JP2018189378A - Ground sample scanning method, ground sample specimen manufacturing method, soil sample soil testing method, and ground sample scanning device - Google Patents
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Abstract
【課題】原位置での地盤試料のスキャンを行うことで地盤試料の取扱いによる不用意な攪乱等を防止できるとともに、長尺の地盤試料のX線撮影が可能な地盤試料のスキャン方法、地盤試料の供試体の生産方法、地盤試料の土質試験方法及び地盤試料のスキャン装置を提供する。【解決手段】地盤にサンプラーを貫入するサンプラー貫入工程5と、サンプラーの貫入によって形成した地盤試料を、前記サンプラー又は前記サンプラーの上方のいずれかに設けられた撮影装置を用いて土中又は地表付近でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程7とで構成される。【選択図】図1PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent inadvertent disturbance due to handling of a ground sample by scanning the ground sample in an in-situ position, and to scan a long ground sample with an X-ray image. Provided are a method for producing a specimen, a method for testing the soil quality of a ground sample, and a scanning device for a ground sample. SOLUTION: A sampler penetration step 5 of penetrating a sampler into the ground and a ground sample formed by penetrating the sampler are placed in the soil or near the ground surface by using an imaging device provided either on the sampler or above the sampler. It is composed of a scanning step 7 of acquiring scan data of a long ground sample by taking an X-ray image with. [Selection diagram] Fig. 1
Description
本発明は原位置地盤内等での地盤試料のスキャン方法、地盤試料のスキャン装置及びこれらのスキャン方法又はスキャン装置によりスキャンしたデータを利用した地盤試料の供試体の生産方法及びこの供試体を用いた地盤試料の土質試験方法に関する。 The present invention relates to a method for scanning a ground sample in an in-situ ground, a ground sample scanning device, a method for producing a ground sample specimen using data scanned by these scanning methods or scanning devices, and the use of this specimen. The present invention relates to a soil test method for ground samples.
従来、今日に至るまで地盤の力学パラメータを知るために、原位置においてサンプリングしたコア(地盤試料)を持ち帰って、この持ち帰ったコアを用いて各種室内試験を実施している。この持ち帰り手法では、多様(強度・変形、透水性、液状化特性等様々)な力学パラメータを知るために、多くの等価な試料を準備する必要がある。しかしこの手法では実際には採取されるコアの中で直近にあるコア同士でも後述の微視構造が大きく異なることも多く、等価な試料とは言い難い。そのため、これを用いた力学試験では、微視構造の違いに起因する結果のばらつきが大きいという欠点があった。 Conventionally, in order to know the mechanical parameters of the ground until today, the core (ground sample) sampled at the original position is brought back and various laboratory tests are carried out using the brought-back core. In this take-out method, it is necessary to prepare many equivalent samples in order to know various mechanical parameters (various strength, deformation, water permeability, liquefaction characteristics, etc.). However, in this method, the microscopic structures described later often differ greatly between the cores that are actually collected, and it is difficult to say that they are equivalent samples. For this reason, the dynamic test using this has a drawback in that the result varies greatly due to the difference in the microscopic structure.
従来の地盤サンプリングは、まず原位置地盤で不攪乱試料を採取し、次に実験室等に持ち帰り、しかる後に各種室内試験を実施することを目的としているが、本来は所定の位置で、所定の深さまでサンプラーを地盤内に回転圧入し、サンプラー内に入り込んだ土試料をサンプラーごと地上まで引き抜いてくる(粘着性の無い砂礫地盤が対象の場合には、予め地盤を凍結や凝固剤を充填するなどして固化した後、サンプラーを引き抜く必要がある)ものである。したがって、地盤は多様な形状を持つ粒子が堆積した集合体(以下、「微視構造」という)から構成されているものであるから、従来の手法では全く等しい粒子形状とそれら粒子が等しく堆積した微視構造の供試体を複数準備することは本来できない。そのため、前述の複数の試験結果には、微視構造の違いに起因する結果のばらつきが不可避的に含まれているという問題点がある。 Conventional ground sampling is intended to collect undisturbed samples at the in-situ ground first, then take them back to the laboratory, etc., and then carry out various laboratory tests. Rotate and press the sampler into the ground to the depth, and pull out the soil sample that has entered the sampler to the ground together with the sampler. (If non-sticky gravel ground is the target, freeze the ground beforehand or fill with a solidifying agent. It is necessary to pull out the sampler after it solidifies. Therefore, since the ground is composed of an aggregate of particles having various shapes (hereinafter referred to as “microscopic structure”), the conventional method has accumulated the particles with the same particle shape. It is inherently impossible to prepare multiple specimens with microscopic structures. Therefore, there is a problem that the above-described plurality of test results inevitably include a variation in results due to a difference in microscopic structure.
