[go: up one dir, main page]

JP3267661B2 - 連続試験装置 - Google Patents

連続試験装置

Info

Publication number
JP3267661B2
JP3267661B2 JP08392892A JP8392892A JP3267661B2 JP 3267661 B2 JP3267661 B2 JP 3267661B2 JP 08392892 A JP08392892 A JP 08392892A JP 8392892 A JP8392892 A JP 8392892A JP 3267661 B2 JP3267661 B2 JP 3267661B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
equipment
connector
test
automatic test
system controller
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08392892A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05281103A (ja
Inventor
宏蔵 久保
賢 西脇
慎一 野々目
弘道 久保田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ANA Holdings Inc
Original Assignee
All Nippon Airways Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by All Nippon Airways Co Ltd filed Critical All Nippon Airways Co Ltd
Priority to JP08392892A priority Critical patent/JP3267661B2/ja
Publication of JPH05281103A publication Critical patent/JPH05281103A/ja
Priority to US08/431,724 priority patent/US5541504A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3267661B2 publication Critical patent/JP3267661B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31907Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B64AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
    • B64FGROUND OR AIRCRAFT-CARRIER-DECK INSTALLATIONS SPECIALLY ADAPTED FOR USE IN CONNECTION WITH AIRCRAFT; DESIGNING, MANUFACTURING, ASSEMBLING, CLEANING, MAINTAINING OR REPAIRING AIRCRAFT, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; HANDLING, TRANSPORTING, TESTING OR INSPECTING AIRCRAFT COMPONENTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B64F5/00Designing, manufacturing, assembling, cleaning, maintaining or repairing aircraft, not otherwise provided for; Handling, transporting, testing or inspecting aircraft components, not otherwise provided for
    • B64F5/60Testing or inspecting aircraft components or systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31905Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Transportation (AREA)
  • Aviation & Aerospace Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、航空機の装備品を試
験する自動試験装置と組み合わせて、同種類の装備品を
無人で連続して、複数台試験又は、繰り返し試験を実施
