JP2523165B2 - 光ディスクのサ―ボ制御装置 - Google Patents
光ディスクのサ―ボ制御装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術（第６図） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（第１図） 作用 実施例 （ａ）一実施例の構成の説明（第２図，第３図） （ｂ）一実施例の動作の説明（第４図） （ｃ）他の実施例の説明（第５図） （ｄ）別の実施例の説明 発明の効果 〔概要〕 光ディスク，光磁気ディスク等の光ディスクに光学ヘ
ッドの光ビームを追従制御する光ディスクのサーボ制御
装置に関し， 光学ヘッドの出射光パワーの変化によって生じるサー
ボエラーの過検出を防止することを目的とし， 光ディスクに光ビームを照射し，該光ディスクからの
光を受光して受光信号を得る光学ヘッドと，該受光信号
から該光ビームのエラー信号を求め，該エラー信号に基
づいて該光学ヘッドの光ビームを追従制御するサーボ制
御部とを有する光ディスク装置において，該サーボ制御
部に，該エラー信号を所定のスライスレべルで比較し，
サーボエラー信号を発生するサーボエラー検出回路と，
該光学ヘッドの光出射パワー変化からゲート信号を作成
するゲート作成回路とを設け，該ゲート信号で該サーボ
エラー信号の発生をマスクする。
ッドの光ビームを追従制御する光ディスクのサーボ制御
装置に関し， 光学ヘッドの出射光パワーの変化によって生じるサー
ボエラーの過検出を防止することを目的とし， 光ディスクに光ビームを照射し，該光ディスクからの
光を受光して受光信号を得る光学ヘッドと，該受光信号
から該光ビームのエラー信号を求め，該エラー信号に基
づいて該光学ヘッドの光ビームを追従制御するサーボ制
御部とを有する光ディスク装置において，該サーボ制御
部に，該エラー信号を所定のスライスレべルで比較し，
サーボエラー信号を発生するサーボエラー検出回路と，
該光学ヘッドの光出射パワー変化からゲート信号を作成
するゲート作成回路とを設け，該ゲート信号で該サーボ
エラー信号の発生をマスクする。
本発明は，光学ディスク，光磁気ディスク等の光ディ
スクに光学ヘッドの光ビームを追従制御する光ディスク
のサーボ制御装置に関する。
スクに光学ヘッドの光ビームを追従制御する光ディスク
のサーボ制御装置に関する。
光学ディスク装置は，光ビームによりリード／ライト
ができるため，トラック間隔を数ミクロンとすることが
でき，大容量記憶装置として注目されている。
ができるため，トラック間隔を数ミクロンとすることが
でき，大容量記憶装置として注目されている。
この光ディスク装置においては，係るトラックや合焦
点位置へ光ビームを追従制御するため，トラック／フォ
ーカスサーボ制御が用いられている。
点位置へ光ビームを追従制御するため，トラック／フォ
ーカスサーボ制御が用いられている。
このような光ディスク装置では，ライト動作やイレー
ズ動作を行って，光学ヘッドの出射光パワーを変化して
も，サーボエラーが生じないような技術が求められてい
る。
ズ動作を行って，光学ヘッドの出射光パワーを変化して
も，サーボエラーが生じないような技術が求められてい
る。
第６図は従来技術の説明図である。
光ディスク装置は，第６図（Ａ）に示す如く，モータ
1aによって回転軸を中心に回転する光ディスク１に対
し，光学ヘッド２が光ディスク１の半径方向に図示しな
いモータによって移動位置決めされ，光学ヘッド２によ
る光ディスク１へのリード（再生）／ライト（記録）が
行われる。
1aによって回転軸を中心に回転する光ディスク１に対
し，光学ヘッド２が光ディスク１の半径方向に図示しな
いモータによって移動位置決めされ，光学ヘッド２によ
る光ディスク１へのリード（再生）／ライト（記録）が
行われる。
一方，光学ヘッド２は，光源である半導体レーザ24の
発光光をレンズ25,偏向ビームスプリッタ23を介し対物
レンズ20に導き，対物レンズ20でビームスポット（スポ
ット光）BSに絞り込んで光ディスク１に照射し，光ディ
スク１からの反射光を対物レンズ20を介し偏光ビームス
プリッタ23より４分割受光器26に入射するように構成さ
れている。
発光光をレンズ25,偏向ビームスプリッタ23を介し対物
レンズ20に導き，対物レンズ20でビームスポット（スポ
