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JP2018201868A - Gradient magnetic field coil - Google Patents

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JP2018201868A
JP2018201868A JP2017111015A JP2017111015A JP2018201868A JP 2018201868 A JP2018201868 A JP 2018201868A JP 2017111015 A JP2017111015 A JP 2017111015A JP 2017111015 A JP2017111015 A JP 2017111015A JP 2018201868 A JP2018201868 A JP 2018201868A
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Abstract

【課題】温度測定素子の交換を容易にするとともに温度測定素子の破損を防止すること。【解決手段】傾斜磁場コイル103は、含侵により形成された傾斜磁場コイル本体と、傾斜磁場コイル本体の外表面に配置され、傾斜磁場コイル本体の温度を測定する温度測定素子103dとを備える。温度測定素子103dの電流入出力端は、同軸ケーブルに接続される。温度測定素子103dはサーミスタである。同軸ケーブルは、セミリジッドケーブルである。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate replacement of a temperature measuring element and prevent damage to the temperature measuring element. SOLUTION: A gradient magnetic field coil 103 includes a gradient magnetic field coil main body formed by impregnation, and a temperature measuring element 103d arranged on an outer surface of the gradient magnetic field coil main body and measuring the temperature of the gradient magnetic field coil main body. The current input / output end of the temperature measuring element 103d is connected to the coaxial cable. The temperature measuring element 103d is a thermistor. The coaxial cable is a semi-rigid cable. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明の実施形態は、傾斜磁場コイルに関する。   Embodiments described herein relate generally to a gradient coil.

磁気共鳴イメージング装置においては、パルスシーケンスの印加に伴い傾斜磁場コイルが発熱するため、傾斜磁場コイルの温度を測定するための温度測定素子が、配置される場合がある。この場合、温度測定素子は、RFコイルと傾斜磁場コイルのカップリングを防ぐために設けられるRF(Radio Frequency)シールドの外側の、傾斜磁場コイル導体と近接する位置に配置される場合が多い。   In the magnetic resonance imaging apparatus, since the gradient magnetic field coil generates heat with the application of the pulse sequence, a temperature measuring element for measuring the temperature of the gradient magnetic field coil may be arranged. In this case, the temperature measuring element is often arranged at a position close to the gradient coil conductor outside the RF (Radio Frequency) shield provided to prevent coupling between the RF coil and the gradient coil.

しかし、温度測定素子をRFシールドの外側に配置する場合、温度測定素子自身が傾斜磁場コイルの中に埋め込まれている場合が多いことから、故障時のメンテナンスが容易でない場合も多い。   However, when the temperature measuring element is disposed outside the RF shield, the temperature measuring element itself is often embedded in the gradient magnetic field coil, so that maintenance at the time of failure is often not easy.

特開2010−125050号公報JP 2010-1205050 A 特開2016−16077号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2006-16077 特開平6−343616号公報JP-A-6-343616

本発明が解決しようとする課題は、温度測定素子の交換を容易にするとともに温度測定素子の破損を防止することである。   The problem to be solved by the present invention is to facilitate the replacement of the temperature measuring element and to prevent the temperature measuring element from being damaged.

実施形態に係る傾斜磁場コイルは、含侵により形成された傾斜磁場コイル本体と、前記傾斜磁場コイル本体の外表面に配置され、前記傾斜磁場コイル本体の温度を測定する温度測定素子とを備える。温度測定素子の電流入出力端は、同軸ケーブルに接続される。   The gradient coil according to the embodiment includes a gradient coil body formed by impregnation, and a temperature measuring element that is disposed on the outer surface of the gradient coil body and measures the temperature of the gradient coil body. The current input / output terminal of the temperature measuring element is connected to a coaxial cable.

図1は、実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置を示した図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a magnetic resonance imaging apparatus according to an embodiment. 図2は、実施形態に係る傾斜磁場コイルの構成の例を示した図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the configuration of the gradient magnetic field coil according to the embodiment. 図3は、実施形態に係る傾斜磁場コイルの構成の例を示した図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the configuration of the gradient magnetic field coil according to the embodiment. 図4は、実施形態に係る傾斜磁場コイルに係る背景を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the background related to the gradient coil according to the embodiment. 図5は、実施形態に係る傾斜磁場コイルに係る背景を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the background related to the gradient coil according to the embodiment. 図6は、第1の実施形態に係る温度測定素子の配置の例について示した図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of the arrangement of the temperature measuring elements according to the first embodiment. 図7は、第1の実施形態に係る温度測定素子の配置の別の例について示した図である。FIG. 7 is a diagram illustrating another example of the arrangement of the temperature measuring elements according to the first embodiment. 図8は、第2の実施形態に係る温度測定素子の配置の例について示した図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the arrangement of the temperature measuring elements according to the second embodiment. 図9は、第3の実施形態に係る温度測定素子の配置の例について示した図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of the arrangement of the temperature measuring elements according to the third embodiment.

以下、添付図面を用いて、実施形態に係る傾斜磁場コイルを詳細に説明する。   Hereinafter, the gradient coil according to the embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

(第1の実施形態)
図1は、実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置100を示すブロック図である。図1に示すように、磁気共鳴イメージング装置100は、静磁場磁石101と、静磁場磁石101を駆動させるための静磁場電源(図示しない)と、傾斜磁場コイル103と、傾斜磁場電源104と、寝台105と、寝台制御回路106と、送信コイル107と、送信回路108と、受信コイル109と、受信回路110と、シーケンス制御回路120と、画像処理装置130とを備える。なお、磁気共鳴イメージング装置100に、被検体P(例えば、人体)は含まれない。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing a magnetic resonance imaging apparatus 100 according to the embodiment. As shown in FIG. 1, a magnetic resonance imaging apparatus 100 includes a static magnetic field magnet 101, a static magnetic field power source (not shown) for driving the static magnetic field magnet 101, a gradient magnetic field coil 103, a gradient magnetic field power source 104, A bed 105, a bed control circuit 106, a transmission coil 107, a transmission circuit 108, a reception coil 109, a reception circuit 110, a sequence control circuit 120, and an image processing device 130 are provided. The magnetic resonance imaging apparatus 100 does not include the subject P (for example, a human body).

