JP2018151508A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018151508A JP2018151508A JP2017047128A JP2017047128A JP2018151508A JP 2018151508 A JP2018151508 A JP 2018151508A JP 2017047128 A JP2017047128 A JP 2017047128A JP 2017047128 A JP2017047128 A JP 2017047128A JP 2018151508 A JP2018151508 A JP 2018151508A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus detection
- imaging
- lens
- optical system
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Abstract
【課題】レンズ偏芯機能を有する交換レンズにおいて、各偏芯量を自動検出できない場合でも、最適なレンズ偏芯機構の各偏芯量を検出し、レンズ偏芯機構の偏芯量を必要とする機能を自動で簡単に実行することが可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して偏芯可能な撮像光学系10と、前記撮像光学系10から入射された光束を複数の領域に瞳分割するように撮像画素を複数配列した撮像素子24と、前記撮像素子24、光電変換によって出力される出力値から一対の像信号を生成する像信号生成手段44と、前記像信号生成手段44によって生成された一対の像信号から、前記撮像光学系10の偏芯された少なくとも一部のレンズユニットの偏芯量を算出する偏芯量算出手段45と、を有することを特徴とする構成とした。
【選択図】図1
【解決手段】レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して偏芯可能な撮像光学系10と、前記撮像光学系10から入射された光束を複数の領域に瞳分割するように撮像画素を複数配列した撮像素子24と、前記撮像素子24、光電変換によって出力される出力値から一対の像信号を生成する像信号生成手段44と、前記像信号生成手段44によって生成された一対の像信号から、前記撮像光学系10の偏芯された少なくとも一部のレンズユニットの偏芯量を算出する偏芯量算出手段45と、を有することを特徴とする構成とした。
【選択図】図1
Description
本発明は、撮像装置に関し、特に撮像面位相差AF機能を備える撮像装置に関するものである。
従来から、撮像素子を用いた焦点状態を検出する方式として、撮像面位相差AFが知られている。撮像面位相差AFは、撮像光学系の射出瞳を通過した光束を分割して得られた分割光束を複数の焦点検出画素により受光し、その受光量に応じて出力される信号のずれ量に基づいて合焦に必要なフォーカスレンズの駆動量を求める。撮像面位相差AFによれば、高速かつ滑らかな焦点調節動作が可能である。
特許文献1では、1つのマイクロレンズに複数に分割された光電変換部が形成されている2次元撮像素子を備えた撮像装置が開示されている。分割された光電変換部は、1つのマイクロレンズを介して撮像光学系の射出瞳の異なる瞳部分領域を受光するように構成され、瞳分割を行っている。撮像光学系の焦点状態を検出する(焦点検出を行う)ときには、上記瞳分割された画素によって生成される一対の像信号の位相差を求め、その位相差から焦点状態を求める。
また、従来から、レンズ偏芯機能(シフト機構、ティルト機構、レボルビング機構)を有する交換レンズおよびその交換レンズを用いた撮影機能を備えるカメラが知られている。特許文献2では、レンズの傾き角を検出し、最適なティルト偏芯量を自動で調整する調整機能について開示されている。特許文献3では、レンズ偏芯機能を有するレンズユニットが各機構の偏芯量を検出できない場合、手動入力によって各偏芯量をカメラに設定し、最適な電子先幕走査を行うことで露出ムラを補正することができる。
しかしながら、レンズ偏芯機能を有する交換レンズには、各機構の偏芯量を検出できないものある。前記特許文献2では、カメラ側に備えられた加速度センサによってカメラの傾き角を検出できるが、撮像光学系の各偏芯量を検出することはできない。また、特許文献3では、各機構の偏芯量を検出できない交換レンズに対してユーザーが撮像光学系の各偏芯量を入力するため、操作が煩わしい。
上記目的を達成するために、本発明は、
レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して偏芯可能な撮像光学系(10)と、
前記撮像光学系(10)から入射された光束を複数の領域に瞳分割するように撮像画素を複数配列した撮像素子(24)と、
前記撮像素子(24)光電変換によって出力される出力値から一対の像信号を生成する像信号生成手段(44)と、
前記像信号生成手段(44)によって生成された一対の像信号から、前記撮像光学系(10)の偏芯された少なくとも一部のレンズユニットの偏芯量を算出する偏芯量算出手段(45)と、
を有することを特徴とする。
レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して偏芯可能な撮像光学系(10)と、
前記撮像光学系(10)から入射された光束を複数の領域に瞳分割するように撮像画素を複数配列した撮像素子(24)と、
前記撮像素子(24)光電変換によって出力される出力値から一対の像信号を生成する像信号生成手段(44)と、
前記像信号生成手段(44)によって生成された一対の像信号から、前記撮像光学系(10)の偏芯された少なくとも一部のレンズユニットの偏芯量を算出する偏芯量算出手段(45)と、
