JP3030574B2 - 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置 - Google Patents
微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置Info
- Publication number
- JP3030574B2 JP3030574B2 JP3159852A JP15985291A JP3030574B2 JP 3030574 B2 JP3030574 B2 JP 3030574B2 JP 3159852 A JP3159852 A JP 3159852A JP 15985291 A JP15985291 A JP 15985291A JP 3030574 B2 JP3030574 B2 JP 3030574B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cantilever
- probe
- recording
- micro
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q20/00—Monitoring the movement or position of the probe
- G01Q20/04—Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezoelectric gauge
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/02—Multiple-type SPM, i.e. involving more than one SPM techniques
- G01Q60/04—STM [Scanning Tunnelling Microscopy] combined with AFM [Atomic Force Microscopy]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/10—STM [Scanning Tunnelling Microscopy] or apparatus therefor, e.g. STM probes
- G01Q60/16—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
- G01Q60/38—Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/08—Probe characteristics
- G01Q70/10—Shape or taper
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q70/00—General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
- G01Q70/08—Probe characteristics
- G01Q70/14—Particular materials
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B9/00—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
- G11B9/12—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor
- G11B9/14—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using near-field interactions; Record carriers therefor using microscopic probe means, i.e. recording or reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as used in Scanning Tunneling Microscopy [STM] or Atomic Force Microscopy [AFM] for inducing physical or electrical perturbations in a recording medium; Record carriers or media specially adapted for such transducing of information
- G11B9/1418—Disposition or mounting of heads or record carriers
- G11B9/1427—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement
- G11B9/1436—Disposition or mounting of heads or record carriers with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other or for access to indexed parts without effectively imparting a relative movement with provision for moving the heads or record carriers relatively to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N30/00—Piezoelectric or electrostrictive devices
- H10N30/20—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
- H10N30/204—Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
- H10N30/2041—Beam type
- H10N30/2042—Cantilevers, i.e. having one fixed end
- H10N30/2044—Cantilevers, i.e. having one fixed end having multiple segments mechanically connected in series, e.g. zig-zag type
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q80/00—Applications, other than SPM, of scanning-probe techniques
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
- Y10S977/86—Scanning probe structure
- Y10S977/873—Tip holder
Landscapes
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
等の探針の位置決めに片持ばりのたわみを利用した微小
変位型情報検知探針素子及びかかる素子を搭載した走査
型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置に関
する。
量は益々大きくなる傾向がある。このような傾向におい
ては記録単位の大きさが益々小さくなり、その密度がさ
らに高くなることが必須要件となる。例えば、光記録に
よるデジタルオーディオディスクにおいては記録単位の
大きさは1μm2程度にまで及んでいる。
造を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(以後STM
と略す)が開発され[G. Binnig eta
l.,Phys.Rev.Lett.49,57(19
82)]、単結晶,非晶質を問わず実空間像の高い分解
能の測定ができるようになり、しかも、電流による損傷
を媒体に与えることなく、低電力で観測できる利点をも
有し、さらには超高真空中のみならず、大気中、あるい
は溶液中でも動作し種々の材料に対して用いることがで
きるため、広範囲な応用が期待されている。
極)と導電性物質の間に電圧を加えて1nm(10Å)
