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JP2595323Y2 - Shape measuring instrument - Google Patents

Shape measuring instrument

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Publication number
JP2595323Y2
JP2595323Y2 JP1992067848U JP6784892U JP2595323Y2 JP 2595323 Y2 JP2595323 Y2 JP 2595323Y2 JP 1992067848 U JP1992067848 U JP 1992067848U JP 6784892 U JP6784892 U JP 6784892U JP 2595323 Y2 JP2595323 Y2 JP 2595323Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
heater
shape
slit
measurement
Prior art date
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Application number
JP1992067848U
Other languages
Japanese (ja)
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JPH0649957U (en
Inventor
雄三郎 大隅
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP1992067848U priority Critical patent/JP2595323Y2/en
Publication of JPH0649957U publication Critical patent/JPH0649957U/en
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  • Measuring Arrangements Characterized By The Use Of Fluids (AREA)
  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、形状を測定する形状測
定器に関し、特に、非接触形状測長プローブに利用さ
れ、高速かつ高精度に測定できることや比較的外乱に強
い構造の測定器であることから、電気部品や機械要素の
量産計測部門で使用され、その他広く一般形状の計測に
利用されるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a shape measuring instrument for measuring a shape, and more particularly to a measuring instrument having a structure which can be used for a non-contact shape measuring probe, can measure at high speed and with high accuracy, and is relatively resistant to disturbance. For this reason, it is used in the mass production measurement department of electrical parts and mechanical elements, and is also widely used for measurement of general shapes.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、平面の形状や真直形状の測定
に用いられるプローブについては、大きく分けて触針を
用いる接触型と被測定物に接触しないで測定する非接触
型とがあるが、何れにおいてもライン形状や面形状を瞬
時に測定できるものは少ない。わずかに、非連続な測定
ではあるが、ポイント測長器をライン状に等間隔に並べ
て測定するスパンゲージと言われているものや、光学的
で平面に限られるがオプチカルフラットを用いた光干渉
での測定がある。
2. Description of the Related Art Conventionally, probes used for measuring a planar shape or a straight shape are roughly classified into a contact type using a stylus and a non-contact type for measuring without contacting an object to be measured. In any case, there are few things that can measure the line shape or the surface shape instantaneously. Although it is slightly discontinuous measurement, it is called a span gauge that measures point length measuring instruments arranged at equal intervals in a line, and optical interference using optical flat which is limited to optical and flat There is a measurement in.

【0003】図7に接触型スパンゲージの例を示す。こ
れは、3個の支点101、102、103で支持される
測定板104に、所定間隔へだてて直線上にダイヤルゲ
ージ105、106、107、108、109を配置
し、測定ワークにダイヤルゲージ105、106、10
7、108、109の触針115、116、117、1
18、119を接触させて相対的な位置の5点を各ダイ
ヤルゲージ105、106、107、108、109で
測定するものである。
FIG. 7 shows an example of a contact type span gauge. This is achieved by arranging dial gauges 105, 106, 107, 108, and 109 on a measuring plate 104 supported by three fulcrums 101, 102, and 103 at predetermined intervals on a straight line. 106, 10
7, 108, 109 stylus 115, 116, 117, 1
18 and 119 are brought into contact with each other, and five points at relative positions are measured by the respective dial gauges 105, 106, 107, 108 and 109.

