JP3280969B2 - 可視光および紫外光の共焦点結像装置 - Google Patents
可視光および紫外光の共焦点結像装置Info
- Publication number
- JP3280969B2 JP3280969B2 JP50939392A JP50939392A JP3280969B2 JP 3280969 B2 JP3280969 B2 JP 3280969B2 JP 50939392 A JP50939392 A JP 50939392A JP 50939392 A JP50939392 A JP 50939392A JP 3280969 B2 JP3280969 B2 JP 3280969B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultraviolet
- visible light
- lens
- light
- confocal microscope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000010226 confocal imaging Methods 0.000 title 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 44
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 33
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 30
- 238000013461 design Methods 0.000 description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 8
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000004624 confocal microscopy Methods 0.000 description 2
- 238000000799 fluorescence microscopy Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 206010010071 Coma Diseases 0.000 description 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 argon ion Chemical class 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- KMGARVOVYXNAOF-UHFFFAOYSA-N benzpiperylone Chemical compound C1CN(C)CCC1N1C(=O)C(CC=2C=CC=CC=2)=C(C=2C=CC=CC=2)N1 KMGARVOVYXNAOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- GNBHRKFJIUUOQI-UHFFFAOYSA-N fluorescein Chemical compound O1C(=O)C2=CC=CC=C2C21C1=CC=C(O)C=C1OC1=CC(O)=CC=C21 GNBHRKFJIUUOQI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002073 fluorescence micrograph Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000002040 relaxant effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/14—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
- G02B13/143—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation for use with ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0072—Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0088—Inverse microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Lenses (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
しくは可視光および紫外光に使用できる共焦点走査式顕
微鏡に関する。
られている。この蛍光顕微鏡法では、細胞あるいは組織
の特定の構成部を可視化したり、これら構成部の空間的
組織を決めるには選択が必要である。共焦点顕微鏡法
は、照明および検出をサンプル内のただ1つの点に制限
して用いる。これは、代表的には、対象物およびコンデ
ンサの光路内に空間フィルタ(通常はピンホール)を用
いることによって達成され、視野内のすべての点を順次
に走査することによって完全な像が構成される。
示されている(この米国特許の開示内容を参考資料とし
てここに援用する)。この顕微鏡は、サンプル上に小さ
い(好ましくは回析制限した)スポットを生じさせ、こ
のスポットをラスタ・パターンでサンプル上を走査し、
スポットの領域から発する光を集めてこの光の強度に比
例した電気信号を発生する。この電気信号は、モニタ上
に可視表示を行えるコンピュータに送られる。
は、スポットを形成する合焦光学素子と、2つの直交方
向へビームを走査してサンプル上にラスタ・パターンを
形成する走査要素とからなる。サンプルから発する光は
戻り経路に沿って検出器へ通り、ここで電気信号が発生
する。アイリス絞りの形をしたアパーチャが検出器の前
方に配置してあり、ビームスポットから空間的に変位し
た点から発した光を阻止するようになっている。
リが、カルフォルニア州ハーキュリーズ市のBio−Rad L
aboratories,Inc.が商品番号MRC−500、MRC−600として
市販されている。こうしてできた共焦点顕微鏡は可視励
起光線を発生し、可視範囲内の蛍光を検知する。
微鏡を提供する。光学縦列が、紫外波長および可視波長
を含む波長範囲にわたる走査エラー、合焦エラーを実質
的に訂正する。
街励起源と、紫外線透過式走査・結像光学素子とを包含
する。紫外光は、順方向経路に沿って送られ、サンプル
面における小スポットとして合焦する。スポットの領域
から発する光は戻り経路に沿って送られ、検出される。
スポットから空間的に変位した点から発する光は検出器
アパーチャによって阻止される。ビームスポットはサン
プル上をラスタ・パターンで走査される。戻り光が可視
の場合(たとえば、可視蛍光を検出したい場合)には、
光学縦列は可視光、紫外光の両方にとって共焦点となっ
ていなければならない。このことは、また、同時に紫外
励起、可視励起を行うのを可能とする。
ンズが色誘因の走査エラーを補正すると共に、余分なレ
ンズを順方向紫外線経路内に設け、縦方向色収差(可視
光/紫外光)による合焦エラーを補正する。走査エラー
と合焦エラーの補正を分けることにより、縦方向収差の
程度の変わる異なった対物レンズに順応するのが容易と
なる。
以下の部分および図面を参照することによって実現でき
る。
構成を簡単に示す図である。
チである。
学構成図である。
トジェネレエション接眼レンズ、アダプタレンズの光学
的構成を示す図である。
ェネレエション接眼レンズの光学的構成図である。
レーション6.25x接眼レンズの光学的構成図である。
