JP2019119644A - Method and apparatus for scribing bonded substrate - Google Patents
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Abstract
【課題】スクライブ時における端子領域の変形を抑制して高品質の製品を得ることのできる貼り合わせ基板のスクライブ方法およびスクライブ装置を提供する。【解決手段】第一基板1の端縁部の一部が切除されて第二基板2の端縁部に端子領域Tが形成されている貼り合わせ基板を、端子領域Tの方向に向かって上下のカッターホイール3a、3bにより基板上下面に分断用のスクライブラインを加工するものであって、予め設定された前記端子領域の破壊が生じる端子破壊点を超えない適正切込量を選択する工程と、第一のスクライブ荷重で、前記貼り合わせ基板の前記端子領域以外の領域をスクライブする工程と、第一のスクライブ荷重より小さい、第二のスクライブ荷重で前記端子領域をスクライブする工程と、前記端子領域の終端部において、前記カッターホイールが停止することなく前記終端部から退避する工程とを含む。【選択図】図9PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scribing method and a scribing device for a laminated substrate capable of suppressing deformation of a terminal region at the time of scribing to obtain a high-quality product. SOLUTION: A bonded board in which a part of an edge portion of a first substrate 1 is cut off and a terminal region T is formed in the edge portion of a second substrate 2 is moved up and down in the direction of the terminal region T. A scribe line for division is machined on the upper and lower surfaces of the substrate by the cutter wheels 3a and 3b of the above, and a step of selecting an appropriate cutting amount that does not exceed the terminal break point at which the terminal region is broken is set in advance. , A step of scribing a region other than the terminal region of the bonded board with the first scribe load, a step of scribing the terminal region with a second scribe load smaller than the first scribe load, and the terminal. A step of retracting the cutter wheel from the terminal portion without stopping at the terminal portion of the region is included. [Selection diagram] FIG. 9
Description
本発明は、2枚の基板を貼り合わせて形成された貼り合わせ基板(または貼り合わせマザー基板ともいい、以下これを「マザー基板」という)に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ方法に関し、特に、縁部に端子領域を有するマザー基板のスクライブ方法およびスクライブ装置に関する。 The present invention relates to a scribing method for processing a scribing line for division into a bonded substrate (or bonded mother substrate, hereinafter referred to as a "mother substrate") formed by bonding two substrates, and in particular The present invention relates to a method and apparatus for scribing a mother substrate having a terminal area at an edge.
液晶表示パネル製造用のマザー基板は、複数のカラーフィルタがパターン形成された第一基板(CF側基板ともいう)と、複数のTFTおよび端子領域がパターン形成された第二基板(TFT側基板ともいう)とを、液晶を封入するシール材を挟んで貼り合わせてある。そして、このマザー基板を格子状の分断予定ラインに沿ってカッターホイールなどでスクライブラインを加工することによって単位製品に分割している。また、端子領域は上側のCF側基板を端縁から必要な幅(端子幅)だけ内側に入った位置で切除することによって形成されている(特許文献1、2参照)。
The mother substrate for manufacturing a liquid crystal display panel includes a first substrate (also referred to as a CF side substrate) on which a plurality of color filters are pattern formed, and a second substrate (a TFT side substrate) on which a plurality of TFTs and terminal regions are pattern formed. And the seal material sandwiching the sealing material for sealing the liquid crystal. Then, the mother substrate is divided into unit products by processing a scribing line with a cutter wheel or the like along a grid-like planned dividing line. In addition, the terminal region is formed by cutting the upper CF side substrate from the edge at a position inside the required width (terminal width) (see
図2〜図4は、マザー基板から単位製品を切り出す工程の一例を示すものである。ここではマザー基板Mから8つの単位製品を切り出す場合について説明する。
まず、図1並びに図7(a)に示すように、マザー基板Mを挟んで対向するように上下に配置された第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて、マザー基板Mを構成するCF側基板1とTFT側基板2のそれぞれに対し、X方向の分断予定ラインに沿って第一、第二のカッターホイール3a、3bを圧接してスクライブすることにより各基板にスクライブラインS1を刻む。次いで、図7(b)に示すように、第一カッターホイール3aでCF側基板1に端子領域形成用のスクライブラインS2を形成する。スクライブラインS1は基板の厚み方向にクラック(亀裂)ができる程度の切り込みで形成され、後工程で基板を撓ませること等により分断する。スクライブラインS1から分断されたマザー基板Mは、図3に示すように、それぞれ4つの単位製品を含む短冊状基板M1となり、スクライブラインS2で分断されたCF側基板1の端部は、端材Eとして除去されて端子領域Tが露出される。
2 to 4 show an example of the step of cutting out a unit product from the mother substrate. Here, a case where eight unit products are cut out from the mother substrate M will be described.
First, as shown in FIG. 1 and FIG. 7A, the mother substrate M is configured using the first and
次いで、短冊状基板M1を90度回転させたあと、分断予定ラインに沿って第一、第二のカッターホイール3a、3bを同時に押し付けながらスクライブして各基板にスクライブラインS3を刻み、当該スクライブラインS3に沿って分断して図4に示す単位製品M2を切り出す。
なお、端子領域Tは、上記のように単位製品の一辺のみに形成される場合のほかに、図5(a)のように左右両辺に形成される場合や、図5(b)のように隣接する2辺に沿ってL状に形成される場合、あるいは図示は省略するが、単位製品の3辺に沿ってコの字状に形成される場合もある。
Next, after rotating the strip-like substrate M1 by 90 degrees, the first and
In addition to the case where the terminal area T is formed on only one side of the unit product as described above, the terminal area T may be formed on both left and right sides as shown in FIG. 5A, or as shown in FIG. When it forms in L shape along 2 sides which adjoin, or although illustration is abbreviate | omitted, it may be formed in a U-shape along 3 sides of a unit product.
なお、第一、第二のカッターホイール3a、3bで基板の上下面をスクライブする場合、第一、第二のカッターホイール3a、3bが同じ対向位置で走行する「同時切り」のほかに、図6(a)のように第一、第二のカッターホイール3a、3bがスクライブ方向に対して前後にずれて走行する「先行切り」と、図6(b)のように第一、第二のカッターホイール3a、3bがスクライブ方向に対して左右にずれて走行する「シフト切り」と、図示は省略するが、第一、第二のカッターホイールがスクライブ方向に対して前後左右にずれて走行する「先行・シフト切り」とがあり、基板の厚みや種類、上下の分断予定ラインの位置などによって使い分けられている。一般的には、スクライブの始点または終点に端子領域が存在する場合、第一、第二のカッターホイールが基板に同時に接触する、または基板から同時に離れるように、「先行切り」や「先行・シフト切り」の手法が多く用いられている。
When scribing the upper and lower surfaces of the substrate with the first and
上記したマザー基板の分断過程において、製品領域においてはCF側基板1とTFT側基板2それぞれを第一、第二のカッターホイール3a、3bでマザー基板Mの上下面をスクライブすることとなる。このとき、従来は、カッターホイールは基板の終端まで所定の押圧荷重で走行して停止させたあと、基板から離れるように上下に退避する動作を行うようにしている。
In the process of dividing the mother substrate described above, in the product region, the upper and lower surfaces of the mother substrate M are scribed by the first and
一方、端子領域が形成された部分をスクライブするときは、図8に示すように、第二カッターホイール3bは、端子領域Tの部分で上側のCF側基板1がない状態で下側のTFT側基板2のみを押し込んでスクライブすることになる。通常、0.3mm〜1.0mmの薄いTFT側基板に対して直径2mm〜3mmのカッターホイールを用いて4N〜8Nの荷重でスクライブしているが、端子領域Tの部分をスクライブするときに、上側の基板が切除されて端子領域Tを上側のCF側基板1及び対向する第一カッターホイール3aで支持することができないので、図9に示すように第二カッターホイール3bの押し付けによって端子領域Tの部分が根元部Rを基点として変形する現象が発生する。このような端子領域Tの変形は、基板が薄いほど、また端子幅が長くなるほど大きくなる。
On the other hand, when scribing the portion where the terminal area is formed, as shown in FIG. 8, the
また、カッターホイールが基板の終端で停止したあと、上下に退避するまでにわずかな時間(計測値では0.18秒)があり、そのため停止時間中は基板に負荷がかかり続けることになって、これが端子領域Tの変形の大きな要因となっている。このような変形が生じると、端子領域Tの破壊が生じたり、スクライブラインの亀裂がホイールの直下からスクライブ方向前方へ伸展し、予定されたスクライブライン上に生じない先走り現象が生じたりして不良品の原因となる。 In addition, after the cutter wheel stops at the end of the substrate, there is a slight time (0.18 seconds in measured value) to retract up and down, so the substrate continues to be loaded during the stop time, This is a major cause of the deformation of the terminal region T. If such deformation occurs, breakage of the terminal region T may occur, or a crack in the scribe line may extend forward from directly under the wheel to the scribing direction, leading to a forward phenomenon that does not occur on the planned scribe line. It causes good products.
また、「先行・シフト切り」を行う場合は、第一、第二のカッターホイールがスクライブ方向に対して左右にもずれて走行する。このため、スクライブ進行方向から見て、基板の変形が非対称になり、スクライブラインの亀裂が基板の厚み方向に対して傾いて形成される、「ソゲ」と呼ばれる現象が発生しやすくなる。 In addition, when "preceding / shifting off" is performed, the first and second cutter wheels travel while being shifted to the left and right with respect to the scribing direction. For this reason, viewed from the scribing advancing direction, the deformation of the substrate is asymmetrical, and a phenomenon called “sog” in which a crack of the scribing line is formed to be inclined with respect to the thickness direction of the substrate is likely to occur.
そこで本発明は、上記した課題に鑑み、基板が薄く、端子幅が長い場合であってもスクライブ時における端子領域の変形現象を抑制して破壊や先走り、ソゲのない高品質の製品を得ることのできる貼り合わせ基板のスクライブ方法およびスクライブ装置を提供することを主たる目的とする。 Therefore, in view of the above-described problems, the present invention is to obtain a high quality product free from breakage, leading, and sog without suppressing the deformation phenomenon of the terminal area at the time of scribing even if the substrate is thin and the terminal width is long. It is a main object of the present invention to provide a scribing method and a scribing apparatus for bonded substrates that can be used.
上記目的を達成するために本発明では次のような技術的手段を講じた。すなわち、本発明のスクライブ方法にあっては、第一基板の端縁部の一部が切除されて第二基板の端縁部に端子領域が形成されている貼り合わせ基板を、前記端子領域の方向に向かって上下のカッターホイールをスクライブさせることにより基板の上下面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ方法であって、予め設定された、前記端子領域の破壊が生じる端子破壊点を超えない適正切込量を選択する工程と、第一のスクライブ荷重で、前記貼り合わせ基板の製品領域をスクライブする工程と、前記第一のスクライブ荷重より小さい、第二のスクライブ荷重で前記端子領域をスクライブする工程と、前記端子領域の終端部において、前記カッターホイールが停止することなく前記終端部から退避させる工程と、からなる。 In order to achieve the above object, the present invention takes the following technical measures. That is, in the scribing method of the present invention, a bonded substrate in which a part of the edge of the first substrate is cut away and a terminal region is formed at the edge of the second substrate is A scribing method for processing scribing lines for division on the upper and lower surfaces of a substrate by scribing upper and lower cutter wheels in a direction, which does not exceed a preset terminal breaking point at which the terminal area is broken A step of selecting an appropriate infeed amount, a step of scribing a product region of the bonded substrate with a first scribing load, and a scribing of the terminal region with a second scribing load smaller than the first scribing load And a step of retracting the cutter wheel from the end without stopping at the end of the terminal area.
また、本発明は、第一基板の端縁部の一部が切除されて第二基板の端縁部に端子領域が形成されている貼り合わせ基板の上下面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ装置であって、加工すべき貼り合わせ基板を保持するテーブルと、前記テーブルに保持された貼り合わせ基板の上下に昇降機構を介して昇降可能に配置され、前記貼り合わせ基板の端子領域の方向に向かって走行する上下のカッターホイールと、前記カッターホイールによる基板加工処理全般の処理を行う制御部と、前記制御部に記憶されたスクライブレシピとを含み、前記スクライブレシピは、前記カッターホイールが前記端子領域部分に切り込んでスクライブするときに当該端子領域の破壊が生じない切込量と、前記貼り合わせ基板の製品領域をスクライブするための第一のスクライブ荷重と、前記端子領域をスクライブするための、前記第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重を含む加工条件のデータが記述され、前記制御部は、このスクライブレシピの1つを選択して当該加工条件に基づいてスクライブを行い、前記端子領域の終端部の手前で前記カッターホイールが前記端子領域から退避するように前記昇降機構を昇降させるようにしたスクライブ装置をも特徴とする。 Further, according to the present invention, a scribing line for cutting is processed on the upper and lower surfaces of a bonded substrate in which a terminal region is formed at the edge of the second substrate by cutting out part of the edge of the first substrate. A scribing apparatus, which is a table holding a bonded substrate to be processed, and is vertically movable above and below the bonded substrate held by the table via an elevating mechanism, and a direction of a terminal area of the bonded substrate And a control unit for performing processing of the entire substrate processing process by the cutter wheel, and a scribing recipe stored in the control unit, wherein the scribing recipe includes the cutter wheel A scribing amount that does not cause destruction of the terminal area when cutting into the terminal area and scribing the product area of the bonded substrate Data of processing conditions including a first scribe load for scribing and a second scribe load smaller than the first scribe load for scribing the terminal region are described; A scribing apparatus is also provided in which one is selected and scribing is performed based on the processing condition, and the elevating mechanism is moved up and down so that the cutter wheel retracts from the terminal area before the terminal end of the terminal area. It features.
本発明は、上記したように、端子領域部分をカッターホイールで切り込んでスクライブしたときに、端子領域が変形して破壊が生じる端子破壊点を超えない適正切込量を選択して当該加工条件に基づいてスクライブするようにしたので、カッターホイールのスクライブ終端時における端子領域の変形が抑制される。加えて、端子領域を有する第二基板をカッターホイールでスクライブするときに、端子領域の終端位置の近傍から終端位置に至るまで徐々に端子領域の表面から離れるように走行するので、カッターホイールによる端子領域部分への押し付け力が緩和されるとともに、カッターホイールが端子領域の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に端子領域から退避させるようにしたので、従来のような停止時間中に端子領域に負荷がかかり続けることがなくなる。これにより、基板が薄い場合や、端子幅が長い場合など、端子領域の変形が大きくなりやすい条件においても、端子領域の破壊や先走り、ソゲの発生を確実に防止することができるといった効果がある。さらに、製品領域は比較的高い第一のスクライブ荷重でスクライブし、変形が生じやすい端子領域をスクライブする際に第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重でスクライブすることにより、端子領域Tの変形を抑えながら、スクライブラインの大部分を占める製品領域において、より深い垂直クラックを形成することができる。これにより、後の工程の分離性を高めることができ、分断工程を簡素化したり、分断の不具合に伴う製品品質の低下を抑制することができる。 In the present invention, as described above, when the terminal area portion is cut by the cutter wheel and scribed, the appropriate cutting amount not exceeding the terminal breaking point where the terminal area is deformed and breakage occurs is selected and the processing condition is selected. Since the scribing is performed based on the deformation of the terminal area at the time of the scribing end of the cutter wheel is suppressed. In addition, when the second substrate having the terminal area is scribed with the cutter wheel, the terminal travels away from the surface of the terminal area gradually from near the terminal position of the terminal area to the terminal position. Since the pressing force on the area portion is alleviated and the cutter wheel retracts from the terminal area instantaneously at zero stop time when the cutter wheel reaches the end position of the terminal area, the terminal area can be used during the conventional stop time. There will be no continuing load. As a result, even under conditions where the deformation of the terminal area tends to be large, such as when the substrate is thin or when the terminal width is long, there is an effect that breakage of the terminal area, forward movement, and generation of soge can be reliably prevented. . Furthermore, the product area is scribed with a relatively high first scribing load, and when scribing a terminal area susceptible to deformation, the scribing is performed with a second scribing load smaller than the first scribing load. Deeper vertical cracks can be formed in the product area that occupies most of the scribe line while suppressing deformation. As a result, the separability of the subsequent process can be enhanced, and the parting process can be simplified, and the deterioration of the product quality caused by the parting failure can be suppressed.
上記発明において、前記スクライブレシピは、基板の厚みに加えて、これに従属する、端子領域の幅、使用されるカッターホイールの直径並びに刃先の種類、カッターホイールの走行速度の情報を含むようにするのがよい。
これにより、スクライブレシピの選択範囲が広くなって多様な基板のスクライブに対応することが可能となる。
In the above invention, the scribing recipe includes, in addition to the thickness of the substrate, information of the width of the terminal area, the diameter of the cutter wheel used and the type of the cutting edge, the traveling speed of the cutter wheel, subordinate thereto. That's good.
As a result, the selection range of the scribing recipe is expanded, and it becomes possible to cope with scribing of various substrates.
以下において本発明の詳細を説明する。
図1は本発明のスクライブ方法を実施するためのスクライブ装置の一例を概略的に示す斜視図である。このスクライブ装置は、加工すべきマザー基板Mを吸着して保持する水平なテーブル4と、このテーブル4を挟んで互いに対向するようにしてテーブル4の上方並びに下方に配置された第一カッターホイール3a並びに第二カッターホイール3bとを備えている。テーブル4は、図1のY方向に沿って所定間隔をあけて前後に分割されており、この間隔内に第一カッターホイール3a並びに第二カッターホイール3bが位置するように配置されている。
The details of the present invention will be described below.
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an example of a scribing apparatus for carrying out the scribing method of the present invention. The scribing apparatus includes a horizontal table 4 for sucking and holding a mother substrate M to be processed, and a
第一、第二のカッターホイール3a並びに3bは、それぞれ上下のホルダ5、5に保持され、ホルダ5、5は、スクライブヘッド6、6に昇降機構(図示略)を介して昇降可能に取り付けられている。また、スクライブヘッド6、6は、両側の支持柱7、7によってX方向に水平に橋架された上下のガイドバー8、8のガイド9、9に沿って移動可能に取り付けられ、モータ10、10の回転によりX方向に移動できるように形成されている。
The first and
このスクライブ装置の第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて、先に述べた図2〜図4で示した手順と同じ手順によりマザー基板MにスクライブラインS1、S2を加工して端子領域Tを有する短冊状基板M1を切り出す。その後、分断予定ラインに沿って短冊状基板M1にスクライブラインS3を加工して製品領域Pと端子領域Tと有する単位製品M2を切り出す。ここで、製品領域Pは第一基板(CF側基板)1と第二基板(TFT側基板)2のそれぞれを有する領域であり、端子領域TはCF側基板1が予め端子幅分切除されてTFT側基板のみが残されている領域である。
Using the first and
本発明では、この端子領域Tを有する短冊状基板M1にスクライブラインS3を加工するときに下記の手段で行うようにした。すなわち、端子領域Tを有する第二基板(TFT側基板)2を第二カッターホイール3bで押し付けてスクライブしたときに、予め端子領域Tに破壊が生じるカッターホイール3bの基板への切込量を破壊切込量として探索して設定しておき、スクライブ時に破壊切込量を超えない適正切込量の加工条件の範囲内でカッターホイール3bを押し込んでスクライブすることにより、端子領域Tの変形を緩和して端子領域Tにおける破壊の発生をなくすようにした。
In the present invention, when processing the scribe line S3 to the strip-like substrate M1 having the terminal area T, the following means is used. That is, when the second substrate (TFT side substrate) 2 having the terminal area T is scribed by pressing with the
発明者等は、TFT側基板2の厚みが0.3mm、端子幅6mmの貼り合わせ基板(短冊状基板M1)を、直径2mmの第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて「先行切り」のスクライブ手法により1.0mmの切込量でスクライブラインを加工するスクライブ実験を行った。その結果、図9に示すように、端子領域Tの変形により破壊が発生し、その時の第二カッターホイール3bのZ軸アドレスの変化量hは0.41mmであることが確認された。なお、Z軸アドレスとは、スクライブ時におけるカッターホイールの基板厚さ方向に沿った移動軌跡の位置をいい、変化量hはカッターホイールが基板に接触する位置を基準(0点)として、設定された切込量に応じた実際のカッターホイールの位置の変化量をいう。
The inventors used the first and
また、上記と同じ貼り合わせ基板に、それぞれ0.1mm〜0.9mmの切込量を設定してスクライブ実験を行った。その結果を図15に示す。これによれば、切込量が0.1mm〜0.3mmでは、端子領域TにおけるZ軸アドレスの最大変化量が0.4mm以下であり、上記の端子破壊点を超えない範囲に収まっているが、切込量0.5mm以上ではZ軸アドレスの最大変化量が端子破壊点を超えており、端子領域Tに破壊が発生する可能性が高くなる。したがって、0.1mm〜0.3mmが適正切込量となる。実際に、図15における切込量0.3mmの場合の図10におけるZ軸アドレスの最大変化量は0.253mmであって、端子領域Tの変形は小さく抑制され、端子領域Tの破壊は発生しない。 Moreover, the scribing experiment was performed by setting a cutting amount of 0.1 mm to 0.9 mm for each of the same bonded substrate as described above. The results are shown in FIG. According to this, when the cutting amount is 0.1 mm to 0.3 mm, the maximum variation of the Z-axis address in the terminal area T is 0.4 mm or less, and is within the range not exceeding the above-mentioned terminal breakage point However, if the cutting amount is 0.5 mm or more, the maximum amount of change in the Z-axis address exceeds the terminal breakage point, and the possibility of breakage occurring in the terminal region T becomes high. Therefore, 0.1 mm-0.3 mm becomes the appropriate cutting amount. Actually, the maximum variation of the Z-axis address in FIG. 10 with a depth of 0.3 mm in FIG. 15 is 0.253 mm, the deformation of the terminal area T is suppressed to a small degree, and the breakage of the terminal area T occurs do not do.
このようなスクライブ実験を、0.1mm〜1.0mmの厚みの貼り合わせ基板に対してそれぞれ行うことにより、Z軸アドレスの最大変化量が端子破壊点を超えない適正切込量を各板厚ごとに分類して設定する。そしてこの設定値をスクライブレシピとして、スクライブ装置に付帯するコンピュータの制御部に記憶させておき、スクライブ開始時に、加工すべき基板に対応する希望の切込量をレシピから選択してコンピュータ制御によりスクライブするようにした。 By performing such a scribing experiment on each bonded substrate with a thickness of 0.1 mm to 1.0 mm, each thickness of the plate can be properly cut so that the maximum change amount of the Z-axis address does not exceed the terminal breakage point. Classify and set each. Then, the setting value is stored as a scribing recipe in the control unit of the computer attached to the scribing apparatus, and at the start of scribing, a desired cutting amount corresponding to the substrate to be processed is selected from the recipe and scribing is performed by computer control. It was made to do.
次に、図11、図12を参照して、端子領域Tを含む第二基板において、スクライブラインの始点が製品領域Pに位置し、スクライブラインの終点に端子領域Tが位置する場合に行われるスクライブ過程について説明する。図11は第一、第二カッターホイールによるスクライブ過程を示す説明図であり、図12は第一、第二カッターホイールによる端子領域のスクライブ過程を示す説明図である。 Next, referring to FIGS. 11 and 12, in the second substrate including terminal area T, the process is performed when the start point of the scribe line is positioned at product area P and the terminal area T is positioned at the end point of the scribe line. The scribing process will be described. FIG. 11 is an explanatory view showing a scribing process by the first and second cutter wheels, and FIG. 12 is an explanatory view showing a scribing process of the terminal area by the first and second cutter wheels.
TFT側基板2に対して、上記の適正切込量と、第一のスクライブ荷重が選択され、スクライブ始点に第二カッターホイール3bが押しつけられる。第二カッターホイール3bが所定の走行速度(スクライブ速度)で転動させられることにより、製品領域Pにスクライブラインが形成される。続いて、端子領域Tをスクライブする際に、第一のスクライブ荷重より、例えば20〜50%小さい第二のスクライブ荷重が選択される。具体的には、端子領域Tより所定距離内側からスクライブ荷重が変化し、端子領域Tの根元部Rから終端部においては第二のスクライブ荷重でスクライブラインが形成される。端子領域Tの根元部Rから確実に第二のスクライブ荷重とするためには、端子領域Tから内側、すなわち製品領域Pの端子領域T近傍で荷重が変化し始めることが好ましい。一方、製品領域Pでのスクライブ荷重が小さい場合、垂直クラックの深さが小さくなり、後の分断工程において分断不良が発生する可能性がある。このため、製品領域Pの、端子領域Tの根元部Rより1〜2mm内側の位置から荷重を変化させることが好ましい。これにより、端子領域の変形をさらに抑制することができ、特に、シフト切りにより、基板の変形がスクライブ進行方向から見て非対称になる場合に、ソゲの発生を抑制することができる。
The appropriate cutting amount and the first scribing load are selected with respect to the
さらに、端子領域Tの終端部においては、図10に示すように、端子領域Tの終端位置の近傍Nまでは水平な走行ライン15に沿って移行させ、端子領域Tの終端位置の近傍Nから端子領域Tの終端位置までは端子領域Tの表面から徐々に、かつ、わずかに離れるように走行させる。そして、端子領域Tの終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に垂直方向へ退避させるようにした。具体的には、終端位置より例えば10μm内側から第二カッターホイール3bが端子領域Tの表面から離れはじめることで、確実に端子領域Tの終端位置において停止することなく垂直方向へ退避することが可能である。
Furthermore, at the end portion of the terminal area T, as shown in FIG. 10, the vicinity N of the end position of the terminal area T is shifted along the horizontal traveling
次に、第一基板(CF側基板)1のスクライブ動作について説明する。本実施の形態においては、第一基板(CF側基板)1と第二基板(TFT側基板)2において、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bにより同時にスクライブ動作が行われる。CF側基板1においても、TFT側基板2と同様に、切込量と、前述の第一のスクライブ荷重が選択され、スクライブ始点に第一カッターホイール3aが押しつけられて、所定のスクライブ速度で製品領域Pのスクライブが実行される。続いて、対向するTFT基板の端子領域Tがスクライブされる間、第一のスクライブ荷重より、例えば20〜50%小さい第二のスクライブ荷重によりスクライブが行われる。具体的には、TFT側基板の第二カッターホイール3bによって加えられる荷重が変化し始めるのと同時に、CF側基板においても荷重が変化させられ、TFT側基板の端子幅wに相当する距離が第二のスクライブ荷重でスクライブが行われる。すなわち、製品領域Pの終端部より、端子幅wに加えて1〜2mm内側の位置から荷重を変化させることが好ましい。このように第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bの荷重が同時に変化するため、マザー基板にかかる負荷が不均一になることがない。従って、マザー基板全体の変形を抑制することができる。
Next, the scribing operation of the first substrate (CF side substrate) 1 will be described. In the present embodiment, in the first substrate (CF side substrate) 1 and the second substrate (TFT side substrate) 2, the scribing operation is simultaneously performed by the
また、第一基板終端位置の近傍までは第一カッターホイール3aを第一基板表面に水平な走行ラインに沿って移行させ、CF側基板1の終端位置の近傍から終端位置までは第一基板の表面から徐々に、かつ、わずかに離れるように走行させる。そして、第一基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に垂直方向へ退避させる。具体的には、終端位置より例えば10μm内側から第一カッターホイール3aがCF側基板1の表面から離れはじめることで、確実にCF側基板1の終端位置において停止することなく垂直方向へ退避することが可能である。 このようにCF側基板1をスクライブする第一カッターホイール3aも基板の終端で瞬時に退避するため、第一カッターホイールの停止時間中にCF側基板1の終端にのみ負荷がかかり続けることがなくなる。従って、CF側基板1並びにマザー基板M全体の変形も抑制することができる。
Further, the
このとき、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bとが、同時にマザー基板Mから退避するように、言い換えれば、第一カッターホイール3aがCF側基板の終端位置に達すると同時に第二カッターホイール3bがTFT側基板2の端子領域Tの終端位置に達するように、スクライブ速度等のスクライブ条件を設定することが好ましい。これにより、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bがマザー基板Mの終端で瞬時に退避するため、マザー基板Mにかかる負荷が不均一になることがない。従って、マザー基板全体の変形も抑制することができる。
At this time, the
なお、CF側基板1には端子領域Tが存在しないため、CF側基板1における切込量としては、TFT側基板2と同じ適正切込量を用いてもよく、適正切込量より大きな切込量を用いてもよい。製品領域PにおいてはCF側基板1とTFT側基板2が互いに貼り合わされており、CF側基板1においては端子破壊点を超える切込量を用いても、基板の破壊に至る変形は生じないためである。
In addition, since the terminal area T does not exist in the
図13は、スクライブレシピSDの一例を示す図である。各スクライブレシピSDには、レシピNo.1…No.nのようにレシピごとに識別するための番号が付されている。それぞれのスクライブレシピSDには、基板の厚み、切込量、端子幅、使用されるカッターホイールの直径並びに刃先の種類、カッターホイールの走行速度、スクライブ荷重などがスクライブ情報として分類して記述されている。そして、オペレータによりこれから実行しようとするスクライブ加工に適合したレシピの1つが選択されると、制御部がこれを読み込むことで、スクライブレシピSDに記述された内容に基づいてカッターホイールの上昇量が制御されてスクライブ処理が実行される。 FIG. 13 is a diagram showing an example of the scribe recipe SD. For each scribe recipe SD, recipe no. 1 ... No. Numbers for identifying each recipe are attached like n. In each scribing recipe SD, the thickness of the substrate, cutting depth, terminal width, diameter of cutter wheel used and type of cutting edge, traveling speed of cutter wheel, scribing load etc. are classified and described as scribing information There is. Then, when one of the recipes suitable for the scribing process to be executed is selected by the operator, the control unit reads the recipe to control the amount of rise of the cutter wheel based on the contents described in the scribing recipe SD. And the scribing process is performed.
図14は、コンピュータ11の構造を示すブロック図である。コンピュータ11は、CPU、RAM、ROM等のコンピュータハードウエアにより実現される制御部12と、入力部13と、処理メニューや動作状況が表示される表示部14を備えている。制御部12は、テーブル4による基板の吸着保持、モータ10によるスクライブヘッド6、6の移動、昇降機構によるカッターホイール3a、3bの昇降動作等、基板に対する加工処理動作全般の制御を行う。入力部13は、オペレータがスクライブ装置に対して種々の操作指示やデータを入力するためのインターフェースである。
FIG. 14 is a block diagram showing the structure of the
本発明は上記したように、端子領域Tの部分を第二カッターホイール3bで切り込んでスクライブしたときに、端子領域Tが変形して破壊が生じるカッターホイールの位置を端子破壊点とし、この端子破壊点を超えない適正切込量を選択してスクライブを行うとともに、端子領域の終端においてカッターホイールが停止することなく端子領域から退避するようにした。これにより、基板の厚さが小さく、端子幅が大きい端子領域Tの変形が生じやすい条件下においても、第二カッターホイール3bのスクライブ終端時において端子領域Tの変形が抑制されて、端子領域Tが破壊されるのを確実に防止することができる。また、端子領域Tのスクライブ時にはスクライブ荷重を低減することで、端子領域T以外のスクライブ荷重を高くする場合においても先走りやソゲ等の不具合を抑制することができ、高品質の製品を得ることができる。
In the present invention, as described above, when a portion of the terminal area T is cut and scribed by the
以上、本発明の代表的な実施例について説明したが、本発明は必ずしも上記の実施形態に特定されるものではなく、本発明の目的を達成し、請求の範囲を逸脱しない範囲内で適宜修正、変更することが可能である。
例えば、本実施の形態においてはマザー基板Mがテーブル4上にCF側基板1が上面となるように配置されているが、TFT側基板2が上面となるように配置されてもよい。この場合、第一のカッターホイール3aがテーブルの下方に、第二のカッターホイール3bがテーブルの上方にそれぞれ配置される。
As mentioned above, although the typical example of the present invention was described, the present invention is not necessarily specified to the above-mentioned embodiment, but the object of the present invention is achieved, and it is corrected suitably within the range which does not deviate from a claim. It is possible to change.
For example, in the present embodiment, the mother substrate M is disposed on the table 4 so that the
本発明の貼り合わせ基板のスクライブ方法およびスクライブ装置は、端子領域を有する貼り合わせ基板に分断用のスクライブラインを加工するときに利用することができる。 The scribing method and scribing apparatus of a bonded substrate according to the present invention can be utilized when processing a scribing line for division into a bonded substrate having a terminal area.
M マザー基板
M1 短冊状基板
M2 単位製品
SD スクライブレシピ
T 端子領域
1 第一基板(CF側基板)
2 第二基板(TFT側基板)
3a 第一カッターホイール
3b 第二カッターホイール
4 テーブル
11 コンピュータ
12 制御部
M Mother board M1 Strip-like board M2 Unit product SD scribe recipe
2 Second substrate (TFT side substrate)
3a
Claims (3)
予め設定された前記端子領域の破壊が生じる端子破壊点を超えない適正切込量を選択する工程と、
第一のスクライブ荷重で、前記貼り合わせ基板の製品領域をスクライブする工程と、
第一のスクライブ荷重より小さい、第二のスクライブ荷重で少なくとも前記端子領域をスクライブする工程と、
前記端子領域の終端部において、前記カッターホイールが停止することなく前記終端部から退避する工程と、を含む、
貼り合わせ基板のスクライブ方法。 Bonding having a product region in which a first substrate and a second substrate are bonded, and a terminal region formed by cutting a part of the edge of the first substrate and forming the edge of the second substrate A scribing method for processing a scribing line for division on the upper and lower surfaces of a substrate by scribing the laminated substrate in the direction of the terminal region from the product region using two cutter wheels facing each other,
Selecting a proper cutting amount not exceeding the terminal breaking point where destruction of the previously set terminal area occurs;
Scribing a product region of the bonded substrate by a first scribing load;
Scribing at least the terminal area with a second scribing load less than the first scribing load;
And, at the end of the terminal area, retracting the cutter wheel from the end without stopping.
How to scribe bonded substrates.
加工すべき貼り合わせ基板を保持するテーブルと、
前記テーブルに保持された貼り合わせ基板の上下に昇降機構を介して昇降可能に配置され、前記貼り合わせ基板の端子領域の方向に向かって走行する上下のカッターホイールと、
前記カッターホイールによる基板加工処理全般の処理を行う制御部と、
前記制御部に記憶されたスクライブレシピとを含み、
前記スクライブレシピは、
前記カッターホイールが前記端子領域部分に切り込んでスクライブするときに当該端子領域の破壊が生じない切込量と、
前記製品領域をスクライブするための第一のスクライブ荷重と、
前記端子領域をスクライブするための、前記第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重を含む加工条件のデータが記述され、
前記制御部は、
このスクライブレシピの1つを選択して当該加工条件に基づいてスクライブを行い、
前記端子領域の終端部の手前で前記カッターホイールが前記端子領域から退避するように前記昇降機構を昇降させるようにした貼り合わせ基板のスクライブ装置。 Bonding having a product region in which a first substrate and a second substrate are bonded, and a terminal region in which a part of an edge of the first substrate is cut out and formed at the edge of the second substrate A scribing apparatus for processing a scribing line for division on the upper and lower surfaces of a substrate, comprising:
A table for holding a bonded substrate to be processed;
Upper and lower cutter wheels disposed up and down movably on the upper and lower sides of the bonded substrate held on the table via an elevating mechanism, and traveling toward the terminal area of the bonded substrate;
A control unit that performs overall processing of substrate processing by the cutter wheel;
And a scribe recipe stored in the control unit;
The scribe recipe is
When the cutter wheel cuts and scribes into the terminal area portion, the amount of cut does not cause destruction of the terminal area;
A first scribing load for scribing the product area;
Data of processing conditions including a second scribing load smaller than the first scribing load for scribing the terminal area is described;
The control unit
Select one of these scribing recipes and scribe based on the processing conditions,
The scribing device for a bonded substrate stack, wherein the elevating mechanism is moved up and down so that the cutter wheel retracts from the terminal area before the terminal end of the terminal area.
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