[go: up one dir, main page]

JP3118562B2 - Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof - Google Patents

Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof

Info

Publication number
JP3118562B2
JP3118562B2 JP09337211A JP33721197A JP3118562B2 JP 3118562 B2 JP3118562 B2 JP 3118562B2 JP 09337211 A JP09337211 A JP 09337211A JP 33721197 A JP33721197 A JP 33721197A JP 3118562 B2 JP3118562 B2 JP 3118562B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
superconducting integrated
superconducting
wiring
laminated substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP09337211A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH11177157A (en
Inventor
昌宏 青柳
博 仲川
Original Assignee
工業技術院長
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 工業技術院長 filed Critical 工業技術院長
Priority to JP09337211A priority Critical patent/JP3118562B2/en
Publication of JPH11177157A publication Critical patent/JPH11177157A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3118562B2 publication Critical patent/JP3118562B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は超電導集積回路とそ
れを支持する基板とから成る超電導集積回路構造とその
製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a superconducting integrated circuit structure comprising a superconducting integrated circuit and a substrate supporting the same, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】超電導集積回路は、昨今では3インチ径
ないし4インチ径等、比較的大きな絶縁基板上に複数個
が作製された後、一つずつのチップに切り出されて個々
に“ダイ”と呼ばれ、さらに、それらそれぞれのダイが
“チップキャリア”と呼ばれる支持基板に搭載される。
電子機器には、このチップキャリアをプリント配線基板
等に実装することで組付けられる。超電導集積回路が作
製される絶縁基板はシリコン、石英、サファイアなどが
多く、対してチップキャリアの材質はセラミックスであ
ることが多い。
2. Description of the Related Art In recent years, a plurality of superconducting integrated circuits are manufactured on a relatively large insulating substrate having a diameter of 3 inches to 4 inches, and then cut into individual chips to individually form "die". And their respective dies are mounted on a support substrate called a "chip carrier".
The chip carrier is mounted on an electronic device by mounting the chip carrier on a printed wiring board or the like. The insulating substrate on which the superconducting integrated circuit is manufactured is often made of silicon, quartz, sapphire, etc., whereas the material of the chip carrier is often ceramics.

【0003】各ダイには、絶縁基板とは反対側の面にな
る最表面に、絶縁基板上に形成された超電導集積回路を
外部回路に接続するための電極が必要個数、所定の配置
で露出しており、対して、既に配線済のチップキャリア
の方にも、対応する個数、配置の電極群が設けられてい
て、それぞれにメッキ法や蒸着法等で半田バンプが設け
られている。そこで、ダイをひっくり返してチップキャ
リアの上に載せ、ダイとチップキャリアの電極相互が互
いに接触するようにしながら、それら半田バンプを溶解
させた後、固化させることで、チップキャリア上にダイ
を搭載し、電気的、物理的に接続することができる。一
般にこうした手法がフリップチップボンディング法と呼
ばれている。
In each die, a required number of electrodes for connecting a superconducting integrated circuit formed on the insulating substrate to an external circuit are exposed at a predetermined arrangement on the outermost surface opposite to the insulating substrate. On the other hand, a corresponding number and arrangement of electrode groups are also provided on the already wired chip carrier, and solder bumps are provided on each of them by plating or vapor deposition. Therefore, the die is turned over and placed on the chip carrier, and while the electrodes of the die and the chip carrier are in contact with each other, the solder bumps are melted and then solidified to mount the die on the chip carrier. And can be electrically and physically connected. Generally, such a method is called a flip chip bonding method.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、こうしたフリ
ップチップボンディング法では、ダイとチップキャリア
の電極相互を正確に一致させるために特殊で高価な位置
制御アライメント装置を必須とし、生産性を高めたりコ
ストを低減する上での障害になる。
However, such a flip chip bonding method requires a special and expensive position control alignment device in order to accurately match the electrodes of the die and the chip carrier with each other. Is an obstacle in reducing the

【0005】また、ダイをひっくり返してチップキャリ
アに搭載するため、ダイの絶縁基板の裏面が回路構造全
体としての表面となり、そこにはもちろん電極等は存在
しないから、電気的接触を保ちながらダイの上にまた別
なダイを搭載して超電導回路を三次元集積化する等は不
可能である。高周波集積回路用等、配線幅等の設計寸法
が比較的大きく、かつ小規模なものなら、ダイの裏面か
ら絶縁基板を貫通する孔を開け、超電導集積回路に導通
を取る電極材料を埋め込む技術もないではないが、逆に
言えばそうした技術は、大規模集積回路を製造するには
余りに生産性が悪く、適用することができない。
Further, since the die is turned upside down and mounted on the chip carrier, the back surface of the insulating substrate of the die becomes the front surface of the entire circuit structure, and of course there are no electrodes or the like there. It is not possible to mount a superconducting circuit three-dimensionally by mounting another die on the substrate. If the design dimensions, such as wiring width, are relatively large and small, such as for high-frequency integrated circuits, there is also a technology to pierce the insulating substrate from the back of the die and embed an electrode material that conducts to the superconducting integrated circuit. Not to mention, but conversely, such techniques are too inefficient to manufacture large scale integrated circuits and cannot be applied.

【0006】そうかと言って、何等かの工夫を新たに施
すにしても、チップキャリアとなるセラミックス基板等
の支持基板上に超電導集積回路をただ単に直接に構築し
て行くという手法では、チップキャリア上の配線が錯綜
し、高密度化に対応するに必要な配線本数が取れないと
いう問題が生ずる。
In spite of this, even if some new measures are taken, the technique of simply constructing a superconducting integrated circuit directly on a supporting substrate such as a ceramic substrate serving as a chip carrier is not enough. A problem arises in that the upper wirings are complicated, and the number of wirings required to cope with the higher density cannot be obtained.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明はこのような問題
を解決するため、フリップチップボンディングを必要と
せず、かつ高集積密度化に対処し得るように、互いに重
なり関係にある複数枚の絶縁基板を含み、各絶縁基板に
は予め配線パタンが形成されていると共に、異なる絶縁
基板上の配線パタンが絶縁基板を貫通する縦方向接続線
路により電気的に接続されている立体配線積層基板構造
と,この立体配線積層基板構造の上に構築され、上記の
配線パタンと電気的に接続した超電導集積回路と,から
成る超電導集積回路構造を提案する。
In order to solve such a problem, the present invention does not require flip-chip bonding, and a plurality of insulating layers overlapping each other so as to cope with high integration density. A three-dimensional wiring laminated substrate structure including a substrate, a wiring pattern is formed on each insulating substrate in advance, and wiring patterns on different insulating substrates are electrically connected by longitudinal connection lines penetrating the insulating substrate. And a superconducting integrated circuit constructed on the three-dimensional wiring laminated substrate structure and electrically connected to the wiring pattern.