を有することを特徴とする。
本発明によれば、レンズ偏芯機能を有する交換レンズにおいて、各偏芯量を自動検出できない場合でも、最適なレンズ偏芯機構の各偏芯量を検出し、レンズ偏芯機構の偏芯量を必要とする機能を自動で簡単に実行することが可能である。
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
[実施例1]
[全体構成]
本発明における撮像装置の概略構成図を、図1に示す。図1には、本発明の実施例1であるデジタル一眼レフカメラ2と該カメラ2に対して交換が可能な交換レンズ1とにより構成されるカメラシステムの構成を示している。
交換レンズ1内には撮像光学系10が収容されている。撮像光学系10は、複数のレンズや絞りにより構成される。また、交換レンズ1は少なくとも1つ以上のレンズを光軸に対して偏芯することが可能となっており、交換レンズ1の光軸に対して直行するあらかじめ決められた方向に偏芯させるシフト機構16と、交換レンズ1の光軸に対して円弧上であらかじめ決められた方向に偏芯させるティルト機構17と、ティルト機構17を回転させ、ティルト機構の偏芯方向を変更可能なレボルビング機構18を有している。 レンズ記憶部14は、ROM等により構成され、交換レンズ1の識別情報や撮像光学系10の光学情報等の各種情報を記憶している。電気接点15は交換レンズ1とデジタル一眼レフカメラ2との通信を可能としており、レンズ記憶部14に記憶されている情報や、後述のレンズ駆動部11から出力されるフォーカスレンズ位置情報などの情報をカメラ制御部40に転送することが可能となっている。フォーカスレンズ10aは光軸方向に移動可能となっており、光軸方向に移動させることでピント合わせを行うことができる。
[全体構成]
本発明における撮像装置の概略構成図を、図1に示す。図1には、本発明の実施例1であるデジタル一眼レフカメラ2と該カメラ2に対して交換が可能な交換レンズ1とにより構成されるカメラシステムの構成を示している。
交換レンズ1内には撮像光学系10が収容されている。撮像光学系10は、複数のレンズや絞りにより構成される。また、交換レンズ1は少なくとも1つ以上のレンズを光軸に対して偏芯することが可能となっており、交換レンズ1の光軸に対して直行するあらかじめ決められた方向に偏芯させるシフト機構16と、交換レンズ1の光軸に対して円弧上であらかじめ決められた方向に偏芯させるティルト機構17と、ティルト機構17を回転させ、ティルト機構の偏芯方向を変更可能なレボルビング機構18を有している。 レンズ記憶部14は、ROM等により構成され、交換レンズ1の識別情報や撮像光学系10の光学情報等の各種情報を記憶している。電気接点15は交換レンズ1とデジタル一眼レフカメラ2との通信を可能としており、レンズ記憶部14に記憶されている情報や、後述のレンズ駆動部11から出力されるフォーカスレンズ位置情報などの情報をカメラ制御部40に転送することが可能となっている。フォーカスレンズ10aは光軸方向に移動可能となっており、光軸方向に移動させることでピント合わせを行うことができる。
レンズ駆動部11は、光軸方向に移動可能なフォーカスレンズ10aを後述のレンズ制御部13によって制御および駆動を行う。また、フォーカスレンズ10aの位置を検出し、レンズ制御部13および、前述の電気接点15を介してカメラ制御部40にフォーカスレンズ位置情報を転送することが可能となっている。
カメラ2において、ハーフミラーで構成された主ミラー20は、ユーザーが光学ファインダを通して被写体を観察する光学ファインダ観察時には、図示のように撮影光路内のダウン位置に配置されて撮像光学系10からの光をピント板30に向けて反射する。また、主ミラー20は、背面モニタ43にライブビュー画像を表示するライブビュー観察時や記録用画像(静止画および動画)を生成する撮影時には、撮影光路から退避するアップ位置に回動する。これにより、撮像光学系10からの光は、シャッタ23および撮像素子24に向かう。
サブミラー21は、主ミラー20とともに回動し、ダウン位置に配置された主ミラー20を透過した光をAFセンサユニット22に導く。また、主ミラー20がアップ位置に回動すると、サブミラー21も撮影光路から退避する。
AFセンサユニット22は、被写体から撮像光学系10を通り、さらにサブミラー21で反射して入射した光を用いて、カメラ2による撮影範囲内に設けられた複数の焦点検出領域において位相差検出方式による撮像光学系の焦点状態の検出(焦点検出)を行う。AFセンサユニット22は、各焦点検出領域からの光に一対の像(被写体像)を形成させる2次結像レンズと、該一対の被写体像を光電変換する一対の受光素子列が配置されたエリアセンサ(CCD又はCMOS)とを含む。エリアセンサの一対の受光素子列は、一対の被写体像の輝度分布に応じた光電変換信号である一対の像信号をカメラ制御部40に出力する。エリアセンサ上には、複数の焦点検出領域に対応した複数対の受光素子列が2次元配置されている。
カメラ制御部40は、一対の像信号の位相差を算出し、該位相差から撮像光学系10の焦点状態(デフォーカス量)を算出する。さらに、カメラ制御部40は、検出した撮像光学系10の焦点状態に基づいて、撮像光学系10の合焦状態を得るためにフォーカスレンズ10aを移動させるべき位置である合焦位置を算出する。そして、カメラ制御部40は、位相差AFにより算出した合焦位置にフォーカスレンズ10aを移動させるようレンズ制御部13にフォーカス指令を送信する。レンズ制御部13は、受信したフォーカス指令に応じて、レンズ駆動部11を介してフォーカスレンズ10aを合焦位置に移動させる。これにより、撮像光学系10の合焦状態が得られる。
シャッタ23は、光学ファインダ観察時には閉じ、ライブビュー観察時および動画撮影時には開放されて撮像光学系10により形成された被写体像の撮像素子24による光電変換(ライブビュー画像および撮影動画の生成)を可能とする。さらに、静止画撮影時には、設定されたシャッタ秒時で開閉し、撮像素子24の露光を制御する。
