[go: up one dir, main page]

JP2019090832A - Shape measuring instrument - Google Patents

Shape measuring instrument Download PDF

Info

Publication number
JP2019090832A
JP2019090832A JP2019024535A JP2019024535A JP2019090832A JP 2019090832 A JP2019090832 A JP 2019090832A JP 2019024535 A JP2019024535 A JP 2019024535A JP 2019024535 A JP2019024535 A JP 2019024535A JP 2019090832 A JP2019090832 A JP 2019090832A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stylus
arm
drive mechanism
measurement
axis drive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019024535A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
慎吾 小松
Shingo Komatsu
慎吾 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP2019024535A priority Critical patent/JP2019090832A/en
Publication of JP2019090832A publication Critical patent/JP2019090832A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

To provide a shape measuring instrument capable of avoiding collision between a stylus and a workpiece.SOLUTION: There is provided a shape measuring instrument comprising: a drive mechanism that includes a Z-axis drive mechanism provided on a strut and an X-axis drive mechanism provided in the Z-axis drive mechanism; a probe having an arm and a stylus provided at the tip of the arm; a displacement detector attached to the X-axis drive mechanism; and a control device for controlling the displacement detector and the drive mechanism. The shape measuring instrument further includes a stylus position adjustment mechanism for moving the tip position of the stylus. The control device includes: a storage unit for storing measurement data of the probe being the measurement data related to the surface shape of a measurement object obtained by moving the probe in the X-axis direction along the surface of the measurement object by the X-axis drive mechanism; and a stylus movement control unit for controlling the stylus position adjustment mechanism on the basis of the measurement data stored in the storage unit and moving the stylus to the next measurement start position.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は形状測定機、及びその制御方法に係り、被測定物と触針との衝突を回避することができる形状測定機、及びその制御方法に関する。   The present invention relates to a shape measuring machine and a control method thereof, and relates to a shape measuring machine capable of avoiding a collision between an object to be measured and a stylus, and a control method thereof.

被測定物(ワーク)の表面に沿って、触針を持つ測定子と変位検出器とを移動させて、触針の上下の変位量を電気信号に変換してコンピュータ等の演算処理装置(計算機)に読み取ることで、ワークの表面粗さや輪郭等の表面形状等を測定する形状測定機が知られている(特許文献1)。   A measuring element having a stylus and a displacement detector are moved along the surface of the object to be measured (workpiece) to convert the amount of displacement of the stylus up and down into an electrical signal to operate a processing device such as a computer (computer There is known a shape measuring machine which measures the surface roughness of a workpiece, the surface shape of a contour or the like, and the like by reading the information (Patent Document 1).

一般的に、形状測定機で測定を行う場合は、作業者が、目視で測定子の触針を、ワークの測定位置に位置合わせている。次に、ワークの形状に沿って触針を自動で相対移動させて、ワークの表面を測定する。   Generally, when measuring with a shape measuring machine, the operator visually aligns the stylus of the measuring element with the measurement position of the workpiece. Next, the stylus is automatically moved relative to the shape of the workpiece to measure the surface of the workpiece.

特開2002−107144号公報JP 2002-107144 A

ところで、近年、ワークの形状が複雑化し、ワークに段差が含まれる場合が多い。段差を含むワークを、触針を移動させて複数回測定する場合、ワークの段差と触針とが衝突する懸念がある。   By the way, in recent years, the shape of the work is complicated, and the work often includes a step. When a workpiece including a level difference is measured a plurality of times by moving a stylus, there is a concern that the level difference of the workpiece may collide with the stylus.

形状測定機において、上向き触針と下向き触針とを有する測定子を用いて、円筒のワークの内部の上面と下面とを測定することも行われている。例えば、上向き触針を使用して上面を測定した場合、測定を終了すると測定子を水平方向に移動している。水平状態を維持したまま測定子を移動させて、下向き触針を測定開始位置に位置合わせさせている。この際、水平状態を維持したまま測定子を移動させているので、例えば、ワークの内面と、上向き触針又は下向き触針とが衝突する懸念がある。   In a profilometer, it is also performed to measure the upper and lower surfaces inside a cylindrical workpiece using a probe having upward and downward contact. For example, when the upper surface is measured using an upward pointing stylus, the measuring element is moved in the horizontal direction when the measurement is completed. The measuring element is moved while maintaining the horizontal state, and the downward pointing stylus is aligned with the measurement start position. At this time, since the measuring element is moved while maintaining the horizontal state, there is a concern, for example, that the inner surface of the workpiece may collide with the upward stylus or the downward stylus.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、触針と被測定物との衝突を回避することができる形状測定機、及びその制御方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a shape measuring machine capable of avoiding a collision between a stylus and an object to be measured, and a control method thereof.

本発明の一態様によると、形状測定機は、被測定物を載置するベースと、前記ベースに設けられた支柱と、前記支柱に設けられZ軸に移動自在のZ軸駆動機構と、前記Z軸駆動機構に設けられたX軸駆動機構とを含む駆動機構と、アームと前記アームの先端側に設けられた触針とを有する測定子と、前記X軸駆動機構に取り付けられた変位検出器であって、前記アームを上下方向に搖動自在に支持する支点と、前記アームの変位を測定する変位読み取り部とを有する変位検出器と、前記変位検出器、及び前記駆動機構を制御する制御装置と、を備える形状測定機であって、前記触針の先端位置を移動させる触針位置調整機構を、備え、前記制御装置は、前記測定子の測定データを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された前記測定データに基づいて前記触針位置調整機構を制御する触針移動制御部と、を備える。   According to one aspect of the present invention, a shape measuring machine includes a base on which an object to be measured is placed, a support provided on the base, a Z-axis drive mechanism provided on the support and movable in the Z axis, A measuring element having a drive mechanism including an X-axis drive mechanism provided in a Z-axis drive mechanism, an arm and a stylus provided on the tip end side of the arm, and displacement detection attached to the X-axis drive mechanism Control device for controlling the displacement detector, the displacement detector, and the drive mechanism, the displacement detector having a fulcrum for supporting the arm so as to be vertically movable and a displacement reading unit for measuring the displacement of the arm; A shape measuring machine including: a stylus position adjusting mechanism for moving the tip position of the stylus, the control device storing the measurement data of the stylus, and the memory To the measurement data stored in the And a stylus movement control unit for controlling the stylus position adjusting mechanism Zui.

好ましくは、前記触針位置調整機構が前記変位検出器に設けられアーム位置調整機構である。   Preferably, the stylus position adjusting mechanism is an arm position adjusting mechanism provided in the displacement detector.

好ましくは、前記触針位置調整機構が、前記アームに後端部に設けられた測定力調整機構である。   Preferably, the stylus position adjusting mechanism is a measuring force adjusting mechanism provided at the rear end of the arm.

好ましくは、前記触針位置調整機構が前記Z軸駆動機構である。   Preferably, the stylus position adjustment mechanism is the Z-axis drive mechanism.

好ましくは、前記触針位置調整機構が、前記アームの位置調整を行う前記変位検出器に設けられアーム位置調整機構、前記Z軸駆動機構、及び前記触針の測定力を調整する前記アームに後端部に設けられた測定力調整機構の少なくとも2つを含む。   Preferably, the stylus position adjustment mechanism is provided on the displacement detector for adjusting the position of the arm, and the arm position adjustment mechanism, the Z-axis drive mechanism, and the arm for adjusting the measurement force of the stylus are later provided. It includes at least two of the measuring force adjustment mechanisms provided at the end.

