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JP2019015938A - Electrochromic device and control method thereof and imaging apparatus - Google Patents

Electrochromic device and control method thereof and imaging apparatus Download PDF

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JP2019015938A
JP2019015938A JP2017135178A JP2017135178A JP2019015938A JP 2019015938 A JP2019015938 A JP 2019015938A JP 2017135178 A JP2017135178 A JP 2017135178A JP 2017135178 A JP2017135178 A JP 2017135178A JP 2019015938 A JP2019015938 A JP 2019015938A
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JP
Japan
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layer
electrochromic
imaging
transmittance
volume
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Application number
JP2017135178A
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Japanese (ja)
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能登 悟郎
Goro Noto
悟郎 能登
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

【課題】有機EC材料を用いたEC素子の温度変動による透過率の変動を正確に検出し、所望の透過率が得られるEC装置を提供する。【解決手段】EC素子10の有効光線領域Lの外に、EC層14の透過率と体積とを検出する検出手段を有し、該検出手段で検出されたEC層14の体積に基づいて、基準温度からの温度変化によるEC層14の透過率を演算し、EC素子10に印加する電圧を制御する。【選択図】図3To provide an EC apparatus capable of accurately detecting a change in transmittance due to a temperature change of an EC element using an organic EC material and obtaining a desired transmittance. In addition to the effective light ray region L of the EC element, the EC element has detection means for detecting the transmittance and volume of the EC layer, and based on the volume of the EC layer detected by the detection means, The transmittance of the EC layer 14 due to the temperature change from the reference temperature is calculated, and the voltage applied to the EC element 10 is controlled. [Selection] Figure 3

Description

本発明は、撮像装置に入射する光量を調節するNDフィルタとして用いられるエレクトロクロミック装置とその制御方法、該エレクトロクロミック装置を備えた撮像装置に関するものである。   The present invention relates to an electrochromic device used as an ND filter that adjusts the amount of light incident on an imaging device, a control method therefor, and an imaging device including the electrochromic device.

近年、動画撮像機能を有した撮像装置において、被写体を適露光状態にするために、ND(Neutral density)フィルタを撮像レンズの前面に装着して減光する場合がある。NDフィルタを装着することで、例えば晴天時にボケ味を活かした撮像をするために絞りを開放状態にした際の被写体のいわゆる白飛びを防止することができる。従来は、減光の程度に応じた透過率の異なるNDフィルタを用意して、撮像シーンの明るさに応じて適切なNDフィルタに付け替えていた。しかしながら、NDフィルタを付け替える作業が煩わしいことから、透過率が調整可能な可変NDフィルタや、係る可変NDフィルタを内蔵した撮像装置が製品化され、明るさの異なるシーンに容易に対応して撮像する事ができるようになった。
可変NDフィルタとしては、有機エレクトロクロミック(EC)材料を用いた有機EC素子が、光量調整範囲が広く、また分光透過率の設計が比較的容易であることから、撮像装置に搭載する可変NDフィルタ用途として特に有望である。有機EC素子は、一対の電極間に電気化学的に活性なアノード性材料とカソード性材料と、を有機EC材料として用いており、少なくとも一つがエレクトロクロミック性、即ち電気化学的な酸化還元によって可視光領域に吸収帯を発現する材料として構成される。この時、一対の電極上では、アノード性材料の酸化反応とカソード性材料の還元反応とが同時に起こり、素子に閉回路が形成されて電流が流れる。
尚、アノード性材料及びカソード性材料の各材料が可視光領域に持つ吸収ピークは1又は2本であるため、色の制御は異なる吸収を持つ複数の材料を混合して行われる。そのため有機EC素子では、色の段階(階調)の制御が必要である。階調はアノード性材料及びカソード性材料の電気化学的反応量で決まり、反応量は電気的制御(印加電圧)によって調整される。
特許文献1には、有機EC素子に印加する電圧を検出する事で有機EC素子の透過率を判断する技術が開示されている。
In recent years, in an imaging apparatus having a moving image imaging function, an ND (Neutral Density) filter may be attached to the front surface of an imaging lens to reduce the light in order to bring the subject into an appropriate exposure state. By mounting the ND filter, it is possible to prevent so-called whitening of the subject when the aperture is opened in order to take an image taking advantage of the blur in fine weather, for example. Conventionally, ND filters having different transmittances according to the degree of dimming are prepared and replaced with appropriate ND filters according to the brightness of the imaging scene. However, since the task of changing the ND filter is troublesome, a variable ND filter with adjustable transmittance and an imaging device incorporating such a variable ND filter have been commercialized, and images can be easily picked up corresponding to scenes with different brightness. I can do things.
As the variable ND filter, an organic EC element using an organic electrochromic (EC) material has a wide light amount adjustment range and the design of spectral transmittance is relatively easy. It is particularly promising as an application. An organic EC element uses an electrochemically active anodic material and a cathodic material between a pair of electrodes as an organic EC material, and at least one of them is electrochromic, that is, visible by electrochemical redox. It is configured as a material that exhibits an absorption band in the optical region. At this time, the oxidation reaction of the anodic material and the reduction reaction of the cathodic material occur simultaneously on the pair of electrodes, a closed circuit is formed in the element, and a current flows.
Since each of the anodic material and the cathodic material has one or two absorption peaks in the visible light region, color control is performed by mixing a plurality of materials having different absorptions. Therefore, it is necessary to control the color stage (gradation) in the organic EC element. The gradation is determined by the electrochemical reaction amount of the anodic material and the cathodic material, and the reaction amount is adjusted by electrical control (applied voltage).
Patent Document 1 discloses a technique for determining the transmittance of an organic EC element by detecting a voltage applied to the organic EC element.

特表2009−540376号公報JP-T 2009-540376

有機EC素子は、アノード性材料及びカソード性材料を用いている事から、温度によって電気化学的反応量が変わるため、同一電圧を印加している状態で温度が上昇或いは低下すると、色の階調が変化する事で透過率が上昇或いは低下する。そのため、特許文献1に開示されているような、有機EC素子に印加する電圧を検出する方式では、有機EC素子の透過率を正確に判断する事ができず、所望の透過率が得られないという課題があった。
本発明の課題は、有機EC材料を用いたEC素子の温度変動による透過率の変動を正確に検出し、所望の透過率が得られるEC装置を提供することにある。また、本発明においては、係るEC装置を光学フィルタとして用いて、撮像時の明るさを的確に調整しうる撮像装置を提供することにある。
Since the organic EC element uses an anodic material and a cathodic material, the amount of electrochemical reaction changes depending on the temperature. Therefore, when the temperature rises or falls with the same voltage applied, the color gradation The transmittance increases or decreases by changing. For this reason, the method of detecting the voltage applied to the organic EC element as disclosed in Patent Document 1 cannot accurately determine the transmittance of the organic EC element, and a desired transmittance cannot be obtained. There was a problem.
An object of the present invention is to provide an EC device capable of accurately detecting a change in transmittance due to a temperature change of an EC element using an organic EC material and obtaining a desired transmittance. Another object of the present invention is to provide an imaging apparatus capable of accurately adjusting the brightness during imaging using the EC apparatus as an optical filter.

