JP2762551B2 - 液晶配向膜および液晶表示素子 - Google Patents
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Description
子、特に液晶分子が基板に対して傾斜角度(プレチルト
角)を持って配向している状態を与える液晶配向膜およ
び液晶表示素子に関する。
平、傾斜の3通りがある。従来より広く用いられてきた
TN型液晶表示素子における液晶分子の配向は水平配向で
液晶分子の配向方向は基板に対して平行であった。この
ような配向状態はポリイミドなどの有機樹脂膜を基板上
に形成し、これを一方向にラビングした液晶配向膜を用
いることにより発現させることができる。このような液
晶配向膜を備えた液晶素子としては、表示素子以外にも
光シャッターや非線形光学効果を利用した波長変換器な
どの光学素子がある。
欠点があり、近年要求の高まってきた大容量液晶表示素
子には性能面で対応できない。そこで、急峻なしきい値
特性を持ち、コントラスト、視覚特性などに優れたSTN
方式あるいはSBE方式の液晶表示装置が開発された(T.
J.Schefferら Appl.Phys.Lett.45(10),1021(1984)
参照)。
子の配向方向を180゜以上ねじる必要がある。そのた
め、液晶分子は基板面に対して3゜から20゜程度の傾斜
角度を持って配向していなければならない。
速度の速い強誘電性液晶を利用した液晶表示素子も開発
されている(N.A.Clarkら Appl.Phys.Lett.36(198
0),899参照)。強誘電性液晶はその高速応答性に注目
され、光プリンターのシャッターアレイに応用する(オ
プトロニクス,64(1987),p,97参照)など、表示素子
以外の分野での利用も考えられている。
基板に対して傾斜させて配向させるという方法が提案さ
れている(T.Uemuraら JAPAN DISPLAY'86予稿集464
(講演番号12.3)参照)。
晶表示素子で用いられていた配向方法では液晶分子と基
板とのなす角度(プレチルト角)は0゜から高々2゜程
度ある。このように小さなプレチルト角では、STN方式
あるいは強誘電性液晶の傾斜配向を実現することは難し
い。そこで、T.J.SchefferらとT.Uemuraらは、液晶分子
を傾斜配向させるために酸化珪素等の無機斜方蒸着膜を
用いている。また、ポリイミド等の有機樹脂に垂直配向
剤を混合ることによって、ラビング処理法で傾斜配向を
達成する方法も報告されている(特開昭62−262828号公
報、62−262829号公報、62−297819号公報参照)。
脂膜をラビング処理した液晶配向膜を用いて、大きなプ
レチルト角を出すという試みもなされている(特開昭62
−127827号、62−127828号、63−259515号、63−262620
号公報参照)。
など特別な装置を必要とすること、作業が煩雑で量産技
術には適さない等の欠点がある。
した系では、液晶分子の傾斜角の値が不安定であった
り、ラビング処理等の製造条件に大きく依存するという
問題がある。また、従来の含フッ素ポリイミドでは含フ
ッ素成分のプレチルト角の誘起効果が小さく、実用上十
分なプレチルト角を実現させるためには多量の含フッ素
成分を共重合させる必要がある。このようなポリイミド
では、その接着性改善や耐溶剤性の向上などの諸特性改
善のため他の成分を共重合させる場合に大きな制約とな
り問題である。
ので、その目的は、特殊な装置を必要とぜす、かつ液晶
配向膜の他の特性を犠牲にすることなく安定で大きな傾
斜配向を発現できる液晶配向膜および液晶表示素子を提
供することにある。
される繰り返し単位および下記一般式(II)で表わされ
る繰り返し単位を主成分として含有して成るポリイミド
より形成されたことを特徴とする液晶配向膜を提供す
る。
キル基またはフルオロアルキル基を示す。R1がフルオロ
アルキル基であるときは、そのときのXは rは0または1を示す。R1がアルキル基であるときは、
