[go: up one dir, main page]

JP4052911B2 - 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置 - Google Patents

不良物検出装置及びそれを用いた分離装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4052911B2
JP4052911B2 JP2002273304A JP2002273304A JP4052911B2 JP 4052911 B2 JP4052911 B2 JP 4052911B2 JP 2002273304 A JP2002273304 A JP 2002273304A JP 2002273304 A JP2002273304 A JP 2002273304A JP 4052911 B2 JP4052911 B2 JP 4052911B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
amount
appropriate
range
light amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002273304A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004105877A (ja
Inventor
秀二 園田
高宏 溝口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kubota Corp
Original Assignee
Kubota Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kubota Corp filed Critical Kubota Corp
Priority to JP2002273304A priority Critical patent/JP4052911B2/ja
Publication of JP2004105877A publication Critical patent/JP2004105877A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4052911B2 publication Critical patent/JP4052911B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Sorting Of Articles (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に向けて光を投射する投射部材と、前記受光手段の受光量が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられている不良物検出装置、及び、それを用いた分離装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
前記不良物検出装置では、検査対象物として、一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する例えば米粒群のような粒状体群が存在予定箇所にて蛍光灯等の照明手段にて照明され、前記存在予定箇所にて照明光が粒状体群で反射された反射光や粒状体群を透過した透過光、及び、存在予定箇所の背部側箇所に設けた投射部材から投射される光をCCDセンサ等の受光手段にて受光し、その受光量が粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れている否かを判別するようにしている。又、このような不良物検出装置を用いた分離装置においては、上記したような判別によって適正光量範囲を外れているとして存在が検出された不良物は、上記存在予定箇所よりも下手側に搬送されて、分離手段として例えばエアー噴出装置によるエアー吹き付け作動等によって正常物とは異なる経路に分離される構成となっている。
【0003】
そして、従来では、前記投射部材に発光出力を変更可能な1個のランプを備えさせて、その投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整可能なように構成したものがあった(特許文献1参照。)。
【0004】
【特許文献1】
特公平6−10635号公報(第1頁―第3頁、第3図)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記公知文献には具体的な構成について言及していないが上記ランプとしては蛍光灯が用いられるのが一般的である。つまり、一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する粒状体群を1個のランプで出来るだけ均一に照明するためには長尺状の蛍光灯が適しているからである。
そして、このように蛍光灯を用いて投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整する場合には、蛍光灯は調光可能な光量の範囲が狭いものであるから、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整する調整範囲が狭い範囲に限られてしまい、例えば、反射光が透過光の光量が大きく異なるような別の種類の粒状体群を検査対象物とする場合には対応できないものとなっていた。
【0006】
そして、蛍光灯の場合には、その発光部分の長手方向の両側端部には所定幅の電極形成部分が存在し、この電極形成部分からは光が投射されないので、一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する粒状体群を全幅にわたって照明するために、粒状体群の横方向の幅と蛍光灯の発光部分の長手方向の幅とを同じにしても、前記電極形成部分が存在することから投射部材の横方向の寸法が粒状体群の横幅よりも大きくなり、しかも、円筒形状の蛍光灯は長手方向だけでなく径方向においても比較的大きな幅を有するものであり、このような蛍光灯を備える投射部材が大型の部材となり、結果として装置全体が大型化するといった不利がある。
【0007】
又、蛍光灯の場合、経年変化による光量劣化が大きく、短期間の使用で新しいものと交換する必要があり煩わしい手間がかかるといった不利な面もある。
【0008】
本発明はかかる点に着目してなされたものであり、その目的は、発光用の部材の交換などの煩わしい手間を少なくして、投射部材の光量変更調整範囲を広くすることを可能にするとともに、投射部材を小型にして装置をコンパクト化させることを可能にする点にある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の不良物検出装置は、一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に光を投射する投射部材と、前記受光手段の受光量が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられているものであって、前記投射部材が、前記存在予定箇所の横幅方向に沿って並べて設置される複数のLED発光素子と、それらの複数のLED発光素子が設置される領域の光投射側に配置されて複数のLED発光素子が発光した光を拡散させる拡散板とを備えて構成され、前記複数のLED発光素子の発光出力を変更調整自在な発光出力調整手段が備えられ、前記拡散板が、前記複数のLED発光素子の並び方向の中央部において各LED発光素子との間の離間距離が大であり、前記並び方向の両端側では各LED発光素子との間の離間距離が小となるように湾曲する状態で設けられ、前記発光出力調整手段が、前記複数のLED発光素子を、その並び方向において設定個数のブロックに区分けして、各ブロック毎に前記発光出力を変更調整するように構成されていることを特徴とする。
【0010】
前記投射部材が、複数のLED発光素子を発光させてその発光した光を拡散板にて拡散させて略均一な光にさせて受光手段に向けて背部側からの光を投射するのである。そして、複数のLED発光素子の発光出力を発光出力調整手段によって変更調整することで、受光手段に向けて投射する光の光量を変更させることができる。
【0011】
LED発光素子は電流供給量を調整することにより発光出力が零から最大出力まで任意に変更調整することができるので、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量を広範囲にわたり変更調整することが可能となる。しかも、LED発光素子は小型の部材であるから、存在予定箇所の横幅方向に沿って並べて設置させるようにしても、存在予定箇所の横幅方向とほぼ同じ寸法に収めることが可能であり、しかも、並び方向と交差する方向に沿う寸法も小さい寸法に収めることが可能となる。つまり、投射部材を小型の部材として構成することが可能となり、投射部材を設置するための設置スペースを小さくして装置全体を小型化させることが可能となる。