好ましくは、前記触針は、前記アームの搖動方向に延設された上向き触針及び下向き触針で構成される。   Preferably, the stylus consists of an upward facing stylus and a downward pointing stylus extended in the peristaltic direction of the arm.

本発明の別の態様によると、形状測定機の制御方法は、アームと前記アームの先端側に設けられた触針とを有する測定子と、前記アームを上下方向に搖動自在に支持する支点と、前記アームの変位を測定する変位読み取り部とを有する変位検出器と、を備える形状測定機の制御方法であって、前記触針を被測定物の測定開始位置に位置合わせするステップと、前記触針を前記被測定物に沿って水平方向に移動させ、前記アームの変位量、及び前記変位検出器の水平方向の移動量を測定データとして取得し、記憶するステップと、前記測定データに基づいて、前記触針を次の測定開始位置に移動させる移動経路を算出するステップと、前記算出された移動経路の情報に基づいて、前記測定子の触針を次の測定開始位置に移動させるステップと、を含む。   According to another aspect of the present invention, there is provided a control method of a profile measuring machine comprising: a probe having an arm and a stylus provided on the tip end side of the arm; and a fulcrum for supporting the arm in an up and down direction. A control method of a shape measuring machine comprising: a displacement detector having a displacement reading unit for measuring the displacement of the arm, wherein the step of aligning the stylus with a measurement start position of an object to be measured; Moving the stylus in the horizontal direction along the object to be measured, acquiring the displacement amount of the arm and the displacement amount of the displacement detector in the horizontal direction as measurement data, and storing the measurement data; Calculating a movement path for moving the stylus to the next measurement start position, and moving the stylus of the probe to the next measurement start position based on the calculated movement path information. When, Including.

本発明によれば、触針と被測定物との衝突を回避することができる。   According to the present invention, it is possible to avoid the collision between the stylus and the object to be measured.

形状測定機の外観図である。It is an external view of a shape measuring machine. 測定子、変位検出器、及びX軸駆動機構の概略構成図である。It is a schematic block diagram of a measuring element, a displacement detector, and an X-axis drive mechanism. 形状測定機の構成を示すブロック図である。It is a block diagram showing composition of a shape measuring machine. 形状測定機の制御方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the control method of a shape measuring machine. 段差を有するワークを測定する場合の測定子の動作を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining operation of a measuring element in the case of measuring a work which has a level difference. 本実施形態に係る、段差を有するワークを測定する場合の測定子の動作を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining operation | movement of the measuring element in the case of measuring the workpiece | work which has a level | step difference based on this embodiment. 円筒ワークを測定する場合の測定子の動作を説明する説明図である。It is an explanatory view explaining operation of a measuring element in the case of measuring a cylindrical work. 本実施形態に係る、円筒ワークを測定する場合の測定子の動作を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining operation | movement of the measuring element in the case of measuring a cylindrical workpiece | work based on this embodiment.

以下、添付図面にしたがって本発明の好ましい実施の形態について説明する。本発明は以下の好ましい実施の形態により説明される。本発明の範囲を逸脱すること無く、多くの手法により変更を行うことができ、本実施の形態以外の他の実施の形態を利用することができる。したがって、本発明の範囲内における全ての変更が特許請求の範囲に含まれる。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the attached drawings. The invention is illustrated by the following preferred embodiments. Changes can be made in a number of ways without departing from the scope of the present invention, and other embodiments than the present embodiment can be used. Therefore, all the modifications within the scope of the present invention are included in the claims.

図1は、本発明が適用された形状測定機の外観図である。形状測定機10は、被測定物((ワーク、(不図示))を載置するベース12と、ベース12に設けられた支柱14と、測定子22と、測定子22の変位を検出する変位検出器28と、測定子22及び変位検出器28を被測定物に対して相対移動させる駆動機構16とを備えている。   FIG. 1 is an external view of a shape measuring machine to which the present invention is applied. The shape measuring machine 10 is a displacement that detects the displacement of the base 12 on which the object to be measured ((work, not shown) is placed, the support 14 provided on the base 12, the probe 22 and the probe 22 A detector 28 and a drive mechanism 16 for moving the probe 22 and the displacement detector 28 relative to the object to be measured are provided.

図1に示すように、駆動機構16は支柱14の設けられたZ軸駆動機構18と、Z軸駆動機構18に設けられたX軸駆動機構20とを含んでいる。ここで、Z軸とはベース12の水平面に対して鉛直方向を意味する。   As shown in FIG. 1, the drive mechanism 16 includes a Z-axis drive mechanism 18 provided with a support 14 and an X-axis drive mechanism 20 provided to the Z-axis drive mechanism 18. Here, the Z axis means a direction perpendicular to the horizontal plane of the base 12.

Z軸駆動機構18は、例えば、支柱14にベース12に垂直に設けられたレールと、レールの上をスライド可能なスライダと、レールに沿って設けられたボールネジと、ボールネジを回転させるモーターと、スライダの移動量を検出するZ軸スケールと、で構成される。モーターを回転運動することによりボールネジにより直線運動に変換され、スライダに取り付けられたX軸駆動機構20をZ軸方向に移動自在とすることができる。X軸駆動機構20と後述する変位検出器28のZ軸方向(鉛直方向)の移動量をZ軸スケールで測定することができる。   The Z-axis drive mechanism 18 includes, for example, a rail vertically provided to the base 12 on the column 14, a slider slidable on the rail, a ball screw provided along the rail, and a motor for rotating the ball screw. And Z axis scale for detecting the movement amount of the slider. By rotating the motor, it is converted into linear motion by the ball screw, and the X-axis drive mechanism 20 attached to the slider can be made movable in the Z-axis direction. The amount of movement in the Z-axis direction (vertical direction) of the X-axis drive mechanism 20 and the displacement detector 28 described later can be measured on the Z-axis scale.

測定子22は、触針アーム24と、触針アーム24の先端側に設けられた触針26とを含んでいる。測定子22の触針アーム24は、変位検出器28から突出するアームホルダー30に着脱自在に取り付けられている。したがって、複数の測定子22を準備し、被測定物に応じて測定子22を取り換えることができる。   The probe 22 includes a stylus arm 24 and a stylus 26 provided on the distal end side of the stylus arm 24. The stylus arm 24 of the probe 22 is detachably attached to an arm holder 30 projecting from the displacement detector 28. Therefore, a plurality of probes 22 can be prepared, and the probes 22 can be replaced according to the object to be measured.

形状測定機10は、制御装置40と、制御装置40に接続された入力装置42と、制御装置40に接続された表示装置44とを備えている。作業者は、コマンド、設定条件等の入力データを、入力装置42から制御装置40に伝達する。また、制御装置40は、被測定物の測定結果等を表示装置44に出力データとして表示する。   The shape measuring machine 10 includes a control device 40, an input device 42 connected to the control device 40, and a display device 44 connected to the control device 40. The operator transmits input data such as commands and setting conditions from the input device 42 to the control device 40. Further, the control device 40 displays the measurement result of the object to be measured and the like on the display device 44 as output data.

