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JP2026005111A - Mounting Equipment - Google Patents

Mounting Equipment

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Publication number
JP2026005111A
JP2026005111A JP2024103351A JP2024103351A JP2026005111A JP 2026005111 A JP2026005111 A JP 2026005111A JP 2024103351 A JP2024103351 A JP 2024103351A JP 2024103351 A JP2024103351 A JP 2024103351A JP 2026005111 A JP2026005111 A JP 2026005111A
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mounting
transport
semiconductor
module
semiconductor die
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Application number
JP2024103351A
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Japanese (ja)
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耕平 瀬山
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Shinkawa Ltd
Original Assignee
Shinkawa Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供する。
【解決手段】実装装置1は、電子部品14A,14Bを供給する複数の供給モジュール102A,102Bと、電子部品14A,14Bを基板41に実装する実装モジュール101と、複数の供給モジュール102A,102Bのそれぞれから電子部品14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、複数の供給モジュール102A,102B及び実装モジュール101にわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構120とを備える。
【選択図】図1

A mounting device capable of efficiently mounting a plurality of electronic components is provided.
[Solution] The mounting device 1 includes a plurality of supply modules 102A, 102B that supply electronic components 14A, 14B, a mounting module 101 that mounts the electronic components 14A, 14B on a substrate 41, and a transport mechanism 120 that has at least one transport unit configured to transport the electronic components 14A, 14B from each of the plurality of supply modules 102A, 102B to the mounting module 101, and that is configured to extend across the plurality of supply modules 102A, 102B and the mounting module 101 in a first direction in a planar view.
[Selected Figure] Figure 1

Description

本願発明は、実装装置に関する。 The present invention relates to a mounting device.

従来、例えば、半導体チップを基板に実装する手法として、フリップチップボンディングが広く知られている。この手法では、まず、半導体ウェハからピックアップした半導体チップを反転させ、半導体チップの接続端子とは反対側の面をボンディングツールに渡して吸着させる。そして、ボンディングツールにより半導体チップの接続端子を基板の電極パッドに熱溶着させることで、半導体チップを基板に実装する。 Flip-chip bonding is a widely known method for mounting semiconductor chips to substrates. In this method, a semiconductor chip is first picked up from a semiconductor wafer, flipped over, and the surface opposite the connection terminals of the semiconductor chip is placed over a bonding tool and attached. The bonding tool then thermally welds the connection terminals of the semiconductor chip to the electrode pads of the substrate, thereby mounting the semiconductor chip to the substrate.

特許第3567896号公報Patent No. 3567896

例えば、複数の半導体ウェハから複数の半導体チップを供給して1つの基板に実装する場合、半導体ウェハ毎に実装装置を準備して基板を実装装置間で移動させる場合と、実装中に半導体ウェハを交換する場合がある。前者の場合、基板と半導体チップとの位置ずれによる実装不良が発生する場合がある。後者の場合、半導体ウェハの交換のための時間が必要になるため、実装中にはんだのフラックスが乾燥して実装不良が発生する場合がある。 For example, when supplying multiple semiconductor chips from multiple semiconductor wafers and mounting them on a single board, there are two ways to do it: prepare a mounting device for each semiconductor wafer and move the board between the mounting devices, or replace the semiconductor wafer during mounting. In the former case, mounting defects may occur due to misalignment between the board and the semiconductor chip. In the latter case, because it takes time to replace the semiconductor wafer, the solder flux may dry out during mounting, causing mounting defects.

本願発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することを目的とする。 The present invention was made in light of these circumstances, and aims to provide a mounting device that can efficiently mount multiple electronic components.

本願発明の一態様に係る実装装置は、電子部品を供給する複数の供給モジュールと、電子部品を基板に実装する実装モジュールと、複数の供給モジュールのそれぞれから電子部品を実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、複数の供給モジュール及び実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構とを備える。 A mounting device according to one aspect of the present invention includes a plurality of supply modules that supply electronic components, a mounting module that mounts the electronic components on a substrate, and a transport mechanism that has at least one transport unit configured to transport electronic components from each of the plurality of supply modules to the mounting module, and that extends across the plurality of supply modules and mounting modules in a first direction in a plan view.

本願発明によれば、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することができる。 The present invention provides a mounting device that can efficiently mount multiple electronic components.

本実施形態に係る実装装置を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. 本実施形態に係る実装装置を示す側面図である。FIG. 2 is a side view showing the mounting apparatus according to the present embodiment. 本実施形態に係る実装装置を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a mounting device according to an embodiment of the present invention.

以下に本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の構成要素は同一又は類似の符号で表している。図面は例示であり、各部の寸法や形状は模式的なものであり、本願発明の技術的範囲を当該実施の形態に限定して解するべきではない。 Embodiments of the present invention are described below. In the following description of the drawings, identical or similar components are represented by identical or similar reference numerals. The drawings are illustrative, and the dimensions and shapes of each part are schematic. The technical scope of the present invention should not be interpreted as being limited to the embodiments described.

実装装置1は、半導体ダイ14A,14Bを回路基板41に実装するフリップチップボンダである。半導体ダイ14A,14Bは、電子部品の一例に当たり、例えば集積回路を有する半導体チップである。回路基板41は、基板の一例に当たり、例えばプリント基板(PCB:Printed Circuit Board)やフレキシブルプリント基板(FPC:Fleible Printed Circuit)である。 The mounting device 1 is a flip-chip bonder that mounts semiconductor dies 14A and 14B on a circuit board 41. The semiconductor dies 14A and 14B are an example of electronic components, such as semiconductor chips having integrated circuits. The circuit board 41 is an example of a substrate, such as a printed circuit board (PCB) or a flexible printed circuit (FPC).

なお、電子部品及び基板は上記に限定されるものではない。電子部品は、例えば、各種の能動部品又は受動部品であってもよい。基板は、例えば、リードフレーム、セラミック基板、半導体基板又は電子部品などであってもよい。電子部品は、基板上に直接実装されてもよく、基板に実装された他の電子部品等の上に実装されることによって基板に間接的に実装されてもよい。 Note that the electronic components and substrates are not limited to those described above. The electronic components may be, for example, various active or passive components. The substrate may be, for example, a lead frame, a ceramic substrate, a semiconductor substrate, or an electronic component. The electronic components may be mounted directly on the substrate, or may be indirectly mounted on the substrate by being mounted on other electronic components mounted on the substrate.

