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JP2017161247A - Electromagnetic field analyzing device, electromagnetic field analyzing method, and computer program - Google Patents

Electromagnetic field analyzing device, electromagnetic field analyzing method, and computer program Download PDF

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JP2017161247A JP2016043498A JP2016043498A JP2017161247A JP 2017161247 A JP2017161247 A JP 2017161247A JP 2016043498 A JP2016043498 A JP 2016043498A JP 2016043498 A JP2016043498 A JP 2016043498A JP 2017161247 A JP2017161247 A JP 2017161247A
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文昭 池田
知宏 正木
Tomohiro Masaki
知宏 正木
誠一 泉
Seiichi Izumi
誠一 泉
直樹 乗本
Naoki Norimoto
直樹 乗本
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electromagnetic field analyzing device and an electromagnetic field analyzing method that can infer far fields with high precision taking into account the reflections of electromagnetic waves, and a computer program for materializing a computer as an electromagnetic field analyzing device.SOLUTION: On the basis of the result of measuring electromagnetic waves near the radiation source of the electromagnetic waves arranged in an anechoic chamber shielded from the electromagnetic waves, electromagnetic waves in positions away from the radiation source are inferred. The electric field intensity and phase on a cylindrical face at a certain distance away from the radiation source in the horizontal direction are measured, a development point, which is the origin of a basic function at the time of multipolar development, is set in each of a first position where the radiation source is arranged and in a second position symmetric to the first position with the floor face of the anechoic chamber in-between. The coefficient at the time of multipolar development is calculated for each of the development points on the basis of the solution of the Helmholtz equation, and the electromagnetic fields in the area outside the cylindrical face are figured out by multipolar development using coefficients each calculated by superposing one or another of the development points.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、電波暗室内における放射電磁波を推定する電磁界解析装置、電磁界解析方法、及びコンピュータを電磁界解析装置として具現化するためのコンピュータプログラムに関する。   The present invention relates to an electromagnetic field analyzer that estimates radiated electromagnetic waves in an anechoic chamber, an electromagnetic field analysis method, and a computer program for realizing a computer as an electromagnetic field analyzer.

全ての電子機器からは、各種の電磁波が発せられる。例えば電気回路の開閉動作によるスイッチ接点間の火花放電、デジタル回路の動作に不可欠なクロック周波数とその高調波等の電磁波により、ラジオ、テレビ等の受信障害、その他の外部機器間の電磁干渉による誤動作等の障害が生じることもある。したがって、不要な電磁波が外部へ漏れ出ないよう遮断することは重要な技術の1つとなっている。   All types of electromagnetic waves are emitted from all electronic devices. For example, spark discharge between switch contacts due to opening / closing operation of an electric circuit, electromagnetic interference such as clock frequency and its harmonics indispensable for digital circuit operation, malfunction due to radio or television reception interference, or electromagnetic interference between other external devices Etc. may occur. Therefore, it is an important technique to block unnecessary electromagnetic waves from leaking outside.

実際に電子機器から発せられる電磁波の状態は、国際規格で規定された方法で測定される。不要電波の許容値は、その多くが測定距離10mで規定されているので、放射源からの距離10mで測定可能な設備が必要となる。   The state of electromagnetic waves actually emitted from electronic devices is measured by a method defined by international standards. Since many of the allowable values of unnecessary radio waves are defined at a measurement distance of 10 m, equipment that can be measured at a distance of 10 m from the radiation source is required.

周囲環境のノイズの影響を低減するために、最近では大型の電波暗室内で測定される。電波暗室とは、暗室内で発生する電磁波を外部へ出すことがなく、外部からの電磁波による影響を受けない暗室を意味している。   In order to reduce the influence of noise in the surrounding environment, it is recently measured in a large anechoic chamber. The anechoic chamber means a dark room that does not emit electromagnetic waves generated in the darkroom to the outside and is not affected by the electromagnetic waves from the outside.

大型の電波暗室は使用料が高額であるので、設計段階における電磁波の測定は、小型の電波暗室で測定し、距離10mにおける電磁界を推定することが、できれば望ましい。例えば特許文献1には、放射源の近傍で測定された電磁界から等価電流及び等価磁流を算出して、グリーン関数を用いて積分することにより電磁界を推定する遠方電磁界推定方法が開示されている。また、非特許文献1においても、等価放射源モデルにおける測定結果に基づいて10m法を用いた放射電界強度の推定方法が開示されている。   Since a large anechoic chamber is expensive to use, it is desirable if electromagnetic waves at the design stage can be measured in a small anechoic chamber to estimate the electromagnetic field at a distance of 10 m. For example, Patent Document 1 discloses a far electromagnetic field estimation method for estimating an electromagnetic field by calculating an equivalent current and an equivalent magnetic current from an electromagnetic field measured in the vicinity of a radiation source, and integrating using a Green function. Has been. Non-Patent Document 1 also discloses a method for estimating a radiation electric field intensity using a 10 m method based on a measurement result in an equivalent radiation source model.

特開2015−034785号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-034785

川畑将人、他2名、「遠方界推定のための電子機器の等価放射源モデル化に関する一検討」、2014年、一般社団法人電子情報通信学会、EMCJ2013−131、pp.117Masato Kawabata and two others, “A Study on Equivalent Radiation Source Modeling of Electronic Equipment for Far Field Estimation”, 2014, The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, EMCJ2013-131, pp. 117

特許文献1及び非特許文献1に開示されている方法では、放射源の近傍において計測(測定)された電磁界に基づいて、より遠方における解(以下、遠方解)を推定している。しかし、いずれの方法においても、電磁波の計測対象である放射源の設置状態を考慮していない。   In the methods disclosed in Patent Literature 1 and Non-Patent Literature 1, a farther solution (hereinafter, far solution) is estimated based on an electromagnetic field measured (measured) in the vicinity of the radiation source. However, none of the methods considers the installation state of the radiation source that is the object of electromagnetic wave measurement.

すなわち、理想的には放射源が空間中心に位置すれば良いが、実際には放射源を載置する設置台や床面、天井面等の存在により、電磁波が反射する。したがって、実際の遠方解は、斯かる反射された電磁波の影響を強く受けるのに対して、特許文献1及び非特許文献1に開示されている方法では、反射された電磁波の影響を十分に考慮することが難しい。したがって、遠方解に高い精度を期待することが困難であるという問題点があった。ここで、床面、設置台、天井等による反射波の中では、床面による反射波が推定結果に最も大きく影響することが確認されている。   That is, ideally, the radiation source only needs to be positioned at the center of the space, but actually electromagnetic waves are reflected by the presence of an installation table, a floor surface, a ceiling surface, or the like on which the radiation source is placed. Therefore, the actual far solution is strongly influenced by the reflected electromagnetic wave, whereas the methods disclosed in Patent Document 1 and Non-Patent Document 1 sufficiently consider the influence of the reflected electromagnetic wave. Difficult to do. Therefore, there is a problem that it is difficult to expect high accuracy in the far-field solution. Here, it is confirmed that the reflected wave from the floor surface has the largest influence on the estimation result among the reflected waves from the floor surface, the installation stand, the ceiling, and the like.

本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであり、電磁波の反射波を考慮し、高い精度で遠方解を推定することが可能な電磁界解析装置、電磁界解析方法、及びコンピュータを電磁界解析装置として具現化するためのコンピュータプログラムを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an electromagnetic field analysis apparatus, an electromagnetic field analysis method, and a computer that can estimate a distant solution with high accuracy in consideration of reflected waves of electromagnetic waves. An object of the present invention is to provide a computer program for realizing as a field analysis device.

上記目的を達成するために第1発明に係る電磁界解析装置は、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置において、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段と、前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する展開点設定手段と、計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出する係数算出手段と、前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する電磁界推定手段とを備えることを特徴とする。   In order to achieve the above object, an electromagnetic field analysis apparatus according to a first aspect of the present invention is based on an electromagnetic wave measurement result in the vicinity of an electromagnetic wave radiation source disposed in an anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In the electromagnetic field analysis apparatus for estimating electromagnetic waves at a distant position, measurement means for measuring electric field strength and phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source, and the radiation source are arranged. An expansion point setting means for setting an expansion point that is an origin of a basis function at the time of multipole expansion at a first position and a second position that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber; In order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated based on the solution of the Helmholtz equation. So Coefficient calculation means for calculating each and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface are estimated by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. And an electromagnetic field estimation means.

また、第2発明に係る電磁界解析装置は、第1発明において、前記係数算出手段は、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することが好ましい。   Further, in the electromagnetic field analysis apparatus according to the second invention, in the first invention, the coefficient calculation means preferably calculates the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method.