また、図1に示す構成は一例に過ぎない。例えば、シーケンス制御回路120及び画像処理装置130内の各部は、適宜統合若しくは分離して構成されてもよい。   Moreover, the structure shown in FIG. 1 is only an example. For example, the units in the sequence control circuit 120 and the image processing apparatus 130 may be configured to be integrated or separated as appropriate.

静磁場磁石101は、中空の略円筒形状に形成された磁石であり、内部の空間に静磁場を発生する。静磁場磁石101は、例えば、超伝導磁石等であり、静磁場電源から電流の供給を受けて励磁する。なお、静磁場磁石101は、永久磁石でもよく、この場合、磁気共鳴イメージング装置100は、静磁場電源を備えなくてもよい。また、静磁場電源は、磁気共鳴イメージング装置100とは別に備えられてもよい。   The static magnetic field magnet 101 is a magnet formed in a hollow, substantially cylindrical shape, and generates a static magnetic field in an internal space. The static magnetic field magnet 101 is, for example, a superconducting magnet or the like, and is excited by receiving a current supplied from a static magnetic field power source. The static magnetic field magnet 101 may be a permanent magnet. In this case, the magnetic resonance imaging apparatus 100 may not include a static magnetic field power source. The static magnetic field power supply may be provided separately from the magnetic resonance imaging apparatus 100.

傾斜磁場コイル103は、中空の略円筒形状に形成されたコイルであり、静磁場磁石101の内側に配置される。また、温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル103の外表面に配置され、傾斜磁場コイル103の温度を測定する温度測定素子である。なお、温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル103の一部として、傾斜磁場コイル本体の外表面に配置されていても良いし、傾斜磁場コイル103には含まれない部品として、傾斜磁場コイル本体の外表面に配置されていてもよい。温度測定素子103dは、シーケンス制御回路120と接続される。例えば温度測定素子103dが傾斜磁場コイル103の温度に異常を感知すると、傾斜磁場コイル103の温度情報が、シーケンス制御回路120に送信される。シーケンス制御回路120は、温度測定素子103dから取得した温度情報に基づいて、例えばパルスシーケンスの停止等の処理を必要に応じて行う。なお、傾斜磁場コイル103及び温度測定素子103dのより詳細な説明については、図2及び図3を用いて後述する。   The gradient magnetic field coil 103 is a coil formed in a hollow, substantially cylindrical shape, and is disposed inside the static magnetic field magnet 101. The temperature measuring element 103 d is a temperature measuring element that is disposed on the outer surface of the gradient magnetic field coil 103 and measures the temperature of the gradient magnetic field coil 103. The temperature measuring element 103d may be disposed on the outer surface of the gradient magnetic field coil body as a part of the gradient magnetic field coil 103, or as a component not included in the gradient magnetic field coil 103, It may be arranged on the outer surface. The temperature measuring element 103 d is connected to the sequence control circuit 120. For example, when the temperature measuring element 103 d senses an abnormality in the temperature of the gradient magnetic field coil 103, temperature information of the gradient magnetic field coil 103 is transmitted to the sequence control circuit 120. The sequence control circuit 120 performs, for example, processing such as stopping of the pulse sequence as needed based on the temperature information acquired from the temperature measuring element 103d. A more detailed description of the gradient magnetic field coil 103 and the temperature measuring element 103d will be described later with reference to FIGS.

寝台105は、被検体Pが載置される天板105aを備え、寝台制御回路106による制御の下、天板105aを、被検体Pが載置された状態で、傾斜磁場コイル103の空洞(撮像口)内へ挿入する。通常、寝台105は、長手方向が静磁場磁石101の中心軸と平行になるように設置される。寝台制御回路106は、画像処理装置130による制御の下、寝台105を駆動して天板105aを長手方向及び上下方向へ移動する。   The couch 105 includes a couchtop 105a on which the subject P is placed. Under the control of the couch control circuit 106, the couchtop 105a is placed in the cavity (with the subject P placed) on the cavity ( Insert it into the imaging port. Usually, the bed 105 is installed so that the longitudinal direction is parallel to the central axis of the static magnetic field magnet 101. The couch control circuit 106 drives the couch 105 under the control of the image processing device 130 to move the couchtop 105a in the longitudinal direction and the vertical direction.

送信コイル107は、傾斜磁場コイル103の内側に配置され、送信回路108からRF(Radio Frequency)パルスの供給を受けて、高周波磁場を発生する。送信回路108は、対象とする原子の種類及び磁場強度で定まるラーモア(Larmor)周波数に対応するRFパルスを送信コイル107に供給する。   The transmission coil 107 is disposed inside the gradient magnetic field coil 103 and receives a supply of an RF (Radio Frequency) pulse from the transmission circuit 108 to generate a high-frequency magnetic field. The transmission circuit 108 supplies an RF pulse corresponding to a Larmor frequency determined by the type of the target atom and the magnetic field strength to the transmission coil 107.

受信コイル109は、傾斜磁場コイル103の内側に配置され、高周波磁場の影響によって被検体Pから発せられる磁気共鳴信号を受信する。受信コイル109は、磁気共鳴信号を受信すると、受信した磁気共鳴信号を受信回路110へ出力する。   The reception coil 109 is disposed inside the gradient magnetic field coil 103 and receives a magnetic resonance signal emitted from the subject P due to the influence of the high-frequency magnetic field. When receiving the magnetic resonance signal, the reception coil 109 outputs the received magnetic resonance signal to the reception circuit 110.

なお、上述した送信コイル107及び受信コイル109は一例に過ぎない。送信機能のみを備えたコイル、受信機能のみを備えたコイル、若しくは送受信機能を備えたコイルのうち、1つ若しくは複数を組み合わせることによって構成されればよい。   Note that the transmission coil 107 and the reception coil 109 described above are merely examples. What is necessary is just to comprise by combining one or more among the coil provided only with the transmission function, the coil provided only with the reception function, or the coil provided with the transmission / reception function.