この問題を解決する方法、すなわち微視構造の違いに起因する結果のばらつきを評価する方法として、近年、X線CTスキャン技術と3Dプリント技術を利用して、微視構造を復元した複数の“擬似”供試体を用いた力学特性評価の方法が示されている(非特許文献1等)。 In recent years, as a method for solving this problem, that is, a method for evaluating the variation in results caused by the difference in the microscopic structure, a plurality of "" restored microscopic structures using an X-ray CT scanning technique and a 3D printing technique have been developed. A method for evaluating mechanical properties using a “pseudo” specimen is shown (Non-patent Document 1).
このような方法を用いることで、等しい微視構造の供試体を複数個準備すること自体は可能となったが、サンプラーにより引き抜いた地盤試料を原位置からX線CTスキャンする場所まで運搬する際や、その後の保管等で地盤試料の取扱いによる不用意な攪乱等が発生し、原位置においてサンプリングした地盤試料とは微視構造が異なってしまうおそれが十分にあった。 By using such a method, it is possible to prepare a plurality of specimens having the same microscopic structure, but when the ground sample extracted by the sampler is transported from the original position to the X-ray CT scan location. In addition, inadvertent disturbance due to the handling of the ground sample occurred during subsequent storage, etc., and the microscopic structure could be different from that of the ground sample sampled at the original position.
また、現状のサンプリングでは,ある程度(例えば1m程度)掘り進めたときに、コアキャッチャ等を用いてサンプラー内の地盤サンプルを切って、その都度地上に揚げる必要があるため、連続して長尺の地盤試料をX線CTスキャンすることが不可能だった。 Moreover, in the current sampling, it is necessary to cut the ground sample in the sampler using a core catcher etc. when it is dug to some extent (for example, about 1 m), and fry it to the ground each time. It was impossible to X-ray CT scan ground samples.
本発明は以上のような従来の欠点に鑑み、原位置での地盤試料のスキャンを行うことで地盤試料の取扱いによる不用意な攪乱等を防止できるとともに、長尺の地盤試料のX線撮影が可能な地盤試料のスキャン方法、地盤試料の供試体の生産方法、地盤試料の土質試験方法及び地盤試料のスキャン装置を提供することを目的としている。 In view of the conventional drawbacks as described above, the present invention can prevent inadvertent disturbance due to the handling of the ground sample by scanning the ground sample in the original position, and can perform X-ray photography of a long ground sample. It is an object of the present invention to provide a possible ground sample scanning method, a ground sample specimen production method, a ground sample soil test method, and a ground sample scanning device.
上記目的を達成するために、本発明の地盤試料のスキャン方法は、地盤にサンプラーを貫入するサンプラー貫入工程と、サンプラーの貫入によって形成した地盤試料を、前記サンプラー又は前記サンプラーの上方のいずれかに設けられた撮影装置を用いて土中又は地表付近でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程とで構成される。 In order to achieve the above object, a ground sample scanning method according to the present invention includes a sampler penetrating step of penetrating a sampler into the ground, and a ground sample formed by penetrating the sampler, either above the sampler or the sampler. And a scanning process in which X-ray imaging is performed in the soil or in the vicinity of the ground surface using a provided imaging device, and scan data of a long ground sample is acquired.