また、第3発明に係る電磁界解析装置は、第1又は第2発明において、前記計測手段は、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することが好ましい。   The electromagnetic field analysis apparatus according to a third aspect of the present invention is the electromagnetic field analyzer according to the first or second aspect, wherein the measuring means measures a phase as an angle at which the electric field is maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. It is preferable.

次に、上記目的を達成するために第4発明に係る電磁界解析装置は、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置において、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段と、前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する展開点設定手段と、前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーする鏡面コピー手段と、鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出する係数算出手段と、前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する電磁界推定手段とを備えることを特徴とする。   Next, in order to achieve the above object, an electromagnetic field analysis apparatus according to a fourth aspect of the present invention is based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the electromagnetic wave radiation source disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In an electromagnetic field analyzer for estimating electromagnetic waves at a position away from a radiation source, a measuring means for measuring an electric field strength and a phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source, and the radiation source are arranged. Expansion point setting means for setting an expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion at a third position obtained by projecting the first position on the floor surface of the electromagnetic wave anechoic chamber, and the floor surface of the anechoic chamber A mirror copy means for mirror copying the measurement result on the cylindrical surface at a position symmetrical with respect to the electromagnetic field, and an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface based on the measurement result on the cylindrical surface that is mirror-copied In order to calculate, using the coefficient calculation means for calculating the coefficient at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface using the coefficient calculated for the expansion point And an electromagnetic field estimation means for estimating an electromagnetic field by multipole expansion.

また、第5発明に係る電磁界解析装置は、第4発明において、前記係数算出手段は、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することが好ましい。   In the electromagnetic field analysis apparatus according to a fifth aspect, in the fourth aspect, the coefficient calculation means preferably calculates the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method.

また、第6発明に係る電磁界解析装置は、第4又は第5発明において、前記計測手段は、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することが好ましい。   The electromagnetic field analysis apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the electromagnetic field analyzer according to the fourth or fifth aspect, wherein the measuring means measures a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. It is preferable.

次に、上記目的を達成するために第7発明に係る電磁界解析方法は、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能な電磁界解析方法において、前記電磁界解析装置は、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測するステップと、前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定するステップと、計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出するステップと、前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定するステップとを含むことを特徴とする。   Next, in order to achieve the above object, an electromagnetic field analysis method according to a seventh aspect of the present invention is based on a measurement result of an electromagnetic wave in the vicinity of an electromagnetic wave radiation source disposed in an anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In an electromagnetic field analysis method that can be executed by an electromagnetic field analysis device that estimates an electromagnetic wave at a position away from a radiation source, the electromagnetic field analysis device is a cylindrical surface that is separated from the radiation source by a certain distance in the horizontal direction. Measuring the electric field strength and phase at the first position where the radiation source is disposed, and a second position which is symmetric with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber. In order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface based on the step of setting the expansion point that is the origin of the basis function at the time of expansion and the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, Calculating a coefficient at the time of multipole expansion for each of the expansion points based on the solution of the two equations, and using the coefficient calculated for each of the expansion points for the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface And superposing and estimating the electromagnetic fields obtained by multipole expansion.

また、第8発明に係る電磁界解析方法は、第7発明において、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することが好ましい。   In the electromagnetic field analysis method according to the eighth aspect of the present invention, preferably, the TM wave and TE wave coefficients in the Helmholtz equation are calculated by the least square method in the seventh aspect.

また、第9発明に係る電磁界解析方法は、第7又は第8発明において、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することが好ましい。   In the electromagnetic field analysis method according to the ninth aspect of the present invention, in the seventh or eighth aspect of the invention, it is preferable that the phase is measured as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern that vibrates at a constant frequency.

次に、上記目的を達成するために第10発明に係る電磁界解析方法は、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能な電磁界解析方法において、前記電磁界解析装置は、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測するステップと、前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定するステップと、前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーするステップと、鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出するステップと、前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定するステップとを含むことを特徴とする。   Next, in order to achieve the above object, the electromagnetic field analysis method according to the tenth aspect of the present invention is based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the electromagnetic wave radiation source disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In an electromagnetic field analysis method that can be executed by an electromagnetic field analysis device that estimates an electromagnetic wave at a position away from a radiation source, the electromagnetic field analysis device is a cylindrical surface that is separated from the radiation source by a certain distance in the horizontal direction. Measuring the electric field strength and phase at the first position where the radiation source is disposed, and a third position projected on the floor of the anechoic chamber, which is the origin of the basis function at the time of multipole expansion A step of setting a development point, a step of mirror-copying the measurement result on the cylindrical surface at a position symmetrical with respect to the floor surface of the anechoic chamber, and a measurement result on the cylindrical surface subjected to mirror-copying To calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, calculating a coefficient at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, And estimating an electromagnetic field by multipole expansion using a coefficient calculated for the expansion point.

また、第11発明に係る電磁界解析方法は、第10発明において、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することが好ましい。   Further, in the electromagnetic field analysis method according to the eleventh aspect of the invention, it is preferable that the TM wave and TE wave coefficients in the Helmholtz equation are calculated by the least square method in the tenth aspect of the invention.

また、第12発明に係る電磁界解析方法は、第10又は第11発明において、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することが好ましい。   In the electromagnetic field analysis method according to the twelfth aspect of the present invention, in the tenth or eleventh aspect of the present invention, it is preferable that the phase is measured as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern oscillating at a constant frequency.

次に、上記目的を達成するために第13発明に係るコンピュータプログラムは、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記電磁界解析装置を、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段、前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する展開点設定手段、計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出する係数算出手段、及び前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する電磁界推定手段として機能させることを特徴とする。   Next, in order to achieve the above object, a computer program according to a thirteenth aspect of the present invention is based on a measurement result of an electromagnetic wave in the vicinity of an electromagnetic wave radiation source disposed in an anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In a computer program that can be executed by an electromagnetic field analysis device that estimates electromagnetic waves at a position away from the electromagnetic field analysis device, the electromagnetic field analysis device includes an electric field strength on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source, and A measuring means for measuring a phase, a first position where the radiation source is disposed, and a second position which is symmetrical with respect to the first position and the floor surface of the anechoic chamber; An expansion point setting means for setting the expansion point that is the origin of the function, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is calculated based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface. Therefore, a coefficient calculating means for calculating a coefficient at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation for each of the expansion points, and an electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface for each of the expansion points It is characterized by functioning as an electromagnetic field estimating means for superposing and estimating the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated in the above.

また、第14発明に係るコンピュータプログラムは、第13発明において、前記係数算出手段を、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出する手段として機能させることが好ましい。   In the computer program according to the fourteenth aspect of the present invention, in the thirteenth aspect, the coefficient calculating means preferably functions as means for calculating the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method.

また、第15発明に係るコンピュータプログラムは、第13又第14発明において、前記計測手段を、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測する手段として機能させることが好ましい。   A computer program according to a fifteenth aspect of the invention is the computer program according to the thirteenth or fourteenth aspect, wherein the measuring means is a means for measuring a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern oscillating at a constant frequency. It is preferable to make it function.

次に、上記目的を達成するために第16発明に係るコンピュータプログラムは、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、前記電磁界解析装置を、前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段、前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する展開点設定手段、前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーする鏡面コピー手段、鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出する係数算出手段、及び前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する電磁界推定手段として機能させることを特徴とする。   Next, in order to achieve the above object, the computer program according to the sixteenth aspect of the present invention is based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the electromagnetic wave radiation source disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In a computer program that can be executed by an electromagnetic field analysis device that estimates electromagnetic waves at a position away from the electromagnetic field analysis device, the electromagnetic field analysis device includes an electric field strength on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source, and Measuring means for measuring the phase, setting the expansion point that is the origin of the basis function for multipole expansion to the third position where the first position where the radiation source is located is projected onto the floor of the anechoic chamber A development point setting means, a mirror copy means for mirror-copying the measurement result on the cylindrical surface at a symmetrical position across the floor surface of the anechoic chamber, Based on the measurement result on the cylindrical surface, in order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, coefficient calculating means for calculating the coefficient at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation, and the cylindrical surface The electromagnetic field in the outer region is caused to function as electromagnetic field estimation means for estimating the electromagnetic field by multipole expansion using a coefficient calculated with respect to the expansion point.

また、第17発明に係るコンピュータプログラムは、第16発明において、前記係数算出手段を、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出する手段として機能させることが好ましい。   In the sixteenth invention, the computer program according to the seventeenth invention preferably causes the coefficient calculating means to function as means for calculating the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method.

