JP2818301B2 - ファラデー効果を利用して2つの逆向きの光信号により電流を測定する方法および装置 - Google Patents
ファラデー効果を利用して2つの逆向きの光信号により電流を測定する方法および装置Info
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
-
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Description
【発明の詳細な説明】 ファラデー効果を利用して電流導体中の電流を測定す
るための磁気光学的変流器とも呼ばれる光学的測定装置
は知られている。ファラデー効果とは、磁界に関係して
の直線偏光した光の偏光面の回転をいう。その際に回転
角度は光が通った経路に沿う磁界の経路積分に比例して
おり、その比例定数はベルデ定数と呼ばれている。ベル
デ定数は一般に材料、温度および波長に関係している。
電流を測定するためには、たとえばガラスのような光学
的に透過性の材料から成るファラデー効果素子が電流導
体の近くに配置されている。電流により発生される磁界
が、ファラデー効果素子を通して送られる直線偏光した
光の偏光面を測定信号として評価され得る回転角度だけ
回転させる。一般に、測定光が電流導体を閉じられた経
路で巡るように、ファラデー効果素子は電流導体を囲ん
でいる。この場合に、回転角度の大きさは測定すべき電
流の振幅に良好な近似度で直接に比例している。
るための磁気光学的変流器とも呼ばれる光学的測定装置
は知られている。ファラデー効果とは、磁界に関係して
の直線偏光した光の偏光面の回転をいう。その際に回転
角度は光が通った経路に沿う磁界の経路積分に比例して
おり、その比例定数はベルデ定数と呼ばれている。ベル
デ定数は一般に材料、温度および波長に関係している。
電流を測定するためには、たとえばガラスのような光学
的に透過性の材料から成るファラデー効果素子が電流導
体の近くに配置されている。電流により発生される磁界
が、ファラデー効果素子を通して送られる直線偏光した
光の偏光面を測定信号として評価され得る回転角度だけ
回転させる。一般に、測定光が電流導体を閉じられた経
路で巡るように、ファラデー効果素子は電流導体を囲ん
でいる。この場合に、回転角度の大きさは測定すべき電
流の振幅に良好な近似度で直接に比例している。
ファラデー効果素子は電流導体の周りの中実のガラス
リングとして構成されていてよいし(ヨーロッパ特許第
0088419号明細書)、または電流導体を光伝導性モノモ
ード−ファイバから成る測定巻線の形態で囲んでいても
よい(ファイバコイル)。
リングとして構成されていてよいし(ヨーロッパ特許第
0088419号明細書)、または電流導体を光伝導性モノモ
ード−ファイバから成る測定巻線の形態で囲んでいても
よい(ファイバコイル)。
従来の誘導式変流器にくらべての磁気光学式変流器の
利点は、電位的に隔離されていること、また電磁的擾乱
に対して敏感でないことである。しかし、磁気光学式変
流器の使用の際の問題点は、それが温度および震動に対
して敏感なことである。
利点は、電位的に隔離されていること、また電磁的擾乱
に対して敏感でないことである。しかし、磁気光学式変
流器の使用の際の問題点は、それが温度および震動に対
して敏感なことである。
国際特許出願公開第92/13280号明細書から、ファラデ
ー測定巻線として電流導体の周りに構成された光ファイ
バを有する磁気光学式変流器の実施形態が知られてい
る。この公知の実施形態では、適当に選ばれた信号処置
と結び付けてファラデー回転と比較して高い内在性の円
複屈折率ρ0を有する光ファイバを設けることにより、
震動の影響がほぼ補償される。この公知の実施形態にお
ける測定原理は、ファイバコイル中に2つの逆向きの直
線偏光した光信号SおよびTを送ることにある。両光信
号SおよびTはファラデー効果素子の通過後に互いに直
交する偏光面を有する2つの光部分信号S1およびS2また
はT1およびT2に分割され、またこれらの光部分信号S1お
よびS2またはT1およびT2が光検出器により相応の電気強
度信号IS1またはIS2またはIT1またはIT2に変換される。
これらの4つの強度信号IS1、S2、IT1およびIT2は全強
度IS1+IS2またはIT1+IT2に相当する振幅二乗により除
算され、またそれによって強度正規化される。4つの強
度正規化された信号is1、is2、it1またはit2からM=
((is1−is2)−(it1−it2))/((is1−is2)+
(it1−it2))に等しい測定信号Mが導き出される。い
まファラデー効果はあ非相反性の効果であるから、両光
信号SおよびTは逆向きに同一のファラデー回転角度ρ
だけ回転させられる。それに対して、ファイバの材料中
の直線複屈折は相反性の効果であり、従ってまた両光信
号SおよびTの等しい変調を生じさせる。この公知の方
法により形成される測定信号Mは良好な近似度でρ/ρ
0に等しく、またこうして両光信号SおよびTのファラ
デー回転ρに関する情報、従ってまた測定電流に関する
情報を含んでいるが、特にファイバの振動による有害な
直線複屈折の影響は実際上完全に消去される。しかしな
がら、測定信号Mは較正量として使用される円複屈折に
関係しており、従ってまたその温度依存性のゆえに温度
に関係している。
ー測定巻線として電流導体の周りに構成された光ファイ
バを有する磁気光学式変流器の実施形態が知られてい
る。この公知の実施形態では、適当に選ばれた信号処置
と結び付けてファラデー回転と比較して高い内在性の円
複屈折率ρ0を有する光ファイバを設けることにより、
震動の影響がほぼ補償される。この公知の実施形態にお
ける測定原理は、ファイバコイル中に2つの逆向きの直
線偏光した光信号SおよびTを送ることにある。両光信
号SおよびTはファラデー効果素子の通過後に互いに直
交する偏光面を有する2つの光部分信号S1およびS2また
はT1およびT2に分割され、またこれらの光部分信号S1お
よびS2またはT1およびT2が光検出器により相応の電気強
度信号IS1またはIS2またはIT1またはIT2に変換される。
これらの4つの強度信号IS1、S2、IT1およびIT2は全強
度IS1+IS2またはIT1+IT2に相当する振幅二乗により除
算され、またそれによって強度正規化される。4つの強