【0008】本発明の回路構造中に構築される超電導集
積回路は、基本的には一つでも良いが、立体配線を有す
る積層基板構造に用いる各基板が大きなものであれば、
超電導集積回路はそれぞれ互いに独立で、要すれば構築
された後にダイシングソーを用いた機械的な、ないしレ
ーザを用いた光学的な切断手法等により、その下の積層
基板共々、一つずつに分割可能な複数個から成っていて
良い。
The number of superconducting integrated circuits built in the circuit structure of the present invention may be basically one, but if each substrate used for the laminated substrate structure having three-dimensional wiring is large,
The superconducting integrated circuits are independent of each other, and if necessary, after being constructed, are divided into one by one by a mechanical method using a dicing saw or an optical cutting method using a laser together with the underlying laminated substrate. It can consist of several possible pieces.

【0009】本発明は方法のカテゴリから捉えることも
できる。すなわち、本発明では基本的にまず、互いに重
なり関係にある複数枚の絶縁基板のそれぞれに配線パタ
ンと絶縁基板を貫通する縦方向接続線路とを予め形成し
た後に重ね合わせ、異なる絶縁基板上の配線パタン相互
が縦方向接続線路により電気的に接続された構造の立体
配線積層基板構造を予め作製し,この立体配線積層基板
構造の上に、上記の配線パタンに電気的に接続する超電
導集積回路を構築すること,を特徴とする超電導集積回
路構造の製造方法も提案する。
The present invention can also be considered in terms of a method category. In other words, in the present invention, first, a wiring pattern and a longitudinal connection line penetrating the insulating substrate are formed in advance on each of a plurality of insulating substrates overlapping each other, and then superimposed, and the wiring patterns on different insulating substrates are superposed. A three-dimensional wiring laminated substrate structure having a structure in which the patterns are electrically connected to each other by the vertical connection lines is prepared in advance, and a superconducting integrated circuit electrically connected to the wiring pattern is formed on the three-dimensional wiring laminated substrate structure. A method for manufacturing a superconducting integrated circuit structure characterized by building is also proposed.

【0010】さらに、より実践的な下位態様の発明とし
ては、上記の立体配線積層基板構造を予め作製した後、
当該立体配線積層基板構造の上に、それぞれ上記の配線
パタンに電気的に接続し、互いに独立した複数個の超電
導集積回路を構築し,これら複数個の超電導集積回路を
その下の立体配線積層基板構造共々、一つずつに分割す
ること,を特徴とする超電導集積回路構造の製造方法も
提案する。
[0010] Furthermore, as a more practical invention of a lower aspect, after the above-mentioned three-dimensional wiring laminated substrate structure is manufactured in advance,
A plurality of superconducting integrated circuits are formed on the three-dimensional wiring laminated board structure, each of which is electrically connected to the wiring pattern, and the plurality of superconducting integrated circuits are mutually independent. Also proposed is a method of manufacturing a superconducting integrated circuit structure, characterized in that the structure is divided into individual structures.

【0011】なお、絶縁基板の材質は本来的には任意で
あるが、セラミックス材料であることが望ましく、特に
アルミナないし窒化アルミナであることが好ましい。配
線パタン材料や縦方向接続線路の材質も導電性材料であ
れば良いが、タングステンとかモリブデンは望ましく、
さらにニオブやニオブ化合物(NbN,Nb3Al,Nb3Sn等)を用
いれば超電導線路を実現できる。
The material of the insulating substrate is essentially arbitrary, but is preferably a ceramic material, particularly preferably alumina or alumina nitride. The wiring pattern material and the material of the vertical connection line may be a conductive material, but tungsten or molybdenum is desirable.
Further niobium or niobium compound (NbN, Nb 3 Al, Nb 3 Sn , etc.) superconductor line can be realized by using the.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】図1は、本発明で用いる立体配線
積層基板構造の作製工程例と、最終的に製造された本発
明超電導集積回路構造の一構造例が示されている。まず
前者につき、順を追って説明するに、適当なセラミック
ス材料、好ましくは窒化アルミナないしアルミナの微粉
末を用意し、粉砕機により長時間粉砕して粒度が均一に
なるようにする。得られた粉末を有機溶媒で溶かし、糊
状にする。それを例えばローラ式のプレス機によりシー
ト状に加工した後、方形に打ち抜いて扱い易いサイズに
する。方形の包絡円の径に換算して3インチないし4イ
ンチ程度が良い。
FIG. 1 shows an example of a manufacturing process of a three-dimensional wiring laminated substrate structure used in the present invention, and one structural example of a finally manufactured superconducting integrated circuit structure of the present invention. First, for the former, an appropriate ceramic material, preferably fine powder of alumina nitride or alumina, is prepared and pulverized by a pulverizer for a long time so that the particle size becomes uniform. The obtained powder is dissolved in an organic solvent to form a paste. The sheet is processed into a sheet shape by, for example, a roller-type press, and then punched into a square to make it easy to handle. The diameter is preferably about 3 to 4 inches in terms of the diameter of a square envelope circle.

【0013】図1(A) にはこのようにシート状に加工さ
れたセラミックス基板11(ただし、まだ焼成は受けてい
ない)が示されているが、このセラミックス基板11の所
定の個所にヴィアホール12を穿ち、その中に、将来、複
数の基板を積層した場合に異なる基板の配線パタン相互
の接続や外部回路への接続のための端子、あるいはまた
最上層の基板であるならばその上に構築する超電導集積
回路との電気的接続のための端子を構成する縦向接続線
路となる導電ペースト13を充填する。導電ペースト13の
材料としては、先に述べたように、タングステン(W) や
モリブデン(Mo)等の高融点金属、同様に高融点であるが
さらにニオブないしその化合物のような超電導材料が望
ましい。ここでは高融点金属を用いるものとして説明す
る。
FIG. 1A shows a ceramic substrate 11 (not yet fired) processed into a sheet as described above, and a via hole is formed at a predetermined position on the ceramic substrate 11. In the future, if multiple boards are laminated in the future, terminals for interconnection of wiring patterns of different boards and connection to external circuits, or on the top layer board if it is The conductive paste 13 serving as a vertical connection line constituting a terminal for electrical connection with a superconducting integrated circuit to be built is filled. As described above, the material of the conductive paste 13 is preferably a high melting point metal such as tungsten (W) or molybdenum (Mo), or a superconducting material having a high melting point, such as niobium or a compound thereof. Here, description is made on the assumption that a high melting point metal is used.

