JP2023032759A - 描画システム、描画方法およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マッチング位置決定部は、仮マッチング位置95aに対応するテンプレートと同じ大きさの仮テンプレート領域951aを設定し、仮テンプレート領域951aを中心として撮像部の撮像視野よりも大きいチェック領域952aを設定する。マッチング位置決定部は、また、チェック領域952a中において仮テンプレート領域951aと同一のパターンを示す重複領域の存否を確認する。そして、チェック領域952a中に重複領域が存在する場合、マッチング位置決定部は、仮マッチング位置95aを所定の方向へ移動させて仮テンプレート領域951aおよびチェック領域952aを再設定して重複領域の存否を確認することを繰り返す。一方、チェック領域952a中に重複領域が存在しない場合、マッチング位置決定部は、仮マッチング位置95aをマッチング位置として決定する。
【選択図】図16
Description
3 撮像部
5 描画システム
6 データ処理装置
9 基板
21 ステージ
22 ステージ移動機構
41 描画ヘッド
90 (基板の)上面
94 部分描画領域
95 マッチング位置
95a 仮マッチング位置
96 抽出領域
97 テンプレート
109,609 当該プログラム
111 記憶部
113 位置検出部
114 描画制御部
115 データ生成部
612 初期設定部
613 マッチング位置決定部
614 情報作成部
950a 仮マッチング位置列
951a 仮テンプレート領域
952a チェック領域
S11~S16,S21~S29,S121~S122 ステップ
Claims (11)
- 描画システムであって、
基板に光を照射してパターンの描画を行う描画装置と、
テンプレート生成情報を作成して前記描画装置に送るデータ処理装置と、
を備え、
前記描画装置は、
上面上に第1パターンが予め設けられている前記基板を保持するステージと、
前記基板の前記上面に変調された光を照射する描画ヘッドと、
前記基板の前記上面に平行な走査方向に、前記ステージを前記描画ヘッドに対して相対的に移動する走査機構と、
前記第1パターンの一部を撮像する撮像部と、
前記撮像部により取得された撮像画像に対してテンプレートを用いたパターンマッチングを行うことにより前記基板の位置を検出する位置検出部と、
前記第1パターン上に描画される第2パターンのCADデータである第2CADデータを記憶する記憶部と、
前記第2CADデータをラスタライズして第2ラスタデータを生成するデータ生成部と、
前記第2ラスタデータおよび前記位置検出部により検出された前記基板の位置に基づいて前記描画ヘッドおよび前記走査機構を制御することにより、前記描画ヘッドに対して前記走査方向に相対移動する前記基板への前記第2パターンの描画を実行させる描画制御部と、
を備え、
前記記憶部は、前記第1パターン上において前記位置検出部によるパターンマッチングが行われるマッチング位置を示す座標を含む前記テンプレート生成情報をさらに記憶し、
前記データ生成部は、前記第1パターンのCADデータをラスタライズして中間データを作成し、前記中間データから、前記マッチング位置に対応する所定の大きさの領域の画像データを前記テンプレートとして生成し、
前記データ処理装置は、
前記第1パターン上において仮マッチング位置を設定する初期設定部と、
前記仮マッチング位置に対応する前記テンプレートと同じ大きさの仮テンプレート領域を設定し、前記仮テンプレート領域を中心として前記撮像部の撮像視野よりも大きいチェック領域を設定し、前記チェック領域中において前記仮テンプレート領域と同一のパターンを示す重複領域の存否を確認し、前記重複領域が存在する場合、前記仮マッチング位置を所定の方向へ移動させて前記仮テンプレート領域および前記チェック領域を再設定して前記重複領域の存否を確認することを繰り返し、前記重複領域が存在しない場合、前記仮マッチング位置を前記マッチング位置として決定するマッチング位置決定部と、
前記マッチング位置決定部により決定された前記マッチング位置を示す座標を含む前記テンプレート生成情報を作成する情報作成部と、
を備えることを特徴とする描画システム。 - 請求項1に記載の描画システムであって、
前記重複領域が存在する場合における前記マッチング位置決定部による前記仮マッチング位置の移動方向は、前記走査方向であることを特徴とする描画システム。 - 請求項1または2に記載の描画システムであって、
前記初期設定部により、それぞれが前記走査方向に並ぶ仮マッチング位置の集合である複数の仮マッチング位置列が、前記走査方向に垂直な幅方向に等間隔にて並ぶ仮マッチング位置群が設定され、前記複数の仮マッチング位置列の前記幅方向におけるピッチが所定値以下とされることを特徴とする描画システム。 - 請求項1または2に記載の描画システムであって、
前記初期設定部により、それぞれが前記走査方向に並ぶ仮マッチング位置の集合である複数の仮マッチング位置列が、前記走査方向に垂直な幅方向に等間隔にて並ぶ仮マッチング位置群が設定され、前記複数の仮マッチング位置列の数が所定数とされることを特徴とする描画システム。 - 請求項1ないし4のいずれか1つに記載の描画システムであって、
前記基板の前記上面には、前記走査方向および前記走査方向に垂直な幅方向にマトリクス状に配列されるとともにそれぞれに同一のパターンが描画される複数の部分描画領域が設定されており、
前記初期設定部は、前記複数の部分描画領域のうち一の部分描画領域に仮マッチング位置を設定し、