そのときのXは であり、rは1を示す。R2は四価の有機残基、R3は二価
の有機残基を示す。m/nの比は1/99〜80/20である。
れた透明電極基板の表面に液晶配向膜を設け、該液晶配
向膜の表面を一定方向にラビングしてなる液晶表示素子
において、該液晶配向膜として下記一般式(I)で表さ
れる繰り返し単位と下記一般式(II)で表される繰り返
し単位を主成分として含有して成るポリイミドを使用す
ることを特徴とする液晶表示素子を提供する。
キル基またはフルオロアルキル基を示す。R1がフルオロ
アルキル基であるときは、そのときのXは rは0または1を示す。R1がアルキル基であるときは、
そのときのXは であり、rは1を示す。R2は四価の有機残基、R3は二価
の有機残基を示す。m/nの比は1/99〜80/20である。
I)で表わされる繰り返し単位の構成比m/nの値は、1/99
〜80/20である。好ましくは5/95〜50/50である。m/nの
値が1/99未満の場合には、STN方式などで必要とされる
大きさプレチルト角をもたらす液晶配向膜を得ることが
難しく、一方m/nの値が80/20を越える場合には、液晶配
向が不安定になることやポリイミドの機械的あるいは熱
的な特性が低下するなどの問題が生じる場合がある。安
定したプレチルト角を得るために好ましく使用できるm/
nの値は5/95〜50/50である。
返し単位および一般式(II)で表わされる繰り返し単位
を主成分として含有してなるポリイミドは、後述の一般
式(III)で表わされるジアミン化合物および一般式(I
V)で表わされるジアミン化合物の1種または2種以上
と、一般式(V)で表わされるテトラカルボン酸二無水
物の1種または2種以上を、N,N−ジメチルホルムアミ
ド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピ
ロリドン、γ−ブチロラクトンなどの極性溶媒中で反応
させることにより、前駆体であるポリアミド酸溶液の形
で合成することができる。
〜80℃の温度で1〜10時間撹はんすることによって、固
有粘度が0.1〜4.0の範囲にあるポリアミド酸溶液を調整
することができる。
トルエン、キシレンなどの溶媒を共存させて共沸脱水条
件で100℃以上に加熱することによって、部分的あるい
は完全にイミド閉環したポリイミド溶液を得ることも、
一般式(I)と(II)の繰り返し単位を適当に選ぶこと
によって可能である。
などの閉環反応促進触媒の共存下で行うこともできる。
る、X、R1、R2、R3およびrの意味するところは、一般
式(I)および(II)におけるのと同様である。
0のアルキル基または炭素数4〜20のフルオロアルキル
基である。炭素数が4未満では液晶配向特性、特に傾斜
配向特性が十分でなく、炭素数が20を越えるものにして
も液晶配向特性の面で得られるところはほとんどない。
より好ましくは炭素数8〜16である。
としては、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシ
ル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル
基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル
基、n−テトラデシル基、n−ペンタデシル基、n−ヘ
キサデシル基、n−オクタデシル基、n−エイコシル基
などを例示することができる。分岐状のアルキル基とし
ては、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル
基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メ
チルブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペン
チル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル
基、1−メチルヘキシル基、2−メチルヘキシル基、3
−メチルヘキシル基、4−メチルヘキシル基、5−メチ
ルヘキシル基、1−メチルヘプチル基、2−メチルヘプ
チル基、3−メチルヘプチル基、4−メチルヘプチル
基、5−メチルヘプチル基、6−メチルヘプチル基、1
−メチルオクチル基、2−メチルオクチル基、3−メチ
ルオクチル基、4−メチルオクチル基、5−メチルオク
チル基、6−メチルオクチル基、7−メチルオクチル
基、1−メチルノニル基、2−メチルノニル基、3−メ
チルノニル基、4−メチルノニル基、5−メチルノニル
基、6−メチルノニル基、7−メチルノニル基、8−メ
チルノニル基、1−メチルデシル基、2−メチルデシル
基、3−メチルデシル基、4−メチルデシル基、5−メ
チルデシル基、6−メチルデシル基、7−メチルデシル
基、8−メチルデシル基、9−メチルデシル基、1−メ
チルドデシル基、2−メチルドデシル基、3−メチルド
デシ基、4−メチルドデシル基、5−メチルデシル基、
6メチルドデシル基、7−メチルドデシル基、8−メチ
ルドデシル基、9−メチルドデシル、10−メチルドデシ
ル基、11−メチルドデシル基、1−メチルテトラデシル
基、2−メチルテトラデシル基、3−メチルテトラデシ
ル基、4−メチルテトラデシル基、5−メチルテトラデ
シル基、6−メチルテトラデシル基、7−メチルテトラ
デシル基、8−メチルテトラデシル基、9−メチルテト
ラデシル基、10−メチルテトラデシル基、11−メチルテ
トラデシル基、12−メチルテトラデシル基、13−メチル
テトラデシル基、1−メチルヘキサデシル基、2−メチ
ルヘキサデシル基、3−メチルヘキサデシル基、4−メ
チルヘキサデシル基、5−メチルヘキサデシル基、6−
メチルヘキサデシル基、7−メチルヘキサデシル基、8
−メチルヘキサデシル基、9−メチルヘキサデシル基、
10−メチルヘキサデシル基、11−メチルヘキサデシル
基、12−メチルヘキサデシル基、13−メチルヘキサデシ
ル基、14−メチルヘキサデシル基、15−メチルヘキサデ
シル基、1−メチルオクタデシル基、2−メチルオクタ
デシル基、3−メチルオクタデシル基、4−メチルオク
タデシル基、5−メチルオクタデシル基、6−メチルオ
クタデシル基、7−メチルオクタデシル基、8−メチル
オクタデシル基、9−メチルオクタデシル基、10−メチ
ルオクタデシル基、11−メチルオクタデシル基、12−メ
チルオクタデシル基、13−メチルオクタデシル基、14−
メチルオクタデシル基、15−メチルオクタデシル基、16
−メチルオクタデシル基、17−メチルオクタデシル基な
どを例示することができる。
素原子の1個以上がフッ素原子で置換されたものが使用
可能である。このようなフルオロアルキル基の内で特に
好ましく使用できるものとして、ヘプタフルオロブチル
基、ノナフルオローtert−ブチル基、パーフルオロブチ
ル基、オクタフルオロペンチル基、パーフルオロペンチ
ル基、ノナフルオロヘキシル基、パーフルオロヘキシル
基、ドデカフルオロヘプチル基、トリデカフルオロヘキ
シル基、パーフルオロヘプチル基、トリデカフルオロオ
クチル基、ペンタデカフルオロオクチル基、パーフルオ
ロオクチル基、ヘキサフルオロノニル基、パーフルオロ
ノニル基、ヘプタデカフルオロデシル基、パーフルオロ
デシル基、ヘネイコフルオロドデシル基、パーフルオロ
ドデシル基、ペンタコサフルオロテトラデシル基、パー
フルオロテトラデシル基、パーフルオロペンタデシル
基、パーフルオロヘキサデシル基、パーフルオロオクタ
デシル基、パーフルオロエイコシル基などを例示するこ
とができる。
がフルオロアルキル基であるときのXは rは0または1を示す。R1がアルキル基であるときのX
は であり、rは1を示す。
ルボン酸構造を形成するR2は四価の有機残基、好ましく
は四価の芳香族残基または脂肪族残基である。好ましく
使用できる芳香族テトラカルボン酸二無水物の具体例と
しては、芳香族1核体としてピロメリット酸、トリフル