【0014】次に、図1(B) に示すように、所定の配線
パタンを得るためのメタルマスク14を介し、上記と同
様、望ましくは高融点金属の導電ペースト15を塗布した
後、マスク14を外して所定の配線パタンを得る。このと
き、図1(C) に示すように、縦方向接続線路13の周りに
できる横方向の隙間部分(隣接する配線パタン15との間
の部分)は、そのまま空間に留めておいても良いが、望
ましくは図1(D) に示すように、基板11と同じ材料の絶
縁ペースト16で充填しておくのが良い。
Next, as shown in FIG. 1B, a conductive paste 15 of a high melting point metal is preferably applied in the same manner as described above through a metal mask 14 for obtaining a predetermined wiring pattern. Is removed to obtain a predetermined wiring pattern. At this time, as shown in FIG. 1 (C), a horizontal gap portion (a portion between adjacent wiring patterns 15) formed around the vertical connection line 13 may be left as it is in the space. However, as shown in FIG. 1 (D), it is preferable to fill with an insulating paste 16 of the same material as the substrate 11.

【0015】このようにして、配線済セラミックス基板
11の原形が一枚完成するので、この工程を必要枚数の基
板に亙り繰返し、それぞれの基板ごとに所定形状の配線
パタン15と所定位置に設けられた縦方向接続線路13がで
きるようにする。
Thus, the wired ceramic substrate
Since one original shape is completed, this process is repeated for a required number of substrates so that a wiring pattern 15 having a predetermined shape and a vertical connection line 13 provided at a predetermined position are formed for each substrate.

【0016】その上で、予め必要枚数用意された複数の
セラミックス基板11を、縦方向接続線路13の位置の整合
性に注意しながら所定の順番で重ね合わせ、仮固定した
後、要すれば必要形状に裁断し、これも要すれば角を面
取りしてから熱処理を施し、各ペーストに含まれている
溶媒を飛ばす。
Then, a plurality of ceramic substrates 11 prepared in a required number in advance are superimposed in a predetermined order while paying attention to the consistency of the positions of the longitudinal connection lines 13 and temporarily fixed. It is cut into a shape, and if necessary, a corner is chamfered, and then heat treatment is performed to remove the solvent contained in each paste.

【0017】その後、高温炉に入れて焼成し、要すれば
表面の鏡面研磨、平坦化工程を経ると、図1(E) に示さ
れているように、複数枚のセラミックス基板11が積層さ
れ、かつ、それぞれに設けられている配線パタン15が所
定の位置にて縦方向接続線路13により電気的に接続され
た立体配線積層基板構造10が完成する。
After that, it is placed in a high-temperature furnace and fired. If necessary, a mirror polishing of the surface and a flattening step are carried out. As shown in FIG. 1 (E), a plurality of ceramic substrates 11 are laminated. In addition, the three-dimensional wiring laminated board structure 10 in which the wiring patterns 15 provided respectively are electrically connected at predetermined positions by the vertical connection lines 13 is completed.

【0018】なお、便宜的に図示の場合はセラミックス
基板11の積層枚数が六枚の場合が示されており、下から
順に各セラミックス基板11にはサフィックス“-1”〜
“-6”が示され、それらの中、セラミックス基板11-1〜
11-5の配線パタンにもそれぞれ同じサフィックスが付さ
れている(図示の場合、最上層の基板11-6には配線パタ
ンがない)。ただし、以下において、これらサフィックス
を特に付さないで説明した場合には、どの基板ないしど
の配線パタンにも適用できる説明である。
For convenience, the case shown in the figure shows a case where the number of laminated ceramic substrates 11 is six, and the suffix "-1" to
“-6” is indicated, and among them, the ceramic substrates 11-1 to
The same suffix is attached to each of the wiring patterns 11-5 (in the illustrated case, the wiring pattern is not provided on the uppermost substrate 11-6). However, in the following, when the description is made without any particular suffix, the description is applicable to any substrate or any wiring pattern.

【0019】図1(E) の場合、一番下に示されているセ
ラミックス基板11-1が、図1(A) 〜(D) にその断面が一
例として示されているパタンに即するもので、その配線
パタン15-1は、実はこの種の超電導集積回路で信号伝送
のために用いられるマイクロストリップ線路構造の接地
導体(対向導体)を構成し、縦方向接続線路13のある部
分の周辺を除いて概ね基板のほぼ全面に設けられる。そ
して、この接地導体を構成する配線パタン15は、一枚置
きの基板11-3,11-5にも設けられており、対してこれら
に挟まれる基板11-2,11-4に設けられている配線パタン
15-2,15-4が、対向導体に対向する信号線路パタンを構
成する。一番上の基板11-6の表面は、その上に直接に以
降で説明する超電導集積回路を構築するための下地面と
なり、図示の場合、既述の通り、これには配線パタンは
設けられておらず、縦方向接続線路13の端面が端子とし
て露出している。一方、一番下の基板11-1の下面にも、
縦方向接続線路13の軸方向端面が露出しているが、これ
は図示しない電子機器のプリント配線基板等に接続する
ための端子として利用できる。これに関しては一般にボ
ールグリッドアレイ法と呼ぶ技術があり、周期的に点々
と設けた導電パッド13P の上に予め半田ボールSBを設け
ておく手法が既に提供されているので、本発明の超電導
集積回路構造でもこの手法を利用し、一番下のセラミッ
クス基板11-1の下面にはそうしたボールグリッドアレイ
を設けると良い。縦方向接続線路13の露出端面は、複数
個の導線パッド13P のどれかを介し、対応する半田ボー
ルに導通するようになる。
In the case of FIG. 1 (E), the ceramic substrate 11-1 shown at the bottom corresponds to the pattern whose cross section is shown as an example in FIGS. 1 (A) to 1 (D). The wiring pattern 15-1 actually constitutes a ground conductor (opposite conductor) having a microstrip line structure used for signal transmission in a superconducting integrated circuit of this type. Except for the above, it is provided on almost the entire surface of the substrate. The wiring pattern 15 constituting the ground conductor is also provided on every other board 11-3, 11-5, and is provided on the board 11-2, 11-4 sandwiched therebetween. Wiring pattern
15-2 and 15-4 constitute a signal line pattern facing the opposite conductor. The surface of the uppermost substrate 11-6 serves as an underground for directly constructing a superconducting integrated circuit to be described later, and in the illustrated case, a wiring pattern is provided thereon as described above. The end face of the vertical connection line 13 is exposed as a terminal. On the other hand, on the lower surface of the bottom substrate 11-1,
The axial end surface of the vertical connection line 13 is exposed, and can be used as a terminal for connecting to a printed wiring board or the like of an electronic device (not shown). In this regard, there is a technique generally referred to as a ball grid array method, and a technique has been already provided in which solder balls SB are provided in advance on conductive pads 13P periodically provided at points, so that the superconducting integrated circuit of the present invention is provided. It is preferable that such a ball grid array be provided on the lower surface of the lowermost ceramic substrate 11-1 by using this method also in the structure. The exposed end face of the vertical connection line 13 is electrically connected to the corresponding solder ball via any one of the plurality of conductor pads 13P.