することができる連続試験装置に関する。
【0002】
【従来の技術】航空機の自動操縦用コンピューター等の
装備品を試験するために自動試験装置が用いられてい
る。自動試験装置とは、一台の装備品の機能試験を自動
的に行なう自動計測装置である。
【0003】自動試験装置による試験は次の順序で行な
われる。 (1)作業者は、まず、機能試験を行なうための航空機
の装備品を自動試験装置のコネクターに接続する。一般
に、自動試験装置に一度に接続できる装備品の数は一台
である。 (2)作業者は、試験をする装備品のテストプログラム
を選択し、自動試験装置に入力する。テストプログラム
には、装備品の試験内容がプログラムされている。 (3)作業者は、自動試験装置にテストプログラムの実
行を開始させる。 (4)自動試験装置は、テストプログラムの実行を開始
すると、テストプログラムの実行途中で、装備品の型式
番号、製造番号、作業者名、試験日時等のデータの入力
を作業者に要求する。 (5)作業者は、前記データを自動試験装置に入力す
る。 (6)その後、自動試験装置はテストプログラムを続行
し装備品の機能試験を終了する。 (7)作業者は、装備品の機能試験が終了すると、自動
試験装置から装備品を取り外す。機能試験をすべき装備
品が複数ある場合は、次の装備品を自動試験装置に装着
して前記手順を繰り返す。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、自動試験装
置には、一度に一台の装備品しか装着できないため、複
数台の装備品の機能試験をする場合には、作業者が、試
験の終了した装備品を自動試験装置から取り外し、次の
装備品を装着しなければならず、人手がかかるという問
題があった。又、自動試験装置がテストプログラム実行
中に、装備品の型式番号、製造番号、作業者名、試験日
時等のデータ入力を作業者に要求するため、作業者は、
テストプログラム実行中に自動試験装置のそばにいて、
これらのデータを入力しなければならないという問題が
あった。
【0005】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、複数
台の装備品の機能試験を自動試験装置に無人で行なわせ
る連続試験装置を提供することを目的とする。
【0006】本発明は、前記課題を解決するために、自
動試験装置に用いることができる連続試験装置を、装備
品が装着されるマウント装置と、装備品の機能試験を行
なう自動試験装置を装備品に着脱するコネクターを有す
るコネクター装置と、コネクター装置に装備品との着脱
の制御信号を発生しかつ自動試験装置からの要求に応じ
て自動試験装置にデータ入力信号を発生するシステム・
コントローラーとから構成した。
【0007】
【作用】本願発明の連続試験装置は、コネクター装置が
自動試験装置に装備品を自動的に着脱し、システム・コ
ントローラーが自動試験装置の要求に応じて自動試験装
置へ入力データを自動的に送信する。
【0008】
【実施例】以下、図示の実施例によって本発明を詳細に
説明する。
【0009】図1は、本発明による連続試験装置1の構
成を示す概略構成図である。
【0010】連続試験装置1は、システム・コントロー
ラー2と、マウント装置3と、キーボード・インターフ
ェイス4と、ディスプレイ・インターフェイス5とから
成る。
【0011】システム・コントローラー2は、コネクタ
ー装置7を制御して、自動試験装置6にマウント装置3
に装着された装備品(被試験物)を自動的に着脱する。
また、自動試験装置6がテストプログラムを実行すると
きに、自動試験装置のコントローラー8へ入力データ信
号を送りテストプログラムを実行させる。
【0012】コネクター装置7は、システム・コントロ
ーラー2からの指令を受けて、自動試験装置6に装備品
を自動的に着脱する。装備品へのコネクター装置7のコ
ネクターの着脱に際しては、センサーにより安全性のモ
ニターを行ない、異常が発生した場合は、コネクター装
置7からシステム・コントローラー2へ警告信号を送信
する。システム・コントローラー2は、警告信号を受け
ると、コネクター装置7を停止するための停止信号をコ
ネクター装置7へ送信する。
【0013】自動試験装置6による装備品の試験では、
試験途中で装備品の型式番号や製造番号等の入力データ
をシステム・コントローラー2から自動試験装置のコン
トローラー8へ送信する必要がある。キーボード・イン
ターフェイス4は、システム・コントローラー2からの
入力データに関する信号を自動試験装置のコントローラ
ー8への実際のキーボード信号に変換する働きをする。
【0014】ディスプレイ・インターフェイス5は、自
動試験装置のコントローラー8に内蔵されている。自動
試験装置6での装備品の試験では、作業者に対するメッ
セイジが自動試験装置のコントローラー8の画面に表示
され、作業者のキー入力を待つ状態でテストプログラム
が停止する。従って、自動的に試験を続行するには、こ