程度の距離まで近づけると両者の間に電流が流れること
を利用している。この電流は両者の距離変化に非常に敏
感であり、電流もしくは両者の平均的な距離を一定に保
つように探針を走査することにより実空間の表面情報を
得ることができる。この際、面内方向の分解能は1Å以
上である。
て電圧電流のスイッチング特性に対してメモリー効果を
もつ材料、例えば、π電子系有機化合物やカルコゲン化
物類の薄膜層等を用いれば記録単位が0.001μm2
以下の情報記録が可能である。
す)は、試料表面に対して1ナノメートル以下の距離ま
で接近させた探針を支持するカンチレバー(弾性体)
が、試料−探針間に働く力を受けてたわむ量から、逆に
力を検出し、この力を一定にするように試料−探針間の
距離を制御しながら試料表面を走査することにより、表
面の3次元形状をナノメートル以下の分解能で観察する
ものである[Binniget.al,Phys.Re
v.Lett.56,930(1986)]。かかるA
FMでは、走査型トンネル顕微鏡(STM)のように試
料が導電性を有する必要がなく、絶縁性試料、特に半導
体レジスト面や生体高分子などを原子・分子オーダーで
観察可能であるため、広い応用が期待されている。
再生を行うために、多くの装置が提案されている。例え
ば、特開昭62−281138号公報に示されている装
置では、変換器と、情報の記録・再生を行う探針と、記
録媒体と探針間距離を調整する探針駆動機構を、シリコ
ンチップ上にフォトリソグラフィー技術を用いて一体で
形成し、記録ヘッドの集積化を行っている。
密度の記録再生装置に設置する場合、記録ヘッド1つの
占有する記録面積がμmオーダであるため、記録ヘッド
を数100〜数1000個用意し、さらに、記録媒体と
複数の記録ヘッド間においてmmオーダの相対的移動を
行える形態にして、記録容量或いは記録スピードを上げ
ることが必要となっている。
1000個を有する記録ヘッドを用意し、記録媒体に近
傍させ、かつ記録媒体と記録ヘッドを相対的にmmの移
動を行う場合、以下の問題点が生じる。 1)記録媒体と記録ヘッド先端に設置されている記録探
針との距離は、数nmという非常に近接した状態にあ
る。この状態で、記録ヘッドが記録媒体に追従するため
には、記録ヘッドの変位量が1μm程度であることか
ら、記録媒体や基板のうねり、或いは傾きを1μm程度
以内におさえなければならない。 2)記録媒体や基板は数μm周期の大きなうねり以外
に、記録ビットや基板の作製時にできたnm周期の凹凸
をも有している。この記録媒体と記録ヘッドを相対的に
数mm移動させる場合、記録ヘッドはnm周期の凹凸と
μm周期のうねりの両方に追従することが必要となる。
従って、μm周期のうねりに追従できる状態でnm周期
の凹凸に追従しようとすると、共振周波数との関係上装
置速度を上げることが困難である。
的とするところは、 1)記録媒体や基板のμmオーダのうねり等及びnmオ
ーダの周期的表面凹凸等の全てに対応して追従すること
が可能な微小変位型情報検知探針素子を提供することに
ある。 2)また、かかる微小変位型情報検知探針素子を用いる
ことで、アクセス速度の向上及び安定化等を可能ならし
めた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、さらに
は、記録,再生,等を行える情報処理装置を提供するこ
とにある。
の本発明は、第1に、アクチュエータを備える第1の片
持ばりと、前記第1の片持ばりから延長された、前記第
1の片持ばりより高い共振周波数を有する第2の片持ば
りと、前記第2の片持ばりの自由端部に形成された情報
検知探針とを備えた微小変位型情報検知探針素子、第2
に、前記アクチュエータは、ユニモルフ素子アクチュエ
ータである前記第1に記載の微小変位型情報検知探針素
子、第3に、前記第1〜第2のいずれかに記載の微小変
位型情報検知探針素子を利用した走査型トンネル顕微
鏡、第4に、前記第1〜第2のいずれかに記載の微小変
位型情報検知探針素子を利用した原子間力顕微鏡、第5
に、前記第1〜第2のいずれかに記載の微小変位型情報
検知探針素子を利用した情報処理装置、としているもの
である。
クチュエータを備える第1の片持ばりの延長上に、この
第1の片持ばりより高い共振周波数を有する第2の片持
ばりを形成し、かつ、この第2の片持ばりの自由端部に
情報検知探針を設けたことにあり、かかる構成によって
以下のような作用が得られる。
な場合には、共振周波数の異なる第1の片持ばりと第2
の片持ばりのそれぞれのたわみによって、記録媒体や基
板が有するμmオーダーのうねりやnmオーダーの凹凸
のそれぞれに追従させることができる。 また、第2の片
持ばりは第1の片持ばりから延長されて形成されるた
め、第2の片持ばりの自由端部に形成されている探針
は、第1の片持ばりと第2の片持ばりのたわみ量の総和
に等しい変位量が得られ、たわみ変位量が拡大する。 第
1の片持ばりのアクチュエータとして例えば圧電材料を
用いたユニモルフ素子アクチュエータを用いた場合、圧
電材料に外部から電場Eが加えられると、圧電結晶中に
分極Pが生じ、その結晶は分極Pに比例する微小な歪み
を起こす。通常の誘電体では、分極Pは電場Eに比例す
るので歪みはEに比例する。
圧電材に部分的に異ならしめた電場を与えることで、全
体として板状のたわみを起こさせることができるもので
ある。
述する。尚、実施例1〜4に係る微小変位型情報検知探
針素子は本発明に含まれないものであるが、参考実施例
として記載した。
と動作模式図である。図1において、100は基板、1
01は片持ばりを形成するためのSiO2 やSi3 N4
等の絶縁層、102〜107,112〜118は片持ば
りを三次元的に駆動するためのAu,Al等の材料を用
いた電極、109,111は電気信号を与えることによ
り微小変位を行うPZT,ZnO,AlN等の圧電材
料、120はトンネル電流,原子間力,磁気力等の電流
や力等を検知するための情報検知探針、119は逆向き
の微小片持ばりを形成するための屈曲スリットである。
り201の初期状態図であり、図2(b)は片持ばり2
01と逆向きの微小片持ばり202が逆圧電効果により
変位した時の状態図である。
型情報検知探針素子を、図1及び図2を用いてさらに詳
細な説明を行う。
工程を以下に示す。厚さ0.5mmのSi(100)基
板100上に、CVD法によりSi3 N4 膜を0.15
μmの厚さに成膜して絶縁層101を形成した。使用し
た原料ガスはSiH2 Cl2:NH3 (1:9)であ
り、基板温度は800℃であった。次に、フォトリソグ
ラフィー技術とCF4 ガスを用いたドライエッチングを
用いて、Si3 N4 膜102を図1に示すような所望の
片持ばりと、屈曲スリット119により形成される逆向
きの微小片持ばりの形状にパターニングした。続いて、
電極102〜107の材料として、スパッタ法により絶
縁層101の片持ばり部にAuを0.1μm成膜し、フ
ォトリソグラフィー技術を用いて所望の形状にパターニ
ングした。この際のパターニング形状は、図1中上面に
示された電極112〜117と同一である。尚、Si3
N4 とAuとの密着性を向上させるためにCrを成膜し
てもよい。次に、圧電材料109として、スパッタ法に
より、AlNを0.3μm成膜した。ターゲットにはA
lを用い、Ar+N2 雰囲気でスパッタした。さらに、
フォトリソグラフィーとAl用エッチング液によるウェ
ットエッチングでパターニングした。その後、上記工程
を繰り返し、圧電材料と電極を交互に形成して、図1に
示すようなSi基板−Si3 N4 −Au−AlN−Au
−AlN−Auのバイモルフ構造を形成した。最後に、
情報検知探針120の材料として、蒸着法によりWを円
錐形状に堆積した。
知探針素子の片持ばりの大きさは、幅150μm,長さ
600μmであった。また屈曲スリット119の内側に
形成された逆向きの微小片持ばりの大きさは、幅50μ
m,長さ300μmであった。
113,114,115,116,117の電極と10
2,103,104,105,106,107の電極が
各々対応して同一形状であり、中間電極である110
は、片持ばり全面に形成されている。
針素子の駆動方法を説明する。先ず、AlN圧電素子1
09,111に電圧を掃引しない場合は、図2(a)の
ような形態である。次に、Au電極110をグランドと
して、113,117の上部電極にマイナスバイアスを
掃引し、103,107の下部電極にはプラスバイアス