【0020】一方で、マイクロストリップ線路構造を構
成するためには、この種の超電導回路にて要求される余
り高くはない線路インピーダンスに鑑みると、各セラミ
ックス基板11の厚味はそれ程には厚くできない。線路イ
ンピーダンスは信号線路と対向導体の離間距離、すなわ
ちセラミックス基板11の厚味に比例して増加し、線路幅
に反比例の関係にあるが、しかし、現状の技術でも、上
述したセラミックス基板11として20μm 程度に薄いもの
を作製することができ、信号線路幅などを調整すれば十
分満足なマイクロストリップ線路構造を得ることができ
る。将来的には10μm 程度にすることも十分可能な段階
に来ているので、そうなれば線路幅も相当に狭くするこ
とができ、一枚の基板当たりにパターニングする線路の
配線密度も十分に高めることができる。
On the other hand, in order to construct a microstrip line structure, in view of the not too high line impedance required in this type of superconducting circuit, the thickness of each ceramic substrate 11 cannot be so large. . The line impedance increases in proportion to the distance between the signal line and the opposing conductor, i.e., increases in proportion to the thickness of the ceramic substrate 11 and is inversely proportional to the line width.However, even with the current technology, the ceramic substrate 11 described above has a thickness of 20 μm. A sufficiently thin microstrip line structure can be obtained by adjusting the signal line width and the like. In the future, it is possible to reduce the line width to about 10 μm, so that the line width can be considerably reduced, and the wiring density of the line patterned on one substrate can be sufficiently increased. be able to.

【0021】しかも、この点は本発明の特徴の一つでも
あるが、必要な全配線パタンは積層関係にある複数の配
線パタン15-2,15-4にて分担することができ、必要部分
をその間の基板を貫通する縦方向接続線路13により相互
に接続できるので、複雑かつ精緻な配線パタンも、一枚
当たりの基板ごとには比較的大きなスケールで形成する
ことができ、全体として平面展開して見た時、十分高密
度な配線パタンを高い生産性、歩留まりを保って得るこ
とができる。
In addition, this point is one of the features of the present invention. However, all the necessary wiring patterns can be shared by a plurality of wiring patterns 15-2 and 15-4 which are in a stacked relationship. Can be connected to each other by the vertical connection line 13 penetrating the substrate between them, so that a complicated and precise wiring pattern can be formed on a relatively large scale for each substrate, and the whole is developed in a plane. As a result, a sufficiently high-density wiring pattern can be obtained while maintaining high productivity and yield.

【0022】本発明では、このような立体配線積層基板
構造上に直接に、必要な電子回路機能を満たすための超
電導集積回路20を構築する。図1(E) の場合、その一断
面において一つのジョセフソン接合JJと抵抗器Rxを有す
る例が示されているが、以下ではそのような超電導集積
回路を構築して行く過程例につき説明する。
In the present invention, a superconducting integrated circuit 20 for satisfying a required electronic circuit function is constructed directly on such a three-dimensional wiring laminated substrate structure. In the case of FIG. 1 (E), an example having one Josephson junction JJ and a resistor Rx in one section thereof is shown. Hereinafter, an example of a process of constructing such a superconducting integrated circuit will be described. .

【0023】図2(A) 以降では、図1(E) に示した立体
配線積層基板構造10の最上層部分のみを示しているが、
最も上に位置するセラミックス基板11-6の表面に、望ま
しくはアルゴンガスプラズマにより当該表面のクリーニ
ングを行った後、将来的には図1に示した超電導集積回
路20のグラウンドプレーン21a と縦方向接続線路21bと
なる超電導膜21を例えばスパッタ法により堆積する。限
定的ではないが、ここでは便宜上、用いた超電導膜21は
ニオブ(Nb)であるとし、以降の工程で用いられる超電導
膜もすべてそうであるとする。
2 (A) and subsequent figures, only the uppermost layer portion of the three-dimensional wiring laminated substrate structure 10 shown in FIG. 1 (E) is shown.
After cleaning the surface of the uppermost ceramic substrate 11-6, preferably by using argon gas plasma, the surface will be connected to the ground plane 21a of the superconducting integrated circuit 20 shown in FIG. The superconducting film 21 serving as the line 21b is deposited by, for example, a sputtering method. Although not limited, here, for convenience, it is assumed that the used superconducting film 21 is niobium (Nb), and the same applies to all superconducting films used in the subsequent steps.

【0024】この上に適当なるエッチングレジスト膜22
を付し、公知既存のリソグラフィ技術により、図1(B)
に示すように、将来的にグラウンドプレーン21a と縦方
向接続線路21b となるべき部分を残すように当該レジス
ト膜22をパターニングしてからエッチングする。このと
き、CF4,SF4等のエッチングガスを用いてドライエッチン
グすれば、セラミックス基板11として既述のように窒化
アルミナないしアルミナが用いられている場合には、当
該セラミックス基板材料がエッチングストッパととして
働き、厳密な時間管理をしなくても、セラミックス基板
11-6は殆どエッチングされずに残る。
An appropriate etching resist film 22 is formed thereon.
Is attached, and by the known existing lithography technology, FIG. 1 (B)
As shown in FIG. 5, the resist film 22 is patterned and etched so as to leave a portion to be a ground plane 21a and a vertical connection line 21b in the future. At this time, if dry etching is performed using an etching gas such as CF4 or SF4, when alumina nitride or alumina is used as the ceramic substrate 11 as described above, the ceramic substrate material functions as an etching stopper. Ceramic substrate without strict time management
11-6 remains almost unetched.

【0025】次に、図2(C) に示すように、レジスト膜
22を残したまま基板全面に絶縁膜、例えばSiO2膜23を堆
積させ、その後、有機溶媒に浸し、いわゆるリフトオフ
法により、レジスト膜22とその上の絶縁膜23を除去す
る。
Next, as shown in FIG.
An insulating film, for example, a SiO 2 film 23 is deposited on the entire surface of the substrate while leaving 22, and then immersed in an organic solvent, and the resist film 22 and the insulating film 23 thereon are removed by a so-called lift-off method.

【0026】これにより、図2(D) に示されるように、
立体配線積層基板構造10の最上層の上に、まずは超電導
集積回路のグラウンドプレーン21a と縦方向接続線路
(正確にはその一部)21b が形成され、それらの間の横
方向の隙間が絶縁膜23により埋められ、絶縁分離された
格好になる。なお、以降の工程でも、選択的に用いられ
る絶縁膜はSiO2膜で代表する。
As a result, as shown in FIG.
First, a ground plane 21a of the superconducting integrated circuit and a vertical connection line (more precisely, a part thereof) 21b are formed on the uppermost layer of the three-dimensional wiring laminated substrate structure 10, and a horizontal gap between them is an insulating film. It is filled with 23 and becomes insulated. In the following steps, an insulating film selectively used is represented by an SiO 2 film.

