JP2018128579A - 回折格子の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】大面積化を図りつつ、X線画像におけるモアレの形状の差異に伴う画質の劣化を抑制することが可能な回折格子の製造方法を提供する。【解決手段】この吸収格子G2(回折格子)の製造方法は、複数の単位吸収格子20に投影された位相格子G1の自己像30と複数の単位吸収格子20とによりモアレ40を生成させる工程と、生成されたモアレ30の形状に基づいて、複数の単位吸収格子20のうちの少なくとも1つを、複数の単位吸収格子20のうちの他の少なくとも1つに対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程とを備える。【選択図】図7
Description
本発明は、回折格子の製造方法に関する。
従来、X線撮像装置に備えられる回折格子が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
上記特許文献1には、X線を発生するX線源と、X線源から発生したX線を回折する第1格子と、第1格子で回折したX線をさらに回折してモアレパターンを発生する第2格子と、第2格子で発生させたモアレパターンを検出するX線画像検出器とを備えた、X線撮像装置が開示されている。上記特許文献1のX線撮像装置は、被写体を、X線源と第1格子との間、または、第1格子と第2格子との間に配置した状態で、被写体をX線撮影した場合のモアレパターンと、被写体を配置しない状態で撮影した場合のモアレパターンとから、被写体を通過したことにより生じるX線の位相ずれを画像化したX線位相コントラスト画像を含むX線画像を生成するように構成されている。
上記特許文献1のようなX線撮像装置では、一度に撮影できる視野範囲を大きくするために、X線画像検出器の上流でかつ近傍に配置される第2格子の面積を大きくしてモアレパターンを広範囲に形成することによって、撮像範囲を大きくしたいというニーズがある。そこで、撮像面積を大面積化する方法として、複数の回折格子(単位回折格子)を共通の基板に固定して、大面積化を図る方法が考えられる。
ここで、上記特許文献1のようなX線撮像装置では、共通の基板に複数の回折格子(単位回折格子)が配置されるように第2格子を構成した場合、第1格子で回折したX線を第2格子でさらに回折することによってモアレパターンが生成されている。しかしながら、上記特許文献1のようなX線撮像装置では、第2格子における複数の回折格子の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整されていない場合、回折格子毎にモアレパターンが異なることに起因して、X線画像に歪みが生じるなど画質の劣化が生じてしまうという問題点があると考えられる。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、大面積化を図りつつ、X線画像におけるモアレの形状の差異に伴う画質の劣化を抑制することが可能な回折格子の製造方法を提供することである。
上記目的を達成するために、この発明の一の局面における回折格子の製造方法は、複数の単位回折格子に投影された周期的なパターンと複数の単位回折格子とによりモアレを生成させる工程と、生成されたモアレの形状に基づいて、複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを、複数の単位回折格子のうちの他の少なくとも1つに対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程とを備える。
この発明の一の局面による回折格子の製造方法では、上記のように、生成されたモアレの形状に基づいて、複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを、複数の単位回折格子のうちの他の少なくとも1つに対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を備えるように構成する。この工程により、複数の単位回折格子のうちの少なくとも2つが、モアレの形状が略等しくなるように配置された回折格子を製造することができる。その結果、モアレの形状の差異による画質の劣化を避けながら、回折格子の大面積化を図ることができる。また、マイクロスコープおよびマーカーを用いて複数の単位回折格子の格子の延びる方向の調整を直接的に行う場合と異なり、実際に形成されたモアレの形状に基づいて複数の単位回折格子の格子の延びる方向の調整を行うことができる。これにより、複数の単位回折格子の格子の延びる方向にズレが生じるのを確実に抑制することができる。
上記複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを相対的に回転させる工程を備える回折格子の製造方法において、好ましくは、複数の単位回折格子は、第1単位回折格子および第2単位回折格子を含み、複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを相対的に回転させる工程は、第1単位回折格子と周期的なパターンとにより生成される第1モアレの周期と、第2単位回折格子と周期的なパターンとにより生成される第2モアレの周期とに基づいて、第1単位回折格子を、第2単位回折格子に対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含む。このように構成すれば、第1単位回折格子の格子の周期および第2単位回折格子の格子の周期よりもそれぞれ大きい第1モアレの周期および第2モアレの周期に基づいて、第1単位回折格子および第2単位回折格子の格子の延びる方向を調整することにより、容易に第1単位回折格子および第2単位回折格子の格子の延びる方向を揃えられた状態にすることができる。
上記第1単位回折格子を第2単位回折格子に対して相対的に回転させる工程を含む回折格子の製造方法において、好ましくは、第1単位回折格子を基板に対して固定する工程をさらに備え、第1単位回折格子を第2単位回折格子に対して相対的に回転させる工程は、基板および基板に固定された第1単位回折格子に対して、第2単位回折格子を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含み、第1単位回折格子に対して、第2単位回折格子を、相対的に回転させることにより格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、第2単位回折格子を、基板に対して固定する工程をさらに備える。このように構成すれば、第1単位回折格子を第2単位回折格子に対して相対的に回転させる工程の前に、第1単位回折格子が基板に固定されているので、第1単位回折格子を第2単位回折格子に対して相対的に回転させたとしても、第1単位回折格子の基板に対する位置が変化しない。その結果、第1単位回折格子および第2単位回折格子の格子の延びる方向がズレてしまうのを抑制することができる。また、第1単位回折格子および第2単位回折格子の格子の延びる方向が揃えられた状態にされた後、第2単位回折格子が基板に固定されるので、第1単位回折格子および第2単位回折格子の格子の延びる方向が揃えられた状態の回折格子を確実に製造することができる。