を掃引し、104,106の下部電極にはマイナスバイ
アスを掃引し、114,116の上部電極にはプラスバ
イアスを掃引し、102,105の下部電極にはプラス
バイアスを掃引し、112,115の上部電極にはマイ
ナスバイアスを掃引する。これにより生じる逆圧電効果
を利用してAlN圧電素子109,111を伸縮させる
ことにより、図2(b)に示すようなたわみ変位を得る
ことができる。
子を使用すれば、寸法が従来の片持ばりと同一であって
も、従来に比べ1.5倍〜2倍程度の変位量を得ること
が可能となった。尚、本実施例で示した屈曲スリット1
19の大きさ及び形状は本実施例に限定する必要はな
く、様々な形状を持つことが可能である。例えば、屈曲
スリットの形状は山状の形状でもよい。
例を示す。図3中、100は基板、101は絶縁層、3
01は片持ばり、302,303は屈曲スリット、30
4は第1の逆向き微小片持ばり、305は第1の逆向き
微小片持ばり304の内側に形成した第2の微小片持ば
りである。
造と同様の絶縁材料,圧電材料,電極材料が、Si基板
100上にSi3N4−Au−AlN−Au−AlN−A
uのバイモルフ構造として形成されている。図4は、図
3の変位前後の状態模式図である。
載の駆動方法と同様の方法でバイアス電圧を与え、不図
示のAlN圧電材料を変位させ、301,304,30
5の片持ばりをたわませる。その結果、図4(b)に示
すように、従来の片持ばりと同一寸法をもつ本実施例の
素子を使用し、2〜3倍の変位量を得ることができた。
ことにより、変位量を実施例1よりもさらに大きくとる
ことができた。
す。
501は片持ばり、502は片持ばり501上に並列に
スリット503を2個設けて形成した逆向きの微小片持
ばりである。また、120は情報検知探針である。この
構成にすることにより、情報検知探針を持つ微小片持ば
りのどちらか一方を予備の片持ばりとして待機させてお
くことが可能となり、片方が何んらかの影響で破損して
も、すぐに復元できることが可能となった。
としたが、何んら2つに限る必要はなく、多数配置させ
てもよい。
す。
記録・再生が可能な情報処理装置に搭載した場合の実施
例を示す。図6中、600は情報を記録再生するための
探針、601は片持ばり、602は片持ばり601上に
設けられた微小片持ばり、603は電圧−電流のスイッ
チング特性に対してメモリ効果をもつスクアリリウム−
ビス−6−オクチルアズレンをグラファイト基板上にL
B法を用いて8層累積した記録層、604は電極、60
5は基板、606はXYステージ、607は基板、60
8は縦方向(Z軸方向)位置制御手段、609は探針6
00と記録層603間に流れるトンネル電流を電圧に変
換する電流電圧変換回路、610は対数変換器、611
は比較器、612はある特定の周波数成分だけの信号を
取り出すバンドパスフィルター、613は増幅器、61
4は決められた低い周波数の信号を取り出すローパスフ
ィルター、615は増幅器、616は片持ばり601及
び微小片持ばり602を三次元に駆動するための三次元
走査回路、617は縦方向位置制御手段608を駆動す
るための駆動回路、618は記録層603に情報を記録
再生するためのパルス電源、619はXYステージ60
6を駆動するための大粗動回路である。
度の記録再生装置を大気中にて動作させる。探針600
と記録層603との間の距離が、数nm(ナノメート
ル)の一定状態になるように制御するために、電流電圧
変換回路609,対数変換回路610,比較器611,
バンドパスフィルター612,ローパスフィルター61
4,増幅器613,615を通じた電気的フィードバッ
ク信号を、片持ばり601及び微小片持ばり602に与
える。探針600と記録層603との間の位置検知手段
としては、トンネル電流を利用した。以上の状態で、記
録・再生が行える状態となる。記録は、三次元走査回路
616と、XYステージ606,大粗動回路619を用
いて任意の場所に移動させ、パルス電源618を用いて
探針600と記録層603との間に電気メモリ効果を生
じる閾値電圧である1.5Vを越える2V,パルス幅1
μsecの電圧を印加した。その結果、電気的にオン状
態(電流がオフ状態に比べて3ケタ以上多く流れる状
態)を記録層603に書き込むことができた。この記録
位置を再びトレースし、オン状態を再生することが可能
であった。
ム−ビス−6−オクチルアズレンをグラファイト基板上
にLB法を用いて8層累積したものを記録媒体として用
いた例を示したが、記録媒体(記録層)の材料としては
書き込み、消去のできるものであれば何でもよく、ま
た、媒体の作製方法についても、何んらこれらに限定す
る必要はない。
をmmオーダで動かすわけだが、かかる場合には、探針
600が記録層603,電極604,基板605各々固
有の凹凸やうねりにより接触する可能性があるので、片
持ばり601或いは微小片持ばり602に電気的フィー
ドバック信号を送り、接触を回避させなければならな
い。
基板605の有する数10Hz周期の大きなうねりと、
電極604の有する数100Hzの凹凸とに追従するよ
うに、比較器611からの信号を2つに分岐させ、数1
0Hz周期の信号はローパスフィルター614を通して
片持ばり801に、数100Hz周期の信号はバンドパ
スフィルター612を通して微小片持ばり602に送ら
れる。
と微小片持ばり602を独立に動作させることにより、
高速の走査が可能になり、本実施例の情報処理装置のア
クセス速度を向上させることができた。
ことだが、絶縁層101を形成するSi3N4,圧電材料
であるAlN,電極材料であるAuはそれぞれ異なった
線膨張率やヤング率等を有するため、これらが層構造を
成して片持ばりが形成される場合、温度変化によって片
持ばりのたわみを生ずる場合がある。従って、かかる熱
膨張あるいは収縮をも考慮した上で探針が適正な位置に
くるように、片持ばり及び微小片持ばりの寸法(長さ
等)を適宜選定することが好ましい。
を示す。本実施例において、微小変位型情報検知素子は
アクチュエーター付片持ばり部分701と微小片持ばり
部分702の2段構成になっており、微小片持ばり部分
702の先端には記録信号印加および再生信号検出のた
めの探針703が取り付けられている。この微小変位型
情報検知探針素子の詳細は図7(b)に示すとおり、S
i基板704の上に設けた2段片持ばりを構成するSi
3N4層705上に、探針703に記録信号印加のための
Au配線706が設けられ、さらにその上層に、絶縁層
としてのSi3N4層707、ユニモルフ素子アクチュエ
ーターを構成するAu層708、ZnO層709、Au
層710の3層からなる1段目の片持ばりを構成する部
分が設けられている。
施例1に述べた方法とほぼ同様であり、Si(100)
基板上にCVD法によりSi3N4を0.5μmの膜厚に
成膜後、上部にスパッタ法によりAu配線を0.1μm
の膜厚に成膜する。ここで、フォトリソグラフィー工程
により2段目片持ばりの形状にパターニング後、1段目
の片持ばりの部分に再びCVD法によりSi3N4層を
0.1μm成膜し、パターニングを繰り返しながらスパ
ッタ法によりAu層0.1μm,ZnO層0.3μm,
Au層0.1μmを成膜する。そして、2段目の片持ば
り部分の先端に電子ビームデポジション法により、炭素
等の導電性材料を蒸着して探針を作製し、最後に基板裏
面からKOHによる異方性エッチングにより片持ばりを
形成する。
知探針素子の片持ばりの大きさは、アクチュエーター付
片持ばり部分が幅150μm,長さ600μmの矩形
型、微小片持ばり部分が幅20μm,長さ100μmの
V字型であった。
型情報検知探針素子を記録・再生を行える情報処理装置
に応用した例について説明する。記録媒体基板801に
対して先端を1ナノメートル以下の距離にまで探針80
2を接近させ、相対的に横方向に走査する。ここで、レ
ーザー803からの光ビームを探針802を支持する微
小片持ばり部分804先端の裏面に照射し、その反射光
ビームスポット位置を2分割センサ805によって検知
しておく。記録媒体基板801と探針802との間に働
く原子間力の大きさに変化が生じると、微小片持ばり部
分のたわみ量に変化が生じ、反射光ビームの角度変化を
伴うため2分割センサ805上のビームスポット位置に
変化が生じる。そこで、このビームスポット位置が一定
になるように、すなわち、記録媒体基板801と探針8
02との間に働く原子間力の大きさが一定になるよう