更に、LED発光素子は、経年変化による光量劣化が少ないので、長期間使用しても光量が低下してしまうおそれが少なく、短期間の使用で部品を取替えるといった煩わしい作業は不要である。
【0012】
従って、発光用の部材の交換などの煩わしい手間を少なくして、投射部材の光量変更調整範囲を広くすることを可能にするとともに、投射部材を小型にして装置をコンパクト化させることが可能になった。
【0014】
例えば、前記拡散板と各LED発光素子との間の離間距離が前記並び方向の全域にわたり同一距離であれば、複数のLED発光素子から夫々出力される光量が同じであっても、存在予定箇所の横幅方向中央付近で光の投射量が最も大きくなり、存在予定箇所の横幅方向両端側ほど光の投射量が小さくなり、光の投射量が均一にならない。そこで、複数のLED発光素子が発光した光を拡散させる拡散板が、前記並び方向の中央部において各LED発光素子との間の離間距離が大であり、前記並び方向の両端側では各LED発光素子との間の離間距離が小となるように湾曲させることで、存在予定箇所の横幅方向中央付近に光が集中するのを抑制して存在予定箇所の横幅方向の全域にわたり略均一な投射量にて光を投射することが可能となる。
【0016】
さらに、前記複数のLED発光素子をその並び方向において設定個数のブロックに区分けして、各ブロック毎に発光出力を変更調整する構成とすることで、前記各ブロックのLED発光素子群が光を投射する各領域つまり存在予定箇所の横幅方向に沿って分割した複数領域の夫々に対して各別に発光出力を変更させることができるものとなり、各領域の間で光量のバラツキ等存在していても、各ブロック毎に各別に光量調整することで存在予定箇所の横幅方向の全域にわたり略均一な投射量にて投射することが可能となる。
【0017】
前記存在予定箇所の横幅方向の全域にわたり均一な投射量にて投射するために、上述したように複数のブロック毎に区分けすることなく、全てのLED発光素子夫々を各別に光量調整する構成とすることも考えられるが、このように構成すると回路構成が非常に複雑となりコスト高となる不利があるが、各ブロック毎に光量調整することにより、構成の大幅な複雑化によるコスト高を回避しながら、極力均一な投射量にて投射することが可能となるのである。
【0018】
請求項記載の不良物検出装置は、請求項において、前記判別手段が、前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングするように構成され、且つ、前記適正光量範囲を設定するために、そのサンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布を求めるように構成され、前記発光出力調整手段が、前記判別手段の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が前記適正光量範囲内における適正位置に位置するように、前記各LED発光素子の発光出力を変更調整するよう構成されていることを特徴とする。
【0019】
すなわち、受光手段の受光量が設定時間間隔でサンプリングされ、そのサンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布が求められる。この度数分布は前記適正光量範囲を設定するために求められることになる。例えば、この度数分布に基づいて適正光量範囲の上限値や下限値が適宜設定されることになる。そして、その求められた度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、各LED発光素子の発光光量を変更調整するのである。因みに、度数分布において最も頻度の高い光量値というのは投射部材から受光手段に投射される光の光量値である。説明を加えると、存在予定箇所に粒状体群が存在しない場合には常に投射部材から投射される光が受光手段にて受光されることになるので、投射部材から投射される光の光量値が常に度数分布において最も頻度の高い光量値となる。そこで、求められた度数分布において最も頻度の高い光量値がそのときに投射部材から投射される光の光量値として、その光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように光量を変更調整するのである。
前記適正光量範囲内における適正位置としては、例えば適正光量範囲の中央値とする場合や、その中央値よりも少し明側に設定したり、あるいは、中央値よりも少し暗側に設定するような場合等がある。
【0020】
従って、粒状体群で反射された反射光や粒状体群を透過した透過光にバラツキが生じて、それらの光量がバラついて分布する光量の範囲つまり分布領域も種々変化するようなことがあっても、実際に検査される粒状体群の検出光量の分布状況に適合させて投射部材から投射される光の光量値を適正光量範囲内の適正な位置になるように変更調整することにより、不良物を判別するときの精度を向上させることが可能となった。
【0021】
請求項記載の不良物検出装置は、請求項において、前記発光出力調整手段が、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されていることを特徴とする。
【0022】
すなわち、投射部材から受光手段に向けて投射する光の光量が適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整されることになる。前記適正光量範囲は、粒状体群からの反射光や透過光についての光量のバラツキにおける分布領域に基づいて設定されるものであり、適正光量範囲における中央位置に対応する光量は前記分布領域のほぼ中央位置に対応しており、粒状体群からの反射光や透過光の光量の平均的な値になるものであるから、投射部材から投射する光の光量と粒状体群における正常物からの反射光や透過光の光量との差が極力小さいものとなり、正常物と不良物とを判別する場合の判別精度を向上させることが可能となる。
【0023】
請求項記載の不良物検出装置は、請求項2又は3において、前記受光手段からの受光量を増減させる補正係数を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、前記発光出力調整手段が、前記感度補正手段による感度補正に対応させて、前記受光量が減少するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも小側の光量になるように変更調整し、前記受光量が増加するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるように変更調整するよう構成されていることを特徴とする。
【0024】
すなわち、受光手段からの受光量が補正係数の変更設定により増加されるように感度の補正が行われると、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるように変更調整されることになる。一方、受光手段からの受光量が補正係数の変更設定により減少されるように感度の補正が行われると、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも小側の光量になるように変更調整される。
【0025】
つまり、受光手段からの受光量が増加されるように感度の補正が行われた場合には、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるので、適正光量範囲を暗側に外れる不良物の光量と投射部材から投射する光の光量との光量差が大となり、このとき適正光量範囲の暗側の下限値を標準的な値よりも少し高めの値に変更設定することにより適正光量範囲を暗側に外れる不良物の誤検出を回避させ易い状態にすることが可能となる。一方、受光手段からの受光量が減少されるように感度の補正が行われた場合には、投射部材から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるので、適正光量範囲を明側に外れる不良物の光量と投射部材から投射する光の光量との光量差が大となり、このとき適正光量範囲の明側の上限値を標準的な値よりも少し高めの値に変更設定することにより適正光量範囲を明側に外れる不良物の誤検出を回避させ易い状態にすることが可能となる。
【0026】
請求項記載の分離装置は、請求項1〜4のいずれか1項に記載の不良物検出装置を備えた分離装置であって、検査対象物としての粒状体群を、予定移送経路に沿って一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過するように前記存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段と、前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段とを備えて構成されていることを特徴とする。
