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JP2018049858A - 電子制御装置 - Google Patents

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JP2018049858A JP2016182559A JP2016182559A JP2018049858A JP 2018049858 A JP2018049858 A JP 2018049858A JP 2016182559 A JP2016182559 A JP 2016182559A JP 2016182559 A JP2016182559 A JP 2016182559A JP 2018049858 A JP2018049858 A JP 2018049858A
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Abstract

【課題】接着部に対する半田付着のばらつきを相対的に小さくする。【解決手段】電子制御装置の回路基板3は、コネクタ固定用ねじが貫通するコネクタ固定用ねじ貫通穴16と、レジスト層13と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲に形成され、コネクタ固定用ねじを半田付け可能な接着部23と、を有している。接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲に開口するレジスト層開口部22の内側に形成され、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板内側の面積がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されている。【選択図】図6

Description

本発明は、電子制御装置に関する。
特許文献1には、レーザーを用いて絶縁基板の端部側に位置する半田ランドの半田付けを行う技術が開示されている。
特開2014−197618号公報
しかしながら、絶縁基板の端部側に形成されている半田ランドにレーザーを用いた半田付けに替えてフロー半田付けを行う場合、当該半田ランドの基板端部側ほどフロー半田付けによる半田噴流が安定しにくくなる。そのため、絶縁基板の端部側に位置する半田ランドにおいては、半田付着にばらつきが生じる虞がある。
本発明によれば、その一つの態様において、電子制御装置の回路基板は、コネクタを固定する固定部材が貫通する貫通穴と、レジスト層と、上記貫通穴の周囲に形成され、上記固定部材を半田付け可能な接着部と、を有している。上記接着部は、上記貫通穴の周囲に開口するレジスト層開口部の内側に形成され、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されている。
本発明によれば、接着部は、貫通穴の中心よりも回路基板の内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されているので、接着部の基板端縁側の面積が相対的に小さくなり、接着部に対する半田付着のばらつきを相対的に小さくすることができる。
本発明に係る電子制御装置の分解斜視図。 回路基板の概略を示す平面図。 本発明に係る電子制御装置の回路基板の要部を拡大して示す平面図。 図3のA−A線に沿った断面図。 図3のB−B線に沿った断面図。 本発明の第1実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第2実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第3実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第4実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第5実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第6実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第7実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第8実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第9実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第10実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第11実施例における回路基板の要部拡大図。 本発明の第12実施例における回路基板の要部拡大図。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明に係る電子制御装置1の分解斜視図である。電子制御装置1は、扁平な直方体形状で中空のケーシング2と、電子部品が実装された回路基板3と、回路基板3に取り付けられたコネクタ4と、から大略構成されている。
ケーシング2は、回路基板3を内部に収容するものである。ケーシング2は、基板固定用ねじ5によって回路基板3が固定されるベース部6と、ベース部6に固定された回路基板3を覆うカバー部7と、を有している。ベース部6は、回路基板3の位置決め用に突出するよう形成された位置決め突起6aと、基板固定用ねじ5が挿入されて固定されるねじ穴6bと、を有している。ベース部6は、放熱性に優れた材料からなり、例えば、アルミや鉄等の金属製の材料からなっている。カバー部7は、強度や耐熱性に優れた材料からなっている。カバー部7は、例えば、樹脂材料からなっている。
回路基板3は、矩形板状を呈し、4隅が基板固定用ねじ5よってベース部6に固定されている。回路基板3は、ベース部6とカバー部7との間に挟み込まれている。回路基板3は、絶縁性を有する基板本体に導体パターン(図示せず)と、基板固定用ねじ5が貫通する基板固定用ねじ貫通穴9と、位置決め突起6aが挿入される位置決め突起貫通穴10等が形成されたものである。回路基板3の基板本体は、例えばガラスエポキシ樹脂等からなっている。
コネクタ4は、回路基板3の基板端縁に取り付けられている。コネクタ4は、ケーシング2の外部機器と回路基板3に実装された電子部品とを電気的に接続するものである。
コネクタ4とカバー部7との間は、第1シール材11によってシールされている。ベース部6とカバー部7とは、第2シール材12によってシールされている。第1シール材11及び第2シール材12には、ガスケットや液状ガスケットが使用可能である。第1シール材11及び第2シール材12は、例えば、ゴムやシリコン等の材料からなっている。
図2は、回路基板3の概略を示す平面図である。
回路基板3は、その表面が絶縁性の材料からなるレジスト層13によって覆われている。回路基板3は、基板固定用ねじ貫通穴9や位置決め突起貫通穴10の他にも、コネクタ4のピン(図示せず)が貫通する複数のピン貫通穴14と、コネクタ4を回路基板3に固定するコネクタ固定用ねじ15(後述)が貫通するコネクタ固定用ねじ貫通穴16と、を有している。コネクタ固定用ねじ15は、固定部材に相当するものである。コネクタ固定用ねじ貫通穴16は、貫通穴に相当するものであり、ピン貫通穴14よりも大径となるように形成されている。また、回路基板3は、互いに対向する一対の第1基板端縁17、17と、互いに対向する一対の第2基板端縁18、18と、を有している。
ピン貫通穴14は、第1基板端縁17に隣接する位置に形成されている。ピン貫通穴14の外周には、コネクタ4のピンが半田付けされる円環状のピン用ランド19が形成されている。
ピン用ランド19は、ピン貫通穴14と同心に形成されている。ピン用ランド19は、ピン貫通穴14の外周側に形成されたレジスト層円形開口部20によって露出している。また、ピン用ランド19は、内径がピン貫通穴14と略同一となり、外径がピン貫通穴14よりも大径となるよう形成されている。レジスト層円形開口部20は、ピン貫通穴14と同心で、ピン用ランド19よりも大径となるよう形成されている。
レジスト層円形開口部20は、レジスト層に形成された開口である。ピン用ランド19は、ピン貫通穴14と同心となるよう形成されている。
コネクタ固定用ねじ貫通穴16は、第1基板端縁17に隣接するとともに、複数のピン貫通穴14が設けられた領域の両側に、一つずつ形成されている。コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周には、コネクタ固定用ねじ15の頭部が半田付け可能なランドとして円環状のねじ用ランド21が形成されている。
