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JP2018185200A - Laser desorption ionization mass spectrometry, and organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass analysis - Google Patents

Laser desorption ionization mass spectrometry, and organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass analysis Download PDF

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JP2018185200A
JP2018185200A JP2017086418A JP2017086418A JP2018185200A JP 2018185200 A JP2018185200 A JP 2018185200A JP 2017086418 A JP2017086418 A JP 2017086418A JP 2017086418 A JP2017086418 A JP 2017086418A JP 2018185200 A JP2018185200 A JP 2018185200A
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Abstract

【課題】 マトリックスを利用することなく、より高い検出感度で効率よく質量分析を行うことが可能なレーザー脱離イオン化質量分析法を提供すること。【解決手段】 照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜に対して、測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射することにより、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行うことを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析法。【選択図】 なしPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser desorption / ionization mass spectrometry method capable of efficiently performing mass spectrometry with higher detection sensitivity without using a matrix. SOLUTION: The organic silica porous film has an organic group capable of absorbing irradiation laser light in a skeleton, has pores having an average pore diameter of 5 to 50 nm, and has a surface opening ratio of 33 to 70%. On the other hand, after carrying a sample containing a molecule to be measured, the sample-carrying portion of the membrane is irradiated with a laser beam to ionize the molecule to be measured and perform mass spectrometry. Ionized mass spectrometry. [Selection diagram] None

Description

本発明は、レーザー脱離イオン化質量分析法、並びに、レーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板に関する。   The present invention relates to laser desorption ionization mass spectrometry and an organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry.

質量分析法(mass spectrometry:MS)は、測定対象分子を含む試料をイオン化して測定対象分子由来のイオンを質量電荷比(質量/電荷(m/z))によって分離して検出することにより、その測定対象分子の化学構造に関する情報を得る分析方法である。このような質量分析法(MS)において、試料のイオン化は分析の可否や得られるスペクトルの質を左右する重要な過程であり、試料を効率よくイオンにするためにこれまで様々なイオン化法が開発されてきた。   Mass spectrometry (MS) is a method in which a sample containing a molecule to be measured is ionized and ions derived from the molecule to be measured are separated and detected by a mass-to-charge ratio (mass / charge (m / z)). This is an analysis method for obtaining information on the chemical structure of the molecule to be measured. In such mass spectrometry (MS), sample ionization is an important process that determines whether analysis is possible and the quality of the spectrum obtained. Various ionization methods have been developed so far to efficiently ionize the sample. It has been.

このような質量分析法に採用されるイオン化法としては、例えば、レーザー脱離イオン化法(laser desorption/ionization:LDI)が知られており、特にバイオ分野等においては、いわゆるマトリックス支援レーザー脱離イオン化法(matrix−assisted laser desorption/ionization:MALDI)が広く利用されてきた。しかしながら、このようなマトリックス支援レーザー脱離イオン化法(MALDI)を利用する質量分析法は、マトリックスと呼ばれる光吸収特性を持つ物質の中に、測定対象となる分子(例えば、タンパク質、ペプチド、糖類等がある)を分散させて、そこにレーザーを照射してマトリックスと共に測定対象となる分子をイオン化するため、使用するマトリックスの選択や、マトリックスと測定対象分子との混合物の質等が分析の成否に大きな影響を与えてしまうといった問題があり、さらには測定に際してもプレスキャン等の煩雑な作業が必要であるといった問題もあった。そのため、マトリックス支援レーザー脱離イオン化法(MALDI)を利用する質量分析法は、質量分析を必ずしも効率よく行うことができなかった。   As an ionization method employed in such mass spectrometry, for example, laser desorption / ionization (LDI) is known. Particularly in the bio field, so-called matrix-assisted laser desorption ionization is known. The method (matrix-assisted laser destruction / ionization: MALDI) has been widely used. However, mass spectrometry using such matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) is a substance that has a light absorption property called a matrix, such as molecules (for example, proteins, peptides, saccharides, etc.) to be measured. Is dispersed and the laser is irradiated to ionize the molecules to be measured together with the matrix, so the selection of the matrix to be used and the quality of the mixture of the matrix and the molecules to be measured will determine the success of the analysis. There is a problem that it has a great influence, and there is also a problem that a complicated operation such as pre-scanning is required for measurement. Therefore, mass spectrometry using matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) cannot always perform mass spectrometry efficiently.

このような状況の下、近年では、レーザー脱離イオン化法を採用しながらもマトリックスを使用することなく測定対象分子をイオン化して質量分析を行う方法の開発が進められてきた。例えば、特開2014−115187号公報(特許文献1)においては、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有する有機シリカ多孔体に測定対象分子を含む試料を担持させた後、レーザー光を照射し、前記測定対象分子をイオン化させることにより質量分析を行う方法が開示されている。   Under such circumstances, in recent years, development of a method for performing mass spectrometry by ionizing a molecule to be measured without using a matrix while employing a laser desorption ionization method has been advanced. For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-115187 (Patent Document 1), a sample containing a molecule to be measured is supported on a porous organic silica body having an organic group capable of absorbing irradiation laser light as a skeleton, and then laser light is emitted. A method of performing mass spectrometry by irradiating and ionizing the molecule to be measured is disclosed.

特開2014−115187号公報JP 2014-115187 A

上記特許文献1に記載の方法は、いわゆるレーザー脱離イオン化法(LDI)を採用しつつもマトリックスを使用することなく、十分に効率よく質量分析をすることが可能な方法であった。しかしながら、このようなLDIを利用する質量分析の分野においては、更に検出感度の高い分析法の出現が望まれている。   The method described in Patent Document 1 is a method capable of performing mass spectrometry sufficiently efficiently without using a matrix while employing a so-called laser desorption ionization method (LDI). However, in the field of mass spectrometry that uses such LDI, it is desired that an analysis method with higher detection sensitivity will emerge.

本発明は、前記従来技術の有する課題に鑑みてなされたものであり、マトリックスを利用することなく、より高い検出感度で効率よく質量分析を行うことが可能なレーザー脱離イオン化質量分析法、及び、その方法に利用するレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems of the prior art, a laser desorption ionization mass spectrometry method capable of efficiently performing mass spectrometry with higher detection sensitivity without using a matrix, and An object of the present invention is to provide an organic silica porous membrane substrate for laser desorption / ionization mass spectrometry used in the method.

本発明者らは、前記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた結果、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜に対して測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射し、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行うことにより、マトリックスを利用することなく、より高度な検出感度で効率よく質量分析を行うことが可能となることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventors have an organic group capable of absorbing irradiation laser light in the skeleton, have pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and A sample containing the molecule to be measured is supported on the organic silica porous film having a surface aperture ratio of 33 to 70%, and then the sample supporting part of the film is irradiated with laser light to ionize the molecule to be measured. By performing mass spectrometry, it has been found that mass spectrometry can be efficiently performed with higher detection sensitivity without using a matrix, and the present invention has been completed.

すなわち、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法は、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜に対して、測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射することにより、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行うことを特徴とする方法である。   That is, the laser desorption ionization mass spectrometry method of the present invention has an organic group capable of absorbing irradiated laser light in its skeleton, has pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and a surface aperture ratio of 33. A sample containing a molecule to be measured is supported on an organic silica porous membrane of ˜70%, and then the sample carrying portion of the membrane is irradiated with laser light to ionize the molecule to be measured and perform mass spectrometry. It is the method characterized by performing.

上記本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法においては、前記有機基が200〜600nmの範囲に吸収極大波長を有することが好ましい。また、上記本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法においては、前記有機基が4個以上の炭素を含む芳香族有機基であることが好ましい。さらに、上記本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法においては、前記有機基としてトリフェニルアミンを含むことが好ましい。   In the laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention, the organic group preferably has an absorption maximum wavelength in the range of 200 to 600 nm. In the laser desorption / ionization mass spectrometry of the present invention, the organic group is preferably an aromatic organic group containing 4 or more carbons. Furthermore, in the laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention, it is preferable that triphenylamine is included as the organic group.

また、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板は、レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜を含むことを特徴とするものである。   Moreover, the organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention has an organic group capable of absorbing laser light in its skeleton, has pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and An organic silica porous film having a surface opening ratio of 33 to 70% is included.

本発明によれば、マトリックスを利用することなく、より高い検出感度で効率よく質量分析を行うことが可能なレーザー脱離イオン化質量分析法、及び、その方法に利用するレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板を提供することが可能となる。   According to the present invention, laser desorption / ionization mass spectrometry capable of performing mass spectrometry efficiently with higher detection sensitivity without using a matrix, and laser desorption / ionization mass spectrometry used for the method It is possible to provide an organic silica porous membrane substrate.

(a)は多孔膜のAFM像であり、(b)は前記AFM像から求められる高さの度数分布曲線のグラフであり、(c)は前記グラフから求められる閾値を利用して前記AFM像を二値化した画像である。(A) is an AFM image of the porous membrane, (b) is a graph of a frequency distribution curve of height obtained from the AFM image, and (c) is a graph of the AFM image using a threshold value obtained from the graph. Is a binarized image. 実施例1で得られた質量分析用の基板の断面の走査型電子顕微鏡写真である。2 is a scanning electron micrograph of a cross section of the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. FIG. 実施例2で得られた質量分析用の基板の断面の走査型電子顕微鏡写真である。4 is a scanning electron micrograph of the cross section of the substrate for mass spectrometry obtained in Example 2. FIG. 比較例1で得られた質量分析用の基板の断面の走査型電子顕微鏡写真である。2 is a scanning electron micrograph of a cross section of a substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1. FIG. 実施例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面の原子間力顕微鏡像である。2 is an atomic force microscope image of the surface of an organic silica porous film of a substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. FIG. 実施例2で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面の原子間力顕微鏡像である。2 is an atomic force microscope image of the surface of an organic silica porous film of a substrate for mass spectrometry obtained in Example 2. FIG. 比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面の原子間力顕微鏡像である。2 is an atomic force microscope image of the surface of an organic silica porous film of a substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1. FIG. 吸収スペクトル測定実験に利用した測定用サンプル(石英基板上に有機シリカ多孔膜(TPA−PMO薄膜)を作製したもの)中の有機シリカ多孔膜の吸収スペクトルを示すグラフである。It is a graph which shows the absorption spectrum of the organic silica porous film in the measurement sample (what produced the organic silica porous film (TPA-PMO thin film) on the quartz substrate) utilized for the absorption spectrum measurement experiment. 実施例3で測定されたマススペクトルのグラフと、比較例2で測定されたマススペクトルのグラフである。4 is a graph of mass spectrum measured in Example 3 and a graph of mass spectrum measured in Comparative Example 2. FIG. 実施例4で測定されたマススペクトルのグラフと、実施例5で測定されたマススペクトルのグラフと、比較例3で測定されたマススペクトルのグラフである。4 is a graph of mass spectrum measured in Example 4, a graph of mass spectrum measured in Example 5, and a graph of mass spectrum measured in Comparative Example 3. FIG. 実施例6で測定されたマスペクトルのグラフである。10 is a graph of m-spectrum measured in Example 6. 実施例7で測定されたマスペクトルのグラフである。10 is a graph of m-spectrum measured in Example 7. 比較例5で測定されたマスペクトルのグラフである。10 is a graph of maspectrum measured in Comparative Example 5. 実施例8で測定されたマスペクトルのグラフである。10 is a graph of maspectrum measured in Example 8.

以下、本発明をその好適な実施形態に即して詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to preferred embodiments thereof.

[レーザー脱離イオン化質量分析法]
本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法は、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜に対して、測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射することにより、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行うことを特徴とする方法である。
[Laser desorption ionization mass spectrometry]
The laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention has an organic group capable of absorbing irradiation laser light in its skeleton, has pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and a surface aperture ratio of 33 to 70. % Of the organic silica porous membrane is loaded with a sample containing the molecule to be measured, and then the sample carrying portion of the membrane is irradiated with laser light to ionize the molecule to be measured for mass spectrometry. It is the method characterized by this.

〈有機シリカ多孔膜〉
本発明において質量分析に利用する有機シリカ多孔膜は、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜である。
<Organic silica porous membrane>
The organic silica porous membrane used for mass spectrometry in the present invention has an organic group capable of absorbing irradiation laser light in its skeleton, has pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and a surface aperture ratio of 33. It is an organic silica porous membrane which is ˜70%.

このような有機シリカ多孔膜は、照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有するものである。ここで、本発明において「照射レーザー光を吸収可能な有機基」は、質量分析の際に利用するレーザー光を吸収することが可能な構造部分を有する有機基であればよく、特に制限されず、例えば、使用するレーザー光の波長にもよるが、レーザー光を吸収することが可能な構造部分として芳香環を有する有機基(例えばトリフェニルアミン、フルオレン、アクリドン、メチルアクリドン、クアテルフェニル、アントラセン等)が挙げられ、中でも、後述の一般式(1)中のXとして説明する有機基を好適に利用することができる。   Such an organic silica porous film has an organic group capable of absorbing irradiated laser light in its skeleton. Here, in the present invention, the “organic group capable of absorbing irradiation laser light” is not particularly limited as long as it is an organic group having a structural part capable of absorbing laser light used in mass spectrometry. Depending on the wavelength of the laser beam used, for example, an organic group having an aromatic ring as a structural part capable of absorbing the laser beam (for example, triphenylamine, fluorene, acridone, methylacridone, quaterphenyl, Among them, an organic group described as X in the general formula (1) described later can be preferably used.

また、このような照射レーザー光を吸収可能な有機基としては、200〜600nm(より好ましくは250〜450nm、更に好ましくは300〜400nm)の範囲に吸収極大波長を有する基であることが好ましい。前記有機基の吸収極大波長が前記下限未満ではそのような波長のレーザー光を照射した場合に測定対象物及び有機シリカ多孔膜中の有機基が分解されてしまい、結果的に効率よく質量分析することが困難となる傾向にあり、他方、前記上限を超えるとイオン化に必要な光エネルギーを得ることが困難となる傾向にある。このように、前記有機基が上記波長範囲に吸収極大波長を有することで、質量分析に利用する波長域のレーザー光をより効率よく吸収することが可能となる。なお、このような200〜600nmの範囲に吸収極大波長を有する有機基としては、例えば、それぞれ置換基を有していてもよい、トリフェニルアミン、スチリルベンゼン、フルオレン、アクリドン、メチルアクリドン、クアテルフェニル、アントラセン等が挙げられる。   Moreover, as an organic group which can absorb such irradiation laser light, it is preferable that it is a group which has an absorption maximum wavelength in the range of 200-600 nm (more preferably 250-450 nm, still more preferably 300-400 nm). When the absorption maximum wavelength of the organic group is less than the lower limit, the organic group in the measurement object and the organic silica porous film is decomposed when irradiated with laser light having such a wavelength, and as a result, mass analysis is performed efficiently. On the other hand, if it exceeds the upper limit, it tends to be difficult to obtain light energy necessary for ionization. Thus, when the organic group has an absorption maximum wavelength in the above wavelength range, it becomes possible to more efficiently absorb laser light in a wavelength region used for mass spectrometry. Examples of the organic group having an absorption maximum wavelength in the range of 200 to 600 nm include, for example, triphenylamine, styrylbenzene, fluorene, acridone, methylacridone, quater, which may each have a substituent. Examples include terphenyl and anthracene.

さらに、このような照射レーザー光を吸収可能な有機基としては、芳香族環を一つ以上有する基であること(芳香族有機基であること)が好ましい。また、このような有機基としては、4個以上の炭素を含む芳香族有機基であることがより好ましい。このような芳香族有機基によれば、より効率よくレーザー光を吸収することが可能となる。このような芳香族有機基としては、例えば、それぞれ置換基を有していてもよい、トリフェニルアミン、スチリルベンゼン、フルオレン、アクリドン、メチルアクリドン、クアテルフェニル、アントラセン、ピレン、スチリルベンゼン、アクリジン、ジビニルベンゼン、ジビニルピリジン、フェニルピリジン、ジチエニルベンゾチアジアゾール等が挙げられる。また、前記有機シリカ多孔膜は、有機基として1種の有機基を単独で有するものであっても、あるいは、複数種の有機基を組み合わせて有するものであってもよい。なお、このような有機基としては、光照射による酸化・還元活性を示し、安定であるといった観点から、トリフェニルアミンを含むこと(前記有機基の少なくとも1種がトリフェニルアミンであること)が好ましい。   Furthermore, the organic group capable of absorbing such irradiation laser light is preferably a group having one or more aromatic rings (an aromatic organic group). Such an organic group is more preferably an aromatic organic group containing 4 or more carbon atoms. According to such an aromatic organic group, it becomes possible to absorb laser light more efficiently. Examples of such aromatic organic groups include, for example, triphenylamine, styrylbenzene, fluorene, acridone, methylacridone, quaterphenyl, anthracene, pyrene, styrylbenzene, and acridine, each of which may have a substituent. , Divinylbenzene, divinylpyridine, phenylpyridine, dithienylbenzothiadiazole and the like. Moreover, the said organic silica porous film may have one type of organic group independently as an organic group, or may have a combination of a plurality of types of organic groups. In addition, as such an organic group, from the viewpoint that it exhibits oxidation / reduction activity by light irradiation and is stable, it contains triphenylamine (at least one of the organic groups is triphenylamine). preferable.

また、本発明において「有機基を骨格に有する」とは、シリカ多孔膜のシリカ骨格を形成するケイ素(Si)に、直接又は間接的に(他の元素を介して)結合された前記有機基が存在していることを意味する。なお、このような有機シリカ多孔膜としては、シロキサン構造(式:−(Si−O)−構造)を形成するケイ素原子同士が有機基により架橋された構造(架橋構造)を有することにより、骨格に有機基が導入されていることが好ましい。 In the present invention, “having an organic group in the skeleton” means that the organic group bonded directly or indirectly (via another element) to silicon (Si) forming the silica skeleton of the silica porous membrane. Means that it exists. In addition, as such an organic silica porous film, by having a structure (crosslinked structure) in which silicon atoms forming a siloxane structure (formula:-(Si-O) n -structure) are crosslinked by an organic group, It is preferable that an organic group is introduced into the skeleton.