に、アクチュエーター付片持ばり部分806のたわみ変
位量を制御する。この制御信号の大きさから、原子間力
の大きさが一定になるよう探針802が上下する制御
量、すなわち記録媒体基板801表面の形状を検知する
ことができる。このとき、アクチュエーター付片持ばり
部分806のたわみ変位に対する共振周波数は1kHz
程度であるが、微小片持ばり部分804のたわみに対す
る共振周波数は50kHz程度となるので、探針802
が記録媒体基板801表面のミクロンオーダーの大きな
うねり,傾き807に対しては、アクチュエーター付片
持ばり部分806のたわみ変位により、ナノメートルオ
ーダーの記録ビット808,基板の凹凸809に対して
は、微小片持ばり部分804のたわみにより、基板表面
を走査させることができる。このように、アクチュエー
ター付片持ばり部分806,微小片持ばり部分804を
独立に動作させることにより、高速の走査が可能にな
り、本実施例の情報処理装置のアクセス速度を向上させ
ることができた。
る。記録媒体基板801として例えば、マイカ上でエピ
タキシャル成長させたAu(111)面等導電性を有
し、かつ広範囲にわたってサブナノメートルオーダーで
平坦なものを用いる。上述のように探針を基板に接近さ
せ、その間に5V,100μsのパルス電圧を印加する
ことにより、10nm程度の径を有する凸形状のビット
を形成することができる。記録法としては、ここに挙げ
た例以外に、記録媒体基板表面形状を変化させるような
方法であればいかなるものでもよく、他の材料でも、ま
た凹形状のビットを形成するものであってもよい。再生
法としては、記録ビットに探針が接近したときに、その
間に働く原子間力により、探針を支持する微小片持ばり
がたわむ量を2分割センサ上の反射光ビームスポットの
位置ずれ量を検出し、これを再生信号とする。なお、記
録ビット等の高周波の信号に対しては、アクチュエータ
ー付片持ばり部分は追従しないため、このような再生が
可能となるものである。
型情報検知探針素子では、第2の片持ばりは第1の片持
ばりから延長されて形成されるため、第2の片持ばりの
自由端部に形成されている探針は、第1の片持ばりと第
2の片持ばりのたわみ量の総和に等しい変位量が得ら
れ、たわみ変位量の拡大が実現できる。
子を走査型トンネル顕微鏡や原子間力顕微鏡、高密度の
記録・再生を行う情報処理装置に搭載した場合には、共
振周波数の異なる第1の片持ばりと第2の片持ばりの機
能を分離して動作させることが可能となり、従来よりも
アクセス速度を向上させることができ、高安定で高速の
走査型トンネル顕微鏡,原子間力顕微鏡及び情報処理装
置を提供できた。
情報検知探針素子の立体斜視図である。
す。
情報検知探針素子の立体斜視図である。
す。
情報検知探針素子の立体斜視図である。
載した情報処理装置を示すブロック図である。
知探針素子の立体斜視図および断面図である。
知探針素子を搭載した情報処理装置を示す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 アクチュエータを備える第1の片持ばり
と、前記第1の片持ばりから延長された、前記第1の片
持ばりより高い共振周波数を有する第2の片持ばりと、
前記第2の片持ばりの自由端部に形成された情報検知探
針とを備えた微小変位型情報検知探針素子。 - 【請求項2】 前記アクチュエータは、ユニモルフ素子
アクチュエータである請求項1記載の微小変位型情報検
知探針素子。 - 【請求項3】 請求項1〜2のいずれかに記載の微小変
位型情報検、知探針素子を利用した走査型トンネル顕微
鏡。 - 【請求項4】 請求項1〜2のいずれかに記載の微小変
位型情報検知探針素子を利用した原子間力顕微鏡。 - 【請求項5】 請求項1〜2のいずれかに記載の微小変
位型情報検知探針素子を利用した情報処理装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3159852A JP3030574B2 (ja) | 1990-08-16 | 1991-06-05 | 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置 |
| EP91307429A EP0472342B1 (en) | 1990-08-16 | 1991-08-13 | Micro-displacement type information detection probe device and microscope and information processing device by use thereof |
| US07/744,521 US5276672A (en) | 1990-08-16 | 1991-08-13 | Micro-displacement type information detection probe device and scanning tunneling microscope, atomic force microscope, information processing device by use thereof |
| DE69128317T DE69128317T2 (de) | 1990-08-16 | 1991-08-13 | Fühlervorrichtung zum Nachweis von Mikroverschiebungen sowie Mikroskop- und Informationsverarbeitungseinrichtungen, die eine solche Vorrichtung verwenden |
| AT91307429T ATE160865T1 (de) | 1990-08-16 | 1991-08-13 | Fühlervorrichtung zum nachweis von mikroverschiebungen sowie mikroskop- und informationsverarbeitungseinrichtungen, die eine solche vorrichtung verwenden |
| CA002049197A CA2049197C (en) | 1990-08-16 | 1991-08-14 | Micro-displacement type information detection probe device and scanning tunneling microscope, atomic force microscope, information processing device by use thereof |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-215021 | 1990-08-16 | ||
| JP21502190 | 1990-08-16 | ||
| JP3159852A JP3030574B2 (ja) | 1990-08-16 | 1991-06-05 | 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0518741A JPH0518741A (ja) | 1993-01-26 |
| JP3030574B2 true JP3030574B2 (ja) | 2000-04-10 |
Family
ID=26486524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3159852A Expired - Fee Related JP3030574B2 (ja) | 1990-08-16 | 1991-06-05 | 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5276672A (ja) |
| EP (1) | EP0472342B1 (ja) |
| JP (1) | JP3030574B2 (ja) |
| AT (1) | ATE160865T1 (ja) |
| CA (1) | CA2049197C (ja) |
| DE (1) | DE69128317T2 (ja) |
Families Citing this family (81)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH041948A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Canon Inc | 情報記録装置及び情報再生装置及び情報記録再生装置 |