【0027】このような構造の上には、図2(E) に示す
ように、望ましくはアルゴンガスプラズマの表面クリー
ニング処理の後、再度、スパッタ法により超電導膜24を
堆積する。
As shown in FIG. 2E, a superconducting film 24 is deposited on the structure by sputtering again, preferably after a surface cleaning treatment with argon gas plasma.

【0028】そして、図3(A) に示すように、その上に
再びレジスト膜25を付して公知既存のリソグラフィ技術
により当該レジスト膜25を所定のパタンに整形し、望ま
しくはドライエッチングを施してその下の超電導膜24を
所定のパタンにエッチングする。これにより残った超電
導膜部分24a,b は、それぞれ縦方向接続線路の一部とな
る。
Then, as shown in FIG. 3A, a resist film 25 is again formed thereon, and the resist film 25 is shaped into a predetermined pattern by a known existing lithography technique. The superconducting film 24 thereunder is etched into a predetermined pattern. The remaining superconducting film portions 24a and 24b each become a part of the longitudinal connection line.

【0029】レジストパタン25を残したまま、全表面領
域上に絶縁膜26と、後工程でのエッチング時に有効なエ
ッチング停止層27とを順次堆積して図3(B) に示すよう
にした後、有機溶媒を用いたリフトオフ法により、レジ
ストパタン25とその上に堆積している絶縁膜26及びエッ
チング停止層27を除去する。エッチング停止層27は、望
ましくは酸化マグネシウム(MgO) とすることができる。
After the insulating film 26 and an etching stopper layer 27 effective during etching in a later step are sequentially deposited on the entire surface region while leaving the resist pattern 25, as shown in FIG. Then, the resist pattern 25, the insulating film 26 and the etching stop layer 27 deposited thereon are removed by a lift-off method using an organic solvent. Etch stop layer 27 may desirably be magnesium oxide (MgO).

【0030】リフトオフ工程後、要すればアルゴンガス
プラズマによる表面清浄化処理を施してから、図3(C)
に示すように、ニオブにより構成できる下部超電導体層
31、酸化アルミニウム(AlOx)により構成できるトンネル
障壁層32、ニオブにより構成できる上部超電導体層33を
順次スパッタ法により積層する。ただし、トンネル障壁
層32として上述のAlOxを用いる時には、実際に堆積させ
るのはアルミニウム層であって、堆積後、これを酸素雰
囲気中で酸化する。このようにして形成された三層積層
構造(31+32+33)からは、将来、微小なジョセフソン接合
JJが切り出される。
After the lift-off step, if necessary, a surface cleaning treatment using argon gas plasma is performed.
As shown in the figure, the lower superconductor layer that can be composed of niobium
A tunnel barrier layer 32 composed of aluminum oxide (AlO x ) and an upper superconductor layer 33 composed of niobium are sequentially laminated by a sputtering method. However, when the above-mentioned AlO x is used as the tunnel barrier layer 32, what is actually deposited is an aluminum layer, which is oxidized in an oxygen atmosphere after the deposition. From the three-layer laminated structure (31 + 32 + 33) formed in this way, a small Josephson junction
JJ is cut out.

【0031】三層積層構造(31+32+33)の上に、図3(D)
に示すようにレジスト膜34を形成してリソグラフィによ
り所定のパタンに加工した後、エッチングし、縦方向接
続線路24a,b に連続する部分と、それらの間の少し大き
な面積部分とに三層構造を分断する。この時のエッチン
グに、先と同様、CF4,SF4等のエッチングガスを用いての
ドライエッチング技術を応用すれば、エッチング時間を
厳密に管理しなくてもエッチング停止層27のある所で自
動的に止めることができる。
On the three-layer laminated structure (31 + 32 + 33), FIG.
After forming a resist film 34 as shown in FIG. 3 and processing it into a predetermined pattern by lithography, etching is performed, and a three-layer structure is formed into a portion continuous to the longitudinal connection lines 24a and 24b and a slightly larger area therebetween. Divide. As described above, if the dry etching technique using an etching gas such as CF4 or SF4 is applied to the etching at this time, it is automatically performed at the place where the etching stop layer 27 is provided without strictly controlling the etching time. You can stop it.

【0032】パタン化レジスト膜34を残したまま、全面
に絶縁膜35を堆積すると図4(A) に示すようになるの
で、その後、有機溶媒を用いてリフトオフを行うと、図
4(B)に示すように、横方向に三分断された三層構造(31
+32+33)の間及び周囲の部分が絶縁膜35により絶縁され
た構造になる。
When an insulating film 35 is deposited on the entire surface while the patterned resist film 34 is left, the result is as shown in FIG. 4A. Thereafter, when lift-off is performed by using an organic solvent, FIG. As shown in the figure, the three-layer structure (31
+ 32 + 33) and the surrounding portion are insulated by the insulating film 35.

【0033】この後、図4(C) に示すように、全面に付
したレジスト膜36を適当なるリソグラフィによりジョセ
フソン接合の平面的面積領域を規定する所定パタンに加
工してから望ましくはドライエッチングし、上部超電導
体層33をのみ、微小な平面積寸法に切り出す。このと
き、CF4,SF4等のエッチングガスを用いてのドライエッチ
ングとすれば、トンネル障壁層32がAlOX膜であるなら
ば、それはエッチング停止層としても働き、厳密な時間
管理は不要になる。
Thereafter, as shown in FIG. 4C, the resist film 36 applied to the entire surface is processed into a predetermined pattern which defines a planar area of the Josephson junction by appropriate lithography, and is preferably dry-etched. Then, only the upper superconductor layer 33 is cut out into a small plane area. In this case, if dry etching using an etching gas of CF4, SF4 or the like, if the tunnel barrier layer 32 is AlO X layer, it also serves as an etch stop layer, strict time management is not required.

【0034】このようにして切り出された微小な上部超
電導体層33の平面積領域にて規定される三層構造部分(3
1+32+33)が、いわゆるジョセフソン接合JJとなる。この
部分は仮想線で囲って示した。
The three-layer structure portion (3) defined by the plane area of the fine upper superconductor layer 33 cut out in this manner.
1 + 32 + 33) is the so-called Josephson junction JJ. This part is shown by imaginary lines.

【0035】図4(D) に示すように、レジスト膜36を残
したまま全面にSiO2等の絶縁膜37を堆積させ、有機溶媒
に浸してリフトオフすると、図5(A) に示すようにジョ
セフソン接合JJの上部超電導体層33の表面のみが露出
し、他は絶縁膜37により覆われた状態になる。そして、
ジョセフソン接合JJの形成されている三層構造部分の両
側にあって離れてはいるが元々は下部超電導体層31の一
部に相当する部分31a,bは、それぞれ、既に形成さ
れている縦方向接続線路24a,b に位置的に整合し
て連続する縦方向接続線路の一部を構成する。
As shown in FIG. 4 (D), an insulating film 37 such as SiO 2 is deposited on the entire surface while the resist film 36 is left, and immersed in an organic solvent to lift off, as shown in FIG. 5 (A). Only the surface of the upper superconductor layer 33 of the Josephson junction JJ is exposed, and the other is covered with the insulating film 37. And
Portions 31a and b, which are on both sides of the three-layer structure portion where the Josephson junction JJ is formed and which are apart from each other but originally correspond to a part of the lower superconductor layer 31, are respectively formed vertically. It forms a part of a continuous longitudinal connection line that is positionally aligned with the directional connection lines 24a, b.

