JP2019153985A - Imaging apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、撮像装置に関する。 The present invention relates to an imaging apparatus.
画素が出力する画素信号をデジタル信号に変換するAD変換部を有する撮像装置において、複数のゲインを用いる等の方法で信号処理を行う方法が知られている。特許文献1には、複数の基準電圧を用いて粗く信号を振り分けた後に、変換ビット数の小さいAD変換を行い、後段の信号処理回路でキャリブレーションを行うことで、AD変換のビット数を大きくする撮像装置が記載されている。また、特許文献2には、単位時間当たりの変化量が異なる複数の参照電圧を増幅出力信号に応じて選択してAD変換に用いる撮像装置において、変換したデジタル信号間のオフセットを低減する方法が記載されている。
In an imaging apparatus having an AD conversion unit that converts a pixel signal output from a pixel into a digital signal, a method of performing signal processing by using a plurality of gains is known. In
しかしながら、特許文献1においては、より変換ビット数の大きなAD変換を実現しようとすると、キャリブレーションを行うべきデータの重複部分が増加し、キャリブレーションを行うための回路やメモリ、消費電力が増大してしまうという問題があった。また、特許文献2においては、単位時間当たりの変化量が大きい参照信号と単位時間当たりの変化量が小さい参照信号とが重複する出力信号の処理について詳細な検討がされていない。
However, in
本発明は上記課題に鑑みてなされたものである。本発明の目的は、変換ビット数の大きなAD変換を好適に実現できるような撮像装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems. An object of the present invention is to provide an imaging apparatus that can suitably realize AD conversion having a large number of conversion bits.
本発明は、以下の構成を採用する。すなわち、
画素信号を出力する画素と、
前記画素信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部から出力された増幅出力信号と閾値との大小関係を判定する判定部と、
前記増幅出力信号をデジタル信号に変換するAD変換部であって、前記増幅出力信号が前記閾値以下だと判定された場合は第1のAD変換を行い、前記増幅出力信号が前記閾値より大きいと判定された場合は第2のAD変換を行うAD変換部と、
を備え、
前記AD変換部は、前記第2のAD変換を行う場合、前記増幅出力信号が前記閾値に基づく基準値以上の値をとる範囲において、前記増幅出力信号を前記デジタル信号に変換する
ことを特徴とする撮像装置である。
The present invention employs the following configuration. That is,
A pixel that outputs a pixel signal;
An amplifying unit for amplifying the pixel signal;
A determination unit that determines a magnitude relationship between the amplified output signal output from the amplification unit and a threshold;
An AD converter that converts the amplified output signal into a digital signal, and when the amplified output signal is determined to be equal to or less than the threshold value, performs first AD conversion, and the amplified output signal is greater than the threshold value; An AD converter that performs second AD conversion if determined,
With
The AD converter, when performing the second AD conversion, converts the amplified output signal into the digital signal in a range where the amplified output signal takes a value equal to or higher than a reference value based on the threshold value. It is an imaging device.
本発明によれば、変換ビット数の大きなAD変換を好適に実現できるような撮像装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an imaging apparatus that can suitably realize AD conversion with a large number of conversion bits.
以下に図面を参照しつつ、本発明の好適な実施の形態について説明する。ただし、以下に記載されている構成部品の寸法、材質、形状およびそれらの相対配置などは、発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものである。よって、この発明の範囲を以下の記載に限定する趣旨のものではない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the dimensions, materials, shapes, and relative arrangements of the components described below should be appropriately changed depending on the configuration of the apparatus to which the invention is applied and various conditions. Therefore, the scope of the present invention is not intended to be limited to the following description.
<実施例1>
(装置構成)
以下、図面を参照しながら本発明の撮像装置について説明する。図1は実施例1で想定している撮像装置の模式図である。図1に示す撮像装置100は同一の半導体基板上に構成されている。
<Example 1>
(Device configuration)
Hereinafter, an imaging apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram of an imaging apparatus assumed in the first embodiment. The
撮像装置100は、画素1が複数行列状に配された画素部10を有している。画素1はそれぞれ、垂直走査回路15の走査に応じて、入射光の強度に応じて光電変換された電荷に基づく信号電荷を、画素信号として増幅部20に出力する。なお、この画素1から出力される画素信号は、光電変換された電荷に基づく信号電荷(光電変換信号)に加えて、ノイズ信号を含むことがある。画素1は例えば、光電変換部であるフォトダイオード、信号電荷を読み出す転送トランジスタ、フローティングディフュージョン構造を有する電荷検出部、ソースフォロワ回路を有する増幅トランジスタ、行選択トランジスタ、リセットトランジスタなどを備えて構成される。
The
垂直走査回路15は、タイミングジェネレータ(以下、TG)70から出力される信号に基づいて、画素1を行ごとに走査する。TG70は、各種の制御パルスを出力する制御部として機能することができる。また、撮像装置に、TG70とは別に、あるいはTG70と協働して制御部として機能する処理回路を設けても良い。
増幅部20は、画素信号を増幅回路201で増幅して比較部30が有する比較回路301に出力する。増幅部20は、比較部30と画素1との間の電気的経路に設けられている。
The
The
参照電圧供給部25は、複数の参照電圧を各列の選択回路302に出力する。判定回路202は、増幅部20の出力する増幅後の画素信号(増幅出力信号)と、閾値電圧Vjを比較し、両者の大小関係を判定する判定部である。閾値は、低輝度を処理するときの信号の最上位ビットに設定しても良いし、最上位ビットより多少(例えば5〜10%程度)小
さい値に設定しても良い。また、判定用の閾値をユーザ入力等に応じて可変としても良い。選択回路302は、判定回路202で比較した結果を示す判定結果信号Jdgに基づいて、比較回路301に出力する参照電圧を、複数の参照電圧から選択する。比較回路301は、増幅部20が出力する信号と参照電圧とを比較した結果を示す比較結果信号CMPをメモリ部50に出力する。参照電圧は、時間に依存して電位が変化する信号であり、単位時間あたりの電位の変化率が大きいほど、単位時間内に処理できる画素信号の最大値が大きくなる。
The reference
メモリ部50は、フラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503を有する。フラグメモリ501には判定結果信号Jdg、第1メモリ502には光電変換信号、第2メモリ503にはノイズ信号がそれぞれ書き込まれる。
TG70は、フラグメモリ501に信号F_Enを出力する。カウンタ40は、クロック信号CLKを計数したカウント信号を、第1メモリ502、第2メモリ503に出力する。TG70は、第1メモリ502、第2メモリ503にそれぞれM1_En、M2_Enを出力する。
The
The
水平走査回路60は、各列のフラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503が保持したデジタル信号を順次DSP80に出力させる。DSP80は、処理部として機能し、各列のフラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503から出力された信号を処理し、出力回路90に出力する。出力回路90はTG70が出力する信号に基づいて、撮像装置の外部に信号を出力する。DSP80は、異なるゲインで得られたデジタル信号をゲイン比に応じて繋ぎ合わせても良い。繋ぎ合わせ処理には既知の任意の手法を採用して良い。
図1に示した撮像装置では、AD変換部110は、比較部30とメモリ部50から構成されている。また、AD変換部110の各列は、画素1の各列に対応して設けられている。
The
In the imaging apparatus illustrated in FIG. 1, the
(従来の基本動作フロー)
まず、本発明の実施例1を説明するのに先立ち、実施例1で想定している撮像装置の従来基本動作について説明する。図2Aおよび図2Bのタイミング図を参照しながら、図1に示した撮像装置の動作について説明する。図2Aと図2Bの違いは、光電変換信号のレベルが閾値電圧Vjよりも小さい場合が図2A、閾値電圧Vjよりも大きい場合が図2Bである。各タイミングにおいて、図2Aでは末尾に「a」を、図2Bでは末尾に「b」を、それぞれ付する。
(Conventional basic operation flow)
First, prior to describing the first embodiment of the present invention, the conventional basic operation of the imaging apparatus assumed in the first embodiment will be described. The operation of the imaging device shown in FIG. 1 will be described with reference to the timing charts of FIGS. 2A and 2B. The difference between FIG. 2A and FIG. 2B is FIG. 2A when the level of the photoelectric conversion signal is lower than the threshold voltage Vj, and FIG. 2B when the level is higher than the threshold voltage Vj. At each timing, “a” is added to the end in FIG. 2A, and “b” is added to the end in FIG. 2B.