オロメチルピロメリット酸、ビス(トリフルオロメチ
ル)ピロメリット酸、芳香族2核体として3,3′−4,4′
−テトラカルボキシジフェニルエーテル、2,3,3′,4′
−テトラカルボキシジフェニルエーテル、3,3′,4,4′
−ベンゾフェノンテトラカルボン酸、2,3,3′,4−ベン
ゾフェノンテトラカルボン酸、3,3′,4,4′−ビフェニ
ルテトラカルボン酸、2,3,3′,4′−ビフェニルテトラ
カルボン酸、3,3′,4,4′−テトラカルボキシジフェニ
ルメタン、2,3,6,7−ナフタレンテトラカルボン酸、1,
4,5,8−ナフタレンテトラカルボン酸、1,2,5,6−ナフタ
レンテトラカルボン酸、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシ
フェニル)プロパン、2,2−ビス(3,4−ジカルボキシフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパン、3,3′,4,4′−テト
ラカルボキシジフェニルスルホン、芳香族4核体として
2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェ
ニル)プロパン、2,2−ビス(4−(3,4−ジカルボキシ
フェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン、1,2,
7,8−テトラカルボキシペリレンなどを例示することが
できる。
的な例としては、シクロブタンテトラカルボン酸、シク
ロペンタンテトラカルボン酸、シクロヘキサンテトラカ
ルボン酸、1,1,4,4−ブタンテトラカルボン酸、2,2,6,6
−ヘプタンテトラカルボン酸、3,5,6−トリカルボキシ
−2−カルボキシメチルノルボルナン等の二無水物およ
び5−(2,5−ジオキソテトラヒドロフリル)−3−メ
チル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水
物、ビシクロ(2,2,2)−オクト−7−エン,2,3,5,6−
テトラカルボン酸などを例示することができる。
基、好ましくは二価の芳香族残基または脂肪族残基であ
る。R3が二価の芳香族残基である、一般式(IV)のジア
ミン化合物の具体例としては、芳香族1核体としてp−
フェニレンジアミン、m−フェニレンジアミン、o−フ
ェニレンジアミン、2,4−ジアミノトルエン、4,6−ジメ
チル−m−フェニレンジアミン、2,4−ジアミノメシチ
レン、4−クロロ−m−フェニレンジアミン、4−フル
オロ−m−フェニレンジアミン、テトラフルオロ−p−
フェニレンジアミン、テトラフルオロ−m−フェニレン
ジアミン、テトラフルオロ−o−フェニレンジアミン、
2−ニトロ−p−フェニレンジアミン、芳香族2核体と
してベンシジン、4,4′−ジアミノジフェニルエーテ
ル、3,4′−ジアミノジフェニルエーテル、3,3′−ジア
ミノジフェニルエーテル、3,3′−ジアミノジフェニル
エーテル、4,4′−ジアミノジフェニルメタン、3,4′−
ジアミノジフェニルメタン、3,3′−ジアミノジフェニ
ルメタン、4,4′−ジアミノジフェニルスルホン、3,4′
−ジアミノジフェニルスルホン、3,3′−ジアミノジフ
ェニルスルホン、3,3′−ジアミノジフェニルスルフィ
ド、3,4′−ジアミノジフェニルスルフィド、4,4′−ジ
アミノベンゾフェノン、3,4′−ジアミノベンゾフェノ
ン、3,3′−ジアミノベンゾフェノン、2,2−ビス(4−
アミノフェニル)プロパン、2,2−ビス(3−アミノフ
ェニル)プロパン、2,2−ビス(4−アミノフェニル)
ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(3−アミノフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン、1,5−ジアミノナフタ
レン、2,6−ジアミナフタレン、3,3′−ジメチルベンジ