度正規化された信号is1、is2、it1またはit2からM=
((is1−is2)−(it1−it2))/((is1−is2)+
(it1−it2))に等しい測定信号Mが導き出される。い
まファラデー効果はあ非相反性の効果であるから、両光
信号SおよびTは逆向きに同一のファラデー回転角度ρ
だけ回転させられる。それに対して、ファイバの材料中
の直線複屈折は相反性の効果であり、従ってまた両光信
号SおよびTの等しい変調を生じさせる。この公知の方
法により形成される測定信号Mは良好な近似度でρ/ρ
0に等しく、またこうして両光信号SおよびTのファラ
デー回転ρに関する情報、従ってまた測定電流に関する
情報を含んでいるが、特にファイバの振動による有害な
直線複屈折の影響は実際上完全に消去される。しかしな
がら、測定信号Mは較正量として使用される円複屈折に
関係しており、従ってまたその温度依存性のゆえに温度
に関係している。
従って、本発明の課題は、ファラデー効果を利用して
電流を測定するための方法および装置であって、振動に
対する感度も温度に対する感度もほぼ抑制される方法お
よび装置を提供することにある。
電流を測定するための方法および装置であって、振動に
対する感度も温度に対する感度もほぼ抑制される方法お
よび装置を提供することにある。
この課題は、本発明によれば、請求項1または請求項
11の特徴により解決される。その際に本発明は、ファラ
デー回転と比較して無視可能な円複屈折を有するファラ
デー効果素子および適当な信号処理手段の使用により、
振動にも温度にもほぼ無関係な信号を得ることができる
という認識に基づいている。
11の特徴により解決される。その際に本発明は、ファラ
デー回転と比較して無視可能な円複屈折を有するファラ
デー効果素子および適当な信号処理手段の使用により、
振動にも温度にもほぼ無関係な信号を得ることができる
という認識に基づいている。
本発明による測定方法およい測定装置の有利な実施態
様はそれぞれ従属請求項にあげられている。
様はそれぞれ従属請求項にあげられている。
以下、図面を参照して本発明を説明する。
図1は電流測定装置のための装置の原理的構成、また 図2および図3はそれぞれ特別な信号評価により電流
を測定するための装置の別の実施例の概要を示す。互い
に相応する部分には同一の符号が付されている。
を測定するための装置の別の実施例の概要を示す。互い
に相応する部分には同一の符号が付されている。
図1中には電流導体が符号2を付して、ファラデー効
果素子が符号3を付して、伝送路としての2つの光導波
路が符号4および6を付けして、直線偏光光源が符号5
を付して、光分割手段としての3つのビームスプリッタ
が符号7、8および9を付して、2つの変換器ユニット
が符号11および21を付して、2つの検光子が符号15およ
び25を付して、2つの正規化ユニットが符号12および22
を付して、また信号処理ユニットが符号30を付して示さ
れている。
果素子が符号3を付して、伝送路としての2つの光導波
路が符号4および6を付けして、直線偏光光源が符号5
を付して、光分割手段としての3つのビームスプリッタ
が符号7、8および9を付して、2つの変換器ユニット
が符号11および21を付して、2つの検光子が符号15およ
び25を付して、2つの正規化ユニットが符号12および22
を付して、また信号処理ユニットが符号30を付して示さ
れている。
光源5の直線偏光した光はビームスプリッタ7内で2
つの相応に偏光した光信号S′およびT′に分割され、
その際に第1の光信号S′は通過させられ、また第2の
光信号T′は偏光させられる。第1の光信号S′はすぐ
次のビームスプリッタ8を通過し、また光導波路4を経
て測定巻線の電流導体2を包囲するファラデー効果素子
3の第1の端子3Aに送られる。第2の光信号T′はビー
ムスプリッタ9内でもう一度偏光させられ、また光導波
路6を経てファラデー効果素子3の第2の端子3Bに伝達
される。両光導波路4および6はそのために好ましくは
偏光を維持するものとして構成されており、またたとえ
ばHiBiファイバのようなモノモードファイバまたは偏光
中性なLoBiファイバであってよい。ファラデー効果素子
3の端子3Aおよび3Bに光導波路4または6との切り離し
可能な接続として詳細には示されていないスプライスが
対応付けられていてよい。ファイバコイルのほかにファ
ラデー効果素子として好ましくは閉じられた光経路を電
流導体2の周りに形成する中実なガラスリングまたは多
くの個々のガラスブロックが設けられていてもよい。最
後にファラデー効果素子は電流導体を完全に包囲する必
要はなく、電流導体とならんで配置されていてもよい。
つの相応に偏光した光信号S′およびT′に分割され、
その際に第1の光信号S′は通過させられ、また第2の
光信号T′は偏光させられる。第1の光信号S′はすぐ
次のビームスプリッタ8を通過し、また光導波路4を経
て測定巻線の電流導体2を包囲するファラデー効果素子
3の第1の端子3Aに送られる。第2の光信号T′はビー
ムスプリッタ9内でもう一度偏光させられ、また光導波
路6を経てファラデー効果素子3の第2の端子3Bに伝達
される。両光導波路4および6はそのために好ましくは
偏光を維持するものとして構成されており、またたとえ
ばHiBiファイバのようなモノモードファイバまたは偏光
中性なLoBiファイバであってよい。ファラデー効果素子
3の端子3Aおよび3Bに光導波路4または6との切り離し
可能な接続として詳細には示されていないスプライスが
対応付けられていてよい。ファイバコイルのほかにファ
ラデー効果素子として好ましくは閉じられた光経路を電
流導体2の周りに形成する中実なガラスリングまたは多
くの個々のガラスブロックが設けられていてもよい。最
後にファラデー効果素子は電流導体を完全に包囲する必
要はなく、電流導体とならんで配置されていてもよい。
ファラデー効果素子3は、それが実質的ファラデー効
果に比較して円複屈折を有していないように構成されて
いる。このように構成されたファラデー効果素子3の例
はすべての従来からの中実のガラスブロック、特にガラ
スリングまたは焼鈍された光ファイバである。
果に比較して円複屈折を有していないように構成されて
いる。このように構成されたファラデー効果素子3の例
はすべての従来からの中実のガラスブロック、特にガラ