| JP3198355B2 (ja) * | 1991-05-28 | 2001-08-13 | キヤノン株式会社 | 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 |
| JP2923813B2 (ja) * | 1991-06-11 | 1999-07-26 | キヤノン株式会社 | カンチレバー型変位素子、及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 |
| GB9112777D0 (en) * | 1991-06-13 | 1991-07-31 | Buser Rudolf A | Microprobe for surface scanning microscopes |
| US5606162A (en) * | 1991-06-13 | 1997-02-25 | British Technology Group Limited | Microprobe for surface-scanning microscopes |
| JP2593887Y2 (ja) * | 1991-12-19 | 1999-04-19 | 株式会社アドバンテスト | 原子間力顕微鏡用カンチレバー |
| JPH05282717A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Canon Inc | 記録媒体の製造方法、及び記録媒体、及び情報処理装置 |
| WO1993024963A1 (en) * | 1992-05-22 | 1993-12-09 | Trustees Of Boston University | Electrostrictive sensors and actuators |
| JPH0642953A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 原子間力顕微鏡 |
| JP3025120B2 (ja) * | 1992-12-21 | 2000-03-27 | キヤノン株式会社 | 記録再生装置 |
| US5537863A (en) * | 1993-07-15 | 1996-07-23 | Nikon Corporation | Scanning probe microscope having a cantilever used therein |
| US5689063A (en) * | 1993-07-15 | 1997-11-18 | Nikon Corporation | Atomic force microscope using cantilever attached to optical microscope |
| US6482013B2 (en) | 1993-11-16 | 2002-11-19 | Formfactor, Inc. | Microelectronic spring contact element and electronic component having a plurality of spring contact elements |
| US7073254B2 (en) | 1993-11-16 | 2006-07-11 | Formfactor, Inc. | Method for mounting a plurality of spring contact elements |
| DE4417132C2 (de) * | 1994-05-17 | 1996-08-14 | Ibm | Resonanter Meßwertaufnehmer und dessen Verwendung |
| JP3523688B2 (ja) * | 1994-07-06 | 2004-04-26 | オリンパス株式会社 | 試料測定用プローブ装置 |
| US6337479B1 (en) * | 1994-07-28 | 2002-01-08 | Victor B. Kley | Object inspection and/or modification system and method |
| US6339217B1 (en) * | 1995-07-28 | 2002-01-15 | General Nanotechnology Llc | Scanning probe microscope assembly and method for making spectrophotometric, near-field, and scanning probe measurements |
| US5751683A (en) * | 1995-07-24 | 1998-05-12 | General Nanotechnology, L.L.C. | Nanometer scale data storage device and associated positioning system |
| JPH08129875A (ja) * | 1994-10-28 | 1996-05-21 | Hewlett Packard Co <Hp> | 導電性針の位置ずれを低減したプローブ装置 |
| US5948972A (en) * | 1994-12-22 | 1999-09-07 | Kla-Tencor Corporation | Dual stage instrument for scanning a specimen |
| US6520005B2 (en) | 1994-12-22 | 2003-02-18 | Kla-Tencor Corporation | System for sensing a sample |
| KR100230243B1 (ko) * | 1994-12-29 | 1999-11-15 | 윤종용 | 광자기 디스크용 광픽업 |
| US5679889A (en) * | 1995-02-06 | 1997-10-21 | Nikon Corporation | Method for extracting electrode and cantilever for AFM using said method for extracting electrode |
| JPH08297129A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Nikon Corp | 原子間力顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法 |
| JPH08329538A (ja) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Hewlett Packard Co <Hp> | プローブ装置 |
| US5717631A (en) * | 1995-07-21 | 1998-02-10 | Carnegie Mellon University | Microelectromechanical structure and process of making same |
| US6507553B2 (en) | 1995-07-24 | 2003-01-14 | General Nanotechnology Llc | Nanometer scale data storage device and associated positioning system |
| US5874668A (en) * | 1995-10-24 | 1999-02-23 | Arch Development Corporation | Atomic force microscope for biological specimens |
| US6079255A (en) * | 1996-03-13 | 2000-06-27 | International Business Machines Corporation | Mechanically coupled alternatively usable cantilever structures for scanning a surface |
| GB9704769D0 (en) * | 1997-03-07 | 1997-04-23 | Powerbreaker Plc | Low component count release mechanism |