本発明の第一は、一対の電極と、前記一対の電極間に配置されている、少なくとも一種の有機エレクトロクロミック材料を含む液状のエレクトロクロミック層と、を有するエレクトロクロミック素子を備えたエレクトロクロミック装置であって、
前記エレクトロクロミック層の透過率と体積とを検出する検出手段を有することを特徴とする。
本発明の第二は、複数のレンズを有する撮像光学系と、前記撮像光学系を透過した撮像光束が結像する撮像素子と、前記撮像光学系と前記撮像素子との間に配置されている、上記本発明の第一のエレクトロクロミック装置と、を有する撮像装置であって、
前記検出手段によって検出された、前記エレクトロクロミック層の体積に基づいて、前記エレクトロクロミック素子に印加される電圧を補正する補正手段を備えたことを特徴とする。
本発明の第三は、上記本発明の第一のエレクトロクロミック装置の制御方法であって、
前記エレクトロクロミック層の体積を検出し、前記体積に基づいて、基準温度からの温度変化による透過率の変動を演算し、前記透過率の変動に基づいて、前記一対の電極に印加する電圧を制御することを特徴とする。
The first aspect of the present invention is an electrochromic device comprising an electrochromic device having a pair of electrodes and a liquid electrochromic layer including at least one organic electrochromic material disposed between the pair of electrodes. Because
It has a detection means for detecting the transmittance and volume of the electrochromic layer.
The second aspect of the present invention is an image pickup optical system having a plurality of lenses, an image pickup element on which an image pickup light beam transmitted through the image pickup optical system forms an image, and is disposed between the image pickup optical system and the image pickup element. The first electrochromic device of the present invention, an imaging device comprising:
And a correction unit that corrects a voltage applied to the electrochromic element based on the volume of the electrochromic layer detected by the detection unit.
3rd of this invention is the control method of the said 1st electrochromic device of this invention, Comprising:
Detecting the volume of the electrochromic layer, calculating a variation in transmittance due to a temperature change from a reference temperature based on the volume, and controlling a voltage applied to the pair of electrodes based on the variation in transmittance It is characterized by doing.

本発明によれば、EC層の体積を検出し、その結果に基づいて、温度変動によるEC層の透過率の変動を算出し、EC素子に印加する電圧を補正するため、精度良く、EC素子を所望の透過率に設定することができる。また、EC層の透過率と体積とを共通の検出手段によって検出することができ、本発明の撮像装置を小型化することができる。よって、本発明においては、意図した撮像を正確に実施することができる小型の撮像装置を提供することができる。   According to the present invention, the volume of the EC layer is detected, and based on the result, the variation in the transmittance of the EC layer due to temperature variation is calculated, and the voltage applied to the EC element is corrected. Can be set to a desired transmittance. Further, the transmittance and volume of the EC layer can be detected by a common detection means, and the imaging apparatus of the present invention can be miniaturized. Therefore, in the present invention, it is possible to provide a small imaging device that can accurately perform intended imaging.

本発明の撮像装置の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of the imaging device of the present invention. 本発明の撮像装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the imaging device of this invention. 本発明に係るEC素子の一実施形態の厚さ方向の断面模式図及び厚さに沿った方向の断面模式図である。It is the cross-sectional schematic diagram of the thickness direction of one Embodiment of EC element which concerns on this invention, and the cross-sectional schematic diagram of the direction along thickness. 図3のEC素子における体積検出方法を示す図であり、図3中のC−C’位置での断面模式図である。It is a figure which shows the volume detection method in EC element of FIG. 3, and is a cross-sectional schematic diagram in the C-C 'position in FIG. 本発明の撮像装置の動作フロー図である。It is an operation | movement flowchart of the imaging device of this invention.

以下、本発明について、適宜図面を参照しながら実施形態について詳細に説明するが、本発明はこの形態に限定されるものではない。また以下の説明において特段説明されていない部分や、図面において特段図示されなかった部分に関しては、当該技術分野の周知或いは公知の技術を適用することができる。   Hereinafter, although the present invention is described in detail about an embodiment, referring to drawings suitably, the present invention is not limited to this form. In addition, a well-known or publicly known technique in the technical field can be applied to a part not specifically described in the following description or a part not specifically illustrated in the drawings.

図1は、本発明の撮像装置の外観斜視図である。図1において、撮像装置100の外装部には、動画撮像を開始及び停止させるための操作部材である撮像ボタン50と、撮像時に撮像光学系1から入射する被写体の撮像光束の露光量を調整するための操作部材であるND効果設定手段60が設けられている。撮影者は、ND効果設定手段60を操作する事によって後述のEC装置を作動させ、被写体の撮像光束の露光量を任意に設定する事が可能になっている。また撮像装置100には、撮像時の被写体像や撮像条件などを表示する表示部40が設けられている。表示部40には、後述するように、画像処理部にて現像処理された撮像プレビュー画像や撮像中の撮像画像が表示される。   FIG. 1 is an external perspective view of an imaging apparatus of the present invention. In FIG. 1, an imaging button 50 that is an operation member for starting and stopping moving image imaging and an exposure amount of an imaging light flux of a subject incident from the imaging optical system 1 at the time of imaging are adjusted on the exterior of the imaging apparatus 100. ND effect setting means 60 is provided as an operation member for this purpose. The photographer can operate the ND effect setting means 60 to operate an EC device, which will be described later, and arbitrarily set the exposure amount of the imaging light flux of the subject. In addition, the imaging apparatus 100 is provided with a display unit 40 that displays a subject image and imaging conditions at the time of imaging. As will be described later, the display unit 40 displays a captured preview image developed by the image processing unit and a captured image being captured.

図2は、図1の撮像装置100の構成を示したブロック図である。撮像光束は、撮像光学系1を透過し、撮像素子3に結像される。撮像光学系1と撮像素子3との間には、本発明のEC装置2がNDフィルタとして配設されており、撮像素子3に結像される撮像光束の露光量を、EC装置2に組み込まれたEC素子のEC層の透過率制御によって調整可能となっている。EC装置2による露光量制御は、後述するように、EC素子制御部5によって実施される。撮像素子3に結像された撮像光束は、光電変換され画像信号となり、画像処理部7にて現像処理がなされメモリ8に保存される。   FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of the imaging apparatus 100 of FIG. The imaging light flux passes through the imaging optical system 1 and forms an image on the imaging element 3. An EC device 2 of the present invention is disposed as an ND filter between the imaging optical system 1 and the imaging device 3, and the exposure amount of the imaging light beam formed on the imaging device 3 is incorporated in the EC device 2. The EC element can be adjusted by controlling the transmittance of the EC layer. The exposure amount control by the EC device 2 is performed by the EC element control unit 5 as described later. The imaging light beam imaged on the imaging device 3 is photoelectrically converted into an image signal, developed by the image processing unit 7 and stored in the memory 8.

EC装置2は、エレクトロクロミック素子(EC素子)10と、該EC素子10のエレクトロクロミック層(EC層)の透過率(光透過率)と体積とを検出する検出手段20と、を有している。メインCPU30は、撮像装置100全体の種々の制御を行う中央処理部である。メインCPU30は、撮像ボタン50やND効果設定手段60が操作された事を検出する事ができる。メインCPU30は、撮像ボタン50が操作された時には撮像装置100の動画撮像動作を行い、撮像素子3に結像された撮像光束の記録を行ったり、その動画撮像動作を停止したりする。また、ND効果設定手段60の操作が行われた時、メインCPU30は、ND効果設定手段60の操作量や操作速度を、例えば不図示のロータリーエンコーダーなどを介して検出する。   The EC device 2 includes an electrochromic element (EC element) 10 and detection means 20 that detects the transmittance (light transmittance) and volume of the electrochromic layer (EC layer) of the EC element 10. Yes. The main CPU 30 is a central processing unit that performs various controls of the entire imaging apparatus 100. The main CPU 30 can detect that the imaging button 50 and the ND effect setting means 60 are operated. When the imaging button 50 is operated, the main CPU 30 performs a moving image imaging operation of the imaging device 100, records an imaging light beam imaged on the imaging element 3, and stops the moving image imaging operation. When the ND effect setting unit 60 is operated, the main CPU 30 detects the operation amount and operation speed of the ND effect setting unit 60 via, for example, a rotary encoder (not shown).