実装装置1は、実装モジュール101と、複数の供給モジュール102A,102Bと、搬送機構120とを備えている。実装モジュール101、供給モジュール102A及び供給モジュール102Bは、この順でX軸方向に並んでいる。供給モジュール102Aは実装モジュール101のX軸負方向側に隣接し、供給モジュール102Bは供給モジュール102AのX軸負方向側に隣接し、供給モジュール102Aは実装モジュール101と供給モジュール102Bとの間に位置している。供給モジュール102Aは実装モジュール101に連結され、供給モジュール102Bは供給モジュール102Aに連結されている。 The mounting device 1 comprises a mounting module 101, multiple supply modules 102A and 102B, and a transport mechanism 120. The mounting module 101, supply module 102A, and supply module 102B are aligned in this order in the X-axis direction. Supply module 102A is adjacent to the mounting module 101 on the negative side of the X-axis, and supply module 102B is adjacent to the mounting module 101 on the negative side of the X-axis, with supply module 102A being located between the mounting module 101 and supply module 102B. Supply module 102A is connected to the mounting module 101, and supply module 102B is connected to supply module 102A.

実装モジュール101は、Y軸方向に半導体ダイ14A,14Bを搬送し、半導体ダイ14A,14Bを回路基板41に実装する。実装モジュール101には架台11が設けられている。 The mounting module 101 transports the semiconductor dies 14A and 14B in the Y-axis direction and mounts the semiconductor dies 14A and 14B on the circuit board 41. The mounting module 101 is provided with a stand 11.

図1に示すように、架台11の上面には、実装ステージ40が設けられている。実装ステージ40は、半導体ダイ14A,14Bが実装される回路基板41を吸着するとともに、内蔵したヒータにより回路基板41を加熱する。実装ステージ40には、搬送レール42が接続されている。搬送レール42は、図示しない基板供給モジュールから回路基板41を実装ステージ40に供給するとともに、半導体ダイ14A,14Bが実装された回路基板41を図示しない製品回収モジュールに供給する。搬送レール42は、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bのそれぞれに設けられたレールが連結されて構成されており、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在している。 As shown in FIG. 1, a mounting stage 40 is provided on the upper surface of the mount 11. The mounting stage 40 adsorbs a circuit board 41 on which semiconductor dies 14A and 14B are mounted, and heats the circuit board 41 using a built-in heater. A transport rail 42 is connected to the mounting stage 40. The transport rail 42 supplies the circuit board 41 from a board supply module (not shown) to the mounting stage 40, and also supplies the circuit board 41 on which semiconductor dies 14A and 14B are mounted to a product recovery module (not shown). The transport rail 42 is configured by connecting rails provided on the mounting module 101 and supply modules 102A and 102B, and extends in the X-axis direction across the mounting module 101 and supply modules 102A and 102B.

図1に示すように、架台11の上面には、X軸方向に延びる一対のガイドレール43が設けられている。一対のガイドレール43の各々には、スライダ44A,44Bが取り付けられている。スライダ44A,44Bは、図示しない駆動モータによりX軸方向に移動可能に構成されている。 As shown in FIG. 1, a pair of guide rails 43 extending in the X-axis direction are provided on the top surface of the platform 11. Sliders 44A and 44B are attached to each of the pair of guide rails 43. Sliders 44A and 44B are configured to be movable in the X-axis direction by a drive motor (not shown).

スライダ44Aにはガントリフレーム45Aが取り付けられ、スライダ44Bにはガントリフレーム45Bが取り付けられている。ガントリフレーム45A,45BはY軸方向に延びる門型のフレームであって、ガントリフレーム45Aの脚部がスライダ44Aに固定され、ガントリフレーム45Bの脚部がスライダ44Bに固定されている。ガントリフレーム45Aは、スライダ44Aがガイドレール43に沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。同様に、ガントリフレーム45Bは、スライダ44Bがガイドレール43に沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。 Gantry frame 45A is attached to slider 44A, and gantry frame 45B is attached to slider 44B. Gantry frames 45A and 45B are gate-shaped frames extending in the Y-axis direction, with the legs of gantry frame 45A fixed to slider 44A and the legs of gantry frame 45B fixed to slider 44B. Gantry frame 45A is configured to be movable in the X-axis direction as slider 44A moves along guide rail 43. Similarly, gantry frame 45B is configured to be movable in the X-axis direction as slider 44B moves along guide rail 43.

ガントリフレーム45Aには実装ヘッド46Aが取り付けられ、ガントリフレーム45Bには実装ヘッド46Bが取り付けられている。実装ヘッド46Aは実装ノズル47Aを有し、実装ヘッド46Bは実装ノズル47Bを有している。実施ヘッド46A,46Bは、図示しない駆動モータによりY軸方向に移動可能に構成されている。実装ヘッド46Aは、搬送機構120から受け取った半導体ダイ14Aを吸着搬送して回路基板41に実装する。実装ヘッド46Bは、搬送機構120から受け取った半導体ダイ14Bを吸着搬送して回路基板41に実装する。実装ヘッド46Aと実装ヘッド46Bとは、互いに独立に移動可能に構成されている。 Mounting head 46A is attached to gantry frame 45A, and mounting head 46B is attached to gantry frame 45B. Mounting head 46A has a mounting nozzle 47A, and mounting head 46B has a mounting nozzle 47B. Mounting heads 46A and 46B are configured to be movable in the Y-axis direction by a drive motor (not shown). Mounting head 46A picks up and transports the semiconductor die 14A received from the transport mechanism 120 to mount it on the circuit board 41. Mounting head 46B picks up and transports the semiconductor die 14B received from the transport mechanism 120 to mount it on the circuit board 41. Mounting head 46A and mounting head 46B are configured to be movable independently of each other.

実装ヘッド46Aは半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成され、実装ヘッド46Bも同様に半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成されている。したがって、実装ヘッド46A、46Bと半導体ダイ14A,14Bとの組み合わせは上記に限定されるものではない。実装ヘッド46Aは、半導体ダイ14Bを回路基板41に実装してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を回路基板41に実装してもよい。同様に、実装ヘッド46Bは、半導体ダイ14Aを回路基板41に実装してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を回路基板41に実装してもよい。 Mounting head 46A is configured to be able to pick up and transport both semiconductor dies 14A and 14B, and mounting head 46B is similarly configured to be able to pick up and transport both semiconductor dies 14A and 14B. Therefore, the combinations of mounting heads 46A and 46B with semiconductor dies 14A and 14B are not limited to those described above. Mounting head 46A may mount semiconductor die 14B on circuit board 41, or may mount both semiconductor dies 14A and 14B on circuit board 41. Similarly, mounting head 46B may mount semiconductor die 14A on circuit board 41, or may mount both semiconductor dies 14A and 14B on circuit board 41.

