JP2017068244A - Method and device for inspecting polarizing plate - Google Patents
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Abstract
【課題】長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板の外観を好適に検査する方法を提供すること。【解決手段】長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法であって、該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む、検査方法。【選択図】図４An object of the present invention is to provide a method for suitably inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in a long direction. A method of inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in a long direction while transporting the polarizing plate in the long direction. Capturing the image data to obtain image data; analyzing the image data to extract a defect candidate portion; determining whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value; Detecting a defect based on the size of the defect. [Selection diagram] FIG.
Description
本発明は、非偏光部を有する偏光板の検査方法および検査装置に関する。代表的には、非偏光部を有する偏光子を含む偏光板の検査方法および検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a polarizing plate having a non-polarizing portion. Typically, the present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a polarizing plate including a polarizer having a non-polarizing portion.
携帯電話、ノート型パーソナルコンピューター（ＰＣ）等の画像表示装置には、カメラ等の内部電子部品が搭載されているものがある。このような画像表示装置のカメラ性能等の向上を目的として、種々の検討がなされている（例えば、特許文献１〜７）。しかし、スマートフォン、タッチパネル式の情報処理装置の急速な普及により、カメラ性能等のさらなる向上が望まれている。また、画像表示装置の形状の多様化および高機能化に対応するために、部分的に偏光性能を有する偏光板が求められている。これらの要望を工業的および商業的に実現するためには許容可能なコストで画像表示装置および／またはその部品を製造することが望まれるところ、そのような技術を確立するためには種々の検討事項が残されている。 Some image display devices such as mobile phones and notebook personal computers (PCs) are equipped with internal electronic components such as cameras. Various studies have been made for the purpose of improving the camera performance and the like of such an image display device (for example, Patent Documents 1 to 7). However, with the rapid spread of smartphones and touch panel type information processing devices, further improvements in camera performance and the like are desired. Further, in order to cope with diversification and high functionality of the shape of the image display device, there is a demand for a polarizing plate partially having polarization performance. In order to realize these demands industrially and commercially, it is desired to manufacture an image display device and / or its components at an acceptable cost. Matters are left behind.
本発明者らが、部分的に偏光性能を有する偏光板として、非偏光部を有する偏光子を用いて偏光板を作製し、得られた偏光板を外観検査に供したところ、非偏光部が誤って欠陥として検出されるという問題に直面した。本発明は、当該問題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、非偏光部を有する偏光子を含み、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板の外観を好適に検査する方法を提供することにある。 The present inventors made a polarizing plate using a polarizer having a non-polarizing portion as a polarizing plate having partially polarizing performance, and subjected the obtained polarizing plate to an appearance inspection. Faced with the problem of being mistakenly detected as a defect. The present invention has been made in order to solve the problem, and its main object is to include a polarizer having a non-polarizing portion and a long length having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction. Another object of the present invention is to provide a method for suitably inspecting the appearance of a polarizing plate.
本発明によれば、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法が提供される。該検査方法は、該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、該欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、該欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む。
１つの実施形態においては、上記偏光板が、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。
１つの実施形態においては、上記画像データの取得が、上記偏光板の連続的な撮像に基づいて行われる。
１つの実施形態においては、上記欠陥候補部の抽出が、上記画像データの輝度情報に基づいて行われる。
１つの実施形態においては、上記欠陥候補部が上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程をさらに含み、上記欠陥を検出する工程が、上記欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する工程である。
１つの実施形態においては、上記基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、上記長尺方向に周期性を有するか否かを判断する。
１つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、上記欠陥候補部の長尺方向における位置座標に基づいて行われる。
１つの実施形態においては、上記欠陥候補部の周期性の有無の判断が、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部との長尺方向の距離が、所定の距離であるか否かに基づいて行われる。
本発明の別の局面によれば、偏光板の製造方法が提供される。該製造方法は、上記検査方法によって偏光板を検査することを含む。
本発明のさらに別の局面によれば、長尺状の偏光板の外観検査装置が提供される。該外観検査装置は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を撮像して画像データを取得する撮像装置と、該画像データを解析して該偏光板の欠陥を検出する画像解析装置と、を備える。該画像解析装置が、該画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部と、欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部と、を有する。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the method of test | inspecting the external appearance, conveying the elongate polarizing plate which has the non-polarizing part arrange | positioned by the predetermined space | interval in the elongate direction in this elongate direction is provided. The inspection method includes a step of capturing the polarizing plate to acquire image data, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, and whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value. And a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion.
In one embodiment, the polarizing plate has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and the width direction.
In one embodiment, acquisition of the image data is performed based on continuous imaging of the polarizing plate.
In one embodiment, the defect candidate part is extracted based on the luminance information of the image data.
In one embodiment, the method further includes a step of determining whether the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction, and the step of detecting the defect includes the size and periodicity of the defect candidate portion. This is a step of detecting a defect based on the presence or absence.
In one embodiment, it is determined whether only the defect candidate portion having a size exceeding the reference value has periodicity in the longitudinal direction.
In one embodiment, the determination of the presence or absence of the periodicity of the defect candidate portion is performed based on the position coordinates of the defect candidate portion in the longitudinal direction.
In one embodiment, the determination of the presence or absence of periodicity of the defect candidate portion is performed by determining whether the distance in the longitudinal direction between the defect candidate portion to be determined and the non-polarizing portion existing upstream in the transport direction is a predetermined value. It is performed based on whether or not it is a distance.
According to another situation of this invention, the manufacturing method of a polarizing plate is provided. The manufacturing method includes inspecting the polarizing plate by the above inspection method.
According to still another aspect of the present invention, an appearance inspection apparatus for a long polarizing plate is provided. The visual inspection device includes an imaging device that captures an image of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and acquires image data, and the polarization obtained by analyzing the image data. An image analysis device for detecting defects on the plate. A defect candidate part extracting unit for extracting a defect candidate part based on the image data; a size determining unit for determining whether the defect candidate part has a size equal to or smaller than a reference value; and a defect candidate part. Detects defects based on the periodicity determination unit that determines whether or not the image has periodicity in the longitudinal direction and the size of the defect candidate portion, or the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity Part.
本発明の検査方法によれば、非偏光部を誤って欠陥として検出することを回避し得るので、非偏光部を有する偏光子を含み、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板の外観を好適に検査することができる。 According to the inspection method of the present invention, it is possible to avoid erroneously detecting a non-polarizing part as a defect. Therefore, a non-polarizing part including a polarizer having a non-polarizing part and arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction. The appearance of the long polarizing plate having the above can be suitably inspected.
［Ａ．検査方法および検査装置］
本発明は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する長尺状の偏光板を、該長尺方向に搬送しながらその外観を検査する方法を提供する。本発明の検査方法は、非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、を含む。欠陥を検出する工程においては、例えば、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部を非偏光部と認識して区別し、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出することができる。
[A. Inspection method and inspection apparatus]
The present invention provides a method for inspecting the appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction while being conveyed in the long direction. The inspection method of the present invention includes a step of imaging a polarizing plate having a non-polarizing portion to acquire image data, a step of analyzing the image data to extract a defect candidate portion, and the defect candidate portion is equal to or less than a reference value. A step of determining whether or not it has a size and a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion. In the step of detecting a defect, for example, a defect candidate portion having a size exceeding the reference value can be recognized and distinguished as a non-polarized portion, and a defect candidate portion having a size equal to or smaller than the reference value can be detected as a defect.
本発明の検査方法は、欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程をさらに含み得る。この場合、上記欠陥を検出する工程において、欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する。より具体的には、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出するととも、周期性を有さない欠陥候補部も欠陥として検出する。欠陥候補部をサイズと周期性との２つの側面から評価することにより、検査精度を向上することができる。検査効率の観点からは、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部についてのみ、周期性の有無を判断することが好ましい。この場合、基準値以下のサイズを有する全ての欠陥候補部を欠陥として検出するとともに、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部については、周期性を有さないもののみを欠陥として検出する。 The inspection method of the present invention may further include a step of determining whether the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction. In this case, in the step of detecting the defect, the defect is detected based on the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity. More specifically, a defect candidate portion having a size equal to or smaller than the reference value is detected as a defect, and a defect candidate portion having no periodicity is also detected as a defect. The inspection accuracy can be improved by evaluating the defect candidate portion from two aspects of size and periodicity. From the viewpoint of inspection efficiency, it is preferable to determine the presence or absence of periodicity only for defect candidate portions having a size exceeding the reference value. In this case, all defect candidate portions having a size equal to or smaller than the reference value are detected as defects, and only defect candidates having a size exceeding the reference value are detected as defects.
Ａ−１．偏光板
本発明の検査方法に供される偏光板は、長尺状であり、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。該非偏光部は、代表的には、偏光子に形成された非偏光部に起因する。なお、本明細書において「長尺状」とは、幅に対して長さが十分に長い細長形状を意味し、例えば、幅に対して長さが１０倍以上、好ましくは２０倍以上の細長形状を含む。
A-1. Polarizing plate The polarizing plate used in the inspection method of the present invention is long and has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction. The non-polarizing portion is typically caused by a non-polarizing portion formed in the polarizer. In the present specification, the “long shape” means an elongated shape having a sufficiently long length with respect to the width, for example, an elongated shape having a length of 10 times or more, preferably 20 times or more with respect to the width. Includes shape.