図2A、図2Bにおいて、Out_Vlineは画素信号電位、Amp_Gainは増幅回路201のゲイン、Out_Ampは、増幅部20の出力する信号(増幅出力信号)を示している。Vr1、Vr2はそれぞれ、参照電圧供給部25が出力する参照電圧である。参照電圧Vr1は単位時間当たり第1の変化量で電位が変化する第1の参照電圧である。また、参照電圧Vr2は単位時間当たり第1の変化量よりも大きい第2の変化量で電位が変化する第2の参照電圧である。Vr1とVr2の変化量の比が、変換のゲイン比に相当する。図2A、図2Bではゲイン比を4として記載しているが、適宜変更しても良い。参照電圧Vr1は、第1の参照信号に対応する。参照電圧Vr2は、第2の参照信号に対応する。
2A and 2B, Out_Vline represents a pixel signal potential, Amp_Gain represents the gain of the
時刻t21a、t21bにおいて、画素1からノイズ信号に相当する信号が出力される。
時刻t22a、t22bより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が入力される。
時刻t23a、t23bにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなっ
たタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第2メモリ503にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
At times t21a and t21b, a signal corresponding to a noise signal is output from the
From time t22a, t22b, the
At times t23a and t23b, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
続いて、時刻t24a、t24bにおいて、画素1から光電変換信号が出力される。
時刻t25a、t25bにおいて、TG70から出力された閾値電圧Vjに対して、出力レベルの判定が実行される。この時、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vj以下である場合、すなわち図2Aのように閾値以下の場合には、判定回路202はLレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へLレベルが書き込まれる。さらに、参照電圧として選択回路302でVr1が選択される。
逆に、閾値電圧Vjの方が増幅部20の出力信号Out_Ampより大きい場合、すなわち図2Bの場合には、判定回路202はHレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へHレベルが書き込まれる。さらに、参照電圧として選択回路302でVr2が選択される。なお、閾値電圧Vjと出力信号Out_Ampの大小関係についての「以下」および「より大きい」という文言は、「より小さい」および「以上」と置き換えても構わない。
Subsequently, a photoelectric conversion signal is output from the
At times t25a and t25b, the output level is determined for the threshold voltage Vj output from the
On the contrary, when the threshold voltage Vj is larger than the output signal Out_Amp of the
続く動作に関して、まず、図2Aの場合(判定回路202の判定結果信号JdgがLレベルの場合)について説明する。この処理を、第1のAD変換とも呼ぶ。時刻t26aより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が入力される。
時刻t27aにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t28aで、参照電圧Vr1の入力が終了する。
Regarding the subsequent operation, first, the case of FIG. 2A (when the determination result signal Jdg of the
At time t27a, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes larger than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t28a, the input of the reference voltage Vr1 is completed.
その後、後段のDSP80が、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号をデジタル値において減算する。以上の処理を行うことで、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。
Thereafter, the
次に、図2Bの場合(判定回路202の判定結果信号JdgがHレベルの場合)について説明する。この処理を、第2のAD変換とも呼ぶ。この時、参照電圧として選択回路302でVr2が選択される。時刻t26bより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr2が入力される。
時刻t27bにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr2が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t28bで、参照電圧Vr2の入力が終了する。
Next, the case of FIG. 2B (when the determination result signal Jdg of the
At time t27b, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr2 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t28b, the input of the reference voltage Vr2 is completed.
図2Bの場合には、後段のDSP80は、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号を、デジタル値において単純には減算しない。その代わりに、まず第1メモリ502の信号に参照電圧Vr1とVr2のゲイン比である4を乗ずる。そしてその後、減算処理を行う。
このような処理をすることで、例えば10ビットのAD変換を行った場合であっても、12ビット(10ビットの4倍)に相当するAD変換の結果が得られる。その結果、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。すなわち信号レベルに応じて、図2Aと図2Bの処理を切り替えることで、AD変換のダイナミックレンジを拡大できる。
In the case of FIG. 2B, the
By performing such processing, for example, even when 10-bit AD conversion is performed, an AD conversion result corresponding to 12 bits (4
図3に、図2A、図2Bの動作を行うことで得られるデジタル信号の出力イメージを示す。10ビットのAD変換を行った場合には、図2Aで参照電圧Vr1を用いてAD変換
された信号はデジタル的に連続した0から1023の値をとる。
それに対し、図2Bで参照電圧Vr2を用いてAD変換された信号には、さらにゲイン比4が乗ぜられる。その結果、デジタル値としては0から4092までの値をとるが、4刻みの離散的な値となる。この離散的な値の画質への影響を軽減するため、フォトンショットノイズが支配的になるデジタル値を考慮する。フォトンショットノイズは信号量の平方根に相当するため、1000電子の信号であれば、約30電子がフォトンショットノイズに相当し、4刻みの信号に対し、十分に大きいといえる。
以上より、1023に相当する光電変換信号までは図2Aで説明した動作を用い、1023を超える光電変換信号では図2Bで説明した動作を用いることで、離散的な値をとる影響を軽減できる。図2Aの動作と図2Bの動作で得た値を繋ぎ合わせる際には、特許文献2のような既存の手法を利用して良い。
FIG. 3 shows an output image of a digital signal obtained by performing the operations of FIGS. 2A and 2B. When 10-bit AD conversion is performed, the signal AD-converted using the reference voltage Vr1 in FIG. 2A takes a digitally continuous value from 0 to 1023.
On the other hand, a gain ratio of 4 is further multiplied to the signal AD-converted using the reference voltage Vr2 in FIG. 2B. As a result, the digital value ranges from 0 to 4092, but becomes a discrete value in increments of 4. In order to reduce the influence of the discrete values on the image quality, a digital value in which photon shot noise becomes dominant is considered. Since the photon shot noise corresponds to the square root of the signal amount, if it is a signal of 1000 electrons, about 30 electrons correspond to the photon shot noise, which can be said to be sufficiently large with respect to the signal of every 4 steps.
As described above, the operation described in FIG. 2A is used until the photoelectric conversion signal corresponding to 1023, and the operation described in FIG. 2B is used for the photoelectric conversion signal exceeding 1023, thereby reducing the influence of taking discrete values. When connecting the values obtained by the operation of FIG. 2A and the operation of FIG. 2B, an existing method such as
(本実施例の動作フロー)
次に、本発明の実施例1について、図4A〜図4Cの動作タイミング図を用いて説明する。図4A〜図4Cは本実施例の撮像装置の駆動タイミング図である。図4A〜図4Cにおいて、図2A〜図2Bと同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。各タイミングにおいて、図4A〜図4Cではそれぞれ、末尾に「a」〜「c」を付する。これらの処理はいずれも、上述の第2のAD変換の変形と言える。
(Operation flow of this embodiment)
Next,
先に説明したとおり、参照電圧Vr2を用いてAD変換された信号のうち、参照電圧Vr1を用いてAD変換された信号と重複する小さいデジタル値の部分は、最終的な撮像装置100の出力としては用いられない。この最終的に用いられるかどうかの判定閾値は閾値電圧Vjに相当し、参照電圧Vr2を用いた場合、閾値電圧Vj以下の信号は最終的な出力としては用いられない。また、閾値電圧Vj以下の信号レベルが入力された場合には、そもそも参照電圧Vr1が選択される。したがって、図2Bにおいて、参照電圧Vr2が閾値電圧Vjを超えるまでの変換は行う必要がないということになる。上記を鑑みて、図4A〜図4Cでは、参照電圧Vr2を用いる場合、基準としてスタートする参照電圧を閾値電圧Vjとしている。
As described above, among the signals AD-converted using the reference voltage Vr2, the portion of the small digital value that overlaps the signal AD-converted using the reference voltage Vr1 is the final output of the
(本実施例の動作例)
図4Aの駆動タイミング図について説明する。図4Aは図2Bに対応し、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vjより大きい場合を想定している。時刻t45aまでの動作は、先に説明した図2Bの時刻t25bまでと同様にノイズ信号のAD変換であるため、説明を省略する。
(Operation example of this embodiment)
The drive timing chart of FIG. 4A will be described. FIG. 4A corresponds to FIG. 2B and assumes a case where the output signal Out_Amp of the
時刻t45aにおいて、TG70から出力された閾値電圧Vjに対して、出力レベルの判定が実行される。この時、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vjより大きいので、判定回路202はHレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へHレベルが書き込まれる。さらに、参照電圧として参照電圧供給部25からVr2_1が選択される。この時、参照電圧Vr2_1は閾値電圧Vjを基準値として変化する信号である点が、図2Bと異なる。すなわち、参照電圧Vr2_1は閾値以上(基準値以上)の値の範囲で電位が変化する値である。
ここで、t42a〜t43aの期間のある時刻において、比較部には、増幅出力信号と比較される参照電圧(参照信号)の変化する電位の一部として、基準値未満の値(第1値とも呼ぶ)を示す電位が入力される。
At time t45a, the output level is determined for the threshold voltage Vj output from the
Here, at a certain time during a period from t42a to t43a, the comparison unit outputs a value less than the reference value (both the first value) as a part of the changing potential of the reference voltage (reference signal) compared with the amplified output signal. Potential) is input.