【0004】図8にオプチカルフラットを用いた例を示
す。被測定物201上に平面形状の優れた透明オプチカ
ルフラット202を載置し、単波長の光を照射すると、
透明オプチカルフラット202と被測定物201との接
する距離により干渉縞が生じる。この干渉縞の間隔は照
射する光の波長に相当し、干渉縞の本数をカウントした
り、干渉縞の配列模様を把握することで被測定物201
の面形状を測定するものである。
FIG. 8 shows an example using an optical flat. When a transparent optical flat 202 having an excellent planar shape is placed on the DUT 201 and irradiated with light of a single wavelength,
Interference fringes occur depending on the distance between the transparent optical flat 202 and the object 201 to be measured. The interval between the interference fringes corresponds to the wavelength of the light to be irradiated, and by counting the number of interference fringes or grasping the arrangement pattern of the interference fringes, the DUT 201
Is to measure the surface shape.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】ところが、上記の測定
器では次の問題があった。スパンゲージでは、ダイヤル
ゲージが一定の大きさを有し、ダイヤルゲージの幅以下
では測定は不可能で、通常20mm程度以上のピッチで
ないと測定できず、断続的な測定しかできない。
However, the above measuring instrument has the following problems. With a span gauge, the dial gauge has a certain size, and cannot be measured below the width of the dial gauge, and cannot be measured unless the pitch is usually about 20 mm or more, and can be measured only intermittently.

【0006】スパンゲージではダイヤルゲージの持ち運
びや、被測定物にダイヤルゲージが接する時においての
衝撃や、被測定物とダイヤルゲージとの接触摩擦やスリ
ップ変位での誤差が生じる。一方、オプチカルフラット
では、光の波長の1/4から10倍程度までの測定範囲
であるため、ダイナミックレンジ (高低幅) が大きい被
測定物では測定できない。
In the span gauge, an error occurs when the dial gauge is carried, an impact occurs when the dial gauge comes into contact with an object to be measured, an error occurs due to contact friction between the object to be measured and the dial gauge, and slip displacement. On the other hand, since the optical flat has a measurement range of about 1/4 to about 10 times the wavelength of light, it cannot be measured on an object to be measured having a large dynamic range (high / low width).

【0007】また、オプチカルフラットでは光が反射す
る被測定物だけの測定が可能である。さらに、オプチカ
ルフラットでは曲面の測定はできない。
On the other hand, the optical flat enables measurement of only the object to be measured which reflects light. Furthermore, a curved surface cannot be measured with an optical flat.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】そこで、本考案は、上記
の課題に鑑み、所定の線状に開口するスリットの内側
に、ヒータを多数備えた多点ヒータモジュールを設け、
上記スリットより被測定物へ向けてエアを噴出させると
共に各ヒータをインパルス加熱し、それらの所定時間後
における上記被測定物との距離に応じて冷却される各ヒ
ータが示す抵抗値を測定することで、スリットの開口に
近接した被測定物の形状をライン状に測定するようにし
てなる形状測定器とした。
In view of the above-mentioned problems, the present invention provides a multipoint heater module provided with a number of heaters inside a slit that opens in a predetermined linear shape.
Injecting air from the slit toward the object to be measured and impulse heating each heater, and measuring a resistance value of each heater cooled according to a distance from the object after a predetermined time. Thus, a shape measuring instrument configured to measure the shape of the object to be measured close to the opening of the slit in a line shape.

【0009】また、上記所定の線状とは、直線の他、内
筒測定面の内周上、外筒測定面の外周上、直交する測定
平面の直交する直線上、所定の角度で交わる二測定平面
の交わる直線上、自由曲線上あるいは放物線等の関数曲
線上などとすることができる。さらに、立体的な被測定
物の測定を可能とすべく、所定の線状に開口するスリッ
トをこの線に垂直な方向に複数並べて配置し、これらス
リットの内側に、ヒータを多数備えた多点ヒータモジュ
ールを設け、上記スリットより被測定物へ向けてエアを
噴出させると共に各ヒータをインパルス加熱し、それら
の所定時間後における上記被測定物との距離に応じて冷
却される各ヒータが示す抵抗値を測定することで、各ス
リットの開口に近接した被測定物の形状を立体的に測定
するようにした形状測定器とした。
In addition, the above-mentioned predetermined linear shape may be defined as a straight line, an inner circumference of the inner cylinder measurement surface, an outer circumference of the outer cylinder measurement surface, and a straight line orthogonal to the orthogonal measurement plane at a predetermined angle. It may be on a straight line intersecting the measurement plane, on a free curve, or on a function curve such as a parabola. Further, in order to enable three-dimensional measurement of the object to be measured, a plurality of slits that open in a predetermined linear shape are arranged side by side in a direction perpendicular to the line, and inside these slits, a multipoint with a large number of heaters is provided. A heater module is provided, air is blown out from the slit toward the object to be measured, and each heater is impulse-heated, and after a predetermined time, the resistance indicated by each heater is cooled according to the distance from the object to be measured. By measuring the values, a shape measuring instrument was configured to three-dimensionally measure the shape of the measured object close to the opening of each slit.