ねじ用ランド21は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16と同心に形成されている。ねじ用ランド21は、ピン用ランド19に比べて大径で、ピン用ランド19に比べて面積が大きくなるよう形成されている。ねじ用ランド21は、内径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16と略同一となり、外径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16よりも大径となるよう形成されている。ねじ用ランド21は、その一部がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲に形成されたレジスト層開口部22によって露出している。
レジスト層開口部22は、レジスト層13に形成されて開口である。ねじ用ランド21のうちレジスト層開口部22によって露出している部分が、コネクタ固定用ねじ15を半田付け可能な接着部23となっている。
ここで、ピン用ランド19及びねじ用ランド21は、半田が付着可能な導電性材料であり、例えば銅箔を用いて形成される。また、ピン用ランド19及びねじ用ランド21は、薄肉のレジスト層13に比べて厚肉である。そのため、例えば、ねじ用ランド21を円環状に形成するのではなく、レジスト層開口部22に対応する位置にのみ設けた場合、コネクタ固定用ねじ15の周囲に段差が生じ、コネクタ固定用ねじ15によるコネクタ4の固定に悪影響を及ぼす虞がある。
しかしながら、ねじ用ランド21は、コネクタ固定用ねじ15の周囲に円環状に形成されている。そのため、コネクタ固定用ねじ15でコネクタ4を固定した際に、コネクタ固定用ねじ15の頭部は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲に対して安定して接触することができる。
なお、コネクタ固定用ねじ貫通穴16は、2つに限定されるものではなく、たとえば複数のピン貫通穴が設けられた領域の両側に、第1基板端縁17に沿って複数個並ぶように形成することも可能である。
図2中に、一点鎖線で囲んだ矩形の領域Mは、フロー半田付けが実施される範囲を示している。つまり、コネクタ4は、フロー半田付けにより、ピンがピン貫通穴14の周囲のピン用ランド19に半田付けされるとともに、コネクタ固定用ねじ15もねじ用ランド21に半田付けされている。フロー半田付けは、例えば、溶融した半田の噴流上を通過させることで半田付けを行うものである。
図3は、フロー半田付けが実施された回路基板3の要部を拡大して示す平面図である。
回路基板3は、レジスト層13と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16と、ねじ用ランド21と、を有している。ねじ用ランド21は、レジスト層開口部22によって露出している部分が接着部23となって、フロー半田付けにより半田が付着している。コネクタ固定用ねじ15は、その頭部の全面に半田が付着している。コネクタ固定用ねじ15の頭部に付着した半田は、ねじ用ランド21に付着した半田と連続する。つまり、コネクタ固定用ねじ15の頭部に付着した半田は、ねじ用ランド21に固定されている。図3中の符号17は、第1基板端縁である。
図4は、図3のA−A線に沿った断面図である。すなわち、図4は、フロー半田付けが実施された回路基板3の要部の断面図である。
回路基板3は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16と、レジスト層13と、ねじ用ランド21と、を有している。レジスト層13は、レジスト層開口部22を有している。
ねじ用ランド21のうちレジスト層開口部22によって露出している部分には、フロー半田付けにより半田が付着している。
コネクタ固定用ねじ貫通穴16には、コネクタ固定用ねじ15が挿入されている。コネクタ固定用ねじ15の頭部には、フロー半田付けにより半田が付着している。コネクタ固定用ねじ15の頭部に付着した半田は、ねじ用ランド21に付着した半田と連続する。
図5は、図3のB−B線に沿った断面図である。すなわち、図5は、フロー半田付けが実施された回路基板3の要部の断面図である。
ねじ用ランド21のうちレジスト層13によって覆われている部分には、フロー半田付けを実施しても半田が付着していない。ねじ用ランド21のうちレジスト層13によって覆われている部分では、コネクタ固定用ねじ15の頭部とねじ用ランド21との間にレジスト層13が挟まれることになる。図3中の符号17は、第1基板端縁である。
フロー半田付けにより、コネクタ固定用ねじ15をねじ用ランド21に半田付けすれば、コネクタ固定用ねじ15の緩みが半田付けにより抑制される。しかしながら、フロー半田付けが実施される領域Mにおいては、基板端縁側ほど半田噴流が不安定になる虞がある。すなわち、フロー半田付けでは、半田の噴流の影響により、コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する回路基板3の第1基板端縁17よりも回路基板3の内側の方が安定して半田が付着しやすい。
そこで、上述した接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板内側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されている。換言すると、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側の面積よりも大きくなるよう形成されている。すなわち、レジスト層開口部22は、ねじ用ランド21のうちフロー半田付けによって相対的に半田が安定して付着する部分の面積が大きくなるように形成されている。
図6は、本発明の第1実施例における回路基板3の要部拡大図である。第1実施例においては、図6に示すように、接着部23が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、接着部23は、回路基板3の第1基板端縁17と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1を通る第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側の面積より大きくなるよう形成されている。換言すれば、接着部23は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積が、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積より大きくなるよう形成されている。
さらに言えば、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に近接している第1基板端側の面積よりも大きくなるよう形成されている。
さらに言えば、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分のうち、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側の部分が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側の部分より長くなるよう形成されている。換言すると、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分のうち、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1からみて、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側の部分が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側の部分より長くなるよう形成されている。接着部23において、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分とは、当該接着部23の内周縁である。
そして、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、第1基準線L1と平行で、かつ第1基準線L1に近接するよう形成されている。
レジスト層開口部22は、外側湾曲辺25と、内側湾曲辺26と、外側湾曲辺25の一端と内側湾曲辺26の一端を接続する第1端辺27と、外側湾曲辺25の他端と内側湾曲辺26の他端を接続する第2端辺28と、を有している。
外側湾曲辺25は、円弧形状を呈し、ねじ用ランド21の外側に位置するように形成されている。内側湾曲辺26は、円弧形状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向で、外側湾曲辺25よりも内側に位置するとともに、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の開口よりも外側に位置するように形成されている。
外側湾曲辺25及び内側湾曲辺26は、第1基準線L1より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、外側湾曲辺25及び内側湾曲辺26は、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。外側湾曲辺25及び内側湾曲辺26の曲率中心は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1である。
