JP4050921B2 - Patent analysis system and patent analysis graph manufacturing method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、企業が保有している特許の価値を分析する特許分析システム及びこの特許分析システムによる分析結果を示す特許分析グラフを製造する特許分析グラフ製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、特許の数は技術力の指標とされることが多く、技術力の増強、即ち、特許数の増加という定式化が行われていた。そのため、企業の保有特許数は増加の一途を辿り、併せて特許関連予算は肥大化していた。即ち、保有特許数の増加に伴い、特許を維持するために支払う維持年金やその管理費等が増加し、特許関連予算が肥大化していた。
【0003】
そこで、主に研究開発部門等において、個々の特許について維持する必要があるか否か等の検討が行われている。そして、不要な特許であると判断された場合には、維持年金の支払いを停止したり、権利放棄をしたりすることによって特許の整理を行い特許関連費用の圧縮が試みられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、研究開発部門等が不要な特許であるか否かを判断する場合、現実に不要な特許であると判断することは困難である。即ち、現在使用していない場合であっても、将来の使用可能性を考慮し、結果として不要な特許であると判断されない場合が多い。そのため、結果として維持年金や管理費等の費用の圧縮が実現されていないのが実情である。
【0005】
このような場合に、保有している特許の価値を分析し、個々の特許をその価値に基づいて所定の区分に分類すれば、個々の特許についての判断を行う際に参考とすることによって不要な特許であるか否かの判断が行い易い。
【0006】
この発明の課題は、特許の価値に基づいて企業が保有している特許を所定の区分に分類する特許分析システム及びこの特許分析システムによる分析結果を示す特許分析グラフを製造する特許分析グラフ製造方法を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の特許分析システムは、分析対象特許を指定するデータを入力する入力部と、公開されている特許に関する特許データが記憶されている特許データベースと、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から、前記入力部により入力された前記分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索手段、前記類似特許検索手段により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似性が高い順に所定数の前記類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択手段、及び、前記参照特許選択手段により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類手段として機能するデータ処理部と、前記分類手段により前記所定の区分に分類された前記分析対象特許の区分を記憶するデータ記憶部と、前記分類手段により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力する出力部とを備えることを特徴とする。
【0008】
この請求項1記載の特許分析システムによれば、分析対象特許、即ち、維持年金の支払いを継続するか否か等の検討対象となっている特許を、この特許との類似性が高い順に類似特許の中から選択した所定数の参照特許を参照して、出願日又は優先日に応じて決定される先願性及び同一出願人の参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて所定の区分に分類し、分類された区分を記憶すると共に分類結果を出力している。そのため、維持年金の支払いを継続するか否かを検討等する際に、分析対象特許がどの区分に分類されているかに基づいて検討を行う優先順位を決定することができる。また、維持年金の支払いを継続するか否かの判断等を行う際に、分析対象特許がどの区分に分類されているかを参考にして、維持年金の支払いを継続するか否かの判断を行うことができる。なお、分析対象特許、参照特許には、特許前の出願も含まれるものとする。従って、この特許分析システムを、出願審査請求の要否の判断等に用いることも可能である。
【0009】
また、請求項2記載の特許分析システムは、分析対象特許を指定するデータを入力する入力部と、公開されている特許に関する特許データが記憶されている特許データベースと、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から、前記入力部により入力された前記分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索手段、前記類似特許検索手段により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似度合いを表した数値が所定の値以上の類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択手段、及び、前記参照特許選択手段により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類手段として機能するデータ処理部と、前記分類手段により前記所定の区分に分類された前記分析対象特許の区分を記憶するデータ記憶部と、前記分類手段により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力する出力部とを備えることを特徴とする。
この請求項2記載の特許分析システムによれば、分析対象特許、即ち、維持年金の支払いを継続するか否か等の検討対象となっている特許を、この特許との類似度合いを表した数値が所定の値以上のものを類似特許の中から選択した所定数の参照特許を参照して、出願日又は優先日に応じて決定される先願性及び同一出願人の参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて所定の区分に分類し、分類された区分を記憶すると共に分類結果を出力している。そのため、維持年金の支払いを継続するか否かを検討等する際に、分析対象特許がどの区分に分類されているかに基づいて検討を行う優先順位を決定することができる。また、維持年金の支払いを継続するか否かの判断等を行う際に、分析対象特許がどの区分に分類されているかを参考にして、維持年金の支払いを継続するか否かの判断を行うことができる。なお、分析対象特許、参照特許には、特許前の出願も含まれるものとする。従って、この特許分析システムを、出願審査請求の要否の判断等に用いることも可能である。
【0010】
また、請求項3記載の特許分析システムは、前記分析対象特許が、2以上であり、前記分類手段は、前記先願性と前記占有率とを2以上の前記分析対象特許についてそれぞれ求め、2以上の前記分析対象特許についてそれぞれ求めた前記先願性と前記占有率とから、前記先願性の所定の中間点と前記占有率の所定の中間点とを求め、前記先願性の所定の中間点より低い領域と高い領域と、前記占有率の所定の中間点より低い領域と高い領域と、の4つの区分に分類することを特徴とする。
また、請求項4記載の特許分析システムは、前記分類手段が、複数の前記分析対象特許の各々を所定の区分に分類し、前記データ記憶部は、前記所定の区分に分類された前記複数の分析対象特許の区分を、前記分析対象特許毎に記憶することを特徴とする。
この請求項4記載の特許分析システムによれば、複数の分析対象特許を所定の区分に分類すると共に、分析対象特許毎に分類された区分を記憶しているため、大量の特許が存在する場合であっても分析対象特許の分類を行うことにより、特許の整理を行うために必要な労力を軽減して効率的に特許の整理を行うことができる。
【0011】
また、請求項5記載の特許分析システムは、前記分類手段が、前記所定の区分の数を任意に変更することを特徴とする。また、請求項6記載の特許分析システムは、前記分類手段が、前記所定の区分の範囲を任意に変更することを特徴とする。