カンドジェネレーション8x接眼レンズ、アダプタレンズ
の光学的構成図である。
レーション8x接眼レンズの光学的構成図である。
る光学的スケッチである。
する光学的スケッチである。
ットを示す図である。
および補正を説明するプロットを示す図である。
トを示す図である。
成図である。ここに説明する特別の従来の共焦点顕微鏡
と本発明に従って改造したような共焦点顕微鏡は、普通
の顕微鏡と組み合わせて用いられるBio−Rad MRC−600
アクセッサリである。ここで用いる「顕微鏡」なる用語
は、代表的には、この組み合わせから得た走査式共焦点
顕微鏡を意味する。
ンプル面のこの点から発する光(反射光および蛍光)を
検出するように作動する。この目的のために、顕微鏡
は、光学縦列を通して順方向経路に沿って光線が送られ
るアルゴンイオン・レーザのような可視光源20を包含す
る。光学縦列は、ビームスプリッタ22、走査用光学素子
25、接眼レンズ27、アダプタレンズ30、無限補正レンズ
22(テロンレンズと呼ばれる)および対物レンズ35から
なる。ビームスプリッタ22は、可視励起光線は反射する
が、サンプルからの蛍光の波長特性範囲内の光は透過さ
せるダイクロイック材料で作る。対物レンズおよび接眼
レンズは、サンプル面に小スポットを形成するように光
線を合焦する。
ムスプリッタ22まで移動し、ここから検出器37a、たと
えば、増倍型光電管(PMT)に行き、検出される。アパ
ーチャ40a、好ましくは、アイリス絞り(可変直径、0.7
−7.0mm)が検出器の前方に配置してある。ダイクロイ
ック・ビームスプリッタ42は、1つの波長範囲内の光を
検出器37aへ送ると共にそれと異なった波長範囲内の光
を第2検出器37bおよび対応したアパーチャ40bに送るよ
うに戻り専用経路内に配置してもよい。
平面ステアリング・ミラーによって折り返されて比較的
長い経路長さを得ている。走査光学素子は、一対のガル
バノメータ駆動平面鏡と、それらの間のリレー光学素
子、好ましくは、一対の対面する凹面鏡とからなる。第
1の走査鏡は、図の平面に対して直角の平面で光線を走
査し、第2走査鏡は、図の平面で光線を走査する。図に
は、第2走査鏡のみが示してある。
あり、その結果、光線は、走査角と無関係に光軸に対し
てほぼ平行に接眼レンズからアダプタレンズまで移動す
る。平行レーザ光線は接眼レンズの後方焦点面に合焦
し、顕微鏡は、アダプタレンズの前方焦点面が接眼レン
ズの後方焦点面と一致するように共焦点アクセッサリに
対して設置してある。
は、接眼レンズと対物レンズの間の光路は、接眼レンズ
および対物レンズが通常に設計されたものの光路よりも
長くなっている。特別な詳細図が第1B図に示してある。
たいていの対物レンズは、あたかも160mm離れた点状光
源からくるかのように入射光を受け取るべく補正され
る。テロンレズ32が対物レンズと協働し、これら2つの
組み合わせが入射平行光線を補正する(すなわち、無限
補正する)。対応する要領で、アダプタレンズ(基本的
には160mm色消しレンズ)が接眼レンズと協働して平行
光線を与える。こうして、アダプタレンズ30およびテロ
ンレンズ32は或る種のリレー光学要素として作動する。
直立顕微鏡実施例(図示せず)では、アダプタレンズお
よびテロンレンズは存在しない。
タレンズ)を1つの単位として考え、下手側の素子(あ
るとしてテロンレンズおよび対物レンズ)を1つの単位
として考えると時には便利である。接眼レンズ、長い戻
り経路および平行戻り光線を使用することにより、ピン
ホール式空間フィルタなしに共焦点動作を達成すること
ができる。
すると便利である。ここで用いる用語「順方向専用」
は、光源からビームスプリッタ22までの経路セグメント
であって、励起光のみが移動する経路セグメントを言
う。「共通経路セグメント」なる用語は、ビームスプリ
ッタとサンプル面の間で、光が両方向に移動する光を言
う。「戻り専用」なる用語は、ビームスプリッタと検出
器の間で、サンプルから戻る光のみが移動する経路セグ
メントを言う。或るレンズの前面と言った場合、これ
は、順方向経路上の光が最初に遭遇する表面を意味し、
後面と言った場合には、戻り経路上の光が最初に遭遇す
る表面を意味する。
発する光がいかにして戻り経路に沿って光学系を通り抜
け、検出器に移動するかを示している。図は、また、サ
ンプル面からそれぞれ上手側、下手側に変位した一対の
平面15u、15dにおける点から発する光がいかにしてアパ
ーチャによって阻止されるかを示している。サンプル面
15は実線で描いてあり、平面15の点から発する光が実線
で示してある。平面15u、15dは2種類の破線で描いてあ
り、これらお平面から出る光がそれ相当に描いてある。
ここでわかるように、下手側の平面15dから発する光は
レンズによって再合焦し、発散し、上手側の平面15uか
ら発する光はレンズを出るきに発散する。いずれにして
も、光線はアパーチャ平面に達するまでに大きく発散
し、アパーチャによってかなり阻止される。
光が光学素子によって平行にされる程度まで、ほんの少
し下手側(平面15dほど下手側に離れていない)の平面
から発する光はアパーチャ内へ実際に合焦される。これ
が意味することは、検出器に達した光が励起光と共焦点
でない小成分を含んでいるということである。この影響
は、戻り専用経路内に長レンズ(たとえば、100mm)を
設置し、平行(共焦点)光線をアパーチャ内へ合焦し、
やや下手側からの光をアパーチャに達したときに発散さ
せるようにすることによって回避することができる。こ
れを以下により詳しく説明する。
両方を励起に用いることができるようにした共焦点顕微
鏡の簡略光学的構成図である。第1A図のものと同じであ
る素子は同じ参照符号が付けてあり、改造した対応する
素子はダッシュ記号付きの参照符号で示してあり、第1A
図に対応する部分がない素子は異なった参照符号で示し
てある。上述したように、倒立顕微鏡実施例が示してあ
る。
作は、当然、可視励起を行おうとしているときほど、紫
外線励起の領域に敷衍して説明していない。第1の明ら
かな問題は、接眼レンズ27が紫外光を透過させず、アダ
プタレンズ30が若干透過させるということにある。倒
立、直立両方の顕微鏡実施例の設計上の詳細を以下に説
明し、適宜図示する。
コンバイナ57(可視光/紫外光ダイクロイック反射器)
によって可視光レーザ20からの可視光線と組み合わされ
る。紫外線レーザ55とビームコンバイナ57の間には、合
焦用紫外線(5x)ビームエキスパンダ60、ステアリング
・ミラー62および紫外線補正レンズ65が挿設してある。
ビームスプリッタ22は、それが紫外光を反射しない程度
まで改造し、可視レーザ光線および紫外線レーザ光線を
共に反射するが、可視蛍光を透過させるようにしなけれ
ばならない。顕微鏡は、さらに、後述するように特別に
設計した接眼レンズ27′およびアダプタレンズ30′を設
けることによってさらに改造される。ビームスプリッタ
42の特性は分離しようとしている可視波長に応じて選ぶ
とよい。
を得るに充分に対物レンズの後方アパーチャを満たすこ
とのできる倍率を与える。共焦点顕微鏡を使用すること
によって、スポット間の最短検出可能距離を普通の顕微
鏡によって検出できる最短距離の0.707倍まで縮めるこ
とができる。紫外線励起を用いることによって、より短
い波長による可視励起で得ることのできる解像度に比し
て解像度を改良できる。
コンバイナ57の間に配置してあると好ましい。この可視
光線エキスパンダ67は、1.5x−2xの倍率を提供し、可視
励起光線で対物レンズの後方アパーチャを満たすことを
可能とする。これは、紫外線接眼レンズ27′が可視光線
接眼レンズ27よりも倍率が低い(約6.4x対8x)ので必要
である。倍率の低下に鑑みて、最小アパーチャ直径を0.