形状測定機10は、例えば、ジョイスティックのような操作部46を備えている。作業者が操作部46を操作することにより、測定子22、及び変位検出器28を手動で移動させることができる。   The shape measuring machine 10 includes, for example, an operation unit 46 such as a joystick. By the operator operating the operation unit 46, the probe 22 and the displacement detector 28 can be moved manually.

図2は、測定子22、変位検出器28、及びX軸駆動機構20の概略構成図である。測定子22は、触針アーム24と、触針アーム24の先端側に設けられ、形状測定するための加工が施された触針26とを有している。触針アーム24の先端側とは、触針アーム24において変位検出器28とは反対側を意味し、触針アーム24の先端を含む部分を意味する。   FIG. 2 is a schematic view of the probe 22, the displacement detector 28, and the X-axis drive mechanism 20. The probe 22 has a stylus arm 24 and a stylus 26 provided on the tip end side of the stylus arm 24 and processed for shape measurement. The tip side of the stylus arm 24 means the side opposite to the displacement detector 28 in the stylus arm 24 and means a portion including the tip of the stylus arm 24.

本実施形態では、触針26が触針アーム24の搖動方向に延設された下向き触針で構成されているが、これに限定されない。したがって、触針26を触針アーム24の搖動方向に延設された上向き触針で構成することもでき、また触針アーム24の搖動方向に延設された上向き触針及び下向き触針(T字型触針ともいう)で構成することもできる。   In the present embodiment, although the stylus 26 is configured of a downward stylus extended in the peristaltic direction of the stylus arm 24, the present invention is not limited to this. Therefore, the stylus 26 can also be configured by an upward facing stylus extended in the peristaltic direction of the stylus arm 24, and also upward facing downward and downward styluses (T (Also referred to as a letter-shaped stylus).

変位検出器28は、駆動部連結部50と、駆動部連結部50に設けられた支点52と、支点52に搖動自在に支持された棒状の搖動アーム54と、搖動アーム54の変位を読み取る変位読み取り部56と、を有している。   The displacement detector 28 is a displacement that reads the displacement of the drive connection 50, the fulcrum 52 provided on the drive connection 50, the rod-like swing arm 54 slidably supported by the fulcrum 52, and the swing arm 54. And a reading unit 56.

本実施形態では、触針アーム24と搖動アーム54とがアームホルダー30を介して、着脱自在に連結されている。したがって、搖動アーム54と触針アーム24とが、一本のアーム32として機能している。   In the present embodiment, the stylus arm 24 and the peristaltic arm 54 are detachably connected via the arm holder 30. Therefore, the peristaltic arm 54 and the stylus arm 24 function as one arm 32.

触針アーム24と搖動アーム54との連結により、支点52がアーム32を上下方向に搖動自在に支持することができ、また変位読み取り部56がアーム32の変位を測定することができる。   The connection between the stylus arm 24 and the peristaltic arm 54 allows the fulcrum 52 to support the arm 32 so as to be able to oscillate in the vertical direction, and the displacement reading unit 56 can measure the displacement of the arm 32.

変位読み取り部56は、アームホルダー30と支点52との間に設けられている。上述したように触針アーム24と搖動アーム54とはアームホルダー30を介して連結されているので、変位読み取り部56により搖動アーム54の変位を読み取ることで触針アーム24の上下方向の変位を測定することができる。   The displacement reading unit 56 is provided between the arm holder 30 and the fulcrum 52. As described above, since the stylus arm 24 and the peristaltic arm 54 are connected via the arm holder 30, the vertical displacement of the stylus arm 24 is determined by reading the displacement of the peristaltic arm 54 by the displacement reading unit 56. It can be measured.

変位読み取り部56として、リニアスケール、円弧スケール、LVDT(Linear variable differential transformer:差動変圧器)等を用いることができる。   As the displacement reading unit 56, a linear scale, an arc scale, a linear variable differential transformer (LVDT) or the like can be used.

実施形態では、変位読み取り部56をアームホルダー30と支点52との間に設けているが、変位読み取り部56を支点52に対してアームホルダー30と反対側に設けることもできる。   In the embodiment, the displacement reading unit 56 is provided between the arm holder 30 and the fulcrum 52, but the displacement reading unit 56 may be provided on the opposite side of the arm holder 30 with respect to the fulcrum 52.

搖動アーム54の後端部、すなわち、アーム32の後端部には、触針26の測定力を調整するため測定力調整機構58が設けられている。測定力調整機構58として、例えば位置調整可能にアーム32の後端部に設けられたバランスウエイトを挙げることができる。バランスウエイトの位置をアーム32に対して先端側、又は後端側に位置調整することで、触針26に付与される測定力を調整することができる。ここで、測定力とは、測定中に触針26がワークを押圧する押圧力を意味する。   A measuring force adjustment mechanism 58 is provided at the rear end of the swing arm 54, that is, at the rear end of the arm 32, in order to adjust the measuring force of the stylus 26. As the measurement force adjustment mechanism 58, for example, a balance weight provided at the rear end of the arm 32 so as to be position adjustable can be mentioned. By adjusting the position of the balance weight to the distal end side or the rear end side with respect to the arm 32, the measurement force applied to the stylus 26 can be adjusted. Here, the measuring force means a pressing force with which the stylus 26 presses the workpiece during measurement.

この測定力調整機構58により、触針26の先端位置を調整することができる。測定力調整機構58により測定力を小さくした場合、触針26の先端位置を上方に移動させることができ、測定力調整機構58により測定力を大きくした場合、触針26の先端位置を下方に移動させることができる。なお、測定力調整機構58は位置調整を自動で行うことができる。   The tip position of the stylus 26 can be adjusted by the measurement force adjustment mechanism 58. When the measurement force is reduced by the measurement force adjustment mechanism 58, the tip position of the stylus 26 can be moved upward, and when the measurement force is increased by the measurement force adjustment mechanism 58, the tip position of the stylus 26 is downward. It can be moved. The measuring force adjusting mechanism 58 can automatically perform position adjustment.

例えば、測定力調整機構58がバランスウエイトである場合、以下の構成とすることで、バランスウエイトを自動で位置調整できる。例えば、アーム32と平行となる位置にレールを設ける。このレールに沿って移動可能なスライダを設け、スライダとバランスウエイトを連結する。スライダをレールに沿って移動させることで、バランスウエイトをアーム32の軸方向に沿って自動で移動させることが可能となる。   For example, when the measuring force adjustment mechanism 58 is a balance weight, the balance weight can be automatically adjusted in position by adopting the following configuration. For example, a rail is provided at a position parallel to the arm 32. A slider movable along the rail is provided to connect the slider and the balance weight. By moving the slider along the rail, the balance weight can be automatically moved along the axial direction of the arm 32.

一般的に、測定力調整機構58は、触針26の微小な測定力を調整するために使用され、触針26の先端位置を調整する目的では使用されていない。   In general, the measurement force adjustment mechanism 58 is used to adjust the minute measurement force of the stylus 26 and is not used for the purpose of adjusting the tip position of the stylus 26.

変位検出器28には、アーム32の位置を調整するためのアーム位置調整機構60が設けられている。アーム位置調整機構60は、アーム32を上下方向に移動させることができ、その結果、アーム32は支点52を中心として上下方向に搖動する。   The displacement detector 28 is provided with an arm position adjustment mechanism 60 for adjusting the position of the arm 32. The arm position adjusting mechanism 60 can move the arm 32 in the up and down direction, and as a result, the arm 32 swings up and down around the fulcrum 52.