スリングまたは焼鈍された光ファイバである。
両光信号S′およびT′は逆回転方向にファラデー効
果素子3を通過し、また符号SおよびTを付されている
光信号としてそれぞれ逆の端子3Bまたは3Aにおいて出力
される。この回転の際に両光信号S′およびT′の偏光
面は電流導体2中の電流Iにより発生される磁界により
逆方向に絶対値が等しいファラデー測定角度ρまたは−
ρだけ回転され、また同時にファラデー効果素子3中の
直線複屈折により同一の変調を受ける。両光信号S′お
よびT′の偏光状態への円複屈折による影響はファラデ
ー効果素子3の選択により実際上存在しない。それらの
偏光面で測定角度ρまたは−ρだけ回転された光信号S
およびTは光導波路6または4を経てビームスプリッタ
9または8に伝達される。光信号Sはビームスプリッタ
9を通過させられ、また変換器ユニット11に供給され
る。光信号Tはビームスプリッタ8で偏光させられ、ま
た変換器ユニット21に供給される。こうして両光信号
S′またはSおよびT′またはTは両ビームスプリッタ
8および9の各々をそれぞれ一回通過するので、ビーム
スプリッタ8および9で失われる両光信号SおよびTに
対する強度損失は少なくとも近似的に等しい。
果素子3を通過し、また符号SおよびTを付されている
光信号としてそれぞれ逆の端子3Bまたは3Aにおいて出力
される。この回転の際に両光信号S′およびT′の偏光
面は電流導体2中の電流Iにより発生される磁界により
逆方向に絶対値が等しいファラデー測定角度ρまたは−
ρだけ回転され、また同時にファラデー効果素子3中の
直線複屈折により同一の変調を受ける。両光信号S′お
よびT′の偏光状態への円複屈折による影響はファラデ
ー効果素子3の選択により実際上存在しない。それらの
偏光面で測定角度ρまたは−ρだけ回転された光信号S
およびTは光導波路6または4を経てビームスプリッタ
9または8に伝達される。光信号Sはビームスプリッタ
9を通過させられ、また変換器ユニット11に供給され
る。光信号Tはビームスプリッタ8で偏光させられ、ま
た変換器ユニット21に供給される。こうして両光信号
S′またはSおよびT′またはTは両ビームスプリッタ
8および9の各々をそれぞれ一回通過するので、ビーム
スプリッタ8および9で失われる両光信号SおよびTに
対する強度損失は少なくとも近似的に等しい。
光源5およびビームスプリッタ7、8および9は光導
波路4および6またはそれらの代わりに相応のフリービ
ーム伝送区間と共同して、ファラデー効果素子3を通し
て2つの逆向きの直線偏光した光信号S′およびT′を
送るための手段を形成し、これらの光信号の偏光面はフ
ァラデー効果素子3の通過後にファラデー効果に基づい
て逆向きにそれぞれ測定角度ρまたは−ρだけ回転され
ている。
波路4および6またはそれらの代わりに相応のフリービ
ーム伝送区間と共同して、ファラデー効果素子3を通し
て2つの逆向きの直線偏光した光信号S′およびT′を
送るための手段を形成し、これらの光信号の偏光面はフ
ァラデー効果素子3の通過後にファラデー効果に基づい
て逆向きにそれぞれ測定角度ρまたは−ρだけ回転され
ている。
各変換器ユニット11および21内で相応の光信号Sまた
はTがそのつどの検光子15または25により互いに異なる
偏光面を有する2つの光部分信号S1およびS2またはT1お
よびT2に分割される。好ましくはこれらの両偏光面は少
なくとも近似的に互いに直角に向けられている。検光子
15および25としては、たとえばウォラストンプリズムの
ような偏光プリズムが設けられていてもよいし、または
相応の角度で交わっており、ビームスプリッタを有する
2つの偏光フィルタが設けられていてもよい。たとえば
増幅器回路に接続されているホトダイオードのような詳
細には示されていない光電変換器において光部分信号S1
およびS2ならびにT1およびT2は相応の電気強度信号IS
1、IS2、IT1またはIT2に変換される。検光子15または25
から光電変換器への光部分信号S1およびS2ならびにT1な
らびにT1およびT2の伝送はフリービム装置または相応の
光導波路を経て行われ得る。変換器ユニット11および21
は共同して、両光信号SおよびTの各々をファラデー効
果素子3の通過後に相い異なる偏光面を有する2つの光
部分信号S1およびS2またはT1およびT2に分割し、またこ
れらの光部分信号S1、S2、T1およびT2を相応の光部分信
号の強度に対する尺度である相応の電気強度信号IS1、I
S2、IT1またはIT2に変換するための手段を形成する。
はTがそのつどの検光子15または25により互いに異なる
偏光面を有する2つの光部分信号S1およびS2またはT1お
よびT2に分割される。好ましくはこれらの両偏光面は少
なくとも近似的に互いに直角に向けられている。検光子
15および25としては、たとえばウォラストンプリズムの
ような偏光プリズムが設けられていてもよいし、または
相応の角度で交わっており、ビームスプリッタを有する
2つの偏光フィルタが設けられていてもよい。たとえば
増幅器回路に接続されているホトダイオードのような詳
細には示されていない光電変換器において光部分信号S1
およびS2ならびにT1およびT2は相応の電気強度信号IS
1、IS2、IT1またはIT2に変換される。検光子15または25
から光電変換器への光部分信号S1およびS2ならびにT1な
らびにT1およびT2の伝送はフリービム装置または相応の
光導波路を経て行われ得る。変換器ユニット11および21
は共同して、両光信号SおよびTの各々をファラデー効
果素子3の通過後に相い異なる偏光面を有する2つの光
部分信号S1およびS2またはT1およびT2に分割し、またこ
れらの光部分信号S1、S2、T1およびT2を相応の光部分信
号の強度に対する尺度である相応の電気強度信号IS1、I
S2、IT1またはIT2に変換するための手段を形成する。
第1の光信号Sに対する強度信号IS1およびIS2は正規
化ユニット12に、また第2の光信号Tに対する強度信号
IT1およびIT2は正規化ユニット22に供給される。正規化
ユニット12および22において強度信号IS1およびIS2また
はIT1およびIT2からそれぞれ強度正規化された信号PSま
たはPTが発生される。これらの強度正規化された信号PS
およびPTは、それらが両光信号SおよびTおよびそれら
