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JP2024068982A - Cutting blade detection mechanism - Google Patents

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JP2024068982A
JP2024068982A JP2022179707A JP2022179707A JP2024068982A JP 2024068982 A JP2024068982 A JP 2024068982A JP 2022179707 A JP2022179707 A JP 2022179707A JP 2022179707 A JP2022179707 A JP 2022179707A JP 2024068982 A JP2024068982 A JP 2024068982A
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JP
Japan
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cutting
cutting blade
light
voltage value
unit
Prior art date
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Pending
Application number
JP2022179707A
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Japanese (ja)
Inventor
佑 高乗
Yu Takanori
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Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
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Publication date
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Abstract

【課題】切削ブレードの状態の検出精度の低下を抑制することができる切削ブレード検出機構を提供すること。【解決手段】切削ブレード検出機構1は、複数の発光体10と、複数の受光体20と、発光体10と受光体20の間に形成されたブレード侵入部5と、受光体20がそれぞれ受光した光13を光量に対応した電圧値に変換する光電変換器30と、光電変換器30から出力された電圧値を調整するアンプ40と、制御ユニット170と、を有し、制御ユニット170は、ブレード侵入部5内に切削ブレード121が無い状態で光電変換器30から出力された電圧値の中から最も高い電圧値を特定する高電圧値特定部172と、電圧値が高電圧値特定部172により特定された最も高い電圧値になるようにアンプ40を調整するアンプ調整部173とを備える。【選択図】図5[Problem] To provide a cutting blade detection mechanism capable of suppressing a decrease in detection accuracy of the state of a cutting blade. [Solution] The cutting blade detection mechanism 1 has a plurality of light emitters 10, a plurality of light receivers 20, a blade entry section 5 formed between the light emitters 10 and the light receivers 20, a photoelectric converter 30 that converts light 13 received by each of the light receivers 20 into a voltage value corresponding to the amount of light, an amplifier 40 that adjusts the voltage value output from the photoelectric converter 30, and a control unit 170, the control unit 170 including a high voltage value specifying section 172 that specifies the highest voltage value among the voltage values output from the photoelectric converter 30 when the cutting blade 121 is not present in the blade entry section 5, and an amplifier adjustment section 173 that adjusts the amplifier 40 so that the voltage value becomes the highest voltage value specified by the high voltage value specifying section 172. [Selected Figure] Figure 5

Description

本発明は、半導体ウェーハ等のウェーハを切削する切削装置に装備される切削ブレードの状態を検出する為の切削ブレード検出機構に関する。 The present invention relates to a cutting blade detection mechanism for detecting the state of a cutting blade installed in a cutting device that cuts wafers such as semiconductor wafers.

半導体ウェーハをチップ状に個片化するには、通常、ダイサーと呼ばれる切削装置が使用される。この切削装置は、摩耗して直径が減少した切削ブレードの環状の切れ刃の交換時期及び環状の切れ刃の欠けを検出する為の切削ブレード検出機構を備えている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。 A cutting device called a dicer is usually used to separate semiconductor wafers into chips. This cutting device is equipped with a cutting blade detection mechanism to detect when the annular cutting edge of the cutting blade needs to be replaced if the cutting blade's diameter has decreased due to wear, and to detect when the annular cutting edge is chipped (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

上記切削ブレード検出機構は、切削ブレードの環状の切れ刃が侵入するブレード侵入部と、該ブレード侵入部に対向して配列される複数の発光体及び受光体(共に光ファイバー)を備えている。この切削ブレード検出機構は、発光体が発光する光を受光体が受光し、受光体が受光した光の光量に対応した電圧に変換することにより、発光体と受光体との間のブレード侵入部に位置する切削ブレードの環状の切れ刃の状態を検出する。 The cutting blade detection mechanism includes a blade entry section where the annular cutting edge of the cutting blade enters, and multiple light emitters and light receivers (both made of optical fibers) arranged opposite the blade entry section. This cutting blade detection mechanism detects the state of the annular cutting edge of the cutting blade located in the blade entry section between the light emitters and the light receiver by receiving the light emitted by the light emitters and converting it into a voltage corresponding to the amount of light received by the light receiver.

特開2010-141009号公報JP 2010-141009 A 特許第5236918号公報Japanese Patent No. 5236918

上記特許文献1及び特許文献2等に記載された切削ブレード検出機構の複数の受光体がそれぞれ受光する受光量は受光体毎に異なる。これは上記発光体が発行する光が直進ではなく散乱する為、一列に配列された受光体の内、内側に位置する受光体の受光量は多く、逆に外側に位置する受光体の受光量は逃げた光の分少なる為である。 The amount of light received by each of the multiple light receivers in the cutting blade detection mechanism described in Patent Documents 1 and 2, etc., differs for each light receiver. This is because the light emitted by the light emitters does not travel in a straight line but is scattered, so that among the light receivers arranged in a row, the amount of light received by the light receivers located on the inside is large, and conversely, the amount of light received by the light receivers located on the outside is small due to the amount of light that escapes.

複数の受光体の受光量がバラつくと、切削ブレードの状態を検出する精度の低下に繋がる為、このバラつきを抑える方法が求められていた。 Variations in the amount of light received by multiple light receivers lead to a decrease in the accuracy of detecting the condition of the cutting blade, so a method to reduce this variation was needed.

本発明の目的は、切削ブレードの状態の検出精度の低下を抑制することができる切削ブレード検出機構を提供することである。 The object of the present invention is to provide a cutting blade detection mechanism that can suppress a decrease in the detection accuracy of the cutting blade condition.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の切削ブレード検出機構は、被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に該切削ブレードの径方向に直列に互いに隣接して配列された複数の発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該複数の発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する複数の受光手段と、該複数の発光手段及び該複数の受光手段との間に形成されたブレード侵入部と、該複数の受光手段がそれぞれ受光した光を光量に対応した電圧値に変換する光電変換器と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構であって、該光電変換器から出力された電圧値を調整するアンプと、制御手段と、を有し、該制御手段は、該ブレード侵入部内に該切削ブレードが無い状態で該光電変換器から出力されたそれぞれの電圧値の中から最も高い電圧値を特定する高電圧値特定部と、該それぞれの電圧値が該高電圧値特定部により特定された最も高い電圧値に基づいて均一となるように該アンプを調整するアンプ調整部と、を、備え、該複数の受光手段毎の受光量によるバラつきの影響を低減し、高精度で切削ブレードの検出が可能なことを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the cutting blade detection mechanism of the present invention comprises a plurality of light emitting means arranged adjacent to each other in series in the radial direction of the cutting blade on one side in the rotational axis direction of the cutting blade having an annular cutting edge for cutting a workpiece held on a chuck table that holds the workpiece, a plurality of light receiving means arranged opposite the plurality of light emitting means on the other side in the rotational axis direction of the cutting blade and receiving light irradiated by the light emitting means, a blade penetration portion formed between the plurality of light emitting means and the plurality of light receiving means, and a plurality of light receiving means for converting the light received by each of the plurality of light receiving means into a voltage value corresponding to the amount of light. A cutting blade detection mechanism for a cutting device having a photoelectric converter, an amplifier that adjusts the voltage value output from the photoelectric converter, and a control means, the control means having a high voltage value determination unit that determines the highest voltage value from among the voltage values output from the photoelectric converter when the cutting blade is not in the blade entry section, and an amplifier adjustment unit that adjusts the amplifier so that the respective voltage values are uniform based on the highest voltage value determined by the high voltage value determination unit, and is characterized in that it is possible to detect the cutting blade with high accuracy by reducing the effect of variations due to the amount of light received by each of the multiple light receiving means.