【0010】[0010]

【作用】本考案は、スリットより被測定物へ向けて噴出
されるエアによって冷却されるヒータをインパルス加熱
しその所定時間後のヒータの抵抗値を測定することでス
リットの開口から被測定物までの距離を順次計測し、ス
リットの開口に接近する被測定物の形状をライン状に把
握する。
According to the present invention, from the opening of the slit to the object to be measured, the heater cooled by the air jetted from the slit toward the object to be measured is subjected to impulse heating and the resistance value of the heater after a predetermined time is measured. Are sequentially measured, and the shape of the object to be measured approaching the opening of the slit is grasped linearly.

【0011】[0011]

【実施例】本考案を添付する図面に示す実施例に基づい
て以下詳細に説明する。図1で、エア供給穴1を直方体
状の温度が上昇しても形状が変化しにくいアルミナセラ
ミックスの上部材2の下面と、アルミナセラミックスの
下部材3の上面に沿って長手方向に形成し、この上部材
2と下部材3との側面にアルミナセラミックスの側部材
4を取付ボルト5により固定する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below based on embodiments shown in the accompanying drawings. In FIG. 1, the air supply holes 1 are formed in the longitudinal direction along the lower surface of the alumina ceramic upper member 2 and the upper surface of the alumina ceramic lower member 3 whose shape is hardly changed even when the temperature of the rectangular parallelepiped rises. A side member 4 made of alumina ceramic is fixed to side surfaces of the upper member 2 and the lower member 3 with mounting bolts 5.

【0012】また、上部材2の下面と下部材3の上面と
の間、側部材4の内側面と下部材3の内側面との間には
スリット11を形成し、定量の隙間絞りを形成してあ
る。そして、エア供給穴1に一定圧にコントロールされ
たエアを供給すると、スリット11の全範囲において、
無負荷では均一のエア流量が得られるように設定してあ
る。
Further, a slit 11 is formed between the lower surface of the upper member 2 and the upper surface of the lower member 3 and between the inner surface of the side member 4 and the inner surface of the lower member 3 to form a fixed gap stop. I have. When air controlled at a constant pressure is supplied to the air supply hole 1,
It is set so that a uniform air flow rate can be obtained with no load.

【0013】側部材4の前記下部材3のスリット11に
対向する内側には、ライン型熱転写ヒータモジュール1
2が配置されている。スリット11の均一のエア流量
で、スリット11に接するライン型熱転写ヒータモジュ
ール12を冷やした後、エアは下向きに吹き出す。吹き
出したエアを被測定物13に当てることで、その形状に
あった流量パターンが変動することとなる。
Inside the side member 4 facing the slit 11 of the lower member 3, a line type thermal transfer heater module 1 is provided.
2 are arranged. After cooling the line-type thermal transfer heater module 12 in contact with the slit 11 at a uniform air flow rate in the slit 11, the air is blown downward. When the blown air is applied to the object 13, the flow rate pattern corresponding to the shape changes.