図3は、本発明のEC装置2の一実施形態を示す図であり、EC装置2が備えるEC素子10の断面模式図である。同図で示すように、EC素子10の厚み方向をZ方向、Z方向と直交し、且つ紙面水平方向でEC素子10の短手方向をY方向と定義する。+Z方向が撮像装置100において被写体側になる。また、図3(a)中のA−A’位置でのEC素子10の断面模式図が図3(b)であり、図3(b)中のB−B’位置でのEC素子10の断面模式図が図3(a)である。また、図3(b)では、図3(a)で示した駆動電源16、給電端子A1〜An,C1〜Cn、及び駆動電源16と低抵抗配線15とを接続する配線の図示を省略している。   FIG. 3 is a diagram showing an embodiment of the EC device 2 of the present invention, and is a schematic cross-sectional view of the EC element 10 provided in the EC device 2. As shown in the figure, the thickness direction of the EC element 10 is defined as the Z direction, the direction perpendicular to the Z direction, and the lateral direction of the EC element 10 is defined as the Y direction. The + Z direction is the subject side in the imaging apparatus 100. 3B is a schematic cross-sectional view of the EC element 10 at the position AA ′ in FIG. 3A, and FIG. 3B shows the EC element 10 at the position BB ′ in FIG. A schematic cross-sectional view is shown in FIG. Further, in FIG. 3B, illustration of the drive power supply 16, the power supply terminals A1 to An, C1 to Cn, and the wiring connecting the drive power supply 16 and the low resistance wiring 15 shown in FIG. ing.

EC素子10は、一対の電極12a,12bを形成した基板11a,11b間に有機エレクトロクロミック(有機EC)材料を含むエレクトロクロミック(EC)層14を有する有機EC素子である。一対の電極12a,12bにはそれぞれ少なくとも二つ以上の給電端子A1,A2,…,An−1,An(アノード)とC1,C2,…,Cn−1,Cn(カソード)が設置され(n≧2)ている。それぞれの給電端子A1〜An、C1〜Cnは有効光線領域L外の電極12a,12b上に形成された低抵抗配線15,15と接続されている。   The EC element 10 is an organic EC element having an electrochromic (EC) layer 14 containing an organic electrochromic (organic EC) material between substrates 11a and 11b on which a pair of electrodes 12a and 12b is formed. Each of the pair of electrodes 12a and 12b is provided with at least two or more feeding terminals A1, A2,..., An-1, An (anode) and C1, C2, ..., Cn-1, Cn (cathode) (n ≧ 2). The respective power supply terminals A1 to An and C1 to Cn are connected to low resistance wirings 15 and 15 formed on the electrodes 12a and 12b outside the effective light ray region L.

一対の電極12a,12b間には、不図示のギャップ制御粒子が配置され、外周に配置されたシール13によって貼り合わされている。よって、透明基板11a,11b及び電極12a,12bは、少なくとも有効光線領域Lを包含する光学透過部と光学非透過部を有する形状となっている。尚、有効光線領域Lとは、撮像装置100に組み込まれた際に、撮像光学系1から被写体の撮像光束が入射する領域である。   Gap control particles (not shown) are arranged between the pair of electrodes 12a and 12b and are bonded together by a seal 13 arranged on the outer periphery. Therefore, the transparent substrates 11a and 11b and the electrodes 12a and 12b have a shape having an optical transmission part and an optical non-transmission part including at least the effective light region L. The effective light region L is a region where the imaging light flux of the subject is incident from the imaging optical system 1 when incorporated in the imaging device 100.

給電端子A1〜AnとC1〜Cn(n≧2)はそれぞれ駆動回路基板(不図示)を含む駆動電源16に接続され、A1−C1端子間からAn−Cn端子間まで順繰りに電圧パルスが印加されることによってEC素子10の駆動が行われる。   The power supply terminals A1 to An and C1 to Cn (n ≧ 2) are connected to a drive power supply 16 including a drive circuit board (not shown), respectively, and voltage pulses are applied in order from the A1 to C1 terminals to the An and Cn terminals. As a result, the EC element 10 is driven.

透明基板11a,11bとしては、ガラス基板が好ましく、具体的には、光学ガラス、石英ガラス、白板ガラス、青板ガラス、ホウケイ酸ガラス、無アルカリガラス、化学強化ガラス等を用いることができる。特に透明性や耐久性の点から無アルカリガラスを好適に使用する事ができる。また、透明基板11a,11bには、電極12a,12bの他に、反射防止層やインデックスマッチング層を設けても良い。これにより、透明基板11a,11bの表面、透明基板11a,11bと電極12a,12bとの界面、及び、電極12a,12bとEC層14との界面における反射を低減して、EC素子10の透過率を向上させることができる。   As the transparent substrates 11a and 11b, glass substrates are preferable, and specifically, optical glass, quartz glass, white plate glass, blue plate glass, borosilicate glass, alkali-free glass, chemically strengthened glass, and the like can be used. In particular, alkali-free glass can be preferably used from the viewpoint of transparency and durability. In addition to the electrodes 12a and 12b, the transparent substrates 11a and 11b may be provided with an antireflection layer or an index matching layer. Thereby, reflection at the surface of the transparent substrates 11a and 11b, the interface between the transparent substrates 11a and 11b and the electrodes 12a and 12b, and the interface between the electrodes 12a and 12b and the EC layer 14 is reduced, and the transmission of the EC element 10 is achieved. The rate can be improved.

また、透明基板11a,11bとしては、透明性があれば、プラスチックやセラミック等の材料も適宜使用が可能である。透明基板11a,11bは剛性で歪みを生じることが少ない材料が好ましい。また、基板として可撓性が少ないことがより好ましい。透明基板11a,11bの厚みは、数十μmから数mmである。   In addition, as the transparent substrates 11a and 11b, materials such as plastic and ceramic can be appropriately used as long as they have transparency. The transparent substrates 11a and 11b are preferably made of a material that is rigid and causes little distortion. Further, it is more preferable that the substrate has less flexibility. The thickness of the transparent substrates 11a and 11b is several tens of μm to several mm.

電極12a,12bは、透明電極であり、いわゆる透明導電性酸化物が好ましく用いられる。具体的には、スズドープ酸化インジウム(ITO)、酸化亜鉛、ガリウムドープ酸化亜鉛(GZO)、アルミニウムドープ酸化亜鉛(AZO)、酸化スズ、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)、フッ素ドープ酸化スズ(FTO)が挙げられる。また、ニオビウムドープ酸化チタン(TNO)も用いる事ができる。また、ドーピング処理などで導電率を向上させた導電性ポリマーも好適に用いられる。具体的には、ポリアニリン、ポリピロール、ポリチオフェン、ポリアセチレン、ポリパラフェニレン、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)とポリスチレンスルホン酸の錯体などである。本発明に係るEC素子10においては、消色状態で高い透過率を有することが好ましいため、可視光領域に光吸収を示さないITO、IZO、NESA、導電率を向上させた導電性ポリマーが特に好ましく用いられる。これらはバルク状、微粒子状など様々な形態で使用できる。尚、これらの電極材料は、単独で使用してもよく、或いは複数併用してもよい。   The electrodes 12a and 12b are transparent electrodes, and so-called transparent conductive oxides are preferably used. Specifically, tin-doped indium oxide (ITO), zinc oxide, gallium-doped zinc oxide (GZO), aluminum-doped zinc oxide (AZO), tin oxide, antimony-doped tin oxide (ATO), and fluorine-doped tin oxide (FTO). Can be mentioned. Niobium-doped titanium oxide (TNO) can also be used. In addition, a conductive polymer whose conductivity is improved by doping treatment or the like is also preferably used. Specific examples include polyaniline, polypyrrole, polythiophene, polyacetylene, polyparaphenylene, polyethylenedioxythiophene (PEDOT) and polystyrenesulfonic acid complexes. In the EC element 10 according to the present invention, since it is preferable to have a high transmittance in a decolored state, ITO, IZO, NESA, and a conductive polymer with improved conductivity are not particularly shown in the visible light region. Preferably used. These can be used in various forms such as bulk and fine particles. These electrode materials may be used alone or in combination.