のメッセイジをシステム・コントローラー2で解読する
必要がある。ディスプレイ・インターフェイスは、自動
試験装置のコントローラー8からのメッセイジをシステ
ム・コントローラー2が解読可能な信号に変換させる働
きをする。
【0015】以下、本発明による連続試験装置1の操作
を説明する。まず、作業者は、図2に示すように、試験
を実施する装備品9,10,11をマウント装置3のレ
フト、センター、ライトのそれぞれの位置に装着し、ボ
ルト等の留め具で位置を固定する。本実施例では、装備
品が3個の場合について説明するが、装備品の数は4個
以上であってもよい。
【0016】次に、システム・コントローラー2、マウ
ント装置3、キーボード・インターフェイス4の順にパ
ワー・オンする。マウント装置3のパワーをオンにして
から約20秒後に、操作パネル上のINITスイッチ・
ランプが点灯する。ランプが点灯したらそのINITス
イッチを押し、マウント装置3上のコネクター装置7の
コネクター・テーブル12を原点復帰し、基準となる位
置を決める。作業者は、原点復帰した後INITスイッ
チ・ランプが消灯するのを確認する。コネクター・テー
ブル12は、マウント装置3上のレール13に沿って、
駆動軸14により移動する。
【0017】システム・コントローラー2のパワーをオ
ンにすることにより、連続試験装置1のプログラムが自
動的に起動する。システム・コントローラー2の動作を
図3乃至図5により説明する。システム・コントローラ
ー2は、パワー・オンによりスタートし、ステップS1
で初期画面を表示する。作業者は画面の指示に従って試
験をする装備品の位置、データ(型式番号、製造番号、
作業者の氏名等)及びテストプログラムを入力する。シ
ステム・コントローラー2は、ステップS2ですべての
データが入力されたことを確認すると、入力されたデー
タをデータベースとしてシステム・コントローラー2に
登録する(ステップS3)。なお、製造番号を入れれ
ば、型式番号を省略できるようにデータベースを作成し
てもよい。又、繰り返し試験をする場合には、繰り返し
試験をする項目、回数、時間等を入力する。繰り返し試
験とは、テストプログラムの試験項目のうちの一部、例
えば全部で100項目あるうちの第2項目から第98項
目までを繰り返し試験するような場合をいう。システム
・コントローラー2は、試験途中で自動試験装置6が作
業者の入力を必要とするときに、キーボード・インター
フェイス4を介して自動試験装置のコントローラ8へデ
ータを送る。
【0018】すべてのデータ入力が完了すると、マウン
ト装置3のそれぞれの位置に装備品9,10,11があ
るかどうか、センサーで確認し、この時のマウント装置
3のステータスをシステム・コントローラー2が読み込
む(ステップS4)。ステップS5でマウント装置3の
ステータスが入力データと合っているか確認し、合って
いれば装備品の連続自動試験を開始する。
【0019】連続自動試験が開始すると、システム・コ
ントローラー2は、マウント装置3上のコネクター・テ
ーブル12を装備品9のあるレフト位置に移動する(ス
テップS6)。システム・コントローラー2は、装備品
の有無を確認する(ステップS7)。装備品が無ければ
ステップS27へ移り次の装備品の試験を行なう。装備
品があることが確認されたら、システム・コントローラ
ー2は、装備品専用テストカードの有無を確認する(ス
テップS8)。装備品及び装備品専用テストカードがあ
れば、コネクター・テーブル12は、モーター15によ
り装備品9の方への移動を開始する(ステップS9)。
装備品9のコネクター9aにコネクター・テーブル12
上のコネクター16をモーター21により上下方向に3
mmほど振りながら接続を開始し、装備品9の専用のテ
ストカード17のコネクター17aにコネクター・テー
ブル12上のコネクター18をモーター22により上下
方向に3mmほど振りながら接続を開始する(ステップ
S10)。ステップS8で装備品専用テストカードがな
いと判定した場合には、ステップS11でコネクター・
テーブル12の駆動を開始した後、装備品9にコネクタ
ー16を上下方向に3mmほど振りながら接続を行なう
(ステップS12)。
【0020】コネクター16には、ピンが600本ほど
あるので、接続には大きな負荷が必要である。しかし、
コネクター16を装備品9に接続するときに過剰な負荷
が掛かると、装置が破損されるので、これを防止するた
めに、オーバートルクセンサで過剰な負荷を検知する
(ステップS13及びステップS14)。オーバートル
クセンサーが作動した場合にはコネクター・テーブル1
2の駆動を停止する(ステップS15)。
【0021】コネクター16及び18は、電線19及び
20により自動試験装置6に接続されている。コネクタ
ーの接続が終了すると(ステップS16及びS17)、
コネクターの振動停止(ステップS18)及びコネクタ
ー・テーブルの駆動を停止し(ステップS19)、自動
