JP2789575B2 - 複屈折測定装置 - Google Patents
複屈折測定装置Info
- Publication number
- JP2789575B2 JP2789575B2 JP9317691A JP9317691A JP2789575B2 JP 2789575 B2 JP2789575 B2 JP 2789575B2 JP 9317691 A JP9317691 A JP 9317691A JP 9317691 A JP9317691 A JP 9317691A JP 2789575 B2 JP2789575 B2 JP 2789575B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- retardation
- polarizer
- analyzer
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はわずかに複屈折を起こす
試料の複屈折を測定するのに適した複屈折測定装置に関
する。
試料の複屈折を測定するのに適した複屈折測定装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】材料は内部歪とか延伸加工により複屈折
を起こすようになる。逆に複屈折の測定によって材料の
内部歪とか材料の延伸の度合いをしらべることができ
る。複屈折の測定は試料に直線偏光を入射させ、その直
交2成分偏光の試料透過時の位相差(レターデーショ
ン)を検出することにより行われる。今試料は薄板或は
シート状物で、光学軸が試料面と平行である場合を考え
て、試料の厚さをd、光軸方向と、それと直角の方向の
各偏光に対する屈折率をn1,n2とし、使用する光の
波長をλとすると、直線偏光を入射させた場合、その光
学軸と光学軸に直角な二方向の偏光成分の試料出射時の
位相差δはδ=2π(n1−n2)d/λである。こゝ
でδはレターデーションと呼ばれる。試料の厚さdが予
め分かっているときはδの測定からn1−n2が求ま
り、n1−n2が予め分かっているときはδから厚さd
を求めることができる。レターデーションの測定は次の
ようにして行われる。偏光子と検光子を平行に配置し、
その間に試料を挿入して回転させ、波長λの光を通し
て、試料の回転角と透過光強度との関係グラフを求め
る。試料の光学軸が偏光子,検光子と平行或はそれらと
直交しているときは試料に入射した直線偏光はそのまゝ
直線偏光として試料を出射するから、試料が2色性を有
しないときはこの二方向では透過光の強さは同じにな
り、今これを光強度の基準値にする。試料の光学軸が偏
光子,検光子と平行或は直角でないときは、一般に試料
透過光は楕円偏光となっていて、測定されるのはこの楕
円偏光の検光子方向の成分だけとなる。今試料の光学軸
が偏光子,検光子と45°の方向である場合を考える
と、試料への入射光の光学軸方向とそれと直角の方向の
両成分の振幅は等しい。偏光子出射光の振幅を1とする
と、これら両成分の振幅1/√2であり、これら両成分
の夫々の検光子方向の成分が検光子を通過することにな
るが、試料出射時に上記両成分間にはδなる位相差があ
るので、検光子透過光は(1/2)sin(ωt+δ/
2)+(1/2)sin(ωt−δ/2)で表される。
上式はcos(δ/2)sinωtとなり、検光子透過
光強度は基準値の{cos(δ/2)}2 になってい
る。以上の関係はグラフで画くと第2図のように十字花
形になる。この図で光強度の最大値と最小値の比が{c
os(δ/2)}2 となる。このようにして測定によっ
てcos(δ/2)が求められ、これからδが算出され
る。上述した方法によるときはレターデーションδが或
る程度以上大きいときはcos(δ/2)からδを正確
に求めることができるがδが小さいときは、cos(δ
/2)のδの変化に対する変化率はδの2乗に比例して
いて大へん小さく{cos(δ/2)}2のわずかな測
定誤差によってδには大きな誤差が現れることになる。
このため、異方性のきわめて小さい試料の異方性を偏光
によって測定することは困難であった。他方シート状材
料のわずかな異方性によって後日温度変化とか単なる経
時変化によって材料に反りが生じることがあり、このよ
うな反りの発生が甚だ不都合な場合がある。このためシ
ート状材料のきわめて軽度の異方性を正確に測定できる
方法が要求されている。
を起こすようになる。逆に複屈折の測定によって材料の
内部歪とか材料の延伸の度合いをしらべることができ
る。複屈折の測定は試料に直線偏光を入射させ、その直
交2成分偏光の試料透過時の位相差(レターデーショ