また、第18発明に係るコンピュータプログラムは、第16又は第17発明において、前記計測手段を、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測する手段として機能させることが好ましい。   The computer program according to an eighteenth aspect of the invention is the computer program according to the sixteenth or seventeenth aspect, wherein the measuring means is a means for measuring the phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. It is preferable to make it function.

第1発明、第7発明及び第13発明では、放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する。放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する。計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を展開点のそれぞれについて算出する。円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する。これにより、放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。   In the first invention, the seventh invention, and the thirteenth invention, the electric field strength and the phase are measured on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source. At the first position where the radiation source is arranged and the second position which is symmetrical with respect to the floor of the anechoic chamber, the expansion point which is the origin of the basis function at the time of multipole expansion is set respectively. Set. Based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, calculate the coefficients for the multipole expansion for each expansion point based on the solution of the Helmholtz equation to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface. To do. The electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. As a result, the first position where the radiation source is arranged and the second position which is symmetric with respect to the first position and the floor surface of the anechoic chamber are expanded as the origin of the basis function at the time of multipole expansion. Each point is set, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by superimposing the electromagnetic field obtained by multipole expansion using the coefficient calculated for each expansion point. Even when there is a reflected wave on the surface, it is possible to estimate the electromagnetic field in consideration of the influence of the reflected wave when estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface.

第2発明、第8発明及び第14発明では、ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出するので、計測データに基づいてより高い精度で電磁界を推定することができる。   In the second invention, the eighth invention, and the fourteenth invention, the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation are calculated by the least square method, so that the electromagnetic field can be estimated with higher accuracy based on the measurement data. it can.

第3発明、第9発明及び第15発明では、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測するので、一周期の中でどの時点で電界が最大になるのか明確になり、より詳細な電磁界解析を行うことが可能となる。   In the third invention, the ninth invention, and the fifteenth invention, the phase is measured as the angle at which the electric field is maximized in one period in the electric field pattern oscillating at a constant frequency. It becomes clear that it becomes, and it becomes possible to perform more detailed electromagnetic field analysis.

第4発明、第10発明及び第16発明では、放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測し、放射源が配置されている第一の位置を電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する。電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、円筒面における計測結果を鏡面コピーし、鏡面コピーされた円筒面における計測結果に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する。これにより、放射源が配置されている第一の位置を電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定しておき、電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、円筒面における計測結果を鏡面コピーし、鏡面コピーされた円筒面における計測結果に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。特に周波数が比較的低い領域であっても高い精度で電磁界を推定することが可能となる。   In the fourth, tenth, and sixteenth inventions, the electric field strength and phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the radiation source are measured, and the first position where the radiation source is located is set in the anechoic chamber. The expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion is set at the third position projected onto the floor surface. To mirror-copy the measurement result on the cylindrical surface at a symmetrical position across the floor of the anechoic chamber, and to calculate the electromagnetic field in the area outside the cylindrical surface based on the measurement result on the cylindrical surface that is mirror-copied Next, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated based on the solution of the Helmholtz equation, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by multipole expansion using the coefficient calculated for the expansion point. . As a result, the expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion is set at the third position where the first position where the radiation source is arranged is projected onto the floor of the anechoic chamber. In order to calculate the electromagnetic field in the area outside the cylindrical surface based on the measurement result in the cylindrical surface that is mirror-copied, and the measurement result in the cylindrical surface is mirror-copied to a symmetrical position across the floor of Based on the solution of the Helmholtz equation, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by multipole expansion using the coefficient calculated for the expansion point. Even when there is a reflected wave on the floor surface in the anechoic chamber, it is possible to estimate the electromagnetic field in consideration of the influence of the reflected wave when estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface. In particular, it is possible to estimate the electromagnetic field with high accuracy even in a region where the frequency is relatively low.

第5発明、第11発明及び第17発明では、ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出するので、計測データに基づいてより高い精度で電磁界を推定することができる。   In the fifth invention, the eleventh invention and the seventeenth invention, the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation are calculated by the least square method, so that the electromagnetic field can be estimated with higher accuracy based on the measurement data. it can.

第6発明、第12発明及び第18発明では、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測するので、一周期の中でどの時点で電界が最大になるのか明確になり、より詳細な電磁界解析を行うことが可能となる。   In the sixth invention, the twelfth invention and the eighteenth invention, the phase is measured as the angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern oscillating at a constant frequency. It becomes clear that it becomes, and it becomes possible to perform more detailed electromagnetic field analysis.

上記構成によれば、放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。   According to the above configuration, the origin of the basis function at the time of multipole expansion is set at the first position where the radiation source is disposed and the second position which is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber. Are set, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. Even when there is a reflected wave on the floor surface in the dark room, it is possible to estimate the electromagnetic field in consideration of the influence of the reflected wave when estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface.

また、放射源が配置されている第一の位置を電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定しておき、電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、円筒面における計測結果を鏡面コピーし、鏡面コピーされた円筒面における計測結果に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。特に周波数が比較的低い領域であっても高い精度で電磁界を推定することが可能となる。   In addition, the expansion point, which is the origin of the basis function during multipole expansion, is set at the third position where the first position where the radiation source is located is projected onto the floor of the anechoic chamber. In order to calculate the electromagnetic field in the outer area of the cylindrical surface based on the mirrored copy of the measurement result on the cylindrical surface, the Helmholtz measurement is performed at a symmetrical position across the floor surface. The coefficient for multipole expansion is calculated based on the solution of the equation, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is estimated by multipole expansion using the coefficient calculated for the expansion point. Even when there is a reflected wave on the floor surface in the dark room, it is possible to estimate the electromagnetic field in consideration of the influence of the reflected wave when estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface. In particular, it is possible to estimate the electromagnetic field with high accuracy even in a region where the frequency is relatively low.

本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置を、CPUを用いて具現化した場合の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure at the time of embodying the electromagnetic field analyzer which concerns on embodiment of this invention using CPU. 本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置を用いた電波暗室の構成を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the anechoic chamber using the electromagnetic field analyzer which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置を用いた電磁界計測システムの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the electromagnetic field measurement system using the electromagnetic field analyzer which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the electromagnetic field analyzer which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置1の展開点の設定状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the setting state of the expansion | deployment point of the electromagnetic field analyzer 1 which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置のCPUの処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of CPU of the electromagnetic field analyzer which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the electromagnetic field analyzer which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置の鏡面コピーの概要を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the outline | summary of the mirror surface copy of the electromagnetic field analyzer which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置のCPUの処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence of CPU of the electromagnetic field analyzer which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置の表示装置における計測結果を表示した例示図である。It is the illustration figure which displayed the measurement result in the display apparatus of the electromagnetic field analyzer which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置の表示装置における推定結果を表示した例示図である。It is the illustration figure which displayed the estimation result in the display apparatus of the electromagnetic field analyzer which concerns on embodiment of this invention.

以下、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置について図面に基づいて具体的に説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置10を、CPUを用いて具現化した場合の構成を示すブロック図である。図1において、電磁界解析装置1は、演算を行う演算部を構成するCPU(中央演算装置)11、演算に伴って発生する一時的な情報を記憶するメモリ12、ハードディスク等の記憶装置13、I/Oインタフェース14、ビデオインタフェース15、可搬型ディスクドライブ16、通信インタフェース17及び上述したハードウェアを接続する内部バス18で構成されている。   Hereinafter, an electromagnetic field analysis apparatus according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration when an electromagnetic field analysis apparatus 10 according to an embodiment of the present invention is implemented using a CPU. In FIG. 1, an electromagnetic field analysis apparatus 1 includes a CPU (central processing unit) 11 that constitutes a computation unit that performs computation, a memory 12 that stores temporary information generated in accordance with computation, a storage device 13 such as a hard disk, It comprises an I / O interface 14, a video interface 15, a portable disk drive 16, a communication interface 17, and an internal bus 18 for connecting the hardware described above.

CPU11は、内部バス18を介して電磁界解析装置1の上述したようなハードウェア各部と接続されており、上述したハードウェア各部の動作を制御するとともに、記憶装置13に記憶しているコンピュータプログラム100に従って、種々のソフトウェア的機能を実行する。メモリ12は、SRAM、SDRAM等の揮発性メモリで構成され、コンピュータプログラム100の実行時にロードモジュールが展開され、コンピュータプログラム100の実行時に発生する一時的なデータ等を記憶する。   The CPU 11 is connected to the above-described hardware units of the electromagnetic field analysis apparatus 1 via the internal bus 18, and controls the operation of the above-described hardware units and stores the computer program stored in the storage device 13. According to 100, various software functions are performed. The memory 12 is composed of a volatile memory such as SRAM or SDRAM, and a load module is expanded when the computer program 100 is executed, and stores temporary data generated when the computer program 100 is executed.