| US5886922A (en) * | 1997-05-07 | 1999-03-23 | Hewlett-Packard Company | Probe device for memory device having multiple cantilever probes |
| US6752008B1 (en) | 2001-03-08 | 2004-06-22 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for scanning in scanning probe microscopy and presenting results |
| US6923044B1 (en) | 2001-03-08 | 2005-08-02 | General Nanotechnology Llc | Active cantilever for nanomachining and metrology |
| US7196328B1 (en) | 2001-03-08 | 2007-03-27 | General Nanotechnology Llc | Nanomachining method and apparatus |
| US6787768B1 (en) | 2001-03-08 | 2004-09-07 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for tool and tip design for nanomachining and measurement |
| US6802646B1 (en) * | 2001-04-30 | 2004-10-12 | General Nanotechnology Llc | Low-friction moving interfaces in micromachines and nanomachines |
| US6016693A (en) * | 1998-02-09 | 2000-01-25 | The Regents Of The University Of California | Microfabrication of cantilevers using sacrificial templates |
| AU6061100A (en) * | 1999-07-01 | 2001-01-22 | General Nanotechnology, Llc | Object inspection and/or modification system and method |
| US7435108B1 (en) | 1999-07-30 | 2008-10-14 | Formfactor, Inc. | Variable width resilient conductive contact structures |
| US6713374B2 (en) | 1999-07-30 | 2004-03-30 | Formfactor, Inc. | Interconnect assemblies and methods |
| US7189077B1 (en) | 1999-07-30 | 2007-03-13 | Formfactor, Inc. | Lithographic type microelectronic spring structures with improved contours |
| US6888362B2 (en) | 2000-11-09 | 2005-05-03 | Formfactor, Inc. | Test head assembly for electronic components with plurality of contoured microelectronic spring contacts |
| US6780001B2 (en) | 1999-07-30 | 2004-08-24 | Formfactor, Inc. | Forming tool for forming a contoured microelectronic spring mold |
| US6939474B2 (en) | 1999-07-30 | 2005-09-06 | Formfactor, Inc. | Method for forming microelectronic spring structures on a substrate |
| US6647766B2 (en) * | 1999-12-31 | 2003-11-18 | International Business Machines Corporation | Device for contacting and/or modifying a surface having a cantilever and a method for production of said cantilever |
| US6445106B1 (en) * | 2000-02-18 | 2002-09-03 | Intel Corporation | Micro-electromechanical structure resonator, method of making, and method of using |
| KR100388916B1 (ko) * | 2000-12-12 | 2003-06-25 | 피에스아이에이 주식회사 | 주사 탐침 현미경용 캔틸레버 및 그의 제조 방법 |
| US6931710B2 (en) * | 2001-01-30 | 2005-08-23 | General Nanotechnology Llc | Manufacturing of micro-objects such as miniature diamond tool tips |
| US7253407B1 (en) | 2001-03-08 | 2007-08-07 | General Nanotechnology Llc | Active cantilever for nanomachining and metrology |
| KR100418881B1 (ko) * | 2001-05-23 | 2004-02-19 | 엘지전자 주식회사 | Afm 용 고감도 압전저항 캔틸레버 |
| US6642129B2 (en) * | 2001-07-26 | 2003-11-04 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Parallel, individually addressable probes for nanolithography |
| US7053369B1 (en) | 2001-10-19 | 2006-05-30 | Rave Llc | Scan data collection for better overall data accuracy |
| US6813937B2 (en) * | 2001-11-28 | 2004-11-09 | General Nanotechnology Llc | Method and apparatus for micromachines, microstructures, nanomachines and nanostructures |
| US6998689B2 (en) * | 2002-09-09 | 2006-02-14 | General Nanotechnology Llc | Fluid delivery for scanning probe microscopy |
| US7005781B2 (en) * | 2002-12-11 | 2006-02-28 | J. G. Smits | Devices for rotation using piezoelectric benders |
| GB0308810D0 (en) * | 2003-04-16 | 2003-05-21 | 1 Ltd | Recurved electro-active actuators |
| US7055378B2 (en) | 2003-08-11 | 2006-06-06 | Veeco Instruments, Inc. | System for wide frequency dynamic nanomechanical analysis |