本発明は、切削ブレードの状態の検出精度の低下を抑制することができるという効果を奏する。 The present invention has the effect of suppressing a decrease in the accuracy of detecting the state of the cutting blade.

図1は、実施形態1に係る切削装置の切削ブレード検出機構を備える切削装置の構成例を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an example of the configuration of a cutting device including a cutting blade detection mechanism according to a first embodiment. 図2は、図1に示された切削装置の切削ユニットの斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of a cutting unit of the cutting apparatus shown in FIG. 図3は、図1に示された切削装置の切削ブレード検出機構の構成を示す一部断面で示す正面図である。FIG. 3 is a front view, partially in section, showing the configuration of a cutting blade detection mechanism of the cutting machine shown in FIG. 図4は、図3に示された切削ブレード検出機構の発光体及び受光体を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the light emitter and light receiver of the cutting blade detection mechanism shown in FIG. 図5は、図3に示された切削ブレード検出機構の構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the cutting blade detection mechanism shown in FIG.

本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 The following describes in detail the form (embodiment) for carrying out the present invention with reference to the drawings. The present invention is not limited to the contents described in the following embodiment. The components described below include those that a person skilled in the art can easily imagine and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. Various omissions, substitutions, or modifications of the configuration can be made without departing from the spirit of the present invention.

〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る切削装置の切削ブレード検出機構を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る切削装置の切削ブレード検出機構を備える切削装置の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された切削装置の切削ユニットの斜視図である。図3は、図1に示された切削装置の切削ブレード検出機構の構成を示す一部断面で示す正面図である。図4は、図3に示された切削ブレード検出機構の発光体及び受光体を示す図である。図5は、図3に示された切削ブレード検出機構の構成を示すブロック図である。
[Embodiment 1]
A cutting blade detection mechanism of a cutting device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Fig. 1 is a perspective view showing a configuration example of a cutting device equipped with the cutting blade detection mechanism of the cutting device according to the first embodiment. Fig. 2 is a perspective view of a cutting unit of the cutting device shown in Fig. 1. Fig. 3 is a front view, partially in cross section, showing the configuration of the cutting blade detection mechanism of the cutting device shown in Fig. 1. Fig. 4 is a diagram showing a light emitter and a light receiver of the cutting blade detection mechanism shown in Fig. 3. Fig. 5 is a block diagram showing the configuration of the cutting blade detection mechanism shown in Fig. 3.

(被加工物)
実施形態1に係る切削装置の切削ブレード検出機構1は、図1に示す切削装置100を構成する。図1に示された切削装置100は、被加工物200を切削する加工装置である。実施形態1では、切削装置100の加工対象の被加工物200は、シリコン、サファイア、ガリウムヒ素、又はSiC(炭化ケイ素)等などを基板とする円板状の半導体ウェーハや光デバイスウェーハ等のウェーハである。被加工物200は、表面201に互いに格子状に形成された複数の分割予定ライン202によって格子状に区画された領域にデバイス203が形成されている。
(Workpiece)
The cutting blade detection mechanism 1 of the cutting device according to the first embodiment constitutes the cutting device 100 shown in Fig. 1. The cutting device 100 shown in Fig. 1 is a processing device that cuts a workpiece 200. In the first embodiment, the workpiece 200 to be processed by the cutting device 100 is a wafer such as a disk-shaped semiconductor wafer or an optical device wafer, the substrate of which is silicon, sapphire, gallium arsenide, SiC (silicon carbide), or the like. The workpiece 200 has devices 203 formed in areas partitioned in a lattice pattern by a plurality of planned division lines 202 formed in a lattice pattern on a surface 201.

デバイス203は、例えば、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサ、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)又はメモリ(半導体記憶装置)である。 The device 203 is, for example, an integrated circuit such as an IC (Integrated Circuit) or an LSI (Large Scale Integration), an image sensor such as a CCD (Charge Coupled Device) or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), or a memory (semiconductor memory device).

実施形態1では、被加工物200は、表面201の裏側の裏面204に被加工物200よりも大径な円板状の粘着テープ205が貼着され、粘着テープ205の外縁部に円環状の環状フレーム206が貼着されて、環状フレーム206に支持される。 In the first embodiment, the workpiece 200 has a disk-shaped adhesive tape 205, which is larger in diameter than the workpiece 200, adhered to the back surface 204 behind the front surface 201, and a circular ring-shaped frame 206 is adhered to the outer edge of the adhesive tape 205, so that the workpiece 200 is supported by the ring-shaped frame 206.

なお、実施形態1では、被加工物200は、半導体ウェーハや光デバイスウェーハ等のウェーハであるが、本発明では、ウェーハに限らず、例えば、セラミックスコンデンサ基板、CSP(チップサイズパッケージ)基板等のパッケージ基板等の種々の被加工物でも良い。 In the first embodiment, the workpiece 200 is a wafer such as a semiconductor wafer or an optical device wafer, but in the present invention, the workpiece is not limited to a wafer and may be various other workpieces such as package substrates such as ceramic capacitor substrates and CSP (chip size package) substrates.

(切削装置)
図1に示された切削装置100は、被加工物200をチャックテーブル110で保持し分割予定ライン202に沿って切削ブレード121で切削する加工装置である。切削装置100は、図1に示すように、被加工物200を保持面111で吸引保持するチャックテーブル110と、チャックテーブル110で保持された被加工物200を切削ブレード121で切削する切削ユニット120と、チャックテーブル110に保持された被加工物200を撮像する撮像ユニット130と、制御手段である制御ユニット170とを備える。
(Cutting device)
1 is a processing device that holds a workpiece 200 on a chuck table 110 and cuts it with a cutting blade 121 along a planned division line 202. As shown in FIG. 1, the cutting device 100 includes a chuck table 110 that suction-holds the workpiece 200 on a holding surface 111, a cutting unit 120 that cuts the workpiece 200 held by the chuck table 110 with the cutting blade 121, an imaging unit 130 that images the workpiece 200 held by the chuck table 110, and a control unit 170 that is a control means.

また、切削装置100は、チャックテーブル110を切削ユニット120に対して相対的に移動させる移動ユニット140を備える。移動ユニット140は、チャックテーブル110を水平方向と平行なX軸方向に加工送りするX軸移動ユニット141と、切削ユニット120を水平方向と平行でかつX軸方向に直交するY軸方向に割り出し送りするY軸移動ユニット142と、切削ユニット120をX軸方向とY軸方向との双方と直交する鉛直方向に平行なZ軸方向に切り込み送りするZ軸移動ユニット143と、チャックテーブル110をZ軸方向と平行な軸心回りに回転する回転移動ユニット144とを備える。 The cutting device 100 also includes a moving unit 140 that moves the chuck table 110 relative to the cutting unit 120. The moving unit 140 includes an X-axis moving unit 141 that moves the chuck table 110 in the X-axis direction parallel to the horizontal direction, a Y-axis moving unit 142 that moves the cutting unit 120 in the Y-axis direction parallel to the horizontal direction and perpendicular to the X-axis direction, a Z-axis moving unit 143 that moves the cutting unit 120 in the Z-axis direction parallel to the vertical direction perpendicular to both the X-axis and Y-axis directions, and a rotational moving unit 144 that rotates the chuck table 110 around an axis parallel to the Z-axis direction.

