JP3498318B2 - 容量検出システム及び方法 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、容量/電圧変換装置及び方法に関し、より
詳細には、センサに供給される物理量に応じて変化する
センサ容量を電圧に変換することによって、該センサ容
量を検出する装置及び方法に関する。
詳細には、センサに供給される物理量に応じて変化する
センサ容量を電圧に変換することによって、該センサ容
量を検出する装置及び方法に関する。
従来の技術
図1は、特開平6−180336号公報に開示された従来技
術の容量変化検出回路の概略図を示しており、該回路に
は、ダイアフラムとそれに対向する電極とで形成された
センサの静電容量が接続される。該静電容量は、加えら
れた物理的な圧力等によって該ダイアフラムが移動した
ときに、変化する。図1に示した従来例の回路は、ダイ
アフラムと該ダイアフラムに対向する電極とからなるセ
ンサを半導体の微細加工で形成した場合に、電極が静電
引力によってダイアフラムに接触してしまうという問題
点を解決するためになされたものである。
術の容量変化検出回路の概略図を示しており、該回路に
は、ダイアフラムとそれに対向する電極とで形成された
センサの静電容量が接続される。該静電容量は、加えら
れた物理的な圧力等によって該ダイアフラムが移動した
ときに、変化する。図1に示した従来例の回路は、ダイ
アフラムと該ダイアフラムに対向する電極とからなるセ
ンサを半導体の微細加工で形成した場合に、電極が静電
引力によってダイアフラムに接触してしまうという問題
点を解決するためになされたものである。
図1において、参照数字1及び2は、容量変化検出回
路の入力端子及び出力端子である。入力端子1には入力
電圧Vinが供給され、出力端子2から出力電圧Voutが出
力される。参照番号3は演算増幅器、4及び5は抵抗、
6はスイッチである。入力端子1は、抵抗5及びセンサ
Sの静電容量を介して演算増幅器3の反転入力端子及び
非反転入力端子にそれぞれ接続されている。演算増幅器
の出力は、出力端子2に接続されるとともに、抵抗4を
介して反転入力端子に接続されている。非反転入力端子
は、スイッチ6を介して接地されている。
路の入力端子及び出力端子である。入力端子1には入力
電圧Vinが供給され、出力端子2から出力電圧Voutが出
力される。参照番号3は演算増幅器、4及び5は抵抗、
6はスイッチである。入力端子1は、抵抗5及びセンサ
Sの静電容量を介して演算増幅器3の反転入力端子及び
非反転入力端子にそれぞれ接続されている。演算増幅器
の出力は、出力端子2に接続されるとともに、抵抗4を
介して反転入力端子に接続されている。非反転入力端子
は、スイッチ6を介して接地されている。
図1の検出回路において、スイッチ6は、初期化期間
にオンされて、センサ容量を入力端子1に印加された電
圧Vinに充電し、そして、センサ容量の測定を行う場合
にオフされる。スイッチ6がオフ状態の期間では、セン
サSの容量が高入力インピーダンスの非反転入力端子に
接続されているため、該容量に充電されていた電荷は放
電されない。一方、例えば、センサSを形成するダイア
フラムへの圧力が変化することによって、センサSに物
理的変化が印加されると、センサSの静電容量が変化
し、センサ容量の両端の電圧が変化する。この電圧変化
が、抵抗4、5によって利得が決定される演算増幅器3
によって増幅され、出力端子2に現れる。
にオンされて、センサ容量を入力端子1に印加された電
圧Vinに充電し、そして、センサ容量の測定を行う場合
にオフされる。スイッチ6がオフ状態の期間では、セン
サSの容量が高入力インピーダンスの非反転入力端子に
接続されているため、該容量に充電されていた電荷は放
電されない。一方、例えば、センサSを形成するダイア
フラムへの圧力が変化することによって、センサSに物
理的変化が印加されると、センサSの静電容量が変化
し、センサ容量の両端の電圧が変化する。この電圧変化
が、抵抗4、5によって利得が決定される演算増幅器3
によって増幅され、出力端子2に現れる。
以上の動作を式を用いて補足するため、抵抗4、5の
抵抗値をRf、Ri、センサSの変化前の静電容量をCs、演
算増幅器3の非反転入力端子及び反転入力端子における
電圧をそれぞれv+、v-とする。いまスイッチ6を閉じた
とすると、出力電圧Voutは、以下の式で表すことができ
る。
抵抗値をRf、Ri、センサSの変化前の静電容量をCs、演
算増幅器3の非反転入力端子及び反転入力端子における
電圧をそれぞれv+、v-とする。いまスイッチ6を閉じた
とすると、出力電圧Voutは、以下の式で表すことができ
る。
Vout=−Vin・Rf/Ri (1)
測定のためにスイッチ6をオフにした後、センサ容量
がCsからCs'に変化し、演算増幅器3の出力電圧がVout
からVout'に変化したとすると、Vout'は、以下のように
表すことができる。
がCsからCs'に変化し、演算増幅器3の出力電圧がVout
からVout'に変化したとすると、Vout'は、以下のように
表すことができる。
Vout'={1−[1+(Rf/Ri)]・(Cs/Cs')}・Vin
(2)
ここで、Vout'−Vout=△V、Cs'−Cs=△Csと置くと、
△Vと△Csとの間には △V=[1+(Rf/Ri)]・△Cs/(Cs+△Cs)・Vin
(3) が成立する。
△Vと△Csとの間には △V=[1+(Rf/Ri)]・△Cs/(Cs+△Cs)・Vin
(3) が成立する。
上記のとおり、出力電圧Voutは、センサ容量Csに応じ
て変化するとともに、増幅器の利得(すなわち、抵抗4
及び5の比Rf/Ri)に応じて変化するので、センサ容量
に高電圧の入力電圧Vinを加える必要がない。低い入力
電圧Vinであれば、ダイアフラムに影響する静電引力が
比較的低く、したがって、図1の検出回路は、静電引力
で電極がダイアフラムと接触してしまうという問題を解
決することができる。
て変化するとともに、増幅器の利得(すなわち、抵抗4
及び5の比Rf/Ri)に応じて変化するので、センサ容量
に高電圧の入力電圧Vinを加える必要がない。低い入力
電圧Vinであれば、ダイアフラムに影響する静電引力が
比較的低く、したがって、図1の検出回路は、静電引力
で電極がダイアフラムと接触してしまうという問題を解
決することができる。
発明の概要
しかしながら、図1の従来例の検出回路においては、
他の問題、すなわち寄生容量に関する問題が存在してい
る。すなわち、センサSと演算増幅器3との接続点付近
には通常、寄生容量Cpが形成される。この寄生容量Cp
は、スイッチ6と並列に形成され、センサSと演算増幅
器3とが別々のチップ上に形成されている場合、1〜10
0pF程度またはそれ以上である。一方、センサ容量Csは
1〜数100fFであり、このような寄生容量を考慮する