また、このような有機シリカ多孔膜としては、例えば、照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物の重合体(縮合体)である有機シリカ多孔膜;照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物とその他の有機ケイ素化合物との重合体である有機シリカ多孔膜;照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物とシリカ、アルミナ、チタニアからなる群から選択される少なくとも1種の金属酸化物との重合体である有機シリカ多孔膜;シリカ多孔膜(照射レーザー光を吸収可能な有機基を有していてもよくあるいは有していなくてもよく、例えば、公知のポーラスシリコンからなる膜であってよい)の表面を、照射レーザー光を吸収可能な有機基を有するシランカップリング剤(例えば照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物)で処理してシリカ多孔膜の表面に有機基を修飾した、シリカ多孔膜の表面修飾物である有機シリカ多孔膜;等を適宜利用することができる。   Moreover, as such an organic silica porous film, for example, an organic silica porous film that is a polymer (condensate) of an organic silicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light; an organic that can absorb irradiation laser light Organic silica porous film which is a polymer of an organosilicon compound having a group and another organosilicon compound; selected from the group consisting of an organosilicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light and silica, alumina, and titania Organic silica porous film which is a polymer with at least one metal oxide; silica porous film (which may or may not have an organic group capable of absorbing irradiated laser light; A silane coupling agent having an organic group capable of absorbing the irradiation laser beam (for example, an irradiation layer) -An organic silica porous film which is a surface modification product of a silica porous film in which the surface of the porous silica film is modified by treatment with an organosilicon compound having an organic group capable of absorbing light); Can do.

このような照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物としては、特に制限されず、公知の有機ケイ素化合物(例えば、特開2008−084836号公報に記載されている有機ケイ素化合物、特開2009−049346号公報に記載されている有機ケイ素化合物、特開2010−196019号公報に記載されている有機シリカ系材料、特開2010−116512号公報に記載されている有機シラン化合物、特開2008−214496号公報に記載されている有機ケイ素化合物、特開2011−241330公報に記載されている有機シリカ系材料、特開2011−241331号公報に記載されている有機シリカ系材料等)の中から、使用するレーザー光の波長に応じて好適な材料を適宜選択して利用してもよい。   The organosilicon compound having an organic group capable of absorbing such irradiation laser light is not particularly limited, and is a known organosilicon compound (for example, an organosilicon compound described in JP 2008-084836 A, Organosilicon compounds described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2009-049346, organosilica materials described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2010-196019, organosilane compounds described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2010-116512, Among organic silicon compounds described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-21496, organic silica-based materials described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-241330, and organic silica-based materials described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2011-241331. Therefore, a suitable material may be appropriately selected and used depending on the wavelength of the laser beam to be used.

また、このような照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物としては、下記一般式(1−i)〜(1−iii):   Moreover, as an organic silicon compound which has an organic group which can absorb such irradiation laser light, the following general formula (1-i)-(1-iii):

[式(1−i)〜(1−iii)中、Xは照射レーザー光を吸収可能な有機基であってm価の有機基を示し、Rは、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜5のアルコキシ基)、ヒドロキシル基(−OH)、アリル基(CH=CH−CH−)、エステル基(好ましくは炭素数1〜5のエステル基)及びハロゲン原子(塩素原子、フッ素原子、臭素原子、ヨウ素原子)からなる群から選択される少なくとも一つを示し、Rは、アルキル基及び水素原子からなる群から選択される少なくとも一つを示し、n及び(3−n)はそれぞれケイ素原子(Si)に結合しているR及びRの数を示し、nは1〜3の整数を示し、mは1〜4の整数を示す。]
で表される有機ケイ素化合物(照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物)が好ましい。
[In the formulas (1-i) to (1-iii), X represents an organic group capable of absorbing irradiation laser light and represents an m-valent organic group, and R 1 represents an alkoxy group (preferably having a carbon number of 1 to 5 alkoxy group), hydroxyl group (—OH), allyl group (CH 2 ═CH—CH 2 —), ester group (preferably an ester group having 1 to 5 carbon atoms) and halogen atom (chlorine atom, fluorine atom, At least one selected from the group consisting of a bromine atom and an iodine atom), R 2 represents at least one selected from the group consisting of an alkyl group and a hydrogen atom, and n and (3-n) are each indicates the number of R 1 and R 2 bonded to the silicon atom (Si), n represents an integer of 1~3, m is an integer of 1-4. ]
An organosilicon compound represented by the formula (an organosilicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light) is preferred.

さらに、このような有機シリカ多孔膜としては、上記一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物(照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物)の中から選択される少なくとも1種の重合体;又は、上記一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物の中から選択される少なくとも1種と他の有機ケイ素化合物との重合体(共重合体);からなる有機シリカ多孔膜が好ましく、上記一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物(照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物)の中から選択される少なくとも1種の重合体からなる有機シリカ多孔膜がより好ましい。このような一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物の中から選択される少なくとも1種の重合体からなる有機シリカ多孔膜においては、いわゆる光捕集アンテナ機能をより効率よく発現させることが可能な傾向にあり、これにより、より効率よく測定対象分子をイオン化することが可能となる傾向にある。なお、ここにいう「光捕集アンテナ機能」とは、光を照射した場合に光エネルギーを吸収して励起したエネルギーを細孔の内部に集約する機能をいい、かかる機能を利用すれば、吸収したレーザー光の光エネルギーを細孔の内部に担持された測定対象分子により効率よく移動させることが可能となる傾向にある。なお、このような「光捕集アンテナ機能」の定義は特開2008−084836号公報に記載されている定義と同様である。   Furthermore, as such an organic silica porous membrane, an organic silicon compound represented by the above general formulas (1-i) to (1-iii) (an organic silicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light) is used. At least one polymer selected from the above; or at least one selected from the organosilicon compounds represented by the general formulas (1-i) to (1-iii) and other organosilicon compounds An organic silica porous membrane comprising a polymer (copolymer); and an organic silicon compound represented by the above general formulas (1-i) to (1-iii) (an organic group capable of absorbing irradiation laser light) More preferred is an organic silica porous membrane made of at least one polymer selected from among organic silicon compounds having a In the organic silica porous film made of at least one polymer selected from the organic silicon compounds represented by the general formulas (1-i) to (1-iii), a so-called light collecting antenna function is used. Tends to be able to be expressed more efficiently, thereby tending to ionize the molecule to be measured more efficiently. The “light collecting antenna function” here refers to a function that absorbs light energy and collects the excited energy in the pores when irradiated with light. It tends to be possible to efficiently transfer the light energy of the laser beam by the molecules to be measured supported inside the pores. The definition of such “light collecting antenna function” is the same as the definition described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-084836.

また、このような一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物の中から選択される少なくとも1種の重合体は、シロキサン構造(式:−(Si−O)−で表される構造)を形成するケイ素原子同士が有機基により架橋された構造(架橋構造)を有するものとなり、これにより骨格に前記有機基を有する構造のものとなる(いわゆる「架橋型有機シリカ多孔膜」となる)。ここで、上記一般式(1−i)で表されかつ式中のRがエトキシ基、nが3、mが2である有機ケイ素化合物の重合反応を一例として、かかる架橋構造について説明すると、下記一般式(2): In addition, at least one polymer selected from the organosilicon compounds represented by the general formulas (1-i) to (1-iii) has a siloxane structure (formula: — (Si—O)). ( structure represented by y −) having a structure in which silicon atoms are crosslinked by an organic group (crosslinked structure), thereby having a structure having the organic group in the skeleton (so-called “crosslinked type”). Organic silica porous membrane ”. Here, such a crosslinked structure will be described by taking, as an example, a polymerization reaction of an organosilicon compound represented by the above general formula (1-i) and in which R 1 is an ethoxy group, n is 3, and m is 2. The following general formula (2):

[式中、Xは前記有機基(照射レーザー光を吸収可能な有機基であってm価の有機基)を示し、pは繰り返し単位の数に相当する整数を示す。]
で表されるような反応により、重合後に得られる有機シリカ多孔膜は、有機基(X)によりシロキサン構造(式:−(Si−O)−で表される構造)を形成するケイ素原子が架橋された構造の繰り返し単位を有するものとなる(なお、pの数は特に制限されないが、一般的には10〜1000程度の範囲であることが好ましい。)。なお、このような架橋構造が形成された場合(有機シリカ多孔膜が前記架橋型有機シリカ多孔膜となる場合)には、照射レーザー光をより効率よく吸収し、有機シリカ多孔膜の細孔内に担持された測定対象分子に対して、より効率良く励起エネルギーを移動できる傾向にある。
[Wherein, X represents the organic group (an organic group capable of absorbing irradiated laser light and is an m-valent organic group), and p represents an integer corresponding to the number of repeating units. ]
By virtue of the reaction represented by the formula (1), the organic silica porous film obtained after polymerization has a silicon atom that forms a siloxane structure (structure represented by the formula:-(Si-O) y- ) by the organic group (X). It has a repeating unit having a crosslinked structure (note that the number of p is not particularly limited, but is generally preferably in the range of about 10 to 1000). In addition, when such a crosslinked structure is formed (when the organic silica porous film becomes the crosslinked organic silica porous film), the irradiation laser light is absorbed more efficiently, and the pores of the organic silica porous film are absorbed. The excitation energy tends to move more efficiently with respect to the molecule to be measured supported on the substrate.

また、上記一般式(1−i)〜(1−iii)におけるRとしては、縮合反応(重合反応)を制御し易いという観点からアルコキシ基及び/又はヒドロキシル基が好ましい。なお、同一分子中に複数のRが存在する場合、Rは同一でも異なっていてもよい。このような一般式(1)におけるRとして選択され得るアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましい。なお、同一分子中に複数のRが存在する場合、Rは同一でも異なっていてもよい。 As the R 1 in the general formula (1-i) ~ (1 -iii), an alkoxy group and / or hydroxyl group is preferred from the viewpoint of easy control of the condensation reaction (polymerization reaction). In addition, when several R < 1 > exists in the same molecule, R < 1 > may be same or different. The alkyl group that can be selected as R 2 in the general formula (1) is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. In addition, when two or more R < 2 > exists in the same molecule, R < 2 > may be the same or different.

上記一般式(1−i)〜(1−iii)において、式中のn及び(3−n)は、それぞれケイ素原子(Si)に結合しているR及びRの数を示す。ここにおいて、nは1〜3の整数を示すが、縮合した後の構造をより安定なものとすることが可能であるという点から、nが3であることが特に好ましい。 In the above general formulas (1-i) to (1-iii), n and (3-n) in the formula represent the numbers of R 1 and R 2 bonded to the silicon atom (Si), respectively. Here, n represents an integer of 1 to 3, and n is particularly preferably 3 from the viewpoint that the structure after condensation can be made more stable.

さらに、上記一般式(1−i)〜(1−iii)中のmは、前記有機基(X)に直接又は間接的に結合しているケイ素原子(Si)の数を示す。このようなmは1〜4の整数を示す。   Further, m in the general formulas (1-i) to (1-iii) represents the number of silicon atoms (Si) bonded directly or indirectly to the organic group (X). Such m shows the integer of 1-4.

また、上記一般式(1−i)〜(1−iii)中のXは、照射レーザー光を吸収可能な有機基であって、m価の有機基を示す。また、このような有機基(上記一般式(1)中のX)としては、前述のように、4個以上の炭素を含む芳香族有機基であることがより好ましく、中でも、下記一般式(101)〜(132):   X in the general formulas (1-i) to (1-iii) is an organic group capable of absorbing the irradiation laser beam, and represents an m-valent organic group. Moreover, as such an organic group (X in the said General formula (1)), as mentioned above, it is more preferable that it is an aromatic organic group containing 4 or more carbon, and especially the following general formula ( 101) to (132):

[上記一般式(101)〜(132)中、記号*は、かかる記号を付した結合手が上記式(1−i)〜(1−iii)中のXに結合する結合手であることを示し、Rは水素原子及び炭素数1〜18のアルキル基からなる群から選択される少なくとも1種を示し、Rはそれぞれ独立に、エーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、カーボネート基、アミノ基、アミド基及びウレタン基からなる群から選択される少なくとも1種の基を含む2価の脂肪族有機基;アルキレン基;又は、単結合;を示す。]
で表される有機基が特に好ましい。なお、このような一般式(101)〜(132)で表される有機基において、記号*で表される結合手は直接ケイ素に結合していることがより好ましい。そのため、有機ケイ素化合物としては、上記一般式(1−i)で表される化合物であることがより好ましい。また、上記一般式中のRとして選択され得るアルキル基は炭素数が1〜18(より好ましくは1〜12)のものである。このような炭素数が前記上限を超えると多孔膜としての構造形成が困難となる傾向にある。このようなRとしてはメチル基が特に好ましい。
[In the general formulas (101) to (132), the symbol * indicates that the bond with the symbol is a bond that is bonded to X in the above formulas (1-i) to (1-iii). R a represents at least one selected from the group consisting of a hydrogen atom and an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, and R b each independently represents an ether group, a thioether group, a carbonyl group, a carbonate group, an amino group. , A divalent aliphatic organic group containing at least one group selected from the group consisting of an amide group and a urethane group; an alkylene group; or a single bond. ]
The organic group represented by is particularly preferable. In the organic groups represented by the general formulas (101) to (132), it is more preferable that the bond represented by the symbol * is directly bonded to silicon. Therefore, the organosilicon compound is more preferably a compound represented by the general formula (1-i). In addition, the alkyl group that can be selected as Ra in the above general formula has 1 to 18 (more preferably 1 to 12) carbon atoms. When such a carbon number exceeds the upper limit, it tends to be difficult to form a structure as a porous film. As such Ra, a methyl group is particularly preferable.

また、上記一般式中のRは、それぞれ独立にエーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、カーボネート基、アミノ基、アミド基およびウレタン基からなる群から選択される少なくとも1種の基を含む2価の脂肪族有機基;アルキレン基;又は、単結合;を表す。前記アルキレン基の炭素数は1〜12であることが好ましく、1〜6であることがより好ましい。このような炭素数が前記上限を超えると多孔膜としての構造形成が困難となる傾向にある。また、このようなアルキレン基としては、中でも、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基が特に好ましく、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基が最も好ましい。また、前記2価の脂肪族有機基は、さらに、炭素数1〜12(より好ましくは1〜6)の2価の炭化水素基を含むものであることが好ましく、前記2価の炭化水素基としてはアルキレン基が好ましい。このような炭素数が前記上限を超えると多孔膜としての構造形成が困難となる傾向にある。 In addition, R b in the above general formula each independently contains at least one group selected from the group consisting of an ether group, a thioether group, a carbonyl group, a carbonate group, an amino group, an amide group, and a urethane group. An aliphatic organic group; an alkylene group; or a single bond. The alkylene group preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably 1 to 6 carbon atoms. When such a carbon number exceeds the upper limit, it tends to be difficult to form a structure as a porous film. Further, among these alkylene groups, a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentamethylene group, and a hexamethylene group are particularly preferable, and an ethylene group, a propylene group, and a butylene group are most preferable. The divalent aliphatic organic group preferably further contains a divalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms (more preferably 1 to 6 carbon atoms). As the divalent hydrocarbon group, An alkylene group is preferred. When such a carbon number exceeds the upper limit, it tends to be difficult to form a structure as a porous film.

また、このような有機基(式(1)中のX)の中でも、上記一般式(103)、(105)、(108)、(111)、(112)、(113)、(114)、(115)、(116)、(117)、(118)、(120)、(126)、(127)、(128)、(130)、(132)で表される有機基がより好ましく、上記一般式(116)、(117)、(118)、(126)、(130)、(132)で表される有機基が更に好ましく、上記一般式(126)で表される有機基(トリフェニルアミン)が特に好ましい。また、このような有機基を骨格に有する有機シリカ多孔膜としては、1種の有機基を単独で含有するものであってもよく、あるいは、2種以上の有機基を組み合わせて含有するものであってもよい。なお、2種以上の有機基を組み合わせて含有する有機シリカ多孔膜としては、上記一般式(1−i)〜(1−iii)のうちのいずれかで表され且つXの種類が異なる、複数種の有機ケイ素化合物の重合体等が挙げられる。   Among such organic groups (X in formula (1)), the above general formulas (103), (105), (108), (111), (112), (113), (114), The organic groups represented by (115), (116), (117), (118), (120), (126), (127), (128), (130), (132) are more preferable, The organic group represented by the general formula (116), (117), (118), (126), (130), (132) is more preferred, and the organic group represented by the above general formula (126) (triphenyl) Amine) is particularly preferred. In addition, the organic silica porous membrane having such an organic group in the skeleton may contain one kind of organic group alone, or may contain two or more kinds of organic groups in combination. There may be. In addition, as an organic silica porous membrane which contains 2 or more types of organic groups in combination, it is represented by any one of the general formulas (1-i) to (1-iii) and the types of X are different. Examples thereof include polymers of various organosilicon compounds.

また、有機シリカ多孔膜を、照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物と、その他の有機ケイ素化合物との重合体からなるものとする場合、その他の有機ケイ素化合物としては、特に制限されず、照射レーザー光を吸収可能な有機基を有する有機ケイ素化合物以外の公知の有機ケイ素化合物を適宜利用でき、例えば、下記一般式(A1)及び(A2):   In addition, when the organic silica porous film is composed of a polymer of an organic silicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light and another organic silicon compound, the other organic silicon compound is particularly limited. In addition, a known organosilicon compound other than an organosilicon compound having an organic group capable of absorbing irradiation laser light can be used as appropriate. For example, the following general formulas (A1) and (A2):

[一般式(A1)中、R21はそれぞれ異なっていてもよい炭化水素基であり、R22はそれぞれ異なっていてもよい、炭素原子を少なくとも1つ有しケイ素原子と結合する1価の有機基であり、mは0〜4の整数であり、nは0〜4の整数であり、mとnはm+n=4という条件を満たし、
一般式(A2)中、Xはそれぞれ異なっていてもよいハロゲン基であり、R23はそれぞれ異なっていてもよい、炭素原子を少なくとも1つ有しケイ素原子と結合する1価の有機基であり、mは1以上3以下の整数であり、nは1以上3以下の整数であり、mとnはm+n=4という条件を満たす。]
で示される化合物が挙げられる。このような他の有機ケイ素化合物としては、公知のものを適宜利用できるが、中でも、入手の容易性、加水分解反応の容易性等の観点から、Si(OR21[R21は炭化水素基(より好ましくは炭素数1〜4のアルキル基、更に好ましくはメチル基又はエチル基)を示す。]で表されるケイ素化合物がより好ましい。
[In the general formula (A1), R 21 is a hydrocarbon group which may be different from each other, and R 22 may be different from each other, a monovalent organic which has at least one carbon atom and is bonded to a silicon atom. M is an integer of 0-4, n is an integer of 0-4, m and n satisfy the condition of m + n = 4,
In general formula (A2), X is a halogen group that may be different from each other, and R 23 is a monovalent organic group that has at least one carbon atom and is bonded to a silicon atom, which may be different from each other. , M is an integer from 1 to 3, n is an integer from 1 to 3, and m and n satisfy the condition that m + n = 4. ]
The compound shown by these is mentioned. As such other organosilicon compounds, known compounds can be used as appropriate. Among these, Si (OR 21 ) 4 [R 21 is a hydrocarbon from the viewpoints of availability, hydrolysis reaction, etc. Group (more preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, still more preferably a methyl group or an ethyl group). ] The silicon compound represented by this is more preferable.