【0014】このライン型熱転写ヒータモジュール12
は、例では、ピッチ0.125mm×1728個、長さ
216mmで、ヒータをそれぞれ216個づつの8ブロ
ックに分けて作製している。このライン型熱転写ヒータ
モジュール12はFAX等に使用されている。このライ
ン型熱転写ヒータモジュール12に、印加電圧24ボル
トで、0.5msecの加熱時間とし、加熱後100m
sec経過した時の抵抗値をヒータに微小の1mA程度
の一定電流を流し測定した。
This line type thermal transfer heater module 12
In the example, the heater is manufactured by dividing the heater into eight blocks of 216 heaters each having a pitch of 0.125 mm × 1728 and a length of 216 mm. The line type thermal transfer heater module 12 is used for a facsimile or the like. A heating time of 0.5 msec was applied to the line type thermal transfer heater module 12 at an applied voltage of 24 volts.
The resistance value after a lapse of sec was measured by passing a small constant current of about 1 mA to the heater.

【0015】この加熱後、約100msec経過した時
のヒータの抵抗値を計測することで、ヒータを冷やす媒
体であるエアの流量を把握できる。実施例によると、ス
リット11の前に何も無い状態での全流量は3.65リ
ットル/min、全スリット11の前0.2mmに被測
定物13がある場合で2.77リットル/min、0.
1mmでは1.38リットル/minであった。このと
きの全ヒータの平均抵抗は、それぞれ流量に逆比例して
スリット11の前に何もない状態で321Ω、0.2m
mに被測定物13がある場合693Ω、0.1mmの場
合は1221Ωとなった。この関係を図示すると表1と
なる。
By measuring the resistance value of the heater when about 100 msec has elapsed after the heating, the flow rate of air as a medium for cooling the heater can be grasped. According to the embodiment, the total flow rate in a state where there is nothing in front of the slit 11 is 3.65 l / min, and when the measured object 13 is 0.2 mm before the all slits 11, 2.77 l / min. 0.
At 1 mm, it was 1.38 l / min. At this time, the average resistance of all heaters is 321 Ω, 0.2 m
The value was 693Ω when the object 13 was present at m, and 1221Ω when it was 0.1 mm. Table 1 shows this relationship.

【表1】 [Table 1]

【0016】表1で、被測定物13の接近する距離に対
する加熱後100msec経過した時の抵抗値の変化
は、0.1mmより0.2mmにかけて良好な直線的変
化となっている。これにより、各ヒータの抵抗値を測定
することで被測定物13の各部分のスリット11との接
近距離、すなわち被測定物13の直線形状の測定ができ
ることとなる。また、このヒータ抵抗値の測定にあた
り、隣接する全く加熱していないヒータと差動 (ブリッ
ジ) する計測方法とし、噴出するエアやスリット本体の
温度変化に対する補償をとっている。
In Table 1, the change of the resistance value after 100 msec from the heating with respect to the approaching distance of the object 13 is a good linear change from 0.1 mm to 0.2 mm. Thus, by measuring the resistance value of each heater, the approach distance of each part of the DUT 13 to the slit 11, that is, the linear shape of the DUT 13 can be measured. In measuring the heater resistance value, a differential (bridge) measurement method is used between the heater and the heater that is not heated at all, and compensation is made for changes in the temperature of the jet air and the slit body.

【0017】隣接したヒータと差動 (ブリッジ) した計
測法とは、できるかぎり同じ条件下(温度、湿度、エア
流量等) で2つのエレメントを測定しその差分を計算し
た場合において、その計算値 (差引した値) が条件の変
動に対して安定していることを利用する方式である。抵
抗の測定手段として、従来から図2に示す回路(ホイー
トストン・ブリッジ)が用いられ、図中の検流計 (G)
がZEROになるように可変抵抗器 (RS )を調整する
と、抵抗値 (RX ) は次式で求めることができる。
The differential (bridge) measurement method with the adjacent heater is a method of measuring two elements under the same conditions (temperature, humidity, air flow rate, etc.) and calculating the difference between the two elements. (Subtracted value) is stable against changes in conditions. Conventionally, the circuit (Wheatstone bridge) shown in FIG. 2 has been used as a resistance measuring means, and the galvanometer (G) in the figure has been used.
When the variable resistor (R S ) is adjusted so that is equal to ZERO, the resistance value (R X ) can be obtained by the following equation.