X軸移動ユニット141は、切削装置100の装置本体101に設置されている。X軸移動ユニット141は、チャックテーブル110を加工送り方向であるX軸方向に移動させることで、チャックテーブル110と切削ユニット120とを相対的にX軸方向に沿って加工送りするものである。Y軸移動ユニット142及びZ軸移動ユニット143は、装置本体101から立設した支持フレーム102に設置されている。Y軸移動ユニット142は、切削ユニット120を割り出し送り方向であるY軸方向に移動させることで、チャックテーブル110と切削ユニット120とを相対的にY軸方向に沿って割り出し送りするものである。Z軸移動ユニット143は、切削ユニット120を切り込み送り方向であるZ軸方向に移動させることで、チャックテーブル110と切削ユニット120とを相対的にZ軸方向に沿って切り込み送りするものである。回転移動ユニット144はX軸移動ユニット141によりチャックテーブル110とともにX軸方向に移動される。 The X-axis moving unit 141 is installed on the device body 101 of the cutting device 100. The X-axis moving unit 141 moves the chuck table 110 in the X-axis direction, which is the processing feed direction, to feed the chuck table 110 and the cutting unit 120 relatively along the X-axis direction. The Y-axis moving unit 142 and the Z-axis moving unit 143 are installed on the support frame 102 standing upright from the device body 101. The Y-axis moving unit 142 moves the cutting unit 120 in the Y-axis direction, which is the indexing feed direction, to feed the chuck table 110 and the cutting unit 120 relatively along the Y-axis direction. The Z-axis moving unit 143 moves the cutting unit 120 in the Z-axis direction, which is the cutting feed direction, to feed the chuck table 110 and the cutting unit 120 relatively along the Z-axis direction. The rotation moving unit 144 is moved in the X-axis direction together with the chuck table 110 by the X-axis moving unit 141.

X軸移動ユニット141、Y軸移動ユニット142及びZ軸移動ユニット143は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじと、ボールねじを軸心回りに回転させてチャックテーブル110又は切削ユニット120をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動させる周知のモータと、チャックテーブル110又は切削ユニット120をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールとを備える。回転移動ユニット144は、チャックテーブル110を軸心回りに回転する周知のモータ等を備える。 The X-axis moving unit 141, the Y-axis moving unit 142, and the Z-axis moving unit 143 each include a well-known ball screw that is rotatable about its axis, a well-known motor that rotates the ball screw about its axis to move the chuck table 110 or the cutting unit 120 in the X-axis, Y-axis, or Z-axis direction, and a well-known guide rail that supports the chuck table 110 or the cutting unit 120 so that it can move in the X-axis, Y-axis, or Z-axis direction. The rotational movement unit 144 includes a well-known motor that rotates the chuck table 110 about its axis.

チャックテーブル110は、円盤形状であり、被加工物200を保持する保持面111がポーラスセラミック等から形成されている。また、チャックテーブル110は、X軸移動ユニット141により切削ユニット120の下方の加工領域と、切削ユニット120の下方から離間して被加工物200が搬入出される搬入出領域とに亘ってX軸方向に移動自在に設けられ、かつ回転移動ユニット144によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。 The chuck table 110 is disk-shaped, and the holding surface 111 that holds the workpiece 200 is formed from porous ceramics or the like. The chuck table 110 is provided so as to be movable in the X-axis direction by the X-axis movement unit 141 between the processing area below the cutting unit 120 and the load/unload area that is spaced from below the cutting unit 120 and where the workpiece 200 is loaded and unloaded, and is provided so as to be rotatable about an axis parallel to the Z-axis direction by the rotation movement unit 144.

チャックテーブル110は、保持面111が図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源により吸引されることで、保持面111に載置された被加工物200を吸引保持する。実施形態1では、チャックテーブル110は、粘着テープ205を介して被加工物200の裏面204側を吸引保持する。また、チャックテーブル110の周囲には、図1に示すように、環状フレーム206をクランプするクランプ部112が複数設けられている。 The holding surface 111 of the chuck table 110 is connected to a vacuum suction source (not shown), and the workpiece 200 placed on the holding surface 111 is suction-held by the vacuum suction source. In the first embodiment, the chuck table 110 suction-holds the back surface 204 of the workpiece 200 via an adhesive tape 205. In addition, a plurality of clamping portions 112 that clamp the annular frame 206 are provided around the periphery of the chuck table 110, as shown in FIG. 1.

切削ユニット120は、スピンドル123の先端に円環状の切削ブレード121を装着可能な加工ユニットである。切削ユニット120は、チャックテーブル110に保持された被加工物200に対して、Y軸移動ユニット142によりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動ユニット143によりZ軸方向に移動自在に設けられている。切削ユニット120は、X軸移動ユニット141、Y軸移動ユニット142及びZ軸移動ユニット143により、チャックテーブル110の保持面111の任意の位置に切削ブレード121を位置付け可能となっている。 The cutting unit 120 is a processing unit that can attach an annular cutting blade 121 to the tip of a spindle 123. The cutting unit 120 is provided so as to be movable in the Y-axis direction by a Y-axis moving unit 142 and movable in the Z-axis direction by a Z-axis moving unit 143 relative to the workpiece 200 held on the chuck table 110. The cutting unit 120 can position the cutting blade 121 at any position on the holding surface 111 of the chuck table 110 by the X-axis moving unit 141, the Y-axis moving unit 142, and the Z-axis moving unit 143.

切削ユニット120は、図1に示すように、切削ブレード121と、Y軸移動ユニット142及びZ軸移動ユニット143によりY軸方向及びZ軸方向に移動自在に設けられたスピンドルハウジング122と、スピンドルハウジング122に軸心回りに回転自在に設けられたスピンドル123と、スピンドル123を軸心回りに回転する図示しないスピンドルモータとを有する。 As shown in FIG. 1, the cutting unit 120 has a cutting blade 121, a spindle housing 122 that is movable in the Y-axis direction and the Z-axis direction by a Y-axis moving unit 142 and a Z-axis moving unit 143, a spindle 123 that is rotatable about its axis on the spindle housing 122, and a spindle motor (not shown) that rotates the spindle 123 about its axis.

切削ブレード121は、略リング形状を有する極薄の切削砥石である。実施形態1において、切削ブレード121は、図2及び図3に示すように、チャックテーブル110に保持された被加工物200を切削する円環状の切れ刃124と、切れ刃124を外縁に支持しかつスピンドル123に着脱自在に装着される円環状の環状基台125とを備えている。切れ刃124は、ダイヤモンドやCBN(Cubic Boron Nitride)等の砥粒と、金属や樹脂等のボンド材(結合材)とからなり所定厚みに形成されている。なお、本発明では、切削ブレード121は、切れ刃124のみからなる所謂ワッシャーブレードでも良い。切削ブレード121は、被加工物200の切削中に切れ刃124の一部が欠けることがある。 The cutting blade 121 is an extremely thin cutting grindstone having a substantially ring shape. In the first embodiment, as shown in FIG. 2 and FIG. 3, the cutting blade 121 has an annular cutting edge 124 that cuts the workpiece 200 held on the chuck table 110, and an annular base 125 that supports the cutting edge 124 at its outer edge and is detachably attached to the spindle 123. The cutting edge 124 is made of abrasive grains such as diamond or CBN (Cubic Boron Nitride) and a bond material such as metal or resin, and is formed to a predetermined thickness. In the present invention, the cutting blade 121 may be a so-called washer blade consisting of only the cutting edge 124. During cutting of the workpiece 200, a part of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 may be chipped.