図2に示すように、実装ノズル47Aは、例えば、モータ50と、基体部51と、ボールねじ52と、パルスヒータ53と、実装ツール54を備えている。モータ50は、実装ヘッド46Aに固定されている。基体部51は、Z方向に移動可能に実装ヘッド46Aに取り付けられている。ボールねじ52は、モータ50からの駆動力に基づいて回転することで基体部51をZ方向に移動させる。パルスヒータ53は、基体部51に取り付けられ、その下側には実装ツール54が取り付けられている。実装ツール54は、その先端面に半導体チップ14を吸着可能に構成されている。実装ツール54は、モータ50により基体部51がZ方向に移動したとき、基体部51とともにZ軸方向に移動する。なお、図示を省略しているが、実装ノズル47Bも、実装ノズル47Aと同様、モータと、基体部と、ボールねじと、パルスヒータと、実装ツールとを備えている。 As shown in FIG. 2, the mounting nozzle 47A includes, for example, a motor 50, a base 51, a ball screw 52, a pulse heater 53, and a mounting tool 54. The motor 50 is fixed to the mounting head 46A. The base 51 is attached to the mounting head 46A so as to be movable in the Z direction. The ball screw 52 rotates based on the driving force from the motor 50, thereby moving the base 51 in the Z direction. The pulse heater 53 is attached to the base 51, and the mounting tool 54 is attached below it. The mounting tool 54 is configured to be able to adsorb a semiconductor chip 14 to its tip surface. When the base 51 is moved in the Z direction by the motor 50, the mounting tool 54 moves in the Z-axis direction together with the base 51. Although not shown, the mounting nozzle 47B also includes a motor, a base, a ball screw, a pulse heater, and a mounting tool, just like the mounting nozzle 47A.

供給モジュール102Aは半導体ダイ14Aを供給し、供給モジュール102Bは半導体ダイ14Bを供給する。供給モジュール102Aにはウェハホルダ12Aが設けられており、供給モジュール102Bにはウェハホルダ12Bが設けられている。ウェハホルダ12Aは、円環状をなしており、ダイシングされた半導体ウェハ13Aを保持する。ウェハホルダ12Bも同様にダイシングされた半導体ウェハ13Bを保持する。ウェハホルダ12A,12Bは、図示しない駆動モータによりY軸方向に移動する。また、ウェハホルダ12A,12Bは、X軸方向には移動しないように構成されている。 Supply module 102A supplies semiconductor dies 14A, and supply module 102B supplies semiconductor dies 14B. Supply module 102A is provided with wafer holder 12A, and supply module 102B is provided with wafer holder 12B. Wafer holder 12A is annular and holds diced semiconductor wafer 13A. Wafer holder 12B similarly holds diced semiconductor wafer 13B. Wafer holders 12A and 12B are moved in the Y-axis direction by a drive motor (not shown). Wafer holders 12A and 12B are configured not to move in the X-axis direction.

ウェハホルダ12A,12Bの下側には、突き上げユニット15が設けられている。図3に示すように、突き上げユニット15は、供給モジュール102Aと供給モジュール102Bとの間を移動可能に構成され、ダイシングされた半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを上方に突き上げ、また、ダイシングされた半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを上方に突き上げる。 A push-up unit 15 is provided below wafer holders 12A and 12B. As shown in FIG. 3, push-up unit 15 is configured to be movable between supply module 102A and supply module 102B, and pushes semiconductor die 14A upward from diced semiconductor wafer 13A, and also pushes semiconductor die 14B upward from diced semiconductor wafer 13B.

なお、半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを突き上げる第1の突き上げユニットと、半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを上方に突き上げる第2の突き上げユニットとが個別に備えられていてもよい。この場合、第1の突き上げユニットは、供給モジュール102Aに設けられ、供給モジュール102Bへは移動できないように構成されてもよく、第2の突き上げユニットは、供給モジュール102Bに設けられ、供給モジュール102Aへは移動できないように構成されてもよい。 In addition, a first push-up unit that pushes up semiconductor die 14A from semiconductor wafer 13A and a second push-up unit that pushes up semiconductor die 14B from semiconductor wafer 13B may be provided separately. In this case, the first push-up unit may be provided in supply module 102A and configured so that it cannot move to supply module 102B, and the second push-up unit may be provided in supply module 102B and configured so that it cannot move to supply module 102A.

供給モジュール102A,102Bには、ピックアップカメラ16が設けられている。図3に示すように、ピックアップカメラ16は、供給モジュール102Aと供給モジュール102Bとの間を移動可能に構成され、位置認識のために半導体ウェハ13A中の半導体ダイ14Aを撮像し、また、位置認識のために半導体ウェハ13B中の半導体ダイ14Bを撮像する。 A pickup camera 16 is provided in each of supply modules 102A and 102B. As shown in FIG. 3, pickup camera 16 is configured to be movable between supply module 102A and supply module 102B, and captures an image of semiconductor die 14A in semiconductor wafer 13A for position recognition, and also captures an image of semiconductor die 14B in semiconductor wafer 13B for position recognition.

なお、半導体ウェハ13A中の半導体ダイ14Aを撮像する第1のピックアップカメラと、半導体ウェハ13B中の半導体ダイ14Bを撮像する第2のピックアップとが個別に備えられていてもよい。この場合、第1のピックアップカメラは、供給モジュール102Aに設けられ、供給モジュール102Bへは移動できないように構成されてもよく、第2のピックアップカメラは、供給モジュール102Bに設けられ、供給モジュール102Aへは移動できないように構成されてもよい。 In addition, a first pickup camera that captures images of semiconductor die 14A in semiconductor wafer 13A and a second pickup that captures images of semiconductor die 14B in semiconductor wafer 13B may be provided separately. In this case, the first pickup camera may be provided in supply module 102A and configured so that it cannot move to supply module 102B, and the second pickup camera may be provided in supply module 102B and configured so that it cannot move to supply module 102A.

搬送機構120は、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bにわたって、X軸方向に延在して構成されている。搬送機構120は、2つの搬送ユニット20A,20Bを備えている。搬送ユニット20Aは、供給モジュール102A,102Bのそれぞれから半導体ダイ14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成されている。搬送ユニット20Bは、供給モジュール102A,102Bのそれぞれから半導体ダイ14A,14Bを実装モジュール101に搬送可能に構成されている。例えば、搬送ユニット20Aは、ウェハホルダ12Aから半導体ダイ14Aをピックアップし、ピックアップした半導体ダイ14Aを反転し、反転した半導体ダイ14Aを実装ヘッド46Aへ受け渡す。搬送ユニット20Bは、ウェハホルダ12Bから半導体ダイ14Bをピックアップし、ピックアップした半導体ダイ14Bを反転し、反転した半導体ダイ14Bを実装ヘッド46Bへ受け渡す。 The transport mechanism 120 is configured to extend in the X-axis direction across the mounting module 101 and the supply modules 102A and 102B. The transport mechanism 120 is equipped with two transport units 20A and 20B. The transport unit 20A is configured to be able to transport the semiconductor dies 14A and 14B from each of the supply modules 102A and 102B to the mounting module 101. The transport unit 20B is configured to be able to transport the semiconductor dies 14A and 14B from each of the supply modules 102A and 102B to the mounting module 101. For example, the transport unit 20A picks up the semiconductor die 14A from the wafer holder 12A, inverts the picked-up semiconductor die 14A, and transfers the inverted semiconductor die 14A to the mounting head 46A. The transfer unit 20B picks up the semiconductor die 14B from the wafer holder 12B, inverts the picked-up semiconductor die 14B, and transfers the inverted semiconductor die 14B to the mounting head 46B.

