JP2020178018A - シリコンウェーハのエッチング方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記スピンエッチング工程において、前記酸エッチング液に含まれるSi溶解量に応じて前記シリコンウェーハの回転数を変えて酸エッチングを行うことを特徴とするシリコンウェーハのエッチング方法を提供する。
前記連続加工中に、前記スピンエッチング工程において使用した前記酸エッチング液を回収し、前記酸エッチング液を保存するエッチング液タンクに戻して再び酸エッチング液として使用することが好ましい。
前記スピンエッチング工程において、前記酸エッチング液に含まれるSi溶解量に応じて前記シリコンウェーハの回転数を変えて酸エッチングを行うことを特徴とするシリコンウェーハのエッチング方法である。
図2に示したエッチング装置を用いて、シリコンウェーハのエッチング加工を行った。このとき、異なるSi溶解量の酸エッチング液を用いて、シリコンウェーハを低回転数、具体的には回転数300rpmと回転数800rpm、および、高回転数、具体的には回転数1800rpmと回転数2500rpmで加工した。図1に、シリコンウェーハの回転数を変更した際の、Si溶解量による平坦度の変化を示す。ここでいう平坦度は、シリコンウェーハ面内の取代P−V(Peak−Valley)を示す。このときの酸エッチング液は弗酸と硝酸の混合液を用い(質量%で、弗酸4%、硝酸47%であり、100%に満たない残部は水である。)、エッチング液量2.5L/m、酸エッチング液温24℃で加工した。
1…シリコンウェーハ、 2…真空吸着ステージ、
3…供給ノズル、 4…供給ノズルの運動方向、 5…液滴、
6…エッチング液タンク、 7…給水源、 8…酸エッチング液、
9…水、 10…真空源、 11…エッチング加工部、
12…エッチング液供給部、 13…送液ポンプ、
14…エッチング液回収機構、 15…Si溶解量を測定する機構。
Claims (3)
- シリコンウェーハの表面及び/又は裏面に供給ノズルを通して酸エッチング液を供給しながら、前記シリコンウェーハを回転させることで、前記酸エッチング液の供給範囲を前記シリコンウェーハの表面及び/又は裏面の全面に拡大して酸エッチングを行うスピンエッチング工程を含むシリコンウェーハのエッチング方法であって、
前記スピンエッチング工程において、前記酸エッチング液に含まれるSi溶解量に応じて前記シリコンウェーハの回転数を変えて酸エッチングを行うことを特徴とするシリコンウェーハのエッチング方法。 - 前記スピンエッチング工程を繰り返し行うことで、複数のシリコンウェーハの連続加工を行い、
前記連続加工中に、前記スピンエッチング工程において使用した前記酸エッチング液を回収し、前記酸エッチング液を保存するエッチング液タンクに戻して再び酸エッチング液として使用することを特徴とする請求項1に記載のシリコンウェーハのエッチング方法。 - 前記酸エッチング液として、弗酸、硝酸を含む混合液、又は、これに酢酸、燐酸、硫酸のうち少なくともいずれか一つを加えた混合液を用いることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のシリコンウェーハのエッチング方法。
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| JP2016515300A (ja) * | 2013-02-28 | 2016-05-26 | ビーコ プリジション サーフェイス プロセシング エルエルシー | ウェットエッチングプロセスを実行するためのシステムおよび方法 |
| JP2015070080A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | 東京エレクトロン株式会社 | エッチング方法、エッチング装置および記憶媒体 |
| JP2016042503A (ja) * | 2014-08-14 | 2016-03-31 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法 |
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