ジン、3,3′−ジメトキシベンジジン、3,3′−ジメチル
−4,4′−ジアミノフェニルエーテル、3,3′−ジメチル
−4,4′−ジアミノジフェニルメタン、芳香族3核体と
して1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3
−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼ、1,3−ビス
(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、芳香族4核体とし
て、4,4′−ビス(4−アミノフェノキシ)ビフェニ
ル、4,4′−ビス(3−アミノフェノキシ)ビフェニ
ル、4,4′−ビス(4−アミノフェノキシ)ジフェニル
スルホン、4,4′−ビス(3−アミノフェノキシ)ジフ
ェニルスルホン、3,4−ビス(4−アミノフェノキシ)
ジフェニルスルホン、3,4′−ビス(3−アミノフェノ
キシ)ジフェニルスルホン、3,3′−ビス(4−アミノ
フェノキシ)ジフェニルスルホン、3,3′−ビス(3−
アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、2,2−ビス
(4−(4−アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、
2,2−ビス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)
プロパン、2,2−ビス(4−(2−アミノフェノキシ)
フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(4−アミノフ
ェノキシ)フエニル)ヘキサフルオロプロパン、22−ビ
ス(4−(3−アミノフェノキシ)フェニル)ヘキサフ
ルオロプロパン、2,2−ビス(4−(2−アミノフェノ
キシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパンなどを挙げる
ことができる。
の具体例としては、1,4−ジアミノブタン、1,6−ジアミ
ノヘキサン、1,8−ジアミノオクタン、1,12−ジアミノ
ドデカン、1,4−ジアミノシクロヘキサン、ビス(4−
アミノシクロヘキシル)メタン、ビス(4−アミノ−2
−メチルシクロヘキシル)メタン、ビス(4−アミノ−
3−メチルシクロヘキシル)メタン、1,3−ビス(3−
アミノプロピル)テトラメチルジシロキサンなどを例示
することができる。R3が芳香族脂肪族残基であるジアミ
ン化合物も好ましく使用可能であり、このような化合物
の具体例としては、p−キシリレンジアミン、m−メタ
キシリレンジアミンなどを例示することができる。
素子用基板、すなわち透明電極基板上への塗布は、ポリ
マ濃度0.01〜40重量%、好ましくは0.1〜20重量%溶液
を用いて、印刷法、スピンナー法、ディップ法、スプレ
ー法等の手法で行うことができる。使用される溶媒は、
該ポリアミド酸またはポリイミドを溶解するものであれ
ば制限はないが、好ましく使用できる溶媒の具体例とし
ては、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセ
トアミド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラ
クトン等を挙げることができる。これらは単独で使用す
ることもできるが、他の溶媒と混合して使用することも
できる。特に、メチルセロソルブやブチルセロソルブ、
エチルカルビトール、エチルセロセルブアセテートなど
のポリイミド貧溶媒を、上記の溶媒と適当量混合するこ
とによって、該ポリイミド前駆体溶液のガラス基板に対
する塗布性が著しく改善される場合がある。
ましくは200℃〜300℃で加熱することにより、対応する
ポリイミドの被膜が得られる。これを当業者周知の方法
でラビング処理することにより、安定したプレチルト角
を持って液晶分子を配向させることのできる液晶配向膜