図１は、本発明の検査方法に供され得る偏光板の概略断面図である。偏光板３０は、非偏光部を有する偏光子１０と、偏光子１０の両側に配置された保護フィルム１１、１２と、を有する。図示例では、偏光子の両側に保護フィルムが配置されているが、片側にのみ保護フィルムが配置されていてもよい。あるいは、偏光板は偏光子のみから構成されていてもよい（すなわち、偏光板は偏光子であってもよい）。 FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a polarizing plate that can be used in the inspection method of the present invention. The polarizing plate 30 includes a polarizer 10 having a non-polarizing part, and protective films 11 and 12 disposed on both sides of the polarizer 10. In the illustrated example, the protective film is disposed on both sides of the polarizer, but the protective film may be disposed only on one side. Alternatively, the polarizing plate may be composed only of a polarizer (that is, the polarizing plate may be a polarizer).
偏光子１０は、代表的には、二色性物質を含む樹脂フィルムで構成される。偏光板３０が長尺状であることから、偏光子１０もまた長尺状である。偏光子１０は、長尺方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。１つの実施形態において、偏光子１０は、長尺方向および幅方向に所定の間隔で配置された非偏光部を有する。非偏光部の配置パターンは、目的に応じて適切に設定され得る。代表的には、上記非偏光部は、偏光子を所定サイズの画像表示装置に取り付けるために所定サイズに裁断（例えば、長尺方向および／または幅方向への切断、打ち抜き）した際に、該画像表示装置のカメラ部に対応する位置に配置され得る。１つの実施形態においては、非偏光部は長尺方向および幅方向のいずれにおいても実質的に等間隔で配置される。なお、「長尺方向および幅方向のいずれにおいても実質的に等間隔」とは、長尺方向の間隔が等間隔であり、かつ、幅方向の間隔が等間隔であることを意味し、長尺方向の間隔と幅方向の間隔とが等しい必要はない。別の実施形態においては、非偏光部は、長尺方向に実質的に等間隔で配置され、かつ、幅方向に異なる間隔で配置されてもよい。幅方向において非偏光部が異なる間隔で配置される場合、隣接する非偏光部の間隔はすべて異なっていてもよく、一部（特定の隣接する非偏光部の間隔）のみが異なっていてもよい。また、偏光子の長尺方向に複数の領域を規定し、それぞれの領域ごとに長尺方向および／または幅方向における非偏光部の間隔を設定してもよい。 The polarizer 10 is typically composed of a resin film containing a dichroic substance. Since the polarizing plate 30 is long, the polarizer 10 is also long. The polarizer 10 has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction. In one embodiment, the polarizer 10 has non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction and the width direction. The arrangement pattern of the non-polarizing parts can be appropriately set according to the purpose. Typically, the non-polarizing portion is formed when the polarizer is cut to a predetermined size (for example, cutting and punching in the longitudinal direction and / or the width direction) in order to attach the polarizer to an image display device of a predetermined size. It may be arranged at a position corresponding to the camera unit of the image display device. In one embodiment, the non-polarizing portions are arranged at substantially equal intervals in both the longitudinal direction and the width direction. Note that “substantially equidistant in both the longitudinal direction and the width direction” means that the spacing in the longitudinal direction is equal and the spacing in the width direction is equal. The interval in the scale direction and the interval in the width direction need not be equal. In another embodiment, the non-polarizing portions may be arranged at substantially equal intervals in the longitudinal direction and at different intervals in the width direction. When the non-polarizing portions are arranged at different intervals in the width direction, the intervals between adjacent non-polarizing portions may be all different, or only a part (the interval between specific adjacent non-polarizing portions) may be different. . Further, a plurality of regions may be defined in the longitudinal direction of the polarizer, and the interval between the non-polarizing portions in the longitudinal direction and / or the width direction may be set for each region.
図２Ａ〜Ｃはそれぞれ、偏光子１０における非偏光部の配置パターンの一例を説明する概略平面図である。１つの実施形態においては、非偏光部１０ａは、図２Ａに示すように、長尺方向において隣接する非偏光部を結ぶ直線が、長尺方向に対して実質的に平行であり、ならびに、幅方向において隣接する非偏光部を結ぶ直線が、幅方向に対して実質的に平行であるように配置される。 2A to 2C are schematic plan views for explaining an example of an arrangement pattern of non-polarizing portions in the polarizer 10. In one embodiment, as shown in FIG. 2A, the non-polarizing portion 10a has a straight line connecting adjacent non-polarizing portions in the longitudinal direction substantially parallel to the longitudinal direction, and a width. A straight line connecting adjacent non-polarizing portions in the direction is arranged so as to be substantially parallel to the width direction.
非偏光部の平面視形状は、目的に応じて任意の適切な形状が採用され得る。例えば、非偏光部の平面視形状は、偏光子が用いられる画像表示装置のカメラ性能に悪影響を与えない限りにおいて、任意の適切な形状が採用され得る。図示例の非偏光部は円形であるが、例えば、楕円形、正方形、矩形、ひし形等に形成されていてもよい。 Any appropriate shape can be adopted as the planar view shape of the non-polarizing part depending on the purpose. For example, any appropriate shape can be adopted as the planar view shape of the non-polarizing part as long as it does not adversely affect the camera performance of the image display device using the polarizer. The non-polarizing portion in the illustrated example is circular, but may be formed in, for example, an elliptical shape, a square shape, a rectangular shape, a diamond shape, or the like.
非偏光部の透過率（例えば、２３℃における波長５５０ｎｍの光で測定した透過率）は、好ましくは５０％以上であり、より好ましくは６０％以上であり、さらに好ましくは７５％以上であり、特に好ましくは９０％以上である。このような透過率であれば、例えば、非偏光部が画像表示装置のカメラ部に対応するよう偏光子を配置した場合に、カメラの撮影性能に対する悪影響を防止することができる。 The transmittance of the non-polarizing part (for example, the transmittance measured with light having a wavelength of 550 nm at 23 ° C.) is preferably 50% or more, more preferably 60% or more, further preferably 75% or more, Particularly preferably, it is 90% or more. With such a transmittance, for example, when a polarizer is arranged so that the non-polarizing part corresponds to the camera part of the image display device, it is possible to prevent an adverse effect on the photographing performance of the camera.
非偏光部は、任意の適切な形態であり得る。１つの実施形態においては、非偏光部は、部分的に脱色された脱色部である。脱色部は、例えば、レーザー照射または化学処理により形成される。別の実施形態においては、非偏光部は貫通穴である。貫通穴は、例えば、機械的打ち抜き（例えば、パンチング、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット）または所定部分の除去（例えば、レーザーアブレーションまたは化学的溶解）により形成される。 The non-polarizing part can be in any suitable form. In one embodiment, the non-polarizing part is a partially bleached decoloring part. The decolorization part is formed by, for example, laser irradiation or chemical treatment. In another embodiment, the non-polarizing part is a through hole. The through hole is formed by, for example, mechanical punching (for example, punching, Thomson blade punching, plotter, water jet) or removal of a predetermined portion (for example, laser ablation or chemical dissolution).
保護フィルム１１、１２の形成材料としては、例えば、ジアセチルセルロース、トリアセチルセルロース等のセルロース系樹脂、（メタ）アクリル系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、ポリプロピレン等のオレフィン系樹脂、ポリエチレンテレフタレート系樹脂等のエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、これらの共重合体樹脂等が挙げられる。目的や所望の構成に応じて、保護フィルム１１、１２の一方は省略してもよい。 Examples of the material for forming the protective films 11 and 12 include cellulose resins such as diacetyl cellulose and triacetyl cellulose, (meth) acrylic resins, cycloolefin resins, olefin resins such as polypropylene, and polyethylene terephthalate resins. Examples thereof include ester resins, polyamide resins, polycarbonate resins, and copolymer resins thereof. One of the protective films 11 and 12 may be omitted depending on the purpose and desired configuration.
保護フィルムの厚みは、代表的には１０μｍ〜１００μｍである。保護フィルムは、代表的には、接着層（具体的には、接着剤層、粘着剤層）を介して偏光子に積層される。接着剤層は、代表的にはＰＶＡ系接着剤や活性エネルギー線硬化型接着剤で形成される。粘着剤層は、代表的にはアクリル系粘着剤で形成される。 The thickness of the protective film is typically 10 μm to 100 μm. The protective film is typically laminated on the polarizer via an adhesive layer (specifically, an adhesive layer or an adhesive layer). The adhesive layer is typically formed of a PVA adhesive or an active energy ray curable adhesive. The pressure-sensitive adhesive layer is typically formed of an acrylic pressure-sensitive adhesive.