ット光）BSに絞り込んで光ディスク１に照射し，光ディ
スク１からの反射光を対物レンズ20を介し偏光ビームス
プリッタ23より４分割受光器26に入射するように構成さ
れている。
このような光ディスク装置においては，光ディスク１
の半径方向に数ミクロン間隔で多数のトラック又はピッ
トが形成されており，若干の偏心によってもトラックの
位置ずれが大きく，又光ディスク１のうねりによってビ
ームスポットの焦点位置ずれが生じ，これらの位置ずれ
に１ミクロン以下のビームスポットを追従させる必要が
ある。
の半径方向に数ミクロン間隔で多数のトラック又はピッ
トが形成されており，若干の偏心によってもトラックの
位置ずれが大きく，又光ディスク１のうねりによってビ
ームスポットの焦点位置ずれが生じ，これらの位置ずれ
に１ミクロン以下のビームスポットを追従させる必要が
ある。
このため，光学ヘッド２の対物レンズ20を図の上下方
向に移動して焦点位置を変更するフォーカスアクチュエ
ータ（フォーカスコイル）22と，対物レンズ20を図の左
右方向に移動して照射位置をトラック方向に変更するト
ラックアクチュエータ（トラックコイル）21が設けられ
ている。
向に移動して焦点位置を変更するフォーカスアクチュエ
ータ（フォーカスコイル）22と，対物レンズ20を図の左
右方向に移動して照射位置をトラック方向に変更するト
ラックアクチュエータ（トラックコイル）21が設けられ
ている。
又，これに対応して，受光器26の受光信号からフォー
カスエラー信号FESを発生し，フォーカスアクチュエー
タ22を駆動するフォーカスサーボ制御部3bと，受光器26
の受発光信号からトラックエラー信号TESを発生し，ト
ラックアクチュエータ21を駆動するトラックサーボ制御
部3aが設けられている。
カスエラー信号FESを発生し，フォーカスアクチュエー
タ22を駆動するフォーカスサーボ制御部3bと，受光器26
の受発光信号からトラックエラー信号TESを発生し，ト
ラックアクチュエータ21を駆動するトラックサーボ制御
部3aが設けられている。
このトラックエラー信号TESやフォーカスエラー信号F
ESは，サーボオン状態では，通常スライスレベル以下で
あり，光ビームはトラックや合焦位置に追従している。
ESは，サーボオン状態では，通常スライスレベル以下で
あり，光ビームはトラックや合焦位置に追従している。
一方，光ビームがトラックや合焦点範囲から外れたこ
とを検出するため，サーボエラー検出回路が設けられて
おり，サーボエラー検出回路では，トラックエラー信号
TES及びフォーカスエラー信号FESと所定のスライスレベ
ルSLを比較し，トラックエラー信号TES,フォーカスエラ
ー信号FESの振幅がスライスレベルSLを越えると，サー
ボが追従できないエラー状態とし，サーボエラー信号を
発生するようにしていた。
とを検出するため，サーボエラー検出回路が設けられて
おり，サーボエラー検出回路では，トラックエラー信号
TES及びフォーカスエラー信号FESと所定のスライスレベ
ルSLを比較し，トラックエラー信号TES,フォーカスエラ
ー信号FESの振幅がスライスレベルSLを越えると，サー
ボが追従できないエラー状態とし，サーボエラー信号を
発生するようにしていた。
このように，サーボオン中に，サーボエラーが発生す
ると，直ちにトラックサーボが中断され，ライト又はリ
ード動作を中止するようにしていた。
ると，直ちにトラックサーボが中断され，ライト又はリ
ード動作を中止するようにしていた。
ところで，光ディスク装置では，光学ヘッド内のレー
ザダイオードの出射光パワーは一定でなく，ライト時や
イレーズ時にはリード時より大に変化している。
ザダイオードの出射光パワーは一定でなく，ライト時や
イレーズ時にはリード時より大に変化している。
このように光学ヘッドの出射光パワーを変化すると，
発振モードが変化し，出射角や発振波長が変化する。こ
の変化が緩やかであれば，トラックやフォーカスサーボ
は追従するが，急激なため，第６図（Ｂ）に示すように
トラックエラー信号TESやフォーカスエラー信号FESに，
変化点で瞬間的なトランジェントによるオフセットが生
じる。
発振モードが変化し，出射角や発振波長が変化する。こ
の変化が緩やかであれば，トラックやフォーカスサーボ
は追従するが，急激なため，第６図（Ｂ）に示すように
トラックエラー信号TESやフォーカスエラー信号FESに，