スピンドルハウジング122は、Z軸移動ユニット143によりZ軸方向に移動自在に支持され、Z軸移動ユニット143を介してY軸移動ユニット142によりY軸方向に移動自在に支持されている。スピンドルハウジング122は、スピンドル123の先端部を除く部分及び図示しないスピンドルモータ等を収容し、スピンドル123を軸心回りに回転可能に支持する。 The spindle housing 122 is supported by the Z-axis moving unit 143 so as to be freely movable in the Z-axis direction, and is supported by the Y-axis moving unit 142 via the Z-axis moving unit 143 so as to be freely movable in the Y-axis direction. The spindle housing 122 houses the spindle 123 except for the tip portion, as well as a spindle motor (not shown), and supports the spindle 123 so as to be rotatable around its axis.

スピンドル123は、切削ブレード121が先端部に装着されるものである。スピンドル123は、図示しないスピンドルモータにより軸心回りに回転されるとともに、先端部がスピンドルハウジング122の先端面より突出している。スピンドル123の先端部は、先端に向かうにしたがって徐々に細く形成されており、切削ブレード121が装着される。切削ユニット120のスピンドル123及び切削ブレード121の軸心は、Y軸方向と平行である。即ち、切削ユニット120の切削ブレード121は、スピンドルモータにより軸心回りに回転される。 The cutting blade 121 is attached to the tip of the spindle 123. The spindle 123 is rotated around its axis by a spindle motor (not shown), and its tip protrudes from the tip surface of the spindle housing 122. The tip of the spindle 123 is gradually tapered toward the tip, and the cutting blade 121 is attached to it. The axes of the spindle 123 and cutting blade 121 of the cutting unit 120 are parallel to the Y-axis direction. In other words, the cutting blade 121 of the cutting unit 120 is rotated around its axis by the spindle motor.

また、切削ユニット120は、図2に示すように、スピンドル123の先端面に装着されたブレードカバー126と、切削ブレード121に切削水を供給する切削水ノズル127とを有する。 As shown in FIG. 2, the cutting unit 120 also has a blade cover 126 attached to the tip surface of the spindle 123 and a cutting water nozzle 127 that supplies cutting water to the cutting blade 121.

ブレードカバー126は、切削ブレード121の少なくとも上方を覆うものである。ブレードカバー126は、スピンドルハウジング122の先端面に固定されている。 The blade cover 126 covers at least the upper part of the cutting blade 121. The blade cover 126 is fixed to the tip surface of the spindle housing 122.

切削水ノズル127は、チャックテーブル110の保持面111で保持された被加工物200を切削ブレード121が切削する際に、切削ブレード121に切削水を供給するものである。切削水ノズル127は、図2に示すように、シャワーノズル128と、一対のブレードノズル129とを備える。 The cutting water nozzle 127 supplies cutting water to the cutting blade 121 when the cutting blade 121 cuts the workpiece 200 held by the holding surface 111 of the chuck table 110. As shown in FIG. 2, the cutting water nozzle 127 includes a shower nozzle 128 and a pair of blade nozzles 129.

ノズル128,129は、ブレードカバー126に取り付けられ、図示しない切削水供給源から切削水が供給される。シャワーノズル128は、切削ブレード121の切れ刃124の先端とX軸方向に対面する噴射口を備え、切削中に切削ブレード121の切れ刃124の先端に噴射口から切削水を供給する。 The nozzles 128 and 129 are attached to the blade cover 126, and cutting water is supplied from a cutting water supply source (not shown). The shower nozzle 128 has a nozzle that faces the tip of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 in the X-axis direction, and supplies cutting water from the nozzle to the tip of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 during cutting.

ブレードノズル129は、X軸方向と平行に延在し、互いにY軸方向に間隔をあけて配置されている。ブレードノズル129は、互いの間に切削ブレード121の切れ刃124の下端部を位置づけており、切削ブレード121の切れ刃124の下端部に対面する図示しない噴射口を備えている。ブレードノズル129は、切削中に切削ブレード121の切れ刃124の下端部に噴射口から切削水を供給する。 The blade nozzles 129 extend parallel to the X-axis direction and are spaced apart from one another in the Y-axis direction. The blade nozzles 129 position the lower end of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 between each other and are equipped with a jet nozzle (not shown) that faces the lower end of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. The blade nozzle 129 supplies cutting water from the jet nozzle to the lower end of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 during cutting.

撮像ユニット130は、切削ユニット120と一体的に移動するように、切削ユニット120に固定されている。撮像ユニット130は、チャックテーブル110に保持された切削前の被加工物200の分割すべき領域を撮影する撮像素子を含む。撮像素子は、例えば、複数の画素を有するCCD(Charge-Coupled Device)撮像素子又はCMOS(Complementary MOS)撮像素子である。撮像ユニット130は、チャックテーブル110に保持された被加工物200の表面201を対物レンズを通して撮像素子で撮像する。 The imaging unit 130 is fixed to the cutting unit 120 so as to move integrally with the cutting unit 120. The imaging unit 130 includes an imaging element that captures an image of the area to be divided of the workpiece 200 held on the chuck table 110 before cutting. The imaging element is, for example, a CCD (Charge-Coupled Device) imaging element or a CMOS (Complementary MOS) imaging element having multiple pixels. The imaging unit 130 captures an image of the surface 201 of the workpiece 200 held on the chuck table 110 with the imaging element through an objective lens.

撮像ユニット130は、チャックテーブル110に保持された被加工物200を撮影して、被加工物200と切削ブレード121との位置合わせを行なうアライメントを遂行するための画像を取得し、取得した画像を制御ユニット170に出力する。 The imaging unit 130 photographs the workpiece 200 held on the chuck table 110, acquires images to perform alignment between the workpiece 200 and the cutting blade 121, and outputs the acquired images to the control unit 170.

また、切削装置100は、チャックテーブル110のX軸方向の位置を検出するため図示しないX軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット120のY軸方向の位置を検出するための図示しないY軸方向位置検出ユニットと、切削ユニット120のZ軸方向の位置を検出するためのZ軸方向位置検出ユニットと、チャックテーブル110の軸心回りに角度を検出する角度検出ユニットとを備える。X軸方向位置検出ユニット及びY軸方向位置検出ユニットは、X軸方向、又はY軸方向と平行なリニアスケールと、読み取りヘッドとにより構成することができる。Z軸方向位置検出ユニットは、モータのパルスで切削ユニット120のZ軸方向の位置を検出する。角度検出ユニットは、周知のロータリエンコーダ等により構成される。 The cutting device 100 also includes an X-axis position detection unit (not shown) for detecting the position of the chuck table 110 in the X-axis direction, a Y-axis position detection unit (not shown) for detecting the position of the cutting unit 120 in the Y-axis direction, a Z-axis position detection unit for detecting the position of the cutting unit 120 in the Z-axis direction, and an angle detection unit for detecting the angle around the axis of the chuck table 110. The X-axis position detection unit and the Y-axis position detection unit can be configured with a linear scale parallel to the X-axis direction or the Y-axis direction, and a reading head. The Z-axis position detection unit detects the position of the cutting unit 120 in the Z-axis direction with motor pulses. The angle detection unit is configured with a well-known rotary encoder or the like.

X軸方向位置検出ユニット、Y軸方向位置検出ユニット及びZ軸方向位置検出ユニットは、チャックテーブル110のX軸方向、切削ユニット120のY軸方向又はZ軸方向の位置を制御ユニット170に出力する。角度検出ユニットは、チャックテーブル110の軸心回りの基準位置からの角度を制御ユニット170に出力する。なお、実施形態1では、切削装置100の各構成要素のX軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の位置は、予め定められた図示しない基準位置を基準とした位置で定められる。 The X-axis position detection unit, the Y-axis position detection unit, and the Z-axis position detection unit output the position of the chuck table 110 in the X-axis direction and the cutting unit 120 in the Y-axis direction or the Z-axis direction to the control unit 170. The angle detection unit outputs the angle from a reference position around the axis of the chuck table 110 to the control unit 170. In the first embodiment, the positions of each component of the cutting device 100 in the X-axis direction, Y-axis direction, and Z-axis direction are determined based on a predetermined reference position (not shown).