【0027】
すなわち、移送手段によって粒状体群が予定移送経路に沿って存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とにわたって移送される。そして、存在予定箇所においては上記したような不良物検出装置によって不良物の判別処理が行われ、経路下手側の分離箇所においては、不良物検出装置の判別結果に基づいて分離手段を作動させて、粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させるのである。
【0028】
そして、このような分離装置においては、前記存在予定箇所と前記分離箇所との間の離間距離はできるだけ短い方が分離精度を向上させる上では好ましいが、上記したように光源として複数のLED発光素子を備えて構成される投射部材を小型にすることができるから、分離手段の設置場所を前記存在予定箇所に近づけることができて前記離間距離を極力短くさせることが可能となる。従って、前記存在予定箇所と前記分離箇所との間の離間距離を短くして分離精度を向上させることが可能となる。
【0029】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る不良物検出装置及びそれを用いた分離装置の実施形態を、粒状体群の一例として玄米や精米等の米粒群を検査対象物として流下案内させながら、不良検出及び不良物除去を行う不良物除去装置に適用する場合について図面に基づいて説明する。以下、前記不良物除去装置について説明する。
【0030】
図1及び図2に示すように、広幅の板状のシュータ1が、水平面に対して所定角度(例えば60度)に傾斜されて設置され、このシュータ1の上部側に設けた貯溜タンク7からフィーダ9によって搬送されて供給された米粒群kが、シュータ1の上面を一層状態で横方向に広がった状態で流下案内される(図3参照)。尚、図3は動作説明図であるため、図1、図2とは装置構成の配置が異なる箇所がある。ここで、上記シュータ1は、幅方向全幅に亘って平坦な案内面に形成された平面シュータである。尚、ここでは、一層状態で移送させることを目的としているので、流れ状態により部分的に粒が重なって2層状態等になっても、一層状態の概念に含まれる。
【0031】
貯溜タンク7には、外部の精米機等から供給される米粒群kや、その外部からの米粒群kを1次選別処理した後再選別される正常物又は不良物が貯溜される。タンク7は下端側ほど先細筒状に形成され、貯溜タンク7からフィーダ9上に落下した米粒群kのシュータ1への供給量は、フィーダ9の振動による米粒群kの搬送速度を変化させて調節される。
【0032】
図2に示すように、米粒群kがシュータ1の下端部から移動落下する予定移送経路IK中に、米粒群kの存在が予定されている存在予定箇所(以下、検出箇所Jという)が設定されている。尚、米粒群kは横幅方向に広がった状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された上記検出箇所Jを通過するように搬送される構成となっている。
【0033】
予定移送経路IKの前面側(図2において左側)を照明する前面側ライン状光源4Bと、予定移送経路IKの後面側(図2において右側)を照明する後面側ライン状光源4Aとが設けられている。各ライン状光源4A,4Bと前記検出箇所Jとを結ぶ照明光の経路には夫々拡散透過板18A,18Bが配置され、各ライン状光源4A,4Bの背部側及び一部側方箇所を覆う状態で、内面につや消しの白色塗装を施した曲面状の拡散反射板20A,20Bが配置されている。この両ライン状光源4A,4Bにて米粒群の存在予定箇所としての検出箇所Jを照明する照明手段4が構成されている。
【0034】
上記前面側ライン状光源4Bからの照明光が上記検出箇所Jの前面側で反射した反射光を受光する前面側ラインセンサ5Bと、後面側ライン状光源4Aからの照明光が上記検出箇所Jの後面側で反射した反射光を受光する後面側ラインセンサ5Aとが設けられ、この両ラインセンサ5A,5Bにて、上記検出箇所Jからの光を受光する受光手段5が構成されている。
前記各ライン状光源4A,4Bは、各ラインセンサ5A,5Bの受光方向に対して傾いた複数の方向から米粒群kを照明するように、検出箇所Jを斜め下方から照明する下側光源と、検出箇所Jを斜め上方から照明する上側光源とを備えている。そして、このように検出箇所Jを照明光の照明角度を変えて異なる方向から照明して、米粒群kが正常な検出箇所Jから横方向にずれた場合でも、極力均一な状態で良好に照明できるようにしている。
【0035】
図6に示すように、前記両ラインセンサ5A,5Bは、前記幅広の検出箇所Jからの光を受光する複数個の受光部としての複数個の受光素子5aを検出箇所Jの幅方向に沿って並置させるように構成されている。つまり、前記米粒群の各米粒の大きさよりも小さい範囲p(例えば米粒の大きさの10分の1程度)を夫々の受光対象範囲とする複数個の受光素子5aを前記幅広の検出箇所Jに対応させてライン状に並ぶ状態で備えている。
そして、各ラインセンサ5A,5Bは、受光素子5aが直線状に並置されたモノクロタイプのCCDセンサ部50と、検出箇所Jでの米粒群kの像を上記CCDセンサの各受光素子5a上に結像させる光学系51とから構成され、例えば図3において検出箇所Jの右端側から左端側に向けて、各受光素子5aから各受光情報が順次取り出されるように構成されている。
【0036】
前記各ラインセンサ5A,5Bの受光方向であって前記検出箇所Jの背部側箇所に配置されて、前記各ラインセンサ5A,5Bに向けて光を投射する投射部材8が設けられている。この投射部材8は、前記検出箇所Jの横幅方向に沿って密状態で並べて設置される複数のLED発光素子80と、それらの複数のLED発光素子80が設置される領域の光投射側に配置されて複数のLED発光素子80が発光した光を拡散させる拡散板81とを備えて構成されている。
【0037】
詳述すると、図4に示すように、検出箇所Jの横幅方向に沿って長尺状に構成され、且つ、断面形状が略矩形状であって前方側部分が開口しているケーシング83の内部に、複数のLED発光素子80が設置されたLED基板82が設けられている。このLED基板82は、図4(ロ)に示すように前記横幅方向に沿って密状態で複数のLED発光素子80を並べる状態で設置されている。そして、このLED基板82は、ケーシング83にビス止めされたアルミニューム板からなる放熱板84に対してシリコン放熱樹脂を介して貼り付けて取り付けられている。一方、このLED基板82の前方側には、LED発光素子80が発光した光を拡散させる拡散板81が、複数のLED発光素子80の並び方向の中央部において各LED発光素子80との間の離間距離が大であり、前記並び方向の両端側では各LED発光素子80との間の離間距離が小となるように湾曲する状態で設けられている。このように拡散板81を湾曲させることで、前記検出箇所Jにおける光の強さが横幅方向中央にて大になり端部部分にて小になるというような偏りが生じないように、光の強さが横幅方向において極力均一になるようにしている。
【0038】
そして、図7に示すように、複数のLED発光素子80をその並び方向において設定個数(数個〜10個程度)のブロックBKに区分けして、各ブロックBK毎に一括してLED発光素子80の発光出力を変更調整自在な発光出力調整手段としての調光装置85が備えられている。この調光装置85は、後述する制御装置10からの制御指令に基づいて各ブロックBK毎のLED発光素子80の発光出力を変更調整するように構成されている。
【0039】
図2に示すように、前面側ライン状光源4B、前面側ラインセンサ5B及び後面側反射板8Aが一方の収納部13Bに収納され、後面側ライン状光源4A、後面側ラインセンサ5A及び前面側反射板8Bが他方の収納部13Aに収納され、両収納部13A,13Bは側板が共通の一体の箱体に形成され、各収納部13A,13Bは、検出箇所Jに面する側に板状の透明なガラスからなる透過窓14A,14Bを備えている。つまり、各ライン状光源4A,4B及び各ラインセンサ5A,5Bが、前記検出箇所Jに面する側に透過窓14A,14Bを備えた収納部13A,13Bに収納されて、各ライン状光源4A,4Bが前記透過窓14A,14Bを通して前記検出箇所Jを照明し、且つ、各ラインセンサ5A,5Bが前記透過窓14A,14Bを通して前記検出箇所Jからの光を受光するように構成されている。
【0040】