実用的には、偏光板３０は、最外層として粘着剤層１３を有する。粘着剤層１３は、代表的には画像表示装置側の最外層となる。粘着剤層１３には、セパレーター１４が剥離可能に仮着され、実際の使用まで粘着剤層を保護するとともに、ロール形成を可能としている。 Practically, the polarizing plate 30 has the pressure-sensitive adhesive layer 13 as the outermost layer. The pressure-sensitive adhesive layer 13 is typically the outermost layer on the image display device side. The separator 14 is temporarily attached to the pressure-sensitive adhesive layer 13 so that the pressure-sensitive adhesive layer 13 can be peeled off, and the pressure-sensitive adhesive layer is protected until actual use and roll formation is possible.
偏光板３０は、目的に応じて任意の適切な光学機能層をさらに有していてもよい。光学機能層の代表例としては、位相差フィルム（光学補償フィルム）、表面処理層が挙げられる。例えば、保護フィルム１２と粘着剤層１３との間に位相差フィルムが配置され得る（図示せず）。位相差フィルムの光学特性（例えば、屈折率楕円体、面内位相差、厚み方向位相差）は、目的、画像表示装置の特性等に応じて適切に設定され得る。 The polarizing plate 30 may further include any appropriate optical function layer depending on the purpose. Representative examples of the optical functional layer include a retardation film (optical compensation film) and a surface treatment layer. For example, a retardation film may be disposed between the protective film 12 and the pressure-sensitive adhesive layer 13 (not shown). The optical characteristics (for example, refractive index ellipsoid, in-plane retardation, thickness direction retardation) of the retardation film can be appropriately set according to the purpose, characteristics of the image display device, and the like.
表面処理層は、保護フィルム１１の外側に配置され得る（図示せず）。表面処理層の代表例としては、ハードコート層、反射防止層、アンチグレア層が挙げられる。表面処理層は、例えば、偏光子の加湿耐久性を向上させる目的で透湿度の低い層であることが好ましい。表面処理層を設ける代わりに、保護フィルム１１の表面に同様の表面処理を施してもよい。 The surface treatment layer may be disposed outside the protective film 11 (not shown). Typical examples of the surface treatment layer include a hard coat layer, an antireflection layer, and an antiglare layer. For example, the surface treatment layer is preferably a layer having a low moisture permeability for the purpose of improving the humidification durability of the polarizer. Instead of providing the surface treatment layer, the surface of the protective film 11 may be subjected to the same surface treatment.
Ａ−２．検査装置
図３は、本発明の検査方法に用いられ得る検査装置を説明する概略図である。図示した実施形態においては、長尺状の偏光板３０が検査装置１００に搬送されて外観検査が行われる。検査装置１００は、偏光板３０を撮像して画像データを取得する撮像装置５０と、得られた画像データを解析して該偏光板３０の欠陥を検出する画像解析装置８０と、を備える。画像解析装置８０は、得られた画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部８２と、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部８４と、欠陥候補部が長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部８６と、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部８８と、を有する。
A-2. Inspection Device FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an inspection device that can be used in the inspection method of the present invention. In the illustrated embodiment, the long polarizing plate 30 is conveyed to the inspection apparatus 100 for visual inspection. The inspection apparatus 100 includes an imaging device 50 that captures an image of the polarizing plate 30 to acquire image data, and an image analysis device 80 that analyzes the obtained image data and detects defects in the polarizing plate 30. The image analysis device 80 includes a defect candidate portion extraction unit 82 that extracts a defect candidate portion based on the obtained image data, a size determination unit 84 that determines whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value, and The defect determination unit 86 determines whether the defect candidate part has periodicity in the longitudinal direction, and the defect based on the size of the defect candidate part, or the size of the defect candidate part and the presence / absence of periodicity. And a defect detection unit 88 to detect.
Ａ−３．画像データを取得する工程（１）
工程（１）は、撮像装置５０を用いて、上記非偏光部を有する偏光板を撮像して画像データを得ることにより行われ得る。撮像装置５０は、代表的には、照明部５２と撮像部５４とを備える。
A-3. Step of acquiring image data (1)
Step (1) can be performed by capturing an image of the polarizing plate having the non-polarizing portion by using the imaging device 50 to obtain image data. The imaging device 50 typically includes an illumination unit 52 and an imaging unit 54.
照明部５２は、任意の適切な光源を用いて構成され得る。光源は、白色光源であってもよく、単色光源であってもよい。光源の具体例としては、蛍光灯、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、ＬＥＤ等が挙げられる。 The illumination unit 52 can be configured using any appropriate light source. The light source may be a white light source or a monochromatic light source. Specific examples of the light source include a fluorescent lamp, a halogen lamp, a metal halide lamp, and an LED.
撮像部５４は、代表的には、レンズおよびイメージセンサを用いて構成されたカメラである。撮像部は、好ましくは偏光板の全幅が撮像可能となるように１つまたは複数設けられる。また、撮像部は、好ましくは長尺方向に連続した画像を撮像可能とされている。１つの実施形態において、撮像部は、ラインセンサカメラである。 The imaging unit 54 is typically a camera configured using a lens and an image sensor. One or a plurality of imaging units are preferably provided so that the entire width of the polarizing plate can be imaged. The imaging unit is preferably capable of capturing images that are continuous in the longitudinal direction. In one embodiment, the imaging unit is a line sensor camera.
図３に示す実施形態においては、上記偏光板の一方の側に配置された照明部５２から偏光板３０に対して光を照射し、偏光板３０の他方の側に照明部５２と対向するように配置された撮像部５４によって偏光板３０を透過した光を撮像する。透過光を撮像することにより、非偏光部に対応する領域の輝度が他の部分に対応する領域の輝度よりも高い像が得られ得る。 In the embodiment shown in FIG. 3, light is applied to the polarizing plate 30 from the illumination unit 52 disposed on one side of the polarizing plate, and the other side of the polarizing plate 30 is opposed to the illumination unit 52. The light that has passed through the polarizing plate 30 is imaged by the imaging unit 54 disposed in the position. By imaging the transmitted light, it is possible to obtain an image in which the luminance of the region corresponding to the non-polarizing portion is higher than the luminance of the region corresponding to the other portion.
別の実施形態（図示せず）においては、上記偏光板の一方の側に照明部と撮像部を配置し、該照明部から偏光板に対して斜め方向から光を照射し、照明部と同じ側に配置された撮像部によって偏光板に反射された光を撮像する。 In another embodiment (not shown), an illumination unit and an imaging unit are arranged on one side of the polarizing plate, and light is irradiated from the illumination unit to the polarizing plate from an oblique direction, which is the same as the illumination unit. The light reflected by the polarizing plate is imaged by the imaging unit arranged on the side.
さらに別の実施形態（図示せず）においては、上記偏光板の一方の側に照明部と撮像部とを配置し、該撮像部のカメラの光軸と照射光の光軸とが一致するように、偏光板に対して垂直に光を照射し、その反射光を撮像する。 In yet another embodiment (not shown), an illumination unit and an imaging unit are arranged on one side of the polarizing plate so that the optical axis of the camera of the imaging unit and the optical axis of the irradiation light coincide. Then, light is irradiated perpendicularly to the polarizing plate, and the reflected light is imaged.
非偏光部の形態（脱色部、貫通孔等）、偏光板の構成等に応じて適切な撮像方法を選択して偏光板を撮像することにより、非偏光部に対応する領域の輝度とその他の部分に対応する領域の輝度との差が大きい（結果として、コントラスト比が大きい）画像が得られ得る。偏光板の撮像は、上記実施形態のいずれか１つに従って行われてもよく、２つ以上の実施形態を組み合わせて行ってもよい。 By selecting an appropriate imaging method according to the form of the non-polarizing part (decolorization part, through-hole, etc.), the configuration of the polarizing plate, etc., and imaging the polarizing plate, the brightness of the region corresponding to the non-polarizing part and other An image having a large difference from the luminance of the region corresponding to the portion (as a result, the contrast ratio is large) can be obtained. Imaging of the polarizing plate may be performed according to any one of the above embodiments, or may be performed by combining two or more embodiments.
好ましくは、長尺状の偏光板を長尺方向に搬送しながら撮像を行う。搬送しながら撮像を行うことにより、製造ラインの停止を回避して製造効率を維持し得る。 Preferably, imaging is performed while a long polarizing plate is conveyed in the long direction. By performing imaging while transporting, it is possible to avoid the stop of the production line and maintain the production efficiency.
Ａ−４．欠陥候補部を抽出する工程（２）
撮像装置５０によって得られた画像データは、電気信号として画像解析装置８０に送信される。送信された画像データは、欠陥候補部抽出部８２によって解析され、これにより、欠陥候補部が抽出される。
A-4. Step of extracting defect candidate part (2)
Image data obtained by the imaging device 50 is transmitted to the image analysis device 80 as an electrical signal. The transmitted image data is analyzed by the defect candidate part extraction unit 82, and thereby the defect candidate part is extracted.