【0012】
この請求項5及び請求項6に記載の特許分析システムによれば、分析対象特許を分類する所定の区分の数、範囲は任意に変更することができる。そのため、企業の事業展開や知的財産戦略等に基づいて適切な区分を設定して分析対象特許を分類し、企業毎の事情に合致した分類を行うことによって、特許の整理を行う際の的確な参考資料として用いることができる。
【0017】
また、請求項7記載の特許分析システムは、前記データ処理部が発明者、国際特許分類又は出願人の何れか一つ以上に基づいて前記分析対象特許を指定することができる分析対象特許指定手段として更に機能することを特徴とする。
【0018】
この請求項7記載の特許分析システムによれば、発明者、国際特許分類又は出願人の何れか一つ以上に基づいて分析対象特許を指定し、指定された分析対象特許の分析対象特許データを抽出している。従って、多数の特許を保有している企業であっても、多数の分析対象特許データを容易に抽出することができる。
【0019】
また、請求項8記載の特許分析システムは、前記類似特許検索手段が、要約書、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の何れか一つ以上に基づく概念検索により前記類似特許を検索することを特徴とする。
【0020】
この請求項8記載の特許分析システムによれば、概念検索により分析対象特許に類似している類似特許を検索しているため、複雑な検索式等を作成することなく的確に類似特許を検索することができる。
【0021】
また、請求項9記載の特許分析システムは、前記出力部が、前記先願性及び占有率の観点に基づく所定の区分毎に分類された前記分析対象特許の数を集計し、該所定の区分の各々における前記分析対象特許の件数を示したグラフを出力することを特徴とする。
この請求項9記載の特許分析システムによれば、各区分における分析対象特許の数をグラフ化して示すことができるため、分析結果を視覚的に把握することができ特許の整理等の判断を的確に行うことができる。
【0022】
また、請求項10記載の特許分析グラフ製造方法は、入力部より分析対象特許を指定するデータを入力する入力工程と、データ処理部において、特許データベースに記憶されている公開されている特許に関する特許データの中から、前記入力工程により入力された分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索工程と、前記データ処理部において、前記類似特許検索工程により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似性が高い順に所定数の前記類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択工程と、前記データ処理部において、前記参照特許選択工程により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類工程と、前記分類工程により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力部より出力する出力工程とを含むことを特徴とする。
【0023】
この請求項10記載の特許分析グラフ製造方法によれば、特許の整理等の判断を的確に行うための参考とすることができるグラフを製造することができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態に係る特許分析システムについて説明する。なお、以下においては、保有特許(分析対象特許)を先願性及び占有率が高い区分、先願性は高いが占有率が低い区分、先願性は低いが占有率が高い区分及び先願性及び占有率が低い区分の4つの区分に分類する場合について説明する。
【0025】
この実施の形態に係る特許分析システムは、分析対象特許を参照特許に基づいて分類する処理等を行うデータ処理部2を備え、このデータ処理部2には、分析対象特許の特許番号等の入力を行う入力部4及び分析対象特許の分類結果等を出力する出力部6が接続されている。
【0026】
ここで、分析対象特許とは、維持年金の支払いを継続するか否か等を判断すべき対象となっている特許であって、その価値を分析する対象となっている特許である。この分析対象特許は、企業が保有している特許の中からその企業自身で任意に指定することができる。また、類似特許とは、分析対象特許と技術的に類似している発明に関する特許である。なお、この実施の形態で用いられている「分析対象特許」及び「類似特許」には、特許後のもののみならず出願中のものも含まれている。
【0027】
また、データ処理部2には、公開公報、特許掲載公報及び実用新案公報等を含む特許データを記憶している特許データベース8、類似特許を検索する際に用いる辞書ベクトルを記憶している辞書ベクトルデータベース10及び分析対象特許に付与された区分等を記憶するデータ記憶部12が接続されている。
【0028】
特許データベース8には、日本国特許庁により公開されている特許に関するデータ及びその他の国における特許庁に該当する機関等によって公開されている特許に関するデータが記憶されている。なお、この特許データベース8には分析対象特許の特許番号、出願日、出願人、発明者、明細書及び要約書等のデータ、即ち、分析対象特許データも記憶されている。
【0029】
また、辞書ベクトルデータベース10に記憶されている辞書ベクトルとは、数100次元の特許専用辞書空間内で定義されるベクトルであり、例えば過去1年分の公報を基に、似ている言葉(同一公報に多数出現している言葉)に似た方向のベクトルを与えることによって作成されているベクトルである。即ち、辞書ベクトルの向きが公報の内容を表すベクトルとなる。
【0030】
次に、図2のフローチャートを参照して、分析対象特許の分類処理について説明する。なお、以下においては、A社が自社の保有特許の整理を行うために特許の分析を行う場合を例として説明する。
【0031】
まず、分析対象特許の特許番号をキーボード等により構成されている入力部4を介して入力することにより、分析対象特許データを取得する(ステップS10)。即ち、入力された特許番号に該当する特許のデータ、例えば、出願日、出願人及び特許請求の範囲等が分析対象特許データとして特許データベース8から抽出される。そして、抽出された分析対象特許データは、特許番号と対応させてデータ記憶部12に記憶される。なお、複数の分析対象特許が存在する場合には、それぞれの分析対象特許の特許番号を入力部4を介して入力することによって、該当する特許番号の特許データが特許データベース8から抽出され、特許番号と対応させてデータ記憶部12に記憶される。なお、出願番号、又は公開番号を入力することにより、分析対象特許を特定し分析特許データを取得するようにしてもよい。更に、出願番号又は公開番号のリストを表示し、この出願番号又は公開番号の中から分析対象特許を特定し分析特許データを取得するようにしてもよい。
【0032】
また、入力部4を介して発明者、国際特許分類(IPC)又は出願人を入力して分析対象特許データを取得するようにしてもよい。例えば、特定のIPC及び出願人としてA社を入力することによって、A社の特定技術分野における特許を分析対象特許とし、分析対象特許データを特許データベース8から取得するようにしてもよい。なお、分析対象特許データとして抽出する特許データは、出願日、出願人、特許請求の範囲及び要約としたり、分析対象特許に関する全てのデータとする等、任意に指定することができる。ここで特許請求の範囲は、請求項1のみとしてもよい。
【0033】
次に、分析対象特許と類似する類似特許を概念検索により検索するための項目、即ち、概念検索の対象となる項目を指定する(ステップS11)。例えば、分析対象特許の特許請求の範囲の全てを対象として概念検索を行うのか、特許請求の範囲の一部(例えば請求項1のみ)を対象として概念検索を行うのか、又は、明細書全文を対象として概念検索を行うのか等を指定する。
【0034】
次に、ステップS11において指定された検索項目に基づいて、特許データベース8に記憶されている特許データの中から分析対象特許に類似する類似特許を概念検索により検索する(ステップS12)。なお、分析対象特許データが複数存在する場合には、個々の分析対象特許についての類似特許が概念検索により検索される。