第1端辺27及び第2端辺28は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第1端辺27及び第2端辺28は、直線状を呈し、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。さらに言えば、第1端辺27及び第2端辺28は、第1基準線L1に隣接する位置に形成されている。
また、第1端辺27及び第2端辺28は、ねじ用ランド21の一部を横切り、第1基準線L1と平行となるよう形成されている。
従って、第1実施例におけるレジスト層開口部22は、ねじ用ランド21と重なり合うように、全体が円弧状に湾曲している。なお、レジスト層開口部22の開口面積は、接着部23の面積よりも大きくなっている。これば、外側湾曲辺25がねじ用ランド21の外側に位置するためである。
そして、コネクタ固定用ねじ15は、少なくともコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板3の内側に位置する部分が、半田付けにより接着部23に固定されている。換言すると、コネクタ固定用ねじ15は、少なくともコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側の部分が、半田付けにより接着部23に固定されている。
このような本発明の第1実施例において、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板3の内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。そのため、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積が相対的に小さくなり、接着部23に対する半田付着のばらつきを相対的に小さくすることができる。
つまり、上述したフロー半田付けで、コネクタ固定用ねじ15とコネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲とを半田付けする場合、安定して付着した半田により、コネクタ固定用ねじ15を回路基板3に強固に固定するすることができる。
また、接着部23は、相対的に半田付着が安定している部分の面積が大きくなる。そのため、フロー半田付けを実施した際に、接着部23に半田が付着しない箇所が生じるいわゆる赤目の発生を抑制することができる。
そして、コネクタ固定用ねじ15の頭部に付着した半田は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板3の内側の接着部23に半田付けされることになる。そのため、コネクタ固定用ねじ15の頭部に付着した半田の脱落を抑制することができる。
以下、本発明の他実施例について説明する。なお、上述した第1実施例と同一の構成要素については同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
図7を用いて、本発明の第2実施例を説明する。図7は、本発明の第2実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第2実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第2実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、第2実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側となる部分にのみ形成されている。換言すれば、第2実施例の接着部23は、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側となり、かつ第2基板端縁18と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1を通る第2基準線L2よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第2基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、第2実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側の面積が、それ以外の面積よりも大きくなるよう形成されている。ここでいう接着部23の「それ以外の面積」とは、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積と、の和である。
さらに言えば、第2実施例の接着部23は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側で、第2基準線L2より一対の第2基板端縁間の中央側の面積が、それ以外の面積よりも大きくなるよう形成されている。ここでいう接着部23の「それ以外の面積」とは、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積と、の和である。
そして、第2実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の一方の端部が、第1基準線L1に隣接し、第1基準線L1と平行となるように形成されている。第2実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の他方の端部が、第2基準線L2に隣接し、第2基準線L2と平行となるように形成されている。
第2実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側にのみ形成されている。
第2実施例のレジスト層開口部22は、外側湾曲辺25及び内側湾曲辺26が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側にのみ形成されている。換言すると、第2実施例の外側湾曲辺25及び内側湾曲辺26は、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側となり、かつ第2基準線L2よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第2基板端縁側にのみ形成されている。
第2実施例の第1端辺27は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側に形成されている。換言すると、第2実施例の第1端辺27は、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。さらに言えば、第2実施例の第1端辺27は、第1基準線L1に隣接し、第1基準線L1と平行となるように形成されている。
第2実施例の第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側に形成されている。換言すると、第2実施例の第2端辺28は、第2基準線L2よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第2基板端縁側に形成されている。さらに言えば、第2実施例の第2端辺28は、第2基準線L2に隣接し、第2基準線L2と平行となるように形成されている。
なお、図7中の符号17は、第1基板端縁である。図7中の符号18は、第2基板端縁である。図7中の符号21は、ねじ用ランドである。
このような第2実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
また、第2実施例においては、第2基板端縁側の半田噴流の影響を考慮して接着部23を形成することができる。つまり、第2実施例の接着部23は、相対的に半田付着が安定している部分の面積が一層大きくなる。そのため、第2実施例においては、第1実施例に比べ、フロー半田付けを実施した際に、接着部23における赤目の発生をより一層抑制することができる。
図8を用いて、本発明の第3実施例を説明する。図8は、本発明の第3実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第3実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第3実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、第3実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側の面積が、それ以外の面積よりも大きくなるよう形成されている。ここでいう接着部23の「それ以外の面積」とは、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積と、の和である。