ン)を検出することにより行われる。今試料は薄板或は
シート状物で、光学軸が試料面と平行である場合を考え
て、試料の厚さをd、光軸方向と、それと直角の方向の
各偏光に対する屈折率をn1,n2とし、使用する光の
波長をλとすると、直線偏光を入射させた場合、その光
学軸と光学軸に直角な二方向の偏光成分の試料出射時の
位相差δはδ=2π(n1−n2)d/λである。こゝ
でδはレターデーションと呼ばれる。試料の厚さdが予
め分かっているときはδの測定からn1−n2が求ま
り、n1−n2が予め分かっているときはδから厚さd
を求めることができる。レターデーションの測定は次の
ようにして行われる。偏光子と検光子を平行に配置し、
その間に試料を挿入して回転させ、波長λの光を通し
て、試料の回転角と透過光強度との関係グラフを求め
る。試料の光学軸が偏光子,検光子と平行或はそれらと
直交しているときは試料に入射した直線偏光はそのまゝ
直線偏光として試料を出射するから、試料が2色性を有
しないときはこの二方向では透過光の強さは同じにな
り、今これを光強度の基準値にする。試料の光学軸が偏
光子,検光子と平行或は直角でないときは、一般に試料
透過光は楕円偏光となっていて、測定されるのはこの楕
円偏光の検光子方向の成分だけとなる。今試料の光学軸
が偏光子,検光子と45°の方向である場合を考える
と、試料への入射光の光学軸方向とそれと直角の方向の
両成分の振幅は等しい。偏光子出射光の振幅を1とする
と、これら両成分の振幅1/√2であり、これら両成分
の夫々の検光子方向の成分が検光子を通過することにな
るが、試料出射時に上記両成分間にはδなる位相差があ
るので、検光子透過光は(1/2)sin(ωt+δ/
2)+(1/2)sin(ωt−δ/2)で表される。
上式はcos(δ/2)sinωtとなり、検光子透過
光強度は基準値の{cos(δ/2)}2 になってい
る。以上の関係はグラフで画くと第2図のように十字花
形になる。この図で光強度の最大値と最小値の比が{c
os(δ/2)}2 となる。このようにして測定によっ
てcos(δ/2)が求められ、これからδが算出され
る。上述した方法によるときはレターデーションδが或
る程度以上大きいときはcos(δ/2)からδを正確
に求めることができるがδが小さいときは、cos(δ
/2)のδの変化に対する変化率はδの2乗に比例して
いて大へん小さく{cos(δ/2)}2のわずかな測
定誤差によってδには大きな誤差が現れることになる。
このため、異方性のきわめて小さい試料の異方性を偏光
によって測定することは困難であった。他方シート状材
料のわずかな異方性によって後日温度変化とか単なる経
時変化によって材料に反りが生じることがあり、このよ
うな反りの発生が甚だ不都合な場合がある。このためシ
ート状材料のきわめて軽度の異方性を正確に測定できる
方法が要求されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明はレターデーシ
ョンが小さい試料のレターデーションを簡単に精度良く
測定できる装置を提供しようとするものである。
ョンが小さい試料のレターデーションを簡単に精度良く
測定できる装置を提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】従来のレターデーション
測定方法で試料にレターデーションが既知の板を重ね、
試料とこの板を重ねた物全体のレターデーションを求
め、それから上記既知レターデーションの値を引き算す
ることによって試料のレターデーションを算出するよう
にした。
測定方法で試料にレターデーションが既知の板を重ね、
試料とこの板を重ねた物全体のレターデーションを求
め、それから上記既知レターデーションの値を引き算す
ることによって試料のレターデーションを算出するよう
にした。
【0005】
【作用】レターデーション既知の板として例えば1/2
波長板を考えると、1/2波長板のレターデーションで
はπである。試料のレターデーションをδとし、両者を
重ねた全体のレターデーションをΔとすると、直接測定
されるのは透過光強度の最大と最小との比であって、こ
れはcos2 (Δ/2)である。これはcos{(δ+
π)/2}=cos(δ/2+π/2}=sin(δ/
2)δが小さい範囲を考えているので、直接測定される
のは{sin(δ/2)}2 =(δ/2)2 であり、
{cos(δ/2)}2 からδを求めるより測定誤差が
δに及ぼす影響が著しく小さくなる。
波長板を考えると、1/2波長板のレターデーションで
はπである。試料のレターデーションをδとし、両者を
