a CD substrate is used.
[0073]
【The invention's effect】
  Claims 1 to24According to the above, since the substrate is pre-cooled by the pre-cooling device before the substrate immediately after the heat treatment is cooled to the predetermined temperature by the cooling processing device, the processing failure of the substrate due to overbaking can be prevented.
[0074]
  Claim1-24Since the burden on the first transfer device can be reduced, it is possible to prevent a delay in the transfer of the substrate immediately after the heat treatment. As a result, it is possible to more reliably prevent substrate processing defects due to overbaking. Further, since the second transport device transports the substrate having a predetermined temperature or lower, the liquid processing can be suitably performed.
[0076]
  Claim2Since the heat treatment device and the liquid treatment device are arranged with the pre-cooling device and the cooling treatment device arranged close to each other, the heat from the heat treatment device is not transmitted to the liquid treatment device, and the liquid treatment Can be more suitably implemented.
[0077]
  Claim3According to this, the floor area occupied by the apparatus can be reduced, and the limited arrangement space in the substrate processing apparatus can be used effectively.
[0078]
  Claim4Therefore, it is possible to simplify the structure of the pre-cooling device and reduce the size of the entire substrate processing apparatus.
[0079]
  Claim7According to this, the cooling efficiency when pre-cooling the substrate is further improved, and processing defects due to overbaking can be prevented more reliably.
[0080]
  Claim12Since a large number of substrates can be pre-cooled at a time, the throughput can be improved accordingly.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic plan view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view showing a processing station of the substrate processing apparatus of FIG. 1. FIG.
FIG. 3 is a perspective view of a first transfer device provided in the processing station of FIG. 2;
FIG. 4 is an explanatory diagram showing pre-cooling devices stacked on the first cooling processing device group.
FIG. 5 is a perspective view showing a pre-cooling device equipped with a cooling fan.
FIG. 6 is a perspective view showing a pre-cooling device equipped with a nitrogen gas blow.
FIG. 7 is a diagram showing another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 8 is a diagram for explaining carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 9 is a view for explaining another carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 10 is a view for explaining still another carry-in control to the pre-cooling device.
FIG. 11 is a diagram showing still another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 12 is a diagram showing another configuration example of the pre-cooling device.
FIG. 13 is a plan view showing another configuration example of the substrate processing apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1 Substrate processing equipment
12 First transfer device
13 Second transport device
14 Cooling processing equipment
15 Pre-cooling device
15b Heat radiation fin
16 Cooling treatment device group
17 Third transfer device
45 Cooling fan
C cassette
W wafer

Claims (24)

基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device, a second transport device, and a third transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
3. The substrate processing apparatus, wherein the third transfer device is configured to transfer a substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device.
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置及び第3搬送装置とを備え,
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
さらに,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
第3搬送装置は,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成されたことを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate, a heating processing apparatus that heats the substrate, and a cooling processing apparatus that cools the substrate after the heat processing. A pre-cooling device that cools the substrate before, a first transport device that transports the substrate, a second transport device, and a third transport device;
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
further,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
3. The substrate processing apparatus, wherein the third transfer device is configured to transfer a substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device.