記憶装置13は、内蔵される固定型記憶装置(ハードディスク)、ROM等で構成されている。記憶装置13に記憶しているコンピュータプログラム100は、プログラム及びデータ等の情報を記録したDVD、CD−ROM等の可搬型記録媒体90から、可搬型ディスクドライブ16によりダウンロードされ、実行時には記憶装置13からメモリ12へ展開して実行される。もちろん、通信インタフェース17を介して、接続されている外部のコンピュータからダウンロードされたコンピュータプログラムであっても良い。   The storage device 13 includes a built-in fixed storage device (hard disk), a ROM, and the like. The computer program 100 stored in the storage device 13 is downloaded by the portable disk drive 16 from a portable recording medium 90 such as a DVD or CD-ROM in which information such as programs and data is recorded. To the memory 12 and executed. Of course, it may be a computer program downloaded from a connected external computer via the communication interface 17.

また記憶装置13は、計測情報記憶部131を備えている。計測情報記憶部131は、電子部品等の放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測した計測結果を記憶している。ここで、計測対象となる位相とは、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度を意味している。   The storage device 13 includes a measurement information storage unit 131. The measurement information storage unit 131 stores measurement results obtained by measuring the electric field strength and phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from a radiation source such as an electronic component. Here, the phase to be measured means the angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern that vibrates at a constant frequency.

通信インタフェース17は内部バス18に接続されており、インターネット、LAN、WAN等の外部のネットワークに接続されることにより、外部のコンピュータ等とデータ送受信を行うことが可能となっている。   The communication interface 17 is connected to an internal bus 18, and is connected to an external network such as the Internet, a LAN, or a WAN, so that data can be transmitted / received to / from an external computer or the like.

I/Oインタフェース14は、キーボード21、マウス22等のデータ入力媒体と接続され、データの入力を受け付ける。また、ビデオインタフェース15は、CRTモニタ、LCD等の表示装置23と接続され、所定の画像を表示する。   The I / O interface 14 is connected to a data input medium such as a keyboard 21 and a mouse 22 and receives data input. The video interface 15 is connected to a display device 23 such as a CRT monitor or LCD, and displays a predetermined image.

電子部品2から10m離れた円筒面における電磁界(電磁波の強度分布)を推定する場合、従来は、測定距離3mにおいて計測した計測結果に基づいて推定している。測定距離3mにおいて計測する場合、測定距離10mにおいて計測すると仮定した場合の床面反射波を補足するためには、電子部品2の高さを変える必要がある。すなわち、本実施の形態では、例えば2m、もしくはそれ以上の高さに電子部品2を配置して計測する。   When estimating an electromagnetic field (electromagnetic wave intensity distribution) on a cylindrical surface 10 m away from the electronic component 2, conventionally, the estimation is based on a measurement result measured at a measurement distance of 3 m. When measuring at a measurement distance of 3 m, it is necessary to change the height of the electronic component 2 in order to supplement the floor reflected wave when it is assumed that measurement is performed at a measurement distance of 10 m. That is, in the present embodiment, the electronic component 2 is placed at a height of, for example, 2 m or higher and measured.

しかし、実際に計測する場合に、電子部品2を配置する高さを変えることは現実的ではない。そこで、本実施の形態では、電子部品2を配置する位置を0.8mの高さに固定するとともに、電子部品2から測定距離5mの円筒面における電磁界を計測し、計測された電磁界に基づいて電子部品2から10m離れた円筒面における電磁界を推定する。   However, when actually measuring, changing the height at which the electronic component 2 is arranged is not realistic. Therefore, in the present embodiment, the position where the electronic component 2 is arranged is fixed at a height of 0.8 m, and the electromagnetic field on the cylindrical surface at a measurement distance of 5 m from the electronic component 2 is measured. Based on this, an electromagnetic field in a cylindrical surface 10 m away from the electronic component 2 is estimated.

以下、電子部品を放射源として、電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置された状態で5m離れた円筒面において計測した計測結果に基づいて、電子部品から10m離れた円筒面における電磁界(電磁波の強度分布)を推定する例を用いて、本発明の実施の形態に係る電磁界解析方法を説明する。   Hereinafter, based on the measurement result measured on the cylindrical surface 5 m away from the electronic component as a radiation source in a anechoic chamber where electromagnetic waves are shielded, the electromagnetic field on the cylindrical surface 10 m away from the electronic component ( The electromagnetic field analysis method according to the embodiment of the present invention will be described using an example of estimating the electromagnetic wave intensity distribution).

図2は、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置1を用いた電波暗室の構成を示す概要図である。図2(a)に示すように、本実施の形態に係る電磁界解析装置1自体は、電波暗室10の外部に設置されており、計測の主体となる電磁波を受信するアンテナ5及びターンテーブル3の回転角度を検出するセンサ(ロータリーエンコーダ等)と接続されている。   FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of an anechoic chamber using the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to the embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2A, the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to the present embodiment is installed outside the anechoic chamber 10, and has an antenna 5 and a turntable 3 that receive an electromagnetic wave that is a main subject of measurement. Is connected to a sensor (such as a rotary encoder) that detects the rotation angle of the motor.

放射源の設置台4の上面には、回転することが可能なターンテーブル3が設けられており、ターンテーブル3の上に放射源である電子部品2が載置されている。ターンテーブル3を回転させながら、電子部品2から放射される電磁波を、ターンテーブル3の回転中心から5mの位置に設けてあるアンテナ5で受信する。アンテナ5で受信された電磁波は、計測時点でのアンテナ5の高さ、計測時点でのターンテーブル3の回転角度(位相)とともに電磁界解析装置1へ送信され、半径10mの円筒面における電磁界を推定する。   A turntable 3 that can rotate is provided on the upper surface of the radiation source installation base 4, and an electronic component 2 that is a radiation source is placed on the turntable 3. While rotating the turntable 3, the electromagnetic wave radiated from the electronic component 2 is received by the antenna 5 provided at a position 5 m from the rotation center of the turntable 3. The electromagnetic wave received by the antenna 5 is transmitted to the electromagnetic field analyzer 1 together with the height of the antenna 5 at the time of measurement and the rotation angle (phase) of the turntable 3 at the time of measurement, and the electromagnetic field on a cylindrical surface having a radius of 10 m. Is estimated.

具体的には、アンテナ5は固定されたポールに沿って、高さ方向に移動するようになっている。ターンテーブル3を回転させつつアンテナ5を上下動させ、高さ1m〜4m、360度にわたって電磁波を計測する。放射源である電子部品2自体が回転するので、電子部品2が固定されていると仮定することにより図2(b)に示すような電磁界を得ることができる。すなわち、半径5mの円筒面上の各点(図2(b)では所定の高さ間隔、所定の位相ごとの格子点)における電磁場の電界強度を取得することができる。   Specifically, the antenna 5 moves in the height direction along a fixed pole. The antenna 5 is moved up and down while rotating the turntable 3, and electromagnetic waves are measured over a height of 1 to 4 m and 360 degrees. Since the electronic component 2 itself that is a radiation source rotates, an electromagnetic field as shown in FIG. 2B can be obtained by assuming that the electronic component 2 is fixed. That is, the electric field strength of the electromagnetic field can be acquired at each point on the cylindrical surface having a radius of 5 m (in FIG. 2B, a predetermined height interval and a lattice point for each predetermined phase).

図3は、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置を用いた電磁界計測システムの構成を示す模式図である。図3において、電磁界解析装置は、ターンテーブル3及びアンテナ5を駆動するモータ等の駆動部の動作を制御している。これにより、ターンテーブル3を回転させつつアンテナ5を上下動させ、高さ1m〜4m、360度にわたって電磁波を計測することができる。   FIG. 3 is a schematic diagram showing a configuration of an electromagnetic field measurement system using the electromagnetic field analysis apparatus according to the embodiment of the present invention. In FIG. 3, the electromagnetic field analyzer controls the operation of a drive unit such as a motor that drives the turntable 3 and the antenna 5. Thereby, the antenna 5 can be moved up and down while rotating the turntable 3, and electromagnetic waves can be measured over a height of 1 m to 4 m and 360 degrees.

