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JP2019168253A - Magnetic body inspection system, magnetic body inspection device and magnetic body inspection method - Google Patents

Magnetic body inspection system, magnetic body inspection device and magnetic body inspection method Download PDF

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JP2019168253A
JP2019168253A JP2018054372A JP2018054372A JP2019168253A JP 2019168253 A JP2019168253 A JP 2019168253A JP 2018054372 A JP2018054372 A JP 2018054372A JP 2018054372 A JP2018054372 A JP 2018054372A JP 2019168253 A JP2019168253 A JP 2019168253A
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JP
Japan
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wire rope
magnetic body
magnetic
integrated
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JP2018054372A
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Japanese (ja)
Inventor
健二 飯島
Kenji Iijima
健二 飯島
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Abstract

【課題】差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査システムを提供する。【解決手段】この磁性体検査システム300は、ワイヤロープWに対して差動コイル12を相対的に移動させながら差動コイル12によりワイヤロープWの磁束を検知して、計測波形Wmを取得するワイヤロープ検査装置100と、計測波形Wmに対して積分する処理を行い、積分波形Wiに変換する処理装置200と、を備える。【選択図】図9Provided is a magnetic body inspection system that can intuitively understand the state of damage of a magnetic body even when measuring a portion where a plurality of damaged areas of a magnetic body are continuously distributed by a differential coil. I do. A magnetic material inspection system detects a magnetic flux of a wire rope by a differential coil while moving the differential coil relative to the wire rope, and acquires a measurement waveform. The apparatus includes a wire rope inspection apparatus 100 and a processing apparatus 200 that performs a process of integrating a measured waveform Wm and converts the integrated waveform into an integrated waveform Wi. [Selection diagram] FIG.

Description

本発明は、磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関し、特に、差動コイルにより磁性体の磁束を検知する磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法に関する。   The present invention relates to a magnetic material inspection system, a magnetic material inspection device, and a magnetic material inspection method, and more particularly to a magnetic material inspection system, a magnetic material inspection device, and a magnetic material inspection method that detect magnetic flux of a magnetic material using a differential coil.

従来、差動コイルにより磁性体の磁束を検知する磁性体検査装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, a magnetic body inspection apparatus that detects a magnetic flux of a magnetic body using a differential coil is known (see, for example, Patent Document 1).

上記特許文献1には、素線断線や局部摩耗などのワイヤロープ(磁性体)の傷みを検知するワイヤロープの損傷検出器(磁性体検査装置)が開示されている。このワイヤロープの損傷検出器は、ワイヤロープを磁化した状態で、差動接続された一対の検出コイル(差動コイル)に対して、検査対象物であるワイヤロープを移動させながら、一対の検出コイルによりワイヤロープの磁束を検知(計測)する。ワイヤロープの傷み箇所では、通常とは異なる計測波形が得られるため、ユーザは、得られた計測波形に基づいて、ワイヤロープの傷み箇所を判定可能である。上記特許文献1には記載されていないものの、この一対の検出コイルのような差動コイルにより磁束を計測する場合、傷み箇所が1箇所であれば、1周期分の正弦波のような互いに極性が逆の2つの波形部分を有する両側波形が、計測波形として得られる。   Patent Document 1 discloses a wire rope damage detector (magnetic material inspection device) that detects damage to a wire rope (magnetic material) such as wire breakage or local wear. This wire rope damage detector detects a pair of detections while moving the wire rope, which is an object to be inspected, with respect to a pair of differentially connected detection coils (differential coils) with the wire rope magnetized. The magnetic flux of the wire rope is detected (measured) by the coil. Since the measurement waveform different from the normal waveform is obtained at the damaged portion of the wire rope, the user can determine the damaged portion of the wire rope based on the obtained measured waveform. Although not described in the above-mentioned Patent Document 1, when measuring magnetic flux with a differential coil such as this pair of detection coils, if there is only one damaged part, the polarities of each other like a sine wave for one period A double-sided waveform having two waveform parts opposite to each other is obtained as a measurement waveform.

実用新案登録第2556957号公報Utility Model Registration No. 2556957

ここで、上記特許文献1には記載されていないものの、検査対象物であるワイヤロープには、傷み箇所(素線断線箇所など)が複数箇所連続して分布する部分が存在する場合がある。特に素線断線では連続して分布する傾向がよく見られる。この部分の磁束を差動コイルにより計測する場合、複数箇所の傷み箇所が連続して分布しているため、個々の傷み箇所に対応する両側波形が加算された計測波形が取得される。また、加算された計測波形では、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消されている場合がある。この場合、ワイヤロープの傷みの状態を十分に視認性良く表していない計測波形が得られるため、計測波形を確認するだけでは、ワイヤロープ(磁性体)の傷みの状態を直感的に理解しにくいという問題点がある。   Here, although not described in the above-mentioned Patent Document 1, there may be a portion in which a damaged portion (wire breakage portion or the like) is continuously distributed in the wire rope that is an inspection object. In particular, the tendency of continuous distribution is often seen in the case of broken wires. When the magnetic flux in this portion is measured by the differential coil, a plurality of damaged portions are continuously distributed, so that a measurement waveform obtained by adding both side waveforms corresponding to each damaged portion is acquired. In addition, in the added measurement waveform, waveform portions having opposite polarities of both side waveforms corresponding to adjacent damaged portions may be added and canceled. In this case, since a measurement waveform that does not sufficiently represent the state of damage to the wire rope is obtained, it is difficult to intuitively understand the state of damage to the wire rope (magnetic material) simply by checking the measurement waveform. There is a problem.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査システム、磁性体検査装置および磁性体検査方法を提供することである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to measure a portion in which a plurality of damaged portions of a magnetic material are continuously distributed by a differential coil. Another object is to provide a magnetic body inspection system, a magnetic body inspection apparatus, and a magnetic body inspection method capable of intuitively understanding the state of damage to a magnetic body.

上記目的を達成するために、この発明の第1の局面による磁性体検査システムは、磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら差動コイルにより磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理装置と、を備える。   In order to achieve the above object, a magnetic body inspection system according to a first aspect of the present invention detects a magnetic flux of a magnetic body with a differential coil while moving the differential coil relative to the magnetic body, A magnetic substance inspection device that acquires a measurement waveform and a processing device that performs processing for integrating the measurement waveform and converts the measurement waveform into an integration waveform.

この発明の第1の局面による磁性体検査システムでは、上記のように構成することにより、差動コイルにより磁性体の傷み箇所(素線断線箇所など)が複数箇所連続して分布する部分を計測した場合に、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消された計測波形が得られたとしても、得られた計測波形を、傷み箇所の分布範囲において1つの山なり形状を有する積分波形に変換することができる。その結果、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態(規模)を直感的に理解することが可能な磁性体検査システムを提供することができる。また、元の計測波形をより単純な積分波形に変換することができるので、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合以外の場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解しやすくすることができる。さらに、この発明の第1の局面による磁性体検査システムでは、計測波形に対して積分する処理を行うことにより、計測波形の細かい雑音(ノイズ)を低減した状態で積分波形を得ることができる。その結果、雑音を低減した分だけ、元の計測波形に比べてより見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形)をユーザに提示することができる。   In the magnetic substance inspection system according to the first aspect of the present invention, by configuring as described above, a portion where a damaged part (such as a broken wire part) of a magnetic substance is continuously distributed by a differential coil is measured. If the measurement waveform is canceled by adding the waveform parts with opposite polarities of the two side waveforms corresponding to the adjacent damaged part, the distribution range of the damaged part is obtained. Can be converted into an integrated waveform having one peak shape. As a result, even when measuring the part where multiple damage points of the magnetic material are continuously distributed by the differential coil, the state of damage (scale) of the magnetic material can be understood intuitively by checking the integrated waveform. It is possible to provide a magnetic substance inspection system capable of doing this. In addition, since the original measurement waveform can be converted into a simpler integrated waveform, the magnetic material can also be used in cases other than the case where the portion where the damaged portion of the magnetic material is continuously distributed by the differential coil is measured. It is easy to intuitively understand the state of the bruise. Furthermore, in the magnetic substance inspection system according to the first aspect of the present invention, an integrated waveform can be obtained in a state where fine noise (noise) of the measurement waveform is reduced by performing processing for integrating the measurement waveform. As a result, a waveform (integrated waveform) that is easier to see and intuitively understand than the original measurement waveform can be presented to the user by the amount of noise reduction.

