JP3112595B2 - 光周波数シフタを用いる光ファイバ歪位置測定装置 - Google Patents
光周波数シフタを用いる光ファイバ歪位置測定装置Info
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Description
ることにより、1つの光源でブリルアン増幅特性をもつ
BOTDA(ブリルアン・オプティカル・タイム・ドメ
イン・アナリシス)を構成する光周波数シフタを用いる
光ファイバ歪位置測定装置を提供するものである。
を図5により説明する。図5の1Aと1Bは光源、9A
は光スイッチ、9Bは光カプラ、7は表示回路、10は
測定される光ファイバである。光源1Aは連続光21を
発生し、光源1Bは連続光22を発生する。光源1Bの
連続光22は光スイッチ9Aにより光パルス23に変換
される。なお、BOTDAの内容については、特開平2-
6725号公報にも掲載されている。
遠端10Aに入射され、光パルス23が光カプラ9Bか
ら光ファイバ10の近端10Bに入射される。光源1A
と光源1Bの差周波数がブリルアンシフト周波数に等し
くなると、ブリルアン増幅された連続光21は表示回路
7によって光ファイバ10の損失波形として表示され
る。表示回路7の構成は、後述の図4に示されている。
と光パルス23を対向して光ファイバ10に入射する構
成なので、光源1A・1Bを必要とする。光源1A・1
Bの安定性は直接に歪の精度と確度に影響する。1%の
歪は約 500MHzに相当するので、光源1A・1Bの相
対周波数の安定度を5MHz以下にする必要がある。こ
の発明は1つの連続光から光周波数シフタにより連続光
と周波数の違う光パルスをつくり出すことにより、連続
光と光パルスの差周波数がブリルアンシフト周波数に等
しくなるような測定系を構成し、1回の測定時間内では
連続光と光パルスを安定にする光周波数シフタを用いる
光ファイバ歪位置測定装置の提供を目的とする。
め、この発明では、周波数foの連続光11を光ファイ
バ10の遠端10Aから入射する光源1と、光ファイバ
10の近端10Bから取り出した連続光11を分岐する
光カプラ2と、光カプラ2で分岐された連続光11を増
幅する光増幅器3と、光増幅器3で増幅された連続光1
1から光パルス12をつくり出す光スイッチ4と、光パ
ルス12から周波数(fo+fm)の光パルス13を出
力する光周波数シフタ5と、光パルス13を光カプラ2
から光ファイバ10の近端10Bに導く光スイッチ6
と、光スイッチ6からの周波数foの連続光11を変換
表示する表示回路7と、光スイッチ4、光周波数シフタ
5及び光スイッチ6を制御するタイミング制御回路8と
を備え、光ファイバ10内の周波数foの連続光11と
周波数(fo+fm)の光パルス13とでブリルアン増
幅特性をもつBOTDAを構成する。
ファイバ歪位置測定装置の構成を図1により説明する。
図1の1は光源、2は光カプラ、3は光増幅器、4は光
スイッチ、5は光周波数シフタ、6は光スイッチ、7は
表示回路、8はタイミング制御回路である。
イバ10の遠端10Aに入射し、連続光11は光ファイ
バ10を通過し、光ファイバ10の近端10Bに接続さ
れた光カプラ2に入る。光カプラ2により分岐された連
続光11は光増幅器3で増幅され、光増幅器3で増幅さ
れた連続光11は光スイッチ4で光パルス12に変換さ
れる。
周波数(fo+fm)の成分をもつ光パルス13に変換
される。光周波数シフタ5の構成と作用は後述の図2に
より説明する。図1では光周波数シフタ5から光パルス
13を取り出し、光スイッチ6と光カプラ2を通して光
ファイバ10の近端10Bに入れる。
Bに入ると、光パルス13は光ファイバ10の遠端10
Aから入ってくる連続光11と連続的に衝突しながら遠
端10Aに向かって進行する。周波数fmが光ファイバ
10のブリルアン周波数と一致していれば、遠端10A
からの連続光11は増幅されながら光ファイバ10の近
端10Bに導かれ、光ファイバ10の損失特性を情報と
して取り込む。これはブリルアン増幅特性を用いるBO
TDAに一致する。
2により説明する。図5の5Aは光カプラ、5Bは周波
数シフタ、5Cは光カプラ、5Dは光スイッチ、5Eは
遅延線、5Fは光増幅器、5GはAPC、5Hは変調回