撮像素子24は、CMOSイメージセンサ又はCCDイメージセンサとその周辺回路により構成され、撮像光学系10により形成された被写体像を光電変換してアナログ撮像信号を出力する。撮像素子24の各画素部には、撮像用素子と焦点検出用素子を兼用した瞳分割用の複数の副画素が配置されている。これについては、後に詳しく説明する。また、撮像素子24は撮像光学系10により形成された被写体像の輝度を測定することが可能となっている。
ピント板30は、撮像素子24と等価な位置である撮像光学系10の1次結像面に配置されている。光学ファインダ観察時には、ピント板30上に、被写体像(ファインダー像)が形成される。ペンタプリズム31は、ピント板30上に形成された被写体像を正立正像に変換する。接眼レンズ32は、正立正像をユーザーに観察させる。ピント板30、ペンタプリズム31および接眼レンズ32により光学ファインダが構成される。
AEセンサ33は、ピント板30からの光を、ペンタプリズム31を介して受光し、該ピント板30上に形成された被写体像の輝度を測定する。AEセンサ33は、複数のフォトダイオードを有し、カメラ2による撮影範囲を分割するように設定された複数の測光領域のそれぞれで輝度を測定することができる。また、被写体像の輝度測定のほかにも、被写体像の形や色などを測定して被写体の状態を判定する被写体検知機能も備える。
カメラ制御部40は、MPU等を含むマイクロコンピュータにより構成され、カメラ2と交換レンズ1からなるカメラシステム全体の動作を制御する。
デジタル処理手段41は、撮像素子24からのアナログ撮像信号をデジタル撮像信号に変換し、さらに該デジタル撮像信号に対して各種処理を行って画像信号(画像データ)を生成する。撮像素子24およびデジタル処理手段41により撮像系が構成される。
デジタル処理手段41は、撮像素子24からのアナログ撮像信号をデジタル撮像信号に変換し、さらに該デジタル撮像信号に対して各種処理を行って画像信号(画像データ)を生成する。撮像素子24およびデジタル処理手段41により撮像系が構成される。
デジタル処理手段41は、前記撮像素子24に配置されている瞳分割用の複数の副画素を用いて、位相差検出方式による焦点状態の検出を行う。さらに、デジタル処理手段41は、検出した撮像光学系10の焦点状態に基づいて、撮像光学系10の合焦状態を得るためにフォーカスレンズ10aを移動させるべき位置である合焦位置を算出することを、撮像面位相差AFという。また、デジタル処理手段41は像信号生成手段44と偏芯量算出手段45を有しており、像信号生成手段44は、後述の撮像素子24に配置されている複数の副画素からの出力を基に第1焦点検出信号と第2焦点検出信号を生成する。さらに偏芯量算出手段45は像信号生成手段44によって生成された第1焦点検出信号と第2焦点検出信号から撮像光学系のレンズ偏芯量を検出することが可能となっている。
カメラ記憶部42は、カメラ制御部40やデジタル処理手段41の動作で用いられる各種データを記憶している。また、カメラ記憶部42は、生成された記録用画像を保存する。
背面モニタ43は、液晶パネル等の表示素子により構成され、ライブビュー画像、記録用画像および各種情報を表示する。
[撮像素子]
実施例1の撮像素子24の配列の概略図を、図2に示す。図2は、本実施例の2次元CMOSセンサー(撮像素子)の画素(撮像画素)配列を4列×4行の範囲で、副画素配列を8列×8行の範囲で示したものである。
実施例1の撮像素子24の配列の概略図を、図2に示す。図2は、本実施例の2次元CMOSセンサー(撮像素子)の画素(撮像画素)配列を4列×4行の範囲で、副画素配列を8列×8行の範囲で示したものである。
実施例1において、図2に示した2列×2行の画素群200は、R(赤)の分光感度を有する画素200Rが左上に、G(緑)の分光感度を有する画素200Gが右上と左下に、B(青)の分光感度を有する画素200Bが右下に配置されている。さらに、各画素は2列×2行に配列された副画素201から副画素204により構成されている。
図2に示した4列×4行の画素(8列×8行の副画素)を面上に多数配置し、撮像画像(副画素信号)の取得を可能としている。本実施例では、画素の周期Pが4μm、画素数Nが横5575列×縦3725行=約2075万画素、副画素の周期PSUBが2μm、副画素数NSUBが横11150列×縦7450行=約8300万副画素の撮像素子として説明を行う。
図2に示した撮像素子の1つの画素200Gを、撮像素子の受光面側(+Z側)から見た平面図を図3(a)に示し、図3(a)のa−a断面を−Y側から見た断面図を図3(b)に示す。
図3に示すように、本実施例の画素200Gでは、各画素の受光側に入射光を集光するためのマイクロレンズ305が形成され、X方向にNH分割(2分割)、Y方向にNV分割(2分割)された光電変換部301から光電変換部304が形成される。光電変換部301から光電変換部304が、それぞれ、副画素201から副画素204に対応する。
光電変換部301から光電変換部304は、p型層とn型層の間にイントリンシック層を挟んだpin構造フォトダイオードとしても良いし、必要に応じて、イントリンシック層を省略し、pn接合フォトダイオードとしても良い。
各画素には、マイクロレンズ305と、光電変換部301から光電変換部304との間に、カラーフィルター306が形成される。また、必要に応じて、各副画素にカラーフィルターの分光透過率を変えても良いし、カラーフィルターを省略しても良い。
図3に示した画素200Gに入射した光は、マイクロレンズ305により集光され、カラーフィルター306で分光されたのち、光電変換部301から光電変換部304で受光される。
図3に示した画素200Gに入射した光は、マイクロレンズ305により集光され、カラーフィルター306で分光されたのち、光電変換部301から光電変換部304で受光される。