変化点で瞬間的なトランジェントによるオフセットが生
じる。
このオフセットは，第６図（Ｂ）のTES′,FES′の如
く，スライスレベルSL以上となることがあり，これによ
ってサーボエラー信号が発生してしまうという問題があ
った。
く，スライスレベルSL以上となることがあり，これによ
ってサーボエラー信号が発生してしまうという問題があ
った。
即ち，トラックサーボやフォーカスサーボが追従して
いるにもかかわらず，ライト，イレーズ，リードの切換
わり時の出射光パワーの変化によるトランジェントによ
ってスライスレベルを越えてしまい，サーボエラー信号
を発生してしまうという問題があり，サーボエラーの過
検出が生じていた。
いるにもかかわらず，ライト，イレーズ，リードの切換
わり時の出射光パワーの変化によるトランジェントによ
ってスライスレベルを越えてしまい，サーボエラー信号
を発生してしまうという問題があり，サーボエラーの過
検出が生じていた。
従って，本発明は，光学ヘッドの出射光パワーの変化
によって生じるサーボエラーの過検出を防止することの
できる光ディスクのサーボ制御装置を提供することを目
的とする。
によって生じるサーボエラーの過検出を防止することの
できる光ディスクのサーボ制御装置を提供することを目
的とする。
第１図は本発明の原理図である。
本発明は，第１図に示すように，光ディスク１に光ビ
ームを照射し，該光ディスク１からの光を受光して受光
信号を得る光学ヘッド２と，と，該受光信号から該光ビ
ームのエラー信号を求め，該エラー信号に基づいて該光
学ヘッド２の光ビームを追従制御するサーボ制御部３と
を有する光ディスク装置において，該サーボ制御部３
に，該エラー信号を所定のスライスレベルで比較し，サ
ーボエラー信号を発生するサーボエラー検出回路34b
と，該光学ヘッド２の光出射パワー変化からゲート信号
を作成するゲート作成回路38とを設け，該ゲート信号で
該サーボエラー信号の発生をマスクするようにしたもの
である。
ームを照射し，該光ディスク１からの光を受光して受光
信号を得る光学ヘッド２と，と，該受光信号から該光ビ
ームのエラー信号を求め，該エラー信号に基づいて該光
学ヘッド２の光ビームを追従制御するサーボ制御部３と
を有する光ディスク装置において，該サーボ制御部３
に，該エラー信号を所定のスライスレベルで比較し，サ
ーボエラー信号を発生するサーボエラー検出回路34b
と，該光学ヘッド２の光出射パワー変化からゲート信号
を作成するゲート作成回路38とを設け，該ゲート信号で
該サーボエラー信号の発生をマスクするようにしたもの
である。
尚，マスクは，サーボエラー検出回路34bの前段でも
後段でもよい。
後段でもよい。
本発明は，オフセットが光学ヘッド２の出射光パワー
の変化点で生じることから，変化点を検出して，ゲート
信号を作成し，これによってサーボエラーの発生をマス
クする。
の変化点で生じることから，変化点を検出して，ゲート
信号を作成し，これによってサーボエラーの発生をマス
クする。
従って，出射光パワーの変化点で生じるオフセットに
よるサーボエラーの過検出を簡単に防止できる。
よるサーボエラーの過検出を簡単に防止できる。
（ａ）一実施例の構成の説明 第２図は本発明の一実施例全体構成図であり，光磁気
ディスク装置のトラックサーボ制御部3aに適用した例を
示している。
ディスク装置のトラックサーボ制御部3aに適用した例を
示している。
図中，第１図及び第６図で示したものと同一のものは
同一の記号で示してある。
同一の記号で示してある。
５は制御部であり，マイクロプロセッサで構成され，
トラックサーボ制御部3aのサーボ制御動作を制御し，且
つフォーカスサーボ制御部3b（第６図参照）のサーボ制
御動作を制御するものである。
トラックサーボ制御部3aのサーボ制御動作を制御し，且
つフォーカスサーボ制御部3b（第６図参照）のサーボ制
御動作を制御するものである。
60はRF作成回路であり,4分割受光器26の出力ａ〜ｄか
らRF信号（リード信号）RFSを作成するもの,61は増幅回
路であり,4分割受光器26の出力ａ〜ｄを増幅し，サーボ
出力SVa〜SVdを出力するものである。
らRF信号（リード信号）RFSを作成するもの,61は増幅回
路であり,4分割受光器26の出力ａ〜ｄを増幅し，サーボ
出力SVa〜SVdを出力するものである。
66はライトパルス作成回路であり，上位からのライト
