JP2018026130A - 透明電極、それを含むタッチセンサーおよびディスプレイ - Google Patents
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Abstract
Description
前記第1の金属酸化物層および第2の金属酸化物層の波長550nmにおける屈折率は、それぞれ独立して1.7〜2.2であり、
前記金属層の波長550nmにおける屈折率は0.1〜1.0であり、
前記金属層の消滅係数は2.0〜7.0である透明電極。
メッシュパターンを含み、
該メッシュパターンは、順次積層されている、第1の金属酸化物層、金属層、および、第2の金属酸化物層、を含み、
波長550nmにおける反射率が5〜20%であるものであって、
高い透過率および低い反射率を有することにより改善された視認性を具備し、
低い面抵抗および優れた曲げ特性を具備し、
基材との高い密着性を具備する、ことから、
大型のフレキシブルディスプレイに好適な透明電極に関する。
(式中、αは吸収係数、Tは厚さ、I0は透過前の光の強度、Iは透過後の光の強度、である。)
(式中、αは吸収係数、kは消滅係数、λ0は波長、である。)
本発明の透明電極の光学的特性、電気的特性、および、曲げ特性、を評価するために、透明電極を製造した。第1の金属酸化物層および第2の金属酸化物層にはインジウム亜鉛酸化物(IZO)を使用し、金属層には銀−パラジウム−銅(APC)合金を使用した。第1の金属酸化物層、金属層、および、第2の金属酸化物層、を、スパッタリングにより環状オレフィン重合体(COP)上に順次積層した後、同時にフォトリソグラフィによってエッチングし、線幅3μmのメッシュパターンを形成した。各層の厚さは、第1の金属酸化物層を30nm、金属層を10nm、第2の金属酸化物層を30nm、とした。
各層の素材ならびに厚さ、および、メッシュパターンの線幅、を、表1に示す通りにしたほかは、実施例1と同様の方法に従って、実施例2〜12および比較例1〜5の透明電極を製造した。
1.反射率の測定
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極の波長550nmにおける反射率を、分光測色計(CM−3600A、コニカミノルタ株式会社製)を用いて測定した。
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極の波長550nmにおける透過率を、分光測色計(CM−3600A、コニカミノルタ株式会社製)を用いて測定した。
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極の面抵抗を、面抵抗測定器(RG−80、ナプソン株式会社製)を用いて測定した。
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極の波長550nmにおける色差値を、分光測色計(CM−3600A、コニカミノルタ株式会社製)を用いて測定した。
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極のヘイズを、ヘイズメーター(HM−150、Murasaki)を用いて測定した。
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極の密着力を、ASTM D3359に従って測定した。評価基準は下記の通りである。
5B:剥離なし
4B:5%未満の剥離
3B:5%以上15%未満の剥離
2B:15%以上35%未満の剥離
1B:35%以上65%未満の剥離
0B:65%以上の剥離
実施例1〜16および比較例1〜5により製造した透明電極に対し、図3に示すように、曲率半径(R)=2mmでの180°折り曲げ操作を、表3に記載された回数だけ行う曲げ試験を行い、曲げ後の線抵抗(kΩ)を測定した。その結果を下記表3に示す。
200:メッシュパターン
210:第1の金属酸化物層
220:金属層
230:第2の金属酸化物層
Claims (19)
- メッシュパターンを含み、
前記メッシュパターンは、順次積層されている、第1の金属酸化物層、金属層、および、第2の金属酸化物層、を含み、
波長550nmにおける反射率は5〜20%である透明電極。 - 前記波長550nmにおける反射率は5〜13%である請求項1に記載の透明電極。
- 前記第1の金属酸化物層および前記第2の金属酸化物層の波長550nmにおける屈折率は、それぞれ独立して1.7〜2.2であり、
前記金属層の波長550nmにおける屈折率は0.1〜1.0であり、
前記金属層の消滅係数は2.0〜7.0である請求項1に記載の透明電極。 - 前記第1の金属酸化物層および前記第2の金属酸化物層の厚さは、それぞれ独立して5〜140nmであり、
前記金属層の厚さは5〜30nmである請求項1に記載の透明電極。 - 前記第1の金属酸化物層および前記第2の金属酸化物層の厚さは、それぞれ独立して30〜50nmであり、
前記金属層の厚さは8〜15nmである請求項1に記載の透明電極。 - 前記メッシュパターンの線幅は1〜7μmである請求項1に記載の透明電極。
- 前記第1の金属酸化物層および第2の金属酸化物層は、それぞれ独立して、インジウムスズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、ガリウム亜鉛酸化物(GZO)、インジウムスズ亜鉛酸化物(ITZO)、亜鉛スズ酸化物(ZTO)、インジウムガリウム酸化物(IGO)、酸化スズ(SnO2)、および、酸化亜鉛(ZnO)、からなる群より選択される少なくとも1つを含む請求項1に記載の透明電極。
- 前記金属層は、銀、金、銅、アルミニウム、白金、パラジウム、クロム、チタン、タングステン、ニオブ、タンタル、バナジウム、カルシウム、鉄、マンガン、コバルト、ニッケル、亜鉛、および、これらの2種以上の合金、からなる群より選択される少なくとも1つを含む請求項1に記載の透明電極。
- ヘイズが−1〜+1%である請求項1に記載の透明電極。
- 色差値b*が−4〜+4である請求項1に記載の透明電極。
- 1mm以上の曲率半径での180°折り曲げ操作の前後において線抵抗の変化がない請求項1に記載の透明電極。
- 請求項1〜11のいずれか1項に記載の透明電極を含むタッチセンサー。
- 前記透明電極は、環状オレフィン重合体(COP)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリアクリレート(PAR)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリフェニレンスルフィド(PPS)、ポリアリレート、ポリイミド(PI)、セルロースアセテートプロピオネート(CAP)、ポリエーテルスルホン(PES)、セルローストリアセテート(TAC)、ポリカーボネート(PC)、環状オレフィン共重合体(COC)、および、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、からなる群より選択される少なくとも1つを含む基材上に備えられる、請求項12に記載のタッチセンサー。
- 複数の離隔された感知パターンを含み、
前記感知パターンは、同一面上に配置され、かつ、前記透明電極で形成されたものである請求項12に記載のタッチセンサー。 - 第1の方向に形成された第1の感知パターン、第2の方向に形成された第2の感知パターン、および、前記第2の感知パターンの離隔された単位パターンを接続するブリッジ電極、を含む請求項14に記載のタッチセンサー。
- 自己容量方式により形成された請求項14に記載のタッチセンサー。
- 分離層と、該分離層上に形成された請求項14に記載のタッチセンサーと、を含むフィルムタッチセンサー。
- 前記タッチセンサーと前記分離層との間に保護層をさらに含む請求項17に記載のフィルムタッチセンサー。
- 請求項12に記載のタッチセンサーまたは請求項17に記載のフィルムタッチセンサーを含むディスプレイ。
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