予定移送経路IKの前記検出箇所Jから経路下手側の分離箇所において、検出箇所Jでの受光情報に基づいて不良と判定された米粒や異物等の不良物に対してエアーを吹き付けて正常な米粒群kの移動方向から分離させるためのエアー吹き付け装置6が設けられ、このエアー吹き付け装置6は、噴射ノズル6aの複数個を、上記予定移送経路IKの全幅を所定幅で複数個の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置させ、不良物が存在する区画の噴射ノズル6aが作動されるように構成されている。
【0041】
つまり、シュータ1が、米粒群kを一層状態で横幅方向に広げた状態でその横幅方向に沿って幅広に形成された検出箇所Jを通過するように搬送させる搬送手段として機能するとともに、米粒群kを予定移送経路IKに沿って検出箇所Jとその検出箇所Jの位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段として機能する構成となっており、前記エアー吹き付け装置6が、前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段を構成することになる。
【0042】
そして、シュータ1の下端部から所定経路に沿って流下する米粒群kのうちで、前記噴射ノズル6aからのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる正常な米粒kを回収する良米用の受口部2Bと、エアーの吹き付けを受けて正常な米粒kの流れから横方向に分離した着色米や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等の異物を回収する不良物用の受口部3Bとが設けられ、良米用の受口部2Bが横幅方向に細長い筒状に形成され、その良米用の受口部2Bの周囲を囲むように、不良物用の受口部3Bが形成されている。尚、良米用の受口部2Bにて回収された米粒k、及び、不良物用の受口部3Bにて回収された不良物は、再選別等のために、本検査装置のタンク7へ又は他の検査装置に搬送される。
【0043】
図1に示すように、脚部F0を備えた底板F1上に立設された縦枠F2,F3,F4が、横枠F5,F6,F7によって連結されて機枠が構成されている。表側の縦枠F4の上部斜め部分に、情報の表示及び入力用の操作卓21が設置され、前記フィーダ9に対する振動発生器9Aが横枠F5上に設置され、前記エアー吹き付け装置6に対するエアー供給用のエアタンク15が底板F1上に設置されている。又、箱状の収納部13A,13Bが前部側で縦枠F4に後部側で縦枠F3に支持され、シュート1が上部側で横枠F6に下部側で収納部13Bに支持されている。装置外面を覆うカバーKが機枠に取り付けられている。
【0044】
次に制御構成について説明する。図5に示すように、マイクロコンピュータ利用の制御装置10が設けられ、この制御装置10に、両ラインセンサ5A,5Bからの各画像信号と、前記操作卓21からの操作情報とが入力されている。一方、制御装置10からは、前記ライン状光源4A,4Bを点灯させる点灯回路19に対する駆動信号と、各噴射ノズル6aへの各エアー供給をオンオフする複数個の電磁弁11に対する駆動信号と、前記フィーダ用振動発生器9Aに対する駆動信号と、前記調光装置85への制御指令用の信号とが出力されている。
【0045】
上記制御装置10を利用して、前記透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bの受光情報に基づいて、米粒群kにおける不良物の存否を判別する判別手段100が構成され、この判別手段100は、米粒群kからの検出光(透過光及び反射光)つまり透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bの受光量がその適正光量範囲(透過光の場合はΔEt、反射光の場合はΔEh)を外れた場合に、不良物の存在を判別するように構成されている。又、この判別手段100は、前記適正光量範囲を設定するために、透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bの受光量を設定時間間隔でサンプリングして得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布を求めるように構成され、且つ、前記度数分布に基づいて前記適正光量範囲の上限値及び下限値を自動設定するように構成されている。しかも、前記受光量が前記適正光量範囲を外れているか否かについての判別処理及び前記度数分布を求める処理を前記各受光部毎に実行するように構成されている。
【0046】
更に、前記制御装置10を利用して、前記判別手段100の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い投射部材8から投射される光の光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、投射部材8から透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bに向けて投射する光の光量を変更調整すべく調光装置85に制御用指令情報を指令する光量指令手段101が構成されている。従って、この光量指令手段101と前記調光装置85とにより、投射部材8から透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bに向けて投射する光の光量を変更調整する光量調整手段KTが構成される。
【0047】
次に、上記適正光量範囲の設定のための受光データの各種補正処理について説明する。
先ず、前記米粒群kにおける正常物と透過率及び反射率が同一の検査基準物Kjを前記検出位置Jに位置させて、図8に示すように、前記透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bが受光する各受光情報を基準受光量情報として求める。つまり、各センサ5A,5Bの各受光部5a毎に、透過光の基準受光量Siと反射光の基準受光量Si'(i=0〜〔受光部の数−1〕)を記憶し、同時に、その基準受光量Si,Si'についての平均値Sm,Sm'を求めておく(この処理を「リファレンス作成」と呼ぶ)。ここで、検査基準物Kjは、長手状の検出位置Jに合わせて長尺状の白色系の樹脂板等にて構成される。尚、透過光用と反射光用に、別々の検査基準物Kjを用いてもよい。
【0048】
又、照明光源5A,5Bからの照明光量の変動を検出する。具体的には、照明光量が十分に安定な状態で、図9に示すように、投射部材8の光量を検査用基準値に設定しておき、反射用ラインセンサ5Bの各受光素子5aの出力電圧r〔i〕(i=0〜〔受光素子の数−1〕)を基準の照明光量値として計測し、その全受光部についての平均値rmを求めておく(この処理を「照明光補正データ作成」と呼ぶ)。一方、実際の検査を行う最新の時点で、反射用ラインセンサ5Bの各受光部5aの出力電圧r'〔i〕を計測し、その全受光部についての平均値rm'を求め、基準の照明光量値の平均値rmと最新の照明光量値の平均値rm'との比(rm'/rm)を照明光量の変化率とする。尚、上記反射用反射板8Bに代えて、透過用反射板8Aからの反射光を受光する透過用ラインセンサ5Aの受光情報によって、上記照明光量の変化率を求めてもよい。
【0049】
尚、上記照明光量の安定状態を得るために、出荷調整時等において、点灯後充分な時間が経過してから上記基準光量の測定を行う。又、実際の検査運転時には、所定時間(例えば30分)の検査を行うと、図示しない清掃手段にて窓部14A,14Bが清掃されるので、その清掃後に、前記照明光量の測定を行う。
【0050】
そして、透過光及び反射光の各センサ出力電圧jについて、基準受光量の平均値Sm,Sm'に対する各受光素子5aの基準受光量Si,Si'の偏差を打ち消すために、基準受光量の平均値Sm,Sm'と各受光素子5aの基準受光量Si,Si'の比を掛け、さらに、照明光量の変動の影響を打ち消すために、前記照明光量の変化率(rm'/rm)で割るように、下式に基づいて補正処理して、透過光及び反射光の各センサ5A,5Bの補正後の出力電圧jt,jh(センサ補正出力)を得る。
【0051】
【数1】
センサ補正出力jt=j×(Sm/Si)×(rm/rm')
センサ補正出力jh=j×(Sm'/Si')×(rm/rm')
【0052】
次に、上記各センサ補正出力jt,jhについての感度補正処理を行う。ここでは、感度値を標準値(100)に設定する。尚、実際の検査運転時において、感度値を「100」より大に(例えば、110)に設定すると、基準受光量の平均値Sm,Sm'からのセンサ補正出力jt,jhの偏差(jt−Sm),(jh−Sm')が大きくなるように検出受光量が増加補正され、感度値を「100」より小に(例えば、90)に設定すると、上記偏差(jt−Sm),(jh−Sm')が小さくなるように検出受光量が減少補正された透過光及び反射光の各感度補正出力jk,jk'が得られる。
【0053】
【数2】
感度補正出力jk=(感度値/100)×(jt−Sm)+(Sm)