【0018】[0018]

【数1】 (Equation 1)

【0019】このような回路に於いても、図中の全ての
抵抗の温度係数が同じであった場合では、ブリッジ点の
各電位 (a, b) は温度での変動は無く、検流計にも電
流が流れず安定した測定ができる。また、最近では検流
計に替わってブリッジ点の電位を各々デジタル数値に変
換し、数値で差し引く方法がよくとられており、抵抗や
電圧・電流を測定する場合の一般常識的な手法となって
いる。
Even in such a circuit, when the temperature coefficients of all the resistors in the figure are the same, each potential (a, b) at the bridge point does not fluctuate with temperature, and the galvanometer No current flows and stable measurement is possible. In recent years, instead of galvanometers, the method of converting the potential at each bridge point into a digital value and subtracting it from the value has been widely adopted.This method is a common-sense method for measuring resistance, voltage, and current. ing.

【0020】また、測定速度は実施例によれば、0.5
msecの加熱時間と0.02msecの測定時間にて
216個を直列に加熱・測定しているから、0.52×
216=112.32msecで約0.12秒で1ライ
ンの測定が可能である。これは従来の真直度測定器での
連続測定(最速)が15秒程度であることから、100
倍以上に測定スピードが向上した。測定分解能として
は、表1の0.1966mmを16ビット(6553
6)に分解したことから、0.00003mm(0.0
3μm)であり、バラツキについては、2σ=0.3μ
m以内の繰り返し再現性が得られ、適切な補正を行うこ
とにより、総合精度が0.42μmと非接触測定として
は高い測定精度が得られた。
According to the embodiment, the measuring speed is 0.5
Since 216 pieces are heated and measured in series at a heating time of msec and a measuring time of 0.02 msec, 0.52 ×
One line can be measured in about 0.12 seconds at 216 = 112.32 msec. This is because continuous measurement (fastest) with a conventional straightness measuring device is about 15 seconds,
The measurement speed improved more than twice. As the measurement resolution, 0.1966 mm in Table 1 is 16 bits (6553 mm).
6), 0.00003 mm (0.0
3 μm), and the variation is 2σ = 0.3 μm.
Repeat reproducibility of less than m was obtained, and by performing appropriate correction, the total accuracy was 0.42 μm, which was high measurement accuracy for non-contact measurement.

【0021】被測定物の代わりにあらかじめ形状が分か
っている校正用物体を接近させ、このときの各ヒータの
抵抗値で各エレメントを補正し、高精度の測定を行って
いる。また、スリットの開口がある測定面の形状を様々
のものとして、測定面に対する相対的な測定、すなわち
内円、外円の方向に噴射した場合は真円度の測定、2つ
に分けて直角や自由角度に配置した場合は直角度や自由
角度の測定を可能としたり、さらに立体的に発展させて
測定面に対する相対的な測定、すなわち面形状であれば
平面度の測定、円筒形状であれば円筒度の測定、2つに
分けて面直角や自由角度に配置した場合は面直角度や自
由面角度の測定、さらに自由曲面や関数曲面 (非球面
等) にした場合は曲率・歪率等々の測定が行える。
Instead of the object to be measured, a calibration object whose shape is known in advance is approached, and each element is corrected with the resistance value of each heater at this time, thereby performing high-precision measurement. Also, the shape of the measurement surface having the slit opening is varied, and the measurement relative to the measurement surface, that is, the measurement of the roundness when ejected in the directions of the inner circle and the outer circle is divided into two and the right angle is divided. When arranged at a free angle or at a free angle, it is possible to measure squareness or free angle, and further developed three-dimensionally to measure relative to the measurement surface, that is, to measure flatness if it is a surface shape, whether it is a cylindrical shape For example, measurement of cylindricity, measurement of surface perpendicularity or free surface angle when divided into two, and measurement of surface perpendicularity or free surface angle, and curvature / distortion for free curved surface or function curved surface (aspherical surface, etc.) And so on.

