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JP2018160517A - Substrate processing apparatus, substrate processing system, and substrate processing method - Google Patents

Substrate processing apparatus, substrate processing system, and substrate processing method Download PDF

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JP2018160517A JP2017056157A JP2017056157A JP2018160517A JP 2018160517 A JP2018160517 A JP 2018160517A JP 2017056157 A JP2017056157 A JP 2017056157A JP 2017056157 A JP2017056157 A JP 2017056157A JP 2018160517 A JP2018160517 A JP 2018160517A
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Abstract

【課題】処理槽におけるパーティクルの発生を抑制する。【解決手段】基板処理装置は、所定の薬液供給源から供給される薬液によって基板を処理する基板処理装置であって、薬液供給源から供給される薬液を貯留し当該薬液に基板を浸漬させることにより基板に所定の処理を行う処理槽と、処理槽に貯留された薬液を処理槽から排出する排出動作を行う排出部と、処理槽に貯留された薬液の交換に際して排出部に排出動作を行わせる排出制御部と、排出制御部が排出部に排出動作を行わせる前に薬液供給源による薬液の供給が可能であるか否かを判定する判定処理を行う判定部と、を備え、薬液供給源による薬液の供給が可能であると判定部が判定処理において判定した場合には、排出制御部が排出部に排出動作を開始させる。【選択図】図3An object of the present invention is to suppress the generation of particles in a processing tank. A substrate processing apparatus for processing a substrate with a chemical solution supplied from a predetermined chemical solution supply source stores the chemical solution supplied from the chemical solution supply source and immerses the substrate in the chemical solution. a processing tank for performing a predetermined process on a substrate by means of a process, a discharging section for discharging the chemical liquid stored in the processing tank from the processing tank, and a discharge section for discharging the chemical liquid stored in the processing tank when the chemical liquid stored in the processing tank is replaced. and a determination unit that determines whether or not it is possible to supply the chemical solution from the chemical solution supply source before the discharge control unit causes the discharge unit to perform the discharge operation, wherein the chemical solution supply When the determination unit determines in the determination process that the chemical liquid can be supplied by the source, the discharge control unit causes the discharge unit to start the discharge operation. [Selection drawing] Fig. 3

Description

この発明は、半導体ウェハ、液晶表示装置用ガラス基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用ガラス基板、太陽電池用基板、等(以下、単に「基板」という)に、処理を施す基板処理技術に関する。   The present invention includes a semiconductor wafer, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a plasma display, a substrate for an optical disk, a substrate for a magnetic disk, a substrate for a magneto-optical disk, a glass substrate for a photomask, a substrate for a solar cell, etc. The present invention relates to a substrate processing technique for performing processing on a substrate simply).

特許文献1には、薬液を貯留し、ロットを収容して薬液による処理を行う薬液処理部と、投入されたロットの受け渡し位置と薬液処理部との間でロットを搬送する搬送部とを備える基板処理装置が示されている。当該装置は、ロットの投入から所定時間後に、薬液交換に要する時間やロットの搬送時間を考慮して、薬液処理部に薬液交換を指示し、薬液処理部は、その指示により薬液交換を開始する。当該装置は、薬液交換からロットの処理の開始までの時間が許容時間を超えた場合にはアラームを発生させることによってロットの処理不良を防止することを図っている。   Patent Document 1 includes a chemical processing unit that stores chemicals, stores lots, and performs processing with chemicals, and a transport unit that transports the lot between the delivery position of the inserted lots and the chemical processing unit. A substrate processing apparatus is shown. The apparatus instructs the chemical solution processing unit to replace the chemical solution in consideration of the time required for the chemical solution replacement and the lot transport time after a predetermined time from the lot injection, and the chemical solution processing unit starts the chemical solution exchange according to the instruction. . The apparatus is intended to prevent a lot processing failure by generating an alarm when the time from the chemical solution exchange to the start of lot processing exceeds an allowable time.

特開2011−210315号公報JP 2011-210315 A

しかしながら、特許文献1の基板処理装置では、薬液処理部は、薬液交換を指示されると、薬液処理部への薬液の供給が可能であるか否かに拘わらず薬液交換を開始する。このため、薬液の供給が不可能である場合には、薬液処理部から薬液が排出された後に、新しい薬液が薬液処理部に供給されるまでの時間が長くなる。これにより、薬液処理部の処理槽に付着している薬液が乾燥してパーティクルが発生するといった問題がある。   However, in the substrate processing apparatus of Patent Document 1, when the chemical solution processing unit is instructed to replace the chemical solution, the chemical solution processing unit starts the chemical solution exchange regardless of whether the chemical solution can be supplied to the chemical solution processing unit. For this reason, when supply of a chemical | medical solution is impossible, after chemical | medical solution is discharged | emitted from a chemical | medical solution processing part, time until new chemical | medical solution is supplied to a chemical | medical solution processing part becomes long. Thereby, there exists a problem that the chemical | medical solution adhering to the processing tank of a chemical | medical solution processing part dries, and a particle | grain generate | occur | produces.

本発明は、こうした問題を解決するためになされたもので、処理槽に貯留された薬液の交換の際に薬液供給源が薬液を供給できない場合に処理槽におけるパーティクルの発生を抑制できる基板処理技術を提供することを目的とする。   The present invention was made to solve these problems, and a substrate processing technique capable of suppressing the generation of particles in a processing tank when the chemical supply source cannot supply the chemical liquid when replacing the chemical stored in the processing tank. The purpose is to provide.

上記の課題を解決するために、第1の態様に係る基板処理装置は、所定の薬液供給源から供給される薬液によって基板を処理する基板処理装置であって、前記薬液供給源から供給される薬液を貯留し前記薬液に基板を浸漬させることにより前記基板に所定の処理を行う処理槽と、前記処理槽に貯留された前記薬液を前記処理槽から排出する排出動作を行う排出部と、前記処理槽に貯留された薬液の交換に際して前記排出部に前記排出動作を行わせる排出制御部と、前記排出制御部が前記排出部に前記排出動作を行わせる前に前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であるか否かを判定する判定処理を行う判定部と、を備え、前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であると前記判定部が前記判定処理において判定した場合には、前記排出制御部が前記排出部に前記排出動作を開始させる。   In order to solve the above problem, a substrate processing apparatus according to a first aspect is a substrate processing apparatus that processes a substrate with a chemical solution supplied from a predetermined chemical solution supply source, and is supplied from the chemical solution supply source. A treatment tank for storing a chemical solution and immersing the substrate in the chemical solution to perform a predetermined process on the substrate; a discharge section for performing a discharge operation for discharging the chemical solution stored in the treatment tank from the treatment tank; A discharge control unit that causes the discharge unit to perform the discharge operation when the chemical solution stored in the processing tank is replaced; and before the discharge control unit causes the discharge unit to perform the discharge operation, A determination unit that performs a determination process for determining whether or not supply is possible, and when the determination unit determines in the determination process that the supply of the chemical solution by the chemical solution supply source is possible, Said Controller out to start the discharging operation to the discharging portion.

第2の態様に係る基板処理装置は、第1の態様に係る基板処理装置であって、前記処理槽に貯留された前記薬液を前記処理槽から排出して再び前記処理槽に戻すことにより前記薬液を循環させる循環系、をさらに備える。   The substrate processing apparatus which concerns on a 2nd aspect is a substrate processing apparatus which concerns on a 1st aspect, Comprising: By discharging | emitting the said chemical | medical solution stored in the said processing tank from the said processing tank, and returning it to the said processing tank again, A circulation system for circulating the chemical solution;

第3の態様に係る基板処理装置は、第2の態様に係る基板処理装置であって、前記循環系は、前記薬液を濾過するフィルターを備える。   The substrate processing apparatus which concerns on a 3rd aspect is a substrate processing apparatus which concerns on a 2nd aspect, Comprising: The said circulation system is provided with the filter which filters the said chemical | medical solution.

第4の態様に係る基板処理装置は、第2または第3の態様に係る基板処理装置であって、前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定部が前記判定処理において判定した場合に、前記処理槽への前記薬液の循環を前記循環系に行わせる循環制御部をさらに備える。   The substrate processing apparatus which concerns on a 4th aspect is a substrate processing apparatus which concerns on the 2nd or 3rd aspect, Comprising: The said determination part determined in the said determination process that supply of the said chemical | medical solution by the said chemical | medical solution supply source is not possible In this case, the apparatus further includes a circulation control unit that causes the circulation system to circulate the chemical solution to the treatment tank.

第5の態様に係る基板処理装置は、第1から第4の何れか1つの態様に係る基板処理装置であって、前記薬液を加熱するヒーター、をさらに備える。   The substrate processing apparatus which concerns on a 5th aspect is a substrate processing apparatus which concerns on any one 1st-4th aspect, Comprising: The heater which heats the said chemical | medical solution is further provided.

第6の態様に係る基板処理装置は、第5の態様に係る基板処理装置であって、前記薬液供給源が前記薬液を供給することができないと前記判定部が前記判定処理において判定した場合に、前記ヒーターを作動させる加熱制御部、をさらに備える。   The substrate processing apparatus which concerns on a 6th aspect is a substrate processing apparatus which concerns on a 5th aspect, Comprising: When the said determination part determines in the said determination process that the said chemical | medical solution supply source cannot supply the said chemical | medical solution And a heating control unit for operating the heater.

第7の態様に係る基板処理システムは、第1から第6の何れか1つの態様に係る基板処理装置と、前記薬液供給源と、を備える。   A substrate processing system according to a seventh aspect includes the substrate processing apparatus according to any one of the first to sixth aspects, and the chemical solution supply source.

第8の態様に係る基板処理方法は、所定の薬液供給源から供給される薬液によって基板を処理する基板処理方法であって、前記薬液供給源が供給する薬液を貯留する処理槽から前記薬液を排出する排出ステップと、前記処理槽に貯留された薬液の交換に際して、前記薬液供給源が前記薬液を供給可能であるか否かを前記排出ステップに先立って判定する判定ステップと、を備え、前記排出ステップは、前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であると前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記処理槽から前記薬液の排出を開始するステップである。   The substrate processing method which concerns on an 8th aspect is a substrate processing method which processes a board | substrate with the chemical | medical solution supplied from a predetermined | prescribed chemical | medical solution supply source, Comprising: The said chemical | medical solution is supplied from the processing tank which stores the chemical | medical solution supplied by the said chemical | medical solution supply source. A discharging step for discharging, and a determination step for determining, prior to the discharging step, whether or not the chemical liquid supply source can supply the chemical liquid when replacing the chemical liquid stored in the processing tank, The discharging step is a step of starting discharging the chemical liquid from the processing tank when it is determined in the determining step that the chemical liquid can be supplied from the chemical liquid supply source.

第9の態様に係る基板処理方法は、第8の態様に係る基板処理方法であって、前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記処理槽への前記薬液の循環を行わせる循環ステップをさらに備える。   The substrate processing method which concerns on a 9th aspect is a substrate processing method which concerns on an 8th aspect, Comprising: When it determines in the said determination step that the supply of the said chemical | medical solution by the said chemical | medical solution supply source is not possible, the said processing tank A circulation step is further provided for circulating the chemical solution to the.

第10の態様に係る基板処理方法は、第8または第9の態様に係る基板処理方法であって、前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記薬液を加熱する加熱ステップをさらに備える。   A substrate processing method according to a tenth aspect is the substrate processing method according to the eighth or ninth aspect, wherein when it is determined in the determination step that the chemical liquid cannot be supplied by the chemical liquid supply source, The method further includes a heating step of heating the chemical solution.

第1の態様に係る発明によれば、判定部は、排出制御部が排出部に排出動作を行わせる前に薬液供給源による薬液の供給が可能であるか否かを判定する判定処理を行い、薬液供給源による薬液の供給が可能であると判定部が判定処理において判定した場合には、排出制御部が排出部に排出動作を開始させる。従って、薬液供給源が薬液を供給できない場合、排出部は排出動作を開始せず、処理槽に付着した薬液が長時間にわたって露出することを抑制できるので処理槽におけるパーティクルの発生を抑制できる。   According to the first aspect of the invention, the determination unit performs a determination process for determining whether or not the chemical liquid supply source can supply the chemical before the discharge control unit causes the discharge unit to perform the discharging operation. When the determination unit determines in the determination process that the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source, the discharge control unit causes the discharge unit to start the discharge operation. Therefore, when the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution, the discharge unit does not start the discharge operation, and the chemical solution adhering to the treatment tank can be prevented from being exposed for a long time, so that generation of particles in the treatment tank can be suppressed.

第4の態様に係る発明によれば、判定処理において薬液供給源による薬液の供給が可能でないと判定された場合に、循環制御部は、処理槽への薬液の循環を循環系に行わせる。従って、薬液供給源が薬液を供給できない期間においても処理槽内の薬液の均一性を向上できる。   According to the fourth aspect of the invention, the circulation control unit causes the circulation system to circulate the chemical solution to the treatment tank when it is determined that the chemical solution cannot be supplied from the chemical solution supply source in the determination process. Therefore, the uniformity of the chemical solution in the treatment tank can be improved even during a period in which the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution.

第6の態様に係る発明によれば、判定処理において薬液供給源による薬液の供給が可能でないと判定部が判定した場合に、加熱制御部はヒーターを作動させる。従って、薬液供給源が薬液を供給できない期間においても処理槽内の薬液を加熱できる。これにより、薬液の粘度の増加を抑制できる。   According to the sixth aspect of the invention, when the determination unit determines that the chemical solution cannot be supplied from the chemical supply source in the determination process, the heating control unit operates the heater. Therefore, the chemical solution in the treatment tank can be heated even during a period in which the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution. Thereby, the increase in the viscosity of a chemical | medical solution can be suppressed.

第8の態様に係る発明によれば、処理槽に貯留された薬液の交換を開始する前に判定ステップが実行される。判定ステップにおいて、薬液供給源から薬液の供給が可能であると判定された場合には、排出ステップが実行されて処理槽から薬液の排出が開始される。従って、薬液供給源が薬液を供給できない場合には、処理槽からの薬液の排出は開始されない。これにより、処理槽に付着した薬液が長時間にわたって露出することを抑制できるので処理槽におけるパーティクルの発生を抑制できる。   According to the eighth aspect of the invention, the determination step is executed before starting the exchange of the chemical solution stored in the processing tank. In the determination step, when it is determined that the chemical liquid can be supplied from the chemical liquid supply source, the discharge step is executed, and the discharge of the chemical liquid from the processing tank is started. Therefore, when the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution, the discharge of the chemical solution from the processing tank is not started. Thereby, since it can suppress that the chemical | medical solution adhering to the processing tank is exposed over a long time, generation | occurrence | production of the particle in a processing tank can be suppressed.

第9の態様に係る発明によれば、判定ステップにおいて薬液供給源から薬液の供給が可能でないと判定された場合には、循環ステップが実行されて処理槽への薬液の循環が行われる。従って、薬液供給源が薬液を供給できない期間においても処理槽内の薬液の均一性を向上できる。   According to the ninth aspect of the present invention, when it is determined in the determination step that the chemical liquid cannot be supplied from the chemical liquid supply source, the circulation step is executed to circulate the chemical liquid to the treatment tank. Therefore, the uniformity of the chemical solution in the treatment tank can be improved even during a period in which the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution.

第10の態様に係る発明によれば、判定ステップにおいて薬液供給源から薬液の供給が可能でないと判定された場合には、加熱ステップが実行されて薬液が加熱される。従って、薬液供給源が薬液を供給できない期間においても処理槽内の薬液を加熱できる。これにより、薬液の粘度の増加を抑制できる。   According to the tenth aspect of the present invention, when it is determined in the determination step that the chemical liquid cannot be supplied from the chemical liquid supply source, the heating step is executed to heat the chemical liquid. Therefore, the chemical solution in the treatment tank can be heated even during a period in which the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution. Thereby, the increase in the viscosity of a chemical | medical solution can be suppressed.

実施形態に係る基板処理装置を備えた基板処理システムの概略構成の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of schematic structure of the substrate processing system provided with the substrate processing apparatus which concerns on embodiment. 図1の基板処理システムの概略構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of schematic structure of the substrate processing system of FIG. 図1の基板処理システムの概略構成の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of schematic structure of the substrate processing system of FIG. 図3の処理液供給源の概略構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of schematic structure of the process liquid supply source of FIG. 図1の基板処理装置の薬液交換動作の一例を示すタイムチャートである。3 is a time chart showing an example of a chemical solution exchange operation of the substrate processing apparatus of FIG. 1. 図1の基板処理装置の薬液処理動作の一例を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing an example of a chemical processing operation of the substrate processing apparatus of FIG. 1. 図6の薬液の交換に係る動作の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the operation | movement which concerns on replacement | exchange of the chemical | medical solution of FIG.

以下、図面を参照しながら、実施の形態について説明する。以下の実施の形態は、本発明を具体化した一例であり、本発明の技術的範囲を限定する事例ではない。   Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. The following embodiment is an example embodying the present invention, and is not an example of limiting the technical scope of the present invention.

<1.基板処理装置1(基板処理システム100)の構成>
図1は、実施形態に係る基板処理装置1を備えた基板処理システム100の概略構成の一例を示す平面図である。図2は、基板処理システム100の概略構成の一例を示すブロック図である。
<1. Configuration of Substrate Processing Apparatus 1 (Substrate Processing System 100)>
FIG. 1 is a plan view illustrating an example of a schematic configuration of a substrate processing system 100 including a substrate processing apparatus 1 according to the embodiment. FIG. 2 is a block diagram illustrating an example of a schematic configuration of the substrate processing system 100.

基板処理システム100は、例えば、基板Wに対して薬液処理、純水洗浄処理、乾燥処理を行うための装置である。基板処理システム100は、基板処理装置1と、基板処理装置1に対して供給配管67を介して薬液を供給する薬液供給源65と、を含む。基板処理装置1は、投入部3と、払出部7と、第1搬送機構CTCと、第2搬送機構WTRと、乾燥処理部LPDと、第1処理部19と、第2処理部21とを含んでいる。薬液供給源65の詳細な構造については後述する。   The substrate processing system 100 is, for example, an apparatus for performing chemical liquid processing, pure water cleaning processing, and drying processing on the substrate W. The substrate processing system 100 includes a substrate processing apparatus 1 and a chemical solution supply source 65 that supplies a chemical solution to the substrate processing apparatus 1 via a supply pipe 67. The substrate processing apparatus 1 includes an input unit 3, a dispensing unit 7, a first transport mechanism CTC, a second transport mechanism WTR, a drying processing unit LPD, a first processing unit 19, and a second processing unit 21. Contains. The detailed structure of the chemical solution supply source 65 will be described later.

投入部3はカセット2を載置するための二つの載置台5を備えている。載置台5には未処理の基板Wが収納されたカセット2が載置される。カセット2は、複数枚(例えば25枚)を水平姿勢で収納する。例えば、このカセット2内の複数枚の基板Wは、基板処理装置1において処理の単位となる1ロットとして取り扱われる。但し、1枚の基板Wであってもカセット2に収容され、それが1ロットとして扱われることもある。   The input unit 3 includes two mounting tables 5 for mounting the cassette 2. On the mounting table 5, the cassette 2 in which the unprocessed substrates W are stored is mounted. The cassette 2 stores a plurality of sheets (for example, 25 sheets) in a horizontal posture. For example, a plurality of substrates W in the cassette 2 are handled as one lot which is a unit of processing in the substrate processing apparatus 1. However, even a single substrate W may be accommodated in the cassette 2 and handled as one lot.

投入部3に隣接する位置には払出部7が配備されている。払出部7は、カセット2を載置するための載置台9を二つ備えている。基板処理装置1によって基板処理が行われた基板Wは載置台9上のカセット2に収容される。1ロット分の基板Wがカセット2に収容されると、このカセット2は図示しないカセット搬送ロボットによって載置台9から基板処理装置1の外部に払い出される。   A payout unit 7 is provided at a position adjacent to the input unit 3. The payout unit 7 includes two mounting tables 9 for mounting the cassette 2. The substrate W that has been subjected to the substrate processing by the substrate processing apparatus 1 is accommodated in the cassette 2 on the mounting table 9. When one lot of substrates W is stored in the cassette 2, the cassette 2 is discharged from the mounting table 9 to the outside of the substrate processing apparatus 1 by a cassette transport robot (not shown).

投入部3と払出部7に沿う位置には、これらの間で移動可能に構成された第1搬送機構CTCが配備されている。第1搬送機構CTCは、投入部3に載置されたカセット2に収納されているロットを取り出した後、第2搬送機構WTRに対してロットを搬送する。また、第1搬送機構CTCは、第2搬送機構WTRから処理済のロットを受け取った後、ロットをカセット2に収納する。第2搬送機構WTRは、基板処理装置1の長手方向に移動可能である。なお、第1搬送機構CTCは、カセット2から基板Wを搬出する際にカセット2に収納されている基板Wの枚数を計数する。換言すると、第1搬送機構CTCはロットを認識するとともに、それを構成している基板Wの枚数を認識する。第1搬送機構CTCによる計数値は、制御部25に送信され、処理槽41内が貯留する薬液の交換タイミングが到達したか否かを判定する際に用いられる。上記では基板処理装置1に投入されたロット数、若しくは基板Wの枚数は第1搬送機構CTCによって計数されるが、第1搬送機構CTC以外の要素、例えば第2基板搬送機構WTRによって計数されるようにしてもよい。   A first transport mechanism CTC configured to be movable between them is disposed at a position along the input unit 3 and the payout unit 7. The first transport mechanism CTC takes out the lot stored in the cassette 2 placed on the input unit 3 and then transports the lot to the second transport mechanism WTR. The first transport mechanism CTC stores the lot in the cassette 2 after receiving the processed lot from the second transport mechanism WTR. The second transport mechanism WTR is movable in the longitudinal direction of the substrate processing apparatus 1. The first transport mechanism CTC counts the number of substrates W stored in the cassette 2 when the substrates W are unloaded from the cassette 2. In other words, the first transport mechanism CTC recognizes the lot and recognizes the number of substrates W constituting the lot. The count value obtained by the first transport mechanism CTC is transmitted to the control unit 25 and used when determining whether or not the replacement timing of the chemical stored in the processing tank 41 has arrived. In the above, the number of lots or the number of substrates W put into the substrate processing apparatus 1 is counted by the first transport mechanism CTC, but is counted by an element other than the first transport mechanism CTC, for example, the second substrate transport mechanism WTR. You may do it.

未処理基板Wの搬送時における第2搬送機構WTRの移動方向における最も手前側には、複数枚の基板Wを低圧のチャンバ内に収納して乾燥させるための乾燥処理部LPDが設けられている。乾燥処理部LPDは、低圧のチャンバ内にロットを収容して乾燥させる。   A drying processing unit LPD for storing and drying a plurality of substrates W in a low-pressure chamber is provided on the foremost side in the moving direction of the second transport mechanism WTR when transporting the unprocessed substrate W. . The drying processing unit LPD accommodates the lot in a low-pressure chamber and dries it.

乾燥処理部LPDに隣接し、乾燥処理部LPDを挟んだ第1搬送機構CTCの反対側には、第1処理部19が配置されている。この第1処理部19は、純水洗浄処理部ONB1と薬液処理部CHB1とを備えている。純水洗浄処理部ONB1は、ロットに対して純水洗浄処理を行う。薬液処理部CHB1は、ロットに対して薬液処理を行う。また、第1処理部は、副搬送機構LFS1を備えている。この副搬送機構LFS1は、第2搬送機構WTRとの間でロットを受け渡すとともに、純水洗浄処理部ONB1と薬液処理部CHB1の位置でのみ昇降可能である。   A first processing unit 19 is disposed adjacent to the drying processing unit LPD and on the opposite side of the first transport mechanism CTC across the drying processing unit LPD. The first processing unit 19 includes a pure water cleaning processing unit ONB1 and a chemical processing unit CHB1. The pure water cleaning processing unit ONB1 performs pure water cleaning processing on the lot. The chemical processing unit CHB1 performs chemical processing on the lot. In addition, the first processing unit includes a sub-transport mechanism LFS1. The sub transport mechanism LFS1 delivers a lot to and from the second transport mechanism WTR and can be raised and lowered only at the positions of the pure water cleaning processing unit ONB1 and the chemical solution processing unit CHB1.

第1処理部19に隣接した位置には、第2処理部21が配置されている。第2処理部21は、上述した第1処理部19と同じ構成である。つまり、第2処理部21は、純水洗浄処理部ONB2と、薬液処理部CHB2と、副搬送機構LFS2とを備えている。   A second processing unit 21 is disposed at a position adjacent to the first processing unit 19. The second processing unit 21 has the same configuration as the first processing unit 19 described above. That is, the second processing unit 21 includes a pure water cleaning processing unit ONB2, a chemical processing unit CHB2, and a sub-transport mechanism LFS2.

第1搬送機構CTC、第2搬送機構WTR、副搬送機構LFS1、LFS2は、基板W(ロット)を搬送する基板搬送機構6である。   The first transport mechanism CTC, the second transport mechanism WTR, the sub transport mechanisms LFS1, and LFS2 are substrate transport mechanisms 6 that transport the substrate W (lot).

載置台5の側面には、指示部23が付設されている。この指示部23は、装置のオペレータによって操作される。オペレータは、この指示部23を操作して、例えば、ロットを処理するための手順を規定したレシピと、載置台5に載置したカセット2のロットとを対応づけるためにレシピ番号を指示する。   An instruction unit 23 is attached to the side surface of the mounting table 5. The instruction unit 23 is operated by an operator of the apparatus. The operator operates the instruction unit 23 to instruct a recipe number for associating, for example, a recipe that defines a procedure for processing a lot with a lot of the cassette 2 placed on the placement table 5.

上記のように構成された基板処理システム100は、図2のブロック図に示すように制御部25によって統括的に制御される。   The substrate processing system 100 configured as described above is comprehensively controlled by the control unit 25 as shown in the block diagram of FIG.

制御部25は、図示しないCPUやスケジューリング部などを備えている。制御部25には、メモリ31が電気的に接続されている。メモリ31は、スケジュールを作成するプログラムPG1と、作成されたスケジュールと、スケジュールを実行するプログラムPG2などを記憶している。スケジュールを作成するプログラムPG1は、指示部23で指示されたレシピに基づいてロットをどのようなタイミングで各処理部に搬送するかを規定する。制御部25のCPUは、プログラムPG2を実行することによって、排出制御部26、判定部27、循環制御部28、加熱制御部29としても動作する。   The control unit 25 includes a CPU and a scheduling unit (not shown). A memory 31 is electrically connected to the control unit 25. The memory 31 stores a program PG1 for creating a schedule, the created schedule, a program PG2 for executing the schedule, and the like. The program PG1 for creating a schedule defines at what timing the lot is transported to each processing unit based on the recipe instructed by the instruction unit 23. The CPU of the control unit 25 also operates as the discharge control unit 26, the determination unit 27, the circulation control unit 28, and the heating control unit 29 by executing the program PG2.

また、メモリ31は、例えば、処理槽41に貯留された薬液によって処理することが許容される基板Wの処理枚数やロットの個数を規定した「ライフカウント」と、薬液が新たに生成されてから当該薬液を使用可能な期間を規定した「ライフタイム」をさらに記憶している。ライフタイムとライフカウントとは、予め、実験などによって定められる。ライフカウントとして、後述する部分液交換に使用されるライフカウントと、後述する全液交換に使用されるライフカウントとがメモリ31に記憶されてもよい。   In addition, the memory 31 has, for example, a “life count” that defines the number of substrates W to be processed and the number of lots that are allowed to be processed by the chemical stored in the processing tank 41, and a newly generated chemical. “Lifetime” that defines the period during which the chemical solution can be used is further stored. The lifetime and the life count are determined in advance by experiments or the like. As the life count, a life count used for partial liquid replacement described later and a life count used for all liquid replacement described later may be stored in the memory 31.

排出制御部26は、薬液処理部CHB1(CHB2)の処理槽41に貯留された薬液の交換に際して、後述する排出部84に排出動作を行わせる。判定部27は、排出制御部26が排出部84に排出動作を行わせる前に、薬液供給源65が薬液を供給可能であるか否かを判定する判定処理を実行する。薬液供給源65が薬液を供給可能であると判定された場合、排出制御部26は排出部84に排出動作を開始させる。   The discharge control unit 26 causes the discharge unit 84 described later to perform a discharge operation when replacing the chemical solution stored in the treatment tank 41 of the chemical solution processing unit CHB1 (CHB2). The determination unit 27 executes determination processing for determining whether or not the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution before the discharge control unit 26 causes the discharge unit 84 to perform the discharge operation. When it is determined that the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution, the discharge control unit 26 causes the discharge unit 84 to start the discharge operation.

薬液供給源65が薬液を供給不可能であると判定部27が判定処理において判定した場合に、循環制御部28は、処理槽41への薬液の循環を、後述する循環系52に行わせる。   When the determination unit 27 determines in the determination process that the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution, the circulation control unit 28 causes the circulation system 52 described later to circulate the chemical solution to the processing tank 41.

また、制御部25には報知部33が電気的に接続されている。報知部33は、例えば、発光することにより報知するランプや、音声により報知するブザーやスピーカなどである。薬液供給源65が上記の判定処理を行っている間に所定の待ち時間が経過すると、報知部33は、発光や音声により、待ち時間が経過したことを報知する。   In addition, a notification unit 33 is electrically connected to the control unit 25. The notification unit 33 is, for example, a lamp that notifies by emitting light, or a buzzer or speaker that notifies by sound. When a predetermined waiting time elapses while the chemical solution supply source 65 performs the above determination process, the notification unit 33 notifies the waiting time by light emission or sound.

図3は、基板処理システム100の概略構成の一例を示す模式図である。基板処理システム100は、基板処理装置1と薬液供給源65とを備えている。薬液供給源65は、基板処理装置1の外部に設けられた装置であって、基板処理装置1の外部から基板処理装置1に薬液を供給する。基板処理装置1は、薬液供給源65から供給される薬液によって基板Wを処理する。この基板処理システム100では、基板処理装置1の外部に薬液供給源65を配置しているが、基板処理装置1の内部に薬液供給源65を配置してもよい。   FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an example of a schematic configuration of the substrate processing system 100. The substrate processing system 100 includes a substrate processing apparatus 1 and a chemical supply source 65. The chemical solution supply source 65 is a device provided outside the substrate processing apparatus 1 and supplies a chemical solution to the substrate processing apparatus 1 from the outside of the substrate processing apparatus 1. The substrate processing apparatus 1 processes the substrate W with the chemical solution supplied from the chemical solution supply source 65. In the substrate processing system 100, the chemical solution supply source 65 is arranged outside the substrate processing apparatus 1, but the chemical solution supply source 65 may be arranged inside the substrate processing apparatus 1.

この基板処理装置1は薬液処理部CHB1(CHB2)と、制御部25と、メモリ31とを備えている。薬液処理部CHB1(CHB2)は、処理槽41と、保持アーム47とを備えている。処理槽41は、薬液供給源65が供給する薬液を貯留し、この薬液に基板Wを浸漬させることにより所定の処理を行う。処理槽41は、内槽43と、内槽43から溢れた薬液を回収する外槽45とを備えている。保持アーム47は、ロットを構成する複数の基板Wを起立姿勢で当接支持する。保持アーム47は、昇降可能に構成されており、支持した基板Wを内槽43内の処理位置と、内槽43の上方の待機位置との間で昇降させる。上述した副搬送機構LFS1(LFS2)は、この保持アーム47を備えている。   The substrate processing apparatus 1 includes a chemical processing unit CHB1 (CHB2), a control unit 25, and a memory 31. The chemical solution processing unit CHB1 (CHB2) includes a processing tank 41 and a holding arm 47. The processing tank 41 stores a chemical solution supplied by the chemical solution supply source 65 and performs a predetermined process by immersing the substrate W in this chemical solution. The processing tank 41 includes an inner tank 43 and an outer tank 45 that recovers the chemical liquid overflowing from the inner tank 43. The holding arm 47 abuts and supports the plurality of substrates W constituting the lot in an upright posture. The holding arm 47 is configured to be movable up and down, and raises and lowers the supported substrate W between a processing position in the inner tank 43 and a standby position above the inner tank 43. The sub-transport mechanism LFS1 (LFS2) described above includes the holding arm 47.

薬液処理部CHB1(CHB2)は、循環系52と、排出部84とをさらに備えている。循環系52は、処理槽41に貯留された薬液を処理槽41から排出して循環配管53を介して再び処理槽41に戻すことにより薬液を循環させることができるように構成されている。排出部84は、処理槽41に貯留された薬液を処理槽41から排出する排出動作を行うことができるように構成されている。   The chemical processing unit CHB1 (CHB2) further includes a circulation system 52 and a discharge unit 84. The circulation system 52 is configured to circulate the chemical liquid by discharging the chemical liquid stored in the processing tank 41 from the processing tank 41 and returning it to the processing tank 41 again through the circulation pipe 53. The discharge unit 84 is configured to perform a discharge operation for discharging the chemical stored in the processing tank 41 from the processing tank 41.

処理槽41の内槽43は、薬液を供給するための一対の噴出管49を底部に備えている。また、外槽45は、回収した薬液を排出するための排出口51を底部に備えている。噴出管49と排出口51とは、循環配管53で連通接続されている。この循環配管53には、排出口51側から順に、ポンプ55と、ヒーター57と、フィルター59とが配設されている。内槽43から外槽45に溢れた薬液は、ポンプ55が作動することによって排出口51から循環配管53に導かれ、循環配管53を経て一対の噴出管49から内槽43内に流入する。これにより、処理槽41内の薬液は、排出口51から循環配管53を経て一対の噴出管49から再び処理槽41内に循環する。循環系52は、排出口51と、循環配管53と、一対の噴出管49と、ポンプ55とを備えて構成されている。   The inner tank 43 of the processing tank 41 includes a pair of ejection pipes 49 for supplying a chemical solution at the bottom. Moreover, the outer tank 45 is equipped with the discharge port 51 for discharging | emitting the collect | recovered chemical | medical solution in the bottom part. The ejection pipe 49 and the discharge port 51 are connected in communication by a circulation pipe 53. In this circulation pipe 53, a pump 55, a heater 57, and a filter 59 are disposed in order from the discharge port 51 side. The chemical liquid overflowing from the inner tank 43 to the outer tank 45 is guided to the circulation pipe 53 from the discharge port 51 by the operation of the pump 55, and flows into the inner tank 43 from the pair of ejection pipes 49 through the circulation pipe 53. Thereby, the chemical | medical solution in the processing tank 41 circulates in the processing tank 41 again from the pair of jet pipes 49 through the circulation pipe 53 from the discharge port 51. The circulation system 52 includes a discharge port 51, a circulation pipe 53, a pair of ejection pipes 49, and a pump 55.

例えば、ヒーター57は、循環配管53を流通する薬液を加熱する機能を備えており、加熱制御部29の制御下で当該薬液を所定の範囲の温度(例えば、120〜180℃)に加熱する。フィルター59は、循環配管53を流れる薬液を濾過することによって薬液中のパーティクル等を除去する機能を備えている。なお、循環配管53のうち、排出口51とポンプ55との間には開閉弁61が配設され、ポンプ55とヒーター57との間には開閉弁63が配設されている。   For example, the heater 57 has a function of heating the chemical solution flowing through the circulation pipe 53, and heats the chemical solution to a temperature within a predetermined range (for example, 120 to 180 ° C.) under the control of the heating control unit 29. The filter 59 has a function of removing particles and the like in the chemical solution by filtering the chemical solution flowing through the circulation pipe 53. In the circulation pipe 53, an opening / closing valve 61 is disposed between the discharge port 51 and the pump 55, and an opening / closing valve 63 is disposed between the pump 55 and the heater 57.

薬液供給源65には、供給配管67の一端側が連通接続されている。供給配管67には、流量制御が可能な制御弁69が配設されている。供給配管67の他端側は、外槽45の上部に設けられたノズル71と連通接続されている。ノズル71は、外槽45に対向する吐出口を備える。薬液供給源65から供給された薬液は、供給配管67を通って、制御弁69の開度によって定まる流量でノズル71から外槽45に供給される。   One end of a supply pipe 67 is connected to the chemical solution supply source 65 in communication. The supply pipe 67 is provided with a control valve 69 capable of controlling the flow rate. The other end side of the supply pipe 67 is connected to a nozzle 71 provided in the upper part of the outer tub 45. The nozzle 71 includes a discharge port that faces the outer tub 45. The chemical liquid supplied from the chemical liquid supply source 65 is supplied from the nozzle 71 to the outer tank 45 through the supply pipe 67 at a flow rate determined by the opening degree of the control valve 69.

上述した循環配管53のうち、ポンプ55と開閉弁63との間には、分岐部73が配設されている。循環配管53のうち分岐部73よりも上流側部分は、外槽45内の薬液を排出する用途にも用いられる。また、内槽43の底部には、内槽43内の薬液を排出する際に使用する底部排出口75が形成されている。この底部排出口75と、循環配管53のうちポンプ55よりも上流側の一部とは、底部排出管77によって連通接続されている。この底部排出管77には、開閉弁79が配設されている。分岐部73には、循環配管53を流れる薬液を廃液タンクなどに導くための排液管81が配設されている。この排液管81には、開閉弁83が配設されている。   In the circulation pipe 53 described above, a branch portion 73 is disposed between the pump 55 and the on-off valve 63. A portion upstream of the branching portion 73 in the circulation pipe 53 is also used for a purpose of discharging the chemical solution in the outer tank 45. In addition, a bottom discharge port 75 used for discharging the chemical solution in the inner tank 43 is formed at the bottom of the inner tank 43. The bottom discharge port 75 and a part of the circulation pipe 53 on the upstream side of the pump 55 are connected in communication by a bottom discharge pipe 77. The bottom discharge pipe 77 is provided with an on-off valve 79. The branch portion 73 is provided with a drainage pipe 81 for guiding the chemical solution flowing through the circulation pipe 53 to a waste liquid tank or the like. The drainage pipe 81 is provided with an on-off valve 83.

処理槽41内の薬液を排出する際には、外槽45内の薬液、内槽43内の薬液、循環配管53内に残留している薬液の順に排出が行われる。開閉弁63が閉じ、開閉弁61、開閉弁83が開いた状態でポンプ55が作動することにより、外槽45内の薬液は、排出口51と、循環配管53と、排液管81とを介して排出される。開閉弁63が閉じ、開閉弁79、開閉弁83が開いた状態でポンプ55が作動することにより、内槽43内の薬液は、底部排出口75と、底部排出管77と、循環配管53と、排液管81とを介して排出される。また、循環配管53のうち分岐部73よりも一対の噴出管49側(下流側)の部分は、一対の噴出管49が分岐部73よりも上方となるように傾斜している。したがって、循環配管53に残存している薬液は、開閉弁63、開閉弁83を開いてポンプ55を停止させると、重力の作用によって排液管81を介して排出される。排出部84は、排出口51と、循環配管53と、底部排出口75と、底部排出管77と、排液管81と、ポンプ55とを備えて構成されている。   When the chemical liquid in the processing tank 41 is discharged, the chemical liquid in the outer tank 45, the chemical liquid in the inner tank 43, and the chemical liquid remaining in the circulation pipe 53 are discharged in this order. When the on-off valve 63 is closed and the on-off valve 61 and the on-off valve 83 are opened, the pump 55 is operated, so that the chemical solution in the outer tub 45 passes through the discharge port 51, the circulation pipe 53, and the drain pipe 81. Is discharged through. By operating the pump 55 with the on-off valve 63 closed and the on-off valve 79 and the on-off valve 83 open, the chemical liquid in the inner tank 43 flows into the bottom outlet 75, the bottom outlet 77, and the circulation pipe 53. The liquid is discharged through the drain pipe 81. In addition, a portion of the circulation pipe 53 that is closer to the pair of jet pipes 49 (downstream side) than the branch part 73 is inclined so that the pair of jet pipes 49 are located above the branch part 73. Accordingly, the chemical liquid remaining in the circulation pipe 53 is discharged through the drain pipe 81 by the action of gravity when the on-off valve 63 and the on-off valve 83 are opened to stop the pump 55. The discharge part 84 includes a discharge port 51, a circulation pipe 53, a bottom discharge port 75, a bottom discharge pipe 77, a drain pipe 81, and a pump 55.

上述した各構成は、制御部25によって統括的に制御される。制御部25は、例えば、メモリ31が記憶しているライフカウントとライフタイムの少なくとも一方に基づいて、開閉弁83及び制御弁69、薬液供給源65などを操作して、全液交換や部分液交換を行う。   Each structure mentioned above is controlled by the control part 25 centralizedly. For example, the control unit 25 operates the on-off valve 83, the control valve 69, the chemical liquid supply source 65, and the like based on at least one of the life count and the lifetime stored in the memory 31 to change all liquids or partially liquid. Exchange.

部分液交換は、例えば、基板Wの処理枚数(またはロットの処理数)が部分液交換用のライフカウントに達した後、処理槽41内の薬液の一部にあたる所定量の薬液を排液管81から排出するとともに、ノズル71から当該所定量に相当する新たな薬液を処理槽41に供給する処理である。   In the partial liquid exchange, for example, after the number of processed substrates W (or the number of processed lots) reaches the life count for partial liquid exchange, a predetermined amount of chemical liquid corresponding to a part of the chemical liquid in the processing tank 41 is drained. In this process, the new chemical liquid corresponding to the predetermined amount is supplied from the nozzle 71 to the processing tank 41 while being discharged from the nozzle 81.

全液交換は、例えば、薬液が生成されて処理槽41内に供給されてから当該薬液の使用期間がライフタイムに達した後、処理槽41内の薬液の全量にあたる所定量の薬液を排液管81から排出するとともに、ノズル71から当該所定量に相当する新たな薬液を処理槽41に供給する処理である。   For example, after the chemical solution is generated and supplied into the treatment tank 41, the total liquid replacement is performed after the usage period of the chemical solution reaches the lifetime, and then a predetermined amount of the chemical solution corresponding to the total amount of the chemical solution in the treatment tank 41 is drained. In this process, the liquid is discharged from the pipe 81 and a new chemical solution corresponding to the predetermined amount is supplied from the nozzle 71 to the processing tank 41.

図4は、薬液供給源65の概略構成の一例を示すブロック図である。薬液供給源65は、硫酸電解槽101と、陽極液タンク106と、陰極液タンク114と、薬液供給源65の各部の動作を統括制御する制御部130とを、主に備えている。制御部130は、例えば、一般的なコンピューターなどによって構成される。   FIG. 4 is a block diagram showing an example of a schematic configuration of the chemical solution supply source 65. The chemical solution supply source 65 mainly includes a sulfuric acid electrolysis tank 101, an anolyte tank 106, a catholyte tank 114, and a control unit 130 that performs overall control of the operation of each unit of the chemical solution supply source 65. The control unit 130 is configured by, for example, a general computer.

硫酸電解槽101は、隔膜102により陽極室104と陰極室112に区画され、陽極室104内に導電性ダイヤモンド陽極103が設けられ、陰極室112内に陰極111が設けられている。硫酸電解槽101の外部に陽極液タンク106が設けられている。   The sulfuric acid electrolytic cell 101 is partitioned into an anode chamber 104 and a cathode chamber 112 by a diaphragm 102, a conductive diamond anode 103 is provided in the anode chamber 104, and a cathode 111 is provided in the cathode chamber 112. An anolyte tank 106 is provided outside the sulfuric acid electrolysis tank 101.

先ず、制御部130の制御に従って、濃硫酸供給源(不図示)および超純水供給源(不図示)から濃硫酸供給ライン124および超純水供給ライン125より、98質量%の濃硫酸、超純水が、それぞれ、供給される。これにより、陽極液タンク106内において、70質量%以下の濃度の第1の硫酸溶液が作成される。第1の硫酸溶液の濃度は、70質量%以下になると、電流効率が40%以上となり、効率的な電解を行うことができる。   First, 98% by mass of concentrated sulfuric acid and ultrapure water are supplied from a concentrated sulfuric acid supply line (not shown) and an ultrapure water supply source (not shown) from the concentrated sulfuric acid supply line 124 and the ultrapure water supply line 125 according to the control of the control unit 130. Pure water is supplied respectively. Thereby, in the anolyte tank 106, the 1st sulfuric acid solution with a density | concentration of 70 mass% or less is created. When the concentration of the first sulfuric acid solution is 70% by mass or less, the current efficiency is 40% or more, and efficient electrolysis can be performed.

第1の硫酸溶液は、陽極液タンク106と陽極室104とを接続する陽極液供給ライン109を介して、陽極室104内に供給される。より詳細には、陽極液供給ライン109には、陽極液循環ポンプ105と陽極室バルブ119とが設けられている。制御部130は、陽極液循環ポンプ105を作動させるとともに、陽極室バルブ119を開く。これにより、第1の硫酸溶液が陽極液タンク106から陽極室104に陽極液として供給される。   The first sulfuric acid solution is supplied into the anode chamber 104 via an anolyte supply line 109 that connects the anolyte tank 106 and the anode chamber 104. More specifically, the anolyte supply line 109 is provided with an anolyte circulation pump 105 and an anode chamber valve 119. The control unit 130 operates the anolyte circulation pump 105 and opens the anode chamber valve 119. As a result, the first sulfuric acid solution is supplied from the anolyte tank 106 to the anode chamber 104 as the anolyte.

陽極室104内に供給された第1の硫酸溶液は、電解に供され、酸化性物質を含有する第1の電解硫酸が生成される。電解硫酸とは、硫酸を電解して得られた電解生成物をいい、電解液として加えた硫酸のほか、ペルオキソ1硫酸、ペルオキソ2硫酸、オゾン、過酸化水素等の電解によって生成した酸化性物質を含むもののことである。また、ペルオキソ1硫酸、ペルオキソ2硫酸を総称して過硫酸と呼ばれている。   The first sulfuric acid solution supplied into the anode chamber 104 is subjected to electrolysis to generate first electrolytic sulfuric acid containing an oxidizing substance. Electrolytic sulfuric acid refers to an electrolytic product obtained by electrolyzing sulfuric acid. In addition to sulfuric acid added as an electrolytic solution, oxidizing substances produced by electrolysis of peroxomonosulfuric acid, peroxodisulfuric acid, ozone, hydrogen peroxide, etc. It is a thing including. In addition, peroxomonosulfuric acid and peroxodisulfuric acid are collectively referred to as persulfuric acid.

陽極室104と陽極液タンク106とは、陽極液循環ライン110によっても接続されている。陽極液循環ポンプ105の作動によって、第1の電解硫酸および陽極ガスは、陽極室104と陽極液タンク106間を陽極液供給ライン109および陽極液循環ライン110を介して循環する。このため、生成された酸化性物質を含有する第1の電解硫酸は、十分に攪拌される。陽極ガスは、陽極液タンク106で気液分離され、陽極ガス排気ライン107より、薬液供給源65の外部へ排出される。   The anolyte chamber 104 and the anolyte tank 106 are also connected by an anolyte circulation line 110. By the operation of the anolyte circulation pump 105, the first electrolytic sulfuric acid and the anode gas are circulated between the anode chamber 104 and the anolyte tank 106 through the anolyte supply line 109 and the anolyte circulation line 110. For this reason, the 1st electrolytic sulfuric acid containing the produced | generated oxidizing substance is fully stirred. The anode gas is gas-liquid separated in the anolyte tank 106 and discharged from the anode gas exhaust line 107 to the outside of the chemical liquid supply source 65.

また、陰極液タンク114にも、濃硫酸供給ライン(不図示)によって濃硫酸供給源(不図示)が接続されているとともに、超純水供給ライン(不図示)によって超純水供給源(不図示)が接続されている。制御部130の制御に従って、濃硫酸供給源と超純水供給源から98質量%の濃硫酸と、超純水とが、それぞれ、供給される。これにより、陽極室104内に供給される第1の硫酸溶液と同濃度の硫酸溶液が、陰極液タンク114内で調製される。陰極液供給ライン118は、陰極室112と陰極液タンク114とを接続している。陰極液供給ライン118には、陰極液循環ポンプ113が設けられている。制御部130が、陽極液循環ポンプ105を作動させることにより、陰極液タンク114内で調製された硫酸溶液からなる陰極液は、陰極液タンク114から陰極液供給ライン118を介して陰極室112に供給される。   A concentrated sulfuric acid supply line (not shown) is also connected to the catholyte tank 114 by a concentrated sulfuric acid supply line (not shown), and an ultrapure water supply source (not shown) is connected by an ultrapure water supply line (not shown). Are connected. Under the control of the control unit 130, 98% by mass of concentrated sulfuric acid and ultrapure water are respectively supplied from the concentrated sulfuric acid supply source and the ultrapure water supply source. As a result, a sulfuric acid solution having the same concentration as the first sulfuric acid solution supplied into the anode chamber 104 is prepared in the catholyte tank 114. The catholyte supply line 118 connects the cathode chamber 112 and the catholyte tank 114. The catholyte supply line 118 is provided with a catholyte circulation pump 113. When the control unit 130 operates the anolyte circulation pump 105, the catholyte composed of the sulfuric acid solution prepared in the catholyte tank 114 is transferred from the catholyte tank 114 to the cathode chamber 112 via the catholyte supply line 118. Supplied.

この陰極液は、電解に供された後、発生する陰極ガスとともに、陰極室112と陰極液タンク114間を陰極液供給ライン118および陰極液循環ライン117を介して循環する。この循環は、陰極液循環ポンプ113が作動することによって行われる。陰極ガスは、陰極液タンク114で気液分離され、陰極ガス排気ライン115より、薬液供給源65の外部へ排出される。なお、陽極液供給ライン109には、陽極液の圧力および流量を検出する圧力流量計108が設けられ、陰極液供給ライン118には、陽極液の圧力および流量を検出する圧力流量計116が設けられている。   After being subjected to electrolysis, the catholyte is circulated between the cathode chamber 112 and the catholyte tank 114 through the catholyte supply line 118 and the catholyte circulation line 117 together with the generated cathode gas. This circulation is performed by operating the catholyte circulation pump 113. The cathode gas is gas-liquid separated in the catholyte tank 114 and discharged from the cathode gas exhaust line 115 to the outside of the chemical liquid supply source 65. The anolyte supply line 109 is provided with a pressure flow meter 108 that detects the pressure and flow rate of the anolyte, and the catholyte supply line 118 is provided with a pressure flow meter 116 that detects the pressure and flow rate of the anolyte. It has been.

次に、制御部130の制御に従って、陽極液タンク106内に、98質量%の濃硫酸が加えられ、第1の硫酸溶液よりも高濃度の第2の硫酸溶液が調製される。この第2の硫酸溶液の濃度は、陽極液タンク106内において、好ましくは、80質量%以上に調整される。第2の硫酸溶液は、陽極液供給ライン109を介して、硫酸電解槽101の陽極室104内に供給され、第1の電解硫酸と混合されるとともに、電解に供される。これにより、酸化性物質を含有する第2の電解硫酸が生成される。生成された第2の電解硫酸および陽極ガスは、陽極液循環ポンプ105が作動することによって、陽極室104と陽極液タンク106間を陽極液供給ライン109および陽極液循環ライン110を介して循環する。このため、生成された酸化性物質を含有する第2の電解硫酸は、十分に攪拌される。   Next, under the control of the control unit 130, 98% by mass of concentrated sulfuric acid is added into the anolyte tank 106 to prepare a second sulfuric acid solution having a concentration higher than that of the first sulfuric acid solution. The concentration of the second sulfuric acid solution is preferably adjusted to 80% by mass or more in the anolyte tank 106. The second sulfuric acid solution is supplied into the anode chamber 104 of the sulfuric acid electrolysis tank 101 via the anolyte supply line 109, mixed with the first electrolytic sulfuric acid, and used for electrolysis. Thereby, the 2nd electrolytic sulfuric acid containing an oxidizing substance is generated. The generated second electrolytic sulfuric acid and anode gas are circulated between the anode chamber 104 and the anolyte tank 106 via the anolyte supply line 109 and the anolyte circulation line 110 when the anolyte circulation pump 105 is operated. . For this reason, the 2nd electrolytic sulfuric acid containing the produced | generated oxidizing substance is fully stirred.

電解硫酸によるレジスト剥離性能は、80質量%以上の硫酸濃度において良好であり、これ以下の硫酸濃度では、酸化性物質濃度が高くても剥離性能は高くなく、レジストの剥離に長時間を要することになる。   Resist stripping performance by electrolytic sulfuric acid is good at sulfuric acid concentration of 80% by mass or more. At sulfuric acid concentration below this level, stripping performance is not high even if the oxidizing substance concentration is high, and it takes a long time to strip the resist. become.

また、上記のようにして生成された酸化性物質を含有する第2の電解硫酸は、十分に攪拌されるため、均一な薬液(「洗浄液」)となる。尚、陰極室112に供給する硫酸溶液の濃度は、陽極室104に供給する第1の硫酸溶液と同濃度にすることが望ましい。陽極液供給ライン109には、供給配管67が接続されており、供給配管67には、薬液供給バルブ120が設けられている。   In addition, the second electrolytic sulfuric acid containing the oxidizing substance generated as described above is sufficiently stirred, so that it becomes a uniform chemical solution (“cleaning solution”). Note that the concentration of the sulfuric acid solution supplied to the cathode chamber 112 is desirably the same as that of the first sulfuric acid solution supplied to the anode chamber 104. A supply pipe 67 is connected to the anolyte supply line 109, and a chemical liquid supply valve 120 is provided in the supply pipe 67.

薬液供給源65は、薬液処理部CHB1(CHB2)に供給可能な量の第2の電解硫酸を直ちに生成できるわけではない。このため、薬液供給源65は、第2の電解硫酸、すなわち薬液を薬液処理部CHB1(CHB2)に供給可能であるか否かを知らせることが可能に構成されている。具体的には、制御部130は、例えば、第2の電解硫酸の生成処理を開始してから所定の時間が経過すると、薬液(第2の電解硫酸)を基板処理装置1に供給可能であると判断し、薬液を供給可能であることを示す信号92を制御部130の制御部25に供給する。信号92は、薬液の供給が可能であることを示す値(例えば、”High”レベル)に設定されている。第2の電解硫酸を基板処理装置1に供給可能では無い場合には、制御部130は、薬液の供給が不可能であることを示す信号91を制御部25に供給する。信号91は、薬液の供給が不可能であることを示す値(例えば、”Low”レベル)に設定されている。   The chemical supply source 65 cannot immediately generate the second electrolytic sulfuric acid in an amount that can be supplied to the chemical treatment unit CHB1 (CHB2). Therefore, the chemical solution supply source 65 is configured to notify whether or not the second electrolytic sulfuric acid, that is, the chemical solution can be supplied to the chemical solution processing unit CHB1 (CHB2). Specifically, for example, the control unit 130 can supply the chemical solution (second electrolytic sulfuric acid) to the substrate processing apparatus 1 when a predetermined time has elapsed since the start of the second electrolytic sulfuric acid generation process. The signal 92 indicating that the chemical solution can be supplied is supplied to the control unit 25 of the control unit 130. The signal 92 is set to a value (for example, “High” level) indicating that the chemical liquid can be supplied. When the second electrolytic sulfuric acid cannot be supplied to the substrate processing apparatus 1, the control unit 130 supplies the control unit 25 with a signal 91 indicating that the chemical solution cannot be supplied. The signal 91 is set to a value (for example, “Low” level) indicating that the chemical solution cannot be supplied.

制御部130が、基板処理装置1への第2の電解硫酸の供給の可否を判断する手法としては、上述した処理時間に基づく判断手法以外の手法を採用することもできる。例えば、陽極液供給ライン109から分岐して、再び陽極液供給ライン109に合流する分岐ラインを設けるとともに、当該分岐ラインに第2の電解硫酸の酸化性物質の濃度を測定する濃度センサーを設けて、濃度センサーが測定する酸化性物質の濃度に基づいて、第2の電解硫酸の供給の可否を判断してもよい。このような濃度センサーとして、例えば、特許第6024936号に開示されている酸化剤濃度モニタリング装置などを採用できる。また、例えば、陽極液供給ライン109に温度計を設けて、温度計で第2の電解硫酸の温度を測定し、制御部130が、第2の電解硫酸の濃度と温度とに基づいて第2の電解硫酸の供給の可否を判断してもよい。   As a method for determining whether or not the second electrolytic sulfuric acid can be supplied to the substrate processing apparatus 1 by the control unit 130, a method other than the determination method based on the processing time described above may be employed. For example, a branch line that branches from the anolyte supply line 109 and joins the anolyte supply line 109 again is provided, and a concentration sensor that measures the concentration of the second electrolytic sulfuric acid oxidizing substance is provided in the branch line. Whether or not the second electrolytic sulfuric acid can be supplied may be determined based on the concentration of the oxidizing substance measured by the concentration sensor. As such a concentration sensor, for example, an oxidant concentration monitoring device disclosed in Japanese Patent No. 6024936 can be employed. Further, for example, a thermometer is provided in the anolyte supply line 109, the temperature of the second electrolytic sulfuric acid is measured with the thermometer, and the control unit 130 determines the second based on the concentration and temperature of the second electrolytic sulfuric acid. It may be determined whether or not the electrolytic sulfuric acid can be supplied.

また、薬液供給源65が、例えば、基板処理装置1の処理槽41に十分な量の薬液を供給できる容量の貯留タンクをさらに備えて、生成した第2の電解硫酸を貯留タンクに貯留し、所定の容量の第2の電解硫酸が貯留タンクに溜まったか否かによって、制御部130が薬液供給の可否を判定してもよい。   Further, the chemical solution supply source 65 further includes, for example, a storage tank having a capacity capable of supplying a sufficient amount of the chemical solution to the processing tank 41 of the substrate processing apparatus 1, and stores the generated second electrolytic sulfuric acid in the storage tank, The control unit 130 may determine whether or not the chemical solution can be supplied depending on whether or not the second electrolytic sulfuric acid having a predetermined capacity has accumulated in the storage tank.

薬液供給源65の制御部130は、基板処理装置1の制御部25から第2の電解硫酸(薬液)の供給開始を指示する信号95を受け付けた場合に、薬液を供給可能であれば、薬液供給バルブ120を開く。これにより、薬液は、陽極室バルブ119、薬液供給バルブ120、供給配管67を介して、基板処理装置1に供給される。   If the control unit 130 of the chemical solution supply source 65 receives the signal 95 instructing the start of the supply of the second electrolytic sulfuric acid (chemical solution) from the control unit 25 of the substrate processing apparatus 1, if the chemical solution can be supplied, Open the supply valve 120. Thereby, the chemical solution is supplied to the substrate processing apparatus 1 via the anode chamber valve 119, the chemical solution supply valve 120, and the supply pipe 67.

また、基板処理装置1の制御部25から第2の電解硫酸(薬液)の供給停止を指示する信号96を受け付けた場合には、制御部130は、薬液供給バルブ120を閉じる。これにより、薬液供給源65から基板処理装置1への薬液の供給が停止される。   When receiving a signal 96 for instructing to stop the supply of the second electrolytic sulfuric acid (chemical solution) from the control unit 25 of the substrate processing apparatus 1, the control unit 130 closes the chemical solution supply valve 120. Thereby, the supply of the chemical solution from the chemical solution supply source 65 to the substrate processing apparatus 1 is stopped.

薬液供給源65は、薬液として電解硫酸を供給するが、薬液供給源65が他の薬液を供給してもよい。例えば、薬液として燐酸(HPO)及び純水を含む燐酸溶液などを調整して供給する薬液供給源65が採用されてもよい。この場合においても、薬液供給源65は、薬液の供給が可能か否かを基板処理装置1の制御部25に信号等によって知らせることができるよう構成される。 The chemical solution supply source 65 supplies electrolytic sulfuric acid as a chemical solution, but the chemical solution supply source 65 may supply another chemical solution. For example, a chemical solution supply source 65 that adjusts and supplies a phosphoric acid solution containing phosphoric acid (H 3 PO 4 ) and pure water as the chemical solution may be employed. Even in this case, the chemical solution supply source 65 is configured to notify the control unit 25 of the substrate processing apparatus 1 by a signal or the like whether or not the chemical solution can be supplied.

<2.基板処理装置1の薬液処理動作>
図5は、基板処理装置1(基板処理システム100)の薬液交換動作の一例を示すタイムチャートである。図6は、基板処理装置1(基板処理システム100)の薬液処理動作の一例を示すフローチャートである。図7は、薬液交換動作の一例を示すフローチャートである。図5〜図7を参照しつつ、基板処理装置1(基板処理システム100)の薬液処理動作を説明する。
<2. Chemical Solution Processing Operation of Substrate Processing Apparatus 1>
FIG. 5 is a time chart showing an example of the chemical solution exchange operation of the substrate processing apparatus 1 (substrate processing system 100). FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a chemical solution processing operation of the substrate processing apparatus 1 (substrate processing system 100). FIG. 7 is a flowchart showing an example of the chemical solution replacement operation. The chemical processing operation of the substrate processing apparatus 1 (substrate processing system 100) will be described with reference to FIGS.

ここでは、予め、全液交換に伴う薬液の排出が行われて処理槽41は空になっているとともに、薬液供給源65は、基板処理装置1の処理槽41に薬液を供給可能な状態になっているものとする。   Here, the chemical solution is discharged in advance with the replacement of all the liquids, and the processing tank 41 is empty, and the chemical solution supply source 65 is in a state in which the chemical solution can be supplied to the processing tank 41 of the substrate processing apparatus 1. Suppose that

先ず、基板処理装置1は、空の処理槽41への薬液の投入と、投入された薬液の温調とを行う(図6のステップS10)。より詳細には、制御部25は、開閉弁79、83を閉じるとともに、開閉弁61、63を開いて、薬液供給源65の制御部130に薬液の供給を開始させる信号95を送信する。制御部130は、薬液供給源65を受信すると薬液供給バルブ120を開いて基板処理装置1への薬液の供給を行う。制御部25は、制御弁69を制御して供給配管67を流通する薬液の流量を所定の流量に調節する。薬液は、ノズル71から内槽43に供給され、内槽43内を満たすと外槽45へ溢れ、排出口51から循環配管53に流入する。薬液が内槽43から外槽45に溢れた後に、循環制御部28は、ポンプ55を作動させて、処理槽41内の薬液の循環を開始させ、加熱制御部29は、ヒーター57を制御して薬液を所定の温度に加熱する。   First, the substrate processing apparatus 1 performs the charging of the chemical into the empty processing tank 41 and the temperature adjustment of the charged chemical (Step S10 in FIG. 6). More specifically, the control unit 25 closes the on-off valves 79 and 83 and opens the on-off valves 61 and 63 to transmit a signal 95 for starting supply of the chemical liquid to the control unit 130 of the chemical liquid supply source 65. When receiving the chemical liquid supply source 65, the control unit 130 opens the chemical liquid supply valve 120 and supplies the chemical liquid to the substrate processing apparatus 1. The control unit 25 controls the control valve 69 to adjust the flow rate of the chemical solution flowing through the supply pipe 67 to a predetermined flow rate. The chemical liquid is supplied from the nozzle 71 to the inner tank 43, overflows into the outer tank 45 when filling the inner tank 43, and flows into the circulation pipe 53 from the discharge port 51. After the chemical liquid overflows from the inner tank 43 to the outer tank 45, the circulation control unit 28 operates the pump 55 to start circulation of the chemical liquid in the processing tank 41, and the heating control unit 29 controls the heater 57. The chemical solution is heated to a predetermined temperature.

制御部25は、例えば、薬液処理部CHB1(CHB2)が処理したロットの数と、メモリ31に記憶された部分液交換用のライフカウントおよび全液交換用のライフカウントと比較することによって、処理槽41内の薬液の交換が必要か否かを判定する(ステップS20)。ステップS20の判定の結果、薬液交換が必要ない場合には、制御部25は、副搬送機構LFS1(LFS2)の保持アーム47にロットの複数の基板Wを内槽43内に投入(処理位置に配置)させて所定の時間にわたって各基板Wを薬液に浸漬させることによって、各基板Wを薬液で処理する(ステップS30)。その後、制御部25は、基板搬送機構6の副搬送機構LFS1(LFS2)に内槽43から各基板Wを搬出させ(ステップS40)、基板搬送機構6によって各基板Wをカセット2に搬送し収容する。そして、制御部25は、全てのロットの処理が終了した否かを判定する(ステップS50)。   For example, the control unit 25 performs processing by comparing the number of lots processed by the chemical processing unit CHB1 (CHB2) with the life count for partial liquid replacement and the life count for total liquid replacement stored in the memory 31. It is determined whether or not the chemical solution in the tank 41 needs to be replaced (step S20). As a result of the determination in step S20, when the chemical solution replacement is not necessary, the control unit 25 puts a plurality of lots of substrates W into the holding tank 47 of the sub-transport mechanism LFS1 (LFS2) into the inner tank 43 (to the processing position). Each substrate W is treated with the chemical solution by immersing each substrate W in the chemical solution for a predetermined time (step S30). Thereafter, the control unit 25 causes the sub-transport mechanism LFS1 (LFS2) of the substrate transport mechanism 6 to unload each substrate W from the inner tank 43 (step S40), and transports and stores each substrate W to the cassette 2 by the substrate transport mechanism 6. To do. And the control part 25 determines whether the process of all the lots was complete | finished (step S50).

ステップS50の判定の結果、全ロットの処理が終了していれば、基板処理装置1は、薬液処理動作を終了する。当該判定の結果、全ロットの処理が終了していない場合には、カセット2から未処理のロットを薬液処理部CHB1(CHB2)に搬送して、上記のステップS20の判定と、ステップS30〜S40の処理を繰り返し、再度、ステップS50の判定を行う。   If the processing of all lots is completed as a result of the determination in step S50, the substrate processing apparatus 1 ends the chemical processing operation. As a result of the determination, when the processing of all the lots is not completed, the unprocessed lot is transferred from the cassette 2 to the chemical solution processing unit CHB1 (CHB2), and the determination in step S20 and steps S30 to S40 are performed. This process is repeated, and the determination in step S50 is performed again.

ステップS20の判定の結果、薬液の交換が必要な場合には、制御部25の判定部27は、薬液供給源65による薬液の供給が可能になることを待つ処理(「待ち処理」)を開始する(図6のステップS60)。第1搬送機構CTCは、処理した基板Wの枚数(若しくはロット数)として全液交換用の計数値と部分液交換用の計数値とを保持しており、実施される液交換の種類に応じた計数値をリセットする。処理槽41からの薬液の排出は、ロットの搬送スケジュールが守られるとともに、薬液交換の完了後に処理対象のロットが処理槽41に搬入されるまでの時間が長くならないように開始されることが好ましい。そこで、判定部27は、薬液交換の所要時間とロットの搬送時間などを考慮して当該待ち処理を開始する。図5の例では、判定部27は、薬液の交換が必要になった時間t1の後の時間t2に待ち処理を開始している。なお、図5の例では、時間t3に薬液供給源65による薬液供給が可能となり、その直後に処理槽41からの排液が開始されているが、例えば、薬液交換が必要となった時間t1に判定部27が待ち処理を開始してもよい。薬液供給源65が薬液を供給できるようになったと判定部27が判定した後、暫くしてから排出制御部26が排出部84に薬液の排出を開始させてもよい。   As a result of the determination in step S20, when the chemical solution needs to be replaced, the determination unit 27 of the control unit 25 starts a process of waiting for the chemical liquid supply source 65 to be able to supply the chemical liquid ("waiting process"). (Step S60 in FIG. 6). The first transport mechanism CTC holds a count value for total liquid exchange and a count value for partial liquid exchange as the number of processed substrates W (or the number of lots), depending on the type of liquid exchange to be performed. Reset the counted value. The discharge of the chemical solution from the processing tank 41 is preferably started so that the lot transportation schedule is observed and the time until the processing target lot is carried into the processing tank 41 does not become long after the chemical solution replacement is completed. . Accordingly, the determination unit 27 starts the waiting process in consideration of the time required for the chemical exchange and the lot transport time. In the example of FIG. 5, the determination unit 27 starts the waiting process at time t2 after time t1 when the chemical solution needs to be replaced. In the example of FIG. 5, the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source 65 at time t3, and immediately after that, drainage from the processing tank 41 is started. For example, time t1 when the chemical solution needs to be replaced Alternatively, the determination unit 27 may start waiting processing. The discharge control unit 26 may cause the discharge unit 84 to start discharging the chemical solution after a while after the determination unit 27 determines that the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution.

循環制御部28は、循環系52に薬液の循環動作を維持させ、加熱制御部29は、ヒーター57に薬液を所定の温度に加熱させて薬液の温度調整動作を維持させる(図6のステップS70)。薬液は、通常、その温度が低くなると粘度が高くなり、処理槽41から排出するための所要時間が長くなる。薬液供給源65による薬液の供給が可能になることを待っている間も薬液の温度調整を行えば、薬液供給源65による薬液の供給が可能となって処理槽41から薬液を排出するときに所要時間を短縮できる。また、処理槽41が温度調整された薬液によって温められている方が、交換された新たな薬液の温度調整に要する時間を短縮できる。なお、省エネの観点から、薬液供給源65による薬液の供給が可能になることを待っている間、薬液の循環と温度調整を停止してもよい。   The circulation control unit 28 causes the circulation system 52 to maintain the circulation operation of the chemical solution, and the heating control unit 29 causes the heater 57 to heat the chemical solution to a predetermined temperature and maintain the temperature adjustment operation of the chemical solution (step S70 in FIG. 6). ). In general, when the temperature of the chemical solution decreases, the viscosity increases, and the time required for discharging from the treatment tank 41 increases. If the temperature of the chemical liquid is adjusted while waiting for the chemical liquid supply source 65 to be able to supply the chemical liquid, the chemical liquid supply source 65 can supply the chemical liquid and the chemical liquid is discharged from the processing tank 41. The required time can be shortened. Moreover, the time required for the temperature adjustment of the new chemical | medical solution replaced | exchanged can be shortened when the processing tank 41 is warmed by the chemical | medical solution by which the temperature adjustment was carried out. From the viewpoint of energy saving, the circulation of the chemical solution and the temperature adjustment may be stopped while waiting for the chemical solution supply source 65 to be able to supply the chemical solution.

次に、制御部25は、所定の待ち時間が経過したかに否かを判定する(ステップS80)。ここで、基板搬送機構6は、スケジューリング部(不図示)が作成したスケジュール(搬送スケジュール)に従ってロットを搬送する。ステップS80の待ち時間は、スケジュールに従ったロットの搬送が可能な時間に設定される。待ち時間が経過した場合には、基板搬送機構6はスケジュールに従った搬送をできなくなる。このため、ステップS80の判定の結果、待ち時間が経過している場合には、制御部25は、待ち時間が経過したこと、すなわち障害が発生したことを報知部33に報知させる(ステップS86)。   Next, the control unit 25 determines whether or not a predetermined waiting time has elapsed (step S80). Here, the substrate transport mechanism 6 transports a lot according to a schedule (transport schedule) created by a scheduling unit (not shown). The waiting time in step S80 is set to a time during which the lot can be transported according to the schedule. When the waiting time elapses, the substrate transfer mechanism 6 cannot transfer according to the schedule. For this reason, when the waiting time has passed as a result of the determination in step S80, the control unit 25 notifies the notifying unit 33 that the waiting time has passed, that is, a failure has occurred (step S86). .

ステップS80の判定の結果、待ち時間が経過していない場合には、判定部27は、薬液供給源65が薬液を供給可能であるか否かの判定を行う、すなわち、薬液供給源65が薬液を供給可能になるのを待つ(ステップS90)。図5の例では、時間t2に判定部27がステップS90の判定を開始する。薬液供給源65が薬液を供給不可能である場合、制御部130は信号91を出力している(図5の時間t3以前の期間)。制御部25は、ステップS90の判定において、信号91に基づいて薬液供給源65が薬液を供給できないと判定し、制御部25はステップS80の判定処理を繰り返し、判定部27は、ステップS90の判定処理を繰り返す。   If the waiting time has not elapsed as a result of the determination in step S80, the determination unit 27 determines whether or not the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution, that is, the chemical solution supply source 65 is the chemical solution. Is waiting to be supplied (step S90). In the example of FIG. 5, the determination unit 27 starts the determination in step S90 at time t2. When the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution, the control unit 130 outputs a signal 91 (period before time t3 in FIG. 5). In step S90, the control unit 25 determines that the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution based on the signal 91. The control unit 25 repeats the determination process in step S80, and the determination unit 27 determines in step S90. Repeat the process.

薬液供給源65による薬液の供給が可能になると、制御部130は、制御部25の判定部27に信号92を出力する(図5の時間t3以降の期間)。判定部27は信号92を受信すると、薬液供給源65が薬液を供給可能であると判定し(ステップS90で「Yes」)、ステップS90からステップS100に移行する。一方、ステップS90で「No」と判定された場合にはステップS80に移行する。ステップS100では制御部25が基板処理装置1および薬液供給源65に薬液の交換を行わせる。このように、薬液の交換に際して、薬液供給源65による薬液の供給が可能であることを確認してから処理槽41内の薬液を排出すれば、排液の完了後、直ちに処理槽41に新しい薬液を供給することができる。これにより、処理槽41の内壁が長時間露出し、露出した内壁に付着している薬液が乾燥してパーティクルが発生することを抑制できる。また、全液交換では、フィルター59が設けられている循環配管53内の薬液も排出部84によって排出されるが、基板処理装置1では、排液の完了後、新たな薬液が処理槽41に入れられるまでの時間を短くできるのでフィルター59が乾燥してしまうことも抑制できる。   When the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source 65, the control unit 130 outputs a signal 92 to the determination unit 27 of the control unit 25 (period after time t3 in FIG. 5). When the determination unit 27 receives the signal 92, the determination unit 27 determines that the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution ("Yes" in step S90), and proceeds from step S90 to step S100. On the other hand, if “No” is determined in step S90, the process proceeds to step S80. In step S100, the control unit 25 causes the substrate processing apparatus 1 and the chemical liquid supply source 65 to exchange chemicals. In this way, when the chemical solution is replaced, if it is confirmed that the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source 65 and the chemical solution in the processing tank 41 is discharged, a new one is immediately added to the processing tank 41 after the drainage is completed. A chemical solution can be supplied. Thereby, it can suppress that the inner wall of the processing tank 41 is exposed for a long time, and the chemical | medical solution adhering to the exposed inner wall dries and a particle | grain is generated. In the total liquid replacement, the chemical solution in the circulation pipe 53 provided with the filter 59 is also discharged by the discharge unit 84. However, in the substrate processing apparatus 1, after the drainage is completed, a new chemical solution is supplied to the processing tank 41. Since the time until it is put in can be shortened, the filter 59 can be prevented from drying.

薬液の交換処理においては、循環制御部28が循環系52のポンプ55を停止させて処理槽41の薬液の循環を停止させるとともに、加熱制御部29は、ヒーター57に薬液の加熱を停止させることにより薬液の温度調整を停止する(図7のステップS110)。   In the chemical solution replacement process, the circulation control unit 28 stops the pump 55 of the circulation system 52 to stop the circulation of the chemical solution in the processing tank 41, and the heating control unit 29 causes the heater 57 to stop the heating of the chemical solution. Thus, the temperature adjustment of the chemical solution is stopped (step S110 in FIG. 7).

薬液の交換に際して、基板処理装置1の制御部25は、例えば、処理したロットの数に基づいて全液交換を行うか、若しくは、部分液交換を行うかを決定する。具体的には、例えば、基板処理装置1が3ロットを処理した場合には、制御部25は、部分液交換を行うと決定し、基板処理装置1が10ロットを処理した場合には、制御部25は、全液交換を行うと決定する。   When the chemical solution is exchanged, the control unit 25 of the substrate processing apparatus 1 determines, for example, whether to perform the total solution exchange or the partial solution exchange based on the number of processed lots. Specifically, for example, when the substrate processing apparatus 1 has processed 3 lots, the control unit 25 determines to perform partial liquid replacement, and when the substrate processing apparatus 1 has processed 10 lots, the control is performed. The unit 25 determines that all liquid replacement is performed.

制御部25が部分液交換処理を行うと決定した場合、排出制御部26は、排出部84に、処理槽41内の一部の薬液の量に相当する所定量の薬液を処理槽41から排出させ、制御部25が全液交換を行うと決定した場合には、排出制御部26は、排出部84に、処理槽41内の全ての薬液の量に相当する所定量の薬液を処理槽41から排出させる(図7のステップS120)。なお、全液交換の場合には、基板処理装置1は、処理槽41内の全ての薬液を排出した後に循環配管53に残留している薬液の排出を行う。図5の例では、時間t3に薬液供給源65が薬液を供給可能になっており、その後、排出制御部26は、排出部84に処理槽41内の所定量の薬液を交換させている。   When the control unit 25 determines to perform the partial liquid replacement process, the discharge control unit 26 discharges a predetermined amount of chemical solution corresponding to the amount of a part of the chemical solution in the processing tank 41 from the processing tank 41 to the discharge unit 84. When the control unit 25 determines that the entire liquid replacement is performed, the discharge control unit 26 supplies the discharge unit 84 with a predetermined amount of chemical solution corresponding to the amount of all the chemical solutions in the processing tank 41. (Step S120 in FIG. 7). In the case of all liquid replacement, the substrate processing apparatus 1 discharges the chemical liquid remaining in the circulation pipe 53 after discharging all the chemical liquid in the processing tank 41. In the example of FIG. 5, the chemical solution supply source 65 can supply the chemical solution at time t <b> 3, and then the discharge control unit 26 causes the discharge unit 84 to exchange a predetermined amount of the chemical solution in the processing tank 41.

処理槽41から所定量の薬液が排出されると、制御部25は、薬液供給源65による薬液の供給を指示する(図7のステップS130)。薬液供給源65から薬液の供給が開始されると、基板処理装置1は、処理槽41への薬液の投入を行う(図7のステップS140)。具体的には、ステップS130において、制御部25は、薬液供給源65の制御部130に、薬液の供給開始を指示する信号95を送信する。制御部130は、信号95を受信すると、薬液供給バルブ120を開いて供給配管67を介した薬液の供給を開始する。ステップS140において制御部25は、制御弁69の開度を調整してノズル71から吐出される薬液の液量を調整し、ノズル71から処理槽41に薬液を供給させる。図7の例では、制御部25は、時間t4に信号95を送信している。   When a predetermined amount of chemical liquid is discharged from the processing tank 41, the control unit 25 instructs the chemical liquid supply source 65 to supply the chemical liquid (step S130 in FIG. 7). When the supply of the chemical solution from the chemical solution supply source 65 is started, the substrate processing apparatus 1 inputs the chemical solution into the processing tank 41 (step S140 in FIG. 7). Specifically, in step S <b> 130, the control unit 25 transmits a signal 95 instructing the supply of the chemical solution to the control unit 130 of the chemical solution supply source 65. When the control unit 130 receives the signal 95, the control unit 130 opens the chemical solution supply valve 120 and starts supplying the chemical solution via the supply pipe 67. In step S <b> 140, the control unit 25 adjusts the opening of the control valve 69 to adjust the amount of the chemical liquid discharged from the nozzle 71, and supplies the chemical liquid from the nozzle 71 to the processing tank 41. In the example of FIG. 7, the control unit 25 transmits a signal 95 at time t4.

処理槽41への所定量の薬液の供給が完了すると、制御部25は、薬液供給源65に薬液の供給の停止を指示する(図7のステップS150)。具体的には、制御部25は、薬液供給源65の制御部130に、薬液の供給の停止を指示する信号96を送信し、制御部130は、信号96を受信すると、薬液供給バルブ120を閉じて供給配管67を介した薬液の供給を停止する。図5の例示では、薬液供給源65は、時間t5に薬液の供給を停止している。なお、薬液供給バルブ120を閉じる代わりに、制御弁69を閉じて処理槽41への薬液の供給を停止させてもよい。   When the supply of the predetermined amount of the chemical solution to the processing tank 41 is completed, the control unit 25 instructs the chemical solution supply source 65 to stop the supply of the chemical solution (step S150 in FIG. 7). Specifically, the control unit 25 transmits a signal 96 for instructing to stop the supply of the chemical solution to the control unit 130 of the chemical solution supply source 65. When the control unit 130 receives the signal 96, the control unit 130 controls the chemical solution supply valve 120. The supply of the chemical solution via the supply pipe 67 is stopped by closing. In the illustration of FIG. 5, the chemical solution supply source 65 stops supplying the chemical solution at time t5. Instead of closing the chemical solution supply valve 120, the control valve 69 may be closed to stop the supply of the chemical solution to the processing tank 41.

その後、基板処理装置1は、薬液の循環と温度調整とを行う(図7のステップS160)。具体的には、循環制御部28は、ポンプ55を作動させて、処理槽41内の薬液の循環を開始させ、加熱制御部29は、ヒーター57を制御して薬液を所定の温度に加熱する。図5の例では、時間t6に、薬液の温度は、所定の温度に達している。   Thereafter, the substrate processing apparatus 1 performs chemical circulation and temperature adjustment (step S160 in FIG. 7). Specifically, the circulation control unit 28 operates the pump 55 to start circulation of the chemical solution in the processing tank 41, and the heating control unit 29 controls the heater 57 to heat the chemical solution to a predetermined temperature. . In the example of FIG. 5, at time t6, the temperature of the chemical solution reaches a predetermined temperature.

これにより薬液の交換は完了し、基板処理装置1は、図6のステップS20以降の処理を繰り返す。   Thereby, the exchange of the chemical solution is completed, and the substrate processing apparatus 1 repeats the processing after step S20 in FIG.

以上のように構成された本実施形態に係る基板処理装置によれば、判定部27は、排出制御部26が排出部84に排出動作を開始させる前に、薬液供給源65が供給可能であるか否かを判定する判定処理を行う。判定処理において薬液供給源65による薬液の供給が可能であると判定された場合には、排出制御部26が排出部84に排出動作を開始させる。判定処理において薬液供給源65による薬液の供給が可能でないと判定された場合には、排出制御部26は排出部84に排出動作を開始させない。このように、薬液供給源65が薬液を供給できない場合、排出部84は排出動作を開始せず、処理槽41に付着した薬液が長時間にわたって露出することを抑制できるので処理槽41におけるパーティクルの発生を抑制できる。   According to the substrate processing apparatus according to the present embodiment configured as described above, the determination unit 27 can supply the chemical supply source 65 before the discharge control unit 26 starts the discharge operation of the discharge unit 84. Judgment processing to determine whether or not. In the determination process, when it is determined that the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source 65, the discharge control unit 26 causes the discharge unit 84 to start the discharge operation. When it is determined in the determination process that the chemical liquid supply source 65 cannot supply the chemical liquid, the discharge control unit 26 does not cause the discharge unit 84 to start the discharge operation. As described above, when the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution, the discharge unit 84 does not start the discharging operation, and the chemical solution attached to the treatment tank 41 can be prevented from being exposed for a long time. Generation can be suppressed.

また、本実施形態に係る基板処理装置によれば、判定処理において薬液供給源65による薬液の供給が可能でないと判定された場合、循環制御部28は、処理槽41への薬液の循環を循環系52に行わせる。従って、薬液供給源65が薬液を供給できない期間においても処理槽41内の薬液の均一性を向上できる。   Further, according to the substrate processing apparatus according to the present embodiment, the circulation control unit 28 circulates the circulation of the chemical liquid to the processing tank 41 when it is determined in the determination process that the chemical liquid supply source 65 cannot supply the chemical liquid. Let system 52 do. Therefore, the uniformity of the chemical solution in the processing tank 41 can be improved even during a period in which the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution.

また、本実施形態に係る基板処理装置によれば、判定処理において薬液供給源65による薬液の供給が可能でないと判定された場合、加熱制御部29はヒーター57を作動させる。従って、薬液供給源65が薬液を供給できない期間においても処理槽41内の薬液を加熱できる。これにより、薬液の粘度の増加を抑制できる。   Further, according to the substrate processing apparatus according to the present embodiment, the heating control unit 29 operates the heater 57 when it is determined in the determination process that the chemical liquid supply source 65 cannot supply the chemical liquid. Therefore, the chemical solution in the processing tank 41 can be heated even during a period in which the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution. Thereby, the increase in the viscosity of a chemical | medical solution can be suppressed.

また、以上のような本実施形態に係る基板処理方法によれば、処理槽41に貯留された薬液の交換を開始する前に判定ステップが実行される。判定ステップにおいて薬液供給源65から薬液の供給が可能であると判定された場合には、排出ステップが実行されて処理槽41から薬液の排出が開始される。従って、薬液供給源65が薬液を供給できない場合には、処理槽41から薬液の排出は開始されない。これにより、処理槽41に付着した薬液が長時間にわたって露出することを抑制できるので処理槽41におけるパーティクルの発生を抑制できる。   In addition, according to the substrate processing method according to the present embodiment as described above, the determination step is executed before the replacement of the chemical solution stored in the processing tank 41 is started. In the determination step, when it is determined that the chemical liquid can be supplied from the chemical liquid supply source 65, the discharge step is executed and the discharge of the chemical liquid from the processing tank 41 is started. Accordingly, when the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution, the discharge of the chemical solution from the processing tank 41 is not started. Thereby, since it can suppress that the chemical | medical solution adhering to the processing tank 41 is exposed over a long time, generation | occurrence | production of the particle in the processing tank 41 can be suppressed.

また、本実施形態に係る基板処理方法によれば、判定ステップにおいて薬液供給源65から薬液の供給が可能でないと判定された場合には、循環ステップが実行されて処理槽41への薬液の循環が行われる。従って、薬液供給源65が薬液を供給できない期間においても処理槽41内の薬液の均一性を向上できる。   Further, according to the substrate processing method according to the present embodiment, when it is determined in the determination step that the chemical solution cannot be supplied from the chemical solution supply source 65, the circulation step is executed and the chemical solution is circulated to the processing tank 41. Is done. Therefore, the uniformity of the chemical solution in the processing tank 41 can be improved even during a period in which the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution.

また、本実施形態に係る基板処理方法によれば、判定ステップにおいて薬液供給源65から薬液の供給が可能でないと判定された場合には、加熱ステップが実行されて薬液が加熱される。従って、薬液供給源65が薬液を供給できない期間においても処理槽41内の薬液を加熱できる。これにより、薬液の粘度の増加を抑制できる。   Further, according to the substrate processing method according to the present embodiment, when it is determined in the determination step that the chemical solution cannot be supplied from the chemical solution supply source 65, the heating step is executed to heat the chemical solution. Therefore, the chemical solution in the processing tank 41 can be heated even during a period in which the chemical solution supply source 65 cannot supply the chemical solution. Thereby, the increase in the viscosity of a chemical | medical solution can be suppressed.

本発明は詳細に示され記述されたが、上記の記述は全ての態様において例示であって限定的ではない。したがって、本発明は、その発明の範囲内において、実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。   Although the invention has been shown and described in detail, the above description is illustrative in all aspects and not restrictive. Therefore, embodiments of the present invention can be modified or omitted as appropriate within the scope of the invention.

1 基板処理装置
100 基板処理システム
130 制御部
25 制御部
52 循環系
53 循環配管
55 ポンプ
57 ヒーター
59 フィルター
65 薬液供給源
67 供給配管
77 底部排出管
84 排出部
91,92,95,96 信号
W 基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing apparatus 100 Substrate processing system 130 Control part 25 Control part 52 Circulation system 53 Circulation piping 55 Pump 57 Heater 59 Filter 65 Chemical solution supply source 67 Supply piping 77 Bottom discharge pipe 84 Discharge part 91,92,95,96 Signal W board

Claims (10)

所定の薬液供給源から供給される薬液によって基板を処理する基板処理装置であって、
前記薬液供給源から供給される薬液を貯留し前記薬液に基板を浸漬させることにより前記基板に所定の処理を行う処理槽と、
前記処理槽に貯留された前記薬液を前記処理槽から排出する排出動作を行う排出部と、
前記処理槽に貯留された薬液の交換に際して前記排出部に前記排出動作を行わせる排出制御部と、
前記排出制御部が前記排出部に前記排出動作を行わせる前に前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であるか否かを判定する判定処理を行う判定部と、
を備え、
前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であると前記判定部が前記判定処理において判定した場合には、前記排出制御部が前記排出部に前記排出動作を開始させる、基板処理装置。
A substrate processing apparatus for processing a substrate with a chemical supplied from a predetermined chemical supply source,
A treatment tank for storing a chemical solution supplied from the chemical solution supply source and performing a predetermined process on the substrate by immersing the substrate in the chemical solution;
A discharge unit that performs a discharge operation for discharging the chemical stored in the treatment tank from the treatment tank;
A discharge control unit that causes the discharge unit to perform the discharge operation when replacing the chemical stored in the processing tank;
A determination unit that performs a determination process to determine whether or not the chemical liquid supply source is capable of being supplied before the discharge control unit causes the discharge unit to perform the discharge operation;
With
The substrate processing apparatus, wherein when the determination unit determines in the determination process that the chemical solution can be supplied from the chemical solution supply source, the discharge control unit causes the discharge unit to start the discharge operation.
請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記処理槽に貯留された前記薬液を前記処理槽から排出して再び前記処理槽に戻すことにより前記薬液を循環させる循環系、
をさらに備える、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
A circulation system for circulating the chemical liquid by discharging the chemical liquid stored in the processing tank from the processing tank and returning it to the processing tank again.
A substrate processing apparatus further comprising:
請求項2に記載の基板処理装置であって、
前記循環系は、前記薬液を濾過するフィルターを備える、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 2,
The said circulation system is a substrate processing apparatus provided with the filter which filters the said chemical | medical solution.
請求項2または請求項3に記載の基板処理装置であって、
前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定部が前記判定処理において判定した場合に、前記処理槽への前記薬液の循環を前記循環系に行わせる循環制御部をさらに備える、基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to claim 2 or claim 3, wherein
A substrate further comprising a circulation control unit that causes the circulation system to circulate the chemical solution to the processing tank when the determination unit determines in the determination process that the chemical solution cannot be supplied from the chemical solution supply source. Processing equipment.
請求項1から請求項4の何れか1つの請求項に記載の基板処理装置であって、
前記薬液を加熱するヒーター、
をさらに備える、基板処理装置。
A substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein
A heater for heating the chemical,
A substrate processing apparatus further comprising:
請求項5に記載の基板処理装置であって、
前記薬液供給源が前記薬液を供給することができないと前記判定部が前記判定処理において判定した場合に、前記ヒーターを作動させる加熱制御部、
をさらに備える、基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 5,
A heating control unit that activates the heater when the determination unit determines in the determination process that the chemical solution supply source cannot supply the chemical solution;
A substrate processing apparatus further comprising:
請求項1から請求項6の何れか1つの請求項に記載の基板処理装置と、
前記薬液供給源と、
を備える、基板処理システム。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The chemical supply source;
A substrate processing system.
所定の薬液供給源から供給される薬液によって基板を処理する基板処理方法であって、
前記薬液供給源が供給する薬液を貯留する処理槽から前記薬液を排出する排出ステップと、
前記処理槽に貯留された薬液の交換に際して、前記薬液供給源が前記薬液を供給可能であるか否かを前記排出ステップに先立って判定する判定ステップと、
を備え、
前記排出ステップは、
前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能であると前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記処理槽から前記薬液の排出を開始するステップである、基板処理方法。
A substrate processing method for processing a substrate with a chemical solution supplied from a predetermined chemical solution supply source,
A discharge step of discharging the chemical liquid from a treatment tank storing the chemical liquid supplied by the chemical liquid supply source;
A determination step of determining whether or not the chemical solution supply source can supply the chemical solution prior to the discharging step when replacing the chemical solution stored in the processing tank;
With
The discharging step includes
A substrate processing method, which is a step of starting discharge of the chemical liquid from the processing tank when it is determined in the determination step that the chemical liquid can be supplied from the chemical liquid supply source.
請求項8に記載の基板処理方法であって、
前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記処理槽への前記薬液の循環を行わせる循環ステップをさらに備える、基板処理方法。
The substrate processing method according to claim 8, comprising:
A substrate processing method, further comprising a circulation step for circulating the chemical liquid to the processing tank when it is determined in the determination step that the chemical liquid cannot be supplied from the chemical liquid supply source.
請求項8または請求項9に記載の基板処理方法であって、
前記薬液供給源による前記薬液の供給が可能でないと前記判定ステップにおいて判定された場合に、前記薬液を加熱する加熱ステップをさらに備える、基板処理方法。
The substrate processing method according to claim 8 or 9, wherein
A substrate processing method, further comprising a heating step of heating the chemical solution when it is determined in the determination step that the chemical solution cannot be supplied from the chemical solution supply source.
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