シール13としては、熱硬化性樹脂や紫外線硬化性樹脂を用いる事ができるが、後述するEC層14の充填法、即ち素子製作プロセスによって適宜好適な材料が選択される。また、シール13には一対の電極12a,12b間の距離を規定するセルギャップ制御粒子を混練しておくのが好ましい。   As the seal 13, a thermosetting resin or an ultraviolet curable resin can be used, and a suitable material is appropriately selected depending on the EC layer 14 filling method described later, that is, an element manufacturing process. The seal 13 is preferably kneaded with cell gap control particles that define the distance between the pair of electrodes 12a and 12b.

EC層14は液状であり、少なくとも一種の有機EC材料と溶媒とからなる溶液である、EC層14は、必要に応じてさらに支持電解質や増粘剤等他の添加剤を含有してもよい。有機EC材料としては、酸化還元により可視光透過率が変化する有機化合物を好適に使用することができ、中でもチオフェン類化合物、フェナジン類化合物、ビピリジニウム塩類化合物等の有機化合物を好適に用いる事ができる。   The EC layer 14 is a liquid and is a solution comprising at least one organic EC material and a solvent. The EC layer 14 may further contain other additives such as a supporting electrolyte and a thickener as necessary. . As the organic EC material, an organic compound whose visible light transmittance is changed by oxidation-reduction can be preferably used. Among them, an organic compound such as a thiophene compound, a phenazine compound, or a bipyridinium salt compound can be preferably used. .

溶媒としては、有機エレクトロクロミック材料(有機EC材料)や必要に応じて添加される添加剤が溶解するものであれば特に限定されないが、極性が大きいものを好ましく用いる事ができ、水や有機極性溶媒が挙げられる。有機極性溶媒としては、メタノール、エタノール、プロピレンカーボネート、エチレンカーボネート、ジメチルスルホキシド、ジメトキシエタン、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、スルホラン、ジメチルホルムアミド、ジメトキシエタンが挙げられる。また、テトラヒドロフラン、アセトニトリル、プロピオンニトリル、ベンゾニトリル、ジメチルアセトアミド、メチルピロリジノン、ジオキソラン等も挙げられる。   The solvent is not particularly limited as long as it dissolves an organic electrochromic material (organic EC material) or an additive added as necessary, but a solvent having a large polarity can be preferably used, and water or organic polarity can be used. A solvent is mentioned. Examples of the organic polar solvent include methanol, ethanol, propylene carbonate, ethylene carbonate, dimethyl sulfoxide, dimethoxyethane, γ-butyrolactone, γ-valerolactone, sulfolane, dimethylformamide, and dimethoxyethane. In addition, tetrahydrofuran, acetonitrile, propiononitrile, benzonitrile, dimethylacetamide, methylpyrrolidinone, dioxolane and the like can also be mentioned.

支持電解質としては、イオン解離性の塩であり、且つ溶媒に対して良好な溶解性を示すものであれば限定されないが、電子供与性を有する電解質を好ましく用いる事ができる。例えば、各種のアルカリ金属塩、アルカリ土類金属塩などの無機イオン塩や4級アンモニウム塩や環状4級アンモニウム塩などが挙げられる。具体的にはLiClO4、LiSCN、LiBF4、LiAsF6、LiCF3SO3、LiPF6、LiI、NaI、NaSCN、NaClO4、NaBF4、NaAsF6、KSCN、KCl等のLi、Na、Kのアルカリ金属塩等が挙げられる。また、4級アンモニウム塩及び環状4級アンモニウム塩も挙げられる。具体的には、(CH34NBF4、(C254NBF4、(n−C494NBF4、(n−C494NPF6、(C254NBr、(C254NClO4、(n−C494NClO4等である。 The supporting electrolyte is not limited as long as it is an ion dissociable salt and exhibits good solubility in a solvent, but an electrolyte having an electron donating property can be preferably used. Examples thereof include inorganic ion salts such as various alkali metal salts and alkaline earth metal salts, quaternary ammonium salts, and cyclic quaternary ammonium salts. Specifically, LiClO 4, LiSCN, LiBF 4, LiAsF 6, LiCF 3 SO 3, LiPF 6, LiI, NaI, NaSCN, NaClO 4, NaBF 4, NaAsF 6, KSCN, the KCl like Li, Na, K alkaline A metal salt etc. are mentioned. Also included are quaternary ammonium salts and cyclic quaternary ammonium salts. Specifically, (CH 3 ) 4 NBF 4 , (C 2 H 5 ) 4 NBF 4 , (n-C 4 H 9 ) 4 NBF 4 , (n-C 4 H 9 ) 4 NPF 6 , (C 2 H 5 ) 4 NBr, (C 2 H 5 ) 4 NClO 4 , (n-C 4 H 9 ) 4 NClO 4, and the like.

増粘剤としては、例えばシアノエチルポリビニルアルコール(CR−V)、シアノエチルプルラン(CR−S)、シアノエチルセルロース(CR−C)及びCR−SとCR−Vの混合物(CR−M)から選ばれる少なくとも1種を好適に使用する事ができる。これらは、広い温度範囲にわたる高粘性と高イオン導電性という、相反する課題を良好なバランスで解決する添加剤である。これらの軟化温度と誘電率は以下の通りである。
CR−V:軟化温度20〜40℃、誘電率18.9
CR−S:軟化温度90〜100℃、誘電率18.9
CR−C:軟化温度200℃以上、誘電率16.0
CR−M:軟化温度40〜70℃、誘電率18.9
Examples of the thickener include at least selected from cyanoethyl polyvinyl alcohol (CR-V), cyanoethyl pullulan (CR-S), cyanoethyl cellulose (CR-C), and a mixture of CR-S and CR-V (CR-M). One type can be suitably used. These are additives that solve the conflicting problems of high viscosity and high ionic conductivity over a wide temperature range with a good balance. These softening temperatures and dielectric constants are as follows.
CR-V: softening temperature 20 to 40 ° C., dielectric constant 18.9
CR-S: softening temperature 90 to 100 ° C., dielectric constant 18.9
CR-C: softening temperature of 200 ° C. or higher, dielectric constant of 16.0
CR-M: softening temperature 40-70 ° C., dielectric constant 18.9

EC層14の充填方法としては、透明基板11a,11bに一対の孔を形成して充填する方法や、シールパターンによって形成したEC素子側面の充填孔から真空注入する方法が挙げられる。また、透明基板11a,11bの貼り合わせと同時に真空中で充填する方法でもよく、何れも好適に使用する事ができる。   Examples of the method for filling the EC layer 14 include a method of filling a pair of holes in the transparent substrates 11a and 11b, and a method of vacuum injection from a filling hole on the side surface of the EC element formed by a seal pattern. Moreover, the method of filling in the vacuum simultaneously with bonding of the transparent substrates 11a and 11b may be used, and any of them can be suitably used.