の光部分信号S1およびS2またはT1およびT2のたとえば伝
送路で減衰損失または光源4の変動により惹起され得る
強度変動に無関係であるように形成すべきである。
化ユニット12に、また第2の光信号Tに対する強度信号
IT1およびIT2は正規化ユニット22に供給される。正規化
ユニット12および22において強度信号IS1およびIS2また
はIT1およびIT2からそれぞれ強度正規化された信号PSま
たはPTが発生される。これらの強度正規化された信号PS
およびPTは、それらが両光信号SおよびTおよびそれら
の光部分信号S1およびS2またはT1およびT2のたとえば伝
送路で減衰損失または光源4の変動により惹起され得る
強度変動に無関係であるように形成すべきである。
好ましくは、強度正規化された信号PSまたはPTは付属
の両強度信号IS1およびIS2またはIT1およびIT2の差をそ
れらの和で除算することにより形成される。すなわち PS=(IS1−IS2)/(IS1+IS2) (1a) および PT=(IT1−IT2)/(IT1+IT2) (1b) そのために正規化ユニット12および22には、好ましく
は、差信号IS1−IS2またはIT1−IT2を形成するための符
号SUB1またはSUB2を付されている減算器と、和信号IS1
+IS2またはIT1+IT2を形成するための符号ADD1またはA
DD2を付されている加算器と、差信号および和信号から
比信号(IS1−IS2)/(IS1+IS2)または(IT1−IT2)
/(IT1+IT2)を形成するための符号DIV1またはDIV2を
付されている除算器とが設けられている。
の両強度信号IS1およびIS2またはIT1およびIT2の差をそ
れらの和で除算することにより形成される。すなわち PS=(IS1−IS2)/(IS1+IS2) (1a) および PT=(IT1−IT2)/(IT1+IT2) (1b) そのために正規化ユニット12および22には、好ましく
は、差信号IS1−IS2またはIT1−IT2を形成するための符
号SUB1またはSUB2を付されている減算器と、和信号IS1
+IS2またはIT1+IT2を形成するための符号ADD1またはA
DD2を付されている加算器と、差信号および和信号から
比信号(IS1−IS2)/(IS1+IS2)または(IT1−IT2)
/(IT1+IT2)を形成するための符号DIV1またはDIV2を
付されている除算器とが設けられている。
両方の強度正規化された信号PSおよびPTは信号処理ユ
ニット30に供給される。信号処理ユニット30は強度正規
化された信号PSおよびPTから電流導体2の電流Iに対す
る、振動の影響も温度の影響も補償されている測定信号
Mを導き出す。その際に温度影響は、ファラデー効果素
子3における無視可能な円複屈折のゆえに、たとえば国
際特許出願公開第92/13280号明細書から公知の装置の場
合よりも明らかに良好である。
ニット30に供給される。信号処理ユニット30は強度正規
化された信号PSおよびPTから電流導体2の電流Iに対す
る、振動の影響も温度の影響も補償されている測定信号
Mを導き出す。その際に温度影響は、ファラデー効果素
子3における無視可能な円複屈折のゆえに、たとえば国
際特許出願公開第92/13280号明細書から公知の装置の場
合よりも明らかに良好である。
第1の図示されていない実施例では、測定信号Mは強
度正規化された信号PSおよびPTから下記のようにして導
き出される。先ず2つの信号PA=PS+PTおよびPB=PS−
PTが形成される。こうして形成された第1の信号PAはほ
ぼ直線複屈折の関数であるが、ファラデー回転角度ρの
関数ではない。それに対して第2の信号PBはほぼファラ
デー回転角度ρにのみ関係している。測定信号Mは次い
で近似的に第1の信号PAの関数f(PA)と第2の信号PB
との積として表される。すなわち M=f(PA)・PB 信号PAおよびPBから次いで好ましくは、予め求められ
た値表(ルックアップテーブル)に記憶されている較正
された値との比較により測定信号Mが求められる。値表
は数値的に計算され得るし、または実験的に求められ得
る。関数f(PA)は、必要とされる較正測定の数を減ず
るため、直線または二乗適合関数により近似され得る。
もちろん直接に両方の強度正規化された信号PSおよびPT
自体および相応の値表も測定信号Mを導き出すために使
用され得る。
度正規化された信号PSおよびPTから下記のようにして導
き出される。先ず2つの信号PA=PS+PTおよびPB=PS−
PTが形成される。こうして形成された第1の信号PAはほ
ぼ直線複屈折の関数であるが、ファラデー回転角度ρの
関数ではない。それに対して第2の信号PBはほぼファラ
デー回転角度ρにのみ関係している。測定信号Mは次い
で近似的に第1の信号PAの関数f(PA)と第2の信号PB
との積として表される。すなわち M=f(PA)・PB 信号PAおよびPBから次いで好ましくは、予め求められ
た値表(ルックアップテーブル)に記憶されている較正
された値との比較により測定信号Mが求められる。値表
は数値的に計算され得るし、または実験的に求められ得
る。関数f(PA)は、必要とされる較正測定の数を減ず
るため、直線または二乗適合関数により近似され得る。
もちろん直接に両方の強度正規化された信号PSおよびPT
自体および相応の値表も測定信号Mを導き出すために使
用され得る。
より高い精度を達成するため、測定信号は両信号PAお
よびPBの一般的な関数M=f(PA,PB)としても好まし
くは同様に値表を用いて決定され得る。さらに、すべて
の実施例において値表の代わりに較正関数も使用され得
る。
よびPBの一般的な関数M=f(PA,PB)としても好まし
くは同様に値表を用いて決定され得る。さらに、すべて
の実施例において値表の代わりに較正関数も使用され得
る。
強度正規化された信号PSおよびPTが付属の両方の強度
信号IS1およびIS2またはIT1およびIT2の差をそれらの和
で除算することにより形成される特に有利な実施例で
は、式(1a)および(1b)により、測定信号Mとして好
ましくは両方の強度正規化された信号PSおよびPTの2つ
の直線関数の比が変数として利用される。測定信号Mは
次いで特に実係数a、b、c、dおよびeおよび単位信
号Eを有する関係式 M=(a*PS−b*PT)/(c*PS+d*PT+e*