上記第1単位回折格子に対して、第2単位回折格子を基板に対して固定する工程をさらに備える回折格子の製造方法において、好ましくは、基板に固定された第1単位回折格子に対して第2単位回折格子を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、基板および第1単位回折格子を固定した状態で、第2単位回折格子を回転させる工程を含む。このように構成すれば、第1単位回折格子が固定された基板を基準として、固定されていない第2単位回折格子だけを回転させればよいので、基板と第2単位回折格子とを相対的に回転させる工程を容易に行うことができる。
上記第1単位回折格子に対して、第2単位回折格子を基板に対して固定する工程をさらに備える回折格子の製造方法において、好ましくは、基板に固定された第1単位回折格子に対して第2単位回折格子を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、第2単位回折格子を固定した状態で、基板および第1単位回折格子を回転させる工程を含む。このように構成すれば、第2単位回折格子を基準として、基板を回転させればよいので、第2単位回折格子を保持した状態で、基板を第2単位回折格子に対して回転させることにより、基板と第2単位回折格子とを相対的に回転させる工程を容易に行うことができる。また、モアレの形状を変化させるために回折格子が格子面内において回転可能に構成されている装置を本発明のX線位相イメージング装置に用いた場合には、基板を格子面内において回転可能とすることができる。これにより、X線位相イメージング装置を用いることによって、第2単位回折格子を保持した状態で、基板および基板に固定された第1単位回折格子を別個に回転機構を設けることなく回転させることができる。
上記第1単位回折格子に対して、第2単位回折格子を基板に対して固定する工程をさらに備える回折格子の製造方法において、好ましくは、複数の回折格子は、第1単位回折格子および第2単位回折格子以外の第3単位回折格子をさらに含み、第2単位回折格子を基板に対して固定する工程の後、基板に固定された第1単位回折格子または第2単位回折格子に対して、第3単位回折格子を、相対的に回転させることにより格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程をさらに備え、第1単位回折格子または第2単位回折格子に対して、第3単位回折格子を、相対的に回転させることにより格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、第3単位回折格子を、基板に対して固定する工程をさらに備える。このように構成すれば、これらの工程を繰り返すことにより、第1単位回折格子が固定された基板に対して、第1単位回折格子以外の複数の単位回折格子を順次格子の延びる方向が揃えられた状態で固定することができる。その結果、複数(3個以上)の単位回折格子の全てを格子の延びる方向が揃えられた状態にした回折格子を得ることができる。また、この工程において、第1単位回折格子を基準として第3単位回折格子を回転させることにより、第2単位回折格子を第1単位回折格子と格子の延びる方向が揃えられた状態にする工程において誤差が生じていたとしても、その誤差の影響を第3単位回折格子の格子の延びる方向に生じさせなくすることができる。その結果、第1単位回折格子以外の単位回折格子における格子の延びる方向のズレを、最大でも第1単位回折格子とのズレのみにすることができる。したがって、格子の延びる方向のズレが蓄積するのを抑制することができる。
本発明によれば、上記のように、大面積化を図りつつ、X線画像におけるモアレパターンの形状の差異に伴う画質の劣化を抑制することが可能な回折格子の製造方法を提供することができる。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
図1を参照して、本発明の第1実施形態による吸収格子G2が備えられるX線位相イメージング装置100の構成について説明する。なお、吸収格子G2は、特許請求の範囲の「回折格子」の一例である。
図1を参照して、本発明の第1実施形態による吸収格子G2が備えられるX線位相イメージング装置100の構成について説明する。なお、吸収格子G2は、特許請求の範囲の「回折格子」の一例である。
(X線位相イメージング装置の構成)
図1に示すように、X線位相イメージング装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出器2と、制御部3と、表示部5と、移動機構6と、を備えている。X線位相イメージング装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出器2とが、X線の照射軸方向(光軸方向、Z方向)に、この順に並んで配置されている。X線位相イメージング装置100は、X線源1と位相格子G1との間、または、位相格子G1と吸収格子G2との間に配置された図示しない被写体を撮像するための装置である。なお、本明細書において、X線の照射軸方向をZ方向とし、Z方向と直交する面内において互いに直交する方向をそれぞれX方向およびY方向とする。
図1に示すように、X線位相イメージング装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出器2と、制御部3と、表示部5と、移動機構6と、を備えている。X線位相イメージング装置100は、X線源1と、位相格子G1と、吸収格子G2と、検出器2とが、X線の照射軸方向(光軸方向、Z方向)に、この順に並んで配置されている。X線位相イメージング装置100は、X線源1と位相格子G1との間、または、位相格子G1と吸収格子G2との間に配置された図示しない被写体を撮像するための装置である。なお、本明細書において、X線の照射軸方向をZ方向とし、Z方向と直交する面内において互いに直交する方向をそれぞれX方向およびY方向とする。
X線源1は、高電圧が印加されることにより、X線を発生させるとともに、発生されたX線を微小焦点で照射するように構成されている。
位相格子G1は、通過するX線の位相を変化させる回折格子である。位相格子G1は、X方向に所定の周期(格子ピッチ)d1で配列されるスリットG1aおよびX線吸収部G1bを有している。各スリットG1aおよびX線吸収部G1bは、Y方向に延びるように形成されている。