アーム位置調整機構60は、一般的に、アーム32を水平方向に移動する場合、アーム32を上方向に移動する場合、アーム32を下方向に移動する場合のように、予め定められた位置にアーム32を移動させる。   Generally, the arm position adjusting mechanism 60 is at a predetermined position, as in the case of moving the arm 32 downward, when the arm 32 is moved upward, when the arm 32 is moved horizontally. The arm 32 is moved.

本実施形態において、アーム位置調整機構60は、アーム32予め定められた位置に移動させる場合を含め、アーム32を任意の位置に調整することができるよう構成されている。   In the present embodiment, the arm position adjusting mechanism 60 is configured to be able to adjust the arm 32 to any position, including the case of moving the arm 32 to a predetermined position.

アーム位置調整機構60として側面視でコ字型の板とモーターとの組み合わせを挙げることができる。アーム32をコ字型の板に貫通させる。この状態でモーターを駆動することで、コ字型の板を上下させる。コ字型の板の上下動に伴って、アーム32を上下に搖動させることができる。モーターに印加する電流の大きさを変えることにより、アーム32を上下に任意の位置に搖動(又は移動)させることができる。   As the arm position adjusting mechanism 60, a combination of a U-shaped plate and a motor in a side view can be mentioned. The arm 32 is penetrated into a U-shaped plate. By driving the motor in this state, the U-shaped board is moved up and down. The arm 32 can be swung up and down with the vertical movement of the U-shaped plate. By changing the magnitude of the current applied to the motor, the arm 32 can be oscillated (or moved) up and down at any position.

変位検出器28は、駆動部連結部50と、支点52と、変位読み取り部56、測定力調整機構58と、アーム位置調整機構60と、を囲むハウジング62を備えている。   The displacement detector 28 includes a housing 62 surrounding the drive connection portion 50, the fulcrum 52, the displacement reading portion 56, the measurement force adjustment mechanism 58, and the arm position adjustment mechanism 60.

駆動部連結部50は、変位検出器28とX軸駆動機構20とを連結するための部材であり、変位検出器28とX軸駆動機構20とは駆動部連結部50を介して相互に連結される。   The drive unit connecting unit 50 is a member for connecting the displacement detector 28 and the X-axis drive mechanism 20. The displacement detector 28 and the X-axis drive mechanism 20 are mutually connected via the drive unit connecting unit 50. Be done.

X軸駆動機構20は、X軸方向に延びるレール70と、レール70上をスライド可能なスライダ72と、レール70に沿って設けられたボールネジ74と、ボールネジ74を回転させるモーター76と、スライダ72の移動量を検出するX軸スケール78と、で構成される。モーター76を回転運動することによりボールネジ74により直線運動に変換され、スライダ72に取り付けられた変位検出器28をX軸方向に移動自在とすることができる。変位検出器28のX軸方向(水平方向)の移動量をX軸スケール78で測定することができる。   The X-axis drive mechanism 20 includes a rail 70 extending in the X-axis direction, a slider 72 slidable on the rail 70, a ball screw 74 provided along the rail 70, a motor 76 for rotating the ball screw 74, and a slider 72. And an X-axis scale 78 for detecting the amount of movement of By rotating the motor 76, the ball screw 74 converts it into a linear motion, and the displacement detector 28 attached to the slider 72 can be made movable in the X-axis direction. The amount of movement of the displacement detector 28 in the X-axis direction (horizontal direction) can be measured by the X-axis scale 78.

図3は、形状測定機10の構成を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the shape measuring machine 10.

制御装置40に、制御部100、処理部102、記憶部104、測定力調整部106、アーム位置調整部108、駆動機構制御部110、及び触針移動制御部112を備えている。   The control device 40 includes a control unit 100, a processing unit 102, a storage unit 104, a measurement force adjustment unit 106, an arm position adjustment unit 108, a drive mechanism control unit 110, and a stylus movement control unit 112.

制御部100は、形状測定機10の動作全体を管理する。制御装置40には、入力装置42、表示装置44、及び操作部46が接続されている。入力装置42、及び操作部46から入力信号が制御部100に送信され、制御部100は、その入力信号に従って各種プログラムを実行し、また、制御部100は制御信号、各種データ、各種プログラムの入出力を実行する。   The control unit 100 manages the entire operation of the shape measuring machine 10. An input device 42, a display device 44, and an operation unit 46 are connected to the control device 40. Input signals are transmitted from the input device 42 and the operation unit 46 to the control unit 100, and the control unit 100 executes various programs according to the input signals, and the control unit 100 receives control signals, various data, and various programs. Execute the output.

制御装置40には、変位検出器28、X軸スケール78、及びZ軸スケール80が接続されている。制御装置40の処理部102は、変位検出器28、X軸スケール78、及びZ軸スケール80から測定データを受信する。変位検出器28からアーム32の変位量が測定され、X軸スケール78から変位検出器28のX軸方向(水平方向)の移動量が測定され、Z軸スケール80から変位検出器28のZ軸方向(鉛直方向)の移動量が測定され、処理部102に出力される。   The displacement detector 28, the X-axis scale 78, and the Z-axis scale 80 are connected to the controller 40. The processing unit 102 of the control device 40 receives measurement data from the displacement detector 28, the X-axis scale 78, and the Z-axis scale 80. The amount of displacement of the arm 32 is measured from the displacement detector 28, the amount of movement of the displacement detector 28 in the X-axis direction (horizontal direction) is measured from the X-axis scale 78, and the Z axis of the displacement detector 28 is measured from the Z-axis scale 80. The amount of movement in the direction (vertical direction) is measured and output to the processing unit 102.

処理部102は、制御部100の制御信号に従って、測定データから測定子22の軌跡情報を算出し、ワークの輪郭形状や粗さを求める。処理部102は算出結果を、制御部100に出力する。測定結果が、制御部100から表示装置44に出力される。   The processing unit 102 calculates trajectory information of the stylus 22 from the measurement data according to the control signal of the control unit 100, and obtains the contour shape and roughness of the workpiece. The processing unit 102 outputs the calculation result to the control unit 100. The measurement result is output from the control unit 100 to the display device 44.

制御装置40の記憶部104に、各種プログラム、測定データ、測定子22の軌跡情報、ワークの輪郭形状や粗さが記憶される。制御部100は記憶部104に対してデータの入出力を実行する。   The storage unit 104 of the control device 40 stores various programs, measurement data, trajectory information of the stylus 22, and the contour shape and roughness of the workpiece. The control unit 100 executes data input / output with respect to the storage unit 104.

制御装置40には、測定力調整機構58、及びアーム位置調整機構60が接続されている。制御装置40の測定力調整部106は、制御部100からの制御信号に従って、測定力調整機構58を制御し、触針26の測定力を調整する。また、制御装置40のアーム位置調整部108は、制御部100からの制御信号に従って、アーム位置調整機構60を制御し、アーム32の位置を予め定められた位置に移動させる。   The measuring force adjustment mechanism 58 and the arm position adjustment mechanism 60 are connected to the controller 40. The measurement force adjustment unit 106 of the control device 40 controls the measurement force adjustment mechanism 58 according to the control signal from the control unit 100 to adjust the measurement force of the stylus 26. Further, the arm position adjustment unit 108 of the control device 40 controls the arm position adjustment mechanism 60 according to the control signal from the control unit 100 to move the position of the arm 32 to a predetermined position.