【0035】
ここで、検索項目として特許請求の範囲を指定した場合を例として概念検索について説明する。まず、辞書ベクトルデータベース10に記憶されている辞書ベクトルに基づいて、特許データベース8に記憶されている各特許毎に各特許の特許請求の範囲に記載されている内容を表す文書ベクトルを作成する。即ち、特許データベース8に1万件の特許の特許データが記憶されている場合には、1万件の特許のそれぞれについて文書ベクトルを作成する。次に、辞書ベクトルデータベース10に記憶されている辞書ベクトルに基づいて分析対象特許の特許請求の範囲に記載されている内容を表す検索用ベクトルを決定する。
【0036】
そして、検索用ベクトルと各特許毎に作成されている文書ベクトルとの内積値をそれぞれ算出し、内積値の高い順に類似特許として抽出する。例えば、1万件の特許の文書ベクトルが作成されている場合には、検索用ベクトルと1万件の文書ベクトルの各々との内積値を算出し、内積値の高い順に抽出する。
【0037】
次に、この抽出された類似特許の中で類似性が高い順に所定数の参照特許を選択する(ステップS13)。図3は、内積値が高い順に15件を抽出した参照特許のリストの一例である。この図3に示すように、参照特許は、文書ベクトルと検索用ベクトルの内積値、特許番号、出願日、筆頭IPC、発明の名称及び出願人の項目を記載したリスト形式で示される。また、内積値が100となっている特許(特許番号2811222)は、類似特許ではなく分析対象特許である。即ち、特許2811222号の特許データも特許データベース8に記憶されているため、特許2811222号についても文書ベクトルが作成され、作成された文書ベクトルと検索用ベクトルの内積値が算出される。この場合、文書ベクトルと検索用ベクトルは同一のベクトルであるため、内積値は100となり最も類似性が高い類似特許として検索される。
【0038】
また、複数の分析対象特許が存在する場合には、個々の分析対象特許について概念検索により類似特許が検索され、個々の分析対象特許について図3に示すような参照特許を示すリストが複数作成される。
【0039】
次に、ステップS13において検索された参照特許の中で、分析対象特許に対して先願となっている参照特許を抽出する(ステップS14)。例えば、図3に示す15件の参照特許の中で分析対象特許2811222号よりも先願の参照特許を抽出し、その数を集計する。ここで、分析対象特許の先願性は、分析対象特許よりも先願の参照特許が少ない場合には高くなり、分析対象特許よりも先願の参照特許が多い場合には低くなる。なお、分析対象特許と出願日が同一である参照特許が存在する場合には、その参照特許は集計の際に除外するようにしてもよい。また、出願日が同一である参照特許数を、他の参照特許の先願の数と後願の数との比率に按分配布するようにしてもよい。
【0040】
次に、参照特許の中から分析対象特許と同一出願人の参照特許を抽出する(ステップS15)。例えば、図3に示す15件の参照特許の中で、分析対象特許2811222号と出願人が同一の参照特許を抽出し、その数を集計する。ここで、分析対象特許の占有率は、出願人が同一の参照特許が多い場合には占有率が高く、出願人が同一の参照特許が少ない場合には占有率が低くなる。
【0041】
次に、先願の参照特許の数及び同一出願人の参照特許の数に基づいて分析対象特許の位置、即ち図4に示す表上の分析対象特許の位置を決定する(ステップS16)。なお、図4は、先願の参照特許の数に基づく先願性を縦軸、同一出願人により参照特許の数に基づく占有率を横軸とした表であり、複数の分析対象特許が存在する場合に、すべての分析対象特許の表上の位置が決定された状態を示すものである。
【0042】
次に、全ての分析対象特許について図4に示す表上の位置を決定した場合には(ステップS17)、先願性について所定の位置で2つに分割すると共に占有率について所定の位置で2つに分割することによって4つの区分を決定する(ステップS18)。
【0043】
この時、分析対象特許がこの4つの区分の中のどこに属しているかによって、分析対象特許の区分が決定される。決定された分析対象特許の区分は、分析対象特許毎に特許番号と対応させてデータ記憶部12に記憶される。なお、この実施の形態においては、縦軸及び横軸それぞれの中間点を区分の境界ラインとすることによって4つの区分の範囲を決定している。
【0044】
ここで、分析対象特許が分類される区分は、図5に示すような先行独占、先行ライフル、後発ピンポイント及び後発周辺の4つの区分となる。先行独占の区分に分類される分析対象特許は、先願性及び占有率が高い特許であり、先行ライフルの区分に分類される分析対象特許は、先願性は高いが占有率が低い特許である。また、後発ピンポイントの区分に分類される分析対象特許は、先願性及び占有率が低い特許であり、後発周辺の区分に分類される分析対象特許は、先願性は低いが占有率が高い特許である。
【0045】
先行独占の区分に分類された分析対象特許は、他社よりも先行して出願されている上、周辺特許も固めており保有すべき特許である。先行ライフルの区分に分類される分析対象特許は、他社より先願となっているが、周囲にライバルの特許が多くなっている特許である。また、後発ピンポイントの区分に分類される分析対象特許は、後発出願の上、先行する他社の特許が多く、積極的に整理すべき特許である。更に、後発周辺の区分に分類される分析対象特許は、後発出願ではあるが、多数の自社特許で周辺を固めており、有効性を確認する必要がある特許である。
【0046】
次に、分析対象特許が分類された区分毎に分析対象特許の数を集計する(ステップS19)。即ち、全ての分析対象特許が所定の区分に分類された場合には、図6に示すように分析対象特許の特許番号に対応させて各々の分析対象特許の区分がデータ記憶部12に記憶される。そして、このデータ記憶部12に記憶されている各々の分析対象特許の区分に基づいて、区分毎に分析対象特許の数を集計する。即ち、先行独占の区分、先行ライフルの区分、後発ピンポイントの区分及び後発周辺の区分に分類されている分析対象特許の数を区分毎に集計する。
【0047】
次に、集計した結果を出力部6を介して出力する(ステップS20)。即ち、ステップS19において集計された結果をグラフ化し、プリンタ又はCRT等で構成されている出力部6を介して出力する。従って、特許整理等の判断を明確に行うための参考とすることができるグラフを製造することができる。
【0048】
図7に、集計結果をグラフ化した一例を示す。この図7に示すように、先行独占の区分、先行ライフルの区分、後発ピンポイントの区分及び後発周辺の区分それぞれに分類されている分析対象特許をグラフ化して表す。その結果、企業が保有している特許の状況を視覚的に解り易く認識し、特許の整理状況を容易に把握することができる。
【0049】
また、特許の維持年金の支払い期限等の所定期間前に分析対象特許を所定の区分に分類することによって、その分析対象特許を保有すべきか否かを判断する際の的確な参考資料とすることができる。即ち、先行独占の区分に分類されている分析対象特許は、利用価値の大きな重要特許であるため、この区分に分類されている特許を整理対象から除外することができる。また、先行ライフルの区分に分類されている分析対象特許は、他社が欲している特許であるか否かを検討することにより整理すべき特許であるか否かを判断することができる。また、後発ピンポイントの区分に分類されている分析対象特許については、価値が低い特許であるため、積極的に整理すべき特許であると判断することができる。そして、後発周辺の区分に分類されている特許については、自社製品における重要性を考慮することにより整理すべき特許であるか否かを判断することができる。なお、それぞれの区分に分類されている特許をどのように判断するかは、企業毎の事業展開や知的財産戦略等に基づいて適宜決定することができる。
【0050】
また、特許以外にも、特許出願について出願審査請求期限の前に所定の区分に分類することによって、その特許出願について出願審査の請求を行うべきか否かを判断する際の参考にすることができる。その結果、権利化できる見込みの少ない特許出願についての出願審査請求を行わないようにすることによって、不要な出願審査請求料を削減して特許関連費用を効率的に圧縮することができる。