重ねた全体のレターデーションをΔとすると、直接測定
されるのは透過光強度の最大と最小との比であって、こ
れはcos2 (Δ/2)である。これはcos{(δ+
π)/2}=cos(δ/2+π/2}=sin(δ/
2)δが小さい範囲を考えているので、直接測定される
のは{sin(δ/2)}2 =(δ/2)2 であり、
{cos(δ/2)}2 からδを求めるより測定誤差が
δに及ぼす影響が著しく小さくなる。
【0006】一般の場合、挿入する板のレターデーショ
ンが既知でこれをdとし、かつこれが1/2波長に近い
(と云っても位相角で180°±90°位の範囲であれ
ばよい)とする。このように選択できる範囲は広いか
ら、挿入する板の選択は容易である。試料とこの板を重
ねた場合の全体のレターデーションδはδ+dで、透過
光強度の最大と最小の比Rは R={cos(Δ/2)}2 であるから、Rの平方根として
ンが既知でこれをdとし、かつこれが1/2波長に近い
(と云っても位相角で180°±90°位の範囲であれ
ばよい)とする。このように選択できる範囲は広いか
ら、挿入する板の選択は容易である。試料とこの板を重
ねた場合の全体のレターデーションδはδ+dで、透過
光強度の最大と最小の比Rは R={cos(Δ/2)}2 であるから、Rの平方根として
【数3】 が求まる。こゝでδは小さいから、上の値はcos(d
/2)に近く、これは角度で45°から135°の範囲
であり、この辺ではcosの値は正から負へ略直線的に
変化しており、従って、
/2)に近く、これは角度で45°から135°の範囲
であり、この辺ではcosの値は正から負へ略直線的に
変化しており、従って、
【数4】 として精度良く(δ+d)を求めることができ、これか
ら既知レターデーションを引き算すればδが求まる。
ら既知レターデーションを引き算すればδが求まる。
【0007】
【実施例】第1図に本発明の一実施例装置を示す。この
実施例では試料を回す代わりに偏光子と検光子とを一体
的に回転させるようになっている。この構成によると帯
状の連続試料に対して、長さ方向に連続的に異方性を検
査するのが容易である。図で1が偏光子,2が検光子
で、これらは同一軸線A上に上下に配置された回転台1
1,12上に取り付けられており、各回転台11,12
はベルト3を介してパルスモータ4により同時に同じ角
速度で回転せしめられるようになっている。偏光子1,
検光子2は相互に偏光方向が平行であるように各回転台
上に取り付けられている。Sは試料のシートで上下の回
転台11,12の間を通過せしめられる。偏光子1の上
方で5はフィルタであり、特定の波長の光を透過する。
6は光源のハロゲンランプで光ファイバー7を通してフ
ィルタ5上に導かれ、フィルタ透過光が偏光子1,試料
S,検光子2を透過して受光素子8で検出されるように
なっている。受光素子8の出力は増幅器9を通してデー
タ処理装置10に送られる。データ処理装置10からは
パルス信号が発せられ、モータ駆動回路13に入力さ
れ、モータ駆動パルスに変換されてモータ4に入力され
る。データ処理装置はこのパルスを計数して偏光子,検
光子の回転角を検知している。回転台11と試料Sとの
間に1/2波長板14が固定的に挿入されている。1/
2波長板14の光学軸は試料Sの光学軸と平行或は直交
にしてある。試料の光学軸はその延伸方向と一致してい
るから、1/2波長板の光学軸は試料Sの長手方向と一
致させておけばよい。一般の試料でその光学軸の方向が
予め判明していない場合、例えば試料が既にシート材か
ら所定の形に打抜かれた半製品であるような場合は、1
/2波長板14を外し、偏光子1,検光子2を回転させ
て各偏光子回転角に対する受光素子8の出力を求め、こ
の出力から角度で45°隔てた2つの出力の差を偏光子
の各回転角について算出すると、偏光子の一回転のの間
にこの差が0(正負反転する位置)になる角が8個所あ
り、その中間に差が最大になる角が4個所ある。この4
個所の角位置は互いに90°離れていて、この方向が試
料の光学軸或はそれと直角の方向である。こゝで差の最
大の角位置を直接求めてもよいが、差が最大の近辺では
差の変化が小さく角位置が正確に求められないから、差
が正負反転する角位置から求める方が良い。試料の光学
軸の検出方法はこれに限らないが、これらの方法によ
り、試料の光学的異方性の存在は分かっても、異方性の
程度を定量的に測定しようとするとき、レターデーショ
ンが小さいと従来は精度の良い測定ができなかったので
あり、本発明はこゝで異方性を高精度で定量化できるの
である。第1図で1/2波長板は支柱15に回転可能に