１つの実施形態においては、画像データの輝度情報に基づいて欠陥候補部を抽出する。具体的には、予め正常な偏光板を撮像して正常と判定される輝度基準を設定し、該基準に基づいて欠陥候補部を抽出する。例えば、正常と判定される輝度の上限を超える高輝度部、正常と判定される輝度の下限を超える低輝度部等を欠陥候補部と判定し得る。異物、気泡、ピンホール等の外観不良の原因となる欠陥部は、通常、偏光板の正常領域と透過率、反射率等が異なることから、上記のような輝度基準により欠陥候補部として抽出される。一方、得られた画像データにおいては、非偏光部に対応する領域も、その他の部分に対応する領域と透過率、反射率等が異なることから欠陥候補部として抽出され得る。 In one embodiment, a defect candidate part is extracted based on luminance information of image data. Specifically, a luminance standard that is determined to be normal is set by imaging a normal polarizing plate in advance, and a defect candidate portion is extracted based on the standard. For example, a high luminance part exceeding the upper limit of the luminance determined to be normal, a low luminance part exceeding the lower limit of the luminance determined to be normal, and the like can be determined as the defect candidate part. Defects that cause poor appearance such as foreign objects, bubbles, and pinholes are usually extracted as defect candidate parts based on the luminance standard as described above because the transmittance, reflectance, etc. are different from the normal area of the polarizing plate. The On the other hand, in the obtained image data, the region corresponding to the non-polarized portion can also be extracted as a defect candidate portion because the transmittance, reflectance, etc. are different from the regions corresponding to other portions.
欠陥候補抽出部８２は、好ましくは欠陥候補部の位置情報（例えば、長尺方向に連続した画像における長尺方向および幅方向の位置座標(Ｘ，Ｙ)）を記憶し、周期性判断部８６に送信する。 The defect candidate extraction unit 82 preferably stores position information of the defect candidate portion (for example, position coordinates (X, Y) in the longitudinal direction and the width direction in an image continuous in the longitudinal direction), and the periodicity determination unit 86. Send to.
Ａ−５．欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程（３）
欠陥候補部抽出部８２によって欠陥候補部が抽出されると、抽出された個々の欠陥候補部について、サイズ判断部８４でそのサイズを決定し、さらには、そのサイズが基準値以下であるか否かを判断する。
A-5. Step (3) for determining whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value
When the defect candidate part is extracted by the defect candidate part extracting unit 82, the size determining unit 84 determines the size of each extracted defect candidate part, and further, whether the size is equal to or smaller than a reference value. Determine whether.
欠陥候補部のサイズの決定は任意の適切な方法によって行われ得る。例えば、画像データ中における欠陥候補部の画素数、径、面積等に基づいてサイズを決定することができる。欠陥候補部の径は、代表的には、画像データにおいて、欠陥候補部の外周上の任意の２点を結ぶ直線のうち、もっとも長いものの長さを径として決定され得る。面積は、画素数または径に基づいて算出され得る。 The size of the defect candidate portion can be determined by any appropriate method. For example, the size can be determined based on the number of pixels, the diameter, the area, and the like of the defect candidate portion in the image data. The diameter of the defect candidate portion can be typically determined by using the length of the longest of straight lines connecting two arbitrary points on the outer periphery of the defect candidate portion as the diameter in the image data. The area can be calculated based on the number of pixels or the diameter.
上記基準値は、任意の適切な方法によって決定され得る。例えば、上記基準値は、非偏光部のサイズに基づいて決定され得る。例えば、径によってサイズを判断する場合、上記基準値（径の基準値）は、以下のようにして決定することができる。すなわち、設計上の非偏光部の形状および寸法に基づいて非偏光部の径（理論値）を算出するか、あるいは、実際に偏光子に形成された非偏光部の径（実測値）を測定し、得られた非偏光部の径の例えば９０％、好ましくは９５％を基準値とすることができる。また、例えば、欠陥の平均サイズが非偏光部のサイズに比べて十分に小さい場合（例えば、欠陥の平均径が非偏光部の径の１／８以下である場合）、上記基準値は、非偏光部の径の１／４〜１／２の値とすることができる。具体例として、非偏光部の径が２８００μｍ程度であり、欠陥の平均径が１５０μｍ〜３００μｍである場合、上記基準値を１０００μｍ程度とすることができる。 The reference value can be determined by any suitable method. For example, the reference value can be determined based on the size of the non-polarizing part. For example, when determining the size based on the diameter, the reference value (reference value of the diameter) can be determined as follows. In other words, the diameter (theoretical value) of the non-polarizing part is calculated based on the design shape and dimensions of the non-polarizing part, or the diameter (actually measured value) of the non-polarizing part actually formed on the polarizer is measured. For example, 90%, preferably 95% of the diameter of the obtained non-polarizing part can be used as the reference value. In addition, for example, when the average size of defects is sufficiently smaller than the size of the non-polarizing portion (for example, when the average diameter of the defects is 1/8 or less of the diameter of the non-polarizing portion), the reference value is The value can be set to 1/4 to 1/2 of the diameter of the polarizing portion. As a specific example, when the diameter of the non-polarizing part is about 2800 μm and the average diameter of the defects is 150 μm to 300 μm, the reference value can be about 1000 μm.
Ａ−６．欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する工程（４）
周期性判断部８６は、抽出された欠陥候補部の全てを周期性の判断対象としてもよく、サイズ判断部８４において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象としてもよい。好ましくは、サイズ判断部８４において基準値を超えるサイズを有することが確認された欠陥候補部のみを判断対象とする。
A-6. Step (4) for determining whether the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction
The periodicity determination unit 86 may set all of the extracted defect candidate portions as the determination targets of periodicity, and only the defect candidate portions that have been confirmed by the size determination unit 84 to have a size exceeding the reference value are determined as the determination targets. Also good. Preferably, only a defect candidate portion that has been confirmed by the size determination unit 84 to have a size exceeding the reference value is set as a determination target.
１つの実施形態においては、３つ以上の欠陥候補部が任意の方向に伸びる直線上に等間隔に存在するとき、これらの欠陥候補部は周期性を有すると判断することができる。 In one embodiment, when three or more defect candidate portions exist at equal intervals on a straight line extending in an arbitrary direction, it can be determined that these defect candidate portions have periodicity.
検査対象の偏光板においては、少なくとも長尺方向に所定の間隔で非偏光部が配置されていることから、長尺方向における非偏光部間の間隔に基づいて周期性を判断することができる。よって、偏光板表面における判断対象の欠陥候補部の位置を決定し、上記所定の間隔で存在するものをスクリーニングすること等により、周期性の有無を効率的に判断することができる。 In the polarizing plate to be inspected, since the non-polarizing portions are arranged at a predetermined interval at least in the longitudinal direction, the periodicity can be determined based on the interval between the non-polarizing portions in the longitudinal direction. Therefore, the presence / absence of periodicity can be efficiently determined by determining the position of the defect candidate portion to be determined on the surface of the polarizing plate and screening for those present at the predetermined intervals.
１つの実施形態においては、欠陥候補部の周期性の有無の判断は、欠陥候補部の位置座標（例えば、長尺方向における位置座標）に基づいて行われる。例えば、欠陥候補部抽出部から送信される欠陥候補部（例えば長尺方向に２つ以上、好ましくは３つ以上隣接する欠陥候補部）の位置座標を、設計上（理論上）の非偏光部の位置座標と照らし合わせ、位置座標が一致した場合には、該欠陥候補部は周期性を有すると判断できる。また、例えば、欠陥候補部抽出部から送信される欠陥候補部の長尺方向の位置座標に基づいて、判断対象の欠陥候補部と、その搬送方向上流側に存在する非偏光部（欠陥ではないとの判断済みの欠陥候補部であり得る）との長尺方向の距離を求め、該距離が、所定の距離であるか否かに基づいて行われる。該距離は、例えば、長尺方向における非偏光部の配置間隔（すなわち、上記長尺方向における所定の間隔）、または、該所定の間隔を整数倍した距離であり得る。 In one embodiment, the determination of the presence or absence of the periodicity of the defect candidate portion is performed based on the position coordinates of the defect candidate portion (for example, position coordinates in the longitudinal direction). For example, the design (theoretical) non-polarization part is used for the position coordinates of the defect candidate part (for example, two or more defect candidate parts adjacent in the longitudinal direction, preferably three or more defect candidate parts) transmitted from the defect candidate part extraction unit. When the position coordinates coincide with each other, it can be determined that the defect candidate portion has periodicity. Further, for example, based on the position coordinate in the longitudinal direction of the defect candidate part transmitted from the defect candidate part extracting unit, the defect candidate part to be determined and the non-polarized part existing on the upstream side in the transport direction (not a defect) The distance in the longitudinal direction is determined based on whether or not the distance is a predetermined distance. The distance may be, for example, an arrangement interval of the non-polarizing parts in the longitudinal direction (that is, a predetermined interval in the longitudinal direction) or a distance obtained by multiplying the predetermined interval by an integer.