データをMPU5のインナー／アウター信号に従った幅のラ
イトパルスに変換するもの,67はライト／イレーズ回路
であり，ライトパルス及びイレーズパルスで半導体レー
ザ24を駆動してライト／イレーズ動作せしめるものであ
る。
データをMPU5のインナー／アウター信号に従った幅のラ
イトパルスに変換するもの,67はライト／イレーズ回路
であり，ライトパルス及びイレーズパルスで半導体レー
ザ24を駆動してライト／イレーズ動作せしめるものであ
る。
30はTES作成回路であり，増幅器61（61a〜61d）のサ
ーボ出力SVa〜SVdからトラックエラー信号TESを作成す
るもの,31は全信号作成回路であり，サーボ出力SVa〜SV
dを加え合わせ全反射レベルである全信号DSCを作成する
もの,32はAGC（Automatic Gain Control）回路であり，
トラックエラー信号TESを全信号（全反射レベル）DCSで
割り，全反射レベルを参照値としたAGCを行うものであ
り，照射ビーム強度や反射率の変動補正をするものであ
る。
ーボ出力SVa〜SVdからトラックエラー信号TESを作成す
るもの,31は全信号作成回路であり，サーボ出力SVa〜SV
dを加え合わせ全反射レベルである全信号DSCを作成する
もの,32はAGC（Automatic Gain Control）回路であり，
トラックエラー信号TESを全信号（全反射レベル）DCSで
割り，全反射レベルを参照値としたAGCを行うものであ
り，照射ビーム強度や反射率の変動補正をするものであ
る。
33は位相補償回路であり，トラックエラー信号TESを
微分し，トラックエラー信号TESの比例分と加え，高域
の位相を進ませるものである。
微分し，トラックエラー信号TESの比例分と加え，高域
の位相を進ませるものである。
34aはゼロクロス検出器であり，トラックエラー信号T
ESのゼロクロス点を検出し,MPU5へトラックゼロクロス
信号TZCを出力するもの,34bは前述のサーボエラー検出
回路（オフトラック検出回路）であり，トラックエラー
信号TESが，プラス方向の一定値Vo（SL）以上になった
及びマイナス方向の一定値−Vo（−SL）以下になったこ
と，即ちオフトラック状態になったことを検出してオフ
トラック（サーボエラー）信号TOSをMPU5へ出力するも
のである。
ESのゼロクロス点を検出し,MPU5へトラックゼロクロス
信号TZCを出力するもの,34bは前述のサーボエラー検出
回路（オフトラック検出回路）であり，トラックエラー
信号TESが，プラス方向の一定値Vo（SL）以上になった
及びマイナス方向の一定値−Vo（−SL）以下になったこ
と，即ちオフトラック状態になったことを検出してオフ
トラック（サーボエラー）信号TOSをMPU5へ出力するも
のである。
35はサーボスイッチであり,MPU5のサーボオン信号SVS
のオンで閉じ，サーボループを閉じ，オフで開き，サー
ボループを開くもの,36は反転アンプであり，サーボス
イッチ35の出力を反転するもの,37はパワーアンプであ
り，反転アンプ36の出力を増幅してトラック駆動電流TD
Vをトラックアクチュエータ21に与えるものである。
のオンで閉じ，サーボループを閉じ，オフで開き，サー
ボループを開くもの,36は反転アンプであり，サーボス
イッチ35の出力を反転するもの,37はパワーアンプであ
り，反転アンプ36の出力を増幅してトラック駆動電流TD
Vをトラックアクチュエータ21に与えるものである。
38は前述のゲート作成回路であり，半導体レーザ24の
出射光レベルを示す全信号DCSから，出射光レベルの変
化点を検出し，ゲート信号を作成するもの,39はゲート
回路（マスク回路）であり，トラックエラー信号TESを
ゲート作成回路38のゲート信号でサーボエラー検出回路
34bへの出力をマスクするためのものである。
出射光レベルを示す全信号DCSから，出射光レベルの変
化点を検出し，ゲート信号を作成するもの,39はゲート
回路（マスク回路）であり，トラックエラー信号TESを
ゲート作成回路38のゲート信号でサーボエラー検出回路
34bへの出力をマスクするためのものである。
第３図は本発明の一実施例要部構成図である。
全信号作成回路31は，各サーボ出力SVa〜SVdを入力抵
抗r5〜r8を介し加算する加算アンプ310を含み，全反射
はレベル信号DCS（＝SVa＋SVb＋SVc＋SVd）を出力す
る。