時刻t46aより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr2_1が変化する。
時刻t47aにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr2_1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時の
カウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t48aで、参照電圧Vr2_1の入力が終了する。
ここで、時刻t47a、時刻t48aは、図2Bの時刻t27aと比べて、閾値電圧Vjに相当するオフセットの分だけ早くなる。したがって、参照電圧を入力しなければならない時間が短くできるため、参照電圧の供給を早く停止することができ、その分消費電力を低減できる。なお、参照電圧の供給開始タイミングを従来よりも送らせるとともに、供給終了タイミングを従来と同じにすることによっても、消費電力を低減できる。他にも、参照電圧の供給期間を従来よりも短くすることができれば、消費電力の低減は実現できる。
At time t46a, the
At time t47a, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr2_1 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t48a, the input of the reference voltage Vr2_1 is completed.
Here, the time t47a and the time t48a are earlier than the time t27a of FIG. 2B by the offset corresponding to the threshold voltage Vj. Therefore, since the time during which the reference voltage has to be input can be shortened, the supply of the reference voltage can be stopped quickly, and the power consumption can be reduced accordingly. The power consumption can also be reduced by causing the supply start timing of the reference voltage to be sent more than before and the supply end timing to be the same as the conventional one. In addition, if the supply period of the reference voltage can be made shorter than before, power consumption can be reduced.
ここで、t46a〜t48aの期間のある時刻において、増幅出力信号と比較される参照電圧の変化する電位の一部として、基準にt以上の値(第2値とも呼ぶ)を示す電位が入力される。なお、参照電圧は、t45aの直後の立ち上がり時に一時的に第1値を通過する。ただし、信号の立ち上がり直後はMj_enの切り替わりによって比較処理が無効化されている。したがってこのとき比較部は、参照電圧の変換する電位として第1値を示す電位と増幅出力信号とを比較していない。 Here, at a certain time during a period from t46a to t48a, a potential indicating a value equal to or greater than t (also referred to as a second value) is input to the reference as a part of the potential at which the reference voltage compared with the amplified output signal changes. The The reference voltage temporarily passes the first value at the time of rising immediately after t45a. However, immediately after the rise of the signal, the comparison process is invalidated by switching of Mj_en. Accordingly, at this time, the comparison unit does not compare the potential indicating the first value as the potential to be converted by the reference voltage with the amplified output signal.
なお、この場合には、後段のDSP80は、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号を、デジタル値において単純には減算しない。その代わりDSP80は、まず第1メモリ502の信号に閾値電圧Vjのオフセットに相当するデジタル値を付加したうえで、参照電圧Vr1とVr2_1のゲイン比である4を乗ずる。このような処理をすることで、図2Bの場合と同様に例えば10ビットのAD変換を行った場合であっても、12ビット(10ビットの4倍)に相当するAD変換の結果が得られる。その結果、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。本実施例の撮像装置と駆動方法を用いることで、消費電力を低減できる。
In this case, the
(変形例1−1)
次に、本発明の実施例1の別の形態について、図4Bの動作タイミング図を用いて説明する。図4Bにおいて、図2A〜図2Bや図4Aと同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。時刻t47bまでの動作は、先に説明した図4Aの時刻t47aまでと同様であるため、説明を省略する。
(Modification 1-1)
Next, another embodiment of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the operation timing chart of FIG. 4B. In FIG. 4B, the same parts as those in FIGS. 2A to 2B and 4A are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. The operation up to time t47b is the same as that up to time t47a in FIG.
図4Bが図4Aと異なる点は、参照電圧Vr2の入力が終了するタイミングである。すなわち、図4Bの時刻t48bは、図4Aの時刻t48aよりも延長されており、図2Bの時刻t28bと同等のタイミングとなっている。 FIG. 4B is different from FIG. 4A in the timing when the input of the reference voltage Vr2 ends. That is, the time t48b in FIG. 4B is extended from the time t48a in FIG. 4A and has the same timing as the time t28b in FIG. 2B.
このようなタイミングまで参照電圧Vr2の入力を延長し、Vr2_2とすることで、より大きな出力信号Out_AmpまでAD変換を行うことが可能となる。したがって、最終的なデジタル出力値として、12bitよりも閾値電圧Vjのデジタル値のbit数の分だけ大きな値まで、AD変換できる。すなわち、本変形例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置100としての信号出力のダイナミックレンジを拡大できる。
By extending the input of the reference voltage Vr2 to such timing and setting it to Vr2_2, it is possible to perform AD conversion up to a larger output signal Out_Amp. Therefore, AD conversion can be performed up to a final digital output value that is larger than 12 bits by the number of bits of the digital value of the threshold voltage Vj. That is, the dynamic range of signal output as the
なお、t48bの延長に必要な時間は、t46bにおける開始値をVjに引き上げてオフセットが生じたことにより確保できている。そのため、画素から画素信号が所定の周期で出力される場合にも、処理の周期を遅延させることなくダイナミックレンジを拡大できる。また、AD変換における比較時間の延長期間は、本変形例によって削減された処理時間の範囲内、すなわち、閾値電圧Vj以下の値の画素信号を変換するのに必要だった時間の範囲内とすることが好ましい。 The time required for extending t48b can be secured by raising the start value at t46b to Vj and causing an offset. Therefore, even when a pixel signal is output from a pixel at a predetermined cycle, the dynamic range can be expanded without delaying the processing cycle. Further, the extension period of the comparison time in the AD conversion is set within the range of the processing time reduced by the present modification, that is, within the time range necessary for converting the pixel signal having a value equal to or lower than the threshold voltage Vj. It is preferable.
(変形例1−2)
次に、本発明の実施例1のさらに別の形態について、図4Cの動作タイミング図を用いて説明する。図4Cにおいて、図2A〜図2Bや図4A〜図4Bと同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。時刻t46cまでの動作は、先に説明した図4Bの時刻t46bまでと同様であるため、説明を省略する。
(Modification 1-2)
Next, still another embodiment of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the operation timing chart of FIG. 4C. In FIG. 4C, parts similar to those in FIGS. 2A to 2B and FIGS. 4A to 4B are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. The operation up to time t46c is the same as that up to time t46b of FIG.
図4Cが図4Bと異なる点は、参照電圧Vr2の単位時間当たりの変化量である。本実施例の参照電圧Vr2_3の時刻t48cにおける最大電圧値は、図2Bの時刻t28bにおける最大電圧値と同等である。したがって、図4Bと比べて単位時間当たりの変化量を抑えられる。ここで、参照電圧Vr1のときの単位時間当たりの電位の変化量を第1の変化量、参照電圧Vr2、Vr2_1、Vr2_2のときの単位時間当たりの電位の変化量を第2の変化量とおく。すると、参照電圧Vr2_3の単位時間当たりの電位の変化量である第3の変化量は、第1の変化量よりも大きく、第2の変化量よりも小さい。その結果、参照電圧Vr1とVr2_3の変化量の比が、図2Bにおける変化量の比に対して小さく抑えられている。すなわち、変換のゲイン比が小さくなっている。例えば、図4Cではゲイン比を3としている。 FIG. 4C differs from FIG. 4B in the amount of change per unit time of the reference voltage Vr2. The maximum voltage value at the time t48c of the reference voltage Vr2_3 in this embodiment is equal to the maximum voltage value at the time t28b in FIG. 2B. Therefore, the amount of change per unit time can be suppressed compared to FIG. 4B. Here, the change amount of the potential per unit time at the reference voltage Vr1 is set as a first change amount, and the change amount of the potential per unit time at the reference voltages Vr2, Vr2_1, Vr2_2 is set as the second change amount. . Then, the third change amount, which is the change amount of the potential per unit time of the reference voltage Vr2_3, is larger than the first change amount and smaller than the second change amount. As a result, the ratio of the change amounts of the reference voltages Vr1 and Vr2_3 is suppressed to be smaller than the change ratio in FIG. 2B. That is, the conversion gain ratio is small. For example, in FIG. 4C, the gain ratio is 3.