Ａ−７．欠陥を検出する工程（５）
欠陥検出部８８は、欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する。具体的には、欠陥検出部８８は、サイズ判断部８４において基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部を欠陥として検出する。欠陥検出部８８はさらに、周期性判断部８６において周期性を有すると判断された欠陥候補部を非偏光部と認識して欠陥候補部と区別し、残りの欠陥候補部を欠陥として検出することができる。換言すれば、欠陥検出部８８は、基準値以下のサイズを有すると判断された欠陥候補部および周期性を有さないと判断された欠陥候補部を欠陥として検出し得る。
A-7. Defect detection step (5)
The defect detection unit 88 detects a defect based on the size of the defect candidate part or the size of the defect candidate part and the presence / absence of periodicity. Specifically, the defect detection unit 88 detects a defect candidate portion that has been determined by the size determination unit 84 as having a size equal to or smaller than the reference value as a defect. The defect detection unit 88 further recognizes the defect candidate portion determined to have periodicity by the periodicity determination unit 86 as a non-polarization portion, distinguishes it from the defect candidate portion, and detects the remaining defect candidate portions as defects. Can do. In other words, the defect detection unit 88 can detect a defect candidate portion determined to have a size equal to or smaller than the reference value and a defect candidate portion determined to have no periodicity as defects.
図４は、本発明の１つの実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。図４に示す実施形態においては、まず、偏光板の画像データを取得する（上記工程（１））。次いで、画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する（上記工程（２））。次いで、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断し（上記工程（３））、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部を非偏光部と判断する一方で、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部を欠陥として検出する（上記工程（５））。 FIG. 4 is a flowchart for explaining a specific procedure of defect detection in one embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. 4, first, image data of a polarizing plate is acquired (the above step (1)). Subsequently, a defect candidate part is extracted based on image data (the said process (2)). Next, it is determined whether or not the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value (step (3) above), and the defect candidate portion having a size exceeding the reference value is determined as a non-polarized portion, while being equal to or smaller than the reference value. A defect candidate portion having a size of 1 is detected as a defect (step (5) above).
図５は、本発明の別の実施形態における欠陥検出の具体的手順を説明するフローチャートである。図５に示す実施形態においては、まず、偏光板の画像データを取得する（上記工程（１））。次いで、画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する（上記工程（２））。次いで、欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断し（上記工程（３））、基準値を超えるサイズを有する欠陥候補部について、周期性の有無を判断する（上記工程（４））。得られた結果に基づいて、基準値以下のサイズを有する欠陥候補部および基準値を超えるサイズを有するが、周期性を有さない欠陥候補部を欠陥として検出する（上記工程（５））。なお、図６（ａ）中の白円は、当該実施形態による工程（２）において抽出された全ての欠陥候補部を示し、図６（ｂ）中の白円は、基準値を超えるサイズを有し、周期性の有無の判断対象となる欠陥候補部を示し、図６（ｃ）中の黒円は、周期性を有すると判断された欠陥候補部（非偏光部）を示し、白円は、周期性を有さないと判断された欠陥候補部（欠陥）を示し、図６（ｄ）中の白円は、最終的に検出される欠陥を示す。 FIG. 5 is a flowchart for explaining a specific procedure for defect detection in another embodiment of the present invention. In the embodiment shown in FIG. 5, first, image data of a polarizing plate is acquired (the above step (1)). Subsequently, a defect candidate part is extracted based on image data (the said process (2)). Next, it is determined whether or not the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value (the above step (3)), and the presence or absence of periodicity is determined for the defect candidate portion having a size exceeding the reference value (the above step ( 4)). Based on the obtained result, a defect candidate part having a size equal to or smaller than the reference value and a defect candidate part having a size exceeding the reference value but having no periodicity are detected as defects (step (5) above). In addition, the white circle in FIG. 6A shows all the defect candidate parts extracted in the step (2) according to the embodiment, and the white circle in FIG. 6B has a size exceeding the reference value. And a defect candidate portion that is a target for determining whether or not there is periodicity. A black circle in FIG. 6C indicates a defect candidate portion (non-polarized portion) that is determined to have periodicity, and a white circle. Indicates a defect candidate portion (defect) determined to have no periodicity, and a white circle in FIG. 6D indicates a defect that is finally detected.
Ａ−８．マーキング工程（６）
検査装置１００は、マーキング装置（図示せず）をさらに備えていてもよい。マーキング装置は、画像処理装置と接続され、画像処理装置（実質的には、欠陥検出部）が欠陥を検出すると、該欠陥の位置情報をマーキング装置に送信する。マーキング装置は、該位置情報に基づいて、欠陥部にマーキングを行う。マーキングされた領域は、裁断後に不良偏光板として容易に排除され得る。マーキングとしては、マーカーペンを用いたマーキングやレーザーマーキングが挙げられる。
A-8. Marking process (6)
The inspection device 100 may further include a marking device (not shown). The marking device is connected to the image processing device. When the image processing device (substantially, the defect detection unit) detects a defect, the marking device transmits position information of the defect to the marking device. The marking device performs marking on the defective portion based on the position information. The marked area can be easily excluded as a defective polarizing plate after cutting. Examples of the marking include marking using a marker pen and laser marking.
［Ｂ．偏光板の製造方法］
本発明の非偏光部を有する偏光子を含む長尺状の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光子に非偏光部を形成すること、該非偏光部を有する長尺状の偏光子を用いて偏光板を作製すること、および、上記検査方法により偏光板の外観を検査することを含む。
[B. Manufacturing method of polarizing plate]
The manufacturing method of the elongate polarizing plate containing the polarizer which has a non-polarization part of this invention forms a non-polarization part in a elongate polarizer, and the elongate polarizer which has this non-polarization part To produce a polarizing plate, and to inspect the appearance of the polarizing plate by the above inspection method.
Ｂ−１．偏光子
偏光子は、代表的には、二色性物質を含む樹脂フィルムから構成される。二色性物質としては、例えば、ヨウ素、有機染料等が挙げられる。これらは、単独で、または二種以上組み合わせて用いられ得る。好ましくはヨウ素が用いられる。
B-1. Polarizer The polarizer is typically composed of a resin film containing a dichroic substance. Examples of the dichroic substance include iodine and organic dyes. These may be used alone or in combination of two or more. Preferably iodine is used.
上記樹脂フィルムを形成する樹脂としては、任意の適切な樹脂が用いられ得る。好ましくは、ポリビニルアルコール系樹脂が用いられる。ポリビニルアルコール系樹脂としては、例えば、ポリビニルアルコール、エチレン−ビニルアルコール共重合体が挙げられる。ポリビニルアルコールは、ポリ酢酸ビニルをケン化することにより得られる。エチレン−ビニルアルコール共重合体は、エチレン−酢酸ビニル共重合体をケン化することにより得られる。 Arbitrary appropriate resin may be used as resin which forms the said resin film. Preferably, a polyvinyl alcohol resin is used. Examples of the polyvinyl alcohol resin include polyvinyl alcohol and ethylene-vinyl alcohol copolymer. Polyvinyl alcohol is obtained by saponifying polyvinyl acetate. An ethylene-vinyl alcohol copolymer can be obtained by saponifying an ethylene-vinyl acetate copolymer.
偏光子（非偏光部を除く）は、好ましくは、波長３８０ｎｍ〜７８０ｎｍのいずれかの波長で吸収二色性を示す。偏光子（非偏光部を除く）の単体透過率は、好ましくは３９％以上、より好ましくは３９．５％以上、さらに好ましくは４０％以上、特に好ましくは４０．５％以上である。なお、単体透過率の理論上の上限は５０％であり、実用的な上限は４６％である。また、単体透過率は、ＪＩＳ Ｚ８７０１の２度視野（Ｃ光源）により測定して視感度補正を行なったＹ値であり、例えば、顕微分光システム（ラムダビジョン製、ＬＶｍｉｃｒｏ）を用いて測定することができる。偏光子の偏光度（非偏光部を除く）は、好ましくは９９．９％以上、より好ましくは９９．９３％以上、さらに好ましくは９９．９５％以上である。 The polarizer (excluding the non-polarized part) preferably exhibits absorption dichroism at any wavelength of 380 nm to 780 nm. The single transmittance of the polarizer (excluding the non-polarized part) is preferably 39% or more, more preferably 39.5% or more, still more preferably 40% or more, and particularly preferably 40.5% or more. The theoretical upper limit of the single transmittance is 50%, and the practical upper limit is 46%. The single transmittance is a Y value obtained by correcting the visibility by measuring with JIS Z8701 twice field of view (C light source). For example, it is measured using a microspectroscopic system (Lambda Vision, LVmicro). Can do. The degree of polarization of the polarizer (excluding the non-polarized part) is preferably 99.9% or more, more preferably 99.93% or more, and further preferably 99.95% or more.
偏光子の厚みは、任意の適切な値に設定され得る。厚みは、好ましくは３０μｍ以下、より好ましくは２５μｍ以下、さらに好ましくは２０μｍ以下、特に好ましくは１０μｍ以下である。一方で、厚みは、好ましくは０．５μｍ以上、さらに好ましくは１μｍ以上である。 The thickness of the polarizer can be set to any appropriate value. The thickness is preferably 30 μm or less, more preferably 25 μm or less, still more preferably 20 μm or less, and particularly preferably 10 μm or less. On the other hand, the thickness is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1 μm or more.