上記第1の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形を表示する表示部を備える。このように構成すれば、処理装置の表示部に表示された積分波形を確認することができるので、ユーザは、処理装置の表示部に表示された積分波形に基づいて、磁性体の傷みの状態を容易に理解することができる。   In the magnetic substance inspection system according to the first aspect, preferably, the processing device includes a display unit that displays an integrated waveform. With this configuration, since the integrated waveform displayed on the display unit of the processing apparatus can be confirmed, the user can check the state of damage to the magnetic material based on the integrated waveform displayed on the display unit of the processing apparatus. Can be easily understood.

上記第1の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形に基づいて、波形を解析する処理および磁性体の異常を判定する処理のうちの少なくとも一方を行うように構成されている。このように構成すれば、雑音(ノイズ)が低減された積分波形に基づいて、波形の解析または磁性体の異常判定を行うことができるので、元の計測波形に基づいて波形の解析または磁性体の異常判定を行う場合に比べて、波形の解析または磁性体の異常判定を精度良く行うことができる。   In the magnetic substance inspection system according to the first aspect, preferably, the processing device is configured to perform at least one of a process of analyzing the waveform and a process of determining abnormality of the magnetic substance based on the integrated waveform. ing. According to this configuration, waveform analysis or magnetic substance abnormality determination can be performed based on the integrated waveform with reduced noise (noise). Therefore, waveform analysis or magnetic substance based on the original measurement waveform can be performed. Compared to the case where the abnormality determination is performed, the waveform analysis or the magnetic substance abnormality determination can be performed with high accuracy.

上記第1の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形がしきい値に達した場合、積分波形に対して、しきい値に達した位置から積分波形の位置をずらすオフセット処理を行うように構成されている。このように構成すれば、計測波形の雑音(ノイズ)に起因して積分波形が右肩上がりの波形になる場合にも、しきい値に達した位置から積分波形の位置をずらすことができる。その結果、積分波形が右肩上がりになり続ける場合に比べて、より見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形)をユーザに提示することができる。   In the magnetic substance inspection system according to the first aspect, preferably, when the integrated waveform reaches the threshold value, the processing device shifts the position of the integrated waveform from the position at which the threshold value is reached with respect to the integrated waveform. An offset process is performed. With this configuration, even when the integrated waveform becomes a waveform that rises to the right due to noise in the measurement waveform, the position of the integrated waveform can be shifted from the position where the threshold value is reached. As a result, it is possible to present to the user a waveform (integrated waveform) that is easier to see and intuitively understand than when the integrated waveform continues to rise.

上記第1の局面による磁性体検査システムにおいて、好ましくは、処理装置は、積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行うように構成されている。このように構成すれば、積分波形がたとえば右肩上がりなどオフセットが大きい波形になることを抑制することができる。その結果、より見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形)をユーザに提示することができる。   In the magnetic substance inspection system according to the first aspect, preferably, the processing device is configured to perform processing with a high-pass filter on the integrated waveform. If comprised in this way, it can suppress that an integrated waveform turns into a waveform with a big offset, such as rising to the right. As a result, a waveform (integrated waveform) that is easier to see and intuitively understand can be presented to the user.

この発明の第2の局面による磁性体検査装置は、磁性体に対して相対的に移動されながら磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する差動コイルと、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理部と、を備える。   A magnetic substance inspection apparatus according to a second aspect of the present invention detects a magnetic flux of a magnetic substance while moving relative to the magnetic substance, and integrates the measurement waveform with a differential coil that acquires the measurement waveform. And a processing unit for performing processing to convert to an integrated waveform.

この発明の第2の局面による磁性体検査装置では、上記のように構成することにより、第1の局面による磁性体検査システムと同様に、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査装置を提供することができる。   In the magnetic body inspection apparatus according to the second aspect of the present invention, by configuring as described above, a plurality of damaged portions of the magnetic body are continuously provided by the differential coil as in the magnetic body inspection system according to the first aspect. Even in the case of measuring a distributed portion, it is possible to provide a magnetic substance inspection apparatus capable of intuitively understanding the state of damage to the magnetic substance by checking the integrated waveform.

この発明の第3の局面による磁性体検査方法は、磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら差動コイルにより磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換するステップと、を備える。   A magnetic body inspection method according to a third aspect of the present invention includes a step of detecting a magnetic flux of a magnetic body by a differential coil while relatively moving the differential coil with respect to the magnetic body, and obtaining a measurement waveform; Performing a process of integrating the measurement waveform and converting the measurement waveform into an integrated waveform.

この発明の第3の局面による磁性体検査方法では、上記のように構成することにより、第1の局面による磁性体検査システムと同様に、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形を確認することにより、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することが可能な磁性体検査方法を提供することができる。   In the magnetic body inspection method according to the third aspect of the present invention, by configuring as described above, a plurality of damaged portions of the magnetic body are continuously provided by the differential coil as in the magnetic body inspection system according to the first aspect. Even in the case of measuring a distributed portion, it is possible to provide a magnetic body inspection method capable of intuitively understanding the state of damage to the magnetic body by checking the integrated waveform.

本発明によれば、上記のように、差動コイルにより磁性体の傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、磁性体の傷みの状態を直感的に理解することができる。   According to the present invention, as described above, it is possible to intuitively understand the state of damage to a magnetic material even when measuring a portion where a plurality of magnetic material damage locations are continuously distributed using a differential coil. it can.

第1および第2実施形態による磁性体検査システムの構成を示す概略図である。It is the schematic which shows the structure of the magnetic body test | inspection system by 1st and 2nd embodiment. 第1および第2実施形態による磁性体検査装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the magnetic body test | inspection apparatus by 1st and 2nd embodiment. 第1および第2実施形態による磁性体検査装置の制御的な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the control structure of the magnetic body test | inspection apparatus by 1st and 2nd embodiment. 差動コイルにより1箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) in which the disconnection of one place produced with the differential coil. 差動コイルにより1箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform and integral waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) which one place disconnection produced with the differential coil. 差動コイルにより2箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) in which the disconnection of two places produced with the differential coil. 差動コイルにより2箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform and integration waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) in which the disconnection of two places produced with the differential coil. 差動コイルにより12箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) in which the disconnection of 12 places produced with the differential coil. 差動コイルにより12箇所の断線が生じた磁性体(ワイヤロープ)を計測した場合の計測波形および積分波形を示す図である。It is a figure which shows the measurement waveform and integration waveform at the time of measuring the magnetic body (wire rope) in which the disconnection of 12 places produced with the differential coil. 第1実施形態による処理装置による積分波形のオフセット処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the offset process of the integral waveform by the processing apparatus by 1st Embodiment.

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。   DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.

[第1実施形態]
図1〜図10を参照して、第1実施形態による磁性体検査システム300の構成について説明する。
[First Embodiment]
With reference to FIGS. 1-10, the structure of the magnetic body test | inspection system 300 by 1st Embodiment is demonstrated.