受信回路110は、受信コイル109から出力される磁気共鳴信号を検出し、検出した磁気共鳴信号に基づいて磁気共鳴データを生成する。具体的には、受信回路110は、受信コイル109から出力される磁気共鳴信号をデジタル変換することによって磁気共鳴データを生成する。また、受信回路110は、生成した磁気共鳴データをシーケンス制御回路120へ送信する。なお、受信回路110は、静磁場磁石101や傾斜磁場コイル103等を備える架台装置側に備えられてもよい。   The receiving circuit 110 detects the magnetic resonance signal output from the receiving coil 109, and generates magnetic resonance data based on the detected magnetic resonance signal. Specifically, the receiving circuit 110 generates magnetic resonance data by digitally converting the magnetic resonance signal output from the receiving coil 109. In addition, the reception circuit 110 transmits the generated magnetic resonance data to the sequence control circuit 120. The receiving circuit 110 may be provided on the gantry device side including the static magnetic field magnet 101, the gradient magnetic field coil 103, and the like.

シーケンス制御回路120は、画像処理装置130から送信されるシーケンス情報に基づいて、傾斜磁場電源104、送信回路108及び受信回路110を駆動することによって、被検体Pの撮像を行う。すなわち、シーケンス制御回路120は、シーケンス情報に基づいて、傾斜磁場コイル103に電圧を印加してパルスシーケンスを実行する。ここで、シーケンス情報は、撮像を行うための手順を定義した情報である。シーケンス情報には、傾斜磁場電源104が傾斜磁場コイル103に供給する電流の強さや電流を供給するタイミング、送信回路108が送信コイル107に供給するRFパルスの強さやRFパルスを印加するタイミング、受信回路110が磁気共鳴信号を検出するタイミング等が定義される。例えば、シーケンス制御回路120は、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、FPGA(Field Programmable Gate Array)等の集積回路、CPU(Central Processing Unit)、MPU(Micro Processing Unit)等の電子回路である。   The sequence control circuit 120 performs imaging of the subject P by driving the gradient magnetic field power source 104, the transmission circuit 108, and the reception circuit 110 based on the sequence information transmitted from the image processing apparatus 130. That is, the sequence control circuit 120 executes a pulse sequence by applying a voltage to the gradient coil 103 based on the sequence information. Here, the sequence information is information defining a procedure for performing imaging. The sequence information includes the strength of the current supplied from the gradient magnetic field power source 104 to the gradient magnetic field coil 103, the timing of supplying the current, the strength of the RF pulse supplied from the transmission circuit 108 to the transmission coil 107, the timing of applying the RF pulse, The timing at which the circuit 110 detects the magnetic resonance signal is defined. For example, the sequence control circuit 120 is an integrated circuit such as an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) or FPGA (Field Programmable Gate Array), or an electronic circuit such as a CPU (Central Processing Unit) or MPU (Micro Processing Unit).

なお、シーケンス制御回路120は、傾斜磁場電源104、送信回路108及び受信回路110を駆動して被検体Pを撮像した結果、受信回路110から磁気共鳴データを受信すると、受信した磁気共鳴データを画像処理装置130へ転送する。また、温度測定素子103dから出力された信号を元に異常時の処理として傾斜磁場電源の制御を止めたり、場合によっては傾斜磁場電源の電源を落とす役割も担う。なお、シーケンス制御回路120は、シーケンス制御部の一例である。   When the magnetic resonance data is received from the reception circuit 110 as a result of driving the gradient magnetic field power source 104, the transmission circuit 108, and the reception circuit 110 and imaging the subject P, the sequence control circuit 120 displays the received magnetic resonance data as an image. Transfer to the processing device 130. In addition, based on the signal output from the temperature measuring element 103d, the control of the gradient magnetic field power supply is stopped as an abnormal process, or the gradient magnetic field power supply is turned off in some cases. The sequence control circuit 120 is an example of a sequence control unit.

画像処理装置130は、磁気共鳴イメージング装置100の全体制御や、画像の生成等を行う。画像処理装置130は、記憶回路132、入力装置134、ディスプレイ135、処理回路150を備える。処理回路150は、インタフェース機能131、制御機能133、画像生成機能136を備える。   The image processing apparatus 130 performs overall control of the magnetic resonance imaging apparatus 100, image generation, and the like. The image processing device 130 includes a storage circuit 132, an input device 134, a display 135, and a processing circuit 150. The processing circuit 150 includes an interface function 131, a control function 133, and an image generation function 136.

第1の実施形態では、インタフェース機能131、制御機能133、画像生成機能136にて行われる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路132へ記憶されている。処理回路150はプログラムを記憶回路132から読み出し、実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路150は、図1の処理回路150内に示された各機能を有することになる。なお、図1においては単一の処理回路150にて、インタフェース機能131、制御機能133、画像生成機能136にて行われる処理機能が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路150を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。   In the first embodiment, the processing functions performed by the interface function 131, the control function 133, and the image generation function 136 are stored in the storage circuit 132 in the form of a program that can be executed by a computer. The processing circuit 150 is a processor that realizes a function corresponding to each program by reading the program from the storage circuit 132 and executing the program. In other words, the processing circuit 150 in a state where each program is read has each function shown in the processing circuit 150 of FIG. In FIG. 1, it has been described that the processing functions performed by the interface function 131, the control function 133, and the image generation function 136 are realized by a single processing circuit 150, but a plurality of independent processors are combined. The processing circuit 150 may be configured so that the functions are realized by each processor executing a program.

換言すると、上述のそれぞれの機能がプログラムとして構成され、1つの処理回路が各プログラムを実行する場合であってもよいし、特定の機能が専用の独立したプログラム実行回路に実装される場合であってもよい。   In other words, each function described above may be configured as a program, and one processing circuit may execute each program, or a specific function may be implemented in a dedicated independent program execution circuit. May be.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphical Processing Unit)或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路132に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。   The term “processor” used in the above description is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphical Processing Unit), an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (for example, It means circuits such as a programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (Complex Programmable Logic Device), and a field programmable gate array (FPGA). . The processor implements a function by reading and executing the program stored in the storage circuit 132.

なお、記憶回路132にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、寝台制御回路106、送信回路108、受信回路110等も同様に、上記のプロセッサ等の電子回路により構成される。   Instead of storing the program in the storage circuit 132, the program may be directly incorporated in the processor circuit. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program incorporated in the circuit. Similarly, the bed control circuit 106, the transmission circuit 108, the reception circuit 110, and the like are also configured by electronic circuits such as the processor described above.

