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JP2020080398A - Package structure - Google Patents

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JP2020080398A
JP2020080398A JP2019100507A JP2019100507A JP2020080398A JP 2020080398 A JP2020080398 A JP 2020080398A JP 2019100507 A JP2019100507 A JP 2019100507A JP 2019100507 A JP2019100507 A JP 2019100507A JP 2020080398 A JP2020080398 A JP 2020080398A
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Abstract

【課題】電子機器の限定された空間内にＰＣＢを効率的に配置、装着するパッケージ構造物を提供する。【解決手段】パッケージ構造物は、インターポーザＩＰで上下結合した第１基板１００及び第２基板２００と、第１基板の第２基板に向かい合う一面に実装された第１素子１１０と、第１基板の一面に、第１素子から離隔して付着される補強材３００と、補強材の向かい側に位置するように、第２基板の一面に実装される第２素子２１０と、を含む。【選択図】図１PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a package structure for efficiently arranging and mounting a PCB in a limited space of an electronic device. SOLUTION: The package structure is composed of a first substrate 100 and a second substrate 200 which are vertically coupled by an interposer IP, a first element 110 mounted on one surface of the first substrate facing the second substrate, and a first substrate. One surface includes a reinforcing material 300 that is separated from the first element and adhered, and a second element 210 that is mounted on one surface of the second substrate so as to be located on the opposite side of the reinforcing material. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、パッケージ構造物（Ｐａｃｋａｇｅ Ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ）に関する。   The present invention relates to a package structure.

各種電子機器の使用が爆発的に増加するとともにデジタル技術及び半導体技術等の発達により、精密かつ複雑な電子機器の応用分野が広範囲になっている。電子機器の内部部品の密集度が高くなることにより、個々の部品（ａｃｔｉｖｅ、ｐａｓｓｉｖｅ）を接続させるために必要なＰＣＢの面積が大きくなっている。一方、バッテリーの大きさは大きくなる傾向にあり、このため、電子機器の限定された空間内にＰＣＢを効率的に配置、装着する必要がある。   With the explosive increase in the use of various electronic devices and the development of digital technology and semiconductor technology, the application fields of precision and complicated electronic devices have become widespread. As the density of internal parts of electronic devices increases, the area of the PCB required for connecting individual parts (active, passive) increases. On the other hand, the size of the battery tends to increase, and thus it is necessary to efficiently arrange and mount the PCB in the limited space of the electronic device.

韓国登録特許第１０−１３２４５９５号公報Korean Patent Registration No. 10-1324595

本発明の一側面によれば、インターポーザで上下に結合された第１基板及び第２基板と、上記第１基板の上記第２基板と向かい合う一面に実装された第１素子と、上記第１基板の上記一面に上記第１素子から離隔して付着される補強材と、上記補強材の向かい側に位置するように、上記第２基板の一面に実装される第２素子と、を含むパッケージ構造物が提供される。   According to one aspect of the present invention, a first substrate and a second substrate that are vertically coupled by an interposer, a first element mounted on one surface of the first substrate facing the second substrate, and the first substrate. A package structure including a reinforcing material that is attached to the one surface of the second substrate so as to be spaced apart from the first element, and a second element that is mounted on one surface of the second substrate so as to be located opposite to the reinforcing material. Will be provided.

本発明の一実施例に係るパッケージ構造物を示す図である。It is a figure which shows the package structure which concerns on one Example of this invention. 図１の一部を拡大した図である。It is the figure which expanded a part of FIG. 本発明の他の実施例に係るパッケージ構造物を示す図である。It is a figure which shows the package structure which concerns on the other Example of this invention. 補強材のない場合のパッケージ構造物の反りを示す図である。It is a figure which shows the warp of a package structure when there is no reinforcement.

本発明に係るパッケージ構造物の実施例を添付図面を参照して詳細に説明し、添付図面を参照して説明するに当たって、同一または対応する構成要素には同一の図面符号を付し、これに対する重複説明を省略する。   Embodiments of a package structure according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and in describing with reference to the accompanying drawings, the same or corresponding components will be denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. A duplicate description will be omitted.

また、以下で使用する「第１」、「第２」等の用語は、同一または対応する構成要素を区別するための識別記号に過ぎず、同一または対応する構成要素が第１、第２等の用語により限定されることはない。   Further, the terms “first”, “second”, etc. used below are merely identification symbols for distinguishing the same or corresponding components, and the same or corresponding components are the first, second, etc. Is not limited by the term.

また、「結合」とは、各構成要素間の接触関係において、各構成要素間に物理的に直接接触する場合のみを意味するものではなく、他の構成が各構成要素の間に介在され、その他の構成に構成要素がそれぞれ接触している場合まで包括する概念として使用される。   Further, the term "coupling" does not mean only a case where the respective constituent elements are in direct physical contact with each other in the contact relationship between the respective constituent elements, and other configurations are interposed between the respective constituent elements, It is used as a concept that covers the case where the components are in contact with other configurations.