(磁性体検査システムの構成)
図1に示すように、磁性体検査システム300は、検査対象物であり磁性体であるワイヤロープWの傷み(素線断線など)を検査するためのシステムである。磁性体検査システム300は、ワイヤロープWの磁束を計測する磁性体検査装置100と、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測結果の表示、および、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測結果に基づく解析を行う処理装置200と、を備える。磁性体検査システム300によりワイヤロープWの傷みを検査することにより、目視により確認しにくいワイヤロープWの傷みを確認可能である。なお、ワイヤロープWは、特許請求の範囲の「磁性体」の一例である。
(Configuration of magnetic material inspection system)
As shown in FIG. 1, the magnetic body inspection system 300 is a system for inspecting a damage (such as a broken wire) of a wire rope W that is an inspection object and is a magnetic body. The magnetic body inspection system 300 includes a magnetic body inspection apparatus 100 that measures the magnetic flux of the wire rope W, a display of a measurement result of the magnetic flux of the wire rope W by the magnetic body inspection apparatus 100, and a wire rope W by the magnetic body inspection apparatus 100. And a processing device 200 that performs analysis based on the measurement result of the magnetic flux of the magnetic field. By inspecting the wire rope W for damage by the magnetic substance inspection system 300, it is possible to confirm the damage of the wire rope W that is difficult to visually confirm. The wire rope W is an example of the “magnetic body” in the claims.

ワイヤロープWは、たとえば、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用されている。ワイヤロープWは、磁性を有する素線材料が編みこまれる(たとえば、ストランド編みされる)ことにより形成されており、X方向に延びる長尺材からなる磁性体である。ワイヤロープWは、劣化による切断が生じることを未然に防ぐために、磁性体検査装置100により状態(傷等の有無)を監視されている。磁束の計測の結果、劣化の程度が決められた基準を超えたと判断されるワイヤロープWは、作業者により交換される。   The wire rope W is used for, for example, a crane, an elevator, a suspension bridge, a robot, and the like. The wire rope W is formed by knitting a wire material having magnetism (for example, strand knitting), and is a magnetic body made of a long material extending in the X direction. The state of the wire rope W (whether there is a scratch or the like) is monitored by the magnetic body inspection device 100 in order to prevent the wire rope W from being cut due to deterioration. As a result of the measurement of the magnetic flux, the wire rope W determined that the degree of deterioration exceeds the determined standard is replaced by the operator.

ワイヤロープWは、磁性体検査装置100の位置において、X方向に延びるように配置されている。磁性体検査装置100は、ワイヤロープWの表面に沿ってワイヤロープWに対して相対的にX方向(ワイヤロープWの長手方向)に移動しながら、ワイヤロープWの磁束を計測する。たとえば、クレーンやエレベータに使用されるワイヤロープWのように、ワイヤロープW自体が移動する場合には、磁性体検査装置100をワイヤロープWに対して固定した状態で、ワイヤロープWをX方向に移動させながら、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測が行われる。また、吊り橋に使用されるワイヤロープWのように、ワイヤロープW自体が移動しない場合には、ワイヤロープWを磁性体検査装置100に対して固定した状態で、磁性体検査装置100をX方向に移動させながら、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの磁束の計測が行われる。これにより、ワイヤロープWの各位置における磁束が計測される。   The wire rope W is disposed so as to extend in the X direction at the position of the magnetic substance inspection apparatus 100. The magnetic substance inspection apparatus 100 measures the magnetic flux of the wire rope W while moving in the X direction (longitudinal direction of the wire rope W) relative to the wire rope W along the surface of the wire rope W. For example, when the wire rope W itself moves like a wire rope W used in a crane or an elevator, the wire rope W is moved in the X direction with the magnetic substance inspection device 100 fixed to the wire rope W. The magnetic flux of the wire rope W is measured by the magnetic substance inspection apparatus 100 while being moved to. Further, when the wire rope W itself does not move like the wire rope W used for the suspension bridge, the magnetic body inspection apparatus 100 is fixed in the X direction with the wire rope W fixed to the magnetic body inspection apparatus 100. The magnetic flux of the wire rope W is measured by the magnetic substance inspection apparatus 100 while being moved to. Thereby, the magnetic flux in each position of the wire rope W is measured.

図2および図3に示すように、磁性体検査装置100は、検知部1と、磁界印加部2(図2参照)と、電子回路部3とを備える。なお、磁性体検査装置100では、検知部1の近傍に直流磁化器が配置されていない。   As shown in FIGS. 2 and 3, the magnetic substance inspection apparatus 100 includes a detection unit 1, a magnetic field application unit 2 (see FIG. 2), and an electronic circuit unit 3. In the magnetic substance inspection apparatus 100, no DC magnetizer is disposed in the vicinity of the detection unit 1.

検知部1は、ワイヤロープWの磁束を検知(計測)する。具体的には、検知部1は、励振コイル11と、一対の受信コイル12aおよび12bを有する差動コイル12とを含む。励振コイル11は、ワイヤロープWの磁化の状態を励振する。励振コイル11は、導線を複数回巻き回したものであり、ワイヤロープWを囲むように、ワイヤロープWの軸心周りに配置されている。励振コイル11は、励振交流電流が流れることにより、内部(輪の内側)にX方向(ワイヤロープWの長手方向、軸方向)に沿った磁界を発生させ、発生させた磁界を内部に配置されたワイヤロープWに印加する。   The detection unit 1 detects (measures) the magnetic flux of the wire rope W. Specifically, the detection unit 1 includes an excitation coil 11 and a differential coil 12 having a pair of reception coils 12a and 12b. The excitation coil 11 excites the magnetization state of the wire rope W. The excitation coil 11 is formed by winding a conductive wire a plurality of times, and is arranged around the axis of the wire rope W so as to surround the wire rope W. The excitation coil 11 generates a magnetic field along the X direction (longitudinal direction and axial direction of the wire rope W) inside (inside the ring) when an excitation alternating current flows, and the generated magnetic field is disposed inside. Applied to the wire rope W.

差動コイル12(受信コイル12aおよび12b)は、励振コイル11により磁界を印加されたワイヤロープWのX方向の磁束を検知(計測)する。差動コイル12の受信コイル12aおよび12bは、それぞれ導線を複数回巻き回したものであり、互いに差動接続されている。差動コイル12の受信コイル12aおよび12bは、ワイヤロープWを囲むように、ワイヤロープWの軸心周りに配置されている。差動コイル12の受信コイル12aおよび12bは、ワイヤロープWに対して相対的にX方向に移動されながら、内部(輪の内側)に配置されたワイヤロープWの内部のX方向の磁束(全磁束)を検知する。差動コイル12は、検知したワイヤロープWのX方向の磁束に応じて、差動信号(検知信号)を電圧として送信する。差動信号は、受信コイル12aからの信号と受信コイル12bからの信号との差を示す信号である。   The differential coil 12 (receiver coils 12a and 12b) detects (measures) the magnetic flux in the X direction of the wire rope W to which the magnetic field is applied by the excitation coil 11. The receiving coils 12a and 12b of the differential coil 12 are each formed by winding a conducting wire a plurality of times and are differentially connected to each other. The receiving coils 12a and 12b of the differential coil 12 are arranged around the axis of the wire rope W so as to surround the wire rope W. The receiving coils 12a and 12b of the differential coil 12 move in the X direction relative to the wire rope W, while the X direction magnetic flux inside the wire rope W arranged inside (inside the ring) (all Magnetic flux) is detected. The differential coil 12 transmits a differential signal (detection signal) as a voltage in accordance with the detected magnetic flux in the X direction of the wire rope W. The differential signal is a signal indicating a difference between the signal from the receiving coil 12a and the signal from the receiving coil 12b.