上述したように、撮像装置100として信号を出力する際には、参照電圧Vr2_3を用いてAD変換された信号にはゲイン比(この場合は3)が乗算される。結果として、出力された信号のデジタル値は0から4092までの値となり、3刻みの離散的な値をとる。すなわち、本実施例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置100としての信号出力のAD変換にかかわる量子化誤差を低減できる。
As described above, when a signal is output as the
なお、ゲイン比は3以外の異なる値をとっても良く、例えばゲイン比を3.5として、先に述べた消費電力の低減やダイナミックレンジの拡大と組み合わせて用いても良い。本変形例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置の性能がさらに向上する。 The gain ratio may take a different value other than 3. For example, the gain ratio may be 3.5, and may be used in combination with the reduction in power consumption or the expansion of the dynamic range described above. By using the imaging apparatus and driving method of this modification, the performance of the imaging apparatus is further improved.
<実施例2>
(装置構成)
図5は実施例2で想定している撮像装置100の模式図であり、同一の半導体基板上に構成されている。先の実施例1と同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する場合がある。
<Example 2>
(Device configuration)
FIG. 5 is a schematic diagram of the
撮像装置100は、画素1が複数行列状に配された画素部10を有している。画素1はそれぞれ、垂直走査回路15の走査に応じて、入射光の強度に応じて光電変換された電荷に基づく信号電荷を、画素信号として増幅部20に出力する。なお、この画素1から出力される画素信号は、光電変換された電荷に基づく信号電荷(光電変換信号)に加えて、ノイズ信号を含むことがある。
The
垂直走査回路15は、タイミングジェネレータ(以下TG)70から出力される信号に基づいて、画素1を行ごとに走査する。増幅部20は、画素信号を増幅回路201で増幅して比較部30が有する比較回路301に出力する。増幅回路201のゲインは、本実施例においては、増幅部20の出力する信号と閾値電圧Vjとを判定回路202で比較した結果を示す判定結果信号Jdgに基づいて選択される。増幅部20は、比較部30と画素1との間の電気的経路に設けられている。
The
参照電圧供給部25は、本実施例においては、参照電圧Vr1を各列の比較回路301に出力する。比較回路301は、増幅部20が出力する信号と参照電圧Vr1とを比較した結果を示す比較結果信号CMPをメモリ部50に出力する。
In this embodiment, the reference
メモリ部50は、フラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503を有する。フラグメモリ501には判定結果信号Jdg、第1メモリ502には光電変換信号、第2メモリ503にはノイズ信号がそれぞれ書き込まれる。TG70は、フラグメモリ501に信号F_Enを出力する。カウンタ40は、クロック信号CLKを計数したカウント信号を、第1メモリ502、第2メモリ503に出力する。TG70は、第1メモリ502、第2メモリ503にそれぞれM1_En、M2_Enを出力する。
The
水平走査回路60は、各列のフラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503が保持したデジタル信号を順次DSP80に出力させる。DSP80は、処理部として機能し、各列のフラグメモリ501、第1メモリ502、第2メモリ503から出力された信号を処理し、出力回路90に出力する。出力回路90はTG70が出力する信号に基づいて、撮像装置の外部に信号を出力する。DSP80は、異なるゲインで得られたデジタル信号をゲイン比に応じて繋ぎ合わせても良い。繋ぎ合わせ処理には既知の任意の手法を採用して良い。
図5に示した撮像装置では、AD変換部110は、比較部30とメモリ部50から構成されている。また、AD変換部110の各列は、画素1の各列に対応して設けられている。
The
In the imaging apparatus illustrated in FIG. 5, the
(従来の基本動作フロー)
まず、本発明の実施例2を説明するのに先立ち、実施例2で想定している撮像装置の従来基本動作について説明する。図6Aおよび図6Bを参照しながら、図5に示した撮像装置の動作について説明する。図6Aと図6Bの違いは、増幅回路201の出力レベルが閾値電圧Vjよりも小さい場合が図6A、閾値電圧Vjよりも大きい場合が図6Bである。各タイミングにおいて、図6Aでは末尾に「a」を、図6Bでは末尾に「b」を、それぞれ付する。図6Aの処理は第1のAD変換に相当し、図6Bの処理は第2のAD変換に相当する。
(Conventional basic operation flow)
First, prior to describing the second embodiment of the present invention, the conventional basic operation of the imaging apparatus assumed in the second embodiment will be described. The operation of the imaging apparatus shown in FIG. 5 will be described with reference to FIGS. 6A and 6B. The difference between FIG. 6A and FIG. 6B is FIG. 6A when the output level of the
図6A、図6Bにおいて、Out_Vlineは画素信号電位、Amp_Gainは増幅回路201のゲイン、Out_Ampは、増幅部20の出力する信号を示している。Vr1は参照電圧供給部25が出力する参照電圧である。参照電圧Vr1は単位時間当たりにある変化量で電位が変化する参照電圧である。図6A、図6Bでは増幅回路201のゲインを4または1として記載しているが、適宜変更しても良い。
6A and 6B, Out_Vline indicates the pixel signal potential, Amp_Gain indicates the gain of the
時刻t61a、t61bにおいて、画素1からノイズ信号に相当する信号が出力される。
時刻t62a、t62bより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が入力される。
時刻t63a、t63bにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第2メモリ503にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
At times t61a and t61b, a signal corresponding to a noise signal is output from the
At time t62a and t62b, the
At times t63a and t63b, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes larger than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
続いて、時刻t64a、t64bにおいて、画素1から光電変換信号が出力される。
時刻t65a、t65bにおいて、TG70から出力された閾値電圧Vjに対して、出力レベルの判定が実行される。この時、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vj以下である場合、すなわち図6Aのように閾値以下の場合には、判定回路202はLレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へLレベルが書き込まれ、増幅回路201のゲインは変更されない(4のまま維持される)。
逆に、閾値電圧Vjの方が増幅部20の出力信号Out_Ampより大きい場合、すなわち図6Bの場合には、判定回路202はHレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へHレベルが書き込まれ、増幅回路201のゲインが1に変更される。
Subsequently, a photoelectric conversion signal is output from the
At times t65a and t65b, the output level is determined for the threshold voltage Vj output from the
On the contrary, when the threshold voltage Vj is larger than the output signal Out_Amp of the amplifying
続く動作に関して、まず、比較回路301の出力する信号がLレベルであるとして図6Aを用いて説明する。時刻t66aより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が入力される。
時刻t67aにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t68aで、参照電圧Vr1の入力が終了する。
The subsequent operation will be described with reference to FIG. 6A, assuming that the signal output from the
At time t67a, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t68a, the input of the reference voltage Vr1 is completed.
その後、後段のDSP80が、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号をデジタル値において減算する。以上の処理を行うことで、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。
Thereafter, the
次に、図6Bの場合(判定回路202の判定結果信号JdgがHレベルの場合の動作について説明する。この時、時刻t65bにおいて、判定回路202はHレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へHレベルが書き込まれ、増幅回路201のゲインが1に変更されている。このゲイン変更に伴い、いったん閾値電圧Vjを越えたOut_Ampは、Vj以下の値に戻っている。
Next, in the case of FIG. 6B (the operation when the determination result signal Jdg of the
時刻t66bより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が入力される。
時刻t67bにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t68bで、参照電圧Vr1の入力が終了する。
At time t66b, the
At time t67b, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t68b, the input of the reference voltage Vr1 is completed.
図6Bの場合には、後段のDSP80は、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号を、デジタル値において単純には減算しない。その代わりに、まず第1メモリ502の信号に、増幅回路201のゲイン比である4を乗ずる。そしてその後、減算処理を行う。
このような処理をすることで、例えば10ビットのAD変換を行った場合であっても、12ビット(10ビットの4倍)に相当するAD変換の結果が得られる。その結果、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。すなわち信号レベルに応じて、図6Aと図6Bの処理を切り替えることで、AD変換のダイナミックレンジを拡大できる。
In the case of FIG. 6B, the
By performing such processing, for example, even when 10-bit AD conversion is performed, an AD conversion result corresponding to 12 bits (4
図6A、図6Bの動作を行うことで得られるデジタル信号の出力イメージは実施例1の図3と同様であり、詳細な説明は省略する。 The output image of the digital signal obtained by performing the operations of FIGS. 6A and 6B is the same as that of FIG. 3 of the first embodiment, and detailed description thereof is omitted.