さらに言えば、第3実施例の接着部23は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側で、第2基板端縁18と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1を通る第2基準線L2より一対の第2基板端縁間の中央側の面積が、それ以外の面積よりも大きくなるよう形成されている。ここでいう接着部23の「それ以外の面積」とは、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積と、の和である。
そして、第3実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向に沿った形状に形成されている。
第3実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側の面積が、それ以外の面積よりも大きくなるよう形成されている。ここでいうレジスト層開口部22の「それ以外の面積」とは、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積と、の和である。
第3実施例の外側湾曲辺25は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側の長さが、それ以外の長さよりも長くなるよう形成されている。ここでいう外側湾曲辺25の「それ以外の長さ」とは、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の長さと、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側の長さと、の和である。
第3実施例の内側湾曲辺26は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第2基板端縁間の中央側の長さが、それ以外の長さよりも長くなるよう形成されている。ここでいう内側湾曲辺26の「それ以外の長さ」とは、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の長さと、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第2基板端縁側で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側の長さと、の和である。
第3実施例の第1端辺27は、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16に近接する第1基板端縁側に形成されている。第3実施例の第2端辺28は、第2基準線L2よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16に近接する第2基板端縁側に形成されている。
第3実施例の第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向に沿った形状に形成されている。
なお、図8中の17は、第1基板端縁である。図8中の符号21は、ねじ用ランドである。
このような第3実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
また、第3実施例においては、第2基板端縁側の半田噴流の影響を考慮して接着部23を形成することができる。つまり、第3実施例の接着部23は、相対的に半田付着が安定している部分の面積が一層大きくなる。そのため、第3実施例においては、第1実施例に比べ、フロー半田付けを実施した際に、接着部23における赤目の発生をより一層抑制することができる。
図9を用いて、本発明の第4実施例を説明する。図9は、本発明の第4実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第4実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第4実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第4実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁(外縁)に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第4実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、第4実施例の接着部23は、回路基板3の第1基板端縁17と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の第1基板端縁17に最も近い部分を通る第3基準線L3よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
そして、第4実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、第1基板端縁17と平行となる形状に形成されている。換言すると、第4実施例における接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、第3基準線L3に隣接し、第3基準線L3と平行となるように形成されている。
第4実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。
つまり、第4実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第4実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分よりコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、第4実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、第3基準線L3よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
第4実施例の第1端辺27及び第2端辺28は、第3基準線L3と平行となるように形成されている。また、第4実施例の第1端辺27及び第2端辺28は、第3基準線L3に隣接する位置に形成されている。
なお、図9中の符号21は、ねじ用ランドである。
このような第4実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図10を用いて、本発明の第5実施例を説明する。図10は、本発明の第5実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第5実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第5実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第5実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁(外縁)に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第5実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、第5実施例の接着部23は、回路基板3の第1基板端縁17と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の第1基板端縁17に最も近い部分を通る第3基準線L3よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
そして、第5実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、第3基準線L3に隣接し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向に沿った形状に形成されている。
第5実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。
つまり、第5実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第5実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周のうち回路基板3の端縁に最も近い部分よりコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
さらに言えば、第5実施例の外側湾曲辺25、内側湾曲辺26、第1端辺27及び第2端辺28は、第3基準線L3よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
第5実施例の第1端辺27及び第2端辺28は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向に沿った形状に形成されている。さらに言えば、第5実施例の第1端辺27及び第2端辺28は、第3基準線L3に隣接する位置に形成されている。