本発明に係るEC素子10の駆動方法は、駆動電源16に接続された電極12a,12bの両電極間に電圧を印加することで、EC層14に含まれる有機EC材料に電気化学的反応を起こす事によって行われる。有機EC材料は、電圧未印加の状態で中性状態を取り、可視光領域に吸収を持たない。このような消色状態において、EC素子10は高い透過率を示す。両電極12a,12b間に電圧を印加する事で、有機EC材料中で電気化学反応が起き、中性状態から酸化状態或いは還元状態となる。有機EC材料は酸化・還元状態で可視光領域に吸収を有するようになり、着色し、EC素子10は低い透過率を示す。
よってEC素子制御部5は、駆動電源16を介してEC素子10の電極12a,12b間に印加する電圧を制御する事で、EC素子10の着色状態を制御する事になるので、その結果、EC素子10の透過率を制御する事が可能になっている。また、複数種のEC材料を有するEC層14を有するEC素子10である場合でも、中間状態の階調を適切に表現する事ができる。
The method for driving the EC element 10 according to the present invention applies an electrochemical reaction to the organic EC material included in the EC layer 14 by applying a voltage between both electrodes 12a and 12b connected to the drive power supply 16. It is done by waking up. The organic EC material takes a neutral state when no voltage is applied, and has no absorption in the visible light region. In such a decoloring state, the EC element 10 exhibits high transmittance. By applying a voltage between the electrodes 12a and 12b, an electrochemical reaction occurs in the organic EC material, and the neutral state changes to the oxidized state or reduced state. The organic EC material has absorption in the visible light region in the oxidized / reduced state and is colored, and the EC element 10 exhibits low transmittance.
Therefore, the EC element control unit 5 controls the coloring state of the EC element 10 by controlling the voltage applied between the electrodes 12a and 12b of the EC element 10 via the drive power supply 16, and as a result, The transmittance of the EC element 10 can be controlled. Further, even in the case of the EC element 10 having the EC layer 14 having a plurality of types of EC materials, the gradation in the intermediate state can be appropriately expressed.

本発明のEC装置2は、上記のEC素子10と、後述する検出手段20と、これらに接続されている不図示の能動素子とを有する。係る能動素子とは、トランジスタやMIM素子等が挙げられる。トランジスタは活性層として単結晶シリコン、アモルファスシリコン、微結晶シリコンなどの非単結晶シリコン、インジウム亜鉛酸化物、インジウムガリウム亜鉛酸化物等の非単結晶酸化物半導体が挙げられる。トランジスタは、薄膜トランジスタであってもよい。薄膜トランジスタはTFT素子とも呼ばれる。   The EC device 2 of the present invention includes the EC element 10 described above, detection means 20 described later, and an active element (not shown) connected thereto. Such active elements include transistors and MIM elements. As the active layer of the transistor, non-single-crystal silicon such as single-crystal silicon, amorphous silicon, and microcrystalline silicon, and non-single-crystal oxide semiconductors such as indium zinc oxide and indium gallium zinc oxide can be given. The transistor may be a thin film transistor. The thin film transistor is also called a TFT element.

図3の実施形態においては、図3(b)に示すように、EC層14が、有効光線領域Lと、係る有効光線領域Lに連通する検出領域17に連続して配置され、該検出領域17に検出手段が配置されている。図4(a)〜(c)は、図3(b)のC−C’位置におけるEC素子10の断面模式図である。尚、図3においては、図4(a)〜(c)で示した検出手段20の図示を省略している。   In the embodiment of FIG. 3, as shown in FIG. 3B, the EC layer 14 is continuously arranged in the effective light region L and the detection region 17 communicating with the effective light region L, and the detection region A detecting means is arranged at 17. 4A to 4C are schematic cross-sectional views of the EC element 10 at the position C-C ′ in FIG. In FIG. 3, the detection means 20 shown in FIGS. 4A to 4C is not shown.

本例では、検出領域17は、温度変化に伴うEC層14の膨張及び収縮時の体積変化を吸収すると共に、EC層14の透過率を検出する検出手段20を備えている。検出領域17は、有効光線領域Lの外側に設けられているが、有効光線領域Lと同様に、透明基板11a,11bと電極12a,12bを備えている。   In this example, the detection region 17 is provided with detection means 20 for detecting the transmittance of the EC layer 14 while absorbing the volume change at the time of expansion and contraction of the EC layer 14 due to the temperature change. Although the detection region 17 is provided outside the effective light region L, like the effective light region L, the detection region 17 includes transparent substrates 11a and 11b and electrodes 12a and 12b.

また、本例では、検出領域17には、有効光線領域Lに連続するEC層14が部分的に収容され、残された空間18には窒素などの不活性ガスが収容され、空間18は可撓部19によって封止されている。よって、係る構成において、EC層14の温度変化による膨張及び収縮時の体積変化は可撓部19が変形することで吸収される。具体的には、可撓部19は、図4(a)〜(c)に示されるように蛇腹構造としてもよいが、EC層14の体積変化に対応して変形できれば、本発明では係る構成に限定されない。   Further, in this example, the detection region 17 partially contains the EC layer 14 continuous with the effective light region L, and the remaining space 18 contains an inert gas such as nitrogen, and the space 18 is allowed. The flexible part 19 is sealed. Therefore, in such a configuration, the volume change at the time of expansion and contraction due to the temperature change of the EC layer 14 is absorbed by the deformation of the flexible portion 19. Specifically, the flexible portion 19 may have a bellows structure as shown in FIGS. 4A to 4C. However, if the flexible portion 19 can be deformed corresponding to the volume change of the EC layer 14, the configuration according to the present invention is applicable. It is not limited to.

図4(a)は、基準温度の場合を示し、この状態でのEC層14と空間18との境界14sを基準位置とする。図4(b)は、撮像装置100が高温環境下に置かれる等によって、EC層14の温度が上昇した状態を示す。温度上昇によってEC層14が膨張すると、検出領域17におけるEC層14の体積が増加し、EC層14と空間18との境界14aが可撓部19に向かって、基準位置14sから14Hに移動する。この時、空間18の体積は一定であり、EC層14の体積が増加した体積分を可撓部19の蛇腹構造を押し広げる事によって対応し、基準温度での空間18の体積を保持する事ができる。尚、基準温度としては、撮像装置を使用する環境の平均的な温度、例えば20℃に設定すればよい。   FIG. 4A shows the case of the reference temperature, and the boundary 14s between the EC layer 14 and the space 18 in this state is set as the reference position. FIG. 4B shows a state where the temperature of the EC layer 14 has increased due to the imaging device 100 being placed in a high temperature environment or the like. When the EC layer 14 expands due to the temperature rise, the volume of the EC layer 14 in the detection region 17 increases, and the boundary 14a between the EC layer 14 and the space 18 moves from the reference position 14s to 14H toward the flexible portion 19. . At this time, the volume of the space 18 is constant, and the volume of the volume of the EC layer 14 is increased by expanding the bellows structure of the flexible portion 19 to maintain the volume of the space 18 at the reference temperature. Can do. The reference temperature may be set to an average temperature of the environment in which the imaging apparatus is used, for example, 20 ° C.

また、図4(c)は、撮像装置100が低温環境下に置かれる等によって、EC層14の温度が低下した状態を示す。温度低下によってEC層14が収縮すると、EC層14と空間18との境界14aが、基準位置14sから14Lに移動する。この場合には、空間18の体積を維持するために、可撓部19の蛇腹構造が縮まることによって、検出領域17の体積が縮小される。   FIG. 4C shows a state in which the temperature of the EC layer 14 is lowered due to the imaging apparatus 100 being placed in a low temperature environment. When the EC layer 14 contracts due to the temperature decrease, the boundary 14a between the EC layer 14 and the space 18 moves from the reference position 14s to 14L. In this case, in order to maintain the volume of the space 18, the volume of the detection region 17 is reduced by reducing the bellows structure of the flexible portion 19.