前記プレ冷却装置は,冷却処理装置の上部に積み重ねられたことを特徴とする,請求項1または2に記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pre-cooling apparatus is stacked on an upper part of the cooling processing apparatus. 前記プレ冷却装置は,基板を支持可能な支持部材を有する平面板であることを特徴とする,請求項1,2または3のいずれかに記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pre-cooling device is a flat plate having a support member capable of supporting a substrate. 前記支持部材が,複数の支持ピンを有することを特徴とする,請求項4に記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 4, wherein the support member has a plurality of support pins . 前記支持部材が,基板の中央部及びその近傍を支持する支持面を有する支持体を有することを特徴とする,請求項4に記載の基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 4 , wherein the support member includes a support having a support surface that supports a central portion of the substrate and the vicinity thereof . 前記プレ冷却装置は,基板の熱を放熱するための放熱機構を有することを特徴とする,請求項1〜6のいずれかに記載の基板処理装置。The pre-cooling device is characterized by having a heat dissipation mechanism for dissipating heat of the substrate, the substrate processing apparatus according to claim 1. 前記プレ冷却装置は,基板に向けて送風するファンを有することを特徴とする,請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pre-cooling device includes a fan that blows air toward the substrate. 前記プレ冷却装置は,基板に向けて冷却用気体を噴出する気体噴出部を有することを特徴とする,請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理装置。The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the pre-cooling device has a gas ejection portion that ejects a cooling gas toward the substrate. 前記冷却用気体が不活性ガスを含むことを特徴とする,請求項9に記載の基板処理装置。 The substrate processing apparatus according to claim 9, wherein the cooling gas includes an inert gas . 前記プレ冷却装置は,このプレ冷却装置内を強制的に排気する排気機構を有することを特徴とする,請求項1〜10のいずれかに記載の基板処理装置。The pre-cooling device is characterized by having an exhaust mechanism for forcibly evacuating the inside of the pre-cooling device, a substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 10. 前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられていることを特徴とする,請求項1〜11のいずれかに記載の基板処理装置。Wherein the pre-cooling device are stacked in a plurality of stages, the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 11. 前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,請求項12に記載の基板処理装置。 13. The substrate processing apparatus according to claim 12, further comprising means for controlling to carry in a substrate from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages . 前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,請求項12に記載の基板処理装置。 13. The substrate processing apparatus according to claim 12 , further comprising means for controlling the substrate to be carried in from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages . 前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,請求項12に記載の基板処理装置。 2. The apparatus according to claim 1, further comprising means for controlling the substrate to be loaded into a pre-cooling device at a position distant from the pre-cooling device already loaded with the substrate among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. 12. The substrate processing apparatus according to 12 . 基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,を有する基板の処理装置において,
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち上段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus comprising: means for controlling the substrate to be loaded from an upper pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,を有する基板の処理装置において,
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち下段のプレ冷却装置から基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
A substrate processing apparatus, comprising: means for controlling to carry in a substrate from a lower pre-cooling device among the pre-cooling devices stacked in a plurality of stages .
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,を有する基板の処理装置において,
基板を所定温度にまで冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置を備え,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
In a substrate processing apparatus comprising: a liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate for processing; a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature; and a heating processing apparatus that heats the substrate.
A pre-cooling device for cooling the substrate before cooling the substrate to a predetermined temperature;
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
The substrate processing comprising: a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate is already loaded among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. apparatus.
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
The substrate processing comprising: a means for controlling the substrate to be loaded into the pre-cooling device at a position away from the pre-cooling device in which the substrate is already loaded among the pre-cooling devices stacked in the plurality of stages. apparatus.
基板に処理液を供給して処理する液処理装置と,基板を所定温度にまで冷却処理する冷却処理装置と,基板を加熱処理する加熱処理装置と,加熱処理後の基板を前記冷却処理装置にて冷却処理する前に当該基板を冷却するプレ冷却装置と,基板を搬送する第1搬送装置,第2搬送装置とを備え,
第1搬送装置を挟んで,加熱処理装置とプレ冷却装置とが配置され,
第2搬送装置を挟んで,液処理装置と冷却処理装置とが配置され,
加熱処理装置と液処理装置との間にプレ冷却装置と冷却処理装置とが配置され,
第1搬送装置は,加熱処理装置とプレ冷却装置との間で基板を搬送するように構成され,
第2搬送装置は,液処理装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
さらに,第1搬送装置または第2搬送装置の少なくともいずれか一方が,プレ冷却装置と冷却処理装置との間で基板を搬送するように構成され,
前記プレ冷却装置が複数段に積み重ねられ,
前記複数段に積み重ねられたプレ冷却装置のうち既に基板が搬入されているプレ冷却装置から離れた位置のプレ冷却装置に基板を搬入するように制御する手段を有することを特徴とする,基板処理装置。
A liquid processing apparatus that supplies a processing liquid to a substrate and processes the substrate, a cooling processing apparatus that cools the substrate to a predetermined temperature, a heating processing apparatus that heat-processes the substrate, and a substrate that has been subjected to the heat processing to the cooling processing apparatus. A pre-cooling device that cools the substrate before the cooling process, and a first transport device and a second transport device that transport the substrate,
A heat treatment device and a pre-cooling device are arranged across the first transport device,
A liquid processing device and a cooling processing device are arranged across the second transfer device,
A pre-cooling device and a cooling processing device are arranged between the heat processing device and the liquid processing device,
The first transport device is configured to transport the substrate between the heat treatment device and the pre-cooling device,
The second transport device is configured to transport the substrate between the liquid processing device and the cooling processing device,
Further, at least one of the first transfer device and the second transfer device is configured to transfer the substrate between the pre-cooling device and the cooling processing device,
The pre-cooling devices are stacked in multiple stages;
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