保持された腕16に取り付けられ腕16を回すことによ
り、測定光路上に出入せられるようにしてある。この装
置で1/2波長板14を測定光路上に挿入し、偏光子,
検光子1,2を回転させながら、例えば角度1°飛びに
受光素子8の出力をデータ処理装置に取り込ませる。こ
の結果を図示したものが第2図であるが、異方性の小さ
な試料では、この第2図の花形は円に近くなり、最大径
とそれと45°離れた最小径との比Rからレターデーシ
ョンδは
実施例では試料を回す代わりに偏光子と検光子とを一体
的に回転させるようになっている。この構成によると帯
状の連続試料に対して、長さ方向に連続的に異方性を検
査するのが容易である。図で1が偏光子,2が検光子
で、これらは同一軸線A上に上下に配置された回転台1
1,12上に取り付けられており、各回転台11,12
はベルト3を介してパルスモータ4により同時に同じ角
速度で回転せしめられるようになっている。偏光子1,
検光子2は相互に偏光方向が平行であるように各回転台
上に取り付けられている。Sは試料のシートで上下の回
転台11,12の間を通過せしめられる。偏光子1の上
方で5はフィルタであり、特定の波長の光を透過する。
6は光源のハロゲンランプで光ファイバー7を通してフ
ィルタ5上に導かれ、フィルタ透過光が偏光子1,試料
S,検光子2を透過して受光素子8で検出されるように
なっている。受光素子8の出力は増幅器9を通してデー
タ処理装置10に送られる。データ処理装置10からは
パルス信号が発せられ、モータ駆動回路13に入力さ
れ、モータ駆動パルスに変換されてモータ4に入力され
る。データ処理装置はこのパルスを計数して偏光子,検
光子の回転角を検知している。回転台11と試料Sとの
間に1/2波長板14が固定的に挿入されている。1/
2波長板14の光学軸は試料Sの光学軸と平行或は直交
にしてある。試料の光学軸はその延伸方向と一致してい
るから、1/2波長板の光学軸は試料Sの長手方向と一
致させておけばよい。一般の試料でその光学軸の方向が
予め判明していない場合、例えば試料が既にシート材か
ら所定の形に打抜かれた半製品であるような場合は、1
/2波長板14を外し、偏光子1,検光子2を回転させ
て各偏光子回転角に対する受光素子8の出力を求め、こ
の出力から角度で45°隔てた2つの出力の差を偏光子
の各回転角について算出すると、偏光子の一回転のの間
にこの差が0(正負反転する位置)になる角が8個所あ
り、その中間に差が最大になる角が4個所ある。この4
個所の角位置は互いに90°離れていて、この方向が試
料の光学軸或はそれと直角の方向である。こゝで差の最
大の角位置を直接求めてもよいが、差が最大の近辺では
差の変化が小さく角位置が正確に求められないから、差
が正負反転する角位置から求める方が良い。試料の光学
軸の検出方法はこれに限らないが、これらの方法によ
り、試料の光学的異方性の存在は分かっても、異方性の
程度を定量的に測定しようとするとき、レターデーショ
ンが小さいと従来は精度の良い測定ができなかったので
あり、本発明はこゝで異方性を高精度で定量化できるの
である。第1図で1/2波長板は支柱15に回転可能に
保持された腕16に取り付けられ腕16を回すことによ
り、測定光路上に出入せられるようにしてある。この装
置で1/2波長板14を測定光路上に挿入し、偏光子,
検光子1,2を回転させながら、例えば角度1°飛びに
受光素子8の出力をデータ処理装置に取り込ませる。こ
の結果を図示したものが第2図であるが、異方性の小さ
な試料では、この第2図の花形は円に近くなり、最大径
とそれと45°離れた最小径との比Rからレターデーシ
ョンδは
【数5】 によって算出される。
【0008】図1の装置で1/2波長板14の代わり
に、レターデーション既知のシート17を取り付けて測
定を行うこともできる。この場合シート17は光学軸を
試料Sと平行にしておく。シート17は測定を行う者が
身近な試料のレターデーションを測って適当な値のもの
を選べばよい。レターデーションの値は試料のレターデ
ーションと合わせた値が角度で180°前後になるよう
に選ぶ。測光出力の最大最小の比Rを求め、試料のレタ
ーデーションをδ、シート17のレターデーションをd
として、
に、レターデーション既知のシート17を取り付けて測
定を行うこともできる。この場合シート17は光学軸を
試料Sと平行にしておく。シート17は測定を行う者が
身近な試料のレターデーションを測って適当な値のもの
を選べばよい。レターデーションの値は試料のレターデ
ーションと合わせた値が角度で180°前後になるよう