抗r5〜r8を介し加算する加算アンプ310を含み，全反射
はレベル信号DCS（＝SVa＋SVb＋SVc＋SVd）を出力す
る。
ゲート作成回路38は，全信号DCSの高域をカットする
ローパスフィルタ380と，ローパスフィルタ380の出力を
ゲインＧがＧ＞１で増幅する第１のアンプ381と，ロー
パスフィルタ380の出力をゲインＧがＧ＜１で増幅する
第２のアンプ382と，第１のアンプ381の出力DCS1と全信
号DCSとを比較する第１の比較器383と，全信号DCSと第
２のアンプ382の出力DCS2とを比較する第２の比較器384
とを有している。
ローパスフィルタ380と，ローパスフィルタ380の出力を
ゲインＧがＧ＞１で増幅する第１のアンプ381と，ロー
パスフィルタ380の出力をゲインＧがＧ＜１で増幅する
第２のアンプ382と，第１のアンプ381の出力DCS1と全信
号DCSとを比較する第１の比較器383と，全信号DCSと第
２のアンプ382の出力DCS2とを比較する第２の比較器384
とを有している。
ゲート回路39は，ゲート信号GSを反転するインバータ
390と，インバータ390の出力で加算点を接地するスイッ
チ391と，トラックエラー信号TESの加算抵抗ｒとを有し
ている。
390と，インバータ390の出力で加算点を接地するスイッ
チ391と，トラックエラー信号TESの加算抵抗ｒとを有し
ている。
オフトラック検出回路34bは，ゲート回路39からのト
ラックエラー信号TESと規準電圧Ｖの分圧電圧（一定
値）Voとを比較し,TES＞Voの時“ロー”の出力を発する
第１のコンパレータ341と，トラックエラー信号TESと基
準電圧−Ｖの分圧電圧（一定値）−Voとを比較し,TES＜
−Voの時“ロー”の出力を発する第２のコンパレータ34
2とを有し，両コンパレータ341,342の和をオフトラック
信号TOSとして出力する。
ラックエラー信号TESと規準電圧Ｖの分圧電圧（一定
値）Voとを比較し,TES＞Voの時“ロー”の出力を発する
第１のコンパレータ341と，トラックエラー信号TESと基
準電圧−Ｖの分圧電圧（一定値）−Voとを比較し,TES＜
−Voの時“ロー”の出力を発する第２のコンパレータ34
2とを有し，両コンパレータ341,342の和をオフトラック
信号TOSとして出力する。
（ｂ）一実施例の動作の説明 第４図は本発明の一実施例動作説明図である。
サーボオンの状態では,4分割発光器26の出力SVa〜SVd
によって,TES作成回路30がトラックエラー信号TESを作
成し,AGC回路32でAGC制御後，位相補償回路33で位相補
償し，サーボスイッチ35,反転アンプ36,パワーアンプ37
を介しトラックアクチュエータ21を駆動して，いわゆる
トラックサーボ制御する。
によって,TES作成回路30がトラックエラー信号TESを作
成し,AGC回路32でAGC制御後，位相補償回路33で位相補
償し，サーボスイッチ35,反転アンプ36,パワーアンプ37
を介しトラックアクチュエータ21を駆動して，いわゆる
トラックサーボ制御する。
又，トラックエラー信号TESは，ゲート回路39を介し
サーボエラー検出回路34bに入力し，サーボエラーの検
出が行なわれる。
サーボエラー検出回路34bに入力し，サーボエラーの検
出が行なわれる。
この状態で，第４図のようにイレーズ動作が始まる
と，半導体レーザ24の出射光レベルが増し，全信号DCS
のレベルが大となる。
と，半導体レーザ24の出射光レベルが増し，全信号DCS
のレベルが大となる。
全信号DCSはゲート作成回路38に入力しており，全信
号DCSの立上り，立下りをローパスフィルタ380でなまら
せ，各々第1,第２のアンプ381,382に入力する。
号DCSの立上り，立下りをローパスフィルタ380でなまら
せ，各々第1,第２のアンプ381,382に入力する。
第１のアンプ381の出力は，ゲインＧがＧ＞１のため,
DCS1のようになり，第２のアンプ382の出力は，ゲイン
ＧがＧ＜１のため,DCS2のようになる。
DCS1のようになり，第２のアンプ382の出力は，ゲイン
ＧがＧ＜１のため,DCS2のようになる。
従って，イレーズの立上りにおいて，第１の比較器38
3からローレベルのゲート信号GSが，イレーズの立下り
において，第２の比較器384からローレベルのゲート信
号GSが発生する。このゲート信号GSは，ゲート回路39に