路である。光スイッチ5Dは図1の光スイッチ4、光ス
イッチ6と構成が同じで例えば1μsで動作する光スイ
ッチである。
12は、光カプラ5A、周波数シフタ5B、光カプラ5
C、光スイッチ5D、Δtの遅延線5E、光増幅器5F
で構成するループ回路により、周波数(fo+fm)の
成分をもつ光パルス13に変換される。fmは周波数シ
フタ5Bを通過する回数nと周波数シフタ5Bのシフト
周波数Δfの積で定義される。ループ内をn回回転した
とき、スイッチ5Dで周波数(fo+fm)の光パルス
13を取り出し、スイッチ6へ導く。なお、光周波数シ
フタについては、1992年電子情報通信学会秋季大会講演
論文集分冊4のB−773にも記載されている。
説明する。図3アは光スイッチ6のタイミング波形であ
り、図3イは光スイッチ4のタイミング波形である。図
3ウは光周波数シフタ5内の光スイッチ5Dのタイミン
グ波形であり、図3エは光パルス12の波形図である。
図3オは光周波数シフタ5内で発生する波形図であり、
図3カは光パルス13の波形図である。
ミングで図3ウの光スイッチ5Dがオンになり、図3エ
の光パルス12を発生する。図3エの光パルス12は光
周波数シフタ5内のループを回転することにより、図3
オの周波数fo+Δf、fo+2Δf、fo+3Δfな
どを発生し、周波数(fo+fm)になったとき、図3
アの光スイッチ6のタイミングで図3カの光パルス13
を取り出す。
周波数シフトは約10.9GHzに相当する。また、図2の
周波数シフタ5BとしてA/Oスイッチを使用し、A/
Oスイッチの駆動周波数を制御する変調回路5Hから周
波数シフタ5Bの光周波数シフト量を制御する。その範
囲は 115〜 125MHzとする。
たい場合、連続光11とパルス光13の相対周波数差は
10.9GHz±1GHzが必要なので、周波数シフタ5B
を通過する回数nと周波数シフタ5Bを駆動する周波数
を制御すれば、10.9GHz±1GHzの範囲にすること
ができる。例えば 9.9GHzをシフトしたい場合、n=
83回、駆動周波数119.278 MHzにすれば、パルス光1
3の周波数は連続光11より 9.9GHzも高くなる。
する。図7の7Aは光フィルタ、7BはO/E変換器、
7Cは増幅器、7DはA/D変換器、7Eは加算器、7
FはCRTである。光フィルタ7Aは周波数(fo+f
m)の成分を除き、周波数foだけを取り出す。O/E
4変換器7B以下により周波数fo成分がCRT7Fに
表示される。なお、表示回路7は通常の光パルス試験器
に使用されている表示回路と同じものである。
用することにより、1つの連続光による測定系から2つ
の光源でブリルアン増幅特性を用いるBOTDAに一致
した測定系を構成することができ、測定系を安定にする
ことができる。
バ歪位置測定装置の構成図である。
成図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 周波数foの連続光(11)を光ファイバ(1
0)の遠端(10A) から入射する光源(1) と、 光ファイバ(10)の近端(10B) から取り出した連続光(11)
を分岐する光カプラ(2) と、 光カプラ(2) で分岐された連続光(11)を増幅する光増幅
器(3) と、 光増幅器(3) で増幅された連続光(11)から第1の光パル
ス(12)をつくり出す第1の光スイッチ(4) と、 第1の光パルス(12)から周波数(fo+fm)の第2の
光パルス(13)をつくり出す光周波数シフタ(5) と、 第2の光パルス(13)を光カプラ(2) から光ファイバ(10)
の近端(10B) に導く第2の光スイッチ(6) と、 第2の光スイッチ(6) からの周波数foの連続光(11)を
変換表示する表示回路(7) と、 第1の光スイッチ(4) 、光周波数シフタ(5) 及び第2の
光スイッチ(6) のタイミングを制御するタイミング制御
回路(8) とを備え、 光ファイバ(10)内の周波数foの連続光(11)と周波数
(fo+fm)の第2の光パルス(13)とでブリルアン増
幅特性をもつBOTDAを構成することを特徴とする光
周波数シフタを用いる光ファイバ歪位置測定装置。
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