光電変換部301から光電変換部304では、受光量に応じて電子とホールが対生成し、空乏層で分離された後、負電荷の電子はn型層(不図示)に蓄積され、一方、ホールは定電圧源(不図示)に接続されたp型層を通じて撮像素子外部へ排出される。
光電変換部301から光電変換部304のn型層(不図示)に蓄積された電子は、転送ゲートを介して、静電容量部(FD)に転送され、電圧信号に変換される。
図3に示した本実施例の画素構造と瞳分割との対応関係を示した概略説明図を図4に示す。図3(a)に示した本実施例の画素構造のa−a断面を+Y側から見た断面図と結像光学系の射出瞳面を図4(a)に示す。図4(a)では、射出瞳面の座標軸と対応を取るために、断面図のX軸とY軸を図3に対して反転させている。
図4(a)で、第1焦点検出画素201の第1瞳部分領域501は、重心が−X方向に偏芯している光電変換部301の受光面と、マイクロレンズによって、概ね、共役関係になっており、第1焦点検出画素201で受光可能な瞳領域を表している。第1焦点検出画素201の第1瞳部分領域501は、瞳面上で+X側に重心が偏芯している。
図4(a)で、第2焦点検出画素202の第2瞳部分領域502は、重心が+X方向に偏芯している光電変換部302の受光面と、マイクロレンズによって、概ね、共役関係になっており、第2焦点検出画素202で受光可能な瞳領域を表している。第2焦点検出画素202の第2瞳部分領域502は、瞳面上で−X側に重心が偏芯している。
また、図4(a)で、瞳領域500は、光電変換部301から光電変換部304(第1焦点検出画素201から第2焦点検出画素204)を全て合わせた際の画素200G全体で受光可能な瞳領域である。
図3(a)に示した本実施例の画素構造のa−a断面を+X側から見た断面図と結像光学系の射出瞳面を図4(b)に示す。なお、図4(b)は図4(a)同様に、射出瞳面の座標軸と対応を取るために、断面図のX軸とY軸を図3に対して反転させている。
図4(b)で、第3焦点検出画素203の第1瞳部分領域503は、重心が+Y方向に偏芯している光電変換部303の受光面と、マイクロレンズによって、概ね、共役関係になっており、第3焦点検出画素203で受光可能な瞳領域を表している。第3焦点検出画素203の第3瞳部分領域503は、瞳面上で−Y側に重心が偏芯している。
図4(b)で、第1焦点検出画素201の第1瞳部分領域501は、重心が−Y方向に偏芯している光電変換部301の受光面と、マイクロレンズによって、概ね、共役関係になっており、第1焦点検出画素201で受光可能な瞳領域を表している。第1焦点検出画素201の第1瞳部分領域501は、瞳面上で+Y側に重心が偏芯している。
本実施例の撮像素子24と瞳分割との対応関係を示した概略図を図5に示す。第1瞳部分領域501から第4瞳部分領域504の異なる瞳部分領域を通過した光束は、撮像素子の各画素に、それぞれ、異なる角度で入射し、2×2分割された第1焦点検出画素201から第4焦点検出画素204で受光される。本実施例は、瞳領域が水平方向に2つ、垂直方向に2つ瞳分割されている例である。必要に応じて、垂直方向あるいは水平方向の瞳分割のどちらかを1つにしても良い。
本発明の撮像素子24は、結像光学系の第1瞳部分領域を通過する光束を受光する第1焦点検出画素と、第1瞳部分領域と異なる結像光学系の第2瞳部分領域を通過する光束を受光する第2焦点検出画素と、第3瞳部分領域と異なる結像光学系の第3瞳部分領域を通過する光束を受光する第3焦点検出画素と、第4瞳部分領域と異なる結像光学系の第4瞳部分領域を通過する光束を受光する第4焦点検出画素と、結像光学系の第1瞳部分領域から第4瞳部分領域を合わせた瞳領域を通過する光束を受光する撮像画素が複数配列されている。本実施例の撮像素子では、それぞれの撮像画素が第1焦点検出画素から第4焦点検出画素で構成されている。
必要に応じて、撮像画素と第1焦点検出画素から第4焦点検出画素を個別の画素構成とし、撮像画素配列の一部に、第1焦点検出画素から第4焦点検出画素を部分的に配置する構成としても良い。
本実施例では、撮像素子の画素毎に、副画素201から副画素204の信号を加算することで、有効画素数Nの解像度の撮像信号(撮像画像)を生成する。また、本実施例では、撮像素子の各画素の第1焦点検出画素201から第4焦点検出画素204の受光信号を、必要に応じた組み合わせで加算させることにより、第1焦点検出信号および第2焦点検出信号を生成することができる。
本実施例では、画素毎に、副画素201と副画素203の信号を加算してX方向の第1焦点検出信号を生成し、副画素202と副画素204の信号を加算してX方向第2焦点検出信号を生成することができる。X方向の第1焦点検出信号およびX方向の第2焦点検出信号は、水平方向の瞳分割に対応した焦点検出信号になるため、X方向(水平方向、横方向)の撮像面位相差AFが可能である。
同様に、画素毎に、副画素201と副画素202の信号を加算してY方向の第1焦点検出信号を生成し、副画素203と副画素204の信号を加算してY方向の第2焦点検出信号を生成することができる。Y方向の第1焦点検出信号およびY方向の第2焦点検出信号は、垂直方向の瞳分割に対応した焦点検出信号になるため、Y方向(垂直方向、縦方向)の撮像面位相差AFが可能である。
なお、本実施例における撮像素子24の撮像画素の配列の場合には、撮像画素がX方向に2分割、Y方向に2分割に配列されているため、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の生成はX方向とY方向で選択可能である。
[デフォーカス量と像ずれ量の関係]
以下、本実施例の撮像素子により取得される第1焦点検出信号と第2焦点検出信号のデフォーカス量と像ずれ量の関係について説明する。