スマートフォンを始めとした様々な電子機器に装着されるパッケージ構造物は、印刷回路基板と電子部品とを含む。印刷回路基板には、電子機器に必要な多くの電子部品が実装され、印刷回路基板には、回路が印刷されており、電子部品は印刷回路基板の回路を介して電気的に接続されることができる。   A package structure mounted on various electronic devices such as smartphones includes a printed circuit board and electronic components. Many electronic components necessary for electronic equipment are mounted on the printed circuit board, the printed circuit board is printed with circuits, and the electronic components are electrically connected through the circuit of the printed circuit board. You can

電子機器は、ハウジング、パッケージ構造物及びバッテリー（ｂａｔｔｅｒｙ）等を含む。パッケージ構造物とバッテリーはハウジング内の空間に配置されるが、電子機器のディスプレイの大きさが大きくなっており、カメラが高解像度の機能を有する等、電子機器の仕様が高くなることにより、それによる電力消費量が増加するため、バッテリーの容量や大きさも大きくならなければならない。バッテリーの大きさが大きくなると、ハウジング内でのパッケージ構造物が占める面積が相対的に減少することになる。これは、逆に、パッケージ構造物が占める面積を小さくできれば、バッテリーに割り当てられる面積を大きくすることができるので、バッテリーの大型化が可能となることを意味する。   The electronic device includes a housing, a package structure, a battery, and the like. Although the package structure and the battery are arranged in the space inside the housing, the size of the display of the electronic device is large and the specifications of the electronic device are high due to the high resolution function of the camera. Due to the increased power consumption, the battery capacity and size must also increase. As the size of the battery increases, the area occupied by the package structure in the housing decreases relatively. On the contrary, this means that if the area occupied by the package structure can be reduced, the area allocated to the battery can be increased, so that the battery can be increased in size.

本発明の実施例に係るパッケージ構造物は、２つ以上の基板で形成された印刷回路基板を含み、印刷回路基板は、複層構造、スタック（ｓｔａｃｋ）構造またはサンドイッチ（ｓａｎｄｗｉｃｈ）構造を有する。印刷回路基板が２つ以上の基板を含む場合、印刷回路基板として使用できる面積は増加するものの、パッケージ構造物が電子機器のハウジング内で占める空間は最小化するので、さらにバッテリーが占める面積を大きくすることができる。   The package structure according to the embodiment of the present invention includes a printed circuit board formed of two or more substrates, and the printed circuit board has a multi-layer structure, a stack structure, or a sandwich structure. When the printed circuit board includes two or more boards, the area that can be used as the printed circuit board is increased, but the space occupied by the package structure in the housing of the electronic device is minimized, so that the area occupied by the battery is further increased. can do.

図１は、本発明の一実施例に係るパッケージ構造物を示す図であり、図２は、図１の一部を拡大した図である。   1 is a view showing a package structure according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged view of a part of FIG.

図１を参照すると、本発明の一実施例に係るパッケージ構造物は、第１基板１００と、第２基板２００と、インターポーザＩＰと、第１素子１１０と、補強材３００と、第２素子２１０と、を含むことができる。   Referring to FIG. 1, a package structure according to an exemplary embodiment of the present invention includes a first substrate 100, a second substrate 200, an interposer IP, a first element 110, a reinforcing material 300, and a second element 210. And can be included.

第１基板１００及び第２基板２００は、電子素子が実装されて印刷回路基板としての実質的な役割を担い、インターポーザＩＰは、第１基板１００と第２基板２００とを上下に接続させ、第１基板１００と第２基板２００とはインターポーザＩＰで物理的に、電気的に接続される。   The first substrate 100 and the second substrate 200 play a substantial role as a printed circuit board on which electronic devices are mounted, and the interposer IP connects the first substrate 100 and the second substrate 200 vertically, and The first substrate 100 and the second substrate 200 are physically and electrically connected by the interposer IP.

インターポーザＩＰは、絶縁層と貫通ビアを含むことができる。   The interposer IP may include an insulating layer and a through via.

絶縁層は、単数または複数で形成されることができ、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ＢＴ樹脂等の絶縁物質で形成されることができる。具体的に、絶縁層は、ＰＰＧ（ｐｒｅｐｒｅｇ）またはｂｕｉｌｄ ｕｐ ｆｉｌｍ（ｅｘ． Ａｊｉｎｏｍｏｔｏ Ｂｕｉｌｄ ｕｐ Ｆｉｌｍ）であり得る。この絶縁層は、繊維補強材、フィラー等を含むことができる。   The insulating layer may be formed of a single material or a plurality of materials, and may be formed of an insulating material such as epoxy resin, polyimide resin, and BT resin. Specifically, the insulating layer may be a PPG (prepreg) or a build up film (ex. Ajinomoto Build up Film). This insulating layer can include fiber reinforcements, fillers, and the like.

貫通ビアは、絶縁層を貫通し、インターポーザＩＰの上下面を接続する。インターポーザＩＰの上下面には、貫通ビアに接続される接続パッドが形成されることができる。この接続パッドは、第１基板１００及び第２基板２００に結合することができる。ここで、インターポーザＩＰは、ソルダー部材により第１基板１００及び第２基板２００に結合することができる。   The through vias penetrate the insulating layer and connect the upper and lower surfaces of the interposer IP. Connection pads connected to the through vias may be formed on the upper and lower surfaces of the interposer IP. The connection pad may be bonded to the first substrate 100 and the second substrate 200. Here, the interposer IP may be coupled to the first substrate 100 and the second substrate 200 by a solder member.

貫通ビアは、複数形成されることができ、複数の貫通ビアは、互いに離隔することができる。インターポーザＩＰは、内部に中空部を有するように環状に形成されることができる。この場合、複数の貫通ビアも環状のインターポーザＩＰに沿って、離隔して配置されることができる。   A plurality of through vias may be formed, and the plurality of through vias may be separated from each other. The interposer IP may be formed in a ring shape having a hollow portion inside. In this case, the plurality of through vias can also be arranged separately along the annular interposer IP.