半径10mの円筒面における電磁界を推定する場合、床面での反射成分を正しく捕捉する必要がある。本実施の形態では、アンテナ5は、放射源である電子部品2から5m離れており、高さ1〜4mの間で上下動可能となっている。5m離れた位置のアンテナ5で計測した電磁界に基づいて、床面31で反射した反射波の影響を考慮に入れて、高い精度で半径10mの円筒面における電磁界を推定する。   When estimating an electromagnetic field on a cylindrical surface having a radius of 10 m, it is necessary to correctly capture a reflection component on the floor surface. In the present embodiment, the antenna 5 is 5 m away from the electronic component 2 that is a radiation source, and can move up and down between 1 to 4 m in height. Based on the electromagnetic field measured by the antenna 5 at a position 5 m away, the electromagnetic field on the cylindrical surface having a radius of 10 m is estimated with high accuracy in consideration of the effect of the reflected wave reflected by the floor 31.

(実施の形態1)
図4は、本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置1の機能ブロック図である。図4において、計測部401は、放射源である電子部品2から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する。ここで、計測対象となる位相とは、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度を意味する。
(Embodiment 1)
FIG. 4 is a functional block diagram of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 4, a measurement unit 401 measures the electric field strength and phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the electronic component 2 that is a radiation source. Here, the phase to be measured means an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern that vibrates at a constant frequency.

展開点設定部402は、放射源である電子部品2が配置されている位置(第一の位置)及び第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる位置(第二の位置)に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する。ここで、多重極展開する場合、ベクトル球関数を基底関数として展開する原点(以下、展開点)を設定する必要がある。   The development point setting unit 402 is a position (first position) where the electronic component 2 that is a radiation source is disposed, and a position (second position) that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber. The expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion is set. Here, in the case of multipole expansion, it is necessary to set an origin (hereinafter, expansion point) where the vector sphere function is expanded as a basis function.

すなわち、(式1)における一般の関数f(x)を展開する基底関数ベクトルen(x)の原点を設定しなければならない。本実施の形態では、放射源である電子部品2が配置されている位置(第一の位置)を展開点とするだけでは、反射波の影響を考慮することができないことに鑑み、第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる位置(第二の位置)にも展開点を設定している。これにより、2つの展開点それぞれについて後述する係数を算出することにより、反射波の影響を考慮して任意の位置における電磁界を推定することが可能となる。   That is, the origin of the basis function vector en (x) for expanding the general function f (x) in (Equation 1) must be set. In the present embodiment, in view of the fact that the influence of the reflected wave cannot be taken into consideration only by using the position (first position) where the electronic component 2 as the radiation source is disposed as the development point, the first Development points are also set at positions (second positions) that are symmetrical with respect to the position and the floor of the anechoic chamber. As a result, by calculating a coefficient to be described later for each of the two development points, it is possible to estimate the electromagnetic field at an arbitrary position in consideration of the influence of the reflected wave.

係数算出部403は、計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を展開点のそれぞれについて算出する。   The coefficient calculation unit 403 calculates the coefficient at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface. Calculate for each expansion point.

ここで、電磁波の放射源の外側の空間における電磁波は、以下のヘルムホルツ方程式に従う。   Here, the electromagnetic wave in the space outside the electromagnetic wave radiation source follows the following Helmholtz equation.

(式2)において、∇はラプラシアンを、kは波数(定数)を、それぞれ示している。Ψはスカラー関数であり、半径ベクトルrと電場ベクトルEとの内積を満足する。   In (Expression 2), ∇ indicates a Laplacian, and k indicates a wave number (constant). Ψ is a scalar function and satisfies the inner product of the radius vector r and the electric field vector E.

電場ベクトルEを多重極展開に基づいて求めると、(式3)のように表すことができる。   When the electric field vector E is obtained based on multipole expansion, it can be expressed as (Equation 3).

(式3)において、右辺第一項はTM波のベクトルを、右辺第二項はTE波のベクトルをそれぞれ示しており、それぞれ(式4)、(式5)で表すことができる。   In (Equation 3), the first term on the right side represents the TM wave vector, and the second term on the right side represents the TE wave vector, which can be represented by (Equation 4) and (Equation 5), respectively.

ここで、TM波とは、電磁波がz方向に進行すると仮定した場合、z方向の縦波を、TE波とは、電磁波がz方向に進行すると仮定した場合、x方向又はy方向の横波を、それぞれ意味している。(式4)、(式5)において、h(kr)は、球ハンケル関数を、ベクトルXは、ベクトル球関数を、それぞれ示しており、ベクトル球関数は(式6)で表すことができる。   Here, the TM wave is a longitudinal wave in the z direction when the electromagnetic wave travels in the z direction, and the TE wave is a transverse wave in the x direction or the y direction when the electromagnetic wave is assumed to travel in the z direction. , Each mean. In (Expression 4) and (Expression 5), h (kr) indicates a spherical Hankel function, and vector X indicates a vector spherical function. The vector spherical function can be expressed by (Expression 6).

なお、多重極展開では、電界ベクトルEを複素数で表現する。すなわち電界ベクトルEの実部ベクトルをEr、虚部ベクトルをEiとすると、一定の周波数ωで振動する電界の時間変化は(式7)のように表すことができる。   In the multipole expansion, the electric field vector E is expressed as a complex number. That is, when the real part vector of the electric field vector E is Er and the imaginary part vector is Ei, the time change of the electric field oscillating at a constant frequency ω can be expressed as (Equation 7).

ここで、アンテナ5で計測される電界ベクトルをEa、位相をθとすると、同じく電界の時間変化は(式8)のように表すことができる。   Here, assuming that the electric field vector measured by the antenna 5 is Ea and the phase is θ, the time change of the electric field can be similarly expressed as (Equation 8).

(式7)と(式8)とは同じものを表しているので、実部ベクトルEr、虚部ベクトルEiは、アンテナ5で計測される電界ベクトルEa、位相θを用いて(式9)のように表すことができる。   Since (Equation 7) and (Equation 8) represent the same thing, the real part vector Er and the imaginary part vector Ei are represented by (Equation 9) using the electric field vector Ea and the phase θ measured by the antenna 5. Can be expressed as:

これにより、上述した(式3)を用いて、電界ベクトルEの実部ベクトルEr、虚部ベクトルEiを多重極展開でフィッティングしている。すなわち、(式3)において、それぞれ複素数のスカラー量であるTM波の(l,m)成分の係数aM (l,m)、TE波の(l,m)成分の係数aE (l,m)を一次補間して求めることに他ならない。本実施の形態では、係数aM (l,m)、aE (l,m)を、最小二乗法により算出している。 Thus, the real part vector Er and the imaginary part vector Ei of the electric field vector E are fitted by multipole expansion using (Equation 3) described above. That is, in (Equation 3), the coefficient a M (l, m) of the TM wave (l, m) component and the coefficient a E (l, m) of the TE wave (l, m), which are complex scalar quantities, respectively. m) is obtained by linear interpolation. In the present embodiment, the coefficients a M (l, m) and a E (l, m) are calculated by the least square method.

具体的には、評価関数Fを(式10)に示すように定め、評価関数Fが最小となるように係数aM (l,m)、aE (l,m)を決定する。すなわち、(式11)から求めた連立一次方程式から係数aM (l,m)、aE (l,m)を決定する。 Specifically, the evaluation function F is determined as shown in (Expression 10), and the coefficients a M (l, m) and a E (l, m) are determined so that the evaluation function F is minimized. That is, the coefficients a M (l, m) and a E (l, m) are determined from the simultaneous linear equations obtained from (Equation 11).

なお、(式10)の右辺第一項は、電場の多重極展開式であり、第二項は5m法で計測されたデータを意味している。   The first term on the right side of (Equation 10) is a multipole expansion formula of the electric field, and the second term means data measured by the 5m method.

電磁界推定部404は、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する。図5は、本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置1の展開点の設定状態を示す模式図である。図5において、放射源が配置されている位置(第一の位置)51と床面31を挟んで対称となる位置(第二の位置)52にも展開点を設定している。すなわち、高さ方向をz軸としてz=±z0と考えると、半径ベクトルr1 =半径ベクトル−r2 として(式12)のように電場ベクトルEを重ね合わせることにより、全体の電場ベクトルE(r)を求めている。 The electromagnetic field estimation unit 404 estimates the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. FIG. 5 is a schematic diagram showing a setting state of the development point of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 5, the development point is also set at a position (first position) 51 where the radiation source is disposed and a position (second position) 52 that is symmetrical with respect to the floor 31. That is, when z = ± z0 with the height direction as the z-axis, the electric field vector E (overlapping the electric field vector E as shown in (Equation 12) with radius vector r 1 = radius vector−r 2 is obtained. r).