処理回路150は、インタフェース機能131により、シーケンス情報をシーケンス制御回路120へ送信し、シーケンス制御回路120から磁気共鳴データを受信する。また、インタフェース機能131を有する処理回路150は、磁気共鳴データを受信すると、受信した磁気共鳴データを記憶回路132に格納する。記憶回路132に格納された磁気共鳴データは、制御機能133によってk空間に配置される。この結果、記憶回路132は、k空間データを記憶する。   The processing circuit 150 transmits sequence information to the sequence control circuit 120 by the interface function 131 and receives magnetic resonance data from the sequence control circuit 120. When the processing circuit 150 having the interface function 131 receives the magnetic resonance data, the processing circuit 150 stores the received magnetic resonance data in the storage circuit 132. The magnetic resonance data stored in the storage circuit 132 is arranged in the k space by the control function 133. As a result, the storage circuit 132 stores k-space data.

記憶回路132は、インタフェース機能131を有する処理回路150によって受信された磁気共鳴データや、制御機能133を有する処理回路150によってk空間に配置されたk空間データ、画像生成機能136を有する処理回路150によって生成された画像データ等を記憶する。例えば、記憶回路132は、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等である。   The storage circuit 132 includes magnetic resonance data received by the processing circuit 150 having the interface function 131, k-space data arranged in the k space by the processing circuit 150 having the control function 133, and a processing circuit 150 having the image generation function 136. The image data generated by the above is stored. For example, the storage circuit 132 is a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory device such as a flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like.

入力装置134は、操作者からの各種指示や情報入力を受け付ける。入力装置134は、例えば、マウスやトラックボール等のポインティングデバイス、モード切替スイッチ等の選択デバイス、あるいはキーボード等の入力デバイスである。ディスプレイ135は、制御機能133を有する処理回路150による制御の下、撮像条件の入力を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)や、画像生成機能136を有する処理回路150によって生成された画像等を表示する。ディスプレイ135は、例えば、液晶表示器等の表示デバイスである。   The input device 134 receives various instructions and information input from the operator. The input device 134 is, for example, a pointing device such as a mouse or a trackball, a selection device such as a mode switch, or an input device such as a keyboard. The display 135 displays a GUI (Graphical User Interface) for receiving input of imaging conditions, an image generated by the processing circuit 150 having the image generation function 136, and the like under the control of the processing circuit 150 having the control function 133. To do. The display 135 is a display device such as a liquid crystal display.

処理回路150は、制御機能133により、磁気共鳴イメージング装置100の全体制御を行い、撮像や画像の生成、画像の表示等を制御する。例えば、制御機能133を有する処理回路150は、撮像条件(撮像パラメータ等)の入力をGUI上で受け付け、受け付けた撮像条件に従ってシーケンス情報を生成する。また、制御機能133を有する処理回路150は、生成したシーケンス情報をシーケンス制御回路120へ送信する。   The processing circuit 150 performs overall control of the magnetic resonance imaging apparatus 100 by the control function 133, and controls imaging, image generation, image display, and the like. For example, the processing circuit 150 having the control function 133 accepts input of imaging conditions (imaging parameters, etc.) on the GUI, and generates sequence information according to the accepted imaging conditions. In addition, the processing circuit 150 having the control function 133 transmits the generated sequence information to the sequence control circuit 120.

処理回路150は、画像生成機能136により、k空間データを記憶回路132から読み出し、読み出したk空間データにフーリエ変換等の再構成処理を施すことで、画像を生成する。   The processing circuit 150 uses the image generation function 136 to read k-space data from the storage circuit 132, and performs reconstruction processing such as Fourier transform on the read k-space data to generate an image.

続いて、図2及び図3を用いて、実施形態に係る傾斜磁場コイル103についてより詳細に説明する。図2及び図3は、実施形態に係る傾斜磁場コイル103の構成の例を示した図である。図2は、図1における静磁場磁石101、傾斜磁場コイル103、送信コイル107、受信コイル109を拡大表示した断面図である。   Subsequently, the gradient magnetic field coil 103 according to the embodiment will be described in more detail with reference to FIGS. 2 and 3. 2 and 3 are diagrams illustrating examples of the configuration of the gradient coil 103 according to the embodiment. 2 is an enlarged cross-sectional view of the static magnetic field magnet 101, the gradient magnetic field coil 103, the transmission coil 107, and the reception coil 109 in FIG.

図2において、静磁場磁石101、送信コイル107、受信コイル109は、それぞれ図1の静磁場磁石101、送信コイル107、受信コイル109に対応する。また、図1の傾斜磁場コイル103は、例えば図2により示されているように、傾斜磁場コイル本体103bと、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置され、傾斜磁場コイル本体103bの本体の温度を測定する温度測定素子103dとを備える。傾斜磁場コイル本体103bは、例えば樹脂などにより含侵により、傾斜磁場コイル本体103bのコイル部分であるコイル部分103aと、RF(Radio Frequency)シールド103cとを内部に含んで形成され、略円筒型の形状を有する。   2, a static magnetic field magnet 101, a transmission coil 107, and a reception coil 109 correspond to the static magnetic field magnet 101, the transmission coil 107, and the reception coil 109 in FIG. 1 is disposed on the outer surface of the gradient coil body 103b and the gradient coil body 103b, for example, as shown in FIG. 2, and the temperature of the gradient coil body 103b is determined. A temperature measuring element 103d for measuring The gradient magnetic field coil main body 103b is formed to include a coil portion 103a that is a coil portion of the gradient magnetic field coil main body 103b and an RF (Radio Frequency) shield 103c, for example, by impregnation with resin or the like, and is substantially cylindrical. Has a shape.

図3は、図2のA−A’断面における傾斜磁場コイル103等を表示した断面図である。図3に示されているように、傾斜磁場コイル103の断面は、略円形の形状を有し、傾斜磁場コイル本体103bと、傾斜磁場コイル本体103bの内周部分の外表面に配置された温度測定素子103dとで構成され、その内側に、送信コイル107及び受信コイル109が、被検体Pを囲むように配置される。また、傾斜磁場コイル103は、コイル部分103aとRFシールド103cとを有し、含侵により形成された構造を有する。   FIG. 3 is a sectional view showing the gradient magnetic field coil 103 and the like in the section A-A ′ of FIG. 2. As shown in FIG. 3, the gradient magnetic field coil 103 has a substantially circular cross section, and the temperature of the gradient magnetic field coil body 103b and the temperature disposed on the outer surface of the inner peripheral portion of the gradient magnetic field coil body 103b. The transmitter coil 107 and the receiver coil 109 are disposed inside the measurement element 103d so as to surround the subject P. The gradient coil 103 has a coil portion 103a and an RF shield 103c, and has a structure formed by impregnation.