と、センサ容量Csが変化したとき、該センサ容量の電荷
が寄生容量Cpへ分配されてしまう。これにより、センサ
容量Csの両端の電圧の変化が極めて小さくなり、よっ
て、ノイズ耐性が悪化してしまう。
他の問題、すなわち寄生容量に関する問題が存在してい
る。すなわち、センサSと演算増幅器3との接続点付近
には通常、寄生容量Cpが形成される。この寄生容量Cp
は、スイッチ6と並列に形成され、センサSと演算増幅
器3とが別々のチップ上に形成されている場合、1〜10
0pF程度またはそれ以上である。一方、センサ容量Csは
1〜数100fFであり、このような寄生容量を考慮する
と、センサ容量Csが変化したとき、該センサ容量の電荷
が寄生容量Cpへ分配されてしまう。これにより、センサ
容量Csの両端の電圧の変化が極めて小さくなり、よっ
て、ノイズ耐性が悪化してしまう。
演算増幅器3の非反転入力端子への入力電圧v+の変化
分△+は、 △v+=(v+−Vin)・△Cs/(Cp−Cs−△Cs) (4) により表される。式(4)において、△Cs/(Cp−Cs−
△Cs)は数百分の1であるため、△v+も数百分の1とな
り、極めて小さい値を取る。大きい値の電圧変化△v+を
得るために、演算増幅器3への入力電圧Vin及びセンサ
Sの感応特性の少なくとも一方を増大させることが考え
られる。しかしながら、入力電圧Vinを増大させると、
上記したように、ダイアフラムと電極が接触してしまう
という問題が生じる。また、センサSの感応特性を増大
させるために演算増幅器の利得を増大させると、出力電
圧Voutの飽和を招き、センサ容量が変動したとしても出
力電圧Voutが変化しないことになってしまう。なお、利
得の大きな演算増幅器の出力電圧Voutが飽和しないよう
にするために、該演算増幅器への入力電圧Vinを低下さ
せることが考えられるが、このような低い入力電圧の変
化を制御すること自体が複雑で困難である。
分△+は、 △v+=(v+−Vin)・△Cs/(Cp−Cs−△Cs) (4) により表される。式(4)において、△Cs/(Cp−Cs−
△Cs)は数百分の1であるため、△v+も数百分の1とな
り、極めて小さい値を取る。大きい値の電圧変化△v+を
得るために、演算増幅器3への入力電圧Vin及びセンサ
Sの感応特性の少なくとも一方を増大させることが考え
られる。しかしながら、入力電圧Vinを増大させると、
上記したように、ダイアフラムと電極が接触してしまう
という問題が生じる。また、センサSの感応特性を増大
させるために演算増幅器の利得を増大させると、出力電
圧Voutの飽和を招き、センサ容量が変動したとしても出
力電圧Voutが変化しないことになってしまう。なお、利
得の大きな演算増幅器の出力電圧Voutが飽和しないよう
にするために、該演算増幅器への入力電圧Vinを低下さ
せることが考えられるが、このような低い入力電圧の変
化を制御すること自体が複雑で困難である。
本発明は、図1に示した従来例の検出回路の持つ問題
点を解決するためになされたものである。したがって、
本発明の目的は、寄生容量が存在したとしても、センサ
容量に応じて変化する出力電圧を発生することができる
容量検出システムを提供することにある。
点を解決するためになされたものである。したがって、
本発明の目的は、寄生容量が存在したとしても、センサ
容量に応じて変化する出力電圧を発生することができる
容量検出システムを提供することにある。
本発明の目的は、寄生容量が存在しても、センサ容量
にほぼ比例する出力電圧を発生することができる容量検
出システムを提供することである。
にほぼ比例する出力電圧を発生することができる容量検
出システムを提供することである。
本発明に係る容量検出装置は、相互に対向するダイア
フラム及び電極からなるセンサの静電容量であって、該
センサに印加された物理的変化量に応じて変動する静電
容量を検出するための静電容量検出回路として、使用可
能である。
フラム及び電極からなるセンサの静電容量であって、該
センサに印加された物理的変化量に応じて変動する静電
容量を検出するための静電容量検出回路として、使用可
能である。
上記の目的を達成するために、本発明に係る、センサ
の容量に対応する出力を提供する容量検出システムは、
(a)変化される入力電圧を受け取るよう接続された電
圧入力、及び、(b)第1の抵抗を介して前記電圧入力
に接続された反転入力と、センサを介して電圧入力に接
続されるとともに第1のスイッチを介して第1の基準電
圧に接続された非反転入力と、並列接続された第2の抵
抗及び第2のスイッチからなる回路を介して反転入力に
接続された出力とを備えた第1の演算増幅器を具備して
いることを特徴としている。
の容量に対応する出力を提供する容量検出システムは、
(a)変化される入力電圧を受け取るよう接続された電
圧入力、及び、(b)第1の抵抗を介して前記電圧入力
に接続された反転入力と、センサを介して電圧入力に接
続されるとともに第1のスイッチを介して第1の基準電
圧に接続された非反転入力と、並列接続された第2の抵
抗及び第2のスイッチからなる回路を介して反転入力に
接続された出力とを備えた第1の演算増幅器を具備して
いることを特徴としている。
好適には、前記の容量検出装置は、さらに、(c)第
3の抵抗を介して電圧入力に接続された反転入力と、基
準電圧に接続された非反転入力と、並列接続された第4
の抵抗及び第3のスイッチからなる第2の回路を介して
反転入力に接続された出力とを備え、第1の演算増幅器
の利得と等しい利得を有する第2の演算増幅器と、
(d)第1及び第2の演算増幅器の出力電圧をそれぞれ
受け取るよう接続された反転入力及び非反転入力を備え
た第3の演算増幅器とを備えている。初期化サイクルの
期間中、第1〜第3のスイッチが同一タイミングでオン
され、かつ第1の基準電圧が電圧入力に供給される。そ
して,測定サイクルの期間中、これらのスイッチはオフ
され、かつ第2の基準電圧が電圧入力に供給される。
3の抵抗を介して電圧入力に接続された反転入力と、基
準電圧に接続された非反転入力と、並列接続された第4
の抵抗及び第3のスイッチからなる第2の回路を介して
反転入力に接続された出力とを備え、第1の演算増幅器
の利得と等しい利得を有する第2の演算増幅器と、
(d)第1及び第2の演算増幅器の出力電圧をそれぞれ
受け取るよう接続された反転入力及び非反転入力を備え
た第3の演算増幅器とを備えている。初期化サイクルの
期間中、第1〜第3のスイッチが同一タイミングでオン
され、かつ第1の基準電圧が電圧入力に供給される。そ
して,測定サイクルの期間中、これらのスイッチはオフ
され、かつ第2の基準電圧が電圧入力に供給される。
本発明はまた、センサの容量に比例する電圧を出力す
るための容量検出方法を提供し、該方法は、(a)セン
サ容量と、該センサ容量及び容量検出回路の間の接続部
分に形成される寄生容量とによって規定される第1の電