| KR100613398B1 (ko) * | 2003-11-25 | 2006-08-17 | 한국과학기술연구원 | 캔틸레버 센서형 분석 시스템, 제조 방법 및 이를 이용한극미세 물질 감지 방법 |
| JP4585223B2 (ja) | 2004-04-22 | 2010-11-24 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | 圧電アクチュエータ及び圧電アクチュエータを用いたヘッドサスペンション装置 |
| US7414250B1 (en) | 2004-11-30 | 2008-08-19 | Northwestern University | Cryogenic variable temperature vacuum scanning tunneling microscope |
| US7395698B2 (en) * | 2005-10-25 | 2008-07-08 | Georgia Institute Of Technology | Three-dimensional nanoscale metrology using FIRAT probe |
| JP4316590B2 (ja) * | 2006-06-23 | 2009-08-19 | 株式会社東芝 | 圧電駆動型memsアクチュエータ |
| US20080151597A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Seagate Technology Llc | Wear-resistant multilayer probe |
| DE102007023549A1 (de) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Continental Automotive Gmbh | Festkörperaktoranordnung mit einem Biegeaktor |
| US7796493B2 (en) * | 2007-08-10 | 2010-09-14 | Intel Corporation | Cantilever on cantilever structure |
| US8624616B2 (en) * | 2008-07-01 | 2014-01-07 | Intel Corporation | Suspended IO trace design for SSP cantilever data read / write |
| CN101464244B (zh) * | 2008-12-19 | 2011-05-11 | 北京工业大学 | 应力状态下纳米材料力电性能与显微结构测量装置和方法 |
| JP5300559B2 (ja) * | 2009-03-30 | 2013-09-25 | 株式会社東芝 | 圧電駆動型mems素子 |
| US20110041224A1 (en) * | 2009-08-06 | 2011-02-17 | Purdue Research Foundation | Atomic force microscope including accelerometer |
| AU2011312039A1 (en) | 2010-10-05 | 2013-05-23 | Anpac Bio-Medical Science Co., Ltd. | Micro-devices for disease detection |
| DE102010052037B4 (de) * | 2010-11-23 | 2013-04-18 | Franz Josef Giessibl | Sensor und Verfahren zum berührungslosen Abtasten einer Oberfläche |
| WO2012073656A1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-07 | 株式会社村田製作所 | 圧電発電装置及びその製造方法 |
| WO2012128841A2 (en) | 2011-03-24 | 2012-09-27 | Anpac Bio-Medical Science Co., Ltd. | Micro-devices for disease detection |
| TW201314979A (zh) * | 2011-09-19 | 2013-04-01 | Chief Land Electronic Co Ltd | 換能器與能量轉換模組 |
| CN110726498B (zh) * | 2015-04-30 | 2021-12-31 | 意法半导体股份有限公司 | 用于检测诸如冲击、加速度、旋转力等平面内的力的集成压电传感器 |
| US9761787B2 (en) | 2015-06-02 | 2017-09-12 | The Board Of Trustees Of The University Of Alabama | Consensus-based multi-piezoelectric microcantilever sensor |
| BG66958B1 (bg) | 2016-07-21 | 2019-09-16 | Трифонов Ставров Владимир | Микроконзолни сензори за комбинирана микроскопия |
| CN112964910A (zh) * | 2020-09-16 | 2021-06-15 | 中国科学院沈阳自动化研究所 | 原子力显微镜一体化双探针快速原位切换测量方法与装置 |
| CN113092825B (zh) * | 2021-03-05 | 2022-12-30 | 中山大学 | 原子力显微镜系统及其电流检测方法 |
| US20250067768A1 (en) * | 2021-12-28 | 2025-02-27 | Asml Netherlands B.V. | Element of an afm tool |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1523364A (en) * | 1975-02-19 | 1978-08-31 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Phonograph pickup |
| US4112279A (en) * | 1977-09-02 | 1978-09-05 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Piezoelectric relay construction |
| CH643397A5 (de) * | 1979-09-20 | 1984-05-30 | Ibm | Raster-tunnelmikroskop. |
| JPS5858780A (ja) * | 1981-10-02 | 1983-04-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電歪素子 |
| JPS59177979A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-08 | Toshiba Corp | 圧電アクチユエ−タ |
| SU1093922A1 (ru) * | 1983-04-04 | 1984-05-23 | Tereshchenko Anatolij F | Устройство дл измерени силы |
| US4520570A (en) * | 1983-12-30 | 1985-06-04 | International Business Machines Corporation | Piezoelectric x-y-positioner |
| US4532802A (en) * | 1984-05-31 | 1985-08-06 | International Business Machines Corporation | Apparatus for analyzing the interface between a recording disk and a read-write head |