また、本発明にかかる有機シリカ多孔膜は、平均細孔径が5〜50nmである。このような平均細孔径が前記下限未満では、測定対象分子を細孔内に分散させて担持させ、質量分析を効率よく行うことが困難となり、他方、前記上限を超えると測定対象分子に近接する有機シリカ多孔膜中の有機基が減少し、質量分析を効率よく行うことが困難となる。また、同様の観点から、前記平均細孔径としては、7〜40nmであることがより好ましく、10〜30nmであることが更に好ましい。このような平均細孔径(細孔直径の平均値)は多孔膜の断面及び/又は表面を走査型顕微鏡(SEM:例えば日立ハイテクノロジーズ社製の高分解能電解放射形走査電子顕微鏡:商品名「SEM S−5500」)により測定して、得られるSEM像から、任意の100個以上の細孔の細孔直径を測定して平均化することにより求めることができる。このような平均細孔径の測定方法としては、例えば、走査型顕微鏡により、多孔膜について、任意の4点以上の断面を測定して、得られた4点以上の断面SEM像ごとに、任意の25個以上の細孔の細孔直径を測定することにより、合計で100個以上の任意の細孔の細孔直径を測定して求め、その平均値(100個以上の細孔の細孔直径の平均値)を算出することにより、平均細孔径を求める方法を採用してもよく、任意の100個以上の細孔の細孔直径を測定して平均化することが可能な方法であれば適宜採用することができる。なお、細孔の直径を測定する際には、SEM像における細孔の形状(断面形状)が真円状ではない場合には、その最大の外接円と最小の外接円の直径の平均値を細孔の直径(細孔直径)として測定する。また、SEM像から細孔の細孔直径を測定する際には、一つ一つの細孔の直径の大きさを定規などで測定して、SEMの測定倍率等から細孔の直径の値を算出してもよい。   Moreover, the organic silica porous membrane according to the present invention has an average pore diameter of 5 to 50 nm. When the average pore diameter is less than the lower limit, it becomes difficult to efficiently disperse the measurement target molecules in the pores and perform mass spectrometry. On the other hand, when the upper limit is exceeded, the measurement target molecules are close to the lower limit. Organic groups in the organic silica porous film are reduced, and it is difficult to perform mass spectrometry efficiently. Further, from the same viewpoint, the average pore diameter is more preferably 7 to 40 nm, and further preferably 10 to 30 nm. Such an average pore diameter (average value of pore diameter) is obtained by scanning the cross section and / or the surface of the porous membrane with a scanning microscope (SEM: for example, a high resolution electrolytic emission scanning electron microscope manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation: trade name “SEM” S-5500 ") and can be obtained by measuring and averaging the pore diameters of any 100 or more pores from the obtained SEM image. As a method for measuring such an average pore diameter, for example, by measuring a cross section of any four or more points of the porous membrane with a scanning microscope, any four or more cross-sectional SEM images obtained can be used. By measuring the pore diameter of 25 or more pores, the pore diameter of 100 or more arbitrary pores in total is measured and obtained, and the average value (pore diameter of 100 or more pores) The average pore diameter may be determined by calculating the average pore diameter, and any method may be used that can measure and average the pore diameters of any 100 or more pores. It can be adopted as appropriate. When measuring the diameter of the pore, if the pore shape (cross-sectional shape) in the SEM image is not a perfect circle, the average value of the diameters of the largest circumscribed circle and the smallest circumscribed circle is calculated. Measured as pore diameter (pore diameter). When measuring the pore diameter from the SEM image, measure the diameter of each pore with a ruler, etc., and determine the pore diameter value from the SEM measurement magnification. It may be calculated.

さらに、本発明にかかる有機シリカ多孔膜は、表面開口率が33〜70%である。このような表面開口率が前記下限未満では、測定対象分子を有機シリカ多孔膜の細孔の内部に十分に導入することが困難となり、測定対象分子を担持させる際に表面近傍に残留する傾向にあり、レーザーを照射しても有機シリカ多孔膜が吸収した光エネルギーを測定対象分子に対して効率よく移行させることが困難となって、該膜に担持した測定対象分子をより高度な水準でイオン化脱離させることが困難となり、質量分析の際の検出感度をより向上させることが困難となる。これに対して、表面の33%(約3分の1)以上の領域が細孔の開口部となるような本発明にかかる有機シリカ多孔膜においては、測定対象分子をより効率よく細孔内部に導入することが可能である。また、前記表面開口率が前記上限を超えると測定対象分子に接する有機シリカ多孔膜の有機基(壁)の量が不十分となり、効率よく質量分析することが困難となる傾向にある。また、同様の観点から、前記表面開口率は、35〜67%であることがより好ましく、37〜65%であることが更に好ましく、39〜60%であることが特に好ましい。このような表面開口率が前記範囲にある場合には、有機シリカ多孔膜の有するイオン化脱離性能(測定対象分子をイオン化させて脱離させる性能)がより向上する傾向にある。なお、膜の「表面開口率が33〜70%である」とは、そのような開口率の平均値(平均開口率)を有する表面を少なくとも1部の面に備えていることを意味し、すべての表面の平均開口率が前記範囲にあることを意図するものではない。すなわち、膜の「表面開口率が33〜70%である」とは、開口率の平均値が33〜70%となる表面を有すると同様の意味である。なお、ここにいう「開口率の平均値(平均開口率)」とは、後述の各測定領域の開口率の平均値をいう。   Furthermore, the organic silica porous membrane according to the present invention has a surface opening ratio of 33 to 70%. If the surface area ratio is less than the lower limit, it is difficult to sufficiently introduce the measurement target molecule into the pores of the organic silica porous membrane, and when the measurement target molecule is supported, it tends to remain in the vicinity of the surface. Yes, it becomes difficult to efficiently transfer the light energy absorbed by the porous organic silica membrane to the molecule to be measured even if it is irradiated with laser, and the molecule to be measured carried on the membrane is ionized at a higher level. It becomes difficult to desorb, and it becomes difficult to further improve the detection sensitivity during mass spectrometry. On the other hand, in the organic silica porous membrane according to the present invention in which the region of 33% (about one third) or more of the surface becomes the opening of the pore, the molecule to be measured is more efficiently contained inside the pore. It is possible to introduce to. Moreover, when the said surface opening ratio exceeds the said upper limit, the quantity of the organic group (wall) of the organic silica porous film which contact | connects a measuring object molecule | numerator becomes inadequate, and it exists in the tendency for efficient mass spectrometry to become difficult. From the same viewpoint, the surface aperture ratio is more preferably 35 to 67%, still more preferably 37 to 65%, and particularly preferably 39 to 60%. When such a surface aperture ratio is in the above range, the ionized desorption performance (performance for desorbing the molecule to be measured by ionization) of the organic silica porous film tends to be further improved. In addition, “the surface opening ratio is 33 to 70%” of the film means that the surface having such an average value of opening ratio (average opening ratio) is provided on at least a part of the surface, It is not intended that the average aperture ratio of all surfaces be in the above range. That is, “the surface aperture ratio is 33 to 70%” of the film has the same meaning as having a surface having an average aperture ratio of 33 to 70%. Here, the “average value of aperture ratio (average aperture ratio)” refers to an average value of aperture ratios in each measurement region described later.

このような「表面開口率」としては、以下のようにして測定される値を採用する。すなわち、先ず、測定装置として走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM:日立ハイテクサイエンス製の商品名「NanoNavi E−sweep」)を利用し、有機シリカ多孔膜の表面の1μm×1μmの大きさの任意の4点以上の測定領域において、カンチレバーとしてシリコン製のマイクロカンチレバー(日立ハイテクサイエンス社製のシリコンカンチレバー:商品名「SI−DF20」)を用い、ダイナミックフォースモードにて、表面状態を縦(X):256ピクセル、横(Y):256ピクセルの走査条件で解析し、原子間力顕微鏡(AFM)像をそれぞれ得る(任意の4点以上の1μm角の測定領域のAFM像をそれぞれ得る)。なお、得られるAFM像は、走査条件からも明らかなように総計65536(256×256)個のピクセルで構成されており、それぞれのピクセルには縦(X)、横(Y)、高さ(Z)の情報、すなわち、(X、Y、Z)の位置データが記録されることとなる。また、ここにいう高さ(Z)は、測定面(多孔膜の表面)に対して垂直な方向(水平面に対して垂直な方向:高さ方向)の位置情報であり、また、高さの値の基準面としては、高さ(Z)の位置データが測定面からもっとも最も遠い位置(測定面からの垂直方向の距離が最も長い位置:測定面からの深さで考えた場合に最も深い位置)にあるピクセル(画素:点)を含む水平面(地上からの高さが最も低いピクセルを含む水平面)を採用して、その基準面からの垂直な方向の距離(差)を高さ(Z)の値(単位:nm)とする。このように、前記基準面の高さ(Z)の値を0nmとして、該基準面からの高さ方向の距離を各ピクセルの高さ(Z)の値(単位:nm)として採用する。次に、前述のようにして得られたAFM像より、各ピクセルでの高さ(Z)の値を縦軸とし、全ピクセル数に対する特定の高さを有するピクセルの数の割合(特定の高さの値(同一の高さの値)を有するピクセルの存在率[単位:%]、以下、単に「度数」と称する)を横軸とするグラフ(高さの度数分布曲線のグラフ)を求める。なお、ここにいう度数(単位:%)は、例えば、高さ(Z)が10nmとなるピクセルの数が500個である場合、総ピクセル数が65536個であるため、0.76%[計算式:(500/65536)×100]となる。そして、このようにして得られる高さの分布(高さの度数分布曲線のグラフ)から、最大の度数(最大度数)を有する高さの値(かかる高さの値を便宜上「H1」と称する:なお、高さ(Z)の値が「H1」となるピクセルの数が最も多いこととなる)よりも低い高さの値を有し、かつ、最大度数の2分の1(0.5倍)の度数を有する高さの値(かかる高さの値を便宜上「H2」と称する)を求める。そして、かかる最大度数の2分の1の高さの値(H2)を閾値として、AFM像を二値化する。このような二値化により、高さ(Z)の値がH2以上となるピクセル(画素)の部分と、高さの値がH2未満となるピクセル(画素)の部分とで二色に色分けした画像が得られる。そして、このような二値化した画像から、本発明においては、高さの値がH2以上となるピクセルの部分(領域)を多孔膜の骨格部分(膜の表面を形成する有機シリカ部分)と判断し、高さの値がH2未満となるピクセルの部分(領域)を細孔の開口部分(細孔に基づく空隙部分)と判断する。このようにして、任意の4点以上の測定領域(1μm角)のAFM像から、それぞれ二値化した画像(膜の表面を形成する有機シリカ部分(膜の骨格部分)と細孔の開口部分とで2色に色分けした画像)を求め、かかる画像に基づいて、各測定領域の開口率(各測定領域の表面画像に占める細孔の開口部分の割合:各測定領域の表面画像に占める高さの値がH2未満となるピクセルの部分(領域)の割合(計算式:([細孔の開口部分の面積(高さの値がH2未満となるピクセルの数)]/[測定領域の総面積(総ピクセル数)])×100[単位:%])をそれぞれ算出し、求めた各測定領域の開口率を平均化することにより、「表面開口率(任意の4点以上の測定領域の開口率の平均値)」を求めることができる。   As such a “surface aperture ratio”, a value measured as follows is adopted. That is, first, a scanning probe microscope (SPM / AFM: trade name “NanoNavi E-sweep” manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.) is used as a measuring device, and an arbitrary size of 1 μm × 1 μm on the surface of the porous organic silica membrane is used. In a measurement area of 4 points or more, using a micro cantilever made of silicon as a cantilever (silicon cantilever manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd .: trade name “SI-DF20”), the surface state is vertical (X) in dynamic force mode: Analysis is performed under a scanning condition of 256 pixels, horizontal (Y): 256 pixels, and an atomic force microscope (AFM) image is obtained respectively (an AFM image of a measurement area of 1 μm square of four or more arbitrary points is obtained). The obtained AFM image is composed of a total of 65536 (256 × 256) pixels, as is apparent from the scanning conditions, and each pixel has a vertical (X), horizontal (Y), and height ( Information of Z), that is, position data of (X, Y, Z) will be recorded. Further, the height (Z) here is position information in a direction perpendicular to the measurement surface (the surface of the porous membrane) (direction perpendicular to the horizontal plane: height direction). As the reference plane of the value, the position data of the height (Z) is the farthest position from the measurement plane (the position where the distance in the vertical direction from the measurement plane is the longest: the deepest when considered from the depth from the measurement plane A horizontal plane including a pixel (pixel: point) at a position (horizontal plane including a pixel having the lowest height from the ground) is adopted, and the distance (difference) in the vertical direction from the reference plane is set to the height (Z ) Value (unit: nm). Thus, the height (Z) value of the reference surface is set to 0 nm, and the distance in the height direction from the reference surface is used as the height (Z) value (unit: nm) of each pixel. Next, from the AFM image obtained as described above, the vertical axis is the height (Z) value at each pixel, and the ratio of the number of pixels having a specific height to the total number of pixels (specific height). A graph (a graph of height frequency distribution curve) whose horizontal axis is the abundance ratio (unit:%) of pixels having a height value (the same height value), hereinafter simply referred to as “frequency”) is obtained. . The frequency (unit:%) mentioned here is 0.76% because the total number of pixels is 65536 when the number of pixels having a height (Z) of 10 nm is 500, for example, 0.76% [calculation Formula: (500/65536) × 100]. Then, from the height distribution thus obtained (the graph of the height frequency distribution curve), the height value having the maximum frequency (maximum frequency) (the height value is referred to as “H1” for convenience). : The height (Z) value is lower than the number of pixels having the highest value (H1), and half the maximum frequency (0.5 A height value having a frequency of (times) (the height value is referred to as “H2” for convenience). Then, the AFM image is binarized using a value (H2) that is a half of the maximum frequency as a threshold value. By such binarization, the color of the pixel (pixel) where the height (Z) is greater than or equal to H2 and the portion of the pixel (pixel) where the height is less than H2 are divided into two colors. An image is obtained. From such a binarized image, in the present invention, the pixel portion (region) having a height value of H2 or more is defined as the skeleton portion of the porous film (the organic silica portion forming the surface of the film). The pixel portion (region) where the height value is less than H2 is determined as the opening portion of the pore (a void portion based on the pore). In this way, images binarized from the AFM images of any four or more measurement regions (1 μm square) (the organic silica part (membrane skeleton part) forming the surface of the film and the opening part of the pores) 2), and based on such an image, the aperture ratio of each measurement region (the ratio of the pore opening portion to the surface image of each measurement region: the high ratio to the surface image of each measurement region) Percentage of pixel parts (regions) whose height value is less than H2 (calculation formula: ([area of pore opening part (number of pixels whose height value is less than H2)] / [total measurement area] Area (total number of pixels)] × 100 [unit:%]), and by averaging the obtained aperture ratio of each measurement area, the “surface aperture ratio (of any four or more measurement areas) Average value of aperture ratio) ".

以下、このような表面開口率の測定方法を、図1を参照しながら説明する。図1において、(a)は多孔膜の表面上の任意の1μm角の領域のAFM像であり、(b)は前記AFM像のデータから求められる高さの度数分布曲線を示すものであり、(c)は前記AFM像を二値化した画像である。このようなAFM像(図1(a))は、上述のように(X、Y、Z)のデータが記録されたものであり、かかるAFM像の各ピクセル(総ピクセル数:65536個)のデータから、高さの度数分布曲線(高さの分布を示すグラフ:図1(b))を求めることができる。そして、最大の度数を有する高さ(図1(b)中のH1の位置の高さ)よりも低い高さの値を有し、かつ、最大度数の1/2の度数を有する高さ(図1(b)中のH2の位置の高さ)の値を求め、かかる高さの値(H2)を閾値としてAFM像を二値化する。このようにしてAFM像から二値化した画像(高さの値がH2以上となるピクセルの部分と、高さの値がH2未満となるピクセルの部分とで色分けした画像:図1(c))を得る。なお、図1(c)においては黒く塗りつぶされた部分が細孔の開口部分(細孔の空隙部分:高さの値がH2未満となるピクセルの部分)である。そして、かかる画像から、細孔の開口部分の面積を求め、細孔の開口部分の面積の測定領域の総面積に対する割合([細孔の開口部分の面積]/[測定領域の総面積])×100[単位:%])を算出する。そして、本発明においては、このような細孔の開口部分の面積の測定領域の総面積に対する割合を、有機シリカ多孔体の表面の1μm角の任意の4点以上の測定領域のそれぞれに対して算出し、これを平均化することにより、表面開口率(任意の4点以上の測定領域の開口率の平均値)を求めることができる。以上、表面開口率の測定方法を説明したが、上述のような表面開口率や前記平均細孔径の条件を満たす有機シリカ多孔膜を調製するための方法については後述する。   Hereinafter, a method for measuring the surface aperture ratio will be described with reference to FIG. In FIG. 1, (a) is an AFM image of an arbitrary 1 μm square region on the surface of the porous membrane, and (b) shows a frequency distribution curve of height obtained from the data of the AFM image, (C) is an image obtained by binarizing the AFM image. Such an AFM image (FIG. 1A) is recorded with data of (X, Y, Z) as described above, and each pixel (total number of pixels: 65536) of the AFM image is recorded. From the data, a frequency distribution curve of height (a graph showing the distribution of height: FIG. 1B) can be obtained. A height having a value lower than the height having the maximum frequency (the height at the position of H1 in FIG. 1B) and having a frequency half that of the maximum frequency ( The value of the height H2 in FIG. 1B is obtained, and the AFM image is binarized using the height value (H2) as a threshold value. An image binarized from the AFM image in this manner (an image obtained by color-coding the pixel portion whose height value is H2 or more and the pixel portion whose height value is less than H2: FIG. 1 (c) ) In FIG. 1C, the blacked out portion is the opening portion of the pore (void portion of the pore: the portion of the pixel whose height value is less than H2). Then, the area of the opening portion of the pore is obtained from the image, and the ratio of the area of the opening portion of the pore to the total area of the measurement region ([area of the opening portion of the pore] / [total area of the measurement region]) X 100 [unit:%]) is calculated. And in this invention, the ratio with respect to the total area of the measurement area | region of the opening part area of such a pore is each with respect to each of arbitrary 4 points | pieces or more of 1 micrometer squares of the surface of a porous organic silica body. By calculating and averaging this, the surface aperture ratio (the average value of the aperture ratios of any four or more measurement regions) can be obtained. The method for measuring the surface aperture ratio has been described above, but a method for preparing an organic silica porous film that satisfies the conditions for the surface aperture ratio and the average pore diameter as described above will be described later.