圧を出力するステップと、(b)センサ容量及び寄生容
量に関係しない第2の電圧を出力するステップと、
(c)第1及び第2の電圧の差に対応してセンサ容量に
比例する電圧を出力するステップとからなることを特徴
としている。
るための容量検出方法を提供し、該方法は、(a)セン
サ容量と、該センサ容量及び容量検出回路の間の接続部
分に形成される寄生容量とによって規定される第1の電
圧を出力するステップと、(b)センサ容量及び寄生容
量に関係しない第2の電圧を出力するステップと、
(c)第1及び第2の電圧の差に対応してセンサ容量に
比例する電圧を出力するステップとからなることを特徴
としている。
図面の簡単な説明
図1は、従来例の容量検出回路の回路図である。
図2は、本発明に係る、センサ容量に対応する出力電
圧を提供するための容量検出回路の第1の実施例を示す
回路図である。
圧を提供するための容量検出回路の第1の実施例を示す
回路図である。
図3は、本発明に係る、センサ容量に対応する出力電
圧を提供するための容量検出回路の第2の実施例を示す
回路図である。
圧を提供するための容量検出回路の第2の実施例を示す
回路図である。
図4Aは、図3に示された容量検出回路のシミュレーシ
ョンによって得られた、センサ容量と出力電圧との関係
を表しているグラフである。
ョンによって得られた、センサ容量と出力電圧との関係
を表しているグラフである。
図4Bは、図4Aのグラブの一部分を拡大して示したグラ
フである。
フである。
発明の最適な実施形態
以下、図2〜図4を参照して、本発明の容量検出回路
の好適な実施例を詳細に説明する。
の好適な実施例を詳細に説明する。
図2は、本発明による容量検出回路の第1の実施例の
回路図を示している。図2において、入力電圧Vinが加
えられる入力端子1は、抵抗11を介して第1の演算増幅
器10の反転入力端子またはノードに接続されている。演
算増幅器10の出力端子またはノードと反転入力端子との
間には、抵抗12とスイッチ13とからなる並列回路が接続
されている。演算増幅器10の非反転入力端子またはノー
ドは、スイッチ14を介して基準電圧Vhが供給され、ま
た、演算増幅器10の非反転入力端子と入力端子1との間
には、静電容量Csを有するセンサSが接続される。寄生
容量Cpは、センサSと演算増幅器10の非反転入力端子と
の接続部に形成される。
回路図を示している。図2において、入力電圧Vinが加
えられる入力端子1は、抵抗11を介して第1の演算増幅
器10の反転入力端子またはノードに接続されている。演
算増幅器10の出力端子またはノードと反転入力端子との
間には、抵抗12とスイッチ13とからなる並列回路が接続
されている。演算増幅器10の非反転入力端子またはノー
ドは、スイッチ14を介して基準電圧Vhが供給され、ま
た、演算増幅器10の非反転入力端子と入力端子1との間
には、静電容量Csを有するセンサSが接続される。寄生
容量Cpは、センサSと演算増幅器10の非反転入力端子と
の接続部に形成される。
基準電圧Vhは、例えば接地電圧であるが、他の電圧も
使用可能である。センサSの一例として、マイクロマシ
ンにより微小面積を有するように加工されかつ相互に対
向するダイアフラムと電極間との間に容量Csを形成する
よう構成されたものを、上げることができる。該センサ
Sは、加えられた物理量の変化によって生起されるダイ
アフラムの変位に応じて、容量Csを変化させるものであ
る。
使用可能である。センサSの一例として、マイクロマシ
ンにより微小面積を有するように加工されかつ相互に対
向するダイアフラムと電極間との間に容量Csを形成する
よう構成されたものを、上げることができる。該センサ
Sは、加えられた物理量の変化によって生起されるダイ
アフラムの変位に応じて、容量Csを変化させるものであ
る。
センサSの容量Csを検出するシーケンスは、初期化サ
イクルと測定サイクルとからなっている。初期化サイク
ルの期間中では、スイッチ13、14がオンされ、かつ、入
力電圧Vinが基準電圧Vh、すなわち、Vin=Vhに設定さ
れ、これにより、出力電圧Voutも基準電圧Vhと等しくな
るように設定される。(以下、「期間中」とは、該期間
の全体または一部分を意味するものとする。)一方、測
定サイクルの期間中、スイッチ13、14はオフ状態にさ
れ、入力電圧VinはVh+△Vに設定される。
イクルと測定サイクルとからなっている。初期化サイク
ルの期間中では、スイッチ13、14がオンされ、かつ、入
力電圧Vinが基準電圧Vh、すなわち、Vin=Vhに設定さ
れ、これにより、出力電圧Voutも基準電圧Vhと等しくな
るように設定される。(以下、「期間中」とは、該期間
の全体または一部分を意味するものとする。)一方、測
定サイクルの期間中、スイッチ13、14はオフ状態にさ
れ、入力電圧VinはVh+△Vに設定される。
容量Csを測定するためにスイッチ13、14がオフされる
と、演算増幅器10の出力電圧Voutは、以下の式を満足す
る。ただし、該式において、Ri1及びRf1はそれぞれ抵抗
11及び12の抵抗値であり、v+及びv-は増幅器10の非反転
入力端子及び反転入力端子の電圧であり、また、Rf1=R
i1に設定されている。
と、演算増幅器10の出力電圧Voutは、以下の式を満足す
る。ただし、該式において、Ri1及びRf1はそれぞれ抵抗
11及び12の抵抗値であり、v+及びv-は増幅器10の非反転
入力端子及び反転入力端子の電圧であり、また、Rf1=R
i1に設定されている。
Vout=−(Rf1/Ri1)(Vin−v+)+v+
=−Vin+2v+ (5)
入力電圧Vinを、初期化サイクルで設定したVhからVh
+△Vに変化させると、センサ容量Csに蓄積される電荷
Q1と寄生容量Cpに蓄積される電荷Q2とは、以下の式によ
って表される。
+△Vに変化させると、センサ容量Csに蓄積される電荷
Q1と寄生容量Cpに蓄積される電荷Q2とは、以下の式によ
って表される。
Q1=(Vin−v+)Cs
=(Vh+△V−v+)Cs (6)
Q2=v+Cp (7)
センサ容量Csと寄生容量Cpとは直列に接続されている
ので、CsとCpには同一の電荷量が蓄積され、よって、Q1
=Q2である。したがって、 v+Cp=(Vh+△V−v+)Cs (8) が成り立つ。上記したようにVh=0としたから、演算増
幅器10の非反転入力端子における電圧v+は、以下の式で
表される。
ので、CsとCpには同一の電荷量が蓄積され、よって、Q1
=Q2である。したがって、 v+Cp=(Vh+△V−v+)Cs (8) が成り立つ。上記したようにVh=0としたから、演算増
幅器10の非反転入力端子における電圧v+は、以下の式で
表される。
v+=△V・Cs/(Cs+Cp) (9)
この式(9)を式(5)に代入すると、演算増幅器の
出力電圧Voutは、以下のように書き直すことができる。