位相格子G1は、X線源1と、吸収格子G2との間に配置されており、X線が照射される。位相格子G1は、タルボ効果により、自己像30(図3参照)を形成するために設けられている。可干渉性を有するX線が、スリットが形成された格子を通過すると、格子から所定の距離(タルボ距離)離れた位置に、格子の像(自己像30)が形成される。これをタルボ効果という。自己像30は、X線の干渉によって生じる干渉縞である。なお、自己像30は、特許請求の範囲の「周期的なパターン」の一例である。
吸収格子G2は、X方向に所定の周期(格子ピッチ)d2で配列される複数のX線低吸収部G2aおよびX線高吸収部G2bを有する複数の単位吸収格子20(図2参照)を有している。各X線低吸収部G2aおよびX線高吸収部G2bは、Y方向に延びるように形成されている。なお、X線低吸収部G2aは、図面上では、単位吸収格子20のスリットとしてのように示している。なお、単位吸収格子20は、特許請求の範囲の「単位回折格子」の一例である。
吸収格子G2は、位相格子G1と検出器2との間に配置されており、位相格子G1を通過したX線が照射される。吸収格子G2は、位相格子G1からタルボ距離だけ離れた位置に配置される。これにより、吸収格子G2の(Z方向の)下流側には、位相格子G1の自己像30と吸収格子G2とが重ね合わされて、吸収格子G2の周期d2よりも大きい周期d4を有する干渉縞であるモアレ40(図3参照)が生成される。
検出器2は、X線を検出するとともに、検出されたX線を電気信号に変換し、変換された電気信号を画像信号として読み取るように構成されている。検出器2は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)である。検出器2は、複数の変換素子(図示せず)と複数の変換素子上に配置された画素電極(図示せず)とにより構成されている。複数の変換素子および画素電極は、所定の周期(画素ピッチ)で、X方向およびY方向に並んで配置されている。検出器2の検出信号は、制御部3が備える画像処理部4へと送られる。
制御部3は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)などを含んで構成されたコンピュータである。制御部3は、モアレ40を画像化したモアレ画像を含むX線画像を生成可能な画像処理部4を備えている。また、制御部3は、移動機構6を用いて、位相格子G1および吸収格子G2をX方向およびY方向の面(XY平面)において所定の角度だけ回転させることが可能に構成されている。
画像処理部4は、検出器2から送られた検出信号に基づいて、モアレ40を画像化したモアレ画像を生成するように構成されている。そして、画像処理部4は、吸収格子G2をY方向に一定周期間隔で走査して得られた複数のモアレ画像から、各画像の位相ずれに基づく再構成画像(X線位相イメージ)などのX線画像を生成できるように構成されている。
表示部5は、たとえば、液晶ディスプレイとして構成されている。そして、表示部5は、画像処理部4により生成されたモアレ画像およびモアレ画像から再構成されたX線画像を表示できるように構成されている。
移動機構6は、位相格子G1および吸収格子G2を保持する格子保持部(図示せず)を介して、制御部3より送られる信号に基づいて、保持した位相格子G1および吸収格子G2を、XY平面において所定の角度だけ回転させることが可能に構成されている。移動機構6は、たとえば、ステッピングモータやピエゾアクチュエータを用いた電動位置決め機構である。これにより、位相格子G1および吸収格子G2の相対角度を容易に変化させることができる。
(吸収格子の構成)
次に、図2〜図5を参照して、吸収格子G2の構成について詳細に説明する。
次に、図2〜図5を参照して、吸収格子G2の構成について詳細に説明する。
吸収格子G2は、矩形状の基板10と、基板10の表面に所定の間隔を隔てて配置された複数の単位吸収格子20とで構成されている。たとえば、図2に示すように、吸収格子G2では、矩形状の第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、第3単位吸収格子23および第4単位吸収格子24の4つの単位吸収格子20が基板10の一方表面に互いに重なり合わないように並べて配置されている。なお、第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、第3単位吸収格子23は、それぞれ、特許請求の範囲の「第1単位回折格子」、「第2単位吸収格子」および「第3単位吸収格子」の一例である。
基板10は、樹脂などのX線低吸収体で作成されている。また、単位吸収格子20は、シリコンや樹脂などで作成されたX線低吸収部G2aと、金などの重金属により作成されたX線高吸収部G2bとが、X方向に交互に並ぶように配列されている。また、X線低吸収部G2aおよびX線高吸収部G2bは、X方向に所定の周期(格子ピッチ)d2で配列されるとともに、Y方向に略平行に延びるように配列されている。
図2に示した、吸収格子G2においては、X線低吸収部G2aおよびX線高吸収部G2bが略平行となるように、第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、第3単位吸収格子23および第4単位吸収格子24が基板10上に配置されている。すなわち、吸収格子G2において、格子の延びる方向が揃うように、複数の単位吸収格子20が配置されている。たとえば、図2および図3では、第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、第3単位吸収格子23および第4単位吸収格子24の格子の延びる方向が全てY方向で揃うように複数の単位吸収格子20が配置されている。
複数の単位吸収格子20は、基板10上に並べて配置された後、基板10に接合されることにより吸収格子G2を構成した状態で、X線位相イメージング装置100の所定位置に配置される。複数の単位吸収格子20と基板10との接合は、真空接合、オプティカルコンタクト、陽極酸化接合、接着などの方法のうちのいずれか1つを用いることができる。
図2に示したような、複数の単位吸収格子20が格子の延びる方向が揃うように配置された状態の吸収格子G2を用いて、モアレ40を生成すると、図3に示すような、周期d2よりも大きい周期d4を有するモアレ40が生成される。具体的には、X線源1からX線を照射すると、X線が照射された周期d1を有する位相格子G1は、位相格子G1から(Z方向の)下流側のタルボ距離の位置(図1において、吸収格子G2が配置される位置)において、周期d3を有する自己像30を形成する。この自己像30と、自己像30が形成される位置に配置され周期d2を有する吸収格子G2とが重ね合わされることにより、吸収格子G2の下流側には、周期d4を有する干渉縞であるモアレ40が生成される。このモアレ40は、X線の信号強度の違いを示している。図3に示すように、モアレ40は、周期d2よりも大きな周期d4を有するので、極めて小さな検出素子を有する検出器でなくても、X線の信号強度の大小を検出し易くなっている。そして、このモアレ40に基づいて、各画像の位相ずれに基づく再構成画像などのX線画像が生成される。