(本実施例の動作フロー)
次に、本発明の実施例2について、図7A〜図7Cの動作タイミング図を用いて説明する。図7A〜図7Cは本実施例の撮像装置の駆動タイミング図である。図7A〜図7Cにおいて、図6A〜図6Bと同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。各タイミングにおいて、図7A〜図7Cではそれぞれ、末尾に「a」〜「c」を付する。これらの処理はいずれも、第2のAD変換の変形と言える。
(Operation flow of this embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to operation timing diagrams of FIGS. 7A to 7C. 7A to 7C are drive timing diagrams of the image pickup apparatus of the present embodiment. 7A to 7C, the same parts as those in FIGS. 6A to 6B are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. At each timing, “a” to “c” are added to the end in FIGS. 7A to 7C. Any of these processes can be said to be a modification of the second AD conversion.
先の実施例1で説明したのと同様に、判定結果信号JdgがHレベルを出力する場合には輝度が高いことを示しているので、判定の閾値電圧Vj/4より低輝度部分ではAD変換を行う必要がない。なお、実施例1と異なる点は、判定結果信号JdgがHレベルの場
合、増幅部20の変換ゲインが低ゲインに切り替わる点である。低ゲインを第1増幅ゲイン、高ゲインを第2増幅ゲインとも呼ぶ。したがって、閾値電圧Vjに基づいて、ゲインの比(ここでは4)を除した値を基準値としてスタートする参照電圧を用いるのが良い。すなわち、参照電圧は閾値をゲイン比で除した値以上(基準値以上)の値の範囲で電位が変化する値である。上記を鑑みて、図7A〜図7Cでは、参照電圧Vr1は、閾値電圧Vj/4を基準としてスタートするようにしている。
As described in the first embodiment, since the luminance is high when the determination result signal Jdg outputs an H level, AD conversion is performed in a portion having a luminance lower than the determination threshold voltage Vj / 4. There is no need to do. The difference from the first embodiment is that when the determination result signal Jdg is at the H level, the conversion gain of the amplifying
(本実施例の動作例)
図7Aの駆動タイミング図について説明する。図7Aは図6Bに対応し、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vjより大きい場合を想定している。時刻t75aまでの動作は、先に説明した図6Bの時刻t65bまでと同様であるため、説明を省略する。
(Operation example of this embodiment)
The drive timing chart of FIG. 7A will be described. FIG. 7A corresponds to FIG. 6B and assumes a case where the output signal Out_Amp of the
時刻t75aにおいて、TG70から出力された閾値電圧Vjに対して、出力レベルの判定が実行される。この時、増幅部20の出力信号Out_Ampが閾値電圧Vjより大きいので、判定回路202はHレベルの判定結果信号Jdgを出力し、フラグメモリ501へHレベルが書き込まれる。さらに、増幅回路201のゲインが1に変更される。この時、参照電圧Vr1−1は閾値電圧Vj/4を基準として変化する信号である点が、図6Bと異なる。
At time t75a, the output level is determined for the threshold voltage Vj output from the
時刻t76aより、カウンタ40がカウントを開始するとともに、参照電圧Vr1が変化する。
時刻t77aにおいて、Out_Ampよりも参照電圧Vr1が大きくなったタイミングで比較結果信号CMPの信号値がHighとなる。第1メモリ502にはこの時のカウント信号が書き込まれ保持される。
さらに時刻t78aで、参照電圧Vr1の入力が終了する。ここで、時刻t77a、時刻t78aは、図6Bの時刻t67a、t68aと比べて、閾値電圧Vj/4に相当するオフセットの分だけ早くなる。したがって、参照電圧を入力しなければならない時間が短くできるため、参照電圧の供給を早く停止できる。その結果、消費電力を低減できる。
At time t76a, the
At time t77a, the signal value of the comparison result signal CMP becomes High at the timing when the reference voltage Vr1 becomes higher than Out_Amp. The count signal at this time is written and held in the
Further, at time t78a, the input of the reference voltage Vr1 is completed. Here, the time t77a and the time t78a are earlier than the times t67a and t68a in FIG. 6B by the offset corresponding to the threshold voltage Vj / 4. Accordingly, the time during which the reference voltage must be input can be shortened, so that the supply of the reference voltage can be stopped quickly. As a result, power consumption can be reduced.
図7Aの場合には、後段のDSP80は、第1メモリ502に書き込まれた信号から第2メモリ503に書き込まれた信号を、デジタル値において単純には減算しない。その代わりに、まず第1メモリ502の信号に閾値電圧Vj/4のオフセットに相当するデジタル値を付加したうえで、参照電圧Vr1とVr1−1のゲイン比である4を乗ずる。そしてその後、減算処理を行う。
このような処理をすることで、図6Bの場合と同様に、例えば10ビットのAD変換を行った場合であっても、12ビット(10ビットの4倍)に相当するAD変換の結果が得られる。その結果、光電変換信号からノイズ信号を除去しつつ、アナログ信号である増幅部20の出力信号Out_Ampを精度良くデジタル信号に変換できる。以上より、本実施例の撮像装置と駆動方法を用いることで、消費電力を低減できる。
In the case of FIG. 7A, the
By performing such processing, as in the case of FIG. 6B, for example, even when 10-bit AD conversion is performed, an AD conversion result corresponding to 12 bits (4
(変形例2−1)
次に、本発明の実施例2の別の形態について、図7Bの動作タイミング図を用いて説明する。図7Bにおいて、先の実施例2と同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。時刻t77bまでの動作は先に説明した図7Aの時刻t77aまでと同様であるため、説明を省略する。
(Modification 2-1)
Next, another embodiment of the second embodiment of the present invention will be described using the operation timing chart of FIG. 7B. In FIG. 7B, the same reference numerals are given to the same parts as those in the second embodiment, and the detailed description is omitted. The operation up to time t77b is the same as that up to time t77a in FIG.
図7Bが図7Aと異なる点は、参照電圧Vr1の入力が終了するタイミングである。すなわち、時刻t78bが、図6Bの時刻t68bと同等のタイミングまで延長されている。
このようなタイミングまで参照電圧Vr1の入力を延長し、Vr1−2することで、より大きな出力信号Out_AmpまでAD変換を行うことが可能となる。したがって、最終的なデジタル出力値として、12bitよりもVj/4のデジタル値のbit数の分だけ大きな値まで、AD変換できる。すなわち、本変形例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置100としての信号出力のダイナミックレンジを拡大できる。
FIG. 7B differs from FIG. 7A in the timing at which the input of the reference voltage Vr1 ends. That is, time t78b is extended to the same timing as time t68b in FIG. 6B.
By extending the input of the reference voltage Vr1 to such timing and performing Vr1-2, AD conversion can be performed up to a larger output signal Out_Amp. Therefore, AD conversion can be performed up to a final digital output value that is larger than the 12-bit digital value by the number of bits of Vj / 4. That is, the dynamic range of signal output as the
なお、t78bの延長に必要な時間は、t76aにおけるスタート値をVj/4に引き上げてオフセットが生じたことにより確保できている。そのため、画素から画素信号が所定の周期で出力される場合にも、処理の周期を遅延させることなくダイナミックレンジを拡大できる。また、AD変換における比較時間の延長期間は、本変形例によって削減された処理時間の範囲内、すなわち、値がVj/4以下の画素信号を変換するのに必要だった時間の範囲内とすることが好ましい。 The time required for extending t78b can be secured by raising the start value at t76a to Vj / 4 and causing an offset. Therefore, even when a pixel signal is output from a pixel at a predetermined cycle, the dynamic range can be expanded without delaying the processing cycle. In addition, the extension period of the comparison time in the AD conversion is within the range of the processing time reduced by the present modification, that is, within the time range necessary for converting the pixel signal whose value is Vj / 4 or less. It is preferable.
(変形例2−2)
次に、本発明の実施例2のさらに別の形態について、図7Cの動作タイミング図を用いて説明する。図7Cにおいて、先の実施例2や変形例1と同様の部分には、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。時刻t76cまでの動作は先に説明した図7Bの時刻t76bまでと同様であるため、説明を省略する。
(Modification 2-2)
Next, still another embodiment of the second embodiment of the present invention will be described with reference to the operation timing chart of FIG. 7C. In FIG. 7C, the same parts as those in the second embodiment and the first modification are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. The operation up to time t76c is the same as that up to time t76b of FIG.