感度補正出力jk'=(感度値/100)×(jh−Sm')+(Sm')
【0054】
つまり、前記制御装置10を利用して、前記透過用及び反射用ラインセンサ5A,5Bからの受光量(上式のjt及びjh)を増減させるための補正係数(感度値)を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段102が構成されている。そして、感度値を「100」より大きく例えば「110」等のように変更して上記受光量を増加させると、増加補正された受光量が適正光量範囲から外れ易くなって不良判別の感度が高くなり、一方、感度値を「100」より小さく例えば「90」等のように変更して上記受光量を減少させると、減少補正された受光量が適正光量範囲から外れ難くなって不良判別の感度が低くなるように、透過光及び反射光の適正光量範囲に対する受光量の感度が補正される。この感度調整は操作卓21を用いて作業者が手動で行うことになる。
【0055】
次に、判別手段100による適正光量範囲設定処理について説明する。尚、この適正光量範囲設定処理は装置の出荷調整時に実行するようになっている。
各ラインセンサ5A,5Bの各受光素子5a毎に、設定時間間隔でサンプリングして得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側に亘る間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布(ヒストグラムともいう)を求めて、その度数分布に基づいて前記適正光量範囲を設定するのである。
【0056】
具体的には、図13に示すように、照明光源5A,5Bからの照明光量が十分に安定した状態で、米粒群kを流しながら、各ラインセンサ5A,5Bの各受光素子5a毎に設定時間間隔で受光量データつまり出力電圧をサンプリングし、その出力電圧を256段階のデジタル値に変換する。尚、この場合において、前記エアー吹き付け装置6は作動させない。その後米粒群kの供給を停止して、例えば、図18に示すように、各受光素子5a毎に、サンプリングされた設定個数の出力電圧について、暗側から明側に亘る間を複数段階に区分けした各受光量に対する度数分布hgを求める。そして、その度数分布hgにおいて暗側から明側に亘って各受光量に対する度数値が連続して存在する連続領域の上端部の近傍位置に対応させて上側光量値TH1を設定するとともに、その上側光量値TH1から明側に設定光量K1離れた位置に前記適正光量範囲ΔEt,ΔEhの上限値T1を設定し、且つ、前記連続領域の下端部の近傍位置に対応させて下側光量値TH2を設定するとともに、その下側光量値TH2から暗側に設定光量K2離れた位置に前記適正光量範囲ΔEt,ΔEhの下限値T2を設定するように構成されている。上記各設定光量K1,K2は制御定数として予め設定されている。そして、上記のように各ラインセンサ5A,5Bの各受光素子5a毎に、設定及び補正される前面側及び後面側の適正光量範囲ΔE1,ΔE2の上限値T1及び下限値T2の値は、後述するような前記制御装置10内のメモリLUT(前面側用及び後面側用のLUT)に、不良検出処理用のルックアップテーブルとして記憶される。
このようにして各受光素子5a毎に設定された適正光量範囲を受光素子5aの並び方向に沿って連続して表すと図19(イ)に示すようになる。
【0057】
次に、光量指令手段101による光量指令処理について説明する。この光量指令処理は、出荷調整時だけでなく通常の運転状態においても繰り返し実行することになる。上述したようにして求められた度数分布の情報に基づいて、例えば、図18のピーク値piのように度数分布において最も頻度の高い箇所は、投射部材8から投射される光の光量値に対応するものである。そこで、この度数分布において最も頻度の高い光量値が適正光量範囲内における適正位置に位置するように、投射部材8から受光手段に向けて投射する光の光量を変更調整するように調光装置85に制御情報を指令する。
【0058】
つまり、図15に示すように、出荷調整時に実行するときは感度補正手段102による感度値が標準の感度値「100」に設定されている状態であるから、図20(イ)に示すように、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材8から前記受光手段に向けて投射する光の光量BGが前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されている。
又、通常運転を実行するときのように感度補正手段102による感度補正が行われると、それに対応させて、感度値が標準値「100」より大に設定され前記受光量が増加少するように感度補正されると、適正光量範囲内における適正位置として、例えば図20(ロ)に示すように、投射部材8から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりもすこし大側の光量の位置になるように変更調整し、感度値が標準値「100」より小に設定され受光量が減少するように感度補正されると、適正光量範囲内における適正位置として、例えば図20(ハ)に示すように、投射部材8から投射する光の光量が適正光量範囲の中央値よりも小側の光量の位置になるように変更調整するよう構成されている。
【0059】
そして、このとき、複数個の受光素子5aに対して投射する光の光量を上述したように受光素子5aの並び方向において複数のブロックBK毎に区分けされた複数個づつの受光素子5a毎に変更調整する構成となっている。説明を加えると、装置の初期設置状態では、例えば、図19(イ)に示すように、各受光素子5aでの並び方向での投射部材8の光量のバラツキは少ないが、検査を長期にわたり実行するに伴って図19(ロ)に示すように左右両端側部分において光量が大きく変動してしまうことがある。例えば、ライン状光源として蛍光灯を用いると長手方向両端側部分の光度が減少して、米粒群kの光量の分布状態と投射部材8の光量との相関関係が中央位置と左右両端側部分とで異なってしまうことがある。又、長期の使用で投射部材8の表面に塵埃が付着して光量が低下することもある。そこで、このような場合には、前記並び方向の中央部分では投射部材8の光量を変化させず、左右両端側に対応するブロックBKの部分だけを投射部材8の光量を明側に変更させることで図19(イ)に示すような初期状態に近い適正な状態に戻すことができるのである。
【0060】
次に、通常運転を実行するときにおける適正光量範囲に対する適正光量範囲補正処理について説明する。この適正光量範囲補正処理は、通常の運転状態を継続して実行しているときに、受光量データが検出されるに伴って適正光量範囲そのものを適宜補正するようにしている。すなわち、図14に示すように、設定時間毎に設定個数の受光量データをサンプリングして、そのデータの中に上側光量値TH1よりも明るい光量値が含まれているときは、前記上側光量値TH1を明側に1段階移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記上側光量値TH1よりも明るい光量値が含まれていないときは前記上側光量値TH1を暗側に1段階移動させ、且つ、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値TH2よりも暗い光量値が含まれているときは前記下側光量値TH2を暗側に1段階移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値TH2よりも暗い光量値が含まれていないときは前記下側光量値TH2を明側に1段階移動させるのである。
【0061】
そして、上記のように各ラインセンサ5A,5Bの各受光素子5a毎に設定されるとともに、その後補正される前面側及び後面側の適正光量範囲ΔEt,ΔEhの上限値T1及び下限値T2の値は、図10に示すように、前記制御装置10内のメモリLUT(前面側用及び後面側用のLUT)に、不良検出処理用のルックアップテーブルとして記憶される。
このルックアップテーブルについて説明を加えると、位置データi(i=0〜〔受光素子の数−1〕)で表した各受光素子5a毎に、センサ出力電圧をとり得る全ての光量値j(前記256段階の光量値)の範囲で変化させながら、その各値jが前記適正光量範囲ΔEt,ΔEH内であれば、メモリLUTの該当番地(i,j)に判定出力として「0」を記憶させ、適正光量範囲ΔEt,ΔEHを外れていれば、メモリLUTの該当番地(i,j)に判定出力として「1」を記憶させる。そして、前記判別を行うときは、上記作成したメモリLUTに対して、各ラインセンサ5A,5Bの受光素子5aの位置データi(i=0〜〔受光素子の数−1〕)と、その位置iでの各受光素子5aの光量値jとを入力すると、その各受光素子5aについて、正常物のときは判定出力「0」が、不良物のときは判定出力「1」が夫々出力されるので、それに基づいて前記判別手段100が判別を行うのである。