図2に示すように、搬送ユニット20Aは、例えば、ガイドレール21Aと、スライダ22Aと、キャリッジ23Aと、回転軸24Aと、搬送ヘッド25Aとを備えている。 As shown in FIG. 2, the transport unit 20A includes, for example, a guide rail 21A, a slider 22A, a carriage 23A, a rotation shaft 24A, and a transport head 25A.

ガイドレール21Aは、架台11の上面に形成された凹部11Aに固定されている。凹部11Aは、X方向に延びる長溝状をなしている。ガイドレール21Aは、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102Bのそれぞれに設けられたレールが連結されて構成されており、実装モジュール101及び供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在している。ガイドレール21Aには、スライダ22Aが取り付けられている。スライダ22Aは、図示しない駆動モータによりX軸方向に移動可能に構成されている。キャリッジ23Aは、スライダ22Aに取り付けられている。キャリッジ23Aは、スライダ22Aがガイドレール21Aに沿って移動することで、X軸方向に移動可能に構成されている。キャリッジ23Aには、回転軸24Aが取り付けられている。回転軸24Aの取り付けアームは、回転軸24Aの中心線に対して斜めに交差する方向に延びている。回転軸24Aの取り付けアームの先端部には搬送ヘッド25Aが取り付けられている。図示しないステッピングモータが回転軸24Aを回転させることによって、搬送ヘッド25Aは反転する。 The guide rail 21A is fixed to a recess 11A formed on the top surface of the frame 11. The recess 11A has the shape of a long groove extending in the X direction. The guide rail 21A is configured by connecting rails provided on the mounting module 101 and the supply modules 102A and 102B, and extends in the X-axis direction across the mounting module 101 and the supply modules 102A and 102B. A slider 22A is attached to the guide rail 21A. The slider 22A is configured to be movable in the X-axis direction by a drive motor (not shown). A carriage 23A is attached to the slider 22A. The carriage 23A is configured to be movable in the X-axis direction by the slider 22A moving along the guide rail 21A. A rotation shaft 24A is attached to the carriage 23A. The mounting arm of the rotation shaft 24A extends in a direction that intersects obliquely with the center line of the rotation shaft 24A. A transport head 25A is attached to the tip of the mounting arm of the rotating shaft 24A. A stepping motor (not shown) rotates the rotating shaft 24A, causing the transport head 25A to rotate in reverse.

搬送ヘッド25Aは、例えば、半導体ダイ14Aを供給モジュール102Aから実装モジュール101に搬送する。搬送ヘッド25Aは、ベース27Aと、ピックアップノズル28Aとを備える。ベース27Aは、板状をなしており、回転軸24Aの取り付けアームの先端部に固定されている。ピックアップノズル28Aは、ベース27Aに固定されている。ピックアップノズル28Aは、例えば、ケーシング29Aと、吸着ヘッド30Aと、電磁コイル31Aとを備える。ケーシング29Aは、円環状をなしており、その環状部分に電磁コイル31Aを収容している。ケーシング29Aの中心には、ケーシング29Aの長手方向に延びる貫通孔が形成されている。吸着ヘッド30Aは、その先端面に半導体ダイ14Aを吸着可能に構成されている。吸着ヘッド30Aは、ケーシング29Aの貫通孔に収容されている。吸着ヘッド30Aは、電磁コイル31Aに通電することで、ケーシング29Aの貫通孔を移動し、ケーシング29Aの端面からの繰り出し量が調整可能に構成されている。 The transport head 25A transports, for example, a semiconductor die 14A from the supply module 102A to the mounting module 101. The transport head 25A includes a base 27A and a pickup nozzle 28A. The base 27A is plate-shaped and is fixed to the tip of the mounting arm of the rotation shaft 24A. The pickup nozzle 28A is fixed to the base 27A. The pickup nozzle 28A includes, for example, a casing 29A, a suction head 30A, and an electromagnetic coil 31A. The casing 29A is annular and houses the electromagnetic coil 31A in its annular portion. A through-hole extending in the longitudinal direction of the casing 29A is formed in the center of the casing 29A. The suction head 30A is configured to be able to suction a semiconductor die 14A onto its tip surface. The suction head 30A is housed in the through-hole of the casing 29A. By energizing the electromagnetic coil 31A, the suction head 30A moves through the through-hole in the casing 29A, and the amount of extension from the end face of the casing 29A can be adjusted.

搬送ユニット20Bは、搬送ユニット20Aと同様に、ガイドレール21Bと、スライダ22Bと、キャリッジ23Bと、回転軸24Bと、搬送ヘッド25Bとを備えている。ガイドレール21Bはガイドレール21Aと平行に設けられている。ガイドレール21Bは、凹部11Aのガイドレール21Aに対向する部分に固定されている。搬送ヘッド25Aと搬送ヘッド25Bとは、互いに独立に移動可能に構成されており、すれ違うことが可能である。 Like transport unit 20A, transport unit 20B is equipped with guide rail 21B, slider 22B, carriage 23B, rotation shaft 24B, and transport head 25B. Guide rail 21B is arranged parallel to guide rail 21A. Guide rail 21B is fixed to the portion of recess 11A facing guide rail 21A. Transport head 25A and transport head 25B are configured to be able to move independently of each other and can pass each other.

搬送ヘッド25Bは、例えば、半導体ダイ14Bを供給モジュール102Bから実装モジュール101に搬送する。搬送ヘッド25Bは、搬送ヘッド25Aと同様、ベース27Bと、ピックアップノズル28Bとを備え、ピックアップノズル28Bは、ケーシング29Bと、吸着ヘッド30Bと、電磁コイル31Bとを備える。 Transport head 25B, for example, transports semiconductor die 14B from supply module 102B to mounting module 101. Like transport head 25A, transport head 25B includes a base 27B and a pickup nozzle 28B, which includes a casing 29B, a suction head 30B, and an electromagnetic coil 31B.