【0051】
この実施の形態の特許分析システムによれば、保有している特許を先願性及び占有率の観点に基づいて所定の区分に分類している。従って、保有している特許の整理を行う場合に、その特許がどの区分に分類されているかにより優先的に整理すべき特許を明確にし、特許の整理を迅速に行うことができる。同時に、整理対象から除外することができる特許を明確にして保有特許の整理を適切に行うことができる。
【0052】
また、全ての保有特許の中からいくつかの重要な特許を絞り込むのとは異なり、予め重要な特許である可能性が高い特許又は重要な特許である可能性が低い特許として分類されている範囲で必要な特許か否かを判断することができるため、保有特許が必要か否かの判断がし易く、不要な特許を効率的に整理することができる。そして、例えば、維持年金支払期限(次回特許料納付期限)が近づいている不要な特許の整理を促進することにより、不要な維持年金の支払いを回避して保有特許を維持するために必要な費用を効率的に圧縮することができる。
【0053】
また、出願審査請求期限が近づいた時点で特許出願を所定の区分に分類することにより、その特許出願を評価し、出願審査請求が必要か否かの判断の際の参考とし、出願審査請求が不要な特許出願については出願審査請求を行わないことによって、不要な特許関係費用を効率的に圧縮することができる。
【0054】
また、所定の区分に分析対象特許を分類した結果をグラフ化して出力することにより、自社の保有している特許がどのような特許であるかを視覚的に解り易く認識することができる。また、自社が保有している特許を視覚的に解り易く認識することにより、保有特許の整理が適切に行われているか、保有特許の整理が不十分であるか等についても容易に把握することができる。
【0055】
なお、上述の実施の形態においては、分析対象特許と同一出願人による類似特許を抽出しているが、子会社が出願人の場合には、同一出願人とみなして分析対象特許の占有率を決定するようにしてもよい。
【0056】
また、上述の実施の形態においては、分析対象特許の位置が示されている表をほぼ均等に4つに分割することにより分析対象特許が分類される所定の区分を定めているが、企業毎の事業展開や知的財産戦略等に基づいて区分の範囲を変更してもよい。即ち、先願性に基づく区分の境界ラインを変更する、又は、占有率に基づく区分の境界ラインを変更するようにしてもよい。
【0057】
また、上述の実施の形態においては、先願性と占有率に基づいて4つの区分に分析対象特許を分類しているが、企業毎の事業展開や知的財産戦略等に基づいて、6分割、9分割等にしてもよい。即ち、先願性に基づく区分の境界となっている軸の数又は、占有率に基づく区分の境界となっている軸の数を増やすことによって区分の数を任意に変更するようにしてもよい。
【0058】
また、上述の実施の形態においては、類似特許の中から類似性が高い順に選択された所定数の参照特許に基づいて分析対象特許の先願性を縦軸、占有率を横軸とする表上における位置を決定しているが、類似特許の中から所定の値以上の内積値を有する参照特許に基づいて分析対象特許の位置を決定するようにしてもよい。
【0059】
また、上述の実施の形態においては、出願日を基準として先願となっている参照特許を抽出しているが、出願日の代わりに優先日を用いて先願となっている参照特許を抽出し、その数を集計することによって分析対象特許の先願性を決定するようにしてもよい。
【0060】
また、特許データベースに記憶されている特許データは、所定期間毎、例えば、毎日夜間あるいは公報発行の都度、夜間に更新が行われているが、例えば毎年年金支払期限の直前に更新された特許データに基づいて分析対象特許を所定の区分に分類するようにしてもよい。即ち、分析対象特許を分類する処理は、その時点において公開されている最新の特許データに基づいて行われるようにしてもよい。
【0061】
また、この特許分析システムによる特許分析結果を他社の特許分析結果と比較することにより、自社と他社の知的財産戦略の差異を明らかにすることが可能である。また、同一技術分野における自社と他社の分析結果を比較することにより、その技術分野における両者の何れが優位に立っているか等を明確に知ることができる。
【0062】
【発明の効果】
この発明の特許分析システムによれば、維持年金の支払いを継続するか否か等の検討を行う際に、分析対象特許がどの区分に分類されているかを参考にして、検討を行う優先順位を決定することができる。また、どの区分に分類されているかによって維持年金の支払いを継続するか否か等の判断を行う際の的確な参考資料とすることができる。従って、維持年金を支払う必要性が低いことを示す区分に分類されている分析対象特許について優先的に検討を行うと共に、そのような区分に分類されていることを参考にすることによって判断が行い易くなる。その結果、適切に特許の整理を行い、効率的に特許関連費用を圧縮することができる。
【0063】
また、大量に特許を保有している企業においては、分析対象特許が所定の区分に分類されていることにより、優先的に整理を行うべき特許又は整理を行う必要がない特許を容易に判断することができる。そのため、特許の整理に必要となる労力を軽減すると共に、効率的に特許関連費用を圧縮することができる。
【0064】
この発明の特許分析グラフ製造方法によれば、特許の整理等の判断を的確に行うための参考とすることができるグラフを製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態に係る特許分析システムのブロック構成図である。
【図2】この発明の実施の形態に係る分析対象特許を分類する処理を説明するためのフローチャートである。
【図3】この発明の実施の形態に係る類似特許の検索結果の一例を示す図である。
【図4】この発明の実施の形態に係る先願性を縦軸、占有率を横軸とする表上における分析対象特許の位置を示す図である。
【図5】この発明の実施の形態に係る区分を説明するための図である。
【図6】この発明の実施の形態に係る分析対象特許毎に記憶されている区分を示す図である。
【図7】この発明の実施の形態に係る分析対象特許を区分毎に集計した結果をグラフ化した一例を示す図である。
【符号の説明】
2…データ処理部、4…入力部、6…出力部、8…特許データベース、10…辞書ベクトルデータベース、12…データ記憶部。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a patent analysis system for analyzing the value of a patent held by a company and a patent analysis graph manufacturing method for manufacturing a patent analysis graph showing an analysis result by the patent analysis system.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, the number of patents is often used as an index of technical capability, and the formulation of increasing technical capability, that is, increasing the number of patents, has been performed. As a result, the number of patents held by companies has been increasing steadily, and the patent-related budget has increased. In other words, with the increase in the number of patents held, the maintenance pension paid to maintain the patent and its management costs increased, and the patent-related budget was enlarged.