また、切削装置100は、切削前後の被加工物200を収容するカセット151が載置されかつカセット151をZ軸方向に移動させるカセットエレベータ150と、洗浄ユニット160と、図示しない搬送ユニットとを備える。カセット151は、被加工物200をZ軸方向に間隔をあけて複数収容可能な収容容器であり、被加工物200を出し入れ可能とする出し入れ口152を備えている。カセットエレベータ150は、搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル110のY軸方向の一方側の隣に配置され、搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル110側に出し入れ口152を位置付けて、カセット151が載置される。 The cutting device 100 also includes a cassette elevator 150 on which a cassette 151 that contains the workpiece 200 before and after cutting is placed and which moves the cassette 151 in the Z-axis direction, a cleaning unit 160, and a transport unit (not shown). The cassette 151 is a container that can contain multiple workpieces 200 spaced apart in the Z-axis direction, and is provided with an access port 152 that allows the workpieces 200 to be inserted and removed. The cassette elevator 150 is disposed next to one side in the Y-axis direction of the chuck table 110 positioned in the loading/unloading area, and the cassette 151 is placed with the access port 152 positioned on the side of the chuck table 110 positioned in the loading/unloading area.

洗浄ユニット160は、切削後の被加工物200を洗浄するものである。洗浄ユニットは、搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル110のY軸方向の他方側の隣に配置され、カセット151及び搬入出領域に位置付けられたチャックテーブル110とY軸方向に並ぶ位置に配置されている。洗浄ユニット160は、被加工物を吸引保持するスピンナテーブル161と、スピンナテーブル161に吸引保持された被加工物200の表面201に洗浄液を供給する洗浄液供給ノズル162とを備える。 The cleaning unit 160 cleans the workpiece 200 after cutting. The cleaning unit is located next to the other side in the Y-axis direction of the chuck table 110 positioned in the load/unload area, and is located in a position aligned in the Y-axis direction with the cassette 151 and the chuck table 110 positioned in the load/unload area. The cleaning unit 160 includes a spinner table 161 that holds the workpiece by suction, and a cleaning liquid supply nozzle 162 that supplies cleaning liquid to the surface 201 of the workpiece 200 held by suction on the spinner table 161.

搬送ユニットは、カセット151内とチャックテーブル110上と洗浄ユニット160のスピンナテーブル161上に亘って被加工物200を搬送するものである。 The transport unit transports the workpiece 200 between the cassette 151, the chuck table 110, and the spinner table 161 of the cleaning unit 160.

制御ユニット170は、切削装置100の各構成要素をそれぞれ制御して、被加工物200に対する加工動作を切削装置100に実施させるものでもある。なお、制御ユニット170は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット170の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、切削装置100を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介して切削装置100の各構成要素に出力する。 The control unit 170 also controls each of the components of the cutting device 100, causing the cutting device 100 to perform a machining operation on the workpiece 200. The control unit 170 is a computer having an arithmetic processing device having a microprocessor such as a CPU (central processing unit), a storage device having a memory such as a ROM (read only memory) or a RAM (random access memory), and an input/output interface device. The arithmetic processing device of the control unit 170 performs arithmetic processing according to a computer program stored in the storage device, and outputs control signals for controlling the cutting device 100 to each of the components of the cutting device 100 via the input/output interface device.

制御ユニット170は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される図示しない表示ユニットと、オペレータが加工条件などを登録する際に用いる入力ユニットと、報知ユニットとに接続されている。入力ユニットは、表示ユニットに設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。報知ユニットは、音と光の少なくとも一方を発して、オペレータに報知するものである。 The control unit 170 is connected to a display unit (not shown) configured with a liquid crystal display device or the like that displays the status and images of the machining operation, an input unit used by the operator to register machining conditions, and an alarm unit. The input unit is configured with at least one of a touch panel provided on the display unit and an external input device such as a keyboard. The alarm unit emits at least one of sound and light to alert the operator.

また、制御ユニット170は、加工制御部171を備える。加工制御部171は、切削装置100の上述した各構成要素をそれぞれ制御して、被加工物200に対する加工動作を切削装置100の各構成要素に実施させるものである。加工制御部171の機能は、演算処理装置が記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施することにより実現される。 The control unit 170 also includes a machining control section 171. The machining control section 171 controls each of the above-mentioned components of the cutting device 100, and causes each component of the cutting device 100 to perform a machining operation on the workpiece 200. The function of the machining control section 171 is realized by the arithmetic processing device performing arithmetic processing in accordance with a computer program stored in the storage device.

また、切削装置100は、図3に示す一部を示す切削ブレード検出機構1を備える。切削ブレード検出機構1は、切削ブレード121の切れ刃124の状態を検出するものである。なお、本発明では、切削ブレード検出機構1は、切削ブレード121の切れ刃124の状態として、切れ刃124の欠けの有無、切れ刃124の摩耗状態を示す切れ刃124の先端の位置、及び切れ刃124が全周に亘って欠けたか否かを検出する。 The cutting device 100 also includes a cutting blade detection mechanism 1, a portion of which is shown in FIG. 3. The cutting blade detection mechanism 1 detects the state of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. In the present invention, the cutting blade detection mechanism 1 detects the state of the cutting edge 124 of the cutting blade 121, including whether or not the cutting edge 124 is chipped, the position of the tip of the cutting edge 124, which indicates the wear state of the cutting edge 124, and whether or not the cutting edge 124 is chipped along the entire circumference.

(切削ブレード検出機構)
切削ブレード検出機構1は、図3に示すように、機構本体2と、複数の発光手段である発光体10と、複数の受光手段である受光体20とを具備する。機構本体2は、ブレードカバー126に取り付けられて、切削ブレード121の上方に配置されている。機構本体2は、Y軸方向に沿って間隔をあけ、かつそれぞれがZ軸方向に延在しているとともに、互いの間に切削ブレード121の切れ刃124を位置付ける一対の垂直部3と、垂直部3の上端同士を連結した連結部4とを有している。機構本体2は、一対の垂直部3間に切削ブレード121の切れ刃124を侵入させるブレード侵入部5を形成している。即ち、切削ブレード検出機構1は、ブレード侵入部5を具備している。
(Cutting blade detection mechanism)
As shown in Fig. 3, the cutting blade detection mechanism 1 includes a mechanism body 2, a plurality of light emitters 10, and a plurality of light receivers 20. The mechanism body 2 is attached to a blade cover 126 and disposed above the cutting blade 121. The mechanism body 2 includes a pair of vertical parts 3 spaced apart from each other along the Y-axis direction and extending in the Z-axis direction, which position the cutting edge 124 of the cutting blade 121 between them, and a connecting part 4 connecting the upper ends of the vertical parts 3. The mechanism body 2 forms a blade insertion part 5 that allows the cutting edge 124 of the cutting blade 121 to enter between the pair of vertical parts 3. That is, the cutting blade detection mechanism 1 includes the blade insertion part 5.

機構本体2は、ブレードカバー126のねじ孔に螺合した調整ねじ6が連結部4に取り付けられている。機構本体2は、調整ねじ6がオペレータ等に軸心回りに回転されることで、Z軸方向に沿ってブレードカバー126に対して移動されて、ブレードカバー126に対する切削ブレード121の切れ刃124の径方向の位置が調整される。 The mechanism body 2 has an adjustment screw 6 attached to the connecting part 4, which is screwed into a screw hole in the blade cover 126. When the adjustment screw 6 is rotated around its axis by an operator or the like, the mechanism body 2 is moved relative to the blade cover 126 along the Z-axis direction, and the radial position of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 relative to the blade cover 126 is adjusted.