搬送ヘッド25Aは半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成され、搬送ヘッド25Bも同様に半導体ダイ14A,14Bのどちらも吸着搬送可能に構成されている。したがって、搬送ヘッド25A,25Bと半導体ダイ14A,14Bとの組み合わせは上記に限定されるものではない。搬送ヘッド25Aは、半導体ダイ14Bを搬送してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。同様に、搬送ヘッド25Bは、半導体ダイ14Aを搬送してもよく、半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。また、実装装置に備えられる搬送ヘッドは1つであってもよく、当該1つの搬送ヘッドが半導体ダイ14A,14Bの両方を搬送してもよい。 Transport head 25A is configured to be able to adsorb and transport both semiconductor dies 14A and 14B, and transport head 25B is similarly configured to be able to adsorb and transport both semiconductor dies 14A and 14B. Therefore, the combinations of transport heads 25A and 25B with semiconductor dies 14A and 14B are not limited to those described above. Transport head 25A may transport semiconductor die 14B, or may transport both semiconductor dies 14A and 14B. Similarly, transport head 25B may transport semiconductor die 14A, or may transport both semiconductor dies 14A and 14B. Furthermore, the mounting device may be equipped with a single transport head, and this single transport head may transport both semiconductor dies 14A and 14B.

次に、半導体ダイ14Aの供給から実装までの動作について説明する。 Next, we will explain the operations from supplying the semiconductor die 14A to mounting it.

まず、ピックアップカメラ16が半導体ウェハ13Aの半導体ダイ14Aを撮像し、半導体ダイ14Aの位置を確認する。ウェハホルダ12Aに保持された半導体ウェハ13Aから、半導体ダイ14Aが突き上げユニット15によって突き上げられる。突き上げられた半導体ダイ14Aが搬送ヘッド25Aに吸着されることによって、半導体ダイ14Aは、供給モジュール102Aのウェハホルダ12Aから搬送機構120の搬送ユニット20Aに受け渡される。搬送ユニット20Aは、吸着した半導体ダイ14Aを供給モジュール102Aから実装モジュール101に搬送する。 First, the pickup camera 16 captures an image of the semiconductor die 14A on the semiconductor wafer 13A to confirm the position of the semiconductor die 14A. The semiconductor die 14A is pushed up from the semiconductor wafer 13A held by the wafer holder 12A by the push-up unit 15. The pushed-up semiconductor die 14A is then adsorbed onto the transport head 25A, and the semiconductor die 14A is transferred from the wafer holder 12A of the supply module 102A to the transport unit 20A of the transport mechanism 120. The transport unit 20A transports the adsorbed semiconductor die 14A from the supply module 102A to the mounting module 101.

実装モジュール101に搬送された半導体ダイ14Aは、回転軸24Aによって搬送ヘッド25Aごと反転される。実装ヘッド46Aは、反転した半導体ダイ14Aの上方に移動し、実装ノズル47Aのモータ50がボールねじ52を回転させ、基体部51、パルスヒータ53及び実装ツール54が降下する。半導体ダイ14Aの位置まで降下した実装ツール54は、反転された半導体ダイ14Aを吸着する。これにより、半導体ダイ14Aは、搬送ヘッド25Aから実装ヘッド46Aに受け渡される。半導体ダイ14Aを吸着した実装ツール54は、モータ50の駆動力によって回転するボールねじ52によって上昇し、実装ヘッド46Aによってガントリフレーム45Aに沿って、実装ステージ40の上方まで搬送される。ここで、実装ノズル47Aのモータ50がボールねじ52を回転させ、基体部51、パルスヒータ53及び実装ツール54が降下し、回路基板41に半導体ダイ14Aが押し付けられる。このとき、半導体ダイ14Aは、パルスヒータ53によって加熱されており、回路基板41に実装される。実装ツール54は、半導体ダイ14Aの吸着を解除し、回路基板41に実装された半導体ダイ14Aを解放した実装ツール54は、モータ50の駆動力によって回転するボールねじ52によって上昇し、次の半導体ダイ14Aを受け取るべく、反転した搬送ヘッド25Aに吸着された半導体ダイ14Aの上方に移動する。 The semiconductor die 14A transported to the mounting module 101 is inverted together with the transport head 25A by the rotating shaft 24A. The mounting head 46A moves above the inverted semiconductor die 14A, and the motor 50 of the mounting nozzle 47A rotates the ball screw 52, causing the base 51, pulse heater 53, and mounting tool 54 to descend. The mounting tool 54, which has descended to the position of the semiconductor die 14A, picks up the inverted semiconductor die 14A. This transfers the semiconductor die 14A from the transport head 25A to the mounting head 46A. The mounting tool 54, which has picked up the semiconductor die 14A, is raised by the ball screw 52, which is rotated by the driving force of the motor 50, and is transported by the mounting head 46A along the gantry frame 45A to above the mounting stage 40. At this point, the motor 50 of the mounting nozzle 47A rotates the ball screw 52, causing the base 51, pulse heater 53, and mounting tool 54 to descend, pressing the semiconductor die 14A against the circuit board 41. At this time, the semiconductor die 14A is heated by the pulse heater 53 and is mounted on the circuit board 41. The mounting tool 54 releases the semiconductor die 14A from suction, and after releasing the semiconductor die 14A mounted on the circuit board 41, the mounting tool 54 rises due to the ball screw 52 rotating with the driving force of the motor 50, and moves above the semiconductor die 14A that has been sucked onto the inverted transfer head 25A to receive the next semiconductor die 14A.

搬送ヘッド25Aが半導体ダイ14Aを搬送中に、ピックアップカメラ16及び突き上げユニット15は、供給モジュール102Aから供給モジュール102Bに移動する。そして、供給モジュール102Bにおいても、供給モジュール102Aと同様、半導体ダイ14Bが、供給モジュール102Bのウェハホルダ12Bから搬送機構120の搬送ユニット20Bに受け渡される。そして、搬送ユニット20Bは、吸着した半導体ダイ14Bを供給モジュール102Bから実装モジュール101に搬送する。搬送された半導体ダイ14Bは、搬送ヘッド25Bから実装ヘッド46Bに受け渡されて、実装ヘッド46Bによって回路基板41に実装される。このように、半導体ダイ14Aと半導体ダイ14Bとが交互に又は同時に、回路基板41に実装される。 While the transport head 25A is transporting the semiconductor die 14A, the pickup camera 16 and push-up unit 15 move from the supply module 102A to the supply module 102B. Then, in the supply module 102B, as in the supply module 102A, the semiconductor die 14B is transferred from the wafer holder 12B of the supply module 102B to the transport unit 20B of the transport mechanism 120. The transport unit 20B then transports the adsorbed semiconductor die 14B from the supply module 102B to the mounting module 101. The transported semiconductor die 14B is then transferred from the transport head 25B to the mounting head 46B, which then mounts the semiconductor die 14B on the circuit board 41. In this way, the semiconductor die 14A and the semiconductor die 14B are mounted on the circuit board 41 alternately or simultaneously.