たとえば、差動コイル12は、受信コイル12aおよび12bの両方がワイヤロープWの正常箇所(傷みがない箇所)に位置する場合、略ゼロの値を有する差動信号を送信する。ワイヤロープWの正常箇所では、ワイヤロープWの全磁束(磁界の大きさに透磁率と面積とを乗算した値)が略同じであるためである。また、たとえば、差動コイル12は、受信コイル12aおよび12bのうちの一方がワイヤロープWの傷み箇所に位置し、他方がワイヤロープWの正常箇所に位置する場合、比較的大きい値(変動する値)を有する差動信号(図4参照)を送信する。ワイヤロープWの傷み箇所では、ワイヤロープWの正常箇所とは全磁束が異なるためである。このように、差動コイル12により、ワイヤロープWの傷み箇所を示す信号を得ることが可能である。また、差動コイル12では、受信コイル12aおよび12bの信号同士の差分を取ることにより、雑音(ノイズ)を打ち消すことができるので、S/N比の良い信号を得ることが可能である。磁性体検査装置100は、ワイヤロープWに対して差動コイル12を相対的にX方向に移動させながら、差動コイル12によりワイヤロープWの磁束を検知(計測)して、計測波形Wm(図4、図6および図8参照)を取得する。   For example, the differential coil 12 transmits a differential signal having a value of substantially zero when both the receiving coils 12a and 12b are located at a normal location (a location where there is no damage) of the wire rope W. This is because in the normal location of the wire rope W, the total magnetic flux (the value obtained by multiplying the magnetic field magnitude by the magnetic permeability and the area) is substantially the same. Further, for example, when one of the receiving coils 12a and 12b is located at a damaged portion of the wire rope W and the other is located at a normal portion of the wire rope W, the differential coil 12 has a relatively large value (varies). A differential signal (see FIG. 4) having a value) is transmitted. This is because the total magnetic flux at the damaged portion of the wire rope W is different from the normal portion of the wire rope W. In this manner, the differential coil 12 can obtain a signal indicating the damaged portion of the wire rope W. In the differential coil 12, noise can be canceled out by taking the difference between the signals of the receiving coils 12a and 12b, so that a signal with a good S / N ratio can be obtained. The magnetic substance inspection apparatus 100 detects (measures) the magnetic flux of the wire rope W by the differential coil 12 while moving the differential coil 12 relative to the wire rope W in the X direction, and the measurement waveform Wm ( (See FIGS. 4, 6 and 8).

また、差動コイル12は、励振コイル11の内部(輪の内側)に設けられている。なお、差動コイル12は、励振コイル11の外部(輪の外側)に設けられていてもよい。差動コイル12の受信コイル12aおよび12bは、X1方向側からX2方向側に向かって、この順にX方向に沿って配置されている。なお、X方向における(ワイヤロープWと差動コイル12との相対移動方向)における一対の受信コイル12aおよび12bの間の間隔L1は、極力小さい方が良い。また、X方向における一対の受信コイル12aおよび12bの各々の長さL2およびL3は、極力小さい方が良い。   The differential coil 12 is provided inside the excitation coil 11 (inside the ring). The differential coil 12 may be provided outside the excitation coil 11 (outside of the ring). The receiving coils 12a and 12b of the differential coil 12 are arranged along the X direction in this order from the X1 direction side to the X2 direction side. Note that the distance L1 between the pair of receiving coils 12a and 12b in the X direction (the relative movement direction of the wire rope W and the differential coil 12) is preferably as small as possible. Further, the lengths L2 and L3 of the pair of receiving coils 12a and 12b in the X direction are preferably as small as possible.

磁界印加部2は、検知部1によりワイヤロープWの磁束を検知する前に、予めワイヤロープWの磁化の大きさおよび方向を整えるように構成されている。これにより、検知部1によるワイヤロープWの磁束の検知時に、磁化の乱れに起因して雑音(ノイズ)が生じることを抑制可能である。磁界印加部2は、磁石21および22を有する第1磁界印加部2aと、磁石23および24を有する第2磁界印加部2bとを含む。第1磁界印加部2a(磁石21および22)は、検知部1に対して、X1方向側(ワイヤロープWの長手方向の一方側)に配置されている。また、第2磁界印加部2b(磁石23および24)は、検知部1に対して、X2方向側(ワイヤロープWの長手方向の他方側)に配置されている。   The magnetic field application unit 2 is configured to adjust the magnitude and direction of the magnetization of the wire rope W in advance before the detection unit 1 detects the magnetic flux of the wire rope W. Thereby, when detecting the magnetic flux of the wire rope W by the detection unit 1, it is possible to suppress the occurrence of noise (noise) due to the disturbance of magnetization. The magnetic field application unit 2 includes a first magnetic field application unit 2 a having magnets 21 and 22 and a second magnetic field application unit 2 b having magnets 23 and 24. The first magnetic field application unit 2a (magnets 21 and 22) is arranged on the X1 direction side (one side in the longitudinal direction of the wire rope W) with respect to the detection unit 1. The second magnetic field application unit 2b (magnets 23 and 24) is disposed on the X2 direction side (the other side in the longitudinal direction of the wire rope W) with respect to the detection unit 1.

図3に示すように、電子回路部3は、処理部31と、受信I/F(インターフェース)32と、励振I/F33と、電源回路34と、記憶部35と、通信部36とを含む。処理部31は、磁性体検査装置100の各部を制御するように構成されている。処理部31は、CPU(中央処理装置)などのプロセッサ、メモリ、AD変換器などを含む。   As shown in FIG. 3, the electronic circuit unit 3 includes a processing unit 31, a reception I / F (interface) 32, an excitation I / F 33, a power supply circuit 34, a storage unit 35, and a communication unit 36. . The processing unit 31 is configured to control each unit of the magnetic substance inspection apparatus 100. The processing unit 31 includes a processor such as a CPU (Central Processing Unit), a memory, an AD converter, and the like.

受信I/F32は、差動コイル12からの差動信号を受信して、処理部31に送信する。受信I/F32は、増幅器を含む。受信I/F32は、増幅器により差動コイル12からの差動信号を増幅して、処理部31に送信する。励振I/F33は、処理部31からの制御信号を受信して、受信した制御信号に基づいて、励振コイル11に対する電力の供給を制御する。電源回路34は、外部から電力を受け取って、励振コイル13などの磁性体検査装置100の各部に電力を供給する。記憶部35は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープWの計測結果(計測データ)などの情報を記憶(保存)する。通信部36は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置100と処理装置200とを通信可能に接続する。   The reception I / F 32 receives the differential signal from the differential coil 12 and transmits it to the processing unit 31. The reception I / F 32 includes an amplifier. The reception I / F 32 amplifies the differential signal from the differential coil 12 using an amplifier and transmits the amplified signal to the processing unit 31. The excitation I / F 33 receives the control signal from the processing unit 31 and controls the supply of power to the excitation coil 11 based on the received control signal. The power supply circuit 34 receives electric power from the outside, and supplies electric power to each part of the magnetic substance inspection apparatus 100 such as the excitation coil 13. The storage unit 35 is a storage medium including, for example, a flash memory, and stores (saves) information such as measurement results (measurement data) of the wire rope W. The communication unit 36 is a communication interface, and connects the magnetic substance inspection device 100 and the processing device 200 so that they can communicate with each other.

図1に示すように、処理装置200は、通信部201と、処理部202と、記憶部203と、表示部204とを備える。通信部201は、通信用のインターフェースであり、磁性体検査装置100と処理装置200とを通信可能に接続する。処理装置200は、通信部201を介して、磁性体検査装置100によるワイヤロープWの計測結果(計測データ)を受信する。処理部202は、処理装置200の各部を制御する。処理部202は、CPUなどのプロセッサ、メモリなどを含む。処理部202は、通信部201を介して受信したワイヤロープWの計測結果に基づいて、素線断線などのワイヤロープWの傷みを解析する。記憶部203は、たとえばフラッシュメモリを含む記憶媒体であり、ワイヤロープWの計測結果、処理部202によるワイヤロープWの計測結果の解析結果などの情報を記憶(保存)する。表示部204は、たとえば液晶モニタであり、ワイヤロープWの計測結果、処理部202によるワイヤロープWの計測結果の解析結果などの情報を表示する。   As illustrated in FIG. 1, the processing device 200 includes a communication unit 201, a processing unit 202, a storage unit 203, and a display unit 204. The communication unit 201 is an interface for communication, and connects the magnetic substance inspection apparatus 100 and the processing apparatus 200 so that they can communicate with each other. The processing device 200 receives the measurement result (measurement data) of the wire rope W by the magnetic substance inspection device 100 via the communication unit 201. The processing unit 202 controls each unit of the processing device 200. The processing unit 202 includes a processor such as a CPU, a memory, and the like. Based on the measurement result of the wire rope W received via the communication unit 201, the processing unit 202 analyzes the damage of the wire rope W such as a broken wire. The storage unit 203 is a storage medium including a flash memory, for example, and stores (saves) information such as the measurement result of the wire rope W and the analysis result of the measurement result of the wire rope W by the processing unit 202. The display unit 204 is a liquid crystal monitor, for example, and displays information such as the measurement result of the wire rope W and the analysis result of the measurement result of the wire rope W by the processing unit 202.