E) (2) により得ることができる。その際に単位信号Eの絶対値
は両強度信号IS1またはIS2またはIT1またはIT2のまさに
1つが消滅するときの強度正規化された信号PSまたはPT
の絶対値に相当する。
信号IS1およびIS2またはIT1およびIT2の差をそれらの和
で除算することにより形成される特に有利な実施例で
は、式(1a)および(1b)により、測定信号Mとして好
ましくは両方の強度正規化された信号PSおよびPTの2つ
の直線関数の比が変数として利用される。測定信号Mは
次いで特に実係数a、b、c、dおよびeおよび単位信
号Eを有する関係式 M=(a*PS−b*PT)/(c*PS+d*PT+e*
E) (2) により得ることができる。その際に単位信号Eの絶対値
は両強度信号IS1またはIS2またはIT1またはIT2のまさに
1つが消滅するときの強度正規化された信号PSまたはPT
の絶対値に相当する。
図2に示されている実施例では、測定信号Mは両方の
強度正規化された信号PSおよびPTから、差PS−PTと和PS
+PT+K′・Eとの比、すなわち M=(PS−PT)/(PS+PT)+K′・E) (3) が形成されることによって、導き出される。その際に
K′は予め定められた実の補正係数である。Eは、その
絶対値が、両方の付属の強度信号IS1またはIS2またはIT
1またはIT2の1つが消滅するときの相応の強度正規化さ
れた信号PSまたはPTの絶対値に単位信号である。その際
に両正規化ユニット12および22の両除算器DIV1およびDI
V2の出力レベルは、両除算器DIV1およびDIV2の出力端に
同一の単位信号Eを得るために、相応に互いに合わされ
ている。式(3)によるこの測定信号Mは、a=b=1
かつc=d−1ならびにe=K′に選ぶことによって、
一般的な関係式(2)から生ずる。
強度正規化された信号PSおよびPTから、差PS−PTと和PS
+PT+K′・Eとの比、すなわち M=(PS−PT)/(PS+PT)+K′・E) (3) が形成されることによって、導き出される。その際に
K′は予め定められた実の補正係数である。Eは、その
絶対値が、両方の付属の強度信号IS1またはIS2またはIT
1またはIT2の1つが消滅するときの相応の強度正規化さ
れた信号PSまたはPTの絶対値に単位信号である。その際
に両正規化ユニット12および22の両除算器DIV1およびDI
V2の出力レベルは、両除算器DIV1およびDIV2の出力端に
同一の単位信号Eを得るために、相応に互いに合わされ
ている。式(3)によるこの測定信号Mは、a=b=1
かつc=d−1ならびにe=K′に選ぶことによって、
一般的な関係式(2)から生ずる。
式(3)によるこの測定信号Mを導き出すため、信号
処理ユニット30に好ましくは、差信号PS−PTを導き出す
ための減算器SUB3と、和信号PS+PTを形成するための第
1の加算器ADD3と、第1の加算器ADD1の和信号PS+PTお
よびK′倍した単位信号K′*Eから和信号PS+PT+
K′*Eを形成するための第2の加算器ADD4と、減算器
SUB3の差信号PS−PTおよび第2の加算器ADD4の和信号PS
+PT+K′*Eから測定信号Mとして比信号(PS−PT)
/(PS+PT+K′*E)を形成するための除算器DIV3と
が設けられている。
処理ユニット30に好ましくは、差信号PS−PTを導き出す
ための減算器SUB3と、和信号PS+PTを形成するための第
1の加算器ADD3と、第1の加算器ADD1の和信号PS+PTお
よびK′倍した単位信号K′*Eから和信号PS+PT+
K′*Eを形成するための第2の加算器ADD4と、減算器
SUB3の差信号PS−PTおよび第2の加算器ADD4の和信号PS
+PT+K′*Eから測定信号Mとして比信号(PS−PT)
/(PS+PT+K′*E)を形成するための除算器DIV3と
が設けられている。
補正係数K′の設定により測定信号Mの温度依存性が
少なくとも近似的に消去され得る。一般に補正係数K′
は−3と3との間の範囲内にある。
少なくとも近似的に消去され得る。一般に補正係数K′
は−3と3との間の範囲内にある。
特別な実施例では、補正係数K′と、ファラデー効果
素子3内の直線複屈折率の固有軸線とファラデー効果素
子3への入結合の際の光信号S′およびT′の各々の偏
光面との間の入結合角ηと、直線複屈折率のこの固有軸
線と検光子15または25の固有軸線との間のいわゆる出結
合角θとが少なくとも近似的に下記の関係式 sin(2θ−2η)=1 (4a) および cos(2θ+2η)=−K′/3 (4b) を満足するように設定される。
素子3内の直線複屈折率の固有軸線とファラデー効果素
子3への入結合の際の光信号S′およびT′の各々の偏
光面との間の入結合角ηと、直線複屈折率のこの固有軸
線と検光子15または25の固有軸線との間のいわゆる出結
合角θとが少なくとも近似的に下記の関係式 sin(2θ−2η)=1 (4a) および cos(2θ+2η)=−K′/3 (4b) を満足するように設定される。
複屈折材料の固有軸線は、材料に入結合した直線偏光
した光が材料をその偏光に関して不変に再び去る偏光方
向により決定されている。
した光が材料をその偏光に関して不変に再び去る偏光方
向により決定されている。
これらの式(4a)および(4b)を解くための可能な角
度値はたとえばK′=2に対してη=10.45゜およびθ
=55.45゜である。前記の関係式(4a)および(4b)を
正確に満足する角度値からの偏差は特にファラデー効果
素子3内の大きい複屈折の際には可能であり、また約5
゜までの偏差が許される。
度値はたとえばK′=2に対してη=10.45゜およびθ
=55.45゜である。前記の関係式(4a)および(4b)を
正確に満足する角度値からの偏差は特にファラデー効果
素子3内の大きい複屈折の際には可能であり、また約5
゜までの偏差が許される。
このように補正係数K′に関係して選ばれた角度θお
よびηにおいて測定角度は M(2/K′)*sin(2ρ) (5) であり、またそれによって良好な近似で、2/K′により
スケーリングされた複屈折なしのその理論的に期待され
る値sin(2ρ)に相当することが計算により示され
る。
よびηにおいて測定角度は M(2/K′)*sin(2ρ) (5) であり、またそれによって良好な近似で、2/K′により
スケーリングされた複屈折なしのその理論的に期待され
る値sin(2ρ)に相当することが計算により示され
る。
図3には測定装置の別の有利な実施例が示されてい
る。図2による実施例と同じくこの実施例でも先ず正規
化ユニット12および22で式(1a)および(1b)による強
度正規化された信号PSおよびPTが付属の強度信号IS1お
よびIS2またはIT1およびIT2の差および和の比信号とし
て形成される。そのために好ましくは同様にそれぞれ減
算器SUB1またはSUB2、加算器ADD1またはADD2および除算
器DIV1またはDIV2が正規化ユニット12または22に設けら
れている。
る。図2による実施例と同じくこの実施例でも先ず正規
化ユニット12および22で式(1a)および(1b)による強
度正規化された信号PSおよびPTが付属の強度信号IS1お
よびIS2またはIT1およびIT2の差および和の比信号とし
て形成される。そのために好ましくは同様にそれぞれ減
算器SUB1またはSUB2、加算器ADD1またはADD2および除算
器DIV1またはDIV2が正規化ユニット12または22に設けら
れている。
信号処理ユニット30で再び両方の強度正規化された信
号PSおよびPTから差信号PS−PTが減算器SUB3により、ま
た和信号PS+PTが加算器ADD3により形成される。乗算器
ADD3の出力端に生ずる和信号PS+PTは次いで乗算器MULT
に供給される。乗算器MULTで入力信号は予め定められた
実の補正係数Kを乗算される。乗算器MULTとしては、補
正値Kに等しく設定された増幅率を有する増幅器が設け
られていてよい。乗算器MULTの出力端に生ずる、補正係
数Kを乗算された和信号K*(PS+PT)は加算器ADD5の
入力端に供給され、加算器ADD5により、係数2を乗算さ
れた単位信号2*Eを加算される。その際に単位信号E
の絶対値は、両強度信号IS1またはIS2またはIT1またはI
T2の1つが消滅するときの強度正規化された信号PSおよ
びPTの絶対値に相当する。減算器SUB3の出力端および加
算器ADD5の出力端はそれぞれ除算器DIV3の入力端と接続
されている。除算器DIV3はその両入力信号PS−PTおよび
2*E+K*(PS+PT)から、電流導体2内の電流Iに
対する測定信号Mとして利用される比信号(PS−PT)/
(2*E+E*(PS+PT))を発生する。
号PSおよびPTから差信号PS−PTが減算器SUB3により、ま
た和信号PS+PTが加算器ADD3により形成される。乗算器
ADD3の出力端に生ずる和信号PS+PTは次いで乗算器MULT
に供給される。乗算器MULTで入力信号は予め定められた
実の補正係数Kを乗算される。乗算器MULTとしては、補
正値Kに等しく設定された増幅率を有する増幅器が設け
られていてよい。乗算器MULTの出力端に生ずる、補正係
数Kを乗算された和信号K*(PS+PT)は加算器ADD5の
入力端に供給され、加算器ADD5により、係数2を乗算さ
れた単位信号2*Eを加算される。その際に単位信号E
の絶対値は、両強度信号IS1またはIS2またはIT1またはI
T2の1つが消滅するときの強度正規化された信号PSおよ
びPTの絶対値に相当する。減算器SUB3の出力端および加
算器ADD5の出力端はそれぞれ除算器DIV3の入力端と接続
されている。除算器DIV3はその両入力信号PS−PTおよび
2*E+K*(PS+PT)から、電流導体2内の電流Iに
対する測定信号Mとして利用される比信号(PS−PT)/
(2*E+E*(PS+PT))を発生する。
従って、信号処理ユニット30は両方の強度正規化され
た信号PSおよびPTから測定信号Mを導き出すための手段
を形成し、その際に測定信号Mは比信号 M=(PS−PT)/(K*(PS+PT)+2*E)(6) として決定される。この測定信号Mは一般的な関係式
(2)から、a=b=1、c=d=Kかつe=2とおい
たときの特殊な場合として生ずる。
た信号PSおよびPTから測定信号Mを導き出すための手段
を形成し、その際に測定信号Mは比信号 M=(PS−PT)/(K*(PS+PT)+2*E)(6) として決定される。この測定信号Mは一般的な関係式
(2)から、a=b=1、c=d=Kかつe=2とおい
たときの特殊な場合として生ずる。
実の補正係数Kは好ましくは、測定信号Mの温度依存
性が少なくとも近似的に最小であるように設定される。
一般に補正係数Kの逆数値は−1.5と1.5との間の範囲内
にある。
性が少なくとも近似的に最小であるように設定される。
一般に補正係数Kの逆数値は−1.5と1.5との間の範囲内
にある。
特に有利な実施例では、補正係数Kは入結合角ηおよ
び出結合角θに関係して少なくとも近似的に下記の2つ
の関係式 sin(2θ−2η)=1 (7a) cos(2θ+2η)=−2/(3K) (7b) が満足されるように設定される。
び出結合角θに関係して少なくとも近似的に下記の2つ
の関係式 sin(2θ−2η)=1 (7a) cos(2θ+2η)=−2/(3K) (7b) が満足されるように設定される。
その際に入結合角ηは同様にファラデー効果素子3へ
の入結合の際の両光信号S′およびT′の各々の偏光面
とファラデー効果素子3内の直線複屈折の固有軸線との
間の角度として定義されており、また出結合角θは同様
にこの固有軸線と光信号SおよびTをそれらの2つの光
部分信号S1およびS2またはT1およびT2に分割するために
それぞれ設けられている検光子15または25の固有軸線と
の間の角度として定義されている。
の入結合の際の両光信号S′およびT′の各々の偏光面
とファラデー効果素子3内の直線複屈折の固有軸線との
間の角度として定義されており、また出結合角θは同様
にこの固有軸線と光信号SおよびTをそれらの2つの光
部分信号S1およびS2またはT1およびT2に分割するために
それぞれ設けられている検光子15または25の固有軸線と
の間の角度として定義されている。
このように設定された補正係数K、入結合角ηおよび
出結合角θの際に測定信号Mは主として、複屈折成分な
し、かつ補正係数Kに関係する係数によるスケーリング
なしのその理論値 M=sin(2ρ) (8) に相当する。従って、測定装置はこの実施例では、信号
処理ユニット30の出力端に生ずる測定信号Mが直線複屈
折の不存在の際の理論的信号sin2ρに相当するように補
正係数Kを設定することによって、温度ドリフトを最小