出力電圧Voutは、以下のように書き直すことができる。
Vout=−Vin+2v+
=−Vin+2・△V・Cs/(Cs+Cp) (10)
センサS及び図2の検出回路におけるセンサ以外の部
分が、別々のチップ上に形成され、これらチップが電気
的に接続されている場合、寄生容量Cpは、数pFから約15
pF又はそれ以上の程度の範囲であり、センサSの容量Cs
は、通常、1fFから数100fF程度である。したがって、Cp
はCsに比べて大きいので、Cs/(Cs+Cp)の代わりに、C
s/Cpを用いることができる。よって、演算増幅器10の出
力電圧Voutは、 Vout=−Vin+2・△V・Cs/Cp (11) で表される。この式は、検出回路の出力電圧Voutが容量
Csに応じて線形に変化することを、表している。
分が、別々のチップ上に形成され、これらチップが電気
的に接続されている場合、寄生容量Cpは、数pFから約15
pF又はそれ以上の程度の範囲であり、センサSの容量Cs
は、通常、1fFから数100fF程度である。したがって、Cp
はCsに比べて大きいので、Cs/(Cs+Cp)の代わりに、C
s/Cpを用いることができる。よって、演算増幅器10の出
力電圧Voutは、 Vout=−Vin+2・△V・Cs/Cp (11) で表される。この式は、検出回路の出力電圧Voutが容量
Csに応じて線形に変化することを、表している。
このように、演算増幅器10の非反転入力端子の近傍に
寄生容量Cpが存在する場合でも、容量Csが寄生容量Cpに
比べて極めて小さいかぎり、容量検出回路は容量Csと線
形関係にある電圧Voutを出力することができる。さら
に、演算増幅器10の利得(Rf1/Ri1)及び入力電圧Vinの
変化量△Vを、容量Csに応じて調整することにより、十
分に大きな出力電圧Voutを得ることができる。
寄生容量Cpが存在する場合でも、容量Csが寄生容量Cpに
比べて極めて小さいかぎり、容量検出回路は容量Csと線
形関係にある電圧Voutを出力することができる。さら
に、演算増幅器10の利得(Rf1/Ri1)及び入力電圧Vinの
変化量△Vを、容量Csに応じて調整することにより、十
分に大きな出力電圧Voutを得ることができる。
図3は、本発明に係る容量検出回路の第2の実施例を
示す経路図であり、該回路は、図2に示された容量検出
回路を利用している。図3の回路は、さらに、式(11)
から「−Vin」に項を削除して、センサ容量と出力電圧
とが比例するようにするための手段を備えている。
示す経路図であり、該回路は、図2に示された容量検出
回路を利用している。図3の回路は、さらに、式(11)
から「−Vin」に項を削除して、センサ容量と出力電圧
とが比例するようにするための手段を備えている。
図3において、入力電圧Vinが印加される入力端子1
は、抵抗11を介して第1の演算増幅器10の反転入力端子
またはノードに接続されている。抵抗12及びスイッチ13
からなる並列回路が、該増幅器10の出力端子またはノー
ドと反転入力端子との間に接続されている。演算増幅器
10の非反転入力端子またはノードには、スイッチ14を介
して基準電圧Vhが印加され、かつ、容量Csを有するセン
サSが、増幅器10の非反転入力端子と入力端子1との間
に接続される。
は、抵抗11を介して第1の演算増幅器10の反転入力端子
またはノードに接続されている。抵抗12及びスイッチ13
からなる並列回路が、該増幅器10の出力端子またはノー
ドと反転入力端子との間に接続されている。演算増幅器
10の非反転入力端子またはノードには、スイッチ14を介
して基準電圧Vhが印加され、かつ、容量Csを有するセン
サSが、増幅器10の非反転入力端子と入力端子1との間
に接続される。
入力端子1はまた、抵抗21を介して第2の演算増幅器
20の反転入力端子またはノードに接続されている。抵抗
22及びスイッチ23からなる並列回路が、増幅器20の反転
入力端子及び出力端子またはノードの間に接続されてい
る。増幅器20の非反転入力端子またはノードには、基準
電圧Vhが印加されている。第2の演算増幅器20は、電圧
V2を出力する。
20の反転入力端子またはノードに接続されている。抵抗
22及びスイッチ23からなる並列回路が、増幅器20の反転
入力端子及び出力端子またはノードの間に接続されてい
る。増幅器20の非反転入力端子またはノードには、基準
電圧Vhが印加されている。第2の演算増幅器20は、電圧
V2を出力する。
第2の演算増幅器20の出力端子は、抵抗31を介して第
3の演算増幅器30の反転入力端子またはノードに接続さ
れている。抵抗32及びスイッチ33からなる並列回路が、
該増幅器30の反転入力端子と出力端子またはノードとの
間に接続されており、該出力端子が、容量検出回路の出
力端子2となる。第3の演算増幅器30の非反転入力端子
またはノードには、抵抗35を介して基準電圧Vhが印加さ
れている。出力端子2から出力電圧Voutが出力される。
3の演算増幅器30の反転入力端子またはノードに接続さ
れている。抵抗32及びスイッチ33からなる並列回路が、
該増幅器30の反転入力端子と出力端子またはノードとの
間に接続されており、該出力端子が、容量検出回路の出
力端子2となる。第3の演算増幅器30の非反転入力端子
またはノードには、抵抗35を介して基準電圧Vhが印加さ
れている。出力端子2から出力電圧Voutが出力される。
図3の回路においては、センサSと回路部分(センサ
S以外の部分)とは、別のチップ上に形成され、かつ、
センサSは演算増幅器10の非反転入力端子に電気的に接
続される。該接続部分に寄生容量Cpが生じる。
S以外の部分)とは、別のチップ上に形成され、かつ、
センサSは演算増幅器10の非反転入力端子に電気的に接
続される。該接続部分に寄生容量Cpが生じる。
図3に示した容量検出回路の動作を、以下に説明す
る。初期化サイクルにおいて、スイッチ13、14、23、33
が全てオンされ、また、入力端子1に供給される入力電
圧Vinが基準電圧Vhに設定される。これにより、容量Cs
の両端の電圧がVhとなるから、Csには電荷が充電され
ず、出力端子2における出力電圧Voutは基準電圧Vhに設
定される。
る。初期化サイクルにおいて、スイッチ13、14、23、33
が全てオンされ、また、入力端子1に供給される入力電
圧Vinが基準電圧Vhに設定される。これにより、容量Cs
の両端の電圧がVhとなるから、Csには電荷が充電され
ず、出力端子2における出力電圧Voutは基準電圧Vhに設
定される。
次に測定サイクルにおいて、スイッチ13、14、23、33
が全てオフされ、そして、入力端子1に供給される入力
電圧Vinが、VhからVh+△Vに変更される。該入力電圧
の変化に応じてセンサ容量Csと寄生容量Cpとに分配され
る電荷により、容量Csと寄生容量Cpとの値によって定ま
る電圧が、第1の演算増幅器10の非反転入力端子に印加