前記マッチング位置決定部は、前記仮マッチング位置に基づいて前記一の部分描画領域内におけるマッチング位置を決定し、前記複数の部分描画領域のうち他の部分描画領域において、前記他の部分描画領域に対する相対位置が、前記一の部分描画領域に対する前記マッチング位置の相対位置と同じになるように、マッチング位置を決定することを特徴とする描画システム。 - 請求項1ないし4のいずれか1つに記載の描画システムであって、
前記基板の前記上面には、前記走査方向および前記走査方向に垂直な幅方向にマトリクス状に配列される複数の部分描画領域が設定されており、
前記複数の部分描画領域のうち前記走査方向の最も一方側かつ前記幅方向の最も一方側の部分描画領域では、前記仮マッチング位置は、前記走査方向の前記一方側かつ前記幅方向の前記一方側の角部に隣接して配置され、
前記複数の部分描画領域のうち前記走査方向の最も前記一方側かつ前記幅方向の最も他方側の部分描画領域では、前記仮マッチング位置は、前記走査方向の前記一方側かつ前記幅方向の前記他方側の角部に隣接して配置され、
前記複数の部分描画領域のうち前記走査方向の最も他方側かつ前記幅方向の最も前記一方側の部分描画領域では、前記仮マッチング位置は、前記走査方向の前記他方側かつ前記幅方向の前記一方側の角部に隣接して配置され、
前記複数の部分描画領域のうち前記走査方向の最も前記他方側かつ前記幅方向の最も前記他方側の部分描画領域では、前記仮マッチング位置は、前記走査方向の前記他方側かつ前記幅方向の前記他方側の角部に隣接して配置されることを特徴とする描画システム。 - 請求項1ないし6のいずれか1つに記載の描画システムであって、
前記データ処理装置は、前記第1パターンのうち前記マッチング位置を含む所定の領域に対応するCADデータである部分データをクリッピングして前記描画装置に送り、
前記描画装置の前記データ生成部では、前記部分データのみがラスタライズされて前記中間データが作成されることを特徴とする描画システム。 - 請求項7に記載の描画システムであって、
前記基板の前記上面には、前記走査方向および前記走査方向に垂直な幅方向にマトリクス状に配列される複数の部分描画領域が設定されており、
前記部分データは、前記マッチング位置を含む部分描画領域に対応することを特徴とする描画システム。 - 請求項1ないし8のいずれか1つに記載の描画システムであって、
前記テンプレート生成情報は、設計者により決定された他のマッチング位置を示す座標をさらに含むことを特徴とする描画システム。 - 基板に光を照射してパターンの描画を行う描画方法であって、
a)上面上に第1パターンが予め設けられている基板を保持する工程と、
b)前記基板の位置検出に用いられるテンプレートを生成する工程と、
c)前記第1パターンの一部を撮像する工程と、
d)前記c)工程において取得された撮像画像に対して前記テンプレートを用いたパターンマッチングを行うことにより前記基板の位置を検出する工程と、
e)前記第1パターン上に描画される第2パターンのCADデータである第2CADデータをラスタライズして第2ラスタデータを生成する工程と、
f)前記第2ラスタデータおよび前記d)工程にて検出された前記基板の位置に基づいて、前記基板の前記上面に変調された光を照射する描画ヘッドと、前記基板の前記上面に平行な走査方向に前記基板を前記描画ヘッドに対して相対的に移動する走査機構と、を制御することにより、前記描画ヘッドに対して前記走査方向に相対移動する前記基板への前記第2パターンの描画を実行させる工程と、
を備え、
前記b)工程は、
b1)前記第1パターン上において前記パターンマッチングが行われるマッチング位置を示す座標を含むテンプレート生成情報を準備する工程と、
b2)前記第1パターンのCADデータをラスタライズして中間データを作成し、前記中間データから、前記マッチング位置に対応する所定の大きさの領域の画像データを前記テンプレートとして生成する工程と、
を備え、
前記b1)工程は、
b3)前記第1パターン上において仮マッチング位置を設定する工程と、
b4)前記仮マッチング位置に対応する前記テンプレートと同じ大きさの仮テンプレート領域を設定し、前記仮テンプレート領域を中心として前記c)工程における撮像視野よりも大きいチェック領域を設定し、前記チェック領域中において前記仮テンプレート領域と同一のパターンを示す重複領域の存否を確認し、前記重複領域が存在する場合、前記仮マッチング位置を所定の方向へ移動させて前記仮テンプレート領域および前記チェック領域を再設定して前記重複領域の存否を確認することを繰り返し、前記重複領域が存在しない場合、前記仮マッチング位置を前記マッチング位置として決定する工程と、
b5)前記b4)工程にて決定された前記マッチング位置を示す座標を含む前記テンプレート生成情報を作成する工程と、
を備えることを特徴とする描画方法。 - 基板に光を照射してパターンの描画を行う描画システムにおいて実行されるプログラムであって、
前記描画システムは、
基板に光を照射してパターンの描画を行う描画装置と、
テンプレート生成情報を作成して前記描画装置に送るデータ処理装置と、
を備え、
前記描画装置は、
上面上に第1パターンが予め設けられている基板を保持するステージと、
前記基板の前記上面に変調された光を照射する描画ヘッドと、
前記基板の前記上面に平行な走査方向に、前記ステージを前記描画ヘッドに対して相対的に移動する走査機構と、
前記第1パターンの一部を撮像する撮像部と、
前記撮像部により取得された撮像画像に対してテンプレートを用いたパターンマッチングを行うことにより前記基板の位置を検出する位置検出部と、
前記第1パターン上に描画される第2パターンのCADデータである第2CADデータを記憶する記憶部と、
前記第2CADデータをラスタライズして第2ラスタデータを生成するデータ生成部と、
前記第2ラスタデータおよび前記位置検出部により検出された前記基板の位置に基づいて前記描画ヘッドおよび前記走査機構を制御することにより、前記描画ヘッドに対して前記走査方向に相対移動する前記基板への前記第2パターンの描画を実行させる描画制御部と、
を備え、
前記プログラムがコンピュータによって実行されることにより、
g)前記第1パターン上において仮マッチング位置を設定する工程と、
h)前記仮マッチング位置に対応する前記テンプレートと同じ大きさの仮テンプレート領域を設定し、前記仮テンプレート領域を中心として前記撮像部の撮像視野よりも大きいチェック領域を設定し、前記チェック領域中において前記仮テンプレート領域と同一のパターンを示す重複領域の存否を確認し、前記重複領域が存在する場合、前記仮マッチング位置を所定の方向へ移動させて前記仮テンプレート領域および前記チェック領域を再設定して前記重複領域の存否を確認することを繰り返し、前記重複領域が存在しない場合、前記仮マッチング位置を前記マッチング位置として決定する工程と、
i)前記h)工程にて決定された前記マッチング位置を示す座標を含む前記テンプレート生成情報を作成する工程と、
が前記データ処理装置において実行され、
j)前記第1パターンのCADデータをラスタライズして中間データを作成し、前記中間データから、前記マッチング位置に対応する所定の大きさの領域の画像データを前記テンプレートとして生成する工程が、前記描画装置の前記データ生成部において実行されることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021139064A JP7701216B2 (ja) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 描画システム、描画方法およびプログラム |
| TW111122108A TWI819658B (zh) | 2021-08-27 | 2022-06-15 | 描繪系統、描繪方法以及記錄有程式的程式產品 |
| CN202210758432.3A CN115734479B (zh) | 2021-08-27 | 2022-06-29 | 绘制系统、绘制方法以及记录有程序的存储介质 |
| KR1020220084632A KR102696053B1 (ko) | 2021-08-27 | 2022-07-08 | 묘화 시스템, 묘화 방법, 및 기억 매체에 기록된 프로그램 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021139064A JP7701216B2 (ja) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 描画システム、描画方法およびプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023032759A true JP2023032759A (ja) | 2023-03-09 |
| JP7701216B2 JP7701216B2 (ja) | 2025-07-01 |
Family
ID=85292639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021139064A Active JP7701216B2 (ja) | 2021-08-27 | 2021-08-27 | 描画システム、描画方法およびプログラム |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7701216B2 (ja) |
| KR (1) | KR102696053B1 (ja) |
| CN (1) | CN115734479B (ja) |
| TW (1) | TWI819658B (ja) |
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- 2022-06-29 CN CN202210758432.3A patent/CN115734479B/zh active Active
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| KR20230031775A (ko) | 2023-03-07 |
| JP7701216B2 (ja) | 2025-07-01 |
| CN115734479B (zh) | 2026-02-10 |
| KR102696053B1 (ko) | 2024-08-16 |
| TWI819658B (zh) | 2023-10-21 |
| CN115734479A (zh) | 2023-03-03 |
| TW202323997A (zh) | 2023-06-16 |
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| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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