以上説明したように、本実施形態の実装装置1において、実装モジュール101と、供給モジュール102Aと、供給モジュール102Bとがこの順にX軸方向に並んでおり、搬送機構120は、複数の供給モジュール102A,102Bのそれぞれから複数の半導体ダイ14A,14Bを搬送可能に構成された複数の搬送ユニット20A,20Bを有し、実装モジュール101及び複数の供給モジュール102A,102BにわたってX軸方向に延在して構成されている。 As described above, in the mounting device 1 of this embodiment, the mounting module 101, supply module 102A, and supply module 102B are arranged in this order in the X-axis direction, and the transport mechanism 120 has multiple transport units 20A, 20B configured to be able to transport multiple semiconductor dies 14A, 14B from each of the multiple supply modules 102A, 102B, and is configured to extend in the X-axis direction across the mounting module 101 and the multiple supply modules 102A, 102B.

これによれば、半導体ウェハ毎に実装装置を準備して1つの回路基板を実装装置間で移動させることによって複数の半導体ウェハから供給された複数の半導体ダイを1つの回路基板に実装する装置に比べて、回路基板に対する半導体ダイの位置ずれが生じ難い。このため、位置ずれに起因した実装不良の発生を抑制することができる。また、1つの実装装置で実装中に半導体ウェハを交換することによって複数の半導体ウェハから供給された複数の半導体ダイを1つの回路基板に実装する装置に比べて、実装時間を短縮することができるため、回路基板と半導体ダイとを接合するはんだのフラックス乾燥を抑制することができる。このため、フラックス乾燥に起因した実装不良の発生を抑制することができる。したがって、1つの回路基板41に複数の半導体ダイ14A,14Bを効率的に実装可能な実装装置1を提供することができる。 This makes it less likely for the semiconductor dies to become misaligned with the circuit board than in an apparatus that mounts multiple semiconductor dies supplied from multiple semiconductor wafers onto a single circuit board by preparing a mounting device for each semiconductor wafer and moving a single circuit board between the mounting devices. This reduces the occurrence of mounting defects due to misalignment. Furthermore, compared to an apparatus that mounts multiple semiconductor dies supplied from multiple semiconductor wafers onto a single circuit board by replacing the semiconductor wafer during mounting using a single mounting device, this shortens the mounting time, thereby reducing the drying of flux in the solder that joins the circuit board and the semiconductor dies. This reduces the occurrence of mounting defects due to drying of flux. Therefore, it is possible to provide a mounting apparatus 1 that can efficiently mount multiple semiconductor dies 14A, 14B onto a single circuit board 41.

また、本実施形態において、実装装置1は、半導体ダイ14Aを供給する供給モジュール102Aと、半導体ダイ14Bを供給する供給モジュール102Bとを有し、半導体14Aと半導体ダイ14Bとは互いに異なる品種である。 Furthermore, in this embodiment, the mounting apparatus 1 has a supply module 102A that supplies semiconductor die 14A and a supply module 102B that supplies semiconductor die 14B, and the semiconductor die 14A and the semiconductor die 14B are different types.

これによれば、1つの回路基板41に2品種の半導体ダイ14A,14Bを効率的に実装することができる。 This allows two types of semiconductor dies 14A and 14B to be efficiently mounted on a single circuit board 41.

また、本実施形態において、供給モジュール102Aのウェハホルダ12A、及び、供給モジュール102Bのウェハホルダ12Bは、Y軸方向に移動可能に構成されている。複数のウェハホルダ12A,12Bのそれぞれの移動方向であるY軸方向は、複数の搬送ユニット20A,20Bのそれぞれの移動方向であるX軸方向と交差する方向であり、例えば直交する方向である。 In addition, in this embodiment, wafer holder 12A of supply module 102A and wafer holder 12B of supply module 102B are configured to be movable in the Y-axis direction. The Y-axis direction, which is the direction of movement of each of the multiple wafer holders 12A, 12B, intersects, for example, is perpendicular to, the X-axis direction, which is the direction of movement of each of the multiple transport units 20A, 20B.

これによれば、複数のウェハホルダ12A,12BのそれぞれがX軸方向に移動しなくても、複数の搬送ユニット20A,20Bは、半導体ウェハ13Aの全域から半導体ダイ14Aをピックアップ可能であり、半導体ウェハ13Bの全域から半導体ダイ14Bをピックアップ可能である。したがって、ウェハホルダをX軸方向にも移動可能に構成した場合に比べて、実装装置1を小型化することができる。 As a result, even if each of the multiple wafer holders 12A, 12B does not move in the X-axis direction, the multiple transport units 20A, 20B can pick up semiconductor dies 14A from the entire area of the semiconductor wafer 13A and can pick up semiconductor dies 14B from the entire area of the semiconductor wafer 13B. Therefore, the mounting device 1 can be made smaller than when the wafer holders are configured to be movable in the X-axis direction as well.

また、本実施形態において、実装モジュール101は、複数の搬送ユニット20A,20Bから半導体ダイ14A,14Bを受け取って回路基板41に実装する複数の実装ヘッド46A,46Bを有している。複数の実装ヘッド46A,46Bは、互いに独立に移動可能に構成されている。 In addition, in this embodiment, the mounting module 101 has multiple mounting heads 46A, 46B that receive semiconductor dies 14A, 14B from multiple transport units 20A, 20B and mount them on the circuit board 41. The multiple mounting heads 46A, 46B are configured to be able to move independently of each other.

これによれば、実装モジュール101における複数の半導体ダイ14A,14Bの実装効率を向上させることができる。 This improves the mounting efficiency of multiple semiconductor dies 14A and 14B in the mounting module 101.

また、本実施形態において、実装装置1は、突き上げユニット15をさらに備える。突き上げユニット15は、複数の供給モジュール102A,102B間を移動可能に構成され、半導体ウェハ13Aから半導体ダイ14Aを突き上げて搬送ユニット20Aに引き渡し、半導体ウェハ13Bから半導体ダイ14Bを突き上げて搬送ユニット20Bに引き渡す。 In this embodiment, the mounting apparatus 1 further includes a push-up unit 15. The push-up unit 15 is configured to be movable between the multiple supply modules 102A and 102B, and pushes up the semiconductor die 14A from the semiconductor wafer 13A and delivers it to the transport unit 20A, and pushes up the semiconductor die 14B from the semiconductor wafer 13B and delivers it to the transport unit 20B.