ここで、第1実施形態では、図4〜図9に示すように、処理装置200の処理部202は、磁性体検査装置100の差動コイル12により取得された差分信号からなる計測波形Wm(計測データ)に対して積分する処理を行い、計測波形Wmを積分波形Wi(積分データ)に変換するように構成されている。なお、図4〜図9は、計測波形Wmまたは積分波形Wiを示すグラフである。縦軸は、信号強度(電圧など)を示す軸である。横軸は、計測時のワイヤロープWと差動コイル12との相対移動量を示す時間軸である。処理装置200の処理部202は、計測波形Wmの信号値を、時間軸方向に積分することにより、計測波形Wmを積分波形Wiに変換する。   Here, in the first embodiment, as illustrated in FIGS. 4 to 9, the processing unit 202 of the processing device 200 has a measurement waveform Wm (consisting of a differential signal acquired by the differential coil 12 of the magnetic substance inspection device 100). The measurement data is integrated to convert the measurement waveform Wm into an integration waveform Wi (integration data). 4 to 9 are graphs showing the measured waveform Wm or the integrated waveform Wi. The vertical axis is an axis indicating signal intensity (voltage or the like). The horizontal axis is a time axis indicating the relative movement amount between the wire rope W and the differential coil 12 at the time of measurement. The processing unit 202 of the processing device 200 converts the measurement waveform Wm into an integrated waveform Wi by integrating the signal value of the measurement waveform Wm in the time axis direction.

たとえば、図4に示すように、差動コイル12により1箇所の素線断線箇所を有するワイヤロープWを計測した場合、互いに極性が逆の2つの波形部分を有する1つの両側波形(上に凸の波形部分および下に凸の波形部分を1つずつ含む波形)としての計測波形Wmが得られる。この場合、図5に示すように、1つの両側波形としての計測波形Wmは、処理装置200の処理部202により、1つの尖鋭なピークを有する山なり形状の積分波形Wiに変換される。なお、図4〜図9では、理解の容易のため、各波形に対応するように、ワイヤロープWの素線断線箇所を黒丸印により模式的に示している。   For example, as shown in FIG. 4, when a wire rope W having a single wire breakage point is measured by the differential coil 12, one double-sided waveform having two waveform portions with opposite polarities (convex upward) ) And a measured waveform Wm as a waveform including one waveform portion convex downward. In this case, as shown in FIG. 5, the measurement waveform Wm as one side waveform is converted into a mountain-shaped integrated waveform Wi having one sharp peak by the processing unit 202 of the processing device 200. In FIGS. 4 to 9, for easy understanding, the broken wire portions of the wire rope W are schematically shown by black circles so as to correspond to the respective waveforms.

また、たとえば、図6に示すように、差動コイル12により2箇所の素線断線箇所を有するワイヤロープWを計測した場合、2つの両側波形が加算された計測波形Wmが得られる。この場合、図7に示すように、2つの両側波形が加算された波形としての計測波形Wmは、処理装置200の処理部202により、2つの尖鋭なピークを有する山なり形状の積分波形Wiに変換される。   Further, for example, as shown in FIG. 6, when a wire rope W having two wire breaks is measured by the differential coil 12, a measurement waveform Wm in which two both-side waveforms are added is obtained. In this case, as shown in FIG. 7, the measurement waveform Wm as a waveform obtained by adding two two-side waveforms is converted into a mountain-shaped integrated waveform Wi having two sharp peaks by the processing unit 202 of the processing device 200. Converted.

また、たとえば、図8に示すように、差動コイル12により12箇所の素線断線箇所が連続して近接して分布するワイヤロープWを計測した場合、12個の両側波形が加算された計測波形Wmが得られる。この計測波形Wmでは、隣り合う素線断線箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消されているため、特に複数の素線断線箇所の中間位置において、ワイヤロープWの素線断線が生じているか否かを直感的に理解しにくい。この場合、図9に示すように、12個の両側波形が加算された波形としての計測波形Wmは、処理装置200の処理部202により、1つのなだらかなピークを有する山なり形状の積分波形Wiに変換される。なお、この積分波形Wiでは、山なり形状の部分が素線断線箇所の分布範囲とほぼ対応しているため、ワイヤロープWの素線断線の状態(規模)を直感的に理解しやすい。また、第1実施形態では、S/N比を向上させるために磁界印加部2を設けているが、ノイズ環境や測定対象の磁性体の性状によっては、磁界印加部2を設けなくても積分波形により磁性体の磁気状態を表現することができる。   Further, for example, as shown in FIG. 8, when a wire rope W in which 12 wire breakage points are continuously and closely distributed by the differential coil 12 is measured, 12 side-by-side waveforms are added. A waveform Wm is obtained. In this measurement waveform Wm, since the waveform parts having opposite polarities of the both-side waveforms corresponding to adjacent wire break locations are added and cancelled, the wire rope particularly at an intermediate position between a plurality of wire break locations. It is difficult to intuitively understand whether or not the W wire breakage has occurred. In this case, as shown in FIG. 9, the measurement waveform Wm as a waveform obtained by adding 12 side-side waveforms is integrated by the processing unit 202 of the processing device 200 in a mountain-shaped integrated waveform Wi having one gentle peak. Is converted to In this integrated waveform Wi, since the mountain-shaped portion substantially corresponds to the distribution range of the broken wire portions, it is easy to intuitively understand the state (scale) of the broken wires of the wire rope W. In the first embodiment, the magnetic field application unit 2 is provided in order to improve the S / N ratio. However, depending on the noise environment and the properties of the magnetic material to be measured, integration is possible without providing the magnetic field application unit 2. The magnetic state of the magnetic material can be expressed by the waveform.

処理装置200の処理部202は、たとえば、計測波形Wmに対して積分する処理をリアルタイムに行う。これにより、計測波形Wmをリアルタイムに積分波形Wiに変換して、積分波形Wiをリアルタイムに確認可能である。また、処理装置200の処理部202は、たとえば、キーボードやマウスなどの入力操作部を用いたユーザによる積分指示に基づいて、記憶部203に記憶された計測波形Wmを読み出して、読み出した計測波形Wmに対して積分する処理を行う。これにより、計測波形Wmを事後的に積分波形Wiに変換して、積分波形Wiを確認可能である。計測波形Wmを事後的に積分波形Wiに変換する場合、計測波形Wmのうちから積分する範囲を指定して、指定範囲の計測波形Wmを積分波形Wiに変換してもよい。   For example, the processing unit 202 of the processing device 200 performs processing for integrating the measurement waveform Wm in real time. Thereby, the measurement waveform Wm can be converted into the integrated waveform Wi in real time, and the integrated waveform Wi can be confirmed in real time. Further, the processing unit 202 of the processing device 200 reads out the measured waveform Wm stored in the storage unit 203 based on an integration instruction from the user using an input operation unit such as a keyboard or a mouse, for example. A process of integrating with respect to Wm is performed. As a result, the measured waveform Wm can be converted into the integrated waveform Wi afterwards to check the integrated waveform Wi. When the measured waveform Wm is converted into the integrated waveform Wi afterwards, a range to be integrated may be specified from the measured waveform Wm, and the measured waveform Wm in the specified range may be converted into the integrated waveform Wi.