複数の発光体10は、切削ブレード121の回転軸であるY軸方向の一方の側の垂直部3(以下、符号3-1で示す)に配設されている。複数の発光体10は、図3及び図4に示すように、切削ブレード121の切れ刃124の径方向に直列に互いに隣接して配列されている。複数の発光体10は、他方側の垂直部3(以下、符号3-2で示す)に対面し、Z軸方向即ち切削ブレード121の切れ刃124の径方向に沿う直線上に配列されている。発光体10は、図5に示された発光素子11に接続された光ファイバ12の端部であって、発光素子11が発した光13を他方側の垂直部3-2に向けて照射する。なお、発光素子11は、例えば、LED(Light-Emitting Diode)又はLD(Laser Diode)である。 The light emitters 10 are arranged on one side of the vertical portion 3 (hereinafter, indicated by reference numeral 3-1) in the Y-axis direction, which is the axis of rotation of the cutting blade 121. As shown in Figs. 3 and 4, the light emitters 10 are arranged adjacent to each other in series in the radial direction of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. The light emitters 10 face the vertical portion 3 (hereinafter, indicated by reference numeral 3-2) on the other side, and are arranged on a straight line along the Z-axis direction, i.e., the radial direction of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. The light emitters 10 are the ends of the optical fibers 12 connected to the light emitting elements 11 shown in Fig. 5, and irradiate the light 13 emitted by the light emitting elements 11 toward the vertical portion 3-2 on the other side. The light emitting elements 11 are, for example, LEDs (Light-Emitting Diodes) or LDs (Laser Diodes).

複数の受光体20は、切削ブレード121の回転軸であるY軸方向の他方の側の垂直部3-2に配設されている。複数の受光体20は、図3及び図4に示すように、切削ブレード121の切れ刃124の径方向に直列に互いに隣接して他方の側の垂直部3-2に配列されている。複数の受光体20は、他方の側の垂直部3-2に一方側の垂直部3-1に対面して配設され、Z軸方向即ち切削ブレード121の切れ刃124の径方向に沿って直線上に配列されて、複数の発光体10と対向している。 The multiple photoreceptors 20 are arranged on the vertical portion 3-2 on the other side in the Y-axis direction, which is the rotation axis of the cutting blade 121. As shown in Figures 3 and 4, the multiple photoreceptors 20 are arranged on the vertical portion 3-2 on the other side adjacent to each other in series in the radial direction of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. The multiple photoreceptors 20 are arranged on the vertical portion 3-2 on the other side facing the vertical portion 3-1 on one side, and are arranged in a straight line along the Z-axis direction, i.e., the radial direction of the cutting edge 124 of the cutting blade 121, facing the multiple light emitters 10.

受光体20は、それぞれ、発光体10と1対1で対応しており、対応する発光体10と切削ブレード121の回転軸であるY軸方向に沿って対向する。受光体20は、光ファイバ22の端部であって、それぞれ、少なくとも対応する発光体10が照射した光13を受光する。なお、実施形態では、受光体20は、対応する発光体10以外の発光体10からの光13も受光する。実施形態1では、配列された複数のうち端の受光体20が受光する光13の光量は、中央の受光体20が受光する光13の光量よりも少ない。 The light receivers 20 correspond one-to-one to the light emitters 10 and face the corresponding light emitters 10 along the Y-axis direction, which is the rotation axis of the cutting blade 121. The light receivers 20 are the ends of the optical fibers 22, and each receives at least the light 13 emitted by the corresponding light emitter 10. In the embodiment, the light receivers 20 also receive light 13 from light emitters 10 other than the corresponding light emitter 10. In the first embodiment, the amount of light 13 received by the end light receivers 20 among the multiple arranged light receivers 20 is less than the amount of light 13 received by the center light receiver 20.

なお、実施形態1では、発光体10及び受光体20は、それぞれ、各垂直部3-1,3-2に16個配設されている。また、実施形態1では、発光体10及び受光体20は、それぞれ、垂直部3-1,3-2に配設されているので、ブレード侵入部5は、複数の発光体10と、複数の受光体20との間に形成されている。 In the first embodiment, 16 light emitters 10 and 16 light receivers 20 are disposed on each of the vertical sections 3-1 and 3-2. In the first embodiment, the light emitters 10 and the light receivers 20 are disposed on the vertical sections 3-1 and 3-2, respectively, so that the blade entry section 5 is formed between the multiple light emitters 10 and the multiple light receivers 20.

また、切削ブレード検出機構1は、図5に示すように、光電変換器30と、アンプ40と、制御手段である制御ユニット170を備えている。このように、実施形態1では、制御ユニット170は、切削装置100全体の加工動作を制御するとともに、切削ブレード検出機構1を構成する。しかしながら、本発明では、切削ブレード検出機構1を構成する制御手段を、切削装置100全体の加工動作を制御する制御ユニット170と別に設けても良い。 As shown in FIG. 5, the cutting blade detection mechanism 1 includes a photoelectric converter 30, an amplifier 40, and a control unit 170, which is a control means. In this manner, in the first embodiment, the control unit 170 controls the machining operations of the entire cutting device 100 and also constitutes the cutting blade detection mechanism 1. However, in the present invention, the control means constituting the cutting blade detection mechanism 1 may be provided separately from the control unit 170, which controls the machining operations of the entire cutting device 100.

光電変換器30は、複数の受光体20がそれぞれ受光した光13を光13の光量に対応した電圧値の信号31に変換するものである。実施形態1では、光電変換器30は、受光体20と1対1で対応して、複数設けられている。光電変換器30は、端部が受光体20である光ファイバ22の他端部に接続して、対応した受光体20と接続している。即ち、実施形態1では、光電変換器30は、発光体10と同数設けられている。光電変換器30は、対応した受光体20が受光した光13が光ファイバ22により伝達され、対応した受光体20が受光した光13を光量に対応した電圧値の信号31に変換し、変換した信号31をアンプ40に向けて出力する。 The photoelectric converter 30 converts the light 13 received by each of the multiple photoreceptors 20 into a signal 31 with a voltage value corresponding to the amount of light 13. In the first embodiment, a plurality of photoelectric converters 30 are provided in one-to-one correspondence with the photoreceptors 20. The photoelectric converter 30 is connected to the other end of the optical fiber 22, the end of which is the photoreceptor 20, and is connected to the corresponding photoreceptor 20. That is, in the first embodiment, the same number of photoelectric converters 30 as the light emitters 10 are provided. The photoelectric converter 30 converts the light 13 received by the corresponding photoreceptor 20, which is transmitted by the optical fiber 22, into a signal 31 with a voltage value corresponding to the amount of light, and outputs the converted signal 31 to the amplifier 40.

アンプ40は、光電変換器30から出力された信号31の電圧値を調整するものである。アンプ40は、受光体20及び光電変換器30と1対1で対応して、複数設けられている。即ち、実施形態1では、アンプ40は、発光体10、受光体20及び光電変換器30と同数設けられている。アンプ40は、対応した光電変換器30から出力された信号31の電圧値を調整し、調整後の信号41を制御ユニット170の透過率算出部174に向けて出力する。 The amplifier 40 adjusts the voltage value of the signal 31 output from the photoelectric converter 30. A plurality of amplifiers 40 are provided in one-to-one correspondence with the photoreceptors 20 and photoelectric converters 30. That is, in the first embodiment, the same number of amplifiers 40 as the light emitters 10, photoreceptors 20, and photoelectric converters 30 are provided. The amplifiers 40 adjust the voltage value of the signal 31 output from the corresponding photoelectric converter 30, and output the adjusted signal 41 to the transmittance calculation unit 174 of the control unit 170.

