JP2019129174A - ウエーハの生成方法およびウエーハの生成装置 - Google Patents
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Abstract
Description
パルスレーザー光線の波長 :1064nm
繰り返し周波数 :60kHz
平均出力 :1.5W
パルス幅 :4ns
集光点の直径 :3μm
集光レンズの開口数(NA) :0.65
送り速度 :200mm/s
6:超音波発生手段
10:マイクロホン
12:剥離検出手段
50:インゴット
58:第一の端面の垂線
70:改質部
72:クラック
74:剥離層
76:ウエーハ
Claims (5)
- インゴットからウエーハを生成するウエーハの生成方法であって、
インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する深さに位置づけてインゴットにレーザー光線を照射して剥離層を形成する剥離層形成工程と、
生成すべきウエーハに対面させ水の層を介して超音波発生手段を位置づけて超音波を発生させて剥離層を破壊する超音波発生工程と、
音の変化によってインゴットから生成すべきウエーハの剥離を検出する剥離検出工程と、
から少なくとも構成されるウエーハの生成方法。 - 該剥離検出工程において、マイクロホンによって音を収集し、収集した音の振幅がピークとなる音の周波数が所定値に達した際にウエーハが剥離したと検出する請求項1記載のウエーハの生成方法。
- インゴットは、c軸とc軸に対し直交するc面とを有する単結晶SiCインゴットであり、
該剥離層形成工程において、単結晶SiCに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点を単結晶SiCインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する深さに位置づけて単結晶SiCインゴットにレーザー光線を照射してSiCがSiとCとに分離した改質部と改質部からc面に等方的に形成されるクラックとからなる剥離層を形成する請求項2記載のウエーハの生成方法。 - インゴットは、端面の垂線に対してc軸が傾きc面と端面とでオフ角が形成されている単結晶SiCインゴットであり、
該剥離層形成工程において、オフ角が形成される方向と直交する方向に改質部を連続的に形成して改質部からc面に等方的にクラックを生成し、オフ角が形成される方向にクラックの幅を超えない範囲で単結晶SiCインゴットと集光点とを相対的にインデックス送りしてオフ角が形成される方向と直交する方向に改質部を連続的に形成して改質部からc面に等方的にクラックを順次生成した剥離層を形成する請求項3記載のウエーハの生成方法。 - インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する深さに位置づけてインゴットにレーザー光線を照射して剥離層を形成したインゴットからウエーハを生成するウエーハの生成装置であって、
生成すべきウエーハに対面する端面を有し超音波を発生させる超音波発生手段と、
インゴットに隣接して配設されインゴットから空気中に伝播した音を収集するマイクロホンと、
該マイクロホンと連結され音の変化によってインゴットから生成すべきウエーハの剥離を検出する剥離検出手段と、
から少なくとも構成されるウエーハの生成装置。
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