にするように特に簡単に調整され得る。前記の条件(7
a)および(7b)を満足するための可能な値はたとえば
K=1、η=10.45゜およびθ=55.45゜である。前記の
条件(7a)および(7b)を正確に満足する角度値からの
偏差は特にファラデー効果素子3内の直線複屈折が大き
い際には可能であり、また約5゜までの値であってよ
い。
出結合角θの際に測定信号Mは主として、複屈折成分な
し、かつ補正係数Kに関係する係数によるスケーリング
なしのその理論値 M=sin(2ρ) (8) に相当する。従って、測定装置はこの実施例では、信号
処理ユニット30の出力端に生ずる測定信号Mが直線複屈
折の不存在の際の理論的信号sin2ρに相当するように補
正係数Kを設定することによって、温度ドリフトを最小
にするように特に簡単に調整され得る。前記の条件(7
a)および(7b)を満足するための可能な値はたとえば
K=1、η=10.45゜およびθ=55.45゜である。前記の
条件(7a)および(7b)を正確に満足する角度値からの
偏差は特にファラデー効果素子3内の直線複屈折が大き
い際には可能であり、また約5゜までの値であってよ
い。
ファラデー効果素子3を通して2つの逆向きの光信号
S′およびT′を送るための手段は、図2および図3に
示されている実施例では、ミニチュア化されたビームス
プリッタ47、48および49と、ミニチュア化された検光子
15および25と、対応付けられている光源50と、ビームス
プリッタ48および49をそれらに対応付けられている光導
波路6または4に光学的に結合するための詳細には示さ
れていないコリメータレンズ(グリンレンズ)とを含ん
でいる。このビームスプリッタ手段の個々の構成要素4
7、48、49、15および25は好ましくは互いに接着されて
おり、またコンパクトな光学的ユニットを形成する。し
かしながらまた図1による実施例の場合のような離散的
な光学的構成要素が設けられていてもよい。
S′およびT′を送るための手段は、図2および図3に
示されている実施例では、ミニチュア化されたビームス
プリッタ47、48および49と、ミニチュア化された検光子
15および25と、対応付けられている光源50と、ビームス
プリッタ48および49をそれらに対応付けられている光導
波路6または4に光学的に結合するための詳細には示さ
れていないコリメータレンズ(グリンレンズ)とを含ん
でいる。このビームスプリッタ手段の個々の構成要素4
7、48、49、15および25は好ましくは互いに接着されて
おり、またコンパクトな光学的ユニットを形成する。し
かしながらまた図1による実施例の場合のような離散的
な光学的構成要素が設けられていてもよい。
正規化ユニット12および22および信号処理ユニット30
の図2および図3に示されている実施例は、アナログの
ハードウェア構成要素により実現可能であるので、強度
および温度の変動の影響を実時間で補償することを可能
にする。しかし、もちろん測定信号Mはディジタルにも
計算され得る。
の図2および図3に示されている実施例は、アナログの
ハードウェア構成要素により実現可能であるので、強度
および温度の変動の影響を実時間で補償することを可能
にする。しかし、もちろん測定信号Mはディジタルにも
計算され得る。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−292263(JP,A) 特開 平5−113471(JP,A) 特表 平6−504372(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 15/24 G01R 19/00 G01R 33/032
Claims (15)
- 【請求項1】電流導体(2)に付設されているファラデ
ー効果素子(3)により電流導体(2)内の電流(I)
を測定するための方法において、 a)2つの逆向きの直線偏光した光信号(S′および
T′)がファラデー効果素子(3)を通して送られ、ま
たこれらの両光信号(SおよびT)の偏光面がファラデ
ー効果素子(3)の通過後にファラデー効果に基づいて
逆方向にそれぞれ測定角度(ρまたは−ρ)だけ回転さ
れており、 b)これらの両光信号(SおよびT)の各々がファラデ
ー効果素子(3)の通過後に相い異なる偏光面を有する
2つの直線偏光した光部分信号(S1およびS2またはT1お
よびT2)に分割され、またこれらの光部分信号(S1、S
2、T1、T2)がそれぞれ相応の電気強度信号(IS1または
IS2またはIT1またはIT2)に変換され、 c)ファラデー効果素子(3)を通って走る両光信号
(SおよびT)の各々に対して強度正規化された信号
(PSまたはPT)が導き出され、 d)測定角度(ρまたは−ρ)と比較して無視可能な円
複屈折率を有するファラデー効果素子(3)が使用さ
れ、 e)両方の強度正規化された信号(PSおよびPT)から電
流(I)に対するほぼ温度に無関係な測定信号(M)が
導き出される ことを特徴とするファラデー効果素子を利用して電流を
測定する方法。 - 【請求項2】両信号(SおよびT)に対する強度正規化
された信号(PSおよびPT)がそれぞれ両方の付属の強度
信号(IS1およびIS2またはIT1およびIT2)の差(IS1−I
S2)および和(IS1+IS2)からの比((IS1−IS2)/
(IS1+IS2))に相当することを特徴とする請求項1記
載の方法。 - 【請求項3】測定信号(M)が両方の強度正規化された
信号(PSおよびPT)から予め求められた値表(ルックア
ップテーブル)または較正関数を用いて導き出されるこ
とを特徴とする請求項1または2記載の方法。 - 【請求項4】測定信号(M)が両方の強度正規化された
信号(PSおよびPT)の2つの直線関数からの比((a*
PS−b*PT)/(c*PS+d*PT+e*E))に相当す
ることを特徴とする請求項2記載の方法。 - 【請求項5】測定信号(M)が両方の強度正規化された
信号(PSおよびPT)の差(PS−PT)と、両方の強度正規
化された信号(PSおよびPT)と補正係数K′を乗算され
た単位信号(E)との和(PS+PT+K′E)との比(PS
−PT)/(PS+PT+K′E)に相当し、その際に単位信
号(E)の絶対値が、そのつどの強度正規化された信号
(PSまたはPT)に対応付けられている両強度信号(IS1
またはIS2またはIT1またはIT2)のまさに1つが消滅す
るときに生ずる強度正規化された信号(PSまたはPT)の
絶対値に等しいことを特徴とする請求項4記載の方法。 - 【請求項6】補正係数K′が、測定信号(M)の温度依
存性が少なくとも近似的に最小であるように設定される
ことを特徴とする請求項5記載の方法。 - 【請求項7】補正係数K′と、ファラデー効果素子
(3)への入結合の際の両光信号(S′およびT′)の
各々の偏光面とファラデー効果素子(3)内の直線複屈
折の固有軸線との間の入結合角ηと、この固有軸線と光
信号(SおよびT)をそれらの2つの光部分信号(S1お
よびS2またはT1およびT2)に分割するためにそれぞれ設
けられている検光子(15または25)の固有軸線との間の
出結合角θとが少なくとも近似的に下記の条件 sin(2θ−2η)=1 cos(2θ+2η)=−K′/3 により設定されることを特徴とする請求項6記載の方
法。 - 【請求項8】測定信号(M)が、両方の強度正規化され
た信号(PSおよびPT)の差(PS−PT)と、予め定められ
た補正係数Kを乗算された両方の強度正規化された信号
(PSおよびPT)の和(K*(PS+PT))と係数2を乗算
された単位信号(E)との和(K*(PS+PT)+2*
E)との比((PS−PT)/(K*(PS+PT)+2*
E))に相当し、その際に単位信号(E)の絶対値が、
そのつど強度正規化された信号(PSまたはPT)に対応付
けられている両強度信号(IS1またはIS2またはIT1また
はIT2)のまさに1つが消滅するときに生ずる強度正規
化された信号(PSまたはPT)の絶対値に等しいことを特
徴とする請求項4記載の方法。 - 【請求項9】補正係数K′が、測定信号(M)の温度依
存性が少なくとも近似的に最小であるように設定される
ことを特徴とする請求項8記載の方法。 - 【請求項10】補正係数Kと、ファラデー効果素子
(3)への入結合の際の両光信号(S′およびT′)の
各々の偏光面とファラデー効果素子(3)内の直線複屈
折の固有軸線との間の入結合角ηと、この固有軸線と光
信号(SおよびT)をそれらの2つの光部分信号(S1お
よびS2またはT1およびT2)に分割するためにそれぞれ設
けられている検光子(15または25)の固有軸線との間の
出結合角θとが少なくとも近似的に下記の条件 sin(2θ−2η)=1 cos(2θ+2η)=−2/(3K) を満足するように設定されることを特徴とする請求項9
記載の方法。 - 【請求項11】電流導体(2)内の電流(I)を測定す
るための装置において、 a)電流導体(2)に付設されているファラデー効果素
子(3)と、 b)2つの逆向きの直線偏光した光信号(S′および
T′)を、それらの偏光面がファラデー効果素子(3)
の通過後にファラデー効果に基づいてそれぞれ測定角度
(ρまたは−ρ)だけ回転されるように、ファラデー効
果素子(3)を通して送るための手段(5、7、8、9
または47、48、49、50)と、 c)両光信号(SおよびT)の各々をファラデー効果素
子(3)の通過後に相い異なる偏光面を有する2つの直
線偏光した光部分信号(S1およびS2またはT1およびT2)
に分割し、またこれらの光部分信号(S1、S2、T1、T2)
を相応の電気強度信号(IS1またはIS2またはIT1またはI
T2)に変換するための手段(11、21)と、 d)両光信号(SおよびT)の各々に対するそれぞれ強
度正規化された信号(PSおよびPT)を導き出すための手
段(12、22)と、 e)測定角度(ρまたは−ρ)に比較して無視可能な円
複屈折を有するファラデー効果素子(3)と、 f)両方の強度正規化された信号(PSおよびPT)から電
流(I)に対するほぼ温度に無関係な測定信号(M)を
導き出すための手段(30)と を有することを特徴とするファラデー効果素子による電
流測定装置。 - 【請求項12】強度正規化された信号(PSおよびPT)を
導き出すための手段(12、22)が、強度正規化された信
号(PS、PT)の各々がそれぞれ両方の付属の強度信号
(IS1およびIS2またはIT1およびIT2)の差(IS1−IS2ま
たはIT1−IT2)と和(IS1+IS2またはIT1+IT2)との比
((IS1−IS2)/(IS1+IS2)または((IT1−IT2)/
(IT1+IT2))に相当するように構成されていることを
特徴とする請求項11記載の装置。 - 【請求項13】測定信号(M)を導き出すための手段
(30)が、測定信号(M)が、両方の強度正規化された
信号(PSおよびPT)の差(PS−PT)と、予め定められた
補正係数Kを乗算された両方の強度正規化された信号
(PSおよびPT)の和(K*(PS+PT))と2倍にされた
単位信号(2*E)との和(K*(PS+PT)+2*E)
との比((PS+PT)/(K*(PS+PT)+2*E))に
相当し、その際に単位信号(E)の絶対値が、そのつど
の強度正規化された信号(PSまたはPT)に対応付けられ
ている両強度信号(IS1またはIS2またはIT1またはIT2)
のまさに1つが消滅するときに生ずる強度正規化された
信号(PSまたはPT)の絶対値に等しいように構成されて
いることを特徴とする請求項11記載の装置。 - 【請求項14】補正係数K′が、測定信号(M)の温度
依存性が少なくとも近似的に最小であるように設定され
ることを特徴とする請求項13記載の装置。 - 【請求項15】a)両光信号(SおよびT)の各々をそ
れぞれ2つの光部分信号(S1およびS2またはT1およびT
2)に分割するためそれぞれ検光子(15または25)が設
けられており、 b)補正係数K′と、ファラデー効果素子(3)への入
結合の際の両光信号(S′およびT′)の各々の偏光面
とファラデー効果素子(3)内の直線複屈折率の固有軸
線との間の入結合角ηと、この固有軸線と光信号(Sお
よびT)をそれらの2つの光部分信号(S1およびS2また
はT1およびT2)に分割するためにそれぞれ設けられてい
る検光子(15または25)の固有軸線との間の出結合角θ
とが少なくとも近似的に下記の条件 sin(2θ−2η)=1 cos(2θ+2η)=−2/(3K) を満足するように設定されている ことを特徴とする請求項14記載の装置。
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