試験装置6にテストプログラムを実行させる(ステップ
S20)。システム・コントローラー2は、テストプロ
グラム実行中に自動試験装置6がデータを要求したかど
うかをステップS21で判断する。自動試験装置6から
のメッセイジ信号は、自動試験装置のコントローラー8
のディスプレイ・インターフェイス5によりシステム・
コントローラー2が解読できる信号に変換されてシステ
ム・コントローラー2へ伝達される。システム・コント
ローラー2は、自動試験装置6が要求したデータ(例え
ば、型式番号、製造番号、作業者の氏名等)を入力デー
タ信号として発生する(ステップS22)。この入力デ
ータ信号は、キーボード・インターフェイス4により自
動試験装置のコントローラー8が解読できる信号に変換
されて、自動試験装置のコントローラー8へ伝達され
る。自動試験装置6は、この入力データに基いてテスト
プログラムの実行を継続する。
【0022】システム・コントローラー2は、ステップ
S23で自動試験装置6のテストプログラムが終了した
かどうかを判断し、テストプログラムが終了したとき
は、コネクターを抜くためにコネクター・テーブル12
をモーター15により装備品9から離れる方向に駆動す
る(ステップS24)。このとき、コネクターを真直に
抜くには、大きな力が掛かるので、モーター21により
コネクター16を上下方向に3mmほど振りながら抜く
(ステップS25)。装備品専用テストカードがあれ
ば、テストカード用コネクター18も同様にモーター2
2により上下方向に3mmほど振りながら抜く。コネク
ターを振らせるために、楕円板のカムをモーターで回転
させている。コネクターが抜けたならばコネクター・テ
ーブル12の駆動を停止する(ステップS26)。
【0023】システム・コントローラー2は、装備品9
の試験が終了してコネクターを外したならば、次に試験
すべき装備品があるかどうかを判断する(ステップS2
7)。試験すべき装備品がなければプログラムを終了
し、試験すべき装備品があれば次の装備品の位置へコネ
クター・テーブル12を駆動する(ステップS28)。
本実施例では、次の装備品10のあるセンター位置へと
コネクター・テーブル12を移動し、ステップS7から
ステップS27を繰り返す。
【0024】試験途中で不具合が発生したならば、次の
装備品の試験へ移るようにしても良い。例えば、図6に
示すように、ステップS22とステップS23の間にス
テップS30を設けて、システム・コントローラー2が
テストプログラムの途中で装備品に不具合があることを
検出したときは、ステップS27へ移り、次の装備品の
試験をするようにしても良い。
【0025】又、装備品の試験をする順番を与えておい
ても良い。
【0026】試験終了後にオペレータメッセイジを用紙
に書き出して、試験内容を確認することができるように
するとよい。
【0027】本実施例では、同種の装備品を連続試験す
る装置について述べたが、異種の装備品を連続試験する
ようにすることも出来る。装備品が異なるとコネクター
を変更する必要があるので、コネクター装置7に異なっ
たコネクターを設けても良い。例えば、コネクター装置
を2段にして2種類のコネクターを設ければ、2種類の
装備品を連続的に試験することができる。
【0028】
【発明の効果】本願発明の連続試験装置は、コネクター
装置が自動試験装置に装備品を自動的に着脱し、システ
ム・コントローラーが自動試験装置の要求に応じて自動
試験装置へ入力データを自動的に送信することができる
ので、複数台の装備品の試験を無人で行なうことがで
き、作業性を良くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の連続試験装置の該略図である。
【図2】本発明の連続試験装置のマウント装置とコネク
ター装置を示す斜視図である。
【図3】システム・コントローラーの動作を示すフロー
チャートである。
【図4】システム・コントローラーの動作を示すフロー
チャートである。
【図5】システム・コントローラーの動作を示すフロー
チャートである。
【図6】別の実施例のシステム・コントローラーの動作
を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 連続試験装置 2 システム・コントローラー 3 マウント装置 4 キーボード・インターフェイス 5 ディスプレイ・インターフェイス 7 コネクター装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久保田 弘道 東京都練馬区桜台1−16−25−201 (56)参考文献 特開 平2−259583(JP,A) 特開 昭59−19872(JP,A) 特開 昭60−196683(JP,A) 実開 平4−49876(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 19/00 G01R 31/00 G01R 31/28