される。そして、該非反転入力端子における電圧は増幅
され、演算増幅器10の出力端子に測定電圧V1として現れ
る。増幅器10の利得は、出力電圧V1が飽和しないように
設定されている。
が全てオフされ、そして、入力端子1に供給される入力
電圧Vinが、VhからVh+△Vに変更される。該入力電圧
の変化に応じてセンサ容量Csと寄生容量Cpとに分配され
る電荷により、容量Csと寄生容量Cpとの値によって定ま
る電圧が、第1の演算増幅器10の非反転入力端子に印加
される。そして、該非反転入力端子における電圧は増幅
され、演算増幅器10の出力端子に測定電圧V1として現れ
る。増幅器10の利得は、出力電圧V1が飽和しないように
設定されている。
第2の演算増幅器20の利得は、第1の演算増幅器10と
同一値に設定されている。図3に示すように、演算増幅
器20の非反転入力端子にも同一の入力電圧Vinが供給さ
れているので、該増幅器は、センサ及び寄生容量が接続
されていない状態での電圧V2を出力する。
同一値に設定されている。図3に示すように、演算増幅
器20の非反転入力端子にも同一の入力電圧Vinが供給さ
れているので、該増幅器は、センサ及び寄生容量が接続
されていない状態での電圧V2を出力する。
第1の演算増幅器10の出力V1は、抵抗34を介して第3
の演算増幅器30の非反転入力端子に供給され、第2の演
算増幅器20の出力電圧V2は、抵抗31を介して第3の演算
増幅器30の反転入力端子に供給される。したがって、第
3の演算増幅器30は、第1の演算増幅器10の出力電圧V1
(すなわち、センサ容量Csと寄生容量Cpとに関連する電
圧)と、第2の演算増幅器20の出力電圧V2(すなわち、
センサ容量に関連しない電圧)との差を増幅し、差動増
幅された電圧を出力電圧Voutとして出力する。
の演算増幅器30の非反転入力端子に供給され、第2の演
算増幅器20の出力電圧V2は、抵抗31を介して第3の演算
増幅器30の反転入力端子に供給される。したがって、第
3の演算増幅器30は、第1の演算増幅器10の出力電圧V1
(すなわち、センサ容量Csと寄生容量Cpとに関連する電
圧)と、第2の演算増幅器20の出力電圧V2(すなわち、
センサ容量に関連しない電圧)との差を増幅し、差動増
幅された電圧を出力電圧Voutとして出力する。
以下に詳細に説明するように、第3の演算増幅器30の
出力電圧Voutは、センサ容量Csの寄生容量Cpに対する比
の値が小さいほど、センサ容量Csに比例する。比例係数
は、演算増幅器30の利得と入力電圧Vinの変化量との関
数となる。現実には、寄生容量Cpがセンサ容量Csよりも
大きいので、第3の演算増幅器30は容量Csに比例する電
圧を出力する。
出力電圧Voutは、センサ容量Csの寄生容量Cpに対する比
の値が小さいほど、センサ容量Csに比例する。比例係数
は、演算増幅器30の利得と入力電圧Vinの変化量との関
数となる。現実には、寄生容量Cpがセンサ容量Csよりも
大きいので、第3の演算増幅器30は容量Csに比例する電
圧を出力する。
上述した動作を、式を用いて説明する。演算増幅器1
0、20、30には、同一の大きさの正及び負の電源電圧V+
及びV-が供給され、基準電圧Vh=0(ボルト)に設定さ
れているものと仮定する。ただし、Vh=0が本発明の容
量検出回路において必須ではないことに、留意すべきで
ある。、電圧Vhは、電源電圧V+及びV-に依存して正又は
負の値を取りうるが、以下においては、説明を簡単にす
るために、Vh=0として説明する。
0、20、30には、同一の大きさの正及び負の電源電圧V+
及びV-が供給され、基準電圧Vh=0(ボルト)に設定さ
れているものと仮定する。ただし、Vh=0が本発明の容
量検出回路において必須ではないことに、留意すべきで
ある。、電圧Vhは、電源電圧V+及びV-に依存して正又は
負の値を取りうるが、以下においては、説明を簡単にす
るために、Vh=0として説明する。
初期化サイクルにおいて、スイッチ13、14、23、33が
オンされ、かつ入力電圧がVin=Vh=0に設定されるの
で、第1の演算増幅器10の出力電圧V1及び第2の演算増
幅器20の出力電圧V2は、 V1=V2=Vh=0 となる。
オンされ、かつ入力電圧がVin=Vh=0に設定されるの
で、第1の演算増幅器10の出力電圧V1及び第2の演算増
幅器20の出力電圧V2は、 V1=V2=Vh=0 となる。
次に、静電容量Csを測定するために、これらのスイッ
チ13、14、23、33がオフされると、第1〜第3の演算増
幅器10、20、30の出力電圧は、以下の式を満足する。た
だし、Ri1、Rf1、Ri2、Rf2、Ri3、Rf3、Rh3、Rg3はそれ
ぞれ、抵抗11、12、21、22、31、32、34、35の抵抗値で
あり、K=Rg3/Rh3=Rf3/Ri3に設定されており、v+、v-
は、増幅器10の非反転及び反転入力端子の電圧であり、
Rf1=Ri1及びRf2=Ri2に設定されている。
チ13、14、23、33がオフされると、第1〜第3の演算増
幅器10、20、30の出力電圧は、以下の式を満足する。た
だし、Ri1、Rf1、Ri2、Rf2、Ri3、Rf3、Rh3、Rg3はそれ
ぞれ、抵抗11、12、21、22、31、32、34、35の抵抗値で
あり、K=Rg3/Rh3=Rf3/Ri3に設定されており、v+、v-
は、増幅器10の非反転及び反転入力端子の電圧であり、
Rf1=Ri1及びRf2=Ri2に設定されている。
V1 =(Rf1/Ri1)(Vin−v+)+v+
=−Vin+2v+ (12)
V2 =(Rf2/Ri2)(Vin−Vh)+Vh
=−Vin (13)
Vout=K(V1−V2) (14)
入力電圧Vinが、初期化サイクルにおいて設定されたV
hからVh+△Vに変化すると、センサ容量Csに蓄積され
る電荷Q1及び寄生容量Cpに蓄積される電荷Q2は、以下の
式で表される。
hからVh+△Vに変化すると、センサ容量Csに蓄積され
る電荷Q1及び寄生容量Cpに蓄積される電荷Q2は、以下の
式で表される。
Q1=(Vin−v+)Cs
=(Vh+△V−v+)Cs (15)
Q2=v+Cp (16)
センサ容量Csと寄生容量Cpとは直列に接続されている
から、これら容量Cs及びCpには同一値の電荷が蓄積さ
れ、Q1=Q2が成り立つ。したがって、以下の式が成立す
る。
から、これら容量Cs及びCpには同一値の電荷が蓄積さ
れ、Q1=Q2が成り立つ。したがって、以下の式が成立す
る。
v+Cp=(Vh+△V−v+)Cs
上記したように、Vh=0であるから、第1の演算増幅器
10の非反転入力端子の電圧v+は、 v+=△V・Cs/(Cs+Cp) (17) となる。
10の非反転入力端子の電圧v+は、 v+=△V・Cs/(Cs+Cp) (17) となる。
この式(17)を用いると、式(12)及び(14)はそれ
ぞれ、以下のように書き直すことができる。