【0022】すなわち、図3は真円度測定を示し、円柱
状の被測定物23を内嵌めした円筒状の測定器20にエ
アを噴出するスリット21の開口方向が矢印で示されて
いる。また、図4は円筒度測定を示し、円柱状の被測定
物33を内嵌めした円筒状の測定器30にエアを噴出す
るスリット31の開口方向が矢印で示されている。さら
に、図5は直角度測定を示し、交わる二測定平面の被測
定物43に、直角状の測定器40にエアを噴出するスリ
ット41の開口方向が矢印で示されている。
That is, FIG. 3 shows the roundness measurement, and the opening direction of the slit 21 for ejecting air to the cylindrical measuring device 20 in which the cylindrical object 23 is fitted is indicated by an arrow. FIG. 4 shows the cylindricity measurement, and the opening direction of the slit 31 for ejecting air to the cylindrical measuring device 30 in which the cylindrical object 33 is fitted is indicated by an arrow. Further, FIG. 5 shows the perpendicularity measurement, in which the opening direction of the slit 41 for ejecting air to the perpendicular measuring device 40 is indicated by an arrow on the measured object 43 on two intersecting measurement planes.

【0023】さらにその上に、図6は平面度測定を示
し、平面の被測定物53上に配置した平板状の測定器5
0にエアを噴出するスリット51の開口方向が矢印で示
されている。この他、図示してないが、自由角度、自由
曲線、放物線等の関数曲線やその他の角度や曲率、歪率
等が測定できる。
Further, FIG. 6 shows a flatness measurement, in which a flat measuring instrument 5 arranged on a flat object 53 is measured.
The opening direction of the slit 51 for ejecting air at 0 is indicated by an arrow. In addition, although not shown, a function curve such as a free angle, a free curve, and a parabola, and other angles, a curvature, a distortion, and the like can be measured.

【0024】[0024]

【考案の効果】以上のように、本考案は、所定の線状に
開口するスリットの内側に、ヒータを多数備えた多点ヒ
ータモジュールを設け、上記スリットより被測定物へ向
けてエアを噴出させると共に各ヒータをインパルス加熱
し、それらの所定時間後における上記被測定物との距離
に応じて冷却される各ヒータが示す抵抗値を測定するこ
とで、スリットの開口に近接した被測定物の形状をライ
ン状に把握するようにした形状測定器であるので、連続
的な測定ができる。また、従来のスパンゲージのように
衝撃や接触摩擦やスリップ変位による誤差が生じること
がない。さらにオプチカルフラットによる測定のように
測定範囲に制限を受けることがない。種々な被測定物の
測定が可能となる。
As described above, in the present invention, a multipoint heater module provided with a number of heaters is provided inside a slit that opens in a predetermined linear shape, and air is blown out from the slit toward an object to be measured. At the same time, each heater is subjected to impulse heating, and a resistance value of each heater cooled according to a distance from the object to be measured after a predetermined period of time is measured, so that the object to be measured close to the opening of the slit is measured. Since the shape is measured in a line, the shape can be measured continuously. Further, unlike the conventional span gauge, errors due to impact, contact friction and slip displacement do not occur. Further, the measurement range is not restricted unlike the measurement by the optical flat. Various objects to be measured can be measured.