に選ぶ。測光出力の最大最小の比Rを求め、試料のレタ
ーデーションをδ、シート17のレターデーションをd
として、
【数6】 でδ+dを算出し、これからdを引き算すればδが求ま
る。このようにすると1/2波長板がないときでも、レ
ターデーションの変化に対するcosの値の変化が比例
的であるから、直接cosδ/2=√Rによってδを求
めるより精度が上がることは1/2波長板を使う場合と
同じである。
る。このようにすると1/2波長板がないときでも、レ
ターデーションの変化に対するcosの値の変化が比例
的であるから、直接cosδ/2=√Rによってδを求
めるより精度が上がることは1/2波長板を使う場合と
同じである。
【0009】
【発明の効果】従来方法ではレターデーションδの測定
が(測定出力)=(cosδ/2)の関係で求められて
いたので、δの小さな所ではδの変化に対する測定出力
の変化率が小さくて正確なδの測定ができなかった所
が、本発明ではcosδの所をsinδに変換したの
で、δの変化と測定出力の変化とが同率となり、異方性
が小さい材料の異方性を精度良く定量化できるようにな
った。また請求項1の発明は1/2波長板が入手できな
くても、手近な試料からレターデーションがπに近いも
のを探して使えばよいので実行が容易である。
が(測定出力)=(cosδ/2)の関係で求められて
いたので、δの小さな所ではδの変化に対する測定出力
の変化率が小さくて正確なδの測定ができなかった所
が、本発明ではcosδの所をsinδに変換したの
で、δの変化と測定出力の変化とが同率となり、異方性
が小さい材料の異方性を精度良く定量化できるようにな
った。また請求項1の発明は1/2波長板が入手できな
くても、手近な試料からレターデーションがπに近いも
のを探して使えばよいので実行が容易である。
【図1】 本発明の一実施例装置の斜視図
【図2】 図は測定出力の極座標によるグラフである
1 偏光子 2 検光子 3 ベルト 4 パルスモータ 5 フィルタ 6 光源 7 オプチカルファイバー 8 受光系 9 増幅器 10 データ処理装置 11,12回転台 13 モータ駆動回路 14 1/2波長板 15 支柱 16 回転腕 17 レターデーション既知のシート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−111726(JP,A) 特開 平2−159540(JP,A) 特開 平2−242137(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/00,21/01,21/17 - 21/61
Claims (2)
- 【請求項1】偏光子と検光子とを偏光面を平行に配置
し、偏光子と検光子との間に試料とレターデーション既
知の板を重ねて挿入して、これら試料とレターデーショ
ン既知の板と偏光子および検光子の組との相対角位置を
変えたときの偏光子,レターデーション既知の板,試
料,検光子を透過した光の強度の最大,最小の比Rを測
定し、試料とレターデーション既知の板とを合わせた全
体のレターデーションΔを 【数1】 で算出し、これから既知レターデーションを引き算し
て、試料のレターデーションを算出するようにしたこと
を特徴とする複屈折測定装置。 - 【請求項2】偏光子と検光子とを偏光面を平行に配置
し、偏光子と検光子との間に試料と1/2波長板を重ね
て挿入して、これら試料と1/2波長板と偏光子および
検光子の組との相対的角位置を変えたときの偏光子,1
/2波長板,試料,検光子を透過した光の強度の最大と
最小の比Rを測定し、試料のレターデーションδを 【数2】 で算出するようにしたことを特徴とする複屈折測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9317691A JP2789575B2 (ja) | 1990-07-31 | 1991-03-30 | 複屈折測定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-204453 | 1990-07-31 | ||
| JP20445390 | 1990-07-31 | ||
| JP9317691A JP2789575B2 (ja) | 1990-07-31 | 1991-03-30 | 複屈折測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04218751A JPH04218751A (ja) | 1992-08-10 |