さらに、このような有機シリカ多孔膜の厚みとしては特に制限されるものではないが、20〜500nmであることが好ましく、40〜300nmであることがより好ましい。このような膜の厚みが前記下限未満では有機シリカ多孔膜のレーザー光の吸収効率が低下し、該膜にレーザー光を十分に吸収させて、該膜から測定対象分子にエネルギーを効率よく移動させることが困難となる傾向にあり、他方、前記上限を超えると細孔内部に導入した測定対象分子が脱離し難くなる傾向にある。   Further, the thickness of such a porous organic silica film is not particularly limited, but is preferably 20 to 500 nm, and more preferably 40 to 300 nm. If the thickness of such a film is less than the lower limit, the absorption efficiency of the laser beam of the organic silica porous film is reduced, and the film absorbs the laser beam sufficiently to efficiently transfer energy from the film to the molecule to be measured. On the other hand, if the upper limit is exceeded, the molecules to be measured introduced into the pores tend to be difficult to desorb.

なお、このような本発明にかかる有機シリカ多孔膜を調製するために好適に利用可能な方法は特に制限されないが、例えば、前記重合体(例えば、上記一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物の中から選択される少なくとも1種の重合体)からなりかつ平均細孔径が5〜50nmの細孔を有する薄膜(有機シリカ多孔膜前駆体)を調製した後、表面開口率が33〜70%となるように前記薄膜の表面をエッチングすることにより、上記本発明にかかる有機シリカ多孔膜を得る方法(以下、便宜上、単に「方法(A)」と称する)を採用することができる。   In addition, a method that can be suitably used for preparing such an organic silica porous membrane according to the present invention is not particularly limited. For example, the polymer (for example, the general formulas (1-i) to (1- After preparing a thin film (organosilica porous membrane precursor) comprising at least one polymer selected from among the organosilicon compounds represented by iii) and having pores having an average pore diameter of 5 to 50 nm The method for obtaining the porous organic silica film according to the present invention by etching the surface of the thin film so that the surface aperture ratio is 33 to 70% (hereinafter simply referred to as “method (A)” for convenience) Can be adopted.

このような方法(A)においては、先ず、前記重合体からなりかつ平均細孔径が5〜50nmの細孔を有する薄膜を調製する。このような薄膜の調製方法は特に制限されず、公知の方法(例えば特開2008−084836号公報に記載の方法等)を適宜利用でき、例えば、鋳型となる界面活性剤の存在下において、前記有機ケイ素化合物(例えば、上記一般式(1−i)〜(1−iii)で表される有機ケイ素化合物の中から選択される少なくとも1種の化合物等)を重合させた後、鋳型となる該界面活性剤を除去することで、前記有機ケイ素化合物の重合体からなりかつ平均細孔径が5〜50nmである薄膜を得る方法を好適に採用できる。   In such a method (A), first, a thin film comprising the polymer and having pores having an average pore diameter of 5 to 50 nm is prepared. The method for preparing such a thin film is not particularly limited, and a known method (for example, a method described in JP-A-2008-084836) can be appropriately used. For example, in the presence of a surfactant as a template, The organosilicon compound (for example, at least one compound selected from the organosilicon compounds represented by the above general formulas (1-i) to (1-iii)) is polymerized and then used as a template. By removing the surfactant, a method of obtaining a thin film made of the polymer of the organosilicon compound and having an average pore diameter of 5 to 50 nm can be suitably employed.

このような界面活性剤としては、特に限定されるものではなく、陽イオン性、陰イオン性、非イオン性のうちのいずれであってもよく、具体的には、アルキルトリメチルアンモニウム、アルキルトリエチルアンモニウム、ジアルキルジメチルアンモニウム、ベンジルアンモニウム等の塩化物、臭化物、ヨウ化物あるいは水酸化物;脂肪酸塩;アルキルスルホン酸塩;アルキルリン酸塩;ポリエチレンオキサイド系非イオン性界面活性剤(例えば、ポリスチレン−ポリエチレンオキシドジブロックポリマー等);一級アルキルアミン等が挙げられる。これらの界面活性剤は、単独で又は二種以上を混合して用いられる。   Such a surfactant is not particularly limited, and may be any of cationic, anionic, and nonionic, specifically, alkyltrimethylammonium, alkyltriethylammonium. , Dialkyldimethylammonium, benzylammonium chlorides, bromides, iodides or hydroxides; fatty acid salts; alkyl sulfonates; alkyl phosphates; polyethylene oxide nonionic surfactants (eg, polystyrene-polyethylene oxide) Diblock polymers and the like); primary alkylamines and the like. These surfactants are used alone or in admixture of two or more.

また、重合体を薄膜形状とするとの観点からは、前記方法(A)において、例えば、有機溶媒(例えばアルコール等)と、前記界面活性剤と、前記有機ケイ素化合物とを混合して得られた混合物を、基材上に塗布(例えばスピンコート法などにより塗布)し、塗膜を得た後、これを重合する方法を採用することが好ましい。なお、前記基材としては、例えば、シリコン基材(Si基板)、ITO基材、FTO基材、石英基材、ガラス基材、各種金属基材等のようなシリカ多孔膜を製造する際に利用することが可能な公知の基材を適宜利用できる。   In addition, from the viewpoint of forming the polymer into a thin film shape, in the method (A), for example, it was obtained by mixing an organic solvent (for example, alcohol), the surfactant, and the organosilicon compound. It is preferable to employ a method in which the mixture is applied on a substrate (for example, by spin coating) to obtain a coating film and then polymerized. In addition, as said base material, when manufacturing porous silica films, such as a silicon base material (Si substrate), an ITO base material, an FTO base material, a quartz base material, a glass base material, various metal base materials, etc., for example. A known base material that can be used can be used as appropriate.

また、前記有機ケイ素化合物の重合後に界面活性剤を除去する方法としては、特に制限されないが、例えば、(i)界面活性剤に対する溶解度が高い有機溶媒(例えば、エタノール、トルエン等)中に前記薄膜を浸漬して界面活性剤を除去する方法、(ii)前記薄膜を200〜400℃で焼成して界面活性剤を除去する方法、(iii)前記薄膜を酸性溶液に浸漬して加熱し、界面活性剤を水素イオンに交換せしめるイオン交換法、等を挙げることができる。このようにして界面活性剤を除去することで、界面活性剤の種類に応じて、効率よく平均細孔径が5〜50nmである前記有機ケイ素化合物の重合体からなる薄膜(有機シリカ多孔膜前駆体)を形成できる。   The method for removing the surfactant after the polymerization of the organosilicon compound is not particularly limited. For example, (i) the thin film in an organic solvent (for example, ethanol, toluene, etc.) having high solubility in the surfactant. (Ii) A method of removing the surfactant by baking the thin film at 200 to 400 ° C., (iii) A method of immersing the thin film in an acidic solution and heating, Examples thereof include an ion exchange method in which an activator is exchanged for hydrogen ions. By removing the surfactant in this manner, a thin film (organosilica porous membrane precursor) made of a polymer of the organosilicon compound having an average pore diameter of 5 to 50 nm efficiently depending on the type of the surfactant. ) Can be formed.

また、前記方法(A)においては、前記薄膜(有機シリカ多孔膜前駆体)を調製した後、表面開口率が33〜70%となるように前記薄膜の表面をエッチングする。なお、一般に、有機シリカ化合物を利用して薄膜(有機シリカ多孔膜前駆体)を調製する場合、成膜時に有機シリカ部分(有機基を有するシリカ骨格部分)が気相界面近傍に集まり易く、これに起因して開口率が低い膜が形成される傾向がある。そのため、表面の33%(約3分の1)以上という広い範囲を占める領域が細孔の開口部となるような有機シリカ多孔膜を得るためには、すなわち、表面開口率が33〜70%となるような本発明にかかる有機シリカ多孔膜を得るためには、薄膜の最表面をエッチング等により切除して、内部の細孔が露出されるようにする処理を施すこと(表面開口部の割合を高くすること)が好ましい。   Moreover, in the said method (A), after preparing the said thin film (organosilica porous membrane precursor), the surface of the said thin film is etched so that surface aperture ratio may be 33 to 70%. In general, when preparing a thin film (organic silica porous membrane precursor) using an organic silica compound, the organic silica portion (silica skeleton portion having an organic group) tends to gather near the gas phase interface during film formation. As a result, a film having a low aperture ratio tends to be formed. Therefore, in order to obtain an organic silica porous film in which a region occupying a wide range of 33% (about one third) or more of the surface becomes the opening of the pores, that is, the surface opening ratio is 33 to 70%. In order to obtain the organic silica porous film according to the present invention, the outermost surface of the thin film is removed by etching or the like so that the internal pores are exposed (the surface opening portion). It is preferable to increase the ratio).

このようなエッチングの方法は特に制限されないが、薄膜の最表面を切除して内部の細孔が露出されるように、より効率よくエッチングすることが可能であることから、反応性イオンエッチング(RIE)処理を採用することが好ましい。このような反応性イオンエッチング(RIE)処理は、エッチングガスを供給した後、プラズマを発生させてエッチングするドライエッチング法である。このようなエッチングガスとしては、特に制限されず、公知のエッチングガスを適宜利用できるが、シリカのエッチングに汎用的に使用されており、有効であるといった観点から、四フッ化炭素(CF)等のフッ素系ガスを利用することが好ましい。なお、このようなエッチングガスとしては、フッ素系ガスと他のガス(例えば酸素)の混合物を利用してもよい。また、エッチングの際に採用する条件は特に制限されず、薄膜を形成する有機シリカの種類等に応じて、表面開口率が33〜70%となるように、最適な条件を適宜設定すればよい。なお、このようなエッチングに際しては、例えば、雰囲気圧は5〜30Pa(より好ましくは10〜20Pa)とすることが好ましく、RF電源の出力(RF出力)は5〜200W(より好ましくは10〜50W)とすることが好ましく、エッチングガスの流量を50〜200sccmとすることが好ましい。また、このような反応性イオンエッチング処理に用いることが可能な装置は特に制限されず、市販品(例えば、サムコ社製の「RIE−10NR」等)を適宜利用してもよい。 The etching method is not particularly limited, but reactive ion etching (RIE) can be performed because etching can be performed more efficiently so that the outermost surface of the thin film is removed to expose internal pores. ) Treatment is preferred. Such reactive ion etching (RIE) processing is a dry etching method in which etching is performed by supplying plasma and then generating plasma. Such an etching gas is not particularly limited, and a known etching gas can be appropriately used. However, carbon tetrafluoride (CF 4 ) is used from the viewpoint that it is widely used for etching silica and is effective. It is preferable to use a fluorine-based gas such as. As such an etching gas, a mixture of a fluorine-based gas and another gas (for example, oxygen) may be used. In addition, the conditions employed in the etching are not particularly limited, and optimal conditions may be appropriately set so that the surface aperture ratio is 33 to 70% according to the type of organic silica forming the thin film. . In such etching, for example, the atmospheric pressure is preferably 5 to 30 Pa (more preferably 10 to 20 Pa), and the output of the RF power source (RF output) is 5 to 200 W (more preferably 10 to 50 W). It is preferable that the flow rate of the etching gas is 50 to 200 sccm. The apparatus that can be used for such reactive ion etching is not particularly limited, and a commercially available product (for example, “RIE-10NR” manufactured by Samco Corporation) may be used as appropriate.

このように、薄膜の最表面をエッチングにより切除して内部の細孔が露出されるようにすることで、表面の開口部をより多くすることができ、これにより表面開口率が33〜70%となるような有機シリカ多孔膜を効率よく得ることができる。なお、上記方法(A)では、表面開口率を33〜70%とする方法としてエッチング法を採用しているが、表面開口率を33〜70%とする方法は特に制限されず、前記薄膜を得た後に、細孔を露出することが可能な方法を適宜利用できる。   Thus, by removing the outermost surface of the thin film by etching so that the internal pores are exposed, the number of openings on the surface can be increased, and thereby the surface opening ratio is 33 to 70%. Thus, an organic silica porous membrane can be efficiently obtained. In the above method (A), an etching method is employed as a method for setting the surface aperture ratio to 33 to 70%, but the method for setting the surface aperture ratio to 33 to 70% is not particularly limited, and the thin film is formed. After obtaining, a method capable of exposing the pores can be used as appropriate.

また、本発明においては、質量分析の際に、上記有機シリカ多孔膜はいわゆる質量分析用の基板として利用される。このような質量分析用の基板として利用する際の形態(質量分析の際に使用する有機シリカ多孔膜の形態)は特に制限されず、例えば、上記有機シリカ多孔膜のみからなるものを利用してもよく、あるいは、前記有機シリカ多孔膜を支持体に積層した形態(例えば、表面開口率が33〜70%である面が露出された状態となるようにして前記基材(製造時に利用する基材)上に前記有機シリカ多孔膜が積層された積層体等)として利用してよい。また、本発明にかかる有機シリカ多孔膜の使用形態としては、その調製の容易さ等の観点からは、表面開口率が33〜70%である表面が露出された状態となるようにして前記基材上に前記有機シリカ多孔膜が積層された積層体の形態であること(例えば、前記基材上に有機シリカ多孔膜を形成してそのまま利用すること)が好ましい。   In the present invention, the organic silica porous membrane is used as a substrate for so-called mass spectrometry in mass spectrometry. There is no particular limitation on the form (form of the organic silica porous film used in the mass spectrometry) when used as such a substrate for mass spectrometry, for example, using the one composed only of the above organic silica porous film Alternatively, the organic silica porous membrane may be laminated on a support (for example, the base material (base used during production) so that the surface having a surface opening ratio of 33 to 70% is exposed. The material may be used as a laminate in which the organic silica porous film is laminated on the material). Moreover, as a usage form of the organic silica porous membrane according to the present invention, from the viewpoint of easiness of the preparation, etc., the above-mentioned group is formed so that the surface having a surface opening ratio of 33 to 70% is exposed. It is preferably in the form of a laminate in which the organic silica porous film is laminated on a material (for example, forming an organic silica porous film on the substrate and using it as it is).

〈試料〉
本発明にかかる試料は、測定対象分子を含むものである。このような測定対象分子としては特に制限されないが、本発明により、より高い検出感度で測定することが可能となることから、生体由来の分子又は生体試料中の分子であることが好ましい。このような生体由来の分子又は生体試料中の分子としては、糖、タンパク質、ペプチド、糖タンパク質、糖ペプチド、核酸、糖脂質等がより好ましく、これらの分子に対しては、本発明の効果をより高度なものとすることが可能となる傾向にある。また、このような測定対象分子としては、天然物から調製されるもの、天然物を化学的又は酵素学的に一部改変して調製されるものの他、化学的又は酵素学的に調製されるものであってもよい。また、生体に含まれる分子の部分構造を有するものや生体に含まれる分子を模倣して作製されたものであってもよい。
<sample>
The sample according to the present invention contains a molecule to be measured. Although it does not restrict | limit especially as such a measuring object molecule | numerator, Since it becomes possible to measure with a higher detection sensitivity by this invention, it is preferable that it is a molecule | numerator derived from a biological body or a molecule | numerator in a biological sample. Such a molecule derived from a living body or a molecule in a biological sample is more preferably a sugar, protein, peptide, glycoprotein, glycopeptide, nucleic acid, glycolipid, etc. It tends to be possible to make it more sophisticated. Such molecules to be measured are prepared from natural products, prepared by partially modifying natural products chemically or enzymatically, and prepared chemically or enzymatically. It may be a thing. Moreover, what has the partial structure of the molecule | numerator contained in a biological body, or the thing imitated by the molecule | numerator contained in a biological body may be used.

また、本発明にかかる試料(測定対象分子を含む試料)としては、測定対象分子そのものであってもよいし、あるいは、測定対象分子を含むもの(例えば、生体の組織、細胞、体液や分泌物(例えば、血液、血清、尿、精液、唾液、涙液、汗、糞便等)等)であってもよい。このように、本発明にかかる試料(測定対象分子を含む試料)としては、直接生体試料を用いてもよい。また、試料の前駆体(測定対象分子の前駆体等)を有機シリカ多孔膜に担持させた後に酵素処理等を行なって、測定対象分子を調製してもよい。この場合には、前記試料前駆体を有機シリカ多孔膜に担持させた後に処理を行なうことで、結果的に試料を有機シリカ多孔膜上に担持することとなる。   Further, the sample according to the present invention (sample containing the molecule to be measured) may be the molecule to be measured itself, or one containing the molecule to be measured (for example, biological tissue, cell, body fluid or secretion) (For example, blood, serum, urine, semen, saliva, tears, sweat, feces, etc.)). Thus, a biological sample may be used directly as a sample according to the present invention (a sample containing a molecule to be measured). Alternatively, the measurement target molecule may be prepared by carrying out an enzyme treatment or the like after a sample precursor (a precursor of a measurement target molecule or the like) is supported on the porous organic silica membrane. In this case, the treatment is performed after the sample precursor is supported on the organic silica porous film, and as a result, the sample is supported on the organic silica porous film.

また、本発明において「測定対象分子」としては、上記試料に含有されている分子であって、その化学構造を決定したい分子そのものであってもよく、あるいは、上記試料に含有されている分子であって、その化学構造を決定したい分子を誘導体化した分子(例えば、いわゆる標識分子を化学構造を決定したい分子に結合させることにより得られる質量分析に供される分子)であってもよい。このように、「測定対象分子」は、誘導化していない分子であってもよく、あるいは、標識分子により誘導化した分子であってもよい。なお、誘導化の有無は特に制限されず、利用する有機シリカ多孔膜の有機基の種類や、化学構造を決定したい分子の種類等に応じて適宜決定すればよい。このように、化学構造を決定したい分子によっては必ずしも誘導化を行なう必要はない。なお、このような測定対象分子の分子量については特に限定はないが、他の測定方法での正確な測定が困難であり本発明の特徴をより発揮し易いことから、160以上であることが好ましく、500以上であることがより好ましく、1000以上であることが特に好ましい。   In the present invention, the “measurement target molecule” may be a molecule contained in the sample and the molecule itself whose chemical structure is desired to be determined, or a molecule contained in the sample. In addition, a molecule obtained by derivatizing a molecule whose chemical structure is to be determined (for example, a molecule subjected to mass spectrometry obtained by binding a so-called labeled molecule to a molecule whose chemical structure is to be determined) may be used. Thus, the “molecule to be measured” may be a molecule that has not been derivatized, or may be a molecule that has been derivatized with a labeled molecule. The presence or absence of derivatization is not particularly limited, and may be appropriately determined according to the type of organic group of the organic silica porous film to be used, the type of molecule for which the chemical structure is desired to be determined, and the like. Thus, derivatization is not always necessary depending on the molecule whose chemical structure is to be determined. The molecular weight of such a molecule to be measured is not particularly limited, but it is preferably 160 or more because accurate measurement with other measurement methods is difficult and the characteristics of the present invention are more easily exhibited. , More preferably 500 or more, and particularly preferably 1000 or more.

また、前記測定対象分子として、化学構造を決定したい分子を誘導体化した分子を利用する場合、その誘導体化は、前記有機基が吸収した光エネルギー(前記有機シリカ多孔膜が吸収した光エネルギー)を受容可能にする標識分子、好ましくは、上記有機シリカ多孔膜の発光スペクトルとスペクトルの重なりを有する吸収帯を有する標識分子と共有結合させることにより行うことが好ましい。   Further, when a molecule obtained by derivatizing a molecule whose chemical structure is to be determined is used as the measurement target molecule, the derivatization uses light energy absorbed by the organic group (light energy absorbed by the organic silica porous film). It is preferably carried out by covalently bonding to a label molecule to be acceptable, preferably a label molecule having an absorption band having an overlap of the spectrum with the emission spectrum of the organic silica porous film.

このような標識分子は、有機シリカ多孔膜から供与されるエネルギーの受容体としての効果を有するものであれば特に限定されないが、蛍光標識試薬として市販されている分子を利用してもよい。このような標識分子としては、例えば、ピレン誘導体、fluorescein誘導体、rhodamine誘導体、シアニン色素、Alexa Fluor(登録商標)、2−アミノアクリドン、6−アミノキノリン等が挙げられる。   Such a labeled molecule is not particularly limited as long as it has an effect as an acceptor of energy donated from the organic silica porous membrane, but a molecule commercially available as a fluorescent labeling reagent may be used. Examples of such a labeled molecule include pyrene derivatives, fluorescein derivatives, rhodamine derivatives, cyanine dyes, Alexa Fluor (registered trademark), 2-aminoacridone, 6-aminoquinoline and the like.

また、エネルギー供与体である有機シリカ多孔膜とエネルギー受容体である標識分子の組合せは、エネルギー移動の効率、有機シリカ多孔膜の発光スペクトルと測定対象分子の吸収スペクトルとの重なり、相互作用の強度等の点から適宜決定される。例えば、有機シリカ多孔膜としてトリフェニルアミン基を有する架橋型有機シリカ多孔膜を利用する場合は、標識分子として、2−アミノアクリドン等を好適に利用でき、また、有機シリカ多孔膜としてメチルアクリドン基を有する架橋型有機シリカ多孔膜を利用する場合は、標識分子として、4−Fluoro−7−nitrobenzofurazan、4−Fluoro−7−sulfobenzofurazan、3−Chlorocarbonyl−6,7−dimethoxy−1−methyl−2(1H)−quinoxalinone等を好適に利用できる。このような標識分子は、対象分子と化学結合し易い官能基を有することが好ましく、誘導体化は別の容器で行ってから使用してもよいし、有機シリカ多孔膜上で行ってもよい。   In addition, the combination of the organic silica porous membrane as the energy donor and the labeled molecule as the energy acceptor has the energy transfer efficiency, the overlap between the emission spectrum of the organic silica porous membrane and the absorption spectrum of the molecule to be measured, and the strength of the interaction. It is determined appropriately from such points. For example, when a crosslinked organic silica porous film having a triphenylamine group is used as the organic silica porous film, 2-aminoacridone or the like can be suitably used as the labeling molecule, and methylacrylic acid can be used as the organic silica porous film. When a crosslinked organic silica porous membrane having a don group is used, 4-Fluoro-7-nitrobenzofurazane, 4-Fluoro-7-sulfobenzofurazan, 3-Chlorocarbon-6,7-dimethyl-1-methyl- is used as a labeling molecule. 2 (1H) -quinoxaline etc. can be used suitably. Such a labeled molecule preferably has a functional group that is easily chemically bonded to the target molecule, and derivatization may be performed after being performed in a separate container, or may be performed on an organic silica porous membrane.

なお、本発明において、前記有機シリカ多孔膜によって測定対象分子をより効率よくイオン化することが可能となる理由は必ずしも定かではないが、本発明者らは以下のように推察する。すなわち、先ず、本発明にかかる有機シリカ多孔膜に対してレーザー光を照射すると、該膜中の有機基によりレーザー光が吸収される。このようにしてレーザー光を吸収させることで、前記有機シリカ多孔膜に吸収された光エネルギーを測定対象分子(エネルギー受容体)に移動させることが可能となる。このように、本発明にかかる有機シリカ多孔膜は、レーザー光を照射すると、光エネルギーを測定対象分子(エネルギー受容体)に移動させるエネルギー供与体として作用する。なお、このような有機シリカ多孔膜(エネルギー供与体)から測定対象分子(エネルギー受容体)へのエネルギー移動としては、発光を経由しないエネルギー移動(例えば分子間の励起エネルギー移動や電子移動)、及び、発光を経由するエネルギー移動(例えばレーザー光を吸収した有機シリカ多孔膜の有機基から発せられた光を測定対象分子が吸収するエネルギー移動(発光再吸収によるエネルギー移動)が考えられる。そして、このようなエネルギー移動により、レーザー光を利用してより効率よく測定対象分子をイオン化することが可能となるものと本発明者らは推察する。なお、本発明においては、測定対象分子を含む試料を有機シリカ多孔膜の表面に接触せしめると、前記有機シリカ多孔膜が表面開口率の高いものであるため、効率よく前記試料を細孔内に導入して担持することができ、その結果、測定対象分子を有機シリカ多孔膜(特に、有機シリカ多孔膜の細孔内壁)に対して、より大きな接触面積をもって接するようになるものと本発明者らは推察する。このように、上記表面開口率を有する多孔膜を利用するため、測定対象分子が有機シリカ多孔膜に対して、より大きな接触面積をもって接するものとなるため、発光を経由していてもあるいは発光を経由していなくても、分子間のエネルギー移動がより容易に引き起こされて、上記した効果が発揮されるものと本発明者らは推察する。   In the present invention, the reason why the organic silica porous membrane can ionize the molecule to be measured more efficiently is not necessarily clear, but the present inventors infer as follows. That is, first, when the organic silica porous film according to the present invention is irradiated with laser light, the organic light in the film absorbs the laser light. By absorbing the laser light in this way, the light energy absorbed by the organic silica porous film can be transferred to the molecule to be measured (energy acceptor). Thus, the organic silica porous membrane according to the present invention acts as an energy donor that moves light energy to a molecule to be measured (energy acceptor) when irradiated with laser light. The energy transfer from the organic silica porous film (energy donor) to the molecule to be measured (energy acceptor) includes energy transfer not via light emission (for example, excitation energy transfer or electron transfer between molecules), and Energy transfer via light emission (for example, energy transfer (energy transfer by light emission reabsorption) in which the molecule to be measured absorbs light emitted from the organic group of the organic silica porous film that has absorbed the laser light) can be considered. The present inventors infer that the energy transfer molecule can ionize the molecule to be measured more efficiently by using the laser beam.In the present invention, the sample containing the molecule to be measured is used. When the organic silica porous membrane is brought into contact with the surface of the organic silica porous membrane, the organic silica porous membrane has a high surface opening ratio. The sample can be efficiently introduced into and supported in the pores. As a result, the molecule to be measured has a larger contact area with respect to the organic silica porous membrane (particularly, the pore inner wall of the organic silica porous membrane). In this way, the present inventors speculate that the molecules to be measured are in contact with the porous organic silica membrane with a larger contact area in order to use the porous membrane having the surface opening ratio. Therefore, the present inventors speculate that the energy transfer between molecules is more easily caused and the above-described effect is exhibited, regardless of whether the light emission is transmitted or not. .

また、本発明においては、このようなエネルギー移動により、レーザー光を利用してより効率よく測定対象分子をイオン化することを可能とするものであると考えられることから、測定対象分子と有機基は以下の関係を満たすようにして選択することが好ましい。すなわち、前記エネルギー移動(有機シリカ多孔膜(エネルギー供与体)から測定対象分子(エネルギー受容体)へのエネルギー移動)がどのようなものであっても、より効率よくエネルギー移動させることが可能となるといった観点からは、上記有機シリカ多孔膜中の前記有機基により照射レーザー光を吸収した後に、該有機シリカ多孔膜の有機基から発せられる光のスペクトル(有機基からの発光スペクトル)と、前記測定対象分子の吸収スペクトルとが少なくともある1つの波長において重なるようにして、有機基及び測定対象分子を選択することがより好ましい。このように、前記有機基からの発光スペクトルと前記測定対象分子の吸収スペクトルとがなくともある1つの波長において重なっている場合には、有機シリカ多孔膜が吸収した光エネルギー又は有機シリカ多孔膜の励起エネルギーが測定対象分子により効率よく移動する傾向にある。特に、発光を経由してエネルギー移動する場合、上記有機シリカ多孔膜が照射レーザー光を吸収して発光するものであり、かつ、該有機シリカ多孔膜の発光スペクトル(有機基からの発光スペクトル)と、上記測定対象分子の吸収スペクトルとが、少なくともある1つの波長において重なっていることがより好ましい。このような発光により有機シリカ多孔膜から出た光エネルギーが測定対象分子に効率よく移動する傾向にあるためである。   In the present invention, such energy transfer is considered to enable more efficient ionization of the molecule to be measured using laser light. It is preferable to select so as to satisfy the following relationship. That is, even if the energy transfer (energy transfer from the organic silica porous membrane (energy donor) to the molecule to be measured (energy acceptor)) is any, the energy can be transferred more efficiently. In view of the above, after absorbing the irradiation laser light by the organic group in the organic silica porous film, the spectrum of light emitted from the organic group of the organic silica porous film (emission spectrum from the organic group) and the measurement It is more preferable to select the organic group and the molecule to be measured so that the absorption spectrum of the target molecule overlaps at least at one wavelength. Thus, when the emission spectrum from the organic group and the absorption spectrum of the molecule to be measured overlap at least at one wavelength, the light energy absorbed by the organic silica porous film or the organic silica porous film The excitation energy tends to move more efficiently with the molecule to be measured. In particular, when energy is transferred via light emission, the organic silica porous film emits light by absorbing the irradiation laser beam, and the emission spectrum of the organic silica porous film (emission spectrum from the organic group) and More preferably, the absorption spectrum of the molecule to be measured overlaps at least at one wavelength. This is because the light energy emitted from the porous organic silica film by such light emission tends to move efficiently to the molecule to be measured.

また、エネルギー移動の形式がどのようなものであっても(発光を経由する場合であっても、発光を経由しない場合であっても)、上記有機シリカ多孔膜の発光スペクトルの短波長端の方が、上記測定対象分子の吸収スペクトルの長波長端より短波長側にあることによって、該有機シリカ多孔膜の発光スペクトルと、該測定対象分子の吸収スペクトルとが、少なくともある1つの波長において重なっていることがより好ましい。このような場合には、有機シリカ多孔膜が吸収した光エネルギーが、光エネルギー又は励起エネルギーとして測定対象分子に対して、より効率よく移動する傾向にある。   In addition, regardless of the type of energy transfer (whether it is via light emission or not), the short wavelength end of the emission spectrum of the organic silica porous film is not limited. On the other hand, the emission spectrum of the porous organic silica film and the absorption spectrum of the molecule to be measured overlap at least at one wavelength by being on the shorter wavelength side than the long wavelength end of the absorption spectrum of the molecule to be measured. More preferably. In such a case, the light energy absorbed by the organic silica porous film tends to move more efficiently as light energy or excitation energy with respect to the molecule to be measured.

〈試料の担持方法〉
本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法においては、質量分析に際して、先ず、上記有機シリカ多孔膜に対して、測定対象分子を含む試料を担持せしめる。このような試料の担持方法としては特に制限されないが、例えば、上記有機シリカ多孔膜の上記表面開口率(33〜70%の表面開口率)を有する表面に対して試料を載置することにより、該膜に試料を担持する方法を採用することが好ましい。このようにして、試料を有機シリカ多孔膜の上記表面開口率を有する表面上に載置することで試料は細孔の内部に容易に侵入して行き、これにより前記有機シリカ多孔膜に効率よく試料を担持することが可能となる。例えば、測定対象分子を含む水溶液を準備し、該水溶液を前記有機シリカ多孔膜の上記表面開口率を有する表面上に滴下することによって前記有機シリカ多孔膜上に試料前駆体(水溶液)を載置した後、溶媒である水を乾燥除去することで、前記膜に試料を担持することができる(この例では、水を除去した後に残る測定対象分子そのものが前記有機シリカ多孔膜に担持される試料となる)。また、前述のように、試料前駆体(酵素処理前の分子)を有機シリカ多孔膜に担持した後に酵素処理を行なって、該膜上で測定対象分子(酵素処理物)を調製することにより、結果的に前記有機シリカ多孔膜上に測定対象分子(酵素処理物)を含む試料を担持してもよい。このように、前記有機シリカ多孔膜上に最終的に測定対象分子を含む試料(測定対象分子そのもの、測定対象分子の誘導化物、測定対象分子と標準物質との混合物等)を担持することが可能であれば、試料を担持する方法は特に制限されない。
<Sample loading method>
In the laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention, in mass spectrometry, first, a sample containing a molecule to be measured is supported on the organic silica porous film. Although it does not restrict | limit especially as a support method of such a sample, For example, by mounting a sample with respect to the surface which has the said surface opening ratio (33-70% surface opening ratio) of the said organic silica porous film, It is preferable to employ a method of supporting a sample on the membrane. In this way, by placing the sample on the surface of the organic silica porous membrane having the above-described surface opening ratio, the sample easily penetrates into the pores, thereby efficiently in the organic silica porous membrane. It becomes possible to carry a sample. For example, a sample precursor (aqueous solution) is placed on the organic silica porous film by preparing an aqueous solution containing the molecule to be measured and dropping the aqueous solution onto the surface of the organic silica porous film having the surface opening ratio. After that, the sample can be supported on the membrane by drying and removing water as a solvent (in this example, the sample in which the molecule to be measured itself remaining after the removal of water is supported on the organic silica porous membrane is supported. Become). In addition, as described above, by carrying the enzyme treatment after supporting the sample precursor (molecule before enzyme treatment) on the organic silica porous membrane, and preparing the molecule to be measured (enzyme treated product) on the membrane, As a result, a sample containing a molecule to be measured (enzyme-treated product) may be supported on the organic silica porous membrane. Thus, it is possible to carry a sample (measurement molecule itself, a derivative of the measurement molecule, a mixture of the measurement molecule and a standard substance, etc.) finally containing the measurement molecule on the organic silica porous membrane. If so, the method for supporting the sample is not particularly limited.

〈質量分析の方法〉
本発明においては、上述のように前記有機シリカ多孔膜に対して測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射することにより、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行う。
<Method of mass spectrometry>
In the present invention, the sample containing the molecule to be measured is supported on the organosilica porous membrane as described above, and then the sample-supporting portion of the membrane is irradiated with laser light to ionize the molecule to be measured. To perform mass spectrometry.

このような質量分析に用いるレーザー光源としては、特に制限されず、例えば、窒素レーザー(337nm)、YAGレーザー3倍波(355nm)、NdYAGレーザー(256nm)、炭酸ガスレーザー(9400nm、10600nm)等のレーザー光源が挙げられるが、有機シリカ多孔膜が効率的に光を吸収できる波長のレーザー光源であるという観点から、窒素レーザー又はYAGレーザー3倍波のレーザー光源が好ましい。   The laser light source used for such mass spectrometry is not particularly limited, and examples thereof include a nitrogen laser (337 nm), a YAG laser triple wave (355 nm), an NdYAG laser (256 nm), a carbon dioxide laser (9400 nm, 10600 nm), and the like. Although a laser light source is mentioned, a nitrogen laser or a YAG laser triple wave laser light source is preferable from the viewpoint that the organic silica porous film is a laser light source having a wavelength capable of efficiently absorbing light.

また、本発明においては、前記レーザー光源(例えば窒素レーザーの光源)を用いて、レーザー光を前記有機シリカ多孔膜の試料担持部位に照射する。このようにしてレーザー光を試料担持部位に照射することで、前記測定対象分子をイオン化することが可能となる。なお、イオン化のメカニズムは、既に説明した通り、レーザーの照射部位に存在する前記有機基により照射レーザーが吸収され、吸収された光エネルギーが効率よく測定対象分子に移動することにより生じるものであると本発明者らは推察する。また、本発明においては、表面開口率が上記条件を満たす有機シリカ多孔膜を利用し、該膜の前記表面開口率を有する表面に試料を担持するため、例えば、試料を滴下して担持させる場合等においては、滴下した測定対象分子が薄膜内部に効率よく導入され、有機シリカ多孔膜の有機基が吸収した光エネルギーをより受け取り易い状態で膜に担持されることとなるため、レーザーの照射により、イオン化脱離がより促進され、従来よりも、より高い検出感度で質量分析を行なうことが可能となるものと本発明者らは推察する。   In the present invention, the laser light source (for example, a nitrogen laser light source) is used to irradiate the sample carrying portion of the porous organic silica film with laser light. By irradiating the sample carrying part with the laser beam in this way, the molecule to be measured can be ionized. As described above, the ionization mechanism is caused by the irradiation laser being absorbed by the organic group present at the laser irradiation site, and the absorbed light energy being efficiently transferred to the measurement target molecule. The present inventors speculate. In the present invention, the organic silica porous film having a surface opening ratio that satisfies the above conditions is used, and the sample is supported on the surface of the film having the surface opening ratio. In such a case, the dropped molecules to be measured are efficiently introduced into the thin film, and the organic energy of the organic silica porous film is supported on the film in a state where it is easier to receive the light energy. The present inventors speculate that ionization and desorption are further promoted, and mass spectrometry can be performed with higher detection sensitivity than before.

なお、レーザー光の照射条件(照射強度、照射時間等)は特に制限されず、測定対象分子に応じて、公知の質量分析の条件の中から最適となる条件を適宜選択して設定すればよい。   The laser light irradiation conditions (irradiation intensity, irradiation time, etc.) are not particularly limited, and may be set by appropriately selecting optimum conditions from known mass spectrometry conditions according to the molecule to be measured. .

また、質量分析のためのイオンの分離検出方法は特に限定されず、二重収束法、四重極集束法(四重極(Q)フィルター法)、タンデム型四重極(QQ)法、イオントラップ法、飛行時間(TOF)法等を適宜採用でき、これによりイオン化した分子を質量/電荷比(m/z)に従って分離し検出することが可能である。なお、このようなイオンの分離検出には、市販の装置を適宜利用でき、例えば、ブルカー・ダルトニクス社製の質量分析計(商品名「autoflex」等)、Shimadzu社製のイオントラップ飛行時間型質量分析計(商品名「AXIMA−QIT等」)等を適宜利用してもよい。このようにして、イオン化された測定対象分子の質量分析を行うことができる。   In addition, the method for separating and detecting ions for mass spectrometry is not particularly limited. Double focusing method, quadrupole focusing method (quadrupole (Q) filter method), tandem quadrupole (QQ) method, ion A trap method, a time-of-flight (TOF) method, or the like can be employed as appropriate, whereby ionized molecules can be separated and detected according to the mass / charge ratio (m / z). A commercially available apparatus can be used as appropriate for such ion separation and detection, for example, a mass spectrometer manufactured by Bruker Daltonics (trade name “autoflex” or the like), an ion trap time-of-flight mass manufactured by Shimadzu. An analyzer (trade name “AXIMA-QIT etc.”) or the like may be used as appropriate. In this way, mass analysis of the ionized molecule to be measured can be performed.

以上、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法について説明したが、以下、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板について説明する。   The laser desorption / ionization mass spectrometry method of the present invention has been described above. Hereinafter, the organic silica porous membrane substrate for laser desorption / ionization mass spectrometry of the present invention will be described.

[レーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板]
本発明のレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板は、レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜を含むことを特徴とするものである。
[Organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry]
The organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry of the present invention has an organic group capable of absorbing laser light in its skeleton, has pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm, and has a surface opening. An organic silica porous film having a rate of 33 to 70% is included.

このような有機シリカ多孔膜は、上記本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法において説明したものと同様のものである(かかる膜の好適な条件や調製するための方法なども同様である)。なお、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板において、レーザー光とは該基板を用いてレーザー脱離イオン化質量分析を行う際に利用するレーザー光をいい、前記レーザー光を吸収可能な有機基は、その測定に利用するレーザー光に応じて適宜選択すればよい。また、このようなレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板は、前記有機シリカ多孔膜を含むものであればよく、その構成は特に制限されず、例えば、特定の支持体に積層させた構成としてもよい。また、このようなレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板としては、調製の容易さ等の観点から、上記方法(A)において説明した基材(例えば、シリコン基材(Si基板)、ITO基材、FTO基材、石英基材、ガラス基材、各種金属基材等のようなシリカ多孔膜を製造する際に利用することが可能な公知の基材)上に有機シリカ多孔膜を積層した積層体とすることが好ましい。また、このような有機シリカ多孔膜基板を用いる質量分析の方法としては、上記本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法を採用することが好ましい。   Such an organic silica porous membrane is the same as that described in the laser desorption / ionization mass spectrometry method of the present invention (suitable conditions for such a membrane and a method for preparing the membrane are also the same). In the organic silica porous membrane substrate for laser desorption / ionization mass spectrometry of the present invention, the laser beam refers to a laser beam used when performing laser desorption / ionization mass spectrometry using the substrate. The absorbable organic group may be appropriately selected according to the laser beam used for the measurement. Such an organic silica porous membrane substrate for laser desorption / ionization mass spectrometry is not particularly limited as long as it includes the organic silica porous membrane, and for example, it is laminated on a specific support. It is good also as a structure. Moreover, as such an organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry, from the viewpoint of easiness of preparation and the like, the substrate described in the above method (A) (for example, a silicon substrate (Si substrate)) Organic silica porous film on a known porous substrate such as ITO, FTO, quartz, glass, various metal substrates, etc. It is preferable to make a laminated body in which Moreover, it is preferable to employ | adopt the laser desorption ionization mass spectrometry method of the said this invention as a mass spectrometry method using such an organic silica porous membrane board | substrate.

以下、実施例及び比較例に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated more concretely based on an Example and a comparative example, this invention is not limited to a following example.

(実施例1)
〈有機シリカ多孔膜前駆体の調製工程〉
ポリスチレン−ポリエチレンオキシドジブックポリマー(polymer source社製の「20kPS−b−14kPEO」:界面活性剤)30mgと、トリエトキシシリルトリフェニルアミン(TPA有機シラン:上記一般式(1−i)で表される有機シラン化合物[式中、mは3であり、nは3であり、Rはエトキシ基であり、かつ、Xは上記一般式(126)で表される有機基である。])を8.17質量%の割合で含有するエタノール溶液(TPA有機シラン/EtOH溶液、含有割合:0.089g/g)337mgと、テトラヒドロフラン(THF)1mLと、エタノール(EtOH)0.611mLとを混合して溶解液を得た後、該溶解液にイオン交換水6mLと2mol/L(2M)のHCl2mLを滴下し、室温(25℃程度)で24時間撹拌してゾルを得た。次いで、得られたゾルをシリコン基板(Si基板:SUMCO社製、P型で面方位[100]、抵抗率:0〜0.02Ωcm以下)にスピンコート(回転数:2000rpm、回転時間:30秒)して、Si基板上に塗膜を形成して積層体を得た。次いで、得られた積層体を室温(25℃程度)で一晩(15時間程度)静置することにより乾燥させた。乾燥後の積層体をアンモニア蒸気に60℃で12時間曝露させた後、ホットプレート上、100℃で1時間加熱して、塗膜中においてTPA有機シランの縮合反応(重合反応)を進行させて、Si基板上にTPA有機シランの重合体からなる薄膜を得た。次いで、前記薄膜が形成されたSi基板をトルエンに浸漬し、トルエン中で110℃の温度条件で24時間加熱する処理を3回繰り返し行うことで、薄膜中に導入された界面活性剤を除去して、Si基板上に有機シリカ多孔膜前駆体(TPA−PMO薄膜)を調製した。
(Example 1)
<Preparation process of organosilica porous membrane precursor>
30 mg of polystyrene-polyethylene oxide dibook polymer (“20 kPS-b-14 kPEO” manufactured by polymer source: surfactant) and triethoxysilyltriphenylamine (TPA organosilane: represented by the above general formula (1-i)) An organic silane compound [wherein m is 3, n is 3, R 1 is an ethoxy group, and X is an organic group represented by the general formula (126)]. 337 mg of an ethanol solution (TPA organosilane / EtOH solution, content ratio: 0.089 g / g) contained at a rate of 8.17% by mass, 1 mL of tetrahydrofuran (THF), and 0.611 mL of ethanol (EtOH) were mixed. Then, 6 mL of ion-exchange water and 2 mL of 2 mol / L (2M) HCl were added dropwise to the solution, and the solution was added at room temperature ( It was obtained 24 hours with stirring to the sol at 5 about ° C.). Next, the obtained sol was spin coated (rotation speed: 2000 rpm, rotation time: 30 seconds) on a silicon substrate (Si substrate: manufactured by SUMCO, P type, plane orientation [100], resistivity: 0 to 0.02 Ωcm or less). Then, a coating film was formed on the Si substrate to obtain a laminate. Next, the obtained laminate was dried by allowing it to stand overnight (about 15 hours) at room temperature (about 25 ° C.). After the dried laminate was exposed to ammonia vapor at 60 ° C. for 12 hours, it was heated on a hot plate at 100 ° C. for 1 hour to allow the TPA organosilane condensation reaction (polymerization reaction) to proceed in the coating film. A thin film made of a polymer of TPA organosilane was obtained on a Si substrate. Next, the surfactant introduced into the thin film is removed by immersing the Si substrate on which the thin film is formed in toluene and repeatedly performing the process of heating in toluene at 110 ° C. for 24 hours three times. Then, an organic silica porous film precursor (TPA-PMO thin film) was prepared on a Si substrate.

〈反応性イオンエッチング(RIE)処理〉
上述のようにして得られた有機シリカ多孔膜前駆体(TPA−PMO薄膜)の表面に対して、エッチング装置としてサムコ社製の商品名「RIE−10NR」を用いて、エッチングガスとしてCFとOとを含むガス(CF/O混合ガス)を利用し、該混合ガスの組成が59/10(CF/O)となるようにエッチングガスを59sccm/10sccm(CF/O)の流量で用い、雰囲気圧を10Paとし、RF電源の出力(RF出力)を30Wとし、処理時間を10秒とする条件で反応性イオンエッチング(RIE)処理を施した。このようにしてRIE処理を行なった後の膜を備えるSi基板をトルエンに浸漬させて、110℃で24時間加熱処理した後、真空乾燥して、RIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜を得た。このようにして、Si基板上にRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜が積層された質量分析用の基板を得た。
<Reactive ion etching (RIE) treatment>
With respect to the surface of the organic silica porous membrane precursor (TPA-PMO thin film) obtained as described above, the product name “RIE-10NR” manufactured by Samco Co., Ltd. is used as an etching apparatus, and CF 4 is used as an etching gas. A gas containing O 2 (CF 4 / O 2 mixed gas) is used, and the etching gas is 59 sccm / 10 sccm (CF 4 / O 2 ) so that the composition of the mixed gas becomes 59/10 (CF 4 / O 2 ). 2 ), a reactive ion etching (RIE) process was performed under conditions where the atmospheric pressure was 10 Pa, the output of the RF power source (RF output) was 30 W, and the processing time was 10 seconds. Thus, the Si substrate provided with the film after the RIE treatment is immersed in toluene, heat-treated at 110 ° C. for 24 hours, and then vacuum-dried to obtain an organic silica porous film having an RIE-treated surface. It was. In this way, a substrate for mass spectrometry was obtained in which an organic silica porous film having a RIE-treated surface was laminated on a Si substrate.

(実施例2)
反応性イオンエッチング(RIE)処理の際に、エッチングガスを前記CF/O混合ガスからCFのみからなるガスに変更し、エッチングガスの流量を60sccm(エッチングガスはCFのみであり、Oは0sccm)とし、RF出力を30Wから25Wに変更し、処理時間を10秒から15秒に変更した以外は実施例1と同様にして、RIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜を得た。このようにして、Si基板上にRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜が積層された質量分析用の基板を得た。なお、処理条件がより明確となるように、実施例1及び実施例2において採用した反応性イオンエッチング(RIE)の処理条件を表1に示す。
(Example 2)
During the reactive ion etching (RIE) process, the etching gas is changed from the CF 4 / O 2 mixed gas to a gas consisting of only CF 4 , and the flow rate of the etching gas is 60 sccm (the etching gas is only CF 4 , O 2 was 0 sccm), the RF output was changed from 30 W to 25 W, and the treatment time was changed from 10 seconds to 15 seconds, in the same manner as in Example 1 to obtain an organic silica porous film having a RIE-treated surface. It was. In this way, a substrate for mass spectrometry was obtained in which an organic silica porous film having a RIE-treated surface was laminated on a Si substrate. Table 1 shows the reactive ion etching (RIE) processing conditions employed in Examples 1 and 2 so that the processing conditions become clearer.

(比較例1)
反応性イオンエッチング(RIE)処理を行わなかった以外は実施例1と同様にして、Si基板上にTPA−PMO薄膜を調製し、そのまま比較のための質量分析用の基板とした。このように、比較のための質量分析用の基板として、Si基板上にRIE未処理の有機シリカ多孔膜(TPA−PMO薄膜)が積層されたものを調製した。なお、かかる質量分析用の基板が備えるRIE未処理の有機シリカ多孔膜は、実施例1に記載の「有機シリカ多孔膜前駆体(TPA−PMO薄膜)」と同様のものである。
(Comparative Example 1)
A TPA-PMO thin film was prepared on a Si substrate in the same manner as in Example 1 except that the reactive ion etching (RIE) treatment was not performed, and used as a substrate for mass spectrometry for comparison. Thus, as a substrate for mass spectrometry for comparison, a substrate in which an RIE-untreated organic silica porous film (TPA-PMO thin film) was laminated on a Si substrate was prepared. The RIE-untreated organic silica porous film included in the substrate for mass spectrometry is the same as the “organic silica porous film precursor (TPA-PMO thin film)” described in Example 1.

[実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の特性の評価]
〈SEM測定(有機シリカ多孔膜の平均細孔径、厚み等の測定)〉
実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の断面をそれぞれ、走査電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ社製:高分解能電解放射形走査電子顕微鏡 SEM S−5500)を用いて、加速電圧10kVの条件で測定することにより、有機シリカ多孔膜の平均細孔径及び厚みを測定し、更に、膜の表面状態や細孔の状態を確認した。
[Evaluation of characteristics of substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1]
<SEM measurement (measurement of average pore diameter, thickness, etc. of organic silica porous membrane)>
Using the scanning electron microscope (manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation: high resolution electrolytic emission scanning electron microscope SEM S-5500), the cross sections of the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 were respectively used. By measuring under the condition of an acceleration voltage of 10 kV, the average pore diameter and thickness of the organic silica porous membrane were measured, and the surface state and pore state of the membrane were further confirmed.

このような有機シリカ多孔膜の平均細孔径の測定に際しては、先ず、質量分析用の基板ごとに、上記走査電子顕微鏡により、基板の任意の4点の断面をそれぞれ測定した。次いで、測定された各断面SEM像を用いて、質量分析用の基板ごとに有機シリカ多孔膜中の任意の100個以上(合計数)の細孔の細孔直径を測定し、その平均値を求めることにより、各基板に形成された有機シリカ多孔膜の平均細孔直径(任意の100個以上の細孔の細孔直径の平均値)をそれぞれ求めた。なお、このような有機シリカ多孔膜の平均細孔径の測定に際しては、質量分析用の基板ごとに、各断面SEM像から、それぞれ任意の25個以上の細孔の細孔直径を測定して、測定した任意の細孔の合計数が100個以上(実施例1:151個、実施例2:137個、比較例1:124個)となるようにした。さらに、細孔直径の大きさは各断面SEM像から定規により測定した。   In measuring the average pore diameter of such an organic silica porous membrane, first, for each substrate for mass spectrometry, cross sections at arbitrary four points of the substrate were measured by the scanning electron microscope. Next, using each measured cross-sectional SEM image, the pore diameter of any 100 or more (total number) pores in the organic silica porous film is measured for each substrate for mass spectrometry, and the average value is calculated. By calculating | requiring, the average pore diameter (average value of the pore diameters of arbitrary 100 or more pores) of the organic silica porous film formed on each substrate was determined. In measuring the average pore diameter of such an organic silica porous membrane, for each substrate for mass spectrometry, from each cross-sectional SEM image, the pore diameter of any 25 or more pores is measured, The total number of measured arbitrary pores was 100 or more (Example 1: 151, Example 2: 137, Comparative Example 1: 124). Furthermore, the size of the pore diameter was measured with a ruler from each cross-sectional SEM image.

また、このような有機シリカ多孔膜の膜の厚みは基板の任意の断面のSEM像から定規により測定した。   Further, the thickness of the porous organic silica film was measured from a SEM image of an arbitrary cross section of the substrate with a ruler.

このような走査電子顕微鏡による測定の結果として、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の断面SEM像をそれぞれ図2(実施例1)、図3(実施例2)、図4(比較例1)に示す。このような測定の結果、実施例1及び2で得られたRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜並びに比較例1で得られた有機シリカ多孔膜(RIE未処理)は、平均細孔直径がそれぞれ25nm(実施例1)、27nm(実施例2)、24nm(比較例1)であることが分かった。また、図2〜4に示す結果から、実施例1で得られたRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜は厚みが100nmであり、実施例2で得られたRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜は厚みが90nmであり、比較例1で得られた有機シリカ多孔膜(RIE未処理)は厚みが120nmであることが確認された。このような結果から、RIE処理により表面の20〜30nm程度が削られていることが確認できた。また、図2〜4を比較した結果から、RIE処理により有機シリカ多孔膜の表面の開口部がより増加していることが確認できた。なお、図2〜4に示す断面SEM像からは、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板中の多孔膜にはいずれも球状の細孔が形成されていることも確認できた。   As a result of the measurement by the scanning electron microscope, cross-sectional SEM images of the organic silica porous films of the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1-2 and Comparative Example 1 are shown in FIG. 2 (Example 1) and FIG. 3 (Example 2) and FIG. 4 (Comparative Example 1). As a result of such measurement, the organic silica porous membrane having the RIE-treated surface obtained in Examples 1 and 2 and the organic silica porous membrane obtained in Comparative Example 1 (RIE untreated) have an average pore diameter. They were found to be 25 nm (Example 1), 27 nm (Example 2), and 24 nm (Comparative Example 1), respectively. 2 to 4, the organic silica porous membrane having the RIE-treated surface obtained in Example 1 has a thickness of 100 nm, and the organic silica having the RIE-treated surface obtained in Example 2 is used. It was confirmed that the porous film had a thickness of 90 nm, and the organic silica porous film (RIE untreated) obtained in Comparative Example 1 had a thickness of 120 nm. From these results, it was confirmed that about 20 to 30 nm of the surface was shaved by the RIE treatment. Moreover, it has confirmed from the result which compared FIGS. 2-4 that the opening part of the surface of the organic silica porous film has increased more by RIE process. In addition, from the cross-sectional SEM images shown in FIGS. 2 to 4, spherical pores are formed in each of the porous films in the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1. Was also confirmed.

〈有機シリカ多孔膜の表面開口率の測定〉
実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面の開口率(表面開口率)を以下のようにして測定した。すなわち、先ず、測定装置として走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM:日立ハイテクサイエンス社製のNanoNavi E−sweep)を利用し、質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面上の1μm角(1μm×1μm)の大きさの任意の4点の測定領域に対して、カンチレバーとしてシリコン製のマイクロカンチレバー(日立ハイテクサイエンス社製の商品名「SI−DF20」)を用いて、ダイナミックフォースモードにて、縦(X):256ピクセル、横(Y):256ピクセルの走査条件で表面状態を解析して、原子間力顕微鏡(AFM)像を得た。このようにして得られたAFM像(256ピクセル×256ピクセル)に記録されている各ピクセル(画素)の縦(X)、横(Y)、高さ(Z)の位置情報から、高さ(Z)(前述の基準面からの垂直方向の距離[単位:nm])の値を縦軸とし、度数(全ピクセル数に対する特定の高さを有するピクセルの数の割合:特定の高さの値を有するピクセルの存在率[単位:%])を横軸とするグラフ(高さの度数分布曲線のグラフ)を求めた。そして、得られた高さの度数分布曲線のグラフから、最大の度数(最大度数)を有する高さの値(H1)よりも低い高さの値を有しかつ最大度数の1/2の度数を有する高さの値(H2)を求めた。次いで、かかる最大度数の1/2の度数を有する高さの値(H2)を閾値として、AFM像を二値化した。このような二値化により、任意の4点の測定領域ごとに、高さの値がH2以上となるピクセルの部分と、高さの値がH2未満となるピクセルの部分とにおいて色分けされた画像(AFM像を二値化した画像)をそれぞれ得た。そして、このような二値化した画像に基づいて、画像中の高さの値がH2以上となるピクセルの部分(領域)が有機シリカ多孔膜の骨格部分(多孔膜の表面を形成する有機シリカ部分)であるものと判断し、高さの値がH2未満となる部分(領域)が有機シリカ多孔膜の表面の細孔の開口部分(細孔に基づく空隙部分)であるものと判断して、測定領域ごとに開口率(各測定領域の表面画像に占める細孔の開口部分の割合、計算式:([細孔の開口部分の面積]/[測定領域の総面積])×100[単位:%]))をそれぞれ算出し、それらの平均値を求めることにより表面開口率(任意の4点の測定領域の開口率の平均値)を求めた。
<Measurement of surface area ratio of organic silica porous membrane>
The aperture ratio (surface aperture ratio) of the surface of the organic silica porous film of the substrate for mass spectrometry obtained in Examples 1-2 and Comparative Example 1 was measured as follows. That is, first, a scanning probe microscope (SPM / AFM: NanoNavi E-sweep manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.) is used as a measuring device, and a 1 μm square (1 μm × 1) on the surface of the porous organic silica film of the substrate for mass spectrometry. Using a silicon micro-cantilever (trade name “SI-DF20” manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.) as a cantilever for any four measurement areas with a size of 1 μm), in the dynamic force mode, The surface state was analyzed under scanning conditions of (X): 256 pixels and lateral (Y): 256 pixels to obtain an atomic force microscope (AFM) image. From the position information of the vertical (X), horizontal (Y), and height (Z) of each pixel (pixel) recorded in the AFM image (256 pixels × 256 pixels) obtained in this way, the height ( Z) The value of the vertical distance from the reference plane [unit: nm] is the vertical axis, and the frequency (ratio of the number of pixels having a specific height to the total number of pixels: a specific height value) The graph (the graph of the frequency distribution curve of the height) having the horizontal axis of the abundance ratio (unit:%) of the pixels having was obtained. Then, from the graph of the obtained frequency distribution curve of the height, the frequency having a height value lower than the height value (H1) having the maximum frequency (maximum frequency) and half the maximum frequency. The height value (H2) having Next, the AFM image was binarized using the height value (H2) having a frequency that is ½ of the maximum frequency as a threshold value. By such binarization, for each of four arbitrary measurement areas, the image is color-coded in the pixel portion where the height value is H2 or more and the pixel portion where the height value is less than H2. (Images obtained by binarizing AFM images) were obtained. Based on such a binarized image, the pixel portion (region) where the height value in the image is H2 or more is the skeleton portion of the organic silica porous membrane (the organic silica forming the surface of the porous membrane). And the portion (region) where the height value is less than H2 is determined to be the opening portion of the pores on the surface of the organic silica porous membrane (void portion based on the pores). , Aperture ratio for each measurement region (ratio of pore opening portion in the surface image of each measurement region, calculation formula: ([area of pore opening portion] / [total area of measurement region]) × 100 [unit :%])) Was calculated, and the average value thereof was determined to obtain the surface aperture ratio (average value of aperture ratios of arbitrary four measurement areas).

このような測定の結果、実施例1及び2で得られたRIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜並びに比較例1で得られた有機シリカ多孔膜(RIE未処理)は、表面開口率がそれぞれ41%(実施例1)、40%(実施例2)、7%(比較例1)であることが確認された。このような結果から、RIE処理を施すことにより、有機シリカ多孔膜の表面開口率をより高いものとすることができることが分かった。   As a result of such a measurement, the organic silica porous membrane having the RIE-treated surface obtained in Examples 1 and 2 and the organic silica porous membrane obtained in Comparative Example 1 (RIE untreated) each have a surface opening ratio. It was confirmed that they were 41% (Example 1), 40% (Example 2), and 7% (Comparative Example 1). From these results, it was found that the surface opening ratio of the organic silica porous film can be made higher by performing the RIE treatment.

なお、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜の表面のAFM像をそれぞれ図5(実施例1)、図6(実施例2)、図7(比較例1)に示す(なお、各図中の(b)で示すAFM像は、(a)で示すAFM像の一部の拡大画像である)。このような図5〜7に示す結果を直接対比することによっても、RIE処理した表面を有する有機シリカ多孔膜(実施例1〜2)においては、表面に露出している細孔(黒いコントラスト部分)が、比較例1で得られた有機シリカ多孔膜(RIE未処理)よりも大幅に増加していることが分かった。このように、RIE処理を施すことにより、有機シリカ多孔膜の表面開口率をより高いものとすることができることが分かった。   In addition, the AFM image of the surface of the organic silica porous film of the substrate for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 is shown in FIG. 5 (Example 1), FIG. 6 (Example 2), and FIG. (Comparative example 1) (Note that the AFM image indicated by (b) in each figure is a partial enlarged image of the AFM image indicated by (a)). By directly comparing the results shown in FIGS. 5 to 7, in the organic silica porous membrane (Examples 1 and 2) having the RIE-treated surface, the pores (black contrast portion) exposed on the surface ) Increased significantly compared to the organic silica porous film (RIE untreated) obtained in Comparative Example 1. Thus, it was found that the surface opening ratio of the organic silica porous film can be made higher by performing the RIE treatment.

〈吸収スペクトルの測定〉
実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜中の有機基の吸収スペクトルを求めるため、以下のような測定を行なった。すなわち、先ず、シリコン基板(Si基板)の代わりに石英基板(朝日テクニグラス社製の商品名「合成石英基板」)を用いた以外は、実施例1で採用している有機シリカ多孔膜前駆体の調製工程と同様の工程を採用して、石英基板上にTPA−PMO薄膜を形成し、測定用サンプルを得た。そして、かかる測定用サンプル(石英基板上にTPA−PMO薄膜を積層したもの)を用い、測定装置として日本分光社製の紫外可視分光光度計JASCO−V670を用いて、TPA−PMO薄膜の吸収スペクトルを測定した。なお、このようにして求められる吸収スペクトルは、TPA−PMO薄膜の骨格を考慮すれば、骨格内の有機基の吸収スペクトルであることは明らかである。このような測定により得られた吸収スペクトルを図8に示す。
<Measurement of absorption spectrum>
In order to obtain the absorption spectrum of the organic group in the organic silica porous film of the substrate for mass spectrometry obtained in Examples 1-2 and Comparative Example 1, the following measurements were performed. That is, first, an organic silica porous membrane precursor employed in Example 1 except that a quartz substrate (trade name “synthetic quartz substrate” manufactured by Asahi Techniglass Co., Ltd.) was used instead of the silicon substrate (Si substrate). By adopting the same process as the above preparation process, a TPA-PMO thin film was formed on a quartz substrate to obtain a measurement sample. Then, using this measurement sample (laminated TPA-PMO thin film on a quartz substrate) and using an ultraviolet-visible spectrophotometer JASCO-V670 manufactured by JASCO Corporation as a measuring device, the absorption spectrum of the TPA-PMO thin film Was measured. The absorption spectrum obtained in this way is clearly an absorption spectrum of the organic group in the skeleton when the skeleton of the TPA-PMO thin film is taken into consideration. The absorption spectrum obtained by such measurement is shown in FIG.

図8に示す吸収スペクトルのグラフからも明らかなように、TPA有機シランの重合体からなるTPA−PMO薄膜は、吸収極大波長が310nmにあることが確認された。すなわち、TPA有機シランの重合体からなるTPA−PMO薄膜においては、その有機基(トリフェニルアミン)の吸収極大波長が310nmにあることが分かり、更に、その吸収スペクトルから波長が300〜400nmのレーザー光を効率よく吸収することが可能なものであることが分かった。   As is clear from the graph of the absorption spectrum shown in FIG. 8, it was confirmed that the TPA-PMO thin film made of a polymer of TPA organosilane has an absorption maximum wavelength at 310 nm. That is, in the TPA-PMO thin film made of a polymer of TPA organosilane, the absorption maximum wavelength of the organic group (triphenylamine) is found to be 310 nm, and further, from the absorption spectrum, a laser having a wavelength of 300 to 400 nm. It was found that light can be absorbed efficiently.

なお、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜はいずれも、TPA有機シランの重合体からなるものであり、基板の種類、表面処理の有無及び表面処理の条件が異なる以外は、上記測定用サンプルと同様の方法を採用して製造されたものであることから、上記測定用サンプル中の薄膜と、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜は基本的に同一の有機基が骨格に導入されたものとなることが明らかである。そのため、実施例1〜2及び比較例1で得られた質量分析用の基板の有機シリカ多孔膜も同様に、有機基(トリフェニルアミン)の吸収極大波長が310nmでありかつ前記吸収スペクトルのグラフから波長300〜400nmのレーザー光を効率よく吸収することが可能なものであることも分かった。   In addition, all the organic silica porous membranes of the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 are made of a polymer of TPA organosilane, and the type of substrate, presence or absence of surface treatment, and Since it was manufactured by adopting the same method as the above measurement sample except that the conditions of the surface treatment were different, the thin film in the measurement sample and obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 It is apparent that the organic silica porous film of the obtained mass spectrometric substrate basically has the same organic group introduced into the skeleton. Therefore, the organic silica porous films of the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 and Comparative Example 1 similarly have the absorption maximum wavelength of the organic group (triphenylamine) of 310 nm and the graph of the absorption spectrum. It was also found that the laser beam having a wavelength of 300 to 400 nm can be efficiently absorbed.

〈各有機シリカ多孔膜の特性について〉
上記測定結果より、実施例1〜2で得られた質量分析用の基板は、300〜400nmのレーザー光を吸収可能な有機基(トリフェニルアミン)を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜を備えるものであることが分かった。他方、RIE処理を施さなかった有機シリカ多孔膜(RIE未処理膜)を備える比較例1で得られた質量分析用の基板は有機シリカ多孔膜の表面開口率(表面の平均開口率)が7%となっていることが分かった。このような結果から、前記TPA有機シランを利用した場合、これを単に重合して有機シリカ多孔膜を調製するのみでは平均細孔径が5〜50nmといった微細な細孔を有しつつ表面開口率が33%以上となるような多孔膜を形成することができなかったのに対して(比較例1)、前記TPA有機シランを重合して薄膜を形成した後にRIE等のエッチング処理を施すことによって(実施例1〜2)、表面開口率が33%以上となるような開口率が十分に増大された有機シリカ多孔膜を調製することが可能となることが分かった。
<Characteristics of each organic silica porous membrane>
From the above measurement results, the substrates for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 have an organic group (triphenylamine) capable of absorbing laser light of 300 to 400 nm in the skeleton, and an average pore diameter of 5 to 5. It was found to have an organic silica porous film having 50 nm pores and a surface aperture ratio of 33 to 70%. On the other hand, the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 provided with the organic silica porous film (RIE non-treated film) not subjected to RIE treatment has a surface opening ratio (average surface opening ratio) of 7 for the organic silica porous film. It turned out that it was%. From these results, when the TPA organosilane is used, simply preparing it to prepare an organic silica porous membrane has fine pores with an average pore diameter of 5 to 50 nm and a surface aperture ratio of Whereas a porous film of 33% or more could not be formed (Comparative Example 1), the TPA organosilane was polymerized to form a thin film and then subjected to etching treatment such as RIE ( Examples 1-2) It was found that it is possible to prepare an organic silica porous membrane with a sufficiently increased aperture ratio such that the surface aperture ratio is 33% or more.

(実施例3:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用い、分析装置としてブルカー・ダルトニクス社製の商品名「autoflex」を用いて、以下のようにして質量分析を行なった。すなわち、先ず、前記質量分析用の基板中の有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が41%となっている表面)上に、測定対象分子である標準ペプチドを4pmol含む水溶液を1μL滴下し、自然乾燥させることにより、前記有機シリカ多孔膜に標準ペプチド(測定対象分子)を担持した。次いで、前記標準ペプチド(測定対象分子)を担持した膜を備える基板を、上記分析装置のカートリッジプレートに装着した後、上記分析装置におけるレーザー強度(Laser Power:LP)の設定が35%となるようにして、前記膜の試料(標準ペプチド)を担持(滴下)した箇所(試料の担持部位)に対して波長337nmのレーザー光を照射することにより、標準ペプチド(測定対象分子)をイオン化して質量分析を行った。なお、標準ペプチドとしては、ブルカー・ダルトニクス社製の製品番号8206195(Bruker #8206195)[Angiotensin II(M1:1046.5),Angiotensin I(M2:1296.7),Substance P(M3:1347.7),Mombesin(M4:1619.8),ACTH clip 1-17(M5:2093.1),ACTH clip 18-39(M6:2465.2),Somatostatin 28(M7:3147.5),前記括弧()の内部に記載された数値はH+体の分子量]を用いた。
(Example 3: Mass spectrometry)
Using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1 and using the trade name “autoflex” manufactured by Bruker Daltonics, Inc. as the analyzer, mass spectrometry was performed as follows. That is, first, 1 μL of an aqueous solution containing 4 pmol of a standard peptide, which is a molecule to be measured, is dropped on the surface of the organic silica porous film in the substrate for mass spectrometry (surface with a surface opening ratio of 41%), By natural drying, a standard peptide (measuring molecule) was supported on the organic silica porous membrane. Next, after mounting a substrate having a membrane carrying the standard peptide (measuring molecule) on the cartridge plate of the analyzer, the laser intensity (Laser Power: LP) setting in the analyzer is set to 35%. Then, by irradiating a laser beam having a wavelength of 337 nm to a portion (sample loaded portion) where the sample (standard peptide) of the membrane is loaded (dropped), the standard peptide (measurement target molecule) is ionized to have a mass. Analysis was carried out. As standard peptides, product numbers 8206195 (Bruker # 8206195) [Angiotensin II (M1: 1046.5), Angiotensin I (M2: 1296.7), Substance P (M3: 1347.7), Momnesin (M4: 1619.8), ACTH clip 1-17 (M5: 2093.1), ACTH clip 18-39 (M6: 2465.2), Somatostatin 28 (M7: 3147.5), and the values described in parentheses () are the molecular weight of the H + body] Was used.

(比較例2:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに比較例1で得られた質量分析用の基板を用いた以外は実施例3と同様にして質量分析を行なった。なお、測定対象分子は有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が7%となっている表面)上に担持した。
(Comparative example 2: mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 3 except that the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 was used instead of using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. In addition, the measurement object molecule | numerator was carry | supported on the surface (surface where the surface opening rate is 7%) of the organic silica porous film.

(実施例4:質量分析)
上記分析装置におけるレーザー強度(Laser Power)の設定を35%から30%に変更した以外は実施例3と同様にして質量分析を行なった。
(Example 4: Mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 3 except that the laser intensity (Laser Power) setting in the analyzer was changed from 35% to 30%.

(実施例5:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに実施例2で得られた質量分析用の基板を用いた以外は実施例4と同様にして質量分析を行なった。なお、測定対象分子は有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が40%となっている表面)上に担持した。
(Example 5: Mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 4 except that the substrate for mass spectrometry obtained in Example 2 was used instead of the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. In addition, the measurement object molecule | numerator was carry | supported on the surface (surface in which the surface opening rate is 40%) of the organic silica porous film.

(比較例3:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに比較例1で得られた質量分析用の基板を用い、かつ、上記分析装置におけるレーザー強度(Laser Power)の設定を30%から40%に変更した以外は実施例4と同様にして質量分析を行なった。なお、測定対象分子は有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が7%となっている表面)上に担持した。
(Comparative Example 3: Mass spectrometry)
Instead of using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1, the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 was used, and the laser intensity (Laser Power) setting in the analyzer was set from 30% to 40 Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 4 except that the percentage was changed to%. In addition, the measurement object molecule | numerator was carry | supported on the surface (surface where the surface opening rate is 7%) of the organic silica porous film.

(比較例4:質量分析)
レーザー強度(Laser Power)の設定を40%から30%に変更した以外は比較例3と同様にして質量分析を行なったところ(実施例4及び5と同様のレーザー強度で、比較例1で得られた質量分析用の基板を用いて質量分析を行なったところ)、マススペクトルのシグナルが確認できなかった(ペプチドの検出ができなかった)。
(Comparative Example 4: Mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Comparative Example 3 except that the laser power (Laser Power) setting was changed from 40% to 30% (the same laser intensity as in Examples 4 and 5 was obtained in Comparative Example 1). When mass spectrometry was performed using the obtained substrate for mass spectrometry), a mass spectrum signal could not be confirmed (peptide could not be detected).

[実施例3〜5及び比較例2〜4の質量分析の結果について]
実施例3及び比較例2の質量分析の結果として、実施例3で得られたマススペクトルのグラフと、比較例2で得られたマススペクトルのグラフとを図9に示す。なお、実施例3と比較例2とは同じ強度でレーザー光を照射して質量分析しており、測定されたマススペクトルのグラフ中のピーク横の括弧内()内の数値はシグナル強度を示す。
[About the results of mass spectrometry of Examples 3 to 5 and Comparative Examples 2 to 4]
As a result of mass spectrometry of Example 3 and Comparative Example 2, a graph of the mass spectrum obtained in Example 3 and a graph of the mass spectrum obtained in Comparative Example 2 are shown in FIG. Note that Example 3 and Comparative Example 2 were subjected to mass spectrometry by irradiating laser light with the same intensity, and the numerical value in parentheses () next to the peak in the graph of the measured mass spectrum indicates the signal intensity. .

また、実施例4〜5及び比較例3の質量分析の結果として、実施例4で得られたマススペクトルのグラフと、実施例5で得られたマススペクトルのグラフと、比較例3で得られたマススペクトルのグラフとを図10に示す。なお、実施例4〜5及び比較例3においてはそれぞれ検出感度がより高くなるように最適な強度でレーザー光を照射して質量分析しており、測定されたマススペクトルのグラフ中のピーク横の括弧内()内の数値はシグナル強度を示す。   Moreover, as a result of the mass spectrometry of Examples 4-5 and Comparative Example 3, the graph of the mass spectrum obtained in Example 4, the graph of the mass spectrum obtained in Example 5, and the comparative example 3 are obtained. A graph of the mass spectrum is shown in FIG. In Examples 4 to 5 and Comparative Example 3, mass analysis was performed by irradiating a laser beam at an optimum intensity so that the detection sensitivity was higher, and the side of the peak in the graph of the measured mass spectrum. Numerical values in parentheses () indicate signal intensity.

図9及び10に示す結果からも明らかなように、実施例3〜5及び比較例2〜3においてはいずれもSubstance P(M3)と、Mombesin(M4)とをマトリックスを用いることなく検出することが可能であることが分かった。また、同じレーザー強度(LP=35%)での質量分析の結果(図9に示す結果)から、実施例3及び比較例2で利用した各質量分析用の基板の性能を比較すると、RIE処理した有機シリカ多孔膜を利用した基板(実施例1で得られた質量分析用の基板)を利用した場合のマススペクトル(実施例3で測定されたマススペクトル)のシグナルが、RIE未処理の有機シリカ多孔膜を利用した基板(比較例1で得られた質量分析用の基板)を利用した場合のマススペクトル(比較例2で測定されたマススペクトル)のシグナルと比較して、シグナルの強度がより強くなっており、検出感度が一桁向上したことが分かった(なお、[M3+Na]及び[M4+Na]のシグナル強度は10倍以上となっていた)。 As is clear from the results shown in FIGS. 9 and 10, in Examples 3 to 5 and Comparative Examples 2 to 3, detection of Substance P (M3) and Mombesin (M4) is performed without using a matrix. Was found to be possible. Further, from the results of mass spectrometry with the same laser intensity (LP = 35%) (results shown in FIG. 9), the performance of each of the substrates for mass spectrometry used in Example 3 and Comparative Example 2 is compared. The signal of the mass spectrum (the mass spectrum measured in Example 3) when the substrate using the prepared organic silica porous film (the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1) is used is RIE-untreated organic Compared with the signal of the mass spectrum (mass spectrum measured in Comparative Example 2) when the substrate using the porous silica film (the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1) is used, the intensity of the signal is It became stronger and the detection sensitivity was found to be improved by an order of magnitude (note that the signal intensity of [M3 + Na + ] and [M4 + Na + ] was more than 10 times).

さらに、図10に示す結果からも明らかなように、実施例4〜5においては質量分析に際してレーザー強度を30%に下げてもペプチドをイオン化して十分に検出できていた。なお、比較例1で得られた質量分析用の基板を用いて実施例4〜5と同様にレーザー強度を30%として質量分析を行なった場合(比較例4)にはペプチドのシグナルが確認できなかったことから、実施例1〜2で得られた質量分析用の基板を利用することで、より検出感度が高くなり、より低いレーザー強度で、より効率よく質量分析できることも分かった。また、図10に示す結果から、実施例4〜5で測定されたマススペクトルと比較例3で測定されたマススペクトルとを比較すると、比較例1で得られた質量分析用の基板を利用して質量分析を行なった場合(比較例3)に検出できなかったAngiotensin II(M1)とAngiotensin I(M2)が、実施例1〜2で得られた質量分析用の基板を利用して質量分析を行なった場合(実施例4〜5)には検出できていることが確認され、かかる結果からも、実施例1〜2で得られた質量分析用の基板を利用することで、より検出感度が高くなることが分かった。   Furthermore, as is clear from the results shown in FIG. 10, in Examples 4 to 5, the peptide was ionized and sufficiently detected even when the laser intensity was lowered to 30% during mass spectrometry. In addition, when mass spectrometry was performed using the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 at a laser intensity of 30% as in Examples 4 to 5 (Comparative Example 4), a peptide signal could be confirmed. It was also found that by using the mass spectrometric substrates obtained in Examples 1 and 2, the detection sensitivity was further increased, and mass analysis could be performed more efficiently with a lower laser intensity. Further, from the results shown in FIG. 10, when the mass spectrum measured in Examples 4 to 5 and the mass spectrum measured in Comparative Example 3 were compared, the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 was used. Angiotensin II (M1) and Angiotensin I (M2), which could not be detected when mass spectrometry was performed (Comparative Example 3), were performed using the mass spectrometry substrate obtained in Examples 1-2. (Examples 4 to 5), it was confirmed that detection was possible. From these results, the detection sensitivity was further improved by using the mass spectrometry substrate obtained in Examples 1 and 2. Was found to be high.

(実施例6:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用い、分析装置としてShimadzu社製のAXIMA−QITを用いて、以下のようにして質量分析を行なった。すなわち、先ず、前記質量分析用の基板中の有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が41%となっている表面)上に、下記式:
(Example 6: Mass spectrometry)
Using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1 and using AXIMA-QIT manufactured by Shimadzu as an analyzer, mass spectrometry was performed as follows. That is, first, on the surface of the organic silica porous film in the mass spectrometric substrate (surface with a surface opening ratio of 41%), the following formula:

[化学式中のAで示す部分に存在する成分は糖鎖であり、Bで示す部分に存在する成分は標識分子(2−アミノアクリドン))に由来する成分(糖鎖に固定(結合)させた標識分子)である。]
で表される標識分子(標識色素)を固定した糖(AMAC−NA2)を10pmol含む水溶液を1μL滴下し、自然乾燥させることにより、前記有機シリカ多孔膜にAMAC−NA2(測定対象分子)を担持した。次いで、前記AMAC−NA2(測定対象分子)を担持した膜を備える基板を、上記分析装置のカートリッジプレートに装着した後、前記膜の試料(AMAC−NA2)を担持(滴下)した箇所に対して波長337nmのレーザー光を照射することにより、AMAC−NA2をイオン化して質量分析を行った。なお、測定は分析装置の正イオンモードにて行い、測定回ごとにレーザーの照射位置を変えて測定を3回行なった(3箇所に対して質量分析を行なった)。このような3回分の質量分析の測定結果としてマススペクトルのグラフを図11に示す(なお、測定回ごとに結果を(a)、(b)、(c)と分けて記載する)。なお、図11(a)、(b)、(c)のそれぞれにおいて(各回ごとに測定されたマススペクトルのそれぞれのグラフにおいて)、最大ピークにおけるシグナル強度はそれぞれ20mV、24mV、28mVであった。
[The component present in the portion indicated by A in the chemical formula is a sugar chain, and the component present in the portion indicated by B is a component derived from a labeled molecule (2-aminoacridone) (fixed (coupled) to the sugar chain). Labeled molecule). ]
1 μL of an aqueous solution containing 10 pmol of a saccharide (AMAC-NA2) to which a labeled molecule (labeled dye) represented by the formula (1) is immobilized and dried naturally, thereby supporting AMAC-NA2 (measuring molecule) on the organic silica porous membrane. did. Next, a substrate having a film carrying AMAC-NA2 (measurement target molecule) is mounted on the cartridge plate of the analyzer, and then the film sample (AMAC-NA2) is carried (dropped) on the portion. By irradiating a laser beam having a wavelength of 337 nm, AMAC-NA2 was ionized to perform mass spectrometry. In addition, the measurement was performed in the positive ion mode of the analyzer, and the measurement was performed three times by changing the laser irradiation position for each measurement (mass analysis was performed on three locations). A mass spectrum graph is shown in FIG. 11 as the measurement results of such three mass spectrometry (in addition, the results are described separately as (a), (b), and (c) for each measurement time). In each of FIGS. 11A, 11B, and 11C (in each graph of the mass spectrum measured each time), the signal intensity at the maximum peak was 20 mV, 24 mV, and 28 mV, respectively.

(実施例7:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに実施例2で得られた質量分析用の基板を用いた以外は実施例6と同様にして質量分析を行なった。なお、測定対象分子は有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が40%となっている表面)上に担持した。このような質量分析(3回分)の測定結果としてマススペクトルのグラフを図12に示す(なお、測定回ごとに結果を(a)、(b)、(c)と分けて記載する)。なお、図12(a)、(b)、(c)のそれぞれにおいて(各回ごとに測定されたマススペクトルのそれぞれのグラフにおいて)、最大ピークにおけるシグナル強度はそれぞれ46mV、44mV、45mVであった。
(Example 7: Mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 6, except that the substrate for mass spectrometry obtained in Example 2 was used instead of the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. In addition, the measurement object molecule | numerator was carry | supported on the surface (surface in which the surface opening rate is 40%) of the organic silica porous film. As a measurement result of such mass analysis (for three times), a graph of a mass spectrum is shown in FIG. 12 (note that the result is described separately for (a), (b), and (c) for each measurement time). In each of FIGS. 12A, 12B, and 12C (in each graph of the mass spectrum measured each time), the signal intensity at the maximum peak was 46 mV, 44 mV, and 45 mV, respectively.

(比較例5:質量分析)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに比較例1で得られた質量分析用の基板を用いた以外は実施例6と同様にして質量分析を行なった。なお、測定対象分子は有機シリカ多孔膜の表面(表面開口率が7%となっている表面)上に担持した。このような質量分析(3回分)の測定結果としてマススペクトルのグラフを図13に示す(なお、測定回ごとに、結果を(a)、(b)、(c)と分けて記載する)。なお、図13(a)、(b)、(c)のそれぞれにおいて(各回ごとに測定されたマススペクトルのそれぞれのグラフにおいて)、最大ピークにおけるシグナル強度はそれぞれ1.5mV、0.6mV、1.1mVであった。
(Comparative Example 5: mass spectrometry)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 6 except that instead of using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1, the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 was used. In addition, the measurement object molecule | numerator was carry | supported on the surface (surface where the surface opening rate is 7%) of the organic silica porous film. As a measurement result of such mass analysis (for three times), a graph of a mass spectrum is shown in FIG. 13 (note that the result is described separately as (a), (b), and (c) for each measurement time). In each of FIGS. 13A, 13B, and 13C (in each graph of the mass spectrum measured each time), the signal intensity at the maximum peak is 1.5 mV, 0.6 mV, It was 1 mV.

[実施例6〜7及び比較例5の質量分析の結果について]
図11〜13に示す結果からも明らかなように、標識色素を固定した糖(AMAC−NA2、10pmol)に対して同条件でレーザーを照射して質量分析を行なった場合(実施例6〜7及び比較例5)には、RIE未処理の有機シリカ多孔膜を備える質量分析用の基板(比較例1で得られた質量分析用の基板)を用いた場合に測定されたマススペクトルの最大ピークのシグナル強度が0.6〜1.5mVであるのに対して(図13:比較例5)、RIE処理を施した有機シリカ多孔膜を備える質量分析用の基板(実施例1で得られた質量分析用の基板及び実施例2で得られた質量分析用の基板)をそれぞれ利用した場合に測定されたマススペクトルのピークのシグナル強度がそれぞれ20〜28mV(図11:実施例6)、44〜46mV(図12:実施例7)となっており、表面開口率がより高い実施例1及び2で得られた質量分析用の基板を利用することで、測定されるマススペクトルのシグナル強度を大幅に向上させることが可能となり、検出感度を一桁も向上させることが可能であることが分かった。このような結果から、実施例1〜2で得られた質量分析用の基板を利用することで、マトリックスを用いることなく質量分析することが可能であるとともに、その検出感度をより高いものとすることが可能であることが確認された。
[About the results of mass spectrometry of Examples 6 to 7 and Comparative Example 5]
As is clear from the results shown in FIGS. 11 to 13, when mass spectrometry was performed by irradiating the sugar (AMAC-NA2, 10 pmol) on which the labeling dye was immobilized with the laser under the same conditions (Examples 6 to 7). In Comparative Example 5), the maximum peak of the mass spectrum measured when the substrate for mass spectrometry (substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1) provided with the RIE-untreated organic silica porous film was used. Signal intensity of 0.6 to 1.5 mV (FIG. 13: Comparative Example 5), a substrate for mass spectrometry (obtained in Example 1) provided with an organic silica porous film subjected to RIE treatment When the mass spectrometry substrate and the mass spectrometry substrate obtained in Example 2 are respectively used, the peak signal intensity of the mass spectrum is 20 to 28 mV (FIG. 11: Example 6) and 44, respectively. ~ 46mV FIG. 12: Example 7), and by using the substrate for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2 having a higher surface aperture ratio, the signal intensity of the measured mass spectrum is greatly improved. It was found that the detection sensitivity can be improved by an order of magnitude. From such a result, by using the substrate for mass spectrometry obtained in Examples 1 and 2, it is possible to perform mass analysis without using a matrix and to further increase its detection sensitivity. It was confirmed that it was possible.

(実施例8:質量分析)
標識分子(標識色素)を固定した糖(AMAC−NA2)を10pmol含む水溶液を用いる代わりに、AMAC−NA2を1pmol含む水溶液を用い、かつ、測定回数を3回から2回に変更した以外は、実施例6と同様にして、質量分析(実施例1で得られた質量分析用の基板を用いた質量分析)を行なった。このような2回分の質量分析の測定結果としてマススペクトルのグラフを図14に示す(なお、測定回ごとに結果を(a)、(b)と分けて記載する)。なお、図14(a)、(b)のそれぞれにおいて(各回ごとに測定されたマススペクトルのそれぞれのグラフにおいて)、最大ピークにおけるシグナル強度はそれぞれ16mV、15mVであった。
(Example 8: Mass spectrometry)
Instead of using an aqueous solution containing 10 pmol of sugar (AMAC-NA2) with a labeled molecule (labeled dye) immobilized, an aqueous solution containing 1 pmol of AMAC-NA2 was used, and the number of measurements was changed from 3 to 2 times. In the same manner as in Example 6, mass spectrometry (mass spectrometry using the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1) was performed. A graph of mass spectrum is shown in FIG. 14 as the measurement results of such two mass spectrometry (in addition, the results are described separately for (a) and (b) for each measurement). In each of FIGS. 14 (a) and 14 (b) (in each graph of the mass spectrum measured each time), the signal intensity at the maximum peak was 16 mV and 15 mV, respectively.

(比較例6)
実施例1で得られた質量分析用の基板を用いる代わりに比較例1で得られた質量分析用の基板を用いた以外は実施例8と同様にして質量分析を行なったところ、マススペクトルのシグナルが確認できなかった(AMAC−NA2の検出ができなかった)。
(Comparative Example 6)
Mass spectrometry was performed in the same manner as in Example 8 except that the substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1 was used instead of the substrate for mass spectrometry obtained in Example 1. A signal could not be confirmed (AMAC-NA2 could not be detected).

[実施例8及び比較例5〜6の質量分析の結果について]
図14に示す結果からも明らかなように、AMAC−NA2担持量が1pmolである場合においても、RIE処理を施した有機シリカ多孔膜を備える質量分析用の基板(実施例1で得られた質量分析用の基板)を利用した場合(実施例8の場合)においては、測定ごとにマススペクトルのピークのシグナル強度(16mV、15mV)が確認された。これに対して、RIE未処理の有機シリカ多孔膜を備える質量分析用の基板(比較例1で得られた質量分析用の基板)を用いた場合(比較例6の場合)には、AMAC−NA2担持量が1pmolという条件下においてはマススペクトルのシグナルが確認できなかった。なお、AMAC−NA2の担持量が10pmolである比較例5の質量分析により測定されるマススペクトルのシグナル強度と、AMAC−NA2担持量が1pmolである実施例8の質量分析により測定されるマススペクトルのシグナル強度を比較した場合においても、実施例8の質量分析により、シグナル強度が大幅に向上されていることが確認された。このような対比から、比較例5と実施例8とでは測定対象分子(AMAC−NA2)の担持量に違いがあり、実施例8の質量分析では測定対象分子(AMAC−NA2)の担持量が少ないにもかかわらず、比較例5の質量分析と比較して検出感度が向上してることが分かった。このような結果から、本発明の質量分析用の基板(実施例1)を利用した場合には、検出感度をより高いものとすることが可能であり、測定対象分子の量が少ない場合においても十分に効率よく質量分析することが可能であることが分かった。
[About the results of mass spectrometry of Example 8 and Comparative Examples 5 to 6]
As is clear from the results shown in FIG. 14, even when the amount of AMAC-NA2 supported is 1 pmol, a substrate for mass spectrometry comprising the RIE-treated organic silica porous membrane (the mass obtained in Example 1) In the case of using the (analysis substrate) (in the case of Example 8), the signal intensity (16 mV, 15 mV) of the peak of the mass spectrum was confirmed for each measurement. On the other hand, when a substrate for mass spectrometry (a substrate for mass spectrometry obtained in Comparative Example 1) provided with a RIE-untreated organic silica porous film is used (in the case of Comparative Example 6), AMAC- Under the condition that the amount of NA2 supported was 1 pmol, a mass spectrum signal could not be confirmed. In addition, the signal intensity of the mass spectrum measured by the mass spectrometry of Comparative Example 5 in which the amount of AMAC-NA2 supported is 10 pmol, and the mass spectrum measured by the mass analysis of Example 8 in which the amount of AMAC-NA2 supported is 1 pmol. Even when the signal intensities were compared, it was confirmed by mass spectrometry in Example 8 that the signal intensity was greatly improved. From such comparison, Comparative Example 5 and Example 8 differ in the loading amount of the measurement target molecule (AMAC-NA2), and in the mass spectrometry of Example 8, the loading amount of the measurement target molecule (AMAC-NA2) is different. Despite the small amount, it was found that the detection sensitivity was improved as compared with the mass spectrometry of Comparative Example 5. From these results, when the substrate for mass spectrometry of the present invention (Example 1) is used, it is possible to make the detection sensitivity higher, even when the amount of molecules to be measured is small. It was found that mass analysis can be performed sufficiently efficiently.

以上説明したように、本発明によれば、マトリックスを利用することなく、より高い検出感度で効率よく質量分析を行うことが可能なレーザー脱離イオン化質量分析法、及び、その方法に利用するレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板を提供することが可能となる。したがって、本発明のレーザー脱離イオン化質量分析法は、MSスペクトルを使用する全ての分析分野(例えば、試料が微量しか入手できないような生体分析の分野等も含む)に広く利用することが可能である。   As described above, according to the present invention, laser desorption / ionization mass spectrometry capable of efficiently performing mass spectrometry with higher detection sensitivity without using a matrix, and a laser used in the method It becomes possible to provide an organic silica porous membrane substrate for desorption ionization mass spectrometry. Therefore, the laser desorption ionization mass spectrometry method of the present invention can be widely used in all analysis fields using MS spectra (for example, the field of bioanalysis where only a trace amount of sample is available). is there.

Claims (5)

照射レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜に対して、測定対象分子を含む試料を担持せしめた後、該膜の試料担持部位にレーザー光を照射することにより、前記測定対象分子をイオン化して質量分析を行うことを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析法。   Measured with respect to an organic silica porous film having an organic group capable of absorbing irradiation laser light in the skeleton, pores having an average pore diameter of 5 to 50 nm, and a surface opening ratio of 33 to 70%. Laser desorption ionization mass spectrometry characterized in that after carrying a sample containing a molecule of interest, the sample carrying portion of the film is irradiated with laser light to ionize the molecule to be measured and perform mass spectrometry . 前記有機基が200〜600nmの範囲に吸収極大波長を有することを特徴とする請求項1に記載のレーザー脱離イオン化質量分析法。   The laser desorption ionization mass spectrometry method according to claim 1, wherein the organic group has an absorption maximum wavelength in a range of 200 to 600 nm. 前記有機基が4個以上の炭素を含む芳香族有機基であることを特徴とする請求項1又は2に記載のレーザー脱離イオン化質量分析法。   The laser desorption / ionization mass spectrometry method according to claim 1, wherein the organic group is an aromatic organic group containing 4 or more carbon atoms. 前記有機基としてトリフェニルアミンを含むことを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか一項に記載のレーザー脱離イオン化質量分析法。   The laser desorption / ionization mass spectrometry method according to any one of claims 1 to 3, wherein the organic group includes triphenylamine. レーザー光を吸収可能な有機基を骨格に有し、平均細孔径が5〜50nmの細孔を有し、かつ、表面開口率が33〜70%である有機シリカ多孔膜を含むことを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析用の有機シリカ多孔膜基板。   It includes an organic silica porous film having an organic group capable of absorbing laser light in its skeleton, pores having an average pore diameter of 5 to 50 nm, and a surface opening ratio of 33 to 70%. Organic silica porous membrane substrate for laser desorption ionization mass spectrometry.
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