本発明の地盤試料の供試体の生産方法は、地盤にサンプラーを貫入するサンプラー貫入工程と、サンプラーの貫入によって形成した地盤試料を、前記サンプラー又は前記サンプラーの上方のいずれかに設けられた撮影装置を用いて土中又は地表付近でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程と、該スキャン工程で取得した長尺の地盤試料のスキャンデータから、地盤試料の微視構造を再現した供試体を3D出力する供試体作成工程とで構成される。 The method for producing a specimen of a ground sample according to the present invention includes a sampler penetrating process for penetrating a sampler into the ground, and an imaging device provided with a ground sample formed by penetrating the sampler above either the sampler or the sampler. X-rays in the soil or near the ground using a scanning process to obtain scan data of a long ground sample, and from the scan data of the long ground sample acquired in the scanning process, And a specimen creation step of outputting a specimen having a reproduced structure in 3D.
本発明の地盤試料の土質試験方法は、地盤にサンプラーを貫入するサンプラー貫入工程と、サンプラーの貫入によって形成した地盤試料を、前記サンプラー又は前記サンプラーの上方のいずれかに設けられた撮影装置を用いて土中又は地表付近でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程と、該スキャン工程で取得した長尺の地盤試料のスキャンデータから、地盤試料の微視構造を再現した供試体を3D出力する供試体作成工程と、該供試体作成工程で作成した供試体に対して土質試験を行う土質試験工程とで構成される。 The soil sample soil test method of the present invention uses a sampler penetrating step for penetrating a sampler into the ground, and a grounding sample formed by penetrating the sampler provided on either the sampler or above the sampler. The X-ray image is taken in the soil or near the ground, and the microscopic structure of the ground sample is obtained from the scanning process of acquiring the scan data of the long ground sample and the scan data of the long ground sample acquired in the scanning process. It consists of a specimen preparation process for 3D output of the reproduced specimen and a soil test process for conducting a soil test on the specimen created in the specimen creation process.
本発明の地盤試料のスキャン装置は、地盤の地表に設置されるボーリングマシンと、該ボーリングマシンに回転可能に取り付けられたロッドと、該ロッドに接続されたサンプラーと、該サンプラーに設けられ、サンプラーによって形成した地盤試料を土中でX線撮影し、地盤試料のスキャンデータを取得する撮影装置とで構成される。 A ground sample scanning apparatus according to the present invention includes a boring machine installed on the ground surface, a rod rotatably attached to the boring machine, a sampler connected to the rod, and a sampler provided in the sampler. The X-ray image of the ground sample formed by the X-ray in the soil, and an imaging device for acquiring the scan data of the ground sample.
又は、本発明の地盤試料のスキャン装置は、地盤の地表に設置されるボーリングマシンと、該ボーリングマシンに回転可能に取り付けられたロッドと、該ロッドに接続されたサンプラーと、該サンプラーによって穿孔する部位付近に設けられ、かつ、サンプラーによって形成した地盤試料を地盤から引き上げる際に地盤試料を地表付近でX線撮影し、地盤試料のスキャンデータを取得する撮影装置とで構成される。 Alternatively, the ground sample scanning device of the present invention includes a boring machine installed on the ground surface of the ground, a rod rotatably attached to the boring machine, a sampler connected to the rod, and a hole drilled by the sampler. It is provided with an imaging device that is provided in the vicinity of the site and that captures X-ray images of the ground sample in the vicinity of the ground surface when the ground sample formed by the sampler is pulled up from the ground, and acquires scan data of the ground sample.
以上の説明から明らかなように、本発明にあっては次に列挙する効果が得られる。
(1)請求項1、請求項8及び請求項9に記載された各発明においては、地盤試料を土中又は地表付近でX線撮影し、地盤試料のスキャンデータを取得するので、撹乱されていない地盤試料のスキャンデータを得ることができ、得られたスキャンデータを半永久的に保存できる。
したがって、将来にわたって対象地盤のスキャンデータを活用することができる。
(2)また、X線写真を撮影する際に、地盤試料を所定長さで切断する必要がないので、長尺の地盤試料のX線撮影をすることができる。
したがって、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得することができる。
(3)請求項2及び請求項3に記載された各発明も、前記(1)〜(2)と同様な効果が得られると共に、土中で地盤試料をX線撮影するため、地盤試料引き上げによる撹乱等も防止することができる。
(4)請求項4及び請求項5に記載された発明も、前記(1)〜(2)と同様な効果が得られる。
(5)請求項6に記載された発明は、前記(1)〜(2)と同様な効果が得られると共に、複数個の等しい微視構造を有する供試体を得ることができると共に、得られたスキャンデータを半永久的に保存できる。
したがって、将来にわたって対象地盤の微視構造と等しい微視構造の供試体を生産することができる。
また、複数個の等しい微視構造を有する供試体を得ることができるので、微視構造に起因するばらつきが評価可能になる。
(6)請求項7に記載された発明は、複数個の等しい微視構造を有する供試体を用いて種々の土質試験を行うことができるので、これまで実際の土を使って求めていた多様な工学的特性を、実際の土を扱わずして推定できる。
したがって、試験にかかるコストを削減できると共に、将来にわたって試験の追加等をすることができる。
As is clear from the above description, the present invention has the following effects.
(1) In each of the inventions described in
Therefore, the scan data of the target ground can be used in the future.
(2) Further, when taking an X-ray photograph, it is not necessary to cut the ground sample with a predetermined length, so that X-ray photography of a long ground sample can be performed.
Therefore, scan data of a long ground sample can be acquired.
(3) Each invention described in
(4) In the inventions described in
(5) The invention described in
Therefore, a specimen having a microscopic structure equal to that of the target ground can be produced in the future.
In addition, since a plurality of specimens having the same microscopic structure can be obtained, variations caused by the microscopic structure can be evaluated.
(6) The invention described in
Therefore, it is possible to reduce the cost for testing and to add tests in the future.
図1乃至図4は本発明の第1の実施形態を示す説明図である。
図5乃至図6は本発明の第2の実施形態を示す説明図である。
図7乃至図8は本発明の第3の実施形態を示す説明図である。
5 to 6 are explanatory views showing a second embodiment of the present invention.
7 to 8 are explanatory views showing a third embodiment of the present invention.
以下、図面に示す本発明を実施するための形態により、本発明を詳細に説明する。
図1乃至図4に示す本発明を実施するための第1の形態において、1は地盤試料2のスキャンデータを原位置で取得する地盤試料のスキャン方法である。なお、本発明において原位置とは、地盤内又は地盤から地盤試料2を引き上げた地表付近の位置を言うものである。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the embodiments shown in the drawings.
In the first embodiment for carrying out the present invention shown in FIGS. 1 to 4,
この地盤試料のスキャン方法1は、図1に示すように、地盤に地盤試料2を残留させることができる形状のサンプラー3で穿孔4を形成する地盤穿孔工程5と、前記地盤試料2を、前記サンプラー3に設けられた撮影装置6を用いて土中(地盤内)で地盤試料2の周方向に複数枚X線撮影し、地盤試料2のスキャンデータを取得するスキャン工程7とで構成されている。
As shown in FIG. 1, this ground
また、この地盤試料のスキャン方法1に用いられる地盤試料のスキャン装置8は、本実施形態においては図2に示すように、地盤の地表に設置されるボーリングマシン9と、該ボーリングマシン9に回転可能に取り付けられたロッド10と、該ロッド10に接続され、地盤に地盤試料2を残留させることができる形状のサンプラー3と、該サンプラー3に内蔵するように設けられ、かつ、前記地盤試料2を土中でX線撮影し、そのスキャンデータを取得する撮影装置6とで構成されている。
In addition, in this embodiment, as shown in FIG. 2, a ground
前記地盤穿孔工程5は、地盤試料2を採取しようとする地盤にボーリングマシン9設置し、このボーリングマシン9を駆動させてサンプラー3で穿孔4を形成する工程である。
サンプラー3は、本実施形態では、前記ロッド10の下端部に接続される二重管状のケーシングロッド11と、該ケーシングロッド11の下端部に撮影装置6を介して設けられたビット12とで構成されている。
The
In this embodiment, the
このビット12は略中央部に透孔13を有しており、ビット12で穿孔4を削孔した際にビット12により削られなかった地盤が、この透孔13を通過し地盤試料2(コア)として残留する。
The
本実施形態では、所定長さ(例えば撮影装置6で1度の撮影で撮影可能な高さ分)の穿孔4を形成するごとに地盤穿孔工程5(穿孔作業)を停止し、スキャン工程7を行う。
スキャン工程7は、撮影装置6によって地盤試料2のX線撮影を行い、そのスキャンデータを取得する工程である。
In this embodiment, every time the
The
本実施形態では、所定長さの穿孔4を形成した後に地盤穿孔工程5(穿孔作業)を停止し、撮影装置6によって地盤試料2のX線撮影を行うスキャン工程7を行い、スキャンデータを取得することを交互に繰り返す(地盤穿孔工程5を断続的に行う)が、地盤穿孔工程5(穿孔作業)を連続的に行いながら連続してスキャン工程7を行い、スキャンデータを取得してもよい。
In this embodiment, after the
撮影装置6は、本実施形態では図3に示すように、前記ビット12の透孔13に連通する中心孔14が形成された略円筒状に形成されたX線CTスキャン装置で、この撮影装置6には、X線CTスキャンに必要なX線源15、X線検出器16及び回転テーブル17が内蔵されている。この中心孔14は本実施形態ではビット12の透孔13や前記ケーシングロッド11の内側の管の内径よりも若干大径に形成され、これらに連通しており、撮影が終了した地盤試料2は、ケーシングロッド11内に位置する。
In this embodiment, the
本実施形態でスキャン工程7を行う場合には、ロッド10及びサンプラー3の回転を停止し、次に回転テーブル17のみを地盤試料2の周方向に回転させ、360度あたり例えば36枚のX線写真を撮影し、地盤試料2のスキャンデータを取得する。
なお、X線写真の撮影枚数は適宜変更できるもの(例えば10枚〜360枚等)であり、36枚に限定されるものではない。
In the case of performing the
Note that the number of radiographs taken can be changed as appropriate (for example, 10 to 360), and is not limited to 36.
このスキャンデータは図示しない記憶装置等に保存される。
このスキャン工程7で取得したスキャンデータを解析し、画像上で粒子一粒一粒を識別(セグメント化)することで、微視構造の情報を得ることができる。
ケーシングロッド11は本実施形態では二重管状に形成されており、その内側の管の内径はビット12の透孔13と略同径で前記撮影装置6の中心孔14と連通しており、ビット12の穿孔作業によって土中に残留し、その後撮影装置6によって撮影された地盤試料2がこの内側の間の内部に収納される。地盤試料2がケーシングロッド11よりも長尺となる場合には、ケーシングロッド11を継ぎ足して地盤試料2を保護するとよい。
この撮影装置6で撮影された地盤試料2は、撮影後に堀こぼして除去してしまってもよいが、撮影終了後に地盤試料採取工程を行い、地盤試料2を採取して保管することが望ましい。
This scan data is stored in a storage device (not shown).
By analyzing the scan data acquired in the
The
The
なお、保管する場合には、スキャン工程7を行った後、地盤試料2を所定長さに切断し、保管する。
In the case of storage, after performing the
本発明の供試体の生産方法18は、前述の地盤試料のスキャン方法1にて行った工程に加え、スキャン工程7で取得したスキャンデータを用い、三次元積層造形装置(いわゆる3Dプリンタ等)24を用いて地盤試料2の微視構造を再現した供試体19を3D出力する供試体作成工程20を行い、地盤試料の供試体19を生産するものである。
この供試体作成工程20を行う場合には、必要に応じて前述したようなスキャンデータの解析を行ってから、その解析データを三次元積層造形装置24に入力し、供試体19を3D出力する。
The
When performing this
本発明の土質試験方法21では、供試体の生産方法18の供試体作成工程20で3D出力した供試体19に対して土質試験する土質試験工程22を更に行うものである。
このような疑似の供試体17を利用することで、微視構造の等価な供試体を必要な分いくらでも準備することができ、実際の地盤試料2(コア)を用いずとも、多様な試験に利用することができる。
In the
By using such a
また,半永久的にデジタルデータを保存できることから、将来にわたって、試験の追加等が可能となる。 Moreover, since digital data can be stored semipermanently, it will be possible to add tests in the future.
ところで、供試体作成工程20で3D出力した供試体19は、通常樹脂で形成されているため、地盤試料2を構成する粒子とはその特性が異なるものの、強度変形試験(三軸圧縮試験、液状化試験等)、透水試験等の土質試験の測定結果には、地盤試料2を構成する粒子の物理的特性よりも、その微視構造(粒度分布や粒子形状の特性等)が与える影響が大きいため、微視構造が再現されていれば、有効な測定結果を得ることができる。
また、実際に採取した地盤試料2のサンプルと前記供試体作成工程で作成した供試体とで、同一の試験を行う等によって、供試体19と地盤試料2の整合性を確認することもできる。
By the way, the
In addition, the consistency between the
付言すると、このように本願発明の土質試験方法では、前述した供試体の生産方法により供試体を作成し、その供試体に対して土質試験を行うため、例えば緩い礫地盤等の固化材等を用いて一旦地盤を固めた上でサンプリングしなければならないような地盤であっても、その地盤の微視構造のみを再現することができるため、固化材が力学特性に与える影響を排除して土質試験を行うことができる。 In addition, in the soil test method of the present invention in this way, in order to create a specimen by the above-described specimen production method and perform a soil test on the specimen, for example, a solidified material such as loose gravel ground is used. Even if it is necessary to sample the ground once it has been solidified, it can reproduce only the microscopic structure of the ground, eliminating the influence of the solidified material on the mechanical properties A test can be performed.
[発明を実施するための異なる形態]
次に、図5乃至図8に示す本発明を実施するための異なる形態につき説明する。なお、これらの本発明を実施するための異なる形態の説明に当って、前記本発明を実施するための第1の形態と同一構成部分には同一符号を付して重複する説明を省略する。
図5乃至図6に示す本発明を実施するための第2の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、撮影装置6を撮影の上方で、穿孔4の上端部(孔口)付近に設置した地盤試料のスキャン装置8Aを用い、地盤試料2を地表に引き上げる際に、所定長さを引き上げるごとに地盤試料2を地表付近でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程7Aを行う地盤試料のスキャン方法1Aにした点で、このような構成にしても前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られる。
[Different forms for carrying out the invention]
Next, different modes for carrying out the present invention shown in FIGS. 5 to 8 will be described. In the description of the different embodiments for carrying out the present invention, the same components as those in the first embodiment for carrying out the present invention are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.
The second embodiment for carrying out the present invention shown in FIG. 5 to FIG. 6 is mainly different from the first embodiment for carrying out the present invention in that the photographing
なお、このようにスキャン工程7Aを行って取得したスキャンデータを用いて地盤試料の供試体の生産方法18Aによって供試体を作成し、その供試体19を用いて地盤試料の土質試験方法21Aを行うことができる。
A specimen is prepared by the ground sample
本実施形態では、ケーシングロッド11の下端部にビット12が直接接続されたサンプラー3Aを用いており、地盤試料2を地表に引き上げまでは、従来のサンプリング方法と同様に地盤穿孔工程5が行われる。
In the present embodiment, the
地盤試料2を地表に引き上げる際には、撮影装置6で撮影可能な長さだけ穿孔4の上部に引き上げた後、当該場所のケーシングロッド11を除去し、X線撮影を行いスキャンデータを取得する。スキャンデータ取得後は、地盤試料2を適宜切断し、切断した地盤試料2の微視構造が撹乱しないように保護した後、土中の地盤試料2を引き上げ、同様の工程を行う。
When the
このようにスキャンデータ取得することにより、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得することができる。 By acquiring scan data in this way, scan data of a long ground sample can be acquired.
本実施形態のような地盤試料のスキャン方法1では、地盤試料2には引き上げる際に多少の負担が生じるだけであり、微視構造に撹乱が生じることなくそのスキャンデータを取得することができる。
In the ground
ところで、スキャン工程7Aは地盤試料2を地表に引き上げる際に、連続してX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するものとしてもよい。
また、本実施形態では撮影装置6を穿孔の上端部である孔口部分(地表)に設置してX線撮影しているが、例えば、孔口付近(地表よりも若干下方)に撮影装置6を設置するための凹所を形成して、この凹所に撮影装置6を設置してもよいし、撮影装置6をサンプラー3の上方の土中に位置するように設置してもよい。
By the way, the
Further, in the present embodiment, the
図7乃至図8に示す本発明を実施するための第3の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、単管状のケーシングロッド11Aを用い、このケーシングロッド11Aの内部に、撮影装置6を通過した地盤試料2を堀こぼすための第2ビット23を備えるサンプラー3Bを用いた地盤試料のスキャン装置8Bにした点で、このようなスキャン装置8Bにしても前記第1の実施形態と同様な作用効果を得られる。
このようなスキャン装置8Bを用いても、前記第1の実施形態等と同様の地盤試料のスキャン方法1、地盤試料の供試体の生産方法18及び地盤試料の土質試験方法21を行うことができる。
The third embodiment for carrying out the present invention shown in FIGS. 7 to 8 is mainly different from the first embodiment for carrying out the present invention in that a single
Even using such a
なお、本発明の実施形態では、サンプラー又は穿孔の上端部付近に撮影装置を設けてX線撮影を行う形態について説明したが、例えば、サンプラーの上方で穿孔の中腹等に撮影装置を設置したり、撮影装置をサンプラーの上方かつ穿孔内で上下方向に移動可能に設けて地盤試料のX線撮影をしてもよい。 In the embodiment of the present invention, the X-ray imaging is performed with the imaging device provided near the upper end of the sampler or the perforation. However, for example, the imaging device is installed on the middle of the perforation above the sampler. Alternatively, an X-ray image of the ground sample may be taken by providing an imaging device so as to be movable in the vertical direction above the sampler and within the perforation.
本発明は地盤物性情報を得る為の試料採取を行う産業で利用される。 The present invention is used in the industry of sampling for obtaining ground physical property information.
1、1A:地盤試料のスキャン方法、
2:地盤試料、 3、3A、3B:サンプラー、
4:穿孔、 5:サンプラー貫入工程、
6:撮影装置、 7、7A:スキャン工程、
8、8A、8B:地盤試料のスキャン装置、
9:ボーリングマシン、 10:ロッド、
11、11A:ケーシングロッド、 12:ビット、
13:透孔、 14:中心孔、
15:X線源、 16:X線検出器、
17:回転テーブル、 18、18A:供試体の生産方法、
19:供試体、 20:供試体作成工程、
21、21A:土質試験方法、 22:土質試験工程、
23:第2ビット、 24:3Dプリンタ。
1, 1A: Method of scanning ground sample,
2: Ground sample, 3, 3A, 3B: Sampler,
4: Drilling, 5: Sampler penetration process,
6: photographing apparatus, 7, 7A: scanning process,
8, 8A, 8B: Ground sample scanning device,
9: Boring machine, 10: Rod,
11, 11A: casing rod, 12: bit,
13: Through hole, 14: Center hole,
15: X-ray source, 16: X-ray detector,
17: Rotary table 18, 18A: Production method of specimen
19: specimen, 20: specimen preparation process,
21, 21A: soil test method, 22: soil test process,
23: 2nd bit, 24: 3D printer.
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