なお、(式12)において、左辺の電場ベクトルE(r)は、右辺の電場ベクトルE(r−r1 )と電場ベクトルE(r+r1 )とベクトルの重ね合わせを示している。実際には、床面31での反射の条件、すなわちベクトルn=(0,0,1)を床面の法線ベクトルとして、(式13)を満たす必要がある。 In (Equation 12), the electric field vector E (r) on the left side indicates the superposition of the electric field vector E (r−r 1 ) and the electric field vector E (r + r 1 ) on the right side. Actually, the condition of reflection on the floor 31, that is, the vector n = (0, 0, 1) is used as the normal vector of the floor, and (Equation 13) needs to be satisfied.

(式13)を考慮して(式12)を整理することにより、床面31での反射波を考慮した任意の位置における電場ベクトルEnew (r)を(式14)のように求めることができる。 By arranging (Equation 12) in consideration of (Equation 13), the electric field vector E new (r) at an arbitrary position in consideration of the reflected wave on the floor 31 can be obtained as in (Equation 14). it can.

(式14)で定義した基底ベクトルZl,m new (r)、基底ベクトルWl,m new (r)は、いずれも床面31での反射条件を満たしているので、5mにおける円筒面での計測データを最小二乗法によりフィッティングした電場は、床面31での反射条件を満たすことになる。これにより、(式14)で求めた電場ベクトルにより、5mにおける円筒面での計測データに基づいて半径10mの円筒面における電磁界を推定することができる。 Since both the basis vector Z l, m new (r) and the basis vector W l, m new (r) defined in (Equation 14) satisfy the reflection condition on the floor surface 31, they are cylindrical surfaces at 5 m. The electric field obtained by fitting the measurement data by the least square method satisfies the reflection condition on the floor 31. Thereby, the electromagnetic field in the cylindrical surface with a radius of 10 m can be estimated based on the measurement data on the cylindrical surface at 5 m based on the electric field vector obtained by (Equation 14).

図6は、本発明の実施の形態1に係る電磁界解析装置1のCPU11の処理手順を示すフローチャートである。図6において、電磁界解析装置1のCPU11は、放射源である電子部品2から水平方向に5m離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する(ステップS601)。   FIG. 6 is a flowchart showing the processing procedure of the CPU 11 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 6, the CPU 11 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 measures the electric field strength and phase on a cylindrical surface that is 5 m away from the electronic component 2 that is a radiation source in the horizontal direction (step S <b> 601).

CPU11は、放射源である電子部品2が配置されている位置(第一の位置)及び第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる位置(第二の位置)に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する(ステップS602)。CPU11は、計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数、すなわちTM波の(l,m)成分の係数aM (l,m)、TE波の(l,m)成分の係数aE (l,m)を最小二乗法により決定する(ステップS603)。 The CPU 11 has multiple poles at a position (first position) where the electronic component 2 as a radiation source is disposed and a position (second position) that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber. An expansion point that is the origin of the basis function at the time of expansion is set (step S602). Based on the measured electric field intensity and phase on the cylindrical surface, the CPU 11 calculates the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface based on the solution of the Helmholtz equation, that is, the TM wave. The coefficient a M (l, m) of the (l, m) component and the coefficient a E (l, m) of the (l, m) component of the TE wave are determined by the least square method (step S603).

CPU11は、展開点(第一の位置)51の電場ベクトルE(r−r0 )と展開点(第二の位置)52の電場ベクトルE(r+r0 )とのベクトルの重ね合わせをし(ステップS604)、床面31での反射の条件に基づいて、半径10mの円筒面における電場ベクトルEnew (r)を算出する(ステップS605)。 The CPU 11 superimposes the electric field vector E (r−r 0 ) at the expansion point (first position) 51 and the electric field vector E (r + r 0 ) at the expansion point (second position) 52 (step S604) Based on the condition of reflection on the floor surface 31, an electric field vector E new (r) in a cylindrical surface having a radius of 10 m is calculated (step S605).

以上のように本実施の形態1によれば、放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。   As described above, according to the first embodiment, the multipole is provided at the first position where the radiation source is disposed and the second position which is symmetrical with respect to the first position and the floor surface of the anechoic chamber. Set the expansion point that is the origin of the basis function at the time of expansion, and superimpose the electromagnetic field in the area outside the cylindrical surface by the multipole expansion using the coefficient calculated for each of the expansion points. Therefore, even when there is a reflected wave from the floor in an anechoic chamber, when estimating the electromagnetic field in the area outside the cylindrical surface, estimate the electromagnetic field considering the effect of the reflected wave. Is possible.

(実施の形態2)
図7は、本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置1の機能ブロック図である。図7において、計測部701は、放射源である電子部品2から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する。ここで、計測対象となる位相とは、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度を意味する。
(Embodiment 2)
FIG. 7 is a functional block diagram of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG. 7, a measurement unit 701 measures the electric field strength and phase on a cylindrical surface that is a certain distance in the horizontal direction from the electronic component 2 that is a radiation source. Here, the phase to be measured means an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern that vibrates at a constant frequency.

展開点設定部702は、放射源である電子部品2が配置されている位置(第一の位置)を電波暗室の床面31に投影した位置(第三の位置)に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する。   The expansion point setting unit 702 is a position at which the electronic component 2 as a radiation source (first position) is projected onto the floor surface 31 of the anechoic chamber (third position) at the time of multipole deployment. Set the expansion point that is the origin of the basis function.

反射波の影響を反映させるために、本実施の形態2では、多重極展開するための展開点を、電波暗室の床面31にのみ設けておき、放射源から5mの距離の円筒面における計測結果を鏡面コピーしている点に特徴を有する。すなわち、鏡面コピー部703は、電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、放射源である電子部品2から5mの距離の円筒面における計測結果を鏡面コピーする。   In the second embodiment, in order to reflect the influence of the reflected wave, a development point for multipole deployment is provided only on the floor surface 31 of the anechoic chamber, and measurement is performed on a cylindrical surface at a distance of 5 m from the radiation source. It is characterized in that the result is mirror copied. That is, the mirror surface copy unit 703 mirror-copies the measurement result on the cylindrical surface at a distance of 5 m from the electronic component 2 that is the radiation source at a position that is symmetrical across the floor surface of the anechoic chamber.

図8は、本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置1の鏡面コピーの概要を示す模式図である。図8において、放射源である電子部品2から距離5mの円筒面で計測した計測結果81を、床面31を挟んで対称となる位置に鏡面コピーすることにより、疑似計測結果82を得る。   FIG. 8 is a schematic diagram showing an outline of mirror copy of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG. 8, a pseudo measurement result 82 is obtained by mirror-copying a measurement result 81 measured on a cylindrical surface at a distance of 5 m from the electronic component 2 as a radiation source to a symmetrical position with the floor surface 31 in between.

そこで、計測結果81及び疑似計測結果82をまとめて1つの計測結果と考え、両者の中心点、すなわち放射源を床面に投影した位置(第三の位置)83を多重極展開時の原点、すなわち展開点として、実施の形態1の(式3)に従って、電場ベクトルEを多重極展開に基づいて求める。   Therefore, the measurement result 81 and the pseudo measurement result 82 are collectively considered as one measurement result, and the center point of both, that is, the position (third position) 83 where the radiation source is projected on the floor surface is the origin at the time of multipole deployment, That is, as an expansion point, the electric field vector E is obtained based on multipole expansion according to (Equation 3) of the first embodiment.

実施の形態1と同様に、係数算出部704は、展開点83について鏡面コピーされた円筒面における計測結果に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出する。   Similar to the first embodiment, the coefficient calculation unit 704 solves the Helmholtz equation in order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface based on the measurement result in the cylindrical surface mirror-copied with respect to the development point 83. Based on the above, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated.

電磁界推定部705は、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する。この場合、放射源から3m離れた円筒面における計測結果を鏡面コピーしているので、電界強度は鉛直方向及び水平方向で相等しく、水平成分のみ方向が逆となる。これにより、床面31における反射の条件を満たすことになる。   The electromagnetic field estimation unit 705 estimates the electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface by multipole expansion using a coefficient calculated with respect to the expansion point. In this case, since the measurement result on the cylindrical surface 3 m away from the radiation source is mirror-copied, the electric field strength is the same in the vertical direction and the horizontal direction, and only the direction of the horizontal component is reversed. Thereby, the conditions for reflection on the floor 31 are satisfied.