制御装置40には、Z軸駆動機構18、及びX軸駆動機構20を含む駆動機構16が接続されている。制御装置40の駆動機構制御部110は、制御部100からの制御信号に従って、Z軸駆動機構18、及びX軸駆動機構20を含む駆動機構16を制御し、測定子22、及び変位検出器28の位置を制御する。   The control device 40 is connected to a drive mechanism 16 including a Z-axis drive mechanism 18 and an X-axis drive mechanism 20. The drive mechanism control unit 110 of the control device 40 controls the drive mechanism 16 including the Z-axis drive mechanism 18 and the X-axis drive mechanism 20 according to the control signal from the control unit 100, and the probe 22 and the displacement detector 28. Control the position of

触針移動制御部112は、記憶部104に記憶されている測定データに基づいて、測定終了位置から次の測定開始位置までの触針26の移動経路を算出する。移動経路を算出する際、触針移動制御部112は、触針26とワークとの衝突を回避し、かつ移動距離が短くなる移動経路を算出する。触針移動制御部112は移動経路情報を制御部100に出力する。   The stylus movement control unit 112 calculates the movement path of the stylus 26 from the measurement end position to the next measurement start position based on the measurement data stored in the storage unit 104. When calculating the movement path, the stylus movement control unit 112 calculates a movement path in which the collision between the stylus 26 and the work is avoided and the movement distance becomes short. The stylus movement control unit 112 outputs movement route information to the control unit 100.

本実施形態では、ワークを測定した際の、測定子からの測定データが記憶部104に記憶される。測定を終えた測定子22を次の測定開始位置に移動する際に、測定データに基づいて触針移動制御部112は移動経路を算出している。移動経路情報に基づいて測定子22を自動で移動させているので、測定子22をワークと衝突させることなく、また、効率的に次の測定開始位置に移動させることができる。   In the present embodiment, measurement data from the stylus when the workpiece is measured is stored in the storage unit 104. When moving the measuring element 22 after the measurement to the next measurement start position, the stylus movement control unit 112 calculates the movement path based on the measurement data. Since the probe 22 is automatically moved based on the movement path information, the probe 22 can be efficiently moved to the next measurement start position without causing the probe 22 to collide with the workpiece.

制御部100は、触針移動制御部112からの移動経路情報に基づいて、触針位置調整機構を制御し、触針26の先端位置を調整する。すなわち、触針位置調整機構が制御部100を介して触針移動制御部112により制御される。   The control unit 100 controls the stylus position adjustment mechanism based on the movement path information from the stylus movement control unit 112 to adjust the tip position of the stylus 26. That is, the stylus position adjustment mechanism is controlled by the stylus movement control unit 112 via the control unit 100.

本実施形態では、Z軸駆動機構18、測定力調整機構58、及びアーム位置調整機構60の少なくとも一つの機構により触針位置調整機構が構成されている。触針位置調整機構として、Z軸駆動機構18、測定力調整機構58、及び任意の位置に位置調整可能なアーム位置調整機構60を組み合わせて使用することができる。   In the present embodiment, at least one of the Z-axis drive mechanism 18, the measuring force adjustment mechanism 58, and the arm position adjustment mechanism 60 constitutes a stylus position adjustment mechanism. As the stylus position adjustment mechanism, the Z-axis drive mechanism 18, the measuring force adjustment mechanism 58, and the arm position adjustment mechanism 60 which can be positionally adjusted at any position can be used in combination.

図4は、本実施形態の含む形状測定機の制御方法のフローチャートを示している。形状測定機の制御方法では、測定子、変位検出器、駆動機構を持つ形状測定機のベースにワークを載置し、測定子をワークの測定開始位置に位置合わせする(ステップS10)。   FIG. 4 shows a flowchart of a control method of the form measuring machine included in the present embodiment. In the control method of the shape measuring machine, the work is mounted on the base of the shape measuring machine having the measuring element, the displacement detector, and the drive mechanism, and the measuring element is aligned with the measurement start position of the work (step S10).

次に、測定データを取得し、記憶する(ステップS12)。ステップS12では、測定子をワークの表面に沿って、水平方向に移動させながら、変位検出器の水平方向の移動量と、触針の上下方向の変位量を測定データとして取得し、測定データを記憶する。   Next, measurement data is acquired and stored (step S12). In step S12, while moving the probe in the horizontal direction along the surface of the workpiece, the amount of movement of the displacement detector in the horizontal direction and the amount of displacement of the stylus in the vertical direction are acquired as measurement data, and the measurement data is obtained. Remember.

次に測定データから移動経路を算出する(ステップS14)。ステップS14では、測定データに基づいて、触針を次の測定開始位置に移動させる移動経路を算出する。   Next, a movement route is calculated from the measurement data (step S14). In step S14, based on the measurement data, a movement path for moving the stylus to the next measurement start position is calculated.

最後に、移動経路の情報に基づいて、測定子を移動させる(ステップS16)。ステップS16では、算出された移動経路の情報に基づいて、測定子を次の測定開始位置に移動させる。   Finally, the probe is moved based on the information of the movement route (step S16). In step S16, the measuring element is moved to the next measurement start position based on the information on the calculated movement route.

本実施形態の形状測定機の制御方法では、ワークの測定データに基づいて、測定子の移動経路を算出しているので、触針とワークとの衝突を開始し、かつ効率的に測定子を移動させることができる。   In the control method of the shape measuring machine of the present embodiment, since the movement path of the stylus is calculated based on the measurement data of the workpiece, the collision between the stylus and the workpiece is started, and the stylus is efficiently performed. It can be moved.

次に、段差を有するワークを下向き触針26を有する測定子22で測定する場合について図5、及び図6に基づいて説明する。   Next, the case where a workpiece having a step is measured by the probe 22 having the downward pointing probe 26 will be described based on FIG. 5 and FIG.

図5は、下向き触針26により、段差を有するワークWを繰り返し測定する場合について、従来の測定子22の動作を示している。最初に、作業者が目視で、測定子22の触針26の先端位置を、ワークWの測定開始位置SPに位置合わせする。その後、測定子22の触針26をワークWの形状に沿って、測定終了位置EPまで自動で移動させる。測定子22を、測定開始位置SPから、測定終了位置EPまで移動させる間に、ワークWの表面形状に関する測定データが取得される。なお、ワークWの表面上の太線は、測定場所を仮想的に示している。   FIG. 5 shows the operation of the conventional stylus 22 in the case where the workpiece W having a step is repeatedly measured by the downward contact stylus 26. First, the operator visually aligns the tip position of the stylus 26 of the probe 22 with the measurement start position SP of the workpiece W. Thereafter, the stylus 26 of the probe 22 is automatically moved to the measurement end position EP along the shape of the workpiece W. While moving the probe 22 from the measurement start position SP to the measurement end position EP, measurement data on the surface shape of the workpiece W is acquired. A thick line on the surface of the work W virtually indicates the measurement location.