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装備品が装着されるマウント装置と、 装備品の機能試験を行なう自動試験装置に装備品を着脱
    するコネクターを有するコネクター装置と、 コネクター装置に装備品との着脱の制御信号を発生し、
    かつ装備品の機能試験に関するデータの要求を自動試験
    装置から受けて該要求に応じて自動試験装置にデータ入
    力信号を発生するシステム・コントローラーとから成る
    ことを特徴とする連続試験装置。
  2. 【請求項2】 装備品が装着されるマウント装置と、 装備品の機能試験を行なう自動試験装置に装備品を着脱
    するコネクターを有するコネクター装置と、 コネクター装置に装備品との着脱の制御信号を発生し、
    かつ装備品の機能試験に関するデータを要求するメッセ
    イジ信号を自動試験装置から受けて該メッセイジ信号に
    応じて自動試験装置にデータ入力信号を発生するシステ
    ム・コントローラーと、 自動試験装置からの該メッセイジ信号を前記システム・
    コントローラーが解読できる信号に変換するディスプレ
    イ・インターフェイスと、 前記システム・コントローラーからの該データ入力信号
    を自動試験装置が解読できる信号に変換するキーボード
    ・インターフェイスとから成ることを特徴とする連続試
    験装置。
  3. 【請求項3】 前記システム・コントローラーは、装備
    品に関するデータを記憶する記憶装置を有することを特
    徴とする請求項1又は2に記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記システム・コントローラーは、前記
    マウント装置に装備品が装着されていることを確認する
    確認手段を有することを特徴とする請求項1乃至3に記
    載の装置。
  5. 【請求項5】 前記コネクター装置は、自動試験装置に
    装備品専用テストカードを着脱するためのテストカード
    用コネクターを有することを特徴とする請求項1乃至3
    に記載の装置。
  6. 【請求項6】 前記システム・コントローラーは、装備
    品専用テストカードの有無を確認する確認手段を有する
    ことを特徴とする請求項5に記載の装置。
  7. 【請求項7】 前記コネクター装置は、前記コネクター
    と装備品との位置関係を位置決めする位置決め手段を有
    することを特徴とする請求項1乃至6に記載の装置。
  8. 【請求項8】 前記コネクター装置は、装備品との着脱
    時に過剰な負荷がかかったときに警告信号を発生するオ
    ーバートルクセンサを有し、前記システム・コントロー
    ラーは、該警告信号を受けると、前記コネクター装置の
    着脱を停止するための停止信号を前記コネクター装置へ
    送信することを特徴とする請求項1乃至7に記載の装
    置。
  9. 【請求項9】 前記コネクター装置は、装備品との着脱
    時に前記コネクターを振ることを特徴とする請求項1乃
    至8に記載の装置。
  10. 【請求項10】 前記コネクター装置は、自動試験装置
    に複数種類の装備品を着脱するための複数種類のコネク
    ターを有することを特徴とする請求項1乃至9に記載の
    装置。
JP08392892A 1992-04-06 1992-04-06 連続試験装置 Expired - Fee Related JP3267661B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08392892A JP3267661B2 (ja) 1992-04-06 1992-04-06 連続試験装置
US08/431,724 US5541504A (en) 1992-04-06 1995-05-01 Sequential connecting apparatus for automatic testing