7mmから0.5mmまで減らすことを考慮している。
あり、紫外線励起光を接眼レンズの前方の点に合焦し、
ここからこの光が発散する。上述したように、可視励起
光は接眼レンズに達するまでほぼ平行化される。紫外光
は、下手側のレンズ素子における縦方向色収差効果を補
正するように発散させられる。以下により詳しく説明す
るように、色走査効果は接眼レンズおよびアダプタレン
ズにおいて補正しなければならず、この補正は縦方向色
収差も補正するのを難しくする傾向がある。
いはビームエキスパンダの再合焦と一緒に調節して、対
物レンズの後方アパーチャの適切な充満状態を維持しな
がら種々の対物レンズにおける種々の縦方向色収差量を
調節することができる。これは、対物レンズ色収差が紫
外線において有為に変化し、後方アパーチャ寸法が対物
レンズ毎に有意に変わるので、比較的必要なオプション
である。
27′および紫外線アダプタレンズ30′のファーストジェ
ネレエション設計の光学的構成図である。これらのレン
ズのための幾何学的および光学的パラメータは表1、2
に示してある。レーザ光線の方向応に沿って表面に番号
が振ってあり、特に指摘しないかぎり寸法はミリメート
ル単位である。色補正は以下の設計波長によるものであ
る:330nm、464nm、560nmおよび656nmである。レンズ設
計は、カリフォルニア州サンホセ市のSCIOPT Enterpris
esから入手できるOPTEC光学系設計分析ソフトウェア(P
Cバージョン)を用いて行った。
示す)のためのファーストジェネレエション設計の光学
的構成図である。
のみあるいは倒立実施例のアダプタレンズとの組み合せ
について)は次のように要約できる。接眼レンズ(また
は組み合わせ)は、両方向へ移動する光についての各設
計波長の標準単色収差(球面球差、コマ、非点収差、ひ
ずみ)を良く補正する。上述したように、紫外線焦点は
合焦レンズ65および合焦用ビームエキスパンダ60によっ
て補正されるが、接眼レンズ(または組み合わせ)は可
視波長についての縦方向色収差について補正される。し
かしながら、接眼レンズ(または組み合わせ)は、以下
に説明するように、走査エラーを最小限に抑えるべく色
補正される。像面湾曲は最小限に抑えられ、無限遠にあ
る可視対象物および接眼レンズの前面から195mmのとこ
ろに位置する有限紫外線対象物に対して種々の色に合わ
される。前方焦点距離は充分に長くて、調整中に接眼レ
ンズが走査ミラーに触れるのを防ぐことができる。
けた。たとえば、ガラスは高品質レンズに製作すること
ができ、しかも比較的容易に製作できなければならなか
った。さらに、レンズは、通常の実験室温度・湿度条件
に耐え、かつ、紫外線レーザおよび可視光線レーザへの
露光に耐えなければならなかった。紫外光を通し、通常
の実験室条件の下でかなりの耐久性があり、長時間の紫
外光露出(200mwのパワーの下で)で曇らず、正当に達
成できるレンズ表面湾曲について色補正を行うに充分に
異なったばらつき特性を持つという理由で、石英ガラ
ス、弗化カルシウムがレンズ材料として選ばれた。
ムのレンズ素子はすべて同じ形状であり、所望の品質
(湾曲および厚みについて1%公差)で、ブァーモント
州タウンゼンド市のJanos Technology,Inc.から素材と
して入手可能である。しかしながら、弗化カルシウムの
レンズ素子についての対称性制限を緩和し、注文仕様で
研削することによって単色収差の改善を(或る程度のコ
ストをかけて)達成することができると考えられてい
た。これは一連のセカンドジェネレーション設計で行わ
れた。
れらはファーストジェネレエション設計との次のような
差異を特徴とする。まず、これらのセカンドジェネレー
ション設計は、弗化カルシウム素子が任意特定の形状で
あるという制限を受けない。次に、接眼レンズの最後の
2つの素子の順序が逆にされ、弗化カルシウム素子(幾
分湿度に敏感である)のいずれもが大気に露出すること
がなくなる。この方向に沿って、アダプタレンズは余分
なシリカ素子を備え、色収差を減らし、弗化カルシウム
素子を密封する。これらのセカンドジェネレーション設
計は、倒立顕微鏡の場合には6.25x、8x接眼レンズおよ
びアダプタ(共に同じアダプタ)を包含し、直立顕微鏡
の場合には8x接眼レンズを包含する。
の光学的構成図である。このレンズの幾何学的、光学的
パラメータは表4に記載してある。表面1は走査鏡の位
置および接眼レンズの前方焦点面にある。表面14は、接
眼レンズが光線を合焦する平面、すなわち、アダプタレ
ンズの前方焦点面(表4には含まれていないが、8x接眼
レンズのためのアダプタレンズと同じパラメータを持
つ)に対応する平面にある。1、14のような表面は空気
中の平面であり、便宜上10000mmの半径を持つものとす
る。
ズ、アダプタレンズの光学的構成図である。これらのレ
ンズの幾何学的および顕微鏡のパラメータは表5に記載
してある。表面1は、走査鏡の位置および接眼レンズの
前方焦点面にある。表面14は、接眼レンズが光線を合焦
する平面、すなわち、アダプタレンズの前方焦点面に対
応する平面にある。表面21は対物レンズの後方アパーチ
ャ付近に位置する。
光学的構成図である。このレンズの幾何学的および顕微
鏡のパラメータは表6に記載してある。表面1は走査鏡
の位置および接眼レンズの前方焦点面にある。表面14は
接眼レンズが光線を合焦する平面にある。表面15は対物
レンズの後方アパーチャ付近に位置する。
ーおよびこの問題を処理する方法を示す光学的スケッチ
である。
して合焦エラーを生じさせるかを示している。これは倒
立顕微鏡実施例に関連して図示してあるが、問題および
解決策は直立顕微鏡実施例にとっても同じである。一層
詳しくは、入射平行紫外線励起光線は、入射可視光線が
合焦するであろう平面15から上手側に変位した平面15u
における焦点に入射するように破線で示してある。平面
15における点から発散する可視光はこれらのレンズによ
って平行にされてから検出器に到達する。しかしなが
ら、平面15u(紫外線が合焦する平面)から発する可視
光はその戻りにおいてレンズによって平行にされず、検
出器に到達する前に発散する。上述したように、合焦用
ビームエキスパンダ60および紫外線補正レンズ65を使用
して縦方向色収差を補正すると便利である。
外線励起光線(破線で示す)を同じ平面15(ここから発
した実線で示す可視光がレンズによって平行にされ、検
出される)に合焦させるかを示している。これは、接眼
レンズ27′の前の焦点(紫外線がレンズと遭遇するとき
に発散する)まで紫外線を移動させることによって達成
される。これらのレンズは紫外線についての縦方向色収
差を補正せず、紫外光は平面15に合焦する。ここで、図
示の可視光が可視励起光線に等しく一致する可能性があ
るということに注目されたい。
線補正レンズ65をどのように調節して紫外線焦点の位置
を変え、ビーム倍率を大きくして対物レンズの後方アパ
ーチャの充満度を高めるかを示している。第9C図は、ビ
ームエキスパンダ60が広がって平行になった光線を与え
る。第9D図は、発散する光線を与えるようにビームエキ
スパンダをどのように調節すれば、紫外線焦点の位置を
変えることができるのかを示している。第9E図は、より