なお、図10中の符号21は、ねじ用ランドである。
このような第5実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図11を用いて、本発明の第6実施例を説明する。図11は、本発明の第6実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第6実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第6実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第6実施例においては、ねじ用ランド21の中心C2が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、ねじ用ランド21の中心C2は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にずれた位置に形成されている。ねじ用ランド21の中心C2は、ねじ用ランド21の外形(外径)の中心である。
第6実施例のレジスト層開口部22は、ねじ用ランド21より大径の外側円31と、外側円31より小径で、コネクタ固定用ねじ貫通穴16よりも大径となる内側円32と、を有している。
外側円31は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して、回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、外側円31は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。外側円31の中心は、レジスト層開口部22の中心であり、ねじ用ランド21の中心C2と一致するよう形成されている。
内側円32は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1と同心状に形成されている。
つまり、第6実施例のレジスト層開口部22は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、第6実施例のレジスト層開口部22は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。
第6実施例の接着部23は、外径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16より大径の円形を呈している。そして、第6実施例の接着部23は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、第6実施例の接着部23は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。
なお、図11中の符号17は、第1基板端縁である。
このような第6実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図12を用いて、本発明の第7実施例を説明する。図12は、本発明の第7実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第7実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第7実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第7実施例においては、ねじ用ランド21の中心C2が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットしている。換言すると、ねじ用ランド21の中心C2は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にずれた位置に形成されている。ねじ用ランド21の中心C2は、ねじ用ランド21の外形(外径)の中心である。
第7実施例のレジスト層開口部22は、ねじ用ランド21より大径の円形の開口であり、ねじ用ランド21が全て露出するように形成されている。つまり、第7実施例における接着部23は、ねじ用ランド21である。
第7実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して、回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、第7実施例のレジスト層開口部22は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。換言すると、第7実施例のレジスト層開口部22は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。
第7実施例のレジスト層開口部22は、その中心がねじ用ランド21の中心C2と一致するよう形成されている。
第7実施例の接着部23は、外径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16より大径の円形を呈している。そして、第7実施例の接着部23は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットするよう形成されている。換言すると、第7実施例の接着部23は、その中心が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対してコネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にオフセットするよう形成されている。
なお、図12中の符号17は、第1基板端縁である。
このような第7実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図13を用いて、本発明の第8実施例を説明する。図13は、本発明の第8実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第8実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第8実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第8実施例においては、ねじ用ランド21の中心C2が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して回路基板3の内側にオフセットしている。換言すると、ねじ用ランド21の中心C2は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側にずれた位置に形成されている。ねじ用ランド21の中心C2は、ねじ用ランド21の外形(外径)の中心である。
そして、第8実施例の接着部23及びレジスト層開口部22は、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
なお、図13中の符号17は、第1基板端縁である。図13中に符号25は、外側湾曲辺である。但し、第8実施例における外側湾曲辺25の曲率中心は、ねじ用ランド21の中心C2である。図13中に符号26は、内側湾曲辺である。図13中に符号27は、第1端辺である。図13中に符号28は、第2端辺である。
このような第8実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図14を用いて、本発明の第9実施例を説明する。図14は、本発明の第9実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第9実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第9実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第9実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対の第1半田接着部41、41によって構成されている。
一対の第1半田接着部41、41は、第2基板端縁18と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1を通る第2基準線L2を挟んで対称な位置形成されている。
第9実施例の第1半田接着部41は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積が、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16に近接する第1基板端縁側の面積より大きくなるよう形成されている。