【0062】
以下、具体的に、透過光用及び反射光用の各ラインセンサ5A,5Bの受光出力について説明する。
透過光の場合は、図11の透過光用ラインセンサ5Aの出力波形に示すように、各受光部5aの受光量に対応する出力電圧が米粒群kに対する適正光量範囲ΔEt内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、設定適正範囲ΔEtを外れた場合に米粒の不良又は異物の存在を判別する。図中、e0は、正常米粒からの標準的な透過光に対する出力電圧レベルである。そして、適正光量範囲ΔEtよりも小さい場合に、正常な米粒よりも透過率が小さい不良の米粒や異物等(例えば、黒色の石粒)の存在を判別し、適正光量範囲ΔEtよりも大きい場合に、正常な米粒kよりも透過率が大きい明側の不良の米粒k又は前記異物の存在を判別する。この明側の不良の米粒k又は異物の例としては、薄い色付の透明なガラス片等が正常な米粒kよりも透過率が大きい異物になり、又、正常な米粒kを「もち米」としたときの「うるち米」が正常な米粒kよりも透過率が大きい不良の米粒kになる。
【0063】
図11には、受光素子5aの出力電圧(受光量)が、米粒kに一部着色部分が存在する位置や黒色の石等の位置(e1で示す)、及び、胴割れ部分が存在する位置(e2で示す)では、上記適正光量範囲ΔEtよりも下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異物等が存在する場合には、位置e3に示すように適正光量範囲ΔEtよりも上側に位置している状態を例示している。
【0064】
一方、反射光の場合には、図12の反射光用のラインセンサ5Bの補正後の出力波形に示すように、各受光部5aの受光量に対応する補正後の出力電圧が適正光量範囲ΔEh内にある場合に正常な米粒の存在を判別し、適正光量範囲ΔEhを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異物の存在を判別する。図中、e0'は、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧レベルである。図には、米粒kに一部着色部分が存在する位置(e1'で示す)や胴割れ部分が存在する位置(e2'で示す)では、上記適正光量範囲ΔEhから下側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって位置e3'に示すように適正光量範囲ΔEhから上側に外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形において適正光量範囲ΔEhから下側に大きく外れることになる。
【0065】
前記制御装置10は、上記不良の判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ5A,5Bの検出位置Jに移送した米粒群kのうちで、米粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、検出位置Jから前記噴射ノズル6aによるエアー噴射位置までの移送時間が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物に対して、その位置に対応する区画の各噴射ノズル6aからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。
【0066】
そして、図16に示すように、出荷調整時においては、装置の電源をオンして所定のウオームアップ運転をして、照明光量の安定状態等を十分に確認してから、先ず、前記「リファレンス作成」と、最初の「照明光補正データ作成」の各処理を行う。次に、センサ出力補正と感度補正(但し、標準の感度値)を行い、前記適正光量範囲設定処理及び初回の光量指令処理を実行し、設定された適正光量範囲ΔEt,ΔEhに基づいてメモリLUTを作成する。最後に、エアー吹き付け装置6の各ノズルの作動時間等の排除調整を行う。
【0067】
そして、図17に示すように、通常の検査運転時には、先ず、装置の電源をオンして所定のウオームアップ運転をしてから、そのときの最新の「照明光補正データ作成」を行って照明光量の変化率のデータを算出し、その照明光量の変化率のデータと、前記適正光量範囲ΔEt,ΔEhとを使って、メモリ内のデータを書き換えてメモリLUTを作成する。さらに、感度値の設定が行われると、その感度値の設定に対応させて前記光量調整処理を実行する。又、上記修正後のメモリLUTを用いて、シュート1に米粒群kを供給して検査を開始する。
そして、清掃用の所定時間(30分)が経過すると、米粒群kの供給を止めて検査を停止し、図示しない清掃手段を作動させて窓部14A,14Bの清掃を行うとともに、前記光量範囲補正処理を実行するとともに、その補正結果に対応させて前記光量指令処理を実行して、それらの処理結果を反映させてメモリ内のデータを書き換えてメモリLUTを作成する。そして、以後は、この修正後のメモリLUTを用いて、再び、シュート1に米粒群kを供給して検査を開始する。
【0068】
〔別実施形態〕
以下、別実施形態を列記する。
【0069】
(1)上記実施形態では、前記拡散板81の湾曲形状が予め定めた一定の湾曲形状で固定される構成としたが、このような構成に代えて、その曲率半径が変化するようにこの拡散板81の湾曲形状を変更調整可能なように支持する構成としてもよい。例えば、拡散板81の長手方向両端部を夫々支点として拡散板81の中央部をLED発光素子群との間の距離が接近離間方向に変更可能なようにケーシング83に支持する構成としてもよい。
【0071】
)上記実施形態では、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、その感度設定に対応させて前記投射部材から投射される光の光量値の前記適正光量範囲内における位置を変更調整する構成としたが、このような構成に限らず、常に、一定の位置、例えば、適正光量範囲の中央位置の光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整する構成としてもよい。
【0072】
)上記実施形態では、通常運転を実行しているときに、清掃用の所定時間が経過する毎に、前記光量範囲補正処理及び光量指令処理を繰り返し実行する構成としたが、このような構成に限らず、作業を開始するときにだけ前記光量範囲補正処理と光量指令処理を実行する構成としてもよい。
【0073】
)上記実施形態では、前記度数分布に基づいて自動的に適正光量範囲の上限値及び下限値を設定するようにしたが、このような構成に限らず、手動操作によって適正光量範囲の上限値及び下限値を設定する構成としてもよい。
【0074】
)上記実施形態では、受光手段として、透過光及び反射光用の各ラインセンサ5A,5Bを用いたが、透過光又は反射光用のいずれかのラインセンサ5A,5Bで受光手段を構成してもよい。尚、ラインセンサも、モノクロタイプのCCDラインセンサ以外に、撮像管式のテレビカメラでもよい。又、モノクロタイプではなく、カラータイプのCCDセンサにて構成して、例えば、色情報R,G,B毎の受光量から不良米や異物の存否をさらに精度良く判別してもよい。
【0075】
)上記実施形態では、分離手段が、不良物に対してエアーを吹き付けて、正常物と異なる経路に分離させるようにしたが、これに限るものではなく、例えば不良物をエアーで吸引して分離させるようにしたり、機械的な接当作用により分離させる構成としてもよい。
【0076】
)上記実施形態では、検査対象物としての粒状体群が米粒群である場合について例示したが、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】不良物除去装置の全体側面図
【図2】同要部側面図
【図3】動作状態を示す要部の斜視図
【図4】投射部材を示す図
【図5】制御構成のブロック図
【図6】ラインセンサの受光範囲を示す図
【図7】投射部材の回路構成図
【図8】基準受光量の記憶時の出力波形図
【図9】照明光量の変化状態を示す出力波形図
【図10】不良判別用のメモリのブロック図
【図11】透過光用ラインセンサの出力波形図
【図12】反射光用ラインセンサの出力波形図
【図13】適正光量範囲設定処理を示すフローチャート
【図14】適正光量範囲補正処理を示すフローチャート
【図15】光量指令処理を示すフローチャート
【図16】出荷調整時の制御作動のフローチャート
【図17】通常運転時の制御作動のフローチャート
【図18】度数分布を示すグラフ
【図19】各受光素子の適正光量範囲を示す図
【図20】度数分布を示すグラフ
【符号の説明】
4 照明手段
5 受光手段
6 分離手段
8 投射部材
80 LED発光素子
81 拡散板
85 発光出力調整手段
100 判別手段
102 感度補正手段
H 移送手段