ところが、吸収格子G2を備えたX線位相イメージング装置100を実際に使用してみると、図4に示すように、複数の単位吸収格子20が、格子の延びる方向がズレて配置された状態となっていることがある。その要因として、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する場合において、マイクロスコープおよびマーカーを用いて、直接的に格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整すると、単位吸収格子20の周期d2が極めて小さいため、精度よく調整できないためと考えられる。そして、図4に示したような、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向がズレて配置された状態の吸収格子G2を用いると、図5に示すような、自己像30と各々の単位吸収格子20とにより、単位吸収格子20毎に形状の異なるモアレ40が生成される。具体的には、自己像30と第1単位吸収格子21とにより周期d41の第1モアレ41が生成され、自己像30と第2単位吸収格子22とにより周期d42の第2モアレ42が生成され、自己像30と第3単位吸収格子23とにより周期d43の第3モアレ43が生成され、自己像30と第4単位吸収格子24とにより周期d44の第4モアレ44が生成される。図4に示したように、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向(X方向)のズレは僅かであるが、図5に示したように、第1モアレ41、第2モアレ42、第3モアレ43および第4モアレ44、それぞれの周期d41、d42、d43およびd44は大きく異なっている。このように、吸収格子G2において、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように格子の延びる方向を調整することは容易ではなく、生成されるモアレ40の形状は部分毎に大きな差異を伴い易い。この結果、モアレ40を画像化したモアレ画像およびモアレ40に基づいて生成されるX線画像における画質の低下を招いてしまう。そこで、後述する本発明の第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、モアレ画像40およびX線画像における画質の低下を抑制するために、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように吸収格子G2を調整するように構成した。
(吸収格子の製造方法)
次に、図1、図2および図6〜図9を参照して、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法を説明する。なお、この製造方法は、図1に示すX線位相イメージング装置100を用いて複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整することが可能である。
次に、図1、図2および図6〜図9を参照して、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法を説明する。なお、この製造方法は、図1に示すX線位相イメージング装置100を用いて複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整することが可能である。
まず、第1単位吸収格子21を基板10の一方表面における適当な位置(図6では、基板10の左上部)に配置し、第1単位吸収格子21が配置された基板10を、位相格子G1から(Z方向の)下流側のタルボ距離(図1において、吸収格子G2が配置される位置)に配置して、X線源1によりX線を照射してモアレ40を生成させる。そして、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)した後、図6に示すように、第2単位吸収格子22を、基板10において、第1単位吸収格子21の近傍の位置(図6では、第1単位吸収格子21の右側)に適当な間隔を隔てて配置した状態で、X線源1によりX線を照射してモアレ40を生成させる。
図6に示すように、第1単位吸収格子21と第2単位吸収格子22とは格子の延びる方向がズレているため、自己像30と第1単位吸収格子21により生成された第1モアレ41の周期d41は、自己像30と第2単位吸収格子22とにより生成された第2モアレ42の周期d42と大きく異なっている。そこで、第1モアレ41の周期d41と第2モアレ42の周期d42とが略等しくなるように、基板10および基板10に接合(固定)された第1単位吸収格子21に対して、図示しない回転機構を用いて第2単位吸収格子22を回転させる。すなわち、複数の単位吸収格子20のうちの1つである第2単位吸収格子22を、複数の単位吸収格子20のうちの他の1つである第1単位吸収格子21に対して相対的に回転させる。なお、図6における第1モアレ41は、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)した状態において生成されるモアレ40ではなく、第1単位吸収格子21を基板10の一方表面における適当な位置に配置したとき(第1単位吸収格子21を基板10に接合する前)に生成されるモアレ40である。これは、第1単位吸収格子21を基板10に接合する前後で、位相格子G1から第1単位吸収格子21までの光学距離が僅かに変化することに起因して第1モアレ41の形状が僅かに変化する可能性があるからである。以下の説明では、複数の単位吸収格子20により生成されるモアレ40同士を比較する場合は、それぞれの単位吸収格子20を基板10に接合する前に撮影したそれぞれのモアレ40が用いられるものとする。
図7に示すように、第1モアレ41の周期d41と第2モアレ42の周期d42とが略等しくされた状態では、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22は格子の延びる方向が揃えられた状態となる。これは、第1モアレ41の周期d41および第2モアレ42の周期d42が、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の周期d2よりも大きいため、第1モアレ41と第2モアレ42とを用いて調整すると、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向を精度よく調整可能なためである。
第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた状態にされた後、第2単位吸収格子22を、基板10に接合(固定)する。ここまでの工程で、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた状態の吸収格子G2を製造することができる。
次に、図8に示すように、第3単位吸収格子23を、基板10において、第1単位吸収格子21の近傍の位置(図8では、第1単位吸収格子21の下側)に適当な間隔を隔てて配置した状態で、X線源1によりX線を照射してモアレ40を生成させる。
第1単位吸収格子21と第3単位吸収格子23とは格子の延びる方向がズレているため、自己像30と第1単位吸収格子21とにより生成された第1モアレ41の周期d41は、自己像30と第3単位吸収格子23とにより生成された第3モアレ43の周期d43と大きく異なっている。そこで、第1モアレ41の周期d41と第3モアレ43の周期d43とが略等しくなるように、基板10および基板10に接合(固定)された第1単位吸収格子21に対して、図示しない回転機構を用いて第3単位吸収格子23を回転させる。この際、第2単位吸収格子22ではなく、第1単位吸収格子21により生成された第1モアレ41を基準として第3単位吸収格子を回転させることにより、第2単位吸収格子22を第1単位吸収格子21と格子の延びる方向が揃えられた状態にする工程において誤差が生じていたとしても、その誤差の影響を第3単位吸収格子23の格子の延びる方向に生じさせなくすることができる。
第1単位吸収格子21および第3単位吸収格子23の格子の延びる方向が揃えられた状態にされた後、第3単位吸収格子23を、基板10に接合(固定)する。そして、第4単位吸収格子24も、第3単位吸収格子23と、同様の工程を繰り返すことにより、第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、第3単位吸収格子23および第4単位吸収格子24の格子の延びる方向が揃えられた状態にすることができる。すなわち、図2に示すように、吸収格子G2に接合される全ての単位吸収格子20を、格子の延びる方向が揃えられた状態にすることができる。
なお、第1実施形態では、単位吸収格子20を同一の基板10に対して接合するため、単位吸収格子20同士が吸収格子G2の面(XY面)以外の方向にズレることはないものとした。
(第1実施形態の効果)
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、生成されたモアレ40の形状に基づいて、複数の単位吸収格子20のうちの少なくとも1つを、複数の単位吸収格子20のうちの他の少なくとも1つに対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を備える。この工程により、複数の単位吸収格子20のうちの少なくとも2つが、モアレ40の形状が略等しくなるように配置された吸収格子G2を製造することができる。その結果、モアレ40の形状の差異による画質の劣化を避けながら、吸収格子の大面積化を図ることができる。また、マイクロスコープおよびマーカーを用いて複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向の調整を直接的に行う場合と異なり、実際に形成されたモアレ40の形状に基づいて複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向の調整を行うことができる。これにより、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向にズレが生じるのを確実に抑制することができる。
また、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、複数の単位吸収格子20は、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22を含み、複数の単位吸収格子20のうちの少なくとも1つを相対的に回転させる工程は、第1単位吸収格子21と自己像30とにより生成される第1モアレ41の周期d41と、第2単位吸収格子22と自己像30とにより生成される第2モアレ42の周期d42とに基づいて、第1単位吸収格子21を、第2単位吸収格子22に対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含む。これにより、第1単位吸収格子21の格子の周期d2および第2単位吸収格子22の格子の周期d2よりもそれぞれ大きい第1モアレ41の周期d41および第2モアレ42の周期d42に基づいて、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向を調整することにより、容易に第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向を揃えられた状態にすることができる。
また、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、第1単位吸収格子21を基板10に対して固定する工程をさらに備え、第1単位吸収格子21を第2単位吸収格子22に対して相対的に回転させる工程は、基板10および基板10に固定された第1単位吸収格子21に対して、第2単位吸収格子22を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含み、第1単位吸収格子21に対して、第2単位吸収格子22を、相対的に回転させることにより格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、第2単位吸収格子22を、基板10に対して固定する工程をさらに備える。これらの工程により、第1単位吸収格子21を第2単位吸収格子22に対して相対的に回転させる工程の前に、第1単位吸収格子21が基板10に固定されているので、第1単位吸収格子21を第2単位吸収格子22に対して相対的に回転させたとしても、第1単位吸収格子21の基板10に対する位置が変化しない。その結果、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向がズレてしまうのを抑制することができる。また、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた状態にされた後、第2単位吸収格子22が基板10に固定されるので、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた状態の吸収格子G2を確実に製造することができる。
また、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、基板10に固定された第1単位吸収格子21に対して第2単位吸収格子22を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、基板10および第1単位吸収格子21を固定した状態で、第2単位吸収格子22を回転させる工程を含む。これにより、第1単位吸収格子21が固定された基板10を基準として、固定されていない第2単位吸収格子22だけを回転させればよいので、基板10と第2単位吸収格子22とを相対的に回転させる工程を容易に行うことができる。
また、第1実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、複数の単位吸収格子20は、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22以外の第3単位吸収格子23をさらに含み、第2単位吸収格子22を基板10に対して固定する工程の後、基板10に固定された第1単位吸収格子21または第2単位吸収格子22に対して、第3単位吸収格子23を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程をさらに備え、第1単位吸収格子21または第2単位吸収格子22に対して、第3単位吸収格子23を、相対的に回転させることにより格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、第3単位吸収格子23を、基板10に対して固定する工程をさらに備える。これらの工程を繰り返すことにより、第1単位吸収格子21が固定された基板10に対して、第1単位吸収格子21以外の複数の単位吸収格子20を順次格子の延びる方向が揃えられた状態で固定することができる。その結果、複数(3個以上)の単位吸収格子20の全てを格子の延びる方向が揃えられた状態にした吸収格子G2を得ることができる。また、これらの工程において、第2単位吸収格子22ではなく第1単位吸収格子21を基準として第3単位吸収格子を回転させることにより、第2単位吸収格子22を第1単位吸収格子21と格子の延びる方向が揃えられた状態にする工程において誤差が生じていたとしても、その誤差の影響を第3単位吸収格子23の格子の延びる方向に生じさせなくすることができる。その結果、第1単位吸収格子21以外の単位吸収格子20における格子の延びる方向のズレを、最大でも第1単位吸収格子21とのズレのみにすることができる。したがって、格子の延びる方向のズレが蓄積するのを抑制することができる。
[第2実施形態]
次に、図10および図11を参照して、第2実施形態について説明する。この第2実施形態では、上記第1実施形態の製造方法とは異なり、固定されていない単位吸収格子に対して基板および基板に固定された単位吸収格子を回転させることによって、吸収格子を製造する場合について説明する。なお、上記第1実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
次に、図10および図11を参照して、第2実施形態について説明する。この第2実施形態では、上記第1実施形態の製造方法とは異なり、固定されていない単位吸収格子に対して基板および基板に固定された単位吸収格子を回転させることによって、吸収格子を製造する場合について説明する。なお、上記第1実施形態と同一の構成については、図中において同じ符号を付して図示し、その説明を省略する。
(吸収格子の製造方法)
まず、第1実施形態と同様に、第1単位吸収格子21を基板10の一方表面における適当な位置(図10では、基板10の左上部)に配置し、第1単位吸収格子21が配置された基板10を、位相格子G1から(Z方向の)下流側のタルボ距離に配置した後、X線源1によりX線を照射してモアレ240を生成させる。そして、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)した後、図10に示すように、第2単位吸収格子22を、基板10において、第1単位吸収格子21の近傍の位置(図10では、第1単位吸収格子21の右側)に適当な間隔で配置した状態で、X線源1によりX線を照射してモアレ240を生成させる。
まず、第1実施形態と同様に、第1単位吸収格子21を基板10の一方表面における適当な位置(図10では、基板10の左上部)に配置し、第1単位吸収格子21が配置された基板10を、位相格子G1から(Z方向の)下流側のタルボ距離に配置した後、X線源1によりX線を照射してモアレ240を生成させる。そして、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)した後、図10に示すように、第2単位吸収格子22を、基板10において、第1単位吸収格子21の近傍の位置(図10では、第1単位吸収格子21の右側)に適当な間隔で配置した状態で、X線源1によりX線を照射してモアレ240を生成させる。
第1単位吸収格子21と第2単位吸収格子22とは格子の延びる方向がズレているため、自己像30と第1単位吸収格子21により生成された第1モアレ241の周期d241は、自己像30と第2単位吸収格子22とにより生成された第2モアレ242の周期d242と大きく異なっている。そこで、第1モアレ241の周期d241と第2モアレ242の周期d242とが略等しくなるように、図示しない保持機構で第2単位吸収格子22を保持した状態で、基板10自体を回転させることにより、第2単位吸収格子22に対して基板10および基板10に接合された第1単位吸収格子21を回転させる。
図11に示すように、第1モアレ241の周期d241と第2モアレ242の周期d242とが略等しくされた状態では、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22は格子の延びる方向が揃えられた状態となる。第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた状態にされた後、第2単位吸収格子22を、基板10に接合(固定)する。ここまでの工程で、第1実施形態と同様に、第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22の格子の延びる方向が揃えられた吸収格子G2を製造することができる。なお、第1実施形態と同様の理由により、図11における第1モアレ241は、第1単位吸収格子21を基板10の一方表面における適当な位置に配置したとき(第1単位吸収格子21を基板10に接合する前)に生成されるモアレ240である。
そして、第1実施形態と同様に、他の単位吸収格子20に対しても、これらの工程を繰り返すことにより、吸収格子G2に接合される全ての単位吸収格子20を、格子の延びる方向が揃えられた状態にすることができる。
なお、第2実施形態のその他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
(第2実施形態の効果)
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
第2実施形態の吸収格子G2の製造方法では、上記のように、基板10に固定された第1単位吸収格子21に対して第2単位吸収格子22を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、第2単位吸収格子22を固定した状態で、基板10および第1単位吸収格子21を回転させる工程を含む。これにより、第2単位吸収格子22を基準として、基板10を回転させればよいので、第2単位吸収格子22を保持した状態で、基板10を第2単位吸収格子22に対して回転させることにより、基板10と第2単位吸収格子22とを相対的に回転させる工程を容易に行うことができる。また、モアレ40の形状を変化させるために吸収格子G2が格子面内において回転可能に構成されている装置を本発明のX線位相イメージング装置100に用いた場合には、基板10を格子面内において回転可能とすることができる。これにより、X線位相イメージング装置100を用いることによって、第2単位吸収格子22を保持した状態で、基板10および基板10に固定された第1単位吸収格子21を別個に回転機構を設けることなく回転させることができる。
なお、第2実施形態のその他の効果は、上記第1実施形態と同様である。
[変形例]
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
上記第1および第2実施形態では、格子の延びる方向が、吸収格子G2の面(XY面)以外の方向に、ズレることはないものとして、吸収格子G2の面における単位吸収格子20同士の格子の延びる方向のズレのみを調整するようにした例を示したが、本発明はこれに限られない。複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向がXY面以外の方向にズレている場合でも、複数の単位吸収格子20により生成されるモアレ40および240の形状が略等しくなるように、任意の単位吸収格子20を複数の単位吸収格子20の少なくとも1つの単位吸収格子20に対して相対的に回転させる(たとえば、XY面に対して交わる回転軸方向に単位吸収格子20を回転させる)ことにより、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向を揃えた状態にすることができる。
上記第2実施形態では、基板10に固定されていない単位吸収格子20を、基板10および基板10に固定された単位吸収格子20に対して相対的に回転させる工程において、自己像30を回転させていない例を示したが、本発明はこれに限られない。基板10に固定されていない単位吸収格子20を、基板10および基板10に固定された単位吸収格子20に対して相対的に回転させる場合に自己像30を一緒に回転させてもよい。この場合、位相格子G1をXY面内で回転させることにより、自己像30を回転させることができる。これにより、たとえば、モアレ40の周期d4およびd24が大きくなるように、自己像30を回転させることによって、より確実に、複数の単位吸収格子20の格子の延びる方向を揃えた状態にすることができる。
また、上記第1および第2実施形態では、第3単位吸収格子23を、基板10および基板10に接合された第1単位吸収格子21および第2単位吸収格子22に対して相対的に回転させる際に、第1単位吸収格子21により生成される第1モアレ41および241を基準に回転させた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第3単位吸収格子23を、第2単位吸収格子22により生成される第2モアレ42および242を基準に回転させてもよい。同様に、第4単位吸収格子24を、基板10および基板10に接合された第1単位吸収格子21、第2単位吸収格子22、および第3単位吸収格子23に対して相対的に回転させる際に、第2単位吸収格子22または第3単位吸収格子23のいずれかに対応するモアレ40および240を基準に回転させてもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、第2単位吸収格子22を、基板10および基板10に固定された第1単位吸収格子21に対して相対的に回転させる工程において、第2単位吸収格子22、または、基板10および第1単位吸収格子21のいずれか一方を固定した状態で、他方を回転させる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第2単位吸収格子22、ならびに、基板10および第1単位吸収格子21の両方を同時に回転させてもよい。また、複数の単位吸収格子20の1つに対して、2つ以上の単位吸収格子20を同時に回転させるように構成してもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、吸収格子G2は、4つの単位吸収格子20を備えるとしたが、本発明はこれに限られない。本発明では、単位吸収格子20および吸収格子G2の形状および大きさに応じて、任意の複数枚を配置させることができる。
また、上記第1および第2実施形態では、第1単位吸収格子21により生成されるモアレ41の形状と、第1単位吸収格子21以外の単位吸収格子20により生成されるモアレ40の形状とを比較する場合に、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)する前に自己像30と第1単位吸収格子21とにより生成されたモアレ41を用いたが、本発明はこれに限られない。本発明では、単位吸収格子20を基板10に接合する前後で、単位吸収格子20により生成されるモアレ40の形状の差異が無視できる位に小さい場合には、第1単位吸収格子21を基板10に接合(固定)した後に自己像30と第1単位吸収格子21とにより生成されるモアレ41を用いてもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、本発明により製造した吸収格子G2と重ね合わせることによりモアレ40および240を生成するための自己像30を、位相格子G1によって生成させる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、自己像30は縞模様であればよいので、吸収格子G2と重ね合わせることによりモアレ40および240を生成するための格子に位相格子G1ではなく吸収格子を用いてもよい。
また、上記第1および第2実施形態では、本発明により製造した吸収格子G2よりモアレ40および240を生成するためのX線位相イメージング装置100において、X線源1を微小焦点で照射するように構成した例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、吸収格子G2よりモアレ40および240を生成するためのX線位相イメージング装置として、X線源1と位相格子G1との間に、X線源1から照射されたX線を微小焦点化することが可能な格子であるマルチスリットをさらに備える構成としてもよい。この場合、X線源は焦点を絞らなくてよいので、上記第1および第2実施形態のX線位相イメージング装置100のX線源1よりも、X線強度の高いX線を照射することができる。
また、上記第1および第2実施形態では、本発明により製造した回折格子を位相格子G1と検出器2との間に配置される吸収格子G2として用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、回折格子を、X線源1と検出器2との間に配置される位相格子G1として用いてもよい。また、X線源1と位相格子G1との間に配置されるマルチスリットに用いてもよい。
10 基板
20 単位吸収格子(単位回折格子)
21 第1単位吸収格子(第1単位回折格子)
22 第2単位吸収格子(第2単位回折格子)
23 第3単位吸収格子(第3単位回折格子)
30 自己像(周期的なパターン)
40、240 モアレ
41、241 第1モアレ
42、242 第2モアレ
d4(d41、d42、d43、d44)、d24(d241、d242) (モアレの)周期
G2 吸収格子(回折格子)
20 単位吸収格子(単位回折格子)
21 第1単位吸収格子(第1単位回折格子)
22 第2単位吸収格子(第2単位回折格子)
23 第3単位吸収格子(第3単位回折格子)
30 自己像(周期的なパターン)
40、240 モアレ
41、241 第1モアレ
42、242 第2モアレ
d4(d41、d42、d43、d44)、d24(d241、d242) (モアレの)周期
G2 吸収格子(回折格子)
Claims (6)
- 複数の単位回折格子に投影された周期的なパターンと前記複数の単位回折格子とによりモアレを生成させる工程と、
生成された前記モアレの形状に基づいて、前記複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを、前記複数の単位回折格子のうちの他の少なくとも1つに対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程とを備える、回折格子の製造方法。 - 前記複数の単位回折格子は、第1単位回折格子および第2単位回折格子を含み、
前記複数の単位回折格子のうちの少なくとも1つを相対的に回転させる工程は、
前記第1単位回折格子と前記周期的なパターンとにより生成される第1モアレの周期と、前記第2単位回折格子と前記周期的なパターンとにより生成される第2モアレの周期とに基づいて、前記第1単位回折格子を、前記第2単位回折格子に対して相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含む、請求項1に記載の回折格子の製造方法。 - 前記第1単位回折格子を基板に対して固定する工程をさらに備え、
前記第1単位回折格子を前記第2単位回折格子に対して相対的に回転させる工程は、前記基板および前記基板に固定された前記第1単位回折格子に対して、前記第2単位回折格子を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程を含み、
前記第1単位回折格子に対して、前記第2単位回折格子を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、前記第2単位回折格子を、前記基板に対して固定する工程をさらに備える、請求項2に記載の回折格子の製造方法。 - 前記基板に固定された前記第1単位回折格子に対して前記第2単位回折格子を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、
前記基板および前記第1単位回折格子を固定した状態で、前記第2単位回折格子を回転させる工程を含む、請求項3に記載の回折格子の製造方法。 - 前記基板に固定された前記第1単位回折格子に対して前記第2単位回折格子を相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程は、
前記第2単位回折格子を固定した状態で、前記基板および前記第1単位回折格子を回転させる工程を含む、請求項3に記載の回折格子の製造方法。 - 前記複数の単位回折格子は、前記第1単位回折格子および前記第2単位回折格子以外の第3単位回折格子をさらに含み、
前記第2単位回折格子を前記基板に対して固定する工程の後、前記基板に固定された前記第1単位回折格子または前記第2単位回折格子に対して、前記第3単位回折格子を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程をさらに備え、
前記第1単位回折格子または前記第2単位回折格子に対して、前記第3単位回折格子を、相対的に回転させることにより、格子の延びる方向が揃えられた状態となるように調整する工程の後、前記第3単位回折格子を、前記基板に対して固定する工程をさらに備える、請求項3〜5のいずれか1項に記載の回折格子の製造方法。
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| US15/890,376 US10643760B2 (en) | 2017-02-08 | 2018-02-07 | Method of producing diffraction grating |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP5158699B2 (ja) | 2008-02-20 | 2013-03-06 | 国立大学法人 東京大学 | X線撮像装置、及び、これに用いるx線源 |
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2017
- 2017-02-08 JP JP2017021675A patent/JP2018128579A/ja active Pending
-
2018
- 2018-02-07 CN CN201810122963.7A patent/CN108470596A/zh not_active Withdrawn
- 2018-02-07 US US15/890,376 patent/US10643760B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20180226167A1 (en) | 2018-08-09 |
| CN108470596A (zh) | 2018-08-31 |
| US10643760B2 (en) | 2020-05-05 |
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|---|---|---|---|
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200518 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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