さらに言えば、第9実施例の第1半田接着部41は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側の面積よりも大きくなるよう形成されている。換言すると、第9実施例の第1半田接着部41は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側の面積よりも大きくなるよう形成されている。
さらに言えば、第9実施例の第1半田接着部41は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積が、第1基準線L1よりもコネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積より大きくなるよう形成されている。
さらに言えば、第9実施例の第1半田接着部41は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分のうち、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側の部分が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側の部分より長くなるよう形成されている。換言すると、第1半田接着部41は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分のうち、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側の部分が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側の部分より長くなるよう形成されている。第9実施例の第1半田接着部41において、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の外周縁と対向する部分とは、当該第1半田接着部41の内周縁である。
また、第9実施例の第1半田接着部41は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向の端部が、第1基準線L1と平行となるように形成されている。
第9実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対のレジスト層第1開口部42、42によって構成されている。
一対のレジスト層第1開口部42、42は、第2基準線L2を挟んで対称な位置形成されている。
第9実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となる部分の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積よりも大きくなるよう形成されている。換言すれば、第9実施例のレジスト層開口部22は、第1基準線L1より一対の第1基板端縁間の中央側の面積が、第1基準線L1よりコネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の面積より大きくなるよう形成されている。
第9実施例のレジスト層第1開口部42は、外側辺43と内側辺44と、外側辺43の端部と内側辺44の端部を接続する第1端辺45及び第2端辺46と、からなっている。
第9実施例の外側辺43は、第2基準線L2と平行で、ねじ用ランド21の外側に位置するように形成されている。
第9実施例の外側辺43は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となる部分の長さが、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の部分の長さよりも長くなるよう形成されている。換言すれば、第9実施例の外側辺43は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となる部分の長さが、第1基準線L1よりも当該第1基準線L1が近接する第1基板端縁側の部分の長さよりも長くなるよう形成されている。
第9実施例の内側辺44は、円弧形状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向で、外側辺43よりも内側に位置するとともに、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の開口よりも外側に位置するように形成されている。
第9実施例の内側辺44は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となる部分の長さが、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも当該コネクタ固定用ねじ貫通穴16が近接する第1基板端縁側の部分の長さよりも長くなるよう形成されている。換言すれば、第9実施例の内側辺44は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側となる部分の長さが、第1基準線L1よりも当該第1基準線L1が近接する第1基板端縁側の部分の長さよりも長くなるよう形成されている。
第9実施例の第1端辺45は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側に形成されている。換言すると、第9実施例の第1端辺45は、直線状を呈し、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側に形成されている。
第9実施例の第2端辺46は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第9実施例の第2端辺46は、直線状を呈し、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
また、第9実施例の第1端辺45及び第2端辺46は、ねじ用ランド21の一部を横切り、第1基準線L1と平行となるよう形成されている。
なお、図14中の符号17は、第1基板端縁である。
このような第9実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図15を用いて、本発明の第10実施例を説明する。図15は、本発明の第10実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第10実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第10実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第10実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対の第1半田接着部51、51と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部52と、によって構成されている。
第10実施例の第1半田接着部51は、上述した第9実施例の第1半田接着部41と同一構成となっている。
第10実施例の環状半田接着部52は、その内径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の外径と等しくなるよう形成されている。
第10実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対のレジスト層第1開口部53、53と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲を全周に亙って連続して囲む環状のレジスト層第2開口部54と、によって構成されている。
第10実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板3の内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
第10実施例のレジスト層第1開口部53は、上述した第9実施例のレジスト層第1開口部42と同一構成となっている。
第10実施例のレジスト層第2開口部54は、円環状を呈し、一対のレジスト層第1開口部53、53と連続している。第10実施例のレジスト層第2開口部54は、その内径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の外径と等しく、その外径がねじ用ランド21の外径よりも小さくなるよう形成されている。第10実施例のレジスト層第2開口部54は、その外径がレジスト層第1開口部53の内側辺44と重なり合うように形成されている。
なお、図15中の符号17は、第1基板端縁である。図15中の符号43は、外側辺である。図15中の符号45は、第1端辺である。図15中の符号46は、第2端辺である。
このような第10実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