この態様によれば、2つの供給モジュール102A,102Bで1つの突き上げユニット15を共有することができるため、各供給モジュールのそれぞれに突き上げユニットを有する場合に比べて、実装装置1の構成を簡略化し、実装装置1の製造コストやメンテナンスコストの低減を図ることができる。 In this embodiment, one push-up unit 15 can be shared by the two supply modules 102A and 102B, which simplifies the configuration of the mounting device 1 and reduces the manufacturing and maintenance costs of the mounting device 1 compared to when each supply module has its own push-up unit.

また、本実施形態において、実装装置1は、ピックアップカメラ16をさらに備える。ピックアップカメラ16は、複数の供給モジュール102A,102B間を移動可能に構成され、供給モジュール102Aにおける半導体ダイ4Aの位置を認識し、供給モジュール102Bにおける半導体ダイ14Bの位置を認識する。 In this embodiment, the mounting apparatus 1 further includes a pickup camera 16. The pickup camera 16 is configured to be movable between the multiple supply modules 102A and 102B, and recognizes the position of the semiconductor die 4A in the supply module 102A and the position of the semiconductor die 14B in the supply module 102B.

この態様によれば、2つの供給モジュール102A,102Bで1つのピックアップカメラ16を共有することができるため、各供給モジュールのそれぞれにピックアップカメラを有する場合に比べて、実装装置1の構成を簡略化し、実装装置1の製造コストやメンテナンスコストの低減を図ることができる。 In this embodiment, one pickup camera 16 can be shared by two supply modules 102A and 102B, which simplifies the configuration of the mounting device 1 compared to when each supply module has its own pickup camera, thereby reducing the manufacturing and maintenance costs of the mounting device 1.

なお、本実施形態において、実装装置1は2つの供給モジュール102A,102Bを備えているが、本発明の一実施形態に係る実装装置は、3つ以上の供給モジュールを備えてもよい。実装装置1から回路基板41に実装する半導体ダイの品種を増やす場合には、追加の供給モジュールを供給モジュール102Bの供給モジュール102A側とは反対側に接続し、搬送機構120を延長して追加の供給モジュールにも延在させればよい。したがって、実装する半導体ダイの品種を容易に追加することができ、実装する半導体ダイの品種を増やしたときの実装装置の寸法の増大を抑制することができる。 In this embodiment, the mounting device 1 is equipped with two supply modules 102A and 102B, but a mounting device according to one embodiment of the present invention may be equipped with three or more supply modules. When increasing the variety of semiconductor dies to be mounted onto the circuit board 41 from the mounting device 1, an additional supply module can be connected to the side of supply module 102B opposite supply module 102A, and the transport mechanism 120 can be extended to cover the additional supply module. This makes it easy to add more types of semiconductor dies to be mounted, and prevents the dimensions of the mounting device from increasing when the variety of semiconductor dies to be mounted is increased.

以下に、本発明の実施形態の一部又は全部を付記する。なお、本発明は以下の付記に限定されるものではない。 The following describes some or all of the embodiments of the present invention. Please note that the present invention is not limited to the following descriptions.

[付記1]
電子部品を供給する複数の供給モジュールと、
前記電子部品を基板に実装する実装モジュールと、
前記複数の供給モジュールのそれぞれから前記電子部品を前記実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、前記複数の供給モジュール及び前記実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構と
を備える、
実装装置。
[Appendix 1]
a plurality of supply modules for supplying electronic components;
a mounting module that mounts the electronic component on a substrate;
a transport mechanism including at least one transport unit configured to be able to transport the electronic components from each of the plurality of supply modules to the mounting module, and configured to extend across the plurality of supply modules and the mounting module in a first direction in a plan view;
Mounting equipment.

[付記2]
前記実装モジュールは、前記第1方向と交差する第2方向に前記電子部品を搬送する、
[付記1]に記載の実装装置。
[Appendix 2]
the mounting module transports the electronic component in a second direction intersecting the first direction;
The mounting device described in [Supplementary Note 1].

[付記3]
前記複数の供給モジュールは、第1電子部品を供給する第1供給モジュールと、前記第1電子部品とは異なる品種の第2電子部品を供給する第2供給モジュールと、を含む、
[付記1]又は[付記2]に記載の実装装置。
[Appendix 3]
the plurality of supply modules include a first supply module that supplies a first electronic component and a second supply module that supplies a second electronic component of a different type from the first electronic component;
The mounting device according to [Supplementary Note 1] or [Supplementary Note 2].

[付記4]
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、前記半導体ウェハを保持するウェハホルダを有し、
前記ウェハホルダは、平面視における前記第1方向と交差する第2方向に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記3]のいずれか一つに記載の実装装置。
[Appendix 4]
each of the plurality of supply modules supplies a semiconductor die as the electronic component from a semiconductor wafer;
each of the plurality of supply modules has a wafer holder for holding the semiconductor wafer;
the wafer holder is configured to be movable in a second direction intersecting the first direction in a plan view.
A mounting device according to any one of [Supplementary Note 1] to [Supplementary Note 3].

[付記5]
前記少なくとも一つの搬送ユニットは、複数の搬送ヘッドを含み、
前記複数の搬送ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記4]のいずれか一つに記載の実装装置。
[Appendix 5]
the at least one transport unit includes a plurality of transport heads;
The plurality of transport heads are configured to be movable independently of each other.
A mounting device according to any one of [Supplementary Note 1] to [Supplementary Note 4].

[付記6]
前記実装モジュールは、前記少なくとも一つの搬送ヘッドから前記電子部品を受け取って前記基板に実装する複数の実装ヘッドを有し、
前記複数の実装ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記5]のいずれか一つに記載の実装装置。
[Appendix 6]
the mounting module has a plurality of mounting heads that receive the electronic components from the at least one transport head and mount them on the substrate;
The plurality of mounting heads are configured to be movable independently of one another.
A mounting device according to any one of [Supplementary Note 1] to [Supplementary Note 5].

[付記7]
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記半導体ウェハから前記半導体ダイを突き上げて前記少なくとも一つの搬送ユニットに引き渡す突き上げユニットをさらに備え、
前記突き上げユニットは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記6]のいずれか一つに記載の実装装置。
[Appendix 7]
each of the plurality of supply modules supplies a semiconductor die as the electronic component from a semiconductor wafer;
a push-up unit that pushes up the semiconductor die from the semiconductor wafer and transfers the semiconductor die to the at least one transfer unit,
The push-up unit is configured to be movable between the plurality of supply modules.
A mounting device according to any one of [Supplementary Note 1] to [Supplementary Note 6].