第１基板１００と第２基板２００のそれぞれは、板状からなり、複数の絶縁材層と複数の回路層とで構成された多層基板であることができ、回路層を基準にして８層または１０層の多層基板であることができる。   Each of the first substrate 100 and the second substrate 200 may be a multi-layer substrate having a plate shape and including a plurality of insulating material layers and a plurality of circuit layers. It can be a multilayer substrate with 10 layers.

第１基板１００及び第２基板２００の絶縁材層は、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ＢＴ樹脂、ＬＣＰ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｐｏｌｙｍｅｒ）等の絶縁物質で形成された層である。   The insulating material layers of the first substrate 100 and the second substrate 200 are layers formed of an insulating material such as epoxy resin, polyimide resin, BT resin, LCP (Liquid Crystal Polymer).

回路層は、銅（Ｃｕ）のような金属等の伝導性物質で形成され、特定のパターンを有するように設計される。回路層は、絶縁材層の片面または両面に形成され、互いに異なる層の回路層は、絶縁材層を貫通するビア導体を介して電気的に接続されることができる。   The circuit layer is formed of a conductive material such as metal such as copper (Cu), and is designed to have a specific pattern. The circuit layer is formed on one side or both sides of the insulating material layer, and the different circuit layers can be electrically connected to each other via a via conductor penetrating the insulating material layer.

第１基板１００の一面には、第１素子１１０が実装される。ここで、第１基板１００の一面は、第２基板２００に向かい合う面である。第１素子１１０は、能動素子、受動素子、集積回路のうちの少なくとも１種であり、第１素子１１０は複数設けられることができ、複数の第１素子１１０は、能動素子、受動素子、集積回路のうちから多様に選択することができる。具体的に、第１素子１１０は、ＡＰ、Ｍｅｍｏｒｙ、ＢＧＡ（Ｂａｌｌ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）、ＣＳＰ（Ｃｈｉｐ Ｓｃａｌｅ Ｐａｃｋａｇｅ）、ＬＧＡ（Ｌａｎｄ Ｇｒｉｄ Ａｒｒａｙ）等の多数の集積回路と、キャパシタ（ｃａｐａｃｉｔｏｒ）等の多数の受動素子と、を含むことができる。第１素子１１０は、ソルダー部材（図示せず）により第１基板１００の表面に実装されることができる。   The first element 110 is mounted on one surface of the first substrate 100. Here, one surface of the first substrate 100 is a surface facing the second substrate 200. The first element 110 is at least one of an active element, a passive element, and an integrated circuit. A plurality of the first elements 110 can be provided, and the plurality of the first elements 110 are active elements, passive elements, and integrated circuits. Various selections can be made from among the circuits. Specifically, the first element 110 includes a large number of integrated circuits such as AP, Memory, BGA (Ball Grid Array), CSP (Chip Scale Package), and LGA (Land Grid Array), and a large number of capacitors (capacitor). And a passive element. The first element 110 may be mounted on the surface of the first substrate 100 with a solder member (not shown).

図２を参照すると、第１基板１００の一面側の最外層の絶縁材層はソルダーレジストＳＲであり得る。すなわち、第１基板１００の最外層には、ソルダーレジストＳＲが備えられることができる。この場合、ソルダーレジストＳＲは、第１基板１００の回路層の一部を露出させながら回路層をカバーすることができる。特に、ソルダーレジストＳＲは、最外層の回路層をカバーする。最外層の回路層の一部は、有効な信号を伝達する信号伝逹回路Ｃであり、また他の一部は、グラウンドＧであり得る。最外層の回路層のうちの信号伝逹回路Ｃの一部は、ソルダーレジストＳＲにより露出され、回路の露出された部分は、パッドとなり得る。ここで、ソルダーレジストＳＲには開口が形成され、最外層の回路層のうちの信号伝逹回路Ｃの一部は、ソルダーレジストＳＲの開口を介して露出される。   Referring to FIG. 2, the outermost insulating material layer on the one surface of the first substrate 100 may be a solder resist SR. That is, the outermost layer of the first substrate 100 may include the solder resist SR. In this case, the solder resist SR may cover the circuit layer while exposing a part of the circuit layer of the first substrate 100. In particular, the solder resist SR covers the outermost circuit layer. Part of the outermost circuit layer may be a signal carrying circuit C that carries a useful signal, and the other part may be a ground G. A part of the signal transmission circuit C in the outermost circuit layer is exposed by the solder resist SR, and the exposed part of the circuit can be a pad. Here, an opening is formed in the solder resist SR, and a part of the signal transmission circuit C in the outermost circuit layer is exposed through the opening of the solder resist SR.

第１素子１１０は、ソルダー部材（図示せず）により上記パッドに実装されることができる。また、インターポーザＩＰも上記パッドに接合することができる。一方、グラウンドＧもソルダーレジストＳＲによりカバーされ、グラウンドＧの一部は、ソルダーレジストＳＲにより露出することができる。   The first element 110 may be mounted on the pad by a solder member (not shown). Also, the interposer IP can be bonded to the pad. On the other hand, the ground G is also covered by the solder resist SR, and a part of the ground G can be exposed by the solder resist SR.

インターポーザＩＰが内側に中空部を含む場合、第１素子１１０は、インターポーザＩＰの中空部内に位置することができる。ここで、インターポーザＩＰは、第１素子１１０を保護する機能をすることができる。   When the interposer IP includes a hollow portion inside, the first element 110 may be located inside the hollow portion of the interposer IP. Here, the interposer IP may have a function of protecting the first device 110.

一方、第１基板１００の他面には、第３素子１２０が実装されることができ、第３素子１２０は、複数設けられ、能動素子、受動素子、集積回路のうちから多様に選択することができる。第３素子１２０は、第１基板１００の他面側の最外層の回路層に実装されることができる。第１素子１１０と第３素子１２０とは、第１基板１００に形成された回路層及びビア導体を介して電気的に接続されることができる。   Meanwhile, the third element 120 may be mounted on the other surface of the first substrate 100, and a plurality of the third elements 120 may be provided, and may be selected from active elements, passive elements, and integrated circuits. You can The third element 120 may be mounted on the outermost circuit layer on the other surface side of the first substrate 100. The first element 110 and the third element 120 may be electrically connected to each other via a circuit layer formed on the first substrate 100 and a via conductor.

再び、図１を参照すると、補強材３００は、第１基板１００の一面に付着され、第１基板１００の反りを防止することができる。補強材３００は、第１素子１１０から離隔する。   Referring to FIG. 1 again, the reinforcing material 300 may be attached to one surface of the first substrate 100 to prevent the warp of the first substrate 100. The reinforcement member 300 is separated from the first element 110.

補強材３００は、第１基板１００の一面において第１素子１１０が実装された後の残った空間に形成されることができる。第１素子１１０が複数形成される場合、補強材３００は、複数の第１素子１１０の間に形成され、すべての第１素子１１０から離隔することができる。補強材３００は、第１素子１１０を取り囲むように形成されることができる。   The reinforcement member 300 may be formed on the surface of the first substrate 100 in a space remaining after the first device 110 is mounted. When the plurality of first elements 110 are formed, the reinforcing member 300 may be formed between the plurality of first elements 110 and may be separated from all the first elements 110. The reinforcement member 300 may be formed to surround the first element 110.

補強材３００は、第１基板１００の回路層に結合することができる。特に、補強材３００は、第１基板１００の一面側の最外層の回路層のうちのグラウンドＧに結合することができる。すなわち、第１基板１００の一面側の最外層の回路層のうちのグラウンドＧの一部は、ソルダーレジストＳＲの開口により露出することができ、露出されたグラウンドＧに補強材３００が結合することができる。   The reinforcing member 300 may be bonded to the circuit layer of the first substrate 100. In particular, the reinforcing member 300 may be coupled to the ground G of the outermost circuit layer on the one surface side of the first substrate 100. That is, a part of the ground G in the outermost circuit layer on the one surface side of the first substrate 100 may be exposed through the opening of the solder resist SR, and the reinforcing material 300 may be coupled to the exposed ground G. You can

補強材３００は、第１基板１００の反りを防止できるように、剛性が大きいか、歪み等の変形に耐える材質で形成することができる。補強材３００は、インバー（ｉｎｖａｒ）、ＳＵＳ、タングステン、鉄、銅、アルミニウム等の金属で形成できるが、金属の種類が限定されることではない。一方、補強材３００は、回路層よりも剛性の大きい金属を含む材質で形成されることができる。例えば、回路層は、銅で形成され、補強材３００は、ＳＵＳで形成されることができる。   The reinforcement member 300 may be formed of a material having high rigidity or withstanding deformation such as distortion so that the first substrate 100 can be prevented from warping. The reinforcing material 300 can be formed of metal such as invar, SUS, tungsten, iron, copper, aluminum, but the kind of metal is not limited. On the other hand, the reinforcing material 300 may be formed of a material containing a metal having a rigidity higher than that of the circuit layer. For example, the circuit layer may be made of copper and the reinforcing material 300 may be made of SUS.

また、補強材３００は、ダイ（ｄｉｅ）を含むことができる。ダイは、シリコンを含む材料で形成することができる。ここで、補強材３００としてのダイは、ダミー（ｄｕｍｍｙ）ダイであって、電子素子として機能するものではなくてもよい。すなわち、補強材３００としてのダイは、第１基板１００の一面側の最外層の回路層のうちの信号伝逹回路Ｃに電気的に接続されなくてもよい。一方、補強材３００としてのダミーダイの厚さは、第１素子１１０の厚さよりも小さいことができる。   In addition, the reinforcement member 300 may include a die. The die can be formed of a material including silicon. Here, the die as the reinforcing material 300 is a dummy die and may not function as an electronic element. That is, the die as the reinforcing member 300 may not be electrically connected to the signal transmission circuit C in the outermost circuit layer on the one surface side of the first substrate 100. Meanwhile, the thickness of the dummy die as the reinforcing material 300 may be smaller than the thickness of the first element 110.

補強材３００は、接着部材ＡＤで第１基板１００の一面に付着されることができる。接着部材ＡＤは、接着剤またはソルダーを含むことができる。すなわち、補強材３００は、第１基板１００の一面側のグラウンドＧに接着剤またはソルダーで付着することができる。補強材３００が金属である場合、接着剤が使用され、補強材３００がダミーダイである場合、ソルダーが使用されることができるが、これに制限されない。   The reinforcing material 300 may be attached to one surface of the first substrate 100 with an adhesive member AD. The adhesive member AD may include an adhesive or a solder. That is, the reinforcing material 300 may be attached to the ground G on the one surface side of the first substrate 100 with an adhesive or a solder. An adhesive may be used when the reinforcing material 300 is a metal, and a solder may be used when the reinforcing material 300 is a dummy die, but is not limited thereto.