偏光子の吸収軸は、目的に応じて任意の適切な方向に設定され得る。吸収軸の方向は、例えば、長尺方向であってもよく幅方向であってもよい。長尺方向に吸収軸を有する偏光子は、例えば、製造効率に優れるという利点がある。幅方向に吸収軸を有する偏光子は、例えば、長尺方向に遅相軸を有する位相差フィルムとロールトゥロールで積層できるという利点がある。１つの実施形態においては、吸収軸は長尺方向または幅方向に実質的に平行であり、かつ、偏光子の幅方向両端は長尺方向に平行にスリット加工されている。このような構成によれば、偏光子の端辺を基準に裁断でき、所望の位置に非偏光部を有し、かつ適切な方向に吸収軸を有する複数の偏光子を、容易に製造することができる。なお、偏光子の吸収軸は、後述の延伸処理における延伸方向に対応し得る。 The absorption axis of the polarizer can be set in any appropriate direction depending on the purpose. The direction of the absorption axis may be, for example, the long direction or the width direction. For example, a polarizer having an absorption axis in the longitudinal direction has an advantage of excellent manufacturing efficiency. A polarizer having an absorption axis in the width direction has an advantage that, for example, a retardation film having a slow axis in the longitudinal direction can be laminated with a roll-to-roll. In one embodiment, the absorption axis is substantially parallel to the longitudinal direction or the width direction, and both ends of the polarizer in the width direction are slit in parallel to the longitudinal direction. According to such a configuration, it is possible to easily produce a plurality of polarizers that can be cut based on the edge of the polarizer, have a non-polarizing portion at a desired position, and have an absorption axis in an appropriate direction. Can do. The absorption axis of the polarizer can correspond to the stretching direction in the stretching process described later.
偏光子は、代表的には、上記樹脂フィルムに膨潤処理、延伸処理、上記二色性物質による染色処理、架橋処理、洗浄処理、乾燥処理等の各種処理を施すことにより得られる。各種処理を施す際、樹脂フィルムは、基材上に形成された樹脂層であってもよい。上記非偏光部の形成は、偏光子の作製工程の途中でも行い得る。 The polarizer is typically obtained by subjecting the resin film to various treatments such as swelling treatment, stretching treatment, dyeing treatment with the dichroic substance, crosslinking treatment, washing treatment, and drying treatment. When performing various treatments, the resin film may be a resin layer formed on a substrate. The formation of the non-polarizing part can also be performed during the manufacturing process of the polarizer.
Ｂ−２．非偏光部の形成
好ましくは、非偏光部は、脱色部である。このような構成によれば、機械的に（例えば、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット等を用いて機械的に抜き落とす方法により）、貫通穴が形成されている場合に比べて、クラック、デラミ（層間剥離）、糊はみ出し等の品質上の問題が回避される。脱色部は、好ましくは、偏光子（二色性物質を含む樹脂フィルム）の所望の位置に塩基性溶液を接触させることにより形成される。このような方法により形成される非偏光部は、他の部位（非接触部）よりも二色性物質の含有量が低い低濃度部とされ得る。低濃度部は二色性物質自体の含有量が低いので、レーザー光等により二色性物質を分解して脱色部が形成されている場合に比べて、非偏光部の透明性が良好に維持される。
B-2. Formation of non-polarizing part Preferably, a non-polarizing part is a decoloring part. According to such a configuration, cracks and delamination are mechanically (for example, by a method of mechanically pulling out using a Thomson blade punching, a plotter, a water jet, etc.) as compared with the case where the through hole is formed. Quality problems such as (delamination) and paste sticking are avoided. The decolorization part is preferably formed by bringing a basic solution into contact with a desired position of a polarizer (resin film containing a dichroic substance). The non-polarizing part formed by such a method can be a low-density part having a lower dichroic substance content than other parts (non-contact parts). Since the content of the dichroic substance itself is low in the low-concentration part, the transparency of the non-polarizing part is maintained better than when the dichroic substance is decomposed by laser light or the like to form the decolored part. Is done.
上記低濃度部の二色性物質の含有量は、好ましくは１．０重量％以下、より好ましくは０．５重量％以下、さらに好ましくは０．２重量％以下である。低濃度部の二色性物質の含有量の下限値は、通常、検出限界値以下である。上記他の部位における二色性物質の含有量と低濃度部における二色性物質の含有量との差は、好ましくは０．５重量％以上、さらに好ましくは１重量％以上である。二色性物質としてヨウ素を用いる場合、ヨウ素含有量は、例えば、蛍光Ｘ線分析で測定したＸ線強度から、予め標準試料を用いて作成した検量線により求められる。 The content of the dichroic substance in the low concentration part is preferably 1.0% by weight or less, more preferably 0.5% by weight or less, and still more preferably 0.2% by weight or less. The lower limit value of the content of the dichroic substance in the low concentration part is usually not more than the detection limit value. The difference between the content of the dichroic substance in the other part and the content of the dichroic substance in the low concentration part is preferably 0.5% by weight or more, more preferably 1% by weight or more. When iodine is used as the dichroic substance, the iodine content is obtained, for example, from a calibration curve prepared in advance using a standard sample from the X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis.
上記塩基性溶液に含まれる塩基性化合物としては、任意の適切な化合物が用いられ得る。塩基性化合物としては、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム等のアルカリ金属の水酸化物、水酸化カルシウム等のアルカリ土類金属の水酸化物、炭酸ナトリウム等の無機アルカリ金属塩、酢酸ナトリウム等の有機アルカリ金属塩、アンモニア水等が挙げられる。これらの中でも、好ましくはアルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の水酸化物が用いられ、さらに好ましくは水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化リチウムが用いられる。二色性物質を効率良くイオン化することができ、より簡便に脱色部を形成することができる。これらの塩基性化合物は単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。 Any appropriate compound can be used as the basic compound contained in the basic solution. Examples of the basic compound include alkali metal hydroxides such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and lithium hydroxide, alkaline earth metal hydroxides such as calcium hydroxide, and inorganic alkali metal salts such as sodium carbonate. , Organic alkali metal salts such as sodium acetate, aqueous ammonia and the like. Among these, an alkali metal and / or alkaline earth metal hydroxide is preferably used, and sodium hydroxide, potassium hydroxide, and lithium hydroxide are more preferably used. A dichroic substance can be ionized efficiently, and a decoloring part can be formed more simply. These basic compounds may be used alone or in combination of two or more.
塩基性溶液の溶媒としては、水、アルコールが好ましく用いられる。塩基性溶液の濃度は、例えば０．０１Ｎ〜５Ｎであり、好ましくは０．０５Ｎ〜３Ｎであり、さらに好ましくは０．１Ｎ〜２．５Ｎである。塩基性溶液の液温は、例えば２０℃〜５０℃である。塩基性溶液の接触時間は、偏光子の厚み、塩基性溶液に含まれる塩基性化合物の種類や濃度に応じて設定され得る。接触時間は、例えば５秒〜３０分であり、好ましくは５秒〜５分である。 As the solvent for the basic solution, water and alcohol are preferably used. The density | concentration of a basic solution is 0.01N-5N, for example, Preferably it is 0.05N-3N, More preferably, it is 0.1N-2.5N. The liquid temperature of the basic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the basic solution can be set according to the thickness of the polarizer and the type and concentration of the basic compound contained in the basic solution. The contact time is, for example, 5 seconds to 30 minutes, preferably 5 seconds to 5 minutes.
塩基性溶液の接触方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。例えば、偏光子に対し、塩基性溶液を滴下、塗工、スプレーする方法、偏光子を塩基性溶液に浸漬する方法が挙げられる。塩基性溶液の接触に際し、所望の部位以外に塩基性溶液が接触しないように、任意の適切な保護材で偏光子を保護してもよい。このような保護材としては、例えば、保護フィルム、表面保護フィルムが用いられる。保護フィルムは、偏光子の保護フィルムとしてそのまま利用され得るものである。表面保護フィルムは、偏光子の製造時に一時的に用いられるものである。表面保護フィルムは、任意の適切なタイミングで偏光子から取り除かれるため、代表的には、偏光子に粘着剤層を介して貼り合わされる。保護材の別の具体例としては、フォトレジスト等が挙げられる。また、上記偏光子の作製工程で用いられる基材も保護材として用い得る。 Arbitrary appropriate methods can be employ | adopted as a contact method of a basic solution. For example, a method of dropping, coating, and spraying a basic solution with respect to the polarizer and a method of immersing the polarizer in the basic solution can be mentioned. When the basic solution is contacted, the polarizer may be protected with any appropriate protective material so that the basic solution does not contact other than the desired site. As such a protective material, for example, a protective film or a surface protective film is used. The protective film can be used as it is as a protective film for a polarizer. The surface protective film is temporarily used when manufacturing the polarizer. Since the surface protective film is removed from the polarizer at any appropriate timing, the surface protective film is typically bonded to the polarizer via an adhesive layer. Another specific example of the protective material is a photoresist. Moreover, the base material used in the manufacturing process of the said polarizer can also be used as a protective material.