また、処理装置200の処理部202は、計測波形Wmから変換された積分波形Wiを表示部204に表示する処理を行う。積分波形Wiを表示部204に表示する場合、積分波形Wiのみを表示してもよいし、積分波形Wiおよび計測波形Wmの両方を表示してもよい。また、後述するように、積分波形Wiに基づいて波形を解析した場合には、解析結果(素線断線箇所など)を積分波形Wiとともに表示部204に表示してもよい。   In addition, the processing unit 202 of the processing device 200 performs processing for displaying the integrated waveform Wi converted from the measurement waveform Wm on the display unit 204. When displaying the integrated waveform Wi on the display unit 204, only the integrated waveform Wi may be displayed, or both the integrated waveform Wi and the measured waveform Wm may be displayed. Further, as will be described later, when the waveform is analyzed based on the integrated waveform Wi, the analysis result (such as a broken wire portion) may be displayed on the display unit 204 together with the integrated waveform Wi.

また、第1実施形態では、処理装置200の処理部202は、積分波形Wiに基づいて、波形を解析する処理を行う。たとえば、処理装置200の処理部202は、積分波形Wiに基づいて、波形における素線断線箇所(素線断線分布)を解析する処理を行う。具体的には、処理装置200の処理部202は、予め決められたモデル波形と、計測結果としての積分波形Wiとを比較することにより、波形における素線断線箇所を解析する処理を行う。また、処理装置200の処理部202は、積分波形Wiに基づいて、ワイヤロープWの異常(傷み)を判定する処理を行う。たとえば、処理装置200の処理部202は、積分波形が異常判定用のしきい値を越えるピークを有する場合、ワイヤロープWに異常がある(傷みがある)と判定し、ワイヤロープWの異常をユーザに通知する処理を行う。   In the first embodiment, the processing unit 202 of the processing device 200 performs processing for analyzing the waveform based on the integrated waveform Wi. For example, the processing unit 202 of the processing apparatus 200 performs a process of analyzing a broken wire portion (wire breakage distribution) in the waveform based on the integrated waveform Wi. Specifically, the processing unit 202 of the processing device 200 performs a process of analyzing a broken wire portion in the waveform by comparing a predetermined model waveform with an integrated waveform Wi as a measurement result. Further, the processing unit 202 of the processing device 200 performs processing for determining an abnormality (scratch) of the wire rope W based on the integrated waveform Wi. For example, when the integrated waveform has a peak that exceeds a threshold value for abnormality determination, the processing unit 202 of the processing apparatus 200 determines that the wire rope W is abnormal (damaged) and determines that the wire rope W is abnormal. Process to notify the user.

ここで、図3〜図9では図示を省略しているが、計測波形Wmは、実際には、外部磁性体などに起因して生じる雑音(ノイズ)を有する。このため、図10に示すように、計測波形Wmを積分すると、計測波形Wmの雑音に起因して積分波形Wiが右肩上がりの波形になる場合がある。そこで、第1実施形態では、処理装置200の処理部202は、積分波形Wiがオフセット判定用のしきい値に達した場合、しきい値に達した位置において積分波形Wiをオフセットするオフセット処理を行う。オフセット処理では、処理装置200の処理部202は、積分波形Wiを示すグラフ上において、しきい値に達した位置以後の積分波形Wiの位置が下がるように、予め決められた所定量だけ積分波形Wiをオフセットする処理を行う。   Although not shown in FIGS. 3 to 9, the measurement waveform Wm actually has noise (noise) caused by an external magnetic material or the like. For this reason, as shown in FIG. 10, when the measurement waveform Wm is integrated, the integration waveform Wi may become a waveform that rises to the right due to noise in the measurement waveform Wm. Therefore, in the first embodiment, the processing unit 202 of the processing device 200 performs an offset process for offsetting the integrated waveform Wi at a position where the integrated waveform Wi reaches the threshold when the integrated waveform Wi reaches the offset determination threshold. Do. In the offset processing, the processing unit 202 of the processing device 200 causes the integrated waveform Wi to be lowered by a predetermined amount on the graph indicating the integrated waveform Wi so that the position of the integrated waveform Wi after the position where the threshold is reached is lowered. A process of offsetting Wi is performed.

(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of 1st Embodiment)
In the first embodiment, the following effects can be obtained.

第1実施形態では、上記のように、処理装置200を、計測波形Wmに対して積分する処理を行い、積分波形Wiに変換するように構成する。これにより、差動コイル12によりワイヤロープWの傷み箇所(素線断線箇所など)が複数箇所連続して分布する部分を計測した場合に、隣り合う傷み箇所に対応する両側波形の互いに極性が逆の波形部分同士が加算されて打ち消された計測波形Wmが得られたとしても、得られた計測波形Wmを、傷み箇所の分布範囲において1つの山なり形状を有する積分波形Wiに変換することができる。その結果、差動コイル12によりワイヤロープWの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形Wiを確認することにより、ワイヤロープWの傷みの状態(規模)を直感的に理解することが可能な磁性体検査システム300を提供することができる。また、元の計測波形Wmをより単純な積分波形Wiに変換することができるので、差動コイル12によりワイヤロープWの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合以外の場合にも、ワイヤロープWの傷みの状態を直感的に理解しやすくすることができる。さらに、計測波形Wmに対して積分する処理を行うことにより、計測波形Wmの細かい雑音(ノイズ)を低減した状態で積分波形Wiを得ることができる。その結果、雑音を低減した分だけ、元の計測波形Wmに比べてより見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形Wi)をユーザに提示することができる。   In the first embodiment, as described above, the processing device 200 is configured to perform a process of integrating the measurement waveform Wm and convert the measurement waveform Wm into the integrated waveform Wi. As a result, when the differential coil 12 measures a portion where the damaged portions (wire disconnection portions, etc.) of the wire rope W are continuously distributed, the polarities of both side waveforms corresponding to the adjacent damaged portions are opposite to each other. Even if the waveform portions Wm are added to each other and a measurement waveform Wm canceled is obtained, the obtained measurement waveform Wm can be converted into an integrated waveform Wi having one peak shape in the distribution range of the damaged portion. it can. As a result, even when a portion where the damaged portion of the wire rope W is continuously distributed by the differential coil 12 is measured, the state (scale) of the damaged wire rope W can be determined by checking the integrated waveform Wi. A magnetic substance inspection system 300 that can be intuitively understood can be provided. In addition, since the original measurement waveform Wm can be converted into a simpler integrated waveform Wi, the differential coil 12 can be used in cases other than the case where a portion where the damaged portions of the wire rope W are continuously distributed is measured. However, it is possible to intuitively understand the damaged state of the wire rope W. Further, by performing the process of integrating the measurement waveform Wm, the integration waveform Wi can be obtained in a state where the fine noise (noise) of the measurement waveform Wm is reduced. As a result, the waveform (integrated waveform Wi) that is easier to see and intuitively understand than the original measurement waveform Wm can be presented to the user by the amount of noise reduction.

また、第1実施形態では、上記のように、処理装置200を、積分波形Wiを表示する表示部204を備えるように構成する。これにより、処理装置200の表示部204に表示された積分波形Wiを確認することができるので、ユーザは、処理装置200の表示部204に表示された積分波形Wiに基づいて、ワイヤロープWの傷みの状態を容易に理解することができる。   In the first embodiment, as described above, the processing device 200 is configured to include the display unit 204 that displays the integrated waveform Wi. Thereby, since the integrated waveform Wi displayed on the display unit 204 of the processing apparatus 200 can be confirmed, the user can determine the wire rope W based on the integrated waveform Wi displayed on the display unit 204 of the processing apparatus 200. Can easily understand the state of damage.