したがって、計測した電場の鉛直成分をEl (x,y,z)、水平成分をEh (x,y,z)とすると、鏡面コピーした電場の鉛直成分はEcp l (x,y,−z)と、水平成分はEcp h (x,y,−z)と、それぞれ表すことができるので、(式15)が成立する。 Therefore, if the vertical component of the measured electric field is E l (x, y, z) and the horizontal component is E h (x, y, z), the vertical component of the mirror-copied electric field is E cp l (x, y, z). -Z) and the horizontal component can be expressed as E cp h (x, y, -z), respectively, so (Equation 15) holds.

これを、(式3)に用いることにより、図8における展開点83を原点として、電場ベクトルEを多重極展開に基づいて算出することができる。鏡面コピーすることで、本来は計測することができない反射波成分まで考慮して、放射源から10m離れた円筒面における電界ベクトルを容易に推定することが可能となる。   By using this in (Equation 3), the electric field vector E can be calculated based on the multipole expansion with the expansion point 83 in FIG. 8 as the origin. By specular copying, it is possible to easily estimate an electric field vector on a cylindrical surface 10 m away from the radiation source in consideration of a reflected wave component that cannot be measured originally.

図9は、本発明の実施の形態2に係る電磁界解析装置1のCPU11の処理手順を示すフローチャートである。図9において、電磁界解析装置1のCPU11は、放射源である電子部品2から水平方向に5m離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する(ステップS901)。   FIG. 9 is a flowchart showing a processing procedure of the CPU 11 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG. 9, the CPU 11 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 measures the electric field strength and phase on a cylindrical surface 5 m away from the electronic component 2 that is a radiation source in the horizontal direction (step S <b> 901).

CPU11は、放射源である電子部品2が配置されている位置(第一の位置)を電波暗室の床面31に投影した位置(第三の位置)に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する(ステップS902)。CPU11は、計測結果である円筒面上の電界強度及び位相を鏡面コピーし(ステップS903)、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数、すなわちTM波の(l,m)成分の係数aM (l,m)、TE波の(l,m)成分の係数aE (l,m)を最小二乗法により決定する(ステップS904)。 The CPU 11 sets the origin of the basis function at the time of multipole expansion to the position (third position) where the position (first position) where the electronic component 2 as the radiation source is arranged is projected onto the floor 31 of the anechoic chamber. A development point is set (step S902). The CPU 11 makes a mirror copy of the electric field strength and phase on the cylindrical surface as a measurement result (step S903), and calculates the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface at the time of multipole expansion based on the solution of the Helmholtz equation. Of the TM wave, that is, the coefficient a M (l, m) of the (l, m) component of the TM wave and the coefficient a E (l, m) of the (l, m) component of the TE wave are determined by the least square method (step S904).

CPU11は、床面31での反射の条件に基づいて、半径10mの円筒面における電場ベクトルEnew (r)を算出する(ステップS905)。 The CPU 11 calculates an electric field vector E new (r) on a cylindrical surface having a radius of 10 m based on the condition of reflection on the floor surface 31 (step S905).

以上のように本実施の形態2によれば、放射源が配置されている第一の位置を電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定しておき、電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、円筒面における計測結果を鏡面コピーし、鏡面コピーされた円筒面における計測結果に基づいて、円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出し、円筒面の外側の領域における電磁界を、展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定するので、電波暗室における床面の反射波が存在する場合であっても、円筒面の外側の領域における電磁界を推定する場合に反射波による影響を考慮した電磁界を推定することが可能となる。特に周波数が比較的低い領域であっても高い精度で電磁界を推定することが可能となる。   As described above, according to the second embodiment, the origin of the basis function at the time of multipole expansion is the third position obtained by projecting the first position where the radiation source is disposed on the floor surface of the anechoic chamber. Set the development point, mirror-copy the measurement result on the cylindrical surface to a position that is symmetrical across the floor of the anechoic chamber, and based on the measurement result on the mirror-copied cylindrical surface, In order to calculate the electromagnetic field in the region, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated based on the solution of the Helmholtz equation, and the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface is multiplexed using the coefficient calculated for the expansion point. Since the electromagnetic field is estimated by polar expansion, even if there is a reflected wave on the floor surface in the anechoic chamber, the electromagnetic field considering the effect of the reflected wave when estimating the electromagnetic field in the area outside the cylindrical surface It is possible to estimate That. In particular, it is possible to estimate the electromagnetic field with high accuracy even in a region where the frequency is relatively low.

なお、上述した実施の形態1及び2で算出された電場ベクトルは、例えばシミュレーション結果として電磁界解析装置1の表示装置23に表示される。図10は、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置1の表示装置23における計測結果を表示した例示図である。図10に示すように、電界の大きさが色の変化で表示され、放射源から5m離れた位置の円筒面において、高さと位相とで区切られた格子点上に計測結果が表示されている。   The electric field vector calculated in the first and second embodiments described above is displayed on the display device 23 of the electromagnetic field analysis device 1 as a simulation result, for example. FIG. 10 is an exemplary diagram showing the measurement results on the display device 23 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to the embodiment of the present invention. As shown in FIG. 10, the magnitude of the electric field is displayed as a color change, and the measurement result is displayed on the lattice points separated by the height and the phase on the cylindrical surface at a position 5 m away from the radiation source. .

図11は、本発明の実施の形態に係る電磁界解析装置1の表示装置23における推定結果を表示した例示図である。図11に示すように、電界の大きさが色の変化で表示され、放射源から10m離れた位置の円筒面において、高さと位相とで区切られた格子点上に推定された結果が表示されている。   FIG. 11 is an exemplary view showing an estimation result on the display device 23 of the electromagnetic field analysis apparatus 1 according to the embodiment of the present invention. As shown in FIG. 11, the magnitude of the electric field is displayed as a change in color, and the estimated result is displayed on a lattice point separated by height and phase on a cylindrical surface at a position 10 m away from the radiation source. ing.

その他、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲内であれば多種の変形、置換等が可能である。例えば展開点については、実施の形態1及び2に限定されるものではなく、複数の展開点を設定するものであっても良い。したがって、実施の形態1と実施の形態2とを組み合わせて推定しても良いことは言うまでもない。なお、電磁波を測定する円筒面の距離については、上述した実施例に限定されるものではない。   In addition, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and replacements are possible within the scope of the gist of the present invention. For example, the development point is not limited to the first and second embodiments, and a plurality of development points may be set. Therefore, it goes without saying that the first embodiment and the second embodiment may be combined and estimated. In addition, about the distance of the cylindrical surface which measures electromagnetic waves, it is not limited to the Example mentioned above.

1 電磁界解析装置
2 電子部品(放射源)
5 アンテナ
11 CPU
12 メモリ
13 記憶装置
14 I/Oインタフェース
15 ビデオインタフェース
16 可搬型ディスクドライブ
17 通信インタフェース
18 内部バス
31 床面
51 第一の位置(展開点)
52 第二の位置(展開点)
83 第三の位置(展開点)
90 可搬型記録媒体
100 コンピュータプログラム
1 Electromagnetic field analyzer 2 Electronic component (radiation source)
5 Antenna 11 CPU
12 memory 13 storage device 14 I / O interface 15 video interface 16 portable disk drive 17 communication interface 18 internal bus 31 floor 51 first position (deployment point)
52 Second position (deployment point)
83 Third position (deployment point)
90 portable recording medium 100 computer program

Claims (18)