【0036】この上に再度、図5(B) に示すように全面
に亙って付したレジスト膜38を所定のパタンに加工して
から望ましくはドライエッチングを行い、ジョセフソン
接合JJの形成されている三層構造部分に連続する下部超
電導体層31の一部と、同じく下部超電導体層31の一部で
あってジョセフソン接合JJと離れている縦方向接続線路
31a,b の部分の表面とを露出させるヴィアホールを穿
つ。このときのエッチングで、当該ジョセフソン接合JJ
に連続する下部超電導体層31の一部と、その両側に離れ
ている縦方向接続線路31a,b の上のトンネル障壁層32も
除去される。
On this, the resist film 38 applied over the entire surface is again processed into a predetermined pattern as shown in FIG. 5 (B), and is preferably subjected to dry etching to form a Josephson junction JJ. Part of the lower superconducting layer 31 that is continuous with the three-layer structure part and the longitudinal connection line that is also part of the lower superconducting layer 31 and is separated from the Josephson junction JJ
Drill a via hole to expose the surface of part 31a, b. At this time, the Josephson junction JJ
The part of the lower superconductor layer 31 which is continuous with the first and second layers and the tunnel barrier layer 32 on the longitudinal connection lines 31a and 31b separated on both sides thereof are also removed.

【0037】次いで、図5(C) に示すように、全面に超
電導膜39をスパッタ法等により堆積する。その後、有機
溶媒に浸してのリフトオフ法により、残っていたレジス
ト膜38共々、その上の超電導膜39を除去すると図5(D)
に示すようになり、ジョセフソン接合JJの上部電極とな
る部分33と、下部電極に導通の取られた縦方向接続線路
39c と、両側の縦方向接続線路のさらに上方への延長部
分39a,b の各表面が露呈する。
Next, as shown in FIG. 5C, a superconducting film 39 is deposited on the entire surface by a sputtering method or the like. Thereafter, the remaining resist film 38 and the superconducting film 39 thereon are removed by a lift-off method by immersion in an organic solvent, as shown in FIG.
As shown in the figure, the part 33 to be the upper electrode of the Josephson junction JJ, and the vertical connection line conducting to the lower electrode
39c and the surfaces of the extensions 39a, b extending further upward of the longitudinal connection lines on both sides are exposed.

【0038】その後、図6(A) に示すように、全面に付
したレジスト膜40を適当なるリソグラフィ技術により所
定パタンに加工した後、最終的に図1(E) に示した抵抗
器Rxを得るために、適当なる抵抗材料(例えばここでは
Pdとする)を例えば電子ビーム蒸着法により堆積する。
After that, as shown in FIG. 6A, the resist film 40 applied on the entire surface is processed into a predetermined pattern by an appropriate lithography technique, and finally the resistor Rx shown in FIG. To obtain a suitable resistive material (eg, here
Pd) is deposited by, for example, an electron beam evaporation method.

【0039】これを有機溶媒に浸し、リフトオフ法によ
りレジスト膜40共々、その上の不要な抵抗層41を除去す
れば、図6(B) に示すように、所定の位置に抵抗器Rxを
作ることができる。
This is immersed in an organic solvent, and the resist film 40 and the unnecessary resistive layer 41 thereon are removed by a lift-off method. As shown in FIG. 6B, a resistor Rx is formed at a predetermined position. be able to.

【0040】必要に応じ、表面清浄化のため、適当な深
さ分に亙りエッチングを施してから図6(C) に示すよう
に全面に超電導膜42を堆積させる。
If necessary, in order to clean the surface, etching is performed over an appropriate depth, and a superconducting film 42 is deposited on the entire surface as shown in FIG. 6C.

【0041】図6(D) に示すように、その上にレジスト
膜43を付して所定パタンに加工し、抵抗器Rx上の表面を
除去してその両側にてのみ超電導膜42が接触するよう
に、また、抵抗器Rxの右側に伸びる超電導膜42はジョセ
フソン接合JJの上部電極33に、下部電極31に縦方向接続
線路39c を介して接続する部分は縦方向接続線路39b の
表面に接するように、当該超電導膜42を望ましくはドラ
イエッチングする。
As shown in FIG. 6D, a resist film 43 is applied thereon and processed into a predetermined pattern, the surface on the resistor Rx is removed, and the superconducting film 42 contacts only on both sides thereof. As described above, the superconducting film 42 extending to the right of the resistor Rx is connected to the upper electrode 33 of the Josephson junction JJ, and the portion connected to the lower electrode 31 via the vertical connection line 39c is provided on the surface of the vertical connection line 39b. The superconducting film 42 is desirably dry-etched so as to make contact.

【0042】その後、残存レジスト膜43を有機溶媒によ
り除去すれば、図1(E) に示したように、立体配線積層
基板構造10の上に直接かつ一体に構築された超電導集積
回路20を得ることができる。
Thereafter, if the remaining resist film 43 is removed with an organic solvent, the superconducting integrated circuit 20 directly and integrally constructed on the three-dimensional wiring laminated substrate structure 10 is obtained as shown in FIG. be able to.

【0043】なお、図1(E) に示されている縦方向接続
線路13は、既述の所から理解されるように、各工程でそ
れぞれ一部が形成されながら上に伸ばされてきた縦方向
導電線路の集合体である。また、最下層のセラミックス
基板11-6の下面に露出している縦方向接続線路13の端面
は、例えば先に述べたように望ましくはボールグリッド
アレイ構造を介し、図示しないプリント基板に実装する
時の信号端子となり得る。一方、グラウンドプレーン21
a に接続する接地端子は、例えば図示の場合は第一、
三、五層11-1,11-3,11-5の配線パタン15-1,15-3,15
-5の側面に露出している部分から取り出すこともできる
し、インピーダンス条件が許せば、図示していないがや
はりこれら接地導体を構成する配線パタン相互の間に縦
方向接続線路を設けて、最終的には最下層基板11-6の裏
面から取り出すようにすることができ、これに際しても
ボールグリッドアレイは有効に使うことができる。
As can be understood from the above description, the vertical connection line 13 shown in FIG. 1 (E) is partially formed in each step and is vertically extended. It is an aggregate of directional conductive lines. Further, the end face of the vertical connection line 13 exposed on the lower surface of the lowermost ceramic substrate 11-6 is preferably mounted on a printed circuit board (not shown), preferably via a ball grid array structure as described above. Signal terminal. Meanwhile, ground plane 21
The ground terminal connected to a is, for example, the first in the illustrated case,
Wiring patterns 15-1, 15-3, 15 of three and five layers 11-1, 11-3, 11-5
-5 can be taken out from the part exposed on the side, and if impedance conditions allow, a vertical connection line is provided between the wiring patterns (not shown) Specifically, the ball grid array can be taken out from the back surface of the lowermost substrate 11-6. In this case, the ball grid array can be used effectively.