[0003]
In view of this, mainly in the research and development department, etc., examinations are made as to whether or not individual patents need to be maintained. If it is determined that the patent is unnecessary, it is attempted to reduce patent-related costs by organizing patents by stopping payment of maintenance pensions or waiving rights.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, when the research and development department or the like determines whether or not the patent is unnecessary, it is difficult to determine that the patent is actually unnecessary. That is, even if it is not currently used, it is often not determined that it is an unnecessary patent as a result in consideration of possible future use. Therefore, as a result, the actual situation is that the maintenance pension and administrative expenses are not reduced.
[0005]
In such a case, if you analyze the value of the patents you have and classify each patent into a predetermined category based on its value, you do not need to refer to it when making a judgment on each patent. It is easy to determine whether the patent is a valid patent.
[0006]
An object of the present invention is to provide a patent analysis system for classifying a patent held by a company into a predetermined category based on the value of the patent, and a patent analysis graph manufacturing method for manufacturing a patent analysis graph indicating an analysis result by the patent analysis system Is to provide.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The patent analysis system according to
[0008]
According to the patent analysis system described in
[0009]
The patent analysis system according to
According to the patent analysis system of
[0010]
Further, in the patent analysis system according to
Further, in the patent analysis system according to
This claim4According to the described patent analysis system, since a plurality of analysis target patents are classified into predetermined categories and the categories classified for each analysis target patent are stored, even when a large number of patents exist By classifying patents to be analyzed, it is possible to reduce the labor required for organizing patents and efficiently organize patents.
[0011]
Claims5The described patent analysis system is characterized in that the classification means arbitrarily changes the number of the predetermined sections. Claims6The described patent analysis system is characterized in that the classification means arbitrarily changes the range of the predetermined category.
[0012]
thisClaims 5 and 6According to the patent analysis system described inThe number of predetermined categories to classify,The range can be changed arbitrarily. Therefore, by setting appropriate categories based on the company's business development and intellectual property strategy, etc., the patents to be analyzed are classified and classified according to the circumstances of each company. It can be used as a useful reference material.
[0017]
Claims7The patent analysis system described isThe data processing unitAnalytical patent designation means capable of designating said analytical patent based on any one or more of inventor, international patent classification or applicantFurther function asIt is characterized by that.
[0018]
This claim7According to the described patent analysis system, the analysis target patent is specified based on one or more of the inventor, the international patent classification or the applicant, and the analysis target patent data of the specified analysis target patent is extracted. . Therefore, even a company having a large number of patents can easily extract a large number of patent data to be analyzed.
[0019]
Claims8The described patent analysis system is characterized in that the similar patent search means searches for the similar patent by a concept search based on any one or more of an abstract, claims, and detailed description of the invention.
[0020]
This claim8According to the described patent analysis system, similar patents that are similar to the analysis target patent are searched by concept search, and therefore similar patents can be searched accurately without creating a complicated search formula or the like.
[0021]
Claims9The patent analysis system described isThe output unit totals the number of the analysis target patents classified for each predetermined category based on the viewpoint of the prior application and the occupation ratio, and indicates the number of the analysis target patents in each of the predetermined categories A graph is output.
According to the patent analysis system described in
[0022]
Claims10The patent analysis graph manufacturing method described isFrom the input sectionPatents to be analyzedData specifyingAn input process for inputtingIn the data processing unit, from the patent data related to the published patent stored in the patent database, the analysis target patent data corresponding to the data specifying the analysis target patent input in the input step is extracted and extracted. WasSimilar patents similar to the subject patentThe aboveA similar patent search process for searching from patent data stored in the patent database;In the data processing unit,Among similar patents searched by the similar patent search process, A predetermined number of similar patents in descending order of similarity to the analysis target patent,Reference patent to be referred to when evaluating the patent subject to analysisAsA reference patent selection process to select;In the data processing unit,With reference to the reference patent selected in the reference patent selection step, the analysis target patent is, The filing date or priority date of the analyzed patent is determined according to the number of the above-mentioned reference patentsPrior application andDetermined according to the number of the reference patents of the same applicant as the analyzed patentBased on occupancy perspectiveAt least four predeterminedA classification process for classifying into categories, and a classification result of the analysis target patent classified by the classification process.From the output sectionOutput process to outputIncludeIt is characterized by that.
[0023]
This claim10According to the described patent analysis graph manufacturing method, it is possible to manufacture a graph that can be used as a reference for accurately performing judgments such as organizing patents.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a patent analysis system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following, the patents held (analyzed patents) are classified as having a high prior application and occupancy, a classification with a high prior application but a low occupancy, a classification with a low prior application but a high occupancy and a prior application. The case of classifying into the four categories of the categories with low sex and occupation ratio will be described.
[0025]
The patent analysis system according to this embodiment includes a
[0026]
Here, the analysis target patent is a patent for which it is determined whether or not to continue paying the maintenance pension, and the value of which is to be analyzed. This analysis target patent can be arbitrarily designated by the company itself from among the patents owned by the company. The similar patent is a patent relating to an invention that is technically similar to the analysis target patent. Note that the “analytical patent” and “similar patent” used in this embodiment include not only those after patent but also those pending.
[0027]
Further, the
[0028]
The patent database 8 stores data relating to patents published by the Japan Patent Office and data relating to patents published by institutions corresponding to the patent offices in other countries. The patent database 8 also stores data such as the patent number, filing date, applicant, inventor, specification and abstract of the analysis target patent, that is, analysis target patent data.