なお、実施形態1において、光電変換器30及びアンプ40の機能は、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサー、又は並列プログラム化したプロセッサー等の専用の処理回路(ハードウェア)により実現される。 In addition, in the first embodiment, the functions of the photoelectric converter 30 and the amplifier 40 are realized by a dedicated processing circuit (hardware), such as a single circuit, a composite circuit, a programmed processor, or a parallel programmed processor.

また、実施形態1において、切削ブレード検出機構1を構成する制御ユニット170は、図5に示すように、高電圧値特定部172と、アンプ調整部173と、透過率算出部174とを備える。 In addition, in embodiment 1, the control unit 170 constituting the cutting blade detection mechanism 1 includes a high voltage value identification unit 172, an amplifier adjustment unit 173, and a transmittance calculation unit 174, as shown in FIG. 5.

高電圧値特定部172は、ブレード侵入部5内に切削ブレード121の切れ刃124が無い状態で、光電変換器30から出力された信号31それぞれの電圧値の中から最も高い電圧値を特定するものである。高電圧値特定部172は、ブレード侵入部5外に切削ブレード121の切れ刃124が位置した状態で、光電変換器30から出力された信号31の電圧値の中から最も高い電圧値を特定する。 The high voltage value identification unit 172 identifies the highest voltage value among the voltage values of the signals 31 output from the photoelectric converter 30 when the cutting edge 124 of the cutting blade 121 is not present within the blade entry portion 5. The high voltage value identification unit 172 identifies the highest voltage value among the voltage values of the signals 31 output from the photoelectric converter 30 when the cutting edge 124 of the cutting blade 121 is located outside the blade entry portion 5.

アンプ調整部173は、信号41それぞれの電圧値が高電圧値特定部172により特定された最も高い電圧値に基づいて均一となるようにアンプ40を調整するものである。アンプ調整部は、電圧値の調整後の信号41の電圧値が、高電圧値特定部172により特定された最も高い電圧値となるように、アンプ40を制御するもの、即ち、アンプ40に高電圧値特定部172により特定された最も高い電圧値に各信号41の電圧値を調整させるものである。 The amplifier adjustment unit 173 adjusts the amplifier 40 so that the voltage values of the signals 41 are uniform based on the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172. The amplifier adjustment unit controls the amplifier 40 so that the voltage value of the signal 41 after the voltage value adjustment becomes the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172, that is, the amplifier 40 adjusts the voltage value of each signal 41 to the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172.

透過率算出部174は、全てのアンプ40から出力された信号41の電圧値を合算して、合算した電圧値に基づいて、受光体20が受光した光13の透過率を算出し、切削ブレード121の切れ刃124の状態を検出するものである。なお、透過率とは、全ての受光体20が光13を受光した場合を100パーセントとし、全ての受光体20が光13を受光しない場合0パーセントとした値、即ち、複数の発光体10が照射した光13がブレード侵入部5を透過した割合を示す値である。要するに、透過率は、ブレード侵入部5に侵入した切削ブレード121の切れ刃124が摩耗するにしたがって増加し、ブレード侵入部5に侵入した切削ブレード121の切れ刃124の一部が欠けると周期的に増加する値である。 The transmittance calculation unit 174 sums up the voltage values of the signals 41 output from all the amplifiers 40, calculates the transmittance of the light 13 received by the light receivers 20 based on the summed voltage value, and detects the state of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. The transmittance is a value that is set to 100 percent when all the light receivers 20 receive the light 13, and 0 percent when none of the light receivers 20 receive the light 13, that is, a value that indicates the proportion of the light 13 irradiated by the multiple light emitters 10 that is transmitted through the blade entry portion 5. In short, the transmittance is a value that increases as the cutting edge 124 of the cutting blade 121 that has entered the blade entry portion 5 wears, and periodically increases when part of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 that has entered the blade entry portion 5 is chipped.

なお、高電圧値特定部172、アンプ調整部173及び透過率算出部174の機能は、演算処理装置が記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施することにより実現される。 The functions of the high voltage value determination unit 172, the amplifier adjustment unit 173, and the transmittance calculation unit 174 are realized by the calculation processing unit performing calculation processing in accordance with a computer program stored in the storage device.

前述した構成の切削装置100は、工場出荷時、定期メンテナンス時等において、以下に示すように、切削ブレード検出機構1の各アンプ40が出力する信号41の電圧値が調整される。電圧値の調整時には、切削装置100は、切削ブレード121がスピンドル123に装着されることなく、複数の発光体10から複数の受光体20に向けて光13を照射する。切削装置100は、各光電変換器30が各受光体20が受光した発光体10からの光13を信号31に変換して、変換した信号31をアンプ40に出力する。 When the cutting device 100 having the above-mentioned configuration is shipped from the factory, or during regular maintenance, the voltage value of the signal 41 output by each amplifier 40 of the cutting blade detection mechanism 1 is adjusted as shown below. When adjusting the voltage value, the cutting device 100 irradiates light 13 from the multiple light emitters 10 toward the multiple light receivers 20 without the cutting blade 121 being attached to the spindle 123. In the cutting device 100, each photoelectric converter 30 converts the light 13 from the light emitters 10 received by each light receiver 20 into a signal 31, and outputs the converted signal 31 to the amplifier 40.

なお、実施形態1では、光電変換器30は、例えば、複数の受光体20のうち両端に位置する受光体20(以下、符号20-1で示す)が受光した光13を電圧値が10mVの信号31に変換して、アンプ40に出力する。また、実施形態1では、光電変換器30は、例えば、複数の受光体20のうち受光体20-1の隣りの受光体20(以下、符号20-2で示す)が受光した光13を電圧値が12mVの信号31に変換して、アンプ40に出力する。実施形態1では、光電変換器30は、例えば、残りの受光体20が受光した光13を電圧値が13mVの信号31に変換して、アンプ40に出力する。 In the first embodiment, the photoelectric converter 30 converts the light 13 received by the photoreceptors 20 (hereinafter, denoted by reference numeral 20-1) located at both ends of the multiple photoreceptors 20, for example, into a signal 31 having a voltage value of 10 mV, and outputs the signal to the amplifier 40. In the first embodiment, the photoelectric converter 30 converts the light 13 received by the photoreceptor 20 (hereinafter, denoted by reference numeral 20-2) adjacent to the photoreceptor 20-1, for example, into a signal 31 having a voltage value of 12 mV, and outputs the signal to the amplifier 40. In the first embodiment, the photoelectric converter 30 converts the light 13 received by the remaining photoreceptors 20, for example, into a signal 31 having a voltage value of 13 mV, and outputs the signal to the amplifier 40.

すると、切削装置100は、高電圧値特定部172が光電変換器30が変換した信号31の電圧値のうち最も高い電圧値を特定する。実施形態1では、高電圧値特定部172は、最も高い電圧値が13mVであると特定する。 Then, in the cutting device 100, the high voltage value identification unit 172 identifies the highest voltage value among the voltage values of the signal 31 converted by the photoelectric converter 30. In the first embodiment, the high voltage value identification unit 172 identifies the highest voltage value as 13 mV.