好ましくは、塩基性溶液の接触に際し、偏光子表面は、その少なくとも一部が露出するように表面保護フィルムで被覆されている。図示例のような非偏光部の配置パターンを有する偏光子は、当該配置パターンに対応する位置に、所望の非偏光部サイズに対応する小円形の貫通孔が形成された表面保護フィルムを偏光子の片側に貼り合わせて偏光フィルム積層体を準備し、これに塩基性溶液を接触させることで製造される。その際、偏光子のもう片側（貫通孔が形成された表面保護フィルム（第１の保護フィルム）が配置されていない側）も保護されていることが好ましい。保護フィルムや表面保護フィルムの貼り合わせは、ロールトゥロールにより行われるのが好ましい。本明細書において、「ロールトゥロール」とは、ロール状のフィルムを搬送しながら互いの長尺方向を揃えて積層することをいう。 Preferably, at the time of contact with the basic solution, the surface of the polarizer is coated with a surface protective film so that at least a part of the surface is exposed. The polarizer having the arrangement pattern of the non-polarizing portion as shown in the illustrated example has a surface protective film in which a small circular through hole corresponding to the desired non-polarizing portion size is formed at a position corresponding to the arrangement pattern. A polarizing film laminate is prepared by bonding to one side of the substrate, and a basic solution is brought into contact therewith. At that time, it is preferable that the other side of the polarizer (the side on which the surface protective film (first protective film) in which the through holes are formed is not disposed) is also protected. The bonding of the protective film and the surface protective film is preferably performed by roll-to-roll. In this specification, “roll-to-roll” refers to laminating a roll film while aligning each other in the longitudinal direction.
上記表面保護フィルムの形成材料としては、ポリエチレンテレフタレート系樹脂等のエステル系樹脂、ノルボルネン系樹脂等のシクロオレフィン系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のオレフィン系樹脂、ポリアミド系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、これらの共重合体樹脂等が挙げられる。好ましくは、エステル系樹脂（特に、ポリエチレンテレフタレート系樹脂）である。弾性率が十分に高く、例えば、搬送および／または貼り合わせ時に張力をかけても貫通孔の変形が生じにくいからである。表面保護フィルムの厚みは、代表的には２０μｍ〜２５０μｍであり、好ましくは３０μｍ〜１５０μｍである。 Examples of the material for forming the surface protective film include ester resins such as polyethylene terephthalate resins, cycloolefin resins such as norbornene resins, olefin resins such as polyethylene and polypropylene, polyamide resins, and polycarbonate resins. Polymer resin etc. are mentioned. Preference is given to ester resins (especially polyethylene terephthalate resins). This is because the elastic modulus is sufficiently high and, for example, deformation of the through-hole hardly occurs even when tension is applied during conveyance and / or bonding. The thickness of the surface protective film is typically 20 μm to 250 μm, preferably 30 μm to 150 μm.
第１の表面保護フィルムは、所定のパターンで配置された貫通孔を有する。貫通孔の位置は、非偏光部が形成される位置に対応する。貫通孔の形状は、所望の非偏光部の形状に対応する。貫通孔は、例えば、機械的打ち抜き（例えば、パンチング、トムソン刃打抜き、プロッター、ウォータージェット）またはフィルムの所定部分の除去（例えば、レーザーアブレーションまたは化学的溶解）により形成される。 The first surface protective film has through holes arranged in a predetermined pattern. The position of the through hole corresponds to the position where the non-polarizing part is formed. The shape of the through hole corresponds to the desired shape of the non-polarizing part. The through hole is formed by, for example, mechanical punching (for example, punching, Thomson blade punching, plotter, water jet) or removal of a predetermined portion of the film (for example, laser ablation or chemical dissolution).
１つの実施形態においては、上記塩基性溶液は、偏光子と接触後、任意の適切な手段により偏光子から除去される。このような実施形態によれば、例えば、偏光子の使用に伴う非偏光部の透過率の低下をより確実に防止することができる。塩基性溶液の除去方法の具体例としては、洗浄、ウエス等による拭き取り除去、吸引除去、自然乾燥、加熱乾燥、送風乾燥、減圧乾燥等が挙げられる。好ましくは、塩基性溶液は洗浄される。洗浄に用いる洗浄液としては、例えば、水（純水）、メタノール、エタノール等のアルコール、および、これらの混合溶媒等が挙げられる。好ましくは、水が用いられる。洗浄回数は特に限定されず、複数回行ってもよい。塩基性溶液を乾燥により除去する場合、その乾燥温度は、例えば２０℃〜１００℃である。 In one embodiment, the basic solution is removed from the polarizer by any suitable means after contact with the polarizer. According to such embodiment, the fall of the transmittance | permeability of the non-polarizing part accompanying use of a polarizer can be prevented more reliably, for example. Specific examples of the method for removing the basic solution include washing, wiping removal with a waste cloth, suction removal, natural drying, heat drying, air drying, vacuum drying, and the like. Preferably the basic solution is washed. Examples of the cleaning liquid used for cleaning include water (pure water), alcohols such as methanol and ethanol, and mixed solvents thereof. Preferably, water is used. The number of washings is not particularly limited, and may be performed a plurality of times. When the basic solution is removed by drying, the drying temperature is, for example, 20 ° C to 100 ° C.
好ましくは、上記塩基性溶液との接触後、塩基性溶液を接触させた接触部において、樹脂フィルムに含まれるアルカリ金属および／またはアルカリ土類金属を低減させる。アルカリ金属および／またはアルカリ土類金属を低減させることにより、寸法安定性に優れた非偏光部を得ることができる。具体的には、加湿環境下においても、塩基性溶液との接触により形成された非偏光部の形状をそのまま維持することができる。 Preferably, after the contact with the basic solution, alkali metal and / or alkaline earth metal contained in the resin film is reduced in the contact portion where the basic solution is contacted. By reducing the alkali metal and / or alkaline earth metal, a non-polarizing part having excellent dimensional stability can be obtained. Specifically, even in a humid environment, the shape of the non-polarizing part formed by contact with the basic solution can be maintained as it is.
塩基性溶液を接触させることにより、接触部にアルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の水酸化物が残存し得る。また、塩基性溶液を接触させることにより、接触部にアルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の金属塩（例えば、ホウ酸塩）が生成し得る。これらは水酸化物イオンを生成し得、生成した水酸化物イオンは、接触部周囲に存在する二色性物質（例えば、ヨウ素錯体）に作用（分解・還元）して、非偏光領域を広げ得る。したがって、アルカリ金属および／またはアルカリ土類金属塩を低減させることにより、経時的に非偏光領域が広がるのを抑制して、所望の非偏光部形状が維持され得ると考えられる。 By contacting with the basic solution, alkali metal and / or alkaline earth metal hydroxide may remain in the contact portion. In addition, by contacting the basic solution, a metal salt (for example, borate) of an alkali metal and / or an alkaline earth metal can be generated at the contact portion. These can generate hydroxide ions, and the generated hydroxide ions act (decompose and reduce) on the dichroic substance (for example, iodine complex) existing around the contact area to widen the non-polarized region. obtain. Therefore, by reducing the alkali metal and / or alkaline earth metal salt, it is considered that the non-polarized region can be prevented from spreading over time and the desired non-polarized part shape can be maintained.
上記非偏光部は、アルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の含有量が３．６重量％以下であることが好ましく、より好ましくは２．５重量％以下であり、さらに好ましくは１．０重量％以下であり、特に好ましくは０．５重量％以下である。アルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の含有量は、例えば、蛍光Ｘ線分析により測定したＸ線強度から予め標準試料を用いて作成した検量線により求めることができる。 The non-polarizing part preferably has an alkali metal and / or alkaline earth metal content of 3.6% by weight or less, more preferably 2.5% by weight or less, and still more preferably 1.0% by weight. % Or less, particularly preferably 0.5% by weight or less. The content of alkali metal and / or alkaline earth metal can be determined, for example, from a calibration curve prepared in advance using a standard sample from the X-ray intensity measured by fluorescent X-ray analysis.
上記低減させる方法としては、好ましくは、塩基性溶液との接触部に酸性溶液を接触させる方法が用いられる。このような方法によれば、酸性溶液にアルカリ金属および／またはアルカリ土類金属を効率的に移行させて、その含有量を低減させることができる。酸性溶液との接触は、上記塩基性溶液の除去後に行ってもよいし、塩基性溶液を除去することなく行ってもよい。 As the method of reducing, preferably, a method of bringing an acidic solution into contact with a contact portion with a basic solution is used. According to such a method, the alkali metal and / or alkaline earth metal can be efficiently transferred to the acidic solution, and the content thereof can be reduced. The contact with the acidic solution may be performed after the basic solution is removed or may be performed without removing the basic solution.