入力し，インバータ390で反転され，スイッチ391を動作
させる。
3からローレベルのゲート信号GSが，イレーズの立下り
において，第２の比較器384からローレベルのゲート信
号GSが発生する。このゲート信号GSは，ゲート回路39に
入力し，インバータ390で反転され，スイッチ391を動作
させる。
即ち，ゲート信号GSがローレベルであると，インバー
タ390を介し，スイッチ391がオンとなり，加算点ａを接
地するため，トラックエラー信号TESは，サーボエラー
検出回路34bへ出力されず，マスクされる。
タ390を介し，スイッチ391がオンとなり，加算点ａを接
地するため，トラックエラー信号TESは，サーボエラー
検出回路34bへ出力されず，マスクされる。
又，ゲート信号GSがハイレベルであると，スイッチ39
1はオフのため，トラックエラー信号TESは，サーボエラ
ー検出回路34bへ出力される。
1はオフのため，トラックエラー信号TESは，サーボエラ
ー検出回路34bへ出力される。
従って，半導体レーザ24のイレーズ動作のため，出射
光レベルの変化点で生じるオフセットの乗ったトラック
エラー信号TESのサーボエラー検出回路34bへの出力は，
係る変化点でマスクされ，サーボエラーの過検出を防止
できる。
光レベルの変化点で生じるオフセットの乗ったトラック
エラー信号TESのサーボエラー検出回路34bへの出力は，
係る変化点でマスクされ，サーボエラーの過検出を防止
できる。
又，ライト動作も，イレーズ程でないが，第４図のよ
うに，半導体レーザ24の出射光レベルが増し，全信号DC
Sのレベルが大となる。
うに，半導体レーザ24の出射光レベルが増し，全信号DC
Sのレベルが大となる。
この場合も同様に，ライトの立上り，立下りにおい
て，ローレベルのゲート信号GSが発生し，変化点でトラ
ックエラー信号TESがマスクされる。
て，ローレベルのゲート信号GSが発生し，変化点でトラ
ックエラー信号TESがマスクされる。
このようにして，全信号DCSのレベル変化，即ち半導
体レーザ24の出射光のパワー変化を検出し，ゲート作成
回路38でゲート信号GSを作成し，トラックエラー信号TE
Sをゲート回路39でマスクすることによって，サーボエ
ラー信号の発生をマスクする。
体レーザ24の出射光のパワー変化を検出し，ゲート作成
回路38でゲート信号GSを作成し，トラックエラー信号TE
Sをゲート回路39でマスクすることによって，サーボエ
ラー信号の発生をマスクする。
（ｃ）他の実施例の説明 第５図は本発明の他の実施例説明図である。
第５図（Ａ）の実施例は，ゲート作成回路38の他の例
を示し,MPU5のライト指示のライトゲート信号，イレー
ズ指示のイレーズゲート信号を用いてゲート信号GSを発
生するものである。
を示し,MPU5のライト指示のライトゲート信号，イレー
ズ指示のイレーズゲート信号を用いてゲート信号GSを発
生するものである。
図中,385は第１のシフトレジスタであり，ライトゲー
ト信号WGを所定量遅延させるもの,386は第１のEOR（排
他的論理和）回路であり，ライトゲート信号WGと第１の
シフトレジスタ385の出力DWGとの排他的論理和をとるも
の,387は第２のシフトレジスタであり，イレーズゲート
信号EGを所定量遅延させるもの,388は第２のEOR回路で
あり，イレーズゲート信号EGと第２のシフトレジスタ38
7の出力DEGとの排他的論理和をとるもの,389はオアゲー
トであり，第1,第２のEOR回路386,388の出力G1,G2の論
理和をとり，ゲート信号GSを出力するものである。
ト信号WGを所定量遅延させるもの,386は第１のEOR（排
他的論理和）回路であり，ライトゲート信号WGと第１の
シフトレジスタ385の出力DWGとの排他的論理和をとるも
の,387は第２のシフトレジスタであり，イレーズゲート
信号EGを所定量遅延させるもの,388は第２のEOR回路で
あり，イレーズゲート信号EGと第２のシフトレジスタ38
7の出力DEGとの排他的論理和をとるもの,389はオアゲー
トであり，第1,第２のEOR回路386,388の出力G1,G2の論
理和をとり，ゲート信号GSを出力するものである。
第５図（Ｂ）は，第５図（Ａ）の構成のゲート信号発
生の波形図である。
生の波形図である。
この実施例では,MPU5が，ライト／イレーズ回路67に
ライト指示として発生するライトゲート信号WGと，イレ