図2に戻り、傾斜磁場コイル本体103bのコイル部分103aは、傾斜磁場コイル103の各軸に対応するコイル(X軸に対応するコイル、Y軸に対応するコイル、Z軸に対応するコイル等)が積層されたメインコイルを含んで構成される。コイル部分103aは、例えば樹脂などにより、含侵されて形成される。コイル部分103aの具体例としては、傾斜磁場を発生するメインコイルと、漏洩磁場を打ち消すシールド用の磁場を発生するシールドコイルとを含んで構成されるASGC(Actively Shielded Gradient Coil)である。かかる場合、傾斜磁場コイルは、例えば、円筒内部の空間からの距離が近い順に、冷却管、メインコイル、冷却管、シムトレイ、冷却管、シールドコイルが配置されて構成される。   Returning to FIG. 2, the coil portion 103 a of the gradient magnetic field coil main body 103 b is a coil corresponding to each axis of the gradient magnetic field coil 103 (coil corresponding to the X axis, coil corresponding to the Y axis, coil corresponding to the Z axis, etc.). Is configured to include a main coil laminated. The coil portion 103a is formed to be impregnated with, for example, a resin. A specific example of the coil portion 103a is an ASGC (Actively Shielded Gradient Coil) configured to include a main coil that generates a gradient magnetic field and a shield coil that generates a magnetic field for shielding that cancels the leakage magnetic field. In such a case, the gradient magnetic field coil is configured, for example, by arranging a cooling pipe, a main coil, a cooling pipe, a shim tray, a cooling pipe, and a shield coil in order of increasing distance from the space inside the cylinder.

メインコイルは、互いに直交するX、Y、及びZの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成されており、これら3つのコイルは、傾斜磁場電源104から個別に電流の供給を受けて、X、Y、及びZの各軸に沿って磁場強度が変化する傾斜磁場を発生する。コイル部分103aによって発生するX、Y、及びZの各軸の傾斜磁場は、例えば、スライス用傾斜磁場Gs、位相エンコード用傾斜磁場Ge、及びリードアウト用傾斜磁場Grである。また、シールドコイルも同様に、互いに直交するX、Y、及びZの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成されており、これら3つのコイルは、傾斜磁場電源104から個別に電流の供給を受けて、X、Y、及びZの各軸に沿ってシールド用の磁場を発生する。また、冷却管は、冷媒を循環させてコイルの冷却を行う。シムトレイは、所定のポケットに所定の枚数の鉄シムが収納されることで、シミングを実現する。   The main coil is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes orthogonal to each other, and these three coils are individually supplied with current from the gradient magnetic field power supply 104. , X, Y, and Z to generate a gradient magnetic field whose magnetic field strength varies along each axis. The gradient magnetic fields of the X, Y, and Z axes generated by the coil portion 103a are, for example, a slice gradient magnetic field Gs, a phase encoding gradient magnetic field Ge, and a readout gradient magnetic field Gr. Similarly, the shield coil is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes orthogonal to each other, and these three coils are individually supplied with current from the gradient magnetic field power source 104. When supplied, a magnetic field for shielding is generated along each of the X, Y, and Z axes. The cooling pipe cools the coil by circulating the refrigerant. The shim tray realizes shimming by storing a predetermined number of iron shims in a predetermined pocket.

なお、コイル部分103aの例としては、ASGCに限られず、例えばシールドコイルを有しない通常のコイルであってもよい。かかる場合、コイル部分103aは、互いに直交するX、Y、及びZの各軸に対応する3つのコイルが組み合わされて形成され、これら3つのコイルは、傾斜磁場電源104から個別に電流の供給を受けて、X、Y、及びZの各軸に沿って磁場強度が変化する傾斜磁場を発生する。傾斜磁場電源104は、コイル部分103aに電流を供給する。   In addition, as an example of the coil part 103a, it is not restricted to ASGC, For example, the normal coil which does not have a shield coil may be sufficient. In such a case, the coil portion 103 a is formed by combining three coils corresponding to the X, Y, and Z axes orthogonal to each other, and these three coils individually supply current from the gradient magnetic field power supply 104. In response, a gradient magnetic field is generated in which the magnetic field strength varies along the X, Y, and Z axes. The gradient magnetic field power source 104 supplies a current to the coil portion 103a.

RFシールド103cは、傾斜磁場コイル本体103b、特にコイル部分103aと、送信コイル107及び受信コイル109等のRFコイルとの電磁気的カップリングを防ぐための高周波電波シールド(RFシールド)である。RFシールド103cは、例えば銅板で構成される。なお、RFシールド103cの素材は銅板に限られず、例えばその他の材質で構成された金属であってもよい。RFシールド103cは、樹脂などで含侵されて、傾斜磁場コイル本体103bに埋め込まれて形成される。   The RF shield 103c is a high-frequency radio wave shield (RF shield) for preventing electromagnetic coupling between the gradient coil main body 103b, particularly the coil portion 103a, and the RF coils such as the transmission coil 107 and the reception coil 109. The RF shield 103c is made of, for example, a copper plate. The material of the RF shield 103c is not limited to a copper plate, and may be a metal made of other materials, for example. The RF shield 103c is impregnated with a resin or the like and embedded in the gradient magnetic field coil body 103b.

温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの温度を測定するための温度測定素子である。温度測定素子103dの例としては、例えばサーミスタ等の半導体素子である。また、温度測定素子103dの別の例として、リニア抵抗や、白金測温抵抗体など測温抵抗体を用いた素子でもよく、また熱電対を利用した素子やIC温度センサであってもよい。   The temperature measuring element 103d is a temperature measuring element for measuring the temperature of the gradient magnetic field coil body 103b. An example of the temperature measuring element 103d is a semiconductor element such as a thermistor. Further, as another example of the temperature measuring element 103d, an element using a resistance temperature detector such as a linear resistance or a platinum resistance temperature detector, an element using a thermocouple, or an IC temperature sensor may be used.

実施形態に係る温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの内周部分の外表面に配置される。従って、実施形態に係る温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの内周に設置されるRFコイル(送信コイル107及び受信コイル109)と、RFシールド103cとの間に配置される。   The temperature measuring element 103d according to the embodiment is disposed on the outer surface of the inner peripheral portion of the gradient coil body 103b. Therefore, the temperature measurement element 103d according to the embodiment is disposed between the RF coil (the transmission coil 107 and the reception coil 109) installed on the inner periphery of the gradient coil main body 103b and the RF shield 103c.

ここで、実施形態において、温度測定素子103dを、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置する背景について説明する。図4及び図5は、実施形態に係る傾斜磁場コイルに係る背景を説明するための図である。図4及び図5には、温度測定素子103dが、RFシールド103cの外側に配置されている場合について示されている。   Here, the background of disposing the temperature measuring element 103d on the outer surface of the gradient magnetic field coil body 103b in the embodiment will be described. FIG.4 and FIG.5 is a figure for demonstrating the background which concerns on the gradient magnetic field coil which concerns on embodiment. 4 and 5 show a case where the temperature measuring element 103d is arranged outside the RF shield 103c.

図4及び図5の場合では、温度測定素子103dがRFシールド103cの外側に配置されているので、RFコイルと傾斜磁場コイル本体103bとのカップリングは抑制される。しかしながら、このような温度測定素子103dの配置では、温度測定素子103dが傾斜磁場コイル本体103bの中に埋め込まれているために、故障時や破損時のメンテナンスや交換が容易でない。従って、故障時のメンテナンスの容易さという観点では、温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの外周面に配置されるのが望ましい。また、ホットスポットが傾斜磁場コイルの最内層にある場合や、温度測定素子103dの配置場所に制約がありRFシールド103cの外側にある場合でも、温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置されるのが望ましい。   In the case of FIGS. 4 and 5, since the temperature measuring element 103d is disposed outside the RF shield 103c, the coupling between the RF coil and the gradient coil body 103b is suppressed. However, in such an arrangement of the temperature measuring element 103d, since the temperature measuring element 103d is embedded in the gradient magnetic field coil body 103b, maintenance and replacement at the time of failure or damage are not easy. Therefore, from the viewpoint of ease of maintenance at the time of failure, it is desirable that the temperature measuring element 103d is disposed on the outer peripheral surface of the gradient coil body 103b. Further, even when the hot spot is in the innermost layer of the gradient magnetic field coil or when the location of the temperature measurement element 103d is limited and outside the RF shield 103c, the temperature measurement element 103d is located outside the gradient coil main body 103b. It is desirable to be placed on the surface.

かかる背景に鑑みて、実施形態においては、温度測定素子103dは、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置される。これに伴い、温度測定素子103dが、RFシールド103cの内側に配置されることになるので、そのままでは、温度測定素子103dの電流供給線や温度測定素子103dのセンサ自体が、送信コイル107及び受信コイル109の影響を受けることが考えられる。従って、実施形態においては、温度測定素子103dの配置や配線等に工夫を行うことにより、温度測定素子103dが送信コイル107及び受信コイル109から受ける影響を低下させる。これにより、温度測定素子103dの交換を容易にするとともに温度測定素子103dの破損を防止することができる。   In view of such a background, in the embodiment, the temperature measuring element 103d is disposed on the outer surface of the gradient coil body 103b. As a result, the temperature measuring element 103d is disposed inside the RF shield 103c, so that the current supply line of the temperature measuring element 103d and the sensor of the temperature measuring element 103d itself are not connected to the transmitting coil 107 and the receiving coil. It may be affected by the coil 109. Therefore, in the embodiment, the influence of the temperature measurement element 103d from the transmission coil 107 and the reception coil 109 is reduced by devising the arrangement and wiring of the temperature measurement element 103d. Thereby, replacement of the temperature measuring element 103d can be facilitated and damage to the temperature measuring element 103d can be prevented.

より具体的には、第1の実施形態においては、上述の点を解決するため、温度測定素子103dは、同軸ケーブルに接続される。なお、温度測定素子103dとして、例えばサーミスタ等を選択した場合、電流入出力端に流れる電流は直流である。実施形態において、直流の電流の伝送に対して通常使われず、主に高周波数信号の伝送に用いる同軸ケーブルを使用する理由として、以下に述べるように、RFコイルに起因する高周波数電磁場のシールド目的が挙げられる。   More specifically, in the first embodiment, the temperature measuring element 103d is connected to a coaxial cable in order to solve the above-described point. When a thermistor or the like is selected as the temperature measuring element 103d, for example, the current flowing through the current input / output terminal is a direct current. In the embodiment, the reason for using a coaxial cable which is not usually used for transmission of a direct current and mainly used for transmission of a high frequency signal is as follows. Is mentioned.

図6及び図7は、第1の実施形態に係る温度測定素子の配置の例について示した図である。図6及び図7は、図2において、温度測定素子103d及びRFシールド103c付近を拡大して表示したものである。なお、図6及び図7においては、図2と比較して、上下を反転させて説明している。図6に示されているように、温度測定素子103dは、同軸ケーブル12に接続される。具体的には、温度測定素子103dの電流供給線(導線11a)は、同軸ケーブル12の芯線と接続され、温度測定素子103dの他方の導線11bは、同軸ケーブル12のシールド線と接続される。ここで、同軸ケーブル12のシールド線の電位と、RFシールド103cの電位が異なると、浮遊容量が発生するなど好ましくない影響が生じるので、温度測定素子103dは、RFシールド103cと電気的に接地される。   6 and 7 are diagrams illustrating an example of the arrangement of the temperature measuring elements according to the first embodiment. 6 and 7 are enlarged views of the vicinity of the temperature measuring element 103d and the RF shield 103c in FIG. In FIGS. 6 and 7, the upper and lower sides are inverted as compared with FIG. 2. As shown in FIG. 6, the temperature measuring element 103 d is connected to the coaxial cable 12. Specifically, the current supply line (conductor 11a) of the temperature measuring element 103d is connected to the core wire of the coaxial cable 12, and the other conductor 11b of the temperature measuring element 103d is connected to the shield wire of the coaxial cable 12. Here, if the potential of the shielded wire of the coaxial cable 12 is different from the potential of the RF shield 103c, undesirable effects such as the generation of stray capacitance occur. Therefore, the temperature measuring element 103d is electrically grounded to the RF shield 103c. The

図6は、同軸ケーブル12が、外側が導体で構成されているケーブルであるセミリジッドケーブルである場合の、温度測定素子103dとRFシールド103cとの接地について示している。同軸ケーブル12がセミリジッドケーブルであり外側が導体で構成されているので、接触点20を通じて、傾斜磁場コイル本体103bの中に埋め込まれたRFシールド103cと、温度測定素子103dとが、電気的に接地される。これにより、同軸ケーブル12のシールド線の内側に、静電遮蔽により、外部の電磁的・静電気的なノイズが入り込まない。また、同軸ケーブル12においては、外部との鎖交磁束が存在しない。従って、温度測定素子103dが、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置されているにも関わらず、RFコイルに起因する高周波電磁場をシールドすることができる。   FIG. 6 shows the grounding between the temperature measuring element 103d and the RF shield 103c when the coaxial cable 12 is a semi-rigid cable that is a cable having a conductor formed on the outside. Since the coaxial cable 12 is a semi-rigid cable and the outside is formed of a conductor, the RF shield 103c embedded in the gradient coil body 103b and the temperature measuring element 103d are electrically grounded through the contact point 20. Is done. Thereby, external electromagnetic and electrostatic noise does not enter inside the shielded wire of the coaxial cable 12 due to electrostatic shielding. Further, in the coaxial cable 12, there is no interlinkage magnetic flux with the outside. Therefore, although the temperature measuring element 103d is disposed on the outer surface of the gradient coil body 103b, it is possible to shield a high-frequency electromagnetic field caused by the RF coil.

図7は、第1の実施形態に係る温度測定素子103dの配置の別の例について示している。図7の例では、同軸ケーブル12は、傾斜磁場コイル本体103bの外側に配置されている。かかる場合、傾斜磁場コイル本体103bの中に埋め込まれた導体21を通じて、温度測定素子103dとRFシールド103cとが電気的に接地される。これにより、温度測定素子103dが、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置されているにも関わらず、RFコイルに起因する高周波電磁場をシールドすることができる。   FIG. 7 shows another example of the arrangement of the temperature measuring elements 103d according to the first embodiment. In the example of FIG. 7, the coaxial cable 12 is arranged outside the gradient magnetic field coil body 103b. In such a case, the temperature measuring element 103d and the RF shield 103c are electrically grounded through the conductor 21 embedded in the gradient coil body 103b. Thereby, although the temperature measuring element 103d is disposed on the outer surface of the gradient magnetic field coil main body 103b, it is possible to shield a high-frequency electromagnetic field caused by the RF coil.

以上のように、第1の実施形態では、温度測定素子103dが、傾斜磁場コイル本体103bの外表面に配置されるとともに、温度測定素子103dの電流入力端が、同軸ケーブル12に接続される。これにより、温度測定素子103dの交換を容易にするとともにRF信号からのシールドを行うことができ、温度測定素子103dの破損を防止することができる。   As described above, in the first embodiment, the temperature measuring element 103d is disposed on the outer surface of the gradient coil body 103b, and the current input end of the temperature measuring element 103d is connected to the coaxial cable 12. Thereby, replacement of the temperature measuring element 103d can be facilitated and shielding from the RF signal can be performed, and damage to the temperature measuring element 103d can be prevented.

(第2の実施形態)
第2の実施形態では、温度測定素子103dの電流入出力端に、クロスダイオードとコンデンサとを直列に接続した回路を接続することにより、温度測定素子103dの破損を防止する場合について説明する。図8は、第2の実施形態に係る温度測定素子103dの配置の例について示した図である。図8に示されているように、温度測定素子103dの電流入出力端である導線11a及び導線11bに、クロスダイオード30とコンデンサ31とを直列に接続した回路が接続される。
(Second Embodiment)
In the second embodiment, a case will be described in which the temperature measurement element 103d is prevented from being damaged by connecting a circuit in which a cross diode and a capacitor are connected in series to the current input / output terminal of the temperature measurement element 103d. FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the arrangement of the temperature measuring elements 103d according to the second embodiment. As shown in FIG. 8, a circuit in which a cross diode 30 and a capacitor 31 are connected in series is connected to the conductive wire 11a and the conductive wire 11b which are current input / output terminals of the temperature measuring element 103d.

ここで、クロスダイオード30は、極性が異なるダイオード30a及びダイオード30bを並列接続することにより構成された回路である。次に、クロスダイオード30の動作について説明する。ダイオード30a及びダイオード30bは、それぞれ、両端に印加された電圧が順方向でありかつ所定の閾値を超えるときに電流が流れ(導体として機能し)、それ以外の場合に電流が流れない(絶縁体として機能する)素子として振る舞う。すなわち、クロスダイオード30は、導線11aと導線11bの電圧差が所定の閾値を超える場合、クロスダイオード30を通じて電流が流れることによりバイパス回路として機能し、導線11aと導線11bの電圧差が所定の閾値を超えない場合、特に動作をしない素子として振る舞う。   Here, the cross diode 30 is a circuit configured by connecting a diode 30a and a diode 30b having different polarities in parallel. Next, the operation of the cross diode 30 will be described. In each of the diode 30a and the diode 30b, a current flows (functions as a conductor) when a voltage applied to both ends is in a forward direction and exceeds a predetermined threshold value, and a current does not flow in other cases (insulator) Behave as a device). That is, when the voltage difference between the conductor 11a and the conductor 11b exceeds a predetermined threshold, the cross diode 30 functions as a bypass circuit due to a current flowing through the cross diode 30, and the voltage difference between the conductor 11a and the conductor 11b is a predetermined threshold. If it does not exceed, it behaves as an element that does not particularly operate.

また、コンデンサ31は、電流の交流成分を通過させ、直流成分の通過を阻止する役割を担う。   Further, the capacitor 31 plays a role of passing an alternating current component of the current and blocking the passage of the direct current component.

従って、前述のクロスダイオード30とコンデンサ31とを直列に接続した回路は、直流成分の通過を阻止するとともに、導線11aと導線11bとの間に所定の閾値以上の高周波電圧が印加された時に、回路を通じて電流を逃がす回路として機能する。従って、RFコイルの影響により予期せぬ高周波の電圧が温度測定素子103dの導線11a及び導線11bの間に印加された時、当該回路は、回路に電流を流すことを通じて、温度測定素子103dの破損を防止する。   Therefore, the above-described circuit in which the cross diode 30 and the capacitor 31 are connected in series prevents a direct current component from passing, and when a high-frequency voltage equal to or higher than a predetermined threshold is applied between the conductors 11a and 11b, It functions as a circuit that releases current through the circuit. Therefore, when an unexpectedly high frequency voltage is applied between the conducting wire 11a and the conducting wire 11b of the temperature measuring element 103d due to the influence of the RF coil, the circuit breaks the temperature measuring element 103d by passing a current through the circuit. To prevent.

なお、導線11a及び導線11bの一端は、さらにRFコイルからの影響等を抑えるために、ツイストケーブル50に接続されてもよい。   In addition, one end of the conducting wire 11a and the conducting wire 11b may be connected to the twist cable 50 in order to further suppress the influence from the RF coil.

このようにして、第2の実施形態では、温度測定素子103dに対して高周波かつ高電圧の成分をバイパスする回路が付加されるので、温度測定素子103dの破損を防止することができる。   In this manner, in the second embodiment, a circuit that bypasses a high-frequency and high-voltage component is added to the temperature measurement element 103d, so that the temperature measurement element 103d can be prevented from being damaged.

(第3の実施形態)
第3の実施形態では、温度測定素子103dが、シールド材により電磁気的にシールドされる場合について説明する。図9は、第3の実施形態に係る温度測定素子103dの配置の例について示した図である。図9に示されるように、温度測定素子103dは、シールド材40により電磁気的にシールドされる。シールド材40の材質としては、例えば銅などの金属が用いられる。また、同様に、シールド材40は、RFシールド103cと電気的に接地されるのが望ましい。シールド材40とRFシールド103cの接地は、図7の場合と同様に、傾斜磁場コイル本体103bの中に埋め込まれた導体21を通じて行われる。このようにして、第3の実施形態では、温度測定素子103dはシールド材40によりシールドされるので、温度測定素子103dの破損を防止することができる。
(Third embodiment)
In the third embodiment, a case where the temperature measuring element 103d is electromagnetically shielded by a shield material will be described. FIG. 9 is a diagram illustrating an example of the arrangement of the temperature measurement elements 103d according to the third embodiment. As shown in FIG. 9, the temperature measuring element 103 d is electromagnetically shielded by the shield material 40. As the material of the shield material 40, for example, a metal such as copper is used. Similarly, it is desirable that the shield material 40 is electrically grounded to the RF shield 103c. The grounding of the shield material 40 and the RF shield 103c is performed through the conductor 21 embedded in the gradient coil body 103b, as in the case of FIG. In this manner, in the third embodiment, the temperature measuring element 103d is shielded by the shield material 40, so that the temperature measuring element 103d can be prevented from being damaged.

このように、以上一つの実施形態に係る傾斜磁場コイル103及び磁気共鳴イメージング装置100によれば、温度測定素子103dの交換を容易にするとともに温度測定素子103dの破損を防止することができる。   Thus, according to the gradient magnetic field coil 103 and the magnetic resonance imaging apparatus 100 according to one embodiment, the temperature measuring element 103d can be easily replaced and the temperature measuring element 103d can be prevented from being damaged.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

103 傾斜磁場コイル
103b 傾斜磁場コイル本体
103c RFシールド
103d 温度測定素子
103 Gradient magnetic field coil 103b Gradient magnetic field coil body 103c RF shield 103d Temperature measuring element

Claims (6)

含侵により形成された傾斜磁場コイル本体と、
前記傾斜磁場コイル本体の外表面に配置され、前記傾斜磁場コイル本体の温度を測定する温度測定素子と
を備える傾斜磁場コイルにおいて、
前記温度測定素子の電流入出力端は、同軸ケーブルに接続される、傾斜磁場コイル。
A gradient coil body formed by impregnation;
In the gradient coil, which is disposed on the outer surface of the gradient coil body and includes a temperature measuring element for measuring the temperature of the gradient coil body,
A gradient coil is connected to a coaxial cable at the current input / output end of the temperature measuring element.
前記温度測定素子はサーミスタである、請求項1に記載の傾斜磁場コイル。   The gradient coil according to claim 1, wherein the temperature measuring element is a thermistor. 前記同軸ケーブルは、セミリジッドケーブルである、請求項1に記載の傾斜磁場コイル。   The gradient magnetic field coil according to claim 1, wherein the coaxial cable is a semi-rigid cable. 含侵により形成された傾斜磁場コイル本体と、
前記傾斜磁場コイル本体の外表面に配置され、前記傾斜磁場コイル本体の温度を測定する温度測定素子と
を備える傾斜磁場コイルにおいて、
前記温度測定素子の電流入出力端は、クロスダイオードとコンデンサとを直列に接続した回路に接続される、傾斜磁場コイル。
A gradient coil body formed by impregnation;
In the gradient coil, which is disposed on the outer surface of the gradient coil body and includes a temperature measuring element for measuring the temperature of the gradient coil body,
A gradient magnetic field coil, wherein a current input / output terminal of the temperature measuring element is connected to a circuit in which a cross diode and a capacitor are connected in series.
含侵により形成された傾斜磁場コイル本体と、
前記傾斜磁場コイル本体の外表面に配置され、前記傾斜磁場コイル本体の温度を測定する温度測定素子と
を備える傾斜磁場コイルにおいて、
前記温度測定素子は、シールド材により電磁気的にシールドされる、傾斜磁場コイル。
A gradient coil body formed by impregnation;
In the gradient coil, which is disposed on the outer surface of the gradient coil body and includes a temperature measuring element for measuring the temperature of the gradient coil body,
The temperature measuring element is a gradient coil that is electromagnetically shielded by a shielding material.
前記シールド材は、RFシールドと電気的に接地される、請求項5に記載の傾斜磁場コイル。   The gradient magnetic field coil according to claim 5, wherein the shield material is electrically grounded with an RF shield.
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