図7Cが図7Bと異なる点は、参照電圧の単位時間当たりの変化量である。本変形例の光電変換信号に対する参照電圧をVr1−3としている。参照電圧Vr1−3の時刻t78cにおける最大電圧値は、図6Bの時刻t68bにおける参照電圧Vr1の最大電圧値と同等である。したがって、図7Bと比べて単位時間当たりの変化量を抑えられる。その結果、参照電圧Vr1とVr1−3の変化量の比が、増幅回路201のゲイン比に対して小さく抑えられる。すなわち、変換のゲイン比を小さくしている。例えば、図7Cではゲイン比を3/4にしている。
7C differs from FIG. 7B in the amount of change per unit time of the reference voltage. The reference voltage for the photoelectric conversion signal of this modification is Vr1-3. The maximum voltage value of the reference voltage Vr1-3 at time t78c is equivalent to the maximum voltage value of the reference voltage Vr1 at time t68b in FIG. 6B. Therefore, the amount of change per unit time can be suppressed compared to FIG. 7B. As a result, the ratio of the amount of change between the reference voltages Vr1 and Vr1-3 is suppressed to be smaller than the gain ratio of the
撮像装置100として信号を出力する際には、参照電圧Vr1−3を用いてAD変換された信号にはさらにゲイン比(この場合は3)が乗ぜられる。結果として、デジタル値は0から4092までの値となり、3刻みの離散的な値をとる。すなわち、本実施例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置100としての信号出力のAD変換にかかわる量子化誤差を低減できる。
When a signal is output as the
なお、ゲイン比は3以外の異なる値をとっても良く、例えばゲイン比を3.5として、先に述べた消費電力の低減やダイナミックレンジの拡大と組み合わせて用いても良い。本変形例の撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置の性能がさらに向上する。 The gain ratio may take a different value other than 3. For example, the gain ratio may be 3.5, and may be used in combination with the reduction in power consumption or the expansion of the dynamic range described above. By using the imaging apparatus and driving method of this modification, the performance of the imaging apparatus is further improved.
以上、説明したように、本発明の各実施例に係る撮像装置と駆動方法を用いることで、撮像装置の消費電力を低減しつつ、ダイナミックレンジを拡大できる。また、回路やメモリの規模を増大させること無く好適なAD変換を行うことができる。 As described above, the dynamic range can be expanded while reducing the power consumption of the imaging device by using the imaging device and the driving method according to each embodiment of the present invention. Further, suitable AD conversion can be performed without increasing the scale of the circuit and memory.
<別の実施形態>
以上、具体的な実施例を挙げて本発明の説明を行ったが、本発明は上記実施の形態に制限されるものではなく、本発明の目的および範囲から離脱することなく、様々な変形や組み合わせが可能である。以下、本発明の様々な適用例や変形例について説明する。
<Another embodiment>
The present invention has been described with reference to specific examples. However, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the object and scope of the present invention. Combinations are possible. Hereinafter, various application examples and modification examples of the present invention will be described.
例えば本発明は、撮像装置100が同一の基板に形成されている場合に限定されない。すなわち、複数の基板を用いて撮像装置を形成する構成に本発明を適用してもよい。例えば、画素部10と垂直走査回路15とを別の半導体基板上に形成し、適宜何らかの手段で接続する構成としても良い。
For example, the present invention is not limited to the case where the
また、増幅回路のゲイン、閾値電圧、参照電圧の変換量などは説明の簡略化のため固定し、同様の値を用いて説明を行ったが、これに限るものではなく適宜変更することが可能である。さらに、固体撮像装置内で値を適宜変更できるようにしてもよく、固体撮像装置とは別に設けられたシステムから指定してもよい。 Further, the gain of the amplifier circuit, the threshold voltage, the conversion amount of the reference voltage, etc. are fixed for the sake of simplification, and the description is made using the same value, but the present invention is not limited to this, and can be changed as appropriate It is. Further, the value may be appropriately changed in the solid-state imaging device, or may be designated from a system provided separately from the solid-state imaging device.
また、実施例中では、参照電圧にオフセットを持たせる形態について説明を行ったが、たとえば、増幅回路201の出力から参照電圧のオフセットに相当する信号を減算する形をとっても良い。
また、本例においては、これらオフセットを閾値電圧Vjとして説明したが、必ずしも一致させる必要性はなく、例えばVjに対して所定の値や割合小さく設定して処理を行うことも考えられる。
Further, in the embodiments, the mode in which the reference voltage is offset has been described. However, for example, a signal corresponding to the offset of the reference voltage may be subtracted from the output of the
In this example, the offsets are described as the threshold voltage Vj. However, it is not always necessary to make them coincide with each other. For example, it is conceivable to perform processing while setting Vj to a predetermined value or a small ratio.
上記各実施例では、Out_AmpがVjより大きければ、参照信号として傾斜の大きい(単位時間当たり変化量が比較的大きい)参照電圧を適用したりOut_Ampに適用するゲインを下げたりして対応していた。このように、異なるゲインの信号をつなぎ合わせる処理を、3つ以上の信号に適用してもよい。例えば、Out_Amp比較する閾値として、Vj_1と、Vj_1より高いVj_2の2種類を設定してもよい。その場合、Out_AmpがVj_1以下であれば傾斜の小さい参照電圧を、Out_AmpがVj_1より大きくVj_2以下であれば中程度の傾斜の参照電圧を、Out_AmpがVj_2より大きければ傾斜が最大の参照電圧を利用する。そして、比較のスタート値を、中程度の傾斜の参照電圧利用時はVj_1とし、傾斜が最大の参照電圧時はVj_2とする。このとき、図4Bや図4Cの場合と同様に、ダイナミックレンジの拡大や量子化誤差の低減を図ってもよい。 In each of the embodiments described above, if Out_Amp is larger than Vj, a reference voltage having a large slope (a relatively large change amount per unit time) is applied as a reference signal, or a gain applied to Out_Amp is reduced. . In this way, the process of connecting signals having different gains may be applied to three or more signals. For example, two types of threshold values for comparing Out_Amp, Vj_1 and Vj_2 higher than Vj_1, may be set. In that case, a reference voltage with a small slope is used if Out_Amp is Vj_1 or less, a reference voltage with a medium slope is used if Out_Amp is greater than Vj_1 and less than Vj_2, and a reference voltage having a maximum slope is used if Out_Amp is greater than Vj_2. To do. The comparison start value is set to Vj_1 when the reference voltage having a medium slope is used, and is set to Vj_2 when the reference voltage has the maximum slope. At this time, as in FIGS. 4B and 4C, the dynamic range may be expanded and the quantization error may be reduced.
また、Out_Ampと複数の閾値の比較結果に応じて、実施例2のようにゲインを変更してもよい。例えば、Out_AmpがVj_1以下であればゲインを8倍に、Out_AmpがVj_1より大きくVj_2以下であればゲインを4倍に、Out_AmpがVj_2より大きければゲインを1倍にする。そして、比較のスタート値をOut_Ampに応じて引き上げる。このとき、図7Bや図7Cの場合と同様に、ダイナミックレンジの拡大や量子化誤差の低減を図ってもよい。 Further, the gain may be changed as in the second embodiment according to the comparison result between Out_Amp and a plurality of threshold values. For example, if Out_Amp is Vj_1 or less, the gain is 8 times, if Out_Amp is greater than Vj_1 and less than Vj_2, the gain is 4 times, and if Out_Amp is greater than Vj_2, the gain is 1 time. Then, the comparison start value is raised according to Out_Amp. At this time, as in the case of FIGS. 7B and 7C, the dynamic range may be expanded and the quantization error may be reduced.
また、実施例1で示したような参照信号の使い分けと、実施例2で示したようなゲインの変更とを組み合わせて用いてもよい。このように、閾値との比較結果に応じて参照信号やゲインを適宜組み合わせて用いることで、さらにダイナミックレンジを拡大させることも可能である。 Further, the selective use of the reference signal as shown in the first embodiment and the gain change as shown in the second embodiment may be used in combination. In this way, it is possible to further expand the dynamic range by using an appropriate combination of the reference signal and the gain according to the comparison result with the threshold value.
図1および図5においては増幅回路を画素と比較回路との間に設けたが、本発明はこれに限定されない。例えば、フローティングディフュージョン容量の切替等により、画素内でゲインを切り替える構成としてもよい。 1 and 5, the amplifier circuit is provided between the pixel and the comparison circuit, but the present invention is not limited to this. For example, the gain may be switched within the pixel by switching the floating diffusion capacitance.