ーズ指示として発生するイレーズゲート信号EGを半導体
レーザ24の出射光レベルを示す信号として用い，その変
化点でゲート信号GSを発生するようにしたものである。
ライト指示として発生するライトゲート信号WGと，イレ
ーズ指示として発生するイレーズゲート信号EGを半導体
レーザ24の出射光レベルを示す信号として用い，その変
化点でゲート信号GSを発生するようにしたものである。
即ち，ライトゲート信号WG又はイレーズゲート信号EG
を一定量シフトレジスタ385,387で遅延させ,EOR回路38
6,388でその排他的論理和をとって立上り，立下りパル
スG1,G2を得て，これをオアゲート389でゲート信号GSと
して出力するものである。
を一定量シフトレジスタ385,387で遅延させ,EOR回路38
6,388でその排他的論理和をとって立上り，立下りパル
スG1,G2を得て，これをオアゲート389でゲート信号GSと
して出力するものである。
この例では，ゲート信号GSがハイレベルのため，第３
図のゲート回路39のインバータ390は必要ない。
図のゲート回路39のインバータ390は必要ない。
このように，実際の半導体レーザ24の出射光レベルを
用いなくても，出射光変化の制御信号を用いて，論理回
路によってデジタル的にゲート信号GSを得ることができ
る。
用いなくても，出射光変化の制御信号を用いて，論理回
路によってデジタル的にゲート信号GSを得ることができ
る。
（ｄ）別の実施例の説明 上述の実施例では，光学ヘッドの発光パワー（出射光
パワー）を現わす信号を，受光信号である全信号又はパ
ワー制御信号であるライトゲート信号又はイレーズゲー
ト信号を用いているが，例えば，半導体レーザ自体の出
力，半導体レーザのモニター用受光素子（pinダイオー
ド等）の受出出力を用いてもよい。
パワー）を現わす信号を，受光信号である全信号又はパ
ワー制御信号であるライトゲート信号又はイレーズゲー
ト信号を用いているが，例えば，半導体レーザ自体の出
力，半導体レーザのモニター用受光素子（pinダイオー
ド等）の受出出力を用いてもよい。
又，上述の実施例では，サーボエラー検出回路34bの
前段で，トラックエラー信号TESをゲート信号GSでマス
クしているが，ゲート回路をサーボエラー検出回路34b
の後段に設け，サーボエラー信号をゲート信号GSでマス
クしてもよい。
前段で，トラックエラー信号TESをゲート信号GSでマス
クしているが，ゲート回路をサーボエラー検出回路34b
の後段に設け，サーボエラー信号をゲート信号GSでマス
クしてもよい。
更に，上述の実施例では，トラックサーボ制御に適用
した例について説明したが，これはフォーカスサーボ制
御に比し，サーボエラーのスライスレベルのマージンが
狭いためであり，フォーカスエラー信号FESにもオフセ
ットがのるから，必要に応じて，フォーカスサーボ制御
にも適用してもよく，フォーカスサーボ制御のみに適用
してもよい。
した例について説明したが，これはフォーカスサーボ制
御に比し，サーボエラーのスライスレベルのマージンが
狭いためであり，フォーカスエラー信号FESにもオフセ
ットがのるから，必要に応じて，フォーカスサーボ制御
にも適用してもよく，フォーカスサーボ制御のみに適用
してもよい。
その上，光磁気ディスクを例に説明したが，追記型光
ディスクにも適用でき，この場合イレーズは行なわれな
い。
ディスクにも適用でき，この場合イレーズは行なわれな
い。
以上本発明を実施例により説明しがた，本発明は本発
明の主旨に従い種々の変形が可能であり，本発明からこ
れらを排除するものではない。
明の主旨に従い種々の変形が可能であり，本発明からこ
れらを排除するものではない。
以上説明した様に，本発明によれば，光学ヘッドの出
射光レベルの変化によって生じるオフセットによるサー
ボエラーの過検出を防止できるという効果を奏し，安定
にライト，イレーズ動作が可能となる。
射光レベルの変化によって生じるオフセットによるサー
ボエラーの過検出を防止できるという効果を奏し，安定
にライト，イレーズ動作が可能となる。
第１図は本発明の原理図， 第２図は本発明の一実施例全体構成図， 第３図は本発明の一実施例要部構成図， 第４図は本発明の一実施例動作説明図， 第５図は本発明の他の実施例説明図， 第６図は従来技術の説明図である。 図中,1…光ディスク,2…光学ヘッド,3…サーボ制御部,3