[0029]
The dictionary vector stored in the
[0030]
Next, the analysis target patent classification process will be described with reference to the flowchart of FIG. In the following, a case will be described as an example in which company A analyzes patents in order to organize its own patents.
[0031]
First, the analysis target patent data is acquired by inputting the patent number of the analysis target patent through the
[0032]
Alternatively, the inventor, the international patent classification (IPC) or the applicant may be input via the
[0033]
Next, an item for searching for a similar patent similar to the analysis target patent by concept search, that is, an item to be a concept search target is designated (step S11). For example, whether the concept search is performed for all the claims of the patent to be analyzed, the concept search is performed for a part of the claims (for example, only claim 1), or the entire specification is Specify whether to perform concept search as a target.
[0034]
Next, based on the search item specified in step S11, a similar patent similar to the analysis target patent is searched from the patent data stored in the patent database 8 by a concept search (step S12). When there are a plurality of analysis target patent data, similar patents for each analysis target patent are searched by concept search.
[0035]
Here, the concept search will be described by taking as an example a case where a claim is designated as a search item. First, based on the dictionary vector stored in the
[0036]
Then, inner product values of the search vector and the document vector created for each patent are calculated, and extracted as similar patents in descending order of inner product values. For example, if 10,000 patent document vectors have been created, inner product values of the search vector and each of the 10,000 document vectors are calculated and extracted in descending order of inner product values.
[0037]
Next, a predetermined number of reference patents are selected in descending order of similarity among the extracted similar patents (step S13). FIG. 3 is an example of a list of reference patents in which 15 cases are extracted in descending order of the inner product value. As shown in FIG. 3, the reference patent is shown in a list format in which the inner product value of the document vector and the search vector, the patent number, the filing date, the first IPC, the title of the invention, and the applicant's items are described. Further, the patent (patent number 2811222) having an inner product value of 100 is not a similar patent but an analysis target patent. That is, since the patent data of the patent 2811222 is also stored in the patent database 8, a document vector is created for the patent 2811222, and the inner product value of the created document vector and the search vector is calculated. In this case, since the document vector and the search vector are the same vector, the inner product value is 100, and the similar patent having the highest similarity is searched.
[0038]
Further, when there are a plurality of analysis target patents, similar patents are searched by concept search for each analysis target patent, and a plurality of lists indicating reference patents as shown in FIG. 3 are created for each analysis target patent. The
[0039]
Next, among the reference patents searched in step S13, a reference patent that is a prior application to the analysis target patent is extracted (step S14). For example, among the 15 reference patents shown in FIG. 3, the reference patents of the prior application are extracted from the analysis target patent 2811222, and the number is counted. Here, the prior-application property of the analysis target patent is high when there are fewer reference patents of the prior application than the analysis target patent, and is low when there are more reference patents of the prior application than the analysis target patent. When there is a reference patent having the same filing date as the analysis target patent, the reference patent may be excluded at the time of aggregation. In addition, the number of reference patents with the same filing date is equal to the number of prior applications of other reference patents.Later applicationYou may make it distribute proportionally to the ratio with the number of.
[0040]
Next, a reference patent of the same applicant as the analysis target patent is extracted from the reference patent (step S15). For example, among the 15 reference patents shown in FIG. 3, the same reference patent as that of the analysis subject patent 2811222 is extracted, and the number is counted. Here, the occupation ratio of the patents to be analyzed is high when the applicant has many reference patents with the same applicant, and is low when the applicant has few reference patents with the same applicant.
[0041]
Next, the position of the analysis target patent, that is, the position of the analysis target patent on the table shown in FIG. 4 is determined based on the number of reference patents of the prior application and the number of reference patents of the same applicant (step S16). FIG. 4 is a table in which the prior application based on the number of reference patents of the prior application is plotted on the vertical axis, and the occupancy ratio based on the number of reference patents by the same applicant is plotted on the horizontal axis. In this case, the positions of all the patents to be analyzed on the table are determined.
[0042]
Next, when the positions on the table shown in FIG. 4 are determined for all the patents to be analyzed (step S17), the prior application is divided into two at a predetermined position and the occupation ratio is 2 at a predetermined position. The four sections are determined by dividing them into two (step S18).
[0043]
At this time, the category of the patent to be analyzed is determined depending on where in the four categories the patent to be analyzed belongs. The determined classification of the analysis target patent is stored in the
[0044]
Here, the classifications of the patents to be analyzed are the four categories of the preceding monopoly, the leading rifle, the late pinpoint, and the late neighborhood as shown in FIG. Analytical patents classified in the category of prior monopoly are patents with high prior application and occupancy rates, while patents to be analyzed classified in the preceding rifle category are patents with high prior application but low occupancy rates. is there. Analytical patents classified in the later pinpoint category are patents with low prior application and low occupancy rates. Analytical patents categorized in the later peripheral category are low in prior application but have low occupancy rates. It is a high patent.
[0045]
The patents subject to analysis classified in the category of prior monopoly are patents that have been filed in advance of other companies, and that have been solidified as peripheral patents. The patents to be analyzed that are classified in the preceding rifle category are patents that have been filed earlier than other companies, but have more rival patents around them. Also, the patents to be analyzed that are classified into the category of the later pinpoints are patents that should be actively organized because there are many patents of other companies that have preceded the application. Furthermore, the analysis-targeted patent classified into the category of the peripheral area of the later generation is a patent application that is a late-generation application, but has a large number of in-house patents, and its validity needs to be confirmed.
[0046]
Next, the number of analysis target patents is tabulated for each category into which the analysis target patents are classified (step S19). That is, when all the analysis target patents are classified into the predetermined categories, the respective analysis target patent categories are stored in the
[0047]
Next, the totaled results are output via the output unit 6 (step S20). That is, the results tabulated in step S19 are graphed and output via the output unit 6 constituted by a printer or CRT. Therefore, it is possible to produce a graph that can be used as a reference for making a clear decision regarding patent arrangement or the like.
[0048]
FIG. 7 shows an example in which the tabulation results are graphed. As shown in FIG. 7, the analysis-target patents classified into the preceding monopoly section, the preceding rifle section, the subsequent pinpoint section, and the subsequent peripheral section are graphed. As a result, it is possible to visually recognize the status of patents owned by a company in an easy-to-understand manner and easily grasp the status of patent arrangements.