| EP0194323B1 (en) * | 1985-03-07 | 1989-08-02 | International Business Machines Corporation | Scanning tunneling microscope |
| JPH0695377B2 (ja) * | 1985-03-12 | 1994-11-24 | ソニー株式会社 | バイモルフヘツドのバイモルフ駆動装置 |
| GB8526866D0 (en) * | 1985-10-31 | 1985-12-04 | Emi Plc Thorn | Information recovery system |
| US4724318A (en) * | 1985-11-26 | 1988-02-09 | International Business Machines Corporation | Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution |
| DE3679319D1 (de) * | 1986-05-27 | 1991-06-20 | Ibm | Speichereinheit mit direktem zugriff. |
| US4906840A (en) * | 1988-01-27 | 1990-03-06 | The Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr., University | Integrated scanning tunneling microscope |
| JPH0758193B2 (ja) * | 1990-09-14 | 1995-06-21 | 三菱電機株式会社 | 原子間力顕微鏡の微動走査機構 |
-
1991
- 1991-06-05 JP JP3159852A patent/JP3030574B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-08-13 AT AT91307429T patent/ATE160865T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-08-13 US US07/744,521 patent/US5276672A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-08-13 DE DE69128317T patent/DE69128317T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-08-13 EP EP91307429A patent/EP0472342B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-08-14 CA CA002049197A patent/CA2049197C/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0472342A3 (en) | 1992-04-15 |
| CA2049197A1 (en) | 1992-02-17 |
| ATE160865T1 (de) | 1997-12-15 |
| CA2049197C (en) | 1992-02-17 |
| DE69128317D1 (de) | 1998-01-15 |
| EP0472342B1 (en) | 1997-12-03 |
| EP0472342A2 (en) | 1992-02-26 |
| DE69128317T2 (de) | 1998-04-09 |
| US5276672A (en) | 1994-01-04 |
| JPH0518741A (ja) | 1993-01-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3030574B2 (ja) | 微小変位型情報検知探針素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、情報処理装置 | |
| JP2741629B2 (ja) | カンチレバー型プローブ、それを用いた走査型トンネル顕微鏡及び情報処理装置 | |
| JP3192887B2 (ja) | プローブ、該プローブを用いた走査型プローブ顕微鏡、および前記プローブを用いた記録再生装置 | |
| JP3198355B2 (ja) | 微小変位素子及びこれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 | |
| US5506829A (en) | Cantilever probe and apparatus using the same | |
| CA2055852C (en) | Slope detection method, and information detection/writing apparatus using the method | |
| CA2069708C (en) | Probe-driving mechanism, production thereof, and apparatus and piezoelectric actuator employing the same | |
| JPH05284765A (ja) | カンチレバー型変位素子、及びこれを用いたカンチレバー型プローブ、及びこのカンチレバー型プローブを用いた走査型トンネル顕微鏡並びに情報処理装置 | |
| JP3135779B2 (ja) | 情報処理装置 | |
| JPH05250734A (ja) | 情報処理装置 | |
| JP3610108B2 (ja) | 情報処理装置 | |
| JP3224174B2 (ja) | 微小変位素子、光偏向器、走査型プローブ顕微鏡、および情報処理装置 | |
| JP3062967B2 (ja) | カンチレバー型アクチュエータ及びそれを用いた走査型トンネル顕微鏡、情報処理装置 | |
| JP3015974B2 (ja) | マルチプローブユニット、情報処理装置、走査型トンネル顕微鏡、カンチレバー型プローブ | |
| JP3234722B2 (ja) | 円弧状反りレバー型アクチュエータ、該アクチュエータの駆動方法及び情報入出力用プローブを用いた情報処理装置 | |
| JPH0763548A (ja) | カンチレバー型プローブ、及びそれを有する走査型トンネル顕微鏡並びに情報処理装置 | |
| JP2890268B2 (ja) | プローブユニット及びこれを用いた情報処理装置と走査型トンネル顕微鏡 | |
| JP3118654B2 (ja) | 情報処理装置及び走査型トンネル電子顕微鏡 | |
| JPH06317404A (ja) | カンチレバー型アクチュエータ及びそれを用いた走査型探針顕微鏡並びに情報処理装置 | |
| JPH0933542A (ja) | 原子間力及び/または電流検知用プローブの形成方法、及びこれにより形成されたプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡、情報処理装置 | |
| JP2934057B2 (ja) | プローブユニット及びこれを使用する情報記録及び/又は再生装置 | |
| JPH0478037A (ja) | 記録再生装置及び記録再生消去方法 | |
| JPH05342648A (ja) | 情報読取り及び/又は入力装置 | |
| JPH04337540A (ja) | 情報再生装置 | |
| JPH06195774A (ja) | 情報処理装置および走査型プローブ顕微鏡と複数プローブ制御方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000104 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080210 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090210 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210 Year of fee payment: 11 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |