JP2019100719A - Optical scan height measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定対象物の表面形状を測定する光走査高さ測定装置に関する。 The present invention relates to an optical scanning height measurement device that measures the surface shape of a measurement object.
測定対象物の表面形状を測定するために、光走査高さ測定装置が用いられる。例えば、特許文献1に記載された寸法測定装置においては、白色光源から放射された光が、光カプラにより測定光束と参照光束とに分割される。測定光束は、測定物走査光学系により走査され、被測定物の表面上の任意の測定点に照射される。参照光束は、参照光走査光学系に照射される。被測定物により反射された測定光束と参照光束との干渉に基づいて、被測定物の測定点の表面高さが求められる。
An optical scanning height measuring device is used to measure the surface shape of the measurement object. For example, in the dimension measurement device described in
特許文献1の寸法測定装置を用いることにより、測定対象物の所望の部分の形状を測定することができる。この場合、当該部分に測定光束を照射するために、寸法測定装置に対する測定対象物の位置および姿勢を正確に決定した上で、当該部分の位置座標を予め用意しておく必要がある。しかしながら、位置および姿勢を正確に維持しつつ測定対象物を載置する作業は面倒である。そのため、測定対象物の所望の部分を容易に指定することができず、当該部分を効率よく測定することができない。
By using the dimension measurement device of
本発明の目的は、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することが可能な光走査高さ測定装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide a light scanning height measuring device capable of efficiently measuring the shape of a desired portion of a measurement object.
(1)第1の発明に係る光走査高さ測定装置は、測定対象物を含む基準画像および基準画像上に指定された指定点の位置を示す位置情報を取得する情報取得部と、測定対象物を含む測定画像を取得する測定画像取得部と、光を出射する光出射部と、光出射部から出射された光を偏向して測定対象物に照射する偏向部と、測定対象物からの光を受光し、受光量を示す受光信号を出力する受光部と、測定指示を受け付ける測定指示部と、測定指示に応答して、情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点を設定する目標点設定部と、目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように偏向部を制御する駆動制御部と、偏向部の偏向方向または偏向部により偏向された光の照射位置と受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さを測定項目の値として算出する項目値算出部と、測定指示ごとに項目値算出部により算出された測定項目の値を記録する記録部と、測定画像と、項目値算出部により算出された測定項目の値と、記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとを表示する表示部とを備える。 (1) An optical scanning height measuring device according to the first invention comprises: a reference image including a measurement object; and an information acquiring unit acquiring position information indicating a position of a designated point designated on the reference image; A measurement image acquisition unit for acquiring a measurement image including an object, a light emission unit for emitting light, a deflection unit for deflecting light emitted from the light emission unit and irradiating the object to be measured, and A light receiving unit that receives light and outputs a light receiving signal indicating a light receiving amount, a measurement instructing unit that receives a measurement instruction, and a reference image on the basis of a reference image acquired by the information acquiring unit in response to the measurement instruction. A target point setting unit for setting a target point corresponding to a designated point of the light source, and drive control for controlling the deflection unit such that light is irradiated to the portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit And the deflection direction of the deflection unit or the deflection unit An item value calculation unit that calculates the height of the portion of the measurement object corresponding to the target point as the value of the measurement item based on the irradiation position of the received light and the light reception signal output by the light reception unit; A recording unit for recording the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit, a measurement image, the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit, and one or more measurements already recorded in the recording unit And a display unit for displaying statistical data based on the value of the item.
この光走査高さ測定装置においては、測定対象物を含む基準画像および基準画像上に指定された指定点の位置を示す位置情報が情報取得部により取得される。また、測定対象物を含む測定画像が測定画像取得部により取得される。測定指示が測定指示部により受け付けられる。 In the optical scanning height measuring device, the information acquiring unit acquires a reference image including the measurement object and position information indicating the position of a designated point designated on the reference image. In addition, a measurement image including a measurement object is acquired by the measurement image acquisition unit. A measurement instruction is received by the measurement instruction unit.
測定指示に応答して、情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点が目標点設定部により設定される。光出射部から出射された光が偏向部により偏向され、測定対象物に照射される。目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように偏向部が駆動制御部により制御される。測定対象物からの光が受光部により受光され、受光量を示す受光信号が出力される。偏向部の偏向方向または偏向部により偏向された光の照射位置と受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さが測定項目の値として項目値算出部により算出される。 In response to the measurement instruction, a target point corresponding to the designated point on the reference image is set by the target point setting unit based on the reference image acquired by the information acquisition unit. The light emitted from the light emitting unit is deflected by the deflecting unit and is irradiated to the object to be measured. The deflection unit is controlled by the drive control unit such that light is irradiated to the portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit. The light from the object to be measured is received by the light receiving unit, and a light receiving signal indicating the amount of light received is output. Based on the deflection direction of the deflection unit or the irradiation position of light deflected by the deflection unit and the light reception signal output by the light reception unit, the height of the portion of the measurement object corresponding to the target point is an item as the value of the measurement item Calculated by the value calculator.
この構成によれば、測定指示ごとに、基準画像上で指定された指定点に対応して目標点が設定され、設定された目標点に対応する測定対象物の部分の高さが測定項目の値として自動的に算出される。この場合、使用者は、光走査高さ測定装置に対する位置および姿勢を正確に調整した状態で測定対象物を載置する必要がなく、目標点の位置座標を予め用意する必要もない。したがって、使用者は、測定対象物の載置と測定指示とを繰り返し行うことにより、複数の測定対象物の測定項目を順次測定することができる。 According to this configuration, for each measurement instruction, the target point is set corresponding to the designated point specified on the reference image, and the height of the portion of the measurement object corresponding to the set target point is the measurement item. Calculated automatically as a value. In this case, it is not necessary for the user to place the measurement object in a state where the position and attitude with respect to the optical scanning height measurement device are accurately adjusted, and it is not necessary to prepare the position coordinates of the target point in advance. Therefore, the user can measure the measurement items of a plurality of measurement objects sequentially by repeatedly placing the measurement object and the measurement instruction.
また、測定指示ごとに項目値算出部により算出された測定項目の値が記録部により記録される。測定画像と、項目値算出部により算出された測定項目の値と、記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとが表示部に表示される。使用者は、表示部に表示された測定画像、測定項目の値および統計データを視認することにより、測定対象物の測定結果が適切であるか否かを判断しながら測定指示を行うことができる。その結果、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することができる。 In addition, the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit is recorded by the recording unit for each measurement instruction. The measurement image, the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit, and statistical data based on the value of one or more measurement items already recorded in the recording unit are displayed on the display unit. The user can issue a measurement instruction while judging whether the measurement result of the measurement object is appropriate or not by visually observing the measurement image, the value of the measurement item and the statistical data displayed on the display unit. . As a result, the shape of the desired part of the measurement object can be efficiently measured.
(2)光走査高さ測定装置は、設定モードと測定モードとで選択的に動作するように構成され、設定モードにおいて、基準対象画像を含む基準画像を取得する基準画像取得部と、設定モードにおいて、基準画像取得部により取得された基準画像上の指定点の指定を受け付けることにより位置情報を生成する位置情報取得部と、設定モードにおいて、基準画像取得部により取得された基準画像を示す基準画像データおよび位置情報取得部により生成された位置情報を対応付けることにより登録情報を生成し、生成された登録情報を情報取得部に与える登録情報生成部とをさらに備え、情報取得部、測定画像取得部、測定指示部、目標点設定部、駆動制御部、項目値算出部、記録部および表示部は、測定モードにおいて動作し、測定モードにおいて、情報取得部は、登録情報生成部により設定モードにおいて生成された登録情報から基準画像および位置情報を取得してもよい。 (2) The light scanning height measuring apparatus is configured to selectively operate in the setting mode and the measurement mode, and in the setting mode, a reference image acquiring unit that acquires a reference image including a reference target image, and the setting mode A position information acquiring unit that generates position information by receiving designation of a designated point on the reference image acquired by the reference image acquiring unit; and a reference indicating the reference image acquired by the reference image acquiring unit in the setting mode The information acquisition unit further includes: a registration information generation unit that generates registration information by associating the image data with the position information generated by the position information acquisition unit, and providing the generated registration information to the information acquisition unit. The measurement instruction unit, the target point setting unit, the drive control unit, the item value calculation unit, the recording unit, and the display unit operate in the measurement mode. , The information acquisition unit may acquire the reference image and the position information from the registration information generated in the setting mode by the registration information generation unit.
この場合、光走査高さ測定装置は、設定モードと測定モードとで選択的に動作する。設定モードにおいて、基準画像上で指定点が指定されることにより、登録情報が生成される。測定モードにおいて、測定指示ごとに、基準画像上で指定された指定点に対応して目標点が設定される。設定された目標点に対応する測定対象物の部分の高さが測定項目の値として自動的に算出され、算出された測定項目の値が記録部により記録される。そのため、熟練した使用者が設定モードにおいて登録情報を生成することにより、測定モードにおいて、使用者が熟練していない場合でも、所望の部分の高さの算出結果を画一的に取得することができる。これにより、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することが可能になる。 In this case, the optical scanning height measuring device selectively operates in the setting mode and the measuring mode. In the setting mode, registration information is generated by designating a designated point on the reference image. In the measurement mode, for each measurement instruction, a target point is set corresponding to the designated point designated on the reference image. The height of the portion of the measurement object corresponding to the set target point is automatically calculated as the value of the measurement item, and the calculated value of the measurement item is recorded by the recording unit. Therefore, by generating registration information in the setting mode, a skilled user can uniformly obtain the calculation result of the height of a desired portion even in the measurement mode, even when the user is not skilled. it can. This makes it possible to efficiently measure the shape of the desired part of the measurement object.
(3)第2の発明に係る光走査高さ測定装置は、測定対象物を含む基準画像、基準画像上に指定された指定点の位置を示す位置情報、および測定項目を取得する情報取得部と、測定対象物を含む測定画像を取得する測定画像取得部と、光を出射する光出射部と、光出射部から出射された光を偏向して測定対象物に照射する偏向部と、測定対象物からの光を受光し、受光量を示す受光信号を出力する受光部と、測定指示を受け付ける測定指示部と、測定指示に応答して、情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点を設定する目標点設定部と、目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように偏向部を制御する駆動制御部と、偏向部の偏向方向または偏向部により偏向された光の照射位置と受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さを算出する高さ算出部と、情報取得部により取得された測定項目および高さ算出部により算出された目標点に対応する高さに基づいて測定項目の値を算出する項目値算出部と、測定指示ごとに項目値算出部により算出された測定項目の値を記録する記録部と、測定画像と、項目値算出部により算出された測定項目の値と、記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとを表示する表示部とを備える。 (3) The optical scanning height measuring device according to the second aspect of the present invention is a reference image including a measurement object, position information indicating the position of a designated point designated on the reference image, and an information acquiring unit for acquiring a measurement item A measurement image acquisition unit for acquiring a measurement image including a measurement object, a light emission unit for emitting light, a deflection unit for deflecting light emitted from the light emission unit and irradiating the measurement object with the light, A light receiving unit that receives light from an object and outputs a light receiving signal indicating a light receiving amount, a measurement instructing unit that receives a measurement instruction, and a reference image acquired by the information acquiring unit in response to the measurement instruction A target point setting unit configured to set a target point corresponding to a designated point on the reference image; and a deflection unit configured to irradiate light to a portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit. Drive control unit to control, deflection direction or deflection unit of deflection unit Acquired by a height calculation unit that calculates the height of the portion of the measurement object corresponding to the target point based on the irradiation position of the light deflected by the light source and the light reception signal output by the light reception unit; The item value calculation unit which calculates the value of the measurement item based on the measured item and the height corresponding to the target point calculated by the height calculation unit, and the measurement item calculated by the item value calculation unit for each measurement instruction Display a recording unit for recording values, a measurement image, values of measurement items calculated by the item value calculation unit, and statistical data based on values of one or more measurement items already recorded in the recording unit And a display unit.
この光走査高さ測定装置においては、測定対象物を含む基準画像、基準画像上に指定された指定点の位置を示す位置情報、および測定項目が情報取得部により取得される。また、測定対象物を含む測定画像が測定画像取得部により取得される。測定指示が測定指示部により受け付けられる。 In this optical scanning height measuring device, a reference image including a measurement object, position information indicating the position of a designated point designated on the reference image, and a measurement item are acquired by the information acquisition unit. In addition, a measurement image including a measurement object is acquired by the measurement image acquisition unit. A measurement instruction is received by the measurement instruction unit.
測定指示に応答して、情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点が目標点設定部により設定される。光出射部から出射された光が偏向部により偏向され、測定対象物に照射される。目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように偏向部が駆動制御部により制御される。測定対象物からの光が受光部により受光され、受光量を示す受光信号が出力される。偏向部の偏向方向または偏向部により偏向された光の照射位置と受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さが高さ算出部により算出される。情報取得部により取得された測定項目および高さ算出部により算出された目標点に対応する高さに基づいて測定項目の値が項目値算出部により算出される。 In response to the measurement instruction, a target point corresponding to the designated point on the reference image is set by the target point setting unit based on the reference image acquired by the information acquisition unit. The light emitted from the light emitting unit is deflected by the deflecting unit and is irradiated to the object to be measured. The deflection unit is controlled by the drive control unit such that light is irradiated to the portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit. The light from the object to be measured is received by the light receiving unit, and a light receiving signal indicating the amount of light received is output. Based on the deflection direction of the deflection unit or the irradiation position of light deflected by the deflection unit and the light reception signal output by the light reception unit, the height calculation unit calculates the height of the portion of the measurement object corresponding to the target point Be done. The value of the measurement item is calculated by the item value calculation unit based on the measurement item acquired by the information acquisition unit and the height corresponding to the target point calculated by the height calculation unit.
この構成によれば、測定指示ごとに、基準画像上で指定された指定点に対応して目標点が設定され、設定された目標点に対応する測定対象物の部分の高さが自動的に算出される。また、算出された高さに基づいて測定項目の値が自動的に算出される。この場合、使用者は、光走査高さ測定装置に対する位置および姿勢を正確に調整した状態で測定対象物を載置する必要がなく、目標点の位置座標を予め用意する必要もない。したがって、使用者は、測定対象物の載置と測定指示とを繰り返し行うことにより、複数の測定対象物の測定項目を順次測定することができる。 According to this configuration, for each measurement instruction, the target point is set corresponding to the designated point specified on the reference image, and the height of the portion of the measurement object corresponding to the set target point is automatically set. It is calculated. Also, the value of the measurement item is automatically calculated based on the calculated height. In this case, it is not necessary for the user to place the measurement object in a state where the position and attitude with respect to the optical scanning height measurement device are accurately adjusted, and it is not necessary to prepare the position coordinates of the target point in advance. Therefore, the user can measure the measurement items of a plurality of measurement objects sequentially by repeatedly placing the measurement object and the measurement instruction.
また、測定指示ごとに項目値算出部により算出された測定項目の値が記録部により記録される。測定画像と、項目値算出部により算出された測定項目の値と、記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとが表示部に表示される。使用者は、表示部に表示された測定画像、測定項目の値および統計データを視認することにより、測定対象物の測定結果が適切であるか否かを判断しながら測定指示を行うことができる。その結果、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することができる。 In addition, the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit is recorded by the recording unit for each measurement instruction. The measurement image, the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit, and statistical data based on the value of one or more measurement items already recorded in the recording unit are displayed on the display unit. The user can issue a measurement instruction while judging whether the measurement result of the measurement object is appropriate or not by visually observing the measurement image, the value of the measurement item and the statistical data displayed on the display unit. . As a result, the shape of the desired part of the measurement object can be efficiently measured.
(4)測定項目の値は、複数の指定点の代表高さ、複数の指定点の高さの差または複数の指定点により特定される1または複数の平面に関する値を含んでもよい。この場合、複数の指定点の代表高さ、複数の指定点の高さの差または複数の指定点により特定される1または複数の平面に関する値を含む種々の測定項目の値を測定することができる。 (4) The values of the measurement items may include values relating to one or more planes specified by the representative heights of the plurality of designated points, the differences in height of the plurality of designated points, or the plurality of designated points. In this case, it is possible to measure values of various measurement items including representative heights of a plurality of designated points, height differences of a plurality of designated points, or values of one or more planes identified by a plurality of designated points. it can.
(5)光走査高さ測定装置は、設定モードと測定モードとで選択的に動作するように構成され、設定モードにおいて、基準対象画像を含む基準画像を取得する基準画像取得部と、設定モードにおいて、基準画像取得部により取得された基準画像上の指定点の指定を受け付けることにより位置情報を生成する位置情報取得部と、設定モードにおいて、位置情報取得部により受け付けられた指定点に基づく測定項目を取得する測定項目取得部と、設定モードにおいて、基準画像取得部により取得された基準画像を示す基準画像データ、位置情報取得部により生成された位置情報および測定項目取得部により取得された測定項目を対応付けることにより登録情報を生成し、生成された登録情報を情報取得部に与える登録情報生成部とをさらに備え、情報取得部、測定画像取得部、測定指示部、目標点設定部、駆動制御部、高さ算出部、項目値算出部、記録部および表示部は、測定モードにおいて動作し、測定モードにおいて、情報取得部は、登録情報生成部により設定モードにおいて生成された登録情報から基準画像、位置情報および測定項目を取得してもよい。 (5) The light scanning height measuring device is configured to selectively operate in the setting mode and the measurement mode, and in the setting mode, a reference image acquiring unit that acquires a reference image including a reference target image, and the setting mode A position information acquisition unit that generates position information by receiving designation of a designated point on the reference image acquired by the reference image acquisition unit; and measurement based on the designated point received by the position information acquisition unit in the setting mode Reference image data indicating a reference image acquired by the reference image acquisition unit in the measurement item acquisition unit acquiring an item and the setting mode, position information generated by the position information acquisition unit, and measurement acquired by the measurement item acquisition unit And a registration information generation unit that generates registration information by associating the items, and gives the generated registration information to the information acquisition unit. The information acquisition unit, the measurement image acquisition unit, the measurement instruction unit, the target point setting unit, the drive control unit, the height calculation unit, the item value calculation unit, the recording unit, and the display unit operate in the measurement mode. The acquisition unit may acquire the reference image, the position information, and the measurement item from the registration information generated in the setting mode by the registration information generation unit.
この場合、光走査高さ測定装置は、設定モードと測定モードとで選択的に動作する。設定モードにおいて、基準画像上で指定点が指定されることにより、登録情報が生成される。測定モードにおいて、測定指示ごとに、基準画像上で指定された指定点に対応して目標点が設定される。設定された目標点に対応する測定対象物の部分の高さが算出され、算出された高さに基づいて測定項目の値が自動的に算出され、算出された測定項目の値が記録部により記録される。そのため、熟練した使用者が設定モードにおいて登録情報を生成することにより、測定モードにおいて、使用者が熟練していない場合でも、所望の部分の測定項目の値の算出結果を画一的に取得することができる。これにより、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することが可能になる。 In this case, the optical scanning height measuring device selectively operates in the setting mode and the measuring mode. In the setting mode, registration information is generated by designating a designated point on the reference image. In the measurement mode, for each measurement instruction, a target point is set corresponding to the designated point designated on the reference image. The height of the portion of the measurement object corresponding to the set target point is calculated, the value of the measurement item is automatically calculated based on the calculated height, and the calculated value of the measurement item is recorded by the recording unit. It is recorded. Therefore, even if the user is not skilled in the measurement mode, a skilled user generates registration information in the setting mode, and uniformly obtains calculation results of values of measurement items of desired portions. be able to. This makes it possible to efficiently measure the shape of the desired part of the measurement object.
(6)光走査高さ測定装置は、設定モードにおいて、指定点に対応する測定対象物の部分の測定項目の許容値の入力を取得する許容値取得部と、測定モードにおいて、項目値算出部により算出された測定項目の値と許容値取得部により取得された許容値とに基づいて、測定対象物の良否を判定する検査部とをさらに備えてもよい。 (6) The optical scanning height measuring device acquires the input of the allowable value of the measurement item of the part of the measurement object corresponding to the designated point in the setting mode, and the item value calculation unit in the measurement mode The inspection apparatus may further include an inspection unit that determines the quality of the measurement object based on the value of the measurement item calculated by the calculation unit and the tolerance value acquired by the tolerance value acquisition unit.
この場合、設定モードにおいて、指定点に対応する測定対象物の部分の測定項目の許容値が許容値取得部により取得される。また、測定モードにおいて、許容値取得部により取得された許容値に基づいて、測定対象物の良否が検査部により判定される。そのため、熟練した使用者が設定モードにおいて指定点に対応する測定対象物の部分の測定項目の許容値を入力することにより、測定モードにおいて、使用者が熟練していない場合でも、測定対象物の良否の判定結果を画一的に取得することができる。これにより、測定対象物を正確かつ容易に検査することが可能になる。 In this case, in the setting mode, the tolerance acquisition unit acquires the tolerance of the measurement item of the part of the measurement object corresponding to the designated point. Further, in the measurement mode, based on the tolerance value acquired by the tolerance value acquisition unit, the quality of the measurement object is determined by the inspection unit. Therefore, even if the user is not skilled in the measurement mode, the skilled user can input the tolerance value of the measurement item of the portion of the measurement object corresponding to the designated point in the setting mode. The determination result of the quality can be uniformly acquired. This makes it possible to inspect the measurement object accurately and easily.
(7)光走査高さ測定装置は、統計モードで選択的に動作するように構成され、表示部は、統計モードにおいて、測定モードで記録部に記録された1または複数の測定項目の値に基づく統計データを表示してもよい。この場合、使用者は、統計モードにおいて、測定モードで記録部に記録された1または複数の測定項目の値に基づく統計データを視認することができる。これにより、使用者は、測定対象物の測定結果が適切であったか否かを確認することができる。 (7) The optical scanning height measurement apparatus is configured to selectively operate in the statistical mode, and the display unit is configured to, in the statistical mode, the values of one or more measurement items recorded in the recording unit in the measurement mode. Based on the statistical data may be displayed. In this case, in the statistical mode, the user can visually recognize statistical data based on the value of one or more measurement items recorded in the recording unit in the measurement mode. Thus, the user can confirm whether the measurement result of the measurement object is appropriate.
(8)統計データは、ヒストグラム、トレンドグラフまたは統計値リストを含んでもよい。この場合、使用者は、測定項目の値に基づくヒストグラム、トレンドグラフまたは統計値リストを視認しつつ測定指示を行うことができる。 (8) The statistical data may include a histogram, a trend graph or a statistical value list. In this case, the user can issue the measurement instruction while visually recognizing the histogram, the trend graph, or the statistical value list based on the value of the measurement item.
本発明によれば、測定対象物の所望の部分の形状を効率よく測定することができる。 According to the present invention, it is possible to efficiently measure the shape of the desired part of the measurement object.
(1)光走査高さ測定装置の全体構成
以下、本発明の実施の形態に係る光走査高さ測定装置について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の一実施の形態に係る光走査高さ測定装置の全体構成を示すブロック図である。図2は、図1のスタンド部100を示す外観斜視図である。図1に示すように、光走査高さ測定装置400は、スタンド部100、測定ヘッド200および処理装置300を備える。
(1) Overall Configuration of Light Scanning Height Measuring Device Hereinafter, a light scanning height measuring device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an entire configuration of an optical scanning height measuring device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an external perspective view showing the
スタンド部100は、縦断面がL字形状を有し、設置部110、保持部120および昇降部130を含む。設置部110は、水平な平板形状を有し、設置面に設置される。図2に示すように、設置部110の上面には、測定対象物Sが載置される正方形状の光学定盤111が設けられる。光学定盤111の上方には、測定ヘッド200により測定対象物Sを測定可能な測定領域Vが定義される。図2においては、測定領域Vが点線で図示される。
The
光学定盤111には、互いに直交する2方向に等間隔で並ぶように複数のねじ孔が形成される。これにより、クランプ部材およびねじ部材を用いて測定対象物Sの表面が測定領域V内に位置する状態で測定対象物Sを光学定盤111に固定することができる。
A plurality of screw holes are formed in the
保持部120は、設置部110の一端部から上方に延びるように設けられる。保持部120の上端部には、光学定盤111の上面に対向するように測定ヘッド200が取り付けられる。この場合、測定ヘッド200と設置部110とが保持部120により保持されるので、光走査高さ測定装置400の取り扱いが容易になる。また、測定対象物Sを設置部110上の光学定盤111に載置することにより、測定対象物Sを測定領域V内に容易に位置させることができる。
The holding
図1に示すように、昇降部130は、保持部120の内部に設けられる。昇降部130は、光学定盤111上の測定対象物Sに対して測定ヘッド200を上下方向(測定対象物Sの高さ方向)に移動させることができる。測定ヘッド200は、制御基板210、撮像部220、光学部230、導光部240、参照部250、合焦部260および走査部270を含む。制御基板210は、例えばCPU(中央演算処理装置)、ROM(リードオンリメモリ)およびRAM(ランダムアクセスメモリ)を含む。制御基板210は、マイクロコンピュータにより構成されてもよい。
As shown in FIG. 1, the
制御基板210は、処理装置300に接続され、処理装置300による指令に基づいて、昇降部130、撮像部220、光学部230、参照部250、合焦部260および走査部270の動作を制御する。また、制御基板210は、撮像部220、光学部230、参照部250、合焦部260および走査部270から取得する種々の情報を処理装置300に与える。撮像部220は、光学定盤111に載置された測定対象物Sを撮像することにより測定対象物Sの画像データを生成し、生成された画像データを制御基板210に与える。
The
光学部230は、時間的に低いコヒーレンス性を有する出射光を導光部240に出射する。導光部240は、光学部230からの出射光を参照光と測定光とに分割し、参照光を参照部250に導くとともに、測定光を合焦部260に導く。参照部250は、参照光を導光部240に反射する。合焦部260は、自己を通過する測定光に焦点を付与する。走査部270は、合焦部260により焦点が付与された測定光を走査することにより、測定対象物Sの所望の部分に測定光を照射する。
The
測定対象物Sに照射された測定光の一部は、測定対象物Sにより反射され、走査部270および合焦部260を通して導光部240に導かれる。導光部240は、参照部250により反射された参照光と測定対象物Sにより反射された測定光との干渉光を生成し、光学部230に導く。光学部230は、干渉光の波長ごとの受光量を検出し、検出結果を示す信号を制御基板210に与える。測定ヘッド200の詳細は後述する。
A part of the measurement light irradiated to the measurement object S is reflected by the measurement object S, and is guided to the
処理装置300は、制御部310、記憶部320、操作部330および表示部340を含む。制御部310は、例えばCPUを含む。記憶部320は、例えばROM、RAMおよびHDD(ハードディスクドライブ)を含む。記憶部320には、システムプログラムが記憶される。また、記憶部320は、種々のデータの記憶およびデータの処理のために用いられる。
The
制御部310は、記憶部320に記憶されたシステムプログラムに基づいて、測定ヘッド200の撮像部220、光学部230、参照部250、合焦部260および走査部270の動作を制御するための指令を制御基板210に与える。また、制御部310は、測定ヘッド200の制御基板210から種々の情報を取得して記憶部320に記憶させる。
操作部330は、マウス、タッチパネル、トラックボールまたはジョイスティック等のポインティングデバイスおよびキーボードを含み、制御部310に指示を与えるために使用者により操作される。表示部340は、例えばLCD(液晶ディスプレイ)パネルまたは有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネルを含む。表示部340は、記憶部320に記憶された画像データに基づく画像および計測結果等を表示する。
The
(2)昇降部および導光部
図3は、スタンド部100および測定ヘッド200の構成を示すブロック図である。図3では、昇降部130、光学部230および導光部240の詳細な構成が示される。図3に示すように、昇降部130は、駆動部131、駆動回路132および読取部133を含む。
(2) Lifting Unit and Light Guide Unit FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the
駆動部131は、例えばモータであり、図3に太い矢印で示すように、光学定盤111上の測定対象物Sに対して測定ヘッド200を上下方向に移動させる。これにより、測定光の光路長を広い範囲にわたって調整することができる。ここで、測定光の光路長は、測定光が後述する導光部240のポート245dから出力された後、測定対象物Sにより反射された測定光がポート245dに入力されるまでの光学的な光路の長さである。
The
駆動回路132は、制御基板210に接続され、制御基板210による制御に基づいて駆動部131を駆動させる。読取部133は、例えば光学式のリニアエンコーダであり、駆動部131の駆動量を読み取ることにより測定ヘッド200の上下方向における位置を検出する。また、読取部133は、検出結果を制御基板210に与える。
The
光学部230は、光出射部231および測定部232を含む。光出射部231は、光源として例えばSLD(スーパールミネッセントダイオード)を含み、比較的低いコヒーレンス性を有する出射光を出射する。具体的には、出射光のコヒーレンス性は、LED(発光ダイオード)により出射される光または白色光のコヒーレンス性よりも高く、レーザ光のコヒーレンス性よりも低い。したがって、出射光は、LEDにより出射される光または白色光の波長帯域幅よりも狭く、レーザ光の波長帯域幅よりも広い波長帯域幅を有する。光学部230からの出射光は、導光部240に入力される。
The
導光部240から干渉光が測定部232に出力される。図4は、測定部232の構成を示す模式図である。図4に示すように、測定部232は、レンズ232a,232c、分光部232bおよび受光部232dを含む。後述する導光部240の光ファイバ242から出力された干渉光は、レンズ232aを通過することにより略平行化され、分光部232bに入射される。分光部232bは、例えば反射型の回折格子である。分光部232bに入射された光は、波長ごとに異なる角度で反射するように分光され、レンズ232cを通過することにより波長ごとに異なる一次元上の位置に合焦される。
Interference light is output from the
受光部232dは、例えば複数の画素が一次元状に配列された撮像素子(一次元ラインセンサ)を含む。撮像素子は、多分割PD(フォトダイオード)、CCD(電荷結合素子)カメラまたはCMOS(相補性金属酸化膜半導体)イメージセンサであってもよいし、他の素子であってもよい。受光部232dは、レンズ232cにより形成された波長ごとに異なる複数の合焦位置で撮像素子の複数の画素がそれぞれ光を受光するように配置される。
The
受光部232dの各画素からは、受光量に対応するアナログの電気信号(以下、受光信号と呼ぶ。)が出力され、図3の制御基板210に与えられる。これにより、制御基板210は、受光部232dの各画素(干渉光の波長)と受光量との関係を示すデータを取得する。制御基板210は、当該データに所定の演算および処理を行うことにより、測定対象物Sの部分の高さを算出する。
An analog electric signal (hereinafter referred to as a light reception signal) corresponding to the amount of light received is output from each pixel of the
図3に示すように、導光部240は、4本の光ファイバ241,242,243,244、ファイバカプラ245およびレンズ246を含む。ファイバカプラ245は、いわゆる2×2型の構成を有し、4個のポート245a,245b,245c,245dおよび本体部245eを含む。ポート245a,245bとポート245c,245dとは、本体部245eを挟んで対向するように本体部245eに設けられる。
As shown in FIG. 3, the
光ファイバ241は、光出射部231とポート245aとの間に接続される。光ファイバ242は、測定部232とポート245bとの間に接続される。光ファイバ243は、参照部250とポート245cとの間に接続される。光ファイバ244は、合焦部260とポート245dとの間に接続される。なお、本実施の形態においては、光ファイバ243は、光ファイバ241,242,244よりも長い。レンズ246は、光ファイバ243と参照部250との光路上に配置される。
The
光出射部231からの出射光は、光ファイバ241を通してポート245aに入力される。ポート245aに入力された出射光の一部は、ポート245cから参照光として出力される。参照光は、光ファイバ243およびレンズ246を通過することにより略平行化され、参照部250に導かれる。また、参照部250により反射された参照光は、レンズ246および光ファイバ243を通してポート245cに入力される。
The light emitted from the
ポート245aに入力された出射光の他の一部は、ポート245dから測定光として出力される。測定光は、光ファイバ244、合焦部260および走査部270を通して測定対象物Sに照射される。また、測定対象物Sにより反射された測定光の一部は、走査部270、合焦部260および光ファイバ244を通してポート245dに入力される。ポート245cに入力された参照光とポート245dに入力された測定光とは、ポート245bから干渉光として出力され、光ファイバ242を通して測定部232に導かれる。
The other part of the emitted light input to the
(3)参照部
図5は、参照部250の構成を示す模式図である。図5に示すように、参照部250は、固定部251、直線状に延びるリニアガイド251g、可動部252a,252b、固定ミラー253、可動ミラー254a,254b,254c、駆動部255a,255b、駆動回路256a,256bおよび読取部257a,257bを含む。固定部251およびリニアガイド251gは、測定ヘッド200の本体に固定される。可動部252a,252bは、リニアガイド251gが延びる方向に沿って移動可能にリニアガイド251gに取り付けられる。
(3) Reference Section FIG. 5 is a schematic view showing the configuration of the
固定ミラー253は、固定部251に取り付けられる。可動ミラー254a,254cは可動部252aに取り付けられる。可動ミラー254bは、可動部252bに取り付けられる。可動ミラー254cは、いわゆる参照ミラーとして用いられる。可動ミラー254cは、コーナーキューブにより構成されることが好ましい。この場合、光学部材の配列を容易に行うことができる。
The fixed
光ファイバ243から出力された参照光は、レンズ246を通過することにより略平行化された後、固定ミラー253、可動ミラー254a、可動ミラー254bおよび可動ミラー254cにより順次反射される。可動ミラー254cにより反射された参照光は、可動ミラー254b、可動ミラー254aおよび固定ミラー253により順次反射され、レンズ246を通して光ファイバ243に入力される。
The reference light output from the
駆動部255a,255bは、例えばボイスコイルモータであり、図5に白抜きの矢印で示すように、固定部251に対して可動部252a,252bをリニアガイド251gが延びる方向に沿ってそれぞれ移動させる。この場合、可動部252a,252bの移動方向に平行な方向において、固定ミラー253と可動ミラー254aとの間の距離、可動ミラー254aと可動ミラー254bとの間の距離および可動ミラー254bと可動ミラー254cとの間の距離が変化する。これにより、参照光の光路長を調整することができる。
The driving
ここで、参照光の光路長は、参照光が図3のポート245cから出力された後、可動ミラー254cにより反射された参照光がポート245cに入力されるまでの光学的な光路の長さである。参照光の光路長と測定光の光路長との差が一定の値以下のとき、参照光と測定光との干渉光が図3のポート245bから出力される。
Here, the optical path length of the reference light is an optical path length until the reference light reflected by the
本実施の形態においては、リニアガイド251gが延びる方向に沿って可動部252a,252bが互いに逆方向に移動するが、本発明はこれに限定されない。リニアガイド251gが延びる方向に沿って可動部252aおよび可動部252bのいずれか一方のみが移動し、他方は移動しなくてもよい。この場合においては、他方の移動しない可動部252a,252bは、リニアガイド251gではなく固定部251または測定ヘッド200の本体に非可動部として固定されてもよい。
In the present embodiment, the
駆動回路256a,256bは、図3の制御基板210に接続され、制御基板210による制御に基づいて駆動部255a,255bをそれぞれ駆動させる。読取部257a,257bは、例えば光学式のリニアエンコーダである。読取部257aは、駆動部255aの駆動量を読み取ることにより固定部251に対する可動部252aの相対位置を検出し、検出結果を制御基板210に与える。読取部257bは、駆動部255bの駆動量を読み取ることにより固定部251に対する可動部252bの相対位置を検出し、検出結果を制御基板210に与える。
The
(4)合焦部
図6は、合焦部260の構成を示す模式図である。図6に示すように、合焦部260は、固定部261、可動部262、可動レンズ263、駆動部264、駆動回路265および読取部266を含む。可動部262は、一方向に沿って移動可能に固定部261に取り付けられる。可動レンズ263は、可動部262に取り付けられる。可動レンズ263は、対物レンズとして用いられ、自己を通過する測定光に焦点を付与する。
(4) Focusing Unit FIG. 6 is a schematic view showing a configuration of the focusing
光ファイバ244から出力された測定光は、可動レンズ263を通して図3の走査部270に導かれる。また、図3の測定対象物Sにより反射された測定光の一部は、走査部270を通過した後、可動レンズ263を通して光ファイバ244に入力される。
The measurement light output from the
駆動部264は、例えばボイスコイルモータであり、図6に太い矢印で示すように、固定部261に対して可動部262を一方向(測定光の進行方向)に移動させる。これにより、測定光の焦点を測定対象物Sの表面上に位置させることができる。
The
駆動回路265は、図3の制御基板210に接続され、制御基板210による制御に基づいて駆動部264を駆動させる。読取部266は、例えば光学式のリニアエンコーダであり、駆動部264の駆動量を読み取ることにより固定部261に対する可動部262(可動レンズ263)の相対位置を検出する。また、読取部266は、検出結果を制御基板210に与える。
The
なお、光ファイバ244と可動レンズ263との間に光ファイバ244から出力された測定光を平行化するコリメータレンズを配置してもよい。この場合、可動レンズ263に入射される測定光が平行化され、測定光のビーム径が可動レンズの移動位置によらず変化しないため、可動レンズを小型に形成することが可能となる。
A collimator lens may be disposed between the
(5)走査部
図7は、走査部270の構成を示す模式図である。図7に示すように、走査部270は、偏向部271,272、駆動回路273,274および読取部275,276を含む。偏向部271は、例えばガルバノミラーにより構成され、駆動部271aおよび反射部271bを含む。駆動部271aは、例えば略垂直方向の回転軸を有するモータである。反射部271bは、駆動部271aの回転軸に取り付けられる。図3の光ファイバ244から合焦部260を通過した測定光は、反射部271bに導かれる。駆動部271aが回転することにより、反射部271bで反射される測定光の反射角度が略水平面内で変化する。
(5) Scanning Unit FIG. 7 is a schematic view showing a configuration of the
偏向部272は、偏向部271と同様に、例えばガルバノミラーにより構成され、駆動部272aおよび反射部272bを含む。駆動部272aは、例えば水平方向の回転軸を有するモータである。反射部272bは、駆動部272aの回転軸に取り付けられる。反射部271bにより反射された測定光は、反射部272bに導かれる。駆動部272aが回転することにより、反射部272bで反射される測定光の反射角度が略垂直面内で変化する。
The deflecting
このように、駆動部271a,272aが回転することにより、図3の測定対象物Sの表面上で測定光が互いに直交する二方向に走査される。これにより、測定対象物Sの表面上の任意の位置に測定光を照射することができる。測定対象物Sに照射された測定光は、測定対象物Sの表面で反射される。反射された測定光の一部は、反射部272bおよび反射部271bにより順次反射された後、図3の合焦部260に導かれる。
Thus, when the
駆動回路273,274は、図3の制御基板210に接続され、制御基板210による制御に基づいて駆動部271a,272aをそれぞれ駆動させる。読取部275,276は、例えば光学式のロータリエンコーダである。読取部275は、駆動部271aの駆動量を読み取ることにより反射部271bの角度を検出し、検出結果を制御基板210に与える。読取部276は、駆動部272aの駆動量を読み取ることにより反射部272bの角度を検出し、検出結果を制御基板210に与える。
The
(6)動作モード
図1の光走査高さ測定装置400は、複数の動作モードから使用者により選択された動作モードで動作する。具体的には、動作モードは、設定モード、測定モード、ハイトゲージモードおよび統計データモードを含む。図8は、光走査高さ測定装置400の表示部340に表示される選択画面341の一例を示す図である。
(6) Operation Mode The optical scanning
図8に示すように、表示部340の選択画面341には、設定ボタン341a、測定ボタン341b、ハイトゲージボタン341cおよび統計データモードボタン341dが表示される。使用者が図1の操作部330を用いて設定ボタン341a、測定ボタン341b、ハイトゲージボタン341cおよび統計データモードボタン341dを操作することにより、光走査高さ測定装置400が設定モード、測定モード、ハイトゲージモードおよび統計データモードでそれぞれ動作する。
As shown in FIG. 8, on the
以下の説明では、使用者のうち測定対象物Sの測定作業を管理する熟練した使用者を適宜測定管理者と呼び、測定管理者の管理の下で測定対象物Sの測定作業を行う使用者を適宜測定作業者と呼ぶ。設定モードは主として測定管理者により使用され、測定モードは主として測定作業者により使用される。 In the following description, among the users, a skilled user who manages the measurement operation of the measurement object S is appropriately referred to as a measurement manager, and a user who performs the measurement operation of the measurement object S under the management of the measurement administrator. Is appropriately called a measurement worker. The setting mode is mainly used by the measurement manager, and the measurement mode is mainly used by the measurement operator.
ここで、光走査高さ測定装置400においては、図2の測定領域Vを含む空間に固有の三次元座標系がX軸、Y軸およびZ軸により予め定義されている。ここで、X軸およびY軸は図2の光学定盤111に平行でかつ互いに直交し、Z軸はX軸およびY軸に直交する。各動作モードにおいては、上記の座標系により特定される座標のデータおよび撮像部220の撮像により取得される画像上の平面座標のデータが制御部310と制御基板210との間で伝送される。図9は、各動作モードにおいて制御部310と制御基板210との間で伝送されるデータの内容を示す図である。
Here, in the optical scanning
設定モードにおいては、測定管理者は、所望の測定対象物Sについての情報を光走査高さ測定装置400に登録することができる。具体的には、測定管理者は、所望の測定対象物Sを図2の光学定盤111上に載置し、図3の撮像部220により測定対象物Sを撮像する。また、測定管理者は、図1の表示部340に表示された測定対象物Sの測定すべき部分を画像上で測定点として指定する。この場合、図9(a)に示すように、制御部310は、画像上で指定された測定点により特定される平面座標(Ua,Va)を制御基板210に与える。
In the setting mode, the measurement manager can register information on the desired measurement object S in the light scanning
制御基板210は、図2の測定領域V内において平面座標(Ua,Va)に対応する位置の三次元座標(Xc,Yc,Zc)を特定し、特定された三次元座標(Xc,Yc,Zc)を制御部310に与える。制御部310は、制御基板210により与えられた三次元座標(Xc,Yc,Zc)を図1の記憶部320に記憶させる。また、制御部310は、記憶部320に記憶された三次元座標(Xc,Yc,Zc)および後述する基準面等の情報に基づいて測定点に対応する部分の高さを算出し、算出結果を記憶部320に記憶させる。
The
測定モードは、設定モードにおいて光走査高さ測定装置400に情報が登録された測定対象物Sと同一種類の測定対象物Sについて、測定点に対応する部分の高さを測定するために用いられる。具体的には、測定作業者は、設定モードにおいて光走査高さ測定装置400に情報が登録された測定対象物Sと同一種類の測定対象物Sを光学定盤111上に載置し、撮像部220により撮像する。この場合、図9(b)に示すように、制御部310は、設定モードにおいて記憶部320に記憶された三次元座標(Xc,Yc,Zc)を制御基板210に与える。
The measurement mode is used to measure the height of the portion corresponding to the measurement point for the measurement object S of the same type as the measurement object S whose information is registered in the optical scanning
制御基板210は、取得した三次元座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて、測定点に対応する測定対象物Sの部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出する。また、制御基板210は、算出された三次元座標(Xb,Yb,Zb)を制御部310に与える。制御部310は、制御基板210により与えられた三次元座標(Xb,Yb,Zb)および後述する基準面等の情報に基づいて測定点に対応する部分の高さを算出する。また、制御部310は、算出結果を図1の表示部340に表示させる。
The
このように、測定モードにおいては、測定作業者は測定対象物Sの測定すべき部分を指定することなく当該位置の高さを取得することができる。そのため、測定作業者が熟練していない場合でも、測定対象物の所望の部分の形状を容易かつ正確に測定することができる。また、設定モードにおいて三次元座標(Xc,Yc,Zc)が記憶部320に記憶されるので、測定モードにおいては、記憶された三次元座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて測定点に対応する部分を高速に特定することができる。
Thus, in the measurement mode, the measurement operator can acquire the height of the position without specifying the portion of the measurement object S to be measured. Therefore, even if the measurement operator is not skilled, it is possible to easily and accurately measure the shape of the desired part of the measurement object. In addition, since the three-dimensional coordinates (Xc, Yc, Zc) are stored in the
測定モードにおいては、測定作業者の指示に基づいて、複数の測定対象物Sについて、測定点に対応する部分の高さを順次算出することができる。ここで、測定指示ごとに算出された高さが記録される。これにより、複数の測定対象物Sについて算出された高さの統計データを表示部340に表示することが可能である。詳細は後述する。
In the measurement mode, the heights of the portions corresponding to the measurement points can be sequentially calculated for the plurality of measurement objects S based on the instruction of the measurement worker. Here, the height calculated for each measurement instruction is recorded. Thereby, it is possible to display statistical data of heights calculated for a plurality of measurement objects S on the
本実施の形態においては、設定モードにおいて平面座標(Ua,Va)に対応する三次元座標(Xc,Yc,Zc)が特定され、記憶部320に記憶されるが、本発明はこれに限定されない。設定モードにおいては、平面座標(Ua,Va)に対応する平面座標(Xc,Yc)が特定され、Z軸の成分Zcが特定されなくてもよい。この場合、特定された平面座標(Xc,Yc)が記憶部320に記憶される。また、測定モードにおいては、記憶部320に記憶された平面座標(Xc,Yc)が制御基板210に与えられる。
In the present embodiment, three-dimensional coordinates (Xc, Yc, Zc) corresponding to plane coordinates (Ua, Va) are specified in the setting mode and stored in
ハイトゲージモードは、使用者が画面上で測定対象物Sを確認しながら、測定対象物Sの所望の部分を測定点として画面上で指定し、当該部分の高さを測定するために用いられる。具体的には、使用者は、所望の測定対象物Sを光学定盤111上に載置し、撮像部220により測定対象物Sを撮像する。また、使用者は、表示部340に表示された測定対象物Sの画像上で測定すべき部分を測定点として指定する。この場合、図9(c)に示すように、制御部310は、画像上で指定された測定点により特定される平面座標(Ua,Va)を制御基板210に与える。
The height gauge mode is used to designate the desired part of the measurement object S as a measurement point on the screen while the user confirms the measurement object S on the screen, and to measure the height of the part. Specifically, the user mounts the desired measurement target S on the
制御基板210は、図2の測定領域V内において平面座標(Ua,Va)に対応する位置の三次元座標(Xc,Yc,Zc)を特定し、特定された三次元座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて測定点に対応する測定対象物Sの部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出する。また、制御基板210は、算出された三次元座標(Xb,Yb,Zb)を制御部310に与える。制御部310は、制御基板210により与えられた三次元座標(Xb,Yb,Zb)および後述する基準面等の情報に基づいて測定点に対応する部分の高さを算出し、算出結果を表示部340に表示させる。
The
図1の記憶部320には、座標変換情報および位置変換情報が予め記憶されている。座標変換情報は、測定領域V内の高さ方向(Z軸方向)の各位置における平面座標(Ua,Va)に対応する平面座標(Xc,Yc)を示す。また、制御基板210は、図5の可動部252a,252bの位置と図7の反射部271b,272bの角度とを制御することにより測定領域V内の所望の位置に測定光を照射することができる。位置変換情報は、測定領域V内の座標と可動部252a,252bの位置および反射部271b,272bの角度との関係を示す。
Coordinate conversion information and position conversion information are stored in advance in the
制御部310および制御基板210により構成される制御系は、座標変換情報および位置変換情報を用いることにより、測定点に対応する位置の三次元座標(Xc,Yc,Zc)および三次元座標(Xb,Yb,Zb)を特定することができる。座標変換情報および位置変換情報の詳細は後述する。
The control system configured by the
統計データモードは、測定モードにおいて記録された1または複数の高さに基づく統計データを表示するモードである。統計データモードは、例えば測定対象物Sの測定結果に不具合がある場合に、その原因を解析するために主として測定管理者により用いられる。統計データモードの詳細は後述する。 The statistical data mode is a mode for displaying statistical data based on one or more heights recorded in the measurement mode. The statistical data mode is mainly used by a measurement manager to analyze the cause, for example, when there is a defect in the measurement result of the measurement object S. Details of the statistical data mode will be described later.
(7)光走査高さ測定装置の制御系
(a)制御系の全体構成
図10は、図1の光走査高さ測定装置400の制御系を示すブロック図である。図10に示すように、制御系410は、基準画像取得部1、位置情報取得部2、駆動制御部3、基準面取得部4、許容値取得部5、登録部6、偏向方向取得部7、検出部8および画像解析部9を含む。また、制御系410は、参照位置取得部10、受光信号取得部11、距離情報算出部12、座標算出部13、判定部14、高さ算出部15、測定画像取得部16、目標点設定部17、検査部18および報告書作成部19をさらに含む。さらに、制御系410は、測定指示部22、記録部23および表示指示部24をさらに含む。
(7) Control System of Optical Scanning Height Measurement Device (a) Overall Configuration of Control System FIG. 10 is a block diagram showing a control system of the optical scanning
図1の制御基板210および制御部310が記憶部320に記憶されたシステムプログラムを実行することにより、上記の制御系410の各構成部の機能が実現される。図10においては、全ての動作モードにおける共通の処理の流れが実線で示され、設定モードにおける処理の流れが一点鎖線で示され、測定モードにおける処理の流れが点線で示される。後述する図38においても同様である。ハイトケージモードにおける処理の流れは、設定モードにおける処理の流れと略等しい。以下、理解を容易にするために、制御系410の各構成部を設定モードと測定モードとに分けて説明する。
When the
(b)設定モード
測定管理者は、所望の測定対象物Sを図2の光学定盤111上に載置し、図3の撮像部220により測定対象物Sを撮像する。基準画像取得部1は、撮像部220により生成される画像データを基準画像データとして取得し、取得された基準画像データに基づく画像を基準画像として図1の表示部340に表示させる。表示部340に表示される基準画像は、静止画像であってもよく、順次更新される動画像であってもよい。測定管理者は、表示部340に表示された基準画像上において、測定すべき部分を測定点として指定するとともに、基準点を指定することができる。基準点は、測定対象物Sの高さを算出する際の基準となる基準面を定めるための点である。
(B) Setting Mode The measurement manager places the desired measurement object S on the
以下、測定点および基準点を総称して指定点と呼ぶ。位置情報取得部2は、基準画像取得部1により取得された基準画像上における指定点の指定を受け付け、受け付けられた指定点の位置(上記の平面座標(Ua,Va))を取得する。位置情報取得部2は、指定点を複数受け付けることも可能である。
Hereinafter, the measurement points and the reference points are collectively referred to as designated points. The position information acquisition unit 2 receives the designation of the designated point on the reference image acquired by the reference
駆動制御部3は、図3の昇降部130の読取部133から測定ヘッド200の位置を取得し、取得された測定ヘッド200の位置に基づいて図3の駆動回路132を制御する。これにより、測定ヘッド200が上下方向の所望の位置に移動される。また、駆動制御部3は、図6の合焦部260の読取部266から可動レンズ263の位置を取得し、取得された可動レンズ263の位置に基づいて図6の駆動回路265を制御する。これにより、測定対象物Sの表面付近で測定光に焦点が付与されるように可動レンズ263が移動される。
The
また、駆動制御部3は、図1の記憶部320に記憶された位置変換情報と位置情報取得部2により取得された位置とに基づいて、図7の駆動回路273,274および図5の駆動回路256a,256bを制御する。これにより、図7の偏向部271,272の反射部271b,272bの角度が調整され、指定点に対応する測定対象物Sの部分に測定光が照射される。また、測定光の光路長が変化することに応じて、測定光の光路長と参照光の光路長との差が一定の値以下になるように参照光の光路長が調整される。
Further, the
上記の駆動制御部3の動作により、後述するように指定点に対応する測定対象物Sの部分の座標が座標算出部13により算出される。駆動制御部3の動作の詳細は後述する。
By the operation of the
基準面取得部4は、位置情報取得部2により取得された1または複数の基準点に対応して座標算出部13により算出された1または複数の座標に基づいて基準面を取得する。測定管理者は、位置情報取得部2により取得された測定点について、高さに対する許容値を入力することができる。許容値は、後述する測定モードにおける測定対象物Sの検査に用いられ、設計値と設計値からの公差とを含む。許容値取得部5は、入力された許容値を受け付ける。
The reference surface acquisition unit 4 acquires a reference surface based on one or more coordinates calculated by the coordinate
登録部6は、基準画像取得部1により取得された基準画像データ、位置情報取得部2により取得された位置および許容値取得部5により設定された許容値を関連付けて登録する。具体的には、登録部6は、基準画像データと、指定点の位置と、各測定値に対応する許容値との関連性を示す登録情報を記憶部320に記憶させる。複数の基準面が設定されてもよい。この場合、登録部6は、基準面ごとに、当該基準面に対応する基準点と、当該基準面に対応する測定点と、各測定値に対応する許容値とを関連付けて登録する。
The
偏向方向取得部7は、図7の読取部275,276から反射部271b,272bの角度をそれぞれ取得する。検出部8は、偏向方向取得部7により取得された反射部271b,272bの角度に基づいて偏向部271,272の偏向方向をそれぞれ検出する。また、撮像部220による撮像が継続されることにより、基準画像には測定対象物S上の測定光が現れる。画像解析部9は、基準画像取得部1により取得された基準画像データを解析する。検出部8は、画像解析部9の解析結果に基づいて偏向部271,272により偏向された測定光の基準画像上の照射位置を示す平面座標を検出する。
The deflection direction acquisition unit 7 acquires the angles of the
参照位置取得部10は、図5の参照部250の読取部257a,257bから可動部252a,252bの位置をそれぞれ取得する。受光信号取得部11は、図4の受光部232dから受光信号を取得する。距離情報算出部12は、受光部232dにより取得された受光信号に基づいて、干渉光の波長と受光量との関係を示すデータに所定の演算および処理を行う。この演算および処理は、例えば波長から波数への周波数軸変換および波数のフーリエ変換を含む。
The reference
距離情報算出部12は、処理により得られたデータと参照位置取得部10により取得された可動部252a,252bの位置とに基づいて、図2の測定ヘッド200における測定光の出射位置と測定対象物Sにおける測定光の照射位置との間の距離を示す距離情報を算出する。測定ヘッド200における測定光の出射位置は、例えば図3のファイバカプラ245のポート245dの位置である。
The distance
座標算出部13は、検出部8により検出された偏向部271,272の偏向方向と距離情報算出部12により算出された距離情報とに基づいて、測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標(Xc,Yc,Zc)を算出する。測定光の照射位置の三次元座標(Xc,Yc,Zc)は、高さ方向の座標Zcと、高さ方向に直交する平面内における平面座標(Xc,Yc)とからなる。
The coordinate
座標算出部13は、例えば三角測距方式を用いて、検出部8により検出される測定光の基準画像上の照射位置を示す平面座標と偏向部271,272の偏向方向とに基づいて測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標を算出してもよい。あるいは、座標算出部13は、検出部8により検出される測定光の基準画像上の照射位置を示す平面座標と距離情報算出部12により算出される距離情報とに基づいて測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標を算出してもよい。
The coordinate
判定部14は、指定点に対応する測定対象物Sの部分またはその近傍の部分に測定光が照射されているか否かを判定する。具体的には、座標算出部13は、算出された高さ方向の座標と記憶部320に記憶された座標変換情報とに基づいて、登録部6により登録された指定点に対応する平面座標(後述する平面座標(Xa’,Ya’))を取得する。また、判定部14は、座標算出部13により算出された平面座標(Xc,Yc)が指定点に対応する平面座標(Xa’,Ya’)から予め定められた範囲内にあるか否かを判定する。
The
あるいは、画像解析部9は、基準画像データを画像解析することにより、基準画像における測定光の照射位置の平面座標(後述する平面座標(Uc,Vc))を特定してもよい。この場合、判定部14は、画像解析部9により特定された測定光の照射位置の平面座標(Uc,Vc)が登録部6により登録された指定点の平面座標(Ua,Va)から予め定められた範囲内にあるか否かを判定する。
Alternatively, the
指定点に対応する測定対象物Sの部分およびその近傍の部分に測定光が照射されていないと判定部14により判定された場合には、駆動制御部3は、測定光の照射位置が移動するように図7の駆動回路273,274および図5の駆動回路256a,256bを制御する。指定点に対応する測定対象物Sの部分またはその近傍の部分に測定光が照射されていると判定部14により判定された場合には、駆動制御部3は測定光の照射位置が固定されるように駆動回路273,274および駆動回路256a,256bを制御する。
When the
座標算出部13は、基準点について算出された座標を基準面取得部4に与える。高さ算出部15は、測定点に対応して座標算出部13により算出された三次元座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて、基準面取得部4により取得された基準面を基準とする測定対象物Sの部分の高さを算出する。例えば、高さ算出部15は、基準面が平面である場合、三次元座標(Xc,Yc,Zc)を通る基準面の垂線における基準面から三次元座標(Xc,Yc,Zc)までの長さを高さとして算出する。高さ算出部15は、算出された高さを表示部340に表示させる。登録部6は、座標算出部13により算出された三次元座標(Xc,Yc,Zc)および高さ算出部15により算出された高さを基準画像データ、測定点の位置、基準点の位置および許容値と関連付けて登録情報として登録する。
The coordinate
(c)測定モード
測定作業者は、設定モードにおいて登録情報が登録された測定対象物Sと同一種類の測定対象物Sを図2の光学定盤111上に載置し、図3の撮像部220により撮像する。測定画像取得部16は、撮像部220により生成される画像データを測定画像データとして取得し、取得された測定画像データに基づく画像を測定画像として図1の表示部340に表示させる。
(C) Measurement mode The measurement operator places the measurement object S of the same type as the measurement object S whose registration information is registered in the setting mode on the
測定指示部22は、測定作業者から測定指示を受け付ける。測定作業者は、図1の操作部330を用いて、光学定盤111に載置された測定対象物Sの測定指示を行うことができる。測定指示部22が測定指示を受け付けた場合、目標点設定部17は、登録部6により登録された登録情報に基づいて、基準画像データに対する測定画像データのずれを補正する。これにより、目標点設定部17は、登録部6により登録された登録情報に対応する指定点を目標点として測定画像データに設定する。目標点は、測定点に対応する目標測定点と、基準点に対応する目標基準点とを含む。
The
駆動制御部3は、設定モードにおいて登録部6により登録された登録情報および目標点設定部17により設定された目標点に基づいて、図7の駆動回路273,274および図5の駆動回路256a,256bを制御する。これにより、目標点設定部17により設定された目標点に対応する測定対象物Sの部分に測定光が照射され、当該部分の三次元座標が座標算出部13により算出される。ここで、駆動制御部3は、設定モードにおいて登録された三次元座標および高さに基づいて制御を行うので、座標算出部13は、目標点設定部17により設定された目標点に対応する測定対象物Sの部分の三次元座標を効率よく算出することができる。
The
測定モードにおける偏向方向取得部7および検出部8の処理は、設定モードにおける偏向方向取得部7および検出部8の処理とそれぞれ同様である。測定モードにおける画像解析部9の処理は、基準画像取得部1により取得された基準画像データに代えて測定画像取得部16により取得された測定画像データが用いられる点を除き、設定モードにおける画像解析部9の処理と同様である。測定モードにおける参照位置取得部10、受光信号取得部11および距離情報算出部12の処理は、設定モードにおける参照位置取得部10、受光信号取得部11および距離情報算出部12の処理とそれぞれ同様である。
The processing of the deflection direction acquisition unit 7 and the
座標算出部13は、検出部8により検出された偏向部271,272の偏向方向と距離情報算出部12により算出された距離情報とに基づいて、測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出する。座標算出部13は、検出部8により検出される測定光の測定画像上の照射位置を示す平面座標と距離情報算出部12により算出される距離情報とに基づいて測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出してもよい。測定光の照射位置の三次元座標(Xb,Yb,Zb)は、高さ方向の座標Zbと、高さ方向に直交する平面内における平面座標(Xb,Yb)とからなる。
The coordinate
測定モードにおける判定部14の処理は、登録部6により登録された指定点に代えて目標点設定部17により設定された目標点を用いる点、および三次元座標(Xc,Yc,Zc)に代えて三次元座標(Xb,Yb,Zb)を用いる点を除き、設定モードにおける判定部14の処理と同様である。これにより、座標算出部13は、目標点設定部17により設定された目標点に対応する座標を算出する。
The process of the
基準面取得部4は、座標算出部13により算出された目標基準点に対応する座標に基づいて基準面を取得する。高さ算出部15は、座標算出部13により算出された目標測定点に対応する三次元座標(Xb,Yb,Zb)に基づいて、基準面取得部4により取得された基準面を基準とする測定対象物Sの部分の高さを算出する。高さ算出部15により算出された高さは、測定中の測定対象物Sの測定画像上の目標測定点に対応するように表示部340に表示される。
The reference surface acquisition unit 4 acquires a reference surface based on the coordinates corresponding to the target reference point calculated by the coordinate
記録部23は、測定指示部22が測定指示を受け付けるごとに、高さ算出部15により算出される高さを記録する。表示指示部24は、測定作業者から統計データの表示の指示を受け付ける。測定作業者は、操作部330を用いて統計データの表示を表示指示部24に指示することができる。統計データの表示の指示を受け付けた場合、表示指示部24は、測定中の測定対象物Sの測定画像と、当該測定画像上の目標点に対応して算出された高さと、記録部23に既に記録されている1または複数の高さに基づく統計データとを表示部340に同時に表示させる。
The
検査部18は、高さ算出部15により算出された測定対象物Sの部分の高さと登録部6に登録された許容値とに基づいて測定対象物Sを検査する。具体的には、算出された高さが設計値を基準とする公差の範囲内である場合には、検査部18は、測定対象物Sは良品であると判定する。一方、算出された高さが設計値を基準とする公差の範囲外である場合には、検査部18は、測定対象物Sは不良品であると判定する。
The
報告書作成部19は、検査部18による検査結果と測定画像取得部16により取得された測定画像に基づいて報告書を作成する。これにより、測定作業者は報告書を用いて測定対象物Sについての高さの測定値または検査結果を測定管理者または他の使用者に容易に報告することができる。報告書は、予め決定された記載様式に従って作成される。図11は、報告書作成部19により作成される報告書の一例を示す図である。
The
図11の記載様式においては、報告書420は、名称表示欄421、画像表示欄422、状況表示欄423、結果表示欄424および保証表示欄425を含む。名称表示欄421には、報告書420の名称(図11の例では「検査成績書」)が表示される。画像表示欄422には、検査対象の測定画像が表示される。状況表示欄423には、検査対象の名称、検査対象の識別番号、測定作業者の氏名および検査日時等が表示される。
In the description format of FIG. 11, the
結果表示欄424には、検査対象についての検査結果が表示される。具体的には、結果表示欄424には、検査対象に設定された種々の検査項目の名称、測定値および判定結果が、設計値および公差と対応付けられた状態で一覧表の形式で表示される。保証表示欄425は、署名または押印されるための空欄である。測定作業者および測定管理者は、保証表示欄425に署名または押印することにより検査結果を保証することができる。
In the
報告書作成部19は、検査部18により良品と判定された測定対象物Sについてのみ報告書420を作成してもよい。このような報告書420は、検査対象の製品を顧客に納品する際に、製品の品質を保証するために納品書に添付される。また、報告書作成部19は、検査部18により不良品と判定された測定対象物Sについてのみ報告書420を作成してもよい。このような報告書420は、検査対象の製品が不良品であると判定された原因を解析するために自社で用いられる。
The
本実施の形態においては、報告書420の結果表示欄424に測定対象物Sの部分の高さの測定値と当該部分について設定された検査項目の判定結果とが対応付けられた状態で表示されるが、本発明はこれに限定されない。報告書420の結果表示欄424に高さの測定値および検査項目の判定結果のいずれか一方が表示され、他方が表示されなくてもよい。
In the present embodiment, the
(d)ハイトゲージモード
使用者は、所望の測定対象物Sを図2の光学定盤111上に載置し、図3の撮像部220により測定対象物Sを撮像する。基準画像取得部1は、撮像部220により生成される画像データを取得し、取得された画像データに基づく画像を図1の表示部340に表示させる。使用者は、表示部340に表示された画像上において、指定点を指定する。
(D) Height Gauge Mode The user places a desired measurement object S on the
位置情報取得部2は、基準画像取得部1により取得された画像上における指定点の指定を受け付け、受け付けられた指定点の位置(上記の平面座標(Ua,Va))を取得する。位置情報取得部2は、指定点を複数受け付けることも可能である。
The position information acquisition unit 2 receives the designation of the designated point on the image acquired by the reference
駆動制御部3は、図1の記憶部320に記憶された位置変換情報と位置情報取得部2により取得された位置とに基づいて、図7の駆動回路273,274および図5の駆動回路256a,256bを制御する。これにより、指定点に対応する測定対象物Sの部分に測定光が照射されるとともに、参照光の光路長が調整される。
Drive
上記の駆動制御部3の動作により、指定点に対応する測定対象物Sの部分の座標が座標算出部13により算出される。基準面取得部4は、位置情報取得部2により取得された基準点に対応して座標算出部13により算出された座標に基づいて基準面を取得する。
The coordinates of the portion of the measurement target S corresponding to the designated point are calculated by the coordinate
ハイトゲージモードにおける偏向方向取得部7、検出部8、画像解析部9、参照位置取得部10、受光信号取得部11および距離情報算出部12の処理は、設定モードにおける偏向方向取得部7、検出部8、画像解析部9、参照位置取得部10、受光信号取得部11および距離情報算出部12の処理とそれぞれ同様である。
The processes of the deflection direction acquisition unit 7, the
座標算出部13は、検出部8により検出された偏向部271,272の偏向方向または測定光の照射位置と距離情報算出部12により算出された距離情報に基づいて、測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出する。座標算出部13は、検出部8により検出される測定光の測定画像上の照射位置を示す平面座標と距離情報算出部12により算出される距離情報とに基づいて測定対象物S上の測定光の照射位置の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出してもよい。ハイトゲージモードにおける判定部14および高さ算出部15の処理は、設定モードにおける判定部14および高さ算出部15の処理とそれぞれ同様である。
The coordinate
(8)制御系の全体的な動作フロー
図12〜図16は、図1の光走査高さ測定装置400において実行される光走査高さ測定処理の一例を示すフローチャートである。以下に示す一連の処理は、光走査高さ測定装置400の電源がオン状態にあるときに、制御部310および制御基板210により一定周期で実行される。なお、光走査高さ測定処理には、後述する指定測定処理および実測定処理が含まれる。以下の説明では、光走査高さ測定処理のうち指定測定処理および実測定処理が制御基板210により実行され、光走査高さ測定処理のうち他の処理が制御部310により実行されるが、本発明はこれに限定されない。例えば光走査高さ測定処理の全ての処理が制御基板210または制御部310により実行されてもよい。
(8) Overall Operation Flow of Control System FIGS. 12 to 16 are flowcharts showing an example of an optical scanning height measurement process performed in the optical scanning
初期状態においては、図2の光学定盤111上に測定対象物Sが載置された状態で、光走査高さ測定装置400の電源がオンされているものとする。このとき、図1の表示部340には、図8の選択画面341が表示される。
In the initial state, it is assumed that the power of the optical scanning
光走査高さ測定処理が開始されると、制御部310は、使用者の操作部330の操作により設定モードが選択されたか否かを判定する(ステップS101)。より具体的には、制御部310は、使用者により図8の設定ボタン341aが操作されたか否かを判定する。
When the light scanning height measurement process is started, the
制御部310は、設定モードが選択されない場合、後述する図15のステップS201の処理に進む。一方、制御部310は、設定モードが選択された場合、図1の表示部340に後述する図24の設定画面350を表示させる(ステップS102)。設定画面350においては、撮像部220により一定周期で取得される図2の測定領域Vの基準画像がリアルタイムに表示される。
When the setting mode is not selected, the
本実施の形態に係る光走査高さ測定装置400においては、図10の目標点設定部17の補正機能を実現するために、設定モードにおいてパターン画像およびサーチ領域を設定しておく必要がある。パターン画像は、使用者により指定された時点で表示される基準画像の全領域のうち少なくとも測定対象物Sを含む部分の画像を意味する。また、サーチ領域は、設定モードでパターン画像が設定された後に、測定モードにおいて測定画像内でパターン画像に類似する部分をサーチする範囲(撮像部220の撮像視野内の範囲)を意味する。
In the optical scanning
そこで、制御部310は、使用者の操作部330の操作によりサーチ領域の指定があったか否かを判定する(ステップS103)。制御部310は、サーチ領域の指定がない場合、後述するステップS105の処理に進む。一方、制御部310は、サーチ領域の指定がある場合、指定されたサーチ領域の情報を記憶部320に記憶することにより設定する(ステップS104)。
Therefore,
次に、制御部310は、使用者の操作部330の操作によりパターン画像の指定があったか否かを判定する(ステップS105)。制御部310は、パターン画像の指定がない場合、後述するステップS107の処理に進む。一方、制御部310は、パターン画像の指定がある場合、指定されたパターン画像の情報を記憶部320に記憶することにより設定する(ステップS106)。なお、パターン画像の情報には、基準画像における当該パターン画像の位置を示す情報も含まれる。使用者によるパターン画像およびサーチ領域の具体的な設定例については後述する。
Next, the
次に、制御部310は、ステップS104,S106の処理により、サーチ領域およびパターン画像が設定されたか否かを判定する(ステップS107)。制御部310は、サーチ領域およびパターン画像のうち少なくとも一方が設定されていない場合、ステップS103の処理に戻る。一方、制御部310は、サーチ領域およびパターン画像が設定されている場合、基準面の設定が受け付けられたか否かを判定する(ステップS108)。
Next, the
制御部310は、ステップS108で基準面の設定を受け付けた場合、使用者の操作部330の操作により表示部340に表示される基準画像上で基準点が指定されたか否かを判定する(ステップS109)。制御部310は、基準点が指定されない場合、後続のステップS111の処理に進む。一方、制御部310は、基準点が指定された場合、制御基板210に、指定測定処理を指令するとともに、画像上で指定された基準点により特定される平面座標(Ua,Va)を与える(図9(a)参照)。それにより、制御基板210は、指定測定処理を行うとともに(ステップS110)、指定測定処理により特定された座標(Xc,Yc,Zc)を制御部310に与える。指定測定処理の詳細は後述する。
When
その後、制御部310は、使用者の操作部330の操作により基準点の指定が完了したか否かを判定する(ステップS111)。制御部310は、基準点の指定が完了していない場合、ステップS109の処理に戻る。一方、制御部310は、基準点の指定が完了した場合、ステップS110の指定測定処理で取得された1または複数の座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて基準面を設定する(ステップS112)。本例では、1または複数の基準点に対応する座標(Xc,Yc,Zc)に基づいて基準面の座標を示す情報、例えば、各基準点に対応する平面座標(Xc,Yc)または各基準点に対応する座標(Xc,Yc,Zc)が記憶部320に記憶される。
Thereafter, the
ここで、基準面の座標を示す情報は、基準面を決定するための基準面拘束条件を含んでもよい。基準面拘束条件には、例えば、基準面が載置面に平行であること、または基準面は予め記憶された他の面に平行であること等の条件が含まれる。基準面が載置面に平行であるという基準面拘束条件の場合、1つの基準点に対する座標(Xb,Yb,Zb)が指定されると、Z=Zbで表される平面が基準面として取得されることとなる。 Here, the information indicating the coordinates of the reference surface may include a reference surface constraint condition for determining the reference surface. The reference surface restraint conditions include, for example, conditions such that the reference surface is parallel to the mounting surface, or that the reference surface is parallel to another surface stored in advance. In the case of a reference surface constraint condition that the reference surface is parallel to the mounting surface, if coordinates (Xb, Yb, Zb) for one reference point are specified, the plane represented by Z = Zb is acquired as the reference surface It will be done.
制御部310は、上記のステップS112の処理後あるいはステップS108で基準面の設定を受け付けていない場合、受け付けられる設定が測定対象物Sの測定に関する設定であるか否かを判定する(ステップS121)。より具体的には、制御部310は、受け付けられる設定が高さが測定されるべき測定対象物Sの部分を特定する設定であるか否かを判定する。
After the process of step S112 described above or when the setting of the reference plane is not received in step S108, the
制御部310は、受け付けられる設定が測定に関する設定でない場合、使用者の操作部330の操作による当該設定に関する情報を取得し、記憶部320に記憶する(ステップS130)。ここで取得される情報には、例えば、上記の許容値、測定モード時に測定画像上に表示させるべき指標およびコメント等の情報が挙げられる。その後、制御部310は、後述するステップS126の処理に進む。
If the accepted setting is not a setting regarding measurement,
制御部310は、ステップS121において受け付けられる設定が測定に関する設定であった場合、使用者の操作部330の操作により表示部340に表示される基準画像上で測定点が指定されたか否かを判定する(ステップS122)。制御部310は、測定点が指定されない場合、後続のステップS124の処理に進む。一方、制御部310は、測定点が指定された場合、上記のステップS110と同様に、制御基板210に、指定測定処理を指令するとともに、画像上で指定された測定点により特定される平面座標(Ua,Va)を与える。それにより、制御基板210は、指定測定処理を行うとともに(ステップS123)、指定測定処理により特定された座標(Xc,Yc,Zc)を制御部310に与える。
When the setting accepted in step S121 is the setting regarding measurement,
その後、制御部310は、使用者の操作部330の操作により測定点の指定が完了したか否かを判定する(ステップS124)。制御部310は、測定点の指定が完了していない場合、ステップS122の処理に戻る。
Thereafter, the
一方、制御部310は、測定点の指定が完了した場合、ステップS123の指定測定処理で取得された1または複数の測定点の座標(Xc,Yc,Zc)を記憶部320に記憶することにより測定点の設定を行う(ステップS125)。
On the other hand, when designation of the measurement point is completed, the
上記のステップS125,S130のいずれかの処理後、制御部310は、設定の完了が指令されたか、または新たな設定が指令されたかを判定する(ステップS126)。制御部310は、新たな設定が指令された場合、すなわち設定の完了が指令されない場合、ステップS108の処理に戻る。
After the process of any one of steps S125 and S130,
一方、制御部310は、設定の完了が指令された場合、上記のステップS103〜S112,S121〜S125,S130のいずれかにおいて設定された情報を互いに関連付けて登録情報として登録する(ステップS127)。その後、光走査高さ測定処理が設定モードで終了する。登録される登録情報のファイルは、使用者により特定のファイル名が付された上で記憶部320に保存される。このとき、ステップS103〜S112,S121〜S125,S130のいずれかにおいて、設定のために一時的に記憶部320に記憶された情報が消去されてもよい。
On the other hand, when the completion of setting is instructed,
ここで、ステップS127において、制御部310は、上記のステップS112の処理により基準面が設定されている場合、基準面と特定された座標(Xc,Yc,Zc)とに基づいて測定点の高さを算出し、算出結果を登録情報に含める。なお、上記のステップS125の時点で基準面が既に設定されている場合、ステップS125において、設定された基準面と特定された座標(Xc,Yc,Zc)とに基づいて測定点の高さが算出されてもよい。この場合、算出結果が測定点の高さとして設定画面350(後述する図29)に表示されてもよい。
Here, in step S127, when the reference plane is set in the process of step S112, the
上記のステップS101において、設定モードが選択されない場合、制御部310は、使用者の操作部330の操作により測定モードが選択されたか否かを判定する(ステップS201)。より具体的には、制御部310は、使用者により図8の測定ボタン341bが操作されたか否かを判定する。制御部310は、測定モードが選択された場合、図1の表示部340に後述する図33の測定画面360を表示させる(ステップS202)。測定画面360においては、撮像部220により一定周期で取得される図2の測定領域Vの測定画像がリアルタイムに表示される。
If the setting mode is not selected in step S101 described above, the
次に、制御部310は、使用者の操作部330の操作により登録情報のファイルが指定されたか否かを判定する(ステップS203)。具体的には、使用者により登録情報のファイル名の指定があったか否かを判定する。制御部310は、ファイルの指定がない場合、ファイルの指定を受けるまで待機状態となる。一方、制御部310は、ファイルの指定を受けると、指定された登録情報のファイルを記憶部320から読み込む(ステップS204)。なお、制御部310は、指定された登録情報のファイルが記憶部320に記憶されていない場合、指定されたファイルが存在しないことを示す情報を表示部340に表示してもよい。
Next, the
次に、制御部310は、読み込んだ登録情報から登録されたパターン画像の情報を取得し、取得したパターン画像を表示部340に表示される測定画像上に重畳表示する(ステップS205)。このとき、制御部310は、パターン画像に加えてサーチ領域も取得する。なお、上記のように、パターン画像の情報には、基準画像における当該パターン画像の位置を示す情報も含まれる。そのため、パターン画像は、設定モードで設定された位置と同じ位置で測定画像上に重畳表示される。
Next, the
ここで、パターン画像は半透明で表示されてもよい。この場合、使用者は、現在撮像されている測定対象物Sの測定画像と設定モード時に取得された測定対象物Sの基準画像とを容易に比較することができる。その上で、使用者は、光学定盤111上の測定対象物Sの位置決め作業を行うことができる。
Here, the pattern image may be displayed semi-transparently. In this case, the user can easily compare the measurement image of the measurement object S currently imaged and the reference image of the measurement object S acquired in the setting mode. Then, the user can perform the positioning operation of the measuring object S on the
次に、制御部310は、使用者の操作部330の操作により測定が指示されたか否かを判定する(ステップS206)。測定が指示された場合、制御部310は、パターン画像と測定画像との対比を行う(ステップS207)。具体的には、制御部310は、パターン画像における測定対象物Sのエッジを基準エッジとして抽出するとともに、取得されたサーチ領域内で基準エッジに対応する形状のエッジが存在しないか否かをサーチする。
Next, the
この場合、測定画像における測定対象物Sのエッジ部分が、最も基準エッジに類似すると考えられる。そこで、制御部310は、基準エッジに最も類似する測定画像の部分が検出されると、検出された部分が画像上で基準エッジからどれだけずれているのかを算出するとともに、検出された部分が画像上で基準エッジからどれだけ回転しているのかを算出する(ステップS208)。
In this case, the edge portion of the measurement object S in the measurement image is considered to be most similar to the reference edge. Therefore, when the portion of the measurement image most similar to the reference edge is detected, the
次に、制御部310は、読み込んだ登録情報から登録された指定点の情報を取得し、取得された指定点の情報を算出されたずれ量および回転量に基づいて目標点を設定する(ステップS209)。これらのステップS207〜S209の処理が、図10の目標点設定部17の機能に相当する。この構成によれば、測定画像における測定対象物がパターン画像における測定対象物に対して変位または回転している場合でも、指定点を高い精度で容易に特定し、目標点を設定することができる。
Next, the
次に、制御部310は、制御基板210に、目標点ごとに実測定処理を指令するとともに、目標点の座標(Xc,Yc,Zc)を与える(図9(b)参照)。それにより、制御基板210は、実測定処理を行うとともに(ステップS210)、実測定処理により特定された座標(Xb,Yb,Zb)を制御部310に与える。実測定処理の詳細は後述する。
Next, the
次に、制御部310は、登録された基準面の情報を取得し、基準面と取得された座標(Xb,Yb,Zb)とに基づいて目標測定点の高さを算出する(ステップS211)。ここで、読み込んだ登録情報に許容値が含まれる場合には、高さの算出結果が許容値で設定される公差の範囲内であるか否かを判定する検査処理がさらに行われてもよい。
Next, the
その後、制御部310は、ステップS211で算出された高さを記録部23に記録する(ステップS212)。また、制御部310は、測定中の測定対象物Sの測定画像上の目標測定点に対応するようにステップS211で算出された高さを表示部340に表示させる(ステップS213)。
Thereafter, the
ここで、制御部310は、統計データの表示が指示されたか否かを判定する(ステップS214)。使用者は、操作部330を用いて、いずれかの目標測定点を選択するとともに、選択された目標測定点に対応する1または複数の高さ基づく統計データの表示を指定することができる。統計データの表示が指示されない場合、制御部310はステップS206の処理に戻る。
Here, the
一方、統計データの表示が指示された場合、制御部310は、統計データを表示部340に表示させる。これにより、測定中の測定対象物Sの測定画像と、当該測定画像上に設定された目標測定点に対応する高さと、記録部23に既に記録されている1または複数の高さに基づく統計データとが表示部340に同時に表示される。その後、制御部310はステップS206の処理に戻る。ステップS206において、測定が指示されない場合、光走査高さ測定処理が測定モードで終了する。
On the other hand, when the display of statistical data is instructed,
上記のステップS201において、測定モードが選択されない場合、制御部310は、使用者の操作部330の操作によりハイトゲージモードが選択されたか否かを判定する(ステップS301)。より具体的には、制御部310は、使用者により図8のハイトゲージボタン341cが操作されたか否かを判定する。制御部310は、ハイトゲージモードが選択されない場合、ステップS101の処理に戻る。
When the measurement mode is not selected in step S201, the
一方、制御部310は、ハイトゲージモードが選択された場合、図1の表示部340に後述する図25の設定画面350を表示させる(ステップS302)。その後、制御部310は、使用者の操作部330の操作に基づいて基準面の設定を行う(ステップS303)。この設定処理は、上記のステップS109〜S112の処理と同じである。
On the other hand, when the height gauge mode is selected,
その後、制御部310は、指定点の指定を受けた場合、制御基板210に、指定測定処理を指令するとともに、画像上で指定された指定点により特定される平面座標(Ua,Va)を与える(図9(c)参照)。それにより、制御基板210は、指定測定処理を行う(ステップS304)。また、制御基板210は、指定測定処理により特定された座標(Xc,Yc,Zc)と位置変換情報とに基づいて図5の可動部252a,252bの位置および図7の反射部271b,272bの角度を調整して測定光を照射する(ステップS305)。
Thereafter, when the
続いて、制御基板210は、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図7の偏向部271,272の偏向方向に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出し、制御部310に与える(ステップS306)。
Subsequently, the
なお、制御基板210は、上記のステップS305において、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図1の撮像部220により取得される画像上の測定光の照射位置を示す平面座標に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出してもよい。
Note that, in step S305 described above, the
次に、制御部310は、設定された基準面の情報を取得し、基準面と取得された座標(Xb,Yb,Zb)とに基づいて測定対象物S上で測定光が照射される部分の高さを算出し、算出結果を測定結果として表示部340に表示する。例えば、制御部310は、基準面が平面である場合、取得された座標(Xb,Yb,Zb)を通る基準面の垂線を引いたときの基準面から座標(Xb,Yb,Zb)までの垂線の長さを高さとして算出し、算出結果を測定結果として表示部340に表示する。また、制御部310は、撮像部220により取得される画像上の測定光の照射位置を示す平面座標または画像上で指定された測定点により特定される平面座標に、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できたことを示す緑色の「+」印を表示部340に表示する(ステップS307)。
Next, the
続いて、制御部310は、使用者の操作部330の操作により追加の測定点が指定されたか否かを判定する(ステップS308)。追加の測定点が指定された場合、制御部310は、ステップS304の処理に戻る。これにより、追加の測定点が指定されなくなるまでステップS304〜S308の処理が繰り返される。追加の測定点が指定されない場合、光走査高さ測定処理がハイトゲージモードで終了する。
Subsequently, the
上記のハイトゲージモードによれば、使用者は、画像上で基準点を指定することにより、基準面を指定することができる。また、使用者は、測定点を画面上で指定することにより、高さの測定結果を取得することができる。さらに、使用者は、複数の測定点を指定することにより、引き続き基準面を維持したまま測定を継続することができる。 According to the above-mentioned height gauge mode, the user can designate the reference plane by designating the reference point on the image. Also, the user can acquire the measurement result of the height by designating the measurement point on the screen. Furthermore, the user can continue measurement while maintaining the reference surface by specifying a plurality of measurement points.
(9)指定測定処理の一例
図17および図18は、制御基板210による指定測定処理の一例を示すフローチャートである。図19および図20は、図17および図18の指定測定処理を説明するための説明図である。図19(a),(b),(c)および図20(a),(b)の各々では、左側に光学定盤111上に載置される測定対象物Sと撮像部220および走査部270との位置関係が側面図で示されるとともに、右側に撮像部220の撮像により表示部340に表示される画像が示される。表示部340に表示される画像には、測定対象物Sの画像SIが含まれる。以下の説明では、表示部340に表示される画像上の平面座標を画面座標と呼ぶ。
(9) Example of Specified Measurement Process FIGS. 17 and 18 are flowcharts showing an example of the specified measurement process by the
制御基板210は、制御部310から指定測定処理の指令を受けることにより、指定測定処理を開始する。そこで、制御基板210は、制御部310から指令とともに与えられる画面座標(Ua,Va)を取得する(ステップS401)。
The
図19(a)の右側においては、表示部340に表示される画像上に画面座標(Ua,Va)が示される。また、図19(a)の左側においては、画面座標(Ua,Va)に対応する測定対象物Sの部分が点P0で示される。
On the right side of FIG. 19A, screen coordinates (Ua, Va) are shown on the image displayed on the
ステップS401において、画面座標(Ua,Va)に対応する点P0の座標のうちZ軸の成分(高さ方向の成分)は不明である。そこで、制御基板210は、使用者により指定された点P0のZ軸の成分を「Za」と仮定する(ステップS402)。この場合、図19(b)に示すように、仮定されるZ軸の成分は、実際に指定された点P0のZ軸の成分に一致するとは限らない。
In step S401, among the coordinates of the point P0 corresponding to the screen coordinates (Ua, Va), the Z-axis component (the component in the height direction) is unknown. Therefore, the
次に、制御基板210は、上記の座標変換情報に基づいてZ軸の成分が仮定された「Za」であるときの画面座標(Ua,Va)に対応する平面座標(Xa,Ya)を算出する(ステップS403)。それにより、図19(b)に示すように、画面座標(Ua,Va)および仮定されたZ軸の成分に対応する仮想点P1の座標(Xa,Ya,Za)が得られる。なお、本例では、「Za」は図2の測定領域V内のZ方向における中間位置とする。
Next, the
次に、制御基板210は、ステップS403の処理により得られる座標(Xa,Ya,Za)および位置変換情報に基づいて図5の可動部252a,252bの位置および図7の反射部271b,272bの角度を調整して測定光を照射する(ステップS404)。
Next, on the basis of the coordinates (Xa, Ya, Za) and position conversion information obtained by the process of step S403, the
この場合、ステップS402で仮定されるZ軸の成分が実際に指定された点P0のZ軸の成分から大きくずれていると、図19(c)の左側の側面図に示すように、測定対象物S上の測定光の照射位置が実際に指定された点P0から大きくずれる。そこで、以降の処理が行われる。 In this case, if the component of the Z-axis assumed in step S402 is largely deviated from the component of the Z-axis of the actually designated point P0, as shown in the side view on the left side of FIG. The irradiation position of the measurement light on the object S is largely deviated from the actually designated point P0. Therefore, the following processing is performed.
ステップS404の処理により、撮像部220により取得される画像上には、走査部270から測定対象物Sに照射される測定光の照射部分(光スポット)が現れる。この場合、測定光の照射部分の画面座標は画像処理等を用いて容易に検出することができる。図19(c)の右側の図では、表示部340に表示される画像上に現れる測定光の照射部分(光スポット)が丸印で示される。
By the process of step S404, an irradiation portion (light spot) of the measurement light emitted from the
制御基板210は、ステップS404の処理後、撮像部220により取得される画像上で測定光の照射位置を示す平面座標を画面座標(Uc,Vc)として検出するとともに、図7の反射部271b,272bの角度から測定光の偏向方向を検出する(ステップS405)。
After the processing of step S404, the
次に、制御基板210は、検出された画面座標(Uc,Vc)および偏向方向に基づいて測定対象物Sまたは光学定盤111上の測定光の照射位置P2の座標を座標(Xc,Yc,Zc)とする(ステップS406)。
Next, the
ここで、図19(c)に示すように、照射位置P2が点P0からずれていると、画面座標(Uc,Vc)も画面座標(Ua,Va)からずれる。そこで、制御基板210は、画面座標(Ua,Va)に対する検出された画面座標(Uc,Vc)の誤差(Ua−Uc,Va−Vc)を算出するとともに、算出された誤差が予め定められた判定範囲内であるか否かを判定する(ステップS407)。このとき用いられる判定範囲は、使用者により設定可能であってもよいし、光走査高さ測定装置400の工場出荷時に予め設定されていてもよい。
Here, as shown in FIG. 19C, when the irradiation position P2 deviates from the point P0, the screen coordinates (Uc, Vc) also deviate from the screen coordinates (Ua, Va). Therefore, the
ステップS407において、誤差(Ua−Uc,Va−Vc)が予め定められた判定範囲内である場合、制御基板210は、直前のステップS406で定められた座標(Xc,Yc,Zc)を使用者により指定された座標として特定し(ステップS408)、指定測定処理を終了する。その後、制御基板210は、特定された座標(Xc,Yc,Zc)を制御部310に与える。
In step S407, when the error (Ua-Uc, Va-Vc) is within the predetermined determination range, the
ステップS407において、誤差(Ua−Uc,Va−Vc)が予め定められた判定範囲外である場合、制御基板210は、上記の誤差(Ua−Uc,Va−Vc)に基づいて測定光の偏向方向を調整する(ステップS409)。具体的には、例えばX軸およびY軸に対応する画面座標上の誤差と反射部271b,272bの調整すべき角度との関係を誤差対応関係として予め記憶部320に記憶させておく。その上で、制御基板210は、図20(a)に白抜きの矢印で示すように、算出された誤差(Ua−Uc,Va−Vc)と誤差対応関係とに基づいて測定光の偏向方向を微調整する。
In step S407, when the error (Ua-Uc, Va-Vc) is out of the predetermined determination range, the
その後、制御基板210は、ステップS405の処理に戻る。それにより、測定光の偏向方向が微調整された上で再度ステップS405〜S407の処理が行われる。その結果、最終的に、図20(b)に示すように、誤差(Ua−Uc,Va−Vc)が判定範囲内となることにより、使用者により指定された指定点に対応する座標(Xc,Yc,Zc)が特定される。
Thereafter, the
本例では、照射位置P2の座標(Xc,Yc,Zc)の座標がステップS406の処理により算出されるが、本発明はこれに限定されない。照射位置P2の座標(Xc,Yc,Zc)は、後述する図21および図22の指定測定処理におけるステップS505,S506の処理により算出されてもよい。 In this example, the coordinates of the coordinates (Xc, Yc, Zc) of the irradiation position P2 are calculated by the process of step S406, but the present invention is not limited to this. The coordinates (Xc, Yc, Zc) of the irradiation position P2 may be calculated by the processes of steps S505 and S506 in the designated measurement process of FIGS. 21 and 22 described later.
(10)指定測定処理の他の例
図21および図22は、制御基板210による指定測定処理の他の例を示すフローチャートである。図23は、図21および図22の指定測定処理を説明するための説明図である。図23(a),(b)の各々では、左側に光学定盤111上に載置される測定対象物Sと撮像部220および走査部270との位置関係が側面図で示されるとともに、右側に撮像部220の撮像により表示部340に表示される画像が示される。
(10) Another Example of Specified Measurement Process FIGS. 21 and 22 are flowcharts showing another example of the specified measurement process by the
指定測定処理が開始されると、制御基板210は、制御部310から指令とともに与えられる画面座標(Ua,Va)を取得する(ステップS501)。続いて、制御基板210は、上記のステップS402の処理と同様に、使用者により指定された点P0のZ軸の成分を「Za」と仮定する(ステップS502)。この場合、図19(b)の例と同様に、仮定されるZ軸の成分は、実際に指定された点P0のZ軸の成分に一致するとは限らない。
When the designated measurement process is started, the
次に、制御基板210は、上記のステップS403の処理と同様に、Z軸の成分が仮定された「Za」であるときの画面座標(Ua,Va)に対応する平面座標(Xa,Ya)を算出する(ステップS503)。また、制御基板210は、上記のステップS404の処理と同様に、ステップS503の処理により得られる仮想点P1の座標(Xa,Ya,Za)および位置変換情報に基づいて図5の可動部252a,252bの位置および図7の反射部271b,272bの角度を調整して測定光を照射する(ステップS504)。ステップS504において、使用者により指定される点P0と測定対象物Sに照射される測定光の照射位置との関係は、上記の図19(c)の状態と同じである。その後、測定対象物S上の測定光の照射位置が実際に指定された点P0に一致するかまたは近づくように、以降の処理が行われる。
Next, in the
まず、制御基板210は、図5の可動部252a,252bの位置を検出するとともに、図7の反射部271b,272bの角度から測定光の偏向方向を検出する(ステップS505)。
First, the
次に、制御基板210は、直前のステップS505で検出された可動部252a,252bの位置と図4の受光部232dにより取得される受光信号とに基づいて測定光の出射位置と測定対象物Sにおける測定光の照射位置との間の距離を算出する。また、制御基板210は、算出された距離および直前のステップS505で検出された測定光の偏向方向に基づいて測定対象物Sまたは光学定盤111上の測定光の照射位置P2の座標を座標(Xc,Yc,Zc)とする(ステップS506)。
Next, the
上記のステップS506の処理により、測定光の照射位置P2のZ軸の成分「Zc」は、使用者により指定された点P0のZ軸の成分に一致するかまたは近い値であると推定される。そこで、制御基板210は、座標変換情報に基づいてZ軸の成分が仮定された「Zc」であるときの画面座標(Ua,Va)に対応する平面座標(Xa’,Ya’)を算出する(ステップS507)。それにより、図23(a)に示すように、画面座標(Ua,Va)および仮定されたZ軸の成分に対応する仮想点P3の座標(Xa’,Ya’,Zc)が得られる。
By the process of step S506 described above, it is estimated that the component "Zc" of the Z axis of the irradiation position P2 of the measurement light matches or is close to the component of the Z axis of the point P0 designated by the user. . Therefore, the
次に、制御基板210は、仮想点P3の平面座標(Xa’,Ya’)に対する照射位置P2の平面座標(Xc,Yc)の誤差(Xa’−Xc,Ya’−Yc)を算出するとともに、算出された誤差が予め定められた判定範囲内であるか否かを判定する(ステップS508)。このとき用いられる判定範囲は、使用者により設定可能であってもよいし、光走査高さ測定装置400の工場出荷時に予め設定されていてもよい。
Next, the
ステップS508において、誤差(Xa’−Xc,Ya’−Yc)が予め定められた判定範囲内である場合、制御基板210は、直前のステップS506で定められた照射位置P2の座標(Xc,Yc,Zc)を使用者により指定された座標として特定し(ステップS509)、指定測定処理を終了する。その後、制御基板210は、特定された座標(Xc,Yc,Zc)を制御部310に与える。
In step S508, when the error (Xa'-Xc, Ya'-Yc) is within the predetermined determination range, the
ステップS508において、誤差(Xa’−Xc,Ya’−Yc)が予め定められた判定範囲外である場合、制御基板210は、直前のステップS507で得られた仮想点P3の座標(Xa’,Ya’,Zc)を上記のステップS504で測定光の照射対象となる座標(Xa,Ya,Za)とする(ステップS510)。その後、制御基板210は、上記のステップS504の処理に戻る。
In step S508, when the error (Xa'-Xc, Ya'-Yc) is out of the predetermined determination range, the
それにより、測定光の偏向方向が変更された上で再度ステップS504〜S508の処理が行われる。その結果、最終的に、図23(b)に示すように、誤差(Xa’−Xc,Ya’−Yc)が判定範囲内となることにより、使用者により指定された指定点に対応する座標(Xc,Yc,Zc)が特定される。 Thus, after the deflection direction of the measurement light is changed, the processes of steps S504 to S508 are performed again. As a result, finally, as shown in FIG. 23 (b), when the error (Xa'-Xc, Ya'-Yc) falls within the determination range, the coordinates corresponding to the designated point designated by the user (Xc, Yc, Zc) is identified.
本例では、照射位置P2の座標(Xc,Yc,Zc)の座標がステップS505,S506の処理により算出されるが、本発明はこれに限定されない。照射位置P2の座標(Xc,Yc,Zc)の座標は、図17および図18の指定測定処理におけるステップS406の処理により算出されてもよい。 In this example, the coordinates of the coordinates (Xc, Yc, Zc) of the irradiation position P2 are calculated by the processing of steps S505 and S506, but the present invention is not limited to this. The coordinates of the coordinates (Xc, Yc, Zc) of the irradiation position P2 may be calculated by the process of step S406 in the designated measurement process of FIGS. 17 and 18.
(11)実測定処理
制御基板210は、制御部310から実測定処理の指令を受けることにより、実測定処理を開始する。実測定処理が開始されると、制御基板210は、まず制御部310から指令とともに与えられる指定点の座標(Xc,Yc,Zc)を取得する。
(11) Actual Measurement Process The
ここで、設定モードで設定された指定点の座標(Xc,Yc,Zc)と位置変換情報とに基づいて測定光を照射しても、測定モードで測定される測定対象物Sの形状によっては、測定対象物S上の測定光の照射位置の平面座標が目標点の座標から大きくずれる場合がある。 Here, even if the measuring light is irradiated based on the coordinates (Xc, Yc, Zc) of the designated point set in the setting mode and the position conversion information, depending on the shape of the measuring object S measured in the measuring mode The plane coordinates of the irradiation position of the measurement light on the measurement object S may be largely deviated from the coordinates of the target point.
例えば、目標点に対応する測定対象物Sの部分のZ軸の成分が「Zc」から大きくずれていると、測定光の照射位置の平面座標も設定された目標点の平面座標(Xc,Yc)から大きくずれる。そこで、実測定処理では、測定光の照射位置の平面座標が目標点の平面座標(Xc,Yc)から一定の範囲内に収まるように調整される。 For example, if the Z-axis component of the portion of the measurement target S corresponding to the target point is largely deviated from “Zc”, the plane coordinates of the target point for which the plane coordinates of the irradiation position of the measurement light are also set (Xc, Yc Greatly deviate from). Therefore, in the actual measurement process, the plane coordinates of the irradiation position of the measurement light are adjusted to be within a certain range from the plane coordinates (Xc, Yc) of the target point.
具体的には、制御基板210は、例えば取得された指定点の座標(Xc,Yc,Zc)に対応する画面座標を(Ua,Va)とした上で、取得された指定点の座標(Xc,Yc,Zc)を図17のステップS403の処理で得られる仮想点P1の座標(Xa,Ya,Za)とする。次に、制御基板210は、図17および図18のステップS404〜S408の処理を行う。続いて、制御基板210は、ステップS408の処理で特定された座標(Xc,Yc,Zc)と位置変換情報とに基づいて図5の可動部252a,252bの位置および図7の反射部271b,272bの角度を調整して測定光を照射する。
Specifically, the
続いて、制御基板210は、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図7の偏向部271,272の偏向方向に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出し、制御部310に与える。それにより、実測定処理が終了する。なお、制御基板210は、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図1の撮像部220により取得される画像上の測定光の照射位置を示す平面座標に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出してもよい。
Subsequently, the
あるいは、制御基板210は、以下のように実測定処理を実行してもよい。制御基板210は、例えば取得された指定点の座標(Xc,Yc,Zc)に対応する画面座標を(Ua,Va)とした上で、取得された指定点の座標(Xc,Yc,Zc)を図21のステップS503の処理で得られる仮想点P1の座標(Xa,Ya,Za)とする。次に、制御基板210は、図21および図22のステップS504〜S509の処理を行う。続いて、制御基板210は、ステップS508の処理で特定された座標(Xc,Yc,Zc)と位置変換情報とに基づいて図5の可動部252a,252bの位置および図7の反射部271b,272bの角度を調整して測定光を照射する。
Alternatively, the
その後、制御基板210は、上記の例と同様に、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図7の偏向部271,272の偏向方向に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出し、制御部310に与える。または、制御基板210は、図4の受光部232dから出力される受光信号、図5の可動部252a,252bの位置、および図1の撮像部220により取得される画像上の測定光の照射位置を示す平面座標に基づいて、測定対象物S上で測定光が照射される部分の三次元座標(Xb,Yb,Zb)を算出し、制御部310に与える。
After that, the
(12)設定モード、測定モードおよび統計データモードを用いた操作例
図24〜図29は、設定モードにおける光走査高さ測定装置400の操作例を説明するための図である。以下では、光走査高さ測定装置400の使用者を測定管理者と測定作業者とに区別して説明する。
(12) Operation Example Using Setting Mode, Measurement Mode, and Statistical Data Mode FIGS. 24 to 29 are diagrams for describing an operation example of the optical scanning
まず、測定管理者は、高さ測定の基準となる測定対象物Sを光学定盤111上に位置決めし、図1の操作部330を用いて図8の設定ボタン341aを操作する。それにより、光走査高さ測定装置400が設定モードの動作を開始する。この場合、例えば図24に示すように、図1の表示部340に設定画面350が表示される。設定画面350は、画像表示領域351およびボタン表示領域352を含む。画像表示領域351には、現在撮像されている測定対象物Sの画像が基準画像RIとして表示される。図24〜図29の各図および後述する図30〜図36の各図では、画像表示領域351に表示される基準画像RIおよび後述する測定画像MIのうち測定対象物Sの形状を示す輪郭が太い実線で示される。
First, the measurement manager positions the measurement target S, which is the reference of height measurement, on the
設定モードの開始時点には、ボタン表示領域352に、サーチ領域ボタン352a、パターン画像ボタン352bおよび設定完了ボタン352cが表示される。測定管理者は、例えばサーチ領域ボタン352aを操作し、画像表示領域351上でドラッグ操作等を行う。それにより、図24に点線で示すようにサーチ領域SRを設定する。また、測定管理者は、例えばパターン画像ボタン352bを操作し、画像表示領域351上でドラッグ操作等を行う。それにより、図24に一点鎖線で示すようにパターン画像PIを設定することができる。
At the start time of the setting mode, a
測定管理者は、サーチ領域SRおよびパターン画像PIの設定を行った後、設定完了ボタン352cを操作する。それにより、サーチ領域SRおよびパターン画像PIの設定が完了するとともに、設定画面350の表示態様が図25に示すように切り替わる。具体的には、画像表示領域351において、設定されたサーチ領域SRおよびパターン画像PIを示す指標が除去される。また、ボタン表示領域352において、図24のサーチ領域ボタン352aおよびパターン画像ボタン352bに代えて、点指定ボタン352dおよび基準面設定ボタン352eが表示される。
After setting the search area SR and the pattern image PI, the measurement manager operates the
測定管理者は、点指定ボタン352dを操作し、画像表示領域351上でクリック操作等を行う。それにより、図26に「+」印で示すように1または複数(本例では3つ)の基準点が指定される。その後、測定管理者は、基準面設定ボタン352eを操作する。それにより、指定された1または複数の基準点を含む基準面が設定され、図27に二点鎖線で示すように、画像表示領域351に設定された基準面RFを示す指標が表示される。ここで、4以上の基準点が指定される場合には、4以上の全ての基準点が必ずしも基準面RFに含まれる必要はない。この場合、基準面RFは、例えば複数の基準点との間の距離が全体的に小さくなるように設定される。同様に、基準面を決定するための基準面拘束条件が定められている場合、例えば、基準面が載置面に平行であること、または基準面が予め記憶された他の面と平行であること等の条件が定められている場合において、2以上の基準点が指定される場合には、2以上の全ての基準点が必ずしも基準面RFに含まれる必要はない。なお、基準面RFは、点指定ボタン352dおよび基準面設定ボタン352eの操作が繰り返されることにより複数設定されてもよい。
The measurement manager operates the
その後、測定管理者は、設定完了ボタン352cを操作する。それにより、基準面RFの設定が完了するとともに、設定画面350の表示態様が図28に示すように切り替わる。具体的には、画像表示領域351において、基準面RFの設定に用いられた1または複数の基準点を示す指標が除去される。また、ボタン表示領域352において、図27の基準面設定ボタン352eに代えて、許容値ボタン352gが表示される。
Thereafter, the measurement manager operates the
測定管理者は、点指定ボタン352dを操作し、画像表示領域351上でクリック操作等を行う。それにより、図29に「+」印で示すように、測定点が指定される。このとき、複数の基準面RFが設定されている場合、指定された測定点の基準となる基準面RFとして設定された複数の基準面RFの中から一の選択を受け付ける。また、指定された測定点について、上記の指定測定処理が行われ、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できたときには、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さが画像表示領域351上に表示される。このとき「+」印の色を例えば緑色に変化させることにより、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できたことを示してもよい。
The measurement manager operates the
一方、指定された測定点について、上記の指定測定処理が行われ、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できないときには、「FAIL」等のエラーメッセージが画像表示領域351上に表示されてもよい。このとき「+」印の色を例えば赤色に変化させることにより、測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できないことを示してもよい。
On the other hand, when the designated measurement process described above is performed for the designated measurement point and the height of the portion of the measurement object S corresponding to the measurement point can not be calculated, an error message such as “FAIL” appears on the
複数の測定点が指定されている場合、測定経路情報を指定可能であってもよい。例えば、複数の測定点の指定順通りに測定経路を設定する、あるいは、測定経路が最短になるような測定経路を設定する等の情報を設定可能であってもよい。 When a plurality of measurement points are designated, it may be possible to designate measurement path information. For example, it may be possible to set information such as setting measurement paths in accordance with the designation order of a plurality of measurement points, or setting measurement paths such that the measurement path is shortest.
測定点の指定時に、測定管理者は、さらに許容値ボタン352gを操作することにより、測定点ごとに許容値として設計値および公差を設定することができる。最後に、測定管理者は、設定完了ボタン352cを操作する。それにより、複数の測定点および許容値を含む一連の情報が互いに関連付けられて登録情報として記憶部320に記憶される。このとき、登録情報は、特定のファイル名が付与される。なお、このファイル名は、測定管理者により設定可能であってもよい。
At the time of designation of the measurement point, the measurement manager can further set the design value and the tolerance as the tolerance value for each measurement point by operating the
図26〜図29に示すように、基準画像RIには、測定管理者により指定された基準点および測定点の位置を示す指標「+」が重畳表示される。これにより、測定管理者は、測定対象物Sの基準画像RI上に重畳表示された指標を視認することにより、指定された基準点および測定点を容易に確認することができる。 As shown in FIGS. 26 to 29, on the reference image RI, the reference point designated by the measurement manager and the index “+” indicating the position of the measurement point are superimposed and displayed. Thereby, the measurement manager can easily confirm the designated reference point and measurement point by visually recognizing the index superimposed and displayed on the reference image RI of the measurement object S.
ここで、本発明においては、設定モードにおける基準点および測定点の設定の順は上記の例に限定されない。基準点および測定点の設定は、以下のように行われてもよい。 Here, in the present invention, the order of setting of the reference point and the measurement point in the setting mode is not limited to the above example. The setting of the reference point and the measurement point may be performed as follows.
図30〜図32は、設定モードにおける光走査高さ測定装置400の他の操作例を説明するための図である。本例では、サーチ領域SRおよびパターン画像PIの設定後、図30に示すように、ボタン表示領域352に、設定完了ボタン352c、点指定ボタン352d、基準面設定ボタン352e、許容値ボタン352g、基準点設定ボタン352hおよび測定点設定ボタン352iが表示される。
30 to 32 are diagrams for explaining another operation example of the light scanning
この状態で、測定管理者は、点指定ボタン352dを操作し、画像表示領域351上でクリック操作等を行う。このとき、測定管理者は、図30に「+」印で示すように、複数(本例では5つ)の指定点を指定する。
In this state, the measurement manager operates the
次に、測定管理者は、指定点ごとに、基準点設定ボタン352hまたは測定点設定ボタン352iを操作することにより、当該指定点を基準点として用いるのか測定点として用いるのかを決定する。さらに、測定管理者は、1または複数の点を基準点として決定した後、基準面設定ボタン352eを操作する。それにより、図31に示すように、画像表示領域351に点線の「+」印で示すように1または複数(本例では3つ)の基準点が表示される。また、二点鎖線で示すように1または複数の基準点に基づく基準面が表示される。さらに、実線の「+」印で示すように1または複数(本例では2つ)の測定点が表示される。
Next, the measurement manager operates the reference
その後、図32に示すように、指定された測定点に対応する測定対象物Sの部分の高さが画像表示領域351上に表示される。このとき、測定管理者は、上記の例と同様に、許容値ボタン352gを操作することにより、測定点ごとに許容値として設計値および公差を設定することができる。最後に、測定管理者は、設定完了ボタン352cを操作する。
Thereafter, as shown in FIG. 32, the height of the portion of the measurement target S corresponding to the designated measurement point is displayed on the
図33〜図36は、測定モードにおける光走査高さ測定装置400の操作例を説明するための図である。測定作業者は、高さ測定の対象となる測定対象物Sを光学定盤111上に位置決めし、図1の操作部330を用いて図8の測定ボタン341bを操作する。それにより、光走査高さ測定装置400が測定モードの動作を開始する。この場合、例えば図33に示すように、図1の表示部340に測定画面360が表示される。測定画面360は、画像表示領域361およびボタン表示領域362を含む。画像表示領域361には、現在撮像されている測定対象物Sの画像が測定画像MIとして表示される。
33 to 36 are diagrams for describing an operation example of the optical scanning
測定モードの開始時点には、ボタン表示領域362に、ファイル読込ボタン362aが表示される。測定作業者は、ファイル読込ボタン362aを操作することにより、測定管理者に指示されたファイル名を選択する。それにより、光学定盤111に載置された測定対象物Sに対応する高さ測定の登録情報が読み込まれる。
At the start time of the measurement mode, a
登録情報が読み込まれると、図34に示すように、画像表示領域361の測定画像MI上に、読み込まれた登録情報に対応するパターン画像PIが半透明の状態で重畳表示される。また、ボタン表示領域362に測定ボタン362bが表示される。この場合、測定作業者は、パターン画像PIを参照しつつ光学定盤111上で測定対象物Sをより適切な位置に位置決めすることができる。
When the registration information is read, as shown in FIG. 34, a pattern image PI corresponding to the read registration information is superimposed and displayed on the measurement image MI of the
測定作業者は、測定対象物Sのより正確な位置決め作業を行った後、測定ボタン362bを操作する。それにより、読み込まれた登録情報の複数の指定点にそれぞれ対応する複数の目標点が設定される。また、複数の目標測定点にそれぞれ対応する測定対象物Sの複数の部分の基準面からの高さが測定される。測定(算出)された測定対象物Sの各部分の高さは、図10の記録部23に記録される。
The measurement operator operates the
また、読み込まれた登録情報に許容値が含まれる場合には、その許容値に基づいて目標測定点の対応部分の良否判定が行われる(検査処理)。その結果、図35に示すように、画像表示領域361上に、設定されている目標測定点にそれぞれ対応する測定対象物Sの部分の高さが表示される。ボタン表示領域362上に、設定されている目標測定点にそれぞれ対応する測定対象物Sの部分の高さが表示されるとともに、許容値に基づく良否判定の結果が検査結果として表示される。また、ボタン表示領域362には、測定ボタン362bに加えて、統計ボタン362cが表示される。
If the read registration information includes an allowable value, the quality of the corresponding portion of the target measurement point is determined based on the allowable value (inspection process). As a result, as shown in FIG. 35, the height of the portion of the measurement target S corresponding to each of the set target measurement points is displayed on the
測定作業者は、他の測定対象物Sについて測定を継続する場合、測定終了後の測定対象物Sを光学定盤111から回収し、他の測定対象物Sを光学定盤111の適切な位置に載置する。この状態で、測定ボタン362bを操作することにより、当該測定対象物Sの各部分の高さが測定されるとともに、当該測定対象物Sの各部分の良否判定が行われる。また、測定された高さが記録部23に記録される。これにより、測定された高さの履歴が記録部23に蓄積される。
When the measurement worker continues the measurement for another measurement object S, the measurement worker recovers the measurement object S after the measurement from the
一方で、測定作業者は、測定された測定対象物Sの各部分の高さの履歴を確認したい場合がある。この場合、測定作業者は、操作部330を用いて画像表示領域361またはボタン表示領域362に表示された複数の高さの測定結果のうち、所望の測定結果を操作(例えばクリック)することにより、所望の部分を選択する。この状態で、測定作業者は、統計ボタン362cを操作することにより、選択された部分について記録部23に既に記録されている1または複数の高さに基づく統計データを画像表示領域361にさらに表示させることができる。
On the other hand, the measurement worker may want to confirm the history of the height of each portion of the measured object S that has been measured. In this case, the measurement worker operates (for example, clicks) a desired measurement result among the measurement results of the plurality of heights displayed in the
なお、画像表示領域361またはボタン表示領域362に表示された複数の高さの測定結果のうち、いずれかの測定結果が操作(例えばクリック)された時点で、統計データが表示されてもよい。この場合、測定作業者は、統計ボタン362cを操作する必要がない。そのため、ボタン表示領域362に統計ボタン362cが表示されなくてもよい。
Note that statistical data may be displayed when any of the measurement results of the plurality of heights displayed in the
図36の例では、統計データSDとしてトレンドグラフが画像表示領域361に表示される。統計データSDの横軸は過去一日分に測定された測定対象物Sの番号(番数)を示し、統計データSDの縦軸は複数の測定対象物Sにおいて選択された部分の高さを示す。測定作業者は、検査処理において測定対象物Sのいずれかの部分が不良であると判定された場合には、その部分についての統計データSDを視認することにより、その不良の判定が単発的であるか否かを確認することができる。
In the example of FIG. 36, a trend graph is displayed in the
不良の判定が単発的である場合には、測定を継続しても差し支えない。したがって、測定作業者は、測定ボタン362bを操作することにより測定対象物Sの測定を継続することができる。なお、測定ボタン362bが操作され、測定が継続される場合には、画像表示領域361から統計データSDが除去される。一方で、不良の判定が単発的でない場合には、登録情報に不備がある可能性がある。このような場合には、測定作業者は、測定管理者に連絡をとることにより不良の判定の原因に対処することができる。
If the determination of failure is single-shot, the measurement may be continued. Therefore, the measurement operator can continue the measurement of the measurement object S by operating the
測定管理者は、測定モードにおける光走査高さ測定処理を終了させた後、図8の選択画面341において統計データモードボタン341dを操作する。この場合、光走査高さ測定装置400が統計データモードの動作を開始する。図37は、統計データモードにおける表示部340の表示画面の一例を示す図である。
The measurement manager operates the statistical
図37に示すように、統計データモードにおいては、表示部340に統計データ画面370が表示される。統計データ画面370は、抽出条件選択領域371およびデータ表示領域372を含む。抽出条件選択領域371には、プルダウンメニューおよび複数のボタンが表示される。測定管理者は、抽出条件選択領域371に表示されたプルダウンメニューおよびボタンを操作することにより、図10の記録部23に記録された所望の期間における所望の高さの履歴を抽出することができる。
As shown in FIG. 37, in the statistical data mode, a
抽出条件選択領域371において高さの履歴が抽出された場合、データ表示領域372に統計値ボタン373、トレンドグラフボタン374、ヒストグラムボタン375および1以上の測定項目選択ボタン376が表示される。1以上の測定項目選択ボタン376は、測定モードにおいて高さが測定された測定対象物Sの1以上の部分にそれぞれ対応する。
When a history of height is extracted in the extraction
測定管理者は、統計値ボタン373を操作するとともに、所望の測定項目選択ボタン376を操作することにより、操作された測定項目選択ボタン376に対応する高さの統計値リストをデータ表示領域372に表示させることができる。図37の高さの統計値リストには、統計値として「データ件数」、「有効測定数」、「無効測定数」、「OK数」、「NG数」、「NG率」、「設計値」、「上限規格値」、「下限規格値」、「最大値」、「最小値」、「平均値」、「範囲(最大−最小)」、「6σ」、「4σ」、「3σ」、「σ(標準偏差)」、「CP」および「CPK」が含まれる。
The measurement manager operates the
また、測定管理者は、トレンドグラフボタン374を操作するとともに、所望の測定項目選択ボタン376を操作することにより、操作された測定項目選択ボタン376に対応する高さのトレンドグラフをデータ表示領域372に表示させることができる。さらに、測定管理者は、ヒストグラムボタン375を操作するとともに、所望の測定項目選択ボタン376を操作することにより、操作された測定項目選択ボタン376に対応する高さのヒストグラムをデータ表示領域372に表示させることができる。
Also, the measurement manager operates the
統計値ボタン373、トレンドグラフボタン374、ヒストグラムボタン375または測定項目選択ボタン376が操作されるごとに、データ表示領域372の統計値リスト、トレンドグラフまたはヒストグラムの表示が切り替わる。測定管理者は、データ表示領域372に表示された統計値リスト、トレンドグラフまたはヒストグラムを視認することにより登録情報に不備があるか否かを判断することができる。また、登録情報に不備がある場合には、測定管理者は設定モードにおいて登録情報を適切に修正することができる。
Every time the
なお、図36の例では統計データSDはトレンドグラフであるが、本発明はこれに限定されない。統計データSDは、統計データモードにおける統計データと同様に統計値リストまたはヒストグラムであってもよい。この場合、統計データSDにおける統計値リストの統計値の種類は、統計データモードにおける統計値リストの統計値の種類よりも少なくてもよい。例えば、統計データSDにおける統計値リストは、「最大値」、「最小値」、「平均値」または「σ(標準偏差)」等の少数の統計値のみを含んでもよい。 In the example of FIG. 36, the statistical data SD is a trend graph, but the present invention is not limited to this. The statistical data SD may be a statistical value list or a histogram as well as statistical data in the statistical data mode. In this case, the types of statistical values in the statistical value list in the statistical data SD may be smaller than the types of statistical values in the statistical value list in the statistical data mode. For example, the statistical value list in the statistical data SD may include only a small number of statistical values such as "maximum value", "minimum value", "mean value" or "σ (standard deviation)".
(13)変形例
本実施の形態においては、測定項目として目標測定点に対応する測定対象物Sの高さが記録部23に記録されるが、本発明はこれに限定されない。目標基準点に対応する測定対象物Sの高さが記録部23に記録されてもよい。あるいは、他の測定項目の値が算出され、算出された測定項目の値が記録部23に記録されてもよい。
(13) Modification In the present embodiment, the height of the measurement object S corresponding to the target measurement point is recorded as the measurement item in the
図38は、変形例に係る光走査高さ測定装置400の制御系410を示すブロック図である。図38の制御系410について、図10の制御系410と異なる点を説明する。図38に示すように、変形例においては、制御系410は、測定項目取得部20および項目値算出部21をさらに含む。
FIG. 38 is a block diagram showing a
設定モードにおいては、測定項目取得部20は、位置情報取得部2により取得された指定点の位置に関する測定項目の指定を受け付ける。使用者は、操作部330を操作することにより所望の測定項目を指定することができる。ここで、指定点の位置に関する測定項目とは、指定点に対応する測定対象物Sの部分の高さに基づいて特定される種々の項目である。
In the setting mode, the measurement
測定項目は、例えば指定点の最大高さ、最小高さ、平均高さ、最大高さと最小高さとの差または2点間の高さの差を含む。また、測定項目は、指定点に基づく平面の平面度、平行度、2つの面の間の距離または2つの面が成す角度を含む。あるいは、測定項目は、指定点の高さを用いて任意の演算を行うことにより特定可能であってもよい。受け付けられた測定項目に対応する許容値が許容値取得部5にさらに入力されてもよい。
The measurement items include, for example, the maximum height, the minimum height, the average height, the difference between the maximum height and the minimum height, or the difference in height between two points of the designated point. Also, the measurement items include the flatness of the plane based on the designated point, the parallelism, the distance between the two surfaces, or the angle formed by the two surfaces. Alternatively, the measurement item may be identifiable by performing an arbitrary operation using the height of the designated point. The tolerance value corresponding to the received measurement item may be further input to the tolerance
登録部6は、測定項目取得部20により受け付けられた測定項目を指定点と関連付けて登録する。また、測定項目に対応する許容値が許容値取得部5に入力された場合には、登録部6は、許容値取得部5により受け付けられた許容値を測定項目と関連付けて登録する。項目値算出部21は、高さ算出部15により算出された指定点に対応する高さに基づいて、登録部6に登録された測定項目の値を算出する。
The
測定モードにおいては、項目値算出部21は、高さ算出部15により算出された目標点に対応する高さに基づいて、登録部6に登録された測定項目の値を算出する。項目値算出部21により算出された測定項目の値は、測定中の測定対象物Sの測定画像上の目標点に対応するように表示部340に表示される。
In the measurement mode, the item
記録部23は、測定指示部22が測定開始の指示を受け付けるごとに、項目値算出部21により算出される測定項目の値を記録する。なお、記録部23に算出された測定項目の値が記録される場合には、高さ算出部15により算出された高さが記録部23に記録されなくてもよい。
The
表示指示部24は、測定作業者から統計データの表示の指示を受け付ける。統計データの表示の指示を受け付けた場合、表示指示部24は、測定中の測定対象物Sの測定画像と、当該測定画像上の目標点に対応して算出された測定項目の値と、記録部23に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとを表示部340に同時に表示させる。
The
この構成によれば、測定管理者が設定モードにおいて測定項目を指定することにより、測定モードにおいて、測定作業者が熟練していない場合でも、測定対象物Sの対応部分の測定項目の値の算出結果を画一的に取得することができる。これにより、複数の目標点の代表高さ、複数の目標点の高さの差または複数の目標点により特定される1または複数の平面に関する値を容易に測定することが可能になる。その結果、測定対象物Sの平面度または組み付け寸法等を含む種々の測定項目を正確かつ容易に測定することが可能になる。 According to this configuration, the measurement manager designates the measurement item in the setting mode to calculate the value of the measurement item of the corresponding part of the measurement object S even if the measurement operator is not skilled in the measurement mode. The results can be obtained uniformly. This makes it possible to easily measure values on one or more planes specified by the representative heights of the plurality of target points, the height differences of the plurality of target points, or the plurality of target points. As a result, it becomes possible to accurately and easily measure various measurement items including the flatness or the assembly dimension of the measurement object S.
また、測定項目に対応する許容値が登録部6に登録されている場合には、検査部18は、項目値算出部21により算出された測定項目の値と登録部6に登録された許容値とに基づいて測定対象物Sをさらに検査する。具体的には、算出された測定項目の値が設計値を基準とする公差の範囲内である場合には、検査部18は、測定対象物Sは良品であると判定する。一方、算出された測定項目の値が設計値を基準とする公差の範囲外である場合には、検査部18は、測定対象物Sは不良品であると判定する。
When the tolerance value corresponding to the measurement item is registered in the
測定作業者は、検査処理においていずれかの測定項目が不良であると判定された場合には、その測定項目についての統計データを表示部340に表示させることができる。また、測定作業者は、表示部340に表示された統計データを視認することにより、その不良の判定が単発的であるか否かを確認することができる。
When it is determined that one of the measurement items is defective in the inspection process, the measurement worker can cause the
報告書作成部19は、検査部18による検査結果と測定画像取得部16により取得された基準画像に基づいて図11の報告書420を作成する。この場合、報告書420には、高さ以外の種々の測定項目の検査結果が記載される。図11の例においては、測定項目として、測定対象物Sの部分の高さに加えて、平面度、段差および角度が記載されている。これにより、測定作業者は、測定対象物Sの組み付け寸法を検査することができるとともに、報告書420を用いて検査結果を測定管理者または他の使用者に容易に報告することができる。
The
(14)効果
本実施の形態に係る光走査高さ測定装置400においては、測定指示ごとに、基準画像上で指定された指定点に対応して測定画像上に目標点が設定され、設定された目標点に対応する測定対象物Sの部分の高さが自動的に算出される。この場合、使用者は、光走査高さ測定装置400に対する位置および姿勢を正確に調整した状態で測定対象物Sを載置する必要がなく、目標点の位置座標を予め用意する必要もない。したがって、使用者は、測定対象物Sの載置と測定指示とを繰り返し行うことにより、複数の測定対象物Sの高さを順次測定することができる。
(14) Effects In the optical scanning
また、測定指示ごとに算出された高さが記録部23により記録される。測定画像と、算出された高さと、記録部23に既に記録されている1または複数の高さに基づく統計データとが表示部340に表示される。使用者は、表示部340に表示された測定画像、高さおよび統計データを視認することにより、測定対象物Sの測定結果が適切であるか否かを判断しながら測定指示を行うことができる。その結果、測定対象物Sの所望の部分の形状を効率よく測定することができる。
Further, the height calculated for each measurement instruction is recorded by the
また、統計モードにおいて、測定モードで記録部23に記録された1または複数の測定項目の値に基づく統計データが430に表示される。そのため、使用者は、統計モードにおいて、測定モードで記録部23に記録された1または複数の測定項目の値に基づく統計データを視認することができる。これにより、使用者は、測定対象物Sの測定結果が適切であったか否かを確認することができる。
Further, in the statistical mode, statistical data 430 is displayed based on the values of one or more measurement items recorded in the
(15)他の実施の形態
(a)高さ算出部15は、光走査高さ測定装置400に定義された固有の三次元座標系における原点を基準とする測定対象物Sの部分の高さを算出してもよい。この場合、使用者は、固有の三次元座標系における測定対象物Sの部分の高さの絶対値を取得することができる。また、高さ算出部15は、基準面を基準とする高さの相対値を算出する相対値算出モードと、固有の三次元座標系における高さの絶対値を算出する絶対値算出モードとで選択的に動作可能であってもよい。絶対値算出モードにおいては、基準面が必要ないので、基準点が指定されてなくてもよい。
(15) Other Embodiments (a) The
(b)高さ算出部15は、設定モードにおいて、指定点に対応する測定対象物Sの部分の高さを算出できないときには、「FAIL」等のエラーメッセージを表示部340に表示させてもよい。この場合、測定管理者は、表示部340を視認することにより、指定点に対応する測定対象物Sの部分の高さが算出不可能であることを認識することができる。これにより、測定管理者は、測定対象物Sの部分の高さが算出可能になるように測定対象物Sまたは光走査高さ測定装置400の配置を変更するか、または指定する指定点の位置を変更することができる。
(B) The
(c)光走査高さ測定装置400は、設定モードにおいて取得される基準画像または計測モードにおいて取得される測定画像に描画およびコメントを挿入可能に構成されてもよい。これにより、測定対象物Sの測定状況をより詳細に記録することができる。また、基準画像に挿入された描画およびコメントは、登録情報として登録されてもよい。
(C) The optical scanning
例えば、設定モードにおいて設定されたサーチ領域を示す枠線が基準画像に描画されてもよい。この場合、測定モードにおいては、測定画像に当該枠線が表示される。これにより、測定モードにおいて、測定作業者が測定画像に表示された枠線内に測定対象物Sが収まるように測定対象物Sを光学定盤111に載置することが容易になる。その結果、基準画像データに対する測定画像データのずれを効率的に補正することができる。
For example, a frame line indicating a search area set in the setting mode may be drawn on the reference image. In this case, in the measurement mode, the frame line is displayed on the measurement image. Thereby, in the measurement mode, it becomes easy for the measurement worker to place the measurement object S on the
(d)基準画像取得部1は、取得した基準画像を画像処理することにより表示部340に鳥瞰表示させてもよい。同様に、測定画像取得部16は、取得した測定画像を画像処理することにより表示部340に鳥瞰表示させてもよい。
(D) The reference
(e)上記実施の形態において、基準画像取得部1および測定画像取得部16は、撮像部220による測定対象物Sの撮像画像をそれぞれ基準画像および測定画像として取得するが、本発明はこれに限定されない。基準画像取得部1および測定画像取得部16は、予め準備された測定対象物SのCAD(Computer Aided Design)画像をそれぞれ基準画像および測定画像として取得してもよい。
(E) In the above embodiment, the reference
あるいは、測定対象物Sの複数の部分に測定光が照射される場合には、高さ算出部15は、測定対象物Sの複数の部分の高さを算出可能である。そこで、基準画像取得部1および測定画像取得部16は、測定対象物Sの複数の部分の高さに基づいて、測定対象物Sの距離画像をそれぞれ基準画像および測定画像として取得してもよい。
Alternatively, when the measurement light is irradiated to a plurality of portions of the measurement target S, the
基準画像としてCAD画像または距離画像が用いられる場合、測定管理者は、測定対象物Sの立体的な形状を認識しつつ、CAD画像または距離画像上で所望の指定点を正確に指定することができる。また、基準画像および測定画像として距離画像が用いられる場合には、当該距離画像は、分解能が低減されることにより高速に生成されてもよい。 When a CAD image or a distance image is used as the reference image, the measurement manager may correctly designate a desired designated point on the CAD image or the distance image while recognizing the three-dimensional shape of the measurement object S. it can. In addition, when a distance image is used as the reference image and the measurement image, the distance image may be generated at high speed by reducing the resolution.