測定子22が測定終了位置EPに到達すると、作業者は、目視で測定子22を次の測定開始位置まで移動させる。その際、触針26がワークWと衝突しないように、測定子22をワークWから大きく距離を開けて移動させていた。   When the probe 22 reaches the measurement end position EP, the operator visually moves the probe 22 to the next measurement start position. At this time, the probe 22 is moved at a large distance from the workpiece W so that the stylus 26 does not collide with the workpiece W.

図5の方法では、触針26とワークWとの衝突を回避するため、安全距離Lを大きくしていた。   In the method of FIG. 5, in order to avoid the collision between the stylus 26 and the work W, the safety distance L is increased.

図6は、下向き触針26により、段差を有するワークWを繰り返し測定する場合の、本実施形態による測定子22の動作を示している。   FIG. 6 shows the operation of the probe 22 according to the present embodiment when the workpiece W having a step is repeatedly measured by the downward contact stylus 26.

図6(A)は、段差を有するワークWの測定を終えた状態、つまり測定子22が測定終了位置EPに位置している。測定子22を、測定開始位置SPから、測定終了位置EPまで移動させる間に、ワークWの表面形状に関する測定データが取得される。   FIG. 6A shows a state in which the measurement of the workpiece W having a step is finished, that is, the stylus 22 is located at the measurement end position EP. While moving the probe 22 from the measurement start position SP to the measurement end position EP, measurement data on the surface shape of the workpiece W is acquired.

図6(B)は、測定子22を次の測定開始位置SPに移動させるための、触針26の移動経路の一つの態様を示している。この態様では、ワークWの測定データから一定距離離し、かつワークWに衝突しない移動経路で触針26を自動で移動させている。触針26はワークの上向き表面から距離L1だけ離れ、かつワークWの側面から距離L2だけ離れて移動する。したがって、触針26はワークWの形状に沿って移動することになる。この触針の移動により、触針26とワークWとの衝突を回避することができる。   FIG. 6B shows one aspect of the movement path of the stylus 26 for moving the probe 22 to the next measurement start position SP. In this aspect, the stylus 26 is automatically moved along a movement path which is separated from the measurement data of the workpiece W by a predetermined distance and which does not collide with the workpiece W. The stylus 26 moves away from the upward surface of the workpiece by a distance L1 and away from the side of the workpiece W by a distance L2. Therefore, the stylus 26 moves along the shape of the work W. By the movement of the stylus, a collision between the stylus 26 and the workpiece W can be avoided.

図6(C)は、測定子22を次の測定開始位置SPに移動させるための、触針26の移動経路の他の態様を示している。この態様では、触針26は、測定データの一番高い点から一定の距離L3だけ離れた位置に、距離L4だけ鉛直方向に移動させて、次いで水平方向に直線的に自動で移動させている。この触針の移動により、触針26とワークWとの衝突を回避することができる。   FIG. 6C shows another aspect of the movement path of the stylus 26 for moving the probe 22 to the next measurement start position SP. In this embodiment, the stylus 26 is vertically moved by a distance L4 to a position separated by a fixed distance L3 from the highest point of the measurement data and then automatically moved linearly in the horizontal direction. . By the movement of the stylus, a collision between the stylus 26 and the workpiece W can be avoided.

特に、測定データを利用しているので、触針26とワークWとの衝突を回避しながら、触針26が鉛直方向に移動する距離L4を短くすることができる。   In particular, since the measurement data is used, it is possible to shorten the distance L4 in which the stylus 26 moves in the vertical direction while avoiding the collision between the stylus 26 and the work W.

図6では、下向き触針26を有する測定子22について説明したが、上向き触針を有する測定子についても適用することができる。上向き触針の場合、図6(C)の態様に関して、測定終了後、測定子の触針を測定データの一番低い点から一定距離だけ離れた位置に移動させればよい。   Although FIG. 6 describes the stylus 22 having the downward pointing stylus 26, the present invention can also be applied to a stylus having an upward pointing stylus. In the case of the upward facing stylus, with respect to the aspect of FIG. 6C, after the measurement is completed, the stylus of the stylus may be moved to a position away from the lowest point of the measurement data by a fixed distance.

次に、折れ曲がった円筒のワークWの内部の上面S1と下面S2とを、上向き触針26Aと下向き触針26Bとを有する測定子22で測定する場合につて、図7、及び図8に基づいて説明する。   Next, based on FIG. 7 and FIG. 8 in the case of measuring the upper surface S1 and the lower surface S2 inside the bent cylindrical workpiece W with the probe 22 having the upward contact 26A and the downward contact 26B. Explain.

図7(A)に示すように、最初に、作業者が目視で、測定子22の上向き触針26Aの先端位置を、ワークWの内部の上面S1の測定開始位置SP1に位置合わせする。その後、測定子22の上向き触針26AをワークWの上面S1の形状に沿って、測定終了位置EP1まで自動で移動させる。測定子22を、測定開始位置SP1から、測定終了位置EP1まで移動させる間に、ワークWの内部の上面S1の表面形状に関する測定データが取得される。なお、ワークWの内部の上面S1上の太線は、測定場所を仮想的に示している。   As shown in FIG. 7A, first, the operator visually aligns the tip position of the upward contact probe 26A of the stylus 22 with the measurement start position SP1 of the top surface S1 inside the workpiece W. Thereafter, the upward contact probe 26A of the probe 22 is automatically moved along the shape of the upper surface S1 of the workpiece W to the measurement end position EP1. While moving the probe 22 from the measurement start position SP1 to the measurement end position EP1, measurement data regarding the surface shape of the upper surface S1 inside the workpiece W is acquired. A thick line on the upper surface S1 inside the workpiece W virtually indicates the measurement location.

ワークWの内部の上面S1の測定を終えると、上面S1の測定終了位置EP1から下面S2の測定開始位置SP2に、測定子22の下向き触針26Bを移動させる。   When the measurement of the upper surface S1 inside the work W is finished, the downward contact probe 26B of the stylus 22 is moved from the measurement end position EP1 of the upper surface S1 to the measurement start position SP2 of the lower surface S2.

図7(B)に示すように、従来の測定子22の動作では、上面S1の測定を終えると、測定終了位置EP1において、測定子22のアーム32を水平方向に移動させていた。アーム32を水平状態にして測定子22を下面S2の測定開始位置SP2に移動させた場合、円筒のワークWの折れ曲がり部で、ワークWの下面S2と測定子22の下向き触針26Bとが衝突する場合があった。   As shown in FIG. 7B, in the operation of the conventional measuring element 22, when the measurement of the upper surface S1 is finished, the arm 32 of the measuring element 22 is moved in the horizontal direction at the measurement end position EP1. When arm 32 is made horizontal and probe 24 is moved to measurement start position SP2 of lower surface S2, the lower surface S2 of workpiece W and downward contact probe 26B of probe 22 collide with each other at the bending portion of cylindrical workpiece W There was a case to do.

図8は、折れ曲がった円筒のワークWの内部の上面S1と下面S2とを、上向き触針26Aと下向き触針26Bとを有する測定子22で測定する場合の、本実施形態による測定子22の動作を示している。   FIG. 8 is a view of the measuring element 22 according to this embodiment in the case of measuring the upper surface S1 and the lower surface S2 inside the bent cylindrical work W with the measuring element 22 having the upward contact 26A and the downward contact 26B. It shows the operation.

