JP2018511161A - 圧電多層デバイスを製造するための方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】 図1
Description
A)1つの圧電材料を含むグリーンシート(複数)上に、1つの電極材料を取り付けるステップ。
B)上記の圧電材料を含む、少なくとも1つのグリーンシート上に、1つの第1の助剤の層を取り付けるステップ。
C)1つの積層体を形成するステップであって、この積層体においては上記のグリーンシートは、その上に電極材料が取り付けられており、上下に重なって配設されており、ここでこの積層体には、上記のグリーンシートの少なくとも1枚が配設されており、このグリーンシート上に上記の第1の助剤の層が取り付けられているステップ。
D)上記の積層体を焼結するステップであって、この焼結の際に上記の第1の助剤の層の密度が低下するステップ。
E)上記の積層体を焼成するステップであって、ここでこの積層体が1つの第1の助剤の層に沿って2つの多層デバイスに個々に分離されるステップ。
2 : 多層デバイス
3 : グリーンシート
4 : 圧電層
5 : 電極材料
6a : 第1の内部電極
6b : 第2の内部電極
7 : 第1の外面
8 : 第2の外面
9 : 第1の助剤
10 : 第2の助剤
11 : 脆弱層
12 : 端面
13 : 外部電極
Claims (13)
- 圧電多層デバイス(2)を製造するための方法であって、
A)1つの圧電材料を含むグリーンシート(3)上に、1つの電極材料(5)を取り付けるステップと、
B)前記圧電材料を含む、少なくとも1つのグリーンシート(3)上に、1つの第1の助剤(9)の層を取り付けるステップと、
C)1つの積層体(1)を形成するステップであって、当該積層体においては前記グリーンシート(3)は、その上に電極材料(5)が取り付けられており、上下に重なって配設されており、当該積層体(1)には、前記グリーンシート(3)の少なくとも1枚が配設されており、当該グリーンシート上に前記第1の助剤(9)の層が取り付けられるステップと、
D)前記積層体(1)を焼結するステップであって、当該焼結の際に前記第1の助剤(9)の層の密度が低下するステップと、
E)前記積層体(1)を焼成するステップであって、この際当該積層体(1)が前記第1の助剤の層に沿って2つの多層デバイス(2)に個々に分離されるステップと、
を備えることを特徴とする方法。 - 前記積層体(1)の焼成は、最高焼成温度に達するまで毎分10〜30℃で上昇する温度で行われることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記積層体(1)の焼成の際には、前記最高焼成温度に達した後、毎分10〜30℃で温度が低下されることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記最高焼成温度は、720〜800℃であり、好ましくは750〜770℃であることを特徴とする、請求項2または3に記載の方法。
- 前記第1の助剤(9)は、少なくとも1つの第1の成分および1つの第2の成分を含み、これらの成分は前記処理ステップD)において互いに化学的に反応することを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1の成分としてCuO、前記第2の成分としてCuが選択されることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 前記第1の助剤(9)は、1つの不活性な無機材料を含むことを特徴とする、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記不活性な無機材料は酸化ジルコニウム(IV)であることを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 前記第1の助剤(9)での、前記不活性な無機材料の分量は、少なくとも40重量%となっていることを特徴とする、請求項7または8に記載の方法。
- 請求項1乃至9のいずれか1項に記載の方法において、
さらに前記処理ステップC)では、少なくとも1枚のグリーンシート(3)が前記積層体(1)に配設されており、当該グリーンシートは前記圧電材料を含み、そして当該グリーンシート上に1つの第2の助剤(10)の1つの層が取り付けられ、
前記処理ステップD)では、前記第2の助剤(10)からなる少なくとも1つの層の密度が低下し、こうして前記多層デバイス(2)において、前記第2の助剤(10)からなる層の領域において、1つの脆弱層(11)が形成される、
ことを特徴とする方法。 - 請求項7乃至9のいずれか1項に記載の方法を引用する請求項10に記載の方法において、
前記第1の助剤(9)および前記第2の助剤(10)は、同じ成分を含み、
前記第1の助剤(9)における前記不活性な無機材料の分量は、前記第2の助剤(10)におけるよりも多くなっている、
ことを特徴とする方法。 - 前記処理ステップD)の後で、かつ前記処理ステップE)における、少なくとも2つの多層デバイス(2)への個々の分離の前に、さらなる加工ステップが実施され、当該加工ステップでは、複数の前記多層デバイス(2)が一体となっている前記積層体(1)で処理されることを特徴とする、請求項1乃至11いずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも2つの多層デバイス(2)に個々に分離する前に、前記積層体(1)のエッジ(複数)は研磨され、当該研磨の際に当該積層体が個々に分離されることが起こらないように、研磨圧が調整されることを特徴とする、請求項1乃至12のいずれか1項に記載の方法。
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