ぞれ、以下のように書き直すことができる。
V1=−Vin+2v+
=−Vin+2△V・Cs/(Cs+Cp) (18)
Vout=K(V1−V2)
=K[−Vin+2△V・Cs/(Cs+Cp)+Vin]
=2K・△V・Cs/(Cs+Cp) (19)
センサSと図3の容量検出回路の他の回路部分とを別
々のチップで形成してこれらを電気的に接続した場合、
寄生容量Cpは1〜約100pF程度又はそれ以上であり、こ
れに対して、センサSの容量Csは通常、約1〜数100fF
程度である。すなわち、Cpの方がCsよりも極めて大きい
から、Cs/(Cs+Cp)の代わりにCs/Cpを用いることがで
きる。したがって、式(19)(すなわち、第3の演算増
幅器30の出力電圧Voutは、 Vout=2K・△V・Cs/Cp (20) と表される。この式(20)は、第3の演算増幅器30か
ら、静電容量Csに比例した電圧を出力することができる
ことを示している。図3に示した装置において、Vhがゼ
ロでない場合、課題を解決するための基本的な技術思想
はVh=0の場合と同一であるが、ただし、Vh≠0の場合
には、式(20)がより複雑になる。
々のチップで形成してこれらを電気的に接続した場合、
寄生容量Cpは1〜約100pF程度又はそれ以上であり、こ
れに対して、センサSの容量Csは通常、約1〜数100fF
程度である。すなわち、Cpの方がCsよりも極めて大きい
から、Cs/(Cs+Cp)の代わりにCs/Cpを用いることがで
きる。したがって、式(19)(すなわち、第3の演算増
幅器30の出力電圧Voutは、 Vout=2K・△V・Cs/Cp (20) と表される。この式(20)は、第3の演算増幅器30か
ら、静電容量Csに比例した電圧を出力することができる
ことを示している。図3に示した装置において、Vhがゼ
ロでない場合、課題を解決するための基本的な技術思想
はVh=0の場合と同一であるが、ただし、Vh≠0の場合
には、式(20)がより複雑になる。
このように、図3の容量検出回路においては、演算増
幅器10の非反転入力端子に寄生容量Cpが存在しても、容
量Csが寄生容量Cpよりも極めて小さい限り、容量Csに比
例する電圧Voutを出力することができる。しかも、容量
Csに応じて第1〜第3の演算増幅器10、20、30それぞれ
の利得や入力電圧Vinの変化量を調整することにより、
十分に大きな出力電圧Voutを得ることが可能である。
幅器10の非反転入力端子に寄生容量Cpが存在しても、容
量Csが寄生容量Cpよりも極めて小さい限り、容量Csに比
例する電圧Voutを出力することができる。しかも、容量
Csに応じて第1〜第3の演算増幅器10、20、30それぞれ
の利得や入力電圧Vinの変化量を調整することにより、
十分に大きな出力電圧Voutを得ることが可能である。
以上説明したとおり、図3に示した容量検出回路は、
センサSの静電容量Csに比例した電圧Voutを出力するこ
とができるとともに、寄生容量Cpが大きくても、入力電
圧Vinを変化させることによってセンサSの容量Csに蓄
積される電荷の量を大きくすることができる。また、第
1の演算増幅器10からの容量測定電圧V1と演算増幅器20
からの基準電圧V2との差を、第3の演算増幅器30によっ
て増幅するようにしたので、増幅器10の利得を小さくす
ることができ、よって、出力電圧V1が飽和しないように
することが可能になる。そのうえ、第3の演算増幅器30
の利得を、センサ容量Csと寄生容量Cpとの比の値に応じ
て、調整することも可能である。
センサSの静電容量Csに比例した電圧Voutを出力するこ
とができるとともに、寄生容量Cpが大きくても、入力電
圧Vinを変化させることによってセンサSの容量Csに蓄
積される電荷の量を大きくすることができる。また、第
1の演算増幅器10からの容量測定電圧V1と演算増幅器20
からの基準電圧V2との差を、第3の演算増幅器30によっ
て増幅するようにしたので、増幅器10の利得を小さくす
ることができ、よって、出力電圧V1が飽和しないように
することが可能になる。そのうえ、第3の演算増幅器30
の利得を、センサ容量Csと寄生容量Cpとの比の値に応じ
て、調整することも可能である。
図4は、寄生容量Cpが20pFであるときのときの図3の
容量検出回路のシミュレーション結果を示すグラフであ
る。また、V-=0V、V+=5V、Vh=Vdd/2(V)と仮定
し、したがって、Cs=0の場合は、Vout≒2.5Vである。
図4Bのグラフは、図4Aの一部分を拡大表示したものであ
る。図4Aは、センサ容量Csを0〜500fFの範囲で変化さ
せたときに、出力電圧Voutが2.4V〜4.1Vまで線形に変化
することを示しており、図4Bは、Csを0〜100fFの範囲
で変化させたときに、出力電圧Voutが2.41V〜2.77Vまで
線形に変化することを示している。
容量検出回路のシミュレーション結果を示すグラフであ
る。また、V-=0V、V+=5V、Vh=Vdd/2(V)と仮定
し、したがって、Cs=0の場合は、Vout≒2.5Vである。
図4Bのグラフは、図4Aの一部分を拡大表示したものであ
る。図4Aは、センサ容量Csを0〜500fFの範囲で変化さ
せたときに、出力電圧Voutが2.4V〜4.1Vまで線形に変化
することを示しており、図4Bは、Csを0〜100fFの範囲
で変化させたときに、出力電圧Voutが2.41V〜2.77Vまで
線形に変化することを示している。
以上、好適な実施例の詳細な説明から明らかなよう
に、本発明は、センサ容量と検出回路との接続部に寄生
容量が形成される場合であっても、この寄生容量に影響
されることなく、センサ容量に比例する電圧を出力する
ことができる。
に、本発明は、センサ容量と検出回路との接続部に寄生
容量が形成される場合であっても、この寄生容量に影響
されることなく、センサ容量に比例する電圧を出力する
ことができる。
本発明の好適な実施例について説明したが、種々の変
形が考えられることは明らかであり、本発明の技術思想
及び範囲に含まれる限り、全ての変形例が添付した請求
の範囲に含まれる。
形が考えられることは明らかであり、本発明の技術思想
及び範囲に含まれる限り、全ての変形例が添付した請求
の範囲に含まれる。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(31)優先権主張番号 特願平10−131736
(32)優先日 平成10年5月14日(1998.5.14)
(33)優先権主張国 日本(JP)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
G01R 27/26
G01D 5/24
G01L 9/12
Claims (11)
- 【請求項1】センサの容量に対応する出力を提供する容
量検出システムにおいて、 変化される入力電圧を受け取るよう接続された電圧入力