強いレンズを用いて紫外線焦点を有効位置に変位させ得
る方法を示している。
よびこの問題を処理する方法を示す光学的スケッチであ
る。
のように影響するかを示している。この問題は、縦方向
(合焦)エラーとは別のものであり、上述したように考
慮したものと仮定する。これは倒立顕微鏡実施例に関連
して図示してあるが、問題は直立顕微鏡実施例にとって
も同じである。共焦点動作の場合、紫外線励起(破線で
示してある)から生じる戻り可視光(実線で示してあ
る)は、走査光学素子に遭遇したときに、走査光学素子
を出たときに移動した励起光と同じ経路に沿って移動し
なければならない。図に示したときに、この条件はレン
ズにおける色効果により大きな走査角で受け入れられ、
可視光は、最大紫外線励起の点から側方に変位した点か
ら集められる。この種の走査エラーは、像面を横切って
著しい強度低下を生じさせる。
る方法を示す光学的すけっちである。これは、対象物点
80からの紫外光および可視光を接眼レンズ27′およびア
ダプタレンズ30′によって色収差無しの結像点82に合焦
させることによって達成される。この場合、対象物点は
最後の走査鏡の位置に対応し、結像点はテロン−対物レ
ンズの組み合わせの中心付近に点に対応する。ファース
トジェネレエション設計では、対象物点は接眼レンズの
前面から約18mmであり、色収差無し結像点はアダプタレ
ンズの後面から167.3mmである。セカンドジェネレーシ
ョン6.25x設計では、対応する距離は約13.5mm、148.2mm
である。セカンドジェネレーション8x設計では、対応す
る距離は約21.2mm、151.5mmである。
合するものではなく、縦方向色収差が上述したように紫
外線補正レンズおよび合焦用ビームエキスパンダによっ
て処理されるということに注意されたい。この最適化を
実施する方法は次の通りである。接眼レンズは、(a)
逆方向における可視色および平行紫外光が同じ点に合焦
し、(b)順方向における可視平行光のすべての色が大
小の走査角について同じ平面に合焦するように補正され
る。アダプタレンスは、(a)順方向における平行な紫
外光、可視光が結像点82に色収差無しに合焦し、(b)
アダプタレンズに向かって逆方向に移動する平行可視光
が大小の走査角について共通の前方焦点面(アダプタレ
ンズと接眼レンズの間に位置する)に合焦するように最
適化される。さらに、この光学系は可視光のすべての色
についてほぼ色収差無しである。
る方法を示す光学的スケッチである。これは、対象物点
85からの紫外光、可視光を27″で示す接眼レンズによっ
て結像点87に合焦させることによって達成される。この
場合、対象物点は最後の走査鏡の位置に対応し、結像点
は対物レンズの中心付近の点に対応する。ファーストジ
ェネレエション設計では、対象物点は接眼レンズの前面
から32mmであり、色収差無し結像点は接眼レンズの後面
から178.25mmである。セカンドジェネレーション8x設計
では、対応する距離は約27.3mm、160mmである。
る種々の波長は同じ点82(または87)に正確に合焦する
ことはない。この制限は最適化過程において処理しなけ
ればならない多くの制限のうちの1つだからである。こ
うして、基準波長に対して、各所定の波長は、所定波長
の焦点と基準波長の焦点の間の縦方向の距離を表わす色
走査焦点エラー(Δf)によって特徴付けられる。
義)に対して330nm、656nmの場合の色走査焦点エラー
(Δf)を示している。比較の目的で用いられた第1レ
ンズ(接眼レンズ#1)は、単色収差について最適化さ
れてはいるが、走査色収差については最適化されていな
い4素子石英ガラス接眼レンズである。他の3つは6.5x
ファーストジェネレエション接眼レンズと6.25x、8xセ
カンドジェネレーション接眼レンズであり、これらはす
べて倒立顕微鏡用である。
計と組み合わせ、種々の波長の光線を光学素子を通して
走査線に沿ってトレースした。色走査焦点エラー(Δ
f)は494nmの基準波長を用いて決定した。Δfは未補
正の石英ガラス接眼レンズの場合に紫外線波長で1イン
チより大きく、本発明に従って補正した接眼レンズの場
合に数ミリメートルまで低下した。表8が6.25x接眼レ
ンズの場合の付加的な波長のΔfを示している。
要求する色補正よりも25%低い色補正を必要とすること
を薄肉レンズ等式が示している。しかしながら、色エラ
ーはより長い焦点距離の6.5x接眼レンズを設計すること
によって半分にした場合より大きい(表8の接眼レンズ
#2、#3を比較)。8x設計は6xと同じ色補正を達成す
るにはより強い表面湾曲を必要とし、単色収差を許容で
きないほど大きい値まで増大させる。したがって、8x接
眼レンズの場合には色補正は必ず減らされた。接眼レン
ズ#3(6.5x)の色収差は最小量であったが、かなりの
ひずみによってフレアが生じ、接眼レンズ#4(6.25
x)を作るために再設計した。接眼レンズ#4の場合、
色補正は単色補正を最適化するように妥協した。
主として接眼レンズにおいて達成されるように思える。
実際、いくつかの試験で、紫外線も透過させる市販の可
視色消しレンズがファーストジェネレエションのアダプ
タレンズよりも幾分良好に作動し、ほぼセカンドジェネ
レーションのアダプタレンズと同様に作動することを示
した。
り、或る程度の残量は許容することが多い。たとえば、
すべての波長が同じ程度の像面湾曲を受けたと仮定する
と、サンプル面が平面とならず、やや湾曲した面とな
る。基本的には、このことは問題とはならない。やや湾
曲した部分は一般的に完全に平らな面と同じ有用な情報
を与えるからである。
ないときに現実的な問題が生じる。この場合、像面の中
心から外れた点について、紫外線励起は可視蛍光と共焦
点となることがない。むしろ、検出器に達する可視光が
合焦ビームスポットから離れた点から発する可視光とな
り、かなり強度の低いものとなる。これは縦方向合焦エ
ラーが補正されない場合に生じる問題と同じであるが、
ただしその結果は像面を横切って均一とはならず、像面
の中心から離れるにつれて増大する。
し、紫外波長、可視波長について同じ形状となる像面を
優先的に達成することによって処理される。
(上部3曲線)と接眼レンズ#3の像面湾曲の計算プロ
ット(下部3曲線)を示しており、これら接眼レンズは
それぞれ理論160mmアダプタレンズと理論対物レンズと
組み合わされている。ここには、対物レンズ単独のプロ
ットも示してある(3本のほとんど一致した曲線)。サ
ンプル面での像面湾曲は、理論肉厚レンズのもでる(OP
TECプログラムを用いる)を通して増分走査角毎に光線
をトレースすることによって計算した。走査角が増分す
るにつれて、対物レンズ焦点の二乗平均位置を軸線方
向、半径方向において記録し、プロットした。全光学縦
列を設計するために、理論的に無限補正した10x対物レ
ンズ(可視光の場合には色消しであり、紫外光の場合に
は或る程度の残留色収差がある)を弗化カルシウムと石
英ガラスから作った。同様の色特性を持つ160mmレンズ
も作った。3種の波長、すなわち、赤(656nm)、青(4
88nm)および紫外(330nm)で光学系を通る光線をとれ
えすした。弗化カルシウム/石英ガラス接眼レンズの色