また、第1実施形態では、上記のように、差動コイル12を、一対の受信コイル12aおよび12bを有するように構成する。そして、ワイヤロープWと差動コイル12との相対移動方向における一対の受信コイル12aおよび12bの間の間隔L1、および、ワイヤロープWと差動コイル12との相対移動方向における一対の受信コイル12aおよび12bの各々の長さL2およびL3を、極力小さくする。これにより、計測波形Wmを、ワイヤロープWの磁性の微分値がより正確に得られる波形として得ることができる。その結果、これを積分して得られる波形(積分波形Wi)は、ワイヤロープWの磁性を正確に反映したものとなる。   In the first embodiment, as described above, the differential coil 12 is configured to have a pair of receiving coils 12a and 12b. The distance L1 between the pair of reception coils 12a and 12b in the relative movement direction between the wire rope W and the differential coil 12 and the pair of reception coils 12a in the relative movement direction between the wire rope W and the differential coil 12 are used. The lengths L2 and L3 of 12b are made as small as possible. Thereby, the measurement waveform Wm can be obtained as a waveform from which the differential magnetic value of the wire rope W can be obtained more accurately. As a result, the waveform (integrated waveform Wi) obtained by integrating this accurately reflects the magnetism of the wire rope W.

また、第1実施形態では、上記のように、処理装置200を、積分波形Wiに基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープWの異常を判定する処理を行うように構成する。これにより、雑音(ノイズ)が低減された積分波形Wiに基づいて、波形の解析およびワイヤロープWの異常判定を行うことができるので、元の計測波形Wmに基づいて波形の解析およびワイヤロープWの異常判定を行う場合に比べて、波形の解析またはワイヤロープWの異常判定を精度良く行うことができる。   In the first embodiment, as described above, the processing device 200 is configured to perform a process of analyzing a waveform and a process of determining an abnormality in the wire rope W based on the integrated waveform Wi. As a result, waveform analysis and wire rope W abnormality determination can be performed based on the integrated waveform Wi with reduced noise (noise), and therefore, waveform analysis and wire rope W based on the original measurement waveform Wm. Compared to the case where the abnormality determination is performed, the waveform analysis or the wire rope W abnormality determination can be performed with high accuracy.

また、第1実施形態では、上記のように、処理装置200を、積分波形Wiがしきい値に達した場合、積分波形Wiに対して、しきい値に達した位置から積分波形Wiの位置をずらすオフセット処理を行うように構成する。これにより、計測波形Wmの雑音に起因して積分波形Wiが右肩上がりの波形になる場合にも、しきい値に達した位置から積分波形Wiの位置をずらすことができる。その結果、積分波形Wiが右肩上がりになり続ける場合に比べて、より見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形Wi)をユーザに提示することができる。   Further, in the first embodiment, as described above, when the integrated waveform Wi reaches the threshold value, the processing device 200 determines the position of the integrated waveform Wi from the position at which the threshold value is reached with respect to the integrated waveform Wi. Is configured to perform offset processing. As a result, even when the integrated waveform Wi rises to the right due to noise in the measurement waveform Wm, the position of the integrated waveform Wi can be shifted from the position where the threshold value is reached. As a result, it is possible to present to the user a waveform (integrated waveform Wi) that is easier to see and intuitively understand than when the integrated waveform Wi continues to rise.

[第2実施形態]
次に、図1および図3〜図9を参照して、第2実施形態について説明する。この第2実施形態では、処理装置が計測波形を積分波形に変換した上記第1実施形態と異なり、磁性体検査装置が計測波形を積分波形に変換する例について説明する。なお、上記第1実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 3 to 9. In the second embodiment, unlike the first embodiment in which the processing device converts the measurement waveform into an integral waveform, an example in which the magnetic substance inspection device converts the measurement waveform into an integral waveform will be described. In addition, about the structure same as the said 1st Embodiment, the same code | symbol is attached | subjected and shown in the figure, and the description is abbreviate | omitted.

(磁性体検査システムの構成)
磁性体検査システム600は、図1に示すように、磁性体検査装置400と処理装置500とを備える点で、上記第1実施形態の磁性体検査システム300と相違する。また、磁性体検査装置400および処理装置500は、図1および図3に示すように、それぞれ、処理部331および処理部502を備える点で、上記第1実施形態の磁性体検査装置100および処理装置200と相違する。
(Configuration of magnetic material inspection system)
As shown in FIG. 1, the magnetic body inspection system 600 is different from the magnetic body inspection system 300 of the first embodiment in that a magnetic body inspection apparatus 400 and a processing apparatus 500 are provided. Further, as shown in FIGS. 1 and 3, the magnetic substance inspection apparatus 400 and the processing apparatus 500 include a processing unit 331 and a processing part 502, respectively, and thus the magnetic substance inspection apparatus 100 and the processing of the first embodiment. Different from the apparatus 200.

第2実施形態では、磁性体検査装置400の処理部331は、計測波形Wmに対して積分する処理を行い、計測波形Wmを積分波形Wiに変換するように構成されている(図4〜図9参照)。また、磁性体検査装置400の処理部331は、通信部36を介して、積分波形Wiを処理装置500に送信する処理を行う。処理装置500の処理部502は、磁性体検査装置400から受信した積分波形Wiを、表示部204に表示する処理を行う。   In the second embodiment, the processing unit 331 of the magnetic substance inspection apparatus 400 is configured to perform a process of integrating the measurement waveform Wm and convert the measurement waveform Wm to the integration waveform Wi (FIGS. 4 to 5). 9). Further, the processing unit 331 of the magnetic substance inspection apparatus 400 performs a process of transmitting the integrated waveform Wi to the processing apparatus 500 via the communication unit 36. The processing unit 502 of the processing device 500 performs processing for displaying the integrated waveform Wi received from the magnetic substance inspection device 400 on the display unit 204.

第2実施形態においても、積分する処理は、上記第1実施形態と同様である。つまり、磁性体検査装置400の処理部331は、計測波形Wmの信号値を、ワイヤロープWと差動コイル12との相対移動量が増加する方向に順次積分することにより、計測波形Wmを積分波形Wiに変換する。また、磁性体検査装置400の処理部331が、計測波形Wmに対して積分する処理をリアルタイムに行ってもよいし、処理装置500を介したユーザによる指示に基づいて、記憶部35に記憶された計測波形Wmを読み出して、読み出した計測波形Wmに対して積分する処理を行ってもよい。また、積分する処理を行う場合に、上記第1実施形態のオフセット処理を行ってもよい。   Also in the second embodiment, the integration process is the same as in the first embodiment. That is, the processing unit 331 of the magnetic substance inspection apparatus 400 integrates the measurement waveform Wm by sequentially integrating the signal value of the measurement waveform Wm in the direction in which the relative movement amount between the wire rope W and the differential coil 12 increases. Convert to waveform Wi. Further, the processing unit 331 of the magnetic substance inspection apparatus 400 may perform the process of integrating the measurement waveform Wm in real time, or is stored in the storage unit 35 based on an instruction from the user via the processing apparatus 500. Alternatively, the measured waveform Wm may be read and integrated with respect to the read measured waveform Wm. Further, when the integration process is performed, the offset process of the first embodiment may be performed.

第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   Other configurations of the second embodiment are the same as those of the first embodiment.

(第2実施形態の効果)
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of 2nd Embodiment)
In the second embodiment, the following effects can be obtained.