図16を用いて、本発明の第11実施例を説明する。図16は、本発明の第11実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第11実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第11実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第11実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して放射状となる複数の半田接着部を有している。
詳述すると、第11実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対の第1半田接着部61、61と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向で一対の第1半田接着部61、61の間に位置する第2半田接着部62と、によって構成されている。
第11実施例の第1半田接着部61と第2半田接着部62は、同一形状に形成されている。
第1半田接着部61は、第1基準線L1によって2分割される位置に形成されている。
第2半田接着部62は、第2基板端縁18と平行でコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1を通る第2基準線L2によって2分割される位置に形成されている。
このような第11実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側の面積が、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側の面積よりも大きくなる。
第11実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対のレジスト層第1開口部63、63と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向で一対のレジスト層第1開口部63、63の間に位置するレジスト層第2開口部64と、によって構成されている。第11実施例のレジスト層第1開口部63とレジスト層第2開口部64は、同一形状に形成されている。
第11実施例において、一対のレジスト層第1開口部63、63は、第2基準線L2を挟んで対称な位置形成されている。
第11実施例のレジスト層第1開口部63は、第1基準線L1によって2分割される位置に形成されている。
また、第11実施例のレジスト層第2開口部64は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より一対の第1基板端縁間の中央側に位置している。
第11実施例のレジスト層第1開口部63は、外側辺65と内側辺66と、外側辺65の端部と内側辺66の端部を接続する第1端辺67及び第2端辺68と、からなっている。
第11実施例のレジスト層第1開口部63の外側辺65は、第2基準線L2と平行で、ねじ用ランド21の外側に位置するように形成されている。
第11実施例のレジスト層第1開口部63の内側辺66は、円弧形状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向で、外側辺65よりも内側に位置するとともに、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の開口よりも外側に位置するように形成されている。
第11実施例のレジスト層第1開口部63の第1端辺67は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の外側に形成されている。換言すると、第1実施例のレジスト層第1開口部63の第1端辺67は、直線状を呈し、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16に相対的に近接する第1基板端縁側に形成されている。
第11実施例のレジスト層第1開口部63の第2端辺68は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側に形成されている。換言すると、第11実施例のレジスト層第1開口部63の第2端辺68は、直線状を呈し、第1基準線L1よりも、コネクタ固定用ねじ貫通穴16から相対的に離れている第1基板端縁側に形成されている。
また、第11実施例の第1端辺67及び第2端辺68は、ねじ用ランド21の一部を横切り、第1基準線L1と平行となるよう形成されている。
第11実施例のレジスト層第2開口部64は、外側辺69と内側辺70と、外側辺69の端部と内側辺70の端部を接続する第1端辺71及び第2端辺72と、からなっている。
第11実施例のレジスト層第2開口部64の外側辺69は、第2基準線L2と平行で、ねじ用ランド21の外側に位置するように形成されている。
第11実施例のレジスト層第2開口部64の内側辺70は、円弧形状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する径方向で、外側辺69よりも内側に位置するとともに、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の開口よりも外側に位置するように形成されている。
第11実施例のレジスト層第2開口部64の第1端辺71及び第2端辺72は、直線状を呈し、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1より回路基板3の内側に形成されている。
また、第11実施例の第1端辺71及び第2端辺72は、ねじ用ランド21の一部を横切り、第2基準線L2と平行となるよう形成されている。
なお、図16中の符号17は、第1基板端縁である。
このような第11実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
なお、この第11実施例において、複数の半田接着部は、3つに限定されるものではない。
図17を用いて、本発明の第12実施例を説明する。図17は、本発明の第12実施例における回路基板3の要部拡大図である。この第12実施例は、上述した第1実施例と略同一構成となっている。この第12実施例においても、接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1よりも回路基板内側の面積が相対的に大きくなるよう形成されている。
しかしながら、この第12実施例の接着部23は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1に対して放射状となる複数の半田接着部と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部83と、によって構成されている。
第12実施例における複数の半田接着部は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対の第1半田接着部81、81と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向で一対の第1半田接着部81、81の間に位置する第2半田接着部82と、からなっている。
第12実施例における第1半田接着部81は、上述した第11実施例の第1半田接着部61と同一構成となっている。第12実施例における第2半田接着部82は、上述した第11実施例の第2半田接着部62と同一構成となっている。
第12実施例の環状半田接着部83は、その内径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の外径と等しくなるよう形成されている。
第12実施例のレジスト層開口部22は、コネクタ固定用ねじ貫通穴16を挟んで対向する一対のレジスト層第1開口部84、84と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心軸線に対する周方向で一対のレジスト層第1開口部84、84の間に位置するレジスト層第2開口部85と、コネクタ固定用ねじ貫通穴16の周囲を全周に亙って連続して囲む環状のレジスト層第3開口部86と、によって構成されている。
第12実施例のレジスト層第1開口部84は、上述した第11実施例のレジスト層第1開口部63と同一構成となっている。
第12実施例のレジスト層第2開口部85は、上述した第11実施例のレジスト層第2開口部64と同一構成となっている。
第12実施例のレジスト層第3開口部86は、円環状を呈し、一対のレジスト層第1開口部84、84及びレジスト層第2開口部85連続している。第12実施例のレジスト層第3開口部86は、その内径がコネクタ固定用ねじ貫通穴16の外径と等しく、その外径がねじ用ランド21の外径よりも小さくなるよう形成されている。第12実施例のレジスト層第3開口部86は、その外径がレジスト層第1開口部84の内側辺66及びレジスト層第2開口部85の内側辺70と重なり合うように形成されている。
なお、図17中の符号17は、第1基板端縁である。図17中の符号65は、レジスト層第1開口部84の外側辺である。図17中の符号67は、レジスト層第1開口部84の第1端辺である。図17中の符号68は、レジスト層第1開口部84の第2端辺である。図17中の符号69は、レジスト層第2開口部85の外側辺である。図17中の符号71は、レジスト層第2開口部85の第1端辺である。図17中の符号72は、レジスト層第2開口部85の第2端辺である。