[0049]
In addition, by classifying the analysis target patent into a predetermined category before a predetermined period, such as the due date for payment of the maintenance pension of the patent, it should be an accurate reference material for determining whether or not to hold the analysis target patent. Can do. In other words, the analysis-target patents classified in the preceding monopoly category are important patents having a large utility value, and therefore the patents classified in this category can be excluded from the objects to be organized. Further, it is possible to determine whether or not the analysis target patent classified into the preceding rifle category is a patent to be arranged by examining whether or not the patent is desired by another company. In addition, since the analysis target patents classified in the later pinpoint category are low-value patents, it can be determined that they should be actively organized. And it is possible to determine whether or not a patent classified in the category around the latecomer is a patent to be arranged by considering the importance of the product in-house. Note that how to determine the patents classified in each category can be determined as appropriate based on business development, intellectual property strategy, and the like for each company.
[0050]
In addition to patents, by classifying a patent application into a predetermined category before the deadline for requesting examination of an application, it can be used as a reference when deciding whether to request application examination for that patent application. it can. As a result, it is possible to reduce unnecessary application examination request fees and efficiently reduce patent-related costs by not making an application examination request for a patent application that is unlikely to be entitled.
[0051]
According to the patent analysis system of this embodiment, the patents held are classified into predetermined categories based on the viewpoints of prior application and occupation ratio. Therefore, when organizing patents held, it is possible to clarify patents that should be preferentially sorted according to which category the patent is classified, and to quickly sort patents. At the same time, it is possible to clarify the patents that can be excluded from the object of organizing and organize the patents held properly.
[0052]
Also, unlike narrowing down some important patents from all owned patents, the scope is classified as a patent that is likely to be an important patent or a patent that is unlikely to be an important patent. Since it is possible to determine whether or not it is a necessary patent, it is easy to determine whether or not a possessed patent is necessary, and unnecessary patents can be efficiently organized. And, for example, by promoting the organization of unnecessary patents that are approaching the maintenance pension payment deadline (next patent payment deadline), the expenses necessary to avoid unnecessary maintenance pension payments and maintain patents held Can be efficiently compressed.
[0053]
In addition, by classifying a patent application into a predetermined category when the application examination request deadline is approaching, the patent application is evaluated and used as a reference in determining whether an application examination request is necessary. By not filing an application examination request for unnecessary patent applications, unnecessary patent-related costs can be efficiently compressed.
[0054]
In addition, by graphing and outputting the results of classifying the analysis target patents into predetermined categories, it is possible to visually recognize what kind of patent the company owns is easy to understand. In addition, by recognizing the patents owned by the company in an easy-to-understand manner, it is possible to easily grasp whether the patents held are properly organized or insufficiently organized. Can do.
[0055]
In the above-described embodiment, similar patents by the same applicant as the analysis target patent are extracted. However, when the subsidiary is the applicant, the share of the analysis target patent is determined as the same applicant. You may make it do.
[0056]
Further, in the above-described embodiment, a predetermined division into which the analysis target patent is classified is determined by dividing the table showing the position of the analysis target patent into four almost evenly. The scope of the classification may be changed based on the business development or intellectual property strategy. That is, the boundary line of the classification based on the prior application property may be changed, or the boundary line of the classification based on the occupation ratio may be changed.
[0057]
In the above-described embodiment, the analysis target patents are classified into four categories based on the prior application and the occupancy ratio, but it is divided into six based on the business development and intellectual property strategy for each company. , It may be divided into 9 parts. That is, the number of divisions may be arbitrarily changed by increasing the number of axes that are the boundary of the division based on the prior application or the number of axes that are the boundary of the division based on the occupation ratio. .
[0058]
Further, in the above-described embodiment, a table in which the prior application of the analysis target patent is based on the predetermined number of reference patents selected in descending order of similarity from the similar patents, and the occupation ratio is the horizontal axis. Although the above position is determined, the position of the analysis target patent may be determined based on a reference patent having an inner product value equal to or larger than a predetermined value from similar patents.
[0059]
Further, in the above-described embodiment, the reference patent that is the prior application is extracted based on the filing date, but the reference patent that is the prior application is extracted using the priority date instead of the filing date. Then, the prior application property of the analysis target patent may be determined by counting the number.
[0060]
In addition, the patent data stored in the patent database is updated every night for a predetermined period, for example, every night or every time a bulletin is issued.right beforeYou may make it classify | categorize an analysis object patent into a predetermined classification based on the updated patent data. That is, the process of classifying the analysis target patent may be performed based on the latest patent data published at that time.
[0061]
In addition, by comparing the patent analysis result by this patent analysis system with the patent analysis result of another company, it is possible to clarify the difference between the intellectual property strategies of the company and the other company. In addition, by comparing the analysis results of our company and other companies in the same technical field, it is possible to clearly know which of the two is dominant in the technical field.
[0062]
【The invention's effect】
According to the patent analysis system of the present invention, when examining whether or not to continue paying the maintenance pension, etc., the priority order of the examination is determined by referring to which category the patent to be analyzed is classified. Can be determined. In addition, it can be used as an accurate reference material for determining whether or not to continue to pay maintenance pension depending on which category it is classified into. Therefore, the analysis patents that are classified into categories that indicate a low need to pay maintenance pensions are preferentially examined, and judgments are made by referring to the classification as such categories. It becomes easy. As a result, it is possible to properly organize patents and efficiently reduce patent-related costs.
[0063]
In addition, companies that have a large number of patents can easily determine which patents should be preferentially sorted or patents that need not be sorted because the patents to be analyzed are categorized into predetermined categories. be able to. Therefore, it is possible to reduce the labor required for organizing patents and efficiently reduce patent-related costs.
[0064]
According to the patent analysis graph manufacturing method of the present invention, it is possible to manufacture a graph that can be used as a reference for accurately performing judgments such as organizing patents.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block configuration diagram of a patent analysis system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart for explaining processing for classifying patents to be analyzed according to the embodiment of the present invention;
FIG. 3 is a diagram showing an example of a search result of similar patents according to the embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing a position of an analysis target patent on a table in which the prior application property according to the embodiment of the present invention is a vertical axis and the occupation ratio is a horizontal axis.
FIG. 5 is a diagram for explaining divisions according to the embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing divisions stored for each analysis target patent according to the embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a diagram showing an example of a graph of the result of totaling analysis target patents according to the embodiment of the present invention for each category;
[Explanation of symbols]
2 ... data processing unit, 4 ... input unit, 6 ... output unit, 8 ... patent database, 10 ... dictionary vector database, 12 ... data storage unit.