【0025】また、上記所定の線状とは、直線の他、内
筒測定面の内周上、外筒測定面の外周上、直交する測定
平面の直交する直線上、所定の角度で交わる二測定平面
の交わる直線上、自由曲線上あるいは放物線等の関数曲
線上などとすることができるので、平面的な被測定物の
測定が可能である。さらに本考案は、上述のように、所
定の線状に開口するスリットをこの線に垂直な方向に複
数並べて配置し、これらスリットの内側に、ヒータを多
数備えた多点ヒータモジュールを設け、上記スリットよ
り被測定物へ向けてエアを噴出させると共に各ヒータを
インパルス加熱し、それらの所定時間後における上記被
測定物との距離に応じて冷却される各ヒータが示す抵抗
値を測定することで、各スリットの開口に近接した被測
定物の形状を立体的に把握するようにした形状測定器で
あるので、立体的な被測定物の測定が可能である。
In addition, the above-mentioned predetermined linear shape means not only a straight line but also an intersection at a predetermined angle on the inner circumference of the inner cylinder measurement surface, on the outer circumference of the outer cylinder measurement surface, on the orthogonal straight line of the orthogonal measurement plane. The measurement can be performed on a straight line that intersects with the measurement plane, on a free curve, or on a function curve such as a parabola. Further, as described above, the present invention arranges a plurality of slits opening in a predetermined linear shape in a direction perpendicular to this line, and provides a multi-point heater module provided with a large number of heaters inside these slits, By blowing air toward the object to be measured from the slit and impulse heating each heater, and measuring the resistance value of each heater cooled according to the distance from the object after a predetermined time. Since the shape measuring instrument is configured to three-dimensionally grasp the shape of the object to be measured close to the opening of each slit, the object to be measured can be three-dimensionally measured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の具体的一実施例の形状測定器の正面と
断面との二面図である。
FIG. 1 is a front view and a sectional view of a shape measuring instrument according to a specific embodiment of the present invention.

【図2】ホイートストンブリッジ回路図である。FIG. 2 is a Wheatstone bridge circuit diagram.

【図3】真円度を測定する測定器を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a measuring device for measuring roundness.

【図4】円筒度を測定する測定器を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a measuring device for measuring cylindricity;

【図5】直角度を測定する測定器を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a measuring device for measuring a squareness.

【図6】平面度を測定する測定器を示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing a measuring instrument for measuring flatness.

【図7】従来のスパンゲーシの正面および側面の二面を
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing two front and side surfaces of a conventional spange.

【図8】従来のオプチカルフラットを用いて平面図を測
定する状態を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a state in which a plan view is measured using a conventional optical flat.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…エア供給穴2…上部材3…下部材4…側部材11・
21・31・41・51…スリット12…ライン型熱転
写ヒータモジュール13・23・33・43・53…被
測定物
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Air supply hole 2 ... Upper member 3 ... Lower member 4 ... Side member 11
21 · 31 · 41 · 51 · · · slit 12 · line type thermal transfer heater module 13 · 23 · 33 · 43 · 53 · DUT

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 所定の線状に開口するスリットの内側
に、ヒータを多数備えた多点ヒータモジュールを設け、
上記スリットより被測定物へ向けてエアを噴出させると
共に各ヒータをインパルス加熱し、それらの所定時間後
における上記被測定物との距離に応じて冷却される各ヒ
ータが示す抵抗値を測定することで、スリットの開口に
近接した被測定物の形状をライン状に測定するようにし
てなる形状測定器。
1. A multipoint heater module provided with a large number of heaters inside a slit that opens in a predetermined linear shape,
Injecting air from the slit toward the object to be measured and impulse heating each heater, and measuring a resistance value of each heater cooled according to a distance from the object after a predetermined time. A shape measuring instrument configured to measure a shape of an object to be measured close to an opening of a slit in a line.
【請求項2】 所定の線状に開口するスリットをこの線
に垂直な方向に複数並べて配置し、これらスリットの内
側に、ヒータを多数備えた多点ヒータモジュールを設
け、上記スリットより被測定物へ向けてエアを噴出させ
ると共に各ヒータをインパルス加熱し、それらの所定時
間後における上記被測定物との距離に応じて冷却される
各ヒータが示す抵抗値を測定することで、各スリットの
開口に近接した被測定物の形状を測定するようにしてな
る形状測定器。
2. A multi-point heater module having a large number of heaters is provided inside a plurality of slits opening in a predetermined linear shape in a direction perpendicular to the line. By blowing air toward the heater and impulse heating each heater and measuring the resistance value of each heater cooled according to the distance from the object to be measured after a predetermined time, the opening of each slit is measured. A shape measuring device configured to measure the shape of an object to be measured close to the object.
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