このような第12実施例においても、上述した第1実施例と略同様の作用効果を奏することができる。
なお、この第12実施例において、複数の半田接着部は、3つに限定されるものではない。
以上、本発明の具体的な実施例を説明してきたが、本発明は、上述した実施例に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば、上述した第1〜第5実施例及び第9〜第12実施例において、ねじ用ランド21の中心C2とコネクタ固定用ねじ貫通穴16の中心C1とを上述した第6実施例のようにオフセットさせることも可能である。
上述した実施例に基づく電子制御装置としては、例えば、以下に述べる態様のものが考えられる。
電子制御装置は、電子部品が実装された回路基板と、上記回路基板の基板端縁に取り付けられ、上記回路基板に形成された電子回路と外部機器とを電気的に接続するコネクタと、を有する。上記回路基板は、上記コネクタを上記回路基板に固定する固定部材が貫通する貫通穴と、上記回路基板の表面を覆う絶縁性のレジスト層と、上記貫通穴の周囲に形成され、上記固定部材を半田付け可能な接着部と、を有する。上記レジスト層は、上記貫通穴の周囲に開口するレジスト層開口部を有する。上記接着部は、上記レジスト層開口部の内側に形成されている。また、上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されている。
上記回路基板は、上記貫通穴の周囲に環状のランドを有し、上記レジスト層は、上記ランドを覆うように形成されている。上記接着部は、上記レジスト層開口部により露出した上記ランドの一部である。
上記固定部材は、上記貫通穴の中心より回路基板内側に位置する部分が、半田付けにより上記接着部に固定されている。
上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側で上記貫通穴の外周縁と対向する部分が、上記貫通穴の中心より回路基板外側で上記貫通穴の外周縁と対向する部分よりも長くなるよう形成されている。
上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側に形成してもよい。
上記回路基板は、矩形板状を呈し、互いに対向する一対の第1基板端縁と、互いに対向する一対の第2基板端縁と、を有している。上記接着部は、上記貫通穴の中心より上記一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつ上記貫通穴の中心より上記一対の第2基板端縁間の中央側となる部分の面積が、それ以外の部分の面積よりも大きくなるよう形成してもよい。
上記接着部は、上記貫通穴の外周のうち上記回路基板の外縁に最も近い部分より回路基板内側に形成してもよい。
上記接着部は、外径が上記貫通穴より大径の円形を呈し、上記接着部の中心が、上記貫通穴の中心に対して回路基板内側にオフセットするよう形成してもよい。
上記接着部は、上記貫通穴を挟んで対向する一対の第1半田接着部を有するよう形成してもよい。この場合、各第1半田接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成される。
上記接着部は、上記貫通穴を挟んで対向する一対の第1半田接着部と、上記貫通穴の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部と、を有するよう形成してもよい。この場合、上記第1半田接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成され、各第1半田接着部は、上記環状半田接着部を介して連続する。
上記接着部は、上記貫通穴の中心に対して放射状となる複数の半田接着部を有するよう形成してもよい。
上記接着部は、上記貫通穴の中心に対して放射状となる複数の半田接着部と、上記貫通穴の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部と、を有するよう形成してもよい。この場合、各第1半田接着部は、上記環状半田接着部を介して連続する。
1…電子制御装置、3…回路基板、4…コネクタ、13…レジスト層、15…コネクタ固定用ねじ(固定部材)、16…コネクタ固定用ねじ貫通穴(貫通穴)、22…レジスト層開口部、23…接着部

Claims (12)

  1. 電子部品が実装された回路基板と、
    上記回路基板の基板端縁に取り付けられ、上記回路基板に形成された電子回路と外部機器とを電気的に接続するコネクタと、を有し、
    上記回路基板は、上記コネクタを上記回路基板に固定する固定部材が貫通する貫通穴と、上記回路基板の表面を覆う絶縁性のレジスト層と、上記貫通穴の周囲に形成され、上記固定部材を半田付け可能な接着部と、を有し、
    上記レジスト層は、上記貫通穴の周囲に開口するレジスト層開口部を有し、
    上記接着部は、上記レジスト層開口部の内側に形成され、
    上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されていることを特徴とする電子制御装置。
  2. 上記回路基板は、上記貫通穴の周囲に環状のランドを有し、
    上記レジスト層は、上記ランドを覆うように形成され、
    上記接着部は、上記レジスト層開口部により露出した上記ランドの一部であることを特徴とする請求項1に記載の電子制御装置。
  3. 上記固定部材は、上記貫通穴の中心より回路基板内側に位置する部分が、半田付けにより上記接着部に固定されていることを特徴とする請求項1または2に記載の電子制御装置。
  4. 上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側で上記貫通穴の外周縁と対向する部分が、上記貫通穴の中心より回路基板外側で上記貫通穴の外周縁と対向する部分よりも長くなるよう形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
  5. 上記接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側に形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電子制御装置。
  6. 上記回路基板は、矩形板状を呈し、互いに対向する一対の第1基板端縁と、互いに対向する一対の第2基板端縁と、を有し、
    上記接着部は、上記貫通穴の中心より上記一対の第1基板端縁間の中央側となり、かつ上記貫通穴の中心より上記一対の第2基板端縁間の中央側となる部分の面積が、それ以外の部分の面積よりも大きくなるよう形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電子制御装置。
  7. 上記接着部は、上記貫通穴の外周のうち上記回路基板の外縁に最も近い部分より回路基板内側に形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の電子制御装置。
  8. 上記接着部は、外径が上記貫通穴より大径の円形を呈し、上記接着部の中心が、上記貫通穴の中心に対して回路基板内側にオフセットするよう形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
  9. 上記接着部は、上記貫通穴を挟んで対向する一対の第1半田接着部を有し、
    各第1半田接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
  10. 上記接着部は、上記貫通穴を挟んで対向する一対の第1半田接着部と、上記貫通穴の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部と、を有し、
    上記第1半田接着部は、上記貫通穴の中心より回路基板内側の面積が上記貫通穴の中心より回路基板外側の面積よりも大きくなるよう形成され、
    各第1半田接着部は、上記環状半田接着部を介して連続していることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
  11. 上記接着部は、上記貫通穴の中心に対して放射状となる複数の半田接着部を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
  12. 上記接着部は、上記貫通穴の中心に対して放射状となる複数の半田接着部と、上記貫通穴の周囲を全周に亙って連続して囲む環状半田接着部と、を有し、
    各第1半田接着部は、上記環状半田接着部を介して連続していることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の電子制御装置。
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