また、撮像装置が、各列間で生じる増幅回路のゲインばらつき、閾値信号のばらつき、参照電圧のばらつきなどを補正するためのばらつき補正手段を有していてもよい。各種ばらつきを補正する手段を有することで、さらに画質が向上する。
また、各列ではなく、ある画素回路のブロック単位で処理を行ってもよい。回路規模は大きくなるが、各画素に対して処理を行ってもよい。
さらに、本例ではAD変換方式として、参照電圧Vr(ランプ信号)、比較回路、カウンタを用いたランプ方式AD変換を採用したが、これに限定されるものではない。例えば逐次比較方式のAD変換方式等、他のAD変換方式を適用することも可能である。
In addition, the imaging apparatus may include a variation correction unit for correcting gain variation of the amplifier circuit, threshold signal variation, reference voltage variation, and the like that occur between columns. By having a means for correcting various variations, the image quality is further improved.
Further, the processing may be performed in units of blocks of a certain pixel circuit instead of each column. Although the circuit scale increases, processing may be performed on each pixel.
Furthermore, in this example, the ramp method AD conversion using the reference voltage Vr (ramp signal), the comparison circuit, and the counter is adopted as the AD conversion method. However, the present invention is not limited to this. For example, other AD conversion methods such as a successive approximation AD conversion method can be applied.
(画素部の構成例)
図8を用いて、画素1の構成について説明する。図8(a)は、一つの画素1を、撮像装置の基板の主面に正対する方向から見たときの概略図である。一つの画素は一つのマイクロレンズ102を備える。マイクロレンズは例えば、グレートーンマスクを用いたフォトリソグラフィにより形成できる。かかる画素1をアレイ状に配列することにより画素部が形成される。
図8(b)は、画素部の一部の断面図である。一つの画素1では、基板に設けられた光電変換部であるフォトダイオードPDの上部に、カラーフィルタ104とマイクロレンズ102が設けられている。カラーフィルタ104には、例えば、緑、青、赤の三色をベイヤー配列したパターンを利用できる。カラーフィルタの色材料は、顔料や染料、またはそれらをハイブリッドしたものを利用できる。
(Configuration example of pixel unit)
The configuration of the
FIG. 8B is a partial cross-sectional view of the pixel portion. In one
(撮像システムへの適用例)
本発明の撮像システムへの適用例を、図9の概略構成ブロック図を用いて説明する。
上記各実施例で述べた固体撮像装置(以下、まとめて撮像装置1000と呼ぶ)は、種々の撮像システムに適用可能である。適用可能な撮像システムとしては、特に限定されるものではないが、例えば、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ、監視カメラ、複写機、ファックス、携帯電話、車載カメラ、観測衛星などが挙げられる。また、レンズなどの光学系と撮像装置とを備えるカメラモジュールも、撮像システムに含まれる。図にはこれらのうちの一例として、デジタルスチルカメラのブロック図を例示している。
(Application example to imaging system)
An example of application of the present invention to an imaging system will be described with reference to the schematic block diagram of FIG.
The solid-state imaging device described in the above embodiments (hereinafter collectively referred to as the imaging device 1000) can be applied to various imaging systems. Applicable imaging systems are not particularly limited, and examples include a digital still camera, a digital camcorder, a surveillance camera, a copying machine, a fax machine, a mobile phone, an in-vehicle camera, and an observation satellite. A camera module including an optical system such as a lens and an imaging device is also included in the imaging system. In the figure, as an example of these, a block diagram of a digital still camera is illustrated.
撮像システム3000は、撮像光学系3020、CPU3100、レンズ制御部3120、撮像装置制御部3140、画像処理部3160、絞りシャッタ制御部3180、表示部3200、操作スイッチ3220、記録媒体3240を備える。
撮像光学系3020は、被写体の光学像を形成するための光学系であり、レンズ群、絞り3040等を含む。絞り3040は、その開口径を調節することで撮影時の光量調節を行なう機能を備えるほか、静止画撮影時には露光秒時調節用シャッタとしての機能も備える。レンズ群及び絞り3040は、光軸方向に沿って進退可能に保持されており、これらの連動した動作によって変倍機能(ズーム機能)や焦点調節機能を実現する。撮像光学系3020は、撮像システムに一体化されていてもよいし、撮像システムへの装着が可能な撮像レンズでもよい。
The
The imaging
撮像光学系3020の像空間には、その撮像面が位置するように撮像装置1000が配置されている。撮像装置1000は、上記実施例で説明した撮像装置に相当し、CMOSセンサ(画素領域)とその周辺回路(周辺回路領域)とを含んで構成される。撮像装置1000は、複数の光電変換部を有する画素が2次元配置され、これらの画素に対してカラーフィルタが配置されることで、2次元単板カラーセンサを構成している。撮像装置1000は、撮像光学系3020により結像された被写体像を光電変換し、画像信号や焦点検出信号として出力する。
The
レンズ制御部3120は、撮像光学系3020のレンズ群の進退駆動を制御して変倍操作や焦点調節を行うためのものであり、その機能を実現するように構成された回路や処理装置により構成されている。絞りシャッタ制御部3180は、絞り3040の開口径を変化して(絞り値を可変として)撮影光量を調節するためのものであり、その機能を実現するように構成された回路や処理装置により構成される。
The
CPU3100は、カメラ本体の種々の制御を司るカメラ内の制御装置であり、演算部、ROM、RAM、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、通信インターフェイス回路等を含む。CPU3100は、ROM等に記憶されたコンピュータプログラムに従ってカメラ内の各部の動作を制御し、撮像光学系3020の焦点状態の検出(焦点検出)を含むA
F、撮像、画像処理、記録等の一連の撮影動作を実行する。CPU3100は、信号処理部でもある。
The
A series of photographing operations such as F, imaging, image processing, and recording are executed. The
撮像装置制御部3140は、撮像装置1000の動作を制御するとともに、撮像装置1000から出力された信号をA/D変換してCPU3100に送信するためのものであり、それら機能を実現するように構成された回路や制御装置により構成される。A/D変換機能は、撮像装置1000が備えていてもかまわない。画像処理部3160は、A/D変換された信号に対してγ変換やカラー補間等の画像処理を行って画像信号を生成するためのものであり、その機能を実現するように構成された回路や制御装置により構成される。表示部3200は、液晶表示装置(LCD)等の表示装置であり、カメラの撮影モードに関する情報、撮影前のプレビュー画像、撮影後の確認用画像、焦点検出時の合焦状態等を表示する。操作スイッチ3220は、電源スイッチ、レリーズ(撮影トリガ)スイッチ、ズーム操作スイッチ、撮影モード選択スイッチ等で構成される。記録媒体3240は、撮影済み画像等を記録するためのものであり、撮像システムに内蔵されたものでもよいし、メモリカード等の着脱可能なものでもよい。
The imaging
このようにして、各実施例による撮像装置1000を適用した撮像システム3000を構成することにより、高精度の焦点調節が可能であり且つ被写界深度の深い画像を取得しうる高性能の撮像システムを実現できる。
In this way, by configuring the
(移動体への適用例)
本発明の撮像システム及び移動体について、図10のブロック図を用いて説明する。図10(a)は、車載カメラに関する撮像システム4000の一例を示したものである。撮像システム4000は、撮像装置4100を有する。撮像装置4100は、上述の各実施例に記載の固体撮像装置のいずれかである。撮像システム4000は、撮像装置4100により取得された複数の画像データに対し、画像処理を行う画像処理部4120と、撮像装置4100により取得された複数の画像データから視差(視差画像の位相差)の算出を行う視差取得部4140を有する。また、撮像システム4000は、算出された視差に基づいて対象物までの距離を算出する距離取得部4160と、算出された距離に基づいて衝突可能性があるか否かを判定する衝突判定部4180と、を有する。ここで、視差取得部4140や距離取得部4160は、対象物までの距離情報を取得する距離情報取得部の一例である。すなわち、距離情報とは、視差、デフォーカス量、対象物までの距離等に関する情報である。衝突判定部4180はこれらの距離情報のいずれかを用いて、衝突可能性を判定してもよい。距離情報取得手段は、専用に設計されたハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアモジュールによって実現されてもよい。また、FPGA(Field Programmable Gate Array)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)等によって実現されてもよいし、これらの組合せによって実現されてもよい。
(Application example to mobile objects)
The imaging system and moving body of the present invention will be described with reference to the block diagram of FIG. FIG. 10A shows an example of an
撮像システム4000は、車両情報取得装置4200と接続されており、車速、ヨーレート、舵角などの車両情報を取得できる。また、撮像システム4000は、衝突判定部4180での判定結果に基づいて、車両に対して制動力を発生させる制御信号を出力する制御装置である制御ECU4300が接続されている。すなわち、制御ECU4300は、距離情報に基づいて移動体を制御する移動体制御部の一例である。また、撮像システム4000は、衝突判定部4180での判定結果に基づいて、ドライバーへ警報を発する警報装置4400とも接続されている。例えば、衝突判定部4180の判定結果として衝突可能性が高い場合、制御ECU4300はブレーキをかける、アクセルを戻す、エンジン出力を抑制するなどして衝突を回避、被害を軽減する車両制御を行う。警報装置4400は音等の警報を鳴らす、カーナビゲーションシステムなどの画面に警報情報を表示する、シートベルトやステアリングに振動を与えるなどしてユーザに警告を行う。
The
本実施例では、車両の周囲、例えば前方又は後方を撮像システム4000で撮像する。図10(b)に、車両前方(撮像範囲4500)を撮像する場合の撮像システム4000を示した。車両情報取得装置4200は、撮像システム4000を動作させ撮像を実行させるように指示を送る。上述の各実施例の固体撮像装置を撮像装置4100として用いることで、撮像システム4000は、測距の精度がより向上する。
In the present embodiment, the
以上の説明では、他の車両と衝突しないように制御する例を述べたが、他の車両に追従して自動運転する制御、車線からはみ出さないように自動運転する制御等にも適用可能である。更に、撮像システムは、自動車等の車両に限らず、例えば、船舶、航空機あるいは産業用ロボットなどの移動体(移動装置)に適用できる。加えて、移動体に限らず、高度道路交通システム(ITS)等、広く物体認識を利用する機器に適用できる。 In the above description, an example of controlling so as not to collide with other vehicles has been described, but it can also be applied to control for automatically driving following other vehicles, control for automatically driving so as not to protrude from the lane, and the like. is there. Furthermore, the imaging system is not limited to a vehicle such as an automobile, and can be applied to a moving body (moving device) such as a ship, an aircraft, or an industrial robot. In addition, the present invention is not limited to moving objects, and can be applied to devices that widely use object recognition, such as intelligent road traffic systems (ITS).