第2実施形態では、上記のように、磁性体検査装置400を、計測波形Wmに対して積分する処理を行い、積分波形Wiに変換する処理部331を備えるように構成する。これにより、第1実施形態と同様に、差動コイル12によりワイヤロープWの傷み箇所が複数箇所連続して分布する部分を計測する場合にも、積分波形Wiを確認することにより、ワイヤロープWの傷みの状態を直感的に理解することができる磁性体検査装置400を提供することができる。   In the second embodiment, as described above, the magnetic body inspection apparatus 400 is configured to include the processing unit 331 that performs the process of integrating the measurement waveform Wm and converts the measurement waveform Wm into the integrated waveform Wi. Thus, similarly to the first embodiment, even when a portion where the damaged portion of the wire rope W is continuously distributed by the differential coil 12 is measured, by checking the integrated waveform Wi, the wire rope W Thus, it is possible to provide the magnetic substance inspection apparatus 400 that can intuitively understand the state of the damage of each other.

なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。   The remaining effects of the second embodiment are similar to those of the aforementioned first embodiment.

[変形例]
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
[Modification]
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiment but by the scope of claims, and further includes meanings equivalent to the scope of claims and all modifications (variants) within the scope.

たとえば、上記第1および第2実施形態では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体がワイヤロープである例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、磁性体検査システムにおいて検査される磁性体は、ワイヤロープ以外の磁性体であってもよい。   For example, in the first and second embodiments, the example in which the magnetic body to be inspected in the magnetic body inspection system is a wire rope is shown, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the magnetic body to be inspected in the magnetic body inspection system may be a magnetic body other than the wire rope.

また、上記第1および第2実施形態では、検査対象物であるワイヤロープが、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボットなどに使用される例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査対象物であるワイヤロープ(磁性体)は、クレーン、エレベータ、吊り橋、ロボット以外に使用されてもよい。   Moreover, in the said 1st and 2nd embodiment, although the wire rope which is a test object showed the example used for a crane, an elevator, a suspension bridge, a robot, etc., this invention is not limited to this. In this invention, the wire rope (magnetic body) which is a test object may be used other than a crane, an elevator, a suspension bridge, and a robot.

また、上記第1および第2実施形態では、処理装置が表示部を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、処理装置が表示部を必ずしも備えている必要はない。処理装置が表示部を備えていない場合、積分波形などの情報を外部の表示装置に表示させればよい。   Moreover, in the said 1st and 2nd embodiment, although the processing apparatus showed the example provided with a display part, this invention is not limited to this. In the present invention, the processing apparatus does not necessarily include the display unit. When the processing device does not include a display unit, information such as an integrated waveform may be displayed on an external display device.

また、上記第1および第2実施形態では、一対の受信コイルの間の間隔L1および一対の受信コイルの各々の長さL2およびL3を、極力小さくした例を示したが、本発明はこれに限られない。   Further, in the first and second embodiments, the example in which the distance L1 between the pair of receiving coils and the lengths L2 and L3 of the pair of receiving coils are made as small as possible has been shown. Not limited.

また、上記第1および第2実施形態では、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープ(磁性体)の異常を判定する処理の両方を行うように構成する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理または磁性体の異常を判定する処理のいずれかのみを行うように構成してもよい。また、処理装置を、積分波形に基づいて、波形を解析する処理およびワイヤロープ(磁性体)の異常を判定する処理の両方を行わないように構成してもよい。   In the first and second embodiments described above, the processing apparatus is configured to perform both the processing for analyzing the waveform and the processing for determining abnormality of the wire rope (magnetic material) based on the integrated waveform. Although shown, the present invention is not limited to this. In the present invention, the processing device may be configured to perform only one of the process of analyzing the waveform and the process of determining the abnormality of the magnetic material based on the integrated waveform. Further, the processing device may be configured not to perform both the processing for analyzing the waveform and the processing for determining abnormality of the wire rope (magnetic material) based on the integrated waveform.

また、上記第1および第2実施形態では、積分波形に対してオフセット処理を行う例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、積分波形に対してオフセット処理を必ずしも行う必要はない。また、本発明では、処理装置の処理部が、積分波形が右肩上がりの波形になるのを抑制するように、積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行ってもよい。ハイパスフィルタによる処理では、処理装置の処理部は、積分波形に対して、低周波数帯域の波形成分をカットする処理を行う。これにより、積分波形がたとえば右肩上がりなどオフセットが大きい波形になることを抑制することができる。その結果、より見やすく直感的に理解しやすい波形(積分波形)をユーザに提示することができる。   In the first and second embodiments, the example in which the offset process is performed on the integrated waveform has been described. However, the present invention is not limited to this. In the present invention, it is not always necessary to perform offset processing on the integrated waveform. In the present invention, the processing unit of the processing device may perform processing by a high-pass filter on the integrated waveform so as to suppress the integrated waveform from rising to the right. In the processing using the high-pass filter, the processing unit of the processing device performs processing for cutting the waveform component in the low frequency band on the integrated waveform. Thereby, it can suppress that an integrated waveform turns into a waveform with big offsets, such as rising to the right. As a result, a waveform (integrated waveform) that is easier to see and intuitively understand can be presented to the user.

12 差動コイル
12a、12b 受信コイル
100、400 磁性体検査装置
200、500 処理装置
300、600 磁性体検査システム
331 処理部
W ワイヤロープ(磁性体)
12 Differential coil 12a, 12b Reception coil 100, 400 Magnetic body inspection apparatus 200, 500 Processing apparatus 300, 600 Magnetic body inspection system 331 Processing unit W Wire rope (magnetic body)

Claims (7)

磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら前記差動コイルにより前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する磁性体検査装置と、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理装置と、を備える、磁性体検査システム。
A magnetic body inspection device for detecting a magnetic flux of the magnetic body by the differential coil while moving the differential coil relative to the magnetic body and acquiring a measurement waveform;
A magnetic substance inspection system comprising: a processing device that performs a process of integrating the measurement waveform and converts the measurement waveform into an integrated waveform.
前記処理装置は、前記積分波形を表示する表示部を備える、請求項1に記載の磁性体検査システム。   The magnetic body inspection system according to claim 1, wherein the processing device includes a display unit that displays the integrated waveform. 前記処理装置は、前記積分波形に基づいて、波形を解析する処理および前記磁性体の異常を判定する処理のうちの少なくとも一方を行うように構成されている、請求項1または2に記載の磁性体検査システム。   3. The magnetism according to claim 1, wherein the processing device is configured to perform at least one of a process of analyzing a waveform and a process of determining an abnormality of the magnetic body based on the integrated waveform. Body examination system. 前記処理装置は、前記積分波形がしきい値に達した場合、前記積分波形に対して、しきい値に達した位置から前記積分波形の位置をずらすオフセット処理を行うように構成されている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の磁性体検査システム。   When the integrated waveform reaches a threshold value, the processing device is configured to perform an offset process for shifting the position of the integrated waveform from a position at which the threshold value is reached with respect to the integrated waveform. The magnetic substance inspection system according to claim 1. 前記処理装置は、前記積分波形に対してハイパスフィルタによる処理を行うように構成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の磁性体検査システム。   5. The magnetic substance inspection system according to claim 1, wherein the processing device is configured to perform processing by a high-pass filter on the integrated waveform. 磁性体に対して相対的に移動されながら前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得する差動コイルと、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換する処理部と、を備える、磁性体検査装置。
A differential coil that detects the magnetic flux of the magnetic body while being moved relative to the magnetic body and obtains a measurement waveform;
A magnetic substance inspection apparatus comprising: a processing unit that performs a process of integrating the measurement waveform and converts the measurement waveform into an integrated waveform.
磁性体に対して差動コイルを相対的に移動させながら前記差動コイルにより前記磁性体の磁束を検知して、計測波形を取得するステップと、
前記計測波形に対して積分する処理を行い、積分波形に変換するステップと、を備える、磁性体検査方法。
Detecting the magnetic flux of the magnetic body by the differential coil while moving the differential coil relative to the magnetic body to obtain a measurement waveform;
Performing a process of integrating the measured waveform and converting the measured waveform into an integrated waveform.
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