具体的に、補強材３００が金属である場合、第１基板１００の一面に付着される補強材３００の面は、平坦であることができ、補強材３００と第１基板１００の一面との間に接着剤が介在されることができる。接着剤は、液状タイプ、またはＤＡＦ（ｄｉｅ ａｔｔａｃｈ ｆｉｌｍ）、テープ等のフィルムタイプであり得る。接着剤の成分は、ポリウレタン、アクリル、ＥＶＡ（ｅｔｈｙｌｅｎｅ ｃｏ−ｖｉｎｙｌ ａｃｅｔａｔｅ）、ＰＶＡｃ（ｐｏｌｙｖｉｎｙｌ ａｃｅｔａｔｅ）等を含むことができるが、これらに制限されない。   Specifically, when the reinforcing material 300 is a metal, the surface of the reinforcing material 300 attached to one surface of the first substrate 100 may be flat, and the surface between the reinforcing material 300 and the one surface of the first substrate 100 may be different. An adhesive may be interposed between the two. The adhesive may be a liquid type or a film type such as DAF (die attach film) or tape. The component of the adhesive may include, but is not limited to, polyurethane, acrylic, EVA (Ethylene Co-Vinyl Acetate), PVAc (Polyvinyl Acetate), and the like.

補強材３００がダミーダイである場合、ダイは、複数の金属端子を含むことができ、金属端子には、ソルダーが結合され、ソルダーは、第１基板１００の一面に結合することができる。特に、ソルダーは、第１基板１００の一面側のソルダーレジストＳＲに直接付着されるよりも最外層の回路層のグラウンドＧにさらに優れた密着力で付着されることができる。ただし、上述したように、補強材３００がダミーダイである場合、必ずしもソルダーにより結合される必要はなく、接着剤により接着されることもできる。   When the reinforcing material 300 is a dummy die, the die may include a plurality of metal terminals, a solder may be coupled to the metal terminals, and the solder may be coupled to one surface of the first substrate 100. In particular, the solder may be attached to the ground G of the outermost circuit layer with a better adhesive force than the solder may be directly attached to the solder resist SR on the one surface of the first substrate 100. However, as described above, when the reinforcing material 300 is a dummy die, it is not always necessary to bond the reinforcing material 300 with a solder, and the reinforcing material 300 may be bonded with an adhesive.

インターポーザＩＰが内側に中空部を含む場合、補強材３００は、インターポーザＩＰの中空部内に位置することができる。   When the interposer IP includes a hollow portion inside, the reinforcing member 300 may be located inside the hollow portion of the interposer IP.

第２基板２００の一面には、第２素子２１０が実装される。ここで、第２基板２００の一面は、第１基板１００に向かい合う面である。特に、第２素子２１０は、補強材３００の向かい側に配置される。これにより、第２素子２１０と補強材３００とは、それぞれをいずれか１つの平面に投映したとき、重畳する領域が存在する。補強材３００と第２素子２１０とは、印刷回路基板の厚さ方向（図面の上下方向）において互いに離隔することができる。   The second element 210 is mounted on one surface of the second substrate 200. Here, one surface of the second substrate 200 is a surface facing the first substrate 100. In particular, the second element 210 is arranged on the opposite side of the reinforcing member 300. As a result, the second element 210 and the reinforcing member 300 have an overlapping area when projected on any one of the planes. The reinforcing member 300 and the second element 210 may be separated from each other in the thickness direction of the printed circuit board (vertical direction in the drawing).

第２基板２００の他面には、第４素子２２０が実装されることができる。この場合、第１基板１００の２つの面と第２基板２００の２つの面がすべて電子素子実装面として使用できるので、印刷回路基板としての使用面積が最大化することができる。   The fourth element 220 may be mounted on the other surface of the second substrate 200. In this case, since the two surfaces of the first substrate 100 and the two surfaces of the second substrate 200 can all be used as the electronic element mounting surface, the area used as the printed circuit board can be maximized.

インターポーザＩＰが内側に中空部を含む場合、第２素子２１０は、インターポーザＩＰの中空部内に位置することができる。ここで、インターポーザＩＰは、第２素子２１０を保護する機能をすることができる。   When the interposer IP includes a hollow portion inside, the second element 210 may be located inside the hollow portion of the interposer IP. Here, the interposer IP may have a function of protecting the second device 210.

本発明の一実施例に係るパッケージ構造物は、充填部材４００をさらに含むことができる。   The package structure according to the embodiment of the present invention may further include a filling member 400.

充填部材４００は、補強材３００と第２素子２１０との間に介在され、補強材３００及び第２素子２１０とそれぞれ接触する。上述したように、補強材３００と第２素子２１０とは、上下方向において互いに離隔しており、離隔することにより形成された空間に充填部材４００が形成できる。   The filling member 400 is interposed between the reinforcing material 300 and the second element 210, and contacts the reinforcing material 300 and the second element 210, respectively. As described above, the reinforcing member 300 and the second element 210 are separated from each other in the vertical direction, and the filling member 400 can be formed in the space formed by the separation.

充填部材４００により、補強材３００及び第２素子２１０が固定されることができ、これにより、第１基板１００及び第２基板２００の反りが効果的に低減することができる。   The reinforcing member 300 and the second element 210 can be fixed by the filling member 400, and thus the warpage of the first substrate 100 and the second substrate 200 can be effectively reduced.

充填部材４００は、接着物質を含むことができ、ポリエステル、ポリウレタン、アクリル、ＥＶＡ（ｅｔｈｙｌｅｎｅ ｃｏ−ｖｉｎｙｌ ａｃｅｔａｔｅ）、ＰＶＡｃ（ｐｏｌｙｖｉｎｙｌ ａｃｅｔａｔｅ）等を含むことができる。   The filling member 400 may include an adhesive material, and may include polyester, polyurethane, acrylic, EVA (Ethylene Co-Vinyl Acetate), PVAc (Polyvinyl Acetate), or the like.

充填部材４００は、第２素子２１０から発生する熱を放出、移動させることができるように、熱伝導素材（ＴＩＭ、ｔｈｅｒｍａｌ ｉｎｔｅｒｆａｃｅ ｍａｔｅｒｉａｌ）を含むことができる。熱伝導素材は、空気よりも熱伝導率が５０倍以上高いこともある。熱伝導素材（ＴＩＭ、ｔｈｅｒｍａｌ ｉｎｔｅｒｆａｃｅ ｍａｔｅｒｉａｌ）は、サーマルコンパウンド（ｔｈｅｒｍａｌ ｃｏｍｐｏｕｎｄ）またはサーマルグリース（ｔｈｅｒｍａｌ ｇｒｅａｓｅ）等のペーストからなることができる。サーマルコンパウンドまたはサーマルグリースは、シリコンを含むか、酸化アルミニウム（ａｌｕｍｉｎｉｕｍ ｏｘｉｄｅ）（Ａｌ２Ｏ３）、ｂｏｒｏｎ ｎｉｔｒｉｄｅ（ＢＮ）、酸化亜鉛（ｚｉｎｃ ｏｘｉｄｅ）（ＺｎＯ）等のセラミック材を含むか、または金属（銅、銀等）粒子を含有するゲルを含むことができる。 The filling member 400 may include a thermal conductive material (TIM) so that the heat generated from the second element 210 can be released and transferred. The heat conductive material may have a heat conductivity higher than that of air by 50 times or more. The thermal conductive material (TIM) may be composed of a paste such as a thermal compound or a thermal grease. The thermal compound or thermal grease may include silicon, a ceramic material such as aluminum oxide (Al 2 O 3 ), boron nitride (BN), zinc oxide (ZnO), or a metal. A gel containing particles (copper, silver, etc.) can be included.

熱伝導素材は、サーマルテープ（ｔｈｅｒｍａｌ ｔａｐｅ）またはサーマルパッド（ｔｈｅｒｍａｌ ｐａｄ）のように付着タイプであってもよく、これは補強材３００と第２素子２１０との間に位置し、補強材３００と第２素子２１０のそれぞれに付着されることができる。   The heat conductive material may be an adhesive type such as a thermal tape or a thermal pad, which is located between the reinforcement member 300 and the second element 210 and is connected to the reinforcement member 300. Each of the second elements 210 may be attached.

充填部材４００は補強材３００と接触し、補強材３００はグラウンドＧと接触するので、第２素子２１０から発生する熱は、充填部材４００、補強材３００、グラウンドＧを介して放出されることができる。   Since the filling member 400 is in contact with the reinforcing material 300 and the reinforcing material 300 is in contact with the ground G, the heat generated from the second element 210 may be released through the filling member 400, the reinforcing material 300, and the ground G. it can.

図３に示すように、インターポーザＩＰが内側に中空部を含む場合、充填部材４００は、インターポーザＩＰの中空部全体を充填することができる。すなわち、充填部材４００は、補強材３００と第２素子２１０との間のみではなく、それ以外の領域も充填することができる。この場合、充填部材４００の広い領域により、第１基板１００及び第２基板２００の反りが効果的に低減でき、充填部材４００が熱伝導素材である場合は、充填部材４００がサーマルコンパウンドまたはサーマルグリース等のペーストからなることができ、このように、充填部材４００がインターポーザＩＰの中空部を充填すると、放熱效果も増大できる。ここで、充填部材４００は、セラミック材を含む熱伝導素材であってもよい。   As shown in FIG. 3, when the interposer IP includes a hollow portion inside, the filling member 400 can fill the entire hollow portion of the interposer IP. That is, the filling member 400 can fill not only the space between the reinforcing member 300 and the second element 210 but also the other regions. In this case, the large area of the filling member 400 can effectively reduce the warpage of the first substrate 100 and the second substrate 200, and when the filling member 400 is a heat conductive material, the filling member 400 is a thermal compound or a thermal grease. When the filling member 400 fills the hollow portion of the interposer IP as described above, the heat radiation effect can be increased. Here, the filling member 400 may be a heat conductive material including a ceramic material.

一方、補強材は、第２基板２００の一面にも形成されることができ、第２基板２００の一面に形成された補強材３００を第２の補強材３００'と称し、上述した補強材３００と区別する。第２の補強材３００'は、第２基板２００の反りを低減することができる。   Meanwhile, the reinforcing material may be formed on one surface of the second substrate 200, and the reinforcing material 300 formed on the one surface of the second substrate 200 is referred to as a second reinforcing material 300 ′, and the above-described reinforcing material 300. To distinguish. The second reinforcing member 300′ can reduce the warp of the second substrate 200.

第２の補強材３００'は、第２素子２１０から離隔する。すなわち、第２の補強材３００'は、第２基板２００の一面に第２素子２１０が実装された後の残った空間に形成されることができ、第２素子２１０が複数である場合は、複数の第２素子２１０のすべてから離隔するように第２の補強材３００'を形成することができる。第２の補強材３００'は、第２素子２１０を取り囲むように形成されることができる。   The second reinforcement member 300 ′ is separated from the second element 210. That is, the second reinforcing member 300 ′ may be formed in the remaining space after the second element 210 is mounted on one surface of the second substrate 200, and if the second element 210 is plural, The second reinforcing member 300′ may be formed to be separated from all of the plurality of second elements 210. The second reinforcement member 300 ′ may be formed to surround the second element 210.

第２の補強材３００'は、第２基板２００の回路層に結合することができる。特に、第２の補強材３００'は、第２基板２００の一面側の最外層の回路層のうちのグラウンドに結合することができる。すなわち、第２基板２００の一面側の最外層の回路層のうちのグラウンドの一部は、ソルダーレジストの開口により露出することができ、露出されたグラウンドに第２の補強材３００'が結合することができる。   The second reinforcement member 300 ′ may be bonded to the circuit layer of the second substrate 200. In particular, the second reinforcing member 300 ′ may be coupled to the ground of the outermost circuit layer on the one surface side of the second substrate 200. That is, a part of the ground of the outermost circuit layer on the one surface side of the second substrate 200 can be exposed by the opening of the solder resist, and the second reinforcing member 300′ is bonded to the exposed ground. be able to.

第２の補強材３００'は、接着部材ＡＤにより第２基板２００の一面に付着されることができる。接着部材ＡＤは、接着剤またはソルダーを含むことができる。すなわち、第２の補強材３００'は、第２基板２００の一面側のグラウンドＧに接着剤またはソルダーで付着されることができる。第２の補強材３００'が金属である場合、液状タイプまたはフィルムタイプの接着剤が使用され、第２の補強材３００'がダミーダイである場合、ソルダーを使用できるが、これに制限されない。   The second reinforcing material 300′ may be attached to one surface of the second substrate 200 by the adhesive member AD. The adhesive member AD may include an adhesive or a solder. That is, the second reinforcing material 300 ′ may be attached to the ground G on the one surface side of the second substrate 200 with an adhesive or a solder. A liquid type or film type adhesive may be used when the second reinforcing material 300′ is a metal, and a solder may be used when the second reinforcing material 300′ is a dummy die, but is not limited thereto.

第２の補強材３００'は、第２基板２００の反りを防止できるように剛性が大きいか、歪み等の変形に耐える材質で形成することができる。第２の補強材３００'は、インバー（ｉｎｖａｒ）、ＳＵＳ、タングステン、鉄、銅、アルミニウムなどの金属で形成することができるが、金属の種類に制限はない。   The second reinforcing member 300 ′ may be formed of a material having high rigidity so as to prevent the second substrate 200 from warping or withstanding deformation such as distortion. The second reinforcing member 300′ may be formed of a metal such as invar, SUS, tungsten, iron, copper, aluminum, but the kind of metal is not limited.

一方、第２の補強材３００'は、回路層よりも剛性の大きい金属を含む材質で形成されることができる。例えば、回路層は、銅で形成され、第２の補強材３００'は、ＳＵＳで形成されることができる。   On the other hand, the second reinforcing material 300′ may be formed of a material containing a metal having a rigidity higher than that of the circuit layer. For example, the circuit layer may be formed of copper and the second reinforcing member 300′ may be formed of SUS.

また、第２の補強材３００'は、ダイ（ｄｉｅ）を含むことができる。ダイは、シリコンを含む材料で形成されることができる。ここで、第２の補強材３００'としてのダイは、ダミー（ｄｕｍｍｙ）ダイであって、電子素子として機能するものではなくてもよい。すなわち、第２の補強材３００'としてのダイは、第２基板２００の一面側の最外層の回路層のうちの信号伝逹回路Ｃに電気的に接続されなくてもよい。一方、補強材３００としてのダミーダイの厚さは、第１素子１１０の厚さよりも小さいことができる。   Also, the second reinforcement member 300′ may include a die. The die can be formed of a material including silicon. Here, the die as the second reinforcing material 300′ is a dummy die and may not function as an electronic element. That is, the die as the second reinforcing member 300 ′ may not be electrically connected to the signal transmission circuit C of the outermost circuit layer on the one surface side of the second substrate 200. On the other hand, the thickness of the dummy die as the reinforcing member 300 may be smaller than the thickness of the first element 110.

インターポーザＩＰが内側に中空部を含む場合、第２の補強材３００'は、インターポーザＩＰの中空部内に位置することができる。   When the interposer IP includes a hollow portion inside, the second reinforcing member 300′ may be located inside the hollow portion of the interposer IP.

第１基板１００の一面に形成された第１素子１１０は、上記第２の補強材３００'の向かい側に位置して互いに向かい合うことができ、第２の補強材３００'と第１素子１１０ との間には、充填部材４００が介在されることができる。すなわち、第２の補強材３００'と第１素子１１０は、上下に離隔しており、充填部材４００が第２の補強材３００'と第１素子１１０との間に介在され、第２の補強材３００及び第１素子１１０のそれぞれと接触することができる。充填部材４００は、サーマルコンパウンドであってもよい。   The first elements 110 formed on the one surface of the first substrate 100 may be located opposite to the second reinforcing member 300 ′ and face each other, and the second reinforcing member 300 ′ and the first element 110 may be connected to each other. The filling member 400 may be interposed therebetween. That is, the second reinforcing member 300 ′ and the first element 110 are vertically separated from each other, and the filling member 400 is interposed between the second reinforcing member 300 ′ and the first element 110, and the second reinforcing member 300 ′ is provided. Each of the material 300 and the first element 110 can be contacted. The filling member 400 may be a thermal compound.

その他に、上述した補強材３００に関する説明を第２の補強材３００'に同様に適用することができる。   Besides, the above description regarding the reinforcing member 300 can be similarly applied to the second reinforcing member 300′.