Claims (5)

  1. 一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過する粒状体群を検査対象物として、その検査対象物の存在予定箇所を照明する照明手段と、
    前記存在予定箇所からの光を受光する受光手段と、
    前記受光手段の受光方向であって前記存在予定箇所の背部側箇所に配置されて前記受光手段に向けて光を投射する投射部材と、
    前記受光手段の受光量が前記粒状体群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲を外れた場合に不良物の存在を判別する判別手段とが設けられている不良物検出装置であって、
    前記投射部材が、前記存在予定箇所の横幅方向に沿って並べて設置される複数のLED発光素子と、それらの複数のLED発光素子が設置される領域の光投射側に配置されて複数のLED発光素子が発光した光を拡散させる拡散板とを備えて構成され、
    前記複数のLED発光素子の発光出力を変更調整自在な発光出力調整手段が備えられ
    前記拡散板が、前記複数のLED発光素子の並び方向の中央部において各LED発光素子との間の離間距離が大であり、前記並び方向の両端側では各LED発光素子との間の離間距離が小となるように湾曲する状態で設けられ、
    前記発光出力調整手段が、前記複数のLED発光素子を、その並び方向において設定個数のブロックに区分けして、各ブロック毎に前記発光出力を変更調整するように構成されている不良物検出装置。
  2. 前記判別手段が、前記受光手段の受光量を設定時間間隔でサンプリングするように構成され、且つ、前記適正光量範囲を設定するために、そのサンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側にわたる間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布を求めるように構成され、
    前記発光出力調整手段が、前記判別手段の前記度数分布の情報に基づいて、その度数分布において最も頻度の高い光量値が前記適正光量範囲内における適正位置に位置するように、前記各LED発光素子の発光出力を変更調整するよう構成されている請求項1記載の不良物検出装置。
  3. 前記発光出力調整手段が、
    前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲における中央位置に対応する光量と同じか又はほぼ同じになるように変更調整するように構成されている請求項2記載の不良物検出装置。
  4. 前記受光手段からの受光量を増減させる補正係数を変更設定して、前記適正光量範囲に対する受光量の感度を補正する感度補正手段が設けられ、
    前記発光出力調整手段が、
    前記感度補正手段による感度補正に対応させて、前記受光量が減少するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも小側の光量になるように変更調整し、
    前記受光量が増加するように感度補正されると、前記適正光量範囲内における適正位置として、前記投射部材から前記受光手段に向けて投射する光の光量が前記適正光量範囲の中央値よりも大側の光量になるように変更調整するよう構成されている請求項2又は3に記載の不良物検出装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の不良物検出装置を備えた分離装置であって、
    検査対象物としての粒状体群を、予定移送経路に沿って一層状態で且つ横方向に広幅の状態で通過するように前記存在予定箇所とその存在予定箇所の位置よりも経路下手側の分離箇所とに移送する移送手段と、
    前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段とを備えて構成されている分離装置。
JP2002273304A 2002-09-19 2002-09-19 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置 Expired - Lifetime JP4052911B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002273304A JP4052911B2 (ja) 2002-09-19 2002-09-19 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002273304A JP4052911B2 (ja) 2002-09-19 2002-09-19 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004105877A JP2004105877A (ja) 2004-04-08
JP4052911B2 true JP4052911B2 (ja) 2008-02-27