切削装置100は、アンプ調整部173がアンプ40が出力する全ての信号41の電圧値を高電圧値特定部172が特定した最も高い電圧値に調整する。実施形態1では、アンプ調整部173は、アンプ40が出力する全ての信号41の電圧値を13mVに調整する。こうして、切削装置100は、切削ブレード検出機構1のアンプ40が出力する信号41の電圧値が調整される。 In the cutting device 100, the amplifier adjustment unit 173 adjusts the voltage values of all signals 41 output by the amplifier 40 to the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172. In the first embodiment, the amplifier adjustment unit 173 adjusts the voltage values of all signals 41 output by the amplifier 40 to 13 mV. In this way, the cutting device 100 adjusts the voltage values of the signals 41 output by the amplifier 40 of the cutting blade detection mechanism 1.

また、切削装置100は、加工制御部171が切削装置100の上述した各構成要素をそれぞれ制御して、チャックテーブル110に保持した被加工物200を切削水を供給しながら切削ブレード121で切削する加工動作中に、切削ブレード検出機構1の複数の発光体10が複数の受光体20に向けて光13を照射して、透過率算出部174が、切削ブレード121の切れ刃124の状態を検出する。例えば、切削装置100は、切削ブレード121の切れ刃124の一部又は全体が欠けたことを切削ブレード検出機構1が検出すると、制御ユニット170の加工制御部171が加工動作を停止し、報知ユニットを動作させて、オペレータに報知する。 In addition, in the cutting device 100, the processing control unit 171 controls each of the above-mentioned components of the cutting device 100, and during the processing operation in which the workpiece 200 held on the chuck table 110 is cut with the cutting blade 121 while supplying cutting water, the multiple light emitters 10 of the cutting blade detection mechanism 1 irradiate light 13 toward the multiple light receivers 20, and the transmittance calculation unit 174 detects the state of the cutting edge 124 of the cutting blade 121. For example, in the cutting device 100, when the cutting blade detection mechanism 1 detects that a part or the entire cutting edge 124 of the cutting blade 121 is chipped, the processing control unit 171 of the control unit 170 stops the processing operation and operates the notification unit to notify the operator.

以上説明したように、実施形態1に係る切削ブレード検出機構1は、高電圧値特定部172が光電変換器30が変換した信号31の電圧値のうち最も高い電圧値を特定し、アンプ調整部173がアンプ40が出力する全ての信号41の電圧値を高電圧値特定部172が特定した最も高い電圧値に調整する。このように、実施形態1に係る切削ブレード検出機構1は、アンプ調整部173がそれぞれの信号41の電圧値が高電圧値特定部172により特定された最も高い電圧値に基づいて均一となるようにアンプ40を調整して、透過率算出部174に入力される信号41の電圧値の均一化を図ることとなるので、透過率算出部174に入力した全ての信号41の電圧値を合計した値が、ブレード侵入部42内の切削ブレード121の切れ刃124の先端の位置に応じた値に近づけることができる。 As described above, in the cutting blade detection mechanism 1 according to the first embodiment, the high voltage value identification unit 172 identifies the highest voltage value among the voltage values of the signal 31 converted by the photoelectric converter 30, and the amplifier adjustment unit 173 adjusts the voltage values of all the signals 41 output by the amplifier 40 to the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172. In this way, in the cutting blade detection mechanism 1 according to the first embodiment, the amplifier adjustment unit 173 adjusts the amplifier 40 so that the voltage values of the signals 41 are uniform based on the highest voltage value identified by the high voltage value identification unit 172, and the voltage values of the signals 41 input to the transmittance calculation unit 174 are uniformed, so that the total value of the voltage values of all the signals 41 input to the transmittance calculation unit 174 can be brought close to a value corresponding to the position of the tip of the cutting edge 124 of the cutting blade 121 in the blade insertion portion 42.

その結果、実施形態1に係る切削ブレード検出機構1は、複数の受光体20毎の受光した光13の光量のバラつきの影響を低減して、高精度で切削ブレード121の検出が可能になるという効果即ち切削ブレード121の切れ刃124の状態の検出精度の低下を抑制することができるという効果を奏する。 As a result, the cutting blade detection mechanism 1 according to the first embodiment reduces the effect of variations in the amount of light 13 received by each of the multiple light receivers 20, enabling detection of the cutting blade 121 with high accuracy, i.e., suppressing a decrease in the detection accuracy of the state of the cutting edge 124 of the cutting blade 121.

なお、本発明は、上記実施形態等に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment. In other words, the present invention can be modified in various ways without departing from the gist of the invention.

1 切削ブレード検出機構
5 ブレード侵入部
10 発光体(発光手段)
13 光
20 受光体(受光手段)
30 光電変換器
40 アンプ
100 切削装置
110 チャックテーブル
121 切削ブレード
124 切れ刃
170 制御ユニット(制御手段)
172 高電圧値特定部
173 アンプ調整部
200 被加工物
1 Cutting blade detection mechanism 5 Blade entry part 10 Light emitter (light emitting means)
13 Light 20 Light receiver (light receiving means)
30 Photoelectric converter 40 Amplifier 100 Cutting device 110 Chuck table 121 Cutting blade 124 Cutting edge 170 Control unit (control means)
172 High voltage value specifying unit 173 Amplifier adjustment unit 200 Workpiece

Claims (1)

被加工物を保持するチャックテーブルに保持された被加工物を切削する環状の切れ刃を備えた切削ブレードの回転軸方向の一方の側に該切削ブレードの径方向に直列に互いに隣接して配列された複数の発光手段と、切削ブレードの回転軸方向の他方の側に該複数の発光手段と対向して配設され該発光手段によって照射された光を受光する複数の受光手段と、該複数の発光手段及び該複数の受光手段との間に形成されたブレード侵入部と、該複数の受光手段がそれぞれ受光した光を光量に対応した電圧値に変換する光電変換器と、を具備する切削装置の切削ブレード検出機構であって、
該光電変換器から出力された電圧値を調整するアンプと、
制御手段と、を有し、
該制御手段は、
該ブレード侵入部内に該切削ブレードが無い状態で該光電変換器から出力されたそれぞれの電圧値の中から最も高い電圧値を特定する高電圧値特定部と、
該それぞれの電圧値が該高電圧値特定部により特定された最も高い電圧値に基づいて均一となるように該アンプを調整するアンプ調整部と、
を、備え、該複数の受光手段毎の受光量によるバラつきの影響を低減し、高精度で切削ブレードの検出が可能な切削ブレード検出機構。
A cutting blade detection mechanism for a cutting machine, comprising: a plurality of light emitting means arranged adjacent to each other in series in a radial direction of a cutting blade on one side in a rotation axis direction of the cutting blade, the cutting blade having an annular cutting edge for cutting a workpiece held on a chuck table that holds the workpiece; a plurality of light receiving means arranged opposite to the plurality of light emitting means on the other side in the rotation axis direction of the cutting blade and receiving light irradiated by the light emitting means; a blade entry portion formed between the plurality of light emitting means and the plurality of light receiving means; and a photoelectric converter that converts light respectively received by the plurality of light receiving means into a voltage value corresponding to an amount of light,
an amplifier that adjusts the voltage value output from the photoelectric converter;
A control means,
The control means
a high voltage value identifying unit that identifies the highest voltage value from among the voltage values output from the photoelectric converter when the cutting blade is not present within the blade entry portion;
an amplifier adjustment unit that adjusts the amplifier so that the respective voltage values are uniform based on the highest voltage value specified by the high voltage value specifying unit;
A cutting blade detection mechanism that is equipped with the above-mentioned and that reduces the influence of variations in the amount of light received by each of the multiple light receiving means and is capable of detecting the cutting blade with high accuracy.
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