が得られる。部分的または完全にイミド閉環したポリイ
ミド溶液を用いた時も、同様の熱処理を行うが、この場
合にはより低い温度、すなわち150℃〜250℃でポリイミ
ド膜を得ることが可能である。
れず公知のものが使用できる。一般に2枚のガラスまた
はフィルム基板上に酸化インジウム、酸化スズ膜等の透
明導電膜からなるセグメント電極を設け、その上に常法
により液晶配向膜を形成し、これらをもって液晶をサン
ドイッチするとともに、周辺部をシール剤によって封止
し、さらにその両側に偏光板を配置した構造のもが使用
できる。
有効に使用されるものであるが、表示素子以外にも光シ
ャッターや非線形光学効果を利用した波長変換器などの
光学素子にも有効に使用できるものである。
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。
によって行った(T.J.Shefferら J.Appl.Phys.48
(5),1783−(1977)参照)。
ル)と4−(1H,1H,2H,2H−パーフルオロデシロキシ)
−1,3−ジアミノベンゼン1.25g(0.0022モル)をN−メ
チル−2−ピロリドン(以下NMPと略称する)89.78gに
溶解させ、氷水浴で冷却した。これにピロメリット酸二
無水物4.78g(0.0219モル)を少しずつ加えた。氷水浴
につけたまま1時間、ついで室温で2時間撹拌して、ポ
リアミド酸の10重量%NMP溶液を得た。得られたポリア
ミド酸の溶液をガラス板上に流延して被膜を形成し、こ
れを100℃で1時間、ついで250℃で3時間加熱してイミ
ド化させることによりポリイミドフィルムを作った。こ
のフィルムのIRスペクトルを測定したところ、1780およ
び720cm-1にイミド環による吸収、1260−1200cm-1にC
−F結合による吸収が認められた。
は、一般式(I)で表わされる繰り返し単位と一般式
(II)で表わされる繰り返し単位の構成比m/nの値が10/
90にに相当する。
略称する)との混合溶媒で3重量%溶液になるように希
釈した。希釈後の溶液中のNMPとBCとの比率は重量比で
7:3であった。この溶液をスピナーを用いて酸化インジ
ウム・スズ膜(いわゆるITO膜)からなる透明電極が形
成されたガラス基板(30mm×33mm)に塗布した。その
後、80℃で15分、ついで250℃で1時間加熱処理し、ポ
リイミド被膜を形成した。ついで該被膜をナイロン布で
ラビング処理した。ラビング処理にはEHC社製ラビング
マシンRM−300Hを使用した。ラビングローラーの回転速
度は800rpm、基板の移動速度は毎秒100mmであった。そ
の後、8μmのスペーサを挟んでラビング方向が反平行
になるようにセルを組み立て、液晶(ZLI−2293、Merck
社製)を注入して液晶表示素子を作製した。この素子の
プレチルト角を測定したところ、5.1゜であり配向状態
も良好であった。
室温まで放冷し、再びプレチルド角を測定したところ、
5.1゜で熱処理前と変化なく、また配向の乱れも生じな
かった。
イミド被膜を形成し、基板の移動速度を毎秒20mmに変え
た他は実施例1と全く同様にラビング処理をし、セルを
組み立てたところ、プレチルト角は5.1゜で変化せず、
配向性も良好であった。この時のラビング強度は実施例
1のほぼ5倍に相当する。また、実施例1と同様の熱処
理を行ったところ、プレチルト角は5.1゜であり、配向
の乱れも生じなかった。
安定した傾斜配向を与えることが確認された。
175モルに、4−(1H,1H,2H,2H−パーフルオロデシロキ
シ)−1,3−ジアミノベンゼン0.0022モルを0.0044モル
に変えた以外は、実施例1と全く同様にしてポリアミド
酸溶液を調整した。繰り返し単位の構成比m/nは20/80で
ある。この溶液を用いて、実施例1と同様の液晶表示素
子を作製したところ、プレチルト角は7.0゜で液晶配向
性も良好であった。
を溶媒として、ピロメリット酸二無水物0.0119モル、4,