以下、本実施例の撮像素子により取得される第1焦点検出信号と第2焦点検出信号のデフォーカス量と像ずれ量の関係について説明する。
図6に、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号のデフォーカス量と第1焦点検出信号と第2焦点検出信号間の像ずれ量の概略関係図を示す。撮像面800に本実施例の撮像素子(不図示)が配置され、図4、図5と同様に、結像光学系の射出瞳が、第1瞳部分領域501から第4瞳部分領域504に4分割される。
デフォーカス量dは、被写体の結像位置から撮像面までの距離を大きさ|d|とし、被写体の結像位置が撮像面より被写体側にある前ピン状態を負符号(d<0)、被写体の結像位置が撮像面より被写体の反対側にある後ピン状態を正符号(d>0)として定義される。被写体の結像位置が撮像面(合焦位置)にある合焦状態はd=0である。図7で、被写体801は合焦状態(d=0)の例を示しており、被写体802は前ピン状態(d<0)の例を示している。前ピン状態(d<0)と後ピン状態(d>0)を合わせて、デフォーカス状態(|d|>0)とする。
前ピン状態(d<0)では、被写体802からの光束のうち、第1瞳部分領域501(第2瞳部分領域502)を通過した光束は、一度、集光した後、光束の重心位置G1(G2)を中心として幅Γ1(Γ2)に広がり、撮像面800でボケた像となる。ボケた像は、撮像素子に配列された各画素を構成する第1焦点検出画素201および第3焦点検出画素203(第2焦点検出画素202および第4焦点検出画素204)により受光され、第1焦点検出信号(第2焦点検出信号)が生成される。
よって、第1焦点検出信号(第2焦点検出信号)は、撮像面800上の重心位置G1(G2)に、被写体802が幅Γ1(Γ2)にボケた被写体像として記録される。なお、X方向の第1焦点検出信号(第2焦点検出信号)は、第1焦点検出画素201および第3焦点検出画素203(第2焦点検出画素202および第4焦点検出画素204)により受光された信号をそれぞれ加算させることで生成される。Y方向の第1焦点検出信号(第2焦点検出信号)は、第1焦点検出画素201および第2焦点検出画素202(第2焦点検出画素203および第4焦点検出画素204)により受光された信号をそれぞれ加算させることで生成される。
第1焦点検出信号(第2焦点検出信号)被写体像のボケ幅Γ1(Γ2)は、デフォーカス量dの大きさ|d|が増加するのに伴い、概ね、比例して増加していく。同様に、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号間の被写体像の像ずれ量p(=光束の重心位置の差G1−G2)の大きさ|p|も、デフォーカス量dの大きさ|d|が増加するのに伴い、概ね、比例して増加していく。後ピン状態(d>0)でも、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号間の被写体像の像ずれ方向が前ピン状態と反対となるが、同様である。
したがって、本発明では、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号、もしくは、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号を加算した撮像信号のデフォーカス量の大きさが増加するのに伴い、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号間の像ずれ量の大きさが増加する。
なお、撮像面位相差AFにおいては、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号を相対的にシフトさせて信号の一致度を表す相関量(第1評価値)を計算し、相関(信号の一致度)が良くなるシフト量から像ずれ量を検出する。撮像信号のデフォーカス量の大きさが増加するのに伴い、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号間の像ずれ量の大きさが増加する関係性から、像ずれ量を第1検出デフォーカス量に変換して焦点検出を行う。
[シェーディング]
本実施例の撮像素子24において、焦点検出用画素群(第1焦点検出画素から第4焦点検出画素)に向かう光束の一部が撮像光学系10(レンズ、絞り等の光学素子やこれを保持する鏡筒を含む)によって遮られる、いわゆるケラレが発生している場合がある。この場合、一対の像信号のうち少なくとも一方に、光量の低下による信号レベルの低下や、像信号の歪みや、像信号の強度むら(焦点検出用画素ごとの受光感度のむら:以下、シェーディングという)を生じさせる。特にレンズ偏芯機能を有する交換レンズにおいては、各レンズ偏芯機構によりレンズが偏芯することで、焦点検出用画素群に向かう光束が一般的なレンズのシェーディングとは異なるシェーディングを生じさせる。
本実施例の撮像素子24において、焦点検出用画素群(第1焦点検出画素から第4焦点検出画素)に向かう光束の一部が撮像光学系10(レンズ、絞り等の光学素子やこれを保持する鏡筒を含む)によって遮られる、いわゆるケラレが発生している場合がある。この場合、一対の像信号のうち少なくとも一方に、光量の低下による信号レベルの低下や、像信号の歪みや、像信号の強度むら(焦点検出用画素ごとの受光感度のむら:以下、シェーディングという)を生じさせる。特にレンズ偏芯機能を有する交換レンズにおいては、各レンズ偏芯機構によりレンズが偏芯することで、焦点検出用画素群に向かう光束が一般的なレンズのシェーディングとは異なるシェーディングを生じさせる。
撮像光学系10をシフト機構16によってX方向に偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を図7に示す。各グラフの横軸は各信号を出力させている信号出力画素を表しており、撮像素子24の撮像領域と光軸の交わる点をX=0,Y=0とした時、Y=0の一列の画素を−X方向側の端画素から+X方向側の端画素までを左端から右端へプロットしている。各グラフの縦軸は各信号の出力値を表している。なお、この時の被写体は均一輝度面の出力値を表している。