と、 第1の抵抗を介して電圧入力端子に接続された反転入力
と、センサを介して電圧入力に接続されかつ第1のスイ
ッチを介して基準電圧に接続された非反転入力と、並列
接続された第2の抵抗及び第2のスイッチからなる第1
の回路を介して反転入力に接続された出力とを有する第
1の演算増幅器と を含んでいることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項2】請求項1記載の容量検出システムにおい
て、該システムはさらに、 第3の抵抗を介して電圧入力に接続された反転入力と、
基準電圧に接続された非反転入力と、並列接続された第
4の抵抗及び第3のスイッチからなる第2の回路を介し
て反転入力に接続された出力とを有し、第1の演算増幅
器の利得と同一の利得を有する第2の演算増幅器と、 第1及び第2の演算増幅器からの出力電圧をそれぞれ受
け取るよう接続された反転入力及び非反転入力を有する
第3の演算増幅器と を含んでいることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項3】センサの容量に対応する出力を提供する容
量検出システムにおいて、 第1の基準電圧と第2の基準電圧との間で変化される入
力電圧を受け取るよう接続された電圧入力と、 第1の抵抗を介して電圧入力端子に接続された反転入力
と、センサ容量を介して電圧入力に接続されかつ第1の
スイッチを介して第1の基準電圧に接続された非反転入
力と、並列接続された第2の抵抗及び第2のスイッチか
らなる第1の帰還回路を介して反転入力に接続された出
力とを有する第1の演算増幅器と を含み、初期化サイクルにおいて、第1及び第2のスイ
ッチがオンされるとともに第1の基準電圧が電圧入力に
供給され、測定サイクルにおいて、第1及び第2のスイ
ッチがオフされるとともに第2の基準電圧が電圧入力に
供給され、センサ容量に応じて線形に変化する出力電圧
を、出力に発生することを特徴とする容量検出システ
ム。 - 【請求項4】請求項3記載の容量検出システムにおい
て、該システムはさらに、 第3の抵抗を介して電圧入力に接続された反転入力と、
第1の基準電圧に接続された非反転入力と、並列接続さ
れた第4の抵抗及び第3のスイッチからなる第2の帰還
回路を介して反転入力に接続された出力とを有し、第1
の演算増幅器の利得と同一の利得を有する第2の演算増
幅器と、 第1及び第2の演算増幅器からの出力電圧をそれぞれ受
け取るよう接続された反転入力及び非反転入力を有する
第3の演算増幅器と を含んでいることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項5】請求項2または4記載の容量検出システム
において、該システムはさらに、第3の演算増幅器の帰
還回路に含まれる第4のスイッチを含み、第4のスイッ
チは、第1、第2及び第3のスイッチと同時にオン/オ
フされることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項6】センサの容量と比例する電圧を出力する容
量検出システムにおいて、 定電圧と、センサ容量を該センサ容量及び該センサ容量
と検出回路との間の接続部に形成される寄生容量の和で
除算した値に比例する電圧との和に等しい第1の電圧を
提供する第1の回路と、 第1の回路と同一の回路特性を有し、第1の電圧中の定
電圧に等しい第2の電圧を提供する第2の回路と、 第1の電圧及び第2の電圧の差に対応する電圧であっ
て、センサ容量に比例する電圧を出力する第3の回路と を含んでいることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項7】請求項6記載の容量検出システムにおい
て、 第1の回路は、センサ容量を介して電圧入力に接続され
た入力を有し、第1の電圧を出力する第1の増幅器で構
成され、 第2の回路は、電圧入力に接続されかつ第1の増幅器と
同一の利得を有し、第2の電圧を出力する第2の増幅器
で構成され、 第3の回路は、第1及び第2の電圧を受け取って、これ
らの差に対応する電圧を出力する第3の増幅器で構成さ
れ ていることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項8】請求項7記載の容量検出システムにおい
て、第1〜第3の増幅器はそれぞれ第1〜第3の演算増
幅器であり、電圧入力と第1の演算増幅器の非反転入力
との間にセンサ容量が接続され、第1の演算増幅器の反
転入力と出力との間、第2の演算増幅器の反転入力と出
力との間、第3の演算増幅器の反転入力との間、及び第
1の演算増幅器の非反転入力と基準電圧との間に、検出
回路を初期化するためのスイッチがそれぞれ接続され、
かつ、第1の演算増幅器の反転入力と出力との間、第2
の演算増幅器の反転入力と出力との間、及び第3の演算
増幅器の反転入力との間に、抵抗がそれぞれ接続されて
いることを特徴とする容量検出システム。 - 【請求項9】センサの容量に比例する電圧を出力する容
量検出方法において、 定電圧と、センサ容量を該センサ容量及び容量検出回路
の間の接続部分に形成される寄生容量の和で除算した値
に比例する電圧との和に等しい第1の電圧を出力するス
テップと、 第1の電圧中の定電圧に等しい第2の電圧を出力するス
テップと、 第1の電圧と第2の電圧との差に対応する第3の電圧で
あって、センサ容量に比例する第3の電圧を出力するス
テップと からなることを特徴とする方法。 - 【請求項10】請求項9記載の方法において、 第1の電圧を出力するステップでは、抵抗及びセンサを
それぞれ介して、抵抗及び第1のスイッチの並列接続が
反転入力及び出力に接続されている第1の演算増幅器の
反転入力及び非反転入力に入力電圧を供給して、第1の
電圧を出力から発生し、 第2の電圧を出力するステップでは、抵抗及び第2のス
イッチの並列接続が反転入力及び出力に接続され、かつ
非反転入力が基準電圧端子に接続されている第2の演算
増幅器の反転入力に入力電圧を供給して、第2の電圧を
出力から発生し、 第3の電圧を発生するステップでは、抵抗及び第3のス
イッチの並列接続が反転入力及び出力に接続されている
第3の演算増幅器の非反転入力及び反転入力に第1及び
第2の電圧を供給して、第3の電圧を出力から発生する ことを特徴とする方法。 - 【請求項11】請求項10記載の方法において、第1の演
算増幅器の非反転入力が第4のスイッチを介して基準電
圧端子に接続されており、該方法さらに、 リセット・サイクルの間に第1〜第4のスイッチをオン
させるステップ、及び 測定サイクルを開始する前に、第1〜第4のスイッチを
オフさせるステップ の少なくとも一方を含んでいることを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7824498 | 1998-02-19 | ||
| JP10-78244 | 1998-02-19 | ||
| JP11635798 | 1998-04-27 | ||
| JP10-116357 | 1998-04-27 | ||
| JP10-131736 | 1998-05-14 | ||
| JP13173698 | 1998-05-14 | ||
| PCT/JP1999/000736 WO1999042848A2 (en) | 1998-02-19 | 1999-02-19 | Capacitance detection system and method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JP2001510580A JP2001510580A (ja) | 2001-07-31 |
| JP3498318B2 true JP3498318B2 (ja) | 2004-02-16 |
Family
ID=27302652
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP54236799A Expired - Fee Related JP3498318B2 (ja) | 1998-02-19 | 1999-02-19 | 容量検出システム及び方法 |
| JP54236699A Expired - Fee Related JP3498317B2 (ja) | 1998-02-19 | 1999-02-19 | 物理変量の検出装置及び方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6326795B1 (ja) |
| EP (3) | EP0975982B1 (ja) |
| JP (2) | JP3498318B2 (ja) |
| KR (2) | KR100377027B1 (ja) |
| CN (2) | CN1165773C (ja) |
| AU (2) | AU731610B2 (ja) |
| DE (3) | DE69938636D1 (ja) |
| IL (2) | IL132448A0 (ja) |
| TW (2) | TW418323B (ja) |
| WO (2) | WO1999042847A1 (ja) |
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-
1999
- 1999-02-12 TW TW088102342A patent/TW418323B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-02-12 TW TW088102456A patent/TW526327B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-02-19 JP JP54236799A patent/JP3498318B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 DE DE69938636T patent/DE69938636D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 KR KR10-1999-7009617A patent/KR100377027B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 EP EP99905244A patent/EP0975982B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 DE DE69936551T patent/DE69936551T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 WO PCT/JP1999/000735 patent/WO1999042847A1/en not_active Ceased
- 1999-02-19 DE DE69935760T patent/DE69935760T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 CN CNB998001597A patent/CN1165773C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 IL IL13244899A patent/IL132448A0/xx unknown
- 1999-02-19 JP JP54236699A patent/JP3498317B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 EP EP06000364A patent/EP1653771B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 WO PCT/JP1999/000736 patent/WO1999042848A2/en not_active Ceased
- 1999-02-19 US US09/402,699 patent/US6326795B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 IL IL13245099A patent/IL132450A0/xx unknown
- 1999-02-19 AU AU25480/99A patent/AU731610B2/en not_active Ceased
- 1999-02-19 KR KR1019997009679A patent/KR100341964B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 AU AU25479/99A patent/AU730847B2/en not_active Ceased
- 1999-02-19 EP EP99905245A patent/EP0975983B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-02-19 US US09/402,724 patent/US6373264B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-02-19 CN CNB998001600A patent/CN1161624C/zh not_active Expired - Fee Related
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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