4′−ジアミノジフェニルエーテル、0.0107モルおよび
4−(1H,1H,2H,2H−パーフルオロデシロキシ)−1,3−
ジアミノベンゼン0.0012モルを0℃で1時間、ついで室
温で2時間撹拌して、ポリアミド酸の10重量%DMCA溶液
を得た。繰り返し単位の構成比m/nは10/90である。この
溶液をDMACとBCとで3重量%になるように希釈した。希
釈後のDMACとBCとの重量比は7対3であった。その後、
実施例1と同様にして液晶表示素子を作製し、ブレチル
ト角を測定したところ48゜であった。
ル)と4−ヘキサデシロキシ−1,3−ジアミノベンゼン
0.76g(0.0022モル)をMMP85gに溶解させ、氷水浴で冷
却した。これにピロメリット酸二無水物4.78g(0.0219
モル)を少しずつ加えた。氷水浴につけたまま1時間つ
いで室温で2時間撹拌して、ポリアミド酸の10重量%NM
P溶液を得た。
晶表示素子を作製したところ、プレチルト角は6.0゜
で、配向性も良好であった。
ジフェニルエーテル0.0152モル、4−(1H,1H,2H,2H−
パーフルオロデシロキシ)−1,3−ジアミノベンゼン0.0
04モルおよび1,3−ビス(3−アミノプロピル)テトラ
メチルジシロキサン0.0008モルをNMP溶媒中で室温で3
時間反応させて、ポリアミドの15重量%溶液を得た。重
合繰り返し単位の構成比m/nは20/80である。この溶液を
NMPとBCで7.5重量%に希釈(NMP:BC=7:3)した後、透
明導電膜が形成されたガラス基板(30mm×33mm)に印刷
法で塗布した。以下、実施例1と同様にして、液晶表示
素子を作製し、プレチルト角を測定したところ、7.1゜
で液晶配向状態も良好であった。
(4−アミノフェノキシ)フェニルプロパン0.076モ
ル)、4−(1H,1H,2H,2H−パーフルオロデシロキシ)
−1,3−ジアミノベンゼン0.02モルおよび1,3−ビス(3
−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン0.004モ
ルをNMP溶媒中で40℃で3時間反応させて、ポリアミド
酸溶液を調整した。重合繰り返し単位の構成比m/nは20/
80である。この溶液をNMPとBCで7.5重量%に希釈(NMP:
BC=7:3)した後、透明導電膜が形成されたガラス基板
(30mm×33mm)に印刷法で塗布した。以下、実施例2と
同様にして、液晶表示素子を作製しプレチルト角を測定
した。この液晶表示素子を100℃に加熱した後、室温ま
で冷却したところ、プレチルト角は7.0゜で液晶配向状
態も良好であった。
プロパン0.076モルを0.05モル、4−(1H,1H,2H,2H−パ
ーフルオロデシロキシ)−1,3−ジアミノベンゼン0.02
モルを0.05モルに変えた以外は、実施例7と全く同様に
してポリアミド酸溶液を調整した。重合繰り返し単位の
構成比m/nは50/50である。以下実施例7と同様に処理し
て液晶表示素子を作製しプレチルト角を測定したところ
11゜であった。
ルと4,4′−ジアミノジフェニルエーテル0.0219モルを
0℃で1時間ついで室温で2時間撹拌して、得られたポ
リアミド酸の10重量%NMP溶液を作製した。プレチルト
角を測定したところ、ほぼ0゜であった。
−ジアミノベンゼン0.0022モルをN−ヘキサデシロキシ
−3,5−ジアミノベンズアミド0.0022モルに変えた以外
は、実施例1と同様にしてポリアミド酸溶液を調整し、
この溶液を用いて実施例1および実施例2と同様の結晶
表示素子を作製し、プレチルト角を測定した。この結
果、基板の移動速度を毎秒100mmとするとプレチルト角
は4.9゜であり、毎秒20mmとすると4.9゜であった。液晶
配向性はいずれの場合も良好であり、ラビング強度によ
ってプレチルト角は影響されなかった。
−ジアミノベンゼン0.0022モルを1,3−ジアミノ−4−
ヘキサデシロキシベンゼン0.0022モルに変えた以外は、
実施例1と同様にしてポリアミド酸溶液を調整し、この