このように、EC層14の温度変化によって、EC層14と空間18との境界14aが移動するため、予め境界14aの位置と温度との相関関係を求めておけば、境界14aの位置よりEC層14の温度を求めることができる。   Thus, since the boundary 14a between the EC layer 14 and the space 18 moves due to the temperature change of the EC layer 14, if the correlation between the position of the boundary 14a and the temperature is obtained in advance, the EC is determined from the position of the boundary 14a. The temperature of layer 14 can be determined.

本例では、検出手段20が、検出領域17におけるEC層14と空間18との境界14aの位置と、EC層14の透過率を検出する。尚、検出手段20としては、画像センサが好ましく用いられ、検出手段20の、EC素子10の透明基板11aに対向した側(検出手段20の検出面と定義する)で、境界14aの位置とEC層14の透過率を検出する。従って、検出手段20は、EC層14と空間18との境界14aに対向する位置に配設され、透明基板11b及び電極12bを介して境界14aとEC層14の部位とを画像として捉える。そして、該画像をメインCPU30で2値化などの処理をする事により、境界14aの位置とEC層14の透過率とを検出する事が可能になっている。尚、EC層14の透過率については、予め、EC層14の透過率とEC層14の画像との相関関係を求めておけば、検出手段20によって得られたEC層14の画像から透過率が得られる。検出領域17は、前記したように、有効光線領域Lと同様に透明基板11a,11b及び電極12a,12bを備えているため、検出領域17におけるEC層14の透過率は、有効光線領域LにおけるEC層14の透過率と等しい。   In this example, the detection means 20 detects the position of the boundary 14 a between the EC layer 14 and the space 18 in the detection region 17 and the transmittance of the EC layer 14. An image sensor is preferably used as the detection means 20, and the position of the boundary 14a on the side of the detection means 20 facing the transparent substrate 11a of the EC element 10 (defined as the detection surface of the detection means 20) and the EC The transmittance of the layer 14 is detected. Therefore, the detection means 20 is disposed at a position facing the boundary 14a between the EC layer 14 and the space 18, and captures the boundary 14a and the part of the EC layer 14 as an image via the transparent substrate 11b and the electrode 12b. The position of the boundary 14a and the transmittance of the EC layer 14 can be detected by processing the image by the main CPU 30 such as binarization. As for the transmittance of the EC layer 14, if the correlation between the transmittance of the EC layer 14 and the image of the EC layer 14 is obtained in advance, the transmittance of the EC layer 14 can be determined from the image of the EC layer 14 obtained by the detection means 20. Is obtained. As described above, since the detection region 17 includes the transparent substrates 11a and 11b and the electrodes 12a and 12b as in the effective light region L, the transmittance of the EC layer 14 in the detection region 17 is in the effective light region L. It is equal to the transmittance of the EC layer 14.

尚、本例では、検出手段20による境界14aの位置とEC層14の透過率の検出精度を向上させるために、検出手段20と対向する位置に基準板21が設けられている。基準板21を白色にする事により、着色時のEC層14と空間18との境界14aのコントラストが基準板21を設けない時よりも向上し、検出精度が高くなる。また、不図示の光源などで検出領域17を照明する事によって、境界14aの位置とEC層14の透過率の検出精度をより高めてもよい。   In this example, a reference plate 21 is provided at a position facing the detection unit 20 in order to improve the detection accuracy of the position of the boundary 14a by the detection unit 20 and the transmittance of the EC layer 14. By making the reference plate 21 white, the contrast of the boundary 14a between the EC layer 14 and the space 18 during coloring is improved as compared with the case where the reference plate 21 is not provided, and the detection accuracy is increased. Further, the detection accuracy of the position of the boundary 14a and the transmittance of the EC layer 14 may be further improved by illuminating the detection region 17 with a light source (not shown) or the like.

また、検出手段20は、図2に示すように、撮像装置100内において、EC素子10よりも被写体側に配置される。これは、撮像装置100の撮像光学系1から入射した撮像光束の一部が、撮像装置100の内部に設けられた不図示の撮像光学系1の保持部材などに反射して、いわゆる迷光となって検出手段20に入射する可能性がある事を想定したものである。つまり、迷光となった撮像光束の一部が検出手段20に直接入射すると、その入射した光によって検出手段20による境界14aの位置とEC素子10の透過率の検出に誤差が乗るなどの不具合が生じてしまうのを防止するためである。
上記した、検出手段20によって検出される境界14aとEC層14の温度との相関関係及びEC層14の透過率と画像との相関関係は、撮像装置100の、例えばメインCPU30にメモリ手段(不図示)を持たせて保存しておけばよい。
Further, as shown in FIG. 2, the detection means 20 is disposed closer to the subject than the EC element 10 in the imaging apparatus 100. This is because a part of the imaging light beam incident from the imaging optical system 1 of the imaging device 100 is reflected by a holding member of the imaging optical system 1 (not shown) provided inside the imaging device 100 and becomes so-called stray light. It is assumed that there is a possibility of being incident on the detection means 20. That is, when a part of the imaging light flux that has become stray light is directly incident on the detection unit 20, the incident light causes an error in the detection of the position of the boundary 14 a and the transmittance of the EC element 10 by the detection unit 20. This is to prevent the occurrence.
The correlation between the boundary 14a detected by the detection means 20 and the temperature of the EC layer 14 and the correlation between the transmittance of the EC layer 14 and the image are determined by the memory means (not shown) in the main CPU 30 of the imaging apparatus 100, for example. Save it as shown in the figure.

以下、撮像装置100が動作撮像を行う場合におけるEC層14の温度と透過率の検出動作について、図5の動作フロー図を用いて説明する。尚、撮像装置100が静止画撮像を行う場合でも、同様な動作フローによってEC層14の温度とEC素子10の透過率の検出動作が行える事は言うまでもないが、説明の簡略化のために、静止画撮像時の動作フローの説明は省略する。   Hereinafter, the detection operation of the temperature and transmittance of the EC layer 14 when the imaging apparatus 100 performs the operation imaging will be described with reference to the operation flowchart of FIG. Needless to say, even when the imaging apparatus 100 captures a still image, the operation of detecting the temperature of the EC layer 14 and the transmittance of the EC element 10 can be performed by the same operation flow. Description of the operation flow at the time of still image capturing is omitted.

ステップ(以下、「S」とする)101では、撮像装置100に設けられた、撮像装置100の電源スイッチである不図示のメインSWがONになったかどうかの検出がメインCPU30によって行われる。メインSWがONになったら、S102に進む。
S102では、表示部40の表示をOFFにする。これは、S103以降の動作フローでEC層14の温度を検出する際に、EC素子10に通電する動作がある。その時に、撮像素子3に結像した撮像光束を現像処理した画像を表示部40に表示してしまうと、通電によってEC素子10は着色しているので、EC素子10によって露光量制御された画像が表示される事になる。すると、撮影者がND効果設定手段60を操作していないのに、露光量が制御された画像が表示部40に表示されると、撮像装置100が故障したと誤解される恐れがある。そのため、S102では、表示部40の表示をOFFにする事で、撮影者が誤解する事を防いでいる。
S103では、メインCPU30はEC素子制御部5を介してEC素子10に通電する。これにより、EC素子10には駆動電源16を介して電圧が印加されるので、着色状態となる。
In step (hereinafter referred to as “S”) 101, the main CPU 30 detects whether or not a main SW (not shown), which is a power switch of the imaging apparatus 100, provided in the imaging apparatus 100 is turned on. When the main SW is turned on, the process proceeds to S102.
In S102, the display of the display unit 40 is turned off. This is an operation of energizing the EC element 10 when detecting the temperature of the EC layer 14 in the operation flow after S103. At that time, if an image obtained by developing the imaging light beam formed on the imaging element 3 is displayed on the display unit 40, the EC element 10 is colored by energization. Therefore, an image whose exposure amount is controlled by the EC element 10 is displayed. Will be displayed. Then, if the photographer does not operate the ND effect setting unit 60 and an image whose exposure amount is controlled is displayed on the display unit 40, there is a possibility that the imaging device 100 is misunderstood. Therefore, in S102, the photographer is prevented from being misunderstood by turning off the display of the display unit 40.
In S <b> 103, the main CPU 30 energizes the EC element 10 via the EC element control unit 5. As a result, a voltage is applied to the EC element 10 via the drive power supply 16, and the EC element 10 is colored.