Family

ID=32270091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002273304A Expired - Lifetime JP4052911B2 (ja) 2002-09-19 2002-09-19 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4052911B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101683065B1 (ko) * 2011-11-09 2016-12-07 가부시끼 가이샤 구보다 입상체 검사 장치
JP6128730B2 (ja) * 2011-11-09 2017-05-17 株式会社クボタ 粒状体検査装置
JP6153311B2 (ja) * 2012-10-30 2017-06-28 株式会社クボタ 粒状体検査装置
JP6157086B2 (ja) * 2012-10-30 2017-07-05 株式会社クボタ 粒状体検査装置
JP6950798B1 (ja) * 2020-08-26 2021-10-13 株式会社サタケ 光学式選別機
KR102413403B1 (ko) * 2020-10-27 2022-06-27 주식회사 대원지에스아이 껍질 내부 이미지 정보를 활용한 곡물 씨앗의 고효율 선별장치
CN115780272A (zh) * 2022-12-13 2023-03-14 安徽捷迅光电技术有限公司 一种水稻种子色选机

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004105877A (ja) 2004-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5795498B2 (ja) 粒状体選別装置
JP5676369B2 (ja) 粒状体選別装置
JP4076414B2 (ja) 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置
JPH07155702A (ja) 穀粒色彩選別装置
JP4052911B2 (ja) 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置
JP5568770B2 (ja) プラスチックペレット選別機
JP2000097866A (ja) 不良物検出装置及びそれを用いた分離装置
JP5792519B2 (ja) 粒状体選別装置
CN103907013B (zh) 粒状体检查装置
JP3288613B2 (ja) 不良検出装置及び不良物除去装置
JP4338284B2 (ja) 粉粒体検査装置
JP4675120B2 (ja) 粒状体選別装置
JP3318223B2 (ja) 不良検出装置及び不良物除去装置
JP2001264256A (ja) 粉粒体検査装置
JPH1190345A (ja) 粒状体の検査装置
JP4851856B2 (ja) 粒状体選別装置
JP4454086B2 (ja) 粉粒体検査装置
KR101173206B1 (ko) 근적외선을 이용한 곡물 색채선별장치
JP2006231233A (ja) 粒状体選別装置
JP2000210626A (ja) 不良物検出装置、並びにその調整治具及び調整方法
JPH1157628A (ja) 粒状体の検査装置及び検査システム
JPH1190346A (ja) 不良検出装置及び不良物除去装置
JPH10109071A (ja) 不良検出装置及び不良物除去装置
JPH1190344A (ja) 不良検出装置及び不良物除去装置
JP4342332B2 (ja) 対象物評価装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070510

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070704

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071122

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071204

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101214

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4052911

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101214

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111214

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111214

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121214

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131214

Year of fee payment: 6

EXPY Cancellation because of completion of term