本発明はさらに、医療用の画像取得装置に適用されるイメージセンサー、精密部品の検査装置に用いられるイメージセンサー、監視カメラに用いられるイメージセンサーなど、様々な分野において利用可能である。 Further, the present invention can be used in various fields such as an image sensor applied to a medical image acquisition apparatus, an image sensor used in a precision component inspection apparatus, and an image sensor used in a surveillance camera.
1:画素、20:増幅部、100:撮像装置、110:AD変換部、202:判定回路 1: Pixel, 20: Amplifier, 100: Imaging device, 110: AD converter, 202: Determination circuit
Claims (12)
前記画素信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部から出力された増幅出力信号と閾値との大小関係を判定する判定部と、
前記増幅出力信号をデジタル信号に変換するAD変換部であって、前記増幅出力信号が前記閾値以下だと判定された場合は第1のAD変換を行い、前記増幅出力信号が前記閾値より大きいと判定された場合は第2のAD変換を行うAD変換部と、
を備え、
前記AD変換部は、前記第2のAD変換を行う場合、前記増幅出力信号が前記閾値に基づく基準値以上の値をとる範囲において、前記増幅出力信号を前記デジタル信号に変換する
ことを特徴とする撮像装置。 A pixel that outputs a pixel signal;
An amplifying unit for amplifying the pixel signal;
A determination unit that determines a magnitude relationship between the amplified output signal output from the amplification unit and a threshold;
An AD converter that converts the amplified output signal into a digital signal, and when the amplified output signal is determined to be equal to or less than the threshold value, performs first AD conversion, and the amplified output signal is greater than the threshold value; An AD converter that performs second AD conversion if determined,
With
The AD converter, when performing the second AD conversion, converts the amplified output signal into the digital signal in a range where the amplified output signal takes a value equal to or higher than a reference value based on the threshold value. An imaging device.
ことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 The AD conversion unit converts the amplified output signal into the digital signal by using a comparison unit that compares the amplified output signal with a reference signal whose potential changes with time. Imaging device.
前記第1のAD変換においては、電位の単位時間当たりの変化量が第1の変化量である第1の参照信号と前記増幅出力信号を比較し、
前記第2のAD変換においては、前記閾値を前記基準値とし、前記増幅出力信号が当該基準値以上の値をとる範囲において、電位の単位時間当たりの変化量が前記第1の変化量よりも大きい第2の変化量である第2の参照信号と前記増幅出力信号を比較する
ことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 The AD converter is
In the first AD conversion, the amplified output signal is compared with a first reference signal whose amount of change in potential per unit time is the first change amount,
In the second AD conversion, the amount of change in potential per unit time is greater than the first amount of change in a range where the threshold value is the reference value and the amplified output signal takes a value equal to or greater than the reference value. The imaging apparatus according to claim 2, wherein a second reference signal that is a large second change amount is compared with the amplified output signal.
ことを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。 In the second AD conversion, the AD conversion unit extends a comparison time between the second reference signal and the amplified output signal within a range of an offset generated by setting the threshold as the reference value. The imaging apparatus according to claim 3.
ことを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。 When the comparison time is extended in the second AD conversion, the AD conversion unit has a potential change amount per unit time larger than the first change amount with respect to the second reference signal. The imaging apparatus according to claim 4, wherein a third change amount smaller than the second change amount is applied.
前記判定部は、前記第2増幅ゲインで増幅された前記増幅出力信号と前記閾値の大小関係を判定し、
前記AD変換部は、
前記第1のAD変換においては、前記第2増幅ゲインで増幅された前記増幅出力信号を前記参照信号と比較し、
前記第2のAD変換においては、前記閾値を前記第1増幅ゲインと前記第2増幅ゲインのゲイン比で除した値を前記基準値とし、前記増幅出力信号が当該基準値以上の値をとる範囲において、前記第1増幅ゲインで増幅された前記増幅出力信号を前記参照信号と比較する
ことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 The amplifying unit can amplify the pixel signal with a first amplification gain or a second amplification gain higher than the first amplification gain,
The determination unit determines a magnitude relationship between the amplified output signal amplified by the second amplification gain and the threshold;
The AD converter is
In the first AD conversion, the amplified output signal amplified by the second amplification gain is compared with the reference signal,
In the second AD conversion, a value obtained by dividing the threshold value by a gain ratio between the first amplification gain and the second amplification gain is set as the reference value, and the range in which the amplified output signal takes a value equal to or larger than the reference value. The imaging apparatus according to claim 2, wherein the amplified output signal amplified with the first amplification gain is compared with the reference signal.
を前記基準値としたことにより生じたオフセットの範囲内で、前記参照信号と前記増幅出力信号の比較時間を延長する
ことを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 In the second AD conversion, the AD conversion unit compares the reference signal and the amplified output signal within a range of an offset generated by setting a value obtained by dividing the threshold by the gain ratio as the reference value. The imaging apparatus according to claim 6, wherein the time is extended.
ことを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。 8. The AD converter according to claim 7, wherein when the comparison time is extended in the second AD conversion, the change amount of the potential per unit time is reduced with respect to the reference signal. Imaging device.
前記第2のAD変換において、前記比較部が前記参照信号の変化する電位として前記第1値を示す電位と前記増幅出力信号を比較せず、前記比較部には、前記増幅出力信号と比較される前記参照信号の変化する電位の一部として、前記基準値以上の第2値を示す電位が入力される
ことを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 In the first AD conversion, a potential indicating a first value less than the reference value is input to the comparison unit as a part of a changing potential of the reference signal compared with the amplified output signal.
In the second AD conversion, the comparison unit does not compare the amplified output signal with the potential indicating the first value as the changing potential of the reference signal, and the comparison unit compares the amplified output signal with the amplified output signal. The imaging apparatus according to claim 2, wherein a potential indicating a second value equal to or greater than the reference value is input as a part of the potential that changes in the reference signal.
ことを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の撮像装置。 10. The processing apparatus according to claim 1, further comprising a processing unit that performs a splicing process on the digital signal obtained by each of the first AD conversion and the second AD conversion and outputs the result. The imaging apparatus of Claim 1.
前記撮像装置から出力される信号を処理する信号処理部と、
を備えることを特徴とする撮像システム。 An imaging device according to any one of claims 1 to 10,
A signal processing unit for processing a signal output from the imaging device;
An imaging system comprising:
前記撮像装置の前記画素から出力される信号に基づいて移動体を制御する移動体制御部と、を有することを特徴とする移動体。 An imaging device according to any one of claims 1 to 10,
And a moving body control unit that controls the moving body based on signals output from the pixels of the imaging device.
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