(f)上記実施の形態において、測定作業者は、測定モードの開始時に登録情報のファイルを指定するが、本発明はこれに限定されない。例えば、登録情報のファイルに対応するID(Identification)タグが測定対象物Sに貼付されていてもよい。この場合、測定モードの開始時に測定対象物SとともにIDタグが撮像部220に撮像されることにより、当該タグに対応する登録情報のファイルが自動的に指定される。この構成によれば、測定作業者は、測定モードの開始時に登録情報のファイルを指定する必要がない。そのため、図15のステップS203の処理は省略される。
(F) In the above embodiment, the measurement operator designates the file of registration information at the start of the measurement mode, but the present invention is not limited to this. For example, an ID (Identification) tag corresponding to a file of registration information may be attached to the measurement object S. In this case, when the measurement object S and the ID tag are imaged by the
(g)上記実施の形態において、測定対象物Sの高さが分光干渉方式により算出されるが、本発明はこれに限定されない。測定対象物Sの高さは、白色干渉方式、共焦点方式、三角測距方式またはTOF(Time Of Flight)方式等の他の方式により算出されてもよい。 (G) In the above embodiment, the height of the measurement object S is calculated by the spectral interference method, but the present invention is not limited to this. The height of the measurement object S may be calculated by another method such as a white light interference method, a confocal method, a triangular distance measurement method, or a TOF (Time Of Flight) method.
(h)上記実施の形態において、光走査高さ測定装置400の動作モードは複数の動作モードを含み、光走査高さ測定装置400は使用者により選択された動作モードで動作するが、本発明はこれに限定されない。光走査高さ測定装置400の動作モードは複数の動作モードを含まずに単一の動作モードのみを含み、光走査高さ測定装置400は当該動作モードで動作してもよい。例えば、光走査高さ測定装置400の動作モードはハイトゲージモードを含まず、光走査高さ測定装置400は、設定モードおよび測定モードで動作してもよい。また、光走査高さ測定装置400は、登録情報を外部から取得可能である場合、光走査高さ測定装置400の動作モードは設定モードを含まず、光走査高さ測定装置400は、測定モードで動作してもよい。
(H) In the above embodiment, the operation mode of the light scanning
(i)上記実施の形態において、導光部240は光ファイバ241〜244およびファイバカプラ245を含むが、本発明はこれに限定されない。導光部240は、光ファイバ241〜244およびファイバカプラ245に代えてハーフミラーを含んでもよい。
(I) In the above embodiment, the
(16)請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応関係
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する他の種々の要素を用いることもできる。
(16) Correspondence Between Each Component of the Claim and Each Part of the Embodiment Hereinafter, an example of the correspondence between each component of the claim and each part of the embodiment will be described, but the present invention is not limited to the following example. It is not limited. As each component of a claim, other various elements having the configuration or function described in the claim can also be used.
上記実施の形態においては、測定対象物Sが測定対象物の例であり、登録部6が情報取得部および登録情報生成部の例であり、測定画像取得部16が測定画像取得部の例であり、光出射部231が光出射部の例である。偏向部271,272が偏向部の例であり、受光部232dが受光部の例であり、測定指示部22が測定指示部の例であり、目標点設定部17が目標点設定部の例であり、駆動制御部3が駆動制御部の例である。
In the above embodiment, the measurement object S is an example of a measurement object, the
高さ算出部15が高さ算出部または項目値算出部の例であり、測定指示部22が記録部の例であり、表示部340が表示部の例であり、光走査高さ測定装置400が光走査高さ測定装置の例である。基準画像取得部1が基準画像取得部の例であり、位置情報取得部2が位置情報取得部の例であり、測定項目取得部20が項目情報取得部の例であり、許容値取得部5が許容値取得部の例であり、検査部18が検査部の例である。
The
1…基準画像取得部,2…位置情報取得部,3…駆動制御部,4…基準面取得部,5…許容値取得部,6…登録部,7…偏向方向取得部,8…検出部,9…画像解析部,10…参照位置取得部,11…受光信号取得部,12…距離情報算出部,13…座標算出部,14…判定部,15…高さ算出部,16…測定画像取得部,17…目標点設定部,18…検査部,19…報告書作成部,20…測定項目取得部,21…項目値算出部,22…測定指示部,23…記録部,24…表示指示部,100…スタンド部,110…設置部,111…光学定盤,120…保持部,130…昇降部,131,255a,255b,264,271a,272a…駆動部,132,256a,256b,265,273,274…駆動回路,133,257a,257b,266,275,276…読取部,200…測定ヘッド,210…制御基板,220…撮像部,230…光学部,231…光出射部,232…測定部,232a,232c…レンズ,232b…分光部,232d…受光部,240…導光部,241〜244…光ファイバ,245…ファイバカプラ,245a〜245d…ポート,245e…本体部,246…レンズ,250…参照部,251,261…固定部,251g…リニアガイド,252a,252b,262…可動部,253…固定ミラー,254a,254b,254c…可動ミラー,260…合焦部,263…可動レンズ,270…走査部,271,272…偏向部,271b…反射部,300…処理装置,310…制御部,320…記憶部,330…操作部,340…表示部,341…選択画面,341a…設定ボタン,341b,362b…測定ボタン,341c…ハイトゲージボタン,341d…統計データモードボタン,350…設定画面,351,361…画像表示領域,352,362…ボタン表示領域,352a…サーチ領域ボタン,352b…パターン画像ボタン,352c…設定完了ボタン,352d…点指定ボタン,352e…基準面設定ボタン,352g…許容値ボタン,352h…基準点設定ボタン,352i…測定点設定ボタン,360…測定画面,362a…ファイル読込ボタン,362c…統計ボタン,370…統計データ画面,371…抽出条件選択領域,372…データ表示領域,373…統計値ボタン,374…トレンドグラフボタン,375…ヒストグラムボタン,376…測定項目選択ボタン,400…光走査高さ測定装置,410…制御系,420…報告書,421…名称表示欄,422…画像表示欄,423…状況表示欄,424…結果表示欄,425…保証表示欄,MI…測定画像,PI…パターン画像,RI…基準画像,S…測定対象物,SD…統計データ,SI…画像,SR…サーチ領域,V…測定領域
DESCRIPTION OF
Claims (8)
測定対象物を含む測定画像を取得する測定画像取得部と、
光を出射する光出射部と、
前記光出射部から出射された光を偏向して測定対象物に照射する偏向部と、
測定対象物からの光を受光し、受光量を示す受光信号を出力する受光部と、
測定指示を受け付ける測定指示部と、
測定指示に応答して、前記情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点を設定する目標点設定部と、
前記目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように前記偏向部を制御する駆動制御部と、
前記偏向部の偏向方向または前記偏向部により偏向された光の照射位置と前記受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さを測定項目の値として算出する項目値算出部と、
測定指示ごとに前記項目値算出部により算出された測定項目の値を記録する記録部と、
測定画像と、前記項目値算出部により算出された測定項目の値と、前記記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとを表示する表示部とを備える、光走査高さ測定装置。 An information acquisition unit that acquires position information indicating a reference image including a measurement object and a position of a designated point designated on the reference image;
A measurement image acquisition unit that acquires a measurement image including a measurement object;
A light emitting unit that emits light;
A deflecting unit that deflects the light emitted from the light emitting unit and irradiates it onto the object to be measured;
A light receiving unit that receives light from an object to be measured and outputs a light receiving signal indicating a light receiving amount;
A measurement instruction unit that receives a measurement instruction;
A target point setting unit configured to set a target point corresponding to a designated point on a reference image based on the reference image acquired by the information acquisition unit in response to a measurement instruction;
A drive control unit that controls the deflection unit such that light is irradiated to a portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit;
The height of the portion of the measurement object corresponding to the target point is a measurement item based on the deflection direction of the deflection unit or the irradiation position of the light deflected by the deflection unit and the light reception signal output by the light reception unit. An item value calculation unit that calculates as a value;
A recording unit that records the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit for each measurement instruction;
A display unit configured to display a measurement image, values of measurement items calculated by the item value calculation unit, and statistical data based on values of one or more measurement items already recorded in the recording unit; Optical scanning height measuring device.
前記設定モードにおいて、基準対象画像を含む基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記設定モードにおいて、前記基準画像取得部により取得された基準画像上の指定点の指定を受け付けることにより位置情報を生成する位置情報取得部と、
前記設定モードにおいて、前記基準画像取得部により取得された基準画像を示す基準画像データおよび前記位置情報取得部により生成された位置情報を対応付けることにより登録情報を生成し、生成された登録情報を前記情報取得部に与える登録情報生成部とをさらに備え、
前記情報取得部、前記測定画像取得部、前記測定指示部、前記目標点設定部、前記駆動制御部、前記項目値算出部、前記記録部および前記表示部は、前記測定モードにおいて動作し、
前記測定モードにおいて、前記情報取得部は、前記登録情報生成部により前記設定モードにおいて生成された前記登録情報から前記基準画像および前記位置情報を取得する、請求項1記載の光走査高さ測定装置。 Configured to selectively operate in setup mode and measurement mode,
A reference image acquisition unit that acquires a reference image including a reference target image in the setting mode;
A position information acquisition unit that generates position information by receiving designation of a designated point on the reference image acquired by the reference image acquisition unit in the setting mode;
In the setting mode, registration information is generated by correlating reference image data indicating the reference image acquired by the reference image acquisition unit with position information generated by the position information acquisition unit, and the generated registration information is And a registration information generation unit to be given to the information acquisition unit,
The information acquisition unit, the measurement image acquisition unit, the measurement instruction unit, the target point setting unit, the drive control unit, the item value calculation unit, the recording unit, and the display unit operate in the measurement mode.
The optical scanning height measurement device according to claim 1, wherein, in the measurement mode, the information acquisition unit acquires the reference image and the position information from the registration information generated in the setting mode by the registration information generation unit. .
測定対象物を含む測定画像を取得する測定画像取得部と、
光を出射する光出射部と、
前記光出射部から出射された光を偏向して測定対象物に照射する偏向部と、
測定対象物からの光を受光し、受光量を示す受光信号を出力する受光部と、
測定指示を受け付ける測定指示部と、
測定指示に応答して、前記情報取得部により取得された基準画像に基づいて、基準画像上の指定点に対応する目標点を設定する目標点設定部と、
前記目標点設定部により設定された目標点に対応する測定対象物の部分に光が照射されるように前記偏向部を制御する駆動制御部と、
前記偏向部の偏向方向または前記偏向部により偏向された光の照射位置と前記受光部により出力される受光信号とに基づいて、目標点に対応する測定対象物の部分の高さを算出する高さ算出部と、
前記情報取得部により取得された測定項目および前記高さ算出部により算出された目標点に対応する高さに基づいて測定項目の値を算出する項目値算出部と、
測定指示ごとに前記項目値算出部により算出された測定項目の値を記録する記録部と、
測定画像と、前記項目値算出部により算出された測定項目の値と、前記記録部に既に記録されている1または複数の測定項目の値に基づく統計データとを表示する表示部とを備える、光走査高さ測定装置。 A reference image including a measurement object, position information indicating a position of a designated point designated on the reference image, and an information acquisition unit for acquiring a measurement item;
A measurement image acquisition unit that acquires a measurement image including a measurement object;
A light emitting unit that emits light;
A deflecting unit that deflects the light emitted from the light emitting unit and irradiates it onto the object to be measured;
A light receiving unit that receives light from an object to be measured and outputs a light receiving signal indicating a light receiving amount;
A measurement instruction unit that receives a measurement instruction;
A target point setting unit configured to set a target point corresponding to a designated point on a reference image based on the reference image acquired by the information acquisition unit in response to a measurement instruction;
A drive control unit that controls the deflection unit such that light is irradiated to a portion of the measurement target corresponding to the target point set by the target point setting unit;
The height of the portion of the measurement object corresponding to the target point is calculated based on the deflection direction of the deflection unit or the irradiation position of the light deflected by the deflection unit and the light reception signal output by the light reception unit Calculation unit,
An item value calculation unit that calculates the value of the measurement item based on the measurement item acquired by the information acquisition unit and the height corresponding to the target point calculated by the height calculation unit;
A recording unit that records the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit for each measurement instruction;
A display unit configured to display a measurement image, values of measurement items calculated by the item value calculation unit, and statistical data based on values of one or more measurement items already recorded in the recording unit; Optical scanning height measuring device.
前記設定モードにおいて、基準対象画像を含む基準画像を取得する基準画像取得部と、
前記設定モードにおいて、前記基準画像取得部により取得された基準画像上の指定点の指定を受け付けることにより位置情報を生成する位置情報取得部と、
前記設定モードにおいて、前記位置情報取得部により受け付けられた指定点に基づく測定項目を取得する測定項目取得部と、
前記設定モードにおいて、前記基準画像取得部により取得された基準画像を示す基準画像データ、前記位置情報取得部により生成された位置情報および前記測定項目取得部により取得された測定項目を対応付けることにより登録情報を生成し、生成された登録情報を前記情報取得部に与える登録情報生成部とをさらに備え、
前記情報取得部、前記測定画像取得部、前記測定指示部、前記目標点設定部、前記駆動制御部、前記高さ算出部、前記項目値算出部、前記記録部および前記表示部は、前記測定モードにおいて動作し、
前記測定モードにおいて、前記情報取得部は、前記登録情報生成部により前記設定モードにおいて生成された前記登録情報から前記基準画像、前記位置情報および前記測定項目を取得する、請求項3または4記載の光走査高さ測定装置。 Configured to selectively operate in setup mode and measurement mode,
A reference image acquisition unit that acquires a reference image including a reference target image in the setting mode;
A position information acquisition unit that generates position information by receiving designation of a designated point on the reference image acquired by the reference image acquisition unit in the setting mode;
A measurement item acquisition unit for acquiring a measurement item based on the designated point received by the position information acquisition unit in the setting mode;
In the setting mode, registration is performed by correlating reference image data indicating a reference image acquired by the reference image acquisition unit, position information generated by the position information acquisition unit, and measurement items acquired by the measurement item acquisition unit. And a registration information generation unit that generates information and supplies the generated registration information to the information acquisition unit.
The information acquisition unit, the measurement image acquisition unit, the measurement instruction unit, the target point setting unit, the drive control unit, the height calculation unit, the item value calculation unit, the recording unit, and the display unit Operate in mode
5. The measurement mode according to claim 3, wherein the information acquisition unit acquires the reference image, the position information, and the measurement item from the registration information generated in the setting mode by the registration information generation unit. Optical scanning height measuring device.
前記測定モードにおいて、前記項目値算出部により算出された測定項目の値と前記許容値取得部により取得された許容値とに基づいて、測定対象物の良否を判定する検査部とをさらに備える、請求項2または5記載の光走査高さ測定装置。 A tolerance acquisition unit that acquires, in the setting mode, the input of the tolerance of the measurement item of the part of the measurement object corresponding to the designated point;
The inspection mode further includes an inspection unit that determines the quality of the measurement object based on the value of the measurement item calculated by the item value calculation unit and the tolerance value acquired by the tolerance value acquisition unit in the measurement mode. The optical scanning height measuring device according to claim 2 or 5.
前記表示部は、統計モードにおいて、前記測定モードで前記記録部に記録された1または複数の測定項目の値に基づく統計データを表示する、請求項2、5または6記載の光走査高さ測定装置。 Configured to operate selectively in statistical mode,
7. The optical scanning height measurement according to claim 2, wherein the display unit displays statistical data based on the value of one or more measurement items recorded in the recording unit in the measurement mode in the statistical mode. apparatus.
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