S104では、メインCPU30は検出手段20を介して検出領域17におけるEC層14と空間18との境界14aの位置を検出する。これにより、前述したように、EC層14の温度を演算する。つまり、S105以降の動作において後述するように、撮像装置100が動作撮像する時のEC層14の温度が検出できているので、温度によってEC層14の電気化学的反応量が変わっても、所望の透過率になるようにメインCPU30はEC素子制御部5を介してEC素子10に印加する電圧を制御する事が可能になる。
S104でEC層14の温度の演算が終了したら、S105に進む。
In S <b> 104, the main CPU 30 detects the position of the boundary 14 a between the EC layer 14 and the space 18 in the detection area 17 via the detection means 20. Thereby, as described above, the temperature of the EC layer 14 is calculated. That is, as will be described later in the operation after S105, the temperature of the EC layer 14 when the imaging apparatus 100 performs the operation imaging can be detected. Therefore, even if the electrochemical reaction amount of the EC layer 14 changes depending on the temperature, the desired amount can be obtained. The main CPU 30 can control the voltage to be applied to the EC element 10 via the EC element control unit 5 so that the transmittance becomes the same.
When the calculation of the temperature of the EC layer 14 is completed in S104, the process proceeds to S105.

S105では、メインCPU30はEC素子制御部5を介してEC素子10への通電をOFFにすると共に、表示部40に撮像メニューや撮像素子3に結像した撮像光束を現像処理した画像の表示を行う。これにより、撮影者は表示部40に表示された画像を観ながら撮像時の構図を決めたり、絞り値などの撮像条件の設定や動画、静止画の撮像を任意のタイミングで行ったりする事ができるようになる。   In S <b> 105, the main CPU 30 turns off the energization to the EC element 10 via the EC element control unit 5, and displays the image obtained by developing the imaging menu and the imaging light flux formed on the imaging element 3 on the display unit 40. Do. As a result, the photographer can determine the composition at the time of imaging while viewing the image displayed on the display unit 40, or can set the imaging conditions such as the aperture value, or take a moving image or still image at an arbitrary timing. become able to.

S106では、メインCPU30によって不図示のモード設定スイッチが操作されて撮影者が動画撮像なのか静止画撮像なのかの判定が行われる。動画撮像モードに設定された場合はS107に進み、静止画撮像モードに設定された場合はS121に進む。S121では、公知の一連の静止画撮像が撮像装置100によって行われるが、その際の動作は本発明の要旨とは異なるので、その説明を省略する。
S107では、撮影者がND効果設定手段60を操作して、撮像時のND効果が設定されたかどうかの判定がメインCPU30によって行われる。メインCPU30がND効果設定手段60を操作したと判定したらS108に進む。
S108では、メインCPU30がND効果設定手段60の操作量を検出する。
S109では、S108でのND効果設定手段60の操作量の検出結果から、メインCPU30は撮影者が設定するND効果段数の演算を行う。
In S106, a mode setting switch (not shown) is operated by the main CPU 30 to determine whether the photographer is shooting a moving image or a still image. When the moving image capturing mode is set, the process proceeds to S107, and when the still image capturing mode is set, the process proceeds to S121. In S121, a known series of still image capturing is performed by the image capturing apparatus 100. Since the operation at that time is different from the gist of the present invention, the description thereof is omitted.
In S107, the photographer operates the ND effect setting means 60, and the main CPU 30 determines whether or not the ND effect at the time of imaging is set. If it is determined that the main CPU 30 has operated the ND effect setting means 60, the process proceeds to S108.
In S <b> 108, the main CPU 30 detects the operation amount of the ND effect setting unit 60.
In S109, the main CPU 30 calculates the number of ND effect stages set by the photographer from the detection result of the operation amount of the ND effect setting means 60 in S108.

S110では、メインCPU30は検出手段20を介してEC層14の透過率を検出する。透過率の検出方法としては、前述の通り、検出手段20を介してEC層14が充填されている検出領域17を画像として捉え、該画像をメインCPU30で2値化などの処理をする事により、EC層14の透過率を演算して検出している。尚この時、EC装置2には電圧が印加されていないので、EC層14は透明状態である。S110にてEC層14が透明な時にEC層14の透過率を検出する理由は以下の通りである。   In S110, the main CPU 30 detects the transmittance of the EC layer 14 via the detection means 20. As a method for detecting the transmittance, as described above, the detection area 17 filled with the EC layer 14 is captured as an image via the detection means 20, and the image is binarized by the main CPU 30. The transmittance of the EC layer 14 is calculated and detected. At this time, since no voltage is applied to the EC device 2, the EC layer 14 is in a transparent state. The reason for detecting the transmittance of the EC layer 14 when the EC layer 14 is transparent in S110 is as follows.

EC層14が着色状態の透過率をメインCPU30が演算及び検出する時に、EC層14が透明状態の時の透過率を基準として着色時の透過率をメインCPU30が演算する。例えば、EC層14が経年変化によって、電圧を印加されない時でもごく僅かに着色するような場合がある時には、同じ電圧をEC素子10に印加しても着色状態が変化する事がある。   When the main CPU 30 calculates and detects the transmittance when the EC layer 14 is in the colored state, the main CPU 30 calculates the transmittance when colored based on the transmittance when the EC layer 14 is in the transparent state. For example, when the EC layer 14 may be slightly colored even when no voltage is applied due to aging, the colored state may change even when the same voltage is applied to the EC element 10.

撮像装置100としては、EC層14が透明な状態の時を基準にして、撮影者がND効果設定手段60を操作した時の操作量に応じてND効果段数の演算を行う。よって、EC層14が透明な状態の時の透過率が前述のように異なると、撮影者は同じ操作をND効果設定手段60に対して行ったのに、EC層14が着色した時の透過率が異なる事となり、撮影者が撮像装置100を故障したと誤認識してしまう恐れがある。それを防ぐために、EC層14が着色状態の透過率をメインCPU30が演算及び検出する時に、EC層14が透明状態の時の透過率を基準とするのである。
S111では、S110で検出したEC層14の透過率をメインCPU30がその内部に設けた不図示のメモリ部に記憶する。
The imaging apparatus 100 calculates the number of ND effect stages according to the amount of operation when the photographer operates the ND effect setting means 60, with the EC layer 14 being in a transparent state as a reference. Therefore, if the transmittance when the EC layer 14 is transparent differs as described above, the photographer has performed the same operation on the ND effect setting means 60, but the transmittance when the EC layer 14 is colored. The rates will be different, and there is a possibility that the photographer will misrecognize that the imaging apparatus 100 has failed. In order to prevent this, when the main CPU 30 calculates and detects the transmittance when the EC layer 14 is in the colored state, the transmittance when the EC layer 14 is in the transparent state is used as a reference.
In S111, the main CPU 30 stores the transmittance of the EC layer 14 detected in S110 in a memory unit (not shown) provided therein.