[付記8]
前記複数の供給モジュールにおける前記電子部品の位置を認識するピックアップカメラをさらに備え、
前記ピックアップカメラは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
[付記1]から[付記7]のいずれか一つに記載の実装装置。
[Appendix 8]
a pickup camera for detecting the position of the electronic component in the plurality of supply modules;
The pickup camera is configured to be movable between the plurality of supply modules.
A mounting device according to any one of [Supplementary Note 1] to [Supplementary Note 7].

以上説明したように、本発明の一実施形態によれば、複数の電子部品を効率的に実装可能な実装装置を提供することができる。 As described above, one embodiment of the present invention provides a mounting device that can efficiently mount multiple electronic components.

以上説明した実施形態は、本願発明の理解を容易にするためのものであり、本願発明を限定して解釈するためのものではない。実施形態が備える各要素並びにその配置、材料、条件、形状及びサイズ等は、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。また、異なる実施形態で示した構成同士を部分的に置換し又は組み合わせることが可能である。 The above-described embodiments are intended to facilitate understanding of the present invention and are not intended to limit the scope of the present invention. The elements of the embodiments, as well as their arrangement, materials, conditions, shape, size, etc., are not limited to those illustrated and can be modified as appropriate. Furthermore, configurations shown in different embodiments can be partially substituted or combined.

1…実装装置
101…実装モジュール
11…架台
40…実装ステージ
41…回路基板
42…搬送レール
43…ガイドレール
44A,44B…スライダ
45A,45B…ガントリフレーム
46A,46B…実装ヘッド
47A,47B…実装ノズル
50…モータ
51…基体部
52…ボールねじ
53…パルスヒータ
54…実装ツール
102A,102B…供給モジュール
12A,12B…ウェハホルダ
13A,13B…半導体ウェハ
14A,14B…半導体ダイ
15…突き上げユニット
16…ピックアップカメラ
120…搬送機構
20A,20B…搬送ユニット
21A,21B…ガイドレール
22A,22B…スライダ
23A,23B…キャリッジ
24A,24B…回転軸
25A,25B…搬送ヘッド
27A,27B…ベース
28A,28B…ピックアップノズル
29A,29B…ケーシング
30A,30B…吸着ヘッド
31A,31B…電磁コイル
REFERENCE SIGNS LIST 1... Mounting device 101... Mounting module 11... Stand 40... Mounting stage 41... Circuit board 42... Transport rail 43... Guide rail 44A, 44B... Slider 45A, 45B... Gantry frame 46A, 46B... Mounting head 47A, 47B... Mounting nozzle 50... Motor 51... Base part 52... Ball screw 53... Pulse heater 54... Mounting tool 102A, 102B... Supply module 12A, 12B... Wafer holder 13A, 13B... Semiconductor wafer 14A, 14B... Semiconductor die 15... Push-up unit 16... Pickup camera 120... Transport mechanism 20A, 20B... Transport unit 21A, 21B... Guide rail 22A, 22B... Slider 23A, 23B... Carriage 24A, 24B... Rotation axis 25A, 25B... Transfer heads 27A, 27B... Bases 28A, 28B... Pick-up nozzles 29A, 29B... Casings 30A, 30B... Suction heads 31A, 31B... Electromagnetic coils

Claims (8)

電子部品を供給する複数の供給モジュールと、
前記電子部品を基板に実装する実装モジュールと、
前記複数の供給モジュールのそれぞれから前記電子部品を前記実装モジュールに搬送可能に構成された少なくとも一つの搬送ユニットを有し、前記複数の供給モジュール及び前記実装モジュールにわたって平面視における第1方向に延在して構成された搬送機構と
を備える、
実装装置。
a plurality of supply modules for supplying electronic components;
a mounting module that mounts the electronic component on a substrate;
a transport mechanism including at least one transport unit configured to be able to transport the electronic components from each of the plurality of supply modules to the mounting module, and configured to extend across the plurality of supply modules and the mounting module in a first direction in a plan view;
Mounting equipment.
前記実装モジュールは、前記第1方向と交差する第2方向に前記電子部品を搬送する、
請求項1に記載の実装装置。
the mounting module transports the electronic component in a second direction intersecting the first direction;
The mounting device according to claim 1 .
前記複数の供給モジュールは、第1電子部品を供給する第1供給モジュールと、前記第1電子部品とは異なる品種の第2電子部品を供給する第2供給モジュールと、を含む、
請求項1に記載の実装装置。
the plurality of supply modules include a first supply module that supplies a first electronic component and a second supply module that supplies a second electronic component of a different type from the first electronic component;
The mounting device according to claim 1 .
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、前記半導体ウェハを保持するウェハホルダを有し、
前記ウェハホルダは、第1方向に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。
each of the plurality of supply modules supplies a semiconductor die as the electronic component from a semiconductor wafer;
each of the plurality of supply modules has a wafer holder for holding the semiconductor wafer;
The wafer holder is configured to be movable in a first direction.
The mounting device according to claim 1 .
前記少なくとも一つの搬送ユニットは、複数の搬送ヘッドを含み、
前記複数の搬送ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。
the at least one transport unit includes a plurality of transport heads;
The plurality of transport heads are configured to be movable independently of each other.
The mounting device according to claim 1 .
前記実装モジュールは、前記少なくとも一つの搬送ユニットから前記電子部品を受け取って前記基板に実装する複数の実装ヘッドを有し、
前記複数の実装ヘッドは、互いに独立に移動可能に構成されている、
請求項1に記載の実装装置。
the mounting module has a plurality of mounting heads that receive the electronic components from the at least one transport unit and mount them on the board;
The plurality of mounting heads are configured to be movable independently of one another.
The mounting device according to claim 1 .
前記複数の供給モジュールのそれぞれは、半導体ウェハから前記電子部品として半導体ダイを供給するものであり、
前記半導体ウェハから前記半導体ダイを突き上げて前記少なくとも一つの搬送ユニットに引き渡す突き上げユニットをさらに備え、
前記突き上げユニットは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
請求項1から6のいずれか一項に記載の実装装置。
each of the plurality of supply modules supplies a semiconductor die as the electronic component from a semiconductor wafer;
a push-up unit that pushes up the semiconductor die from the semiconductor wafer and transfers the semiconductor die to the at least one transfer unit,
The push-up unit is configured to be movable between the plurality of supply modules.
The mounting device according to claim 1 .
前記複数の供給モジュールにおける前記電子部品の位置を認識するピックアップカメラをさらに備え、
前記ピックアップカメラは、前記複数の供給モジュールのモジュール間を移動可能に構成されている、
請求項1から6のいずれか一項に記載の実装装置。
a pickup camera for detecting the position of the electronic component in the plurality of supply modules;
The pickup camera is configured to be movable between the plurality of supply modules.
The mounting device according to claim 1 .
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