本実施例における撮像光学系10のシフト機構16では、偏芯していない状態を0として、シフト偏芯量Sを±10の目盛りの中で偏芯可能である。なお、各目盛りは等間隔である。
図7(a)では、撮像光学系10が偏芯していないとき(シフト偏芯量S=0)のX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図7(b)では、撮像光学系10をシフト機構16によってシフト偏芯量S=−2へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図7(c)では、撮像光学系10をシフト機構16によってシフト偏芯量S=−4へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図7(d)では、撮像光学系10をシフト機構16によってシフト偏芯量S=−6へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
撮像光学系10をティルト機構17によってX方向に偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を図8に示す。各グラフの横軸は各信号を出力させている信号出力画素を表しており、撮像素子24の撮像領域の光軸をX=0,Y=0とした時、Y=0の一列の画素を−X方向側の端画素から+X方向側の端画素までを左端から右端へプロットしている。各グラフの縦軸は各信号の出力値を表している。なお、この時の被写体は均一輝度面の出力値を表している。
本実施例における撮像光学系10のティルト機構17では、偏芯していない状態を0として、ティルト偏芯量Tを±6の目盛りの中で偏芯可能である。なお、各目盛りは等間隔である。
図8(a)では、撮像光学系10が偏芯していないとき(ティルト偏芯量S=0)のX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図8(b)では、撮像光学系10をティルト機構17によってティルト偏芯量T=−2へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図8(c)では、撮像光学系10をティルト機構17によってティルト偏芯量T=−4へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図8(d)では、撮像光学系10をティルト機構17によってティルト偏芯量T=−6へ偏芯させたときのX方向の第1焦点検出信号とX方向の第2焦点検出信号を表している。
図7(a)から(d)、図8(a)から図8(d)より得られた第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の出力信号のそれぞれの比率を、図9に示す。図9(a)は図7(a)から(d)に示すシフト機構16による第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の出力信号の比率を表している。図9(b)は図8(a)から(d)に示すティルト機構17による第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の出力信号の比率を表している。
図9(a)から、シフト機構16によって第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の比率がリニアに変化していることが分かる。また、図9(b)では、ティルト機構17によって第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の比率がリニアに変化していて、図9(a)とは違った変化である。つまり、シフト機構16とティルト機構17とでは、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の変化の傾向が違っていることが分かる。この傾向を利用すれば、特に変化が大きく出る−X端の比率と、+X端の比率を算出することで、現在のシフト機構16・ティルト機構17の偏芯量が算出できる。
なお、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の比率は被写体やフォーカス位置に依存せず、図9に示す比率の関係が崩れることはない。よって、一般的な被写体を撮影するようなシーンにおいても、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の変化の傾向が検出できるため、シフト機構16・ティルト機構17の偏芯量の算出が可能である。
[レンズ偏芯量検出]
以下、本実施例において、像信号生成手段44から出力された一対の像信号を用いて、偏芯量算出手段45によって撮像光学系10のレンズ偏芯量を算出する方法について説明する。
以下、本実施例において、像信号生成手段44から出力された一対の像信号を用いて、偏芯量算出手段45によって撮像光学系10のレンズ偏芯量を算出する方法について説明する。
図10は水平方向にレンズが偏芯された際の偏芯量と左右端画素の第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の信号比率の関係を表した図である。
図10(a)は1例として、所定の交換レンズのシフト機構16によってレンズを偏芯させた際の第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の信号比率の関係を表しており、左右端画素の信号比率の平均から算出した式より、シフト機構16によって偏芯されたレンズの偏芯量を算出することができる。
図10(b)は1例として、所定の交換レンズのティルト機構17によってレンズを偏芯させた際の第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の信号比率の関係を表しており、左右端画素の信号比率の平均から算出した式より、ティルト機構17によって偏芯されたレンズの偏芯量を算出することができる。
図10(c)は1例として、所定の交換レンズのレンズ偏芯量と左右端画素の信号比率の差の関係を表しており、ティルト機構17およびシフト機構16で左右端画素の信号比率の差から算出した式を用いることで、偏芯したレンズがティルト機構17およびシフト機構16のどちらで偏芯しているか検出することが可能となっている。
本実施例では、第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の信号比率を求める際に左右端画素の出力を用いて計算を行ったが、例えば上下方向であれば、上下端画素の出力を計算に用いても良いし、また、端画素のみでなく1ライン全ての画素の出力を計算に用いても良く、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
[電子先幕に利用した際の効果]
以下に、算出したレンズ偏芯量を利用して補正を行う電子先幕撮影について図11を用いて説明する。
以下に、算出したレンズ偏芯量を利用して補正を行う電子先幕撮影について図11を用いて説明する。
図11は算出したレンズ偏芯量を利用して補正を行うライブビュー状態における電子先幕撮影の一連の動作を表すフローチャートである。ライブビュー撮影が開始すると、まず、S101で不図示のSW1がONされることを待つことになる。SW1がONされるとS102に進む。
S102は交換レンズ1に内蔵されたレンズ記憶部14に記憶されている情報やレンズ駆動部11から出力されるフォーカスレンズ位置情報などの情報を、レンズ制御部13および電気接点15を介してカメラ制御部40に転送する。転送が終了するとS103に進む。S103は測光動作であり、撮像素子24によって、撮像光学系10により形成された被写体像の輝度を測定することが可能となっている。測光動作が終了すると、S104に進む。
S104は焦点検出動作であり、撮像素子24に配置された焦点検出用画素によって撮像光学系10から入射した光から、像信号生成手段44によって第1焦点検出信号および第2焦点検出信号を出力する。信号の出力が終了すると、S105に進む。S105はレンズ偏芯情報を取得する工程であり、前述の第1焦点検出信号および第2焦点検出信号の出力結果を用いて、偏芯量算出手段45によって算出することで、ティルト機構17・シフト機構16によるレンズの偏芯情報を取得する。レンズ偏芯情報の取得が終了するとS106に進む。
S106はレンズの偏芯可否を判定し、レンズが偏芯されていなければレンズ記憶部14に記憶されているレンズ固有の射出瞳距離を取得しS108に進む。また、レンズが偏芯されていると、S105で算出したレンズ偏芯量を基に、S107にてレンズ記憶部14から取得したレンズ固有の射出瞳距離を補正し、S108に進む。
S108は電子先幕走査について、S107にて補正した射出瞳距離を用いて、電子先幕の走査パターンを演算する。演算が終了するとS109に進む。S109は不図示のSW2がONされることを待つ。ONされるとS110に進み、電子先幕撮影を行い、撮像する。撮像が終了するとS111に進み、露光によって撮像素子24に蓄積された電荷を光電変換部301にて光電変換し、作成された画像データをカメラ記憶部42に保存する。保存が終了するとS112に進む。
S112では不図示のライブビュー開始・終了釦がONされたか否かを判定し、ONされた場合はライブビュー状態を終了する。ONされていない場合は、S101に進み、SW1がONされることを待つ。
本実施例によれば、偏芯量が検出不可能なレンズにおいても、撮像素子から出力された第1焦点検出信号と第2焦点検出信号の信号比率から偏芯量を算出して最適な電子先幕走査および最適な電子先幕撮影が可能となる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
10 撮像光学系
24 撮像素子
44 像信号生成手段
45 偏芯量算出手段
24 撮像素子
44 像信号生成手段
45 偏芯量算出手段
Claims (4)
- レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して偏芯可能な撮像光学系(10)と、
前記撮像光学系(10)から入射された光束を複数の領域に瞳分割するように撮像画素を複数配列した撮像素子(24)と、
前記撮像素子(24)光電変換によって出力される出力値から一対の像信号を生成する像信号生成手段(44)と、
前記像信号生成手段(44)によって生成された一対の像信号から、前記撮像光学系(10)の偏芯された少なくとも一部のレンズユニットの偏芯量を算出する偏芯量算出手段(45)と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記撮像光学系(10)は、レンズユニットの少なくとも一部を光軸に対して垂直に偏芯可能なことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記撮像光学系(10)は、レンズユニットの少なくとも一部を光軸を中心として回転可能なことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記撮像素子(24)は、前記撮像光学系(10)から入射された光束を一対の像として複数の方向に瞳分割可能に結像光学系を有することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017047128A JP2018151508A (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017047128A JP2018151508A (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018151508A true JP2018151508A (ja) | 2018-09-27 |
Family
ID=63681630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017047128A Pending JP2018151508A (ja) | 2017-03-13 | 2017-03-13 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2018151508A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020031463A1 (ja) | 2018-08-10 | 2020-02-13 | 本田技研工業株式会社 | クラッチバイワイヤシステム |
| CN111953875A (zh) * | 2020-08-12 | 2020-11-17 | Oppo广东移动通信有限公司 | 深度检测组件及电子设备 |
-
2017
- 2017-03-13 JP JP2017047128A patent/JP2018151508A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020031463A1 (ja) | 2018-08-10 | 2020-02-13 | 本田技研工業株式会社 | クラッチバイワイヤシステム |
| CN111953875A (zh) * | 2020-08-12 | 2020-11-17 | Oppo广东移动通信有限公司 | 深度检测组件及电子设备 |
| CN111953875B (zh) * | 2020-08-12 | 2022-02-15 | Oppo广东移动通信有限公司 | 深度检测组件及电子设备 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6249825B2 (ja) | 撮像装置、その制御方法、および制御プログラム | |
| JP6362060B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法ならびにプログラム | |
| JP6486149B2 (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP2015203783A (ja) | 撮像装置、制御装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP6285683B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法 | |
| US20170302844A1 (en) | Image capturing apparatus, control method therefor, and storage medium | |
| JP2017032646A (ja) | 撮像装置及びその制御方法 | |
| JP2015194736A (ja) | 撮像装置およびその制御方法 | |
| JP7019337B2 (ja) | 像ブレ補正装置、レンズ装置およびそれらの制御方法 | |
| JP2018151508A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2015210285A (ja) | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 | |
| JP2017192028A (ja) | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 | |
| JP2019219577A (ja) | 検出装置および検出方法 | |
| JP2022103610A (ja) | レンズ装置、撮像装置、レンズ装置の制御方法、およびプログラム | |
| JP2017219782A (ja) | 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP2015145970A (ja) | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 | |
| JP6526294B2 (ja) | 撮像装置及びレンズ装置 | |
| JP7422466B2 (ja) | 像振れ補正制御装置、撮像装置およびその制御方法 | |
| JP7022575B2 (ja) | 焦点検出装置および方法、および撮像装置 | |
| JP2017032978A (ja) | 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP2017223763A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2015121778A (ja) | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP2017054052A (ja) | 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 | |
| JP2003032538A (ja) | 撮像装置 | |
| JP6938719B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20191125 |