4b…サーボエラー検出回路,38…ゲート作成回路。
4b…サーボエラー検出回路,38…ゲート作成回路。
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスク（１）に光ビームを照射し、該
光ディスク（１）からの光を受光して受光信号を得る光
学ヘッド（２）と、 該受光信号から該光ビームのトラックエラー信号又はフ
ォーカスエラー信号を求め、該トラックエラー信号又は
フォーカスエラー信号に基づいて該光学ヘッド（２）の
光ビームを追従制御するサーボ制御部（３）とを有する
光ディスクのサーボ制御装置において、 該サーボ制御部（３）に、 該トラックエラー信号又はフォーカスエラー信号を所定
のスライスレベルで比較し、サーボが追従できないエラ
ー状態を示すサーボエラー信号を発生するサーボエラー
検出回路（34b）と、 該光学ヘッド（２）の光出射パワー変化に対応してゲー
ト信号を作成するゲート作成回路（38）とを設け、 該ゲート信号で該サーボエラー信号の発生をマスクする
ことを特徴とする光ディスクのサーボ制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63218896A JP2523165B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 光ディスクのサ―ボ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63218896A JP2523165B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 光ディスクのサ―ボ制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0266743A JPH0266743A (ja) | 1990-03-06 |
| JP2523165B2 true JP2523165B2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=16727007
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63218896A Expired - Fee Related JP2523165B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 光ディスクのサ―ボ制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2523165B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2716902B2 (ja) * | 1992-02-14 | 1998-02-18 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置 |
| KR100396660B1 (ko) * | 2000-10-20 | 2003-09-02 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 결함영역 제어 방법 및 장치 |
| KR20020042201A (ko) * | 2000-11-30 | 2002-06-05 | 구자홍 | 광 기록 재생기의 제어 신호 생성 방법 |
| JP4110567B2 (ja) | 2002-07-04 | 2008-07-02 | 東海ゴム工業株式会社 | 流体封入式筒形防振装置 |
| CN106102853B (zh) | 2014-03-31 | 2019-07-16 | 株式会社爱迪可 | 带伺服电机的组装积木及组装积木组件 |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP63218896A patent/JP2523165B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0266743A (ja) | 1990-03-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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