収差は、無補正の石英ガラス接眼レンズで生じるエラー
に比べて、側方倍率エラー(Δy)および像面湾曲エラ
ー(Δz)を劇的に低下させた。
よび10x対物レンズの顕微鏡についての視野の縁付近で
の側面湾曲エラー、倍率エラーを計算して得たプロット
を示している。垂直軸線は光線方向に沿ったスポットの
位置を表わしている。水平軸線はスポットの横方向位置
を表わしている。3列のプラス記号は4素子石英ガラス
対物レンズの場合の赤(上部)、青および紫外(下部)
について行った測定の結果を表わしている。或る特定の
走査角で3つの波長のそれぞれについての測定値をグル
ープ分けしてある。点間の垂直方向距離は、その角での
波長間の像面湾曲エラーを表わしており、水平方向の距
離は倍率エラーを表わしている。
方にグループ分けしてある)について補正6素子6.5x接
眼レンズで行った測定の結果を表わしている。ここでわ
かるように、補正接眼レンズの場合、像面湾曲エラーお
よび倍率エラーはかなり小さい。倍率エラーは、100x対
物レンズの場合、像面湾曲エラーを左右するが、10x対
物レンズの場合にはその逆となる。これらのエラーは40
x対物レンズのものに匹敵する。
外光で励起したフルオレセイン染料の厚いスラブの中心
を通して共焦点セクションを集めた。曲線は像面の中心
を通して描かれた蛍光像のプロファイルにぴったり合っ
た。次に、曲線をやや変位させてそれらのピークを一致
させた。(ピーク変位は小ミラー・アラインメント差に
よって生じた。)全視野は768画素であった。第13A図
は、色補正接眼レンズ#3の場合の紫外光または可視光
励起での蛍光像面輝度(曲線a.vおよびa.uv)ならびに
色補正接眼レンズ#1の場合の紫外光または可視光励起
での蛍光像面輝度(曲線b.vおよびb.uv)を示してい
る。ここでわかるように、像面を横切る像強度は色補正
接眼レンズによって劇的に改善される。第13B図は、接
眼レンズ#1および100x、40x、10xオリンパス対物レン
ズを用いて集めたデータを示している。ここでわかるよ
うに、像面強度は対物レンズの度を高めることによって
改善した。
ズを設置することによって改善される。平行にされた励
起レーザ光は、接眼レンズおよび対物レンズを通り、励
起点に合焦する。回析制限三次元点広がり関数(psf)
の強度分布に従って励起点まわりの領域において発蛍光
団が励起される。光はこの同じ強度分布に沿って対物レ
ンズによって集められ、励起点まわりにほぼ対称的な幾
分幅の狭い共焦点psfを生じる。単純なピンホール式共
焦点顕微鏡においては、psf像の中心はピンホールに合
焦し、対物レンズ焦点の上下の平面からの光はほぼ対称
的に阻止される。上述した特別な顕微鏡においては、ps
f像の中心からの光は無限遠に合焦し、その結果、対物
レンズ焦点の上下の平面からの光が非対称的に阻止され
る。
ンズ等式を用いて、励起点付近の光軸に沿った種々の点
から発せられた光について計算した。各点から集められ
た強度の比率は、I=(rp/rΔ)2に従って平行光束の
幅に設定されたアパーチャについて計算される。この式
において、rpはピンホールの半径であり、励起点からの
平行光束の半径に設定し、rΔは焦点外の点からピンホ
ールに発散あるいは収束している光の半径である。1よ
り大きい値は1に短縮した(これはすべての光がPMTに
集まったことを示す)。こうしてできたピンホール集束
関数(pcf)の中心が光軸に沿ってpsfの中心を通って変
位することがわかった。ピンホールが開いたり閉じたり
するときに、pcfはその中心まわりに広がったり縮んだ
りする。pcfの中心からの光線はピンホールに合焦し
た。40x対物レンズの場合、6x接眼レンズを用いている
ときには、光学セクションは、最大励起点からpsfの中
心にすべての光が集まる10x接眼レンズからのセクショ
ンの2倍よりも大きな幅となることがわかった。
られる。理論的な解像度を得るためには、pcfはナイキ
スト・サンプリング判定基準を満たす理論的解像度の幅
の少なくとも半分でなければならない。pcfは、一般
に、psfと異なった形を持ち、その結果、軸線方向より
も半径方向に最大の解像度を得るにはより小さいピンホ
ールを用いなければならない。理論的な軸線方向解像度
を得るためにピンホールの寸法を縮めた場合には、pcf
はその中心まわりに縮まり、psfからの励起された光の
大部分が阻止されることになる。
計算するのに薄肉レンズ等式を用いた。理論的な側方解
像度は、この構成では、10x接眼レンズで得ることがで
き、6x接眼レンズでは得られないことがわかった。同様
の計算を6x、8x、10xの接眼レンズと共に100x、40x、20
x、10xの対物レンズについて行った。モデルの10x接眼
レンズは、10x対物レンズ以外のすべてについて理論的
な軸線方向、半径方向解像度を得ることができたが、最
適度数については得られなかった。8x接眼レンズの解像
度は、40x対物レンズについては限界であり、10x対物レ
ンズについては不充分であった。6x接眼レンズのみが10
0x対物レンズでの理論的解像度を得た。
ラーとピンホールの間に1000mmレンズを設置して励起ス
ポットの中心からの平行光線をピンホールに合焦させ
た。この方法は軸線方向pcfの中心を軸線方向psfの中心
へ変位させ、ピンホールを任意の寸法に縮め、しかもな
お、試料における最大励起点から光を集めることができ
る。
た光の強度を40%まで強める。焦点外の光を集めること
は、焦点内の光の若干量を阻止するほどの大きな問題と
ならない。アパーチャが戻る途中の平行光束の幅よりも
小さいからである。最終的な効果は、解像度を維持ある
いは増強しながら小さいアパーチャのところで光の強度
を高めるということにある。この基本的な設計(接眼レ
ンズおよび長い戻り経路を含む)により、ピンホールの
代わりにアイリス絞りを用いることの利点が長いレンズ
を戻り専用経路に挿入された場合でも達成される。
接眼レンズ組み合わせの場合に、ピンホールでのpsf F
WHMMの倍率を0.5mm(可変アパーチャの実際の限界)よ
り低い値に低下させた。したがって、単レンズの代わり
に、psf像をアパーチャに合焦させ、この像の側方FWHM
をすべての対物レンズについて0.5mmよりも大きい寸法
に倍増するように設計した2レンズ光学素子を用いた。
この設計は理論的な共焦点解像度を得るために色補正6x
接眼レンズ設計を使用できることを予測させる。
線まで敷衍させる経済的かつ効果的な技術を提供すると
いうことを理解されたい。
が、種々の改造、代替構造および代替物を使用できる。
たとえば、戻り専用経路を単一のビームスプリッタと2
つの検出器を備えたものとして説明したが、第2のビー
ムスプリッタおよび第3の検出器を追加して顕微鏡の紫
外線能力をより充分に発揮させることもできる。さら
に、倒立顕微鏡実施例における対物レンズをテロンレン
ズとの組み合わせで示したが、テロンレンズなしに無限
補正対物レンズを用いてもよい。
限定するものではなく、本発明の範囲は添付の請求の範
囲によってのみ定義されるものである。
Claims (18)
- 【請求項1】紫外線ビームを発する紫外線源手段と、 可視光検出器と、 前記光検出器の有効寸法を制限する手段と、 前記紫外線源からサンプル領域までの順方向経路が順方
向専用セグメントと共通経路セグメントからなり、前記
順方向経路に沿って前記紫外線ビームを送る手段と、 前記サンプル領域から前記可視光検出器までの戻り経路
が前記共通経路セグメントと戻り専用セグメントからな
り、前記戻り経路に沿って可視光を送る手段と、 前記共通経路セグメントにあり、前記紫外線ビームを前
記サンプル領域におけるスポットに合焦する合焦手段
と、 前記共通経路セグメントにあり、前記紫外線ビームが前
記合焦手段に遭遇する角度を変えて前記サンプル領域に
おける前記スポットの位置を変える走査手段と、を包含
し、 前記合焦手段が、紫外光が所与の角度で前記走査手段を
出て、前記サンプル領域の所与の位置に合焦する場合
に、この所与の位置から発する可視光が同じ所与の角度
で前記走査手段に遭遇するように色収差による走査エラ
ーについて補正してあることを特徴とする走査共焦点顕
微鏡 - 【請求項2】前記合焦手段が可視光と紫外光の間で縦方
向に色収差ありであり、前記スポットから発する可視光
が前記合焦手段を出るときに平行にされ、 前記順方向専用セグメントが、前記紫外線ビームが前記
合焦手段に遭遇するときにこれを発散させるように配置
した手段を包含することを特徴とする請求の範囲第1項
に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項3】前記合焦手段が接眼レンズと対物レンズと
からなることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の走
査共焦点顕微鏡。 - 【請求項4】前記合焦手段が接眼レンズ、アダプタレン
ズ、テロンレンズおよび対物レンズからなることを特徴
とする請求の範囲第1項に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項5】前記光検出器の有効寸法を制限する前記手
段がアイリス絞りを包含することを特徴とする請求の範
囲第1項記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項6】前記合焦手段の一部であるアダプタレンズ
を含む接眼レンズまたは接眼レンズが対象物点と結像点
の間で可視光および紫外光について色収差の補正がして
あることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の走査共
焦点顕微鏡。 - 【請求項7】前記対象物点が前記紫外線ビームが前記走
査手段を出る点またはその近傍にあることを特徴とする
請求の範囲第6項に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項8】前記紫外線源手段と共焦点である可視光源
を包含することを特徴とする請求の範囲第1項に記載の
走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項9】前記合焦手段が可視光と紫外光の間で縦方
向に色収差があり、前記順方向専用セグメントが可視光
と紫外光の間の縦方向色収差を補正するように配置した
手段を包含することを特徴とする請求の範囲第1項に記
載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項10】紫外線ビームを順方向経路に沿ってサン
プル領域に送る紫外線照射サブシステムと、戻り経路に
沿って前記サンプル領域から送られてきた可視光を検出
する可視光サブシステムとを包含し、 前記紫外線照射サブシステムおよび可視光システムがビ
ームスキャナと合焦光学素子を含む共有要素を有し、 前記合焦光学素子が前記紫外線ビームを前記サンプル領
域のスポットに合焦させると共にこのスポットから発す
る可視光を集めるように作動し、 前記ビームスキャナが前記サンプル領域の前記スポット
の位置を変えるように作動し、 前記合焦光学素子が、紫外光が所与の角度で前記ビーム
スキャナを出て、前記サンプル領域の所与の位置に合焦
する場合に、この所与の位置から発する可視光が同じ所
与の角度で前記ビームスキャナに遭遇するように色収差
による走査エラーについて補正してあること を特徴とする走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項11】前記合焦光学素子が接眼レンズと対物レ
ンズからなることを特徴とする請求の範囲第10項に記載
の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項12】前記接眼レンズが対象物点と結像点の間
で可視光および紫外光について色収差が補正されている
ことを特徴とする請求の範囲第11項に記載の走査共焦点
顕微鏡。 - 【請求項13】前記対象物点が前記紫外線ビームが前記
ビームスキャナを出る点またはその近傍にあることを特
徴とする請求の範囲第12項に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項14】前記合焦光学素子が接眼レンズ、アダプ
タレンズ、テロンレンズおよび対物レンズを包含するこ
とを特徴とする請求の範囲第10項に記載の走査共焦点顕
微鏡。 - 【請求項15】前記接眼レンズおよびアダプタレンズが
対象物点と結像点の間で可視光および紫外光について色
収差が補正されていることを特徴とする請求の範囲第14
項に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項16】前記対象物点が、前記紫外線ビームが前
記ビームスキャナを出る点またはその近傍にあることを
特徴とする請求の範囲第15項に記載の走査共焦点顕微
鏡。 - 【請求項17】前記可視光サブシステムが可視光検出器
とアイリス絞りとを包含することを特徴とする請求の範
囲第9項に記載の走査共焦点顕微鏡。 - 【請求項18】前記合焦光学素子が可視光と紫外光の間
で縦方向色収差があり、 前記紫外線サブシステムが可視光と紫外光の間の縦方向
色収差を補正するように、前記可視光サブシステムと共
有しない少なくとも1つのレンズを包含することを特徴
とする請求の範囲第9項に記載の走査共焦点顕微鏡。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US68342891A | 1991-04-10 | 1991-04-10 | |
| US683,428 | 1991-04-10 | ||
| PCT/US1992/002923 WO1992018850A1 (en) | 1991-04-10 | 1992-04-08 | Confocal imaging system for visible and ultraviolet light |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06506538A JPH06506538A (ja) | 1994-07-21 |
| JP3280969B2 true JP3280969B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=24744003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50939392A Expired - Fee Related JP3280969B2 (ja) | 1991-04-10 | 1992-04-08 | 可視光および紫外光の共焦点結像装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0579724B2 (ja) |
| JP (1) | JP3280969B2 (ja) |
| CA (1) | CA2106296C (ja) |
| DE (1) | DE69229777T3 (ja) |
| WO (1) | WO1992018850A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3324780B2 (ja) * | 1991-05-16 | 2002-09-17 | オリンパス光学工業株式会社 | 紫外線顕微鏡 |
| DE4324681C2 (de) * | 1993-07-22 | 1997-09-04 | Hell Stefan | Verfahren zur optischen Anregung eines Energiezustands einer Probe in einem Probenpunkt und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| DE4330347C2 (de) * | 1993-09-08 | 1998-04-09 | Leica Lasertechnik | Verwendung einer Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens zweier Spektralbereiche eines Lichtstrahls |
| US5886784A (en) * | 1993-09-08 | 1999-03-23 | Leica Lasertechink Gmbh | Device for the selection and detection of at least two spectral regions in a beam of light |
| DE4416558C2 (de) * | 1994-02-01 | 1997-09-04 | Hell Stefan | Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| DE4446185C2 (de) * | 1994-08-25 | 1997-03-27 | Leica Lasertechnik | Vorrichtung zum Einkoppeln eines UV-Laserstrahls in ein konfokales Laser-Scanmikroskop |
| WO1996006377A1 (de) * | 1994-08-25 | 1996-02-29 | Leica Lasertechnik Gmbh | Vorrichtung zum einkoppeln des lichtstrahls eines uv-lasers in ein laser-scanmikroskop |
| US5847400A (en) * | 1996-02-01 | 1998-12-08 | Molecular Dynamics, Inc. | Fluorescence imaging system having reduced background fluorescence |
| FR2754341B1 (fr) * | 1996-10-04 | 1998-12-24 | Dilor | Appareil d'analyse spectrale apte a fonctionner dans plusieurs domaines spectraux de longueurs d'onde differentes |
| US6510001B1 (en) | 1998-02-19 | 2003-01-21 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Optical arrangement with a spectrally selective element |
| PL343896A1 (en) | 1998-04-20 | 2001-09-10 | Basf Ag | New substituted amides, their production and their use |
| DE19951482C2 (de) | 1999-10-26 | 2003-01-09 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Fluoreszenzmikroskop |
| EP1334338A4 (en) * | 2000-10-12 | 2008-03-19 | Amnis Corp | PICTURE AND ANALYSIS OF PARAMETERS OF SMALL MOBILE OBJECTS, SUCH AS CELLS, FOR EXAMPLE |
| DE10156506C1 (de) | 2001-11-16 | 2003-05-22 | Leica Microsystems | Verfahren zur Erzeugung eines mehrfarbigen Bildes und Mikroskop |
| DE10231543B3 (de) * | 2002-07-11 | 2004-02-26 | Universität Siegen | Konfokale 3D-Scanning Absorption |
| JP2009080502A (ja) * | 2008-12-05 | 2009-04-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | 走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法 |
| JP6335160B2 (ja) * | 2012-04-13 | 2018-05-30 | バイオアキシアル エスエーエス | 光学測定方法および光学測定装置 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3598471A (en) * | 1968-11-22 | 1971-08-10 | Corning Glass Works | Optical contrast enhancement system |
| US4656358A (en) * | 1985-03-12 | 1987-04-07 | Optoscan Corporation | Laser-based wafer measuring system |
| NL8700612A (nl) * | 1987-03-13 | 1988-10-03 | Tno | Confocale laserscanning microscoop. |