Claims (10)
公開されている特許に関する特許データが記憶されている特許データベースと、
前記特許データベースに記憶されている特許データの中から、前記入力部により入力された前記分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索手段、前記類似特許検索手段により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似性が高い順に所定数の前記類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択手段、及び、前記参照特許選択手段により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類手段として機能するデータ処理部と、
前記分類手段により前記所定の区分に分類された前記分析対象特許の区分を記憶するデータ記憶部と、
前記分類手段により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力する出力部と
を備えることを特徴とする特許分析システム。An input unit for inputting data specifying a patent to be analyzed;
A patent database storing patent data relating to published patents;
From the patent data stored in the patent database, the analysis target patent data corresponding to the data specifying the analysis target patent input by the input unit is extracted, and similar to the extracted analysis target patent similar patents, similar patent search means for searching among the patent data stored in the patent database, from among the searched similar patents by the similar patent search means, in order of high similarity between the analyzed patent A reference patent selection means for selecting a predetermined number of the similar patents as a reference patent to be referred to in the evaluation of the analysis target patent, and the reference patent selected by the reference patent selection means with reference to the analysis target patent, filing date or priority date prior application property and the analyte patent and commonly assigned, which is determined according to the number of previously the reference patent with respect to the analyte patent Based on the aspect of occupation rate determined in accordance with the number of the reference patent, a data processing unit that functions as a classification means for classifying the at least four predetermined division,
A data storage unit that stores the category of the analysis target patent classified into the predetermined category by the classification unit ;
A patent analysis system comprising: an output unit that outputs a classification result of the analysis target patent classified by the classification means.
公開されている特許に関する特許データが記憶されている特許データベースと、 A patent database storing patent data relating to published patents;
前記特許データベースに記憶されている特許データの中から、前記入力部により入力された前記分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索手段、前記類似特許検索手段により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似度合いを表した数値が所定の値以上の類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択手段、及び、前記参照特許選択手段により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類手段として機能するデータ処理部と、 From the patent data stored in the patent database, the analysis target patent data corresponding to the data specifying the analysis target patent input by the input unit is extracted and similar to the extracted analysis target patent Similar patent search means for searching for similar patents from patent data stored in the patent database, and the degree of similarity with the analysis target patent from among similar patents searched by the similar patent search means Reference patent selecting means for selecting a similar patent having a numerical value equal to or greater than a predetermined value as a reference patent to be referred to when the analysis target patent is evaluated, and the reference patent selected by the reference patent selecting means, The analysis-target patent is determined based on the prior application and the analysis-target patent whose filing date or priority date is determined according to the number of the above-mentioned reference patents. Based on the aspect of occupation rate determined in accordance with the number of the reference patent one applicant, a data processing unit that functions as a classification means for classifying the at least four predetermined division,
前記分類手段により前記所定の区分に分類された前記分析対象特許の区分を記憶するデータ記憶部と、 A data storage unit for storing the category of the analysis target patent classified into the predetermined category by the classification unit;
前記分類手段により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力する出力部と An output unit for outputting a classification result of the analysis object patent classified by the classification unit;
を備えることを特徴とする特許分析システム。A patent analysis system comprising:
前記分類手段は、 The classification means includes
前記先願性と前記占有率とを2以上の前記分析対象特許についてそれぞれ求め、 Obtaining the prior application and the occupancy for each of the two or more patents to be analyzed;
2以上の前記分析対象特許についてそれぞれ求めた前記先願性と前記占有率とから、 From the prior application and the occupancy rate obtained for each of the two or more analysis-target patents,
前記先願性の所定の中間点と前記占有率の所定の中間点とを求め、 Obtaining a predetermined intermediate point of the prior application and a predetermined intermediate point of the occupation rate;
前記先願性の所定の中間点より低い領域と高い領域と、前記占有率の所定の中間点より低い領域と高い領域と、の4つの区分に分類する It is classified into four categories: an area lower and higher than the predetermined intermediate point of the prior application, and an area lower and higher than the predetermined intermediate point of the occupation ratio.
ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の特許分析システム。The patent analysis system according to claim 1 or claim 2, characterized by that.
前記データ記憶部は、前記所定の区分に分類された前記複数の分析対象特許の区分を、前記分析対象特許毎に記憶することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の特許分析システム。The classifying means classifies each of the plurality of analysis object patents into a predetermined category,
3. The patent analysis system according to claim 1, wherein the data storage unit stores, for each of the analysis target patents, the plurality of analysis target patents classified in the predetermined category. 4.
データ処理部において、特許データベースに記憶されている公開されている特許に関する特許データの中から、前記入力工程により入力された分析対象特許を指定するデータに対応する分析対象特許データを抽出し、抽出された前記分析対象特許と類似する類似特許を、前記特許データベースに記憶されている特許データの中から検索する類似特許検索工程と、
前記データ処理部において、前記類似特許検索工程により検索された類似特許の中から、前記分析対象特許との類似性が高い順に所定数の前記類似特許を、該分析対象特許の評価の際に参照する参照特許として選択する参照特許選択工程と、
前記データ処理部において、前記参照特許選択工程により選択された参照特許を参照して、前記分析対象特許を、該分析対象特許に対して出願日又は優先日が先の前記参照特許の数に応じて決定される先願性及び前記分析対象特許と同一出願人の前記参照特許の数に応じて決定される占有率の観点に基づいて、少なくとも4つの所定の区分に分類する分類工程と、
前記分類工程により分類された前記分析対象特許の分類結果を出力部より出力する出力工程と
を含むことを特徴とする特許分析グラフ製造方法。An input process for inputting data for designating the patent to be analyzed from the input unit ;
In the data processing unit, from the patent data related to the published patent stored in the patent database, the analysis target patent data corresponding to the data specifying the analysis target patent input in the input step is extracted and extracted. a similar patent search step of the similar patents similar analyzed patent, which searches the patent data stored in said patent databases,
In the data processing unit, a predetermined number of the similar patents are referred to in the descending order of similarity to the analysis target patent from among the similar patents searched in the similar patent search step. A reference patent selection step for selecting as a reference patent to be performed;
In the data processing unit, with reference to by reference patents selected by the reference patent selecting step, the analyzed patent, filing date or priority date with respect to the analyte patent depending on the number of previously the reference patent A classification step for classifying into at least four predetermined categories based on the viewpoint of the prior application determined in accordance with the above and the occupancy ratio determined according to the number of the reference patents of the same applicant as the analysis target patent ;
Patent analysis chart manufacturing method characterized by comprising an output step of outputting from the output unit the classification results of the analyzed patents classified by the classification step.
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