溶液を用いて実施例1および実施例2と同様の液晶表示
素子を作製し、プレチルト角を測定した。この結果、基
板の移動速度を毎秒100mmと毎秒20mmとした場合のプレ
チルト角の差は1.0゜であった。
−ジアミノベンゼン0.0022モルを3,5−ジアミノ安息香
酸ヘキサデシル0.0022モルに変えた以外は、実施例1と
同様にしてポリアミド酸溶液を調整し、この溶液を用い
て実施例1および実施例2と同様の結果表示素子を作製
し、プレチルト角を測定した。この結果、基板の移動速
度を毎秒100mmと毎秒20mmとした場合のプレチルト角の
差は1.2゜であった。
ジアミノベンゼン0.0022モルを3.5−ジアミノフェニル
ヘキサデシルケトン0.0022モルに変えた以外は、実施例
1と同様にしてポリアミド酸溶液を調整し、この溶液を
用いて実施例1および実施例2と同様の液晶表示素子を
作製し、プレチルト角を測定した。この結果、基板の移
動速度を毎秒100mmと毎秒20mmとした場合のプレチルト
角の差は1.2゜であった。
−ジアミノベンゼン0.0022モルを1,3−ジアミノ−5−
ヘキサデシルベンゼン0.0022モルに変えた以外は、実施
例1と同様にしてポリアミド酸溶液を調整し、この溶液
を用いて実施例1および実施例2と同様の結晶表示素子
を作製し、プレチルト角を測定した。この結果、基板の
移動速度を毎秒100mmと毎秒20mmとした場合のプレチル
ト角の差は1.5゜であった。
で、特殊な装置を用いることなく安定で大きなプレチル
ト角を持つ傾斜配向を得ることができる。これにより、
STN方式のような液晶分子の傾斜配向を必要とする液晶
表示素子を経済的に作製することができる。
Claims (7)
- 【請求項1】下記一般式(I)で表わされる繰り返し単
位および下記一般式(II)で表わされる繰り返し単位を
主成分として含有して成るポリイミドより形成されたこ
とを特徴とする液晶配向膜。 式(I)、(II)において、R1は炭素数4〜20のアルキ
ル基またはフルオロアルキル基を示す。R1がフルオロア
ルキル基であるときは、そのときのXは rは0または1を示す。R1がアルキル基であるときは、
そのときのXは であり、rは1を示す、R2は四価の有機残基、R3は二価
の有機残基を示す。m/nの比は1/99〜80/20である。 - 【請求項2】一般式(I)におけるR1が炭素数4〜20の
フルオロアルキル基である請求項1記載の液晶配向膜。 - 【請求項3】一般式(I)におけるR2が四価の芳香族残
基および/または四価の脂肪族残基である請求項1記載
の液晶配向膜。 - 【請求項4】一般式(I)で表わされる繰り返し単位と
一般式(II)で表わされる繰り返し単位の構成比m/nの
値が5/95〜50/50である請求項1記載の液晶配向膜。 - 【請求項5】液晶を挟持する一対の平行に配置された透
明電極基板の表面に液晶配向膜を設け、該液晶配向膜の
表面を一定方向にラビングしてなる液晶表示素子におい
て、該液晶配向膜として下記一般式(I)で表わされる
繰り返し単位と一般式(II)で表わされる繰り返し単位
を主成分として含有して成るポリイミドを使用すること
を特徴とする液晶表示素子。 式(I)、(II)において、R1は炭素数4〜20のアルキ
ル基またはフルオロアルキル基を示す。R1がフルオロア
ルキル基であるときは、そのときのXは rは0または1を示す。R1がアルキル基であるときは、
そのときのXは であり、rは1を示す。R2は四価の有機残基、R3は二価
の有機残基を示す。m/nの比は1/99〜80/20である。 - 【請求項6】一般式(I)におけるR1が炭素数4〜20の
フルオロアルキル基である請求項5記載の液晶表示素
子。 - 【請求項7】一般式(I)で表わされる繰り返し単位と
一般式(II)で表わされる繰り返し単位の構成比m/nの
値が5/95〜50/50である請求項5記載の液晶表示素子。
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