| JPS63306413A (ja) * | 1987-06-09 | 1988-12-14 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型光学顕微鏡 |
| FR2626383B1 (fr) * | 1988-01-27 | 1991-10-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede de microscopie optique confocale a balayage et en profondeur de champ etendue et dispositifs pour la mise en oeuvre du procede |
| US5032720A (en) * | 1988-04-21 | 1991-07-16 | White John G | Confocal imaging system |
| US5091652A (en) * | 1990-01-12 | 1992-02-25 | The Regents Of The University Of California | Laser excited confocal microscope fluorescence scanner and method |
-
1992
- 1992-04-08 JP JP50939392A patent/JP3280969B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1992-04-08 CA CA002106296A patent/CA2106296C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-04-08 WO PCT/US1992/002923 patent/WO1992018850A1/en not_active Ceased
- 1992-04-08 DE DE69229777T patent/DE69229777T3/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-04-08 EP EP92909758A patent/EP0579724B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69229777T3 (de) | 2010-12-30 |
| EP0579724B1 (en) | 1999-08-11 |
| CA2106296C (en) | 2002-03-26 |
| DE69229777T2 (de) | 1999-12-30 |
| EP0579724A1 (en) | 1994-01-26 |
| DE69229777D1 (de) | 1999-09-16 |
| JPH06506538A (ja) | 1994-07-21 |
| EP0579724B2 (en) | 2010-04-28 |
| EP0579724A4 (en) | 1994-03-23 |
| CA2106296A1 (en) | 1992-10-11 |
| WO1992018850A1 (en) | 1992-10-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5260578A (en) | Confocal imaging system for visible and ultraviolet light | |
| JP3280969B2 (ja) | 可視光および紫外光の共焦点結像装置 | |
| JP6996048B2 (ja) | 広視野高分解能顕微鏡 | |
| EP3742216B1 (en) | Optical arrangement for oblique plane microscopy | |
| US5646411A (en) | Fluorescence imaging system compatible with macro and micro scanning objectives | |
| US6028306A (en) | Scanning microscope | |
| US7170675B2 (en) | Method and system for wide-field multi-photon microscopy having a confocal excitation plane | |
| JP6596001B2 (ja) | 多焦点多光子イメージングシステム及び方法 | |
| US7554664B2 (en) | Laser scanning microscope | |
| CN109477954A (zh) | 具有相位调制元件的scape显微术和图像重构 | |
| JP2011118264A (ja) | 顕微鏡装置 | |
| CN111077078A (zh) | 一种结合自适应再扫描技术的双光子显微成像系统 | |
| US12272037B2 (en) | Dual-mode restoration microscopy | |
| JP5495740B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
| US20080116392A1 (en) | Method and system for wide-field multi-photon microscopy having a confocal excitation plane | |
| US20060214106A1 (en) | Point scanning laser scanning microscope and methods for adjustment of a microscope | |
| US20150253556A1 (en) | Confocal Incident-Light Scanning Microsope For Multipoint Scanning | |
| US12235426B2 (en) | Confocal laser scanning microscope configured for generating line foci | |
| JP2006301541A (ja) | 走査型蛍光観察装置 | |
| JP4874012B2 (ja) | レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法 | |
| JP2008026643A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090222 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100222 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110222 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120222 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |