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JP2789575B2 - 複屈折測定装置 - Google Patents

複屈折測定装置

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Publication number
JP2789575B2
JP2789575B2 JP9317691A JP9317691A JP2789575B2 JP 2789575 B2 JP2789575 B2 JP 2789575B2 JP 9317691 A JP9317691 A JP 9317691A JP 9317691 A JP9317691 A JP 9317691A JP 2789575 B2 JP2789575 B2 JP 2789575B2
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JP
Japan
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sample
retardation
polarizer
analyzer
plate
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JP9317691A
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JPH04218751A (ja
Inventor
紳一 永田
蔵 富田
練太朗 南
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OJI SEISHI KK
Original Assignee
OJI SEISHI KK
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はわずかに複屈折を起こす
試料の複屈折を測定するのに適した複屈折測定装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】材料は内部歪とか延伸加工により複屈折
を起こすようになる。逆に複屈折の測定によって材料の
内部歪とか材料の延伸の度合いをしらべることができ
る。複屈折の測定は試料に直線偏光を入射させ、その直
交2成分偏光の試料透過時の位相差(レターデーショ
ン)を検出することにより行われる。今試料は薄板或は
シート状物で、光学軸が試料面と平行である場合を考え
て、試料の厚さをd、光軸方向と、それと直角の方向の
各偏光に対する屈折率をn1,n2とし、使用する光の
波長をλとすると、直線偏光を入射させた場合、その光
学軸と光学軸に直角な二方向の偏光成分の試料出射時の
位相差δはδ=2π(n1−n2)d/λである。こゝ
でδはレターデーションと呼ばれる。試料の厚さdが予
め分かっているときはδの測定からn1−n2が求ま
り、n1−n2が予め分かっているときはδから厚さd
を求めることができる。レターデーションの測定は次の
ようにして行われる。偏光子と検光子を平行に配置し、
その間に試料を挿入して回転させ、波長λの光を通し
て、試料の回転角と透過光強度との関係グラフを求め
る。試料の光学軸が偏光子,検光子と平行或はそれらと
直交しているときは試料に入射した直線偏光はそのまゝ
直線偏光として試料を出射するから、試料が2色性を有
しないときはこの二方向では透過光の強さは同じにな
り、今これを光強度の基準値にする。試料の光学軸が偏
光子,検光子と平行或は直角でないときは、一般に試料
透過光は楕円偏光となっていて、測定されるのはこの楕
円偏光の検光子方向の成分だけとなる。今試料の光学軸
が偏光子,検光子と45°の方向である場合を考える
と、試料への入射光の光学軸方向とそれと直角の方向の
両成分の振幅は等しい。偏光子出射光の振幅を1とする
と、これら両成分の振幅1/√2であり、これら両成分
の夫々の検光子方向の成分が検光子を通過することにな
るが、試料出射時に上記両成分間にはδなる位相差があ
るので、検光子透過光は(1/2)sin(ωt+δ/
2)+(1/2)sin(ωt−δ/2)で表される。
上式はcos(δ/2)sinωtとなり、検光子透過
光強度は基準値の{cos(δ/2)}2 になってい
る。以上の関係はグラフで画くと第2図のように十字花
形になる。この図で光強度の最大値と最小値の比が{c
os(δ/2)}2 となる。このようにして測定によっ
てcos(δ/2)が求められ、これからδが算出され
る。上述した方法によるときはレターデーションδが或
る程度以上大きいときはcos(δ/2)からδを正確
に求めることができるがδが小さいときは、cos(δ
/2)のδの変化に対する変化率はδの2乗に比例して
いて大へん小さく{cos(δ/2)}2のわずかな測
定誤差によってδには大きな誤差が現れることになる。
このため、異方性のきわめて小さい試料の異方性を偏光
によって測定することは困難であった。他方シート状材
料のわずかな異方性によって後日温度変化とか単なる経
時変化によって材料に反りが生じることがあり、このよ
うな反りの発生が甚だ不都合な場合がある。このためシ
ート状材料のきわめて軽度の異方性を正確に測定できる
方法が要求されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明はレターデーシ
ョンが小さい試料のレターデーションを簡単に精度良く
測定できる装置を提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】従来のレターデーション
測定方法で試料にレターデーションが既知の板を重ね、
試料とこの板を重ねた物全体のレターデーションを求
め、それから上記既知レターデーションの値を引き算す
ることによって試料のレターデーションを算出するよう
にした。
【0005】
【作用】レターデーション既知の板として例えば1/2
波長板を考えると、1/2波長板のレターデーションで
はπである。試料のレターデーションをδとし、両者を
重ねた全体のレターデーションをΔとすると、直接測定
されるのは透過光強度の最大と最小との比であって、こ
れはcos2 (Δ/2)である。これはcos{(δ+
π)/2}=cos(δ/2+π/2}=sin(δ/
2)δが小さい範囲を考えているので、直接測定される
のは{sin(δ/2)}2 =(δ/2)2 であり、
{cos(δ/2)}2 からδを求めるより測定誤差が
δに及ぼす影響が著しく小さくなる。
【0006】一般の場合、挿入する板のレターデーショ
ンが既知でこれをdとし、かつこれが1/2波長に近い
(と云っても位相角で180°±90°位の範囲であれ
ばよい)とする。このように選択できる範囲は広いか
ら、挿入する板の選択は容易である。試料とこの板を重
ねた場合の全体のレターデーションδはδ+dで、透過
光強度の最大と最小の比Rは R={cos(Δ/2)}2 であるから、Rの平方根として
【数3】 が求まる。こゝでδは小さいから、上の値はcos(d
/2)に近く、これは角度で45°から135°の範囲
であり、この辺ではcosの値は正から負へ略直線的に
変化しており、従って、
【数4】 として精度良く(δ+d)を求めることができ、これか
ら既知レターデーションを引き算すればδが求まる。
【0007】
【実施例】第1図に本発明の一実施例装置を示す。この
実施例では試料を回す代わりに偏光子と検光子とを一体
的に回転させるようになっている。この構成によると帯
状の連続試料に対して、長さ方向に連続的に異方性を検
査するのが容易である。図で1が偏光子,2が検光子
で、これらは同一軸線A上に上下に配置された回転台1
1,12上に取り付けられており、各回転台11,12
はベルト3を介してパルスモータ4により同時に同じ角
速度で回転せしめられるようになっている。偏光子1,
検光子2は相互に偏光方向が平行であるように各回転台
上に取り付けられている。Sは試料のシートで上下の回
転台11,12の間を通過せしめられる。偏光子1の上
方で5はフィルタであり、特定の波長の光を透過する。
6は光源のハロゲンランプで光ファイバー7を通してフ
ィルタ5上に導かれ、フィルタ透過光が偏光子1,試料
S,検光子2を透過して受光素子8で検出されるように
なっている。受光素子8の出力は増幅器9を通してデー
タ処理装置10に送られる。データ処理装置10からは
パルス信号が発せられ、モータ駆動回路13に入力さ
れ、モータ駆動パルスに変換されてモータ4に入力され
る。データ処理装置はこのパルスを計数して偏光子,検
光子の回転角を検知している。回転台11と試料Sとの
間に1/2波長板14が固定的に挿入されている。1/
2波長板14の光学軸は試料Sの光学軸と平行或は直交
にしてある。試料の光学軸はその延伸方向と一致してい
るから、1/2波長板の光学軸は試料Sの長手方向と一
致させておけばよい。一般の試料でその光学軸の方向が
予め判明していない場合、例えば試料が既にシート材か
ら所定の形に打抜かれた半製品であるような場合は、1
/2波長板14を外し、偏光子1,検光子2を回転させ
て各偏光子回転角に対する受光素子8の出力を求め、こ
の出力から角度で45°隔てた2つの出力の差を偏光子
の各回転角について算出すると、偏光子の一回転のの間
にこの差が0(正負反転する位置)になる角が8個所あ
り、その中間に差が最大になる角が4個所ある。この4
個所の角位置は互いに90°離れていて、この方向が試
料の光学軸或はそれと直角の方向である。こゝで差の最
大の角位置を直接求めてもよいが、差が最大の近辺では
差の変化が小さく角位置が正確に求められないから、差
が正負反転する角位置から求める方が良い。試料の光学
軸の検出方法はこれに限らないが、これらの方法によ
り、試料の光学的異方性の存在は分かっても、異方性の
程度を定量的に測定しようとするとき、レターデーショ
ンが小さいと従来は精度の良い測定ができなかったので
あり、本発明はこゝで異方性を高精度で定量化できるの
である。第1図で1/2波長板は支柱15に回転可能に
保持された腕16に取り付けられ腕16を回すことによ
り、測定光路上に出入せられるようにしてある。この装
置で1/2波長板14を測定光路上に挿入し、偏光子,
検光子1,2を回転させながら、例えば角度1°飛びに
受光素子8の出力をデータ処理装置に取り込ませる。こ
の結果を図示したものが第2図であるが、異方性の小さ
な試料では、この第2図の花形は円に近くなり、最大径
とそれと45°離れた最小径との比Rからレターデーシ
ョンδは
【数5】 によって算出される。
【0008】図1の装置で1/2波長板14の代わり
に、レターデーション既知のシート17を取り付けて測
定を行うこともできる。この場合シート17は光学軸を
試料Sと平行にしておく。シート17は測定を行う者が
身近な試料のレターデーションを測って適当な値のもの
を選べばよい。レターデーションの値は試料のレターデ
ーションと合わせた値が角度で180°前後になるよう
に選ぶ。測光出力の最大最小の比Rを求め、試料のレタ
ーデーションをδ、シート17のレターデーションをd
として、
【数6】 でδ+dを算出し、これからdを引き算すればδが求ま
る。このようにすると1/2波長板がないときでも、レ
ターデーションの変化に対するcosの値の変化が比例
的であるから、直接cosδ/2=√Rによってδを求
めるより精度が上がることは1/2波長板を使う場合と
同じである。
【0009】
【発明の効果】従来方法ではレターデーションδの測定
が(測定出力)=(cosδ/2)の関係で求められて
いたので、δの小さな所ではδの変化に対する測定出力
の変化率が小さくて正確なδの測定ができなかった所
が、本発明ではcosδの所をsinδに変換したの
で、δの変化と測定出力の変化とが同率となり、異方性
が小さい材料の異方性を精度良く定量化できるようにな
った。また請求項1の発明は1/2波長板が入手できな
くても、手近な試料からレターデーションがπに近いも
のを探して使えばよいので実行が容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例装置の斜視図
【図2】 図は測定出力の極座標によるグラフである
【符号の説明】
1 偏光子 2 検光子 3 ベルト 4 パルスモータ 5 フィルタ 6 光源 7 オプチカルファイバー 8 受光系 9 増幅器 10 データ処理装置 11,12回転台 13 モータ駆動回路 14 1/2波長板 15 支柱 16 回転腕 17 レターデーション既知のシート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−111726(JP,A) 特開 平2−159540(JP,A) 特開 平2−242137(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/00,21/01,21/17 - 21/61

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】偏光子と検光子とを偏光面を平行に配置
    し、偏光子と検光子との間に試料とレターデーション既
    知の板を重ねて挿入して、これら試料とレターデーショ
    ン既知の板と偏光子および検光子の組との相対角位置を
    変えたときの偏光子,レターデーション既知の板,試
    料,検光子を透過した光の強度の最大,最小の比Rを測
    定し、試料とレターデーション既知の板とを合わせた全
    体のレターデーションΔを 【数1】 で算出し、これから既知レターデーションを引き算し
    て、試料のレターデーションを算出するようにしたこと
    を特徴とする複屈折測定装置。
  2. 【請求項2】偏光子と検光子とを偏光面を平行に配置
    し、偏光子と検光子との間に試料と1/2波長板を重ね
    て挿入して、これら試料と1/2波長板と偏光子および
    検光子の組との相対的角位置を変えたときの偏光子,1
    /2波長板,試料,検光子を透過した光の強度の最大と
    最小の比Rを測定し、試料のレターデーションδを 【数2】 で算出するようにしたことを特徴とする複屈折測定装
    置。
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