図8(A)は、図7(A)と同様に、円筒のワークWの内部の上面S1の測定を終えた状態を示している。   FIG. 8A shows a state in which the measurement of the top surface S1 inside the cylindrical workpiece W is finished, as in FIG. 7A.

図8(B)は、測定子22を、測定終了位置EP1から次の測定開始位置SP2に移動せるための、上向き触針26A、及び下向き触針26Bの移動経路の一つの態様を示している。この態様では、ワークWの測定データから上面S1から一定距離L5離れた移動経路で上向き触針26A、及び下向き触針26Bを自動で移動させている。上向き触針26A、及び下向き触針26Bは、ワークWの上面S1の形状に沿って移動することとなる。この移動により、上向き触針26A、及び下向き触針26BとワークWの内部の上面S1又は下面S2との衝突を回避することができる。   FIG. 8B shows one aspect of the movement path of the upward contact stylus 26A and the downward contact stylus 26B for moving the probe 22 from the measurement end position EP1 to the next measurement start position SP2. . In this aspect, the upward contact stylus 26A and the downward contact stylus 26B are automatically moved in a movement path away from the top surface S1 by a fixed distance L5 from the measurement data of the workpiece W. The upward contact stylus 26A and the downward contact stylus 26B move along the shape of the upper surface S1 of the workpiece W. By this movement, it is possible to avoid the collision between the upward contact stylus 26A and the downward contact stylus 26B and the upper surface S1 or the lower surface S2 inside the workpiece W.

次に、本実施形態では、Z軸駆動機構18、測定力調整機構58、及びアーム位置調整機構60の少なくとも一つの機構により触針位置調整機構を構成している。触針位置調整機構を、Z軸駆動機構18、測定力調整機構58、及びアーム位置調整機構60の少なくとも二つを含んで構成することができる。各機構、及ぶその組み合わせについて図1、図2、及び図3に基づいて説明する。   Next, in the present embodiment, at least one of the Z-axis drive mechanism 18, the measurement force adjustment mechanism 58, and the arm position adjustment mechanism 60 constitutes a stylus position adjustment mechanism. The stylus position adjustment mechanism can be configured to include at least two of the Z-axis drive mechanism 18, the measurement force adjustment mechanism 58, and the arm position adjustment mechanism 60. Each mechanism and its combination will be described based on FIG. 1, FIG. 2 and FIG.

Z軸駆動機構18を利用して触針の先端位置を調整する場合、形状測定機10は既にZ軸駆動機構18を備えているので、新たな機構を追加する必要はない。   When adjusting the tip position of the stylus using the Z-axis drive mechanism 18, since the profile measuring machine 10 already has the Z-axis drive mechanism 18, there is no need to add a new mechanism.

触針位置調整機構としてZ軸駆動機構18を利用した場合、変位検出器28の全体を上下に動かすので、触針26の先端を安定させて移動させることができる。   When the Z-axis drive mechanism 18 is used as the stylus position adjustment mechanism, the entire displacement detector 28 is moved up and down, so the tip of the stylus 26 can be moved stably.

また、Z軸駆動機構18を利用した場合、触針26の移動が、Z軸方向に沿う上下方向のみの移動となるため制御が容易となる。   In addition, when the Z-axis drive mechanism 18 is used, the movement of the stylus 26 is only the movement in the vertical direction along the Z-axis direction, which facilitates control.

触針位置調整機構として測定力調整機構58を利用した場合、触針26の先端を速く移動させることができる。したがって、駆動機構16により変位検出器28を速く移動させた場合でも、変位検出器28の移動に追従させて触針26の先端を位置制御させることができる。   When the measuring force adjustment mechanism 58 is used as a stylus position adjustment mechanism, the tip of the stylus 26 can be moved quickly. Therefore, even when the displacement detector 28 is moved quickly by the drive mechanism 16, the position of the tip of the stylus 26 can be controlled by following the movement of the displacement detector 28.

触針位置調整機構としてアーム位置調整機構60を利用した場合、アーム32の位置を微調整することができるので、触針26の先端をワークの近くを移動させることができる。   When the arm position adjustment mechanism 60 is used as the stylus position adjustment mechanism, the position of the arm 32 can be finely adjusted, so that the tip of the stylus 26 can be moved near the workpiece.

触針位置調整機構としてZ軸駆動機構18とアーム位置調整機構60とを組み合わせて利用した場合、アーム位置調整機構60によりアーム32を固定することができるので、触針26の先端のふらつきを抑えてZ軸駆動機構18を高速で上下動させることができる。この組み合わせによれば、Z軸駆動機構18のみを利用した場合の効果も阻害されることはない。   When the Z-axis drive mechanism 18 and the arm position adjustment mechanism 60 are used in combination as the stylus position adjustment mechanism, the arm 32 can be fixed by the arm position adjustment mechanism 60, so that the tip of the stylus 26 is restrained from fluttering. Thus, the Z-axis drive mechanism 18 can be moved up and down at high speed. According to this combination, the effect when only the Z-axis drive mechanism 18 is used is not inhibited.

触針位置調整機構として測定力調整機構58とアーム位置調整機構60とを組み合わせて利用した場合、目標位置手前までは測定力調整機構58により触針26の先端を高速に移動させ、目標までの触針26の先端の微調整をアーム位置調整機構60リトラクト機構で制御することで、変位検出器28を高速移動しながら触針26の先端位置を制御することが可能となる。   When the measurement force adjustment mechanism 58 and the arm position adjustment mechanism 60 are used in combination as the stylus position adjustment mechanism, the tip of the stylus 26 is moved at high speed by the measurement force adjustment mechanism 58 up to the target position. By controlling the fine adjustment of the tip of the stylus 26 with the arm position adjustment mechanism 60 with the retract mechanism, it becomes possible to control the tip position of the stylus 26 while moving the displacement detector 28 at high speed.

10…形状測定機、12…ベース、14…支柱、16…駆動機構、18…Z軸駆動機構、20…X軸駆動機構、22…測定子、24…触針アーム、26…触針、26A…上向き触針、26B…下向き触針、28…変位検出器、30…アームホルダー、32…アーム、40…制御装置、42…入力装置、44…表示装置、46…操作部、50…駆動部連結部、52…支点、54…搖動アーム、56…変位読み取り部、58…測定力調整機構、60…アーム位置調整機構、62…ハウジング、70…レール、72…スライダ、74…ボールネジ、76…モーター、78…X軸スケール、80…Z軸スケール、100…制御部、102…処理部、104…記憶部、106…測定力調整部、108…アーム位置調整部、110…駆動機構制御部、112…触針移動制御部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... shape measuring machine, 12 ... base, 14 ... post | mailbox, 16 ... drive mechanism, 18 ... Z-axis drive mechanism, 20 ... X-axis drive mechanism, 22 ... probe, 24 ... stylus arm, 26 ... stylus, 26A ... upward contact stylus, 26 B ... downward contact stylus, 28 ... displacement detector, 30 ... arm holder, 32 ... arm, 40 ... control device, 42 ... input device, 44 ... display device, 46 ... operation unit, 50 ... drive unit Connecting part, 52: fulcrum, 54: peristaltic arm, 56: displacement reading part, 58: measuring force adjusting mechanism, 60: arm position adjusting mechanism, 62: housing, 70: rail, 72: slider, 74: ball screw, 76: Motor 78: X-axis scale 80: Z-axis scale 100: control unit 102: processing unit 104: storage unit 106: measuring force adjustment unit 108: arm position adjustment unit 110: drive mechanism control unit 11 ... stylus movement control unit