| JP2789575B2 true JP2789575B2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=26434599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9317691A Expired - Fee Related JP2789575B2 (ja) | 1990-07-31 | 1991-03-30 | 複屈折測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2789575B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5223081B2 (ja) * | 2009-07-03 | 2013-06-26 | 王子計測機器株式会社 | 偏光板用オンライン位相差測定装置 |
-
1991
- 1991-03-30 JP JP9317691A patent/JP2789575B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04218751A (ja) | 1992-08-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6473181B1 (en) | Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator | |
| JPH0478137B2 (ja) | ||
| EP1060369A1 (en) | Birefringence measurement system | |
| CN100395538C (zh) | 一种新型快速椭圆偏振光测量系统 | |
| KR100336696B1 (ko) | 편광 분석장치 및 편광 분석방법 | |
| JP5991230B2 (ja) | 位相差測定方法及び装置 | |
| JP2011117792A (ja) | 楕円偏光板の貼合角測定装置 | |
| JP2791479B2 (ja) | レターデーション測定方法 | |
| JP2789575B2 (ja) | 複屈折測定装置 | |
| US7002685B2 (en) | System for measuring of both circular and linear birefringence | |
| US3481671A (en) | Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements | |
| US5157259A (en) | Measuring method and measuring arrangement for determining the orientation ratio of flexible magnetic recording media | |
| JP2924938B2 (ja) | 複合フィルムのレターデーション測定方法 | |
| JP2005283552A (ja) | 複屈折測定装置および複屈折測定方法 | |
| JP2645252B2 (ja) | 自動複屈折計 | |
| JP2712987B2 (ja) | 偏光測定装置の調整方法 | |
| JPH06241987A (ja) | 複屈折測定装置 | |
| JPH05264440A (ja) | 偏光解析装置 | |
| JPH04127004A (ja) | エリプソメータ及びその使用方法 | |
| JPH11211656A (ja) | レターデーション測定方法及び装置 | |
| JPH06229909A (ja) | 偏光二色性測定装置 | |
| JPS60249007A (ja) | 膜厚測定装置 | |
| JPH06229910A (ja) | レターデーション測定方法 | |
| JPH04303739A (ja) | 試料の光学主軸判定方法 | |
| JP2791480B2 (ja) | レターデーション等の測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090612 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090612 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100612 Year of fee payment: 12 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |