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JP2018155383A - Sealing device - Google Patents

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JP2018155383A
JP2018155383A JP2017054627A JP2017054627A JP2018155383A JP 2018155383 A JP2018155383 A JP 2018155383A JP 2017054627 A JP2017054627 A JP 2017054627A JP 2017054627 A JP2017054627 A JP 2017054627A JP 2018155383 A JP2018155383 A JP 2018155383A
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conductive member
seal lip
sealing device
seal
deformation
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JP2017054627A
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陽平 清水
Yohei Shimizu
陽平 清水
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JTEKT Corp
Original Assignee
JTEKT Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sealing device having a seal lip where a seal surface closely contacts with a rotational shaft, and capable of inspecting degree of deformation of the seal lip resulting from abrasion of the seal surface, without deteriorating operation efficiency of a rotary member.SOLUTION: A sealing device 10 includes: a first conductive member 31 integrated with a seal lip 24 along a circumferential direction of the seal lip 24, and to which voltage is applied; and a second conductive member 32 provided at the seal lip or an attachment part in a state of separating from the first conductive member at a predetermined interval. A detection unit 50 detects change of inductance of the first conductive member with change of the interval between the first conductive member and the second conductive member, thereby inspecting degree of deformation of the seal lip.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

この発明は密封装置に関する。   The present invention relates to a sealing device.

工業製品や産業用機械における回転部材に対しては、回転軸とハウジングとの間の空間への異物の侵入や、グリース等の潤滑剤の流出を防ぐために密封装置が用いられる。密封装置の一例として、回転軸に摺動自在に密接するシールリップを有する密封装置がある。このような密封装置としてオイルシールが広く用いられている。   Sealing devices are used for rotating members in industrial products and industrial machines in order to prevent entry of foreign matter into the space between the rotating shaft and the housing and outflow of lubricant such as grease. As an example of the sealing device, there is a sealing device having a sealing lip that is slidably in close contact with a rotating shaft. An oil seal is widely used as such a sealing device.

特開2014−74469号公報JP 2014-74469 A

シールリップの内周のシール面を回転軸のあたり面に密接させると、シール面が回転軸に対して摺動する。シール面は、その摩擦によって徐々に摩耗する。シールリップは、この摩耗に伴って回転軸に接近する方向に徐々に変形する。シール面が摩耗することによってシールリップが所定量変形すると、シール面と回転軸との接触圧が不足してシール性能が損なわれ、環状空間への異物の侵入や環状空間外への潤滑剤の流出が生じる。   When the inner peripheral seal surface of the seal lip is brought into close contact with the contact surface of the rotation shaft, the seal surface slides with respect to the rotation shaft. The sealing surface is gradually worn by the friction. The seal lip is gradually deformed in the direction approaching the rotating shaft with the wear. If the seal lip is deformed by a predetermined amount due to wear of the seal surface, the contact pressure between the seal surface and the rotating shaft will be insufficient and the seal performance will be impaired, and foreign matter will enter the annular space and lubricant will enter the annular space. An outflow occurs.

この問題は、一般に、定期的に密封装置を交換することによって対処される。つまり、シール性能が損なわれる時期よりも短い間隔で密封装置の交換を実施し、回転部材への異物の侵入や潤滑剤の流出を未然に防いでいる。しかしながら、この方法では、密封装置の交換サイクルが短くなるので、密封装置のメンテナンスに手間がかかる。また、予定された交換期間より前にシールリップに異常変形が生じてしまうと、環状空間への異物の侵入や環状空間外への潤滑剤の流出が抑えられない。   This problem is generally addressed by periodically changing the sealing device. That is, the sealing device is replaced at an interval shorter than the time when the sealing performance is impaired, thereby preventing foreign matters from entering the rotating member and preventing the lubricant from flowing out. However, in this method, since the replacement cycle of the sealing device is shortened, the maintenance of the sealing device takes time. In addition, if the seal lip is abnormally deformed before the scheduled replacement period, it is not possible to suppress entry of foreign matter into the annular space and outflow of the lubricant out of the annular space.

そこで、特開2014−74469号公報(特許文献1)に開示された検査装置を利用して、変形が所定量に達しているか否かのシールリップの変形度合いを検査することが考えられる。文献1の検査装置は、当該検査装置にオイルシールをはめ込むことによって、オイルシールのシールリップ部の規定された位置にガータスプリングが装着されているか否かを検知するものである。シールリップが変形するとガータスプリングが装着される位置も変化するため、文献1の検査装置を用いてガータスプリングが装着された位置が規定された位置から所定以上変化しているか否かを検知することで、シールリップが所定量変形したか否かを検査することが可能と考えられる。   Therefore, it is conceivable to inspect the degree of deformation of the seal lip whether or not the deformation has reached a predetermined amount by using an inspection device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-74469 (Patent Document 1). The inspection device of Document 1 detects whether or not a garter spring is attached to a specified position of a seal lip portion of the oil seal by fitting an oil seal into the inspection device. Since the position where the garter spring is mounted also changes when the seal lip is deformed, it is detected whether or not the position where the garter spring is mounted has changed by a predetermined amount or more from the specified position using the inspection apparatus of Document 1. Thus, it is considered possible to inspect whether or not the seal lip has been deformed by a predetermined amount.

しかしながら、文献1の検査装置を用いて検査する際には、回転部材の稼動を停止してオイルシールを取り外し、当該検査装置にオイルシールをはめ込む必要がある。そのため、回転部材の稼動効率を低下させてしまう。   However, when inspecting using the inspection device of Document 1, it is necessary to stop the operation of the rotating member, remove the oil seal, and fit the oil seal into the inspection device. For this reason, the operating efficiency of the rotating member is reduced.

本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって、回転部材の回転軸にシール面が密接するシールリップを有する密封装置であって、当該回転部材の稼動効率を低下させることなく、当該シール面の摩耗に起因したシールリップの変形度合いを検査することができる密封装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and is a sealing device having a sealing lip in which a sealing surface is in close contact with a rotating shaft of a rotating member, without reducing the operating efficiency of the rotating member, It is an object of the present invention to provide a sealing device that can inspect the degree of deformation of a seal lip caused by wear of the seal surface.

この発明にかかる密封装置は円筒内周面を有する外側部材と当該円筒内周面の径方向内側の軸との間の環状空間に設けられる密封装置であって、外側部材に取り付けられる環状の取付部と、取付部に固定され、内周に軸に接触させるシール面を有する、環状のシールリップと、シールリップの周方向に沿って当該シールリップに一体化され、電圧が印加される第1の導電部材と、第1の導電部材と所定間隔離した状態でシールリップまたは取付部に設けられた第2の導電部材と、第1の導電部材と第2の導電部材との間隔の変化に伴う第1の導電部材のインダクタンスの変化を検知する検知ユニットと、を備える。
前記の構造の密封装置によれば、シール面の摩耗に伴ってシールリップが変形すると、第1の導電部材と第2の導電部材との間隔が変化する。また、第1の導電部材に電圧が印加されることで第1の導電部材は磁気センサとして機能する。このため、第1の導電部材とセンシング対象とする第2の導電部材との間隔の変化が、第1の導電部材のインダクタンスの変化として検知される。これにより、容易な構成でシールリップの変形度合いを検査できる。また、当該密封装置が取り付けられた回転部材の回転中であっても、シールリップの変形度合いを検査できる。このため、稼動効率を低下させることなくシールリップの変形度合いを検査できる。
A sealing device according to the present invention is a sealing device provided in an annular space between an outer member having a cylindrical inner peripheral surface and a radially inner shaft of the cylindrical inner peripheral surface. And an annular seal lip that is fixed to the mounting portion and has a seal surface that is in contact with the shaft on the inner periphery, and is integrated with the seal lip along the circumferential direction of the seal lip, and is applied with a voltage. A change in the distance between the first conductive member, the second conductive member provided on the seal lip or the mounting portion in a state of being separated from the first conductive member by a predetermined distance, and the first conductive member and the second conductive member. And a detection unit for detecting a change in inductance of the accompanying first conductive member.
According to the sealing device having the above structure, when the seal lip is deformed as the seal surface is worn, the distance between the first conductive member and the second conductive member changes. Moreover, the first conductive member functions as a magnetic sensor by applying a voltage to the first conductive member. For this reason, a change in the distance between the first conductive member and the second conductive member to be sensed is detected as a change in the inductance of the first conductive member. Thereby, the deformation | transformation degree of a seal lip can be test | inspected with an easy structure. Further, the degree of deformation of the seal lip can be inspected even while the rotary member to which the sealing device is attached is rotating. For this reason, the deformation degree of the seal lip can be inspected without lowering the operation efficiency.

好ましくは、第1の導電部材は、シールリップの周方向に沿って当該シールリップと同芯にて環状に設けられている。
好ましくは、第2の導電部材は、シールリップの周方向に沿って当該シールリップと同芯にて環状に設けられている。
これにより、シールリップの変形が全周にわたってセンシングされることになる。その結果、シールリップの変形度合いの検査精度を向上させることができる。
Preferably, the first conductive member is annularly provided concentrically with the seal lip along the circumferential direction of the seal lip.
Preferably, the second conductive member is annularly provided concentrically with the seal lip along the circumferential direction of the seal lip.
Thereby, the deformation of the seal lip is sensed over the entire circumference. As a result, the inspection accuracy of the degree of deformation of the seal lip can be improved.

好ましくは、第1および第2の導電部材は、それぞれ、シールリップに配置された環状の金属細線である。
第1および第2の導電部材が太い金属線である場合、その剛性によってシールリップの変形が妨げられる。その結果、シールリップの変形度合いが精度よく検査できない。これに対して、第1および第2の導電部材として環状の金属細線を用いると、その剛性が弱いので、シール面の摩耗に伴ってシールリップが変形するのを妨げるおそれがない。そのため、精度よく変形度合いを検査できる。
Preferably, each of the first and second conductive members is an annular thin metal wire disposed on the seal lip.
When the first and second conductive members are thick metal wires, their rigidity prevents deformation of the seal lip. As a result, the degree of deformation of the seal lip cannot be accurately inspected. On the other hand, since the rigidity is weak when an annular thin metal wire is used as the first and second conductive members, there is no possibility of preventing the seal lip from being deformed with wear of the seal surface. Therefore, the degree of deformation can be inspected with high accuracy.

好ましくは、第2の導電部材が、取付部に設けられた芯金である。
好ましくは、第2の導電部材が、シールリップの内周を軸に対して締め付ける環状のスプリングである。
第2の導電部材を当該密封装置を構成する導電性を有する部材と兼用させることで、密封装置に配置する部品数を抑えることができる。これにより、密封装置の製造を容易にすることができる。
Preferably, the second conductive member is a cored bar provided on the attachment portion.
Preferably, the second conductive member is an annular spring that tightens the inner periphery of the seal lip with respect to the shaft.
By using the second conductive member also as a conductive member constituting the sealing device, the number of components arranged in the sealing device can be suppressed. Thereby, manufacture of a sealing device can be made easy.

好ましくは、芯金は、一辺がシールリップに対向するL字形断面であり、検知ユニットは、芯金の内面に配置される。
このように、検知ユニットが密封装置内のスペースを有効に利用して設けられることによって、密封装置の大型化を抑えることができる。
Preferably, the metal core has an L-shaped cross section whose one side faces the seal lip, and the detection unit is disposed on the inner surface of the metal core.
As described above, the detection unit is provided by effectively using the space in the sealing device, so that an increase in the size of the sealing device can be suppressed.

好ましくは、第2の導電部材には電圧が印加される。
これにより、第2の導電部材周囲にも磁界が発生し、第1の導電部材周囲の磁界に対する影響を大きくすることができる。つまり、第1の導電部材と第2の導電部材との間隔が変化した際に第1の導電部材周囲の磁気抵抗の変化を大きくすることができる。その結果、シールリップの変形度合いを、より高精度で検査できる。
Preferably, a voltage is applied to the second conductive member.
Thereby, a magnetic field is also generated around the second conductive member, and the influence on the magnetic field around the first conductive member can be increased. That is, when the distance between the first conductive member and the second conductive member changes, the change in magnetic resistance around the first conductive member can be increased. As a result, the degree of deformation of the seal lip can be inspected with higher accuracy.

好ましくは、検知ユニットは、検知結果を出力する制御を行うための出力制御機能をさらに有する。
これにより、検査結果を容易に知ることができる。
Preferably, the detection unit further has an output control function for performing control to output the detection result.
Thereby, an inspection result can be easily known.

より好ましくは、検知ユニットは、第1の導電部材のインダクタンスの変化が閾値より大きい場合に、当該検知結果を出力する。
この場合、前記閾値を、密封装置のシール性能が損なわれる付近まで低下するときのインダクタンスの変化値に設定しておくことにより、密封装置の使用限界が近いことを容易に知ることができる。
More preferably, the detection unit outputs the detection result when the change in inductance of the first conductive member is larger than the threshold value.
In this case, it is possible to easily know that the use limit of the sealing device is near by setting the threshold value to a change value of the inductance when the sealing performance of the sealing device is deteriorated to the vicinity.

この発明によると、回転部材の稼動効率を低下させることなく、回転軸にシール面が密接するシールリップを有する密封装置の、当該シール面の摩耗に起因したシールリップの変形度合いを検査することができる。   According to the present invention, it is possible to inspect the degree of deformation of the sealing lip caused by wear of the sealing surface of the sealing device having the sealing lip in which the sealing surface is in close contact with the rotating shaft without reducing the operating efficiency of the rotating member. it can.

実施の形態にかかる密封装置の断面図である。It is sectional drawing of the sealing device concerning embodiment. 密封装置のシールリップに配置された導電部材を含むインダクタンス回路の概略図である。It is the schematic of the inductance circuit containing the electrically-conductive member arrange | positioned at the seal lip of a sealing device. 密封装置に配置された検知ユニットの機能構成を表わしたブロック図である。It is a block diagram showing the functional structure of the detection unit arrange | positioned at the sealing device. シールリップの変形を検知する原理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the principle which detects a deformation | transformation of a seal lip. シールリップの変形を検査するための密封装置の動作の流れを表したフローチャートである。It is a flowchart showing the flow of operation | movement of the sealing device for test | inspecting a deformation | transformation of a seal lip.

以下に、図面を参照しつつ、好ましい実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品および構成要素には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、これらの説明は繰り返さない。   Hereinafter, preferred embodiments will be described with reference to the drawings. In the following description, the same parts and components are denoted by the same reference numerals. Their names and functions are also the same. Therefore, these descriptions will not be repeated.

<装置構成>
本実施の形態にかかる密封装置10は、一例として、オイルシールである。図1は、密封装置10の断面図である。密封装置10は、軸(回転軸)5をハウジング(外側部材)6に対して支持する転がり軸受(図示せず)と共に設けられる。ハウジング6は円筒内周面6aを有する。円筒内周面6aの径方向内側であってハウジング6と軸5との間に、環状空間4が形成される。環状空間4の所定位置に転がり軸受が設けられ、転がり軸受の軸方向両側に密封装置10が設けられる。
<Device configuration>
The sealing device 10 according to the present embodiment is an oil seal as an example. FIG. 1 is a cross-sectional view of the sealing device 10. The sealing device 10 is provided together with a rolling bearing (not shown) that supports the shaft (rotating shaft) 5 with respect to the housing (outer member) 6. The housing 6 has a cylindrical inner peripheral surface 6a. An annular space 4 is formed between the housing 6 and the shaft 5 on the radially inner side of the cylindrical inner peripheral surface 6a. Rolling bearings are provided at predetermined positions in the annular space 4, and sealing devices 10 are provided on both axial sides of the rolling bearing.

軸5は、軟磁性体素材で形成される。軟磁性体素材は、たとえば鉄である。軸5は、ハウジング6の円筒内周面6aと同芯に組み付けられる。密封装置10は環状であり、軸5と同芯に環状空間4に取り付けられる。   The shaft 5 is made of a soft magnetic material. The soft magnetic material is, for example, iron. The shaft 5 is assembled concentrically with the cylindrical inner peripheral surface 6 a of the housing 6. The sealing device 10 is annular and is attached to the annular space 4 concentrically with the shaft 5.

密封装置10は、ハウジング6に取り付けられる環状の取付部12と、取付部12と一体の環状のシール本体20と、を備える。取付部12の断面形状は、円筒内周面6aに接して軸5の軸方向に延びる円筒部12aと、円筒内周面6aから軸5に向かう径方向に延びる円環部12bと、からなるL字形状である。   The sealing device 10 includes an annular attachment portion 12 attached to the housing 6, and an annular seal body 20 that is integral with the attachment portion 12. The cross-sectional shape of the mounting portion 12 includes a cylindrical portion 12a that extends in the axial direction of the shaft 5 in contact with the cylindrical inner peripheral surface 6a, and an annular portion 12b that extends in the radial direction from the cylindrical inner peripheral surface 6a toward the shaft 5. It is L-shaped.

シール本体20は、固定部21およびシールリップ24を有する。固定部21は取付部12の円環部12bの内周縁部に固定される部分である。シールリップ24は、リップ先部23とリップ基部22とを有する。リップ先部23は、その内周に、軸5に接触する環状のシール面23aを有する。リップ基部22は、固定部21とリップ先部23とを繋ぐ部分である。   The seal body 20 has a fixing portion 21 and a seal lip 24. The fixing portion 21 is a portion fixed to the inner peripheral edge portion of the annular portion 12 b of the attachment portion 12. The seal lip 24 has a lip tip 23 and a lip base 22. The lip tip 23 has an annular seal surface 23 a that contacts the shaft 5 on the inner periphery thereof. The lip base portion 22 is a portion that connects the fixing portion 21 and the lip tip portion 23.

シールリップ24は、固定部21を基端として軸方向一方側(図1において左側)に延設されている。取付部12の円筒部12aは、径方向においてシールリップ24に対向する。リップ基部22の外周面26および内周面27は、いずれも、リップ先部23側に向かうにしたがって縮径するテーパ形状である。   The seal lip 24 extends on one side in the axial direction (left side in FIG. 1) with the fixed portion 21 as a base end. The cylindrical portion 12a of the mounting portion 12 faces the seal lip 24 in the radial direction. Both the outer peripheral surface 26 and the inner peripheral surface 27 of the lip base portion 22 have a tapered shape that decreases in diameter toward the lip tip portion 23 side.

シール本体20は、さらに、補助リップ29を有してもよい。補助リップ29は、固定部21から軸方向他方側に延設される。   The seal body 20 may further have an auxiliary lip 29. The auxiliary lip 29 extends from the fixed portion 21 to the other side in the axial direction.

取付部12は、外面のゴム部分12cと、当該ゴム部分12cが加硫接着によって一体化された環状の芯部材11(芯金)と、を有する。ゴム部分12cはシール本体20と一体であり、例えばNBR、FKM、ACM等のゴム製(エラストマー)である。芯部材11は、取付部12と同芯に設けられている。芯部材11は、ステンレス鋼等の金属製である。芯部材11の断面形状も一辺がシールリップ24に対向するL字形であって、軸5の軸方向に延びる円筒部11aと円筒内周面6aから軸5に向かう径方向に延びる円環部11bとからなる。   The attachment portion 12 includes an outer rubber portion 12c and an annular core member 11 (core metal) in which the rubber portion 12c is integrated by vulcanization adhesion. The rubber portion 12c is integral with the seal body 20, and is made of rubber (elastomer) such as NBR, FKM, ACM, for example. The core member 11 is provided concentrically with the mounting portion 12. The core member 11 is made of metal such as stainless steel. The cross-sectional shape of the core member 11 is also L-shaped so that one side faces the seal lip 24, and a cylindrical portion 11 a extending in the axial direction of the shaft 5 and an annular portion 11 b extending in the radial direction from the cylindrical inner peripheral surface 6 a toward the shaft 5. It consists of.

密封装置10は、さらに、環状のスプリング(ガータスプリング)19を有する。スプリング19は、リップ先部23を軸5に対して締め付ける。スプリング19は、リップ先部23の外周側に取り付けられている。   The sealing device 10 further includes an annular spring (garter spring) 19. The spring 19 tightens the lip tip 23 against the shaft 5. The spring 19 is attached to the outer peripheral side of the lip tip 23.

<変形検知機能>
密封装置10が環状空間4に取り付けられると、リップ先部23のシール面23aは軸5に接触する。密封装置10が環状空間4に取り付けられた状態で軸5が回転することによって、シール面23aは軸5と摺動する。これによりシール面23aに摺動摩擦が生じる。
<Deformation detection function>
When the sealing device 10 is attached to the annular space 4, the sealing surface 23 a of the lip tip 23 contacts the shaft 5. When the shaft 5 rotates with the sealing device 10 attached to the annular space 4, the seal surface 23 a slides with the shaft 5. This causes sliding friction on the seal surface 23a.

シール面23aに摺動摩擦が生じると、シール面23aは摩耗する。シール面23aが摩耗するとシールリップ24全体が軸5方向に変形する。リップ先部23はスプリング19によって軸5に締め付けられているため、シール面23aが摩耗することによってシールリップ24全体が変形しやすい。シールリップ24が所定量以上変形するとシール面23aの軸5への接触圧が低下し、密封装置10のシール性能が損なわれる。   When sliding friction occurs on the seal surface 23a, the seal surface 23a is worn. When the seal surface 23a is worn, the entire seal lip 24 is deformed in the direction of the shaft 5. Since the lip tip portion 23 is fastened to the shaft 5 by the spring 19, the entire seal lip 24 is easily deformed by wear of the seal surface 23a. When the seal lip 24 is deformed by a predetermined amount or more, the contact pressure of the seal surface 23a to the shaft 5 is lowered, and the sealing performance of the sealing device 10 is impaired.

そこで、シール性能が損なわれることを防ぐために、密封装置10はシールリップ24の変形が所定量に達しているか否かの変形度合いを検査する機能を有する。密封装置10は、シールリップ24の変形度合いを検査する機能を実現するための構成として、磁気センサとして機能する第1の導電部材31と、第1の導電部材31がセンシング対象とする第2の導電部材32と、検知ユニット50と、を有する。   Therefore, in order to prevent the sealing performance from being impaired, the sealing device 10 has a function of inspecting the degree of deformation of whether or not the deformation of the seal lip 24 has reached a predetermined amount. The sealing device 10 includes a first conductive member 31 that functions as a magnetic sensor and a second conductive target that the first conductive member 31 senses as a configuration for realizing a function of inspecting the degree of deformation of the seal lip 24. The conductive member 32 and the detection unit 50 are included.

第1の導電部材31は導電性を有する金属部材であり、好ましくは、銅などの金属素材による線状または単繊維状の細線(金属細線)である。本実施の形態では、第1の導電部材31として直径が15μm〜100μm程度の金属細線を用いる。第1の導電部材31として太い金属線が用いられると、その剛性によってシールリップ24の変形が妨げられる。その結果、シールリップ24の変形度合いが精度よく検査できない。これに対して、第1の導電部材31として金属細線を用いると、その剛性が弱いので、シールリップ24の変形が妨げられるのを防止することができる。このため、シールリップ24の変形度合いの検査精度を向上させることができる。   The first conductive member 31 is a conductive metal member, and is preferably a linear or single fiber thin wire (metal thin wire) made of a metal material such as copper. In the present embodiment, a thin metal wire having a diameter of about 15 μm to 100 μm is used as the first conductive member 31. When a thick metal wire is used as the first conductive member 31, deformation of the seal lip 24 is hindered by its rigidity. As a result, the degree of deformation of the seal lip 24 cannot be accurately inspected. On the other hand, when a thin metal wire is used as the first conductive member 31, the rigidity thereof is weak, so that the deformation of the seal lip 24 can be prevented from being hindered. For this reason, the inspection accuracy of the degree of deformation of the seal lip 24 can be improved.

第1の導電部材31は、シールリップ24に一体化される。一体化とは、シールリップ24の挙動(変形)と一体となって挙動(変形)するように設けられている状態を指し、たとえば、シールリップ24に埋設された状態、表面に貼付された状態、などを指す。第1の導電部材31は、たとえば、シールリップ24内、またはシールリップ24表面であって軸5と接触しない位置に配置される。好ましくは、第1の導電部材31は、シール面23aの摩耗によるシールリップ24の変形の大きい位置に配置される。一例として、第1の導電部材31は、リップ先部23のスプリング19近傍に配置される。これにより、シールリップ24の変形度合いを高精度で検査することができる。   The first conductive member 31 is integrated with the seal lip 24. The term “integrated” refers to a state where the seal lip 24 is provided with a behavior (deformation) that is integrated with the behavior (deformation) of the seal lip 24, for example, a state embedded in the seal lip 24 or a state attached to the surface. , Etc. The first conductive member 31 is disposed, for example, in the seal lip 24 or on the surface of the seal lip 24 so as not to contact the shaft 5. Preferably, the first conductive member 31 is disposed at a position where the deformation of the seal lip 24 due to wear of the seal surface 23a is large. As an example, the first conductive member 31 is disposed in the vicinity of the spring 19 of the lip tip portion 23. Thereby, the deformation degree of the seal lip 24 can be inspected with high accuracy.

第1の導電部材31は環状の部材であって、シールリップ24と同芯にてシールリップ24の周方向に沿って環状に設けられている。本実施の形態では、環状の金属細線がスプリング19近傍に、シールリップ24と同心にて埋設されている。これにより、シールリップ24の変形が全周にわたってセンシングされることになる。そのため、シールリップ24の変形度合いの検査精度を向上させることができる。   The first conductive member 31 is an annular member, and is provided in an annular shape along the circumferential direction of the seal lip 24 concentrically with the seal lip 24. In the present embodiment, an annular thin metal wire is embedded in the vicinity of the spring 19 concentrically with the seal lip 24. Thereby, the deformation of the seal lip 24 is sensed over the entire circumference. Therefore, the inspection accuracy of the degree of deformation of the seal lip 24 can be improved.

磁気センサとして機能させるために、第1の導電部材31には図1には示されていない電源60が接続されて、電圧が印加される。第1の導電部材31が線状の部材である場合には、電源60は交流電源であって、第1の導電部材31に交流電圧を印加する。第1の導電部材31がコイル状の場合には、電源60は直流電源であって、第1の導電部材31に直流電圧を印加する。これにより、第1の導電部材31を含むインダクタンス回路が形成される。   In order to function as a magnetic sensor, a power source 60 (not shown in FIG. 1) is connected to the first conductive member 31, and a voltage is applied thereto. When the first conductive member 31 is a linear member, the power source 60 is an AC power source and applies an AC voltage to the first conductive member 31. When the first conductive member 31 is coiled, the power source 60 is a DC power source and applies a DC voltage to the first conductive member 31. Thereby, an inductance circuit including the first conductive member 31 is formed.

第2の導電部材32もまた導電性を有する金属部材であり、好ましくは、銅などの金属素材による金属細線である。これにより、上記と同じ理由によってシール面23aの摩耗に伴うシールリップ24の変形が妨げられるのを防止することができる。このため、シールリップ24の変形度合いの検査精度を向上させることができる。   The second conductive member 32 is also a conductive metal member, and is preferably a fine metal wire made of a metal material such as copper. Thereby, it can prevent that the deformation | transformation of the seal lip 24 accompanying abrasion of the seal surface 23a for the same reason as the above is prevented. For this reason, the inspection accuracy of the degree of deformation of the seal lip 24 can be improved.

第2の導電部材32は、シールリップ24または取付部12に、第1の導電部材31と所定間隔離した状態で設けられている。一例として、第2の導電部材32は、シールリップ24内またはシールリップ24表面に配置される。第2の導電部材32は環状の部材であって、シールリップ24の周方向に沿ってシールリップ24と同芯に設けられている。 The second conductive member 32 is provided on the seal lip 24 or the attachment portion 12 in a state of being separated from the first conductive member 31 by a predetermined distance. As an example, the second conductive member 32 is disposed in the seal lip 24 or on the surface of the seal lip 24. The second conductive member 32 is an annular member, and is provided concentrically with the seal lip 24 along the circumferential direction of the seal lip 24.

本実施の形態では、第2の導電部材32は、図1に示されるように、シールリップ24と同芯にて、第1の導電部材31の位置よりも固定部21に近い側に埋設されている。具体的には、本実施の形態では、第1の導電部材31をスプリング19近傍、第2の導電部材32を第1の導電部材31の位置よりも固定部21に近い側に、第1の導電部材31から離して配置する。このように配置することによって、シール面23aの摩耗によってシールリップ24が変形した際に、第1の導電部材31の変位が第2の導電部材32の変位よりも大きくなる。そのため、後述する検知原理を利用してシールリップ24の変形度合いを検査することができる。さらに、第2の導電部材32を第1の導電部材31の近傍に配置することによってシールリップ24の変形度合いの検査精度を向上させることができる。   In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the second conductive member 32 is concentric with the seal lip 24 and embedded in a side closer to the fixing portion 21 than the position of the first conductive member 31. ing. Specifically, in the present embodiment, the first conductive member 31 is near the spring 19, the second conductive member 32 is closer to the fixing portion 21 than the position of the first conductive member 31, They are arranged away from the conductive member 31. With this arrangement, when the seal lip 24 is deformed due to wear of the seal surface 23a, the displacement of the first conductive member 31 is larger than the displacement of the second conductive member 32. Therefore, the deformation degree of the seal lip 24 can be inspected using a detection principle described later. Furthermore, by arranging the second conductive member 32 in the vicinity of the first conductive member 31, the inspection accuracy of the degree of deformation of the seal lip 24 can be improved.

図2は、第1の導電部材31を含むインダクタンス回路の概略図である。図2を参照して、第1の導電部材31には、インダクタンスを測定するための測定器40が接続されている。測定器40は、たとえばLCRメータである。   FIG. 2 is a schematic diagram of an inductance circuit including the first conductive member 31. With reference to FIG. 2, a measuring device 40 for measuring inductance is connected to the first conductive member 31. Measuring instrument 40 is, for example, an LCR meter.

好ましくは、測定器40および電源60は密封装置10に配置される。一例として、測定器40および電源60はL字形断面の芯部材11の内面に取り付けられる。このように、測定器40および電源60が密封装置10内のスペースを有効に利用して設けられることによって、密封装置10の大型化を抑えることができる。   Preferably, the measuring instrument 40 and the power source 60 are arranged in the sealing device 10. As an example, the measuring instrument 40 and the power source 60 are attached to the inner surface of the core member 11 having an L-shaped cross section. As described above, the measuring device 40 and the power source 60 are provided by effectively using the space in the sealing device 10, so that an increase in the size of the sealing device 10 can be suppressed.

検知ユニット50は、図示しない1つまたは複数のCPU(Central Processing Unit)とメモリとを含む。該CPUがメモリに記憶されているプログラムを実行することで、検知ユニット50は、シールリップ24の変形を検知する処理を実行する。   The detection unit 50 includes one or a plurality of CPUs (Central Processing Units) and a memory (not shown). When the CPU executes a program stored in the memory, the detection unit 50 executes a process for detecting the deformation of the seal lip 24.

図3は、検知ユニット50の機能構成を表わしたブロック図である。図3を参照して、検知ユニット50は図示しない信号線によって測定器40と接続されて、測定器40からインダクタンスの測定値の入力を受ける。検知ユニット50は、インダクタンスの測定値を用いてシールリップ24の変形を検知する処理を実行する検出制御部51と、検知結果に基づいた出力を制御する出力制御部52と、を含む。これら機能は、検知ユニット50の図示しないCPUがメモリに記憶されているプログラムを実行することで、主にCPUによって実現される。   FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the detection unit 50. Referring to FIG. 3, detection unit 50 is connected to measuring instrument 40 by a signal line (not shown), and receives an inductance measurement value from measuring instrument 40. The detection unit 50 includes a detection control unit 51 that executes a process of detecting the deformation of the seal lip 24 using a measured value of inductance, and an output control unit 52 that controls an output based on the detection result. These functions are mainly realized by the CPU when a CPU (not shown) of the detection unit 50 executes a program stored in the memory.

電源60は、さらに、検知ユニット50に接続されて、検知ユニット50に対しても電力を供給してもよい。さらには、電源60は、検知ユニット50を介して第1の導電部材31に電力を供給してもよい。このとき、検知ユニット50は、電源60から第1の導電部材31への電力供給を制御する電力制御部をさらに含んでもよい。検知ユニット50には、電源60とは異なる電源から電力が供給されてもよい。   The power source 60 may be further connected to the detection unit 50 to supply power to the detection unit 50. Furthermore, the power source 60 may supply power to the first conductive member 31 via the detection unit 50. At this time, the detection unit 50 may further include a power control unit that controls power supply from the power supply 60 to the first conductive member 31. The detection unit 50 may be supplied with power from a power source different from the power source 60.

好ましくは、検知ユニット50は密封装置10に配置される。具体的には、検知ユニット50は、密封装置10表面、より好ましくは、L字形断面の芯部材11の内面に取り付けられる。芯部材11の内面は、シールリップ24に対向する側面である。詳しくは、芯部材11の内面は、円筒部11aのシールリップ24に対向する表面、または、円環部11bのシールリップ24が延設された方向側の面である。このように、密封装置10の空間を有効に活用して検知ユニット50を設けることによって、密封装置10の大型化を抑えることができる。本実施の形態では、検知ユニット50は、円筒部11aのシールリップ24に対向する表面に取り付けられている。   Preferably, the detection unit 50 is arranged in the sealing device 10. Specifically, the detection unit 50 is attached to the surface of the sealing device 10, more preferably, to the inner surface of the core member 11 having an L-shaped cross section. The inner surface of the core member 11 is a side surface facing the seal lip 24. Specifically, the inner surface of the core member 11 is a surface facing the seal lip 24 of the cylindrical portion 11a or a surface on the direction side where the seal lip 24 of the annular portion 11b is extended. Thus, by providing the detection unit 50 by effectively utilizing the space of the sealing device 10, an increase in the size of the sealing device 10 can be suppressed. In this Embodiment, the detection unit 50 is attached to the surface facing the seal lip 24 of the cylindrical part 11a.

検知ユニット50は密封装置10外に配置されてもよい。この場合、好ましくは、検知ユニット50は測定器40と無線通信する。なお、検知ユニット50が密封装置10外に配置されて測定器40と無線通信する構成も、検知ユニット50が密封装置10に備えられている状態とする。   The detection unit 50 may be disposed outside the sealing device 10. In this case, the detection unit 50 preferably communicates with the measuring device 40 wirelessly. The configuration in which the detection unit 50 is arranged outside the sealing device 10 and wirelessly communicates with the measuring device 40 is also in a state where the detection unit 50 is provided in the sealing device 10.

好ましくは、測定器40および電源60は、検知ユニット50近傍に配置される。測定器40および電源60は、検知ユニット50に含まれてもよい。これにより、測定器40および電源60は、図2のインダクタンス回路を形成するための第1の導電部材31との接続と、検知ユニット50との接続が容易になる。   Preferably, measuring instrument 40 and power supply 60 are arranged in the vicinity of detection unit 50. The measuring device 40 and the power source 60 may be included in the detection unit 50. Thereby, the measuring instrument 40 and the power supply 60 can be easily connected to the first conductive member 31 for forming the inductance circuit of FIG. 2 and to the detection unit 50.

さらに、電源60は、発電機能を有してもよい。これにより、検知ユニット50および第1の導電部材31に外部からの電力供給を不要にできる。なお、電源60は、密封装置10の外部に配置されて、図示しない送電線または無線通信によって検知ユニット50および第1の導電部材31に電力を供給してもよい。   Furthermore, the power supply 60 may have a power generation function. This eliminates the need for external power supply to the detection unit 50 and the first conductive member 31. The power source 60 may be disposed outside the sealing device 10 and supply power to the detection unit 50 and the first conductive member 31 through a power transmission line or wireless communication (not shown).

<検知原理>
図4は、シールリップ24の変形を検知する原理を説明するための図である。図4では、シールリップ24が実線と二点鎖線との両方で示されている。実線のシールリップ24は、シール面23aが摩耗する前の状態を示している。二点鎖線のシールリップ24は、シール面23aの摩耗が進行した状態を示している。
<Detection principle>
FIG. 4 is a view for explaining the principle of detecting the deformation of the seal lip 24. In FIG. 4, the seal lip 24 is shown by both a solid line and a two-dot chain line. A solid-line seal lip 24 shows a state before the seal surface 23a is worn. The two-dot chain line seal lip 24 shows a state in which the wear of the seal surface 23a has progressed.

図4を参照して、シール面23aが摩耗すると、シールリップ24は、固定部21を基点として軸5側に変形する。このシールリップ24の変形によって、第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔は、間隔d1から間隔d2に変化する。   Referring to FIG. 4, when the seal surface 23 a is worn, the seal lip 24 is deformed toward the shaft 5 with the fixed portion 21 as a base point. By the deformation of the seal lip 24, the distance between the first conductive member 31 and the second conductive member 32 changes from the distance d1 to the distance d2.

第1の導電部材31に電圧が印加されることによって第1の導電部材31の周囲には磁界が発生している。第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔(距離)が変化すると、第1の導電部材31の周囲の磁気抵抗が変化する。これによって、第1の導電部材31のインダクタンスが変化する。つまり、第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔の変化を、第1の導電部材31のインダクタンスの変化として検知することができる。   When a voltage is applied to the first conductive member 31, a magnetic field is generated around the first conductive member 31. When the distance (distance) between the first conductive member 31 and the second conductive member 32 changes, the magnetic resistance around the first conductive member 31 changes. As a result, the inductance of the first conductive member 31 changes. That is, a change in the distance between the first conductive member 31 and the second conductive member 32 can be detected as a change in the inductance of the first conductive member 31.

検出制御部51は、シール面23aが摩耗する前の第1の導電部材31のインダクタンスの初期値を記憶しておく。初期値は、密封装置10の装着直後の第1の導電部材31のインダクタンスの測定値であってもよい。または、設定された初期値が予め検出制御部51に記憶されていてもよい。検出制御部51は、初期値と測定器40による測定結果との差分を算出することで、測定値の変化量を得る。   The detection control unit 51 stores an initial value of the inductance of the first conductive member 31 before the seal surface 23a is worn. The initial value may be a measured value of the inductance of the first conductive member 31 immediately after the sealing device 10 is mounted. Alternatively, the set initial value may be stored in the detection control unit 51 in advance. The detection control unit 51 calculates the difference between the initial value and the measurement result by the measuring device 40 to obtain the change amount of the measurement value.

第1の導電部材31のインダクタンスの変化の大きさは、第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔の変化量|d1−d2|に依存する。すなわち、変化量|d1−d2|が大きいと、第1の導電部材31のインダクタンスの変化量が大きい。そこで、検出制御部51は、密封装置10のシール性能が損なわれる付近まで低下するときのインダクタンスの変化値を閾値として予め記憶しておき、測定値の変化量、すなわち第1の導電部材31のインダクタンスの変化が閾値を超えるか否かを判定する。インダクタンスの変化が閾値を超えている場合は、密封装置10のシール性能が損なわれる直前の状態、つまり密封装置10が使用限界に近いことを意味する。この閾値は実験により予め求めておく。   The magnitude of the change in inductance of the first conductive member 31 depends on the amount of change | d1-d2 | between the first conductive member 31 and the second conductive member 32. That is, when the amount of change | d1-d2 | is large, the amount of change in inductance of the first conductive member 31 is large. Therefore, the detection control unit 51 stores in advance the change value of the inductance when the sealing performance of the sealing device 10 is deteriorated near the threshold value as a threshold value, and the change amount of the measurement value, that is, the first conductive member 31. It is determined whether or not the change in inductance exceeds a threshold value. If the change in inductance exceeds the threshold value, it means that the sealing device 10 is close to the use limit, that is, the state immediately before the sealing performance of the sealing device 10 is impaired. This threshold value is obtained in advance by experiments.

検出制御部51は、判定結果を出力制御部52に入力する。出力制御部52は、図示しない出力装置に接続される。出力制御部52は、判定結果に基づく検査結果を当該出力装置から出力する。これにより、シールリップ24の変形度合いの検査知結果を容易に知ることができる。   The detection control unit 51 inputs the determination result to the output control unit 52. The output control unit 52 is connected to an output device (not shown). The output control unit 52 outputs the inspection result based on the determination result from the output device. Thereby, the inspection knowledge result of the deformation degree of the seal lip 24 can be easily known.

好ましくは、出力制御部52は、インダクタンスの変化が閾値より大きい場合に当該判定結果に基づく検査結果を出力装置から出力する。出力装置は、たとえば無線送信機や音声出力装置(スピーカ)である。これにより、検査結果が当該密封装置10のシール性能が損なわれる程度までシールリップ24が変形したこと、つまり密封装置10が使用限界にあることを容易に知ることができる。   Preferably, the output control unit 52 outputs the inspection result based on the determination result from the output device when the change in inductance is larger than the threshold value. The output device is, for example, a wireless transmitter or an audio output device (speaker). Thereby, it can be easily known that the seal lip 24 has been deformed to the extent that the sealing performance of the sealing device 10 is impaired, that is, the sealing device 10 is at the limit of use.

なお、第1の導電部材31と第2の導電部材32とは、いずれもシールリップ24に配置されているので、これらの間隔は小さい。特に、図1のように第1の導電部材31と第2の導電部材32とがいずれもシールリップ24に埋設されている場合には、これらの間隔は非常に小さい。そのため、シールリップ24の変形による間隔の変化量|d1−d2|も非常に小さい。その結果、インダクタンスの変化も微小なものになる。このため、インダクタンスの変化に基づいてシールリップ24の変形度合いを検査することが難しい場合もある。   Note that the first conductive member 31 and the second conductive member 32 are both disposed on the seal lip 24, so that the distance between them is small. In particular, when both the first conductive member 31 and the second conductive member 32 are embedded in the seal lip 24 as shown in FIG. 1, the distance between them is very small. Therefore, the change amount | d1-d2 | of the interval due to the deformation of the seal lip 24 is also very small. As a result, the change in inductance becomes minute. For this reason, it may be difficult to inspect the degree of deformation of the seal lip 24 based on the change in inductance.

そこで、好ましくは、密封装置10では第2の導電部材32にも電圧を印加し、第2の導電部材32の周囲にも磁界を発生させる。そのため、第2の導電部材32も、図示しない電源に接続される。電源は、第1の導電部材31の電源60を共用してもよい。第2の導電部材32が金属ワイヤである場合、第2の導電部材32に交流電源を接続し、交流電圧を印加する。   Therefore, preferably, in the sealing device 10, a voltage is also applied to the second conductive member 32, and a magnetic field is generated around the second conductive member 32. Therefore, the second conductive member 32 is also connected to a power source (not shown). The power source may share the power source 60 of the first conductive member 31. When the second conductive member 32 is a metal wire, an AC power source is connected to the second conductive member 32 and an AC voltage is applied.

第2の導電部材32の周囲に磁界を発生させることによって、磁界がない場合よりも、第1の導電部材31の周囲の磁界に対する影響を大きくすることができる。つまり、第2の導電部材32の周囲に磁界を発生させることによって、第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔が変化した際に第1の導電部材31周囲の磁気抵抗をより大きく変化させることができる。その結果、第1の導電部材31と第2の導電部材32との間隔の変化、つまり、シールリップ24の変形度合いを、より高精度で検査することができる。   By generating a magnetic field around the second conductive member 32, the influence on the magnetic field around the first conductive member 31 can be made larger than when no magnetic field is present. That is, by generating a magnetic field around the second conductive member 32, the magnetic resistance around the first conductive member 31 is changed when the distance between the first conductive member 31 and the second conductive member 32 changes. It can be changed more greatly. As a result, the change in the interval between the first conductive member 31 and the second conductive member 32, that is, the degree of deformation of the seal lip 24 can be inspected with higher accuracy.

<検査動作>
図5は、シールリップ24の変形度合いを検査するための密封装置10の動作の流れを表したフローチャートである。図5のフローチャートは、密封装置10におけるシールリップ24の変形度合いの検査方法を表している。
<Inspection operation>
FIG. 5 is a flowchart showing the operation flow of the sealing device 10 for inspecting the degree of deformation of the seal lip 24. The flowchart of FIG. 5 represents an inspection method of the degree of deformation of the seal lip 24 in the sealing device 10.

図5を参照して、密封装置10では、所定のタイミングで測定器40によって第1の導電部材31のインダクタンスLが測定される(ステップS101)。所定のタイミングは、たとえば、回転開始時や回転開始から所定時間経過後などの予め規定されたタイミングや、所定の間隔、などである。   Referring to FIG. 5, in sealing device 10, inductance L of first conductive member 31 is measured by measuring instrument 40 at a predetermined timing (step S101). The predetermined timing is, for example, a predetermined timing such as at the start of rotation or after a predetermined time has elapsed from the start of rotation, or a predetermined interval.

検出制御部51は、インダクタンスLの初期値からの変化ΔLを算出し、閾値THと比較判定する。インダクタンスの変化ΔLが閾値THより大きい場合(ステップS103でYES)、検出制御部51は、出力制御部52に検出信号を出力する(ステップS105)。出力制御部52は、図示しない無線送信機などの出力装置から、検出制御部51での判定結果を出力する。   The detection control unit 51 calculates a change ΔL from the initial value of the inductance L, and compares it with the threshold value TH. When the inductance change ΔL is larger than the threshold value TH (YES in step S103), the detection control unit 51 outputs a detection signal to the output control unit 52 (step S105). The output control unit 52 outputs the determination result in the detection control unit 51 from an output device such as a wireless transmitter (not shown).

<実施の形態の効果>
以上のように、密封装置10は、所定間隔離してシールリップ24または取付部12に設けられた第1の導電部材と第2の導電部材とを用い、一方を磁気センサとし、シールリップ24の変形度合いを他方の導電部材との間隔の変化として、インダクタンスの変化に基づいて検査する。このため、簡単な構成で高精度でシールリップ24の変形度合いを検査することができる。また、転がり軸受が回転中であってもシールリップ24の変形度合いを検査することができる。これにより、当該転がり軸受の稼動効率を低下させることなく、シールリップ24の変形度合いを検査することができる。
<Effect of Embodiment>
As described above, the sealing device 10 uses the first conductive member and the second conductive member provided on the seal lip 24 or the mounting portion 12 at a predetermined interval, and one of them is a magnetic sensor. The degree of deformation is inspected as a change in the distance from the other conductive member based on the change in inductance. For this reason, the deformation degree of the seal lip 24 can be inspected with a simple configuration and high accuracy. Further, the degree of deformation of the seal lip 24 can be inspected even when the rolling bearing is rotating. Thereby, the deformation | transformation degree of the seal lip 24 can be test | inspected, without reducing the operating efficiency of the said rolling bearing.

閾値を適切な値に設定することで、密封装置10のシール性能が損なわれるよりも前にシールリップ24を交換するタイミングを知ることができる。その結果、密封装置10のシール性能が損なわれて環状空間への異物の侵入や環状空間外への潤滑剤の流出が発生する前に密封装置10を交換することができる。また、閾値を適切な値に設定することで、密封装置の交換サイクルをシール面23aの摩耗の程度に応じた適切なサイクルとすることができる。   By setting the threshold value to an appropriate value, it is possible to know the timing for replacing the seal lip 24 before the sealing performance of the sealing device 10 is impaired. As a result, the sealing device 10 can be replaced before the sealing performance of the sealing device 10 is impaired and foreign matter enters the annular space or the lubricant flows out of the annular space. Further, by setting the threshold value to an appropriate value, the sealing device replacement cycle can be set to an appropriate cycle according to the degree of wear of the seal surface 23a.

<変形例1>
本実施の形態においては、第1の導電部材31および第2の導電部材32は、いずれも、環状部材であるが、いずれか一方の導電部材、または両導電部材ともに、複数の円弧状部材を円周に沿って所定間隔ごとに配列したものであってもよい。
<Modification 1>
In the present embodiment, each of the first conductive member 31 and the second conductive member 32 is an annular member, but either one of the conductive members or both the conductive members includes a plurality of arc-shaped members. It may be arranged at predetermined intervals along the circumference.

<変形例2>
以上の説明では、磁気センサとして機能させる第1の導電部材31とそのセンシング対象とする第2の導電部材32とを、それぞれ、専用の部材として用意して密封装置10に配置している。これにより、それぞれを最適な位置に配置することができる。他の例として、第1の導電部材31と第2の導電部材32とのうちの少なくとも一方の導電部材を、密封装置10を構成する導電性を有する部材と兼用してもよい。
<Modification 2>
In the above description, the first conductive member 31 functioning as a magnetic sensor and the second conductive member 32 to be sensed are prepared as dedicated members and arranged in the sealing device 10. Thereby, each can be arrange | positioned in the optimal position. As another example, at least one of the first conductive member 31 and the second conductive member 32 may be used as a conductive member constituting the sealing device 10.

密封装置10を構成する導電を有する部材は、たとえば、芯部材11である。変形例にかかる密封装置10は、一例として、芯部材11を第2の導電部材32として、シールリップ24の変形に伴う第1の導電部材31と芯部材11との間隔の変化を、第1の導電部材31のインダクタンスの変化として検知する。芯部材11を第2の導電部材32として機能させるためには、芯部材11に電源を接続し、交流電圧を印加する。これにより、芯部材11周囲に磁界が発生し、第1の導電部材31と芯部材11との間隔の変化を第1の導電部材31のインダクタンスの変化として高精度に検査することができる。   The conductive member that constitutes the sealing device 10 is, for example, the core member 11. As an example, the sealing device 10 according to the modified example uses the core member 11 as the second conductive member 32, and changes the interval between the first conductive member 31 and the core member 11 due to the deformation of the seal lip 24. This is detected as a change in inductance of the conductive member 31. In order for the core member 11 to function as the second conductive member 32, a power source is connected to the core member 11 and an AC voltage is applied. Thereby, a magnetic field is generated around the core member 11, and a change in the interval between the first conductive member 31 and the core member 11 can be inspected with high accuracy as a change in the inductance of the first conductive member 31.

他の例として、芯部材11を第1の導電部材31とし、シールリップ24の変形に伴う芯部材11と第2の導電部材32との間隔の変化を、芯部材11のインダクタンスの変化として検知する。芯部材11を第1の導電部材31として機能させるためには、芯部材11に電源60を接続して交流電圧を印加するとともに、測定器40を接続してインダクタンスを測定する。これにより、芯部材11周囲に磁界が発生し、芯部材11と第2の導電部材32との間隔の変化を、芯部材11のインダクタンスの変化として高精度に検査することができる。   As another example, the core member 11 is the first conductive member 31 and a change in the distance between the core member 11 and the second conductive member 32 due to the deformation of the seal lip 24 is detected as a change in the inductance of the core member 11. To do. In order for the core member 11 to function as the first conductive member 31, a power source 60 is connected to the core member 11 to apply an alternating voltage, and a measuring device 40 is connected to measure inductance. Thereby, a magnetic field is generated around the core member 11, and a change in the interval between the core member 11 and the second conductive member 32 can be inspected with high accuracy as a change in the inductance of the core member 11.

密封装置10を構成する導電性を有する部材の他の例は、スプリング19である。変形例にかかる密封装置10は、一例として、スプリング19を第2の導電部材32として、シールリップ24の変形に伴う第1の導電部材31とスプリング19との間隔の変化を、第1の導電部材31のインダクタンスの変化として検知する。スプリング19を第2の導電部材32として機能させるためには、スプリング19に電源を接続し、電圧を印加する。スプリング19はコイル形状であるため、直流電圧を印加する。これにより、スプリング19周囲に磁界が発生し、第1の導電部材31とスプリング19との間隔の変化を第1の導電部材31のインダクタンスの変化として高精度に検査することができる。   Another example of the conductive member constituting the sealing device 10 is a spring 19. As an example, the sealing device 10 according to the modified example uses the spring 19 as the second conductive member 32, and changes the distance between the first conductive member 31 and the spring 19 due to the deformation of the seal lip 24. This is detected as a change in inductance of the member 31. In order for the spring 19 to function as the second conductive member 32, a power source is connected to the spring 19 and a voltage is applied. Since the spring 19 has a coil shape, a DC voltage is applied. Thereby, a magnetic field is generated around the spring 19, and the change in the distance between the first conductive member 31 and the spring 19 can be inspected with high accuracy as the change in the inductance of the first conductive member 31.

他の例として、スプリング19を第1の導電部材31とし、シールリップ24の変形に伴うスプリング19と第2の導電部材32との間隔の変化を、スプリング19のインダクタンスの変化として検知する。スプリング19を第1の導電部材31として機能させるためには、スプリング19に電源60を接続して電圧を印加するとともに、測定器40を接続してインダクタンスを測定する。スプリング19はコイル形状であるため、直流電圧を印加する。これにより、スプリング19周囲に磁界が発生し、スプリング19と第2の導電部材32との間隔の変化をスプリング19のインダクタンスの変化として高精度に検査することができる。   As another example, the spring 19 is the first conductive member 31, and a change in the distance between the spring 19 and the second conductive member 32 due to the deformation of the seal lip 24 is detected as a change in the inductance of the spring 19. In order for the spring 19 to function as the first conductive member 31, a power source 60 is connected to the spring 19 to apply a voltage, and a measuring device 40 is connected to measure the inductance. Since the spring 19 has a coil shape, a DC voltage is applied. Thereby, a magnetic field is generated around the spring 19, and a change in the distance between the spring 19 and the second conductive member 32 can be inspected with high accuracy as a change in the inductance of the spring 19.

さらに他の例として、芯部材11とスプリング19との一方を第1の導電部材31、他方を第2の導電部材32として、シールリップ24の変形に伴う芯部材11とスプリング19との間隔の変化を、芯部材11またはスプリング19のインダクタンスの変化として検知してもよい。   As yet another example, one of the core member 11 and the spring 19 is the first conductive member 31 and the other is the second conductive member 32. The distance between the core member 11 and the spring 19 due to the deformation of the seal lip 24 is as follows. The change may be detected as a change in inductance of the core member 11 or the spring 19.

第1の導電部材31と第2の導電部材32とのうちの少なくとも一方の導電部材を密封装置10を構成する導電性を有する部材と兼用させることで、密封装置10に配置する部品数を抑えることができる。これにより、密封装置10の製造を容易にすることができるとともに、密封装置10の軽量化が図られる。   By using at least one of the first conductive member 31 and the second conductive member 32 as a conductive member constituting the sealing device 10, the number of components arranged in the sealing device 10 is suppressed. be able to. Thereby, manufacture of the sealing device 10 can be facilitated and the weight of the sealing device 10 can be reduced.

なお、以上の説明では、密封装置10を、一例としてオイルシールとしている。しかしながら、回転部材の回転軸に密接するシールリップを有する密封装置であればどのような密封装置であってもよい。   In the above description, the sealing device 10 is an oil seal as an example. However, any sealing device may be used as long as it has a sealing lip that is in close contact with the rotating shaft of the rotating member.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

5 軸、6 ハウジング、6a 円筒内周面、10 密封装置、11 芯部材、12 取付部、19 スプリング、20 シール本体、23 リップ先部、23a シール面、24 シールリップ、31 第1の導電部材、32 第2の導電部材、50 検知ユニット、51 検出制御部、52 出力制御部   5 shaft, 6 housing, 6a cylindrical inner peripheral surface, 10 sealing device, 11 core member, 12 mounting portion, 19 spring, 20 seal body, 23 lip tip, 23a seal surface, 24 seal lip, 31 first conductive member 32 Second conductive member, 50 detection unit, 51 detection control unit, 52 output control unit

Claims (10)

円筒内周面を有する外側部材と当該円筒内周面の径方向内側の軸との間の環状空間に設けられる密封装置であって、
前記外側部材に取り付けられる環状の取付部と、
前記取付部に固定され、内周に前記軸に接触させるシール面を有する、環状のシールリップと、
前記シールリップの周方向に沿って当該シールリップに一体化され、電圧が印加される第1の導電部材と、
前記第1の導電部材と所定間隔離した状態で前記シールリップまたは前記取付部に設けられた第2の導電部材と、
前記第1の導電部材と前記第2の導電部材との間隔の変化に伴う前記第1の導電部材のインダクタンスの変化を検知する検知ユニットと、を備える、密封装置。
A sealing device provided in an annular space between an outer member having a cylindrical inner peripheral surface and a radially inner shaft of the cylindrical inner peripheral surface,
An annular attachment portion attached to the outer member;
An annular seal lip having a seal surface fixed to the mounting portion and in contact with the shaft on the inner periphery;
A first conductive member integrated with the seal lip along the circumferential direction of the seal lip, to which a voltage is applied;
A second conductive member provided on the seal lip or the mounting portion in a state of being separated from the first conductive member by a predetermined distance;
And a detection unit that detects a change in inductance of the first conductive member in accordance with a change in the distance between the first conductive member and the second conductive member.
前記第1の導電部材は、前記シールリップの周方向に沿って当該シールリップと同芯にて環状に設けられている、請求項1に記載の密封装置。   The sealing device according to claim 1, wherein the first conductive member is provided in an annular shape concentrically with the seal lip along a circumferential direction of the seal lip. 前記第2の導電部材は、前記シールリップの周方向に沿って当該シールリップと同芯にて環状に設けられている、請求項1または2に記載の密封装置。   The sealing device according to claim 1, wherein the second conductive member is provided in an annular shape concentrically with the seal lip along a circumferential direction of the seal lip. 前記第1および前記第2の導電部材は、それぞれ、前記シールリップに配置された環状の金属細線である、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の密封装置。   4. The sealing device according to claim 1, wherein each of the first and second conductive members is an annular thin metal wire disposed on the seal lip. 5. 前記第2の導電部材が、前記取付部に設けられた芯金である、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の密封装置。   The sealing device according to any one of claims 1 to 3, wherein the second conductive member is a cored bar provided in the attachment portion. 前記芯金は、一辺が前記シールリップに対向するL字形断面であり、
前記検知ユニットは、前記芯金の内面に配置される、請求項5に記載の密封装置。
The metal core has an L-shaped cross section with one side facing the seal lip,
The sealing device according to claim 5, wherein the detection unit is disposed on an inner surface of the cored bar.
前記第2の導電部材が、前記シールリップの内周を前記軸に対して締め付ける環状のスプリングである、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の密封装置。   The sealing device according to any one of claims 1 to 3, wherein the second conductive member is an annular spring that tightens an inner periphery of the seal lip with respect to the shaft. 前記第2の導電部材には電圧が印加される、請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載の密封装置。   The sealing device according to claim 1, wherein a voltage is applied to the second conductive member. 前記検知ユニットは、検知結果を出力する制御を行うための出力制御機能をさらに有する、請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の密封装置。   The sealing device according to any one of claims 1 to 8, wherein the detection unit further includes an output control function for performing control to output a detection result. 前記検知ユニットは、前記第1の導電部材のインダクタンスの変化が閾値より大きい場合に、当該検知結果を出力する、請求項9に記載の密封装置。   The sealing device according to claim 9, wherein the detection unit outputs the detection result when a change in inductance of the first conductive member is larger than a threshold value.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021032381A (en) * 2019-08-28 2021-03-01 Nok株式会社 Sealing device and sealing structure
CN115264071A (en) * 2022-08-22 2022-11-01 中铁工程装备集团有限公司 Seal wear monitoring apparatus and method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021032381A (en) * 2019-08-28 2021-03-01 Nok株式会社 Sealing device and sealing structure
JP7281368B2 (en) 2019-08-28 2023-05-25 Nok株式会社 Sealing device and sealing structure
CN115264071A (en) * 2022-08-22 2022-11-01 中铁工程装备集团有限公司 Seal wear monitoring apparatus and method

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