図４を参照すると、補強材３００がない場合は、第１基板１００及び第２基板２００に反りが発生し、第１基板１００及び第２基板２００の反りにより、第２素子２１０が第１基板１００にぶつかり、第１素子１１０が第２基板２００にぶつかることがある。しかし、本発明によれば、補強材３００が第１基板１００及び第２基板２００の反りを低減することができるので、充填部材４００が素子と基板との衝突を防止することができる。   Referring to FIG. 4, when the reinforcing material 300 is not provided, the first substrate 100 and the second substrate 200 are warped, and the warpage of the first substrate 100 and the second substrate 200 causes the second element 210 to move to the first substrate. The first element 110 may hit the second substrate 200 when hitting 100. However, according to the present invention, since the reinforcing material 300 can reduce the warpage of the first substrate 100 and the second substrate 200, the filling member 400 can prevent the element from colliding with the substrate.

以上、本発明の一実施例について説明したが、当該技術分野で通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された本発明の思想から逸脱しない範囲内で、構成要素の付加、変更、削除または追加等により本発明を多様に修正及び変更することができ、これも本発明の権利範囲内に含まれるものといえよう。   Although one embodiment of the present invention has been described above, a person having ordinary knowledge in the art can add a component without departing from the idea of the present invention described in the claims. The present invention can be modified and changed in various ways by changing, deleting, adding, etc., and it can be said that this is also included in the scope of rights of the present invention.

１００ 第１基板
２００ 第２基板
ＩＰ インターポーザ
３００、３００' 補強材
４００ 充填部材 100 1st board 200 2nd board IP interposer 300,300' Reinforcement material 400 Filling member

Claims (13)

インターポーザで上下結合した第１基板及び第２基板と、
前記第１基板の前記第２基板に向かい合う一面に実装された第１素子と、
前記第１基板の前記一面に、前記第１素子から離隔して付着される補強材と、
前記補強材の向かい側に位置するように、前記第２基板の一面に実装される第２素子と、を含むパッケージ構造物。 A first substrate and a second substrate vertically joined by an interposer,
A first element mounted on one surface of the first substrate facing the second substrate;
A reinforcing member that is attached to the one surface of the first substrate while being separated from the first element;
A package structure including a second element mounted on one surface of the second substrate so as to be located on the opposite side of the reinforcing member. 前記補強材と前記第２素子との間に介在され、前記補強材及び前記第２素子のそれぞれと接触する充填部材をさらに含む請求項１に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to claim 1, further comprising a filling member interposed between the reinforcing material and the second element, the filling member being in contact with each of the reinforcing material and the second element. 前記充填部材は、熱伝導素材を含む請求項２に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to claim 2, wherein the filling member includes a heat conductive material. 前記インターポーザは、中空部を含み、
前記第１素子、前記補強材及び前記第２素子は、前記中空部内に収容され、
前記充填部材が前記中空部を充填する請求項２又は３に記載のパッケージ構造物。 The interposer includes a hollow portion,
The first element, the reinforcing material, and the second element are housed in the hollow portion,
The package structure according to claim 2 or 3, wherein the filling member fills the hollow portion. 前記インターポーザは、中空部を含み、
前記第１素子、前記補強材及び前記第２素子は、前記中空部内に収容される請求項１〜４の何れか一項に記載のパッケージ構造物。 The interposer includes a hollow portion,
The package structure according to any one of claims 1 to 4, wherein the first element, the reinforcing material, and the second element are housed in the hollow portion. 前記第１基板の最外層には、ソルダーレジストが備えられ、
前記ソルダーレジストは、前記第１基板の回路層を露出させ、
前記補強材が、露出された前記回路層に付着される請求項１〜５の何れか一項に記載のパッケージ構造物。 The outermost layer of the first substrate is provided with a solder resist,
The solder resist exposes the circuit layer of the first substrate,
The package structure according to claim 1, wherein the reinforcing material is attached to the exposed circuit layer. 前記補強材は、前記回路層よりも剛性の大きい金属を含む材質で形成される請求項６に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to claim 6, wherein the reinforcing material is formed of a material containing a metal having a rigidity higher than that of the circuit layer. 前記補強材は、ダミーダイ（ｄｕｍｍｙ ｄｉｅ）を含む請求項１〜７の何れか一項に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to any one of claims 1 to 7, wherein the reinforcing material includes a dummy die. 前記ダミーダイの厚さは、前記第１素子の厚さよりも小さい請求項８に記載のパッケージ構造物。   The package structure of claim 8, wherein the dummy die has a thickness smaller than that of the first device. 前記第１素子は、複数で構成され、
前記補強材は、前記複数の第１素子の間に配置される請求項１〜９の何れか一項に記載のパッケージ構造物。 The first element includes a plurality of elements,
The package structure according to claim 1, wherein the reinforcing material is arranged between the plurality of first elements. 前記補強材は、接着剤またはソルダーで付着される請求項１〜１０の何れか一項に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to claim 1, wherein the reinforcing material is attached with an adhesive or a solder. 前記第２基板の前記一面に、前記第２素子から離隔して付着される第２の補強材をさらに含む請求項１〜１１の何れか一項に記載のパッケージ構造物。   The package structure according to any one of claims 1 to 11, further comprising a second reinforcing member that is attached to the one surface of the second substrate while being separated from the second element. 前記第１素子と前記第２の補強材とは互いに向かい側に位置し、
前記第１素子と前記第２の補強材との間に介在され、前記第１素子及び前記第２の補強材のそれぞれと接触する充填部材をさらに含む請求項１２に記載のパッケージ構造物。 The first element and the second reinforcing member are located opposite to each other,
The package structure according to claim 12, further comprising a filling member interposed between the first element and the second reinforcing material and contacting each of the first element and the second reinforcing material.
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