Claims (6)

被測定物を載置するベースと、
前記ベースに設けられた支柱と、
前記支柱に設けられZ軸に移動自在のZ軸駆動機構と、前記Z軸駆動機構に設けられたX軸駆動機構とを含む駆動機構と、
アームと前記アームの先端側に設けられた触針とを有する測定子と、
前記X軸駆動機構に取り付けられた変位検出器であって、前記アームを上下方向に搖動自在に支持する支点と、前記アームの変位を測定する変位読み取り部とを有する変位検出器と、
前記変位検出器、及び前記駆動機構を制御する制御装置と、
を備える形状測定機であって、
前記触針の先端位置を移動させる触針位置調整機構を、備え、
前記制御装置は、前記測定子の測定データであって且つ前記X軸駆動機構により前記測定子を前記被測定物の表面に沿ってX軸方向に移動させることで得られた前記被測定物の表面形状に関する測定データを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された前記測定データに基づいて前記触針位置調整機構を制御して前記触針を次の測定開始位置に移動させる触針移動制御部と、
を備える形状測定機。
A base on which an object to be measured is placed;
A post provided on the base,
A drive mechanism including a Z-axis drive mechanism provided on the column and movable on the Z-axis, and an X-axis drive mechanism provided on the Z-axis drive mechanism;
A probe having an arm and a stylus provided on the tip side of the arm;
A displacement detector attached to the X-axis drive mechanism, the displacement detector having a fulcrum for supporting the arm so as to be vertically movable and a displacement reading unit for measuring the displacement of the arm;
The displacement detector, and a control device that controls the drive mechanism;
A shape measuring machine comprising
A stylus position adjusting mechanism for moving the tip position of the stylus;
The control device is measurement data of the measurement element and is obtained by moving the measurement element along the surface of the measurement object in the X-axis direction by the X-axis drive mechanism. A storage unit for storing measurement data related to the surface shape, and a stylus movement for controlling the stylus position adjustment mechanism based on the measurement data stored in the storage unit to move the stylus to the next measurement start position A control unit,
Shape measuring machine equipped with
前記触針位置調整機構が前記変位検出器に設けられたアーム位置調整機構である請求項1に記載の形状測定機。   The shape measuring machine according to claim 1, wherein the stylus position adjusting mechanism is an arm position adjusting mechanism provided in the displacement detector. 前記触針位置調整機構が、前記アームの後端部に設けられた測定力調整機構である請求項1に記載の形状測定機。   The shape measuring machine according to claim 1, wherein the stylus position adjusting mechanism is a measuring force adjusting mechanism provided at a rear end of the arm. 前記触針位置調整機構が前記Z軸駆動機構である請求項1に記載の形状測定機。   The shape measuring machine according to claim 1, wherein the stylus position adjustment mechanism is the Z-axis drive mechanism. 前記触針位置調整機構が、前記アームの位置調整を行う前記変位検出器に設けられアーム位置調整機構、前記Z軸駆動機構、及び前記触針の測定力を調整する前記アームに後端部に設けられた測定力調整機構の少なくとも二つを含む請求項1に記載の形状測定機。   The stylus position adjustment mechanism is provided in the displacement detector that adjusts the position of the arm, and the arm position adjustment mechanism, the Z-axis drive mechanism, and the rear end of the arm adjust the measurement force of the stylus. 2. A profilometer according to claim 1, comprising at least two of the provided measuring force adjustment mechanisms. 前記触針は、前記アームの搖動方向に延設された上向き触針及び下向き触針で構成される請求項1から5の何れか一項に記載の形状測定機。   The shape measuring machine according to any one of claims 1 to 5, wherein the stylus comprises an upward stylus and a downward stylus extending in a peristaltic direction of the arm.
JP2019024535A 2019-02-14 2019-02-14 Shape measuring instrument Pending JP2019090832A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019024535A JP2019090832A (en) 2019-02-14 2019-02-14 Shape measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019024535A JP2019090832A (en) 2019-02-14 2019-02-14 Shape measuring instrument

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015071935A Division JP6679215B2 (en) 2015-03-31 2015-03-31 Shape measuring machine and its control method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019090832A true JP2019090832A (en) 2019-06-13

Family

ID=66836283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019024535A Pending JP2019090832A (en) 2019-02-14 2019-02-14 Shape measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2019090832A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112461120A (en) * 2019-09-06 2021-03-09 株式会社三丰 Roughness tester
JP2025036506A (en) * 2019-08-23 2025-03-14 株式会社東京精密 Shape measuring device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006308476A (en) * 2005-04-28 2006-11-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd Apparatus for measuring surface roughness/shape
JP2012225743A (en) * 2011-04-19 2012-11-15 Mitsutoyo Corp Surface texture measuring machine

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006308476A (en) * 2005-04-28 2006-11-09 Tokyo Seimitsu Co Ltd Apparatus for measuring surface roughness/shape
JP2012225743A (en) * 2011-04-19 2012-11-15 Mitsutoyo Corp Surface texture measuring machine

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2025036506A (en) * 2019-08-23 2025-03-14 株式会社東京精密 Shape measuring device
CN112461120A (en) * 2019-09-06 2021-03-09 株式会社三丰 Roughness tester
CN112461120B (en) * 2019-09-06 2024-05-24 株式会社三丰 Roughness Tester

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100410618C (en) Measuring device
US9341554B2 (en) Hardness tester
US8096061B2 (en) Instrument for measuring dimensions and height gauge
JP6144157B2 (en) Shape measuring device and V-groove centripetal measuring method
EP2312263B1 (en) Offset Amount Calibrating Method and Surface Profile Measuring Machine
EP2141445B1 (en) Measuring instrument
US9207059B2 (en) Operation of a coordinate measuring machine
JP2013113715A (en) Surface quality measuring machine
JP6679215B2 (en) Shape measuring machine and its control method
JP2005181293A (en) Surface-copying measuring instrument, and method of preparing correction table for copying probe
JP2019090832A (en) Shape measuring instrument
JP7565488B2 (en) Shape measuring instrument and measuring force adjustment method
JP2009186207A (en) Probe straightness measuring method
CN110657739B (en) Method for controlling surface texture measuring device
JP5642213B2 (en) Machine tool level adjustment method and apparatus
JP5986880B2 (en) Measuring machine and measuring force adjusting method
JP2627006B2 (en) Method for controlling mutual distance between robot and workpiece and calibration data creation device therefor
JP2021077118A (en) Deflection amount calculation device and program
CN105387810A (en) Electromagnetic bearing self-tilting micrometric displacement sensor system with controllable measuring force
JP2009063417A (en) Profile measuring device and method for controlling profile measuring device
JP6726566B2 (en) Drive unit tilt adjusting method and drive unit tilt adjusting program
JP2020067443A (en) Shape measurement device and shape measurement method
WO2026009786A1 (en) Measurement device, measurement method, and measurement control program
JPH07248224A (en) Automatic size-measuring device
JP2011064464A (en) Shape measuring device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20191211

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191217

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200212

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200811