【0044】もちろん、構築する超電導集積回路20は任
意の回路、任意の配線パタンであって良く、また、単一
のものであることに限らない。むしろ、一般には同種
の、特殊な場合には異種のものを一つの大きな立体配線
積層基板構造10上に並設的に複数個形成し、図1(E) に
示すように完成した後、その下の積層基板構造共々、こ
れを個々に切り分けるようにすることの方が多いと思わ
れる。その場合にも分割手法は任意であって、ダイシン
グソーを用いた機械的な手法であっても良いし、パワー
レーザビームを用いた光学的手法等であって良い。
Of course, the superconducting integrated circuit 20 to be constructed may be any circuit, any wiring pattern, and is not limited to a single circuit. Rather, in general, a plurality of the same kind or, in a special case, different kinds are formed side by side on one large three-dimensional wiring laminated substrate structure 10 and completed as shown in FIG. It seems that there are many cases where the lower laminated substrate structures are individually cut. Also in this case, the dividing method is arbitrary, and may be a mechanical method using a dicing saw, an optical method using a power laser beam, or the like.

【0045】さらに、本発明により作製された超電導集
積回路構造では、超電導集積回路20の表面に電極を露出
した状態にできるので、要すれば別途に作製した超電導
集積回路構造をひっくり返して搭載するか、あるいは露
出している電極構造の上にさらに二層目以降の超電導集
積回路を順次構築する等、三次元集積回路構造に発展さ
せることが容易である。
Further, in the superconducting integrated circuit structure manufactured according to the present invention, the electrodes can be exposed on the surface of the superconducting integrated circuit 20. If necessary, a separately manufactured superconducting integrated circuit structure is turned over. Alternatively, it is easy to develop into a three-dimensional integrated circuit structure, for example, by sequentially constructing a second or later superconducting integrated circuit on the exposed electrode structure.

【0046】配線密度に関しても、既に述べたように、
必要な配線本数及び配置を、縦方向接続線路13を有効に
用いることにより、複数の基板上に形成したもので分担
できるので、個々の基板ごとにはそれほど隣接配線間を
近接させずとも、全体として見ると極めて高い配線密度
を良好な歩留まりをもって得ることができる。
Regarding the wiring density, as described above,
By effectively using the vertical connection lines 13, the required number of wires and arrangement can be shared by those formed on a plurality of substrates, so that the entire wiring can be achieved without having to bring adjacent wirings so close to each substrate. As a result, an extremely high wiring density can be obtained with a good yield.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明によると、高価なアライメント装
置を用いてのフリップチップボンディング法によるダイ
とチップキャリアの結合作業が必要がなく、言わばチッ
プキャリア上にダイが一体化された状態となるので、生
産性を高め、コストを低減することができる。また、超
電導集積回路の表面に電極が存在するので、三次元集積
回路化することが容易である。さらに、チップキャリア
側に要求される必要な配線数を積層されている複数の基
板で分担できるので、個々の基板ごとにはそれ程に配線
密度を上げなくても、全体として見ると極めて高い配線
密度を得ることができ、良好な歩留まりを得る上で好都
合である。
According to the present invention, there is no need to perform an operation of bonding a die and a chip carrier by a flip chip bonding method using an expensive alignment device, so that the die is integrated on the chip carrier. , Increasing productivity and reducing costs. Further, since the electrodes are present on the surface of the superconducting integrated circuit, it is easy to form a three-dimensional integrated circuit. Furthermore, since the required number of wires required on the chip carrier side can be shared by a plurality of stacked substrates, the wiring density is extremely high as a whole without increasing the wiring density so much for each substrate. Can be obtained, which is convenient for obtaining a good yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明で用いる立体配線積層基板構造部分の作
製工程と、当該積層基板構造の上に構築された超電導集
積回路を含む本発明超電導集積回路構造の一例の概略構
成図である。
FIG. 1 is a schematic structural diagram of an example of a superconducting integrated circuit structure of the present invention including a superconducting integrated circuit built on the laminated substrate structure and a manufacturing process of a three-dimensional wiring laminated substrate structure used in the present invention.

【図2】本発明で用いる立体配線積層基板構造の上に超
電導集積回路を構築して行く工程群例の初期過程におけ
る説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram in an initial stage of an example of a process group for constructing a superconducting integrated circuit on a three-dimensional wiring laminated substrate structure used in the present invention.

【図3】図2に続く工程群の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a process group following FIG. 2;

【図4】図3に続く工程群の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a process group following FIG. 3;

【図5】図4に続く工程群の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a process group following FIG. 4;

【図6】図5に続き最終工程直前に至る工程群の説明図
である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a process group immediately before the final process following FIG. 5;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 立体配線積層基板構造, 11 セラミックス基板, 13 縦方向接続線路, 15 配線パタン, 20 超電導集積回路, 21a 超電導集積回路のグラウンドプレーン, 21b 立体配線積層基板構造の縦方向接続線路に接続する
縦方向接続線路, 31 ジョセフソン接合の下部電極, 32 ジョセフソン接合のトンネル障壁層, 33 ジョセフソン接合の上部電極, JJ ジョセフソン接合, Rx 抵抗器.
10 Three-dimensional wiring laminated board structure, 11 ceramic substrate, 13 vertical connection line, 15 wiring pattern, 20 superconducting integrated circuit, 21a ground plane of superconducting integrated circuit, 21b vertical direction connecting to vertical connecting line of three-dimensional wiring laminated substrate structure Connection line, 31 Josephson junction lower electrode, 32 Josephson junction tunnel barrier layer, 33 Josephson junction upper electrode, JJ Josephson junction, Rx resistor.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−137698(JP,A) 特開 昭64−57699(JP,A) 特開 昭64−37100(JP,A) 特開 昭64−27294(JP,A) 特開 昭59−147472(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 39/24 H01L 39/02 H05K 3/46 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-1-137698 (JP, A) JP-A-64-57699 (JP, A) JP-A-64-37100 (JP, A) JP-A 64-64 27294 (JP, A) JP-A-59-147472 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 39/24 H01L 39/02 H05K 3/46