電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置において、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段と、
前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する展開点設定手段と、
計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出する係数算出手段と、
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する電磁界推定手段と
を備えることを特徴とする電磁界解析装置。
In the electromagnetic field analysis device for estimating the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave arranged in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded,
Measuring means for measuring the electric field strength and phase in a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
An expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion at a first position where the radiation source is disposed and a second position that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber Expansion point setting means for setting each,
Based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, in order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated for each of the expansion points based on the solution of the Helmholtz equation. Coefficient calculating means for calculating
An electromagnetic field estimation means for estimating an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface by superimposing electromagnetic fields obtained by multipole expansion using coefficients calculated for each of the expansion points. Electromagnetic field analyzer.
前記係数算出手段は、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することを特徴とする請求項1に記載の電磁界解析装置。   2. The electromagnetic field analysis apparatus according to claim 1, wherein the coefficient calculation unit calculates each coefficient of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method. 前記計測手段は、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することを特徴とする請求項1又は2に記載の電磁界解析装置。   3. The electromagnetic field analysis apparatus according to claim 1, wherein the measurement unit measures a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. 電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置において、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段と、
前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する展開点設定手段と、
前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーする鏡面コピー手段と、
鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出する係数算出手段と、
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する電磁界推定手段と
を備えることを特徴とする電磁界解析装置。
In the electromagnetic field analysis device for estimating the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave arranged in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded,
Measuring means for measuring the electric field strength and phase in a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
An expansion point setting means for setting an expansion point that is the origin of a basis function at the time of multipole expansion at a third position where the first position where the radiation source is disposed is projected onto the floor surface of the anechoic chamber;
Mirror surface copying means for mirror copying the measurement result on the cylindrical surface at a symmetrical position across the floor surface of the anechoic chamber,
Coefficient calculating means for calculating a coefficient at the time of multipole expansion based on a solution of the Helmholtz equation in order to calculate an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface based on a measurement result on the cylindrical surface copied by mirror surface copying; ,
An electromagnetic field analysis apparatus comprising: an electromagnetic field estimation unit that estimates an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface by multipole expansion using a coefficient calculated with respect to the expansion point.
前記係数算出手段は、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することを特徴とする請求項4に記載の電磁界解析装置。   5. The electromagnetic field analysis apparatus according to claim 4, wherein the coefficient calculating unit calculates each coefficient of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation by a least square method. 前記計測手段は、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することを特徴とする請求項4又は5に記載の電磁界解析装置。   6. The electromagnetic field analysis apparatus according to claim 4, wherein the measuring unit measures a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. 電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能な電磁界解析方法において、
前記電磁界解析装置は、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測するステップと、
前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定するステップと、
計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出するステップと、
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定するステップと
を含むことを特徴とする電磁界解析方法。
It can be executed by an electromagnetic field analyzer that estimates the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In the possible electromagnetic field analysis method,
The electromagnetic field analyzer is
Measuring the electric field strength and phase at a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
An expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion at a first position where the radiation source is disposed and a second position that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber Step for setting each,
Based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, in order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated for each of the expansion points based on the solution of the Helmholtz equation. Calculating with respect to
Estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. Field analysis method.
前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することを特徴とする請求項7に記載の電磁界解析方法。   8. The electromagnetic field analysis method according to claim 7, wherein coefficients of TM wave and TE wave in the Helmholtz equation are calculated by a least square method. 一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することを特徴とする請求項7又は8に記載の電磁界解析方法。   9. The electromagnetic field analysis method according to claim 7, wherein the phase is measured as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern oscillating at a constant frequency. 電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能な電磁界解析方法において、
前記電磁界解析装置は、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測するステップと、
前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定するステップと、
前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーするステップと、
鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出するステップと、
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定するステップと
を含むことを特徴とする電磁界解析方法。
It can be executed by an electromagnetic field analyzer that estimates the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In the possible electromagnetic field analysis method,
The electromagnetic field analyzer is
Measuring the electric field strength and phase at a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
Setting a development point, which is the origin of the basis function at the time of multipole development, to a third position where the first position where the radiation source is arranged is projected onto the floor of the anechoic chamber;
Mirror-copying the measurement result on the cylindrical surface at a symmetrical position across the floor of the anechoic chamber;
Calculating a coefficient at the time of multipole expansion based on a solution of the Helmholtz equation in order to calculate an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface, based on a measurement result in the cylindrical surface that has been specularly copied;
Estimating the electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface by multipole expansion using a coefficient calculated with respect to the expansion point.
前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出することを特徴とする請求項10に記載の電磁界解析方法。   The electromagnetic field analysis method according to claim 10, wherein the coefficients of the TM wave and the TE wave in the Helmholtz equation are calculated by a least square method. 一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測することを特徴とする請求項10又は11に記載の電磁界解析方法。   12. The electromagnetic field analysis method according to claim 10, wherein the phase is measured as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in the electric field pattern oscillating at a constant frequency. 電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記電磁界解析装置を、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段、
前記放射源が配置されている第一の位置及び該第一の位置と前記電波暗室の床面を挟んで対称となる第二の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点をそれぞれ設定する展開点設定手段、
計測された円筒面上の電界強度及び位相に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を前記展開点のそれぞれについて算出する係数算出手段、及び
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点のそれぞれに対して算出した係数を用いて多重極展開により求めた電磁界を重ね合わせて推定する電磁界推定手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
It can be executed by an electromagnetic field analyzer that estimates the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In a possible computer program,
The electromagnetic field analysis device
Measuring means for measuring electric field strength and phase on a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
An expansion point that is the origin of the basis function at the time of multipole expansion at a first position where the radiation source is disposed and a second position that is symmetrical with respect to the first position and the floor of the anechoic chamber Expansion point setting means for setting each,
Based on the measured electric field strength and phase on the cylindrical surface, in order to calculate the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface, the coefficient at the time of multipole expansion is calculated for each of the expansion points based on the solution of the Helmholtz equation. And an electromagnetic field for estimating the electromagnetic field in the region outside the cylindrical surface by superimposing the electromagnetic fields obtained by multipole expansion using the coefficients calculated for each of the expansion points. A computer program that functions as an estimation means.
前記係数算出手段を、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出する手段として機能させることを特徴とする請求項13に記載のコンピュータプログラム。   14. The computer program according to claim 13, wherein the coefficient calculation means functions as means for calculating the TM wave and TE wave coefficients in the Helmholtz equation by a least square method. 前記計測手段を、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測する手段として機能させることを特徴とする請求項13又は14に記載のコンピュータプログラム。   The computer program according to claim 13 or 14, wherein the computer program causes the measurement unit to function as a unit that measures a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency. 電磁波が遮蔽されている電波暗室内に配置されている電磁波の放射源の近傍における電磁波の計測結果に基づき、前記放射源から離れた位置での電磁波を推定する電磁界解析装置で実行することが可能なコンピュータプログラムにおいて、
前記電磁界解析装置を、
前記放射源から水平方向に一定の距離離れた円筒面における電界強度及び位相を計測する計測手段、
前記放射源が配置されている第一の位置を前記電波暗室の床面に投影した第三の位置に、多重極展開時の基底関数の原点である展開点を設定する展開点設定手段、
前記電波暗室の床面を挟んで対称となる位置に、前記円筒面における計測結果を鏡面コピーする鏡面コピー手段、
鏡面コピーされた前記円筒面における計測結果に基づいて、前記円筒面の外側の領域における電磁界を算出するために、ヘルムホルツ方程式の解に基づいて多重極展開時の係数を算出する係数算出手段、及び
前記円筒面の外側の領域における電磁界を、前記展開点に対して算出した係数を用いて多重極展開により電磁界を推定する電磁界推定手段
として機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
It can be executed by an electromagnetic field analyzer that estimates the electromagnetic wave at a position away from the radiation source based on the measurement result of the electromagnetic wave in the vicinity of the radiation source of the electromagnetic wave disposed in the anechoic chamber where the electromagnetic wave is shielded. In a possible computer program,
The electromagnetic field analysis device
Measuring means for measuring electric field strength and phase on a cylindrical surface at a certain distance in the horizontal direction from the radiation source;
An expansion point setting means for setting an expansion point that is the origin of a basis function at the time of multipole expansion at a third position where the first position where the radiation source is disposed is projected onto the floor surface of the anechoic chamber,
Mirror surface copy means for mirror copying the measurement result on the cylindrical surface at a symmetrical position across the floor surface of the anechoic chamber,
Coefficient calculation means for calculating a coefficient at the time of multipole expansion based on a solution of the Helmholtz equation in order to calculate an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface, based on a measurement result in the cylindrical surface that has been mirror-copied, A computer program for causing an electromagnetic field in a region outside the cylindrical surface to function as electromagnetic field estimation means for estimating an electromagnetic field by multipole expansion using a coefficient calculated with respect to the expansion point.
前記係数算出手段を、前記ヘルムホルツ方程式におけるTM波及びTE波のそれぞれの係数を最小二乗法により算出する手段として機能させることを特徴とする請求項16に記載のコンピュータプログラム。   The computer program according to claim 16, wherein the coefficient calculation means functions as means for calculating coefficients of TM waves and TE waves in the Helmholtz equation by a least square method. 前記計測手段を、一定周波数で振動する電界パターンにおける、一周期中で電界が最大になる角度として位相を計測する手段として機能させることを特徴とする請求項16又は17に記載のコンピュータプログラム。   18. The computer program according to claim 16, wherein the computer program causes the measurement unit to function as a unit that measures a phase as an angle at which the electric field becomes maximum in one period in an electric field pattern that vibrates at a constant frequency.
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