上記酸性溶液に含まれる酸性化合物としては、任意の適切な酸性化合物を用いることができる。酸性化合物としては、例えば、塩酸、硫酸、硝酸、フッ化水素等の無機酸、ギ酸、シュウ酸、クエン酸、酢酸、安息香酸等の有機酸等が挙げられる。酸性溶液に含まれる酸性化合物は、これらの中でも、好ましくは無機酸であり、さらに好ましくは塩酸、硫酸、硝酸である。これらの酸性化合物は単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。 Any appropriate acidic compound can be used as the acidic compound contained in the acidic solution. Examples of the acidic compound include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, and hydrogen fluoride, and organic acids such as formic acid, oxalic acid, citric acid, acetic acid, and benzoic acid. Among these, the acidic compound contained in the acidic solution is preferably an inorganic acid, and more preferably hydrochloric acid, sulfuric acid, or nitric acid. These acidic compounds may be used alone or in combination of two or more.
酸性溶液の溶媒としては、水、アルコールが好ましく用いられる。酸性溶液の濃度は、例えば０．０１Ｎ〜５Ｎであり、好ましくは０．０５Ｎ〜３Ｎであり、さらに好ましくは０．１Ｎ〜２．５Ｎである。酸性溶液の液温は、例えば２０℃〜５０℃である。酸性溶液の接触時間は、例えば５秒〜５分である。なお、酸性溶液の接触方法は、上記塩基性溶液の接触方法と同様の方法が採用され得る。また、酸性溶液は、偏光子から除去され得る。酸性溶液の除去方法は、上記塩基性溶液の除去方法と同様の方法が採用され得る。 As the solvent of the acidic solution, water and alcohol are preferably used. The density | concentration of an acidic solution is 0.01N-5N, for example, Preferably it is 0.05N-3N, More preferably, it is 0.1N-2.5N. The liquid temperature of the acidic solution is, for example, 20 ° C to 50 ° C. The contact time of the acidic solution is, for example, 5 seconds to 5 minutes. In addition, the contact method of an acidic solution can employ | adopt the method similar to the contact method of the said basic solution. The acidic solution can also be removed from the polarizer. As a method for removing the acidic solution, a method similar to the method for removing the basic solution may be employed.
代表的には、上記のようにして非偏光部が形成された後（好ましくは、アルカリ金属および／またはアルカリ土類金属の低減後）、表面保護フィルムは剥離除去され得る。 Typically, after the non-polarizing part is formed as described above (preferably after reduction of alkali metal and / or alkaline earth metal), the surface protective film can be peeled off.
Ｂ−３．偏光板の作製
上記のようにして得られる非偏光部を有する長尺状の偏光子は、代表的には、偏光子／保護フィルムの積層体を構成している。該積層体は、そのまま偏光板として用いることができる一方で、目的等に応じて、該積層体に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。また、単一の樹脂フィルムからなる偏光子が得られる場合も同様に、用途等に応じて、その片側または両側に保護フィルム等の他の構成部材を積層することにより、最終製品としての任意の適切な構成を有する偏光板が得られ得る。積層される他の構成部材については、Ａ−１項で記載したとおりである。
B-3. Production of Polarizing Plate A long polarizer having a non-polarizing part obtained as described above typically constitutes a polarizer / protective film laminate. While the laminate can be used as a polarizing plate as it is, any appropriate configuration as a final product can be obtained by laminating other constituent members such as a protective film on the laminate according to the purpose and the like. The polarizing plate which has can be obtained. Similarly, when a polarizer made of a single resin film is obtained, depending on the application, etc., by laminating other constituent members such as a protective film on one side or both sides of the polarizer, any final product can be obtained. A polarizing plate having an appropriate configuration can be obtained. Other constituent members to be laminated are as described in the section A-1.
上記他の構成部材の積層は、いわゆるロールトゥロールで行われ得る。 Lamination of the other constituent members can be performed by so-called roll-to-roll.
Ｂ−４．偏光板の外観検査
上記のようにして得られた偏光板をＡ項に記載の検査方法に供する。Ａ項に記載の検査方法で、非偏光部を有する偏光板の外観を検査することにより、非偏光部を欠陥として誤って検出することなく、目的とする欠陥（異物、気泡、ピンホール等）を検出できるので、検査効率と検査精度とが高次に両立可能となる。その結果、高品質の偏光板が優れた製造効率で得られ得る。
B-4. Appearance inspection of polarizing plate The polarizing plate obtained as described above is subjected to the inspection method described in the section A. By inspecting the appearance of the polarizing plate having a non-polarizing part by the inspection method described in Item A, the target defect (foreign matter, bubble, pinhole, etc.) is detected without erroneously detecting the non-polarizing part as a defect. Therefore, the inspection efficiency and the inspection accuracy can be compatible at the higher order. As a result, a high-quality polarizing plate can be obtained with excellent production efficiency.
Ｂ−５．偏光板の裁断
本発明の偏光板の製造方法は、長尺状の偏光板を所望のサイズに裁断する工程をさらに含み得る。裁断は、切断、打ち抜き等によって行われ得る。長尺状の偏光板は、好ましくは、取り付けられる画像表示装置に対応するサイズを有するとともに、画像表示装置に取り付けられた際にそのカメラ部と対応する位置に非偏光部を有するように裁断される。
B-5. Cutting of Polarizing Plate The method for producing a polarizing plate of the present invention may further include a step of cutting the long polarizing plate into a desired size. The cutting can be performed by cutting, punching, or the like. The long polarizing plate preferably has a size corresponding to the image display device to be attached, and is cut so as to have a non-polarization portion at a position corresponding to the camera portion when attached to the image display device. The
裁断される偏光板は、好ましくは、欠陥部にマーキングが施されているので、裁断後に該マーキングに基づいて不良品の偏光板が容易に排除され得る。 Since the polarizing plate to be cut is preferably marked on the defective portion, a defective polarizing plate can be easily excluded based on the marking after cutting.
本発明の検査方法は、例えば、スマートフォン等の携帯電話、ノート型ＰＣ、タブレットＰＣ等のカメラ付き画像表示装置（液晶表示装置、有機ＥＬデバイス）に備えられる偏光板を製造する際に好適に用いられる。 The inspection method of the present invention is suitably used when manufacturing a polarizing plate provided in an image display device with a camera (liquid crystal display device, organic EL device) such as a mobile phone such as a smartphone, a notebook PC, or a tablet PC. It is done.
１０ 偏光子
１０ａ 非偏光部
３０ 偏光板
５０ 撮像装置
８０ 画像解析装置
８２ 欠陥候補部抽出部
８４ サイズ判断部
８６ 周期性判断部
８８ 欠陥検出部
１００ 検査装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Polarizer 10a Non-polarization part 30 Polarizing plate 50 Imaging device 80 Image analysis apparatus 82 Defect candidate part extraction part 84 Size judgment part 86 Periodicity judgment part 88 Defect detection part 100 Inspection apparatus
Claims (10)
該偏光板を撮像して画像データを取得する工程と、
該画像データを解析して欠陥候補部を抽出する工程と、
欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断する工程と、
欠陥候補部のサイズに基づいて欠陥を検出する工程と、
を含む、検査方法。 A method of inspecting the outer appearance of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the long direction while transporting in the long direction,
Imaging the polarizing plate to obtain image data;
Analyzing the image data and extracting a defect candidate portion;
Determining whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value;
Detecting defects based on the size of the defect candidate portion;
Including an inspection method.
前記欠陥を検出する工程が、前記欠陥候補部のサイズおよび周期性の有無に基づいて欠陥を検出する工程である、請求項１から４のいずれかに記載の検査方法。 Further including the step of determining whether the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction;
The inspection method according to any one of claims 1 to 4, wherein the step of detecting the defect is a step of detecting a defect based on the size of the defect candidate portion and the presence or absence of periodicity.
該画像データを解析して該偏光板の欠陥を検出する画像解析装置と、を備え、
該画像解析装置が、
該画像データに基づいて欠陥候補部を抽出する欠陥候補部抽出部と、
欠陥候補部が基準値以下のサイズを有するか否かを判断するサイズ判断部と、
欠陥候補部が該長尺方向に周期性を有するか否かを判断する周期性判断部と、
欠陥候補部のサイズ、または、欠陥候補部のサイズと周期性の有無とに基づいて欠陥を検出する欠陥検出部と、を有する、
長尺状の偏光板の外観検査装置。 An imaging device for capturing image data by capturing an image of a long polarizing plate having non-polarizing portions arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction;
An image analyzer that analyzes the image data and detects defects in the polarizing plate,
The image analyzer is
A defect candidate part extracting unit that extracts a defect candidate part based on the image data;
A size determination unit for determining whether the defect candidate portion has a size equal to or smaller than a reference value;
A periodicity determining unit that determines whether the defect candidate portion has periodicity in the longitudinal direction;
A defect detection unit that detects a defect based on the size of the defect candidate part, or the size of the defect candidate part and the presence or absence of periodicity,
Appearance inspection device for long polarizing plates.
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