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 互いに重なり関係にある複数枚の絶縁基
板を含み、各絶縁基板には予め配線パタンが形成されて
いると共に、異なる絶縁基板上の配線パタンが該絶縁基
板を貫通する縦方向接続線路により電気的に接続されて
いる立体配線積層基板構造と, 該立体配線積層基板構造の上に構築され、上記配線パタ
ンと電気的に接続した超電導集積回路と, を有して成る超電導集積回路構造。
1. A semiconductor device comprising: a plurality of insulating substrates overlapping with each other; a wiring pattern formed on each of the insulating substrates in advance; and wiring patterns on different insulating substrates penetrating through the insulating substrates. A superconducting integrated circuit comprising: a three-dimensional wiring laminated substrate structure electrically connected by a line; and a superconducting integrated circuit constructed on the three-dimensional wiring laminated substrate structure and electrically connected to the wiring pattern. Construction.
【請求項2】 請求項1記載の超電導集積回路構造であ
って;上記超電導集積回路は、互いに独立な複数個から
成っていること,を特徴とする超電導集積回路構造。
2. The superconducting integrated circuit structure according to claim 1, wherein said superconducting integrated circuit comprises a plurality of independent circuits.
【請求項3】 請求項2記載の超電導集積回路構造であ
って;上記複数個の超電導集積回路は、それぞれその下
の上記立体配線積層基板構造共々、一つずつに分割され
ること,を特徴とする超電導集積回路構造。
3. The superconducting integrated circuit structure according to claim 2, wherein each of the plurality of superconducting integrated circuits is divided into ones together with the three-dimensional wiring laminated substrate structure thereunder. Superconducting integrated circuit structure.
【請求項4】 互いに重なり関係にある複数枚の絶縁基
板のそれぞれに配線パタンと該絶縁基板を貫通する縦方
向接続線路とを予め形成した後に重ね合わせ、異なる絶
縁基板上の配線パタン相互が縦方向接続線路により電気
的に接続された構造の立体配線積層基板構造を予め作製
し,該立体配線積層基板構造の上に、上記配線パタンに
電気的に接続する超電導集積回路を構築すること,を特
徴とする超電導集積回路構造の製造方法。
4. A wiring pattern and a vertical connection line penetrating the insulating substrate are formed in advance on each of a plurality of insulating substrates overlapping with each other and then overlapped, and the wiring patterns on different insulating substrates are vertically connected to each other. Forming in advance a three-dimensional wiring laminated substrate structure having a structure electrically connected by the directional connection lines, and constructing a superconducting integrated circuit electrically connected to the wiring pattern on the three-dimensional wiring laminated substrate structure. A method for manufacturing a superconducting integrated circuit structure.
【請求項5】 互いに重なり関係にある複数枚の絶縁基
板のそれぞれに配線パタンと該絶縁基板を貫通する縦方
向接続線路とを予め形成した後に重ね合わせ、異なる絶
縁基板上の配線パタン相互が縦方向接続線路により電気
的に接続された構造の立体配線積層基板構造を予め作製
し,該立体配線積層基板構造の上に、それぞれ上記配線
パタンに電気的に接続し、互いに独立した複数個の超電
導集積回路を構築した後,これら複数個の超電導集積回
路をその下の上記立体配線積層基板構造共々、一つずつ
に分割すること,を特徴とする超電導集積回路構造の製
造方法。
5. A wiring pattern and a vertical connection line penetrating the insulating substrate are formed in advance on each of a plurality of insulating substrates overlapping with each other and then overlapped, and the wiring patterns on different insulating substrates are vertically connected to each other. A three-dimensional wiring laminated substrate structure having a structure electrically connected by the directional connection lines is prepared in advance, and a plurality of superconducting circuits independent of each other are electrically connected to the wiring patterns on the three-dimensional wiring laminated substrate structure, respectively. A method of manufacturing a superconducting integrated circuit structure, comprising: constructing an integrated circuit and dividing the plurality of superconducting integrated circuits together with the three-dimensional wiring laminated substrate structure thereunder one by one.
JP09337211A 1997-12-08 1997-12-08 Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof Expired - Lifetime JP3118562B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09337211A JP3118562B2 (en) 1997-12-08 1997-12-08 Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09337211A JP3118562B2 (en) 1997-12-08 1997-12-08 Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11177157A JPH11177157A (en) 1999-07-02
JP3118562B2 true JP3118562B2 (en) 2000-12-18

Family

ID=18306493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09337211A Expired - Lifetime JP3118562B2 (en) 1997-12-08 1997-12-08 Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3118562B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4977328B2 (en) * 2005-03-28 2012-07-18 日本電気株式会社 Superconducting random access memory and manufacturing method thereof
JP2009111306A (en) * 2007-11-01 2009-05-21 Hitachi Ltd Electronic device with Josephson junction and manufacturing method thereof
EP4318618B1 (en) * 2021-03-22 2025-09-10 Fujitsu Limited Superconducting device, superconducting device manufacturing method, and laminated body
EP4475176A4 (en) * 2022-01-07 2025-10-29 Fujitsu Ltd QUANTUM COMPUTER DEVICE AND METHOD FOR MAKING A QUANTUM COMPUTER DEVICE
JP7666653B2 (en) * 2022-01-07 2025-04-22 富士通株式会社 Quantum operation device and method for manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11177157A (en) 1999-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100364092C (en) Semiconductor device and production method thereof
US5481133A (en) Three-dimensional multichip package
US5331514A (en) Integrated-circuit package
TW558929B (en) Flip chip type semiconductor device and method for manufacturing the same
US7365006B1 (en) Semiconductor package and substrate having multi-level vias fabrication method
US6806176B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same, circuit board and electronic instrument
WO1996002071A1 (en) Packaged integrated circuit
JPS5815219A (en) Chip capacitor
JP2010535427A (en) Semiconductor packaging process using through silicon vias
JPH0945848A (en) End cap chip with conductive monolithic L-connection for multi-chip stack and method of making same
TW201131592A (en) Inductors and methods for integrated circuits
JP2002158312A (en) Semiconductor package for three-dimensional mounting, manufacturing method thereof, and semiconductor device
JP2001044357A (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
CN115377041A (en) Manufacture of electronic chips
JP2006179564A (en) Semiconductor connection substrate, semiconductor device, semiconductor device, semiconductor substrate, and method for manufacturing semiconductor connection substrate
CN118658849A (en) Packaging substrate and manufacturing method thereof
CN116313827A (en) FCBGA glass core board, packaging substrate and preparation method thereof
JPS5845194B2 (en) Superconducting integrated circuit and its manufacturing method
JP3118562B2 (en) Superconducting integrated circuit structure and manufacturing method thereof
JP2002076167A (en) Semiconductor chip, stacked semiconductor package, and method of manufacturing the same
JPH05235491A (en) Thin film circuit board and its manufacture
JPH08181211A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP3523815B2 (en) Semiconductor device
JPH065665A (en) Method for forming electrodes on side surface of IC chip and multi IC chip
JPH1145977A (en) Multi-chip module and manufacturing method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term