S112では、メインCPU30はEC素子制御部5を介してEC素子10に通電する。この時、メインCPU30は、S109で演算されたND効果段数より、S104で演算した温度によるEC層14の透過率の変動を差し引いた電圧をEC素子10に印加する。即ち、メインCPU30は、EC素子10に印加する電圧を補正する補正手段を内蔵している。
S113では、S110同様、メインCPU30は検出手段20を介して、検出領域17におけるEC層14の透過率を検出する。透過率の検出方法としては、前述の通りである。
S114では、メインCPU30は、着色したEC層14によるND効果付与がS102での演算結果である撮影者が設定したND効果段数と一致しているかどうかの判定を行う。
In S <b> 112, the main CPU 30 energizes the EC element 10 via the EC element control unit 5. At this time, the main CPU 30 applies to the EC element 10 a voltage obtained by subtracting the variation in the transmittance of the EC layer 14 due to the temperature calculated in S104 from the number of ND effect stages calculated in S109. That is, the main CPU 30 includes a correction unit that corrects the voltage applied to the EC element 10.
In S113, as in S110, the main CPU 30 detects the transmittance of the EC layer 14 in the detection region 17 via the detection means 20. The method for detecting the transmittance is as described above.
In S <b> 114, the main CPU 30 determines whether or not the ND effect imparted by the colored EC layer 14 matches the number of ND effect stages set by the photographer as the calculation result in S <b> 102.

S114のメインCPU30の判定の結果、EC素子10のND効果付与がS109での演算結果である撮影者が設定したND効果段数と一致していない場合は、S131に進み、EC素子制御部5はEC素子10への印加電圧を変更した上で、S113に戻る。
一方、S114のメインCPU30の判定の結果、EC素子10のND効果付与がS109での演算結果である撮影者が設定したND効果段数と一致している場合は、S115に進む。
S115では、メインCPU30によって撮像ボタン50が操作されたかどうかの判定が行われる。撮像ボタン50が操作された場合はS116に進む。
S116では、公知の一連の動画撮像が撮像装置100にて行われるが、その動作の詳細は本発明の趣旨と異なるので、その説明を省略する。
As a result of the determination by the main CPU 30 in S114, if the ND effect imparting of the EC element 10 does not match the number of ND effect stages set by the photographer as the calculation result in S109, the process proceeds to S131, and the EC element control unit 5 After changing the voltage applied to the EC element 10, the process returns to S113.
On the other hand, if the result of determination by the main CPU 30 in S114 is that the ND effect imparting of the EC element 10 matches the number of ND effect stages set by the photographer, which is the calculation result in S109, the process proceeds to S115.
In S115, it is determined whether or not the imaging button 50 has been operated by the main CPU 30. When the imaging button 50 is operated, the process proceeds to S116.
In S116, a known series of moving image capturing is performed by the image capturing apparatus 100, but the details of the operation are different from the gist of the present invention, and thus the description thereof is omitted.

以上説明したように、EC層14の透過率と体積とを、共通の検出手段20で検出する事ができるので、検出のためのスペースを最小限にするができ、EC装置2を備えた撮像装置100の小型化を達成する事ができる。   As described above, since the transmittance and volume of the EC layer 14 can be detected by the common detection means 20, the space for detection can be minimized, and imaging with the EC device 2 can be performed. Miniaturization of the device 100 can be achieved.

1:撮像光学系、2:エレクトロクロミック装置(EC装置)、3:撮像素子、10:エレクトロクロミック素子(EC素子)、12a,12b:電極、14:エレクトロクロミック層(EC層)、14a:境界、17:検出領域、20:検出手段、21:基準板、100:撮像装置、L:有効光線領域、   1: imaging optical system, 2: electrochromic device (EC device), 3: imaging device, 10: electrochromic device (EC device), 12a, 12b: electrode, 14: electrochromic layer (EC layer), 14a: boundary , 17: detection region, 20: detection means, 21: reference plate, 100: imaging device, L: effective light region,

Claims (7)

一対の電極と、前記一対の電極間に配置されている、少なくとも一種の有機エレクトロクロミック材料を含む液状のエレクトロクロミック層と、を有するエレクトロクロミック素子を備えたエレクトロクロミック装置であって、
前記エレクトロクロミック層の透過率と体積とを検出する検出手段を有することを特徴とするエレクトロクロミック装置。
An electrochromic device comprising an electrochromic device having a pair of electrodes and a liquid electrochromic layer including at least one organic electrochromic material disposed between the pair of electrodes,
An electrochromic device comprising detection means for detecting the transmittance and volume of the electrochromic layer.
前記エレクトロクロミック層が、前記エレクトロクロミック素子の有効光線領域と、前記有効光線領域に連通する検出領域とに連続して配置され、前記検出手段が前記検出領域に設けられていることを特徴とする請求項1に記載のエレクトロクロミック装置。   The electrochromic layer is continuously arranged in an effective light region of the electrochromic element and a detection region communicating with the effective light region, and the detection means is provided in the detection region. The electrochromic device according to claim 1. 前記検出領域に、不活性ガスが収容され、
前記検出領域における前記エレクトロクロミック層と前記不活性ガスとの境界より、前記検出手段が前記エレクトロクロミック層の体積を検出することを特徴とする請求項2に記載のエレクトロクロミック装置。
In the detection region, an inert gas is contained,
The electrochromic device according to claim 2, wherein the detection unit detects a volume of the electrochromic layer from a boundary between the electrochromic layer and the inert gas in the detection region.
前記検出手段が画像センサであることを特徴とする請求項3に記載のエレクトロクロミック装置。   The electrochromic device according to claim 3, wherein the detection unit is an image sensor. 前記エレクトロクロミック素子を介して、前記検出手段に対向する位置に、白色の基準板が配置されていることを特徴とする請求項4に記載のエレクトロクロミック装置。   5. The electrochromic device according to claim 4, wherein a white reference plate is disposed at a position facing the detection unit with the electrochromic element interposed therebetween. 複数のレンズを有する撮像光学系と、前記撮像光学系を透過した撮像光束が結像する撮像素子と、前記撮像光学系と前記撮像素子との間に配置されている、請求項1乃至5のいずれか一項に記載のエレクトロクロミック装置と、を有する撮像装置であって、
前記検出手段によって検出された、前記エレクトロクロミック層の体積に基づいて、前記エレクトロクロミック素子に印加される電圧を補正する補正手段を備えたことを特徴とする撮像装置。
The imaging optical system having a plurality of lenses, an imaging element on which an imaging light flux that has passed through the imaging optical system forms an image, and the imaging optical system and the imaging element are disposed between the imaging optical system and the imaging element. An electrochromic device according to any one of the above, an imaging device comprising:
An imaging apparatus comprising: a correcting unit that corrects a voltage applied to the electrochromic element based on a volume of the electrochromic layer detected by the detecting unit.
請求項1乃至5のいずれか一項に記載のエレクトロクロミック装置の制御方法であって、
前記エレクトロクロミック層の体積を検出し、前記体積に基づいて、基準温度からの温度変化による透過率の変動を演算し、前記透過率の変動に基づいて、前記一対の電極に印加する電圧を制御することを特徴とするエレクトロクロミック装置の制御方法。
A method for controlling an electrochromic device according to any one of claims 1 to 5,
Detecting the volume of the electrochromic layer, calculating a variation in transmittance due to a temperature change from a reference temperature based on the volume, and controlling a voltage applied to the pair of electrodes based on the variation in transmittance A method for controlling an electrochromic device.
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