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08392892A JP3267661B2 (ja) 1992-04-06 1992-04-06 連続試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05281103A JPH05281103A (ja) 1993-10-29
JP3267661B2 true JP3267661B2 (ja) 2002-03-18

Family

ID=13816264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08392892A Expired - Fee Related JP3267661B2 (ja) 1992-04-06 1992-04-06 連続試験装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5541504A (ja)
JP (1) JP3267661B2 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4400079C2 (de) * 1994-01-04 1997-01-30 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Prüfung von elektronischen Steuergeräten
US5777873A (en) * 1996-04-29 1998-07-07 Mitsubishi Semiconductor America, Inc. Automated test fixture control system
DE19739380A1 (de) * 1997-09-09 1999-03-11 Abb Research Ltd Verfahren zum Test eines Leitsystems
KR100496861B1 (ko) * 2002-09-26 2005-06-22 삼성전자주식회사 하나의 핸들러에 2개 이상의 테스트 보드를 갖는 테스트장비 및 그 테스트 방법
US6999888B2 (en) * 2002-09-30 2006-02-14 Intel Corporation Automated circuit board test actuator system
US7154257B2 (en) * 2002-09-30 2006-12-26 Intel Corporation Universal automated circuit board tester
US20070275355A1 (en) * 2006-05-08 2007-11-29 Langer William J Integration and supervision for modeled and mechanical vehicle testing and simulation
US20070260373A1 (en) * 2006-05-08 2007-11-08 Langer William J Dynamic vehicle durability testing and simulation
KR20100021580A (ko) * 2007-05-04 2010-02-25 엠티에스 시스템즈 코포레이숀 로딩 장치와 차량 모델을 이용하여 타이어를 평가하고 튜닝하는 방법 및 장치
US20080275682A1 (en) * 2007-05-04 2008-11-06 Langer William J Method and system for axle evaluation and tuning with loading system and vehicle model
US20080275681A1 (en) * 2007-05-04 2008-11-06 Langer William J Method and system for vehicle damper system evaluation and tuning with loading system and vehicle model
US8135556B2 (en) * 2008-10-02 2012-03-13 Mts Systems Corporation Methods and systems for off-line control for simulation of coupled hybrid dynamic systems
US9477793B2 (en) 2008-10-02 2016-10-25 Mts Systems Corporation Method and systems for off-line control for simulation of coupled hybrid dynamic systems
KR102270875B1 (ko) 2013-09-09 2021-06-29 엠티에스 시스템즈 코포레이숀 테스트 모니터링 및 변경을 위한 오프라인 하이브리드 시스템 평가 방법
JP2016529527A (ja) 2013-09-09 2016-09-23 エムティーエス システムズ コーポレイション 連結ハイブリッド動的システムを試験する方法およびシステム
CN103995505B (zh) * 2014-04-17 2016-06-08 中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所 一种用于地面试验的自动油门执行机构激励装置
CN104155967B (zh) * 2014-04-17 2016-06-08 中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所 一种用于地面试验的自动油门执行机构激励方法
CN110967530B (zh) * 2019-10-15 2021-10-08 国网山东省电力公司电力科学研究院 一种带深度探头的全自动插线装置的使用方法
CN115128484A (zh) * 2022-07-21 2022-09-30 西安理工大学 一种储能电池检测方法及系统

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4218745A (en) * 1978-09-11 1980-08-19 Lockheed Corporation Microcomputer assisted electrical harness fabrication and testing system
US4429611A (en) * 1982-01-29 1984-02-07 General Dynamics, Pomona Division Airborne missile launcher
JPS61167883A (ja) * 1985-01-21 1986-07-29 Toshiba Seiki Kk 電子部品の測定装置
US5023791A (en) * 1990-02-12 1991-06-11 The Boeing Company Automated test apparatus for aircraft flight controls

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05281103A (ja) 1993-10-29
US5541504A (en) 1996-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3267661B2 (ja) 連続試験装置
JP3481367B2 (ja) ロボット教示操作盤
JP2659480B2 (ja) 射出成形機の型開閉オプション動作の設定方法
JPS60132041A (ja) 燃料供給装置用非常制御装置
KR900005646B1 (ko) 테스트 장치
JPS62131343A (ja) 車載電子装置の診断表示方式
CN112427848A (zh) 中厚板机器人焊接工作站的安全操作方法、系统及设备
JP3507946B2 (ja) Plc制御機器の保全支援システム装置
JPH01192072A (ja) 電子装置内のフロッピーディスク駆動ユニット制御回路検査装置
JPH06231372A (ja) 電子機器の着脱パネル検出装置
JPH06276000A (ja) 故障箇所の自己診断装置
JPH0811373B2 (ja) 作業管理装置
JPS5844523A (ja) インタ−フエイスアダプタ装置
JP3127528B2 (ja) 自動販売機の入出力チェック装置
JPS6058559A (ja) 自動試験機の擬似負荷接続方法
JP2714262B2 (ja) エレベータの制御装置
KR960007506B1 (ko) Ic핸들러용 안전장치 및 그의 동작방법
JPH07325730A (ja) マルチプロセッサ装置
JPS61187617A (ja) 車両用自動試験装置
JP2598038Y2 (ja) ドライバーズエイド
JPH0252264A (ja) 電子回路パッケージの試験装置
JPH03110434A (ja) 締付け装置の作動検査方法
JPH0561799A (ja) 通信制御装置の試験方式
JP3008365B2 (ja) 射出成形機
JPH0377150A (ja) デバックモニタプログラム起動方法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20011203

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees